JP2003142359A - 電流導入端子及び半導体製造装置 - Google Patents

電流導入端子及び半導体製造装置

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JP2003142359A JP2001335144A JP2001335144A JP2003142359A JP 2003142359 A JP2003142359 A JP 2003142359A JP 2001335144 A JP2001335144 A JP 2001335144A JP 2001335144 A JP2001335144 A JP 2001335144A JP 2003142359 A JP2003142359 A JP 2003142359A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、取り付けやメンテナンス等におけ
る手間を低減し、容易に電気的な接続を行うことのでき
る電流導入端子及びそのような電流導入端子を用いた半
導体製造装置を提供する。 【解決手段】 本発明は、真空チャンバと、真空チャン
バ内に設置された、電極端子26を有する加熱ヒータ2
4と、電源36が有する電極端子38とを備えた半導体
製造装置であって、電極端子26と電極端子38との間
には電流導入端子12が配置されており、電流導入端子
12は、一端には電極端子26が、また、他端には電極
端子38が電気的に接続されるようになっている、導電
性材料からなる柱状体42を備え、柱状体42には、そ
の長手方向に直交する方向に延びるスリット44a、4
4b、48a、48bが形成されていることを特徴とし
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被処理基板を加熱
するための基板サポート等で用いられる電流導入端子及
びそのような電流導入端子を用いた半導体製造装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置には、所定の真空度に減
圧される真空チャンバを有するものがあり、この真空チ
ャンバ内には一般に種々の電気機器が設置されている。
このような電気機器に対する電気の供給は、真空チャン
バの壁面に気密に固定された電流導入端子からケーブル
を介して行われるのが一般的である。一例として、静電
チャックを備えた従来一般の半導体製造装置の構成を図
6に示す。
【0003】図示するように、半導体製造装置1は、所
定の真空度に減圧される真空チャンバ2と、真空チャン
バ2内に設置された基板支持装置3とを有している。基
板支持装置3は、上面に半導体ウェハWが載置されるセ
ラミック製の基板サポート4と、基板サポート4を支持
するステンレス製のステージ5と、両者間に配置されて
熱を絶縁する絶縁プレート6とから構成されている。
【0004】基板サポート4の上面側には電極4aが埋
設されている。電極4aの一端は、基板サポート4の下
面まで延びており、基板サポート4の下面に設けられた
電極端子4bに接続されている。この電極端子4bは、
真空チャンバ2の壁面に気密に取り付けられた電流導入
端子7にケーブル8によって接続され、また、電流導入
端子7は、真空チャンバ2外に設けられた電源9に接続
されている。これにより、電極4aにケーブル8を介し
て電気が供給されると、電極4aと半導体ウェハWとの
間に電位差が生じ、基板サポート4は、この電位差によ
り生じた静電力で半導体ウェハWを吸着する静電チャッ
クとして機能する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような電気機器に対する電気の供給にあっては、ケー
ブルが真空チャンバ内にあるため、ケーブルの取り回し
やメンテナンス等の作業は手間がかかるものであった。
【0006】そこで、本発明は、このような事情に鑑み
てなされたものであり、取り付けやメンテナンス等にお
ける手間を低減し、容易に電気的な接続を行うことので
きる電流導入端子及びそのような電流導入端子を用いた
半導体製造装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の本発明に係る電流導入端子は、導
電性材料からなる柱状体を備えた電流導入端子であっ
て、柱状体には、柱状体の長手方向に直交する方向に延
びるスリットが形成されていることを特徴としている。
【0008】請求項5に記載するような半導体製造装置
において、上述したように構成された電流導入端子を第
1の電極端子と第2の電極端子との間に配置すれば、第
1の電極端子と第2の電極端子とが正対せずにずれてい
るような場合であっても、柱状体にはスリットが形成さ
れているため、柱状体が撓んで上記ずれを吸収し、柱状
体の一端に第1の電極端子を、他端に第2の電極端子を
それぞれ接続することが可能となる。したがって、半導
体製造装置等においてケーブルを用いることなく、容易
に第1の電気機器と第2の電気機器とを電気的に接続す
ることができる。
【0009】また、スリットは、柱状体の長手方向に直
交する第1の方向に延びる第1のスリットと、柱状体の
長手方向に直交する方向であって、第1の方向と直角と
なる第2の方向に延びる第2のスリットとを含むものと
することが好ましい。柱状体は、スリットが延びる方向
を軸として撓むため、互いに直角となる2つの方向に延
びるスリットを形成すれば、それぞれの方向に柱状体が
撓みやすくなるからである。
【0010】また、第1のスリットが柱状体の長手方向
に沿って互い違いに複数形成されると共に、第2のスリ
ットが柱状体の長手方向に沿って互い違いに複数形成さ
れていてもよい。柱状体をあらゆる方向により撓みやす
くすることができるからである。
【0011】また、柱状体の外周を囲むように、筒状の
絶縁碍子が設けられていることが好ましい。導電性を有
する柱状体と、その周囲の導電性部分との放電を防止す
るためである。
【0012】また、第1の電気機器としては、被処理基
板が載置される基板サポート内に埋設され、基板サポー
トを加熱する加熱ヒータがある。第2の電気機器として
は、電源が一般的である。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明の好適な
一実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書に
おいて、「上」、「下」等の語は、図面に示す状態に基
づいており、便宜的なものである。また、図面の説明に
おいては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を
省略する。
【0014】図1は、本発明の一実施形態に係る半導体
製造装置10の構成を示す概略図であり、図2は、図1
の半導体製造装置10に取り付けられた本発明の一実施
形態に係る温度測定装置12の構成を示す概略図であ
る。半導体製造装置10は、例えば熱CVD装置等であ
り、図1に示すように、所定の真空度に減圧される真空
チャンバ14を有している。この真空チャンバ14内に
は、被処理基板である半導体ウェハWを支持するための
基板支持装置16が設置されている。
【0015】基板支持装置16は、上面に被処理基板で
ある半導体ウェハWが載置されるセラミック製の基板サ
ポート18と、基板サポート18を支持するステンレス
製のステージ20と、基板サポート18とステージ20
との間に配置され、SiO2等の熱的絶縁性に優れた材
料からなる絶縁プレート22と、基板サポート18内に
埋設され、基板サポート18を加熱する加熱ヒータ24
(第1の電気機器)と、加熱ヒータ24用の電極端子2
6(第1の電極端子)とを備えて構成されている。ステ
ージ20からは、筒状部28が下方に向かって延びてお
り、筒状部28の下端は、真空チャンバ14の底部に形
成された開口部30を囲んで真空チャンバ14の底面に
気密に取り付けられている。
【0016】図2に示すように、絶縁プレート22の、
基板サポート18内に埋設された加熱ヒータ24用の電
極端子26に対向する位置には、貫通孔32が形成され
ている。また、ステージ20上面の、電極端子26に対
向する位置には、凹部34が形成されている。この凹部
34の底部には、真空チャンバ14外に設けられた電源
(第2の電気機器)36に接続された電極端子38(第
2の電極端子)が気密に取り付けられている。電極端子
38には、上方に向かって凹部34内に突出したボルト
部材40が設けられている。
【0017】ステージ20の凹部34内には電流導入端
子12が配置されている。電流導入端子12は、上下方
向に延びる円柱状の柱状体42を備えている。柱状体4
2には、その長手方向、すなわち上下方向に直交する方
向に延びるスリットが例えば8つ形成されている。柱状
体42の斜視図を図3に示す。また、図3のIV−IV
線に沿っての断面図を図4に示し、V−V線に沿っての
断面図を図5に示す。なお、図3、図4及び図5それぞ
れにおいて、図示するようにx−y座標を設定する。こ
こで、スリットが延びる方向とは、図示実施形態では、
スリットを画す底面(柱状体42の垂直壁面)の延びる
方向をいう。柱状体42は、形成されたスリットによ
り、当該スリットの底面の延びる方向を軸として撓みや
すくなる。
【0018】図3に示すように、柱状体42の上端側に
は、上方から順にスリット44a、44b、48a及び
48bが形成されている。さらに、柱状体42の下端側
にも同様に、上方から順にスリット44a、44b、4
8a及び48bが形成されている。これら8つのスリッ
トは、上下方向に沿ってそれぞれ等間隔に形成されてい
る。
【0019】スリット44a(第1のスリット)は、図
4に示すように、その底面46aがy方向(柱状体42
の長手方向に直交する第1の方向)に延びている。ま
た、スリット44bは、スリット44aに対し互い違い
に形成されており、その底面46bがスリット44aと
同様にy方向に延びている。
【0020】スリット48a(第2のスリット)は、図
5に示すように、その底面50aがx方向(柱状体42
の長手方向に直交する第2の方向)に延びている。ま
た、スリット48bは、スリット48aに対し互い違い
に形成されており、その底面50bがスリット48aと
同様にx方向に延びている。
【0021】このように、互いに直角となる2つの方向
に延びるスリットをそれぞれ互い違いに形成すれば、柱
状体42をあらゆる方向に撓みやすくすることができ
る。
【0022】また、柱状体42は導電性材料からなり、
図2に示すように、その上端部及び下端部には、めねじ
部52及びめねじ部54がそれぞれ形成されている。上
端部に形成されためねじ部52には、加熱ヒータ24用
の電極端子26に形成された孔を通してボルト56が螺
合されており、電極端子26と柱状体42とが電気的に
接続されている。また、下端部に形成されためねじ部5
4には、電源36に接続された電極端子38のボルト部
材40が螺合されており、電極端子38と柱状体42と
が電気的に接続されている。なお、ボルト部材40に
は、柱状体42の下方に六角ナット58が螺合されてい
る。この六角ナット58は、上方、すなわち柱状体42
の下端に向かって締め付けられており、ロックナットと
して機能し、柱状体42はボルト部材40に固定されて
いる。
【0023】以上のように構成された半導体製造装置1
0及び電流導入端子12によれば、ステージ20は真空
チャンバ14に、電源36に接続された電極端子38は
ステージ20の凹部34にそれぞれ気密に取り付けられ
ており、電流導入端子12は凹部34内に配置されてい
るため、真空チャンバ14内の気密性が破られることは
ない。
【0024】さらに、柱状体42と、絶縁プレート22
の貫通孔32の内壁面及びステージ20の凹部34の内
壁面との間隙には、円筒状の絶縁碍子60が設けられて
いる。これにより、導電性材料からなる柱状体42と、
ステンレス製のステージ20との放電を容易かつ確実に
防止することができる。
【0025】次に、基板支持装置16の組み立てについ
て説明する。絶縁プレート22上に基板サポート18を
設置する前の状態において、絶縁プレート22の貫通孔
32を通して、ステージ20の凹部34内に絶縁碍子6
0を設置する。また、凹部34の底部に設けられた電極
端子38のボルト部材40に、六角ナット58を螺合す
る。そして、柱状体42の上端が絶縁プレート22の上
面よりも凹んだ状態となるまで、柱状体42下端部のめ
ねじ部54を電極端子38のボルト部材40に螺合す
る。この状態で、ボルト部材40に螺合された六角ナッ
ト58を上方、すなわち柱状体42の下端に向かって締
め付け、柱状体42をボルト部材40に固定する。
【0026】この後、基板サポート18を絶縁プレート
22上に取り付け、基板サポート18上面に形成された
孔62からボルト56を挿入し、加熱ヒータ24用の電
極端子26に形成された孔を通して、ボルト56を柱状
体42上端部のめねじ部52に螺合する。このとき、加
熱ヒータ24用の電極端子26と電源36に接続された
電極端子38とが正対せずにずれているような場合であ
っても、スリットにより柱状体42が撓むため、柱状体
42の上端が基板サポート18の下面に接触するまでボ
ルト56を締め付けて、電極端子26と柱状体42とを
確実に接続することができる。したがって、電極端子3
8と電極端子26とのシビアな位置合わせが不要とな
る。なお、ボルト56の締め付けにおいては、柱状体4
2が電極端子38のボルト部材40に六角ナット58に
より固定されているため、柱状体42が供回りするよう
なこともない。
【0027】以上のように、基板サポート16の組み立
てにおいて、ケーブルを用いることなく、極めて容易に
加熱ヒータ24と電源36とを電気的に接続することが
できるため、組み立てにおける手間が低減され、作業時
間を短縮することが可能となる。
【0028】次に、半導体製造装置10が、例えば熱C
VD装置等であり、基板サポート18が加熱ヒータ24
により加熱される場合について説明する。基板サポート
18が加熱ヒータ24により加熱されると、熱膨張差に
より、基板サポート18内に埋設された電極端子26が
柱状体42に対して水平方向にずれる。しかし、柱状体
42にはスリットが形成されているため、柱状体42が
撓んで熱膨張差を吸収することが可能となる。したがっ
て、電極端子26や電極端子38等に生じる熱膨張差に
よるストレスを減少させることができ、これらの破損を
防止することが可能となる。
【0029】以上、本発明の好適な一実施形態について
詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されな
いことはいうまでもない。
【0030】上記実施形態では、柱状体に8つのスリッ
トが形成された場合について説明したが、本発明はこれ
に限定されない。また、上記実施形態では、スリットは
互いに平行な上下一対の平面と平坦な底面とから画され
ているが、スリットの形状もこれに限定されない。例え
ば、上下一対の平面は互いに非平行であってもよく、ま
た、底面は湾曲されていてもよい。底面が湾曲されてい
る場合、スリットが延びる方向とは、当該スリットによ
り柱状体が撓むときの軸となる方向をいう。なお、各ス
リットの深さやスリットの間隔、或いはスリットの数等
は、加熱ヒータ等、電気機器の所要電流値及び電圧値を
考慮し、また、熱膨張差が生じた場合に必要とされる撓
み量を考慮して、適宜決定される。
【0031】また、上記実施形態では、加熱ヒータと電
源とを電気的に接続する場合について説明したが、本発
明によれば、上述したように真空チャンバ内の気密性が
破られることがないため、種々の半導体製造装置におい
て、真空チャンバ内に設置された電気機器と、真空チャ
ンバ外に設けられた電源とを電気的に接続することが可
能である。また、半導体製造装置における電気機器間の
接続に限られず、種々の電気機器間の接続においても適
用可能である。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第1の電気機器が有する第1の電極端子と第2の電気機
器が有する第2の電極端子とが正対せずにずれているよ
うな場合であっても、電流導入端子が備えた柱状体に
は、その長手方向に直交する方向に延びるスリットが形
成されているため、柱状体が撓んで上記ずれを吸収する
ことが可能となる。したがって、柱状体の一端には第1
の電極端子を、また、他端には第2の電極端子をそれぞ
れ確実に接続することができ、容易に第1の電気機器と
第2の電気機器とを電気的に接続することが可能とな
る。また、半導体製造装置においては、真空チャンバ内
でケーブルが用いられることがないため、取り付けやメ
ンテナンス等における手間を低減し、作業時間を短縮す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】半導体製造装置の構成を示す概略図である。
【図2】図1の半導体製造装置に取り付けられた電流導
入端子の構成を示す概略図である。
【図3】柱状体の斜視図である。
【図4】図3のIV−IV線に沿っての断面図である。
【図5】図3のV−V線に沿っての断面図である。
【図6】従来の半導体製造装置の構成を示す概略図であ
る。
【符号の説明】
10…半導体製造装置、12…電流導入端子、14…真
空チャンバ、24…加熱ヒータ、36…電源、26、3
8…電極端子、42…柱状体、44a、44b、48
a、48b…スリット。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小野 真徳 千葉県成田市新泉14−3野毛平工業団地内 アプライド マテリアルズ ジャパン 株式会社内 Fターム(参考) 5E087 EE06 FF01 FF27 GG12 MM08 MM12 QQ06 RR07 RR31 5F031 CA02 HA02 HA19 MA28 NA05 5F045 EK07

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性材料からなる柱状体を備えた電流
    導入端子であって、 前記柱状体には、前記柱状体の長手方向に直交する方向
    に延びるスリットが形成されていることを特徴とする電
    流導入端子。
  2. 【請求項2】 前記スリットは、前記柱状体の長手方向
    に直交する第1の方向に延びる第1のスリットと、 前記柱状体の長手方向に直交する方向であって、前記第
    1の方向と直角となる第2の方向に延びる第2のスリッ
    トとを含むことを特徴とする請求項1に記載の電流導入
    端子。
  3. 【請求項3】 前記第1のスリットが前記柱状体の長手
    方向に沿って互い違いに複数形成されると共に、前記第
    2のスリットが前記柱状体の長手方向に沿って互い違い
    に複数形成されていることを特徴とする請求項2に記載
    の電流導入端子。
  4. 【請求項4】 前記柱状体の外周を囲むように、筒状の
    絶縁碍子が設けられていることを特徴とする請求項1〜
    3のいずれか1項に記載の電流導入端子。
  5. 【請求項5】 真空チャンバと、前記真空チャンバ内に
    設置された、第1の電極端子を有する第1の電気機器
    と、前記第1の電気機器と異なる第2の電気機器が有す
    る第2の電極端子とを備えた半導体製造装置であって、 前記第1の電極端子と前記第2の電極端子との間には電
    流導入端子が配置されており、 前記電流導入端子は、一端に前記第1の電極端子が電気
    的に接続されると共に、他端に前記第2の電極端子が電
    気的に接続されるようになっている、導電性材料からな
    る柱状体を備え、 前記柱状体には、前記柱状体の長手方向に直交する方向
    に延びるスリットが形成されていることを特徴とする半
    導体製造装置。
  6. 【請求項6】 前記第1の電気機器は、被処理基板が載
    置される基板サポート内に埋設され、前記基板サポート
    を加熱する加熱ヒータであることを特徴とする請求項5
    に記載の半導体製造装置。
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