JP2003185689A - 電界測定装置、電界測定方法、プログラム、及び記憶媒体 - Google Patents
電界測定装置、電界測定方法、プログラム、及び記憶媒体Info
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- JP2003185689A JP2003185689A JP2001389617A JP2001389617A JP2003185689A JP 2003185689 A JP2003185689 A JP 2003185689A JP 2001389617 A JP2001389617 A JP 2001389617A JP 2001389617 A JP2001389617 A JP 2001389617A JP 2003185689 A JP2003185689 A JP 2003185689A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 不要電磁波の発生源、伝達経路、放射源を切
り分けて特定する。 【解決手段】 被測定物１０２の任意の位置における測
定信号を基準信号として検出する基準信号入力部１０１
と、被測定物１０２から発生する電界を測定する電界セ
ンサ１０３と、表示部１０７とを備える。走査部１０４
が電界センサ１０３に対して、被測定物１０２近傍の複
数の位置で電界を測定させ、信号比較部１０５及び演算
処理部１０６が、電界センサ１０３によって測定された
各電界と、基準信号入力部１０１によって検出された基
準信号とに基づき、被測定物１０２における電界強度分
布位相変化を算出し、該算出された電界強度分布位相変
化を表示ぶ１０７に表示させる。
り分けて特定する。 【解決手段】 被測定物１０２の任意の位置における測
定信号を基準信号として検出する基準信号入力部１０１
と、被測定物１０２から発生する電界を測定する電界セ
ンサ１０３と、表示部１０７とを備える。走査部１０４
が電界センサ１０３に対して、被測定物１０２近傍の複
数の位置で電界を測定させ、信号比較部１０５及び演算
処理部１０６が、電界センサ１０３によって測定された
各電界と、基準信号入力部１０１によって検出された基
準信号とに基づき、被測定物１０２における電界強度分
布位相変化を算出し、該算出された電界強度分布位相変
化を表示ぶ１０７に表示させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電界測定装置、電
界測定方法、プログラム、及び記憶媒体に関し、特に、
電子機器内から発生する不要電磁波に起因する電界分布
を測定する電界測定装置、該電界測定装置に適用される
電界測定方法、該電界測定方法をコンピュータに実行さ
せるためのプログラム、及び該プログラムを記憶した記
憶媒体に関する。
界測定方法、プログラム、及び記憶媒体に関し、特に、
電子機器内から発生する不要電磁波に起因する電界分布
を測定する電界測定装置、該電界測定装置に適用される
電界測定方法、該電界測定方法をコンピュータに実行さ
せるためのプログラム、及び該プログラムを記憶した記
憶媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、電子機器の高速化、高性能化など
に伴ない、電子機器から放射される不要電磁波が他の電
子機器へ与える影響が問題になっている。この不要電磁
波放射による他の電子機器への影響はＥＭＩ（Electrom
agnetic Interference）と呼ばれ、その主なものとし
て、無線機器、通信機器に発生する受信障害や、電子機
器の誤動作が挙げられる。
に伴ない、電子機器から放射される不要電磁波が他の電
子機器へ与える影響が問題になっている。この不要電磁
波放射による他の電子機器への影響はＥＭＩ（Electrom
agnetic Interference）と呼ばれ、その主なものとし
て、無線機器、通信機器に発生する受信障害や、電子機
器の誤動作が挙げられる。
【０００３】各国では３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚあるいは３
０ＭＨｚ〜２ＧＨｚの周波数帯域において電子機器から
発生する不要電磁波放射に対して規制を行っており、電
子機器メーカはこの規制に適合するように製品を設計製
造する必要がある。
０ＭＨｚ〜２ＧＨｚの周波数帯域において電子機器から
発生する不要電磁波放射に対して規制を行っており、電
子機器メーカはこの規制に適合するように製品を設計製
造する必要がある。
【０００４】電子機器から放射される不要電磁波を測定
する方法として、一般的には遠方界測定が行なわれる
が、電子機器内部の回路基板のみについては、その近傍
界強度分布を測定することが行われている。
する方法として、一般的には遠方界測定が行なわれる
が、電子機器内部の回路基板のみについては、その近傍
界強度分布を測定することが行われている。
【０００５】近傍界強度分布を測定し、不要電磁波の発
生メカニズムを明らかにし、その発生抑制対策を行なう
ために使用される近傍界強度分布測定装置が、例えば特
開平１１−５００５３６号公報や、特開２０００−１９
２０４号公報などに提示されている。
生メカニズムを明らかにし、その発生抑制対策を行なう
ために使用される近傍界強度分布測定装置が、例えば特
開平１１−５００５３６号公報や、特開２０００−１９
２０４号公報などに提示されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の従来
の近傍界強度分布測定装置によって、回路基板単体を測
定した場合と、電子機器に組み込まれるとともに、筐体
やケーブルが接続された回路基板を測定した場合とで
は、不要電磁波の発生モードが異なる。したがって、近
傍界強度分布測定装置によって回路基板単体を測定して
得られた近傍界強度分布に基づき不要電磁波対策を施し
ても、電子機器全体における不要電磁波の発生抑制には
効果が現れない場合がある。こうしたことを考慮して、
回路基板単体に対して近傍界強度分布の測定を行わず、
回路基板を電子機器に組み込み、筐体やケーブルを接続
した状態で測定を行うようにしている。
の近傍界強度分布測定装置によって、回路基板単体を測
定した場合と、電子機器に組み込まれるとともに、筐体
やケーブルが接続された回路基板を測定した場合とで
は、不要電磁波の発生モードが異なる。したがって、近
傍界強度分布測定装置によって回路基板単体を測定して
得られた近傍界強度分布に基づき不要電磁波対策を施し
ても、電子機器全体における不要電磁波の発生抑制には
効果が現れない場合がある。こうしたことを考慮して、
回路基板単体に対して近傍界強度分布の測定を行わず、
回路基板を電子機器に組み込み、筐体やケーブルを接続
した状態で測定を行うようにしている。
【０００７】しかしながら、回路基板を電子機器に組み
込み、筐体やケーブルを接続した状態で測定して得られ
た従来の近傍界強度分布測定結果は、図２２に示すよう
に、不要電磁波放射をもたらす電流がどこから発生し、
どの経路を流れているかを正確に把握することができな
い。図２２は、回路基板を電子機器に組み込み、筐体や
ケーブルを接続した状態の被測定物を、従来の近傍界強
度分布測定装置によって測定して得られた電流分布測定
結果の一例を示すイメージ図である。
込み、筐体やケーブルを接続した状態で測定して得られ
た従来の近傍界強度分布測定結果は、図２２に示すよう
に、不要電磁波放射をもたらす電流がどこから発生し、
どの経路を流れているかを正確に把握することができな
い。図２２は、回路基板を電子機器に組み込み、筐体や
ケーブルを接続した状態の被測定物を、従来の近傍界強
度分布測定装置によって測定して得られた電流分布測定
結果の一例を示すイメージ図である。
【０００８】そのため、不要電磁波の発生源と、不要電
磁波が発生源から他の部分に伝達される不要電磁波の伝
達経路と、不要電磁波が放射する放射源とを切り分けて
特定することが難しく、したがって、上記の電子機器全
体に亘る不要電磁波測定方法によっても不要電磁波の抑
制対策を的確に行うことが困難であった。
磁波が発生源から他の部分に伝達される不要電磁波の伝
達経路と、不要電磁波が放射する放射源とを切り分けて
特定することが難しく、したがって、上記の電子機器全
体に亘る不要電磁波測定方法によっても不要電磁波の抑
制対策を的確に行うことが困難であった。
【０００９】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、不要電磁波の発生源、伝達経路、放射
源を切り分けて特定することを可能にした電界測定装
置、電界測定方法、プログラム、及び記憶媒体を提供す
ることを目的とする。
たものであって、不要電磁波の発生源、伝達経路、放射
源を切り分けて特定することを可能にした電界測定装
置、電界測定方法、プログラム、及び記憶媒体を提供す
ることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明によれば、被測定物の任意の位
置における測定信号を基準信号として検出する基準信号
検出手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、前記電界測定手段に対して、前記被測
定物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査手段と、
前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出手段と、前記算出手段によって算出された電界
強度分布位相変化を表示する表示手段とを有することを
特徴とする電界測定装置が提供される。
に、請求項１記載の発明によれば、被測定物の任意の位
置における測定信号を基準信号として検出する基準信号
検出手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、前記電界測定手段に対して、前記被測
定物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査手段と、
前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出手段と、前記算出手段によって算出された電界
強度分布位相変化を表示する表示手段とを有することを
特徴とする電界測定装置が提供される。
【００１１】請求項１８記載の発明によれば、基準信号
源に同期したクロック信号を発生し、被測定物に入力す
るクロック信号入力手段と、前記クロック信号入力に伴
い前記被測定物から発生する電界を測定する電界測定手
段と、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の
複数の位置で電界を測定させる走査手段と、前記基準信
号源を内蔵し、前記電界測定手段によって測定された各
電界と前記基準信号源に同期した測定周波数の基準信号
とに基づき、前記被測定物における電界強度分布位相変
化を算出する算出手段と、前記算出手段によって算出さ
れた電界強度分布位相変化を表示する表示手段とを有す
ることを特徴とする電界測定装置が提供される。
源に同期したクロック信号を発生し、被測定物に入力す
るクロック信号入力手段と、前記クロック信号入力に伴
い前記被測定物から発生する電界を測定する電界測定手
段と、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の
複数の位置で電界を測定させる走査手段と、前記基準信
号源を内蔵し、前記電界測定手段によって測定された各
電界と前記基準信号源に同期した測定周波数の基準信号
とに基づき、前記被測定物における電界強度分布位相変
化を算出する算出手段と、前記算出手段によって算出さ
れた電界強度分布位相変化を表示する表示手段とを有す
ることを特徴とする電界測定装置が提供される。
【００１２】また、請求項２６記載の発明によれば、被
測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として
検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生す
る電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備えた
電界測定装置に適用される電界測定方法において、前記
電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置
で電界を測定させる走査ステップと、前記電界測定手段
によって測定された各電界と、前記基準信号検出手段に
よって検出された基準信号とに基づき、前記被測定物に
おける電界強度分布位相変化を算出する算出ステップ
と、前記算出ステップによって算出された電界強度分布
位相変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを
有することを特徴とする電界測定方法が提供される。
測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として
検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生す
る電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備えた
電界測定装置に適用される電界測定方法において、前記
電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置
で電界を測定させる走査ステップと、前記電界測定手段
によって測定された各電界と、前記基準信号検出手段に
よって検出された基準信号とに基づき、前記被測定物に
おける電界強度分布位相変化を算出する算出ステップ
と、前記算出ステップによって算出された電界強度分布
位相変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを
有することを特徴とする電界測定方法が提供される。
【００１３】請求項３３記載の発明によれば、基準信号
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法において、前記クロック信号と測
定周波数の基準信号とを、前記基準信号源に同期させる
とともに、該基準信号源の位相を連続的に変化させる基
準信号源制御ステップと、前記電界測定手段に対して、
前記被測定物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査
ステップと、前記電界測定手段によって測定された各電
界と前記基準信号源に同期した測定周波数の基準信号と
に基づき、前記被測定物における電界強度分布位相変化
を算出する算出ステップと、前記算出ステップによって
算出された電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示
させる表示ステップとを有することを特徴とする電界測
定方法が提供される。
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法において、前記クロック信号と測
定周波数の基準信号とを、前記基準信号源に同期させる
とともに、該基準信号源の位相を連続的に変化させる基
準信号源制御ステップと、前記電界測定手段に対して、
前記被測定物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査
ステップと、前記電界測定手段によって測定された各電
界と前記基準信号源に同期した測定周波数の基準信号と
に基づき、前記被測定物における電界強度分布位相変化
を算出する算出ステップと、前記算出ステップによって
算出された電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示
させる表示ステップとを有することを特徴とする電界測
定方法が提供される。
【００１４】また、請求項３４記載の発明によれば、被
測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として
検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生す
る電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備えた
電界測定装置に適用される電界測定方法を、コンピュー
タに実行させるためのプログラムにおいて、前記電界測
定方法が、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近
傍の複数の位置で電界を測定させる走査ステップと、前
記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基準
信号検出手段によって検出された基準信号とに基づき、
前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出する
算出ステップと、前記算出ステップによって算出された
電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示させる表示
ステップとを有することを特徴とするプログラムが提供
される。
測定物の任意の位置における測定信号を基準信号として
検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生す
る電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備えた
電界測定装置に適用される電界測定方法を、コンピュー
タに実行させるためのプログラムにおいて、前記電界測
定方法が、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近
傍の複数の位置で電界を測定させる走査ステップと、前
記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基準
信号検出手段によって検出された基準信号とに基づき、
前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出する
算出ステップと、前記算出ステップによって算出された
電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示させる表示
ステップとを有することを特徴とするプログラムが提供
される。
【００１５】請求項４１記載の発明によれば、基準信号
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法を、コンピュータに実行させるた
めのプログラムにおいて、前記電界測定方法が、前記ク
ロック信号と測定周波数の基準信号とを、前記基準信号
源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を連続的
に変化させる基準信号源制御ステップと、前記電界測定
手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置で電界を
測定させる走査ステップと、前記電界測定手段によって
測定された各電界と前記基準信号源に同期した測定周波
数の基準信号とに基づき、前記被測定物における電界強
度分布位相変化を算出する算出ステップと、前記算出ス
テップによって算出された電界強度分布位相変化を前記
表示装置に表示させる表示ステップとを有することを特
徴とするプログラムが提供される。
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法を、コンピュータに実行させるた
めのプログラムにおいて、前記電界測定方法が、前記ク
ロック信号と測定周波数の基準信号とを、前記基準信号
源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を連続的
に変化させる基準信号源制御ステップと、前記電界測定
手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置で電界を
測定させる走査ステップと、前記電界測定手段によって
測定された各電界と前記基準信号源に同期した測定周波
数の基準信号とに基づき、前記被測定物における電界強
度分布位相変化を算出する算出ステップと、前記算出ス
テップによって算出された電界強度分布位相変化を前記
表示装置に表示させる表示ステップとを有することを特
徴とするプログラムが提供される。
【００１６】さらに、請求項４２記載の発明によれば、
被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号とし
て検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生
する電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備え
た電界測定装置に適用される電界測定方法を、プログラ
ムとして記憶した、コンピュータにより読み出し可能な
記憶媒体において、前記電界測定方法が、前記電界測定
手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置で電界を
測定させる走査ステップと、前記電界測定手段によって
測定された各電界と、前記基準信号検出手段によって検
出された基準信号とに基づき、前記被測定物における電
界強度分布位相変化を算出する算出ステップと、前記算
出ステップによって算出された電界強度分布位相変化を
前記表示装置に表示させる表示ステップとを有すること
を特徴とする記憶媒体が提供される。
被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号とし
て検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生
する電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備え
た電界測定装置に適用される電界測定方法を、プログラ
ムとして記憶した、コンピュータにより読み出し可能な
記憶媒体において、前記電界測定方法が、前記電界測定
手段に対して、前記被測定物近傍の複数の位置で電界を
測定させる走査ステップと、前記電界測定手段によって
測定された各電界と、前記基準信号検出手段によって検
出された基準信号とに基づき、前記被測定物における電
界強度分布位相変化を算出する算出ステップと、前記算
出ステップによって算出された電界強度分布位相変化を
前記表示装置に表示させる表示ステップとを有すること
を特徴とする記憶媒体が提供される。
【００１７】請求項４９記載の発明によれば、基準信号
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法を、プログラムとして記憶した、
コンピュータにより読み出し可能な記憶媒体において、
前記電界測定方法が、前記クロック信号と測定周波数の
基準信号とを、前記基準信号源に同期させるとともに、
該基準信号源の位相を連続的に変化させる基準信号源制
御ステップと、前記電界測定手段に対して、前記被測定
物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査ステップ
と、前記電界測定手段によって測定された各電界と前記
基準信号源に同期した測定周波数の基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出ステップと、前記算出ステップによって算出さ
れた電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示させる
表示ステップとを有することを特徴とする記憶媒体が提
供される。
源と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号
入力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する
電界測定手段と、表示装置とを備えた電界測定装置に適
用される電界測定方法を、プログラムとして記憶した、
コンピュータにより読み出し可能な記憶媒体において、
前記電界測定方法が、前記クロック信号と測定周波数の
基準信号とを、前記基準信号源に同期させるとともに、
該基準信号源の位相を連続的に変化させる基準信号源制
御ステップと、前記電界測定手段に対して、前記被測定
物近傍の複数の位置で電界を測定させる走査ステップ
と、前記電界測定手段によって測定された各電界と前記
基準信号源に同期した測定周波数の基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出ステップと、前記算出ステップによって算出さ
れた電界強度分布位相変化を前記表示装置に表示させる
表示ステップとを有することを特徴とする記憶媒体が提
供される。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００１９】（第１の実施形態）図１は、本発明に係る
電界測定装置の第１の実施の形態の構成を示すブロック
図である。
電界測定装置の第１の実施の形態の構成を示すブロック
図である。
【００２０】第１の実施の形態における電界測定装置
は、基準信号入力部１０１と、電界センサ１０３と、走
査部１０４と、信号比較部１０５と、演算処理部１０６
と、表示部１０７と、制御部１０８とから構成される。
は、基準信号入力部１０１と、電界センサ１０３と、走
査部１０４と、信号比較部１０５と、演算処理部１０６
と、表示部１０７と、制御部１０８とから構成される。
【００２１】測定者が、ある任意の周波数の電界強度分
布を測定する場合、基準信号入力部１０１は、被測定物
１０２の任意の位置における検出信号を基準信号とし、
信号比較部１０５へ出力する。電界センサ１０３は複数
のセンサから成り、被測定物１０２の近傍に配されて被
測定物１０２の近傍電界を測定し、走査部１０４の制御
に従って測定信号を信号比較部１０５へ出力する。走査
部１０４は、電界センサ１０３の各センサの出力を順に
選択走査して、各センサからの測定信号を信号比較部１
０５へ出力させる。
布を測定する場合、基準信号入力部１０１は、被測定物
１０２の任意の位置における検出信号を基準信号とし、
信号比較部１０５へ出力する。電界センサ１０３は複数
のセンサから成り、被測定物１０２の近傍に配されて被
測定物１０２の近傍電界を測定し、走査部１０４の制御
に従って測定信号を信号比較部１０５へ出力する。走査
部１０４は、電界センサ１０３の各センサの出力を順に
選択走査して、各センサからの測定信号を信号比較部１
０５へ出力させる。
【００２２】信号比較部１０５は、電界センサ１０３か
ら出力された測定信号と、基準信号入力部１０１から出
力された基準信号とを、任意の測定周波数の振幅及び位
相において比較し、その比較結果を演算処理部１０６へ
出力する。演算処理部１０６は、信号比較部１０５から
送られた比較結果を基に、被測定物１０２近傍の各位置
で測定された電界強度に対して、予め求めてある電界セ
ンサ１０３の周波数特性、位相特性による較正係数や、
被測定物１０２と電界センサ１０３との間の距離による
較正係数を用いて較正を行う。
ら出力された測定信号と、基準信号入力部１０１から出
力された基準信号とを、任意の測定周波数の振幅及び位
相において比較し、その比較結果を演算処理部１０６へ
出力する。演算処理部１０６は、信号比較部１０５から
送られた比較結果を基に、被測定物１０２近傍の各位置
で測定された電界強度に対して、予め求めてある電界セ
ンサ１０３の周波数特性、位相特性による較正係数や、
被測定物１０２と電界センサ１０３との間の距離による
較正係数を用いて較正を行う。
【００２３】この較正された電界強度は、走査部１０４
による走査によって電界強度分布となり、また基準信号
の位相が変化することにより、該電界強度分布が変化す
る。演算処理部１０６は、こうした電界強度分布の位相
変化を、表示部１０７に動画表示できるように処理す
る。表示部１０７は、電界強度分布やその位相変化を、
ユーザの指定に従った表示方式によって表示する。
による走査によって電界強度分布となり、また基準信号
の位相が変化することにより、該電界強度分布が変化す
る。演算処理部１０６は、こうした電界強度分布の位相
変化を、表示部１０７に動画表示できるように処理す
る。表示部１０７は、電界強度分布やその位相変化を、
ユーザの指定に従った表示方式によって表示する。
【００２４】制御部１０８は、走査部１０４、信号比較
部１０５、演算処理部１０６、表示部１０７を制御す
る。
部１０５、演算処理部１０６、表示部１０７を制御す
る。
【００２５】次に、本実施の形態における測定原理につ
いて、図１を参照して説明する。
いて、図１を参照して説明する。
【００２６】ここで、基準信号入力部１０１が、被測定
物１０２上の所定の位置から基準信号Ａｃｏｓωｔを検
出したとする。
物１０２上の所定の位置から基準信号Ａｃｏｓωｔを検
出したとする。
【００２７】このとき、被測定物１０２の近傍のある点
において電界Ｅが発生しているものとする。この電界Ｅ
は、下記のように表される。
において電界Ｅが発生しているものとする。この電界Ｅ
は、下記のように表される。
【００２８】
Ｅ＝ａＡｃｏｓ（ωｔ＋θ） … （１）
ここで、ａは基準信号に対する振幅比、θは基準信号に
対する位相差である。
対する位相差である。
【００２９】なお、電界Ｅの振幅は基準信号に対する振
幅比から求めてもよいし、電界センサ１０３による測定
値から直接求めてもよい。
幅比から求めてもよいし、電界センサ１０３による測定
値から直接求めてもよい。
【００３０】そして、被測定物１０２上に配置された複
数のセンサから成る電界センサ１０３の各々を走査部１
０４により走査し、被測定物１０２近傍の電界を複数の
位置で測定し、演算処理部１０６で上記の演算を行い、
電界強度分布の位相変化を求める。
数のセンサから成る電界センサ１０３の各々を走査部１
０４により走査し、被測定物１０２近傍の電界を複数の
位置で測定し、演算処理部１０６で上記の演算を行い、
電界強度分布の位相変化を求める。
【００３１】次に、第１の実施の形態における電界測定
装置において行われる電界強度分布位相変化の算出処理
を、図２を参照して説明する。
装置において行われる電界強度分布位相変化の算出処理
を、図２を参照して説明する。
【００３２】図２は、電界強度分布位相変化の算出処理
の手順を示すフローチャートである。なおここでは、被
測定物１０２上のＮ個の位置において電界測定を行うも
のとする。以下、ステップに沿って説明する。
の手順を示すフローチャートである。なおここでは、被
測定物１０２上のＮ個の位置において電界測定を行うも
のとする。以下、ステップに沿って説明する。
【００３３】ステップＳ１：制御変数ｎを１に設定す
る。
る。
【００３４】ステップＳ２：被測定物１０２上の第ｎ位
置において基準信号値と電界測定値を入手する。
置において基準信号値と電界測定値を入手する。
【００３５】ステップＳ３：信号比較部１０５におい
て、入手した基準信号値と電界測定値とから基準信号に
対する測定電界の振幅比、位相差の算出を行う。
て、入手した基準信号値と電界測定値とから基準信号に
対する測定電界の振幅比、位相差の算出を行う。
【００３６】ステップＳ４：演算処理部１０６におい
て、算出された振幅比、位相差に対して較正を行う。
て、算出された振幅比、位相差に対して較正を行う。
【００３７】ステップＳ５：制御変数ｎに１を加算す
る。
る。
【００３８】ステップＳ６：新たに得られた制御変数ｎ
がＮよりも大きいか否かを判別する。制御変数ｎがＮ以
下であれば、ステップＳ３へ戻る。一方、制御変数ｎが
Ｎよりも大きいならば、被測定物１０２上のＮ個の全測
定位置における位相情報を持った電界強度の算出を終え
て、電界強度分布が得られたとして、本処理を終了す
る。
がＮよりも大きいか否かを判別する。制御変数ｎがＮ以
下であれば、ステップＳ３へ戻る。一方、制御変数ｎが
Ｎよりも大きいならば、被測定物１０２上のＮ個の全測
定位置における位相情報を持った電界強度の算出を終え
て、電界強度分布が得られたとして、本処理を終了す
る。
【００３９】ステップＳ７：測定した電界強度分布にお
ける位相を変化させ、任意の位相における電界強度分布
を表示部１０７に表示する。
ける位相を変化させ、任意の位相における電界強度分布
を表示部１０７に表示する。
【００４０】図３は、上記の電界強度分布位相変化の算
出処理によって得られた位相情報を持った電界強度分布
のデータイメージを示す図である。
出処理によって得られた位相情報を持った電界強度分布
のデータイメージを示す図である。
【００４１】ここでは、被測定物１０２のある平面上の
１６点の測定位置で電界を測定したものとする。この１
６点の測定位置には、それぞれ基準信号Ａｃｏｓωｔに
対して、振幅比ａ〜ｐ、位相差θ1〜θ16を持つ電界強
度データが存在し、ここでωｔの位相を変化させること
により電界強度分布の位相変化を知ることができる。そ
のため、被測定物１０２の任意の位置で検出された基準
信号Ａｃｏｓωｔの位相を変化させると、電界強度分布
の変化が発生し、これを表示部１０７において動画表示
することにより、不要電磁波放射に影響する電界の発生
源などを視覚的に知ることができる。
１６点の測定位置で電界を測定したものとする。この１
６点の測定位置には、それぞれ基準信号Ａｃｏｓωｔに
対して、振幅比ａ〜ｐ、位相差θ1〜θ16を持つ電界強
度データが存在し、ここでωｔの位相を変化させること
により電界強度分布の位相変化を知ることができる。そ
のため、被測定物１０２の任意の位置で検出された基準
信号Ａｃｏｓωｔの位相を変化させると、電界強度分布
の変化が発生し、これを表示部１０７において動画表示
することにより、不要電磁波放射に影響する電界の発生
源などを視覚的に知ることができる。
【００４２】次に、第１の実施の形態における電界測定
装置が被測定物１０２を測定して得られた測定結果の２
つの例について説明する。
装置が被測定物１０２を測定して得られた測定結果の２
つの例について説明する。
【００４３】図４は、被測定物の第１の例を示す図であ
る。
る。
【００４４】この例では、被測定物１０２ａが、特性イ
ンピーダンス５０Ωのマイクロストリップライン１０２
ｂと５０Ωの終端抵抗１０２ｃとで構成されており、マ
イクロストリップライン１０２ｂに信号が供給されてい
る。
ンピーダンス５０Ωのマイクロストリップライン１０２
ｂと５０Ωの終端抵抗１０２ｃとで構成されており、マ
イクロストリップライン１０２ｂに信号が供給されてい
る。
【００４５】図５は、被測定物の第２の例を示す図であ
る。
る。
【００４６】この例では、被測定物１０２ｄが、特性イ
ンピーダンス５０Ωのマイクロストリップライン１０２
ｅだけで構成されており、マイクロストリップライン１
０２ｅに信号が供給されている。マイクロストリップラ
イン１０２ｅは開放されている。
ンピーダンス５０Ωのマイクロストリップライン１０２
ｅだけで構成されており、マイクロストリップライン１
０２ｅに信号が供給されている。マイクロストリップラ
イン１０２ｅは開放されている。
【００４７】図６及び図７は、図４に示す被測定物１０
２ａを、第１の実施の形態における電界測定装置により
測定を行った結果得られた電界強度分布を示す図であ
り、位相が３０°間隔で変化して場合を示す。また、図
８及び図９は、図５に示す被測定物１０２ｄを、第１の
実施の形態における電界測定装置により測定を行った結
果得られた電界強度分布を示す図であり、位相が３０°
間隔で変化して場合を示す。
２ａを、第１の実施の形態における電界測定装置により
測定を行った結果得られた電界強度分布を示す図であ
り、位相が３０°間隔で変化して場合を示す。また、図
８及び図９は、図５に示す被測定物１０２ｄを、第１の
実施の形態における電界測定装置により測定を行った結
果得られた電界強度分布を示す図であり、位相が３０°
間隔で変化して場合を示す。
【００４８】こうした図６〜図９から分かるように、図
６及び図７に示す電界強度分布では進行波が、図８及び
図９に示す電界強度分布では定在波が発生しており、ユ
ーザは表示部１０７の表示をみることにより、こうした
発生を視覚的に確認することができる。
６及び図７に示す電界強度分布では進行波が、図８及び
図９に示す電界強度分布では定在波が発生しており、ユ
ーザは表示部１０７の表示をみることにより、こうした
発生を視覚的に確認することができる。
【００４９】なお、基準信号の位相を連続的に変化させ
ることによって得られる電界強度分布の変化を表示部１
０７に動画表示することにより、現象を直感的に理解す
ることが可能である。
ることによって得られる電界強度分布の変化を表示部１
０７に動画表示することにより、現象を直感的に理解す
ることが可能である。
【００５０】また、電界強度分布の表示形式として、基
準信号の位相変化に伴なう電界強度分布の変化を動画表
示する他、基準信号のある位相における電界強度分布の
静止画表示、基準信号の全ての位相における電界強度分
布を示す静止画表示などの中から、測定者が制御部１０
８において所望の表示形式を選び、制御部１０８がこの
選択された表示形式を表示部１０７に指示するようにし
てもよい。
準信号の位相変化に伴なう電界強度分布の変化を動画表
示する他、基準信号のある位相における電界強度分布の
静止画表示、基準信号の全ての位相における電界強度分
布を示す静止画表示などの中から、測定者が制御部１０
８において所望の表示形式を選び、制御部１０８がこの
選択された表示形式を表示部１０７に指示するようにし
てもよい。
【００５１】なおまた、電界センサ１０３を、移動可能
な１つのセンサで構成し、走査部１０４が該電界センサ
１０３を被測定物１０２上で移動させて走査し、これに
より被測定物１０２近傍の各位置での電界を測定するよ
うにしてもよい。また、複数の電界センサをアレイ状に
配置して、それらを高速に切り替えて電界を測定しても
よい。
な１つのセンサで構成し、走査部１０４が該電界センサ
１０３を被測定物１０２上で移動させて走査し、これに
より被測定物１０２近傍の各位置での電界を測定するよ
うにしてもよい。また、複数の電界センサをアレイ状に
配置して、それらを高速に切り替えて電界を測定しても
よい。
【００５２】（第２の実施の形態）次に第２の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００５３】図１０は、本発明に係る電界測定装置の第
２の実施の形態の構成を示すブロック図である。第２の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
２の実施の形態の構成を示すブロック図である。第２の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
【００５４】第２の実施の形態では、信号比較部とし
て、ベクトルシグナルアナライザ２０１を用い、基準信
号入力部１０１からベクトルシグナルアナライザ２０１
までの間にバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）２０２とダウ
ンコンバータ２０３とを設け、電界センサ１０３からベ
クトルシグナルアナライザ２０１までの間にバンドパス
フィルタ（ＢＰＦ）２０４とダウンコンバータ２０５と
を設ける。
て、ベクトルシグナルアナライザ２０１を用い、基準信
号入力部１０１からベクトルシグナルアナライザ２０１
までの間にバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）２０２とダウ
ンコンバータ２０３とを設け、電界センサ１０３からベ
クトルシグナルアナライザ２０１までの間にバンドパス
フィルタ（ＢＰＦ）２０４とダウンコンバータ２０５と
を設ける。
【００５５】バンドパスフィルタ２０２，２０４は、基
準信号入力部１０１から出力された基準信号と、電界セ
ンサ１０３から出力された測定信号とをそれぞれ取り込
み、測定対象の所定周波数成分のみをダウンコンバータ
２０３，２０５にそれぞれ出力する。ダウンコンバータ
２０３，２０５はそれぞれ、共通の局部発信器２０６と
ミキサ２０７、２０８とから構成されており、ダウンコ
ンバータ２０３，２０５へ入力された信号は、１０ＭＨ
ｚ以下の信号にそれぞれ周波数変換され、ベクトルシグ
ナルアナライザ２０１に出力される。
準信号入力部１０１から出力された基準信号と、電界セ
ンサ１０３から出力された測定信号とをそれぞれ取り込
み、測定対象の所定周波数成分のみをダウンコンバータ
２０３，２０５にそれぞれ出力する。ダウンコンバータ
２０３，２０５はそれぞれ、共通の局部発信器２０６と
ミキサ２０７、２０８とから構成されており、ダウンコ
ンバータ２０３，２０５へ入力された信号は、１０ＭＨ
ｚ以下の信号にそれぞれ周波数変換され、ベクトルシグ
ナルアナライザ２０１に出力される。
【００５６】ベクトルシグナルアナライザ２０１では、
１０ＭＨｚ以下に周波数変換された基準信号と測定信号
とを振幅及び位相において比較を行う。
１０ＭＨｚ以下に周波数変換された基準信号と測定信号
とを振幅及び位相において比較を行う。
【００５７】なお、ベクトルシグナルアナライザ２０１
は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、ダウンコンバータ
２０３，２０５に内蔵された共通の局部発振器２０６
が、このベクトルシグナルアナライザ２０１の基準信号
源から送られたＲｅｆ信号に同期する。これによって、
周波数確度をあげている。
は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、ダウンコンバータ
２０３，２０５に内蔵された共通の局部発振器２０６
が、このベクトルシグナルアナライザ２０１の基準信号
源から送られたＲｅｆ信号に同期する。これによって、
周波数確度をあげている。
【００５８】演算処理部１０６は、第１の実施の形態と
同様に、ベクトルシグナルアナライザ２０１の比較結果
に基づいて、位相情報を持った電界強度を算出する。走
査部１０４による走査によって電界強度分布が得られ、
さらに基準信号の位相が変化することによって上記電界
強度分布が変化し、これが表示部１０７において動画表
示される。
同様に、ベクトルシグナルアナライザ２０１の比較結果
に基づいて、位相情報を持った電界強度を算出する。走
査部１０４による走査によって電界強度分布が得られ、
さらに基準信号の位相が変化することによって上記電界
強度分布が変化し、これが表示部１０７において動画表
示される。
【００５９】なお、走査部１０４による走査は、複数の
センサから成る電界センサの各センサの出力を順に選択
走査して、各センサからの測定信号をバンドパスフィル
タ２０４へ出力させる構成でもよく、また、１つのセン
サから成る電界センサを被測定物１０２上で移動して複
数の位置で測定を行い、得られた各測定信号をバンドパ
スフィルタ２０４へ出力させる構成でもよい。
センサから成る電界センサの各センサの出力を順に選択
走査して、各センサからの測定信号をバンドパスフィル
タ２０４へ出力させる構成でもよく、また、１つのセン
サから成る電界センサを被測定物１０２上で移動して複
数の位置で測定を行い、得られた各測定信号をバンドパ
スフィルタ２０４へ出力させる構成でもよい。
【００６０】また、第１の実施の形態と同様に、表示部
１０７が、複数の表示方式のうちの指示された表示方式
で表示を行うようにしてもよい。
１０７が、複数の表示方式のうちの指示された表示方式
で表示を行うようにしてもよい。
【００６１】走査部１０４、ダウンコンバータ２０３，
２０５、ベクトルシグナルアナライザ２０１、演算処理
部１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御され
る。
２０５、ベクトルシグナルアナライザ２０１、演算処理
部１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御され
る。
【００６２】次に、第２の実施の形態における基準信号
入力部１０１の具体的な構成例について説明する。
入力部１０１の具体的な構成例について説明する。
【００６３】図１１は、基準信号入力部１０１の第１の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【００６４】第１の構成例では、基準信号入力部１０１
を電界センサ３０６で構成する。
を電界センサ３０６で構成する。
【００６５】図中、被測定物３０１が、例えばＩＣ３０
２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３０３，３０
９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などから構成され
る。
２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３０３，３０
９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などから構成され
る。
【００６６】基準信号入力部１０１である電界センサ３
０６は、被測定物３０１の所定位置に固定され、電界の
信号形態で基準信号を検出する。また、電界センサ１０
３は、走査部１０４からの制御により被測定物３０１近
傍を走査移動する構成になっており、走査領域における
複数の所定の位置で電界を測定する。
０６は、被測定物３０１の所定位置に固定され、電界の
信号形態で基準信号を検出する。また、電界センサ１０
３は、走査部１０４からの制御により被測定物３０１近
傍を走査移動する構成になっており、走査領域における
複数の所定の位置で電界を測定する。
【００６７】図１２は、基準信号入力部１０１の第２の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【００６８】第２の構成例では、基準信号入力部１０１
を磁界ループプローブ３０７で構成する。
を磁界ループプローブ３０７で構成する。
【００６９】図１１と同様に、被測定物３０１が、例え
ばＩＣ３０２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３
０３，３０９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などか
ら構成される。
ばＩＣ３０２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３
０３，３０９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などか
ら構成される。
【００７０】基準信号入力部１０１である磁界ループプ
ローブ３０７は、被測定物３０１の所定位置に固定さ
れ、磁界の信号形態で基準信号を検出する。また、電界
センサ１０３は、走査部１０４からの制御により被測定
物３０１近傍を走査移動する構成になっており、走査領
域における複数の所定の位置で電界を測定する。
ローブ３０７は、被測定物３０１の所定位置に固定さ
れ、磁界の信号形態で基準信号を検出する。また、電界
センサ１０３は、走査部１０４からの制御により被測定
物３０１近傍を走査移動する構成になっており、走査領
域における複数の所定の位置で電界を測定する。
【００７１】図１３は、基準信号入力部１０１の第３の
構成例を示す図である。
構成例を示す図である。
【００７２】第３の構成例では、基準信号入力部１０１
を導体接触端子３１１で構成する。
を導体接触端子３１１で構成する。
【００７３】図１１と同様に、被測定物３０１が、例え
ばＩＣ３０２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３
０３，３０９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などか
ら構成される。
ばＩＣ３０２，３０８がそれぞれ搭載された回路基板３
０３，３０９、シャーシ３０４、ケーブル３０５などか
ら構成される。
【００７４】基準信号入力部１０１である導電接触端子
３１１は、被測定物３０１の信号線３１２やＩＣピン３
１０などに導電接触できる任意の位置に固定され、そこ
から基準信号を検出する。また、電界センサ１０３は、
走査部１０４からの制御により、被測定物３０１近傍を
走査移動する構成になっており、走査領域における所定
の各位置で電界を測定する。
３１１は、被測定物３０１の信号線３１２やＩＣピン３
１０などに導電接触できる任意の位置に固定され、そこ
から基準信号を検出する。また、電界センサ１０３は、
走査部１０４からの制御により、被測定物３０１近傍を
走査移動する構成になっており、走査領域における所定
の各位置で電界を測定する。
【００７５】（第３の実施の形態）次に第３の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００７６】図１４は、本発明に係る電界測定装置の第
３の実施の形態の構成を示すブロック図である。第３の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
３の実施の形態の構成を示すブロック図である。第３の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
【００７７】第３の実施の形態では、信号比較部とし
て、ベクトルシグナルアナライザ４０１を用い、基準信
号入力部１０１からベクトルシグナルアナライザ４０１
までの間にスペクトラムアナライザ４０２とダウンコン
バータ４０３とを設け、電界センサ１０３からベクトル
シグナルアナライザ４０１までの間にスペクトラムアナ
ライザ４０４とダウンコンバータ４０５とを設ける。
て、ベクトルシグナルアナライザ４０１を用い、基準信
号入力部１０１からベクトルシグナルアナライザ４０１
までの間にスペクトラムアナライザ４０２とダウンコン
バータ４０３とを設け、電界センサ１０３からベクトル
シグナルアナライザ４０１までの間にスペクトラムアナ
ライザ４０４とダウンコンバータ４０５とを設ける。
【００７８】スペクトラムアナライザ４０２，４０４
は、基準信号入力部１０１から出力された基準信号と、
電界センサ１０３から出力された測定信号とをそれぞれ
取り込み、測定対象の所定周波数成分のみをＩＦ信号
（一般的に２１．４ＭＨｚを使用）に変換してダウンコ
ンバータ４０３，４０５にそれぞれ出力する。ダウンコ
ンバータ４０３，４０４では、これらのＩＦ信号をさら
に１０ＭＨｚ以下の信号にそれぞれ周波数変換し、ベク
トルシグナルアナライザ４０１に出力する。ベクトルシ
グナルアナライザ４０１では、１０ＭＨｚ以下に周波数
変換された基準信号と測定信号とを振幅及び位相におい
て比較を行う。
は、基準信号入力部１０１から出力された基準信号と、
電界センサ１０３から出力された測定信号とをそれぞれ
取り込み、測定対象の所定周波数成分のみをＩＦ信号
（一般的に２１．４ＭＨｚを使用）に変換してダウンコ
ンバータ４０３，４０５にそれぞれ出力する。ダウンコ
ンバータ４０３，４０４では、これらのＩＦ信号をさら
に１０ＭＨｚ以下の信号にそれぞれ周波数変換し、ベク
トルシグナルアナライザ４０１に出力する。ベクトルシ
グナルアナライザ４０１では、１０ＭＨｚ以下に周波数
変換された基準信号と測定信号とを振幅及び位相におい
て比較を行う。
【００７９】なお、ベクトルシグナルアナライザ４０１
は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、スペクトラムアナ
ライザ４０２，４０４及びダウンコンバータ４０３，４
０５にそれぞれ内蔵された局部発振器が、このベクトル
シグナルアナライザ４０１の基準信号源から送られたＲ
ｅｆ信号に基づき同期するように構成され、これによっ
て周波数確度をあげている。
は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、スペクトラムアナ
ライザ４０２，４０４及びダウンコンバータ４０３，４
０５にそれぞれ内蔵された局部発振器が、このベクトル
シグナルアナライザ４０１の基準信号源から送られたＲ
ｅｆ信号に基づき同期するように構成され、これによっ
て周波数確度をあげている。
【００８０】演算処理部１０６は、第１の実施の形態と
同様に、ベクトルシグナルアナライザ４０１の比較結果
に基づいて、位相情報を持った電界強度を算出する。走
査部１０４による走査によって電界強度分布が得られ、
さらに基準信号の位相が変化することによって上記電界
強度分布が変化し、これが表示部１０７において動画表
示される。
同様に、ベクトルシグナルアナライザ４０１の比較結果
に基づいて、位相情報を持った電界強度を算出する。走
査部１０４による走査によって電界強度分布が得られ、
さらに基準信号の位相が変化することによって上記電界
強度分布が変化し、これが表示部１０７において動画表
示される。
【００８１】なお、走査部１０４による走査は、複数の
センサから成る電界センサの各センサの出力を順に選択
走査して、各センサからの測定信号をスペクトルアナラ
イザ４０４へ出力させる構成でもよく、また、１つのセ
ンサから成る電界センサを被測定物１０２上で移動して
複数の位置で測定を行い、得られた各測定信号をスペク
トルアナライザ４０４へ出力させる構成でもよい。ま
た、表示部１０７が、複数の表示方式のうちの指示され
た表示方式で表示を行うようにしてもよい。
センサから成る電界センサの各センサの出力を順に選択
走査して、各センサからの測定信号をスペクトルアナラ
イザ４０４へ出力させる構成でもよく、また、１つのセ
ンサから成る電界センサを被測定物１０２上で移動して
複数の位置で測定を行い、得られた各測定信号をスペク
トルアナライザ４０４へ出力させる構成でもよい。ま
た、表示部１０７が、複数の表示方式のうちの指示され
た表示方式で表示を行うようにしてもよい。
【００８２】走査部１０４、ベクトルシグナルアナライ
ザ４０１、演算処理部１０６、表示部１０７は制御部１
０８により制御される。
ザ４０１、演算処理部１０６、表示部１０７は制御部１
０８により制御される。
【００８３】（第４の実施の形態）次に第４の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００８４】図１５は、本発明に係る電界測定装置の第
４の実施の形態の構成を示すブロック図である。第４の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
４の実施の形態の構成を示すブロック図である。第４の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
【００８５】第４の実施の形態では、信号比較部として
ベクトルネットワークアナライザ５０１を用いる。ベク
トルネットワークアナライザ５０１では、基準信号入力
部１０１から出力された基準信号がＲチャンネルに入力
され、一方、電界センサ１０３から出力された測定信号
がＡチャンネルに入力され、基準信号と測定信号とが振
幅及び位相において比較される。
ベクトルネットワークアナライザ５０１を用いる。ベク
トルネットワークアナライザ５０１では、基準信号入力
部１０１から出力された基準信号がＲチャンネルに入力
され、一方、電界センサ１０３から出力された測定信号
がＡチャンネルに入力され、基準信号と測定信号とが振
幅及び位相において比較される。
【００８６】なお、走査部１０４、ベクトルネットワー
クアナライザ５０１、演算処理部１０６、表示部１０７
は制御部１０８により制御されている。
クアナライザ５０１、演算処理部１０６、表示部１０７
は制御部１０８により制御されている。
【００８７】（第５の実施の形態）次に第５の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００８８】図１６は、本発明に係る電界測定装置の第
５の実施の形態の構成を示すブロック図である。第５の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
５の実施の形態の構成を示すブロック図である。第５の
実施の形態の構成は、基本的に第１の実施の形態と同じ
である。そこで、図１に示す第１の実施の形態と同じ構
成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略し、
異なる部分だけを説明する。
【００８９】第５の実施の形態では、被測定物１０２の
電気回路に任意の周波数のクロック信号を出力する信号
発生部６０１を新たに設ける。信号発生部６０１は、制
御部１０８の制御に従い任意の周波数のクロック信号を
出力する。
電気回路に任意の周波数のクロック信号を出力する信号
発生部６０１を新たに設ける。信号発生部６０１は、制
御部１０８の制御に従い任意の周波数のクロック信号を
出力する。
【００９０】信号比較部１０５は１０ＭＨｚの基準信号
源を内蔵し、信号発生部６０１は、この基準信号源と同
期してクロック信号を発生し、これによってクロック信
号の周波数確度をあげている。
源を内蔵し、信号発生部６０１は、この基準信号源と同
期してクロック信号を発生し、これによってクロック信
号の周波数確度をあげている。
【００９１】信号発生部６０１、走査部１０４、信号比
較部１０５、演算処理部１０６、表示部１０７は制御部
１０８により制御されている。
較部１０５、演算処理部１０６、表示部１０７は制御部
１０８により制御されている。
【００９２】（第６の実施の形態）次に第６の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００９３】図１７は、本発明に係る電界測定装置の第
６の実施の形態の構成を示すブロック図である。第６の
実施の形態の構成は、基本的に第４の実施の形態と同じ
である。そこで、図１５に示す第４の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
６の実施の形態の構成を示すブロック図である。第６の
実施の形態の構成は、基本的に第４の実施の形態と同じ
である。そこで、図１５に示す第４の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
【００９４】第６の実施の形態では、被測定物１０２の
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
７０１を新たに設ける。パルスジェネレータ７０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルネットワークアナライザ
５０１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
７０１を新たに設ける。パルスジェネレータ７０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルネットワークアナライザ
５０１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
【００９５】パルスジェネレータ７０１内部の局部発振
器は、ベクトルネットワークアナライザ５０１の基準信
号源から送られたＲｅｆ信号に同期してクロック信号を
発生し、これによってクロック信号の周波数確度をあげ
ている。
器は、ベクトルネットワークアナライザ５０１の基準信
号源から送られたＲｅｆ信号に同期してクロック信号を
発生し、これによってクロック信号の周波数確度をあげ
ている。
【００９６】パルスジェネレータ７０１、ベクトルネッ
トワークアナライザ５０１、走査部１０４、演算処理部
１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御されて
いる。
トワークアナライザ５０１、走査部１０４、演算処理部
１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御されて
いる。
【００９７】（第７の実施の形態）次に第７の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【００９８】図１８は、本発明に係る電界測定装置の第
７の実施の形態の構成を示すブロック図である。第７の
実施の形態の構成は、基本的に第２の実施の形態と同じ
である。そこで、図１０に示す第２の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
７の実施の形態の構成を示すブロック図である。第７の
実施の形態の構成は、基本的に第２の実施の形態と同じ
である。そこで、図１０に示す第２の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
【００９９】第７の実施の形態では、被測定物１０２の
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
８０１を新たに設ける。パルスジェネレータ８０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルシグナルアナライザ２０
１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
８０１を新たに設ける。パルスジェネレータ８０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルシグナルアナライザ２０
１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
【０１００】パルスジェネレータ８０１内部の局部発振
器は、ベクトルシグナルアナライザ２０１の基準信号源
から送られるＲｅｆ信号に同期してクロック信号を発生
し、また、ダウンコンバータ２０３及びダウンコンバー
タ２０５内部の共通の局部発振器２０６も、ベクトルシ
グナルアナライザ２０１の基準信号源からのＲｅｆ信号
に同期し、周波数確度をあげている。
器は、ベクトルシグナルアナライザ２０１の基準信号源
から送られるＲｅｆ信号に同期してクロック信号を発生
し、また、ダウンコンバータ２０３及びダウンコンバー
タ２０５内部の共通の局部発振器２０６も、ベクトルシ
グナルアナライザ２０１の基準信号源からのＲｅｆ信号
に同期し、周波数確度をあげている。
【０１０１】パルスジェネレータ８０１、ベクトルシグ
ナルアナライザ２０１、走査部１０４、演算処理部１０
６、表示部１０７は制御部１０８により制御されてい
る。
ナルアナライザ２０１、走査部１０４、演算処理部１０
６、表示部１０７は制御部１０８により制御されてい
る。
【０１０２】（第８の実施の形態）次に第８の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【０１０３】図１９は、本発明に係る電界測定装置の第
８の実施の形態の構成を示すブロック図である。第８の
実施の形態の構成は、基本的に第３の実施の形態と同じ
である。そこで、図１４に示す第３の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
８の実施の形態の構成を示すブロック図である。第８の
実施の形態の構成は、基本的に第３の実施の形態と同じ
である。そこで、図１４に示す第３の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
【０１０４】第８の実施の形態では、被測定物１０２の
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
９０１を新たに設ける。パルスジェネレータ９０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルシグナルアナライザ４０
１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
電気回路にクロック信号を出力するパルスジェネレータ
９０１を新たに設ける。パルスジェネレータ９０１は、
制御部１０８の制御に従い、任意の周波数のクロック信
号を出力する。なお、ベクトルシグナルアナライザ４０
１は１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵する。
【０１０５】パルスジェネレータ９０１内部の局部発振
器は、ベクトルシグナルアナライザ４０１の基準信号源
から送られたＲｅｆ信号に同期してクロック信号を発生
し、また、スペクトラムアナライザ４０２，４０４及び
ダウンコンバータ４０３，４０５内部の各局部発振器
も、ベクトルシグナルアナライザ４０１の基準信号源か
ら送られたＲｅｆ信号に同期し、周波数確度をあげてい
る。
器は、ベクトルシグナルアナライザ４０１の基準信号源
から送られたＲｅｆ信号に同期してクロック信号を発生
し、また、スペクトラムアナライザ４０２，４０４及び
ダウンコンバータ４０３，４０５内部の各局部発振器
も、ベクトルシグナルアナライザ４０１の基準信号源か
ら送られたＲｅｆ信号に同期し、周波数確度をあげてい
る。
【０１０６】パルスジェネレータ９０１、ベクトルシグ
ナルアナライザ４０１、走査部１０４、演算処理部１０
６、表示部１０７は制御部１０８により制御されてい
る。
ナルアナライザ４０１、走査部１０４、演算処理部１０
６、表示部１０７は制御部１０８により制御されてい
る。
【０１０７】（第９の実施の形態）次に第９の実施の形
態を説明する。
態を説明する。
【０１０８】図２０は、本発明に係る電界測定装置の第
９の実施の形態の構成を示すブロック図である。第９の
実施の形態の構成は、基本的に第５の実施の形態と同じ
である。そこで、図１６に示す第５の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
９の実施の形態の構成を示すブロック図である。第９の
実施の形態の構成は、基本的に第５の実施の形態と同じ
である。そこで、図１６に示す第５の実施の形態と同じ
構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省略
し、異なる部分だけを説明する。
【０１０９】第９の実施の形態では、第５の実施の形態
における基準信号入力部１０１が取り除かれている。そ
の代わり、第５の実施の形態における信号比較部１０５
に相当する信号比較部１００１は、１０ＭＨｚの基準信
号源を内蔵し、この基準信号源に同期して測定周波数の
基準信号を内部で発生し、電界センサ１０３から出力さ
れた測定信号とこの測定周波数の基準信号とを、振幅及
び位相において比較する。
における基準信号入力部１０１が取り除かれている。そ
の代わり、第５の実施の形態における信号比較部１０５
に相当する信号比較部１００１は、１０ＭＨｚの基準信
号源を内蔵し、この基準信号源に同期して測定周波数の
基準信号を内部で発生し、電界センサ１０３から出力さ
れた測定信号とこの測定周波数の基準信号とを、振幅及
び位相において比較する。
【０１１０】信号発生部６０１は、第５の実施の形態と
同様に、信号比較部１００１の基準信号源と同期して任
意の周波数のクロック信号を発生するとともに、制御部
１０８からの制御に従い、基準信号の位相を変化させ
る。こうして作成されたクロック信号は、被測定物１０
２の電気回路に印加される。
同様に、信号比較部１００１の基準信号源と同期して任
意の周波数のクロック信号を発生するとともに、制御部
１０８からの制御に従い、基準信号の位相を変化させ
る。こうして作成されたクロック信号は、被測定物１０
２の電気回路に印加される。
【０１１１】信号発生部６０１、走査部１０４、信号比
較部１００１、演算処理部１０６、表示部１０７は制御
部１０８により制御されている。
較部１００１、演算処理部１０６、表示部１０７は制御
部１０８により制御されている。
【０１１２】（第１０の実施の形態）次に第１０の実施
の形態を説明する。
の形態を説明する。
【０１１３】図２１は、本発明に係る電界測定装置の第
１０の実施の形態の構成を示すブロック図である。第１
０の実施の形態の構成は、基本的に第９の実施の形態と
同じである。そこで、図２０に示す第９の実施の形態と
同じ構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省
略し、異なる部分だけを説明する。
１０の実施の形態の構成を示すブロック図である。第１
０の実施の形態の構成は、基本的に第９の実施の形態と
同じである。そこで、図２０に示す第９の実施の形態と
同じ構成部分には同一の参照符号を付してその説明を省
略し、異なる部分だけを説明する。
【０１１４】第１０の実施の形態では、第９の実施の形
態における信号比較部１００１に代わってベクトルシグ
ナルアナライザ１１０１を設けるとともに、信号発生部
６０１に代わってパルスジェネレータ１１０２を設け
る。
態における信号比較部１００１に代わってベクトルシグ
ナルアナライザ１１０１を設けるとともに、信号発生部
６０１に代わってパルスジェネレータ１１０２を設け
る。
【０１１５】第１０の実施の形態でも、第９の実施の形
態と同様に、ベクトルシグナルアナライザ１１０１が、
１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、この基準信号源に同
期して測定周波数の基準信号を内部で発生し、電界セン
サ１０３から出力された測定信号とこの測定周波数の基
準信号とを、振幅及び位相において比較する。パルスジ
ェネレータ１１０２は、ベクトルシグナルアナライザ１
１０１の基準信号源と同期して任意の周波数のクロック
信号を発生するとともに、制御部１０８からの制御に従
い、基準信号の位相を変化させる。こうして作成された
クロック信号は、被測定物１０２の電気回路に印加され
る。
態と同様に、ベクトルシグナルアナライザ１１０１が、
１０ＭＨｚの基準信号源を内蔵し、この基準信号源に同
期して測定周波数の基準信号を内部で発生し、電界セン
サ１０３から出力された測定信号とこの測定周波数の基
準信号とを、振幅及び位相において比較する。パルスジ
ェネレータ１１０２は、ベクトルシグナルアナライザ１
１０１の基準信号源と同期して任意の周波数のクロック
信号を発生するとともに、制御部１０８からの制御に従
い、基準信号の位相を変化させる。こうして作成された
クロック信号は、被測定物１０２の電気回路に印加され
る。
【０１１６】パルスジェネレータ１１０２、走査部１０
４、ベクトルシグナルアナライザ１１０１、演算処理部
１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御されて
いる。
４、ベクトルシグナルアナライザ１１０１、演算処理部
１０６、表示部１０７は制御部１０８により制御されて
いる。
【０１１７】（他の実施の形態）前述した各実施の形態
の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記
憶した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そ
のシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵ
やＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを
読み出して実行することによっても、本発明が達成され
ることは言うまでもない。
の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記
憶した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給し、そ
のシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵ
やＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを
読み出して実行することによっても、本発明が達成され
ることは言うまでもない。
【０１１８】この場合、記憶媒体から読み出されたプロ
グラムコード自体が、前述の各実施の形態の機能を実現
することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶
媒体が本発明を構成することになる。
グラムコード自体が、前述の各実施の形態の機能を実現
することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶
媒体が本発明を構成することになる。
【０１１９】プログラムコードを供給するための記憶媒
体として、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、
ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−
ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカー
ド、ＲＯＭなどを用いることができる。
体として、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、
ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−
ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカー
ド、ＲＯＭなどを用いることができる。
【０１２０】また、コンピュータが読み出したプログラ
ムコードを実行することにより、前述した各実施の形態
の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコード
の指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳな
どが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によ
って前述した各実施の形態の機能が実現される場合も、
本発明に含まれることは言うまでもない。
ムコードを実行することにより、前述した各実施の形態
の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコード
の指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているＯＳな
どが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によ
って前述した各実施の形態の機能が実現される場合も、
本発明に含まれることは言うまでもない。
【０１２１】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指
示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに
備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行
い、その処理によって前述した各実施の形態の機能が実
現される場合も、本発明に含まれることは言うまでもな
い。
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指
示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに
備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行
い、その処理によって前述した各実施の形態の機能が実
現される場合も、本発明に含まれることは言うまでもな
い。
【０１２２】
【発明の効果】以上詳述したように請求項１、請求項２
６、請求項３４または請求項４２記載の発明によれば、
被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号とし
て検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生
する電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備
え、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複
数の位置で電界を測定させ、前記電界測定手段によって
測定された各電界と、前記基準信号検出手段によって検
出された基準信号とに基づき、前記被測定物における電
界強度分布位相変化を算出し、該算出された電界強度分
布位相変化を前記表示装置に表示させる。
６、請求項３４または請求項４２記載の発明によれば、
被測定物の任意の位置における測定信号を基準信号とし
て検出する基準信号検出手段と、前記被測定物から発生
する電界を測定する電界測定手段と、表示装置とを備
え、前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複
数の位置で電界を測定させ、前記電界測定手段によって
測定された各電界と、前記基準信号検出手段によって検
出された基準信号とに基づき、前記被測定物における電
界強度分布位相変化を算出し、該算出された電界強度分
布位相変化を前記表示装置に表示させる。
【０１２３】また、請求項１８、請求項３３、請求項４
１または請求項４９記載の発明によれば、基準信号源
と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号入
力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する電
界測定手段と、表示装置とを備え、前記クロック信号と
測定周波数の基準信号とを、前記基準信号源に同期させ
るとともに、該基準信号源の位相を連続的に変化させ、
前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させ、前記電界測定手段によって測定
された各電界と前記基準信号源に同期した測定周波数の
基準信号とに基づき、前記被測定物における電界強度分
布位相変化を算出し、該算出された電界強度分布位相変
化を前記表示装置に表示させる。
１または請求項４９記載の発明によれば、基準信号源
と、被測定物にクロック信号を入力するクロック信号入
力手段と、前記被測定物から発生する電界を測定する電
界測定手段と、表示装置とを備え、前記クロック信号と
測定周波数の基準信号とを、前記基準信号源に同期させ
るとともに、該基準信号源の位相を連続的に変化させ、
前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させ、前記電界測定手段によって測定
された各電界と前記基準信号源に同期した測定周波数の
基準信号とに基づき、前記被測定物における電界強度分
布位相変化を算出し、該算出された電界強度分布位相変
化を前記表示装置に表示させる。
【０１２４】ここで、基準信号の位相が変化することに
より、表示装置に表示される画像が変化し、これによっ
て、この画像を見たユーザは、不要電磁波の発生源、伝
達経路、放射源を切り分けて特定することが可能とな
る。
より、表示装置に表示される画像が変化し、これによっ
て、この画像を見たユーザは、不要電磁波の発生源、伝
達経路、放射源を切り分けて特定することが可能とな
る。
【図１】本発明に係る電界測定装置の第１の実施の形態
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図２】電界強度分布位相変化の算出処理の手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】電界強度分布位相変化の算出処理によって得ら
れた位相情報を持った電界強度分布のデータイメージを
示す図である。
れた位相情報を持った電界強度分布のデータイメージを
示す図である。
【図４】被測定物の第１の例を示す図である。
【図５】被測定物の第２の例を示す図である。
【図６】図４に示す被測定物を、第１の実施の形態にお
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
【図７】図４に示す被測定物を、第１の実施の形態にお
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
【図８】図５に示す被測定物を、第１の実施の形態にお
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
【図９】図５に示す被測定物を、第１の実施の形態にお
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
ける電界測定装置により測定を行った結果得られた電界
強度分布を位相毎に示す図である。
【図１０】本発明に係る電界測定装置の第２の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１１】基準信号入力部の第１の構成例を示す図であ
る。
る。
【図１２】基準信号入力部の第２の構成例を示す図であ
る。
る。
【図１３】基準信号入力部の第３の構成例を示す図であ
る。
る。
【図１４】本発明に係る電界測定装置の第３の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１５】本発明に係る電界測定装置の第４の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明に係る電界測定装置の第５の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１７】本発明に係る電界測定装置の第６の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１８】本発明に係る電界測定装置の第７の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図１９】本発明に係る電界測定装置の第８の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図２０】本発明に係る電界測定装置の第９の実施の形
態の構成を示すブロック図である。
態の構成を示すブロック図である。
【図２１】本発明に係る電界測定装置の第１０の実施の
形態の構成を示すブロック図である。
形態の構成を示すブロック図である。
【図２２】回路基板を電子機器に組み込み、筐体やケー
ブルを接続した状態の被測定物を、従来の近傍界強度分
布測定装置によって測定して得られた電流分布測定結果
の一例を示すイメージ図である。
ブルを接続した状態の被測定物を、従来の近傍界強度分
布測定装置によって測定して得られた電流分布測定結果
の一例を示すイメージ図である。
１０１ 基準信号入力部（基準信号検出手段）
１０２ 被測定物
１０３ 電界センサ（電界測定手段）
１０４ 走査部（走査手段）
１０５ 信号比較部（算出手段、信号比較手段）
１０６ 演算処理部（算出手段、演算手段）
１０７ 表示部（表示手段）
１０８ 制御部
２０１ ベクトルシグナルアナライザ
２０２ バンドパスフィルタ
２０３ ダウンコンバータ
２０４ バンドパスフィルタ
２０５ ダウンコンバータ
２０６ 局部発信器
２０７ ミキサ
２０８ ミキサ
３０１ 被測定物
３０２ ＩＣ
３０３ 回路基板
３０４ シャーシ
３０５ ケーブル
３０６ 電界センサ
３０７ 磁界ループプローブ
３０８ ＩＣ
３０９ 回路基板
３１０ ＩＣピン
３１１ 導電接触端子
３１２ 信号線
４０１ ベクトルシグナルアナライザ
４０２ スペクトラムアナライザ
４０３ ダウンコンバータ
４０４ スペクトラムアナライザ
４０５ ダウンコンバータ
５０１ ベクトルネットワークアナライザ
６０１ 信号発生部
７０１ パルスジェネレータ
８０１ パルスジェネレータ
９０１ パルスジェネレータ
１００１ 信号比較部
１１０１ ベクトルシグナルアナライザ
１１０２ パルスジェネレータ
Claims (49)
- 【請求項１】 被測定物の任意の位置における測定信号
を基準信号として検出する基準信号検出手段と、 前記被測定物から発生する電界を測定する電界測定手段
と、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査手段と、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出手段と、 前記算出手段によって算出された電界強度分布位相変化
を表示する表示手段とを有することを特徴とする電界測
定装置。 - 【請求項２】 前記電界測定手段は、前記被測定物近傍
の複数の位置にそれぞれ配置された複数の電界センサか
ら構成され、 前記走査手段は、前記複数の電界センサのうち１つを順
次指定し、該指定した電界センサが測定した電界を前記
算出手段に出力させることを特徴とする請求項１記載の
電界測定装置。 - 【請求項３】 前記電界測定手段は、前記被測定物近傍
を移動自在な単一の電界センサから構成され、 前記走査手段は、前記単一の電界センサを前記被測定物
近傍で移動させ、前記被測定物近傍の複数の位置で電界
の測定を行わせ、該測定された各電界を前記算出手段に
出力させることを特徴とする請求項１記載の電界測定装
置。 - 【請求項４】 前記表示手段は、前記電界強度分布を表
示する複数の表示方法のうち１つを指定され、該指定に
従った表示方法によって前記電界強度分布位相変化を表
示することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれ
かに記載の電界測定装置。 - 【請求項５】 前記複数の表示方法のうち１つは、前記
基準信号の位相が連続的に変化された場合に生ずる前記
電界強度分布位相変化を、動画表示する表示方法である
ことを特徴とする請求項４記載の電界測定装置。 - 【請求項６】 前記複数の表示方法のうち１つは、前記
基準信号の所定の位相における前記電界強度分布を、静
止画表示する表示方法であることを特徴とする請求項４
記載の電界測定装置。 - 【請求項７】 前記算出手段は、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とを、振幅
及び位相において比較する信号比較手段と、 前記信号比較手段による比較の結果に基づき、前記被測
定物における電界強度分布位相変化を算出する演算手段
とを含むことを特徴とする請求項１乃至請求項６記載の
電界測定装置。 - 【請求項８】 前記信号比較手段は、 ベクトルシグナルアナライザと、 前記基準信号検出手段と前記ベクトルシグナルアナライ
ザとの間に配置された第１のバンドパスフィルタ及び第
１のダウンコンバータと、 前記電界測定手段と前記ベクトルシグナルアナライザと
の間に配置された第２のバンドパスフィルタ及び第２の
ダウンコンバータとを含むことを特徴とする請求項７記
載の電界測定装置。 - 【請求項９】 前記信号比較手段は、 ベクトルシグナルアナライザと、 前記基準信号検出手段と前記ベクトルシグナルアナライ
ザとの間に配置された第１のスペクトラムアナライザ及
び第１のダウンコンバータと、 前記電界測定手段と前記ベクトルシグナルアナライザと
の間に配置された第２のスペクトラムアナライザ及び第
２のダウンコンバータとを含むことを特徴とする請求項
７記載の電界測定装置。 - 【請求項１０】 前記信号比較手段は、ベクトルネット
ワークアナライザからなることを特徴とする請求項７記
載の電界測定装置。 - 【請求項１１】 前記信号比較手段は基準信号源を備
え、 前記基準信号源に同期したクロック信号を前記被測定物
に入力するクロック信号入力手段を更に有することを特
徴とする請求項７記載の電界測定装置。 - 【請求項１２】 前記クロック信号入力手段はパルスジ
ェネレータからなることを特徴とする請求項１１記載の
電界測定装置。 - 【請求項１３】 前記クロック信号入力手段はパルスジ
ェネレータからなり、 前記信号比較手段は、ベクトルシグナルアナライザと、
前記基準信号検出手段と前記ベクトルシグナルアナライ
ザとの間に配置された第１のバンドパスフィルタ及び第
１のダウンコンバータと、前記電界測定手段と前記ベク
トルシグナルアナライザとの間に配置された第２のバン
ドパスフィルタ及び第２のダウンコンバータとを含むこ
とを特徴とする請求項１１記載の電界測定装置。 - 【請求項１４】 前記クロック信号入力手段はパルスジ
ェネレータからなり、 前記信号比較手段は、ベクトルシグナルアナライザと、
前記基準信号検出手段と前記ベクトルシグナルアナライ
ザとの間に配置された第１のスペクトラムアナライザ及
び第１のダウンコンバータと、前記電界測定手段と前記
ベクトルシグナルアナライザとの間に配置された第２の
スペクトラムアナライザ及び第２のダウンコンバータと
を含むことを特徴とする請求項１１記載の電界測定装
置。 - 【請求項１５】 前記基準信号検出手段は、前記被測定
物の所定の位置における電界を測定する電界センサから
なることを特徴とする請求項１乃至請求項１４のいずれ
かに記載の電界測定装置。 - 【請求項１６】 前記基準信号検出手段は、前記被測定
物の所定の位置における磁界を測定する磁界ループプロ
ーブからなることを特徴とする請求項１乃至請求項１４
のいずれかに記載の電界測定装置。 - 【請求項１７】 前記基準信号検出手段は、前記被測定
物内の電気回路の所定位置に接触して電流または電圧を
検出する導体接触端子からなることを特徴とする請求項
１乃至請求項１４のいずれかに記載の電界測定装置。 - 【請求項１８】 基準信号源に同期したクロック信号を
発生し、被測定物に入力するクロック信号入力手段と、 前記クロック信号入力に伴い前記被測定物から発生する
電界を測定する電界測定手段と、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査手段と、 前記基準信号源を内蔵し、前記電界測定手段によって測
定された各電界と前記基準信号源に同期した測定周波数
の基準信号とに基づき、前記被測定物における電界強度
分布位相変化を算出する算出手段と、 前記算出手段によって算出された電界強度分布位相変化
を表示する表示手段とを有することを特徴とする電界測
定装置。 - 【請求項１９】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍の複数の位置にそれぞれ配置された複数の電界センサ
から構成され、 前記走査手段は、前記複数の電界センサのうち１つを順
次指定し、該指定した電界センサが測定した電界を前記
算出手段に出力させることを特徴とする請求項１８記載
の電界測定装置。 - 【請求項２０】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍を移動自在な単一の電界センサから構成され、 前記走査手段は、前記単一の電界センサを前記被測定物
近傍で移動させ、前記被測定物近傍の複数の位置で電界
の測定を行わせ、該測定された各電界を前記算出手段に
出力させることを特徴とする請求項１８記載の電界測定
装置。 - 【請求項２１】 前記表示手段は、前記電界強度分布を
表示する複数の表示方法のうち１つを指定され、該指定
に従った表示方法によって前記電界強度分布位相変化を
表示することを特徴とする請求項１８乃至請求項２０の
いずれかに記載の電界測定装置。 - 【請求項２２】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の位相が連続的に変化された場合に生ずる前
記電界強度分布位相変化を、動画表示する表示方法であ
ることを特徴とする請求項２１記載の電界測定装置。 - 【請求項２３】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の所定の位相における前記電界強度分布を、
静止画表示する表示方法であることを特徴とする請求項
２１記載の電界測定装置。 - 【請求項２４】 前記算出手段は、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号源に同期した測定周波数の基準信号とを、振幅及
び位相において比較する信号比較手段と、 前記信号比較手段による比較の結果に基づき、前記被測
定物における電界強度分布位相変化を算出する演算手段
とを含むことを特徴とする請求項１８乃至請求項２３記
載の電界測定装置。 - 【請求項２５】 前記クロック信号入力手段はパルスジ
ェネレータからなり、 前記信号比較手段はベクトルシグナルアナライザからな
ることを特徴とする請求項２４記載の電界測定装置。 - 【請求項２６】 被測定物の任意の位置における測定信
号を基準信号として検出する基準信号検出手段と、前記
被測定物から発生する電界を測定する電界測定手段と、
表示装置とを備えた電界測定装置に適用される電界測定
方法において、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とする電界測定方法。 - 【請求項２７】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍の複数の位置にそれぞれ配置された複数の電界センサ
から構成され、 前記走査ステップは、前記複数の電界センサのうち１つ
を順次指定し、該指定した電界センサに、該電界センサ
が測定した電界を出力させることを特徴とする請求項２
６記載の電界測定方法。 - 【請求項２８】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍を移動自在な単一の電界センサから構成され、 前記走査ステップは、前記単一の電界センサを前記被測
定物近傍で移動させ、前記被測定物近傍の複数の位置で
電界の測定を行わせ、該測定された各電界を出力させる
ことを特徴とする請求項２６記載の電界測定方法。 - 【請求項２９】 前記表示ステップは、前記電界強度分
布を表示する複数の表示方法のうち１つを指定され、該
指定に従った表示方法によって前記電界強度分布位相変
化を表示することを特徴とする請求項２６乃至請求項２
８のいずれかに記載の電界測定方法。 - 【請求項３０】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の位相が連続的に変化された場合に生ずる前
記電界強度分布位相変化を、動画表示する表示方法であ
ることを特徴とする請求項２９記載の電界測定方法。 - 【請求項３１】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の所定の位相における前記電界強度分布を、
静止画表示する表示方法であることを特徴とする請求項
２９記載の電界測定方法。 - 【請求項３２】 前記電界測定装置が基準信号源を備え
るとともに、クロック信号を前記被測定物に入力するク
ロック信号入力手段を備え、 前記クロック信号を前記基準信号源に同期させるととも
に、該基準信号源の位相を連続的に変化させる基準信号
源制御ステップを、更に有することを特徴とする請求項
２６乃至請求項３１記載の電界測定方法。 - 【請求項３３】 基準信号源と、被測定物にクロック信
号を入力するクロック信号入力手段と、前記被測定物か
ら発生する電界を測定する電界測定手段と、表示装置と
を備えた電界測定装置に適用される電界測定方法におい
て、 前記クロック信号と測定周波数の基準信号とを、前記基
準信号源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を
連続的に変化させる基準信号源制御ステップと、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と前記基準
信号源に同期した測定周波数の基準信号とに基づき、前
記被測定物における電界強度分布位相変化を算出する算
出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とする電界測定方法。 - 【請求項３４】 被測定物の任意の位置における測定信
号を基準信号として検出する基準信号検出手段と、前記
被測定物から発生する電界を測定する電界測定手段と、
表示装置とを備えた電界測定装置に適用される電界測定
方法を、コンピュータに実行させるためのプログラムに
おいて、前記電界測定方法が、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とするプログラム。 - 【請求項３５】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍の複数の位置にそれぞれ配置された複数の電界センサ
から構成され、 前記走査ステップは、前記複数の電界センサのうち１つ
を順次指定し、該指定した電界センサに、該電界センサ
が測定した電界を出力させることを特徴とする請求項３
４記載のプログラム。 - 【請求項３６】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍を移動自在な単一の電界センサから構成され、 前記走査ステップは、前記単一の電界センサを前記被測
定物近傍で移動させ、前記被測定物近傍の複数の位置で
電界の測定を行わせ、該測定された各電界を出力させる
ことを特徴とする請求項３４記載のプログラム。 - 【請求項３７】 前記表示ステップは、前記電界強度分
布を表示する複数の表示方法のうち１つを指定され、該
指定に従った表示方法によって前記電界強度分布位相変
化を表示することを特徴とする請求項３４乃至請求項３
６のいずれかに記載のプログラム。 - 【請求項３８】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の位相が連続的に変化された場合に生ずる前
記電界強度分布位相変化を、動画表示する表示方法であ
ることを特徴とする請求項３７記載のプログラム。 - 【請求項３９】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の所定の位相における前記電界強度分布を、
静止画表示する表示方法であることを特徴とする請求項
３７記載のプログラム。 - 【請求項４０】 前記電界測定装置が基準信号源を備え
るとともに、クロック信号を前記被測定物に入力するク
ロック信号入力手段を備え、 前記電界測定方法が、前記クロック信号を前記基準信号
源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を連続的
に変化させる基準信号源制御ステップを、更に有するこ
とを特徴とする請求項３４乃至請求項３９記載のプログ
ラム。 - 【請求項４１】 基準信号源と、被測定物にクロック信
号を入力するクロック信号入力手段と、前記被測定物か
ら発生する電界を測定する電界測定手段と、表示装置と
を備えた電界測定装置に適用される電界測定方法を、コ
ンピュータに実行させるためのプログラムにおいて、前
記電界測定方法が、 前記クロック信号と測定周波数の基準信号とを、前記基
準信号源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を
連続的に変化させる基準信号源制御ステップと、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と前記基準
信号源に同期した測定周波数の基準信号とに基づき、前
記被測定物における電界強度分布位相変化を算出する算
出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とするプログラム。 - 【請求項４２】 被測定物の任意の位置における測定信
号を基準信号として検出する基準信号検出手段と、前記
被測定物から発生する電界を測定する電界測定手段と、
表示装置とを備えた電界測定装置に適用される電界測定
方法を、プログラムとして記憶した、コンピュータによ
り読み出し可能な記憶媒体において、前記電界測定方法
が、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と、前記基
準信号検出手段によって検出された基準信号とに基づ
き、前記被測定物における電界強度分布位相変化を算出
する算出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とする記憶媒体。 - 【請求項４３】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍の複数の位置にそれぞれ配置された複数の電界センサ
から構成され、 前記走査ステップは、前記複数の電界センサのうち１つ
を順次指定し、該指定した電界センサに、該電界センサ
が測定した電界を出力させることを特徴とする請求項４
２記載の記憶媒体。 - 【請求項４４】 前記電界測定手段は、前記被測定物近
傍を移動自在な単一の電界センサから構成され、 前記走査ステップは、前記単一の電界センサを前記被測
定物近傍で移動させ、前記被測定物近傍の複数の位置で
電界の測定を行わせ、該測定された各電界を出力させる
ことを特徴とする請求項４２記載の記憶媒体。 - 【請求項４５】 前記表示ステップは、前記電界強度分
布を表示する複数の表示方法のうち１つを指定され、該
指定に従った表示方法によって前記電界強度分布位相変
化を表示することを特徴とする請求項４２乃至請求項４
４のいずれかに記載の記憶媒体。 - 【請求項４６】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の位相が連続的に変化された場合に生ずる前
記電界強度分布位相変化を、動画表示する表示方法であ
ることを特徴とする請求項４５記載の記憶媒体。 - 【請求項４７】 前記複数の表示方法のうち１つは、前
記基準信号の所定の位相における前記電界強度分布を、
静止画表示する表示方法であることを特徴とする請求項
４５記載の記憶媒体。 - 【請求項４８】 前記電界測定装置が基準信号源を備え
るとともに、クロック信号を前記被測定物に入力するク
ロック信号入力手段を備え、 前記電界測定方法が、前記クロック信号を前記基準信号
源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を連続的
に変化させる基準信号源制御ステップを、更に有するこ
とを特徴とする請求項４２乃至請求項４７記載の記憶媒
体。 - 【請求項４９】 基準信号源と、被測定物にクロック信
号を入力するクロック信号入力手段と、前記被測定物か
ら発生する電界を測定する電界測定手段と、表示装置と
を備えた電界測定装置に適用される電界測定方法を、プ
ログラムとして記憶した、コンピュータにより読み出し
可能な記憶媒体において、前記電界測定方法が、 前記クロック信号と測定周波数の基準信号とを、前記基
準信号源に同期させるとともに、該基準信号源の位相を
連続的に変化させる基準信号源制御ステップと、 前記電界測定手段に対して、前記被測定物近傍の複数の
位置で電界を測定させる走査ステップと、 前記電界測定手段によって測定された各電界と前記基準
信号源に同期した測定周波数の基準信号とに基づき、前
記被測定物における電界強度分布位相変化を算出する算
出ステップと、 前記算出ステップによって算出された電界強度分布位相
変化を前記表示装置に表示させる表示ステップとを有す
ることを特徴とする記憶媒体。
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| JP2001389617A JP3817472B2 (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 電界測定装置 |
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| JP (1) | JP3817472B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006071428A (ja) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
| JP2008020305A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | National Institute Of Information & Communication Technology | 電磁界高速撮像装置 |
| KR100835271B1 (ko) | 2006-10-17 | 2008-06-05 | 한국전자통신연구원 | 기지국 전자파의 인체 노출량 평가 장치 및 그 방법 |
| WO2009004856A1 (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-08 | Nec Corporation | 電磁界分布測定装置 |
| FR2998675A1 (fr) * | 2012-11-27 | 2014-05-30 | Eads Europ Aeronautic Defence | Dispositif de mesure en champ proche |
| JP2016176887A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 電界イメージング方法 |
| CN106249061A (zh) * | 2016-07-27 | 2016-12-21 | 清华大学 | 复合式独立电位传感器的直流合成场强测量装置及其方法 |
| WO2017026494A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2017-02-16 | 国立大学法人大阪大学 | 電磁界測定方法、電磁界測定装置及び位相イメージング装置 |
| CN107192873A (zh) * | 2017-07-27 | 2017-09-22 | 北京中科飞龙传感技术有限责任公司 | 非接触式电压传感器系统 |
| CN113960383A (zh) * | 2021-10-26 | 2022-01-21 | 西安苏试广博环境可靠性实验室有限公司 | 一种具有防护功能的电场辐射宽带检测器 |
-
2001
- 2001-12-21 JP JP2001389617A patent/JP3817472B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006071428A (ja) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
| JP2008020305A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | National Institute Of Information & Communication Technology | 電磁界高速撮像装置 |
| KR100835271B1 (ko) | 2006-10-17 | 2008-06-05 | 한국전자통신연구원 | 기지국 전자파의 인체 노출량 평가 장치 및 그 방법 |
| WO2009004856A1 (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-08 | Nec Corporation | 電磁界分布測定装置 |
| US8447539B2 (en) | 2007-06-29 | 2013-05-21 | Nec Corporation | Electromagnetic field distribution measurement apparatus |
| FR2998675A1 (fr) * | 2012-11-27 | 2014-05-30 | Eads Europ Aeronautic Defence | Dispositif de mesure en champ proche |
| JP2016176887A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 電界イメージング方法 |
| WO2017026494A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2017-02-16 | 国立大学法人大阪大学 | 電磁界測定方法、電磁界測定装置及び位相イメージング装置 |
| CN107923933A (zh) * | 2015-08-11 | 2018-04-17 | 国立大学法人大阪大学 | 电磁场测量方法、电磁场测量装置以及相位成像装置 |
| JPWO2017026494A1 (ja) * | 2015-08-11 | 2018-05-31 | 国立大学法人大阪大学 | 電磁界測定方法、電磁界測定装置及び位相イメージング装置 |
| CN107923933B (zh) * | 2015-08-11 | 2019-11-29 | 国立大学法人大阪大学 | 电磁场测量方法、电磁场测量装置以及相位成像装置 |
| CN106249061A (zh) * | 2016-07-27 | 2016-12-21 | 清华大学 | 复合式独立电位传感器的直流合成场强测量装置及其方法 |
| CN106249061B (zh) * | 2016-07-27 | 2023-07-04 | 清华大学 | 复合式独立电位传感器的直流合成场强测量装置及其方法 |
| CN107192873A (zh) * | 2017-07-27 | 2017-09-22 | 北京中科飞龙传感技术有限责任公司 | 非接触式电压传感器系统 |
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