JPH04366598A - 自動露出機構付きx線撮影装置 - Google Patents

自動露出機構付きx線撮影装置

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JPH04366598A
JPH04366598A JP3165210A JP16521091A JPH04366598A JP H04366598 A JPH04366598 A JP H04366598A JP 3165210 A JP3165210 A JP 3165210A JP 16521091 A JP16521091 A JP 16521091A JP H04366598 A JPH04366598 A JP H04366598A
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JP
Japan
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ray
signal
high voltage
tube
density
Prior art date
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Pending
Application number
JP3165210A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Takano
高 野 博 司
Takuya Domoto
堂 本 拓 也
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線管から放射するX
線照射量を自動的に制御する自動露出機構を有し被検体
にX線を照射して撮影するX線撮影装置に関し、特に得
られるX線画像の濃度をX線管の管電圧だけで調節する
ことなく、画像の濃淡比が大きく変化しないで常に適正
な濃度調節ができる自動露出機構付きX線撮影装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】心臓や脳の血管などの循環器系の疾患を
診断するために使用される医療診断用X線撮影装置では
、被検体の診断部位の血管にX線吸収係数が大きい造影
剤を注入し、血管と他の組織との間にX線吸収量の差を
つけて血管の形態を描出する血管造影撮影が行なわれる
。ここで得られる透過X線像は、イメージインテンシフ
ァイア(以下「I.I.」と略称する)やシネカメラな
どの撮像系装置によって可視像化し、必要に応じて記録
される。
【0003】このようなX線撮影装置において、X線管
からX線を放射する際、該X線管に印加する管電圧が高
いほど、波長が短く物質の透過能力が大きいX線が発生
し、反対に管電圧が低いほど、波長が長く物質の透過能
力が小さいX線が発生する。このため、X線管の管電圧
が高いと、被検体の診断部位が厚くても十分な透過X線
量が得られるが、被検体組織の違いや造影剤の有無によ
るX線画像の濃淡の比が小さくなり、細部の診断がしに
くくなる。反対に、X線管の管電圧が低いと、X線画像
の濃淡の比は良好となるが、被検体の診断部位が厚い場
合は透過X線量が不足して濃度の低い画像となる。従っ
て、良好な診断用画像を得るためには、X線管の管電圧
を適正な範囲に保つ必要がある。そこで、上記X線画像
の濃度を略一定とするため、X線管から放射するX線照
射量を自動的に制御する自動露出機構を備えたX線撮影
装置が提供されている。
【0004】この種の従来の自動露出機構付きX線撮影
装置は、図3に示すように、目標管電圧V0及びX線の
放射時間を指定するパルス信号P0を入力して高電圧を
発生するX線高電圧発生装置1と、このX線高電圧発生
装置1から高電圧を供給されて被検体2にX線を放射す
るX線管3と、このX線管3に対してフィラメント電流
を供給しその管電流を制御するフィラメント加熱回路4
と、上記X線管3から放射されて被検体2を透過した透
過X線像を可視光に変換しこの出力光学像を撮影する撮
像系装置5と、上記出力光学像の一部を入力し被検体を
透過したX線画像の濃度を検出する濃度検出器6と、こ
の濃度検出器6からの検出濃度信号S1と所定の目標濃
度の信号S0との差をとり上記X線高電圧発生装置1に
対して露出制御のための信号を送出する比較手段7と、
この比較手段7からの信号を入力してX線管3へ印加す
べき高電圧(以下「管電圧」という)を決定する目標管
電圧決定回路8と、所定のX線の放射時間を指定するパ
ルス信号P0を上記X線高電圧発生装置1へ送出するパ
ルス信号発生器9とを有して成っていた。なお、上記撮
像系装置5は、被検体2の透過X線像を可視光に変換す
るI.I.10と、このI.I.10の出力光学像を濃
度検出器6側ともう一方側とに分配する分光器11と、
この分光器11でもう一方側に分配された光学像を入射
して例えばシネフィルムに撮影するシネカメラ12とか
ら成っている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の自動露出機構付きX線撮影装置においては、目的と
する略一定のX線画像の濃度を得るために、パルス信号
発生器9からX線高電圧発生装置1へ送出するパルス信
号P0は一定とし、目標管電圧決定回路8から送出する
管電圧V0の信号を変化させ、X線高電圧発生装置1か
らX線管3に供給する管電圧だけを変化させて、得られ
るX線画像の濃度を調節していた。すなわち、図4の(
a)に示すように、上記パルス信号P0で指定されるX
線の放射時間t0は一定のままで、管電圧をV0又はV
0′のように変化させていた。例えば、X線撮影中に被
検体2が動いてX線の透過する部位の厚さが厚くなると
、管電圧をV0からV0′のように高くしてX線画像の
濃度が一定となるように自動的に露出制御をしていた。 このように、管電圧だけの変化では、管電圧が高くなり
すぎると、X線画像の濃淡の比が小さくなったり、造影
剤のX線吸収量が急激に低下して細部の血管が見えにく
くなることがあった。また、管電圧が低くなりすぎると
、透過X線量が不足して予期したより濃度の低い画像と
なってしまうことがあった。
【0006】そこで、本発明は、このような問題点に対
処し、得られるX線画像の濃度をX線管の管電圧だけで
調節することなく、画像の濃淡比が大きく変化しないで
常に適正な濃度調節ができる自動露出機構付きX線撮影
装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による自動露出機構付きX線撮影装置は、目
標管電圧及びX線の放射時間を指定するパルス信号を入
力して高電圧を発生するX線高電圧発生装置と、このX
線高電圧発生装置から高電圧を供給されて被検体にX線
を放射するX線管と、このX線管に対してフィラメント
電流を供給しその管電流を制御するフィラメント加熱回
路と、上記X線管から放射されて被検体を透過した透過
X線像を可視光に変換しこの出力光学像を撮影する撮像
系装置と、上記出力光学像の一部を入力し被検体を透過
したX線画像の濃度を検出する濃度検出器と、この濃度
検出器からの検出濃度信号と所定の目標濃度の信号との
差をとり上記X線高電圧発生装置に対して露出制御のた
めの信号を送出する比較手段とを有して成る自動露出機
構付きX線撮影装置において、上記比較手段とX線高電
圧発生装置との間に、上記検出濃度信号と目標濃度信号
との差に応じたパルス幅変調信号を発生してX線高電圧
発生装置へ送出するパルス幅変調回路を設け、上記X線
高電圧発生装置には一定の目標管電圧信号を入力させる
ようにしたものである。
【0008】また、上記比較手段とX線高電圧発生装置
との間には、上記検出濃度信号と目標濃度信号との差に
応じたパルス幅変調信号を発生してX線高電圧発生装置
へ送出するパルス幅変調回路を設けると共に、同じく上
記検出濃度信号と目標濃度信号との差に応じた目標管電
圧の信号を発生してX線高電圧発生装置へ送出する目標
管電圧決定回路を設けるようにしてもよい。
【0009】
【作用】このように構成された自動露出機構付きX線撮
影装置は、X線高電圧発生装置には一定の目標管電圧信
号を入力させた状態で、比較手段とX線高電圧発生装置
との間に設けられたパルス幅変調回路により、濃度検出
器で検出したX線画像の濃度信号と目標濃度信号との差
に応じたパルス幅変調信号を発生して上記X線高電圧発
生装置へ送出するように動作する。これにより、上記X
線高電圧発生装置は、上記入力したパルス幅変調信号で
指定されたX線の放射時間を有する管電圧をX線管に供
給することとなる。従って、X線管に印加する管電圧に
ついてX線の放射時間を変化させて画像の濃度を調節す
ることができる。
【0010】また、上記比較手段とX線高電圧発生装置
との間に、パルス幅変調回路を設けると共に目標管電圧
決定回路を設けたものにおいては、X線管に印加する管
電圧を変化させると共に、その管電圧についてX線の放
射時間も変化させて、画像の濃度を調節することができ
る。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて
詳細に説明する。図1は本発明による自動露出機構付き
X線撮影装置の第一の実施例を示すブロック図である。 この自動露出機構付きX線撮影装置は、X線管から放射
するX線照射量を自動的に制御して露出を調節する機構
を有し被検体にX線を照射して撮影するもので、図に示
すように、X線高電圧発生装置1と、X線管3と、フィ
ラメント加熱回路4と、撮像系装置5と、濃度検出器6
と、比較手段7とを有し、さらにパルス幅変調回路13
を備えて成る。
【0012】上記X線高電圧発生装置1は、目標管電圧
及びX線の放射時間を指定するパルス信号を入力して高
電圧を発生するもので、単相全波整流方式、3相全波整
流方式、定電圧方式又はインバータ方式などのいずれの
高電圧発生方式のものでもよい。
【0013】X線管3は、上記X線高電圧発生装置1か
ら高電圧を供給され管電流が流れることによりX線を放
射するもので、図示省略のテーブル上に寝載された被検
体2に向けてX線を放射するようになっている。そして
、フィラメント加熱回路4は、上記X線管3に対してフ
ィラメント電流を供給しその管電流を制御するもので、
X線管3内の陰極にあるフィラメントにフィラメント電
流を供給し、そのフィラメントの温度を制御して上記陰
極から発生する熱電子の量を調節することにより、該X
線管3に流れる管電流を制御するようになっている。
【0014】撮像系装置5は、上記X線管3から放射さ
れて被検体2を透過した透過X線像を可視光に変換しこ
の出力光学像を撮影するもので、上記被検体2の透過X
線像を可視光に変換するI.I.10と、このI.I.
10の出力光学像を濃度検出器6側ともう一方側とに分
配する分光器11と、この分光器11でもう一方側に分
配された光学像を入射して例えばシネフィルムに撮影す
るシネカメラ12とから成る。
【0015】また、濃度検出器6は、上記被検体2を透
過したX線画像の濃度を検出するもので、上記分光器1
1で分配されたI.I.10の出力光学像の一部を入力
して検出するようになっている。さらに、比較手段7は
、上記濃度検出器6で検出した検出濃度信号S1と、所
定の目標濃度の信号S0との差をとり、前記X線高電圧
発生装置1に対して露出制御のための信号を送出するも
ので、上記目標濃度の信号S0は操作者によって外部の
操作器から入力されるようになっている。
【0016】ここで、本発明においては、上記比較手段
7とX線高電圧発生装置1との間に、パルス幅変調回路
13が設けられ、上記X線高電圧発生装置1には一定の
目標管電圧V1の信号が入力されるようになっている。 上記パルス幅変調回路13は、比較手段7で求めた前記
検出濃度信号S1と目標濃度信号S0との差を入力し、
その差に応じたパルス幅変調信号P1を発生して上記X
線高電圧発生装置1へ送出するものである。このとき、
上記パルス幅変調信号P1は、検出濃度信号S1と目標
濃度信号S0との差の大きさに応じて適正な濃度のX線
画像が得られるようにX線の放射時間を指定するパルス
幅に調節した信号とされる。また、目標管電圧V1の信
号は、最終的に得られるX線画像が所望の濃淡の比の画
像となるように操作者によって外部の操作器から一定の
管電圧信号として入力される。これにより、上記X線高
電圧発生装置1は、上記入力された目標管電圧V1を電
圧とし、上記パルス幅変調回路13から入力した可変の
パルス幅変調信号P1によって指定されたパルス幅をX
線の放射時間とした管電圧V1を、X線管3に供給する
こととなる。
【0017】このときのX線管3に印加される管電圧の
電圧波形の時間的な変化を示すと、図4(b)に示すよ
うになる。すなわち、管電圧V1は常に一定とされ、被
検体2の診断部位の厚さ等に応じてX線の放射時間が例
えばt1又はt1′(t1<t1′)のように変化され
る。これにより、目標濃度の信号S0に対応した濃度に
自動的に露出制御することができ、上記管電圧V1が一
定であるため、得られるX線画像の濃淡比を変化させる
ことなく濃度を一定に保つことができる。
【0018】図2は本発明の第二の実施例を示すブロッ
ク図である。この実施例は、比較手段7とX線高電圧発
生装置1との間に、パルス幅変調回路13と目標管電圧
決定回路8とを並列に設けたものである。上記パルス幅
変調回路13は、図1に示す第一の実施例と同様に、比
較手段7で求めた検出濃度信号S1と目標濃度信号S0
との差を入力し、その差に応じたパルス幅変調信号P2
を発生して上記X線高電圧発生装置1へ送出するもので
ある。また、目標管電圧決定回路8は、図3に示す従来
例と同様に、比較手段7で求めた検出濃度信号S1と目
標濃度信号S0との差を入力し、その差に応じてX線管
3へ印加すべき管電圧V2を決定しその信号を上記X線
高電圧発生装置1へ送出するものである。この場合は、
上記目標管電圧決定回路8によって管電圧V2の大きさ
が変化されると共に、パルス幅変調回路13によってX
線の放射時間が変化されることとなる。これにより、上
記X線高電圧発生装置1は、上記入力された可変の目標
管電圧V2を電圧とし、並列に入力された可変のパルス
幅変調信号P2によって指定されたパルス幅をX線の放
射時間とした管電圧V2,V2′をX線管3に供給する
こととなる。
【0019】このときのX線管3に印加される管電圧の
電圧波形の時間的な変化を示すと、図4(c)に示すよ
うになる。すなわち、被検体2の診断部位の厚さ等に応
じて、管電圧が例えばV2又はV2′(V2<V2′)
のように変化すると共に、X線の放射時間がt2又はt
2′(t2<t2′)のように変化される。これにより
、目標濃度の信号S0に対応した濃度に自動的に露出制
御することができ、得られるX線画像の濃淡比は図1の
第一の実施例に比べてやや変化するが、より広い範囲の
被検体2の診断部位の厚さ変化に対して十分な濃度調節
を行うことができる。
【0020】なお、以上の説明では、撮像系装置5のう
ちの受像手段としてはシネカメラ12を示したが、本発
明はこれに限らず、テレビカメラであってもよいし、又
はディジタル・サブトラクション・アンジオグラフィ装
置などのディジタル受像装置であってもよい。また、比
較手段7及び目標管電圧決定回路8並びにパルス幅変調
回路13は、電気回路によるものでも、或いはマイクロ
コンピュータなどのソフトウェアによるものであっても
よい。
【0021】
【発明の効果】本発明は以上のように構成されたので、
図1に示す第一の実施例においては、X線高電圧発生装
置1には一定の目標管電圧信号を入力させた状態で、比
較手段7とX線高電圧発生装置1との間に設けられたパ
ルス幅変調回路13により、濃度検出器6で検出したX
線画像の濃度信号S1と目標濃度信号S0との差に応じ
たパルス幅変調信号P1を発生して上記X線高電圧発生
装置1へ送出することができる。これにより、上記X線
高電圧発生装置1は、上記入力したパルス幅変調信号P
1で指定されたX線の放射時間を有する管電圧V1をX
線管3に供給することとなる。従って、図4(b)に示
すように、X線管3に印加する管電圧V1についてX線
の放射時間を例えばt1又はt1′のように変化させて
画像の濃度を調節することができる。このことから、目
標濃度の信号S0に対応した濃度に自動的に露出制御す
ることができ、上記管電圧V1が一定であるため、得ら
れるX線画像の濃淡比を変化させることなく、常に適正
な濃度調節をして濃度を一定に保つことができる。
【0022】また、図2に示すように、比較手段7とX
線高電圧発生装置1との間に、パルス幅変調回路13を
設けると共に目標管電圧決定回路8を設けた第二の実施
例においては、X線管3に印加する管電圧を変化させる
と共に、その管電圧についてX線の放射時間も変化させ
て、画像の濃度を調節することができる。すなわち、図
4(c)に示すように、被検体2の診断部位の厚さ等に
応じて、管電圧を例えばV2又はV2′のように変化さ
せると共に、X線の放射時間もt2又はt2′のように
変化させることができる。これにより、目標濃度の信号
S0に対応した濃度に自動的に露出制御することができ
、得られるX線画像の濃淡比は図1の第一の実施例に比
べてやや変化するが、より広い範囲の被検体2の診断部
位の厚さ変化に対して十分な濃度調節を行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明による自動露出機構付きX線撮影装
置の第一の実施例を示すブロック図、
【図2】  本発明の第二の実施例を示すブロック図、
【図3】  従来の自動露出機構付きX線撮影装置を示
すブロック図、
【図4】  X線管に印加される管電圧の電圧波形の時
間的な変化を示すグラフ。
【符号の説明】
1…X線高電圧発生装置、  2…被検体、  3…X
線管、  4…フィラメント加熱回路、  5…撮像系
装置、  6…濃度検出器、  7…比較手段、  8
…目標管電圧決定回路、  10…I.I.(イメージ
インテンシファイア)、  11…分光器、  12…
シネカメラ、  13…パルス幅変調回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  目標管電圧及びX線の放射時間を指定
    するパルス信号を入力して高電圧を発生するX線高電圧
    発生装置と、このX線高電圧発生装置から高電圧を供給
    されて被検体にX線を放射するX線管と、このX線管に
    対してフィラメント電流を供給しその管電流を制御する
    フィラメント加熱回路と、上記X線管から放射されて被
    検体を透過した透過X線像を可視光に変換しこの出力光
    学像を撮影する撮像系装置と、上記出力光学像の一部を
    入力し被検体を透過したX線画像の濃度を検出する濃度
    検出器と、この濃度検出器からの検出濃度信号と所定の
    目標濃度の信号との差をとり上記X線高電圧発生装置に
    対して露出制御のための信号を送出する比較手段とを有
    して成る自動露出機構付きX線撮影装置において、上記
    比較手段とX線高電圧発生装置との間に、上記検出濃度
    信号と目標濃度信号との差に応じたパルス幅変調信号を
    発生してX線高電圧発生装置へ送出するパルス幅変調回
    路を設け、上記X線高電圧発生装置には一定の目標管電
    圧信号を入力させるようにしたことを特徴とする自動露
    出機構付きX線撮影装置。
  2. 【請求項2】  上記比較手段とX線高電圧発生装置と
    の間には、上記検出濃度信号と目標濃度信号との差に応
    じたパルス幅変調信号を発生してX線高電圧発生装置へ
    送出するパルス幅変調回路を設けると共に、同じく上記
    検出濃度信号と目標濃度信号との差に応じた目標管電圧
    の信号を発生してX線高電圧発生装置へ送出する目標管
    電圧決定回路を設けたことを特徴とする請求項1記載の
    自動露出機構付きX線撮影装置。
JP3165210A 1991-06-11 1991-06-11 自動露出機構付きx線撮影装置 Pending JPH04366598A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002253541A (ja) * 2001-02-28 2002-09-10 Canon Inc 放射線検出システム
US7010090B2 (en) 2001-10-02 2006-03-07 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray diagnosis apparatus with a function of x-ray fluoroscopy
JP2009289579A (ja) * 2008-05-29 2009-12-10 Shimadzu Corp パルス透視モードを備えたx線装置
JP2013202328A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Toshiba Corp X線診断装置

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