JP2000223458A - Substrate-processing apparatus - Google Patents

Substrate-processing apparatus

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JP2000223458A
JP2000223458A JP2090799A JP2090799A JP2000223458A JP 2000223458 A JP2000223458 A JP 2000223458A JP 2090799 A JP2090799 A JP 2090799A JP 2090799 A JP2090799 A JP 2090799A JP 2000223458 A JP2000223458 A JP 2000223458A
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spray
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processing
developer
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To protect a processing solution against deterioration and contamination when it is newly fed by a method, wherein a processing solution left in a spray means is collected, after it is sprayed through a spray means. SOLUTION: After a developing solution is sprayed by a spray means, spray nozzles 71 are turned upwards above a horizontal line by a turning means 73, and in this state, the one end of a spray pipe 70 is moved upwards through the intermediary of an engaging rod 721 by the rotation of a circular cam 722 as a sloping means. As a result of this setup, a residual developing solution in the spray pipe 70 is made to flow downward due to its own weight to the other end located lower than the one end and collected into a developing solution tank 42, by a developing solution recovering means 9 that is connected to the spray pipe 70.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウェハやフォト
マスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基板、
光ディスク用の基板に処理液を供給して所定処理を行う
基板処理装置に関する。
The present invention relates to a glass substrate for a semiconductor wafer or a photomask, a glass substrate for a liquid crystal display,
The present invention relates to a substrate processing apparatus that performs a predetermined process by supplying a processing liquid to a substrate for an optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置の製造工程に
は、半導体ウェハやガラス基板のような被処理基板に処
理液を供給することにより、被処理基板の表面やその表
面に形成された薄膜に対する処理を施す工程が含まれ
る。このような工程を実施するための基板処理装置の中
には、処理対象の基板をほぼ水平な状態で直線的に搬送
しながら、その基板の表面に所定の処理液を供給するこ
とによって、基板に処理を施すようにしたものがある。
2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a semiconductor device or a liquid crystal display device, a processing liquid is supplied to a substrate to be processed such as a semiconductor wafer or a glass substrate, so that a thin film formed on the surface of the substrate or the surface thereof is formed. And performing a process for In a substrate processing apparatus for performing such a process, a predetermined processing liquid is supplied to a surface of a substrate to be processed while the substrate to be processed is linearly transported in a substantially horizontal state. There are some which are made to process.

【0003】この種の基板処理装置は、処理すべき基板
を収容するための処理槽と、この処理槽内を搬送される
基板に向けて処理液を上方からスプレーするためのノズ
ルとを備えている。ノズルから噴出される処理液は、処
理槽外に設けられた処理液タンクに貯留されており、こ
の処理液タンクから処理液供給配管を介してノズルに供
給されるようになっている。ノズルに供給された処理液
は、ノズルから基板に向けて勢いよく噴射される。そし
て、基板に供給された後の処理液は、処理槽の底面に接
続された処理液回収配管を通って処理液タンクに回収さ
れて、次の基板の処理に再利用されるようになってい
る。
[0003] This type of substrate processing apparatus is provided with a processing tank for accommodating a substrate to be processed, and a nozzle for spraying a processing liquid from above onto a substrate conveyed in the processing tank. I have. The processing liquid ejected from the nozzle is stored in a processing liquid tank provided outside the processing tank, and is supplied from the processing liquid tank to the nozzle via a processing liquid supply pipe. The processing liquid supplied to the nozzle is vigorously jetted from the nozzle toward the substrate. Then, the processing liquid after being supplied to the substrate is collected in the processing liquid tank through a processing liquid recovery pipe connected to the bottom surface of the processing tank, and is reused for processing the next substrate. I have.

【0004】所定の処理液とは、基板の主面に形成され
た金属膜をエッチングする酸性溶液であるエッチング
液、基板の主面からレジスト膜を剥離するアルカリ溶液
である剥離液、レジスト膜を現像するアルカリ溶液であ
る現像液、および、界面活性剤などを含む溶液である、
現像液、および、界面活性剤などを含む溶液などの洗浄
液などである。
[0004] The predetermined processing solution includes an etching solution that is an acidic solution for etching a metal film formed on the main surface of the substrate, a stripping solution that is an alkaline solution for removing the resist film from the main surface of the substrate, and a resist film. A developer that is an alkaline solution to be developed, and a solution containing a surfactant and the like.
Examples include a developer and a cleaning solution such as a solution containing a surfactant.

【0005】例えば、洗浄ユニットは、枚葉式の処理部
であって、搬入部、UVオゾン洗浄部、水洗部、液滴除
去部、及び搬出部からなる。搬入部から搬出部までは、
コンベアによって基板を搬送しつつ洗浄処理する。コン
ベアにより水洗部に運ばれた基板は、水洗部において、
ロールブラシによるスクラブ洗浄、超音波スプレー洗
浄、及び高圧ジェットスプレーによる純水での洗浄が行
われる。この後、基板は、液滴除去部において、エアー
ナイフにより表面に残留する純水の液滴が飛ばされる。
また、現像ユニットにおいてはノズルより噴霧状の現像
液を基板上面にシャワー状にかけるスプレー現像が行わ
れる。
[0005] For example, the cleaning unit is a single-wafer processing unit, and includes a carry-in unit, a UV ozone cleaning unit, a water washing unit, a droplet removing unit, and a carry-out unit. From the loading section to the unloading section,
The cleaning process is performed while transporting the substrate by the conveyor. The substrate transported to the washing section by the conveyor is
Scrub cleaning by a roll brush, ultrasonic spray cleaning, and cleaning with pure water by high-pressure jet spray are performed. Thereafter, in the droplet removing unit, the pure water droplets remaining on the surface of the substrate are blown off by an air knife.
In the developing unit, spray development is performed in which a spray of a developer is sprayed from the nozzle onto the upper surface of the substrate.

【0006】これらの処理液は、図7に示すように、処
理槽内の基板搬送路上方で、基板200が搬送される基
板搬送方向Aに沿って複数配設されたスプレーパイプ2
01から基板200の主面である上面に供給される。こ
こで、スプレーパイプ201に穿孔された各ノズルから
基板200の上面への処理液吐出位置が固定であると、
基板200は搬送方向には移動しているもののその幅方
向には移動しないため、スプレーパイプ201の直下の
基板200の上面にどうしても強く処理液が当たること
になる。よって、基板200の上面での処理液の供給に
ムラが生じることとなる。このため、これらの各スプレ
ーパイプ201をその長手方向の中心軸を回動中心とし
て、基板搬送方向Aと直交する方向Bに沿って回動させ
つつ処理液をそのノズルから供給し、基板の上面への処
理液供給の均一化を図っている。
[0007] As shown in FIG. 7, a plurality of spray pipes 2 are provided above the substrate transport path in the processing tank along the substrate transport direction A in which the substrate 200 is transported.
01 to the upper surface which is the main surface of the substrate 200. Here, when the processing liquid discharge position from each nozzle perforated in the spray pipe 201 to the upper surface of the substrate 200 is fixed,
Although the substrate 200 moves in the transport direction but does not move in its width direction, the processing liquid is strongly applied to the upper surface of the substrate 200 immediately below the spray pipe 201. Therefore, the supply of the processing liquid on the upper surface of the substrate 200 becomes uneven. For this reason, the processing liquid is supplied from the nozzle while rotating each of the spray pipes 201 about a central axis in the longitudinal direction thereof in a direction B orthogonal to the substrate transport direction A, and the processing liquid is supplied from the nozzle. The supply of the processing liquid to the substrate is made uniform.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな装置では、処理液のスプレーパイプ201による供
給が終了した後にもスプレーパイプ201の管内に残存
する処理液がノズルから落下して排出される。しかしな
がら、新たな処理液の供給により押出すわけでは無いの
で、完全に排出しきれずスプレーパイプ201の管内に
処理液が残ってしまう。このため、次の基板の処理に際
してスプレーパイプ201内に残存し劣化した処理液
が、新たに供給される処理液に混入し汚染された処理液
が噴射されるという問題があった。また、排出しきれな
かった残存処理液がスプレー処理過程でない時に基板上
に落下し、その処理液により不要な処理が起こってしま
うという問題があった。
However, in such an apparatus, even after the supply of the processing liquid through the spray pipe 201 is completed, the processing liquid remaining in the spray pipe 201 drops from the nozzle and is discharged. However, since the processing liquid is not extruded by supplying a new processing liquid, the processing liquid cannot be completely discharged and the processing liquid remains in the spray pipe 201. For this reason, there is a problem in that the processing liquid remaining and degraded in the spray pipe 201 during the next processing of the substrate is mixed with the newly supplied processing liquid and the contaminated processing liquid is jetted. In addition, there is a problem that the remaining processing liquid that has not been completely discharged falls on the substrate when not in the spray processing step, and unnecessary processing is caused by the processing liquid.

【0008】そこで、この発明は、スプレー手段に新た
な処理液を導いた際に新たな処理液を汚染することがな
い基板処理装置を提供することを目的とする。また、こ
の発明の他の目的は、スプレー手段に新たな処理液を導
いく前にスプレー手段内に残存する処理液を回収し、新
たな処理液への混入を防止し汚染するとともに処理過程
でない時に基板上に処理液が落下することがない基板処
理装置を提供することを目的とする。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus which does not contaminate a new processing liquid when a new processing liquid is introduced to a spray unit. Another object of the present invention is to recover the processing liquid remaining in the spraying means before introducing the new processing liquid to the spraying means, to prevent the contamination with the new processing liquid, to contaminate the processing liquid, and to avoid contamination during the processing step. An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus in which a processing liquid does not sometimes fall on a substrate.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の請求項1記載の発明は、処理液を貯めておくことので
きる処理液貯留容器と、該処理液貯留容器から処理液供
給手段を介して導かれた処理液を基板の主面へ吹き付け
るスプレーノズルを有するスプレー手段と、該スプレー
手段のスプレーノズルの向きを前記基板の主面に対向す
る状態と上向状態に変換する回動手段と、該回動手段に
よりノズルが上向状態のスプレー手段の一端を持ち上げ
スプレー手段を傾倒させる傾斜手段と、該傾斜手段によ
り傾倒したスプレー手段内で下端側に自重流下した処理
液を前記スプレー手段外部に導くためスプレー手段に接
続された処理液回収手段を備えたことを特徴とする基板
処理装置である。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a processing liquid storage container capable of storing a processing liquid, and a processing liquid supply means provided from the processing liquid storage container. Spray means having a spray nozzle for spraying the processing liquid guided through the main surface of the substrate, and rotating means for changing the direction of the spray nozzle of the spray means into a state facing the main surface of the substrate and an upward state. Tilt means for raising one end of the spray means with the nozzle upward by the rotating means to tilt the spray means; and spraying the processing liquid having its own weight flowing down to the lower end side in the spray means tilted by the tilt means. A substrate processing apparatus comprising a processing liquid recovery means connected to a spray means for guiding the processing liquid to the outside.

【0010】これにより、スプレー手段はノズルが上向
状態で傾斜されるので、スプレー手段内に残存する処理
液は自重流下により処理液回収路に回収することができ
る。
Thus, since the spray means is inclined with the nozzle facing upward, the processing liquid remaining in the spray means can be recovered in the processing liquid recovery path under its own weight.

【0011】請求項2記載の発明は、前記スプレー手段
による処理液の吹き付けが終了した時、回動手段により
ノズルを上向状態とした後、スプレー手段の一端を持ち
上げるべく前記傾斜手段を制御する制御手段を備えたこ
とを特徴とする請求項1記載の基板処理装置である。
According to a second aspect of the present invention, when the spraying of the processing liquid by the spray means is completed, the nozzle is turned upward by the rotating means, and then the tilt means is controlled to lift one end of the spray means. 2. The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising control means.

【0012】この構成によれば、スプレー手段から処理
液が滴下しない状態でスプレー手段を傾斜できるから、
確実に残存する処理液を回収することができ上にスプレ
ー手段の傾斜途中における処理液の滴下を防止する事が
できる。
According to this structure, the spray means can be inclined without the treatment liquid dripping from the spray means.
The remaining processing liquid can be surely collected, and dripping of the processing liquid in the middle of the inclination of the spray means can be prevented.

【0013】請求項3記載の発明は、前記処理液回収手
段は前記スプレー手段の一端を介して処理液供給配管か
らノズルに処理液を導き、前記スプレー手段の他端を傾
斜手段により持ち上げることにより流下し処理液供給配
管に戻された処理液を供給配管から分岐して前記処理液
貯留容器に回収することを特徴とする請求項1ないし2
のいずれかに記載の基板処理装置である。
According to a third aspect of the present invention, the processing liquid collecting means guides the processing liquid from a processing liquid supply pipe to a nozzle via one end of the spray means, and lifts the other end of the spray means by an inclination means. The processing liquid returned to the processing liquid supply pipe flowing down is branched from the supply pipe and collected in the processing liquid storage container.
A substrate processing apparatus according to any one of the above.

【0014】この構成によれば、処理液回収手段は処理
液供給路のスプレー手段との接続部分の含む一部を介し
て処理液を回収することができるから処理液回収手段の
構成を簡単にすることができる。
According to this structure, the processing liquid collecting means can collect the processing liquid via a part of the processing liquid supply path including the connection portion with the spray means, so that the structure of the processing liquid collecting means can be simplified. can do.

【0015】請求項4記載の発明は、前記制御手段は基
板処理時にスプレー手段を基板に対向して揺動または回
動させつつ基板の主面に処理液を供給して処理を行うこ
とを特徴とする請求項2ないし3のいずれかに記載の基
板処理装置である。
According to a fourth aspect of the present invention, the control means performs processing by supplying a processing liquid to the main surface of the substrate while swinging or rotating the spraying means facing the substrate during the processing of the substrate. 4. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein:

【0016】この構成によれば、制御手段による回動手
段のコントロールにより基板のスプレー手段による処理
液の供給を基板主面に対して均一的に行える。また、処
理液回収時には回動手段をノズルが上向状態になるまで
作動させるように制御すれば良い。
According to this configuration, the supply of the processing liquid by the spray means for the substrate can be uniformly performed on the main surface of the substrate by controlling the rotating means by the control means. Further, at the time of processing liquid recovery, control may be performed such that the rotating means is operated until the nozzle is in the upward state.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下では、この発明の実施の形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。第1図は、こ
の発明の一実施形態に係る基板処理装置の構成を簡略化
して示す断面図である。この基板処理装置は、インデク
サ部1に配置された露光処理後の基板Sを処理部2へ搬
入し、この処理部2内をほぼ水平な基板搬送方向TDに
搬送する過程において、その基板Sに処理液を供給する
ことにより、基板Sの表面に現像処理を施すための装置
である。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing a simplified configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus loads the substrate S after the exposure processing disposed in the indexer unit 1 into the processing unit 2 and transports the substrate S in the substantially horizontal substrate transport direction TD in the processing unit 2. This is an apparatus for performing a developing process on the surface of the substrate S by supplying a processing liquid.

【0018】インデクサ部1は、複数枚の基板Sを上下
方向に積層して収容可能なカセットCを載置することが
できるカセット載置部11と、カセット載置部11に載
置されたカセットCから基板Sを1枚ずつ取り出して、
処理部2に搬入するためのインデクサロボット12とを
備えている。
The indexer section 1 includes a cassette mounting section 11 on which a plurality of substrates S can be stacked in a vertical direction and on which a cassette C capable of housing a plurality of substrates S can be mounted, and a cassette mounted on the cassette mounting section 11. Take out the substrates S one by one from C,
It has an indexer robot 12 for carrying it into the processing unit 2.

【0019】処理部2には、基板搬送方向TDに関して
上流側から順に、搬入部3、現像槽4、水洗槽5および
搬出部6が直列に結合されて配置されている。搬入部
3、現像槽4、水洗槽5および搬出部6には、それぞ
れ、基板搬送方向TDに沿って基板Sを搬送するための
複数の搬送ローラ31、41、51、61が備えられて
いる。搬送ローラ31、41、51、61は、いずれ
も、基板搬送方向TDと直交する水平方向に延びた軸線
まわりに回転して、その上に置かれた基板Sを基板搬送
方向TDに沿って搬送することができる。インデクサロ
ボット12によって、カセットCから取り出された基板
Sが搬入部3の搬送ローラ31上に置かれると、その基
板Sは、現像槽4および水洗槽5へ順に搬入されて現像
処理を受けた後、搬出部6の搬送ローラ61上に払い出
される。搬出部50に払い出されてきた処理済みの基板
Sは、図示しない搬出ロボットによって搬送ローラ61
上から取り除かれる。
In the processing section 2, a carry-in section 3, a developing tank 4, a washing tank 5 and a carry-out section 6 are arranged in series from the upstream side in the substrate transfer direction TD in order. The carry-in section 3, the developing tank 4, the washing tank 5, and the carry-out section 6 are respectively provided with a plurality of transport rollers 31, 41, 51, 61 for transporting the substrate S along the substrate transport direction TD. . Each of the transport rollers 31, 41, 51, and 61 rotates around an axis extending in a horizontal direction orthogonal to the substrate transport direction TD, and transports the substrate S placed thereon along the substrate transport direction TD. can do. When the substrate S taken out of the cassette C is placed on the transport roller 31 of the loading unit 3 by the indexer robot 12, the substrate S is loaded into the developing tank 4 and the washing tank 5 in order and subjected to the developing process. Is discharged onto the transport rollers 61 of the discharge section 6. The processed substrate S delivered to the unloading section 50 is transferred to a transport roller 61 by an unillustrated unloading robot.
Removed from above.

【0020】現像槽4は、搬送ローラ41の上方に、本
願発明を構成する基板Sの上面に現像液をスプレーする
ための現像液用スプレー手段7を備えている。詳細は後
述するが、この現像液用スプレー手段7には、処理液貯
留容器としての現像液タンク42に貯留された現像液
が、現像液(処理液)供給手段8を介して供給されてい
る。現像液供給手段8によって、現像液用スプレー手段
7から現像液を噴射させたり、その噴射を停止されたり
することができる。この構成により、露光処理後の基板
Sの表面に向けて現像液を供給することができ、基板S
の表面の不要なレジスト膜を除去して、その表面にレジ
ストパターンを形成することができる。また、基板Sに
供給された後の現像液は、現像槽4の底面に接続された
回収配管43を介して、現像液タンク42に回収される
ようになっている。現像液タンク42は現像槽4の底部
と図示しないフィルタを有する回収配管43によって連
結されており、現像液は現像槽4からフィルタを介して
現像液タンク42に回収されて循環使用される構成とな
っている。
The developing tank 4 is provided with a developer spray means 7 for spraying a developing solution on the upper surface of the substrate S constituting the present invention, above the transport roller 41. As will be described later in detail, the developer spray means 7 is supplied with a developer stored in a developer tank 42 as a processing liquid storage container via a developer (processing liquid) supply means 8. . By the developer supply means 8, the developer can be ejected from the developer spray means 7 or the ejection can be stopped. With this configuration, the developer can be supplied to the surface of the substrate S after the exposure processing, and the substrate S
Unnecessary resist film on the surface can be removed to form a resist pattern on the surface. The developing solution supplied to the substrate S is collected in a developing solution tank 42 via a collecting pipe 43 connected to the bottom surface of the developing tank 4. The developer tank 42 is connected to the bottom of the developer tank 4 by a collection pipe 43 having a filter (not shown). The developer is collected from the developer tank 4 to the developer tank 42 via the filter and is used for circulation. Has become.

【0021】水洗槽5は、搬送ローラ51の上方および
下方に、それぞれ基板Sの表面および裏面に純水を供給
するための純水用スプレー手段52U、52Lを備えて
いる。スプレー手段52Uには、純水タンク53に貯留
された純水が、ポンプ54によって汲み出され、純水供
給管55を介して供給されている。また、スプレー手段
52Lには、ポンプ54によって純水タンク53から汲
み出された純水が、純水供給管55に分岐して結合され
た分岐管56を介して供給されている。純水供給管55
の途中部には、エア弁57が介装されており、このエア
弁57を開閉することによって、スプレー手段52U、
52Lから純水を噴射させたり、その噴射を停止させた
りすることができる。この構成により、現像液によって
処理された基板Sの表面および裏面に向けて純水を供給
することができ、その表面および裏面に付着している現
像液などを洗い流すことができる。
The washing tank 5 is provided above and below the transport roller 51 with pure water spray means 52U and 52L for supplying pure water to the front and back surfaces of the substrate S, respectively. Pure water stored in a pure water tank 53 is pumped by a pump 54 and supplied to the spray means 52U via a pure water supply pipe 55. Further, pure water pumped from a pure water tank 53 by a pump 54 is supplied to the spray means 52L via a branch pipe 56 branched and connected to a pure water supply pipe 55. Pure water supply pipe 55
An air valve 57 is interposed in the middle of the air valve 57. By opening and closing the air valve 57, the spray means 52U,
Pure water can be injected from 52L or the injection can be stopped. With this configuration, pure water can be supplied to the front and back surfaces of the substrate S that has been treated with the developer, and the developer and the like attached to the front and back surfaces can be washed away.

【0022】基板Sに供給された後の純水は、バルブ5
8Rおよび回収配管59Rを介して純水タンク53に回
収されるか、バルブ58Aおよび廃液配管59Aを介し
て廃棄される。具体的には、基板Sに対して洗浄処理を
開始した当初の期間には、バルブ58Rを閉じて、バル
ブ58Aを開く。これにより、基板Sから洗い流された
現像液などを多く含んだ純水が廃棄される。そして、一
定時間が経過した後にバルブ58Rを開くとともにバル
ブ58Aを閉じる。これにより、基板Sの洗浄に用いら
れた後の純水のうち、比較的清浄なものについては、純
水タンク53に回収することができる。
The pure water supplied to the substrate S is supplied to a valve 5
It is collected in the pure water tank 53 via 8R and the recovery pipe 59R, or is discarded via the valve 58A and the waste liquid pipe 59A. Specifically, during the initial period when the cleaning process for the substrate S is started, the valve 58R is closed and the valve 58A is opened. As a result, pure water containing a large amount of the developer and the like washed off from the substrate S is discarded. Then, after a certain time has elapsed, the valve 58R is opened and the valve 58A is closed. Thereby, of the pure water used for cleaning the substrate S, relatively pure water can be collected in the pure water tank 53.

【0023】搬出部6の入口には、搬送ローラ61の上
方および下方に、それぞれ基板Sの表面および裏面に乾
燥エアを吹き付ける一対のエアナイフ装置62,63が
配置されている。これらの一対のエアナイフ装置62,
63には、図外のエア供給源から送り出される乾燥エア
が、エア供給配管64を介して供給されている。エア供
給配管64にはエア弁65が介装されていて、このエア
弁65を開閉することにより、エアナイフ装置62,6
3から乾燥エアを基板Sに向けて供給したり、その供給
を停止したりできる。この構成により、搬出部6に払い
出されてきた基板Sの表面および裏面に乾燥エアを吹き
付けることができ、その表面および裏面に付着している
水分を除去することができる。
A pair of air knife devices 62 and 63 for blowing dry air to the front and back surfaces of the substrate S are arranged above and below the transport roller 61 at the entrance of the carry-out section 6, respectively. These pair of air knife devices 62,
To 63, dry air sent from an air supply source (not shown) is supplied via an air supply pipe 64. An air valve 65 is interposed in the air supply pipe 64. By opening and closing the air valve 65, the air knife devices 62 and 6 are opened.
The dry air can be supplied to the substrate S from 3 or the supply can be stopped. With this configuration, it is possible to blow dry air onto the front and back surfaces of the substrate S delivered to the carry-out section 6, and to remove moisture adhering to the front and back surfaces.

【0024】ここで、現像槽4においてスプレー手段7
内の残存現像液を回収する機構の一例について更に詳細
に説明する。図2は、図1の切断面線I−Iから見た断面
図である。図3は図2の現像槽4の正面構成を示し、回
動手段の構成を示す平面図、図4は図2においてスプレ
ー手段7を傾倒させた状態を示す断面図である。図2に
おいて、現像槽4に備えられている複数本の搬送ローラ
41は、いずれも、一対の端縁支持ローラ411と中央
支持ローラ412とを回転軸413に固定して構成され
ている、一対の端縁支持ローラ411は、基板Sの基板
搬送方向(図2の紙面に垂直な方向)に沿う側縁の下面
を支持する本体部414と、基板Sの側面をガイドする
フランジ部415とを有している。また、中央支持ロー
ラ412は、一対の端縁支持ローラ411の間の中央部
に設けられており、基板Sの下面を支持するようになっ
ている。
Here, the spray means 7 in the developing tank 4
An example of a mechanism for collecting the remaining developer in the above will be described in more detail. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II of FIG. FIG. 3 is a plan view showing the front configuration of the developing tank 4 of FIG. 2 and showing the configuration of the rotating means, and FIG. 4 is a cross-sectional view showing the state where the spray means 7 is tilted in FIG. In FIG. 2, a plurality of transport rollers 41 provided in the developing tank 4 are each configured by fixing a pair of edge support rollers 411 and a center support roller 412 to a rotation shaft 413. The edge support roller 411 includes a main body 414 that supports a lower surface of a side edge of the substrate S along a substrate transport direction (a direction perpendicular to the paper surface of FIG. 2) and a flange 415 that guides a side surface of the substrate S. Have. The center support roller 412 is provided at the center between the pair of edge support rollers 411, and supports the lower surface of the substrate S.

【0025】この搬送ローラ41は、一端(図2中、右
側)が側板44を貫通し、側板44に沿って配置された
モータ等の駆動手段20に連結し、この駆動により各搬
送ローラ41は同一方向の同期回転に伴って駆動してい
る。よって搬送ローラ41上に基板Sを載置することに
より、基板Sは搬送方向TDに向けて搬送されるように
なっている。搬送ローラ41の駆動手段20の動作は、
後述する制御手段によって制御されるようになってい
る。これにより、たとえば、搬送ローラ41は、基板S
を搬送方向TDに搬送するために正転されたり、基板S
を搬送方向TDとは逆方向に戻すために逆転されたりす
る。これにより、基板Sは、現像槽4内で揺動され、こ
れらの各処理部における処理が基板Sの全域において均
一に施されるようになっており、かつ、各処理部の搬送
路長を長くすることなく各工程に必要十分な処理時間を
確保できるようになっている。
One end (right side in FIG. 2) of the transport roller 41 penetrates through the side plate 44 and is connected to a driving means 20 such as a motor arranged along the side plate 44. They are driven by synchronous rotation in the same direction. Therefore, by placing the substrate S on the transport roller 41, the substrate S is transported in the transport direction TD. The operation of the driving means 20 of the transport roller 41 is as follows.
It is controlled by control means described later. Thereby, for example, the transport roller 41
Is transported forward in the transport direction TD or the substrate S
To return in the direction opposite to the transport direction TD. As a result, the substrate S is swung in the developing tank 4 so that the processing in each of these processing units is performed uniformly over the entire area of the substrate S, and the transport path length of each processing unit is reduced. The processing time necessary and sufficient for each step can be secured without lengthening.

【0026】この搬送経路に設けられた現像槽4内の上
方には、基板Sの上面に向けて現像液を供給する複数の
スプレー手段7が所定間隔毎に配設されている。これら
の各スプレー手段7はそれぞれ、基板Sの搬送方向TD
に沿って配設されており、搬送方向TDに対して直交す
る方向に複数のスプレーパイプ70を並設されている。
各スプレーパイプ70は円筒管により構成され、その周
面の長手方向に複数のスプレーノズル71が一列に設け
てある。このスプレーノズル71は先端が開口され、ス
プレーパイプ70内に導かれた現像液をこの開口より吐
き出すものである。スプレー手段7はスプレーパイプ7
0の一端(図2中、右側)にスプレーパイプ70を傾倒
させる傾斜手段72が、他端(図2中、左側)にはスプ
レーパイプ70を回動させる回動手段73が配設されて
いる。また、スプレーパイプ73の他端は現像液の供給
を可能とする為、現像液供給手段8に接続される。
A plurality of spray means 7 for supplying a developing solution toward the upper surface of the substrate S are arranged at predetermined intervals above the inside of the developing tank 4 provided in the transport path. Each of these spray means 7 is provided in the transport direction TD of the substrate S.
And a plurality of spray pipes 70 are juxtaposed in a direction orthogonal to the transport direction TD.
Each spray pipe 70 is constituted by a cylindrical pipe, and a plurality of spray nozzles 71 are provided in a row in a longitudinal direction of a peripheral surface thereof. The spray nozzle 71 has an open end, and discharges the developing solution guided into the spray pipe 70 from the opening. Spray means 7 is spray pipe 7
A tilting means 72 for tilting the spray pipe 70 is provided at one end (the right side in FIG. 2) of the zero, and a rotating means 73 for rotating the spray pipe 70 is provided at the other end (the left side in FIG. 2). . Further, the other end of the spray pipe 73 is connected to the developing solution supply means 8 to enable the supply of the developing solution.

【0027】傾斜手段72は、スプレーパイプ72の一
端に突設させた係止棒721と、この係止棒721に当
接し上方に押上げる円形カム722と、この円形カム7
22を後述する制御手段からの信号により回転される回
転軸723により構成される。スプレーパイプ70には
復帰バネ724が側板44との間に配置され、常にスプ
レーパイプ70を一端に装着された軸受け725を介し
て側板44の側面に配置された支持板726上に位置す
るように下方に付勢されている。支持板726は断面L
字状で、その下部にて側板44に装着され、立設壁に形
成されたスリット727に軸受け725が進入、下降し
て支持板726上に載置される。回転軸723は円形カ
ム722が偏心して配設され、図外の駆動源と連結され
る事により駆動可能となり、これにより回転軸723が
回転すると円形カム722と係止棒721との係合によ
りスプレーパイプ70の一端は復帰バネ724に逆らっ
て支持板726より上方に持ち上げられる。
The inclining means 72 includes a locking rod 721 projecting from one end of the spray pipe 72, a circular cam 722 abutting on the locking rod 721 and pushing upward, and a circular cam 7.
22 is constituted by a rotating shaft 723 which is rotated by a signal from a control means described later. A return spring 724 is disposed between the spray pipe 70 and the side plate 44 so that the return spring 724 is always positioned on a support plate 726 disposed on a side surface of the side plate 44 via a bearing 725 attached to one end of the spray pipe 70. It is biased downward. The support plate 726 has a cross section L
The bearing 725 enters the slit 727 formed in the upright wall, moves down, and is placed on the support plate 726. The rotating shaft 723 is eccentrically disposed with a circular cam 722 and can be driven by being connected to a drive source (not shown). When the rotating shaft 723 rotates, the circular cam 722 and the locking rod 721 engage with each other. One end of the spray pipe 70 is lifted above the support plate 726 against the return spring 724.

【0028】ここで係止棒721と円形カム722は各
スプレーパイプ70毎に設けてあっても良いし、一個所
に配置しスプレーパイプ70を一端で連結するようにし
ても良い。また、基板S上面への現像液供給の均一化を
図るべく、各スプレー手段7には、各スプレーパイプ7
0をそれぞれの長手方向の中心軸を回動中心として、基
板搬送方向TDと直交する方向に回動させる回動手段7
3が側板45の外部に沿って配設されている。
Here, the locking rod 721 and the circular cam 722 may be provided for each spray pipe 70, or may be arranged at one place and the spray pipe 70 is connected at one end. In order to make the supply of the developing solution to the upper surface of the substrate S uniform, each spray means 7 is provided with a spray pipe 7.
Rotating means 7 for rotating the substrate 0 in a direction perpendicular to the substrate transport direction TD around the center axis of each longitudinal direction as a rotation center.
3 are arranged along the outside of the side plate 45.

【0029】回動手段73は、図2および図3におい
て、駆動モータ74とスプレーパイプ70との間に介装
されたリンク機構75よりなる。リンク機構75は駆動
モータ74の回転軸に第1アーム751を介して一方端
が連結されたクランクアーム752を有し、クランクア
ーム752は第1アーム751を介して駆動モータ74
に連結される。クランクアーム752の他端は、第2ア
ーム753の一端に連結される。第2アーム753の他
端は側板45に配置された固定板46と兆番47を介し
て傾倒可能な可動取付板48(図3においては一点鎖線
で示す)に固定されたシャフト754に回動自在に嵌合
されており、駆動モータ74の回転軸の回転でリンク機
構75は第1アーム751、クランクアーム752さら
に第2アーム753を介してシャフト754の軸心を回
動中心として第3アーム753が所定角度Dだけ回動す
るように構成されている。また、各スプレーパイプ70
の他端はそれぞれ軸受け755で回動自在に軸支されて
いる。この軸受け755が側板45のスリット451に
内に進入し下辺部に軸受け755が当接してスプレーパ
イプ70が回動自在に支持される。
The rotating means 73 comprises a link mechanism 75 interposed between the drive motor 74 and the spray pipe 70 in FIGS. The link mechanism 75 has a crank arm 752 having one end connected to a rotation shaft of the drive motor 74 via a first arm 751, and the crank arm 752 is connected to the drive motor 74 via the first arm 751.
Linked to The other end of the crank arm 752 is connected to one end of the second arm 753. The other end of the second arm 753 pivots on a shaft 754 fixed to a movable mounting plate 48 (indicated by a dashed line in FIG. 3) that can be tilted via a fixed plate 46 and a truncated number 47 disposed on the side plate 45. The link mechanism 75 rotates freely about the axis of the shaft 754 via the first arm 751, the crank arm 752, and the second arm 753 by the rotation of the rotation shaft of the drive motor 74. 753 is rotated by a predetermined angle D. Also, each spray pipe 70
Are rotatably supported by bearings 755, respectively. The bearing 755 enters the slit 451 of the side plate 45, and the bearing 755 abuts on the lower side, so that the spray pipe 70 is rotatably supported.

【0030】さらに、各スプレーパイプ70にはそれぞ
れの外周に固定した各取付片756が設けられており、
各取付片756の下端部は揺動連結アーム757に連結
されている。この揺動連結アーム757の一端には揺動
連結アーム757から突出した突起758がスリットに
係合した連結板759が連結され、この連結板759が
シャフト754の外周に嵌合した第2アーム753の下
端部に連設されており、第2アーム753の回動によっ
て連結板759、揺動連結アーム757さらに各取付片
756を介して各スプレーパイプ70をそれぞれ各軸心
を回動中心として図5に示す所定角度Eだけ回動させる
構成となっている。
Further, each spray pipe 70 is provided with a mounting piece 756 fixed to the outer periphery thereof.
The lower end of each mounting piece 756 is connected to a swing connection arm 757. A connecting plate 759 in which a projection 758 protruding from the swing connecting arm 757 is engaged with the slit is connected to one end of the swing connecting arm 755, and a second arm 753 in which the connecting plate 759 is fitted on the outer periphery of the shaft 754. Are pivotally connected to the lower ends of the spray arms 70 through the connection plate 759, the swing connection arm 757, and the mounting pieces 756, respectively, with the rotation of the second arm 753. 5 is rotated by a predetermined angle E.

【0031】また、図2において現像液供給手段8は、
この回動手段73により各スプレーパイプ70の回動を
可能とするようにスプレーパイプ70の接続部80をア
ールを持たせると共に傾斜手段72による傾倒を許容可
能にする為に、材質自体も多少伸縮可能な樹脂製の可撓
性チューブなどで構成されており、スプレーパイプ70
の回動及び傾倒時の現像液供給手段8とスプレーパイプ
70の接続部80における移動を吸収するようにしてい
る。
In FIG. 2, the developing solution supply means 8 comprises:
The connecting portion 80 of the spray pipe 70 is provided with a radius so that each of the spray pipes 70 can be rotated by the rotating means 73, and the material itself slightly expands and contracts in order to allow the tilting means 72 to tilt. It is composed of a flexible resin tube or the like that can be used.
The movement of the connecting portion 80 between the developer supply means 8 and the spray pipe 70 at the time of turning and tilting is absorbed.

【0032】現像液供給手段8は各スプレーパイプ70
と連結部80を介して一端が接続された現像液タンク4
2の底部に、他端が連結された現像液供給配管81を有
し、現像液供給配管81の他端は現像液タンク42から
現像液供給配管81に現像液を送液するポンプ82が配
設されている。現像液供給配管81の途中部には、フィ
ルタ83とエア弁84が介装されており、このエア弁8
4を開閉することによってスプレー手段7から現像液を
噴射させたり、その噴射を停止されたりすることができ
る。この構成により、露光処理後の基板Sの上面に現像
液を、ポンプ82によって汲み出され、現像液供給配管
81を介してスプレーパイプ70のスプレーノズル71
から噴射して基板Sに所定の処理を施す構成となってい
る。
The developer supply means 8 is connected to each spray pipe 70
And a developer tank 4 having one end connected via a connecting portion 80
2 has a developer supply pipe 81 connected to the other end thereof, and a pump 82 for feeding the developer from the developer tank 42 to the developer supply pipe 81 is provided at the other end of the developer supply pipe 81. Has been established. A filter 83 and an air valve 84 are interposed in the middle of the developer supply pipe 81.
By opening and closing the nozzle 4, the developer can be ejected from the spray unit 7 or the ejection can be stopped. With this configuration, the developing solution is pumped by the pump 82 onto the upper surface of the substrate S after the exposure processing, and the spray nozzle 71 of the spray pipe 70 is
And performs a predetermined process on the substrate S.

【0033】更にスプレーパイプ70の他端側にはスプ
レーパイプ70内の残存現像液を現像液タンク42に回
収するための現像液(処理液)回収手段9が配設されて
いる。現像液回収手段9は現像液供給配管81のエア弁
84の下流側から分岐され現像液タンク42の上部に連
結された分岐回収配管90と、この分岐回収配管90に
現像液タンク42側から介装されたフィルタ91、エア
弁92により構成される。この現像液回収手段9によれ
ば、エア弁84を閉じエア弁92を開いた状態で現像液
供給配管81をスプレーパイプ70側から逆流してくる
現像液を分岐回収配管90を介して現像液タンク42に
導くこととなる。
Further, at the other end of the spray pipe 70, a developing solution (processing solution) collecting means 9 for collecting the remaining developing solution in the spray pipe 70 into the developing solution tank 42 is provided. The developer collecting means 9 is branched from a downstream side of the air valve 84 of the developer supply pipe 81 and is connected to a branch recovery pipe 90 connected to an upper part of the developer tank 42. A filter 91 and an air valve 92 are provided. According to the developing solution collecting means 9, the developing solution flowing backward from the spray pipe 70 through the developing solution supply pipe 81 with the air valve 84 closed and the air valve 92 opened is supplied to the developing solution via the branch collecting pipe 90. It will be led to the tank 42.

【0034】これらの現像液供給配管81、ポンプ8
2、フィルタ83およびエア弁84により、現像液タン
ク42からスプレー手段7内に現像液を供給する現像液
供給手段8が構成されている。同じく、この現像液供給
配管81の連結部80側の一部と分岐回収配管90、エ
ア弁91及びフィルタ91により現像液回収手段9が構
成される。
The developer supply pipe 81 and the pump 8
2, the filter 83 and the air valve 84 constitute a developer supply unit 8 for supplying a developer from the developer tank 42 into the spray unit 7. Similarly, a part of the developer supply pipe 81 on the connecting portion 80 side, the branch recovery pipe 90, the air valve 91, and the filter 91 constitute the developer recovery means 9.

【0035】図2を参照して現像槽4に関連する制御手
段100について説明する。図2は電気的構成を示すブ
ロック図で制御手段100を示し、傾斜手段72の回転
軸723と回動手段73の駆動モータ74と現像液供給
手段8及び現像液回収手段9はマイクロコンピュータを
有する制御部101により制御される。
The control means 100 related to the developing tank 4 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a block diagram showing the electrical configuration of the control means 100. The rotation shaft 723 of the tilt means 72, the drive motor 74 of the rotation means 73, the developer supply means 8 and the developer recovery means 9 have a microcomputer. It is controlled by the control unit 101.

【0036】制御部101は、さらに、搬送ローラ41
を駆動するための駆動手段20を制御するようになって
いる。この制御部101には、図示しない現像槽4の入
口センサおよび出口センサの出力信号が入力されるよう
になっている。これらのセンサの出力信号に基づいて、
制御手部101は、基板Sの搬送とそれに伴うスプレー
手段7による現像処理と処理工程後の残存現像液の回収
の制御を行う。
The control unit 101 further includes a transport roller 41
Is controlled by the driving means 20 for driving. Output signals of an inlet sensor and an outlet sensor of the developing tank 4 (not shown) are input to the control unit 101. Based on the output signals of these sensors,
The control unit 101 controls the transport of the substrate S, the developing process by the spray unit 7 accompanying the transport, and the recovery of the residual developer after the processing step.

【0037】ここで、以上の構成による現像処理工程に
おける現像槽4においてスプレー手段7内の残存現像液
を回収する動作の一例について詳細に説明する。図4
は、傾斜手段72によりスプレーパイプ70が傾倒した
状態を説明するための断面図である。図5は回動手段7
3によるスプレーノズル70の回動状態を示す説明図で
ある。
Here, an example of the operation of recovering the residual developing solution in the spray means 7 in the developing tank 4 in the developing process having the above configuration will be described in detail. FIG.
FIG. 7 is a cross-sectional view for explaining a state in which the spray pipe 70 is tilted by the tilting means 72. FIG.
FIG. 3 is an explanatory view showing a rotation state of a spray nozzle 70 by No. 3;

【0038】制御部101は、駆動手段を制御して搬入
部3の搬送ローラ31による基板Sの搬送を開始した
後、現像槽4の入口センサの出力信号を監視する。入口
センサが基板Sを検出してオン状態となると、搬送ロー
ラ41を駆動して現像処理を開始させる。
The control unit 101 controls the driving means to start the transport of the substrate S by the transport roller 31 of the loading unit 3, and then monitors the output signal of the entrance sensor of the developing tank 4. When the entrance sensor detects the substrate S and is turned on, the transport roller 41 is driven to start the developing process.

【0039】現像液供給手段8はエア弁84を開き、現
像液回収手段9はエア弁72を閉じた状態でポンプ82
により現像液タンク42から現像液を汲み出す。現像液
は供給配管81と連結部80を介してスプレーパイプ7
0に導かれスプレーノズル71の開口から基板Sの上面
に噴射される。その工程中、回動手段73の駆動モータ
741が正逆転されリンク機構75により各スプレーパ
イプ70をそれぞれ各軸心を回動中心として図5に示す
所定角度Eだけそれぞれ繰返し回動させる。よってスプ
レーノズル71は図5に示す状態Fと状態Gを駆動モー
タ74の回転方向に併せて回動することとなる。
The developer supply means 8 opens the air valve 84, and the developer recovery means 9 opens the pump 82 with the air valve 72 closed.
To pump out the developing solution from the developing solution tank. The developer is supplied to the spray pipe 7 through the supply pipe 81 and the connecting portion 80.
The liquid is guided to 0 and sprayed from the opening of the spray nozzle 71 onto the upper surface of the substrate S. During this process, the drive motor 741 of the rotating means 73 is rotated forward and reverse, and the spray mechanism 70 is repeatedly rotated by the link mechanism 75 by a predetermined angle E shown in FIG. Therefore, the spray nozzle 71 rotates in the state F and the state G shown in FIG.

【0040】次に、基板Sの先端縁が出口センサの配設
位置に達する、その後(搬送方向TD上で基板Sを揺動
させない場合)、制御部101は、ポンプ82を停止し
現像液の供給を停止すると共に、回動手段73をスプレ
ーノズル71を上向状態へと回動させる。即ち、図5に
示す状態Hとなるまでスプレーパイプ70を駆動モータ
74の回転制御により回動させる。状態Hはスプレーノ
ズル71が水平線IIより上方に位置するため残存現像液
の滴下が防止される。
Next, after the leading edge of the substrate S reaches the position where the exit sensor is provided (when the substrate S is not rocked in the transport direction TD), the control unit 101 stops the pump 82 and stops the developer. The supply is stopped, and the rotating means 73 rotates the spray nozzle 71 upward. That is, the spray pipe 70 is rotated by the rotation control of the drive motor 74 until the state H shown in FIG. In the state H, since the spray nozzle 71 is located above the horizontal line II, dripping of the remaining developer is prevented.

【0041】この後、傾斜手段72の円形カム722を
回転させ図4に示すようにスプレーパイプ70の一端を
上方に持ち上げる。スプレーパイプ70の他端は可動取
付板48及びリンク機構75により支持され、可動取付
板48が兆番47を支点に他端側に傾倒する事によりス
プレーパイプ70の傾倒が回動手段73と共に達成され
る。
Thereafter, the circular cam 722 of the tilting means 72 is rotated to lift one end of the spray pipe 70 upward as shown in FIG. The other end of the spray pipe 70 is supported by a movable mounting plate 48 and a link mechanism 75, and the movable mounting plate 48 is tilted to the other end side with the trillion number 47 as a fulcrum, whereby the tilting of the spray pipe 70 is achieved together with the rotating means 73. Is done.

【0042】この際、スプレーパイプ70内に残存する
現像液は自重によりスプレーパイプ70の他端側に流下
し、供給配管81に戻される。エア弁84は閉じられ、
エア弁92を開くことにより逆流する現像液は分岐回収
配管90を介して現像液タンク42に回収される。回収
される現像液はフィルタ91を通して回収される為にゴ
ミや固形化した現像液の一部は取り除かれて回収される
事となる。
At this time, the developer remaining in the spray pipe 70 flows down to the other end of the spray pipe 70 by its own weight, and is returned to the supply pipe 81. The air valve 84 is closed,
The developer flowing backward by opening the air valve 92 is collected in the developer tank 42 via the branch collection pipe 90. Since the recovered developer is recovered through the filter 91, dust and a part of the solidified developer are removed and recovered.

【0043】制御部101は出口センサが基板Sを検出
しないオフ状態となったかどうかを監視する。出口セン
サがオフ状態となると、制御部101は、さらに、次に
搬送させてきた基板Sを搬入部20の出口センサが検出
しているかどうかを判断する。次の基板Sの先端が検出
されると傾斜手段72及び回動手段73が駆動されシャ
ワー手段7を現像液噴射可能な状態へとセットする。
The control unit 101 monitors whether or not the exit sensor has been turned off so as not to detect the substrate S. When the exit sensor is turned off, the control unit 101 further determines whether or not the substrate S transported next is detected by the exit sensor of the loading unit 20. When the leading end of the next substrate S is detected, the tilting means 72 and the rotating means 73 are driven to set the shower means 7 to a state in which the developing solution can be ejected.

【0044】以上、この発明の一実施形態について説明
したが、本発明は、他の形態でも実施することが可能で
ある。図6は本願発明の他の実施例を示す図2に相当す
る断面図である。尚、上述の第1の実施例と構成を同じ
とする手段に関しては同じ符号を用い説明を省略する。
この第2の実施例においては、スプレーパイプ70の両
端の構造を入れ替えた点が第1の実施例とは異なる。即
ち、スプレーパイプ70の図中右に回動手段73が、左
側に傾斜手段72が配設される。さらに現像液回収手段
9Aが回動手段73と同じ側に配設される。現像液回収
手段9Aはスプレーパイプ70の一端からエア弁92A
とフィルター91Aを介装した独立回収配管90Aが接
続され、回収配管43に連結される。
While the embodiment of the present invention has been described above, the present invention can be embodied in other forms. FIG. 6 is a sectional view corresponding to FIG. 2 showing another embodiment of the present invention. Note that the same reference numerals are used for the units having the same configuration as the above-described first embodiment, and the description is omitted.
The second embodiment differs from the first embodiment in that the structures at both ends of the spray pipe 70 are exchanged. That is, the rotating means 73 is provided on the right side of the spray pipe 70 in the figure, and the tilting means 72 is provided on the left side thereof. Further, a developer recovery means 9A is provided on the same side as the rotating means 73. The developer collecting means 9A is connected to an air valve 92A from one end of the spray pipe 70.
And an independent recovery pipe 90A with a filter 91A interposed therebetween, and connected to the recovery pipe 43.

【0045】この実施例においては、残存現像液の回収
にあたりスプレーパイプ70が傾倒されるとエア弁92
Aを開き専用の独立回収配管90Aでもって残存現像液
が回収される事となる。よって、スプレーパイプ70内
に現像液が残存しなくなると共に現像液供給配管81は
残存した現像液により汚染されることが無い。
In this embodiment, when the spray pipe 70 is tilted to collect the remaining developer, the air valve 92 is turned off.
A is opened, and the remaining developer is collected by a dedicated independent collection pipe 90A. Therefore, the developer does not remain in the spray pipe 70 and the developer supply pipe 81 is not contaminated by the remaining developer.

【0046】上記の他、特許請求の範囲に記載された技
術的事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能であ
る。例えばスプレー手段7における残存液の回収を基板
Sの搬送タイミングをトリガーとして実施するようにし
ているが、基板処理装置の主操作パネルから任意のタイ
ミングで実施できるように制御可能として行うようにし
てもよい。
In addition to the above, various design changes can be made within the technical scope described in the claims. For example, the recovery of the residual liquid in the spray unit 7 is performed using the transfer timing of the substrate S as a trigger, but the control may be performed such that the control can be performed at an arbitrary timing from the main operation panel of the substrate processing apparatus. Good.

【0047】さらに、上記実施例は現像槽4において構
成される例を示したが、水洗槽5の水洗スプレー手段に
対しても実施可能である。
Further, the above embodiment shows an example in which the developing tank 4 is used. However, the present invention can also be applied to the washing spray means of the washing tank 5.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上の構成により、本願発明によれば、
スプレー手段により処理液を噴射した後にスプレー手段
内に残存する処理液をスプレー手段を傾倒して一方端に
自重にて流下して回収することにより、スプレー手段の
中に処理液が残存する事は無い。
As described above, according to the present invention,
After the treatment liquid is sprayed by the spray means, the treatment liquid remaining in the spray means is tilted down by the spray means and flows down to one end by its own weight to be collected, so that the treatment liquid does not remain in the spray means. There is no.

【0049】よって、新たに処理液を供給した際にも、
新たな処理液に残存した処理液が混合して劣化及び汚染
されることが無い基板処理装置が提供される。またスプ
レー処理過程以外における処理液の基板上への落下を確
実に防止できる。
Therefore, when a new processing liquid is supplied,
A substrate processing apparatus is provided in which a processing solution remaining in a new processing solution is not mixed and deteriorated and contaminated. Further, it is possible to reliably prevent the processing liquid from dropping onto the substrate during a process other than the spray processing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願発明の基板処理装置の全体概略を示す全体
概略図だある。
FIG. 1 is an overall schematic diagram showing an overall outline of a substrate processing apparatus of the present invention.

【図2】現像槽4の断面を示す図1におけるI−I線切断
面図である。
FIG. 2 is a sectional view taken along line II in FIG. 1 showing a cross section of a developing tank 4;

【図3】図2の現像槽4の正面構成を示し、回動手段7
3の構成を示す平面図である。
3 shows a front configuration of the developing tank 4 of FIG.
3 is a plan view showing the configuration of FIG.

【図4】図2においてスプレー手段7を傾倒させた状態
を示す断面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a state in which the spray means 7 is tilted in FIG.

【図5】図2のスプレーパイプ70の回動状態を示す説
明図である。
FIG. 5 is an explanatory view showing a rotating state of the spray pipe 70 of FIG. 2;

【図6】本願の他の実施例を示す現像槽の断面図であ
る。
FIG. 6 is a sectional view of a developing tank showing another embodiment of the present invention.

【図7】従来のスプレー処理槽におけるスプレーパイプ
の配管構成を示す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a piping configuration of a spray pipe in a conventional spray processing tank.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

S 基板 4 現像槽 7 スプレー手段 8 処理液供給手段 70 スプレーパイプ 71 スプレーノズル 72 傾斜手段 721 係止棒 722 円形カム 73 回動手段 74 駆動モータ 75 リンク機構 100 制御手段 101 制御部 S Substrate 4 Developing tank 7 Spray means 8 Treatment liquid supply means 70 Spray pipe 71 Spray nozzle 72 Inclination means 721 Lock bar 722 Circular cam 73 Rotating means 74 Drive motor 75 Link mechanism 100 Control means 101 Control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/306 H01L 21/30 569D H05K 3/26 21/306 R ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/306 H01L 21/30 569D H05K 3/26 21/306 R

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理液を貯めておくことのできる処理液
貯留容器と、該処理液貯留容器から処理液供給手段を介
して導かれた処理液を基板の主面へ吹き付けるスプレー
ノズルを有するスプレー手段と、該スプレー手段のスプ
レーノズルの向きを前記基板の主面に対向する状態と上
向状態に変換する回動手段と、該回動手段によりノズル
が上向状態のスプレー手段の一端を持ち上げスプレー手
段を傾倒させる傾斜手段と、該傾斜手段により傾倒した
スプレー手段内で下端側に自重流下した処理液を前記ス
プレー手段外部に導くためスプレー手段に接続された処
理液回収手段を備えたことを特徴とする基板処理装置。
1. A spray having a processing liquid storage container capable of storing a processing liquid, and a spray nozzle for spraying a processing liquid guided from the processing liquid storage container via a processing liquid supply unit onto a main surface of a substrate. Means, a rotating means for changing the direction of the spray nozzle of the spraying means into a state facing the main surface of the substrate and an upward state, and the rotating means lifts one end of the spraying means with the nozzle in the upward state A tilting means for tilting the spraying means, and a processing liquid collecting means connected to the spraying means for guiding the processing liquid having its own weight flowing down to the lower end side in the spraying means tilted by the tilting means to the outside of the spraying means. Characteristic substrate processing equipment.
【請求項2】 前記スプレー手段による処理液の吹き付
けが終了した時、回動手段によりノズルを上向状態とし
た後、スプレー手段の一端を持ち上げるべく前記傾斜手
段を制御する制御手段を備えたことを特徴とする請求項
1記載の基板処理装置。
2. A control means for controlling the inclination means to lift one end of the spray means after the nozzle is turned upward by the rotation means when the spraying of the processing liquid by the spray means is completed. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein:
【請求項3】 前記処理液回収手段は前記スプレー手段
の一端を介して処理液供給配管からノズルに処理液を導
き、前記スプレー手段の他端を傾斜手段により持ち上げ
ることにより流下し処理液供給配管に戻された処理液を
供給配管から分岐して前記処理液貯留容器に回収するこ
とを特徴とする請求項1ないし2のいずれかに記載の基
板処理装置。
3. The processing liquid collecting means guides the processing liquid from a processing liquid supply pipe through one end of the spray means to a nozzle, and flows down by raising the other end of the spray means by an inclination means. 3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the processing liquid returned to the substrate is branched from a supply pipe and collected in the processing liquid storage container. 4.
【請求項4】 前記制御手段は基板処理時にスプレー手
段を基板に対向して揺動または回動させつつ基板の主面
に処理液を供給して処理を行うことを特徴とする請求項
2ないし3のいずれかに記載の基板処理装置。
4. A process according to claim 2, wherein said control means performs processing by supplying a processing liquid to the main surface of the substrate while swinging or rotating the spray means facing the substrate during the processing of the substrate. 3. The substrate processing apparatus according to any one of 3.
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