JP2003122022A - Developing device - Google Patents

Developing device

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JP2003122022A
JP2003122022A JP2002233337A JP2002233337A JP2003122022A JP 2003122022 A JP2003122022 A JP 2003122022A JP 2002233337 A JP2002233337 A JP 2002233337A JP 2002233337 A JP2002233337 A JP 2002233337A JP 2003122022 A JP2003122022 A JP 2003122022A
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glass substrate
developing solution
holding
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Kazuhiko Murata
和彦 村田
Tsutae Omori
伝 大森
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Tokyo Electron Ltd
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  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device and method for development which can suppress the production of mist and apply a sufficient impulsive force to a substrate with a developer, and further perform uniform development by jetting the developer uniformly to the entire surface of the substrate. SOLUTION: A developer jetting mechanism 53 is fitted with a plurality of spray nozzles 69 on a horizontally arranged holding rod 68. The respective spray nozzles 69 draw flow shapes which succeed downward in a curtain shape and jet the conically spreading developers. The developers jetted by those nozzles 69 overlap among the adjacent spray nozzles 69 and each developer is jetted so that one extends nearly to a corner part (1) of a glass substrate G and the other extends almost to the center part (2) of the long side of the glass substrate G.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶カラー
ディスプレイにおけるカラーフィルタ用の基板を現像す
る現像装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a developing device for developing a substrate for a color filter in a liquid crystal color display, for example.

【従来の技術】液晶カラーディスプレイにおけるカラー
フィルタでは、ガラス基板上にR,G,Bの着色パター
ンを形成する必要がある。このような着色パターンは、
例えばフォトリソグラフィ法によって形成される。その
一例として、R,G,Bそれぞれについて感光性樹脂か
らなる着色樹脂が用いられ、塗布−露光−現像の処理工
程をR,G,Bについて3回繰り返してパターンが形成
される。ところで、上記の現像処理工程においては、感
光性樹脂のうち未露光部分を現像液で除去してパターン
を形成する、ネガタイプの現像処理が行われるため、化
学的な反応による処理に加えて機械的な衝撃、例えば基
板に対して現像液を高圧で噴出することが要求される。
このため、基板上に現像液を供給する方法として、ポン
プ等で加圧した現像液を噴霧状にして基板上に吹き付け
るシャワー方式を用いることが考えられる。
2. Description of the Related Art In a color filter for a liquid crystal color display, it is necessary to form R, G, B colored patterns on a glass substrate. Such a coloring pattern
For example, it is formed by a photolithography method. As an example, a colored resin made of a photosensitive resin is used for each of R, G, and B, and a coating-exposure-developing process is repeated three times for R, G, and B to form a pattern. By the way, in the above-mentioned development processing step, a negative type development processing is performed in which an unexposed portion of the photosensitive resin is removed with a developing solution to form a pattern. For example, it is required to eject the developing solution at a high pressure onto the substrate.
Therefore, as a method of supplying the developing solution onto the substrate, it is conceivable to use a shower system in which the developing solution pressurized by a pump or the like is atomized and sprayed onto the substrate.

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シャワ
ー方式を使って現像液を高圧で噴霧した場合、現像液が
雰囲気中に漂ってミストの原因になる、という課題があ
る。また、一方、ミストの発生を抑えるために低圧で現
像液を噴霧した場合、基板に十分な衝撃力を与えること
ができず、パターン不良や現像不良の原因になる、とい
う課題もある。このようなパターン不良や現像不良は、
基板全体で均一に現像液が吐出されず均一に現像されて
いないことも原因の1つとして挙げられる。本発明は上
記のような課題を解決するためになされたもので、現像
液によって基板に対して十分な衝撃力を与えつつ、ミス
トの発生を抑えることができ、しかも基板全面に均一に
現像液を吐出することができる現像装置を提供すること
を目的としている。
However, when the developer is sprayed at a high pressure using the shower method, there is a problem that the developer drifts in the atmosphere and causes mist. On the other hand, when the developing solution is sprayed at a low pressure in order to suppress the generation of mist, a sufficient impact force cannot be applied to the substrate, which causes a pattern defect or a development defect. Such pattern defects and development defects are
One of the causes is that the developing solution is not uniformly discharged on the entire substrate and is not uniformly developed. The present invention has been made in order to solve the above problems, and can suppress the generation of mist while giving a sufficient impact force to a substrate by a developing solution, and further, to uniformly develop the developing solution on the entire surface of the substrate. It is an object of the present invention to provide a developing device capable of ejecting.

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、本発明に係る現像装置は、矩形基板を保持しつつ回
転する保持回転手段と、前記保持回転手段により回転さ
れる基板表面に対し、カーテン状に連続する流形を描く
ように、かつ、円錐状に広がるように現像液を吐出する
複数のノズルとを具備し、前記複数のノズルより吐出さ
れた現像液が隣接するノズル間で相互に重なるように一
直線上に配置され、前記複数のノズルより現像液が吐出
される範囲が、一方が前記基板のほぼ角部に及び、他方
が前記基板の一辺のほぼ中央部に及ぶものである。本発
明では、矩形の基板表面に対し、カーテン状に連続する
流形を描くように現像液を吐出しているので、現像液が
雰囲気中に霧状に漂うようなことはなくなり、ミストの
発生を抑えることができる。またこのような噴出に加え
て基板を回転させながら現像液を吐出しているので、現
像液によって基板に対して十分な衝撃力を与えることが
できるようになる。また、本発明では、各ノズルが現像
液を円錐状に広がるように吐出し、これらノズルより吐
出された現像液が隣接するノズル間で相互に重なるよう
に一直線上に配置されているので、現像液によって基板
に対して平均的で、かつ、より強い衝撃力を与えること
ができる。さらに本発明では、複数のノズルより現像液
が吐出される範囲が、一方が前記基板のほぼ角部に及
び、他方が前記基板の一辺のほぼ中央部に及ぶようにし
ているので、回転する矩形の基板全面に対して均一に現
像液を吐出することができ、現像液の無駄をなくすこと
ができる。例えばノズルの形態が角部から角部まで液を
供給するものである場合、基板がない領域に吐出された
液はそのままミストとなるが、本発明によればそのよう
なミストの発生を極力抑えることができる。本発明の一
の形態は、前記保持回転手段により保持された基板表面
に対し、カーテン状に連続する流形を描くように、か
つ、円錐状に広がるように洗浄液を高圧で噴出する高圧
洗浄手段をさらに具備するものである。このように洗浄
液を噴出することにより、基板上の残さ等を連続的な処
理によって効率的に除去できる。本発明の一の形態は、
前記複数のノズルが、1.5〜2.5(kg/cm・c
m)の吐出圧で現像液を吐出する。現像液の吐出圧を
1.5〜2.5(kg/cm・cm)としたので、必要
にして十分な現像を行うことができる。即ち、1.5
(kg/cm・cm)より小さい場合には、現像液によ
って基板に対して十分な衝撃力を与えることができず、
2.5(kg/cm・cm)より大きい場合には、ミス
トが多くなり、また必要以上の衝撃力となる。本発明の
一の形態は、前記保持回転手段が、200〜300(r
pm)の速度で基板を回転する。基板を200〜300
(rpm)の速度で回転したので、必要にして十分な現
像を行うことができる。即ち、200(rpm)より小
さい場合には、現像液によって基板に対して十分な衝撃
力を与えることができず、300(rpm)より大きい
場合には、ミストが多くなり、また必要以上の衝撃力と
なる。本発明に係る現像方法は、矩形基板を回転させな
がら、基板表面に対し、カーテン状に連続する流形を描
くように、かつ、円錐状に広がるように現像液を吐出す
る現像方法であって、現像液が吐出される範囲が、一方
が基板のほぼ角部に及び、他方が基板の一辺のほぼ中央
部に及ぶものである。本発明の一の形態は、前記基板表
面に対して現像液を吐出した後に、カーテン状に連続す
る流形を描くように、かつ、円錐状に広がるように洗浄
液を高圧で噴出するものである。本発明の一の形態は、
前記基板表面に対し洗浄液を高圧で噴出した後に、前記
基板表面に対しリンス液を供給するものである。本発明
の一の形態は、前記基板表面に対しリンス液を供給した
後に、基板を回転させて振り切り乾燥するものである。
本発明の別の観点に係る現像方法は、矩形基板を保持し
つつ回転する保持回転手段と、この保持回転手段で保持
された基板を支持する複数の支持ピンとを有し、前記保
持回転手段に保持された基板を回転させた状態で、少な
くとも前記矩形基板の中心部と周縁の一部との間に現像
液を連続的に所定の圧力で供給して現像処理を行う工程
と、前記保持回転手段で及び前記複数の支持ピンで支持
された前記矩形基板を静止した状態で、前記矩形基板の
短手方向を覆うようにかつ前記矩形基板の長手方向に走
査するように洗浄液を連続的に前記現像液を供給する圧
力より大きい圧力で供給して洗浄処理を行う工程とを有
する。本発明の一の形態は、前記現像処理を行う工程と
前記洗浄処理を行う工程とで前記矩形基板を支持する領
域が異なる。本発明の一の形態は、前記現像処理を行う
工程と前記洗浄処理を行う工程とで前記矩形基板の側方
に面する容器が異なる。
In order to solve such a problem, a developing device according to the present invention is configured so that a holding / rotating means for rotating while holding a rectangular substrate and a substrate surface rotated by the holding / rotating means. A plurality of nozzles for ejecting the developing solution so as to draw a continuous flow in a curtain shape and to spread in a conical shape, and the developing solutions ejected from the plurality of nozzles are mutually adjacent to each other. Are arranged in a straight line so that the developing solution is discharged from the plurality of nozzles, one of which extends substantially at a corner of the substrate and the other of which extends substantially at the center of one side of the substrate. . In the present invention, since the developing solution is discharged onto the surface of a rectangular substrate so as to draw a continuous flow in a curtain shape, the developing solution does not drift like mist in the atmosphere, and mist is generated. Can be suppressed. Further, in addition to such jetting, the developing solution is discharged while rotating the substrate, so that the developing solution can give a sufficient impact force to the substrate. Further, in the present invention, since each nozzle ejects the developing solution so as to spread in a conical shape, and the developing solutions ejected from these nozzles are arranged in a straight line so as to overlap each other between adjacent nozzles, The liquid can give an average and stronger impact force to the substrate. Further, according to the present invention, the developing solution is ejected from the plurality of nozzles so that one of the nozzles extends substantially at a corner of the substrate and the other of the nozzles extends substantially at the center of one side of the substrate. The developing solution can be uniformly ejected onto the entire surface of the substrate, and waste of the developing solution can be eliminated. For example, when the nozzle is configured to supply the liquid from the corners to the corners, the liquid discharged to the region without the substrate becomes mist as it is, but according to the present invention, the generation of such mist is suppressed as much as possible. be able to. One mode of the present invention is a high-pressure cleaning means for ejecting a cleaning liquid at a high pressure so as to draw a continuous flow in a curtain shape and spread in a conical shape on the surface of the substrate held by the holding and rotating means. Is further provided. By jetting the cleaning liquid in this manner, the residue on the substrate can be efficiently removed by continuous processing. One aspect of the present invention is
The plurality of nozzles are 1.5 to 2.5 (kg / cm · c
The developer is discharged with the discharge pressure of m). Since the discharge pressure of the developing solution is set to 1.5 to 2.5 (kg / cm · cm), necessary and sufficient development can be performed. That is, 1.5
If it is smaller than (kg / cm · cm), the developer cannot give sufficient impact force to the substrate,
If it is greater than 2.5 (kg / cm · cm), the mist will increase and the impact force will be unnecessarily high. In one aspect of the present invention, the holding / rotating means is 200 to 300 (r
The substrate is rotated at a speed of pm). Substrate 200-300
Since it was rotated at a speed of (rpm), necessary and sufficient development can be performed. That is, if it is less than 200 (rpm), sufficient impact force cannot be applied to the substrate by the developing solution, and if it is more than 300 (rpm), mist increases and more impact than necessary. Become power. A developing method according to the present invention is a developing method in which a rectangular substrate is rotated and a developing solution is discharged so as to draw a continuous stream in a curtain shape and spread in a conical shape on a substrate surface. The developing solution is ejected in such a manner that one of them extends to a substantially corner portion of the substrate and the other extends to a substantially central portion of one side of the substrate. According to one aspect of the present invention, after the developing solution is discharged onto the surface of the substrate, the cleaning solution is jetted at a high pressure so as to draw a continuous flow in a curtain shape and spread in a conical shape. . One aspect of the present invention is
The cleaning liquid is sprayed onto the surface of the substrate at a high pressure, and then the rinse liquid is supplied to the surface of the substrate. According to one aspect of the present invention, after the rinse liquid is supplied to the surface of the substrate, the substrate is rotated and shaken off to dry.
A developing method according to another aspect of the present invention includes a holding and rotating unit that rotates while holding a rectangular substrate, and a plurality of support pins that support the substrate held by the holding and rotating unit. A step of performing a developing process by continuously supplying a developing solution at a predetermined pressure between at least a central portion and a part of a peripheral edge of the rectangular substrate while the held substrate is rotated; Means and while the rectangular substrate supported by the plurality of support pins is stationary, the cleaning liquid is continuously applied so as to cover the lateral direction of the rectangular substrate and scan in the longitudinal direction of the rectangular substrate. A step of supplying the developing solution at a pressure higher than the pressure for supplying the developing solution to perform the cleaning process. According to one aspect of the present invention, a region for supporting the rectangular substrate is different between the step of performing the developing process and the step of performing the cleaning process. In one embodiment of the present invention, the container facing the side of the rectangular substrate is different between the step of performing the developing process and the step of performing the cleaning process.

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき説明する。図1は本発明の一実施形態に係る塗
布・現像処理システムの斜視図である。図1に示すよう
に、この塗布・現像処理システム1の前方には、基板、
例えばカラーフィルタ用のガラス基板Gを、塗布・現像
処理システム1に対して搬出入するローダ・アンローダ
部2が設けられている。このローダ・アンローダ部2に
は、ガラス基板Gを例えば25枚ずつ収納したカセット
Cを所定位置に整列させて載置させるカセット載置台3
と、各カセットCから処理すべきガラス基板Gを取り出
し、また塗布・現像処理システム1において処理の終了
したガラス基板Gを各カセットCへ戻すローダ・アンロ
ーダ4が設けられている。図示のローダアンローダ4
は、本体5の走行によってカセットCの配列方向に移動
し、本体5に搭載された板片状のピンセット6によって
各カセットCからガラス基板Gを取り出し、また各カセ
ットCへガラス基板Gを戻すようになっている。また、
ピンセット6の両側には、ガラス基板Gの四隅を保持し
て位置合わせを行う基板位置合わせ部材7が設けられて
いる。塗布・現像処理システム1の中央部には、長手方
向に配置された廊下状の搬送路10、11が第1の受け
渡し部12を介して一直線上に設けられており、この搬
送路10、11の両側には、ガラス基板Gに対する各処
理を行うための各種処理装置が配置されている。図示の
塗布・現像処理システム1にあっては、搬送路10の一
側方に、ガラス基板Gをブラシ洗浄すると共に、高圧ジ
ェット水により洗浄を施すスクラバユニット16が例え
ば2台並設されている。また、搬送路10を挟んで反対
側に、二基の現像装置17が並設され、その隣りに二基
の加熱装置18が積み重ねて設けられている。また、搬
送路11の一側方に、冷却用のクーリング装置20が2
段に配置されている。また、これらクーリング装置20
の隣には加熱装置22が二列に二個ずつ積み重ねて配置
されている。また、搬送路11を挟んで反対側に、ガラ
ス基板Gに感光性樹脂からなる着色樹脂を塗布すること
によってガラス基板Gの表面に感光性樹脂からなる着色
樹脂膜を形成する2台の塗布装置23が並設されてい
る。図示はしないが、これら塗布装置23の側部には、
第2の受け渡し部28を介し、ガラス基板G上に形成さ
れた感光性樹脂からなる着色樹脂膜に所定の微細パター
ンを露光するための露光装置等が設けられる。第2の受
け渡し部28は、ガラス基板Gを搬入および搬出するた
めの搬出入ピンセット29および受け渡し台30を備え
ている。以上の各処理装置15〜18および20〜23
は、何れも搬送路10、11の両側において、ガラス基
板Gの出入口を内側に向けて配設されている。第1の搬
送装置25がローダ・アンローダ部2、各処理装置15
〜18および第1の受け渡し部12との間でガラス基板
Gを搬送するために搬送路10上を移動し、第2の搬送
装置26が第1の受け渡し部12、第2の受け渡し部2
8および各処理装置20〜23との間でガラス基板Gを
搬送するために搬送路26上を移動するようになってい
る。各搬送装置25、26は、それぞれ上下一対のアー
ム27、27を有しており、各処理装置15〜18およ
び20〜23にアクセスするときは、一方のアーム27
で各処理装置のチャンバから処理済みのガラス基板Gを
搬出し、他方のアーム27で処理前のガラス基板Gをチ
ャンバ内に搬入するように構成されている。図2は上記
現像装置17の正面図、図3はその平面図である。図2
及び図3に示すように、現像装置17の中心部には、駆
動モータ31によって回転可能でかつ上下動可能に構成
されたスピンチャック32が設けられている。このスピ
ンチャック32の上面は、真空吸着等によってガラス基
板Gを水平状態に吸着保持するように構成されている。
このスピンチャック32の下方には下容器33が配置さ
れている。また、スピンチャック32の外周を囲うよう
に外カップ34が配置され、下容器33と外カップ34
の間には内カップ35が配置されている。外カップ34
と内カップ35とは連結部材36により連結され、これ
ら外カップ34及び内カップ35は制御部37の指令に
基づき昇降シリンダ38により昇降されるようになって
いる。外カップ34及び内カップ35の上部はそれぞれ
上に行くに従って狭くなるように内側に傾斜して設けら
れており、外カップ34の上端開口部の直径は内カップ
35のそれよりも大きく、かつ、これらの上端開口部の
直径はガラス基板Gを水平状態にしたままでカップ内に
下降させて収容できる大きさに形成されている。下容器
33は、中心部から外に向かって下方向に傾斜する傾斜
部39と、その外周に配置された受け皿部40とを備え
る。傾斜部39には、ガラス基板Gの裏面を保持するた
めの支持ピン41が複数、例えば4本配置されている。
支持ピン41の先端の高さは、スピンチャック32に保
持されたガラス基板Gが最も低い位置に下降されたとき
に、支持ピン41の先端がガラス基板Gの裏面に当接す
る位置とされている。また、受け皿部40の底面には筒
状の起立壁42が設けられており、起立壁42は外カッ
プ34と内カップ35との間に介在される。また、内カ
ップ35の傾斜部は起立壁42を超えて起立壁42の外
周に延在している。これにより、内カップ35の傾斜部
を流れる流体は受け皿部40の起立壁42で仕切られた
外側室43に流れ込むようになっている。下容器33の
傾斜部39の裏面側には、カップ内を排気するための排
気口44が設けられており、排気口44には排気ポンプ
((図示を省略))が接続されている。受け皿部40の
起立壁42で仕切られた内側室45の下部には排液口4
6が形成されており、外側室43の下部にドレイン口4
7が形成されている。そして、排液口46に回収管48
を介して使用済み現像液を再生処理する再生処理機構4
9が接続されている。再生処理機構49は、気液分離す
る気液分離機構50と使用済み現像液中の不純物を除去
する不純物除去機構51とで構成され、現像液収容タン
ク52に接続されている。ドレイン口47は図示しない
回収タンクに接続されている。カップの上部一側方には
ガラス基板G表面に対し現像液を吐出するための現像液
吐出機構53が配置され、他側方にはガラス基板G表面
に対して洗浄液を高圧で噴出するための高圧洗浄機構5
4及びガラス基板G表面に対しリンス液を供給するため
のリンス液供給機構55が配置されている。また、カッ
プの上部の手前及び背後には搬送用レール56、57が
設けられている。現像液吐出機構53及び高圧洗浄機構
54にはそれぞれ搬送用モータ58、59が取り付けら
れており、制御部37による制御の基で搬送モータ5
8、59の駆動により現像液吐出機構53及び高圧洗浄
機構54が搬送用レール56、57に沿ってカップ内上
部に搬送されるようになっている。現像液吐出機構53
には、制御部37の制御の基、ポンプ62を介して現像
液収容タンク52より現像液が供給される。現像液吐出
機構53とポンプ62との間には、現像液を加温する加
温装置63が介挿されている。加温装置63は、例えば
雰囲気が23(°C)である場合には現像液を25〜2
7(°C)に加温する。これにより、現像速度を向上さ
せることができる。また、高圧洗浄機構54には、制御
部37の制御の基、ポンプ64を介して洗浄液タンク6
5より洗浄液が供給される。同様に、リンス液供給機構
55にも、制御部37の制御の基、ポンプ66を介して
リンス液タンク67よりリンス液が供給される。図4は
上記現像液吐出機構53の説明図であり、(a)は正面
図、(b)は平面的概念図である。図4に示すように、
現像液吐出機構53では、水平方向に配置された保持棒
68に複数、例えば5〜7個程度のスプレーノズル69
が取り付けられている。各スプレーノズル69は、図5
に示すように、吐出口70から水平に吐出された現像液
が対向面に設けられた傾斜壁面71に当り、下方向にカ
ーテン状に連続する流形を描き、かつ、円錐状に広がる
ように現像液を吐出するものである。また、これらスプ
レーノズル69より吐出された現像液が隣接するスプレ
ーノズル69間で相互に重なり、かつ、現像液が吐出さ
れる範囲が、一方がガラス基板Gのほぼ角部に及び、
他方がガラス基板Gの長辺のほぼ中央部に及ぶよう
に、スプレーノズル69、69間の間隔が設けられてい
る。このようなスプレーノズル69の構成により、回転
される基板全面に均一に現像液を吐出することができる
ので、現像不良を防止できるとともに現像液の無駄を防
止できる。各スプレーノズル69は、1.5〜2.5
(kg/cm・cm)、より好ましくは2.0(kg/
cm・cm)の吐出圧で現像液を吐出する。例えば、ス
プレーノズルの吐出圧が0.8(kg/cm・cm)の
時には30秒を経過してもガラス基板G全面の剥離がで
きなかたものが、2.0(kg/cm・cm)とするこ
とでこの時間内で全面剥離が可能となった。また、各ス
プレーノズル69とガラス基板Gとの間隔hは、50〜
100(mm)、より好ましくは75〜100(mm)
の範囲にされている。このような設定により現像速度を
速めることができる。さらに、現像時には、現像液吐出
機構53はガラス基板Gのほぼ中央で静止し、スピンチ
ャック32により保持されたガラス基板Gは200〜3
00(rpm)の速度で回転される。これにより、現像
液によってガラス基板Gに対して十分な衝撃力を与える
ことができる。図6は上記高圧洗浄機構54の説明図で
あり、(a)は正面図、(b)は平面的概念図である。
図6に示すように、高圧洗浄機構54では、水平方向に
配置された保持棒72に複数、例えば5〜7個程度の高
圧洗浄ノズル73が取り付けられている。各高圧洗浄ノ
ズル73は、円錐状に広がり、かつ、高圧洗浄ノズル7
3より吐出された洗浄液が隣接する高圧洗浄ノズル73
間で相互に重なりるように洗浄液を吐出するものであ
る。高圧スプレーノズル73からは例えば5(kg/c
m・cm)の吐出圧で洗浄液が吐出される。これによ
り、現像後のガラス基板G上の残さ等を十分に除去する
ことができる。洗浄時に、スピンチャック32によって
保持されたガラス基板Gは静止状態にあり、高圧洗浄機
構54はガラス基板Gの長手方向に走査される。これに
より、高圧洗浄機構54を短い長さとすることができ
る。図7は上記リンス液供給機構55の説明図であり、
(a)は正面図、(b)は平面的概念図である。図7に
示すように、リンス液供給機構55では、図示しない回
動機構によりアーム74が回動されることで、アーム7
4の先端に取り付けられたリンス液供給ノズル75がス
ピンチャック32によって保持されたガラス基板Gのほ
ぼセンタに位置するようになっている。リンス処理時
に、スピンチャック32によって保持されたガラス基板
Gは200〜300(rpm)程度で回転され、リンス
液供給ノズル75はガラス基板Gのほぼセンタで静止状
態にある。次に動作について説明する。図8は現像装置
17における処理フローを示している。図9に示すよう
に、現像装置17内に搬入され、スピンチャック32に
よって保持されたガラス基板Gは支持ピン41と当接し
ない位置まで下降され、外カップ34及び内カップ35
は最も高い位置まで上昇され、現像液吐出機構53はガ
ラス基板Gのほぼ中央まで搬送されて静止する。そし
て、スピンチャック32により保持されたガラス基板G
が回転され、現像液吐出機構53よりガラス基板Gに対
して現像液が吐出される(ステップ801)。なお、ガ
ラス基板Gの外周より飛び散る現像液は内カップ35の
内側に当り排液口46より回収され、再利用される。次
に、図10に示すように、スピンチャック32によって
保持されたガラス基板Gは支持ピン41と当接する位置
まで下降され、外カップ34及び内カップ35は最も低
い位置まで下降される。そして、スピンチャック32に
より保持されたガラス基板Gが静止状態とされ、高圧洗
浄機構54がガラス基板Gの長手方向に走査され、か
つ、高圧洗浄機構54よりガラス基板Gに対して洗浄液
が吐出される(ステップ802)。なお、ガラス基板G
の外周より飛び散る洗浄液は内カップ35と外カップ3
4との間を通ってドレイン口47より廃棄される。ま
た、高圧洗浄の際に、支持ピン41によってガラス基板
Gを裏面より支持しているので、ガラス基板Gが変形す
るようなことはない。次に、図11に示すように、スピ
ンチャック32によって保持されたガラス基板Gは支持
ピン41と当接しない位置まで上昇され、外カップ34
及び内カップ35は最も低い位置まで下降して状態とさ
れ、リンス液供給機構55がガラス基板Gのほぼセンタ
に搬送される。そして、スピンチャック32により保持
されたガラス基板Gが回転され、リンス液供給機構55
よりガラス基板Gに対してリンス液が供給される(ステ
ップ803)。なお、ガラス基板Gの外周より飛び散る
リンス液は内カップ35と外カップ34との間を通って
ドレイン口47より廃棄される。最後に、図11の状態
からリンス液供給機構55がカップ外へ搬送され、スピ
ンチャック32によって保持されたガラス基板Gが高速
回転されて振り切り乾燥が行われる(ステップ80
4)。以上のように、この実施の形態によれば、ガラス
基板Gに対してカーテン状に連続する流形を描くように
現像液を吐出しているので、現像液が雰囲気中に霧状に
漂うようなことはなくなり、ミストの発生を抑えること
ができる。また、その際、ガラス基板Gを回転させなが
ら現像液を吐出しているので、現像液によってガラス基
板Gに対して十分な衝撃力を与えることができ、現像不
良やガラス基板G表面に残さ等が残るようなことはなく
なる。さらに、本実施の形態のスプレーノズル69は、
その現像液が吐出される範囲が、一方が基板Gのほぼ角
部に及び、他方が基板Gの一辺のほぼ中央部に及ぶよう
にしているので、回転される基板全面に均一に現像液を
吐出することができ、現像不良を防止できるとともに現
像液の無駄を防止できる。また、これによりミストの発
生を極力抑えることができる。なお、本発明は上述した
実施の形態には限定されない。例えば、基板としてはカ
ラーフィルタ用のガラス基板Gばかりでなく、他のLC
D基板、その他現像が必要な基板についても本発明を当
然適用できる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a coating / developing processing system according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, in front of the coating / developing system 1, a substrate,
For example, a loader / unloader unit 2 for loading / unloading a glass substrate G for a color filter to / from a coating / developing processing system 1 is provided. The loader / unloader unit 2 has a cassette mounting table 3 on which the cassettes C each containing, for example, 25 glass substrates G are aligned and mounted at predetermined positions.
Further, there is provided a loader / unloader 4 for taking out the glass substrate G to be processed from each cassette C and returning the processed glass substrate G to each cassette C in the coating / developing processing system 1. Illustrated loader unloader 4
Moves in the arrangement direction of the cassettes C as the main body 5 travels, takes out the glass substrates G from each cassette C by the plate-like tweezers 6 mounted on the main body 5, and returns the glass substrates G to each cassette C. It has become. Also,
Substrate alignment members 7 that hold the four corners of the glass substrate G for alignment are provided on both sides of the tweezers 6. In the central portion of the coating / developing processing system 1, corridor-shaped transport paths 10 and 11 arranged in the longitudinal direction are provided in a straight line via a first transfer section 12, and these transport paths 10 and 11 are provided. Various processing devices for performing each processing on the glass substrate G are arranged on both sides of the. In the coating / developing processing system 1 shown in the figure, for example, two scrubber units 16 for brush-cleaning the glass substrate G and cleaning with high-pressure jet water are provided side by side on one side of the transport path 10. . Further, two developing devices 17 are arranged in parallel on the opposite side of the transport path 10 and two heating devices 18 are stacked next to each other. In addition, a cooling device 20 for cooling is installed on one side of the transport path 11.
It is arranged in columns. In addition, these cooling devices 20
The heating devices 22 are arranged next to each other by stacking two heating devices 22 in two rows. Further, two coating devices for forming a colored resin film made of a photosensitive resin on the surface of the glass substrate G by applying a colored resin made of a photosensitive resin to the glass substrate G on the opposite side with the transport path 11 interposed therebetween. 23 are juxtaposed. Although not shown, the side parts of these coating devices 23 are
An exposure device and the like for exposing a predetermined fine pattern to the colored resin film made of a photosensitive resin formed on the glass substrate G via the second transfer part 28 is provided. The second delivery unit 28 includes a loading / unloading tweezers 29 and a delivery table 30 for loading and unloading the glass substrate G. The above processing devices 15 to 18 and 20 to 23
Are arranged on both sides of the transport paths 10 and 11 with the entrance and exit of the glass substrate G facing inward. The first transfer device 25 is the loader / unloader unit 2, each processing device 15
To 18 and the first transfer unit 12, the second transfer device 26 moves on the transfer path 10 to transfer the glass substrate G, and the second transfer unit 26 transfers the first transfer unit 12 and the second transfer unit 2.
8 and each of the processing devices 20 to 23 are moved on the transfer path 26 to transfer the glass substrate G. Each of the transfer devices 25 and 26 has a pair of upper and lower arms 27 and 27, and one arm 27 is used when accessing each of the processing devices 15 to 18 and 20 to 23.
The processed glass substrate G is unloaded from the chamber of each processing apparatus, and the unprocessed glass substrate G is loaded into the chamber by the other arm 27. 2 is a front view of the developing device 17, and FIG. 3 is a plan view thereof. Figure 2
Further, as shown in FIG. 3, a spin chuck 32 configured to be rotatable and vertically movable by a drive motor 31 is provided at the center of the developing device 17. The upper surface of the spin chuck 32 is configured to suck and hold the glass substrate G in a horizontal state by vacuum suction or the like.
A lower container 33 is arranged below the spin chuck 32. An outer cup 34 is disposed so as to surround the outer circumference of the spin chuck 32, and the lower container 33 and the outer cup 34 are disposed.
An inner cup 35 is arranged between them. Outer cup 34
The inner cup 35 and the inner cup 35 are connected by a connecting member 36, and the outer cup 34 and the inner cup 35 are moved up and down by an elevating cylinder 38 based on a command from the controller 37. The upper portions of the outer cup 34 and the inner cup 35 are provided so as to be inclined inward so as to become narrower as they go upward, and the diameter of the upper end opening of the outer cup 34 is larger than that of the inner cup 35, and The diameters of these upper end openings are formed such that the glass substrate G can be lowered and accommodated in the cup while the glass substrate G is kept horizontal. The lower container 33 includes an inclined portion 39 that is inclined downward from the center toward the outside, and a saucer portion 40 arranged on the outer periphery thereof. A plurality of, for example, four support pins 41 for holding the back surface of the glass substrate G are arranged on the inclined portion 39.
The height of the tip of the support pin 41 is set to a position where the tip of the support pin 41 contacts the back surface of the glass substrate G when the glass substrate G held by the spin chuck 32 is lowered to the lowest position. . Further, a cylindrical standing wall 42 is provided on the bottom surface of the tray portion 40, and the standing wall 42 is interposed between the outer cup 34 and the inner cup 35. The inclined portion of the inner cup 35 extends beyond the standing wall 42 and extends to the outer periphery of the standing wall 42. As a result, the fluid flowing through the inclined portion of the inner cup 35 flows into the outer chamber 43 partitioned by the standing wall 42 of the tray 40. An exhaust port 44 for exhausting the inside of the cup is provided on the back surface side of the inclined portion 39 of the lower container 33, and an exhaust pump ((not shown)) is connected to the exhaust port 44. The drainage port 4 is provided in the lower part of the inner chamber 45 partitioned by the standing wall 42 of the saucer portion 40.
6 is formed, and the drain port 4 is formed in the lower part of the outer chamber 43.
7 are formed. Then, the recovery pipe 48 is attached to the drainage port 46.
Regeneration processing mechanism 4 for reprocessing used developer via
9 is connected. The regeneration processing mechanism 49 is composed of a gas-liquid separation mechanism 50 for gas-liquid separation and an impurity removal mechanism 51 for removing impurities in the used developer, and is connected to the developer storage tank 52. The drain port 47 is connected to a recovery tank (not shown). A developing solution ejecting mechanism 53 for ejecting a developing solution to the surface of the glass substrate G is arranged on one side of the upper part of the cup, and a cleaning solution is ejected to the surface of the glass substrate G on the other side at high pressure. High pressure cleaning mechanism 5
4 and a rinse liquid supply mechanism 55 for supplying a rinse liquid to the surface of the glass substrate G. In addition, rails 56 and 57 for transportation are provided in front of and behind the upper portion of the cup. Transport motors 58 and 59 are attached to the developer discharge mechanism 53 and the high-pressure cleaning mechanism 54, respectively, and the transport motor 5 is controlled under the control of the controller 37.
By driving 8 and 59, the developing solution discharge mechanism 53 and the high-pressure cleaning mechanism 54 are transported to the upper part of the cup along the transport rails 56 and 57. Developer discharging mechanism 53
Under the control of the controller 37, the developing solution is supplied from the developing solution storage tank 52 via the pump 62. A heating device 63 that heats the developing solution is inserted between the developing solution discharge mechanism 53 and the pump 62. For example, when the atmosphere is 23 (° C.), the heating device 63 supplies the developing solution with 25 to 2
Warm to 7 (° C). Thereby, the developing speed can be improved. Further, the high-pressure cleaning mechanism 54 is controlled by the controller 37, and the cleaning liquid tank 6 is supplied via the pump 64.
The cleaning liquid is supplied from 5. Similarly, the rinse liquid supply mechanism 55 is also supplied with the rinse liquid from the rinse liquid tank 67 via the pump 66 under the control of the controller 37. 4A and 4B are explanatory views of the developing solution discharge mechanism 53. FIG. 4A is a front view and FIG. 4B is a plan conceptual view. As shown in FIG.
In the developer discharge mechanism 53, a plurality of, for example, about 5 to 7 spray nozzles 69 are provided on the holding bar 68 arranged in the horizontal direction.
Is attached. Each spray nozzle 69 is shown in FIG.
As shown in FIG. 5, the developer discharged horizontally from the discharge port 70 hits the inclined wall surface 71 provided on the facing surface, draws a downward continuous curtain-like flow shape, and spreads in a conical shape. The developer is discharged. Further, the developer discharged from these spray nozzles 69 overlaps with each other between the adjacent spray nozzles 69, and the discharge range of the developer extends to one corner of the glass substrate G.
The space between the spray nozzles 69, 69 is provided so that the other extends substantially to the center of the long side of the glass substrate G. With such a structure of the spray nozzle 69, the developing solution can be uniformly ejected onto the entire surface of the rotated substrate, so that the defective development can be prevented and the waste of the developing solution can be prevented. Each spray nozzle 69 is 1.5 to 2.5
(Kg / cm · cm), more preferably 2.0 (kg / cm
The developing solution is discharged at a discharge pressure of (cm · cm). For example, when the discharge pressure of the spray nozzle is 0.8 (kg / cm · cm), the one in which the entire surface of the glass substrate G could not be peeled off after 30 seconds was 2.0 (kg / cm · cm). By doing so, it became possible to peel off the entire surface within this time. Further, the distance h between each spray nozzle 69 and the glass substrate G is 50 to 50.
100 (mm), more preferably 75 to 100 (mm)
Has been in the range. By such setting, the developing speed can be increased. Further, at the time of development, the developing solution discharge mechanism 53 stands still at substantially the center of the glass substrate G, and the glass substrate G held by the spin chuck 32 has a thickness of 200-3.
It is rotated at a speed of 00 (rpm). As a result, a sufficient impact force can be applied to the glass substrate G by the developing solution. 6A and 6B are explanatory views of the high pressure cleaning mechanism 54. FIG. 6A is a front view and FIG. 6B is a plan conceptual view.
As shown in FIG. 6, in the high-pressure cleaning mechanism 54, a plurality of, for example, 5 to 7 high-pressure cleaning nozzles 73 are attached to the holding rod 72 arranged in the horizontal direction. Each high-pressure cleaning nozzle 73 spreads in a conical shape, and the high-pressure cleaning nozzle 7
The high-pressure cleaning nozzle 73 adjacent to the cleaning liquid discharged from No. 3
The cleaning liquid is discharged so as to overlap each other. From the high pressure spray nozzle 73, for example, 5 (kg / c
The cleaning liquid is discharged at a discharge pressure of (m · cm). As a result, the residue and the like on the glass substrate G after development can be sufficiently removed. During cleaning, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is in a stationary state, and the high-pressure cleaning mechanism 54 scans the glass substrate G in the longitudinal direction. As a result, the high pressure cleaning mechanism 54 can have a short length. FIG. 7 is an explanatory diagram of the rinse liquid supply mechanism 55,
(A) is a front view, (b) is a planar conceptual diagram. As shown in FIG. 7, in the rinse liquid supply mechanism 55, the arm 74 is rotated by a rotation mechanism (not shown),
The rinse liquid supply nozzle 75 attached to the tip of the nozzle 4 is located almost at the center of the glass substrate G held by the spin chuck 32. During the rinse process, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated at about 200 to 300 (rpm), and the rinse liquid supply nozzle 75 is in a stationary state at almost the center of the glass substrate G. Next, the operation will be described. FIG. 8 shows a processing flow in the developing device 17. As shown in FIG. 9, the glass substrate G carried into the developing device 17 and held by the spin chuck 32 is lowered to a position where it does not come into contact with the support pins 41, and the outer cup 34 and the inner cup 35.
Is raised to the highest position, and the developing solution discharge mechanism 53 is conveyed to almost the center of the glass substrate G and stands still. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32
Is rotated, and the developing solution is ejected from the developing solution ejecting mechanism 53 onto the glass substrate G (step 801). The developer scattered from the outer periphery of the glass substrate G hits the inside of the inner cup 35 and is collected from the drainage port 46 and reused. Next, as shown in FIG. 10, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is lowered to a position where it abuts the support pins 41, and the outer cup 34 and the inner cup 35 are lowered to the lowest position. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is made stationary, the high-pressure cleaning mechanism 54 scans the glass substrate G in the longitudinal direction, and the high-pressure cleaning mechanism 54 discharges the cleaning liquid onto the glass substrate G. (Step 802). The glass substrate G
The cleaning liquid scattered from the outer circumference of the inner cup 35 and the outer cup 3
4 and is discarded from the drain port 47. Further, since the glass substrate G is supported from the back surface by the support pins 41 during the high pressure cleaning, the glass substrate G is not deformed. Next, as shown in FIG. 11, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is raised to a position where it does not come into contact with the support pins 41, and the outer cup 34
The inner cup 35 is lowered to the lowest position, and the rinse liquid supply mechanism 55 is conveyed to almost the center of the glass substrate G. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated, and the rinse liquid supply mechanism 55.
The rinse liquid is supplied to the glass substrate G (step 803). The rinse liquid scattered from the outer periphery of the glass substrate G passes between the inner cup 35 and the outer cup 34 and is discarded from the drain port 47. Finally, from the state of FIG. 11, the rinse liquid supply mechanism 55 is conveyed to the outside of the cup, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated at high speed, and shaken off and dried (step 80).
4). As described above, according to this embodiment, the developing solution is discharged onto the glass substrate G so as to draw a continuous flow shape like a curtain, so that the developing solution drifts in the mist state in the atmosphere. Nothing happens, and the generation of mist can be suppressed. Further, at that time, since the developing solution is ejected while rotating the glass substrate G, a sufficient impact force can be applied to the glass substrate G by the developing solution, resulting in poor development, residue on the surface of the glass substrate G, etc. Will no longer remain. Furthermore, the spray nozzle 69 of the present embodiment is
The developing solution is ejected in such a manner that one of the areas covers the corner of the substrate G and the other extends to the center of one side of the substrate G. It is possible to discharge, it is possible to prevent development failure and waste of the developing solution. Further, this can suppress the generation of mist as much as possible. The present invention is not limited to the above embodiment. For example, as the substrate, not only the glass substrate G for the color filter but also another LC
The present invention can of course be applied to the D substrate and other substrates that require development.

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
現像液によって基板に対して十分な衝撃力を与えつつ、
ミストの発生を抑えることができ、しかも均一に現像す
ることができる。
As described above, according to the present invention,
While giving sufficient impact force to the substrate with the developer,
Generation of mist can be suppressed, and further uniform development can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態に係る塗布・現像処理シ
ステムの斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a coating / developing processing system according to an embodiment of the present invention.

【図2】 図1に示した現像装置の正面図である。FIG. 2 is a front view of the developing device shown in FIG.

【図3】 図1に示した現像装置の平面図である。3 is a plan view of the developing device shown in FIG. 1. FIG.

【図4】 図2及び図3に示した現像液吐出機構の説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory view of the developer discharge mechanism shown in FIGS. 2 and 3.

【図5】 図4に示したスプレーノズルの断面図であ
る。
5 is a cross-sectional view of the spray nozzle shown in FIG.

【図6】 図2及び図3に示した高圧洗浄機構の説明図
である。
FIG. 6 is an explanatory view of the high-pressure cleaning mechanism shown in FIGS. 2 and 3.

【図7】 図2及び図3に示したリンス液供給機構の説
明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of the rinse liquid supply mechanism shown in FIGS. 2 and 3.

【図8】 本実施形態での現像装置における処理フロー
である。
FIG. 8 is a processing flow in the developing device in this embodiment.

【図9】 図8に示したステップ801に対応する現像
装置の状態図である。
9 is a state diagram of the developing device corresponding to step 801 shown in FIG.

【図10】 図8に示したステップ802に対応する現
像装置の状態図である。
10 is a state diagram of the developing device corresponding to step 802 shown in FIG.

【図11】 図8に示したステップ803に対応する現
像装置の状態図である。
11 is a state diagram of the developing device corresponding to step 803 shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

17 現像装置 31 駆動モータ 32 スピンチャック 53 現像液吐出機構 54 高圧洗浄機構 55 リンス液供給機構 63 加温装置 69 スプレーノズル G ガラス基板G 17 Developing device 31 Drive motor 32 Spin chuck 53 Developer discharge mechanism 54 High pressure cleaning mechanism 55 Rinsing liquid supply mechanism 63 Heating device 69 spray nozzle G glass substrate G

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【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成14年8月12日(2002.8.1
2)
[Submission date] August 12, 2002 (2002.8.1)
2)

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】発明の詳細な説明[Name of item to be amended] Detailed explanation of the invention

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶カラー
ディスプレイにおけるカラーフィルタ用の基板を現像す
る現像装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a developing device for developing a substrate for a color filter in a liquid crystal color display, for example.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶カラーディスプレイにおけるカラー
フィルタでは、ガラス基板上にR,G,Bの着色パター
ンを形成する必要がある。このような着色パターンは、
例えばフォトリソグラフィ法によって形成される。その
一例として、R,G,Bそれぞれについて感光性樹脂か
らなる着色樹脂が用いられ、塗布−露光−現像の処理工
程をR,G,Bについて3回繰り返してパターンが形成
される。
2. Description of the Related Art In a color filter for a liquid crystal color display, it is necessary to form R, G, B colored patterns on a glass substrate. Such a coloring pattern
For example, it is formed by a photolithography method. As an example, a colored resin made of a photosensitive resin is used for each of R, G, and B, and a coating-exposure-developing process is repeated three times for R, G, and B to form a pattern.

【0003】ところで、上記の現像処理工程において
は、感光性樹脂のうち未露光部分を現像液で除去してパ
ターンを形成する、ネガタイプの現像処理が行われるた
め、化学的な反応による処理に加えて機械的な衝撃、例
えば基板に対して現像液を高圧で噴出することが要求さ
れる。このため、基板上に現像液を供給する方法とし
て、ポンプ等で加圧した現像液を噴霧状にして基板上に
吹き付けるシャワー方式を用いることが考えられる。
By the way, in the above-mentioned development processing step, a negative type development processing is carried out in which an unexposed portion of the photosensitive resin is removed by a developing solution to form a pattern. Mechanical impact, for example, high-pressure jetting of the developing solution onto the substrate is required. Therefore, as a method of supplying the developing solution onto the substrate, it is conceivable to use a shower system in which the developing solution pressurized by a pump or the like is atomized and sprayed onto the substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、シャワ
ー方式を使って現像液を高圧で噴霧した場合、現像液が
雰囲気中に漂ってミストの原因になる、という課題があ
る。また、一方、ミストの発生を抑えるために低圧で現
像液を噴霧した場合、基板に十分な衝撃力を与えること
ができず、パターン不良や現像不良の原因になる、とい
う課題もある。このようなパターン不良や現像不良は、
基板全体で均一に現像液が吐出されず均一に現像されて
いないことも原因の1つとして挙げられる。
However, when the developer is sprayed at a high pressure using the shower method, there is a problem that the developer drifts in the atmosphere and causes mist. On the other hand, when the developing solution is sprayed at a low pressure in order to suppress the generation of mist, a sufficient impact force cannot be applied to the substrate, which causes a pattern defect or a development defect. Such pattern defects and development defects are
One of the causes is that the developing solution is not uniformly discharged on the entire substrate and is not uniformly developed.

【0005】本発明は上記のような課題を解決するため
になされたもので、現像液によって基板に対して十分な
衝撃力を与えつつ、ミストの発生を抑えることができ、
しかも基板全面に均一に現像液を吐出することができる
現像装置を提供することを目的としている。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is possible to suppress the generation of mist while giving a sufficient impact force to a substrate by a developer.
Moreover, it is an object of the present invention to provide a developing device capable of uniformly discharging the developing solution over the entire surface of the substrate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め、本発明に係る現像装置は、矩形基板を保持しつつ回
転する保持回転手段と、前記保持回転手段により回転さ
れる基板表面に対し、カーテン状に連続する流形を描く
ように、かつ、円錐状に広がるように現像液を吐出する
複数のノズルとを具備し、前記複数のノズルより吐出さ
れた現像液が隣接するノズル間で相互に重なるように一
直線上に配置され、前記複数のノズルより現像液が吐出
される範囲が、一方が前記基板のほぼ角部に及び、他方
が前記基板の一辺のほぼ中央部に及ぶものである。
In order to solve such a problem, a developing device according to the present invention is configured so that a holding / rotating means for rotating while holding a rectangular substrate and a substrate surface rotated by the holding / rotating means. A plurality of nozzles for ejecting the developing solution so as to draw a continuous flow in a curtain shape and to spread in a conical shape, and the developing solutions ejected from the plurality of nozzles are mutually adjacent to each other. Are arranged in a straight line so that the developing solution is discharged from the plurality of nozzles, one of which extends substantially at a corner of the substrate and the other of which extends substantially at the center of one side of the substrate. .

【0007】本発明では、矩形の基板表面に対し、カー
テン状に連続する流形を描くように現像液を吐出してい
るので、現像液が雰囲気中に霧状に漂うようなことはな
くなり、ミストの発生を抑えることができる。またこの
ような噴出に加えて基板を回転させながら現像液を吐出
しているので、現像液によって基板に対して十分な衝撃
力を与えることができるようになる。また、本発明で
は、各ノズルが現像液を円錐状に広がるように吐出し、
これらノズルより吐出された現像液が隣接するノズル間
で相互に重なるように一直線上に配置されているので、
現像液によって基板に対して平均的で、かつ、より強い
衝撃力を与えることができる。さらに本発明では、複数
のノズルより現像液が吐出される範囲が、一方が前記基
板のほぼ角部に及び、他方が前記基板の一辺のほぼ中央
部に及ぶようにしているので、回転する矩形の基板全面
に対して均一に現像液を吐出することができ、現像液の
無駄をなくすことができる。例えばノズルの形態が角部
から角部まで液を供給するものである場合、基板がない
領域に吐出された液はそのままミストとなるが、本発明
によればそのようなミストの発生を極力抑えることがで
きる。
In the present invention, since the developing solution is discharged onto the surface of the rectangular substrate so as to draw a continuous flow in a curtain shape, the developing solution does not drift like mist in the atmosphere. Generation of mist can be suppressed. Further, in addition to such jetting, the developing solution is discharged while rotating the substrate, so that the developing solution can give a sufficient impact force to the substrate. Further, in the present invention, each nozzle discharges the developing solution so as to spread in a conical shape,
Since the developing solutions discharged from these nozzles are arranged in a straight line so that the adjacent nozzles overlap each other,
The developer can give an average and stronger impact force to the substrate. Further, according to the present invention, the developing solution is ejected from the plurality of nozzles so that one of the nozzles extends substantially at a corner of the substrate and the other of the nozzles extends substantially at the center of one side of the substrate. The developing solution can be uniformly ejected onto the entire surface of the substrate, and waste of the developing solution can be eliminated. For example, when the nozzle is configured to supply the liquid from the corners to the corners, the liquid discharged to the region without the substrate becomes mist as it is, but according to the present invention, the generation of such mist is suppressed as much as possible. be able to.

【0008】本発明の一の形態は、前記保持回転手段に
より保持された基板表面に対し、カーテン状に連続する
流形を描くように、かつ、円錐状に広がるように洗浄液
を高圧で噴出する高圧洗浄手段をさらに具備するもので
ある。このように洗浄液を噴出することにより、基板上
の残さ等を連続的な処理によって効率的に除去できる。
According to one aspect of the present invention, the cleaning liquid is jetted at a high pressure so as to draw a continuous flow in a curtain shape and spread in a conical shape on the surface of the substrate held by the holding and rotating means. It further comprises a high-pressure washing means. By jetting the cleaning liquid in this manner, the residue on the substrate can be efficiently removed by continuous processing.

【0009】本発明の一の形態は、前記複数のノズル
が、1.5〜2.5(kg/cm・cm)の吐出圧で現
像液を吐出する。現像液の吐出圧を1.5〜2.5(k
g/cm・cm)としたので、必要にして十分な現像を
行うことができる。即ち、1.5(kg/cm・cm)
より小さい場合には、現像液によって基板に対して十分
な衝撃力を与えることができず、2.5(kg/cm・
cm)より大きい場合には、ミストが多くなり、また必
要以上の衝撃力となる。
According to one aspect of the present invention, the plurality of nozzles discharge the developing solution at a discharge pressure of 1.5 to 2.5 (kg / cm · cm). The discharge pressure of the developer is 1.5 to 2.5 (k
g / cm · cm), it is possible to perform necessary and sufficient development. That is, 1.5 (kg / cm · cm)
If it is smaller than 2.5 (kg / cm.multidot.cm), the developer cannot give sufficient impact force to the substrate.
If it is larger than cm, mist increases and the impact force becomes larger than necessary.

【0010】本発明の一の形態は、前記保持回転手段
が、200〜300(rpm)の速度で基板を回転す
る。基板を200〜300(rpm)の速度で回転した
ので、必要にして十分な現像を行うことができる。即
ち、200(rpm)より小さい場合には、現像液によ
って基板に対して十分な衝撃力を与えることができず、
300(rpm)より大きい場合には、ミストが多くな
り、また必要以上の衝撃力となる。
According to one aspect of the present invention, the holding and rotating means rotates the substrate at a speed of 200 to 300 (rpm). Since the substrate was rotated at a speed of 200 to 300 (rpm), necessary and sufficient development can be performed. That is, when it is less than 200 (rpm), the developer cannot give a sufficient impact force to the substrate,
If it is greater than 300 (rpm), the mist will increase and the impact force will be unnecessarily high.

【0011】本発明に係る現像方法は、矩形基板を回転
させながら、基板表面に対し、カーテン状に連続する流
形を描くように、かつ、円錐状に広がるように現像液を
吐出する現像方法であって、現像液が吐出される範囲
が、一方が基板のほぼ角部に及び、他方が基板の一辺の
ほぼ中央部に及ぶものである。
The developing method according to the present invention is a developing method in which a rectangular substrate is rotated and a developing solution is discharged so as to draw a curtain-shaped continuous flow shape and spread in a conical shape on the substrate surface. That is, the developing solution is ejected in such a manner that one of the areas extends to a substantially corner portion of the substrate and the other extends to a substantially central portion of one side of the substrate.

【0012】本発明の一の形態は、前記基板表面に対し
て現像液を吐出した後に、カーテン状に連続する流形を
描くように、かつ、円錐状に広がるように洗浄液を高圧
で噴出するものである。
According to one aspect of the present invention, after the developing solution is discharged onto the surface of the substrate, the cleaning solution is jetted at a high pressure so as to draw a continuous flow in a curtain shape and spread in a conical shape. It is a thing.

【0013】本発明の一の形態は、前記基板表面に対し
洗浄液を高圧で噴出した後に、前記基板表面に対しリン
ス液を供給するものである。
According to one aspect of the present invention, a rinsing liquid is supplied to the substrate surface after a cleaning liquid is jetted at a high pressure onto the substrate surface.

【0014】本発明の一の形態は、前記基板表面に対し
リンス液を供給した後に、基板を回転させて振り切り乾
燥するものである。
According to one aspect of the present invention, after the rinse liquid is supplied to the surface of the substrate, the substrate is rotated and shaken off to dry.

【0015】本発明の別の観点に係る現像方法は、矩形
基板を保持しつつ回転する保持回転手段と、この保持回
転手段で保持された基板を支持する複数の支持ピンとを
有し、前記保持回転手段に保持された基板を回転させた
状態で、少なくとも前記矩形基板の中心部と周縁の一部
との間に現像液を連続的に所定の圧力で供給して現像処
理を行う工程と、前記保持回転手段で及び前記複数の支
持ピンで支持された前記矩形基板を静止した状態で、前
記矩形基板の短手方向を覆うようにかつ前記矩形基板の
長手方向に走査するように洗浄液を連続的に前記現像液
を供給する圧力より大きい圧力で供給して洗浄処理を行
う工程とを有する。
A developing method according to another aspect of the present invention has a holding / rotating means for holding and rotating a rectangular substrate, and a plurality of support pins for supporting the substrate held by the holding / rotating means. A step of performing a developing process by continuously supplying a developing solution at a predetermined pressure between at least a central portion and a part of a peripheral edge of the rectangular substrate while the substrate held by the rotating means is rotated; While the rectangular substrate supported by the holding / rotating means and the plurality of support pins is stationary, the cleaning liquid is continuously supplied so as to cover the lateral direction of the rectangular substrate and scan in the longitudinal direction of the rectangular substrate. Specifically, the cleaning solution is supplied at a pressure higher than the pressure for supplying the developing solution.

【0016】本発明の一の形態は、前記現像処理を行う
工程と前記洗浄処理を行う工程とで前記矩形基板を支持
する領域が異なる。
According to an aspect of the present invention, a region for supporting the rectangular substrate is different between the step of performing the developing process and the step of performing the cleaning process.

【0017】本発明の一の形態は、前記現像処理を行う
工程と前記洗浄処理を行う工程とで前記矩形基板の側方
に面する容器が異なる。
In one embodiment of the present invention, a container facing a side of the rectangular substrate is different between the step of performing the developing process and the step of performing the cleaning process.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づき説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0019】図1は本発明の一実施形態に係る塗布・現
像処理システムの斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a coating / developing processing system according to an embodiment of the present invention.

【0020】図1に示すように、この塗布・現像処理シ
ステム1の前方には、基板、例えばカラーフィルタ用の
ガラス基板Gを、塗布・現像処理システム1に対して搬
出入するローダ・アンローダ部2が設けられている。こ
のローダ・アンローダ部2には、ガラス基板Gを例えば
25枚ずつ収納したカセットCを所定位置に整列させて
載置させるカセット載置台3と、各カセットCから処理
すべきガラス基板Gを取り出し、また塗布・現像処理シ
ステム1において処理の終了したガラス基板Gを各カセ
ットCへ戻すローダ・アンローダ4が設けられている。
図示のローダアンローダ4は、本体5の走行によってカ
セットCの配列方向に移動し、本体5に搭載された板片
状のピンセット6によって各カセットCからガラス基板
Gを取り出し、また各カセットCへガラス基板Gを戻す
ようになっている。また、ピンセット6の両側には、ガ
ラス基板Gの四隅を保持して位置合わせを行う基板位置
合わせ部材7が設けられている。
As shown in FIG. 1, in front of the coating / developing processing system 1, a substrate, for example, a glass substrate G for a color filter, is loaded and unloaded into / from the coating / developing processing system 1. Two are provided. In the loader / unloader unit 2, for example, a cassette mounting table 3 on which a cassette C containing, for example, 25 glass substrates G at a predetermined position is arranged and mounted, and a glass substrate G to be processed is taken out from each cassette C, Further, in the coating / developing processing system 1, there is provided a loader / unloader 4 for returning the processed glass substrate G to each cassette C.
The illustrated loader / unloader 4 moves in the arrangement direction of the cassettes C by the traveling of the main body 5, takes out the glass substrate G from each cassette C by the plate-like tweezers 6 mounted on the main body 5, and also transfers glass to each cassette C. The substrate G is returned. Further, on both sides of the tweezers 6, there are provided substrate alignment members 7 for holding the four corners of the glass substrate G and performing alignment.

【0021】塗布・現像処理システム1の中央部には、
長手方向に配置された廊下状の搬送路10、11が第1
の受け渡し部12を介して一直線上に設けられており、
この搬送路10、11の両側には、ガラス基板Gに対す
る各処理を行うための各種処理装置が配置されている。
At the center of the coating / developing system 1,
The corridor-shaped transport paths 10 and 11 arranged in the longitudinal direction are first
Is provided in a straight line through the delivery section 12 of
Various processing devices for performing each processing on the glass substrate G are arranged on both sides of the transport paths 10 and 11.

【0022】図示の塗布・現像処理システム1にあって
は、搬送路10の一側方に、ガラス基板Gをブラシ洗浄
すると共に、高圧ジェット水により洗浄を施すスクラバ
ユニット16が例えば2台並設されている。また、搬送
路10を挟んで反対側に、二基の現像装置17が並設さ
れ、その隣りに二基の加熱装置18が積み重ねて設けら
れている。
In the coating / developing processing system 1 shown in the figure, for example, two scrubber units 16 for cleaning the glass substrate G with a brush and cleaning with high-pressure jet water are provided side by side on one side of the transport path 10. Has been done. Further, two developing devices 17 are arranged in parallel on the opposite side of the transport path 10 and two heating devices 18 are stacked next to each other.

【0023】また、搬送路11の一側方に、冷却用のク
ーリング装置20が2段に配置されている。また、これ
らクーリング装置20の隣には加熱装置22が二列に二
個ずつ積み重ねて配置されている。また、搬送路11を
挟んで反対側に、ガラス基板Gに感光性樹脂からなる着
色樹脂を塗布することによってガラス基板Gの表面に感
光性樹脂からなる着色樹脂膜を形成する2台の塗布装置
23が並設されている。図示はしないが、これら塗布装
置23の側部には、第2の受け渡し部28を介し、ガラ
ス基板G上に形成された感光性樹脂からなる着色樹脂膜
に所定の微細パターンを露光するための露光装置等が設
けられる。第2の受け渡し部28は、ガラス基板Gを搬
入および搬出するための搬出入ピンセット29および受
け渡し台30を備えている。
Further, cooling devices 20 for cooling are arranged in two stages on one side of the transport path 11. In addition, next to the cooling devices 20, two heating devices 22 are arranged in a two-row stack. Further, two coating devices for forming a colored resin film made of a photosensitive resin on the surface of the glass substrate G by applying a colored resin made of a photosensitive resin to the glass substrate G on the opposite side with the transport path 11 interposed therebetween. 23 are juxtaposed. Although not shown, a side portion of the coating device 23 is provided with a second transfer portion 28 for exposing a colored resin film made of a photosensitive resin formed on the glass substrate G with a predetermined fine pattern. An exposure device and the like are provided. The second delivery unit 28 includes a loading / unloading tweezers 29 and a delivery table 30 for loading and unloading the glass substrate G.

【0024】以上の各処理装置15〜18および20〜
23は、何れも搬送路10、11の両側において、ガラ
ス基板Gの出入口を内側に向けて配設されている。第1
の搬送装置25がローダ・アンローダ部2、各処理装置
15〜18および第1の受け渡し部12との間でガラス
基板Gを搬送するために搬送路10上を移動し、第2の
搬送装置26が第1の受け渡し部12、第2の受け渡し
部28および各処理装置20〜23との間でガラス基板
Gを搬送するために搬送路26上を移動するようになっ
ている。各搬送装置25、26は、それぞれ上下一対の
アーム27、27を有しており、各処理装置15〜18
および20〜23にアクセスするときは、一方のアーム
27で各処理装置のチャンバから処理済みのガラス基板
Gを搬出し、他方のアーム27で処理前のガラス基板G
をチャンバ内に搬入するように構成されている。
Each of the above processing devices 15-18 and 20-
23 is arranged on both sides of the transport paths 10 and 11 with the entrance and exit of the glass substrate G facing inward. First
Of the transfer device 25 moves on the transfer path 10 to transfer the glass substrate G among the loader / unloader unit 2, the processing devices 15 to 18 and the first transfer unit 12, and the second transfer device 26. Is configured to move on the transfer path 26 to transfer the glass substrate G among the first transfer unit 12, the second transfer unit 28, and the processing devices 20 to 23. Each of the transfer devices 25 and 26 has a pair of upper and lower arms 27 and 27, and each of the processing devices 15 to 18 is provided.
And 20 to 23, one arm 27 carries out the processed glass substrate G from the chamber of each processing apparatus, and the other arm 27 carries out the unprocessed glass substrate G.
Is configured to be loaded into the chamber.

【0025】図2は上記現像装置17の正面図、図3は
その平面図である。
FIG. 2 is a front view of the developing device 17, and FIG. 3 is a plan view thereof.

【0026】図2及び図3に示すように、現像装置17
の中心部には、駆動モータ31によって回転可能でかつ
上下動可能に構成されたスピンチャック32が設けられ
ている。このスピンチャック32の上面は、真空吸着等
によってガラス基板Gを水平状態に吸着保持するように
構成されている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the developing device 17
A spin chuck 32 that is rotatable and vertically movable by a drive motor 31 is provided at the center of the. The upper surface of the spin chuck 32 is configured to suck and hold the glass substrate G in a horizontal state by vacuum suction or the like.

【0027】このスピンチャック32の下方には下容器
33が配置されている。また、スピンチャック32の外
周を囲うように外カップ34が配置され、下容器33と
外カップ34の間には内カップ35が配置されている。
A lower container 33 is arranged below the spin chuck 32. An outer cup 34 is arranged so as to surround the outer circumference of the spin chuck 32, and an inner cup 35 is arranged between the lower container 33 and the outer cup 34.

【0028】外カップ34と内カップ35とは連結部材
36により連結され、これら外カップ34及び内カップ
35は制御部37の指令に基づき昇降シリンダ38によ
り昇降されるようになっている。外カップ34及び内カ
ップ35の上部はそれぞれ上に行くに従って狭くなるよ
うに内側に傾斜して設けられており、外カップ34の上
端開口部の直径は内カップ35のそれよりも大きく、か
つ、これらの上端開口部の直径はガラス基板Gを水平状
態にしたままでカップ内に下降させて収容できる大きさ
に形成されている。
The outer cup 34 and the inner cup 35 are connected by a connecting member 36, and the outer cup 34 and the inner cup 35 are moved up and down by an elevating cylinder 38 in response to a command from the controller 37. The upper portions of the outer cup 34 and the inner cup 35 are provided so as to be inclined inward so as to become narrower as they go upward, and the diameter of the upper end opening of the outer cup 34 is larger than that of the inner cup 35, and The diameters of these upper end openings are formed such that the glass substrate G can be lowered and accommodated in the cup while the glass substrate G is kept horizontal.

【0029】下容器33は、中心部から外に向かって下
方向に傾斜する傾斜部39と、その外周に配置された受
け皿部40とを備える。傾斜部39には、ガラス基板G
の裏面を保持するための支持ピン41が複数、例えば4
本配置されている。支持ピン41の先端の高さは、スピ
ンチャック32に保持されたガラス基板Gが最も低い位
置に下降されたときに、支持ピン41の先端がガラス基
板Gの裏面に当接する位置とされている。また、受け皿
部40の底面には筒状の起立壁42が設けられており、
起立壁42は外カップ34と内カップ35との間に介在
される。また、内カップ35の傾斜部は起立壁42を超
えて起立壁42の外周に延在している。これにより、内
カップ35の傾斜部を流れる流体は受け皿部40の起立
壁42で仕切られた外側室43に流れ込むようになって
いる。
The lower container 33 is provided with an inclined portion 39 which inclines downward from the center toward the outside, and a saucer portion 40 arranged on the outer periphery thereof. On the inclined portion 39, the glass substrate G
A plurality of support pins 41 for holding the back surface of the
Book is arranged. The height of the tip of the support pin 41 is set to a position where the tip of the support pin 41 contacts the back surface of the glass substrate G when the glass substrate G held by the spin chuck 32 is lowered to the lowest position. . Further, a cylindrical standing wall 42 is provided on the bottom surface of the saucer portion 40,
The upright wall 42 is interposed between the outer cup 34 and the inner cup 35. The inclined portion of the inner cup 35 extends beyond the standing wall 42 and extends to the outer periphery of the standing wall 42. As a result, the fluid flowing through the inclined portion of the inner cup 35 flows into the outer chamber 43 partitioned by the standing wall 42 of the tray 40.

【0030】下容器33の傾斜部39の裏面側には、カ
ップ内を排気するための排気口44が設けられており、
排気口44には排気ポンプ((図示を省略))が接続さ
れている。受け皿部40の起立壁42で仕切られた内側
室45の下部には排液口46が形成されており、外側室
43の下部にドレイン口47が形成されている。そし
て、排液口46に回収管48を介して使用済み現像液を
再生処理する再生処理機構49が接続されている。再生
処理機構49は、気液分離する気液分離機構50と使用
済み現像液中の不純物を除去する不純物除去機構51と
で構成され、現像液収容タンク52に接続されている。
ドレイン口47は図示しない回収タンクに接続されてい
る。
An exhaust port 44 for exhausting the inside of the cup is provided on the back surface side of the inclined portion 39 of the lower container 33.
An exhaust pump ((not shown)) is connected to the exhaust port 44. A drain port 46 is formed in the lower part of the inner chamber 45 partitioned by the standing wall 42 of the tray part 40, and a drain port 47 is formed in the lower part of the outer chamber 43. Then, a recycle processing mechanism 49 for reprocessing the used developer is connected to the drain port 46 via a recovery pipe 48. The regeneration processing mechanism 49 is composed of a gas-liquid separation mechanism 50 for gas-liquid separation and an impurity removal mechanism 51 for removing impurities in the used developer, and is connected to the developer storage tank 52.
The drain port 47 is connected to a recovery tank (not shown).

【0031】カップの上部一側方にはガラス基板G表面
に対し現像液を吐出するための現像液吐出機構53が配
置され、他側方にはガラス基板G表面に対して洗浄液を
高圧で噴出するための高圧洗浄機構54及びガラス基板
G表面に対しリンス液を供給するためのリンス液供給機
構55が配置されている。また、カップの上部の手前及
び背後には搬送用レール56、57が設けられている。
現像液吐出機構53及び高圧洗浄機構54にはそれぞれ
搬送用モータ58、59が取り付けられており、制御部
37による制御の基で搬送モータ58、59の駆動によ
り現像液吐出機構53及び高圧洗浄機構54が搬送用レ
ール56、57に沿ってカップ内上部に搬送されるよう
になっている。
A developing solution ejecting mechanism 53 for ejecting the developing solution to the surface of the glass substrate G is arranged on one side of the upper part of the cup, and a cleaning solution is ejected on the other side to a high pressure on the surface of the glass substrate G. A high-pressure cleaning mechanism 54 for cleaning and a rinse liquid supply mechanism 55 for supplying a rinse liquid to the surface of the glass substrate G are arranged. In addition, rails 56 and 57 for transportation are provided in front of and behind the upper portion of the cup.
Transport motors 58 and 59 are attached to the developer discharge mechanism 53 and the high-pressure cleaning mechanism 54, respectively, and the developer discharge mechanism 53 and the high-pressure cleaning mechanism are driven by driving the transport motors 58 and 59 under the control of the controller 37. 54 is transported to the upper part of the cup along the transport rails 56 and 57.

【0032】現像液吐出機構53には、制御部37の制
御の基、ポンプ62を介して現像液収容タンク52より
現像液が供給される。現像液吐出機構53とポンプ62
との間には、現像液を加温する加温装置63が介挿され
ている。加温装置63は、例えば雰囲気が23(°C)
である場合には現像液を25〜27(°C)に加温す
る。これにより、現像速度を向上させることができる。
また、高圧洗浄機構54には、制御部37の制御の基、
ポンプ64を介して洗浄液タンク65より洗浄液が供給
される。同様に、リンス液供給機構55にも、制御部3
7の制御の基、ポンプ66を介してリンス液タンク67
よりリンス液が供給される。
The developer discharge mechanism 53 is supplied with the developer from the developer storage tank 52 via the pump 62 under the control of the controller 37. Developer discharge mechanism 53 and pump 62
A heating device 63 for heating the developing solution is interposed between and. The heating device 63 has, for example, an atmosphere of 23 (° C).
If so, the developer is heated to 25 to 27 (° C). Thereby, the developing speed can be improved.
Further, the high-pressure cleaning mechanism 54 has a control unit under the control of the control unit 37.
The cleaning liquid is supplied from the cleaning liquid tank 65 via the pump 64. Similarly, the rinse liquid supply mechanism 55 also includes the control unit 3
Under the control of No. 7, the rinse liquid tank 67 via the pump 66.
More rinse liquid is supplied.

【0033】図4は上記現像液吐出機構53の説明図で
あり、(a)は正面図、(b)は平面的概念図である。
4A and 4B are explanatory views of the developing solution discharge mechanism 53. FIG. 4A is a front view and FIG. 4B is a plan conceptual view.

【0034】図4に示すように、現像液吐出機構53で
は、水平方向に配置された保持棒68に複数、例えば5
〜7個程度のスプレーノズル69が取り付けられてい
る。各スプレーノズル69は、図5に示すように、吐出
口70から水平に吐出された現像液が対向面に設けられ
た傾斜壁面71に当り、下方向にカーテン状に連続する
流形を描き、かつ、円錐状に広がるように現像液を吐出
するものである。また、これらスプレーノズル69より
吐出された現像液が隣接するスプレーノズル69間で相
互に重なり、かつ、現像液が吐出される範囲が、一方が
ガラス基板Gのほぼ角部に及び、他方がガラス基板G
の長辺のほぼ中央部に及ぶように、スプレーノズル6
9、69間の間隔が設けられている。このようなスプレ
ーノズル69の構成により、回転される基板全面に均一
に現像液を吐出することができるので、現像不良を防止
できるとともに現像液の無駄を防止できる。
As shown in FIG. 4, in the developing solution discharge mechanism 53, a plurality of, for example, five, holding rods 68 arranged in the horizontal direction are provided.
About to 7 spray nozzles 69 are attached. As shown in FIG. 5, each spray nozzle 69 hits the inclined wall surface 71 provided on the facing surface with the developer horizontally discharged from the discharge port 70, and draws a downward continuous curtain-shaped flow shape. Moreover, the developer is discharged so as to spread in a conical shape. Further, the developing solutions discharged from the spray nozzles 69 overlap with each other between the adjacent spray nozzles 69, and the developing solution is discharged in such a range that one is almost at a corner of the glass substrate G and the other is a glass. Board G
Of the spray nozzle 6 so as to cover almost the center of the long side of the
There is a space between 9 and 69. With such a structure of the spray nozzle 69, the developing solution can be uniformly ejected onto the entire surface of the rotated substrate, so that the defective development can be prevented and the waste of the developing solution can be prevented.

【0035】各スプレーノズル69は、1.5〜2.5
(kg/cm・cm)、より好ましくは2.0(kg/
cm・cm)の吐出圧で現像液を吐出する。例えば、ス
プレーノズルの吐出圧が0.8(kg/cm・cm)の
時には30秒を経過してもガラス基板G全面の剥離がで
きなかたものが、2.0(kg/cm・cm)とするこ
とでこの時間内で全面剥離が可能となった。また、各ス
プレーノズル69とガラス基板Gとの間隔hは、50〜
100(mm)、より好ましくは75〜100(mm)
の範囲にされている。このような設定により現像速度を
速めることができる。さらに、現像時には、現像液吐出
機構53はガラス基板Gのほぼ中央で静止し、スピンチ
ャック32により保持されたガラス基板Gは200〜3
00(rpm)の速度で回転される。これにより、現像
液によってガラス基板Gに対して十分な衝撃力を与える
ことができる。
Each spray nozzle 69 is 1.5 to 2.5.
(Kg / cm · cm), more preferably 2.0 (kg / cm
The developing solution is discharged at a discharge pressure of (cm · cm). For example, when the discharge pressure of the spray nozzle is 0.8 (kg / cm · cm), the one in which the entire surface of the glass substrate G could not be peeled off after 30 seconds was 2.0 (kg / cm · cm). By doing so, it became possible to peel off the entire surface within this time. Further, the distance h between each spray nozzle 69 and the glass substrate G is 50 to 50.
100 (mm), more preferably 75 to 100 (mm)
Has been in the range. By such setting, the developing speed can be increased. Further, at the time of development, the developing solution discharge mechanism 53 stands still at substantially the center of the glass substrate G, and the glass substrate G held by the spin chuck 32 has a thickness of 200-3.
It is rotated at a speed of 00 (rpm). As a result, a sufficient impact force can be applied to the glass substrate G by the developing solution.

【0036】図6は上記高圧洗浄機構54の説明図であ
り、(a)は正面図、(b)は平面的概念図である。
6A and 6B are explanatory views of the high pressure cleaning mechanism 54. FIG. 6A is a front view and FIG. 6B is a plan conceptual view.

【0037】図6に示すように、高圧洗浄機構54で
は、水平方向に配置された保持棒72に複数、例えば5
〜7個程度の高圧洗浄ノズル73が取り付けられてい
る。各高圧洗浄ノズル73は、円錐状に広がり、かつ、
高圧洗浄ノズル73より吐出された洗浄液が隣接する高
圧洗浄ノズル73間で相互に重なりるように洗浄液を吐
出するものである。
As shown in FIG. 6, in the high-pressure cleaning mechanism 54, a plurality of, for example, five, holding rods 72 arranged horizontally are provided.
About to 7 high pressure washing nozzles 73 are attached. Each high-pressure cleaning nozzle 73 spreads in a conical shape, and
The cleaning liquid is discharged so that the cleaning liquid discharged from the high pressure cleaning nozzle 73 overlaps with the adjacent high pressure cleaning nozzle 73.

【0038】高圧スプレーノズル73からは例えば5
(kg/cm・cm)の吐出圧で洗浄液が吐出される。
これにより、現像後のガラス基板G上の残さ等を十分に
除去することができる。洗浄時に、スピンチャック32
によって保持されたガラス基板Gは静止状態にあり、高
圧洗浄機構54はガラス基板Gの長手方向に走査され
る。これにより、高圧洗浄機構54を短い長さとするこ
とができる。
From the high pressure spray nozzle 73, for example, 5
The cleaning liquid is discharged at a discharge pressure of (kg / cm · cm).
As a result, the residue and the like on the glass substrate G after development can be sufficiently removed. When cleaning, spin chuck 32
The glass substrate G held by is in a stationary state, and the high-pressure cleaning mechanism 54 scans the glass substrate G in the longitudinal direction. As a result, the high pressure cleaning mechanism 54 can have a short length.

【0039】図7は上記リンス液供給機構55の説明図
であり、(a)は正面図、(b)は平面的概念図であ
る。
7A and 7B are explanatory views of the rinse liquid supply mechanism 55. FIG. 7A is a front view and FIG. 7B is a conceptual plan view.

【0040】図7に示すように、リンス液供給機構55
では、図示しない回動機構によりアーム74が回動され
ることで、アーム74の先端に取り付けられたリンス液
供給ノズル75がスピンチャック32によって保持され
たガラス基板Gのほぼセンタに位置するようになってい
る。リンス処理時に、スピンチャック32によって保持
されたガラス基板Gは200〜300(rpm)程度で
回転され、リンス液供給ノズル75はガラス基板Gのほ
ぼセンタで静止状態にある。
As shown in FIG. 7, a rinse liquid supply mechanism 55.
Then, the arm 74 is rotated by a rotation mechanism (not shown) so that the rinse liquid supply nozzle 75 attached to the tip of the arm 74 is positioned substantially at the center of the glass substrate G held by the spin chuck 32. Has become. During the rinse process, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated at about 200 to 300 (rpm), and the rinse liquid supply nozzle 75 is in a stationary state at almost the center of the glass substrate G.

【0041】次に動作について説明する。Next, the operation will be described.

【0042】図8は現像装置17における処理フローを
示している。
FIG. 8 shows a processing flow in the developing device 17.

【0043】図9に示すように、現像装置17内に搬入
され、スピンチャック32によって保持されたガラス基
板Gは支持ピン41と当接しない位置まで下降され、外
カップ34及び内カップ35は最も高い位置まで上昇さ
れ、現像液吐出機構53はガラス基板Gのほぼ中央まで
搬送されて静止する。そして、スピンチャック32によ
り保持されたガラス基板Gが回転され、現像液吐出機構
53よりガラス基板Gに対して現像液が吐出される(ス
テップ801)。なお、ガラス基板Gの外周より飛び散
る現像液は内カップ35の内側に当り排液口46より回
収され、再利用される。
As shown in FIG. 9, the glass substrate G carried into the developing device 17 and held by the spin chuck 32 is lowered to a position where it does not come into contact with the support pins 41, and the outer cup 34 and the inner cup 35 are moved to the highest position. The developing solution discharging mechanism 53 is raised to a high position, is transported to almost the center of the glass substrate G, and stands still. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated, and the developing solution is ejected from the developing solution ejecting mechanism 53 onto the glass substrate G (step 801). The developer scattered from the outer periphery of the glass substrate G hits the inside of the inner cup 35 and is collected from the drainage port 46 and reused.

【0044】次に、図10に示すように、スピンチャッ
ク32によって保持されたガラス基板Gは支持ピン41
と当接する位置まで下降され、外カップ34及び内カッ
プ35は最も低い位置まで下降される。そして、スピン
チャック32により保持されたガラス基板Gが静止状態
とされ、高圧洗浄機構54がガラス基板Gの長手方向に
走査され、かつ、高圧洗浄機構54よりガラス基板Gに
対して洗浄液が吐出される(ステップ802)。なお、
ガラス基板Gの外周より飛び散る洗浄液は内カップ35
と外カップ34との間を通ってドレイン口47より廃棄
される。また、高圧洗浄の際に、支持ピン41によって
ガラス基板Gを裏面より支持しているので、ガラス基板
Gが変形するようなことはない。
Next, as shown in FIG. 10, the glass substrate G held by the spin chuck 32 has the support pins 41.
The outer cup 34 and the inner cup 35 are lowered to the lowest position. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is made stationary, the high-pressure cleaning mechanism 54 scans the glass substrate G in the longitudinal direction, and the high-pressure cleaning mechanism 54 discharges the cleaning liquid onto the glass substrate G. (Step 802). In addition,
The cleaning liquid scattered from the outer periphery of the glass substrate G is in the inner cup 35.
It passes through between the outer cup 34 and the outer cup 34, and is discarded from the drain port 47. Further, since the glass substrate G is supported from the back surface by the support pins 41 during the high pressure cleaning, the glass substrate G is not deformed.

【0045】次に、図11に示すように、スピンチャッ
ク32によって保持されたガラス基板Gは支持ピン41
と当接しない位置まで上昇され、外カップ34及び内カ
ップ35は最も低い位置まで下降して状態とされ、リン
ス液供給機構55がガラス基板Gのほぼセンタに搬送さ
れる。そして、スピンチャック32により保持されたガ
ラス基板Gが回転され、リンス液供給機構55よりガラ
ス基板Gに対してリンス液が供給される(ステップ80
3)。なお、ガラス基板Gの外周より飛び散るリンス液
は内カップ35と外カップ34との間を通ってドレイン
口47より廃棄される。
Next, as shown in FIG. 11, the glass substrate G held by the spin chuck 32 has the support pins 41.
The outer cup 34 and the inner cup 35 are lowered to the lowest position, and the rinse liquid supply mechanism 55 is conveyed to almost the center of the glass substrate G. Then, the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated, and the rinse liquid is supplied from the rinse liquid supply mechanism 55 to the glass substrate G (step 80).
3). The rinse liquid scattered from the outer periphery of the glass substrate G passes between the inner cup 35 and the outer cup 34 and is discarded from the drain port 47.

【0046】最後に、図11の状態からリンス液供給機
構55がカップ外へ搬送され、スピンチャック32によ
って保持されたガラス基板Gが高速回転されて振り切り
乾燥が行われる(ステップ804)。
Finally, from the state shown in FIG. 11, the rinse liquid supply mechanism 55 is conveyed to the outside of the cup, and the glass substrate G held by the spin chuck 32 is rotated at a high speed to be shaken off and dried (step 804).

【0047】以上のように、この実施の形態によれば、
ガラス基板Gに対してカーテン状に連続する流形を描く
ように現像液を吐出しているので、現像液が雰囲気中に
霧状に漂うようなことはなくなり、ミストの発生を抑え
ることができる。また、その際、ガラス基板Gを回転さ
せながら現像液を吐出しているので、現像液によってガ
ラス基板Gに対して十分な衝撃力を与えることができ、
現像不良やガラス基板G表面に残さ等が残るようなこと
はなくなる。
As described above, according to this embodiment,
Since the developing solution is discharged so as to draw a continuous flow shape like a curtain on the glass substrate G, the developing solution does not drift in the atmosphere in a mist state, and the generation of mist can be suppressed. . Further, at that time, since the developing solution is discharged while rotating the glass substrate G, a sufficient impact force can be applied to the glass substrate G by the developing solution,
Defective development and no residue left on the surface of the glass substrate G are eliminated.

【0048】さらに、本実施の形態のスプレーノズル6
9は、その現像液が吐出される範囲が、一方が基板Gの
ほぼ角部に及び、他方が基板Gの一辺のほぼ中央部に及
ぶようにしているので、回転される基板全面に均一に現
像液を吐出することができ、現像不良を防止できるとと
もに現像液の無駄を防止できる。また、これによりミス
トの発生を極力抑えることができる。
Further, the spray nozzle 6 according to the present embodiment.
No. 9 is such that the developing solution is discharged on one side substantially at the corner of the substrate G and on the other side substantially at the center of one side of the substrate G. It is possible to discharge the developing solution, prevent defective development, and prevent waste of the developing solution. Further, this can suppress the generation of mist as much as possible.

【0049】なお、本発明は上述した実施の形態には限
定されない。
The present invention is not limited to the above embodiment.

【0050】例えば、基板としてはカラーフィルタ用の
ガラス基板Gばかりでなく、他のLCD基板、その他現
像が必要な基板についても本発明を当然適用できる。
For example, as the substrate, the present invention is naturally applicable not only to the glass substrate G for the color filter but also to other LCD substrates and other substrates requiring development.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
現像液によって基板に対して十分な衝撃力を与えつつ、
ミストの発生を抑えることができ、しかも均一に現像す
ることができる。
As described above, according to the present invention,
While giving sufficient impact force to the substrate with the developer,
Generation of mist can be suppressed, and further uniform development can be performed.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大森 伝 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成272 番地の4 東京エレクトロン九州株式会社 大津事業所内 Fターム(参考) 2H096 AA28 GA29 GA30 GA31 LA16 5F046 LA03 LA04 LA06 LA13    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    (72) Inventor Omori Den             Kumamoto Prefecture Kikuchi-gun Otsu Town Large character Takao character Heisei 272             No. 4 Tokyo Electron Kyushu Co., Ltd.             Otsu Office F term (reference) 2H096 AA28 GA29 GA30 GA31 LA16                 5F046 LA03 LA04 LA06 LA13

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 矩形基板を保持しつつ回転する保持回転
手段と、 前記保持回転手段により回転される基板表面に対し、カ
ーテン状に連続する流形を描くように、かつ、円錐状に
広がるように現像液を吐出する複数のノズルとを具備
し、 前記複数のノズルより吐出された現像液が隣接するノズ
ル間で相互に重なるように一直線上に配置され、 前記複数のノズルより現像液が吐出される範囲が、一方
が前記基板のほぼ角部に及び、他方が前記基板の一辺の
ほぼ中央部に及ぶことを特徴とする現像装置。
1. A holding and rotating means for rotating a rectangular substrate while holding it, and a curtain-like continuous flow shape with respect to the surface of the substrate rotated by the holding and rotating means, and to spread in a conical shape. A plurality of nozzles for ejecting the developing solution, and the developing solutions ejected from the plurality of nozzles are arranged in a straight line so that the adjacent nozzles overlap each other, and the developing solution is ejected from the plurality of nozzles. The developing device is characterized in that one extends substantially to a corner portion of the substrate and the other extends to a substantially central portion of one side of the substrate.
【請求項2】 請求項1に記載の現像装置であって、 前記保持回転手段により保持された基板表面に対し、カ
ーテン状に連続する流形を描くように、かつ、円錐状に
広がるように洗浄液を高圧で噴出する高圧洗浄手段をさ
らに具備することを特徴とする現像装置。
2. The developing device according to claim 1, wherein the surface of the substrate held by the holding and rotating means is shaped like a curtain-shaped continuous flow and spreads in a conical shape. A developing device further comprising high-pressure cleaning means for ejecting a cleaning liquid at high pressure.
【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の現像装
置であって、 前記複数のノズルが、1.5〜2.5(kg/cm・c
m)の吐出圧で現像液を吐出することを特徴とする現像
装置。
3. The developing device according to claim 1, wherein the plurality of nozzles are 1.5 to 2.5 (kg / cm · c).
A developing device which discharges the developing solution at a discharge pressure of m).
【請求項4】 請求項1から請求項3のうちいずれか1
項に記載の現像装置であって、 前記保持回転手段が、200〜300(rpm)の速度
で基板を回転することを特徴とする現像装置。
4. Any one of claims 1 to 3
The developing device as described in the item 1, wherein the holding and rotating unit rotates the substrate at a speed of 200 to 300 (rpm).
【請求項5】 矩形基板を回転させながら現像液を基板
に吐出する現像方法であって、 基板表面に対し、カーテン状に連続する流形を描くよう
に、かつ、円錐状に広がるように現像液を吐出し、この
現像液が吐出される範囲が、一方が基板のほぼ角部に及
び、他方が基板の一辺のほぼ中央部に及ぶことを特徴と
する現像方法。
5. A developing method of ejecting a developing solution onto a substrate while rotating a rectangular substrate, wherein the developing is performed so as to draw a continuous stream shape like a curtain on the surface of the substrate and to spread in a conical shape. A developing method in which a liquid is discharged and the developing liquid is discharged in such a manner that one of the liquids is discharged to a substantially corner portion of the substrate and the other is discharged to a substantially central portion of one side of the substrate.
【請求項6】 請求項5に記載の現像方法であって、 前記基板表面に対して現像液を吐出した後に、カーテン
状に連続する流形を描くように、かつ、円錐状に広がる
ように洗浄液を高圧で噴出することを特徴とする現像方
法。
6. The developing method according to claim 5, wherein after the developing solution is discharged onto the surface of the substrate, a continuous flow shape is drawn in a curtain shape and spread in a conical shape. A developing method characterized in that a cleaning liquid is ejected at a high pressure.
【請求項7】 請求項6に記載の現像方法であって、 前記基板表面に対し洗浄液を高圧で噴出した後に、前記
基板表面に対しリンス液を供給することを特徴とする現
像方法。
7. The developing method according to claim 6, wherein a rinsing liquid is supplied to the substrate surface after the cleaning liquid is jetted at a high pressure to the substrate surface.
【請求項8】 請求項7に記載の現像方法であって、 前記基板表面に対しリンス液を供給した後に、基板を回
転させて振り切り乾燥することを特徴とする現像方法。
8. The developing method according to claim 7, wherein after the rinse liquid is supplied to the surface of the substrate, the substrate is rotated and shaken off to dry.
【請求項9】 矩形基板を保持しつつ回転する保持回転
手段と、この保持回転手段で保持された基板を支持する
複数の支持ピンとを有し、 前記保持回転手段に保持された基板を回転させた状態
で、少なくとも前記矩形基板の中心部と周縁の一部との
間に現像液を連続的に所定の圧力で供給して現像処理を
行う工程と、 前記保持回転手段で及び前記複数の支持ピンで支持され
た前記矩形基板を静止した状態で、前記矩形基板の短手
方向を覆うようにかつ前記矩形基板の長手方向に走査す
るように洗浄液を連続的に前記現像液を供給する圧力よ
り大きい圧力で供給して洗浄処理を行う工程とを具備す
ることを特徴とする現像方法。
9. A holding / rotating unit that rotates while holding a rectangular substrate, and a plurality of support pins that support the substrate held by the holding / rotating unit, and rotate the substrate held by the holding / rotating unit. In this state, a developing solution is continuously supplied at a predetermined pressure between at least the central portion and a part of the peripheral edge of the rectangular substrate to perform a developing process; With the rectangular substrate supported by the pin stationary, a cleaning liquid is supplied continuously from the pressure for supplying the developing liquid so as to cover the lateral direction of the rectangular substrate and scan in the longitudinal direction of the rectangular substrate. And a step of performing a cleaning process by supplying with a large pressure.
【請求項10】 請求項9に記載の現像方法であって、 前記現像処理を行う工程と前記洗浄処理を行う工程とで
前記矩形基板を支持する領域が異なることを特徴とする
現像方法。
10. The developing method according to claim 9, wherein a region for supporting the rectangular substrate is different between the step of performing the developing process and the step of performing the cleaning process.
【請求項11】 請求項9または請求項10に記載の現
像方法であって、 前記現像処理を行う工程と前記洗浄処理を行う工程とで
前記矩形基板の側方に面する容器が異なることを特徴と
する現像方法。
11. The developing method according to claim 9, wherein the container facing the side of the rectangular substrate is different between the developing process and the cleaning process. Characteristic development method.
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