JP2003185683A - 波形測定器 - Google Patents
波形測定器Info
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- JP2003185683A JP2003185683A JP2001389288A JP2001389288A JP2003185683A JP 2003185683 A JP2003185683 A JP 2003185683A JP 2001389288 A JP2001389288 A JP 2001389288A JP 2001389288 A JP2001389288 A JP 2001389288A JP 2003185683 A JP2003185683 A JP 2003185683A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
- G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
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- G—PHYSICS
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 等価サンプリング方式における波形の再現性
を向上させた波形測定器波形測定器を提供することを目
的とする。 【解決手段】 等価サンプリングにより繰り返し波形デ
ータをアクイジションメモリに取り込むように構成され
た波形測定器において、前記アクイジションメモリは、
等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムスロット領
域に分割され、各タイムスロット領域には複数のメモリ
アドレス群が割り当てられたことを特徴とする。
を向上させた波形測定器波形測定器を提供することを目
的とする。 【解決手段】 等価サンプリングにより繰り返し波形デ
ータをアクイジションメモリに取り込むように構成され
た波形測定器において、前記アクイジションメモリは、
等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムスロット領
域に分割され、各タイムスロット領域には複数のメモリ
アドレス群が割り当てられたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタルオシロス
コープなどの波形測定器に関するものであり、詳しく
は、等価サンプリング測定の改良に関するものである。
コープなどの波形測定器に関するものであり、詳しく
は、等価サンプリング測定の改良に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】代表的な波形測定器であるデジタルオシ
ロスコープは、時間的に連続する信号波形をＡ／Ｄ変換
器でデジタルデータに変換して離散的にメモリ上に記録
し、記録されたデータを波形として表示する。このよう
な波形測定器において、信号波形をメモリ上に記録する
方法の一つに、等価サンプリングを用いた繰り返しデー
タ取りこみモード（以下、繰り返しモードという）があ
る。
ロスコープは、時間的に連続する信号波形をＡ／Ｄ変換
器でデジタルデータに変換して離散的にメモリ上に記録
し、記録されたデータを波形として表示する。このよう
な波形測定器において、信号波形をメモリ上に記録する
方法の一つに、等価サンプリングを用いた繰り返しデー
タ取りこみモード（以下、繰り返しモードという）があ
る。
【０００３】図４は、このようなデジタルオシロスコー
プの繰り返しモード機能に着目した従来例を示すブロッ
ク図である。入力回路１は減衰回路，プリアンプなどを
含むものであり、入力信号の振幅がＡ／Ｄ変換器（以下
ADCという）２の入力仕様に対し適切な範囲になるよう
調整してADC２に出力する。
プの繰り返しモード機能に着目した従来例を示すブロッ
ク図である。入力回路１は減衰回路，プリアンプなどを
含むものであり、入力信号の振幅がＡ／Ｄ変換器（以下
ADCという）２の入力仕様に対し適切な範囲になるよう
調整してADC２に出力する。
【０００４】ADC２は、基準クロック回路３から入力さ
れるクロックのタイミングで、入力信号をデジタルデー
タに変換する。
れるクロックのタイミングで、入力信号をデジタルデー
タに変換する。
【０００５】ADC２の出力データは、バッファメモリ制
御回路４を介してバッファメモリ５に転送され、逐次蓄
積される。
御回路４を介してバッファメモリ５に転送され、逐次蓄
積される。
【０００６】ADC２の出力データは波形データとして順
次バッファメモリ５に蓄積されていくが、入力波形が観
測者の設定した所望のトリガ条件を満たした時点で、ト
リガ回路６から時間測定回路７へトリガ信号が出力され
る。
次バッファメモリ５に蓄積されていくが、入力波形が観
測者の設定した所望のトリガ条件を満たした時点で、ト
リガ回路６から時間測定回路７へトリガ信号が出力され
る。
【０００７】時間測定回路７は、基準クロック信号とト
リガ信号の時間差を計測し、その時間差情報をバッファ
メモリ制御回路４に送る。
リガ信号の時間差を計測し、その時間差情報をバッファ
メモリ制御回路４に送る。
【０００８】バッファメモリ制御回路４は、バッファメ
モリ５から読み出したデータと時間差情報をアクイジシ
ョンメモリ制御回路８に送る。
モリ５から読み出したデータと時間差情報をアクイジシ
ョンメモリ制御回路８に送る。
【０００９】アクイジションメモリ制御回路８は、与え
られた時間差情報を元に、アクイジションメモリ９の対
応するタイムスロットにデータを転送する。
られた時間差情報を元に、アクイジションメモリ９の対
応するタイムスロットにデータを転送する。
【００１０】これら一連の動作により、波形の一部分の
データが収集される。したがって、一連の動作を複数回
繰り返すことにより、波形全体のデータがアクイジショ
ンメモリ９上に再構成するように記録されることにな
る。
データが収集される。したがって、一連の動作を複数回
繰り返すことにより、波形全体のデータがアクイジショ
ンメモリ９上に再構成するように記録されることにな
る。
【００１１】データ処理回路１０は、アクイジションメ
モリ９から読み出されるデータに対して、複数波形間で
の加算・減算・乗算などのデータ処理を施し、表示器の
分解能に応じた表示データを作成する。
モリ９から読み出されるデータに対して、複数波形間で
の加算・減算・乗算などのデータ処理を施し、表示器の
分解能に応じた表示データを作成する。
【００１２】データ処理回路１０で処理されたデータは
表示処理回路１１に入力される。表示処理回路１１は表
示データを表示メモリ１２に書き込むとともに、表示メ
モリ１２の表示データを表示器やプリンタなどの出力装
置１３に出力する。
表示処理回路１１に入力される。表示処理回路１１は表
示データを表示メモリ１２に書き込むとともに、表示メ
モリ１２の表示データを表示器やプリンタなどの出力装
置１３に出力する。
【００１３】図５は、波形データとアクイジションメモ
リ９の関係を示す説明図である。図５において、「○」
はタイムスロット１のサンプリングデータを表わし、
「△」はタイムスロット２のサンプリングデータを表わ
し、「×」はタイムスロット３のサンプリングデータを
表わしている。図５のボックスＡは、アクイジションメ
モリ９の構成を時系列に並べて表現したものであり、ア
ドレスに対応している。同じ記号のアドレスの集合がタ
イムスロットになる。なお、Ｔｅは各タイムスロットに
おけるリアルタイムサンプリングデータを時系列で並べ
ることにより形成される等価サンプリングデータの間隔
を表わし、Ｔｒは各タイムスロットにおける実際のサン
プリングタイミングに基づくリアルタイムサンプリング
データの間隔を表わしている。
リ９の関係を示す説明図である。図５において、「○」
はタイムスロット１のサンプリングデータを表わし、
「△」はタイムスロット２のサンプリングデータを表わ
し、「×」はタイムスロット３のサンプリングデータを
表わしている。図５のボックスＡは、アクイジションメ
モリ９の構成を時系列に並べて表現したものであり、ア
ドレスに対応している。同じ記号のアドレスの集合がタ
イムスロットになる。なお、Ｔｅは各タイムスロットに
おけるリアルタイムサンプリングデータを時系列で並べ
ることにより形成される等価サンプリングデータの間隔
を表わし、Ｔｒは各タイムスロットにおける実際のサン
プリングタイミングに基づくリアルタイムサンプリング
データの間隔を表わしている。
【００１４】図６は、アクイジションメモリ９のマッピ
ング例を示す説明図である。アクイジションメモリ９内
はタイムスロットという考え方で領域分けされていて、
タイムスロット一つに対してメモリ上所定の範囲のアド
レス群がマッピングされている。すなわち、一回のデー
タ収集で得られる波形の一部をサンプリングしたデータ
が、一つのタイムスロット内のそれぞれのアドレスによ
って参照されるエリアに記録される。ここで、タイムス
ロット同士の時間間隔の最小値は時間測定回路７の分解
能に等しいため、タイムスロットの最大数は時間測定回
路７の分解能に依存することになる。
ング例を示す説明図である。アクイジションメモリ９内
はタイムスロットという考え方で領域分けされていて、
タイムスロット一つに対してメモリ上所定の範囲のアド
レス群がマッピングされている。すなわち、一回のデー
タ収集で得られる波形の一部をサンプリングしたデータ
が、一つのタイムスロット内のそれぞれのアドレスによ
って参照されるエリアに記録される。ここで、タイムス
ロット同士の時間間隔の最小値は時間測定回路７の分解
能に等しいため、タイムスロットの最大数は時間測定回
路７の分解能に依存することになる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、デジタルオ
シロスコープの繰り返しモードを用いた波形観測の一つ
に、いわゆるアイパターンと呼ばれるデータバス上の信
号などを観測する場合がある。この波形の特徴は、繰り
返し波形ながら一つの時刻に対して複数の電圧値が存在
することである。
シロスコープの繰り返しモードを用いた波形観測の一つ
に、いわゆるアイパターンと呼ばれるデータバス上の信
号などを観測する場合がある。この波形の特徴は、繰り
返し波形ながら一つの時刻に対して複数の電圧値が存在
することである。
【００１６】ところが図４に示す従来構成のデジタルオ
シロスコープでは、同じタイムスロットについて異なる
電圧値がサンプリングされた場合、一時刻あたり一つの
データしか記録できないことから先の測定データは後の
測定データで上書きされてしまい、記録されないという
問題がある。
シロスコープでは、同じタイムスロットについて異なる
電圧値がサンプリングされた場合、一時刻あたり一つの
データしか記録できないことから先の測定データは後の
測定データで上書きされてしまい、記録されないという
問題がある。
【００１７】また、このような信号について時間軸を拡
大して表示した場合、時間測定回路の分解能に限界があ
るため表示データ点間の間隔が広がって波形表示画面に
表示できるデータ点数が少なくなってしまい、時間的に
連続した波形群として認識できなくなる恐れがある。図
７にその一例を示す。図７において、グレーの「○」は
サンプリングされた電圧値は存在するが上書きによって
メモリから消された点を表わす。このような状況になる
と、本来の波形を再生表示することはほぼ不可能にな
る。
大して表示した場合、時間測定回路の分解能に限界があ
るため表示データ点間の間隔が広がって波形表示画面に
表示できるデータ点数が少なくなってしまい、時間的に
連続した波形群として認識できなくなる恐れがある。図
７にその一例を示す。図７において、グレーの「○」は
サンプリングされた電圧値は存在するが上書きによって
メモリから消された点を表わす。このような状況になる
と、本来の波形を再生表示することはほぼ不可能にな
る。
【００１８】本発明は、これらの問題点を解決するもの
であり、等価サンプリング方式における波形の再現性を
向上させた波形測定器を提供することを目的とする。
であり、等価サンプリング方式における波形の再現性を
向上させた波形測定器を提供することを目的とする。
【００１９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成する請
求項１の発明は、等価サンプリングにより繰り返し波形
データをアクイジションメモリに取り込むように構成さ
れた波形測定器において、前記アクイジションメモリ
は、等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムスロッ
ト領域に分割され、各タイムスロット領域には複数のメ
モリアドレス群が割り当てられたことを特徴とする。
求項１の発明は、等価サンプリングにより繰り返し波形
データをアクイジションメモリに取り込むように構成さ
れた波形測定器において、前記アクイジションメモリ
は、等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムスロッ
ト領域に分割され、各タイムスロット領域には複数のメ
モリアドレス群が割り当てられたことを特徴とする。
【００２０】請求項２の発明は、請求項１記載の波形測
定器において、基準クロックとトリガの時間差を測定す
る手段を設け、時間差情報に基づきアクイジションメモ
リの所定のタイムスロット領域に波形データを書き込む
ことを特徴とする。
定器において、基準クロックとトリガの時間差を測定す
る手段を設け、時間差情報に基づきアクイジションメモ
リの所定のタイムスロット領域に波形データを書き込む
ことを特徴とする。
【００２１】請求項３の発明は、請求項１または請求項
２記載の波形測定器において、タイムスロット領域のメ
モリアドレス群に波形データを書き込むのにあたり、メ
モリアドレス群の選択に擬似的な時間データを用いるこ
とを特徴とする。
２記載の波形測定器において、タイムスロット領域のメ
モリアドレス群に波形データを書き込むのにあたり、メ
モリアドレス群の選択に擬似的な時間データを用いるこ
とを特徴とする。
【００２２】請求項４の発明は、請求項３記載の波形測
定器において、擬似的な時間データ発生手段として、乱
数発生回路または疑似乱数発生回路を用いることを特徴
とする。
定器において、擬似的な時間データ発生手段として、乱
数発生回路または疑似乱数発生回路を用いることを特徴
とする。
【００２３】請求項５の発明は、請求項１または請求項
２記載の波形測定器において、タイムスロット領域のメ
モリアドレス群に波形データを書き込むのにあたり、タ
イムスロット毎にカウンタを設け、カウンタの値に従っ
てメモリアドレス群を選択することを特徴とする。
２記載の波形測定器において、タイムスロット領域のメ
モリアドレス群に波形データを書き込むのにあたり、タ
イムスロット毎にカウンタを設け、カウンタの値に従っ
てメモリアドレス群を選択することを特徴とする。
【００２４】これらにより、等価サンプリング方式にお
いて、繰り返しモードにおける波形の再現性を高めるこ
とができる。
いて、繰り返しモードにおける波形の再現性を高めるこ
とができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態の一例
を示す波形測定器のブロック図であり、図4と共通する
部分には同一の符号を付けている。図１において、アク
イジションメモリ制御回路８には、乱数発生回路１４が
接続されている。この乱数発生回路１４は、アクイジシ
ョンメモリ９の所定の領域にどのような順番でデータを
記録するかを制御する。
に基づいて説明する。図１は本発明の実施の形態の一例
を示す波形測定器のブロック図であり、図4と共通する
部分には同一の符号を付けている。図１において、アク
イジションメモリ制御回路８には、乱数発生回路１４が
接続されている。この乱数発生回路１４は、アクイジシ
ョンメモリ９の所定の領域にどのような順番でデータを
記録するかを制御する。
【００２６】また、本発明で用いるアクイジションメモ
リ９は、等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムス
ロット領域に分割され、各タイムスロット領域には複数
のメモリアドレス群が割り当てられている。
リ９は、等価サンプリング間隔に応じて複数のタイムス
ロット領域に分割され、各タイムスロット領域には複数
のメモリアドレス群が割り当てられている。
【００２７】図２は、本発明における波形データとアク
イジションメモリ９の関係を示す説明図である。図２に
おいて、「○」はタイムスロット１のサンプリングデー
タを表わし、「△」はタイムスロット２のサンプリング
データを表わし、「×」はタイムスロット３のサンプリ
ングデータを表わしている。
イジションメモリ９の関係を示す説明図である。図２に
おいて、「○」はタイムスロット１のサンプリングデー
タを表わし、「△」はタイムスロット２のサンプリング
データを表わし、「×」はタイムスロット３のサンプリ
ングデータを表わしている。
【００２８】図２の複数個１〜ｍのボックスは、同時刻
における複数の測定データを記録するための各メモリア
ドレスに対応している。ボックス一つひとつがアドレス
に対応し、同じ記号のアドレス群の集合がタイムスロッ
トになる。
における複数の測定データを記録するための各メモリア
ドレスに対応している。ボックス一つひとつがアドレス
に対応し、同じ記号のアドレス群の集合がタイムスロッ
トになる。
【００２９】図３は、本発明で用いるアクイジションメ
モリ９のマッピング例を示す説明図である。従来と同様
なタイムスロットという考え方で分割された領域に、従
来とは異なり、複数のメモリアドレス群を割り当ててい
る。
モリ９のマッピング例を示す説明図である。従来と同様
なタイムスロットという考え方で分割された領域に、従
来とは異なり、複数のメモリアドレス群を割り当ててい
る。
【００３０】このような構成において、同じタイムスロ
ットにあたるデータが収集された場合、アクイジション
メモリ制御回路８は乱数発生回路１４の値（例としてタ
イムスロット1を上げると，1からmの値を取る）を参照
して、その値に基づいたアドレス群にデータを記録す
る。
ットにあたるデータが収集された場合、アクイジション
メモリ制御回路８は乱数発生回路１４の値（例としてタ
イムスロット1を上げると，1からmの値を取る）を参照
して、その値に基づいたアドレス群にデータを記録す
る。
【００３１】すなわち、アクイジションメモリ９の一つ
のタイムスロットに複数のアドレス群を割り当ててトリ
ガ点から同じ時間差のデータを複数記録できるように
し、それぞれのアドレス群の各アドレスに時間測定回路
７の最小時間分解能をアドレス群の数ｍで等分した時間
ずつずらしたサンプリング時間からの差にあたる時刻に
測定されたデータを書き込むようにしている。
のタイムスロットに複数のアドレス群を割り当ててトリ
ガ点から同じ時間差のデータを複数記録できるように
し、それぞれのアドレス群の各アドレスに時間測定回路
７の最小時間分解能をアドレス群の数ｍで等分した時間
ずつずらしたサンプリング時間からの差にあたる時刻に
測定されたデータを書き込むようにしている。
【００３２】アクイジションメモリ９にこれらの測定デ
ータを書き込むことで、見かけ上のサンプリング周波数
をさらに高めてデータ数を増大させることができ、波形
の再現性を高められる。
ータを書き込むことで、見かけ上のサンプリング周波数
をさらに高めてデータ数を増大させることができ、波形
の再現性を高められる。
【００３３】なお、各アドレス群へどのような順番でデ
ータを記録するかについては、図１の実施例では乱数発
生回路１４の乱数出力を用いているが、乱数発生回路１
４が同じ値を出力してしまった場合にはタイムスロット
のアドレス群に空きがあっても上書きしてしまうおそれ
がある。
ータを記録するかについては、図１の実施例では乱数発
生回路１４の乱数出力を用いているが、乱数発生回路１
４が同じ値を出力してしまった場合にはタイムスロット
のアドレス群に空きがあっても上書きしてしまうおそれ
がある。
【００３４】この対策としては、
１）乱数発生回路の代わりにタイムスロット毎にカウン
タを設け、カウンタの値に従った順番に記録していく方
法 ２）タイムスロット内のすべてのアドレス群が埋まるま
で、同じ値を出力しないような擬似乱数を発生させ、そ
の乱数に従い記録していく方法（この場合は、各タイム
スロット毎に乱数の種となる値を保持する必要がある）
などを用いればよい。
タを設け、カウンタの値に従った順番に記録していく方
法 ２）タイムスロット内のすべてのアドレス群が埋まるま
で、同じ値を出力しないような擬似乱数を発生させ、そ
の乱数に従い記録していく方法（この場合は、各タイム
スロット毎に乱数の種となる値を保持する必要がある）
などを用いればよい。
【００３５】また、各アドレス群への制御情報の付加方
法については、 １）サンプリングされたデータと同じ領域に付加する方
法 ２）別途レジスタを準備してアクイジションメモリコン
トローラなどに管理させる方法などを用いればよい。
法については、 １）サンプリングされたデータと同じ領域に付加する方
法 ２）別途レジスタを準備してアクイジションメモリコン
トローラなどに管理させる方法などを用いればよい。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
等価サンプリング方式により繰り返し波形を精度よく再
生表示できる波形測定器を提供することができ、デジタ
ルオシロスコープをはじめとする各種の波形測定器に好
適である。
等価サンプリング方式により繰り返し波形を精度よく再
生表示できる波形測定器を提供することができ、デジタ
ルオシロスコープをはじめとする各種の波形測定器に好
適である。
【図１】本発明の実施の形態の一例を示すブッロク図で
ある。
ある。
【図２】本発明における波形データとアクイジションメ
モリ９の関係を示す説明図である。
モリ９の関係を示す説明図である。
【図３】本発明で用いるアクイジションメモリ９のマッ
ピング例を示す説明図である。
ピング例を示す説明図である。
【図４】従来の波形測定器の一例を示すブロック図であ
る。
る。
【図５】図４における波形データとアクイジションメモ
リ９の関係を示す説明図である。
リ９の関係を示す説明図である。
【図６】図４におけるアクイジションメモリ９のマッピ
ング例を示す説明図である。
ング例を示す説明図である。
【図７】図４の波形再生表示例図である。
１ 入力回路
２ Ａ／Ｄ変換器
３ トリガ回路
４ バッファメモリ制御回路
５ バッファメモリ
６ 基準クロック回路
７ 時間測定回路
８ アクイジションメモリ制御回路
９ アクイジションメモリ
１０ データ処理回路
１１ 表示処理回路
１２ 表示メモリ
１３ 出力装置
１４ 乱数発生回路
Claims (5)
- 【請求項１】等価サンプリングにより繰り返し波形デー
タをアクイジションメモリに取り込むように構成された
波形測定器において、 前記アクイジションメモリは、等価サンプリング間隔に
応じて複数のタイムスロット領域に分割され、各タイム
スロット領域には複数のメモリアドレス群が割り当てら
れたことを特徴とする波形測定器。 - 【請求項２】基準クロックとトリガの時間差を測定する
手段を設け、時間差情報に基づきアクイジションメモリ
の所定のタイムスロット領域に波形データを書き込むこ
とを特徴とする請求項１記載の波形測定器。 - 【請求項３】タイムスロット領域のメモリアドレス群に
波形データを書き込むのにあたり、メモリアドレス群の
選択に擬似的な時間データを用いることを特徴とする請
求項１または請求項２記載の波形測定器。 - 【請求項４】擬似的な時間データ発生手段として、乱数
発生回路または疑似乱数発生回路を用いることを特徴と
する請求項３記載の波形測定器。 - 【請求項５】タイムスロット領域のメモリアドレス群に
波形データを書き込むのにあたり、タイムスロット毎に
カウンタを設け、カウンタの値に従ってメモリアドレス
群を選択することを特徴とする請求項１または請求項２
記載の波形測定器。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001389288A JP2003185683A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 波形測定器 |
| US10/321,673 US6909979B2 (en) | 2001-12-21 | 2002-12-18 | Waveform measuring instrument using equivalent time sampling |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001389288A JP2003185683A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 波形測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003185683A true JP2003185683A (ja) | 2003-07-03 |
Family
ID=19188251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001389288A Pending JP2003185683A (ja) | 2001-12-21 | 2001-12-21 | 波形測定器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6909979B2 (ja) |
| JP (1) | JP2003185683A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104880593A (zh) * | 2014-02-28 | 2015-09-02 | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 | 数字示波器以及并行获取和信号后处理的方法 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20030177249A1 (en) * | 2002-03-15 | 2003-09-18 | Ntt Multimedia Communications Laboratories | System and method for limiting unauthorized access to a network |
| US7337082B2 (en) * | 2004-03-12 | 2008-02-26 | Omron Corporation | Digital measurement instrument for acquiring measurement and time values |
| US20050229687A1 (en) * | 2004-04-15 | 2005-10-20 | Borgwarner Inc. | Method and apparatus for extended cam position measurement |
| JP4385838B2 (ja) * | 2004-04-16 | 2009-12-16 | 横河電機株式会社 | 波形測定装置 |
| GB0713585D0 (en) * | 2006-07-16 | 2007-08-22 | Fluke Corp | Equivalent |
| GB2460691A (en) * | 2008-06-06 | 2009-12-09 | Agd Systems Ltd | FMCW radar for traffic monitoring |
| US8502522B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-08-06 | Teradyne, Inc. | Multi-level triggering circuit |
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