JP2003139562A - 変位センサ - Google Patents

変位センサ

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JP2003139562A JP2001333299A JP2001333299A JP2003139562A JP 2003139562 A JP2003139562 A JP 2003139562A JP 2001333299 A JP2001333299 A JP 2001333299A JP 2001333299 A JP2001333299 A JP 2001333299A JP 2003139562 A JP2003139562 A JP 2003139562A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構造で、運動対象物の変位量をミクロ
ンメートルからナノメートルの分解能で検出できること
である。 【解決手段】 励磁コイル23と検出コイル25が、並
べて配置され、長手方向に断面積が変化する円錐状の磁
性体プローブ27が、励磁コイル23の空心部に挿入さ
れる状態で配置される。検出コイル25からの出力端子
は増幅器33に接続され、増幅器33と励磁コイル23
の入力端子との間に位相シフト回路35が設けられる。
磁性体のプローブ27が励磁コイル23の空心部内を移
動すると、励磁コイル23のインダクタンスが変化し、
励磁コイル23への入力信号と検出コイル25からの出
力信号との間に位相差が生じ、位相シフト回路35がそ
の位相差をゼロにするように周波数を変化させる。この
ときの周波数偏差から変位量が検出される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、変位センサに関す
る。
【0002】
【従来の技術】マイクロマシン、遺伝子操作に用いられ
るマニピュレータ等のマイクロアクチュエータの動作を
制御するため、小型軽量で、運動対象物の変位量をミク
ロンメートルからナノメートルの分解能で検出、計測す
ることが要求されている。従来、変位量をミクロンメー
トルからナノメートルの分解能で検出、計測することに
ついては、さまざまな方式が提案され、実用化されてい
る。代表的には、対象物にレーザ光を照射し、対象物の
変位に伴い生ずる位相差を検出する方法や、参照光との
間の干渉現象を用いる方法等のレーザ計測をあげること
ができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】レーザ計測技術等を用
いることで、ナノメートルオーダーの変位量計測を行う
ことができる。しかしながら、マイクロアクチュエータ
の大きさは数センチメートルから十数センチメートルの
オーダーであるのに対し、レーザ計測は光源、位相差や
干渉を検出し計測する計測部等がかなり大型となる。ま
た分解能を高めるため、複雑な光学系や高周波の測定周
波数を用いる等、高価な装置となる。
【0004】本発明の目的は、かかる従来技術の課題を
解決し、簡単な構造で、運動対象物の変位量をミクロン
メートルからナノメートルの分解能で検出、計測する、
小型軽量化に適した変位センサの提供をすることであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明に係る変位センサは、所定の位置関係に配置
された励磁コイルおよび検出コイルと、検出コイルの出
力端に入力端が接続された増幅器と、増幅器の出力端と
励磁コイルの入力端との間に設けられ、励磁コイルへの
入力波形と検出コイルからの出力波形に位相差が生じる
ときは、周波数を変化させて前記位相差をゼロにシフト
する位相シフト回路と、前記位相シフトにより生じた周
波数偏差を検出する周波数計測手段と、前記励磁コイル
または検出コイルの少なくとも一つの空心部に挿入さ
れ、長手軸方向に断面積が変化する磁性体の棒状プロー
ブと、を備え、励磁コイルと検出コイルとの間の空間を
含む閉ループの共振状態を維持しつつ、前記棒状プロー
ブが長手軸方向に変位することで生ずる前記周波数偏差
から、被測定対象の変位量を検出することを特徴とす
る。
【0006】また、本発明に係る変位センサにおいて、
前記励磁コイルは、互いに極性が逆向きに巻かれた二つ
のコイルが直列に接続されたものであることを特徴とす
る。
【0007】また、本発明に係る変位センサは、被測定
対象に光を入射する発光素子と、被測定対象からの反射
波を検出する受光素子と、受光素子の出力端に入力端が
接続された増幅器と、増幅器の出力端と発光素子の入力
端との間に設けられ、発光素子への入力波形と受光素子
からの出力波形に位相差が生じるときは、周波数を変化
させて前記位相差をゼロにシフトする位相シフト回路
と、前記位相シフトにより生じた周波数偏差を検出する
周波数計測手段と、を備え、発光素子と受光素子との間
の空間を含む閉ループの共振を維持しつつ、前記測定対
象の変位により生ずる前記周波数偏差から、被測定対象
の変位量を検出することを特徴とする。
【0008】本発明に係る変位センサは、検出コイル、
増幅器、位相シフト回路、励磁コイルの順に接続し、検
出コイルまたは励磁コイルの少なくとも一つの空心部
に、長手軸方向に断面積が変化する磁性体の棒状プロー
ブを挿入して配置される構成とする。この構成で、前記
棒状プローブが長手軸方向に変位すると、励磁コイルと
検出コイルとの間の空間を含む閉ループの共振状態を維
持しつつ、変位量に応じ周波数偏差を生じるので、棒状
プローブの変位量を検出することができる。1mmの変
位量で数kHzの周波数偏差を生ずるので、0.1〜
0.01ミクロンメートルの分解能で変位量が検出で
き、簡単な構造で、運動対象物の変位量をミクロンメー
トルからナノメートルオーダーの分解能で検出、計測す
る、小型軽量化に適した変位センサが実現できる。
【0009】また、励磁コイルは、互いに極性が逆向き
に巻かれた二つのコイルが直列に接続されたものである
とする。この場合、この二つのコイルの接続点付近では
磁界が打ち消しあい、二つのコイルが同じ特性のとき
は、ほぼゼロの磁界となってバランスしている。この空
心部に磁性体のプローブを挿入して配置する構成とする
ことで、変位に対する感度が高まり、1mmの変位量で
10kHz以上の周波数偏差を生ずるので、簡単な構造
で、運動対象物の変位量をミクロンメートルレベルの分
解能で検出、計測する、小型軽量化に適した変位センサ
が実現できる。
【0010】また、本発明に係る変位センサは、発光素
子、受光素子を用い、被測定対象に光を入射し、その反
射波を検出し、受光素子、増幅器、位相シフト回路、発
光素子の順に接続する構成とする。この構成で、被測定
対象が変位すると、発光素子と受光素子との間の空間を
含む閉ループの共振状態を維持しつつ、変位量に応じ周
波数偏差を生じるので、被測定対象の変位量を検出する
ことができる。1mmの変位量で10kHz以上の周波
数偏差を生ずるので、簡単な構造で、運動対象物の変位
量をミクロンメートルからナノメートルオーダーの分解
能で検出、計測する、小型軽量化に適した変位センサが
実現できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を用いて本発明の実施
の形態について詳細に説明する。図1は、第一の実施の
形態である、インダクタンス直接計測方式の変位センサ
1の構成を示す図である。この変位センサ1は、コイル
3と、長手軸方向に断面積が変化する円錐状の磁性体の
プローブ5と、コイル3の両端子間に配置されたインダ
クタンスメータ7およびインダクタンスメータ7の検出
値を変位量に変換する変位量変換部9から構成される。
磁性体のプローブ5は、コイル3の空心部に挿入されて
配置される。
【0012】この構成で、磁性体のプローブ5が、長手
軸方向(x)にコイル3の空心部内で変位すると、コイ
ル3のインダクタンスが変化する。すなわち、一般に、
空心部の透磁率μ、断面積A、長手方向の長さL、巻き
数Nのコイルのインダクタンスは、μ*A*N*N/L
に比例することが知られている。そこで、断面積が長手
方向に変化する磁性体のプローブ5が、コイル3の空心
部内で長手方向(x)に変位すると、その変位量に応
じ、コイル3の空心部内に有るプローブの体積が変化
し、μが実質的に変化し、インダクタンスが変化する。
【0013】図2は、プローブ5の変位量を横軸に、縦
軸にコイル3のインダクタンスをとり、それらの間の関
係を示したものである。いま、変位量が増す方向は、コ
イル3の空心部にある磁性体のプローブ5の体積が増す
方向とする。このとき、変位量が増加するにつれ、μが
実質的に増加し、コイル3のインダクタンスも増加す
る。プローブ5の断面積の長手方向の変化率を適切に設
計すれば、変位量の変化とインダクタンスの変化を線形
とすることもできる。
【0014】このようにして、長手方向に断面積の変化
する磁性体のプローブ5を、コイル3の空心部内で変位
させ、そのときのコイル3のインダクタンスの変化をイ
ンダクタンスメータ7で検出し、その検出値を変位量変
換部9で変位量に変換することで、プローブ5の変位量
を簡単な構造で得ることができる。
【0015】図3は、第二の実施の形態である、インダ
クタンス方式変位センサ21のブロック図である。励磁
コイル23と検出コイル25とが、それぞれの空心部の
長手軸を共通にして並べて配置される。また、長手方向
に断面積が変化する円錐状のプローブ27を備え、この
プローブ27は、磁性体で構成される。そして、プロー
ブ27は、励磁コイル23の空心部に挿入される状態で
配置される。検出コイル25からの出力端子と、励磁コ
イル23への入力端子は、信号処理部31と接続され
る。信号処理部31は、検出コイル25からの出力端子
が増幅器33に接続され、増幅器33と励磁コイル23
の入力端子との間に位相シフト回路35が設けられる。
位相シフト回路35に、周波数偏差検出器37が接続さ
れ、さらに、周波数偏差検出器37に変位量算出器39
が接続される。
【0016】このように、励磁コイル23と検出コイル
25との間の空間、すなわち励磁コイル23−プローブ
27を含む空心部―検出コイル25の磁気回路を含め
て、ひとつの閉ループ共振回路を形成し、図示されてい
ない電源からエネルギが供給され、位相シフト回路35
の周波数―ゲイン・位相特性を適切に設定することで、
共振を持続することができる。このような閉ループ共振
回路における位相シフト回路35の内部構成とその作用
については、特開平9−145691号公報に詳しく述
べられている。
【0017】図3において、磁性体のプローブ27が変
位し、励磁コイル23の空心部を移動すると、磁性体の
プローブ27は円錐状なので、空心部内の磁性体の体積
が変化する。これにより、図2で説明したように、励磁
コイル23のインダクタンスが変化し、励磁コイル23
と検出コイル25との間の空間、すなわち励磁コイル2
3−プローブ27を含む空心部―検出コイル25の磁気
回路に変化が起こる。それに伴い、励磁コイル23への
入力信号と検出コイル25からの出力信号との間に位相
差が生じ、位相シフト回路35がその位相差をゼロにす
るように周波数を変化させる。このときの周波数偏差
は、周波数偏差検出器37で検出され、周波数偏差と変
位量の関係式処理を行う変位量算出器39により、変位
量が出力される。
【0018】1mmの変位量で数10kHz以上の周波
数偏差を生ずるので、ミクロンメートルレベルの分解能
で変位量が検出できる。周波数偏差が数10kHzのオ
ーダーなので、信号処理部の処理周波数は比較的低周波
であり、簡単な回路構成とできる。
【0019】図4は、第三の実施の形態で、より感度の
高いインダクタンス方式変位センサ22を示す。図3と
共通の構成要素には同一の符号を付し、説明を省略す
る。この場合、励磁コイル24に、互いに極性が逆向き
に巻かれた二つのコイル24a,24bを直列に接続し
たものを用いる。この構成では、この二つのコイル24
a,24bの接続点付近で磁界が打ち消しあい、二つの
コイル24a,24bが同じ特性のときは、ほぼゼロの
磁界となってバランスしている。この空心部に磁性体の
プローブ27を挿入して配置する構成とすることで、磁
性体のプローブ27の挿入によるバランスの変化を検出
コイル26で検出でき、変位に対する感度が一段と高ま
る。
【0020】1mmの変位量で10kHz以上の周波数
偏差を生ずるので、簡単な構造で、運動対象物の変位量
をミクロンメートルレベルの分解能で検出、計測する、
小型軽量化に適した変位センサが実現できる。
【0021】励磁コイルと検出コイルとの位置関係は、
図3のように励磁コイルと検出コイルとを、それぞれの
空心部の長手軸を共通にして並べて配置することや、図
4のように励磁コイルの外周に同心状に検出コイルを配
置する等、一定の位置関係が固定される配置方法で良
い。プローブは、励磁コイルと検出コイルの少なくとも
一方の空心部内に挿入して配置されることでも良い。プ
ローブは円錐状のほか、円錐の一部、長手軸を回転軸と
する関数回転体、角錐の一部等、断面積が変化する他の
形状を用いることができる。
【0022】このように、励磁コイル、検出コイル、プ
ローブおよび処理周波数が比較的低い信号処理部の簡単
な構成で、運動対象物の変位量をミクロンメートルから
ナノメートルの分解能で検出、計測する、小型軽量化に
適した変位センサが実現できる。
【0023】図5は、第四の実施の形態である光方式変
位センサ51のブロック図である。発光素子53と受光
素子55が、被測定対象57に対向して設けられる。受
光素子55からの出力端子と、発光素子53への入力端
子は、信号処理部31と接続される。信号処理部31の
構成と作用は、図2と同様であるので説明を省略する。
このように、発光素子53と受光素子55との間の空
間、すなわち発光素子53−被測定対象57―受光素子
55の光の経路を含めて、ひとつの閉ループ共振回路を
形成する。
【0024】図5において、被測定対象57が変位し、
発光素子53と受光素子55との間の空間、すなわち発
光素子53−被測定対象57―受光素子55における光
の経路の長さに変化が起こると、それに伴い、発光素子
53への入力信号と受光素子55からの出力信号との間
に位相差が生じ、位相シフト回路35がその位相差をゼ
ロにするように周波数を変化させる。このときの周波数
偏差は、周波数偏差検出器37で検出され、周波数偏差
と変位量の関係式処理を行う変位量算出器39により、
変位量が出力される。
【0025】1mmの変位量で100kHz〜1000
kHz以上の周波数偏差を生ずるので、ナノメートルオ
ーダーの分解能で変位量が検出できる。周波数偏差を利
用しているので、信号処理部の処理周波数は比較的簡単
な回路構成とできる。
【0026】このように、発光素子、受光素子、処理周
波数が比較的低い信号処理部の簡単な構成で、運動対象
物の変位量をミクロンメートルからナノメートルの分解
能で検出、計測する、小型軽量化に適した変位センサが
実現できる。
【0027】
【発明の効果】本発明に係る変位センサは、簡単な構造
で、運動対象物の変位量をミクロンメートルからナノメ
ートルの分解能で検出、計測でき、小型軽量化に適す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第一の実施の形態である、インダク
タンス直接計測方式の変位センサの構成を示す図であ
る。
【図2】 本発明の第一の実施の形態において、プロー
ブの変位量を横軸に、縦軸にコイルのインダクタンスを
とり、それらの間の関係を示した図である。
【図3】 本発明の第二の実施の形態である、インダク
タンス方式変位センサのブロック図である。
【図4】 本発明の第三の実施の形態である、より感度
の高いインダクタンス方式変位センサのブロック図であ
る。
【図5】 本発明の第四の実施の形態である、光方式変
位センサのブロック図である。
【符号の説明】
1 インダクタンス直接計測方式変位センサ、3 コイ
ル、5,27 プローブ、7 インダクタンスメータ、
9 変位量変換部、21,22 インダクタンス方式変
位センサ、23,24 励磁コイル、25,26 検出
コイル、31信号処理部、33 増幅器、35 位相シ
フト回路、37 周波数偏差検出器、39 変位量算出
器、51 光方式変位センサ、53 発光素子、55
受光素子、57 被測定対象。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F063 AA02 CA34 DA05 GA04 GA29 GA30 GA45 KA01 LA04 LA05 LA30 2F065 AA06 DD03 FF13 JJ01 NN05 QQ00 UU05 2F077 CC02 FF03 FF04 FF12 FF39 TT00 TT02 TT21 TT23 TT82 2F103 BA37 BA43 CA09 EB01 EB11 EB19 FA01 5J084 AA05 AD02 CA41 CA71 DA07 EA04 EA13 FA03

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の位置関係に配置された励磁コイル
    および検出コイルと、 検出コイルの出力端に入力端が接続された増幅器と、 増幅器の出力端と励磁コイルの入力端との間に設けら
    れ、励磁コイルへの入力波形と検出コイルからの出力波
    形に位相差が生じるときは、周波数を変化させて前記位
    相差をゼロにシフトする位相シフト回路と、 前記位相シフトにより生じた周波数偏差を検出する周波
    数計測手段と、 前記励磁コイルまたは検出コイルの少なくとも一つの空
    心部に挿入され、長手軸方向に断面積が変化する磁性体
    の棒状プローブと、を備え、励磁コイルと検出コイルと
    の間の空間を含む閉ループの共振状態を維持しつつ、前
    記棒状プローブが長手軸方向に変位することで生ずる前
    記周波数偏差から、被測定対象の変位量を検出すること
    を特徴とする変位センサ。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の変位センサにおいて、 前記励磁コイルは、互いに極性が逆向きに巻かれた二つ
    のコイルが直列に接続されたものであることを特徴とす
    る変位センサ。
  3. 【請求項3】 被測定対象に光を入射する発光素子と、 被測定対象からの反射波を検出する受光素子と、 受光素子の出力端に入力端が接続された増幅器と、 増幅器の出力端と発光素子の入力端との間に設けられ、
    発光素子への入力波形と受光素子からの出力波形に位相
    差が生じるときは、周波数を変化させて前記位相差をゼ
    ロにシフトする位相シフト回路と、 前記位相シフトにより生じた周波数偏差を検出する周波
    数計測手段と、 を備え、発光素子と受光素子との間の空間を含む閉ルー
    プの共振を維持しつつ、前記測定対象の変位により生ず
    る前記周波数偏差から、被測定対象の変位量を検出する
    ことを特徴とする変位センサ。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008304229A (ja) * 2007-06-05 2008-12-18 Univ Nihon 変位計測システム
JP2010533847A (ja) * 2007-07-19 2010-10-28 ツェットエフ フリードリヒスハーフェン アクチエンゲゼルシャフト 局所的な測定範囲におけるコイル配置構造
CN102176060A (zh) * 2011-01-25 2011-09-07 中国人民解放军国防科学技术大学 电感式接近开关传感器
CN103115634A (zh) * 2013-03-05 2013-05-22 上海兰宝传感科技股份有限公司 多线圈材料辨别型电感式传感器
CN103175551A (zh) * 2013-03-05 2013-06-26 上海兰宝传感科技股份有限公司 衰减系数为1的电感式传感器

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3888427B2 (ja) * 2001-10-30 2007-03-07 学校法人日本大学 変位センサ
WO2003097381A1 (fr) * 2002-05-17 2003-11-27 Koyo Seiko Co., Ltd. Unite de moyeu a detecteur
JP4348467B2 (ja) * 2003-09-30 2009-10-21 学校法人日本大学 光を用いた生体の物質特性検査装置
JP2007123470A (ja) * 2005-10-27 2007-05-17 Fujitsu Component Ltd ソレノイドアクチュエータ及び2軸アクチュエータ
JP4742108B2 (ja) 2008-02-05 2011-08-10 株式会社コナミデジタルエンタテインメント ゲームシステム並びにこれを構成するジャックポット抽選装置及びゲーム装置
US20150008906A1 (en) * 2013-07-03 2015-01-08 Dennis K. Briefer Position sensing device
DE102014218754A1 (de) * 2014-09-18 2016-03-24 Continental Teves Ag & Co. Ohg Magnetischer Sensor, Sensoranordnung und Verfahren zur Bestimmung der Position eines magnetisch wirksamen Elements
CN104776791B (zh) * 2015-04-16 2018-09-07 日立楼宇技术(广州)有限公司 一种位移传感器和测量位移的方法
CN105928449B (zh) * 2016-04-28 2018-07-17 西安交通大学 一种电感式位移传感器的数据处理方法
CN106767952B (zh) * 2017-02-28 2018-12-07 西安交通大学 一种电感式位移传感器的干扰消除方法
EP3385758A1 (de) * 2017-04-05 2018-10-10 HILTI Aktiengesellschaft Vorrichtung und verfahren zum detektieren von elektrisch leitenden messobjekten in einem untergrund
JP7434150B2 (ja) * 2018-05-15 2024-02-20 株式会社島津製作所 磁性体検査装置および磁性体検査方法
EP3683537A1 (en) 2019-01-18 2020-07-22 Fundació Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia Displacement sensor
US11360200B2 (en) * 2019-04-02 2022-06-14 Tennessee Technological University Omnidirectional, electric near-field distance sensing device
CN112525061B (zh) * 2020-11-09 2022-09-13 西南科技大学 一种采用纳米复合材料的无线应变测试装置及方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3513408A (en) * 1968-08-01 1970-05-19 Tri Metrics Displacement transducer oscillator with movable tapered magnetic core
US3891918A (en) * 1971-03-23 1975-06-24 James F Ellis Linear displacement transducer utilizing an oscillator whose average period varies as a linear function of the displacement
JPS5491355A (en) * 1977-12-28 1979-07-19 Nippon Chemical Ind Device for measuring displacement
FR2468877A1 (fr) * 1979-11-05 1981-05-08 Snecma Capteur de deplacement lineaire
FR2549596B1 (fr) * 1983-07-20 1987-09-18 Europ Propulsion Procede et capteur de mesure de deplacement
JPS60155570U (ja) * 1984-03-26 1985-10-16 株式会社瑞穂製作所 移動量検出装置
JPS62276402A (ja) 1986-05-23 1987-12-01 Omron Tateisi Electronics Co リニア出力型位置センサ
JPS6421305U (ja) * 1987-07-30 1989-02-02
JPH0299312A (ja) 1988-10-07 1990-04-11 Asahi Chem Ind Co Ltd ポリオキシメチレン中空体の製造方法
US5075545A (en) * 1988-10-26 1991-12-24 United Technologies Corporation Optical measurement of the position of an object
JPH0754810Y2 (ja) * 1989-01-26 1995-12-18 日東工器株式会社 変位測定器
JPH0797009B2 (ja) * 1989-12-29 1995-10-18 株式会社荏原製作所 インダクタンス形変位センサ
US5206587A (en) * 1990-03-30 1993-04-27 Mitchell Rose Inductive displacement transducer having telescoping probe assembly
JP2914037B2 (ja) * 1991-09-30 1999-06-28 キヤノン株式会社 スペックル干渉装置
US5394233A (en) * 1993-04-06 1995-02-28 Wang; Charles P. Apparatus for measuring high frequency vibration, motion, or displacement
JPH07332911A (ja) * 1994-06-03 1995-12-22 Sony Corp 軸位置検出用センサー
JP3151153B2 (ja) * 1995-09-20 2001-04-03 定夫 尾股 周波数偏差検出回路及びそれを利用した測定器
US5767670A (en) * 1996-08-29 1998-06-16 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for providing improved temperature compensated output for variable differential transformer system
US5777468A (en) * 1996-12-19 1998-07-07 Texas Instruments Incorporated Variable differential transformer system and method providing improved temperature stability and sensor fault detection apparatus
US6052190A (en) * 1997-09-09 2000-04-18 Utoptics, Inc. Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods
CH693188A5 (fr) * 1999-03-11 2003-03-27 Csem Ct Suisse D Electronique Sa Capteur inductif optimisé.
AU4420800A (en) * 1999-04-23 2000-11-10 Scientific Generics Limited Position sensor
CN1483136A (zh) * 2000-11-30 2004-03-17 阿赛勒姆研究股份有限公司 用于高精度位置测量的改进线性变量差接变压器
US6583618B2 (en) * 2001-09-21 2003-06-24 Framatome, Anp Inc. Remote magnetic field material analyzer and method
JP3888427B2 (ja) * 2001-10-30 2007-03-07 学校法人日本大学 変位センサ
US6967574B1 (en) * 2003-01-21 2005-11-22 The Johns Hopkins University Multi-mode electromagnetic target discriminator sensor system and method of operation thereof
US7078906B2 (en) * 2003-09-23 2006-07-18 The Johns Hopkins University Simultaneous time-domain and frequency-domain metal detector

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008304229A (ja) * 2007-06-05 2008-12-18 Univ Nihon 変位計測システム
JP2010533847A (ja) * 2007-07-19 2010-10-28 ツェットエフ フリードリヒスハーフェン アクチエンゲゼルシャフト 局所的な測定範囲におけるコイル配置構造
CN102176060A (zh) * 2011-01-25 2011-09-07 中国人民解放军国防科学技术大学 电感式接近开关传感器
CN103115634A (zh) * 2013-03-05 2013-05-22 上海兰宝传感科技股份有限公司 多线圈材料辨别型电感式传感器
CN103175551A (zh) * 2013-03-05 2013-06-26 上海兰宝传感科技股份有限公司 衰减系数为1的电感式传感器
CN103175551B (zh) * 2013-03-05 2015-06-24 上海兰宝传感科技股份有限公司 衰减系数为1的电感式传感器
CN103115634B (zh) * 2013-03-05 2015-07-08 上海兰宝传感科技股份有限公司 多线圈材料辨别型电感式传感器

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