KR20110020969A - 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 영상 아티팩트 제거 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 평판형 엑스선 감지기를 이용하는 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 엑스선 감지기의 불량화소로 인하여 발생하는 영상 아티팩트를 제거하는 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명의 평판형 엑스선 감지기의 불량화소 아티팩트 제거방법은 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키는 단계와, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키는 단계와, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하는 단계와, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하는 단계와, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키는 단계와, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하는 단계와, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하는 단계와, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 단계를 포함한다.
엑스선, 평판형 감지기, 단층촬영, 토모신세시스, 불량화소, 아티팩트
Description
본 발명은 의료장비 및 비파괴 검사 장비에 관한 기술로, 더욱 상세하게는 평판형 엑스선 감지기를 이용하는 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 엑스선 감지기의 불량화소를 제거하여, 상기 불량화소로 인하여 재구성된 단면영상에 발생하는 영상 아티팩트를 제거하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
단층촬영(computed tomography; 이하 CT라고 칭함) 시스템이나 토모신세시스(tomosynthesis) 시스템에 사용되는 평판형(flat-panel) 엑스선 감지기(x-ray detector)는 촬영대상을 투과한 엑스선을 전기적 신호로 바꾼 후, 상기 전기적 신호를 디지털 데이터로 바꾸어 컴퓨터로 전송함으로써 엑스선 영상을 컴퓨터로 입력시키는 장치이다. 엑스선 감지기에는 섬광체(scintillator)를 통하여 엑스선을 가시광선으로 바꾸고 상기 가시광선을 전기적 신호로 바꾸는 간접형 방식과 엑스선을 곧바로 전기적 신호로 바꾸는 직접형 방식이 있다. 간접형 방식으로는 비정질형 실 리콘(amorphous silicon; a-Si) 타입, CMOS(complementary metal oxide silicon) 타입이 쓰이고 있으며, 직접형 방식으로는 비정질형 셀레늄(amorphous selenium; a-Se) 타입이 쓰이고 있다. 일반적으로 평판형 엑스선 감지기는 1000×1000 또는 그 이상의 화소(pixel)가 2차원으로 배열되어 있는데, 공정상 불가피하게 일부가 불량화소가 된다. 또한 엑스선을 조사하는 시간에 따라 정상화소의 일부도 불량화소로 바뀐다. 평판형 엑스선 감지기로 촬영한 엑스선 투영영상에는 상기 불량화소로 인하여 도 1에 화살표로 표시한 바와 같이 훼손된 영상 데이터(101)가 나타난다.
CT 시스템은 도 2에 도시한 바와 같이 엑스선관(201)과 엑스선 감지기(202)가 촬영대상(203) 주위를 360도 회전하면서 엑스선을 주사하여 연속적으로 엑스선 투영영상을 얻고, 얻어진 수십에서 수백장의 투영영상을 컴퓨터로 계산하여 촬영대상의 단면영상을 재구성(reconstruction)하는 장치이다. 상기 엑스선관(201)과 엑스선 감지기(202)가 연결된 갠트리(gantry)가 회전하는 형과 엑스선관(201)과 엑스선 감지기(202)는 고정시키고 촬영대상(203)을 회전시키는 형이 있다.
토모신세시스(tomosynthesis)는 도 3에 도시한 바와 같이 촬영대상(203) 주위를 엑스선관(201)이 움직여 촬영대상(203)에 대한 엑스선 조사 각도를 바꾸면서 여러 장의 투영영상을 얻은 후, 이를 컴퓨터로 합성하여 촬영대상(203)의 단면영상을 만들어내는 방법이다. 토모신세시스는 360도를 회전하는 CT와 달리, 15도에서 50도 정도로 한정된 일부의 각도만 회전하여 투영영상을 얻은 후 단면영상을 만들어낸다. 한정된 일부 각도에서만 촬영하므로 엑스선 주사방향으로의 해상도는 CT에 비해 떨어지며 엑스선관(201)만 움직이고 감지기(203)는 고정되어있는 형태나, 엑스선관(201)과 함께 감지기(202)가 회전하는 형태도 있다.
CT와 토모신세시스(tomosynthesis)의 두 방법 모두 엑스선 감지를 위하여 평판형 감지기를 사용할 수 있는데 평판형 감지기의 불량화소는 컴퓨터로 재구성된 단면영상에 심각한 영상 아티팩트(artifact)를 만들어낸다. 도 4는 불량화소로 인한 CT의 단면영상 아티팩트(301)의 예를 타나낸 도면이며 도 5는 불량화소로 인한 토모신세시스의 단면영상 아티팩트(302)의 예를 나타낸 도면이다. 한 장의 단순 엑스선 투영영상에서는 불량화소가 미약한 신호 차이를 보여주더라도 최종 재구성된 단면영상에서는 뚜렷한 영상 아티팩트를 만들어 영상을 훼손시키므로 이를 보정해주어야 한다. 상기 영상 아티팩트를 제거하기 위하여, 재구성된 CT 영상에서 후처리 방법을 사용한 제거방법이 시도되어 왔다. 상기 후처리 방법을 사용한 제거방법은 얻어진 CT 단면영상에 불량화소에 의한 아티팩트(301)가 도 5에 도시한 바와 같이 원형 모양으로 발생하는 점을 이용하여 영상을 극좌표로 변환한 후, 필터링(filtering) 등의 방법으로 제거한 다음, 다시 직교 좌표로 변환한다. 극좌표로 변환할 경우, 원형의 아티팩트(301)는 직선 형태로 바뀌기 때문에 필터링을 적용하여 제거하기가 매우 용이해진다. 그러나 이들 방법은 재구성된 영상을 다시 극좌표로 변환하여 아티팩트(301)를 제거한 후에 다시 직교 좌표계로 가져가야 하므로 좌표 변환을 위한 계산량의 문제와 좌표 변환시 필요한 내삽(interpolation) 오차가 발생할 수 있을 뿐 아니라, 도 6에 도시한 바와 같이 아티팩트가 원형 형태로 나타나지 않고 직선형태의 아티팩트(302)로 나타나는 토모신세시스에는 적용할 수 없는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 본 발명의 목적은 평판형 엑스선 감지기를 이용하는 CT 시스템과 토모신세시스 시스템에서 엑스선 감지기의 불량화소로 인하여 발생하는 영상 아티팩트를 효과적으로 제거하기 위한 방법 및 장치를 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판형 엑스선 감지기의 불량화소 아티팩트 제거방법은 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키는 단계와, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키는 단계와, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하는 단계와, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하는 단계와, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키는 단계와, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하는 단계와, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하는 단계와, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 CT 시스템과 토모신세시스 시스템의 불량화소 아티팩트 제거장치 는 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키고, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하고, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하고, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 제어부를 포함한다.
본 발명에 따른 CT 시스템과 토모신세시스 시스템에서 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 영상 아티팩트 제거방법 및 장치는 다음과 같은 효과가 있다.
CT와 토모신세시스의 단면영상을 위해 획득한 다수의 투영영상에 나타난 불량화소의 합을 이용하여 불량화소의 위치를 검출하기 때문에 아주 미약한 불량화소도 검출하여 보정할 수 있다. 따라서 상기 미약한 불량화소로 인하여 단면영상에서 나타난 아티팩트를 효과적으로 제거할 수 있다. 또한, 단면영상을 얻기 위한 재구성 단계 이전의 투영영상에 대하여 불량화소를 제거하기 때문에, 시간이 지남에 따라 엑스선 조사에 의해 늘어나는 불량화소를 투영영상에 대하여 신속하게 보정하여 지속적으로 화질을 유지할 수 있다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 6은 본 발명에 따른 불량화소 제거과정을 나타낸 도면이다. 도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 평판형 엑스선 감지기의 불량화소 아티팩트 제거방법은 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터(high pass filter)를 통과시키는 단계(S10)와, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언(median) 필터를 통과시키는 단계(S20)와, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하는 단계(S30)와, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하는 단계(S40)와, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키는 단계(S50)와, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하는 단계(S60)와, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치(threshold) 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하는 단계(S70)와, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법(interpolation)으로 보정하는 단계(S80)를 포함한다. 각 단계에 대하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
상기 고역통과 필터를 통과시키는 단계(S10)는 CT 시스템이나 토모신세시스 시스템의 평판형 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 적용한다. CT 시스템이나 토모신세시스 시스템의 평판형 엑스선 감지기에 있어서, 화소 중 정상적으로 동작하지 않는 불량화소의 신호는 정상화소의 신호와 확연하게 다른 경우도 있지만, 정상화소의 신호와의 차이가 매우 작은 경우도 있다. 큰 차이를 나타내는 경우는 상기 불량화소의 위치를 알아내는 것이 어렵지 않으나 수 % 이하로 미약하게 차이가 날 경우는 상기 불량화소의 위치를 알아내기가 쉽지 않다. 따라서 본 발명에 따른 불량화소 제거과정의 첫 번째 단계로서, 상기 미약하게 나는 차이를 증가시키기 위하여 고역통과 필터를 사용한다. CT 시스템이나 토모신세시스 시스템에서 얻은 각각의 투영영상 데이터, f(x,y; i)에 고역통과 필터(S10)를 통과시켜 h(x,y; i)를 만든다. 여기서 x, y는 2차원 엑스선 감지기의 화소위치 좌표이며, i는 CT 또는 토모신세시스에서 회전하면서 투영영상 데이터를 얻을 때의 회전각도에 대한 인덱스(index)를 의미한다. i는 1부터 총 투영영상의 개수 N까지의 숫자로 표시된다. 총 투영영상의 개수 N은 CT의 경우 수백이상이며, 토모신세시스의 경우에는 수 개 또는 수십 개 정도이다. 도 7은 본 발명에 따른 고역통과 필터(S10)의 통과대역(401)을 나타낸 도면이다. 여기서, ω는 주파수를 나타내고, H(ω)는 고역통과 필터함수를 나타낸다. 투영영상 데이터, f(x,y; i)를 푸리에 변환하여 주파수 영역으로 바꾼 후, 도 7에 도시한 바와 같은 고역통과 필터를 곱하여 저주파 성분을 억제하고 고주파 성분을 강조함으로써 불량화소와 불량화소 주위의 정상화소와의 미약한 신호차이를 더욱 크게 만든다. 그러나 상기 고역통과 필터만으로는 정상화소와 미약한 차이를 보이는 불량화소를 정확히 찾아내기에는 아직 부족하여 추가적인 방법이 필요하다.
상기 제 1 미디언 필터를 통과시키는 단계(S20)는 고역통과 필터를 통과한 각각의 투영영상, h(x,y; i)에 대하여 적용한다. 미디언 필터는 주위의 값들을 순서대로 나열하여 중간값을 취하는 필터이다. 상기 미디언 필터는 주파수가 낮은 대역을 통과시키는 저역통과 필터(low pass filter)로 대체될 수 있다. 본 발명에 따른 아티팩트 제거방법의 과정에 있어서 두 번의 미디안 필터를 통과시키는 단계가 있으며, 첫 번째 미디언 필터를 제 1 미디언 필터라 하고, 두 번째 미디언 필터를 제 2 미디언 필터라 명명한다. 상기 h(x,y; i)에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시켜 주위의 값과 차이가 큰 화소 신호를 제거한 h'(x,y; i)를 만든다.
상기 제 1 차이 데이터를 계산하는 단계(S30)는 상기 h(x,y; i)와 h'(x,y; i)의 차이를 계산하는 단계이다. 본 발명에 따른 아티팩트 제거방법의 과정에 있어서 두 번의 차이 데이터를 계산하는 단계가 있으며, 첫 번째 차이 데이터를 제 1 차이 데이터라 하고, 두 번째 차이 데이터를 제 2 차이 데이터라 명명한다. 엑스선 투영영상은 주로 낮은 주파수 성분으로 이루어진 신호이므로 고역통과 필터를 통과한 후라 하더라도 주위의 값과 큰 차이가 없어야 하기 때문에 정상화소는 미디언 필터에 의해 값의 변화가 작지만, 불량화소는 미디언 필터에 의해 값이 상대적으로 크게 바뀐다. 따라서 제 1 미디언 필터를 통과한 투영영상, h'(x,y; i)과 제 1 미디언 필터를 통과하지 않은 투영영상, h(x,y; i)와의의 차이 데이터, s(x,y; i)를 아래의 수학식 1과 같이 계산하면 불량화소의 가능성이 높은 부분이 큰 값을 갖고 정상화소 부분은 작은 값이 된다.
상기 누적 데이터를 계산하는 단계(S40)는 불량화소 판정의 신뢰도를 더욱 높이기 위한 단계로서, 아래의 수학식 2와 같이 각각의 투영영상에 대한 차이 데이터, s(x,y; i)를 1부터 N까지의 모든 i에 대하여 각각의 화소별로 더하여 누적 데이터, p(x,y)를 만든다.
상기 제 2 미디언 필터를 통과하는 단계(S50)는 상기 누적 데이터, p(x,y)에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시켜 p'(x,y)를 만드는 단계이다. 상기 누적 데이터 p(x,y)에 있어서 불량화소 위치의 데이터 값은 N개의 불량화소 데이터가 누적되기 때문에 주위의 정상화소의 데이터 값과는 큰 차이를 보인다.
상기 제 2 차이 데이터를 계산하는 단계(S60)는 상기 p(x,y)와 p'(x,y)의 차이로부터 제 2 차이 데이터, w(x,y)를 아래의 수학식 3과 같이 계산하는 단계이다. 불량화소가 있는 위치의 제 2 차이 데이터, w(x,y)는 불량화소의 데이터가 누적되기 때문에 주변 정상화소의 제 2 차이 데이터 값보다 매우 큰 값을 갖는다.
상기 불량화소라고 판정하는 단계(S70)는 상기 제 2 차이 데이터, w(x,y)와 미리 사용자가 설정한 문턱치(threshold), T(501)를 이용하는 단계이다. 도 8은 본 발명에 따른 2차원의 제 2 차이 데이터, w(x,y)에서 임의로 선택한 한 줄의 신호 크기를 나타낸 도면이다. 도 8에 도시한 바와 같이 제 2 차이 데이터, w(x,y)에서 불량화소의 신호크기(502)와 정상화소의 신호크기(503)는 차이가 매우 크다. 사용자가 설정해둔 문턱치, T(501)를 기준으로 하여 w(x,y)가 T(501)보다 크면 해당 위치를 불량화소의 위치로 판정한다.
상기 내삽법으로 보정하는 단계(S80)는 상기 판정된 불량화소의 위치에서의 투영영상 데이터, f(x,y; i)의 값을 제거하고, 주위의 정상화소의 값을 이용하여 내삽법(interpolation)으로 불량화소의 값을 보정하는 단계이다. 상기 내삽법은 주위의 정상화소의 값에서 불량화소 위치의 값을 추정하여 대치하는 방법으로 스플라인(spline) 내삽법과 같은 고차(high order) 내삽법이 바람직하다.
도 6에 도시한 바와 같은 불량화소 제거과정으로 불량화소가 제거된 투영영상을 CT 또는 토모신세시스의 재구성(reconstruction) 방법으로 재구성하면 영상의 아티팩트가 제거된 CT의 단면영상 또는 토모신세시스의 단면영상이 만들어진다. 도 9는 도 4에 나타낸 CT 단면영상에 대하여 본 발명에 따른 불량화소 제거방법을 적용하여 불량화소를 제거한 후에 재구성한 CT 단면영상을 나타낸 도면이고, 도 10은 도 5에 나타낸 토모신세시스 단면영상에 대하여 본 발명에 따른 불량화소 제거방법을 적용하여 불량화소를 제거한 후에 영상합성한 토모신세시스 단면영상을 나타낸 도면이다. 도 9와 도 10은 불량화소에 의한 단면영상에서의 아티팩트를 효과적으로 제거한 결과를 나타낸다.
본 발명의 CT 시스템과 토모신세시스 시스템의 불량화소 아티팩트 제거장치는 도 2 및 도 3의 시스템에 아래의 특징을 갖는 제어부를 더 구비한다. 상기 제어부는 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키고, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하고, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하고, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 훼손된 영상 데이터를 나타낸 도면,
도 2는 CT 시스템의 구성도를 나타낸 도면,
도 3은 토모신세시스 시스템의 구성도를 나타낸 도면,
도 4는 불량화소로 인한 CT의 단면영상 아티팩트의 예를 나타낸 도면,
도 5은 불량화소로 인한 토모신세시스의 단면영상 아티팩트의 예를 나타낸 도면,
도 6는 본 발명에 따른 불량화소 제거과정을 나타낸 도면,
도 7은 본 발명에 따른 고역통과 필터의 통과대역을 나타낸 도면,
도 8은 2차원의 제 2 차이 데이터에서 임의로 선택한 한 줄의 신호 크기를 나타낸 도면,
도 9는 본 발명에 따른 불량화소를 제거한 후에 재구성한 CT 단면영상을 나타낸 도면,
도 10은 본 발명에 따른 불량화소를 제거한 후에 영상합성한 토모신세시스 단면영상을 나타낸 도면이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
101 : 엑스선 투영영상에서 불량화소에 의한 훼손 데이터
201 : 엑스선관
202 : 엑스선 감지기
203 : 촬영대상
301 : 불량화소에 의한 CT 단면영상에서의 아티팩트
302 : 불량화소에 의한 토모신세시스 합성 영상에서의 아티팩트
501 : 사용자가 불량화소 판정을 위해 설정한 문턱치
502 : 문턱치보다 작아 정상으로 판정된 화소
503 : 문턱치보다 커서 불량으로 판정된 화소
Claims (4)
- 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키는 단계와;상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키는 단계와;상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하는 단계와;상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하는 단계와;상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키는 단계와;상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하는 단계와;상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하는 단계와;상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 단계를 포함하는 평판형 엑스선 감지기의 불량화소 아티팩트 제거방법.
- 청구항 1에 있어서,상기 제 1 미디언 필터 및 제 2 미디언 필터를 저역통과 필터로 대체하여 상 기 저역통과 필터를 통과시키는 것을 특징으로 하는 평판형 엑스선 감지기의 불량화소 아티팩트 제거방법.
- 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키고, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누적 데이터를 계산하고, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하고, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 제어부를 포함하는 CT 시스템의 불량화소 아티팩트 제거장치.
- 엑스선 감지기를 통하여 얻어진 다수의 투영영상 데이터에 대하여 고역통과 필터를 통과시키고, 상기 고역통과 필터를 통과한 투영영상 데이터에 대하여 제 1 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 1 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 1 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 1 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 1 차이 데이터에 대하여 엑스선 주사방향의 화소별로 모두 더하여 누 적 데이터를 계산하고, 상기 누적 데이터에 대하여 제 2 미디언 필터를 통과시키고, 상기 제 2 미디언 필터를 통과한 데이터와 상기 제 2 미디언 필터를 통과하기 이전의 데이터의 차이로부터 제 2 차이 데이터를 계산하고, 상기 제 2 차이 데이터에 대하여 문턱치 이상의 값을 나타내는 데이터를 불량화소라고 판정하고, 상기 판정된 불량화소가 위치한 상기 투영영상 데이터를 내삽법으로 보정하는 제어부를 포함하는 토모신세시스 시스템의 불량화소 아티팩트 제거장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020090078471A KR20110020969A (ko) | 2009-08-25 | 2009-08-25 | 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 영상 아티팩트 제거 방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020090078471A KR20110020969A (ko) | 2009-08-25 | 2009-08-25 | 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 영상 아티팩트 제거 방법 및 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20110020969A true KR20110020969A (ko) | 2011-03-04 |
Family
ID=43929947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020090078471A KR20110020969A (ko) | 2009-08-25 | 2009-08-25 | 단층촬영 시스템과 토모신세시스 시스템에서 평판형 엑스선 감지기의 불량화소로 인한 영상 아티팩트 제거 방법 및 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20110020969A (ko) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014193021A1 (ko) * | 2013-05-31 | 2014-12-04 | 주식회사 나노포커스레이 | 의료 영상 처리 방법 및 시스템 |
| US9058682B2 (en) | 2012-01-10 | 2015-06-16 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for virtual view generation on multi-view image reconstruction system by virtual emission of X-rays |
| US9173616B2 (en) | 2012-10-22 | 2015-11-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for providing three-dimensional (3D) image |
| US9569820B2 (en) | 2013-01-04 | 2017-02-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for image correction |
| CN109512448A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-03-26 | 深圳安科高技术股份有限公司 | 一种ct探测器位置校准方法及其系统 |
-
2009
- 2009-08-25 KR KR1020090078471A patent/KR20110020969A/ko not_active Application Discontinuation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2014193021A1 (ko) * | 2013-05-31 | 2014-12-04 | 주식회사 나노포커스레이 | 의료 영상 처리 방법 및 시스템 |
| CN109512448A (zh) * | 2018-12-29 | 2019-03-26 | 深圳安科高技术股份有限公司 | 一种ct探测器位置校准方法及其系统 |
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