JP2003197711A - 被処理体の搬送システム及び被処理体の搬送方法 - Google Patents

被処理体の搬送システム及び被処理体の搬送方法

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JP2003197711A
JP2003197711A JP2001398607A JP2001398607A JP2003197711A JP 2003197711 A JP2003197711 A JP 2003197711A JP 2001398607 A JP2001398607 A JP 2001398607A JP 2001398607 A JP2001398607 A JP 2001398607A JP 2003197711 A JP2003197711 A JP 2003197711A
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JP2001398607A
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Toshihiko Iijima
俊彦 飯島
Shuji Akiyama
収司 秋山
Hiroki Hosaka
広樹 保坂
Takashi Nakao
敬史 中尾
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Murata Machinery Ltd
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Murata Machinery Ltd
Tokyo Electron Ltd
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    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
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  • General Factory Administration (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】被処理体の搬送作業を自動化してオペレータを
排除して安全性を高めると共に検査装置等の半導体製造
装置を柔軟に運用することができ、もって被処理体のT
ATの短縮を実現すること。 【解決手段】 本発明の搬送システムEは、ホストコン
ピュータ1と、このホストコンピュータ1の管理下にあ
る複数のプローバ2と、これらのプローバ2に対してそ
れぞれの要求に応じてウエハWを一枚ずつ受け渡す複数
のRGV4と、これらのRGV4をホストコンピュータ
と連携して運用する搬送運用装置5とを備え、搬送運用
装置5は、各プローバ2と各RGV4それぞれの位置関
係に基づいて各RGV4の運用スケジュールを作成する
と共にそれぞれの最適な搬送経路を決定し、各RGV4
をそれぞれの最適な搬送経路に割り当てるスケジューラ
54A及びディスパッチャ54Bを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被処理体の搬送シ
ステム及び被処理体の搬送方法に関し、更に詳しくは枚
葉単位で被処理体を検査装置等の半導体製造装置に対し
て搬送する被処理体の搬送システム及び被処理体の搬送
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば半導体装置の検査工程では半導体
ウエハ(以下、単に「ウエハ」と称す。)の検査装置と
してプローバが広く用いられている。プローバは、通
常、ローダ室とプローバ室とを備え、ウエハ状態でデバ
イスの電気的特性検査を行う。ローダ室は、複数(例え
ば、25枚)のウエハが収納されたカセットを載置する
カセット載置部と、カセット載置部からウエハを一枚ず
つ搬送するウエハ搬送機構と、ウエハ搬送機構を介して
搬送されるウエハのプリアライメントを行うプリアライ
メント機構(以下、「サブチャック」と称す。)とを備
えている。また、プローバ室は、ウエハを載置してX、
Y、Z及びθ方向に移動する載置台(以下、「メインチ
ャック」と称す。)と、メインチャックと協働してウエ
ハのアライメントを行うアライメント機構と、メインチ
ャックの上方に配置されたプローブカードと、プローブ
カードとテスタ間に介在するテストヘッドとを備えてい
る。
【0003】従って、ウエハの検査を行う場合には、ま
ずオペレータがロット単位で複数のウエハが収納された
カセットをローダ室のカセット載置部に載置する。次い
で、プローバが駆動すると、ウエハ搬送機構がカセット
内のウエハを一枚ずつ取り出し、サブチャックを介して
プリアライメントを行った後、ウエハ搬送機構を介して
プローバ室内のメインチャックへウエハを引き渡す。プ
ローバ室ではメインチャックとアライメント機構が協働
してウエハのアライメントを行う。アライメント後のウ
エハをメインチャックを介してインデックス送りしなが
らプローブカードと電気的に接触させて所定の電気的特
性検査を行う。ウエハの検査が終了すれば、メインチャ
ック上のウエハをローダ室のウエハ搬送機構で受け取っ
てカセット内の元の場所に戻した後、次のウエハの検査
を上述の要領で繰り返す。カセット内の全てのウエハの
検査が終了すれば、オペレータが次のカセットと交換
し、新たなウエハについて上述の検査を繰り返す。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ウエハ
が例えば300mmの大口径になると、複数枚のウエハ
が収納されたカセットは極めて重いため、オペレータが
カセットを持ち運ぶことが殆ど不可能に近くなって来て
いる。また、持ち運びできたとしても重量物であるため
一人での持ち運びには危険を伴う。しかも、半導体装置
の超微細化に伴ってクリーンルーム内のパーティクル管
理が益々厳しくなるため、クリーンルーム内でのパーテ
ィクル管理面からもカセット搬送等の製造設備の自動化
が益々重要になってくる。このようなことはプローバに
限らず半導体製造装置一般に云えることでもある。
【0005】更に、ウエハの大口径化及び超微細化によ
り一枚のウエハに形成されるデバイスの数が飛躍的に増
え、一枚のウエハについて検査等の処理を終えるにも長
時間を要する上に、ロット単位でウエハの処理を行うと
全てのウエハの処理を終了するまで処理済みのウエハま
でプローバ内に止め置くことになり、ロット単位のウエ
ハを後工程に廻す時間がそれだけ遅延し、結果的にTA
T(Turn-Around-Time)の短縮が難しく、しかもプロー
バの柔軟な運用が難しいという課題があった。
【0006】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、被処理体の搬送作業を自動化してオペレー
タを排除して安全性を高めると共に検査装置等の半導体
製造装置を柔軟に運用することができ、もって被処理体
のTATの短縮を実現することができる被処理体の搬送
システム及び被処理体の搬送方法を提供することを目的
としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
の被処理体の搬送システムは、半導体装置の生産を管理
するホストコンピュータと、このホストコンピュータの
管理下で被処理体から半導体装置を製造する複数の半導
体製造装置と、これらの半導体製造装置に対してそれぞ
れの要求に応じて上記被処理体を一枚ずつ受け渡すため
に被処理体を同一軌道に沿って自動搬送する複数の自動
搬送装置と、これらの自動搬送装置を上記ホストコンピ
ュータと連携して運用する搬送運用装置とを備え、上記
搬送運用装置は、上記各半導体製造装置と上記各自動搬
送装置それぞれの位置関係に基づいて上記各自動搬送装
置の運用スケジュールを作成すると共にそれぞれの最適
な搬送経路を決定し、上記各自動搬送装置をそれぞれの
最適な搬送経路に割り当てるスケジューラ及びディスパ
ッチャを有する制御部を備えたことを特徴とするもので
ある。
【0008】また、本発明の請求項2に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1に記載の発明において、上
記スケジューラ及びディスパッチャは、上記各自動搬送
装置の双方向への移動を制御することを特徴とするもの
である。
【0009】また、本発明の請求項3に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1または請求項2に記載の発
明において、上記スケジューラ及びディスパッチャは、
上記各自動搬送装置の移動時間をそれぞれ予測すること
を特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項4に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項3のいずれか1項
に記載の発明において、上記スケジューラ及びディスパ
ッチャは、上記半導体製造装置の稼働状況に即して上記
各自動搬送装置を動的に割り当てることを特徴とするも
のである。
【0011】また、本発明の請求項5に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項4のいずれか1項
に記載の発明において、上記スケジューラ及びディスパ
ッチャは、上記被処理体の受け渡し優先度及び上記自動
搬送装置の移動時間を勘案して上記自動搬送装置を最適
な搬送経路に割り当てることを特徴とするものである。
【0012】また、本発明の請求項6に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項5のいずれか1項
に記載の発明において、上記スケジューラ及びディスパ
ッチャは、上記軌道に搬送禁止区域を設定することを特
徴とするものである。
【0013】また、本発明の請求項7に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項6のいずれか1項
に記載の発明において、上記搬送運用装置は、上記各自
動搬送装置による上記被処理体の搬送をシミュレーショ
ン機能を有することを特徴とするものである。
【0014】また、本発明の請求項8に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項7のいずれか1項
に記載の発明において、上記自動搬送装置は、上記被処
理体の種類を識別する識別手段を有することを特徴とす
るものである。
【0015】また、本発明の請求項9に記載の被処理体
の搬送システムは、請求項1〜請求項8のいずれか1項
に記載の発明において、上記自動搬送装置は、上記被処
理体を受け渡す際に上記被処理体の位置合わせを行う手
段を有すること特徴とするものである。
【0016】また、本発明の請求項10に記載の被処理
体の搬送システムは、請求項1〜請求項9のいずれか1
項に記載の発明において、上記半導体製造装置は検査装
置であること特徴とするものである。
【0017】また、本発明の請求項11に記載の被処理
体の搬送方法は、被処理体から半導体装置を製造する複
数の半導体製造装置の要求に応じて複数の自動搬送装置
が上記被処理体を搭載して同一軌道に沿って搬送し、上
記自動搬送装置と上記半導体製造装置との間で上記被処
理体を一枚ずつ受け渡す被処理体の搬送方法であって、
上記各半導体製造装置と上記各自動搬送装置それぞれの
位置関係に基づいて上記各自動搬送装置の運用スケジュ
ールを決定する工程と、上記運用スケジュールに基づい
て上記各自動搬送装置それぞれの最適な搬送経路を決定
する工程と、上記各自動搬送装置をそれぞれの最適な搬
送経路に割り当てる工程とを備えたことを特徴とするも
のである。
【0018】また、本発明の請求項12に記載の被処理
体の搬送方法は、請求項11に記載の発明において、上
記各自動搬送装置の搬送経路を逐次予測する工程を有す
ることを特徴とするものである。
【0019】また、本発明の請求項13に記載の被処理
体の搬送方法は、請求項11または請求項12に記載の
発明において、上記各半導体製造装置の稼働状況に即し
て上記各自動搬送装置を動的に割り当てる工程を有する
ことを特徴とするものである。
【0020】また、本発明の請求項14に記載の被処理
体の搬送方法は、請求項11〜請求項13のいずれか1
項に記載の発明において、上記被処理体の受け渡し優先
度及び上記自動搬送装置の移動時間を勘案して上記自動
搬送装置を最適な搬送経路に割り当てる工程を有するこ
とを特徴とするものである。
【0021】また、本発明の請求項15に記載の被処理
体の搬送方法は、請求項11〜請求項14のいずれか1
項に記載の発明において、上記軌道に搬送禁止区域を設
定する工程を有することを特徴とするものである。
【0022】また、本発明の請求項16に記載の被処理
体の搬送方法は、請求項11〜請求項15のいずれか1
項に記載の発明において、上記半導体製造装置は検査装
置であることを特徴とするものである。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図10に示す実施形
態に基づいて本発明を説明する。本実施形態の被処理体
の搬送システムEは、図1、図3に示すように、被処理
体であるウエハ(図示せず)の検査工程を含む半導体製
造工場全体を生産管理するMES(Manufacturing Excut
ion System)が構築されたホストコンピュータ1と、こ
のホストコンピュータ1とSECS(Semiconductor Equ
ipment Communication Standard)通信回線を介して接続
され且つホストコンピュータ1の管理下でウエハの電気
的特性検査を行う複数の半導体製造装置(例えば、プロ
ーバ)2と、これらのプローバ2に対してそれぞれの要
求に応じてウエハを一枚ずつ受け渡すためにウエハをカ
セット単位で同一の軌道3に従って双方向に自動搬送す
る複数の自動搬送装置(以下、「枚葉式RGV(rail gu
ided Vehicle)」と称す。)4と、これらの枚葉式RG
V4をホストコンピュータ1と連携して運用するために
ホストコンピュータ1とSECS通信回線を介して接続
され且つRCS(RGV Control System)が構築された搬送
運用装置5とを備え、各構成機器が通信回線を介してネ
ットワーク接続されている。従って、枚葉式RGV4は
レール3を移動するため、枚葉式RGV4の移動領域を
上に制限することができ、枚葉式RGV4の移動領域に
余分のスペースを設ける必要がなく省スペース化を実現
することができる。更に、枚葉式RGV4はレール3上
を移動するため、枚葉式RGV4の移動速度を高速化す
ることができる。
【0024】上記プローバ2と枚葉式RGV4は、SE
MI規格E23やE84に基づく光結合された並列I/
O(以下、「PIO」と称す。)通信インターフェース
(例えば、16ビットの情報処理に対応)を有し、両者
間でPIO通信を行うことによりウエハを一枚ずつ受け
渡す。このプローバ2はウエハを一枚ずつ枚葉単位で受
け取って検査を行うため、枚葉式プローバとして構成さ
れている。また、搬送運用装置(RCS)5にはRGV
コントローラ6がSECS通信回線を介して接続され、
搬送運用装置5の管理下でRGVコントローラ6は無線
通信を介して枚葉式RGV4を制御する。PIO通信の
インターフェース及び通信方法は例えば特願2001−
005789号に記載の技術に準じて構成することがで
きる。
【0025】また、上記ホストコンピュータ1にはプロ
ーバ2に接続されたテスタ7を管理、制御するサーバ及
びコントローラ(ES(Equipment Server)/EC(Equip
ment Controller))8がSECS通信回線を介して接続
されている。また、ホストコンピュータ1にはウエハを
カセット単位で取り扱うストッカ9、リフタ(図示せ
ず)及び天井軌道走行型搬送車(以下、単位「天井搬送
車」と称す。)(図示せず)を管理、制御するMCS(M
aterial Control System))が構築されたカセット搬送
制御装置10及びそのサーバ11がSECS通信回線を
介して接続されている。
【0026】上記搬送運用装置5は、図2に示すよう
に、ユーザインターフェース(以下、「ユーザI/F」
と称す。)51と、ホストコンピュータ1と通信するた
めのホストインターフェース(以下、「ホストI/F」
と称す。)52と、RGVコントローラ6と通信するた
めのRGVインターフェース(以下、「RGVI/F」
と称す。)53と、複数の枚葉式RGV4を最適に運用
するために運用スケジュールを作成するからと共に最適
な搬送経路を決定するスケジューラ54Aと、スケジュ
ーラ54Aにおいて決定された最適な搬送経路に複数の
枚葉式RGV4を割り当てるディスパッチャ54Bを有
する制御部54とを備え、制御部54では枚葉式RGV
4の移動命令や作業命令等のコマンドを管理し、これら
のコマンドの基づいてスケジューラ54A及びディスパ
ッチャ54Bが機能する。ホストI/F52及びRGV
I/F53は共にSEMI規格E82に基づいたインタ
ーフェースとして構成されている。また、この搬送運用
装置5はシミュレーション機能を有し、枚葉式RGV4
を実際に移動させることなく枚葉式RGV4の最適な搬
送経路を計画することができる。
【0027】従って、入力装置(図示せず)からプロー
バ2及び枚葉式RGV4それぞれの配置状態や配置台数
等の搬送に必要な搬送情報を入力して搬送運用装置5が
作動すると、搬送情報に基づいたコマンドがユーザI/
F51を介して制御部54に入力し、制御部54ではホ
ストコンピュータ1と連携して入力コマンドに即してス
ケジューラ54Aにおいて枚葉式RGV4の運用スケジ
ュールを自動的に作成すると共に最適な搬送経路を検索
した後、ディスパッチャ54Bにおいて各枚葉式RGV
4をそれぞれの最適な搬送経路に割り当て、その結果を
RGVI/F53を介してRGVコントローラ6との間
で通信を行い、RGVコントローラ6からの無線通信を
介して枚葉式RGV4を最適な搬送経路に従って移動さ
せる。例えば図2に示すように、搬送運用装置5では、
運用スケジュールに基づいて最適なウエハ搬送経路の決
定、枚葉式RGV4のレール3上での双方向制御、搬送
の予測制御、枚葉式RGV4の動的な割付とディスパッ
チング、オンラインチューニング、トータルコストの算
出及び枚葉式RGV4の移動領域の制限等を行う。これ
らの運用内容については本発明方法と共に後述する。
【0028】而して、図1に示す被処理体の搬送システ
ムEの枚葉式RGV4の運用に直接関わる部分をより具
体的に図示したものが図3である。複数のプローバ2は
例えば図3に示すように間隔を空けて併設された二箇所
のレール3に沿って配列されている。各レール3の左側
の領域にはプローバ2が両側に配置され、各レール3の
右側の領域にはプローバ2が片側のみに配置されてい
る。この配列は検査工程によって最適な配列が採用され
る。
【0029】また、上記ストッカ9は、例えば図3に示
すように、大量(例えば、200個程度)のカセットC
を保管するメインストッカ91と、プローバ2での検査
に即してメインストッカ91から小出しした少量(例え
ば、20個程度)のカセットCを保管するミニストッカ
92とからなり、これら両者は天井軌道12によって連
絡している。図3に示す例では、メインストッカ91が
プローバ2の配置領域の外側に位置し、ミニストッカ9
2が二箇所のレール3の間に配置されている。更に、ミ
ニストッカ92のプローバ2側にはバッファテーブル1
3が配置され、天井搬送車を介してミニストッカ92と
バッファテーブル13間でカセットCを自動的に搬送す
る。ミニストッカ92の隣には複数枚のプローブカード
を保管するカードストッカ14が配置されている。カセ
ットCは後述するように口径を異にする複数種(例え
ば、200mmと300mmの2種類)のウエハWで共
用できるように構成されている。
【0030】また、半導体製造工場ではプローバ2は例
えば数10台配置され、これに伴ってレール3を二列以
上設けられていると共にそれぞれのレール3にプローバ
2の設置台数に応じて複数台配置されている。そして、
検査には複数の検査内容があり、レール3のラインによ
って検査内容が異なる場合もある。この場合には各ライ
ンの検査を終了したら、天井搬送車を用いてそのウエハ
をカセット単位で次のラインへ搬送する。
【0031】上記枚葉式RGV4は、例えば図4に示す
よう、クリーンエアトンネル15内を走行し、ウエハの
搬送領域をクリーンエアで被っている。クリーンエアト
ンネル15は、同図に示すように、トンネル151と、
トンネル151の天井に空間を介して配設されたULP
Aフィルタ等のエアフィルタ152と、クリーンルーム
内の空気をトンネル151内に循環させる循環ファン1
53とを備え、トンネル151内を例えばクラス10程
度の清浄度を保つようにしている。トンネル151には
枚葉式RGV4とプローバ2との間のウエハの受け渡し
口151Aが形成されている。従って、枚葉式RGV4
によってウエハを搬送する間でもウエハはクラス10の
清浄な空気で被われてパーティクルからの汚染を防止し
ている。また、プローブカードを搬送するRGVを準備
し、プローブカードを交換する必要が生じた場合にはこ
のRGVを介して所定のプローバまでプローブカード搬
送し、交換する。
【0032】上記枚葉式RGV4は、例えば図5の
(a)、(b)に示すように、RGV本体41と、RG
V本体41上の端部に配設され且つ25枚のウエハWを
収納する傾斜駆動可能なバッファカセット42と、バッ
ファカセット42と隣接する旋回機構43と、この旋回
機構43に配設された上下二段に渡って屈伸可能なアー
ムを有するウエハ搬送機構44と、このウエハ搬送機構
44に取り付けられたウエハのマッピングセンサ(図示
せず)と、バッファカセット42からウエハWの飛び出
しを防止する飛び出し防止部材(図示せず)とを備えて
いる。ウエハ搬送機構44は上下二段のアームの先端に
取り付けられたハンド441、442を有し、例えばボ
ールネジ機構を介して旋回機構43と一体的に昇降可能
に構成されている。また、飛び出し防止部材は、バッフ
ァカセット42の正面の上下の枠中央に形成された溝に
係合するストッパロッドと、ストッパロッドを溝に係合
させるための駆動機構とを有する。バッファカセット4
2からのウエハWの飛び出し防止は、バッファカセット
42の傾斜駆動機構あるいは飛び出し防止部材のいずれ
か一方の機能によっても達成することができる。
【0033】従って、バッファテーブル13のカセット
Cと枚葉式RGV4のバッファカセット42との間でウ
エハWを受け渡す時には、ウエハ搬送機構44が旋回、
昇降を繰り返してカセットCまたはバッファカセット4
2内のウエハWを例えば上側のハンド441を用いてカ
セットCとバッファカセット42との間で例えば25枚
のウエハWを搬送する。そして、枚葉式RGV4はウエ
ハWの飛び出しを防止した状態でレール2に従って目的
のプローバ2の所定位置まで移動し、枚葉式RGV4と
プローバ2との間でウエハWの受け渡しを行う。この受
け渡しの時にはウエハ搬送機構44の上側のハンド44
1を用いて枚葉式RGV4からプローバ2へウエハWを
引き渡し、下側のハンド442を用いて検査済みのウエ
ハWをプローバ2から受け取る。
【0034】上記プローバ2は、図5の(a)、(b)
に示すように、ローダ室21と、プローバ室22とを備
えている。ローダ室21は、枚葉式RGV4との間でウ
エハWを一枚ずつ受け渡す受け渡し機構(以下、「アダ
プタ」と称す。)23と、アダプタ23とプローバ室2
2との間でウエハWを搬送するウエハ搬送機構24と、
ウエハ搬送機構24を介してウエハWをプローバ室22
へ搬送する間にオリフラを基準にプリアライメントを行
う正逆回転可能なサブチャック25とを備え、サブチャ
ック25を介してウエハWが回転する間にオリフラセン
サ(図示せず)を介してオリフラを検出すると共に光学
式文字認識装置(OCR)(図示せず)を介してウエハ
Wに附されたIDコードを読み取って検査対象のウエハ
Wを特定する。ウエハ搬送機構24は、同図の(a)に
示すように先端部が二股状に分岐した上下二段のセラミ
ック製のハンド241を有し、それぞれのハンド241
でウエハWを真空吸着して保持し、真空吸着を解除する
ことでウエハWを受け渡し可能な状態にする。
【0035】また、上記プローバ室22は、後述するメ
インチャック26と、アライメント機構27と、プロー
ブカード28とを有している。メインチャック26は
X、Yテーブル29を介してX、Y方向へ移動すると共
に図示しない昇降機構及びθ回転機構を介してZ方向及
びθ方向へ移動する。アライメント機構27は、従来公
知のようにアライメントブリッジ271、CCDカメラ
272及び一対のガイドレール273を有し、メインチ
ャック26と協働してウエハWとプローブカード28と
のアライメントを行う。プローブカード28は複数のプ
ローブ281を有し、プローブ281がメインチャック
26上のウエハWと電気的に接触し、テストヘッド(図
示せず)を介してテスタ7(図1参照)と接続される。
【0036】次に、図6〜図8をも参照しながら本発明
の被処理体の搬送方法の一実施形態について説明する。
まず、搬送運用装置5の入力装置(図示せず)からプロ
ーバ2及び枚葉式RGV4それぞれの配置状態や配置台
数等の搬送に必要な搬送情報を入力する。然る後、搬送
運用装置5が作動すると、搬送情報に基づいたコマンド
がユーザI/F51を介して制御部54に入力し、制御
部54のスケジューラ54Aではホストコンピュータ1
と連携して入力コマンドに即して枚葉式RGV4の運用
スケジュールを自動的に作成する。更に、スケジューラ
54Aでは運用スケジュールの複数ある搬送経路の中か
ら現状の枚葉式RGV4に最適な搬送経路を決定する。
最適な搬送経路が決定されると、ディスパッチャ54B
においてこの最適な搬送経路に複数の枚葉式RGV4を
自動的に割り当てる。複数の枚葉式RGV4はそれぞれ
の割り当てに従ってレール3上を互いに同期して移動す
る。
【0037】例えば、枚葉式RGV4はウエハ搬送機構
44を介してバッファテーブル13から例えば25枚の
ウエハWを受け取る。この際、ウエハ搬送機構44はマ
ッピングセンサでバッファテーブル13上のカセットC
内のウエハWをマッピングした後、ウエハ搬送機構44
を介してバッファテーブル13上のカセットC内のウエ
ハWを枚葉式RGV4のバッファカセット42内に移載
する。次いで、この枚葉式RGV4は搬送運用装置5を
介して割り当てられた最適な搬送経路に従って所定のプ
ローバ2まで移動した後、ウエハ搬送機構44を介して
バッファカセット42内のウエハWをマッピングした
後、所定のウエハWをプローバ2のアダプタ23へウエ
ハWを引き渡す。
【0038】枚葉式RGV4のウエハ搬送機構44とプ
ローバ2のアダプタ23との間でウエハWの受け渡しを
行う際には、プローバ2とRGV3間で光結合PIO通
信を行う。そのため、RGV3とプローバ2は互いにP
IO通信を利用して一枚のウエハWの受け渡しを正確に
行う。
【0039】ここでウエハWの引き渡し動作について説
明する。枚葉式RGV4ではウエハ搬送機構44が昇降
し上のハンド441を介して所定のウエハWをバッファ
カセット42内から取り出し、上のハンド441を縮め
た後、図5の(a)に示すようにウエハ搬送機構44が
旋回機構43を介して90゜回転し、ハンド441をプ
ローバ2のアダプタ23側に向ける。引き続き、上のハ
ンド441を伸ばすと、ウエハWがアダプタ23のウエ
ハ支持体231の上方に達する。この時、ウエハ支持体
231が上昇し、同図の(b)に示すようにウエハ支持
体231が上のハンド441からウエハWを真空吸着し
て受け取って下降する。
【0040】プローバ2では図5の(a)に示すように
ウエハ搬送機構24が駆動してアダプタ23内にハンド
241を進出し、ウエハWをハンド241の吸着パッド
242で真空吸着する。次いで、ウエハ搬送機構24は
ハンド241をアダプタ23から後退させた後、プロー
バ室22までウエハWを搬送する。ウエハWを搬送する
間にサブチャック25を介してウエハWのプリアライメ
ントを行うと共にOCRを介してサブチャック25上の
ウエハWのIDコードを読み取る。プリアライメント
後、再びウエハ搬送機構24のハンド241を介してウ
エハWを受け取った後、ハンド241をプローバ室23
に向ける。
【0041】この間にプローバ室22内ではメインチャ
ック26が待機位置まで移動している。そこで、ウエハ
搬送機構24がハンド241を伸ばすとメインチャック
26へウエハWを引き渡す。メインチャック26上にウ
エハWが載置されると、メインチャック26はウエハW
を吸着固定し、ウエハの検査を実施することができる。
検査終了後には逆経路でウエハWをアダプタ23内へ戻
す。
【0042】遅くともこの間、あるいはウエハWお検査
中にプローバ2における検査状況は通信回線を介してテ
スタ7からホストコンピュータ1に逐次通知され、ホス
トコンピュータ1において把握、管理している。従っ
て、プローバ2における検査が終了したり、検査に異常
が発生すれば、ホストコンピュータ1はテスタ7を介し
て瞬時に知ることができ、この情報を通信回線を介して
搬送運用装置5に逐次通知する。搬送運用装置5は逐次
変化する検査状況に即して複数の枚葉式RGV4の運用
スケジュールを更新し、その都度全ての枚葉式RGV4
の搬送経路を求めた後、最適な搬送経路を決定する。こ
の際、スケジューラ54A及びディスパッチャ54Bで
は各搬送経路における移動時間及び受け渡し実行時間を
予測し、各搬送経路の中から最適な搬送経路を検索し、
決定する。そして、搬送運用装置5は、この決定結果に
基づいて枚葉式RGV4コントローラ6を介して枚葉式
RGV4との無線通信によって最適な搬送経路に各枚葉
式RGV4を割り当て、プローバ2の稼働効率を高める
と共に、複数の枚葉式RGV4それぞれの移動時間を極
力短縮する。
【0043】例えば、図6の(a)に示すように2台の
枚葉式RGV4A、4Bが隣り合った位置にあり、一方
の枚葉式RGV4Aがのプローバ(図示せず)との間
でウエハの受け渡しを実行し、の隣にあるのプロー
バでは次のウエハを待機し、更に、これらのプローバか
らは遠く離れたのプローバでも次のウエハを待機して
いると仮定する。この検査状況はテスタ7からの通知に
よってホストコンピュータ1において認識し、この状況
を通信回線を介して搬送運用装置5に通知する。搬送運
用装置5では他方の枚葉式RGV4Bにとのいずれ
のプローバを割り当てるかが問題となる。そこで、搬送
運用装置5ではホストコンピュータ1からの通知に基づ
いて一方の枚葉式RGV4Aとのプローバとの受け渡
し時間、この枚葉式RGV4Aの現在位置からのプロ
ーバまでの移動時間、更に、他方の枚葉式RGV4Bの
現在位置からまたはまでの移動時間を予測し、及
びのプローバにいずれの枚葉式RGV4A、4Bを割
り当てれば最短時間でウエハの受け渡しを実行できる最
適な搬送経路であるかを決定し、この決定に基づいて枚
葉式RGV4A、4Bを割り当てる。この場合、一方の
枚葉式RGV4Aをのプローバに割り当て、他方の枚
葉式RGV4Bをのプローバに割り当てるのが最適な
搬送経路であると決定し、同図の(b)に示すように各
枚葉式RGV4A、4Bをそのように割り当てる。この
割り当てに基づいて一方の枚葉式RGV4Aはのプロ
ーバでの受け渡しを終了した後、のプローバへ移動
し、他方の枚葉式RGV4Bはのプローバへ移動し、
同図の(c)に示すようにそれぞれの受け渡しを実行す
る。従って、2台の枚葉式RGV4A、4Bを共にの
プローバに割り当てることがなく、2台の枚葉式RGV
4A、4Bが衝突するようなことはない。
【0044】このように搬送運用装置5では常にホスト
コンピュータ1と連携し、各プローバでの検査状況を把
握し、オペレータが介在することなくウエハを最適な搬
送経路を予測し、その搬送経路に枚葉式RGV4A、4
Bを自動的に割り当てて最短時間でウエハを各プローバ
に割り振ることができるため、搬送ラインからオペレー
タを排除して安全性を高めることができると共にTAT
の短縮に寄与することができ、しかも枚葉式RGV4
A、4B同士の衝突を確実に防止することができる。
【0045】また、搬送運用装置5はホストコンピュー
タ1と連携して制御部54のスケジューラ54A及びデ
ィスパッチャ54Bにおいて現在の枚葉式RGV4に割
り当てた搬送経路が最適か否かを逐次確認し、その都度
スケジューラ54Aを介して運用スケジュールを更新
し、最適な搬送経路を検索し、ディスパッチャ54Bを
介して最適な搬送経路に各枚葉式RGV4を動的に割り
当てる。
【0046】例えば、あるプローバ2での検査中、ウエ
ハに欠陥があった場合には検査を中断し、他のウエハと
取り替えてプローバの稼働効率の低下を防止する必要が
ある。このような緊急事態が発生した場合には、ホスト
コンピュータ1がテスタ7を介してこの事実を認識し、
搬送運用装置5に通知する。搬送運用装置5はこの通知
に基づいてスケジューラ54Aにおいて運用スケジュー
ルを更新し、全ての枚葉式RGV4の最適な搬送経路を
検索し、ディスパッチャ54Bを介して最短時間でウエ
ハを搬送できる枚葉式RGV4をそのプローバに割り当
てる。例えば図7の(a)に示すように、枚葉式RGV
4が現在のスタート位置から移動を開始してのプロー
バに向かう途中でのプローバの手前ののプローバで
上述のような緊急事態が発生した場合には、スケジュー
ラ54Aを介して同図の(b)に示すように枚葉式RG
V4に割り当てられたのプローバへの搬送経路を取り
消し、ディスパッチャ54Bを介して枚葉式RGV4に
のプローバへの搬送経路を割り当てる。この枚葉式R
GV4はのプローバよりものプローバを優先して
のプローバに向かい、同図の(c)に示すようにのプ
ローバにおいてウエハの受け渡しを実行する。この間
のプローバは枚葉式RGV4を待機する。また、仮に他
のRGV(図示せず)が空いていてそのRGVをのプ
ローバに割り当てる方が効率的であれば、スケジューラ
54Aではそのような運用スケジュールを作成してあ
り、ディスパッチャ54Bを介してその枚葉式RGV4
をのプローバに割り当てる。
【0047】図7の(c)に示すように枚葉式RGV4
がのプローバでの受け渡しを終えると、搬送運用装置
5はこの枚葉式RGV4をのプローバに割り当てる。
この際他のRGV(図示せず)が本枚葉式RGV4の移
動先であるのプローバに既に位置している場合であっ
ても運用スケジュールに基づいて本枚葉式RGV4の受
け渡し作業が他のRGVに優先し、本枚葉式RGV4が
のプローバに到達する前に他のRGVをその位置から
退避させると共に他の搬送経路に割り当てる。仮に他の
プローバが運用スケジュールに基づいてのプローバに
おいて既にウエハの受け渡しを実行している場合には、
スケジューラ54Aにおいて運用スケジュールを更新
し、ディスパッチャ54Bを介して本枚葉式RGV4を
他のプローバに割り当てる。このように搬送運用装置5
はホストコンピュータ1と連携し常に枚葉式RGV4に
動的に受け渡し作業を割り当て、最短時間でウエハを搬
送する。
【0048】また、搬送運用装置5は、スケジューラ5
4A及びディスパッチャ54Bにおいてホストコンピュ
ータ1と連携し、枚葉式RGV4を介して割り振ったウ
エハの検査結果に即して次の取り扱いを決定する。例え
ば、搬送運用装置5は、ホストコンピュータ1からプロ
ーバ2での検査結果の通知を受け、不良ウエハ等を回収
したり、再検査に供する。仮にウエハ不良等によって、
あるプローバでの検査を中断した場合には、枚葉式RG
V4で次のウエハを受け渡した後に不良ウエハを回収
し、その時の状況によっては不良ウエハをアダプタ23
のウエハ収納部(図示せず)内に一時的に保管し、後で
そのウエハを回収する。また、前工程でウエハ不良が発
生した場合には、ウエハ不良を含むロットが前工程のコ
ンピュータ(図示せず)からホストコンピュータ1に通
知され、あるいはそのロットをホストコンピュータ1に
入力する。ホストコンピュータ1がこの情報を搬送運用
装置5に通知すると、搬送運用装置5がスケジューラ5
4A及びディスパッチャ54Bによって作成された運用
スケジュールに基づいてそのロットのウエハを試験的に
プローバ2に割り振り、プローバにおいてそのウエハの
検査を行う。ホストコンピュータ1はこの検査結果をテ
スタ7から通知され、その他のウエハについて検査を行
う必要があるか否かを判断する。搬送運用装置5は、そ
の判断結果に基づいてスケジューラ54Aを介して運用
スケジュールを作成し、ディスパッチャ54Bを介して
枚葉式RGV4を割り当てそのウエハを自動的に回収
し、場合によってそのロットのウエハを再検査するため
に枚葉式RGV4を割り当てる運用スケジュールを作成
し、枚葉式RGV4を最適な搬送経路に割り当てる。
【0049】また、搬送運用装置4は上述したように通
信回線を介してホストコンピュータ1と連携し、複数の
枚葉式RGV4の移動先を予測してそれぞれの枚葉式R
GV4に最適な搬送経路を割り当てるため、複数の枚葉
式RGV4は互いに同期してそれぞれの搬送経路を移動
する。例えば図8の(a)に示すように、ある枚葉式R
GV4にの位置からの位置までの搬送経路を割り当
てればその枚葉式RGV4は一度の命令で他のRGVに
関係なく一気にからまで移動することができる。従
って、枚葉式RGV4を高速性を最大限に活かすことが
できる。ところが、従来は、複数の自動搬送車が互いに
同期することなく個別に移動するため、例えば図8の
(b)に示すように自動搬送車4’がの位置からの
位置まで移動するにしても、他の自動搬送車との関係を
考慮して移動するため、自動搬送車4’は同図に(b)
に示すように複数回(同図では2回)の移動命令でか
らまで移動しなくてはならず、自動搬送車4’の高速
化が難しく搬送効率を高めることができなかった。
【0050】また、搬送運用装置5は、スケジューラ5
4Aにおいてウエハの受け渡し優先度及び枚葉式RGV
4の移動時間を勘案し、ディスパッチャ54Bを介して
枚葉式RGV4を最適な搬送経路に割り当てる。スケジ
ューラ54Aではウエハの受け渡し優先度及び枚葉式R
GV4の移動時間を勘案するに当たり、通常は全てのG
V4の移動時間が最も短い搬送経路を検索し、各枚葉式
RGV4の移動コストの総計が最も低コストになる搬送
経路を最適な搬送経路として各枚葉式RGV4に割り当
る。しかし、緊急を要する優先度の高いロットを搭載し
ている枚葉式RGV4が介入すると、他の枚葉式RGV
4に優先して空きプローバ2への搬送経路を選択して優
先順位の高い枚葉式RGV4を割り当てる。
【0051】また、メンテナンスを必要とするプローバ
2が発生した場合には、そのプローバを搬送運用装置5
の入力装置を介して入力すると、スケジューラ54Aで
はそのプローバ2に対応するレール3に禁止区域に設定
し、枚葉式RGV4を禁止区域を移動させないようにす
る。従って、搬送システムEが稼働中であってもそのプ
ローバ2のメンテナンスを確実に行うことができる。
【0052】ところで、搬送システムEの稼働中にプロ
ーブカードを交換するプローバが発生することがある。
この場合にもRGVを用いてプローブカードを目的のプ
ローバまで搬送し、自動的にプローブカードを交換する
ことができる。あるいは、RGVによって目的のプロー
バのオペレーション領域OPまでプローブカードを搬送
し、オペレーション領域OPにおいてオペレータがプロ
ーブカードを交換する。従って、重量化したプローブカ
ードをRGVによって搬送するため、プローブカードの
搬送作業の安全性を高めることができる。
【0053】以上説明したように本実施形態によれば、
搬送運用装置5のスケジューラ54A及びディスパッチ
ャ54Bにおいて複数の枚葉式RGV4の運用スケジュ
ールを作成すると共に最適な搬送経路を決定し、各枚葉
式RGV4をそれぞれの最適な搬送経路に割り当て、枚
葉式RGV4をレール3に従って移動させるようにした
ため、ウエハWの搬送を完全に自動化することができ、
オペレータを格段に削減することができると共に、枚葉
式RGV4によってウエハWを最短時間で搬送し、TA
Tを短縮することができる。しかも、枚葉式RGV4が
レール3上を移動するため、ウエハWを高速で搬送する
ことができ、TAT短縮に貢献し、また、枚葉式RGV
4の移動領域を削減することができ、クリーンルームの
省スペース化に貢献することができる。
【0054】また、本実施形態によれば、スケジューラ
54A及びディスパッチャ54Bによって複数の枚葉式
RGV4の双方向への移動を制御するようにしたため、
枚葉式RGV4に最寄りのプローバ2へ差し向けること
ができ、ウエハWを短時間で搬送することができる。ま
た、スケジューラ54A及びディスパッチャ54Bによ
って全ての枚葉式RGV4の移動時間をそれぞれ予測す
るようにしたため、枚葉式RGV4を効率的に運用する
ことができる。また、スケジューラ54A及びディスパ
ッチャ54Bによってプローバ2の稼働状況に即して各
枚葉式RGV4を動的に割り当てるようにしたため、ウ
エハWの検査に何らかの異常やエラーが発生しても柔軟
に対応し、枚葉式RGV4を効率的に運用して短時間で
ウエハWを搬送することができる。また、スケジューラ
54A及びディスパッチャ54Bによってウエハの受け
渡し優先度及び枚葉式RGV4の移動時間を勘案して複
数の枚葉式RGV4をそれぞれの最適な搬送経路に割り
当てるようにしたため、全ての枚葉式RGV4の移動時
間を最短化して枚葉式RGV4の運用コストを節約する
ことができ、優先度の高い枚葉式RGV4が存在すれ
ば、優先順に枚葉式RGV4を割り当てることができ
る。更に、スケジューラ54A及びディスパッチャ54
Bによってレール3に禁止区域を設定するようにしたた
め、例えば、あるプローバ2にメンテナンスを必要とす
る場合にはそのプローバ2に対応するレール3を枚葉式
RGV4を移動させず、メンテナンスを安全に行うこと
ができる。また、搬送運用装置5は、全ての枚葉式RG
V4によるウエハの搬送をシミュレーション機能を有す
るため、枚葉式RGV4を実際に移動させることなく枚
葉式RGV4の最適な搬送経路を計画することができ
る。
【0055】ところで、上記実施形態ではプローバ2が
ローダ室21を備えた場合について説明したが、図3、
図5に(a)に示すプローバ2のローダ室を図9に示す
ように省略し、ウエハのローダ、アンローダ機能を枚葉
式RGV4に肩代わりさせることができる。ローダ機能
を枚葉式RGV4に付与することにより搬送システムの
ローダ、アンローダ機能を削減し、設備コストを低コス
ト化する図ることができる。尚、以下では上記実施形態
と同一部分または相当部分には同一符号を附して説明す
る。
【0056】本実施形態の被処理体の搬送システムE
は、図10に示すように枚葉式RGV4がローダ、アン
ローダ機能を具備している以外は上記実施形態の準じて
構成されている。本実施形態の枚葉式RGV4は、RG
V本体41と、RGV本体41上の端部に配設され且つ
25枚のウエハWを収納する傾斜駆動可能なバッファカ
セット42と、バッファカセット42と隣接する旋回機
構43と、この旋回機構43に配設された屈伸可能なア
ームを有するウエハ搬送機構44と、このウエハ搬送機
構44に隣接する姿勢合わせ機構45とを備え、RGV
コントローラ6の制御下でウエハ搬送機構44を介して
プローバ2のメインチャック26との間でウエハWを直
接受け渡しを行う。この枚葉式RGV4は姿勢合わせ機
構45を除き、上記実施形態に準じて構成され、飛び出
し防止部材及び傾斜駆動機構2を介して搬送中にバッフ
ァカセット42からのウエハWの飛び出しを防止するよ
うになっている。尚、本実施形態の枚葉式RGV4は特
願2001−121024号に記載の技術に準じて構成
することができる。従って、枚葉式RGV4の詳細は特
願2001−121024号の明細書に譲り、その概要
について説明する。
【0057】上記姿勢合わせ機構45は、ウエハWを載
せる正逆回転可能なサブチャック451と、サブチャッ
ク451が正逆回転する間に口径を異にするウエハWの
オリフラを検出する複数(図10では2個)のオリフラ
センサ452A、452Bと、各ウエハWに附されたI
D記号を読み取るOCR453とを備えている。またウ
エハ搬送機構44には光電センサからなるマッピングセ
ンサ(図示せず)が取り付けられ、ウエハ搬送機構44
が昇降する際にバッファカセット42内のウエハWをマ
ッピングする。
【0058】従って、枚葉式RGV4はウエハ搬送機構
44を介してバッファカセット42内のウエハWをマッ
ピングした後、バッファテーブル13上のカセットCか
らバッファカセット42の空き棚段にウエハWを移載す
る。引き続き、枚葉式RGV4はバッファカセット42
を傾斜させて搬送運用装置5を介して割り当てられた搬
送経路をレール3に従って図10に示すように目的のプ
ローバ2まで移動する。
【0059】そして、RGVコントローラ6の制御下で
ウエハ搬送機構44の上のハンド441を介してバッフ
ァカセット42内のウエハWを取り出した後、旋回機構
43を介して180゜回転し、ハンド441を伸ばして
ウエハWを姿勢合わせ機構45内へ挿入し、サブチャッ
ク451上に載置する。サブチャック451はウエハW
を吸着固定した後、サブチャック451が回転する間に
オリフラセンサ452A及び452Bを介してウエハW
及びオリフラの回転軌跡をそれぞれ検出する。そして、
RGVコントローラ6においてサブチャック451の回
転時のウエハW及びオリフラそれぞれの回転軌跡に基づ
いてウエハWの中心とサブチャック451の中心とのズ
レを求め、ウエハ搬送機構44を介してそのズレを補正
してサブチャック451上のウエハWをセンタリングす
る。その後、サブチャック451を回転させてIDコー
ドをOCR453によって読み取ると共にウエハWのオ
リフラをサブチャック451の回転によって所定の方向
へ向けて位置合わせを行う。OCR453の読み取り情
報はRGVコントローラ6を介して無線通信によって搬
送運用装置5に通知し、搬送運用装置5は通信回線を介
してホストコンピュータ1及びテスタ7にこの情報を通
知する。一方、ウエハ搬送機構44は上ハンド441を
介してサブチャック41上のウエハWを姿勢合わせ機構
45から引き取った後、上ハンド441が旋回機構43
を介して90゜回転すると共に昇降機構を介して昇降
し、上ハンド441をプローバ2内に挿入し、メインチ
ャック26上にウエハWを載置した後、アーム441を
縮める。
【0060】また、枚葉式RGV4が検査後のウエハW
をプローバ2から受け取る時にはウエハ搬送機構44の
下のハンド442を用いる。この場合には、枚葉式RG
V4は、ウエハ搬送機構44の下のハンド442を介し
てプローバ2のメインチャック26からウエハWを受け
取ってバッファカセット42内の元の位置に収納した
後、上述のように次のウエハWを上のハンド441を介
してメインチャック26上に載置する。
【0061】以上説明したように本実施形態によれば、
枚葉式RGV4がウエハWのロード、アンロード機能を
具備しているため、各プローバ2のロード、アンロード
機能を省略することができ、プローバ2のコストダウン
を図ることができる。
【0062】尚、本発明は上記実施形態に何等制限され
るものではなく、必要に応じて適宜設計変更することが
できる。例えばRGVに代えてAGV等の自動搬送車を
使用することもできる。
【0063】
【発明の効果】本発明の請求項1〜請求項16に記載の
発明によれば、被処理体の搬送作業を自動化してオペレ
ータを排除して安全性を高めると共に検査装置等の半導
体製造装置を柔軟に運用することができ、もって被処理
体のTATの短縮を実現することができる被処理体の搬
送システム及び被処理体の搬送方法を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の被処理体の搬送システムの一実施形態
を示す構成図である。
【図2】図1に示す搬送運用装置の構成を示すブロック
図である。
【図3】図1に示す被処理体の搬送システムを各構成機
器のレイアウト及びその動きを説明する説明図である。
【図4】図3に示すRGVの搬送経路の断面構造を示す
概念図である。
【図5】図3に示すプローバとRGV間のウエハの受け
渡しを説明する図で、(a)はその平面図、(b)はそ
の要部を示す側面図である。
【図6】(a)〜(c)はそれぞれ本実施形態の被処理
体の搬送システムを用いた本発明方法の一実施形態を示
す説明図である。
【図7】(a)〜(c)はそれぞれ本発明方法の他の実
施形態を示す図6に相当する図である。
【図8】(a)、(b)はそれぞれ本発明方法の更に他
の実施形態を示す図6に相当する図である。
【図9】本発明の被処理体の搬送システムの他の実施形
態を示す図3に相当する図である。
【図10】図9に示す搬送システムを用いたウエハの受
け渡し状態を示す図5に相当する図である。
【符号の説明】
1 ホストコンピュータ 2 プローバ(検査装置、半導体製造装置) 3 レール(軌道) 4 RGV 5 搬送運用装置 26 メインチャック(載置台) 26A、26B、26C、26D 真空排気通路 45 姿勢位置合わせ装置(位置合わせを行う手段) 54A スケジューラ 54B ディスパッチャ 452A、422B オリフラセンサ 453 OCR(識別手段) E 被処理体の搬送システム W ウエハ(被処理体)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秋山 収司 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 (72)発明者 保坂 広樹 東京都港区赤坂五丁目3番6号 TBS放 送センター 東京エレクトロン株式会社内 (72)発明者 中尾 敬史 京都府京都市伏見区竹田向代町136番地 村田機械株式会社本社工場内 Fターム(参考) 3C100 AA03 AA05 AA07 AA22 AA23 AA43 BB01 BB11 BB22 BB27 CC02 CC08 CC14 DD04 DD11 DD22 DD32 EE06 4M106 AA01 BA01 5F031 CA02 DA01 DA17 EA07 FA03 FA05 FA11 FA12 FA15 GA02 GA08 GA24 GA35 GA36 GA47 GA49 GA50 GA58 GA60 HA13 HA53 JA02 JA04 JA15 JA17 JA23 JA29 JA34 JA36 JA50 KA10 LA12 MA07 MA13 MA33 NA03 NA08 PA02 PA06 PA16 PA18

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体装置の生産を管理するホストコン
    ピュータと、このホストコンピュータの管理下で被処理
    体から半導体装置を製造する複数の半導体製造装置と、
    これらの半導体製造装置に対してそれぞれの要求に応じ
    て上記被処理体を一枚ずつ受け渡すために被処理体を同
    一軌道に沿って自動搬送する複数の自動搬送装置と、こ
    れらの自動搬送装置を上記ホストコンピュータと連携し
    て運用する搬送運用装置とを備え、上記搬送運用装置
    は、上記各半導体製造装置と上記各自動搬送装置それぞ
    れの位置関係に基づいて上記各自動搬送装置の運用スケ
    ジュールを作成すると共にそれぞれの最適な搬送経路を
    決定し、上記各自動搬送装置をそれぞれの最適な搬送経
    路に割り当てるスケジューラ及びディスパッチャを有す
    る制御部を備えたことを特徴とする被処理体の搬送シス
    テム。
  2. 【請求項2】 上記スケジューラ及びディスパッチャ
    は、上記各自動搬送装置の双方向への移動を制御するこ
    とを特徴とする請求項1に記載の被処理体の搬送システ
    ム。
  3. 【請求項3】 上記スケジューラ及びディスパッチャ
    は、上記各自動搬送装置の移動時間をそれぞれ予測する
    ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の被処
    理体の搬送システム。
  4. 【請求項4】 上記スケジューラ及びディスパッチャ
    は、上記半導体製造装置の稼働状況に即して上記各自動
    搬送装置を動的に割り当てることを特徴とする請求項1
    〜請求項3のいずれか1項に記載の被処理体の搬送シス
    テム。
  5. 【請求項5】 上記スケジューラ及びディスパッチャ
    は、上記被処理体の受け渡し優先度及び上記自動搬送装
    置の移動時間を勘案して上記自動搬送装置を最適な搬送
    経路に割り当てることを特徴とする請求項1〜請求項4
    のいずれか1項に記載の被処理体の搬送システム。
  6. 【請求項6】 上記スケジューラ及びディスパッチャ
    は、上記軌道に搬送禁止区域を設定することを特徴とす
    る請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の被処理体
    の搬送システム。
  7. 【請求項7】 上記搬送運用装置は、上記各自動搬送装
    置による上記被処理体の搬送をシミュレーション機能を
    有することを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか
    1項に記載の被処理体の搬送システム。
  8. 【請求項8】 上記自動搬送装置は、上記被処理体の種
    類を識別する識別手段を有することを特徴とする請求項
    1〜請求項7のいずれか1項に記載の被処理体の搬送シ
    ステム。
  9. 【請求項9】 上記自動搬送装置は、上記被処理体を受
    け渡す際に上記被処理体の位置合わせを行う手段を有す
    ること特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか1項に
    記載の被処理体の搬送システム。
  10. 【請求項10】 上記半導体製造装置は検査装置である
    こと特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか1項に記
    載の被処理体の搬送システム。
  11. 【請求項11】 被処理体から半導体装置を製造する複
    数の半導体製造装置の要求に応じて複数の自動搬送装置
    が上記被処理体を搭載して同一軌道に沿って搬送し、上
    記自動搬送装置と上記半導体製造装置との間で上記被処
    理体を一枚ずつ受け渡す被処理体の搬送方法であって、
    上記各半導体製造装置と上記各自動搬送装置それぞれの
    位置関係に基づいて上記各自動搬送装置の運用スケジュ
    ールを決定する工程と、上記運用スケジュールに基づい
    て上記各自動搬送装置それぞれの最適な搬送経路を決定
    する工程と、上記各自動搬送装置をそれぞれの最適な搬
    送経路に割り当てる工程とを備えたことを特徴とする被
    処理体の搬送方法。
  12. 【請求項12】 上記各自動搬送装置の搬送経路を逐次
    予測する工程を有することを特徴とする請求項11に記
    載の被処理体の搬送方法。
  13. 【請求項13】 上記各半導体製造装置の稼働状況に即
    して上記各自動搬送装置を動的に割り当てる工程を有す
    ることを特徴とする請求項11または請求項12に記載
    の被処理体の搬送方法。
  14. 【請求項14】 上記被処理体の受け渡し優先度及び上
    記自動搬送装置の移動時間を勘案して上記自動搬送装置
    を最適な搬送経路に割り当てる工程を有することを特徴
    とする請求項11〜請求項13のいずれか1項に記載の
    被処理体の搬送方法。
  15. 【請求項15】 上記軌道に搬送禁止区域を設定する工
    程を有することを特徴とする請求項11〜請求項14の
    いずれか1項に記載の被処理体の搬送方法。
  16. 【請求項16】 上記半導体製造装置は検査装置である
    ことを特徴とする請求項11〜請求項15のいずれか1
    項に記載の被処理体の搬送方法。
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TW091137324A TWI256372B (en) 2001-12-27 2002-12-25 Carrier system of polishing processing body and conveying method of polishing processing body
US10/485,969 US7283890B2 (en) 2001-12-27 2002-12-27 Work convey system, unmanned convey vehicle system, unmanned convey vehicle, and work convey method
KR1020037014099A KR100742410B1 (ko) 2001-12-27 2002-12-27 피처리체의 반송 시스템, 무인 반송차 시스템, 무인반송차 및 피처리체의 반송 방법
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005101584A (ja) * 2003-08-28 2005-04-14 Suss Microtec Test Systems Gmbh 基板を検査する装置
JP2007088286A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Tokyo Electron Ltd 基板搬送システム、基板搬送装置、基板搬送方法及び記憶媒体
JP2010080904A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Inotera Memories Inc 自動化ウェハ一時保管システムとその制御方法
JP2011119749A (ja) * 2004-02-28 2011-06-16 Applied Materials Inc 電子デバイス製造設備内において、基板キャリアを搬送するための方法及び装置
US8299935B2 (en) 2009-08-07 2012-10-30 Advantest Corporation Test apparatus and test method
WO2014069029A1 (ja) * 2012-11-02 2014-05-08 村田機械株式会社 通信デバイスと通信機器及び通信システム
US9385016B2 (en) 2009-12-14 2016-07-05 Hitachi High-Technologies Corporation Semiconductor processing system and program
JP2016181601A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 株式会社東京精密 プローバ及びウエハチャック温度測定方法
CN106383484A (zh) * 2016-12-15 2017-02-08 合肥工业大学 基于轮毂电机和磁编码器的穿梭车控制系统及其方法
CN106743326A (zh) * 2017-03-17 2017-05-31 惠科股份有限公司 一种物料搬送方法及系统
JP2018507831A (ja) * 2015-02-25 2018-03-22 ジャービス ビー. ウェブ インターナショナル カンパニー 自動手荷物保安検査のための方法およびシステム
KR20180084067A (ko) * 2015-12-17 2018-07-24 베이징 나우라 마이크로일렉트로닉스 이큅먼트 씨오., 엘티디. 장치의 실시간 상태 기반 자재 스케쥴링 방법 및 시스템
WO2018159085A1 (ja) * 2017-03-02 2018-09-07 株式会社Screenホールディングス 基板処理システム、基板処理装置、および基板処理方法
CN109034596A (zh) * 2018-07-19 2018-12-18 北京北方华创微电子装备有限公司 一种物料优化调度的方法和设备
JP2020506130A (ja) * 2017-12-06 2020-02-27 北京極智嘉科技有限公司 安全検査機能を備えた物品仕分けシステム
JP2020091550A (ja) * 2018-12-03 2020-06-11 ファナック株式会社 生産計画装置

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005101584A (ja) * 2003-08-28 2005-04-14 Suss Microtec Test Systems Gmbh 基板を検査する装置
JP2011119749A (ja) * 2004-02-28 2011-06-16 Applied Materials Inc 電子デバイス製造設備内において、基板キャリアを搬送するための方法及び装置
JP4589853B2 (ja) * 2005-09-22 2010-12-01 東京エレクトロン株式会社 基板搬送システム及び基板搬送方法
JP2007088286A (ja) * 2005-09-22 2007-04-05 Tokyo Electron Ltd 基板搬送システム、基板搬送装置、基板搬送方法及び記憶媒体
US8121723B2 (en) 2005-09-22 2012-02-21 Tokyo Electron Limited Substrate transfer system, substrate transfer apparatus and storage medium
KR100800636B1 (ko) 2005-09-22 2008-02-01 동경 엘렉트론 주식회사 기판반송 시스템, 기판반송 장치 및 기억 매체
JP2010080904A (ja) * 2008-09-24 2010-04-08 Inotera Memories Inc 自動化ウェハ一時保管システムとその制御方法
US8299935B2 (en) 2009-08-07 2012-10-30 Advantest Corporation Test apparatus and test method
US9385016B2 (en) 2009-12-14 2016-07-05 Hitachi High-Technologies Corporation Semiconductor processing system and program
WO2014069029A1 (ja) * 2012-11-02 2014-05-08 村田機械株式会社 通信デバイスと通信機器及び通信システム
JPWO2014069029A1 (ja) * 2012-11-02 2016-09-08 村田機械株式会社 通信デバイスと通信機器及び通信システム
JP2018507831A (ja) * 2015-02-25 2018-03-22 ジャービス ビー. ウェブ インターナショナル カンパニー 自動手荷物保安検査のための方法およびシステム
JP2016181601A (ja) * 2015-03-24 2016-10-13 株式会社東京精密 プローバ及びウエハチャック温度測定方法
KR102041512B1 (ko) * 2015-12-17 2019-11-06 베이징 나우라 마이크로일렉트로닉스 이큅먼트 씨오., 엘티디. 장치의 실시간 상태 기반 자재 스케쥴링 방법 및 시스템
US11308453B2 (en) 2015-12-17 2022-04-19 Beijing Naura Microelectronics Equipment Co., Ltd. Method and system for scheduling pieces of materials based on real-time device status
KR20180084067A (ko) * 2015-12-17 2018-07-24 베이징 나우라 마이크로일렉트로닉스 이큅먼트 씨오., 엘티디. 장치의 실시간 상태 기반 자재 스케쥴링 방법 및 시스템
CN106383484A (zh) * 2016-12-15 2017-02-08 合肥工业大学 基于轮毂电机和磁编码器的穿梭车控制系统及其方法
CN110352470A (zh) * 2017-03-02 2019-10-18 株式会社斯库林集团 基板处理系统、基板处理装置以及基板处理方法
WO2018159085A1 (ja) * 2017-03-02 2018-09-07 株式会社Screenホールディングス 基板処理システム、基板処理装置、および基板処理方法
CN110352470B (zh) * 2017-03-02 2023-03-28 株式会社斯库林集团 基板处理系统、基板处理装置以及基板处理方法
CN106743326A (zh) * 2017-03-17 2017-05-31 惠科股份有限公司 一种物料搬送方法及系统
JP2020506130A (ja) * 2017-12-06 2020-02-27 北京極智嘉科技有限公司 安全検査機能を備えた物品仕分けシステム
US10987700B2 (en) 2017-12-06 2021-04-27 Beijing Geekplus Technology Co., Ltd. Article sorting system having security inspection function
CN109034596A (zh) * 2018-07-19 2018-12-18 北京北方华创微电子装备有限公司 一种物料优化调度的方法和设备
JP2020091550A (ja) * 2018-12-03 2020-06-11 ファナック株式会社 生産計画装置
US11385626B2 (en) 2018-12-03 2022-07-12 Fanuc Corporation Production planning apparatus

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