JP2003133933A - 多光軸光電センサ - Google Patents

多光軸光電センサ

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多光軸光電センサ間に同期線を配線しなくて
も、多光軸光電センサ間での相互干渉を防止することが
できる多光軸光電センサを提供する。 【解決手段】 遮光検出タイミング信号Srの直前に設
けられた干渉光検出タイミング信号Siに基づいて干渉
光の検出を行なう。同一光軸の干渉光検出タイミングに
おいて、干渉光が連続して検出されると、休止期間tb
の時間を短く変更することにより、遮光検出タイミング
信号のパルス位置をずらして干渉光のパルスと時間軸上
での重複を回避して相互干渉を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばプレス装置
への侵入検出等に用いられる多光軸光電センサに係わ
り、特に干渉光による誤動作の防止を図ったものに関す
る。
【0002】
【従来の技術】この種の多光軸光電センサとして、例え
ば特許第2911369号公報に開示されているものが
ある。このものは、複数の投光素子が備えられた投光器
と各投光素子に対応して複数の受光素子を備えた受光器
とが対向して配置されており、それぞれの投光素子と受
光素子とが光軸を構成している。投光器に備えられた投
光素子は所定の投光タイミングにて順次投光される投光
スキャン動作を繰り返し行い、これと光軸を構成する受
光素子からの受光信号に基づいて光軸の遮光を検出し
て、検出エリア内への物体侵入を検知するものである。
【0003】ところで、より広い領域で物体の侵入を検
出すべく複数台の多光軸光電センサを設置することがあ
り、図6に示すように多光軸光電センサ同士が近接した
状態に配されることがある。このような場合、例えば上
方に設置されている多光軸光電センサ61のいずれかの
光軸が遮光検出を行なっているときに、下方に設置され
ている多光軸光電センサ62から投光された光が、上方
の多光軸光電センサ61の受光素子に干渉光として入射
することがある。すると、上方の多光軸光電センサ61
の光軸が遮光されているのに、下方の多光軸光電センサ
62からの光が干渉光として入射するために光軸の遮光
状態を検出できないという誤動作を生じさせてしまうこ
とになる。
【0004】このような誤動作を防止するには、近接す
る多光軸光電センサ間では投光タイミングが重複しない
ように、投光スキャン動作を制御する必要がある。これ
には、2つの多光軸光電センサ61,62の内、一方を
マスター局、他方をスレーブ局としてマスター局からス
レーブ局に同期信号を送出し、スレーブ局ではマスター
局とは異なる位相で投光スキャン動作が行われるように
する同期方式を採用することが一般的である。このよう
にすると、一方の多光軸光電センサ61における投光素
子の点灯時に、他方の多光軸光電センサ62では受光信
号の検出を行なわないから、誤動作を防止できるという
利点がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような同期方式を採用すると、その配線作業が煩わし
く、設置に伴う作業工数が多くなるという問題がある。
また、この種の多光軸光電センサでは、一般に、いずれ
の投光素子も点灯させていないタイミングで受光素子に
受光信号が現れるか否かを検出して、干渉光の有無を判
断する干渉光検出動作を行うようにしていることが多
い。すると、同期方式で万一同期が外れて偶然に干渉光
の検出タイミングと一致してしまうと、もともと同一周
期で投光スキャン動作が行われているから、周期的に干
渉光が検出されることになり、センサ異常と判断されて
しまうことがある。
【0006】本発明は上記のような事情に基づいて完成
されたものであって、多光軸光電センサ間に同期線を配
線しなくても、多光軸光電センサ間での相互干渉を防止
することができる多光軸光電センサを提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの手段として、請求項1の発明は、複数の投光素子
と、各投光素子に対向して複数の光軸を構成するように
設けられた複数の受光素子と、前記投光素子群を所定の
タイミングで順次点灯させる投光スキャン動作を所定の
周期で繰り返させる投光制御手段と、前記各受光素子か
らの受光信号を、それと対向して前記光軸を形成する投
光素子の点灯タイミングに一致させて検出することによ
り前記光軸における遮光状態を検出する遮光検出手段
と、いずれの前記投光素子も点灯されていない時期にお
いて前記受光素子からの受光信号に基づいて干渉光の存
在を検出する干渉光検出手段とを備え、この干渉光検出
手段によって干渉光が検出されたときには前記投光制御
手段における前記投光スキャン動作の開始タイミングを
異ならせるようにしたところに特徴を有する。
【0008】請求項2の発明は、請求項1に記載のもの
において、前記干渉光検出手段によって干渉光が検出さ
れたときには投光スキャン動作の開始タイミングを、前
記投光素子の点灯間隔の半分に相当する時間ずらすとこ
ろに特徴を有する。
【0009】
【発明の作用及び効果】<請求項1の発明>例えば、多
光軸光電センサ同士を近接して設置した場合、投光タイ
ミングの周期が同一だと、一方の多光軸光電センサの投
光タイミングと他方の多光軸光電センサの投光タイミン
グとが時間軸上に重複して相互干渉が発生する場合があ
る。本発明の多光軸光電センサでは、いずれの投光素子
も点灯されていない時期受光信号からの受光信号がある
と、干渉光検出手段がこれに基づき干渉光が検出され
る。そして、その干渉光が検出されたときには、投光制
御手段の投光スキャン動作の開始タイミングを異ならせ
る。この結果、双方の多光軸光電センサの投光タイミン
グが重複しなくなり、相互干渉を防止することが可能と
なる。
【0010】<請求項2の発明>投光スキャン動作の開
始タイミングが、投光素子の点灯間隔の半分に相当する
時間ずらされると、互いの投光タイミングの時間的な位
置関係は最も離隔することになる。これによって、相互
干渉のおそれを確実に回避することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態を図1ないし
図5によって説明する。本実施形態の多光軸光電センサ
1は図1に示すように、投光器2と受光器3とを対向さ
せた状態で構成され、例えば、4チャンネルの光軸Lを
有する。投光器2のうち受光器3と対向する面には、各
チャンネル毎に1個(計4個)のLED21a〜21d
が上下方向に一列に配置され、受光器3のうち投光器2
と対向する面にはLED21a〜21dと対をなすフォ
トダイオード31a〜31d(PD31a〜31dと称
する)が同じく上下方向に配されている。従って、LE
D21a〜21dは投光素子に相当し、PD31a〜3
1dは投光素子と対となって光軸を構成する受光素子に
相当する。また、図1中の下方には多光軸光電センサ1
0が近接して配置されている。
【0012】図2には、本実施形態の多光軸光電センサ
1の電気的構成を示す。投光器2にはLED21a〜2
1dを点灯させるための駆動回路22a〜22dが備え
られ、各駆動回路22a〜22dはAND回路23a〜
23dからの信号を受けるとLED21a〜21dに駆
動電流を供給する。AND回路23a〜23dにはシフ
トレジスタ24及び投光側CPU25からの出力信号が
入力され、双方からの信号が入力されると駆動回路23
a〜23dに信号を送出するようになっている。投光側
CPU25は後述する受光器3に備えられた受光側CP
U35から投光タイミング信号Stを受けとり、この投
光タイミング信号Stをシフトレジスタ24及びAND
回路23a〜23dに出力する。
【0013】この投光タイミング信号Stは所定周期の
パルス信号であって、LED21a〜21dの点灯タイ
ミングを決定するために受光側CPU35によって生成
される。投光タイミング信号Stの1周期(長さT)内
には4個のパルスが時間taを空けて等間隔に発生し、
4番目のパルスの後、所定長さの休止期間tbが設けら
れている。これにより、4個のLED21a〜21dが
上から下へと順次点灯される投光スキャン動作が周期T
毎に繰り返し行なわれる。従って、AND回路23a〜
23d、シフトレジスタ24、投光側CPU25及び受
光側CPU35が投光素子群を所定のタイミングで順次
点灯させる投光制御手段を構成する。
【0014】一方、受光器3には、PD31a〜31d
からの受光信号を所定の増幅率で増幅する受光アンプ3
2a〜32dがそれぞれ備えられている。受光アンプ3
2a〜32dから出力される受光信号はアナログスイッ
チ33a〜33dを介し、共通の信号線にまとめられて
コンパレータ34に取り込まれる。この受光信号がコン
パレータ34に設定されている基準値を上回ると受光側
CPU35に入光検出信号Sdが入力され、入光したこ
とが検出される。
【0015】受光側CPU35は前述の投光タイミング
信号Stと周期及び位相が一致した遮光検出タイミング
信号Srと、この遮光検出タイミング信号Srよりも位
相が僅かに進んだ干渉光検出タイミング信号Siとをシ
フトレジスタ36に送出している。受光側CPU35か
ら遮光検出タイミング信号Sr及び干渉光検出タイミン
グ信号Siを受けたシフトレジスタ36は、これに接続
された各アナログスイッチ33a〜33dをオン状態に
するためのゲート制御信号をアナログスイッチ33aか
らアナログスイッチ33dへと順次送出し、各PD31
a〜31dからの受光信号をコンパレータ34に入力さ
れる。すると、遮光検出タイミング信号Srが送出され
たときには、各LED21a〜21dが点灯状態にある
から、コンパレータ34からの入光検出信号の有無によ
って遮光検出が行なわれ、干渉光検出タイミング信号S
iが送出されたときには、LED21a〜21dが非点
灯状態であるから、コンパレータ34からの入光検出信
号の有無によって干渉光の検出が行なわれる。
【0016】以下、受光側CPU35の動作について図
3〜図5をも参照して説明する。まず、多光軸光電セン
サ1の電源をオンすると、図2に示すように受光側CP
U35は投光側CPU25に投光タイミング信号Stを
送出して、投光スキャン動作を周期Tで繰り返し行なわ
せる。また、受光側CPU35は、遮光検出タイミング
信号Sr及び干渉光検出タイミング信号Siをシフトレ
ジスタ36に送出してアナログスイッチ33a〜33d
を順次オン状態にさせ、各PD31a〜31dからの受
光信号をコンパレータ34に入力して遮光検出及び干渉
検出を行なう。
【0017】<遮光検出>図3のタイムチャートにおい
て遮光検出タイミング信号Srのレベルがハイレベル
(H)であるときには図4に示す遮光検出ルーチンが実
行される。例えば、光軸を遮る物体がない場合には各P
D31a〜31dにはLED21a〜21dからの光が
入光するため、全てのPD31a〜31dの遮光検出に
おいてコンパレータ34から入光検出信号が受光側CP
U35に出力される。従って、受光側CPU35は全て
のPD31a〜31dが入光状態であると判断する(ス
テップS41でNo)。ここで、PD31aから構成さ
れる光軸が物体によって遮られた場合、PD31aが接
続されているアナログスイッチ33aをオン状態にして
も、コンパレータ34からは入光検出信号が出力されず
非入光状態と判断し(ステップS41でYes)遮光検
出のカウントがされる(ステップS42)。PD31b
〜31dについてはLED21b〜21dからの光が入
射するためステップS41でNoとなる。そして、次の
周期となって、繰り返しPD31a〜31dの遮光検出
が行なわれる。PD31aの遮光検出時では、コンパレ
ータ34から入光検出信号が出力されないため非入光状
態と判断される(ステップS41でYes)。すると、
遮光検出のカウントが追加され(ステップS42)、P
D31aから構成される光軸について2回連続して遮光
状態であると判断されるので(ステップS43でYe
s)、出力回路37に信号を送出して(ステップS4
4)遮光状態であることの処理を行なわせる。尚、最下
段のPD31dについての遮光検出が終了すると(ステ
ップS45でYes)遮光検出のカウントがリセットさ
れ、再び上記動作が繰り返される。これより、アナログ
スイッチ33a〜33d、コンパレータ34、受光側C
PU35及びシフトレジスタ36が各光軸における遮光
状態を検出する遮光検出手段として機能することが明ら
かとなる。
【0018】<干渉光検出>一方、干渉光検出タイミン
グ信号SiのレベルがHであるときには図5に示す干渉
光検出ルーチンが実行される。通常は、多光軸光電セン
サ1の遮光検出タイミング信号Srと他の多光軸光電セ
ンサ10の遮光検出タイミング信号は非同期で位相がず
れているから、多光軸光電センサ1の遮光検出タイミン
グに多光軸光電センサ10の投光素子からの光は入射し
ない(図3中の期間Aに相当する)。従って、干渉光検
出タイミングにおいて、各PD31a〜31dからの受
光信号がアナログスイッチ33a〜33dによって順次
有効化されてもコンパレータ34からは入光検出信号は
出力されないため、いずれのPD31a〜31dについ
ても非入光状態と判断して(ステップS51でNo)、
結局、干渉光が入射したと判断されない。
【0019】逆に、各多光軸光電センサ1,10はそれ
ぞれ独立して動作しているため、例えば、多光軸光電セ
ンサ10の遮光検出タイミングが遅れることによって多
光軸光電センサ1の遮光検出タイミングに近づいてい
き、やがて、多光軸光電センサ1の干渉光検出タイミン
グと時間軸上で重複することがある。すると、多光軸光
電センサ1が干渉光検出タイミングとなっているときに
多光軸光電センサ10の投光素子からの光が入射する
(図3中の期間Bに相当する)。まず、最上段の光軸に
あるPD31aに干渉光が入射したと判断され(ステッ
プS51でYes)、入光検出がカウントされる(ステ
ップS52)。続いて、次の光軸にあるPD31bにつ
いても同様に光が入射していると判断され(ステップS
51でYes)、入光検出のカウントがされる(ステッ
プS52)。以降、PD31c、31dについても同様
に光が入射していると判断される(ステップS51でY
es、ステップS52)。そして、再び、PD31a〜
31dについての干渉光検出が行なわれ、最下段のPD
31dについての干渉光検出が終了したところで(ステ
ップS53でYes)、各光軸について干渉光検出のカ
ウントから干渉光入射の判断をする。結局、いずれの光
軸も2回カウントされているので干渉光が入射したと判
断される(ステップS54でYes)。すると、次の干
渉光検出タイミング信号Siのパルスが発生するまでの
休止期間tbが遮光検出タイミング信号Srの隣接する
パルス間の時間taの半分だけ短縮され休止期間tcと
なる(ステップS55)。これによって遮光検出タイミ
ング信号Srのパルス列が休止期間tbを短縮していな
い場合の遮光検出タイミング信号(図中最上段)のパル
ス列と比べて図3の左方向にずれることになる。また、
上記動作から明らかなように、アナログスイッチ33a
〜33d、コンパレータ34、受光側CPU35及びシ
フトレジスタ36は投光制御手段の投光スキャン動作の
開始タイミングを異ならせる干渉光検出手段として機能
する。
【0020】このように、本実施形態の多光軸光電セン
サ1によれば、干渉光検出において、同一の光軸につい
て光が2回連続して入射すると、休止期間tbを遮光検
出タイミング信号Srの隣接するパルス間の時間taの
半分の時間に相当する時間だけ短くする。この結果、他
の多光軸光電センサ10から出射される周期的な干渉光
であれば、以降の遮光検出タイミングと干渉光とは時間
軸上において最も離隔した位置関係となり、干渉光の入
射を回避して相互干渉を確実に防止することができる。
また、他の多光軸光電センサ10とは独立して動作して
いるために、他の多光軸光電センサ10と同期をとるた
めの同期線が必要なく、配線の取りまわしを簡略化する
ことも可能となる。
【0021】<他の実施形態>本発明は上記記述及び図
面によって説明した実施形態に限定されるものではな
く、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に
含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内
で種々変更して実施することができる。 (1)上記実施形態では、同一の光軸について干渉光が
2回連続で検出されたことを条件に休止期間を短く変更
していたが、例えば、干渉光が1回又は連続して3回以
上検出されたことを条件に休止期間T2を変更するよう
にしてもよい。
【0022】(2)休止期間tbを短く変更することに
限らず、長く変更することも可能であり、また、遮光検
出タイミング信号のパルス間の間隔taを変更するよう
にしても同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】多光軸光電センサの構成斜視図
【図2】多光軸光電センサの電気的構成を示す回路図
【図3】多光軸光電センサの動作を示すタイムチャート
【図4】遮光検出ルーチンのフローチャート
【図5】干渉光検出ルーチンのフローチャート
【図6】従来の多光軸光電センサの構成斜視図
【符号の説明】
21a〜21d…LED 25…投光側CPU 31a〜31d…PD 33a〜33d…アナログスイッチ 34…コンパレータ 35…受光側CPU 36…シフトレジスタ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の投光素子と、各投光素子に対向し
    て複数の光軸を構成するように設けられた複数の受光素
    子と、前記投光素子群を所定のタイミングで順次点灯さ
    せる投光スキャン動作を所定の周期で繰り返させる投光
    制御手段と、前記各受光素子からの受光信号を、それと
    対向して前記光軸を形成する投光素子の点灯タイミング
    に一致させて検出することにより前記光軸における遮光
    状態を検出する遮光検出手段と、いずれの前記投光素子
    も点灯されていない時期において前記受光素子からの受
    光信号に基づいて干渉光の存在を検出する干渉光検出手
    段とを備え、この干渉光検出手段によって干渉光が検出
    されたときには前記投光制御手段における前記投光スキ
    ャン動作の開始タイミングを異ならせるようにしたこと
    を特徴とする多光軸光電センサ。
  2. 【請求項2】 前記干渉光検出手段によって干渉光が検
    出されたときには投光スキャン動作の開始タイミング
    を、前記投光素子の点灯間隔の半分に相当する時間ずら
    すことを特徴とする請求項1記載の多光軸光電センサ。
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