JP2003115399A - Ｘ線診断装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 Ｘ線透視画像の輝度レベルを、自動露出制御
によって適正化することで、前記Ｘ線透視画像の輝度レ
ベルが適正値に達するまでの時間を短縮する。 【解決手段】 Ｘ線条件設定部１にて予め設定された管
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ）の下で、最初のパルス
Ｘ線による曝射を行う。但し、この時のパルス幅（ｍｓ
ｅｃ）は不定である。該最初のパルスＸ線より、ただち
に被検体からの透過Ｘ線量が算出され、コンパレータ５
により、該被検体からの透過Ｘ線量と前記予め設定され
た最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量との比較が行われ
る。そして、該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定
されていた最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量に達した
時点で、計時回路６により計時終了信号が出力され、こ
れに基づいてＸ線の曝射が遮断され、前記Ｘ線条件設定
部１において、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管
電流（ｍＡ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。
によって適正化することで、前記Ｘ線透視画像の輝度レ
ベルが適正値に達するまでの時間を短縮する。 【解決手段】 Ｘ線条件設定部１にて予め設定された管
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ）の下で、最初のパルス
Ｘ線による曝射を行う。但し、この時のパルス幅（ｍｓ
ｅｃ）は不定である。該最初のパルスＸ線より、ただち
に被検体からの透過Ｘ線量が算出され、コンパレータ５
により、該被検体からの透過Ｘ線量と前記予め設定され
た最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量との比較が行われ
る。そして、該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定
されていた最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量に達した
時点で、計時回路６により計時終了信号が出力され、こ
れに基づいてＸ線の曝射が遮断され、前記Ｘ線条件設定
部１において、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管
電流（ｍＡ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、Ｘ線透視
画像をモニタ画面に再生し被検体の診断及び治療を補助
するＸ線診断装置に関するものである。
画像をモニタ画面に再生し被検体の診断及び治療を補助
するＸ線診断装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、Ｘ線診断装置においては、被検
体に対して間欠パルスＸ線を曝射することにより被検体
の透視を行っている。そして、この間欠パルスＸ線の曝
射より得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするため
に、通常、自動輝度調整制御（以下ＡＢＣ制御と称
す。）と呼ばれる制御が行われている。
体に対して間欠パルスＸ線を曝射することにより被検体
の透視を行っている。そして、この間欠パルスＸ線の曝
射より得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするため
に、通常、自動輝度調整制御（以下ＡＢＣ制御と称
す。）と呼ばれる制御が行われている。
【０００３】以下、このＡＢＣ制御について図７及び図
８を参照しながら説明する。
８を参照しながら説明する。
【０００４】図７に示すように、一般に、Ｘ線診断装置
は、被検体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被
検体Ｐから透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出
部１１と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された
検出結果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１
２において積分処理された積分結果と予め設定された輝
度設定値を比較するコンパレータ１３と、該コンパレー
タ１３における比較結果を基にＸ線曝射の際の管電流、
管電圧及びパルス幅を設定／制御するＸ線条件設定部１
４から構成されている。
は、被検体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被
検体Ｐから透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出
部１１と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された
検出結果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１
２において積分処理された積分結果と予め設定された輝
度設定値を比較するコンパレータ１３と、該コンパレー
タ１３における比較結果を基にＸ線曝射の際の管電流、
管電圧及びパルス幅を設定／制御するＸ線条件設定部１
４から構成されている。
【０００５】図８に示すように、操作者によってＸ線曝
射スイッチが押されると、パルスＸ線による曝射（透
視）が開始される。此処にいうパルスＸ線とは、同図に
示すように、間欠的に繰り返し曝射されるＸ線のことを
指す。該パルスＸ線による透視が開始されると、図７に
示す制御方法によりＸ線透視画像の輝度レベルの最適化
が行われる。まず、被検体に対して一回目のパルスＸ線
の曝射（ａ）が行われると（図８参照）、前記透過Ｘ線
量検出部１１及び前記積分回路１２を介して得られたＸ
線透視画像の輝度レベルのデータは、同図に示す前記コ
ンパレータ１３へとフィードバックされ、該コンパレー
タ１３において予め設定された輝度レベル設定値と比較
される。該比較結果はＸ線曝射の際の管電流、管電圧及
びパルス幅を設定／制御するＸ線条件設定部１４へと送
られ、該Ｘ線条件設定部１４において、次のＸ線曝射時
のＸ線条件（管電流、管電圧及びパルス幅）が設定され
る。そして、このＸ線条件の下で二回目のパルスＸ線
（ｂ）の曝射が行われ（図８参照）、再び、上述した制
御が行われる。このような制御が繰り返されることで、
Ｘ線透視画像の輝度レベルは徐々に適正値へと近づき
（図８参照）、該Ｘ線透視画像の輝度レベルが適正値に
達した時点で、この時のＸ線条件が前記Ｘ線条件設定部
１４において固定される。これ以後、該Ｘ線条件に基づ
いてパルスＸ線の曝射が行われ、適正なＸ線透視画像の
輝度の下で、被検体の透視が続行される。
射スイッチが押されると、パルスＸ線による曝射（透
視）が開始される。此処にいうパルスＸ線とは、同図に
示すように、間欠的に繰り返し曝射されるＸ線のことを
指す。該パルスＸ線による透視が開始されると、図７に
示す制御方法によりＸ線透視画像の輝度レベルの最適化
が行われる。まず、被検体に対して一回目のパルスＸ線
の曝射（ａ）が行われると（図８参照）、前記透過Ｘ線
量検出部１１及び前記積分回路１２を介して得られたＸ
線透視画像の輝度レベルのデータは、同図に示す前記コ
ンパレータ１３へとフィードバックされ、該コンパレー
タ１３において予め設定された輝度レベル設定値と比較
される。該比較結果はＸ線曝射の際の管電流、管電圧及
びパルス幅を設定／制御するＸ線条件設定部１４へと送
られ、該Ｘ線条件設定部１４において、次のＸ線曝射時
のＸ線条件（管電流、管電圧及びパルス幅）が設定され
る。そして、このＸ線条件の下で二回目のパルスＸ線
（ｂ）の曝射が行われ（図８参照）、再び、上述した制
御が行われる。このような制御が繰り返されることで、
Ｘ線透視画像の輝度レベルは徐々に適正値へと近づき
（図８参照）、該Ｘ線透視画像の輝度レベルが適正値に
達した時点で、この時のＸ線条件が前記Ｘ線条件設定部
１４において固定される。これ以後、該Ｘ線条件に基づ
いてパルスＸ線の曝射が行われ、適正なＸ線透視画像の
輝度の下で、被検体の透視が続行される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のよう
に、該ＡＢＣ制御はリアルタイム制御ではない為に、Ｘ
線透視画像の輝度レベルを適正値にするには、パルスＸ
線を繰り返し曝射する必要があり、該Ｘ線透視画像の輝
度レベルが安定するまでに時間を要していた。特に、曝
射するパルスＸ線のレートが低い場合には、前記Ｘ線透
視画像の輝度レベルが安定するまでに、数十秒要するこ
とになっていた。
に、該ＡＢＣ制御はリアルタイム制御ではない為に、Ｘ
線透視画像の輝度レベルを適正値にするには、パルスＸ
線を繰り返し曝射する必要があり、該Ｘ線透視画像の輝
度レベルが安定するまでに時間を要していた。特に、曝
射するパルスＸ線のレートが低い場合には、前記Ｘ線透
視画像の輝度レベルが安定するまでに、数十秒要するこ
とになっていた。
【０００７】本発明は、以上の問題を鑑みなされたもの
であり、その目的とするところは、Ｘ線透視画像の輝度
レベルを、リアルタイム制御である自動露出制御によっ
て適正化することで、前記Ｘ線透視画像の輝度レベルが
適正値に達するまでの時間を短縮することのできるＸ線
診断装置を提供することにある。
であり、その目的とするところは、Ｘ線透視画像の輝度
レベルを、リアルタイム制御である自動露出制御によっ
て適正化することで、前記Ｘ線透視画像の輝度レベルが
適正値に達するまでの時間を短縮することのできるＸ線
診断装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、間欠パルス透視の機能を有
するＸ線診断装置において、前記間欠パルス透視時のＸ
線のパルス幅を自動露出制御によって決定することを特
徴とする。
に、請求項１記載の発明は、間欠パルス透視の機能を有
するＸ線診断装置において、前記間欠パルス透視時のＸ
線のパルス幅を自動露出制御によって決定することを特
徴とする。
【０００９】上記目的を達成するために、請求項２記載
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、前記
自動露出制御によって決定されたパルス幅を基に、管電
圧値及び管電流値を再設定する機能を有することを特徴
とする。
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、前記
自動露出制御によって決定されたパルス幅を基に、管電
圧値及び管電流値を再設定する機能を有することを特徴
とする。
【００１０】上記目的を達成するために、請求項３記載
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、予め
連続透視を行い、これにより推測された被検体厚を基に
これ以後行われる間欠パルス透視時の管電圧値及び管電
流値を決定し、前記間欠パルス透視時のパルス幅を自動
輝度制御によって決定することを特徴とする。
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、予め
連続透視を行い、これにより推測された被検体厚を基に
これ以後行われる間欠パルス透視時の管電圧値及び管電
流値を決定し、前記間欠パルス透視時のパルス幅を自動
輝度制御によって決定することを特徴とする。
【００１１】上記目的を達成するために、請求項４記載
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、初め
に設定よりも高レートでの間欠パルス透視を行い、これ
により得られたデータを基に設定した収集レートにおけ
る最適な管電圧値及び管電流値を決定し、前記間欠パル
ス透視時のパルス幅を自動輝度制御によって決定するこ
とを特徴とする。
の発明は、請求項１記載のＸ線診断装置において、初め
に設定よりも高レートでの間欠パルス透視を行い、これ
により得られたデータを基に設定した収集レートにおけ
る最適な管電圧値及び管電流値を決定し、前記間欠パル
ス透視時のパルス幅を自動輝度制御によって決定するこ
とを特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るＸ線診断装置
の実施形態ついて添付図面に基づき説明する。
の実施形態ついて添付図面に基づき説明する。
【００１３】まず、本発明に係るＸ線診断装置の実施形
態ついて説明するにあたり、本発明に係るＸ線診断装置
において行われる自動露出制御（以下、ＡＥＣ制御と称
す。）について説明する。
態ついて説明するにあたり、本発明に係るＸ線診断装置
において行われる自動露出制御（以下、ＡＥＣ制御と称
す。）について説明する。
【００１４】従来、該ＡＥＣ制御は、撮影像がユーザの
意図した適切な輝度になるように、曝射するＸ線の管電
圧及び管電流を一定値に固定した上で、そのＸ線曝射時
間（パルス幅）を制御する方法である。しかしながら、
本発明に係るＸ線診断装置においては、パルスＸ線によ
る透視を短時間撮影の連続とみなして、Ｘ線透視画像が
ユーザの意図した適切な輝度になるように、該ＡＥＣ制
御を用いてその制御を行うものである。
意図した適切な輝度になるように、曝射するＸ線の管電
圧及び管電流を一定値に固定した上で、そのＸ線曝射時
間（パルス幅）を制御する方法である。しかしながら、
本発明に係るＸ線診断装置においては、パルスＸ線によ
る透視を短時間撮影の連続とみなして、Ｘ線透視画像が
ユーザの意図した適切な輝度になるように、該ＡＥＣ制
御を用いてその制御を行うものである。
【００１５】［第一の実施形態］まず、本発明である請
求項１に係るＸ線診断装置について、第一の実施形態と
して、図１及び図２を用いて説明する。図１は、本実施
の形態に係るＸ線診断装置の全体構成を示す図である。
図２は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベ
ル制御が行われる過程を示す図である。
求項１に係るＸ線診断装置について、第一の実施形態と
して、図１及び図２を用いて説明する。図１は、本実施
の形態に係るＸ線診断装置の全体構成を示す図である。
図２は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベ
ル制御が行われる過程を示す図である。
【００１６】図１に示すように、本実施の形態に係るＸ
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１と、被検体
Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管２と、被検体Ｐから透
過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部３と、該透
過Ｘ線量検出部３において検出された検出結果を積分処
理する積分回路４と、該積分回路４において積分処理さ
れた積分結果と予め設定された輝度設定値を比較するコ
ンパレータ５と、該コンパレータ５における比較結果を
基にＸ線の曝射時間を制御するための計時終了信号を発
生する計時回路６から構成されている。
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１と、被検体
Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管２と、被検体Ｐから透
過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部３と、該透
過Ｘ線量検出部３において検出された検出結果を積分処
理する積分回路４と、該積分回路４において積分処理さ
れた積分結果と予め設定された輝度設定値を比較するコ
ンパレータ５と、該コンパレータ５における比較結果を
基にＸ線の曝射時間を制御するための計時終了信号を発
生する計時回路６から構成されている。
【００１７】操作者によってＸ線曝射スイッチが押され
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、パルスＸ
線による曝射（透視）が開始される。因みに、ＡＢＣ制
御においては、さらにパルス幅（ｍｓｅｃ）も予め設定
されるのであるが、本実施形態に係るＸ線診断装置にお
いては、最初に曝射されるパルスＸ線（ａ）に関して、
前記パルス幅（ｍｓｅｃ）は不定となっている（図２参
照）。
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、パルスＸ
線による曝射（透視）が開始される。因みに、ＡＢＣ制
御においては、さらにパルス幅（ｍｓｅｃ）も予め設定
されるのであるが、本実施形態に係るＸ線診断装置にお
いては、最初に曝射されるパルスＸ線（ａ）に関して、
前記パルス幅（ｍｓｅｃ）は不定となっている（図２参
照）。
【００１８】Ｘ線管２より曝射された前記最初のパルス
Ｘ線（ａ）は、被検体Ｐを透過後、透過Ｘ線量検出部３
により検出される。この検出結果は、該透過Ｘ線量検出
部３より積分回路４へと送られ、これを受けた該積分回
路４により積分処理を施されることで被検体からの透過
Ｘ線量が算出される。
Ｘ線（ａ）は、被検体Ｐを透過後、透過Ｘ線量検出部３
により検出される。この検出結果は、該透過Ｘ線量検出
部３より積分回路４へと送られ、これを受けた該積分回
路４により積分処理を施されることで被検体からの透過
Ｘ線量が算出される。
【００１９】この透過Ｘ線量は、さらにコンパレータ５
へ送られ、これを受けた該コンパレータ５では、予め設
定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量と該被検体
からの透過Ｘ線量の比較が行われる。
へ送られ、これを受けた該コンパレータ５では、予め設
定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量と該被検体
からの透過Ｘ線量の比較が行われる。
【００２０】但し、前述したように、前記Ｘ線管２より
曝射される最初のパルスＸ線（ａ）は、そのパルス幅
（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、後に説明する
計時回路６により計時終了信号が出力されるまでＸ線は
曝射され続けるために、上述のコンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図２参照）。
曝射される最初のパルスＸ線（ａ）は、そのパルス幅
（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、後に説明する
計時回路６により計時終了信号が出力されるまでＸ線は
曝射され続けるために、上述のコンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図２参照）。
【００２１】そして、前記コンパレータ５において、該
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
り計時終了信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射
が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件設定部１にお
いて、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。該Ｘ線条
件の固定後、前記計時回路６により計時開始信号が出力
され、これに基づいてＸ線の曝射の遮断が解除される。
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
り計時終了信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射
が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件設定部１にお
いて、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。該Ｘ線条
件の固定後、前記計時回路６により計時開始信号が出力
され、これに基づいてＸ線の曝射の遮断が解除される。
【００２２】以後、この固定されたＸ線条件に基づいて
二回目以降のパルスＸ線（ｂ〜ｅ）の曝射が行われ（図
２参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
二回目以降のパルスＸ線（ｂ〜ｅ）の曝射が行われ（図
２参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
【００２３】このように、被検体に対して曝射する最初
のパルスＸ線に関して、そのＸ線条件の内、管電圧（ｋ
ｖ）及び管電流（ｍＡ）については、予め設定してお
き、パルス幅（ｍｓｅｃ）については、被検体からの透
過Ｘ線量のフィードバック値を基に最適な輝度レベルと
なるように決定／制御する方法をＡＥＣ制御と呼ぶ。つ
まり、Ｘ線画像の輝度を最適値にするために、Ｘ線の曝
射時間（パルス幅）を制御するという方法である。
のパルスＸ線に関して、そのＸ線条件の内、管電圧（ｋ
ｖ）及び管電流（ｍＡ）については、予め設定してお
き、パルス幅（ｍｓｅｃ）については、被検体からの透
過Ｘ線量のフィードバック値を基に最適な輝度レベルと
なるように決定／制御する方法をＡＥＣ制御と呼ぶ。つ
まり、Ｘ線画像の輝度を最適値にするために、Ｘ線の曝
射時間（パルス幅）を制御するという方法である。
【００２４】即ち、本実施の形態におけるＸ線診断装置
は、パルスＸ線による透視を短時間撮影の連続とみなし
て、Ｘ線透視画像がユーザの意図した適切な輝度になる
ように、該ＡＥＣ制御を用いてその制御を行うものであ
る。該ＡＥＣ制御はリアルタイム性に優れているため、
最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点でＸ線透視画像
の輝度を最適値に制御することができ、従来行われてい
るＡＢＣ制御と比較して、すばやく安定した最適な画像
輝度を得ることができる。
は、パルスＸ線による透視を短時間撮影の連続とみなし
て、Ｘ線透視画像がユーザの意図した適切な輝度になる
ように、該ＡＥＣ制御を用いてその制御を行うものであ
る。該ＡＥＣ制御はリアルタイム性に優れているため、
最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点でＸ線透視画像
の輝度を最適値に制御することができ、従来行われてい
るＡＢＣ制御と比較して、すばやく安定した最適な画像
輝度を得ることができる。
【００２５】以上に述べたように、本実施の形態におけ
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、ＡＥＣ制
御によって、最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点で
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、ＡＥＣ制
御によって、最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点で
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
【００２６】［第二の実施形態］次に、本発明である請
求項２に係るＸ線診断装置について、第二の実施形態と
して、図１を参照し、さらに図３及び図４を用いて説明
する。図３及び図４は、本実施形態に係るＸ線診断装置
による輝度レベル制御が行われる過程を示す図である。
求項２に係るＸ線診断装置について、第二の実施形態と
して、図１を参照し、さらに図３及び図４を用いて説明
する。図３及び図４は、本実施形態に係るＸ線診断装置
による輝度レベル制御が行われる過程を示す図である。
【００２７】本実施形態に係るＸ線診断装置は、前述の
第一の実施形態にかかるＸ線診断装置を包含する概念を
もつものである。具体的には、本実施形態に係るＸ線診
断装置は、前述した第一の実施形態における最初のパル
スＸ線（ａ）、詳しくはＸ線条件が固定されるまでのパ
ルス幅を適当な範囲に収めるべく、該パルスＸ線の管電
圧値及び管電流値の制御（該制御については後述す
る。）を行うものである。
第一の実施形態にかかるＸ線診断装置を包含する概念を
もつものである。具体的には、本実施形態に係るＸ線診
断装置は、前述した第一の実施形態における最初のパル
スＸ線（ａ）、詳しくはＸ線条件が固定されるまでのパ
ルス幅を適当な範囲に収めるべく、該パルスＸ線の管電
圧値及び管電流値の制御（該制御については後述す
る。）を行うものである。
【００２８】以下、本実施形態に係るＸ線診断装置につ
いて説明する。
いて説明する。
【００２９】前述のように、第一の実施形態に係るＸ線
診断装置においては、被検体に対して曝射する最初のパ
ルスＸ線に関して、そのＸ線条件の内、管電圧（ｋｖ）
及び管電流（ｍＡ）については、予め設定しておき、パ
ルス幅（ｍｓｅｃ）については不定とし、被検体からの
透過Ｘ線量のフィードバック値を基に最適な輝度レベル
となるように該パルス幅（ｍｓｅｃ）を制御していた。
診断装置においては、被検体に対して曝射する最初のパ
ルスＸ線に関して、そのＸ線条件の内、管電圧（ｋｖ）
及び管電流（ｍＡ）については、予め設定しておき、パ
ルス幅（ｍｓｅｃ）については不定とし、被検体からの
透過Ｘ線量のフィードバック値を基に最適な輝度レベル
となるように該パルス幅（ｍｓｅｃ）を制御していた。
【００３０】しかし、このパルス幅（ｍｓｅｃ）の大き
さにも限界があり、その最大値は、撮影系（ＣＣＤ、撮
影管等）の読み出しタイミングによって定められてい
た。
さにも限界があり、その最大値は、撮影系（ＣＣＤ、撮
影管等）の読み出しタイミングによって定められてい
た。
【００３１】従って、例えば、前記最初のパルスＸ線
（ａ）の曝射の際に予め設定されるＸ線条件（管電圧
（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））が予想していた値よりも
小さかった場合、前記パルス幅（ｍｓｅｃ）を最大値ま
で使用して曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝
度レベルとなる値まで到達しない場合があった（∵輝度
レベルは、１パルス当りの透過Ｘ線量によって決定され
る値であるため）。
（ａ）の曝射の際に予め設定されるＸ線条件（管電圧
（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））が予想していた値よりも
小さかった場合、前記パルス幅（ｍｓｅｃ）を最大値ま
で使用して曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝
度レベルとなる値まで到達しない場合があった（∵輝度
レベルは、１パルス当りの透過Ｘ線量によって決定され
る値であるため）。
【００３２】又、これとは逆に、例えば、前記Ｘ線条件
（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））が予想していた
値よりも大きかった場合には、前記パルス幅（ｍｓｅ
ｃ）を制御可能な範囲内の最小値に設定し曝射を行って
も、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値を超え
てしまう場合もあった。
（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））が予想していた
値よりも大きかった場合には、前記パルス幅（ｍｓｅ
ｃ）を制御可能な範囲内の最小値に設定し曝射を行って
も、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値を超え
てしまう場合もあった。
【００３３】そこで、本実施の形態に係るＸ線診断装置
においては、上述のパルス幅（ｍｓｅｃ）を最大値まで
使用して曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝度
レベルとなる値まで到達しない場合には、次のパルスＸ
線曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））をより高い値に制御し、又、これとは逆に、上述
のパルス幅（ｍｓｅｃ）を制御可能な範囲内の最小値に
設定し曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝度レ
ベルとなる値を超えてしまう場合には、次のパルスＸ線
曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））をより低い値に制御することにした。
においては、上述のパルス幅（ｍｓｅｃ）を最大値まで
使用して曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝度
レベルとなる値まで到達しない場合には、次のパルスＸ
線曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））をより高い値に制御し、又、これとは逆に、上述
のパルス幅（ｍｓｅｃ）を制御可能な範囲内の最小値に
設定し曝射を行っても、その透過Ｘ線量が最適な輝度レ
ベルとなる値を超えてしまう場合には、次のパルスＸ線
曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））をより低い値に制御することにした。
【００３４】図１に示すように、本実施の形態に係るＸ
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１と、被検体
Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管２と、被検体Ｐから透
過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部３と、該透
過Ｘ線量検出部３において検出された検出結果を積分処
理する積分回路４と、該積分回路４において積分処理さ
れた積分結果と予め設定された輝度設定値を比較するコ
ンパレータ５と、該コンパレータ５における比較結果を
基にＸ線の曝射時間を制御するための計時終了信号を発
生する計時回路６から構成されている。
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１と、被検体
Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管２と、被検体Ｐから透
過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部３と、該透
過Ｘ線量検出部３において検出された検出結果を積分処
理する積分回路４と、該積分回路４において積分処理さ
れた積分結果と予め設定された輝度設定値を比較するコ
ンパレータ５と、該コンパレータ５における比較結果を
基にＸ線の曝射時間を制御するための計時終了信号を発
生する計時回路６から構成されている。
【００３５】操作者によってＸ線曝射スイッチが押され
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、パルスＸ
線による曝射（透視）が開始される。因みに、ＡＢＣ制
御においては、さらにパルス幅（ｍｓｅｃ）も予め設定
されるのであるが、本実施形態に係るＸ線診断装置にお
いては、最初に曝射されるパルスＸ線（ａ）に関して、
前記パルス幅（ｍｓｅｃ）は不定となっている（図３参
照）。
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、パルスＸ
線による曝射（透視）が開始される。因みに、ＡＢＣ制
御においては、さらにパルス幅（ｍｓｅｃ）も予め設定
されるのであるが、本実施形態に係るＸ線診断装置にお
いては、最初に曝射されるパルスＸ線（ａ）に関して、
前記パルス幅（ｍｓｅｃ）は不定となっている（図３参
照）。
【００３６】Ｘ線管２より曝射された前記最初のパルス
Ｘ線（ａ）は、被検体Ｐを透過後、透過Ｘ線量検出部３
により検出される。この検出結果は、該透過Ｘ線量検出
部３より積分回路４へと送られ、これを受けた該積分回
路４により積分処理を施されることで被検体からの透過
Ｘ線量が算出される。
Ｘ線（ａ）は、被検体Ｐを透過後、透過Ｘ線量検出部３
により検出される。この検出結果は、該透過Ｘ線量検出
部３より積分回路４へと送られ、これを受けた該積分回
路４により積分処理を施されることで被検体からの透過
Ｘ線量が算出される。
【００３７】この透過Ｘ線量は、さらにコンパレータ５
へ送られ、これを受けた該コンパレータ５では、予め設
定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量と該被検体
からの透過Ｘ線量の比較が行われる。
へ送られ、これを受けた該コンパレータ５では、予め設
定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量と該被検体
からの透過Ｘ線量の比較が行われる。
【００３８】但し、前述したように、前記Ｘ線管２より
曝射される最初のパルスＸ線（ａ）は、そのパルス幅
（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、後に説明する
計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ線
は曝射され続けるために、上述のコンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図３参照）。
曝射される最初のパルスＸ線（ａ）は、そのパルス幅
（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、後に説明する
計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ線
は曝射され続けるために、上述のコンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図３参照）。
【００３９】ところが、前記最初のパルスＸ線（ａ）の
パルス幅（ｍｓｅｃ）が、許容される最大値に達したに
も関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が、最適
な輝度レベルとなる透過Ｘ線量まで達しなかったとす
る。
パルス幅（ｍｓｅｃ）が、許容される最大値に達したに
も関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が、最適
な輝度レベルとなる透過Ｘ線量まで達しなかったとす
る。
【００４０】この時、前記コンパレータ５においては、
該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量に達しなかった旨の信
号が前記Ｘ線条件設定部１へと送られ、これを受けた該
Ｘ線条件設定部１では、二回目のパルスＸ線（ｂ）の曝
射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））
を最初の値よりも高い値に設定し直す。
該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量に達しなかった旨の信
号が前記Ｘ線条件設定部１へと送られ、これを受けた該
Ｘ線条件設定部１では、二回目のパルスＸ線（ｂ）の曝
射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））
を最初の値よりも高い値に設定し直す。
【００４１】そして、新たに設定された該Ｘ線条件（管
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））の下で、二回目のパ
ルスＸ線（ｂ）による曝射が行われる。
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））の下で、二回目のパ
ルスＸ線（ｂ）による曝射が行われる。
【００４２】但し、該二回目のパルスＸ線（ｂ）も、そ
のパルス幅（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、前
記計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ
線は曝射され続けるために、前記コンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図３参照）。
のパルス幅（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、前
記計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ
線は曝射され続けるために、前記コンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる（図３参照）。
【００４３】そして、前記コンパレータ５において、該
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
りＸ線の曝射が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件
設定部１において、この時のＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定
される。該Ｘ線条件の固定後、前記計時回路６により計
時開始信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射の遮
断が解除される。
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
りＸ線の曝射が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件
設定部１において、この時のＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定
される。該Ｘ線条件の固定後、前記計時回路６により計
時開始信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射の遮
断が解除される。
【００４４】以後、この固定されたＸ線条件に基づいて
三回目以降のパルスＸ線（ｃ〜ｅ）の曝射が行われ（図
３参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
三回目以降のパルスＸ線（ｃ〜ｅ）の曝射が行われ（図
３参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
【００４５】又、上述の場合とは逆に、前記最初のパル
スＸ線（ａ）のパルス幅（ｍｓｅｃ）が、制御可能な範
囲内の最小値に設定されたにも関わらず、この時の被検
体からの透過Ｘ線量が、最適な輝度レベルとなる透過Ｘ
線量を超えてしまったとする。
スＸ線（ａ）のパルス幅（ｍｓｅｃ）が、制御可能な範
囲内の最小値に設定されたにも関わらず、この時の被検
体からの透過Ｘ線量が、最適な輝度レベルとなる透過Ｘ
線量を超えてしまったとする。
【００４６】この時、前記コンパレータ５においては、
該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった旨の
信号が前記Ｘ線条件設定部１へと送られ、これを受けた
該Ｘ線条件設定部１では、二回目のパルスＸ線（ｂ）の
曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））を最初よりも低い値に設定し直す。
該被検体からの透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった旨の
信号が前記Ｘ線条件設定部１へと送られ、これを受けた
該Ｘ線条件設定部１では、二回目のパルスＸ線（ｂ）の
曝射時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍ
Ａ））を最初よりも低い値に設定し直す。
【００４７】そして、新たに設定された該Ｘ線条件（管
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））の下で、二回目のパ
ルスＸ線（ｂ）による曝射が行われる（図４参照）。
電圧（ｋｖ）及び管電流（ｍＡ））の下で、二回目のパ
ルスＸ線（ｂ）による曝射が行われる（図４参照）。
【００４８】但し、該二回目のパルスＸ線（ｂ）も、そ
のパルス幅（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、前
記計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ
線は曝射され続けるために、前記コンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる。
のパルス幅（ｍｓｅｃ）に関して不定となっており、前
記計時回路６により該計時終了信号が出力されるまでＸ
線は曝射され続けるために、前記コンパレータ５におけ
る、予め設定された最適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量
との比較が行われている最中にも該被検体からの透過Ｘ
線量は増加し続けることになる。
【００４９】そして、前記コンパレータ５において、該
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
り計時終了信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射
が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件設定部１にお
いて、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。該Ｘ線条
件の固定後、前記計時回路６により計時開始信号が出力
され、これに基づいてＸ線の曝射の遮断が解除される。
透過Ｘ線量が前記予め設定されていた最適な輝度レベル
となる透過Ｘ線量に達した時点で、前記計時回路６によ
り計時終了信号が出力され、これに基づいてＸ線の曝射
が遮断され、これと同時に、前記Ｘ線条件設定部１にお
いて、この時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ）、パルス幅（ｍｓｅｃ））が固定される。該Ｘ線条
件の固定後、前記計時回路６により計時開始信号が出力
され、これに基づいてＸ線の曝射の遮断が解除される。
【００５０】以後、この固定されたＸ線条件に基づいて
三回目以降のパルスＸ線（ｃ〜ｅ）の曝射が行われ（図
４参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
三回目以降のパルスＸ線（ｃ〜ｅ）の曝射が行われ（図
４参照）、適正なＸ線透視画像の輝度の下、被検体の透
視が続行される。
【００５１】以上に述べたように、本実施の形態におけ
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、ＡＥＣ制
御によって、最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点で
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、ＡＥＣ制
御によって、最初のパルスＸ線の曝射が行われた時点で
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
【００５２】また、本実施の形態におけるＸ線診断装置
は、例えば、最初のパルスＸ線曝射の際に、パルス幅
（ｍｓｅｃ）を最大値まで使用して曝射を行っても、そ
の透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値まで到達しな
い場合、また、前記最初のパルスＸ線のパルス幅（ｍｓ
ｅｃ）が、制御可能な範囲内の最小値に設定されたにも
関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が、最適な
輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった場合であ
っても、二回目のパルスＸ線曝射の際に、そのＸ線条件
（管電圧／管電流）の値を変化させることにより、前記
パルス幅を適切な範囲内に制御し、Ｘ線透視画像の輝度
を最適値に制御することができる。よって、このような
場合においても、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置
に比べて、すばやく安定した最適な画像輝度を得ること
ができる。
は、例えば、最初のパルスＸ線曝射の際に、パルス幅
（ｍｓｅｃ）を最大値まで使用して曝射を行っても、そ
の透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値まで到達しな
い場合、また、前記最初のパルスＸ線のパルス幅（ｍｓ
ｅｃ）が、制御可能な範囲内の最小値に設定されたにも
関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が、最適な
輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった場合であ
っても、二回目のパルスＸ線曝射の際に、そのＸ線条件
（管電圧／管電流）の値を変化させることにより、前記
パルス幅を適切な範囲内に制御し、Ｘ線透視画像の輝度
を最適値に制御することができる。よって、このような
場合においても、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置
に比べて、すばやく安定した最適な画像輝度を得ること
ができる。
【００５３】尚、本例においては、二回目のパルスＸ線
の曝射で、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値
まで到達した場合を例に挙げたが、例えば、該二回目の
パルスＸ線の曝射においても、その透過Ｘ線量が最適な
輝度レベルとなる値まで到達しなかった場合には、該透
過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値に到達するまで、
上述の制御が繰り返し行われることになる。
の曝射で、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値
まで到達した場合を例に挙げたが、例えば、該二回目の
パルスＸ線の曝射においても、その透過Ｘ線量が最適な
輝度レベルとなる値まで到達しなかった場合には、該透
過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値に到達するまで、
上述の制御が繰り返し行われることになる。
【００５４】［第三の実施形態］次に、本発明である請
求項３に係るＸ線診断装置について、第三の実施形態と
して、図７を参照し、さらに図５を用いて説明する。図
５は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベル
制御が行われる過程を示す図である。
求項３に係るＸ線診断装置について、第三の実施形態と
して、図７を参照し、さらに図５を用いて説明する。図
５は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベル
制御が行われる過程を示す図である。
【００５５】本実施形態に係るＸ線診断装置は、最初に
連続透視を行い、この時得られる透過Ｘ線量より被検体
厚を推測し、該被検体厚から、これ以後行うパルスＸ線
による透視時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ））を設定するものである。
連続透視を行い、この時得られる透過Ｘ線量より被検体
厚を推測し、該被検体厚から、これ以後行うパルスＸ線
による透視時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ））を設定するものである。
【００５６】図７に示すように、本実施の形態に係るＸ
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１４と、被検
体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被検体Ｐか
ら透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部１１
と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された検出結
果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１２にお
いて積分処理された積分結果と予め設定された輝度設定
値を比較するコンパレータ１３から構成されている。
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１４と、被検
体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被検体Ｐか
ら透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部１１
と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された検出結
果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１２にお
いて積分処理された積分結果と予め設定された輝度設定
値を比較するコンパレータ１３から構成されている。
【００５７】操作者によってＸ線曝射スイッチが押され
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、連続透視
が開始される（図５参照）。
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、連続透視
が開始される（図５参照）。
【００５８】被検体に対してＸ線の曝射（連続透視）が
開始されると、前記透過Ｘ線量検出部１１及び前記積分
回路１２を介して得られたＸ線透視画像の輝度レベルの
データは、同図に示す前記コンパレータ１３へとフィー
ドバックされ、該コンパレータ１３において予め設定さ
れた輝度レベル設定値と比較される。該比較結果はＸ線
曝射の際の管電流／管電圧を設定／制御するＸ線条件設
定部１４へと送られ、該Ｘ線条件設定部１４において、
これ以降の連続透視時のＸ線条件（管電流／管電圧）が
再設定される。そして、該新たなＸ線条件の下で、これ
以降の連続透視が実施され、再び上述の制御が繰り返さ
れる。このような制御が行われることで、Ｘ線透視画像
の輝度レベルは徐々に適正値へと近づいていく（図５参
照）。
開始されると、前記透過Ｘ線量検出部１１及び前記積分
回路１２を介して得られたＸ線透視画像の輝度レベルの
データは、同図に示す前記コンパレータ１３へとフィー
ドバックされ、該コンパレータ１３において予め設定さ
れた輝度レベル設定値と比較される。該比較結果はＸ線
曝射の際の管電流／管電圧を設定／制御するＸ線条件設
定部１４へと送られ、該Ｘ線条件設定部１４において、
これ以降の連続透視時のＸ線条件（管電流／管電圧）が
再設定される。そして、該新たなＸ線条件の下で、これ
以降の連続透視が実施され、再び上述の制御が繰り返さ
れる。このような制御が行われることで、Ｘ線透視画像
の輝度レベルは徐々に適正値へと近づいていく（図５参
照）。
【００５９】以上に述べた連続透視は、あくまでも、こ
れ以後に行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による
透視時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））
を設定するために行うものである。従って、該連続透視
は、これより得られる透過Ｘ線量より被検体厚を推測で
きる程度に実施されれば良く（こうすることで、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の略適
正値を、すばやく見つけ出すことができる。）、該透視
時のＸ線透視画像の輝度レベルが適正値に達するまで行
われるものではない（図５参照）。
れ以後に行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による
透視時のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））
を設定するために行うものである。従って、該連続透視
は、これより得られる透過Ｘ線量より被検体厚を推測で
きる程度に実施されれば良く（こうすることで、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の略適
正値を、すばやく見つけ出すことができる。）、該透視
時のＸ線透視画像の輝度レベルが適正値に達するまで行
われるものではない（図５参照）。
【００６０】そして、該連続透視より得られる透過Ｘ線
量を基に、被検体厚が予め関連つけられたＸ線透過量と
被検体厚の関係図より推測され、該被検体厚に応じたＸ
線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））が前記Ｘ線
条件設定部１４において自動設定された後、該Ｘ線条件
を初期設定値とするＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線によ
る透視が開始される（図５参照）。
量を基に、被検体厚が予め関連つけられたＸ線透過量と
被検体厚の関係図より推測され、該被検体厚に応じたＸ
線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））が前記Ｘ線
条件設定部１４において自動設定された後、該Ｘ線条件
を初期設定値とするＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線によ
る透視が開始される（図５参照）。
【００６１】被検体に対して一回目のパルスＸ線の曝射
（ａ）が行われると（図５参照）、前記透過Ｘ線量検出
部１１及び前記積分回路１２を介して得られたＸ線透視
画像の輝度レベルのデータは、同図に示す前記コンパレ
ータ１３へとフィードバックされ、該コンパレータ１３
において予め設定された輝度レベル設定値と比較され
る。該比較結果はＸ線曝射の際の管電流／管電圧を設定
／制御するＸ線条件設定部１４へと送られ、該Ｘ線条件
設定部１４において、次のＸ線曝射時のＸ線条件（管電
流／管電圧）が設定される。そして、このＸ線条件の下
で二回目のパルスＸ線（ｂ）の曝射が行われ（図５参
照）、再び、上述した制御が行われる。そして、該Ｘ線
透視画像の輝度レベルが適正値に達した時点で、この時
のＸ線条件が前記Ｘ線条件設定部１４において固定され
る。これ以後、該Ｘ線条件に基づいてパルスＸ線の曝射
が行われ、適正なＸ線透視画像の輝度の下で、被検体の
透視が続行される。
（ａ）が行われると（図５参照）、前記透過Ｘ線量検出
部１１及び前記積分回路１２を介して得られたＸ線透視
画像の輝度レベルのデータは、同図に示す前記コンパレ
ータ１３へとフィードバックされ、該コンパレータ１３
において予め設定された輝度レベル設定値と比較され
る。該比較結果はＸ線曝射の際の管電流／管電圧を設定
／制御するＸ線条件設定部１４へと送られ、該Ｘ線条件
設定部１４において、次のＸ線曝射時のＸ線条件（管電
流／管電圧）が設定される。そして、このＸ線条件の下
で二回目のパルスＸ線（ｂ）の曝射が行われ（図５参
照）、再び、上述した制御が行われる。そして、該Ｘ線
透視画像の輝度レベルが適正値に達した時点で、この時
のＸ線条件が前記Ｘ線条件設定部１４において固定され
る。これ以後、該Ｘ線条件に基づいてパルスＸ線の曝射
が行われ、適正なＸ線透視画像の輝度の下で、被検体の
透視が続行される。
【００６２】しかしながら、当該ＡＥＣ制御による輝度
レベルの制御は、前述の連続透視によって推測された被
検体厚に応じて予め設定されたＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ））をその初期設定値として行われ
るものであるために、一回目のパルスＸ線（ａ）の曝射
時から最適な画像輝度を得ることができる（∵前述の連
続透視によって推測された被検体厚に応じて設定された
Ｘ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））は、既に
略適正値となっているため。）。従って、本発明である
請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、
より短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることがで
きる。
レベルの制御は、前述の連続透視によって推測された被
検体厚に応じて予め設定されたＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ））をその初期設定値として行われ
るものであるために、一回目のパルスＸ線（ａ）の曝射
時から最適な画像輝度を得ることができる（∵前述の連
続透視によって推測された被検体厚に応じて設定された
Ｘ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））は、既に
略適正値となっているため。）。従って、本発明である
請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、
より短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることがで
きる。
【００６３】以上に述べたように、本実施の形態におけ
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、まず連続
透視を行い、これより得られる透過Ｘ線量から被検体厚
を推測し、該被検体厚よりこれ以後実施されるＡＥＣ制
御の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電流
／管電圧）に見当をつけ、該Ｘ線条件の下でＡＥＣ制御
を行うので、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合で
あっても、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べ
て、すばやく安定した最適な画像輝度を得ることができ
る（実際には、数十ｍｓｅｃで最適な画像輝度にな
る。）。さらに、本発明である請求項１又は請求項２に
係るＸ線診断装置と比較して、より短い時間で安定した
最適な画像輝度を得ることができる。
るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視により得られ
るＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、まず連続
透視を行い、これより得られる透過Ｘ線量から被検体厚
を推測し、該被検体厚よりこれ以後実施されるＡＥＣ制
御の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電流
／管電圧）に見当をつけ、該Ｘ線条件の下でＡＥＣ制御
を行うので、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合で
あっても、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べ
て、すばやく安定した最適な画像輝度を得ることができ
る（実際には、数十ｍｓｅｃで最適な画像輝度にな
る。）。さらに、本発明である請求項１又は請求項２に
係るＸ線診断装置と比較して、より短い時間で安定した
最適な画像輝度を得ることができる。
【００６４】［第四の実施形態］次に、本発明である請
求項４に係るＸ線診断装置について、第四の実施形態と
して、図７を参照し、さらに図６を用いて説明する。図
６は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベル
制御が行われる過程を示す図である。
求項４に係るＸ線診断装置について、第四の実施形態と
して、図７を参照し、さらに図６を用いて説明する。図
６は、本実施形態に係るＸ線診断装置による輝度レベル
制御が行われる過程を示す図である。
【００６５】本実施形態に係るＸ線診断装置は、まず高
レート（３０ｆｐｓ以上）のパルスＸ線による透視を行
い、該高レートのパルスＸ線による透視より得られるデ
ータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以後行うＡＥＣ制御の
下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ））を設定するものである。
レート（３０ｆｐｓ以上）のパルスＸ線による透視を行
い、該高レートのパルスＸ線による透視より得られるデ
ータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以後行うＡＥＣ制御の
下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電圧（ｋ
ｖ）、管電流（ｍＡ））を設定するものである。
【００６６】図７に示すように、本実施の形態に係るＸ
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１４と、被検
体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被検体Ｐか
ら透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部１１
と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された検出結
果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１２にお
いて積分処理された積分結果と予め設定された輝度設定
値を比較するコンパレータ１３から構成されている。
線高電圧発生装置は、主に、Ｘ線曝射時のＸ線条件（管
電圧／管電流）を設定するＸ線条件設定部１４と、被検
体Ｐに対してＸ線を曝射するＸ線管１０と、被検体Ｐか
ら透過してくるＸ線を検出する透過Ｘ線量検出部１１
と、該透過Ｘ線量検出部１１において検出された検出結
果を積分処理する積分回路１２と、該積分回路１２にお
いて積分処理された積分結果と予め設定された輝度設定
値を比較するコンパレータ１３から構成されている。
【００６７】操作者によってＸ線曝射スイッチが押され
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、高レート
でのパルスＸ線透視が開始される（図６参照）。
ると、前記Ｘ線条件設定部１において予め設定された管
電圧値（ｋｖ）及び管電流値（ｍＡ）の下で、高レート
でのパルスＸ線透視が開始される（図６参照）。
【００６８】該高レートでのパルスＸ線による曝射（透
視）が開始されると、ＡＢＣ制御によりＸ線透視画像の
輝度レベルの最適化が行われる。まず、被検体に対して
一回目のパルスＸ線（Ａ）の曝射が行われると、前記透
過Ｘ線量検出部１１及び前記積分回路１２を介して得ら
れた輝度レベルのデータは、図７に示す前記コンパレー
タ１３へとフィードバックされ、該コンパレータ１３に
おいて予め設定された輝度レベル設定値と比較される。
該比較結果はＸ線曝射の際の管電流／管電圧を設定／制
御するＸ線条件設定部１４へと送られ、該Ｘ線条件設定
部１４において、次のＸ線曝射時のＸ線条件（管電流／
管電圧）が設定される。そして、このＸ線条件の下で二
回目のパルスＸ線（Ｂ）の曝射が行われ（図６参照）、
以後、上述の制御が繰り返される。このような制御が行
われることで、Ｘ線透視画像の輝度レベルは徐々に適正
値へと近づいていく（図６参照）。
視）が開始されると、ＡＢＣ制御によりＸ線透視画像の
輝度レベルの最適化が行われる。まず、被検体に対して
一回目のパルスＸ線（Ａ）の曝射が行われると、前記透
過Ｘ線量検出部１１及び前記積分回路１２を介して得ら
れた輝度レベルのデータは、図７に示す前記コンパレー
タ１３へとフィードバックされ、該コンパレータ１３に
おいて予め設定された輝度レベル設定値と比較される。
該比較結果はＸ線曝射の際の管電流／管電圧を設定／制
御するＸ線条件設定部１４へと送られ、該Ｘ線条件設定
部１４において、次のＸ線曝射時のＸ線条件（管電流／
管電圧）が設定される。そして、このＸ線条件の下で二
回目のパルスＸ線（Ｂ）の曝射が行われ（図６参照）、
以後、上述の制御が繰り返される。このような制御が行
われることで、Ｘ線透視画像の輝度レベルは徐々に適正
値へと近づいていく（図６参照）。
【００６９】以上に述べた高レートでのパルスＸ線によ
る透視は、あくまでも、これ以後に行われるＡＥＣ制御
の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電圧
（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を設定するために行うもの
である。従って、該高レートでのパルスＸ線による透視
は、これより得られる透過Ｘ線量より被検体厚を推測で
きる程度に実施されれば良く（こうすることで、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の略適
正値を、すばやく見つけ出すことができる。）、該透視
時のＸ線透視画像の輝度レベルが適正値に達するまで行
われるものではない。
る透視は、あくまでも、これ以後に行われるＡＥＣ制御
の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線条件（管電圧
（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を設定するために行うもの
である。従って、該高レートでのパルスＸ線による透視
は、これより得られる透過Ｘ線量より被検体厚を推測で
きる程度に実施されれば良く（こうすることで、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の略適
正値を、すばやく見つけ出すことができる。）、該透視
時のＸ線透視画像の輝度レベルが適正値に達するまで行
われるものではない。
【００７０】そして、該高レートでのパルスＸ線による
透視より得られるデータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））が、前
記Ｘ線条件設定部１４において自動設定された後、該Ｘ
線条件を初期設定値とするＡＥＣ制御の下でのパルスＸ
線による透視が開始される（図６参照）。
透視より得られるデータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以
後行われるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））が、前
記Ｘ線条件設定部１４において自動設定された後、該Ｘ
線条件を初期設定値とするＡＥＣ制御の下でのパルスＸ
線による透視が開始される（図６参照）。
【００７１】被検体に対して該Ｘ線条件を初期設定値と
する一回目のパルスＸ線の曝射（ａ）が行われると（図
６参照）、前記透過Ｘ線量検出部１１及び前記積分回路
１２を介して得られたＸ線透視画像の輝度レベルのデー
タは、同図に示す前記コンパレータ１３へとフィードバ
ックされ、該コンパレータ１３において予め設定された
輝度レベル設定値と比較される。該比較結果はＸ線曝射
の際の管電流／管電圧を設定／制御するＸ線条件設定部
１４へと送られ、該Ｘ線条件設定部１４において、次の
Ｘ線曝射時のＸ線条件（管電流／管電圧）が設定され
る。そして、このＸ線条件の下で二回目のパルスＸ線
（ｂ）の曝射が行われ（図６参照）、再び、上述した制
御が行われる。そして、該Ｘ線透視画像の輝度レベルが
適正値に達した時点で、この時のＸ線条件が前記Ｘ線条
件設定部１４において固定される。これ以後、該Ｘ線条
件に基づいてパルスＸ線の曝射が行われ、適正なＸ線透
視画像の輝度の下で、被検体の透視が続行される。
する一回目のパルスＸ線の曝射（ａ）が行われると（図
６参照）、前記透過Ｘ線量検出部１１及び前記積分回路
１２を介して得られたＸ線透視画像の輝度レベルのデー
タは、同図に示す前記コンパレータ１３へとフィードバ
ックされ、該コンパレータ１３において予め設定された
輝度レベル設定値と比較される。該比較結果はＸ線曝射
の際の管電流／管電圧を設定／制御するＸ線条件設定部
１４へと送られ、該Ｘ線条件設定部１４において、次の
Ｘ線曝射時のＸ線条件（管電流／管電圧）が設定され
る。そして、このＸ線条件の下で二回目のパルスＸ線
（ｂ）の曝射が行われ（図６参照）、再び、上述した制
御が行われる。そして、該Ｘ線透視画像の輝度レベルが
適正値に達した時点で、この時のＸ線条件が前記Ｘ線条
件設定部１４において固定される。これ以後、該Ｘ線条
件に基づいてパルスＸ線の曝射が行われ、適正なＸ線透
視画像の輝度の下で、被検体の透視が続行される。
【００７２】しかしながら、当該ＡＥＣ制御による輝度
レベルの制御は、前述の高レートでのパルスＸ線による
透視によって得られたデータ（透過Ｘ線量）を基に設定
されたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を
その初期設定値として行われるものであるために、一回
目のパルスＸ線（ａ）の曝射時から最適な画像輝度を得
ることができる（∵前述の、高レートでのパルスＸ線に
よる透視によって得られたデータ（透過Ｘ線量）を基に
設定されたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ））は、既に略適正値となっているため。）。従っ
て、本発明である請求項１又は請求項２に係るＸ線診断
装置と比較して、より短い時間で安定した最適な画像輝
度を得ることができる。
レベルの制御は、前述の高レートでのパルスＸ線による
透視によって得られたデータ（透過Ｘ線量）を基に設定
されたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を
その初期設定値として行われるものであるために、一回
目のパルスＸ線（ａ）の曝射時から最適な画像輝度を得
ることができる（∵前述の、高レートでのパルスＸ線に
よる透視によって得られたデータ（透過Ｘ線量）を基に
設定されたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍ
Ａ））は、既に略適正値となっているため。）。従っ
て、本発明である請求項１又は請求項２に係るＸ線診断
装置と比較して、より短い時間で安定した最適な画像輝
度を得ることができる。
【００７３】以上に述べたように、本実施の形態におけ
るＸ線診断装置は、パルスＸ線（低レート）による透視
により得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするため
に、まず高レートでのパルスＸ線透視を行い、これより
得られるデータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以後実施さ
れるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線
条件（管電流／管電圧）を決定するので、たとえ低レー
トでのＸ線透視を行う場合であっても、従来のＡＢＣ制
御を行うＸ線診断装置に比べて、すばやく安定した最適
な画像輝度を得ることができる。さらに、本発明である
請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、
より短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることがで
きる。
るＸ線診断装置は、パルスＸ線（低レート）による透視
により得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするため
に、まず高レートでのパルスＸ線透視を行い、これより
得られるデータ（透過Ｘ線量）を基に、これ以後実施さ
れるＡＥＣ制御の下でのパルスＸ線による透視時のＸ線
条件（管電流／管電圧）を決定するので、たとえ低レー
トでのＸ線透視を行う場合であっても、従来のＡＢＣ制
御を行うＸ線診断装置に比べて、すばやく安定した最適
な画像輝度を得ることができる。さらに、本発明である
請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、
より短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることがで
きる。
【００７４】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明である請求
項１に係るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視によ
り得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、
自動露出制御（ＡＥＣ制御）によって、リアルタイムに
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
項１に係るＸ線診断装置は、パルスＸ線による透視によ
り得られるＸ線透視画像の輝度を最適値にするために、
自動露出制御（ＡＥＣ制御）によって、リアルタイムに
Ｘ線透視画像の輝度を最適値に制御することができるの
で、たとえ低レートでのＸ線透視を行う場合であって
も、従来のＡＢＣ制御を行うＸ線診断装置に比べて、す
ばやく安定した最適な画像輝度を得ることができる。
【００７５】また、本発明である請求項２に係るＸ線診
断装置にあっては、上記自動露出制御（ＡＥＣ制御）を
行う際に、例えば、最初のパルスＸ線曝射の際に、パル
ス幅（ｍｓｅｃ）を最大値まで使用して曝射を行って
も、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値まで到
達しない場合、また、前記最初のパルスＸ線のパルス幅
（ｍｓｅｃ）が、制御可能な範囲内の最小値に設定され
たにも関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった場合
であっても、二回目のパルスＸ線の曝射時に、そのＸ線
条件（管電圧／管電流）を変化させることにより、前記
パルス幅を適切な範囲内に制御することができる。
断装置にあっては、上記自動露出制御（ＡＥＣ制御）を
行う際に、例えば、最初のパルスＸ線曝射の際に、パル
ス幅（ｍｓｅｃ）を最大値まで使用して曝射を行って
も、その透過Ｘ線量が最適な輝度レベルとなる値まで到
達しない場合、また、前記最初のパルスＸ線のパルス幅
（ｍｓｅｃ）が、制御可能な範囲内の最小値に設定され
たにも関わらず、この時の被検体からの透過Ｘ線量が最
適な輝度レベルとなる透過Ｘ線量を超えてしまった場合
であっても、二回目のパルスＸ線の曝射時に、そのＸ線
条件（管電圧／管電流）を変化させることにより、前記
パルス幅を適切な範囲内に制御することができる。
【００７６】また、本発明である請求項３に係るＸ線診
断装置にあっては、予め連続透視を行い、これより得ら
れた透過Ｘ線量より被検体厚を推測し、該被検体厚に応
じたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の
下、自動輝度制御（ＡＢＣ制御）によるパルスＸ線（低
レート）による透視を実施するので、本発明である請求
項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、より
短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることができ
る。
断装置にあっては、予め連続透視を行い、これより得ら
れた透過Ｘ線量より被検体厚を推測し、該被検体厚に応
じたＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））の
下、自動輝度制御（ＡＢＣ制御）によるパルスＸ線（低
レート）による透視を実施するので、本発明である請求
項１又は請求項２に係るＸ線診断装置と比較して、より
短い時間で安定した最適な画像輝度を得ることができ
る。
【００７７】また、本発明である請求項４に係るＸ線診
断装置にあっては、最初に高レートでのパルスＸ線透視
を行い、これより得られたデータ（透過Ｘ線量）を基
に、これ以後行う低レートでのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を決定
し、該Ｘ線条件の下、自動輝度制御（ＡＢＣ制御）によ
るパルスＸ線（低レート）による透視を実施するので、
本発明である請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置
と比較して、より短い時間で安定した最適な画像輝度を
得ることができる。
断装置にあっては、最初に高レートでのパルスＸ線透視
を行い、これより得られたデータ（透過Ｘ線量）を基
に、これ以後行う低レートでのパルスＸ線による透視時
のＸ線条件（管電圧（ｋｖ）、管電流（ｍＡ））を決定
し、該Ｘ線条件の下、自動輝度制御（ＡＢＣ制御）によ
るパルスＸ線（低レート）による透視を実施するので、
本発明である請求項１又は請求項２に係るＸ線診断装置
と比較して、より短い時間で安定した最適な画像輝度を
得ることができる。
【図１】本発明に係るＸ線診断装置の全体構成を示す図
である。
である。
【図２】第一の実施形態に係るＸ線診断装置による輝度
レベル制御が行われる過程を示す図である。
レベル制御が行われる過程を示す図である。
【図３】第二の実施形態に係るＸ線診断装置による輝度
レベル制御が行われる過程を示す図である。
レベル制御が行われる過程を示す図である。
【図４】第二の実施形態に係るＸ線診断装置による輝度
レベル制御が行われる過程を示す図である。
レベル制御が行われる過程を示す図である。
【図５】第三の実施形態に係るＸ線診断装置による輝度
レベル制御が行われる過程を示す図である。
レベル制御が行われる過程を示す図である。
【図６】第四の実施形態に係るＸ線診断装置による輝度
レベル制御が行われる過程を示す図である。
レベル制御が行われる過程を示す図である。
【図７】従来のＸ線診断装置の全体構成を示す図であ
る。
る。
【図８】従来のＸ線診断装置による輝度レベル制御（Ａ
ＢＣ制御）が行われる過程を示す図である。
ＢＣ制御）が行われる過程を示す図である。
１…Ｘ線条件設定部
２…Ｘ線管
３…透過Ｘ線量検出部
４…積分回路
５…コンパレータ
６…計時回路
Ｐ…被検体
Claims (4)
- 【請求項１】 間欠パルス透視の機能を有するＸ線診断
装置において、前記間欠パルス透視時のＸ線のパルス幅
を自動露出制御によって決定することを特徴とするＸ線
診断装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のＸ線診断装置において、
前記自動露出制御によって決定されたパルス幅を基に、
管電圧値及び管電流値を再設定する機能を有することを
特徴とするＸ線診断装置。 - 【請求項３】 請求項１記載のＸ線診断装置において、
予め連続透視を行い、これにより推測された被検体厚を
基にこれ以後行われる間欠パルス透視時の管電圧値及び
管電流値を決定し、前記間欠パルス透視時のパルス幅を
自動輝度制御によって決定することを特徴とするＸ線診
断装置。 - 【請求項４】 請求項１記載のＸ線診断装置において、
初めに設定よりも高レートでの間欠パルス透視を行い、
これにより得られたデータを基に設定した収集レートに
おける最適な管電圧値及び管電流値を決定し、前記間欠
パルス透視時のパルス幅を自動輝度制御によって決定す
ることを特徴とするＸ線診断装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001306900A JP2003115399A (ja) | 2001-10-02 | 2001-10-02 | Ｘ線診断装置 |
| US10/345,179 US7010090B2 (en) | 2001-10-02 | 2003-01-16 | X-ray diagnosis apparatus with a function of x-ray fluoroscopy |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001306900A JP2003115399A (ja) | 2001-10-02 | 2001-10-02 | Ｘ線診断装置 |
| US10/345,179 US7010090B2 (en) | 2001-10-02 | 2003-01-16 | X-ray diagnosis apparatus with a function of x-ray fluoroscopy |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003115399A true JP2003115399A (ja) | 2003-04-18 |
Family
ID=33312548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001306900A Pending JP2003115399A (ja) | 2001-10-02 | 2001-10-02 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7010090B2 (ja) |
| JP (1) | JP2003115399A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2009022536A (ja) * | 2007-07-20 | 2009-02-05 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮像装置及び撮像方法 |
| JP2010246794A (ja) * | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Shimadzu Corp | Ｘ線画像装置 |
| JP2010253051A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP2011098037A (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-19 | Toshiba Corp | Ｘ線画像診断装置 |
| JP2011147615A (ja) * | 2010-01-21 | 2011-08-04 | Toshiba Corp | Ｘ線透視撮影装置 |
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