JP2003177207A - 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置 - Google Patents

反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置

Info

Publication number
JP2003177207A
JP2003177207A JP2001377095A JP2001377095A JP2003177207A JP 2003177207 A JP2003177207 A JP 2003177207A JP 2001377095 A JP2001377095 A JP 2001377095A JP 2001377095 A JP2001377095 A JP 2001377095A JP 2003177207 A JP2003177207 A JP 2003177207A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
antireflection
antireflection film
average
convex portion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001377095A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4026362B2 (ja
Inventor
Takashi Murakami
隆 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konica Minolta Inc
Original Assignee
Konica Minolta Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konica Minolta Inc filed Critical Konica Minolta Inc
Priority to JP2001377095A priority Critical patent/JP4026362B2/ja
Publication of JP2003177207A publication Critical patent/JP2003177207A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4026362B2 publication Critical patent/JP4026362B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Polarising Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 十分な反射防止性能を有し、かつ透過鮮明度
が良好である反射防止フィルム及び該反射防止フィルム
を用いた偏光板、表示装置を提供する。 【解決手段】 輪郭曲線要素の平均高さ(Rc)が0.
1〜30μmである凹凸面が形成され、該凹凸面の0.
01mm2あたりの凸部の個数が1〜1000である樹
脂層を有する反射防止フィルムであって、前記凹凸面の
うち反射防止フィルム面に対する傾斜角が0〜5°であ
る平行面が15〜100%を占め、前記平行面の15〜
100%が凸部に形成されていることを特徴とする反射
防止フィルム。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、反射防止フィル
ム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置に
関し、特に光学ディスプレイや液晶ディスプレイの偏光
板用保護フィルムに用いられる反射防止フィルムに関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、液晶ディスプレイ、プラズマディ
スプレイ、有機ELディスプレイ、無機ELディスプレ
イ等の各種ディスプレイの開発が進んでいる。それに伴
って、各種表示装置で用いられる偏光板の高性能化への
要求が強くなってきている。
【0003】その一つとして、視認性向上のために偏光
板の反射防止性能を高めるため、偏光板に反射防止フィ
ルムを設ける技術が開示されている。
【0004】特開平8−75904号公報には、高屈折
率層と低屈折率層を積層することによって、反射防止性
能を有する反射防止フィルムに関する技術が開示されて
いる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
8−75904号公報に開示される反射防止フィルムで
は、十分に満足できる反射防止性能が得られなかった。
【0006】また、反射防止フィルムには、十分な反射
防止性能を有することが重要であるが、反射防止性能を
向上させたことにより、透過鮮明度を劣化させる等の表
示画面の見やすさを低下させる事態は避ける必要があ
る。
【0007】本発明はかかる課題に鑑みてなされたもの
であり、本発明の目的は、十分な反射防止性能を有し、
かつ透過鮮明度が良好な反射防止フィルム及び該反射防
止フィルムを用いた偏光板、表示装置を提供することで
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、下記構
成により達成された。
【0009】(1) 輪郭曲線要素の平均高さ(Rc)
が0.1〜30μmである凹凸面が形成され、該凹凸面
の0.01mm2あたりの凸部の個数が1〜1000で
ある樹脂層を有する反射防止フィルムであって、前記凹
凸面のうち反射防止フィルム面に対する傾斜角が0〜5
°である平行面が15〜100%を占め、前記平行面の
15〜100%が凸部に形成されていることを特徴とす
る反射防止フィルム。
【0010】(2) 前記凹凸面に少なくとも1層の高
屈折率層と少なくとも1層の低屈折率層とを有する反射
防止層が形成されていることを特徴とする(1)に記載
の反射防止フィルム。
【0011】(3) 凸部以外の平行面に形成されてい
る反射防止層の平均膜厚が、前記凸部の平行面に形成さ
れている反射防止層の平均膜厚より薄いか、若しくは凸
部以外の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚
と、前記凸部の平行面に形成されている反射防止層の平
均膜厚との差が、前記凸部の平行面に形成されている反
射防止層の平均膜厚の10%以内であることを特徴とす
る(2)に記載の反射防止フィルム。
【0012】(4) 前記平行面以外の部分に形成され
ている反射防止層の平均膜厚が、前記凸部の平行面に形
成されている反射防止層の平均膜厚より薄いか、若しく
は前記平行面以外の部分に形成されている反射防止層の
平均膜厚と前記凸部の平行面に形成されている反射防止
層の平均膜厚との差が前記凸部の平行面に形成されてい
る反射防止層の平均膜厚の10%以内であることを特徴
とする(2)又は(3)に記載の反射防止フィルム。
【0013】(5) 前記反射防止層は凹凸面にプラズ
マ処理を施して形成されたことを特徴とする(2)〜
(4)のいずれか1項に記載の反射防止フィルム。
【0014】(6) (1)〜(5)のいずれか1項に
記載の反射防止フィルムを有する偏光板。
【0015】(7) (1)〜(5)のいずれか1項に
記載の反射防止フィルムを有する表示装置。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の反射防止フィルム、該反
射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置について、
以下に図を用いて説明するが、本発明はこれに限定され
ない。また、以下の説明には用語等に対する断定的な表
現が含まれている場合があるが、本発明の好ましい例を
示すものであって、本発明の用語の意義や技術的な範囲
を限定するものではない。
【0017】図1は本発明の反射防止フィルムを上から
見た図及び断面図である。図1において、Aは凸部であ
る。本発明において凸部とは、凹凸面のうち突起形状部
分の表面であり、凹凸面の中心線よりも突出している領
域をいう。
【0018】図1の反射防止フィルムは、輪郭曲線要素
の平均高さ(Rc)が5μmである凹凸面が形成され、
0.01mm2あたりの凸部の個数が100である。R
cとは、JIS B 0601に規定されるRcのこと
であり、触針式若しくは光学式の表面粗さ測定装置を用
いて凹凸面から求めることができる。
【0019】凹凸面の中心線とはJIS B 0601
に規定される輪郭曲線の算術平均高さ(Ra)で言うと
ころの中心線のことを表す。
【0020】0.01mm2あたりの凸部の個数は、例
えば、光学干渉式表面粗さ測定機によって、100μm
×100μmの範囲について凸部の個数を2次元的に測
定して求めることができる。
【0021】図1において、Bは凸部の平行面である。
平行面とは、凹凸面のうちで、反射防止フィルム面、偏
光板等に用いられるときは、偏光板の面に対当する面に
対しての傾斜角が0〜5°となる面のことである。即
ち、傾斜角が0°である面とは反射防止フィルム面と平
行である面ということになる。
【0022】図1の反射防止フィルムは、凹凸面のうち
反射防止フィルム面に対する傾斜角が0°である平行面
が25%を占めており、さらに平行面の100%が凸部
に形成されている。尚、傾斜角が0〜5°となる領域の
面積と凹凸面の面積は、それぞれの面をフィルム面に垂
直に投影した時の面積から求める。面積測定は、前述の
光学干渉式表面粗さ測定機等によって測定した表面の凹
凸形状の測定結果から求めることができる。
【0023】本発明の反射防止フィルムは、Rcが0.
1〜30μmである凹凸面が形成されている。また、本
発明の反射防止フィルムは凹凸面上に複数の凸部を有
し、0.01mm2あたりの凸部の個数が1〜1000
である。本発明の反射防止フィルムは、平行面の総面積
が、凹凸面面積に対して15〜100%を占めており、
さらに、凸部に存在する平行面の面積が平行面の総面積
の15〜100%である。
【0024】本発明の反射防止フィルムは、凹凸面の構
造を上記のようにすることにより、フィルム面に対して
斜めより入射してくる光に対しての反射光を低減させる
一方、透過鮮明度を悪化させないという性能を有する。
即ち、図1を用いて説明すると、本発明の反射防止フィ
ルムは、凹凸面に対して斜め方向より斜面部に入射して
くる入射光1に対しては、その反射光が1回の反射でフ
ィルム外へと反射される構造となっていないことから、
従来の平面のみの反射防止面よりも反射防止性能が高く
なる。
【0025】さらに、本発明の反射防止フィルムは、凹
凸面でありながら凹凸面に対して傾斜角が0〜5°とな
る平行面の面積が凹凸面面積の15〜100%と大き
い。図1に示すように、フィルム面に対して垂直に入射
する入射光2が平行面に入射すると、その透過光が散乱
することはない。本発明は凹凸面でありながらこの平行
面の面積が大きいため透過光の散乱が少なく、表示装置
に用いた際は、バックライトの光等の透過光を散乱しに
くくなり透過鮮明度が良好となる。従って、本発明の反
射防止フィルムは、表示装置の偏光板等に用いた際に
は、反射防止性能を有し、かつ透過鮮明度を良好とする
ことができるのである。
【0026】本発明の反射防止フィルムは、Rcが1〜
15μmである凹凸面が形成されていることが好まし
く、これにより一層反射防止能が高くなる。
【0027】本発明の反射防止フィルムは凹凸面の0.
01mm2あたりの凸部の個数が5〜500であること
が好ましく、これにより一層反射防止能が高くなる。
【0028】本発明の反射防止フィルムは、平行面の総
面積が、凹凸面面積に対して25〜100%を占めてい
ることが好ましく、これにより透過鮮明度をさらに良好
とすることができる。
【0029】本発明の反射防止フィルムは、凸部に存在
する平行面の面積が平行面の総面積の25〜55%であ
ることが好ましく、これにより透過鮮明度をさらに良好
にすることができる。
【0030】本発明の反射防止フィルムは、凸部に存在
する平行面の面積が凹凸面面積に対して10〜60%で
あることが好ましく、これにより、透過鮮明度をさらに
良好にすることができる。
【0031】図2は、本発明の比較例の反射防止フィル
ムの上から見た図及び断面図である。図2に示される反
射防止フィルムは、Rcが5μmである凹凸面が形成さ
れ、0.01mm2あたりの凸部の個数が100であり
図1に示される反射防止フィルムと同じであるが、平行
面は0%である。即ち、図2に示される反射防止フィル
ムは、凹凸面に対して斜め方向より入射してくる光のう
ち平行面以外で入射する光は、その光をそのまま反射せ
ずに反射防止フィルム内へと反射させる構造となってい
ることから従来の平面の反射防止面より反射防止性能が
高くなるが、平行面がないことから、反射防止フィルム
面に対して垂直の光を散乱させて透過鮮明度を低下させ
てしまう。
【0032】本発明の反射防止フィルムは、上記のよう
な微細な凹凸面を形成する必要があることから、凹凸面
は紫外線等の活性エネルギー線照射により硬化する活性
エネルギー線硬化樹脂若しくは熱硬化樹脂で形成された
樹脂層であることが好ましい。これらの樹脂は、凹凸面
を形成するために、凹凸形状を有する型(金属ロールや
樹脂の型)に流し込んで紫外線等の照射により樹脂を固
めることで容易に微細な凹凸面を形成することができ
る。あるいは集束イオンビーム加工装置等により直接凹
凸面を加工形成することもできる。
【0033】活性エネルギー線硬化樹脂とは紫外線や電
子線のような活性エネルギー線照射により架橋反応等を
経て硬化する樹脂である。活性エネルギー線硬化樹脂と
しては紫外線硬化性樹脂や電子線硬化性樹脂等が代表的
なものとして挙げられるが、紫外線や電子線以外の活性
エネルギー線照射によって硬化する樹脂でもよい。
【0034】紫外線硬化性樹脂としては、例えば、紫外
線硬化型アクリルウレタン系樹脂、紫外線硬化型ポリエ
ステルアクリレート系樹脂、紫外線硬化型エポキシアク
リレート系樹脂、紫外線硬化型ポリオールアクリレート
系樹脂、または紫外線硬化型エポキシ樹脂等を挙げるこ
とができる。
【0035】紫外線硬化型アクリルウレタン系樹脂は、
一般にポリエステルポリオールにイソシアネートモノマ
ー、またはプレポリマーを反応させて得られた生成物に
更に2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキ
シエチルメタクリレート(以下アクリレートにはメタク
リレートを包含するものとしてアクリレートのみを表示
する)、2−ヒドロキシプロピルアクリレート等の水酸
基を有するアクリレート系のモノマーを反応させること
によって容易に得ることができる。例えば、特開昭59
−151110号に記載の、ユニディック17−806
(大日本インキ(株)製)100部とコロネートL(日
本ポリウレタン(株)製)1部との混合物等が好ましく
用いられる。
【0036】紫外線硬化型ポリエステルアクリレート系
樹脂は、一般にポリエステル末端の水酸基やカルボキシ
ル基に2−ヒドロキシエチルアクリレート、グリシジル
アクリレート、アクリル酸のようなのモノマーを反応さ
せることによって容易に得ることができる(例えば、特
開昭59−151112号)。
【0037】紫外線硬化型エポキシアクリレート系樹脂
は、エポキシ樹脂の末端の水酸基にアクリル酸、アクリ
ル酸クロライド、グリシジルアクリレートのようなモノ
マーを反応させて得られる。
【0038】紫外線硬化型ポリオールアクリレート系樹
脂としては、エチレングリコール(メタ)アクリレー
ト、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、
グリセリントリ(メタ)アクリレート、トリメチロール
プロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリ
アクリレート、ペンタエリスリトールテトラアクリレー
ト、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペ
ンタエリスリトールヘキサアクリレート、アルキル変性
ジペンタエリスリトールペンタアクリレート等を挙げる
ことができる。
【0039】紫外線硬化型エポキシアクリレート系樹
脂、紫外線硬化型エポキシ樹脂の例として、有用に用い
られるエポキシ系活性エネルギー線反応性化合物を示
す。
【0040】(a)ビスフェノールAのグリシジルエー
テル(この化合物はエピクロルヒドリンとビスフェノー
ルAとの反応により、重合度の異なる混合物として得ら
れる) (b)ビスフェノールA等のフェノール性OHを2個有
する化合物に、エピクロルヒドリン、エチレンオキサイ
ド及び/またはプロピレンオキサイドを反応させ末端に
グリシジルエーテル基を有する化合物 (c)4,4′−メチレンビスフェノールのグリシジル
エーテル (d)ノボラック樹脂またはレゾール樹脂のフェノール
フォルムアルデヒド樹脂のエポキシ化合物 (e)脂環式エポキシドを有する化合物、例えば、ビス
(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)オキザレー
ト、ビス(3,4−エポキシシクロヘキシルメチル)ア
ジペート、ビス(3,4−エポキシ−6−シクロヘキシ
ルメチル)アジペート、ビス(3,4−エポキシシクロ
ヘキシルメチルピメレート)、3,4−エポキシシクロ
ヘキシルメチル−3,4−エポキシシクロヘキサンカル
ボキシレート、3,4−エポキシ−1−メチルシクロヘ
キシルメチル−3′,4′−エポキシシクロヘキサンカ
ルボキシレート、3,4−エポキシ−1−メチル−シク
ロヘキシルメチル−3′,4′−エポキシ−1′−メチ
ルシクロヘキサンカルボキシレート、3,4−エポキシ
−6−メチル−シクロヘキシルメチル−3′,4′−エ
ポキシ−6′−メチル−1′−シクロヘキサンカルボキ
シレート、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル−
5′,5′−スピロ−3″,4″−エポキシ)シクロヘ
キサン−メタ−ジオキサン (f)2塩基酸のジグリシジルエーテル、例えば、ジグ
リシジルオキザレート、ジグリシジルアジペート、ジグ
リシジルテトラヒドロフタレート、ジグリシジルヘキサ
ヒドロフタレート、ジグリシジルフタレート (g)グリコールのジグリシジルエーテル、例えば、エ
チレングリコールジグリシジルエーテル、ジエチレング
リコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコール
ジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリ
シジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジ
ルエーテル、コポリ(エチレングリコール−プロピレン
グリコール)ジグリシジルエーテル、1,4−ブタンジ
オールジグリシジルエーテル、1,6−ヘキサンジオー
ルジグリシジルエーテル (h)ポリマー酸のグリシジルエステル、例えば、ポリ
アクリル酸ポリグリシジルエステル、ポリエステルジグ
リシジルエステル (i)多価アルコールのグリシジルエーテル、例えば、
グリセリントリグリシジルエーテル、トリメチロールプ
ロパントリグリシジルエーテル、ペンタエリスリトール
ジグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールトリグリ
シジルエーテル、ペンタエリスリトールテトラグリシジ
ルエーテル、グルコーストリグリシジルエーテル (j)2−フルオロアルキル−1,2−ジオールのジグ
リシジルエーテルとしては、前記低屈折率物質のフッ素
含有樹脂のフッ素含有エポキシ化合物に挙げた化合物例
と同様のもの (k)含フッ素アルカン末端ジオールグリシジルエーテ
ルとしては、上記低屈折率物質のフッ素含有樹脂のフッ
素含有エポキシ化合物等を挙げることができる。
【0041】上記エポキシ化合物の分子量は、平均分子
量として2000以下で、好ましくは1000以下であ
る。
【0042】上記のエポキシ化合物を活性エネルギー線
により硬化する場合、より硬度を上げるためには、
(h)または(i)の多官能のエポキシ基を有する化合
物を混合して用いると効果的である。
【0043】エポキシ系活性エネルギー線反応性化合物
をカチオン重合させる光重合開始剤または光増感剤は、
活性エネルギー線照射によりカチオン重合開始物質を放
出することが可能な化合物であり、特に好ましくは、照
射によりカチオン重合開始能のあるルイス酸を放出する
オニウム塩の一群の複塩である。
【0044】活性エネルギー線反応性化合物エポキシ樹
脂は、ラジカル重合によるのではなく、カチオン重合に
より重合、架橋構造または網目構造を形成する。ラジカ
ル重合と異なり反応系中の酸素に影響を受けないため好
ましい活性エネルギー線反応性樹脂である。
【0045】本発明に有用な活性エネルギー線反応性エ
ポキシ樹脂は、活性エネルギー線照射によりカチオン重
合を開始させる物質を放出する光重合開始剤または光増
感剤により重合する。光重合開始剤としては、光照射に
よりカチオン重合を開始させるルイス酸を放出するオニ
ウム塩の複塩の一群が特に好ましい。
【0046】かかる代表的なものは下記一般式(a)で
表される化合物である。 一般式(a) 〔(R1a(R2b(R3c(R4dZ〕w+〔Me
vw− 式中、カチオンはオニウムであり、ZはS、Se、T
e、P、As、Sb、Bi、O、ハロゲン(例えばI、
Br、Cl)、またはN=N(ジアゾ)であり、R1
2、R3、R4は同一であっても異なっていてもよい有
機の基である。a、b、c、dはそれぞれ0〜3の整数
であって、a+b+c+dはZの価数に等しい。Meは
ハロゲン化物錯体の中心原子である金属または半金属
(metalloid)であり、B、P、As、Sb、
Fe、Sn、Bi、Al、Ca、In、Ti、Zn、S
c、V、Cr、Mn、Co等である。Xはハロゲンであ
り、wはハロゲン化錯体イオンの正味の電荷であり、v
はハロゲン化錯体イオン中のハロゲン原子の数である。
【0047】上記一般式(a)の陰イオン〔MeXvw
−の具体例としては、テトラフルオロボレート(BF4
−)、テトラフルオロホスフェート(PF4−)、テト
ラフルオロアンチモネート(SbF4−)、テトラフル
オロアルセネート(AsF4−)、テトラクロロアンチ
モネート(SbCl4−)等を挙げることができる。
【0048】また、その他の陰イオンとしては過塩素酸
イオン(ClO4−)、トリフルオロメチル亜硫酸イオ
ン(CF3SO3−)、フルオロスルホン酸イオン(FS
3−)、トルエンスルホン酸イオン、トリニトロベン
ゼン酸陰イオン等を挙げることができる。
【0049】このようなオニウム塩の中でも特に芳香族
オニウム塩をカチオン重合開始剤として使用するのが有
効であり、中でも特開昭50−151996号、同50
−158680号等に記載の芳香族ハロニウム塩、特開
昭50−151997号、同52−30899号、同5
9−55420号、同55−125105号等に記載の
VIA族芳香族オニウム塩、特開昭56−8428号、
同56−149402号、同57−192429号等に
記載のオキソスルホキソニウム塩、特公昭49−170
40号等に記載の芳香族ジアゾニウム塩、米国特許第
4,139,655号等に記載のチオピリリュム塩等が
好ましい。また、アルミニウム錯体や光分解性けい素化
合物系重合開始剤等を挙げることができる。上記カチオ
ン重合開始剤と、ベンゾフェノン、ベンゾインイソプロ
ピルエーテル、チオキサントン等の光増感剤を併用する
ことができる。
【0050】また、エポキシアクリレート基を有する活
性エネルギー線反応性化合物の場合は、n−ブチルアミ
ン、トリエチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン等
の光増感剤を用いることができる。この活性エネルギー
線反応性化合物に用いられる光増感剤や光開始剤は、紫
外線反応性化合物100質量部に対して0.1質量部〜
15質量部で光反応を開始するには十分であり、好まし
くは1質量部〜10質量部である。この増感剤は近紫外
線領域から可視光線領域に吸収極大のあるものが好まし
い。
【0051】本発明に有用な活性エネルギー線硬化樹脂
組成物において、重合開始剤は、一般的には、活性エネ
ルギー線硬化性エポキシ樹脂(プレポリマー)100質
量部に対して0.1質量部〜15質量部の使用が好まし
く、更に好ましくは、1質量部〜10質量部の範囲の添
加が好ましい。
【0052】また、エポキシ樹脂を上記ウレタンアクリ
レート型樹脂、ポリエーテルアクリレート型樹脂等と併
用することもでき、この場合、活性エネルギー線ラジカ
ル重合開始剤と活性エネルギー線カチオン重合開始剤を
併用することが好ましい。
【0053】また、本発明には、オキセタン化合物を用
いることもできる。用いられるオキセタン化合物は、酸
素または硫黄を含む3員環のオキセタン環を有する化合
物である。中でも酸素を含むオキセタン環を有する化合
物が好ましい。オキセタン環は、ハロゲン原子、ハロア
ルキル基、アリールアルキル基、アルコキシル基、アリ
ルオキシ基、アセトキシ基で置換されていてもよい。具
体的には、3,3−ビス(クロルメチル)オキセタン、
3,3−ビス(ヨードメチル)オキセタン、3,3−ビ
ス(メトキシメチル)オキセタン、3,3−ビス(フェ
ノキシメチル)オキセタン、3−メチル−3クロルメチ
ルオキセタン、3,3−ビス(アセトキシメチル)オキ
セタン、3,3−ビス(フルオロメチル)オキセタン、
3,3−ビス(ブロモメチル)オキセタン、3,3−ジ
メチルオキセタン等が挙げられる。尚、本発明ではモノ
マー、オリゴマー、ポリマーのいずれであってもよい。
【0054】本発明の反射防止フィルムは、支持体を有
していてもよく、支持体としては、製造が容易であるこ
と、反射防止性能を有する凹凸面を有する樹脂層との接
着性が良好である、光学的に等方性である、光学的に透
明であること等が好ましい要件として挙げられる。上記
の性質を有していれば特に限定はないが、例えば、セル
ロースエステル系フィルム、ポリエステル系フィルム、
ポリカーボネート系フィルム、ポリアリレート系フィル
ム、ポリスルホン(ポリエーテルスルホンも含む)系フ
ィルム、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナ
フタレート等のポリエステルフィルム、ポリエチレンフ
ィルム、ポリプロピレンフィルム、セロファン、セルロ
ースジアセテートフィルム、セルロースアセテートブチ
レートフィルム、ポリ塩化ビニリデンフィルム、ポリビ
ニルアルコールフィルム、エチレンビニルアルコールフ
ィルム、シンジオタクティックポリスチレン系フィル
ム,ポリカーボネートフィルム、ノルボルネン樹脂系フ
ィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリエーテルケ
トンフィルム、ポリエーテルケトンイミドフィルム、ポ
リアミドフィルム、フッ素樹脂フィルム、ナイロンフィ
ルム、ポリメチルメタクリレートフィルムまたはアクリ
ルフィルム等を挙げることができる。中でも、セルロー
ストリアセテートフィルム、ポリカーボネートフィル
ム、ポリスルホン(ポリエーテルスルホンを含む)が好
ましく、本発明においては、特にセルローストリアセテ
ートフィルム(例えばコニカタック 製品名KC8UX
2MW、KC4UX2MW (コニカ(株)製)が好ま
しく用いられる。)またはセルロースアセテートプロピ
オネートフィルムが、製造上、コスト面、透明性、等方
性、接着性等の観点から好ましく用いられる。また、本
発明の反射防止フィルムは、製造技術を工夫することに
よっては、支持体としてガラスを用いることも可能であ
る。
【0055】図1において、Cは反射防止層である。図
1に示される反射防止フィルムは、凹凸面に1層の高屈
折率層と1層の低屈折率層と1層の中屈折率層とを有す
る反射防止層を設けている。ここで高屈折率層は、反射
防止フィルムの材質よりも屈折率の高い材質を用いた層
のことを指し、低屈折率層は、反射防止フィルムの材質
よりも屈折率の低い材質を用いた層のことを指し、中屈
折率層は、反射防止フィルムの材質よりも屈折率が高
く、高屈折率層よりも屈折率の低い層のことを指す。
【0056】本発明の反射防止フィルムは、凹凸面に少
なくとも一層の高屈折率層と少なくとも1層の低屈折率
層を有する反射防止層を有していることが好ましく、こ
れにより、反射防止性能をより向上させることができ
る。特に好ましくは、3層以上の屈折率層から構成され
る反射防止層であり、反射防止フィルム側から屈折率の
異なる3層を、中屈折率層/高屈折率層/低屈折率層の
順に積層されているものが好ましく用いられる。また、
高屈折層/低屈折層/高屈折層/低屈折層の順に積層さ
れている反射防止層も好ましく用いられる。高屈折率層
の屈折率は波長550nmで1.9〜2.5が好まし
く、特に好ましくは、2.0〜2.4であり、低屈折層
の屈折率は波長550nmで1.3〜1.5が好まし
い。
【0057】本発明の反射防止フィルムに反射防止層を
形成する方法は、塗布、蒸着、スパッタ、CVD等の方
法で、反射防止層を形成することができるが、特に、プ
ラズマ処理方法を用いて反射防止層を形成するのが好ま
しい。これにより、凹凸面であっても膜厚を均一に形成
することが可能となることから、反射防止性能をより向
上させることができる。
【0058】プラズマ処理方法は、相対する電極間に、
1kHz以上、より好ましくは100kHzを越えた高
周波電源で、1W/cm2以上の電力を供給し、反応ガ
スを励起してプラズマを発生させるのプラズマ放電処理
装置を用いるが好ましい。このようなハイパワーの電力
を印加することによって、緻密で、膜厚均一性の高い高
機能性の積層を、生産効率高く得ることが出来る。本発
明において、相対する電極間に印加する高周波電源の周
波数は、好ましくは150MHz以下である。また、高
周波電源の周波数としては、好ましくは200kHz以
上、さらに好ましくは800kHz以上である。また、
相対する電極間に供給する電力は、好ましくは1.2W
/cm2以上であり、好ましくは50W/cm2以下、さ
らに好ましくは20W/cm2以下である。尚、相対す
る電極における電圧の印加面積(/cm2)は、放電が
起こる範囲の面積のことを指す。相対する電極間に印加
する高周波電圧は、断続的なパルス波であっても、連続
したサイン波であっても構わないが、本発明の効果を高
く得るためには、連続したサイン波であることが好まし
い。本発明に形成される反射防止層を形成するための放
電部は1層当たり1つであっても複数であってもよい。
【0059】図8は、本発明において、プラズマ処理方
法に用いられるプラズマ放電処理装置の一例を示す図で
ある。回転電極110とそれに対向して配置された複数
の対向電極111を有し、図示されていない元巻きロー
ルまたは前工程から搬送されて来る基材フィルムFがガ
イドロール120、ニップロール122を経て回転電極
110に導かれ、基材フィルムFは回転電極110に接
した状態で回転電極110の回転と同期しながら移送さ
れ、大気圧もしくはその近傍の圧力下にある放電部15
0に反応ガス発生装置131で調製された反応ガスGが
給気管130から供給され、対向電極111に対向して
いる基材フィルム面に薄膜が形成される。それぞれの対
向電極111の間に図1では省略されているが、反応ガ
スGを導入する給気管130は複数設けられており、基
材フィルムFの幅手で均一な濃度、流量で反応ガスGを
供給出来るようになっている。回転電極110と対向電
極111には、プラズマ放電を発生させるための電圧を
印加出来る電源180が電圧供給手段181、182を
介して接続されている。また、回転電極110、対向電
極111、放電部150はプラズマ放電処理容器190
で覆われ、外界と遮断されている。処理に使用された排
ガスG′は処理室の上部にあるガス排気口140から排
出される。排ガスは回収され不純物成分(異物、揮発分
副生成物等)を除去精製した後、再利用される。あるい
は図では省略されているが、対向電極111の間に設け
られたガス排気口から排気することも出来る。プラズマ
放電処理された基材フィルムFはニップロール123及
びガイドロール121を経て次工程または図示してない
巻き取りロールへ搬送される。プラズマ放電処理容器の
出入り部分のニップロール122及び123のところに
は外界との仕切板124及び125が設けられており、
外界からニップロール122と共に基材フィルムFに同
伴して来る空気を遮断し、また出口においても、内部に
空気が侵入するのを防止することが望ましい。プラズマ
放電処理容器190内は圧力を高くすることが好まし
く、外に対して+0.1kPa以上、更には0.3〜1
0kPa圧力を高くすることが好ましい。
【0060】この同伴される空気は、プラズマ放電処理
容器190内の気体の全体積に対し、1体積%以下に抑
えることが好ましく、0.1体積%以下に抑えることが
より好ましい。前記ニップロール122により、それを
達成することが可能である。又、ニップロールは、多段
に設けることでさらにその効果を高めることができ、さ
らにフィルム面に処理室内と同じ組成のガス(希ガス
等)を吹きつけることも有効である。これによって付着
していた異物を除去することもできる。なお、図示して
ないが、必要に応じて、回転電極110及び対向電極1
11は温度調節のための温度制御された媒体を循環する
ようになっている。
【0061】電源180より対向電極111に印加され
る電圧の値は適宜決定されるが、例えば、電圧が0.5
〜10kV程度で、電源周波数は100kHzを越えて
150MHz以下に調整される。ここで電圧の印加法に
関しては、連続モードと呼ばれる連続サイン波状の連続
発振モードとパルスモードと呼ばれるON/OFFを断
続的に行う断続発振モードのどちらを採用しても良いが
連続モードの方がより緻密で良質な薄膜が得られる。相
対する電極間に電圧を印加する電源としては、特に限定
はないが、パール工業製高周波電源(200kHz)、
パール工業製高周波電源(800kHz)、日本電子製
高周波電源(13.56MHz)、パール工業製高周波
電源(150MHz)等が使用出来る。
【0062】放電部150の電極間隙は、電極の母材に
設置した固体誘電体(図示してない)の厚さ、印加電圧
や周波数、プラズマを利用する目的等を考慮して決定さ
れる。上記電極の一方に固体誘電体を設置した場合の固
体誘電体と電極の最短距離、上記電極の双方に固体誘電
体を設置した場合の固体誘電体同士の距離としては、何
れの場合も均一な放電を行う観点から0.5mm〜20
mmが好ましく、更に好ましくは0.5〜5mmであ
り、特に好ましくは1mm±0.5mmである。
【0063】プラズマ放電処理容器190はパイレック
ス(R)ガラス製あるいはプラスティック製の処理容器
等が好ましく用いられるが、電極との絶縁がとれれば金
属製を用いることも可能である。例えば、アルミまた
は、ステンレスのフレームの内面にポリイミド樹脂等を
張り付けても良く、該金属フレームにセラミックス溶射
を行い絶縁性をとっても良い。
【0064】また、放電プラズマ処理時の基材フィルム
への影響を最小限に抑制するために、放電プラズマ処理
時の基材フィルムの温度を常温(15℃〜25℃)以
上、200℃未満の温度に調整することが好ましく、更
に好ましくは50℃以上、150℃未満に調整すること
であり、更に好ましくは60℃以上、120℃未満に調
整することである。上記の温度範囲に調整する為、必要
に応じて電極、基材フィルムは冷却手段で冷却あるいは
加熱しながら放電プラズマ処理される。
【0065】本発明においては、上記の放電プラズマ処
理が大気圧または大気圧近傍で行われるが、ここで大気
圧近傍とは、20kPa〜200kPaの圧力を表す
が、本発明に記載の効果を好ましく得るためには90〜
110kPa、特に93kPa〜104kPaが好まし
い。
【0066】図1に示される反射防止フィルムの凸部の
平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚と平行面
以外の部分(図1ではD)に形成される反射防止層の平
均膜厚との差を凸部の平行面に形成される反射防止層の
平均膜厚の10%以内としている。
【0067】本発明の反射防止フィルムは、平行面以外
の部分に形成されている反射防止層の平均膜厚と、凸部
の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚との差
が、平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚の1
0%以内とするか、又は、平行面以外の部分に形成され
ている反射防止層の平均膜厚が、凸部の平行面に形成さ
れている反射防止層の平均膜厚より薄いことが好まし
い。さらに好ましくは、平行面以外の部分に形成されて
いる反射防止層の平均膜厚が、凸部の平行面に形成され
ている反射防止層の平均膜厚に対して、50〜110%
である。特に好ましくは85〜110%である。これに
より、反射防止性能をより向上させることができる。こ
のとき、反射防止層の各層(低屈折率層、高屈折率層)
の平均膜厚についても、上述の関係を有していることが
好ましい。
【0068】大気圧プラズマ処理装置を用いるとこのよ
うな凹凸面上にも、均一な薄膜を積層することができる
ため好ましく用いられる。このとき、反応ガスの供給を
フィルム面に平行にしたり、流量速度を制御する、ある
いはエッジング等と組み合わせる等で凸部に形成される
平行面を選択的に厚くしたりすることが可能となる。プ
ラズマ処理によるエッジングはアルゴン、ヘリウム等の
希ガスと酸素、オゾンあるいはCF4等のフッ化化合物
を含有する反応ガスを導入しながらプラズマ処理するこ
とによって行うことができる。
【0069】反射防止層の平均膜厚は、反射防止層の断
面を作製し、透過電子顕微鏡(Transmissio
n Electoron Microscope:以
下、TEMと称す)で観察を行うことによって求めるこ
とができる。
【0070】断面の作製は、具体的には反射防止層を基
材と共に電子顕微鏡観察前処理用のエポキシ包埋樹脂に
包埋し、ダイヤモンドナイフを装着したウルトラミクロ
トームにより、厚さ約80nmの超薄切片を作製する
か、集束イオンビーム(Focused Ion Be
am:FIB)加工装置により、反射防止層表面にGa
イオンビームを集束走査し、厚さ約100nmの薄片化
した断面を切り出すことで得られる。TEMによる観察
は倍率として50,000乃至500,000倍にて明
視野像を観察し、画像はフィルム、イメージングプレー
ト、CCDカメラなどに記録する。TEMの加速電圧と
しては、80ないし400kVが好ましく、特に好まし
くは80ないし200kVである。その他、電子顕微鏡
観察技法、および試料作成技法の詳細については「日本
電子顕微鏡学会関東支部編/医学・生物学電子顕微鏡観
察法」(丸善)、「日本電子顕微鏡学会関東支部編/電
子顕微鏡生物試料作成法」(丸善)、「電子顕微鏡Q&
A」(アグネ承風社)をそれぞれ参考にすることができ
る。適当な媒体に記録されたTEM画像は、画像1枚を
少なくとも1024画素×1024画素、好ましくは2
048画素×2048画素以上に分解し、コンピュータ
による画像処理を行なうことが好ましい。画像処理技術
の詳細は「田中弘編 画像処理応用技術(工業調査
会)」を参考にすることができ、画像処理プログラムま
たは装置としては上記操作が可能なものであれば特に限
定はされないが、一例としてMEDIA CYBERN
ETICS社(USA)製画像解析ソフトImage−
Pro PLUSが挙げられる。画像処理を行なうため
には、フィルムに記録されたアナログ画像はスキャナな
どでデジタル画像に変換し、シェーディング補正、コン
トラスト・エッジ強調などを必要に応じ施すことが好ま
しい。その後、ヒストグラムを作成し、2値化処理によ
って、積層体界面に相当する箇所を抽出し、界面間の幅
(Thickness)を計測する。同様にして少なく
とも各部分について20箇所について求めた値から平均
膜厚を算出する。
【0071】本発明の反射防止フィルムは、上述したよ
うに、液晶、有機EL等の表示装置の偏光板に用いると
非常に有用である。
【0072】また、本発明の反射防止フィルムは、偏光
板と一体となっていてもよい。即ち凹凸を有する樹脂層
が偏光板であってもよい。
【0073】図3は、本発明の他の反射防止フィルムの
上から見た図及び断面図である。尚、図3以降の説明に
おいては、前述の図1で説明したことと重なる部分の説
明については省略することとする。
【0074】図3に示される反射防止フィルムは、図1
に示される反射防止フィルムの凸部の平行面の反射防止
フィルムに対する傾斜角を0°から3°へと変更したも
のである。本発明の反射防止フィルムは、平行面の総面
積が凹凸面面積に対して15〜100%を占めていれば
よく、図3に示すような反射防止フィルムも本発明の効
果を有する。
【0075】図4は、本発明の他の反射防止フィルムを
上から見た図及び断面図である。Eは凸部の平行面以外
の平行面である。
【0076】図4に示される反射防止フィルムは、図1
に示される反射防止フィルムにおいて、凸部以外にも水
平面を設けた反射防止フィルムであり、Rcが10μm
である凹凸面が形成され、0.01mm2あたりの凸部
の個数が30であり、凹凸面のうち反射防止フィルム面
に対する傾斜角が0°である平行面が67%を占めてお
り、さらに平行面の総面積の17%は凸部に形成されて
いる。
【0077】本発明の反射防止フィルムは、平行面の総
面積が凹凸面面積に対して、15〜100%を占めてお
り、平行面の総面積のうち15〜100%が凸部に形成
されていればよく、この範囲を満たしてるのであれば図
4のように凸部以外の部分に平行面を有していても本発
明の効果を有する。
【0078】また、図4に示される反射防止フィルム
は、Bに形成される反射防止層の平均膜厚と、Eに形成
されている反射防止層の平均膜厚との差を、Bに形成さ
れる反射防止層の平均膜厚の10%以内としている。
【0079】本発明の反射防止フィルムは、凸部の平行
面以外の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚
と、凸部の平行面に形成されている反射防止層の平均膜
厚との差を、凸部の平行面に形成されている反射防止層
の平均膜厚の10%以内とするか、又は、凸部の平行面
以外の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚が
凸部の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚よ
り薄いことが好ましい。さらに好ましくは、凸部の平行
面以外の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚
が、凸部の平行面に形成されている反射防止層の平均膜
厚に対して、50〜110%である。特に好ましくは8
5〜110%である。これにより、反射防止性能をより
向上させることができる。このとき、反射防止層の各層
(低屈折層、高屈折層等)の平均膜厚についても上述の
関係を有していることが好ましい。
【0080】図5は、本発明の他の反射防止フィルムの
上から見た図及び断面図である。図5に示される反射防
止フィルムは、図4に示される反射防止フィルムの平行
面の反射防止フィルムに対する傾斜角を0°から3°へ
と変更したものである。本発明の反射防止フィルムは、
平行面の総面積が凹凸面面積に対して15〜100%を
占めていればよいので、図5に示すような反射防止フィ
ルムも本発明の効果を有する。
【0081】図6は、本発明の他の反射防止フィルムの
斜視図及び断面図である。図6に示される反射防止フィ
ルムは、Rcが1μmである凹凸面が形成され、0.0
1mm2あたりの凸部の個数が500である。尚、図6
に示される反射防止フィルムは凸部A1と凸部A2のよ
うに凸部が接している構造をしているが、このような構
造であっても本発明の効果を有することができる。
【0082】さらに図6に示される反射防止フィルム
は、斜面部Dの傾斜角が反射防止フィルム面に対して直
角となっていることから、平行面の総面積が凹凸面面積
に対して100%を占めている。従って、図6に示され
る反射防止フィルムは、図1、3〜5に示される反射防
止フィルムと同様に、フィルム面に対して斜めより入射
してくる光に対しての反射光を低減させる性能を有し、
さらに図6に示される反射防止フィルムは、平行面の総
面積が凹凸面面積に対して100%となっていることか
ら、反射防止フィルム面に対して垂直光の散乱を極めて
低く抑えることができ透過鮮明度が顕著に優れている。
【0083】図7は、本発明の他の反射防止フィルムの
斜視図及び断面図である。図7に示される反射防止フィ
ルムも、図6に示される反射防止フィルムと同様に、反
射防止フィルムに対する斜面部Dの傾斜角が直角となっ
ており、平面部の総面積が凹凸面面積に対して100%
となっていることになるから、図6に示される反射防止
フィルムと同様の効果を得ることができる。
【0084】さらに図7に示される反射防止フィルム
は、A3、A4のように凸部の高さがランダムに不均一
となっている。これにより、このフィルムを表示装置等
に用いた場合に画面のモアレを防止することができる。
また、図1、図3〜6に示した本発明の反射防止フィル
ムについても同様に、凸部の平行面の高さをランダムに
不均一とすることで表示装置等に用いた場合に画面のモ
アレを防止することができる。
【0085】
【実施例】以下実施例によって本発明を説明するが、本
発明はこれに限定されるものではない。
【0086】 実施例1 (セルロースエステルフィルム1の作製) 〈酸化けい素分散液Aの調製〉 アエロジルR972V(日本アエロジル(株)製) 1kg エタノール 9kg 以上をディゾルバで30分間撹拌混合した後、マントン
ゴーリン型高圧分散装置を用いて分散を行い、酸化けい
素分散液Aを調製した。
【0087】 〈添加液Bの調製〉 セルローストリアセテート(アセチル基の置換度2.88) 6kg メチレンクロライド 140kg 以上を密閉容器に投入し、加熱、撹拌しながら完全に溶
解し、濾過した。これに10kgの上記酸化けい素分散
液Aを撹拌しながら加えて、さらに30分間撹拌した
後、濾過し、添加液Bを調製した。
【0088】 〈ドープCの調製〉 メチレンクロライド 440kg エタノール 35kg セルローストリアセテート(アセチル基の置換度2.88) 100kg トリフェニルホスフェート 9kg エチルフタリルエチルグリコレート 2kg チヌビン326(チバスペシャルティケミカルズ社製) 0.1kg 上記の溶剤を密閉容器に投入し、攪拌しながら残りの素
材を投入し、加熱、撹拌しながら完全に溶解し、混合し
た。ドープを流延する温度まで下げて一晩静置し、脱泡
操作を施した後、溶液を安積濾紙(株)製の安積濾紙N
o.244を使用して濾過した。更に上記溶液に添加液
Bを3kg添加し、インラインミキサー(東レ(株)製
静止型管内混合機Hi−Mixer、SWJ)で10分
間混合し、濾過し、ドープCを調製した。
【0089】ドープCを濾過した後、ベルト流延装置を
用い、35℃のドープを35℃のステンレスバンド支持
体上に均一に流延した。その後、支持体上で乾燥させた
後、ステンレスバンド支持体上からフィルムを剥離し
た。このときのフィルムの残留溶媒量は80%であっ
た。ステンレスバンド支持体から剥離した後、80℃に
維持された乾燥ゾーンで1分間乾燥させた後、2軸延伸
テンターを用いて、残留溶媒量3〜10質量%であると
きに100℃の雰囲気下で長手方向に1.03倍、幅方
向に1.1倍に延伸し、幅把持を解放して、多数のロー
ルで搬送させながら125℃の乾燥ゾーンで乾燥を終了
させ、フィルム両端に幅10mm、高さ10μmのナー
リング加工を施して、膜厚80μmのセルロースエステ
ルフィルム1を作製した。フィルム幅は1300mm、
巻き取り長は1500mとした。面内リターデーション
0は幅手で±1nm以内であった。
【0090】(フィルム1の作製)図1に示す反射防止
フィルムの凹凸面(Rc5μm、凸部個数100個/
0.01mm2、凹凸面に占める平行面面積25%、う
ち凸部に形成されている面積100%)を形成する型と
してポリエチレンテレフタレート製のマット賦型フィル
ム1に紫外線硬化樹脂としてウレタンアクリレート(E
XG:大日精化製)を膜厚10μm/dryになるよう
にグラビアリバース法により塗工し、溶剤を乾燥した。
その後、セルロースエステルフィルム1と前記塗工した
マット賦型フィルム1の塗工面とが合わさるようにラミ
ネートし、160Wの紫外線照射装置の下を通過させ、
樹脂を硬化させた。次いで、マット賦型フィルム1を剥
離した。
【0091】さらに、図8の大気圧プラズマ処理装置を
用いて凹凸面に反射防止層として中屈折率層、高屈折率
層、低屈折率層の3層を設けてフィルム1を作製した。
【0092】図8の大気圧プラズマ処理装置において、
ロール電極には、冷却水による冷却機能を有するステン
レス製ジャケットロール母材(冷却機能は図8には図示
していない)を用いた。これにセラミック溶射によりア
ルミナを1mm被覆し、その上にテトラメトキシシラン
を酢酸エチルで希釈した溶液を塗布乾燥後、紫外線照射
により硬化させて封孔処理を行いRmax1μmの誘電
体を有するロール電極を製作しアース(接地)した。一
方、対向電極としては、中空のステンレスパイプに対
し、上記同様の誘電体を同条件にて被覆し、相対する電
極群とし、第1のプラズマ放電処理装置を中屈折率層用
に、第2のそれを高屈折率層用に、更に第3のそれを低
屈折率層用として、それぞれ必要な膜厚が各々得られる
ように調整した。また、第1,2及び3のプラズマ放電
処理装置の電源は、日本電子製高周波電源を使用し、連
続周波数を13.56MHzとし、15W/cm2の電
力を供給した。但し、ロール電極は、ドライブを用いて
基材フィルムの搬送に同期して回転させた。なお、電極
間隙は1.1mm、反応ガスの圧力を103kPaとし
て行った。
【0093】プラズマ放電処理に用いた反応ガスの組成
を以下に記す。 (酸化錫層(中屈折率層)形成用反応ガス) ヘリウム 98.7体積% 酸素ガス 1体積% テトラブチル錫蒸気 0.3体積% (酸化チタン層(高屈折率層)形成用反応ガス) ヘリウム 98.7体積% 酸素ガス 1体積% テトライソプロポキシチタン蒸気 0.3体積% (酸化珪素層(低屈折率層)形成用反応ガス) ヘリウム 98.7体積% 酸素ガス 1体積% テトラエトキシシラン蒸気 0.3体積% 連続的に大気圧プラズマ処理して、順に酸化錫層(中屈
折率層:屈折率1.7、膜厚67nm)、酸化チタン層
(高屈折率層:屈折率2.14、膜厚110nm)、酸
化珪素層(低屈折率層:屈折率1.44、膜厚87n
m)の3層を設けた。尚、屈折率は550nmの光に対
する値であり、膜厚は凸部の平行面における平均膜厚で
ある。また、炭素含有量は、酸化珪素層0.3質量%、
酸化チタン層0.4%質量、酸化錫層0.5質量%であ
った。
【0094】(フィルム2の作製)図2に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム2(Rc5μm、凸
部個数100個/0.01mm2、凹凸面に占める平行
面面積0%、うち凸部に形成されている面積0%である
凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィルム1
の代わりに用いた以外は、フィルム1の作製法と同様に
してフィルム2を作製した。
【0095】(フィルム3の作製)図3に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム3(Rc2μm、凸
部個数200個/0.01mm2、凹凸面に占める平行
面面積25%、うち凸部に形成されている面積100%
である凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィ
ルム1の代わりに用いて膜厚を5μm/dryとした以
外は、フィルム1の作製法と同様にしてフィルム3を作
製した。
【0096】(フィルム4の作製)図4に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム4(Rc10μm、
凸部個数30個/0.01mm2、凹凸面に占める平行
面面積67%、うち凸部に形成されている面積17%で
ある凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィル
ム1の代わりに用いて膜厚を20μm/dryとした以
外は、フィルム1の作製法と同様にしてフィルム4を作
製した。
【0097】(フィルム5の作製)図5に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム5(Rc15μm、
凸部個数10個/0.01mm2、凹凸面に占める平行
面面積67%、うち凸部に形成されている面積17%で
ある凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィル
ム1の代わりに用いて膜厚を15μm/dryとした以
外は、フィルム1の作製法と同様にしてフィルム5を作
製した。
【0098】(フィルム6の作製)図6に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム6(Rc1μm、凸
部個数500個/0.01mm2、凹凸面に占める平行
面面積100%、うち凸部に形成されている面積50%
である凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィ
ルム1の代わりに用いて膜厚を3μm/dryとした以
外は、フィルム1の作製法と同様にしてフィルム6を作
製した。
【0099】(フィルム7の作製)図7に示す反射防止
フィルムの凹凸面を形成する型としてポリエチレンテレ
フタレート製のマット賦型フィルム7(Rc5μm、凸
部個数60個/0.01mm2、凹凸面に占める平行面
面積100%、うち凸部に形成されている面積33%で
ある凹凸面を形成するための賦型)をマット賦型フィル
ム1の代わりに用いて膜厚を10μm/dryとした以
外は、フィルム1の作製法と同様にしてフィルム7を作
製した。
【0100】(フィルム8の作製)平面を形成する型と
してポリエチレンテレフタレート製のマット賦型フィル
ム8(Rc0、凸部個数0個/0.01mm2、凹凸面
に占める平行面面積100%である面を形成するための
賦型)をマット賦型フィルム1の代わりに用いて膜厚を
5μmとした以外は、フィルム1の作製法と同様にして
フィルム8を作製した。
【0101】フィルム1〜8それぞれの凹凸面について
の輪郭曲線要素の平均高さRc、凸部の個数、凹凸面に
占める平行面の面積、うち凸部に形成されている平行面
の面積の確認は以下のようにして行った。 〈輪郭曲線要素の平均高さRcの測定〉試料は25℃、
65%RH環境下で樹脂フィルム同士が重ね合わされな
い条件で24時間調湿したのち、該環境下で測定した。
ここで示す重ね合わされない条件とはたとえばフィルム
エッジ部分を高くした状態で巻き取る方法やフィルムと
フィルムの間に紙をはさんで重ねる方法、厚紙等で枠を
作製しその四隅を固定する方法のいずれかである。
【0102】試料固定方法は試料を試料台に固定したと
きのたるみ、ゆがみなどを除去するため、試料を数cm
×数cmの大きさに切り取り、ガラス板に両面テープを
用いて固定した。
【0103】測定装置はWYKO社製 RSTPLUS
非接触三次元微小表面形状測定システム(光学干渉式表
面粗さ測定装置)を用いた。
【0104】VSIモードにおいて対物レンズ40倍、
中間レンズ1.0倍を用いた。測定条件の詳細について
は下記のように設定した。
【0105】Scan depth:40μm Mod thresh:2.0% Scan back:15.0μm Resolution:368×238full vi
ew Scan speed:HIGH 解析時はTerm removalをtilt onl
y(傾斜補正)で補正し、FilteringはMed
ian Smoothingで行った。
【0106】結果の解析方法はプロファイルを3次元で
表示し、149.7μm×111.2μm測定視野内に
おいて、Raを求めた。
【0107】更に測定により得られた凹凸のデータ(輪
郭曲線要素)から、輪郭曲線要素の平均高さRcを求め
た。輪郭曲線要素の平均高さRcはJIS B0601
により規定され、下記の式より求められる。
【0108】
【数1】
【0109】mは測定範囲内のX、Yそれぞれの方向の
測定ポイント数を示す。また試料を固定している両面テ
ープ及びガラス板の形状による影響を考慮し、解析時に
はtilt only(傾斜補正)で補正した。 〈凸部の個数の測定〉WYKO社製 RSTPLUS非
接触三次元微小表面形状測定システム(光学干渉式表面
粗さ測定装置)を用いて求めた。結果の解析方法はプロ
ファイルを3次元で表示し、149.7μm×111.
2μm測定視野内において、Raを求め、中心線より突
出している部分をカウントし、0.01mm2の凸部の
個数を求めた。 〈凹凸面に占める平行面の面積、凸部に形成されている
平行面の面積の測定〉WYKO社製 RSTPLUS非
接触三次元微小表面形状測定システム(光学干渉式表面
粗さ測定装置)を用いて求めた。このとき凹凸面の凹凸
の高低に準じて色分けして表示して、平行部に該当する
部分の面積、凸部での平行面に該当する面積を求めた。 〈反射防止層の膜厚測定〉凹凸面に形成された反射防止
層の平均膜厚は、反射防止層の断面を作製し、透過型電
子顕微鏡(TEM)で観察を行うことによって求めた。
【0110】断面の作製は、反射防止層を基材と共に電
子顕微鏡観察前処理用のエポキシ包埋樹脂に包埋し、集
束イオンビーム(Focused Ion Beam:
FIB)加工装置により、反射防止層表面にGaイオン
ビームを集束走査し、厚さ約100nmの薄片化した断
面を切り出した。TEMによる観察は倍率として50,
000乃至500,000倍にて明視野像を観察、記録
した。少なくとも凸部等各20箇所について求めた値か
ら平均膜厚を算出した。フィルム1〜8については、凹
凸面の膜厚はどの部分であってもほぼ同じ膜厚であり、
各部分(平行面以外の部分、凸部以外の平行面)の平均
膜厚と凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚との差が凸
部の平行面の反射防止層の平均膜厚の10%以内であっ
た。
【0111】
【表1】
【0112】(フィルム1〜8の評価)得られたフィル
ム1〜8について下記の評価を行った。
【0113】《斜め方向の反射率評価》変角測色計 G
C2000(日本電色工業株式会社製)を用いて、視野
2度で、投光角30°、受光角30°として斜め方向の
反射スペクトルを測定し450〜650nmの平均反射
率を求めた。
【0114】《鮮明度》フィルム1〜8について透過鮮
明度を測定した。測定方法は、写像性測定機ICM−1
DP(スガ試験機(株)製)を用い、JIS K−71
05−1981の透過鮮明度の測定に準じた。
【0115】透過鮮明度(%)=幅0.125mm、
0.5mm、1.0mm、2.0mmの4種類の光学く
しのトータル値とした。
【0116】《光沢度》フィルム1〜8について光沢度
を測定した。測定方法はJISK7105を準用し、測
定器は東京電色工業(株)製T−2600DA型を使用
した(60度光沢)。
【0117】結果を表2に示す。
【0118】
【表2】
【0119】表2の結果より、本発明の反射防止フィル
ムは、反射防止性能に優れていることが分かった。さら
に本発明の反射防止フィルムは透過鮮明度が高いことが
分かった。さらに、本発明の反射防止フィルムは、光沢
度が低いことが確認された。 (偏光板1〜8の作製)厚さ120μmの長尺のポリビ
ニルアルコールフィルムを、一軸延伸(温度110℃、
延伸倍率5倍)した。これをヨウ素0.075g、ヨウ
化カリウム5g、水100gの比率からなる水溶液に6
0秒間浸漬し、次いでヨウ化カリウム6g、ホウ酸7.
5g、水100gの比率からなる68℃の水溶液に浸漬
した。これを水洗、乾燥し長尺の偏光膜を得た。
【0120】次いで、下記工程1〜5に従って、偏光膜
とフィルム1とを貼り合わせて偏光板1を作製した。
【0121】工程1:長尺のセルロースエステルフィル
ム1とフィルム1を2mol/Lの水酸化ナトリウム溶
液に60℃で90秒間浸漬し、次いで水洗、乾燥させ
た。フィルム1の反射防止層を設けた面にはあらかじめ
剥離性の保護フィルム(PET製)を張り付けてアルカ
リから保護した。
【0122】同様に長尺のセルロースエステルフィルム
1を2mol/Lの水酸化ナトリウム溶液に60℃で9
0秒間浸漬し、次いで水洗、乾燥させた。
【0123】工程2:前述の長尺の偏光膜を固形分2質
量%のポリビニルアルコール接着剤槽中に1〜2秒間浸
漬した。
【0124】工程3:工程2で偏光膜に付着した過剰の
接着剤を軽く取り除き、それを工程1でアルカリ処理し
たセルロースエステルフィルム1とフィルム1で挟み込
んで、積層配置した。
【0125】工程4:2つの回転するローラにて20〜
30N/cm2の圧力で約2m/minの速度で張り合
わせた。このとき気泡が入らないように注意して実施し
た。
【0126】工程5:80℃の乾燥機中にて工程4で作
製した試料を3分間乾燥処理し、本発明の偏光板1を作
製した。
【0127】偏光板1の作製法において、フィルム1を
フィルム2〜8に代えた以外は同様にしてそれぞれ偏光
板2〜8を作製した。 (偏光板1〜8の評価)得られた偏光板1〜8について
下記の評価を行った。
【0128】《蛍光灯写り込み評価》市販の液晶表示パ
ネル(NEC製 カラー液晶ディスプレイ Multi
Sync LCD1525J:型名 LA−1529H
M)の最表面の偏光板を注意深く剥離し、ここに偏光方
向を合わせた偏光板1〜8を各々張り付けた。
【0129】上記のようにして得られた液晶パネルを床
から75cmの高さの机上に配置し、床から3mの高さ
の天井部に昼色光直管蛍光灯(FLR40S・D/M−
X松下電器産業(株)製)40W×2本を1セットとし
て1.5m間隔で10セット配置した。このとき評価者
が液晶パネル表示面正面にいるときに、評価者の頭上よ
り後方に向けて天井部に前記蛍光灯がくるように配置し
た。液晶パネルは机に対する垂直方向から30°傾けて
蛍光灯が写り込むようにして画面の見易さ(視認性)を
下記のようにランク評価した。 A:もっとも近い蛍光灯の写りこみから気にならず、フ
ォントの大きさ8の文字も鮮明にはっきりと読める B:近くの蛍光灯の写りこみはやや気になるが、遠くは
気にならず、フォントの大きさ8の文字もなんとかと読
める C:蛍光灯の写りこみは気にならないが、フォントの大
きさ8の文字を読むのは困難である D:蛍光灯の写りこみがかなり気になり、写り込みの部
分はフォントの大きさ8の文字を読むことはできない 結果を表3に示す。
【0130】
【表3】
【0131】表3の結果より、本発明の反射防止フィル
ムを用いた偏光板は、蛍光灯の写り込みが気にならない
ことが分かった。
【0132】実施例2 (フィルム4aの作製)実施例1で作成したフィルム4
の中屈折率層、高屈折率層、低屈折率層を高屈折率層
(屈折率2.2、膜厚15nm)/低屈折率層(屈折率
1.46、膜厚28nm)、高屈折率層(屈折率2.
2、膜厚102nm)/低屈折率層(屈折率1.46、
膜厚85nm 屈折率は550nmの光に対する屈折
率)の4層構成とした以外は同様にしてフィルム4aを
作製した。フィルム4aの反射防止層の平均膜厚につい
ては、実施例1で述べた平均膜厚の求め方と同様にして
求め、凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚を基準膜厚
としたときの凸部以外の平行面の反射防止層の平均膜厚
及び平行面以外の部分の反射防止膜の平均膜厚との関係
について表4に示す。 (フィルム4bの作製)フィルム4aの作製において反
射防止層の各層を作製するごとに、プラズマ処理でエッ
チングを行って、凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚
と他の部分の反射防止層の平均膜厚との関係を表4に示
すようにした以外はフィルム4aの作製の方法と同様に
してフィルム4bを作製した。 (フィルム4cの作製)フィルム4aの作製において反
射防止層の各層を作製するごとに、プラズマ処理でエッ
チングを行って、凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚
と他の部分の反射防止層の平均膜厚との関係を表4に示
すようにした以外はフィルム4aの作製の方法と同様に
してフィルム4cを作製した。 (フィルム4dの作製)プラズマ処理の反応ガスを下記
のように変更し、放電部における反応ガスの供給角度を
凹凸面に対して水平とし、電極間距離を2mmに変更し
た以外はフィルム4aと同様にして各屈折率層を形成し
て、凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚と他の部分の
反射防止層の平均膜厚との関係を表4に示すようにして
フィルム4dを得た。 (酸化チタン層(高屈折率層)形成用反応ガス) ヘリウム 99.4体積% 酸素 0.5体積% テトライソプロポキシチタン蒸気 0.1体積% (酸化珪素層(低屈折率層)形成用反応ガス) ヘリウム 99.4体積% 酸素 0.5体積% テトラエトキシシラン蒸気 0.1体積% (フィルム4eの作製)ガス供給量をフィルム4dの作
製時のガス供給量の1.2倍とし、さらに電極間距離を
2.2mmに変更した以外は、フィルム4dの作製の方
法と同様にしてフィルム4eを作製した。フィルム4e
の凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚と他の部分の反
射防止層の平均膜厚との関係は表4に示すようになっ
た。
【0133】尚フィルム4a〜4eについて凸部の平行
面の反射防止層の平均膜厚、凸部以外の平行面の反射防
止層の平均膜厚、平行面以外の反射防止層の平均膜厚の
確認は実施例1と同様に断面の電子顕微鏡観察(TE
M)によって行った。 (フィルム4a〜4eの評価)フィルム4a〜4eにつ
いて実施例1で行った斜め方向からの反射率測定を行っ
た。
【0134】結果を表4に示す。
【0135】
【表4】
【0136】表4の結果より、低屈折層、高屈折層を有
する反射防止層を設け、平行面以外の部分の反射防止層
の平均膜厚と平行面の反射防止層の平均膜厚との差を凸
部の平行面の平均膜厚の10%以内とするか、若しくは
平行面以外の部分の反射防止層の平均膜厚を、平行面の
反射防止層の平均膜厚より薄くすることで、反射防止性
能が向上することが分かった。また、凸部以外の平行面
の反射防止層の平均膜厚と凸部の平行面の反射防止層の
平均膜厚との差を凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚
の10%以内とするか、若しくは凸部以外の平行面の反
射防止層の平均膜厚を凸部の平行面の反射防止層の平均
膜厚より薄くすることで、反射防止性能が向上すること
が分かった。 (偏光板4a〜4eの作製)実施例1の偏光板1の作製
において、フィルム1の代わりにフィルム4a〜4eを
それぞれ用いて偏光板4a〜4eを作製した。 (偏光板4a〜4eの評価)得られた偏光板4a〜4e
について下記の評価を行った。 《蛍光灯写り込み評価》市販の液晶表示パネル(NEC
製 カラー液晶ディスプレイ MultiSync L
CD1525J:型名 LA−1529HM)の最表面
の偏光板を注意深く剥離し、ここに偏光方向を合わせた
偏光板4a〜4eを各々張り付けた。
【0137】上記のようにして得られた液晶パネルを床
から75cmの高さの机上に配置し、床から3mの高さ
の天井部に昼色光直管蛍光灯(FLR40S・D/M−
X松下電器産業(株)製)40W×2本を1セットとし
て1.5m間隔で10セット配置した。このとき評価者
が液晶パネル表示面正面にいるときに、評価者の頭上よ
り後方に向けて天井部に前記蛍光灯がくるように配置し
た。液晶パネルは机に対する垂直方向から30°傾けて
蛍光灯が写り込むようにして画面の見易さ(視認性)を
下記のようにランク評価した。 A:もっとも近い蛍光灯の写りこみから気にならない。 B:遠くの蛍光灯の写りこみは気にならない。 C:蛍光灯の写りこみはやや気になる。 D:蛍光灯の写りこみがかなり気になる。
【0138】結果を表5に示す
【0139】
【表5】
【0140】表5の結果より、低屈折層、高屈折層を有
する積層を設け、平行面以外の部分の反射防止層の平均
膜厚と平行面の反射防止層の平均膜厚との差を凸部の平
行面の平均膜厚の10%以内とするか、若しくは平行面
以外の部分の反射防止層の平均膜厚を、平行面の反射防
止層の平均膜厚より薄くすることで、反射防止フィルム
を偏光板に用いたときに蛍光灯の写り込みが気にならな
いことが分かった。また、凸部以外の平行面の反射防止
層の平均膜厚と凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚と
の差を凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚の10%以
内とするか、若しくは凸部以外の平行面の反射防止層の
平均膜厚を凸部の平行面の反射防止層の平均膜厚より薄
くすることで、反射防止フィルムを偏光板に用いた時に
蛍光灯の写り込みが気にならないことが分かった。
【0141】
【発明の効果】本発明によって、十分な反射防止性能を
有し、かつ透過鮮明度の良好な反射防止フィルム及び該
反射防止フィルムを用いた偏光板、表示装置を提供する
ことができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の反射防止フィルムの上から見た図
(イ)及び断面図(ロ)である。
【図2】本発明の比較例の反射防止フィルムの上から見
た図(イ)及び断面図(ロ)である。
【図3】本発明の他の反射防止フィルムの上から見た図
(イ)及び断面図(ロ)である。
【図4】本発明の他の反射防止フィルムの上から見た図
(イ)及び断面図(ロ)である。
【図5】本発明の他の反射防止フィルムの上から見た図
(イ)及び断面図(ロ)である。
【図6】本発明の他の反射防止フィルムの斜視図(イ)
及び断面図(ロ)である。
【図7】本発明の他の反射防止フィルムの斜視図(イ)
及び断面図(ロ)である。
【図8】プラズマ放電処理装置の一例を示す図である。
【符号の説明】
A,A1,A2,A3,A4 凸部 B 凸部の平行面 C 反射防止層 D 斜面部 E 凸部の平行面以外の平行面 110 回転電極 111 対向電極 120、121 ガイドロール 122、123 ニップロール 124、125 仕切板 130 給気管 131 反応ガス発生装置 140 ガス排気口 150 放電部 180 電源 181、182 電圧供給手段 190 プラズマ放電処理容器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H049 BA02 BA27 BB20 BB33 BB43 BB51 BB63 BB65 BC03 BC09 BC14 BC22 2H091 FA08 FA37 FD07 FD14 GA07 GA16 GA17 LA03 LA11 LA12 LA13 LA16 2K009 AA05 AA06 AA07 AA12 BB11 BB28 CC03 CC24 CC33 CC34 CC35 DD02 DD04 DD05 DD09 4F100 AK01A AK41 AR00B AR00C BA03 BA07 BA10A BA10B BA10C BA26 DD07A EJ61A GB41 JN01 JN06 JN06B JN06C JN18B JN18C YY00A

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 輪郭曲線要素の平均高さ(Rc)が0.
    1〜30μmである凹凸面が形成され、該凹凸面の0.
    01mm2あたりの凸部の個数が1〜1000である樹
    脂層を有する反射防止フィルムであって、前記凹凸面の
    うち反射防止フィルム面に対する傾斜角が0〜5°であ
    る平行面が15〜100%を占め、前記平行面の15〜
    100%が凸部に形成されていることを特徴とする反射
    防止フィルム。
  2. 【請求項2】 前記凹凸面に少なくとも1層の高屈折率
    層と少なくとも1層の低屈折率層とを有する反射防止層
    が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の反
    射防止フィルム。
  3. 【請求項3】 凸部以外の平行面に形成されている反射
    防止層の平均膜厚が、前記凸部の平行面に形成されてい
    る反射防止層の平均膜厚より薄いか、若しくは凸部以外
    の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚と、前
    記凸部の平行面に形成されている反射防止層の平均膜厚
    との差が、前記凸部の平行面に形成されている反射防止
    層の平均膜厚の10%以内であることを特徴とする請求
    項2に記載の反射防止フィルム。
  4. 【請求項4】 前記平行面以外の部分に形成されている
    反射防止層の平均膜厚が、前記凸部の平行面に形成され
    ている反射防止層の平均膜厚より薄いか、若しくは前記
    平行面以外の部分に形成されている反射防止層の平均膜
    厚と前記凸部の平行面に形成されている反射防止層の平
    均膜厚との差が前記凸部の平行面に形成されている反射
    防止層の平均膜厚の10%以内であることを特徴とする
    請求項2又は3に記載の反射防止フィルム。
  5. 【請求項5】 前記反射防止層は凹凸面にプラズマ処理
    を施して形成されたことを特徴とする請求項2〜4のい
    ずれか1項に記載の反射防止フィルム。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1項に記載の反
    射防止フィルムを有する偏光板。
  7. 【請求項7】 請求項1〜5のいずれか1項に記載の反
    射防止フィルムを有する表示装置。
JP2001377095A 2001-12-11 2001-12-11 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置 Expired - Fee Related JP4026362B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001377095A JP4026362B2 (ja) 2001-12-11 2001-12-11 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001377095A JP4026362B2 (ja) 2001-12-11 2001-12-11 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003177207A true JP2003177207A (ja) 2003-06-27
JP4026362B2 JP4026362B2 (ja) 2007-12-26

Family

ID=19185142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001377095A Expired - Fee Related JP4026362B2 (ja) 2001-12-11 2001-12-11 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4026362B2 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006192857A (ja) * 2005-01-17 2006-07-27 Jsp Corp ポリカーボネート樹脂積層光反射体
WO2008069163A1 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
JP2008165213A (ja) * 2006-12-05 2008-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 反射防止フィルム及び表示装置
WO2009034985A1 (ja) * 2007-09-13 2009-03-19 Bridgestone Corporation ディスプレイ用光学フィルタ、これを備えたディスプレイ及びプラズマディスプレイパネル
JP2009075539A (ja) * 2007-08-28 2009-04-09 Nissan Motor Co Ltd 反射防止構造及び反射防止成形体
JP2009198626A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Nissan Motor Co Ltd 反射防止構造及び反射防止成形体
US7659669B2 (en) 2006-12-05 2010-02-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
US7839061B2 (en) 2006-12-05 2010-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
US7859627B2 (en) 2006-12-05 2010-12-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Antireflective film including pyramidal projections and display device including antireflective film comprising pyramidal projections
WO2011080890A1 (ja) * 2009-12-28 2011-07-07 ソニー株式会社 導電性光学素子
US8102494B2 (en) 2006-12-05 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anti-reflection film and display device
US8164245B2 (en) 2006-12-05 2012-04-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display having anti-reflection layer comprising pyramidal projections and a protective layer
WO2013111567A1 (ja) * 2012-01-24 2013-08-01 富士フイルム株式会社 反射防止膜
JP2013210682A (ja) * 2006-05-31 2013-10-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
KR20180055265A (ko) * 2016-11-16 2018-05-25 삼성에스디아이 주식회사 명암비 개선 광학필름, 이를 포함하는 편광판 및 이를 포함하는 액정표시장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102264926B1 (ko) * 2018-03-28 2021-06-14 삼성에스디아이 주식회사 시인성 개선 광학 필름, 이를 포함하는 편광판 및 이를 포함하는 플렉시블 광학표시장치

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006192857A (ja) * 2005-01-17 2006-07-27 Jsp Corp ポリカーボネート樹脂積層光反射体
JP2013210682A (ja) * 2006-05-31 2013-10-10 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
US8053987B2 (en) 2006-12-05 2011-11-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
US7859627B2 (en) 2006-12-05 2010-12-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Antireflective film including pyramidal projections and display device including antireflective film comprising pyramidal projections
US8237349B2 (en) 2006-12-05 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device with antireflective film
US8164245B2 (en) 2006-12-05 2012-04-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display having anti-reflection layer comprising pyramidal projections and a protective layer
JP2008166267A (ja) * 2006-12-05 2008-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd プラズマディスプレイパネル及び電界放出型表示装置
US7659669B2 (en) 2006-12-05 2010-02-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
US7839061B2 (en) 2006-12-05 2010-11-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
JP2008165213A (ja) * 2006-12-05 2008-07-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 反射防止フィルム及び表示装置
WO2008069163A1 (en) * 2006-12-05 2008-06-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Plasma display panel and field emission display
US8467023B2 (en) 2006-12-05 2013-06-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anti-reflection film and display device
US8237346B2 (en) 2006-12-05 2012-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Field emission display with antireflective layer
US8102494B2 (en) 2006-12-05 2012-01-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anti-reflection film and display device
JP2009075539A (ja) * 2007-08-28 2009-04-09 Nissan Motor Co Ltd 反射防止構造及び反射防止成形体
WO2009034985A1 (ja) * 2007-09-13 2009-03-19 Bridgestone Corporation ディスプレイ用光学フィルタ、これを備えたディスプレイ及びプラズマディスプレイパネル
JP2009198626A (ja) * 2008-02-20 2009-09-03 Nissan Motor Co Ltd 反射防止構造及び反射防止成形体
JP2011138059A (ja) * 2009-12-28 2011-07-14 Sony Corp 導電性光学素子、タッチパネル、および液晶表示装置
WO2011080890A1 (ja) * 2009-12-28 2011-07-07 ソニー株式会社 導電性光学素子
WO2013111567A1 (ja) * 2012-01-24 2013-08-01 富士フイルム株式会社 反射防止膜
JP2013152257A (ja) * 2012-01-24 2013-08-08 Fujifilm Corp 反射防止膜
KR20180055265A (ko) * 2016-11-16 2018-05-25 삼성에스디아이 주식회사 명암비 개선 광학필름, 이를 포함하는 편광판 및 이를 포함하는 액정표시장치
KR101963006B1 (ko) * 2016-11-16 2019-03-27 삼성에스디아이 주식회사 명암비 개선 광학필름, 이를 포함하는 편광판 및 이를 포함하는 액정표시장치
US11036077B2 (en) 2016-11-16 2021-06-15 Samsung Sdi Co., Ltd. Optical film for improving contrast ratio, polarizing plate comprising same, and liquid crystal display comprising same

Also Published As

Publication number Publication date
JP4026362B2 (ja) 2007-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2003177207A (ja) 反射防止フィルム、該反射防止フィルムを有する偏光板及び表示装置
US7824740B2 (en) Anti-reflection film, production of anti-reflection film, and multi-layer film producing apparatus
KR101375485B1 (ko) 반사 방지 필름, 반사 방지 필름의 제조 방법, 편광판 및 표시 장치
KR101090580B1 (ko) 방현층의 형성 방법, 방현 필름과 그의 제조 방법 및방현층 형성용의 잉크젯 장치
CN1270592C (zh) 电磁波屏蔽片及其制造方法
JP5202819B2 (ja) 反射防止フィルムの製造方法
US6873387B2 (en) Antireflection film, sheet polarizer and liquid crystal display device
US20090268301A1 (en) Flat panel display and antiglare film for flat panel display
KR20100127293A (ko) 방현성막 및 그의 제조 방법
KR20070034001A (ko) 코팅 필름의 제조 공정, 반사 방지 필름 및 그 제조 공정,그 필름을 이용한 편광판, 및 이들을 이용한 화상 표시장치
JP4120196B2 (ja) 防眩性低反射フィルム、前記フィルムの製造方法、偏光板及び表示装置
JP2004279491A (ja) 防眩性反射防止層の形成方法、防眩性反射防止フィルムとその製造方法、防眩性反射防止フィルムを用いた表示装置及び防眩性反射防止加工装置
JP2010032795A (ja) ハードコートフィルム、ハードコートフィルムの製造方法、反射防止フィルム、偏光板および表示装置
JP2006091859A (ja) 反射防止フィルム、並びにそれを用いた偏光板及び画像表示装置
JP2004325861A (ja) 光拡散層の形成方法、光拡散フィルムとその製造方法及び光拡散層形成用のインクジェット装置
JP2005219223A (ja) 防汚層、防汚層の製造方法、防汚性反射防止フィルム、偏光板及び画像表示装置
JP2003025504A (ja) セルロースエステルフィルム、防眩フィルム、それらの製造方法及び偏光板
JP4032771B2 (ja) 低反射フィルム、前記フィルムの製造方法、偏光板及び表示装置
JP2003232919A (ja) 偏光板及びその製造方法、並びに光学要素
JP2005088578A (ja) 光学フィルム、光学フィルムの製造方法、及びそれを用いた反射防止フィルム、偏光板、液晶表示装置
JP2003098348A (ja) 偏光板およびこれを用いた液晶表示装置
JPWO2008050576A1 (ja) 防眩性フィルム、防眩性フィルムの製造方法、偏光板及び表示装置
JP2003337202A (ja) 反射防止フィルム、それを有する表示装置及び光学フィルムの製造方法
JPH11309830A (ja) 低反射部材およびその製造方法
JP2004333976A (ja) 防眩性反射防止フィルムとその製造方法、及びそれを用いた偏光板と表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040721

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061122

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061205

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070205

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070327

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070417

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070918

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071001

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101019

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111019

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121019

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131019

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees