JP2003083982A

JP2003083982A - 分析装置

Info

Publication number: JP2003083982A
Application number: JP2001276924A
Authority: JP
Inventors: Tomoaki Tamura; 知明田村; Masaki Akutsu; 昌樹阿久津
Original assignee: Olympus Optical Co Ltd
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2001-09-12
Filing date: 2001-09-12
Publication date: 2003-03-19

Abstract

(57)【要約】【課題】検量線が不良であるか否かを容易に判断するこ
とができると共に、該検量線が不良であった場合に速や
かな対処を行うことができる分析装置を提供することで
ある。【解決手段】検量線の作成若しくは補正のために多点の
既知濃度試料を分析する分析装置に於いて、アナライザ
部５にて、ｎ個の既知濃度試料のうち、少なくともｍ
（１≦ｍ≦ｎ−１）個の既知濃度試料の測定が行われ、
データプロセッサ部１６にてその測定結果が用いられて
検量線の作成若しくは補正が行われる。そして、ｎ−ｍ
個の既知濃度試料の測定結果が用いられて、上記作成若
しくは補正した検量線の検証が、データプロセッサ部１
６にて行われる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検量線の検証を行
う分析装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】例えば、特開平８−２６２０３１号公報
には、サンプル及び試薬の異常を検出し、その検出され
た異常を分析項目との関連に於いて一覧表にして表示し
て、異常に対する迅速な対応を行う自動分析装置が開示
されている。

【０００３】また、従来の検量線形伏のチェックとして
は、多重測定した既知濃度試料測定結果に対する多重測
定間の乖離度や、測定値（吸光度、蛍光カウントや発光
カウント）の絶対値チェック、更には作成した後の検量
線に対して上記測定値を当てはめた時のその測定値の乖
離度等が行われてきた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した項目
のチェックだけでは、微妙な検量線形状の歪みや既知濃
度試料自体が何らかの異常で異なる値を示し、且つ、そ
れが上記チェックに当てはまらないような測定値であっ
た時に得られた不良な検量線をチェックすることは困難
であった。

【０００５】装置全体のシステムのチェックとして管理
血清を測定して判断する方法は、従来にも行われてい
る。しかしながら、作成された検量線と直接的に結び付
けられたものではなく、検量線が不良であるか否かの判
断、更には判断できたとしてもそれに対する速やかな対
処はされないものであった。

【０００６】そのため、既に結果が得られた測定結果を
報告した後に検量線が不良であった可能性が示唆された
場合、その結果を追跡することは困難であった。また、
その時点から再測定を行った場合、再測定値を得るまで
には多大の時間を要し、検査現場に多大な時間的労力的
ロスをもたらす可能性があった。

【０００７】本発明は上記実状に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、検量線が不良であるか否かを容易に
判断することができると共に、該検量線が不良であった
場合に速やかな対処を行うことができる分析装置を提供
することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、検
量線の作成若しくは補正のために多点の既知濃度試料を
分析する分析装置に於いて、検量線使用に先立って、複
数の連続して分析される既知濃度試料の既知濃度値と測
定値の組合わせの一部を検量線作成に用い、検量線作成
に使用しなかった既知濃度値と測定値の組合わせを上記
作成若しくは補正した検量線の検証に用いることを特徴
とする。

【０００９】これにより、作成若しくは補正された検量
線に対して、一般検体を測定する前に、その検量線が正
確に作成されているか否かをチェックし、得られた一般
検体の測定値に対して検量線が正常であるか否かを明確
にし、検量線が不良であったときの一般検体測定値がそ
のままの報告されてしまうことを確実に防ぐことができ
る。

【００１０】また、その検量線が正しく作成されていな
いと判断した場合は、直ちにその旨を提示し、更には自
動的に再測定を行わせ、再測定の時間的労力的ロスを最
低限にする。

【００１１】本発明の分析装置は、検量線測定用試料受
付画面に於いて、同時に検量線の検証に用いる試料を受
付可能な機能をデータプロセッサに有している。そし
て、上記受付は、検量線試料は予め設定したｎ点の試料
のうち、ｍ点（１≦ｍ≦ｎ−１）を選択する形で受付け
する、予め定めたルールに合わせて同一ラックに検量線
用試料を順番に並べる、或いは、検量線用測定ラックと
精度管理用ラックを同時に並べて分析が行われる、こと
により実現される。これにより、容易に検量線検証用試
料の測定が可能となる。

【００１２】また、測淀された検量線用試料の測定値
は、従来の装置と同様に検量線チェック機構を経て登録
される。

【００１３】更に、検証用試料の測定結果を上記検量線
に当てはめて算出し、理論値との比較を行い、その良否
を判断し、否となった場合は、上記検量線の登録を破棄
し、以降の一般検体測定値には、エラーマークと共に測
定濃度値として表示する機能を有している。これによ
り、検量線が作成された直後に検量線の検証が行われ、
不良と判断された場合には、一般検体に対してもれなく
その旨をフィードバックすることができる。

【００１４】また、本発明の分析装置に於いて、上記検
証用試料による検量線の判定は、各検証用試料に於いて
個別にその判定プロトコルの設定をする機能を有してい
る。これにより、上記検量線検証にバリエーションを持
たせることができ、例えば特に臨床的にシビアなところ
については検証を厳しく実施させたり、複数試料の判定
により無駄に再検査する必要を省くことができる。

【００１５】上記検量線が破棄された場合、直ちに自動
的に検量線を再測定開始手段を有している。これによ
り、検量線の再測定が必要となっても時間的労力的ロス
を最低限に抑えることができる。

【００１６】更に、上記検量線再測定時に、検量線試料
の測定ポイントの変更、若しくは測定ポイント数を変更
する機能を有している。したがって、検量線の再測定の
方法を変更することが可能であり、より精密な測定を可
能にする、若しくはポイント数を減らす等、コストをか
けずに再測定する選択も可能である。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。

【００１８】図１は、本発明の第１の実施の形態の構成
を示すもので、（ａ）はアナライザ部内の概略を示す分
析装置の構成図、（ｂ）は同分析装置の構成を示すブロ
ック図である。

【００１９】この分析装置は、サンプラ部１と、アナラ
イザ部５と、データプロセッサ部１６とを有して構成さ
れる。

【００２０】種々の試料が収容される複数のラック２
が、サンプラ部１にセットされる。そして、ラック２は
アナライザ部５に導入され、サンプリングノズル２３に
より、ターンテーブル２４の反応容器２５に分注され
る。更に、ここに試料格納部２６若しくは２７より試料
ノズル（図示せず）により分注される。反応が終了した
反応容器２５は、測光部２８にて測定される。詳しく
は、光源ランプ６からの光が、レンズ７及び干渉フィル
タ８を介して、反応容器２５に導かれる。

【００２１】この反応容器２５を透過した光が光電変換
素子９で光電変換されて、プリアンプ１０及びログアン
プ１１により、吸光度が求められる。更に、Ａ／Ｄコン
バータ１２でデジタル変換された後、デコーダラッチ回
路１３で一時格納されて、演算処理回路１７に供給され
る。ここで、後述するように、予め定められたプログラ
ムに従って演算処理がなされる。

【００２２】また、演算処理回路１７には、既知の濃度
値と検量線から得られた測定結果とを比較判定する比較
判定部１８と、上記得られた測定結果を記憶する記憶部
１９と、検量線用試料、検証用試料等を表示する表示部
２０及びこれらの表示項目を操作入力する操作部２１と
が接続されている。

【００２３】指示はデータプロセッサ部１６より出さ
れ、得られた測定結果は再度データプロセッサ部１６に
送られて、演算処理回路１７、比較判定部１８及び記憶
部１９にて、それぞれ演算、判定及び記憶される。

【００２４】検量線作成のためには、検量線作成用ラッ
クにそのための既知濃度試料が、精度管理を実施するた
めには精度管理用ラックにそのための既知濃度試料が、
そして、一般検体の測定を実施するためには一般測定用
ラックに未知試料が、それぞれセットされる。

【００２５】サンプラ部１には上記ラック種別を認識す
る機能を有しており、そのラック種別に合わせた分析条
件による測定が、データプロセッサ部１６より認識指示
される。これにより、アナライザ部５にてその試料の分
析が実施される。

【００２６】また、この分析装置の他の構成例として、
特に図示しないが、管理試料用保冷庫を有する装置も考
えられる。

【００２７】この保冷庫を有する分析装置も、サンプラ
部、アナライザ部、データプロセッサ部により構成さ
れ、試料はサンプラ部にセットされるラックにより供給
される。但し、管理試料を有するラックは、アナライザ
部に保持されている管理試料用保冷庫にセットされ、こ
こより供給される。

【００２８】また、管理試料を、直接、アナライザ部の
管理試料用保冷庫にセットし、必要時に直接サンプリン
グが行われて測定が実施されるという形態も考えられ
る。上記管理試料は、検量線作成のための既知濃度試
料、精度管理を実施するための既知濃度試料を指してい
る。

【００２９】一般検体が搭載されたラックはサンプラ部
にセットされ、アナライザ部に搬送されて、このアナラ
イザ部により測定が実施される。測定が終了したラック
は、サンプラ部に戻される。

【００３０】上記測定の指示は、データプロセッサ部よ
り出され、得られた測定結果は再びデータプロセッサ部
にて、演算、判定及び記憶される。

【００３１】尚、上記管理試料の管理試料用保冷庫内で
のセット位置は、試料に予め貼付された試料ＩＤ、若し
くは手動で保冷庫内位置との関連付けが行われることに
より達成される。

【００３２】また、検量線のチェック項目としては、吸
光度（カウント値）の絶対値、或いは乖離度がある。

【００３３】図２は、測定結果が吸光度で示される場合
のチェック項目の基本的な例を示した図である。また、
図３は、第１の実施の形態に於ける表示部２０の表示画
面の例を示した図である。

【００３４】以下、図４のフローチャートを参照して、
検量線測定プロトコルについて説明する。

【００３５】尚、以下の説明に於いて、検量線測定用及
び検証用試料のセットの仕方について、検量線測定用試
料数をｍ（ｍ≧１）、検証用試料をｔ（ｔ≧０）とし、
両者の合計はｍ＋ｔ＝ｎとする。

【００３６】データプロセッサ部１６の表示部２０の画
面上には、例えば図３（ａ）に示されるような複数個の
試料の項目３０₁、３０₂、３０₃、…、３０_nが表示
される。上記試料候補については、測定項目毎に予め登
録されている。但し、上述した保冷庫を有する装置の例
では、試料候補のうち、予め管理試料保冷庫内に設置さ
れた試料のみが表示される。

【００３７】そして、ステップＳ１にて、図３（ｂ）に
示されるように、上記複数個の試料の項目３１₁、３１
₂、３１₃、…、３１_nがのうちの任意のｍ個が「検量
線用試料」として登録する。同様に、上記選択されてい
ない残りの試料の項目３２₁、３２₂、３２₃、…、３
２_nのうち、任意のｔ個が「検証用試料」として登録さ
れる。同図に於いて、斜線で示されている項目が登録さ
れる。

【００３８】尚、ｔが設定されない場合は、検証が実施
されない設定を意味する。また、検証用試料としては、
必ずしもコントロールを検証用試料として選択する必要
はない。

【００３９】ここで、保冷庫を有していない装置の例
（以下、装置例１と略記する）に於いては、ステップＳ
２にて、上記設定に合わせて、検量線測定用ラックにセ
ットされるｎ個の既知濃度試料のセット方法が、表示部
２０の画面上に表示される。そして、上記表示画面に合
わせて既知濃度試料がセットされたラックがセットされ
て、測定が実行される。

【００４０】一方、保冷庫を有した装置の例（以下、装
置例２と略記する）に於いては、上記登録に従い、自動
的に一般検体の測定前に既知濃度試料の測定が実施され
る。

【００４１】次に、ステップＳ３に於いて、検量線の作
成（若しくは補正）が行われる。検量線用試料の測定結
果は、予め設定した演算処理回路１７により処理され、
検量線が作成される。これに従って、検量線測定用試料
による判定が行われる。

【００４２】その結果、図２に示されるような、基本的
な判定基準により、作成された検量線が不良である判定
されればステップＳ５に移行し、使用できると判定され
ればステップＳ４に移行する。

【００４３】ステップＳ４では、上記ステップＳ３に続
いて、検証用試料による検量線の判定が行われる。ここ
で、検証用試料による判定でも良であると判定された場
合は、作成された（若しくは補正された）検量線が使用
できるものであるとされる。

【００４４】検量線が使用できるとされた場合は、検証
用試料がその検量線により演算される。そして、その試
料の既知濃度値と上記演算結果とが、比較判定部１８に
て比較判定される。この判定基準は、測定された検証用
試料毎に設定可能であり、乖離度、絶対値判定によりチ
ェックすることができる。

【００４５】このようにして、検量線の登録が行われ
る。

【００４６】一方、上記ステップＳ３若しくはＳ４に
て、作成（若しくは補正）された検量線が不良であると
判定された場合は、ステップＳ５に移行して、その時点
で検量線異常の旨の表示または警報が出力される。そし
て、一般検体判定値には、エラーマークと共に暫定濃度
値（前回成立の検量線を用いた演算値）が表示される。

【００４７】尚、検証用試料が複数ある場合は、１つで
も不良であるとされたならばその検量線を棄却するよう
にも設定可能であるし、全てが不良であるとされた時そ
の検量線を棄却するようにも設定可能である。更には、
図５に示されるように、各試料毎に得点を付与して、不
良となった試料の総得点を基に判断するように設定する
ことも可能である。

【００４８】図５に示される例の場合、得点が５点以上
で棄却するように設定されている。例えば、コントロー
ルＡだけ外れても棄却得点は５点となり、検量線は棄却
される。また、コントロールＢとコントロールＣだけ外
れた場合は、棄却得点は４点となり検量線は成立する。
更に、コントロールＢ、コントロールＣ、及びコントロ
ールＤだけ外れると、棄却得点は５点となって検量線は
棄却される。

【００４９】上記のように多くの設定を可能とした背景
には、試薬の性質、その項目の臨床的意義、再検査コス
ト等により、測定項目、ユーザ環境、施設の特徴により
それぞれカスタマイズできるようにする必要があるから
である。

【００５０】次いで、ステップＳ６に於いて、アナライ
ザ部５にセットされたラック２に自動再検査機能が設定
されているか否かが判定される。

【００５１】ここで、ラック２に自動再検査機能が設定
されている場合は、上記ステップＳ２に移行して、上述
した処理が繰り返される。しかしながら、自動再検査機
能が設定されていない場合は、ステップＳ７へ移行す
る。

【００５２】ステップＳ７では、上述したステップＳ
３、Ｓ４にて検量線が不良であると判定された検量線用
試料、検証用試料が変更されて再測定が可能か否かが判
定される。その結果、再測定が可能であれば、ステップ
Ｓ８へ移行して、検量線用試料及び検証用試料が変更さ
れた後、再登録がなされる。

【００５３】このステップＳ８の再登録の後、及び上記
ステップＳ８で再測定ができない場合は、ステップＳ９
に移行して検量線用試料、検証用試料が共にセットされ
る。その後、上記ステップＳ２に移行する。

【００５４】上述したように、検量線が棄却された場台
は、自動的に再検査するように予め装置に指示しておく
ことが可能である。

【００５５】例えば、装置例１に於いては、一般検体ラ
ックの供給が一時中断されて、検量線用ラック（後述す
る精度管理用ラックを含む）が、最優先に供給されるよ
うにして再測定が実施される。そのために、ラックＩＤ
が登録されるようにしておくか、分析されたラックがサ
ンプラ部の何れにあるかが認識されるようにしておき、
ラックがアナライザ部に搬送される。

【００５６】一方、装置例２に於いては、一般検体の分
析を一時中断し、管理試料用保冷庫からの管理試料測定
を割り込むようにすればよい。

【００５７】また、再検査時に検量線用試料を変更する
ことも可能である。エラー発生時に、その時の状態に合
わせて登録内容を随時変更することもできる、予め再検
査時の変更内容を装置に登録しておき、自動再検査時に
は登録内容も自動的に変更するようにもできる。

【００５８】ここで、登録変更の例について説明する。

【００５９】先ず、検量線用試料を増やす場合について
説明する。

【００６０】本発明は、測定ポイント数は増やして、更
に精密な検量線を作成することができる。上記の「検量
線測定用及び検証用試料のセット」に於いて、複数個の
試料数をｍよりも多い数を設定してやればよい。例え
ば、通常は３つの試料を用いて検量線を作成させるが、
再検査時は５つの試料を用いて検量線を作成するように
する。これにより、ポイント数が多い分、より精密な検
量線を描くことが可能となる。

【００６１】装置例１の場合、ラックに試料を追加して
やる必要があるため、この時は自動再検査はできない。

【００６２】一方、装置例２の場合は、管理試料用保冷
庫内に必要な試料が予め保管されていれば、自動再検査
でも測定可能である。

【００６３】次に、検量線用試料を減らす場合について
説明する。

【００６４】本発明は、測定ポイント数を減らしてラン
ニングコストを削減することができる。上記した「検量
線測定用及び検証用試料のセット」に於いて、複数個の
試料数をｍよりも少ない数設定してやればよい。例え
ば、通常は５つの試料を用いて検量線を作成させるが、
再検査時は３つの試料を用いて検量線を作成するように
する。

【００６５】装置例１及び装置例２共、ラック若しくは
管理試薬用保冷庫にセットされた試料のうち、予め登録
された試料のみを測定することが可能なため、自動再検
査でも可能である。

【００６６】次に、検量線用試料を変更する場合につい
て説明する。

【００６７】本発明は、測定ポイント数を変更してその
装置、試薬にカスタマイズした検量線を作成することが
できる。上記の「検量線測定用及び検証用試料のセッ
ト」に於いて、複数個の試料のうち異なる濃度試料を設
定してやればよい。例えば、通常は、０、１０、５０の
数値の濃度試料を用いて検量線を作成させるが、再検査
時は、０、５、２５の数値の、低値側の検量線形状に重
きをおいた検量線を作成することができる。

【００６８】更に、本発明は、上述した２種類の登録変
更例と組み合わせてポイント数をも変更することが可能
である。

【００６９】装置例１の場合、ラックにセットされた試
料を変更する必要があるため、この時は自動再検査はで
きない。

【００７０】装置例２の場合は、管理試料用保冷庫内に
必要な試料が予め保管されていれば、自動再検査でも測
定可能である。

【００７１】次に、本発明の第２の実施の形態について
説明する。

【００７２】尚、以下に述べる実施の形態に於いて、上
述した第１の実施の形態と異なるのは、検量線測定用及
び検証用試料のセットの仕方が異なるだけであり、その
他装置の構成等は同じであるので、異なる部分について
のみ説明する。

【００７３】この第２の実施の形態は、第１の実施の形
態に於いて説明した、装置例１についてのみ対応してい
る。

【００７４】測定項目毎に、図６（ａ）及び（ｂ）に示
されるように、複数の「検量線用試料」と複数の「検証
用試料」とが、項目３５₁、３５₂、３５₃、…、３５
_n及び項目３６₁、３６₂、３６₃、…、３６_nとし
て、予め登録されている。上記「検量線用試料」につい
ては、図６（ｃ）に示されるように、予め選択されたｍ
個の試料が自動的に測定されるように登録される。ま
た、「検証用試料」については、図６（ｄ）に示される
ように、複数個の試料のうちの任意のｔ個が「検証用試
料」として登録される。尚、ｔが設定されない場合は、
検証が実施されない設定を意味する。

【００７５】また、上記項目の変更や選択は、画面上に
表示されている変更、選択の項目表示３７、３９、３８
の操作により実行される。

【００７６】上記設定に合わせて、検量線測定用ラック
にセットされるｎ個の既知濃度試料のセット方法が、図
６（ｅ）に示されるように、表示部２０の画面上に表示
される（ｍ個の検量線用試料の後にｔ個の検証用試料が
追加される）。

【００７７】上記画面に合わせて既知濃度試料がセット
されたラックがセットされ、測定のスタートが実行され
る。

【００７８】次に、本発明の第３の実施の形態について
説明する。

【００７９】この第３の実施の形態についても、上述し
た第２の実施の形態と同様に、第１の実施の形態に於い
て説明した、装置例１についてのみ対応している。

【００８０】第３の実施の形態に於いては、図７（ａ）
及び（ｂ）に示されるように、測定項目毎に複数の「検
量線用試料」と複数の「検証用試料」とが、項目４
１₁、４１₂、４１₃、…、４１_nが及び項目４２₁、
４２₂、４２₃、…、４２_nがとして、予め登録されて
いる。ここで、上記の「検証用試料」とは従来の「管理
血清試料」のことを指す。

【００８１】上記「検量線用試料」については、図７
（ｃ）に示されるように、予め選択されたｍ個の試料が
自動的に測定されるように登録される。一方、「検証用
試料」については、従来の管理血清試料の登録と同様
に、図７（ｄ）に示されるように、任意のｔ個が登録さ
れる。

【００８２】また、上記項目の変更や選択は、画面上に
表示されている変更、選択の項目表示４３、４４、４５
の操作により実行される。

【００８３】上記設定に合わせて、図７（ｅ）に示され
るように、検量線測定用ラックにｎ個の既知濃度試料の
セット方法が、表示部２０の画面上に表示される。同様
にして、図７（ｆ）に示されるように、精度管理用ラッ
クにｔ個の既知濃度試料のセット方法が画面に表示され
る。

【００８４】このとき、検量線測定用ラックに続けて精
度管理用ラックがセットされた場合は、精度管理用ラッ
クにセットされた既知濃度試料は上記検量線測定用ラッ
クの試料の測定により作成される検量線の検証用試料と
しても使用される（従来同様、精度管理用の試料として
も測定結果は利用される）ことが予め登録されており、
またその旨が画面上にて表示される。

【００８５】このように、上記画面に合わせて既知濃度
試料がセットされ、且つ、ラックがセットされて測定の
スタートが実行される。尚、検量線測定用ラックの直ぐ
後に精度管理用ラックがセットされない場合は、精度管
理ラックにセットされた試料は検証用試料としては使用
されないことを意味する。

【００８６】次に、本発明の第４の実施の形態について
説明する。

【００８７】この第４の実施の形態に於いては、既知濃
度検体の測定動作について、図８のフローチャートを参
照して説明する。

【００８８】先ず、ステップＳ１１に於いて、複数の測
定値、この場合、既知濃度値と測定値の組合わせたもの
が使用されて、複数の仮想検量線が作成される。次い
で、ステップＳ１２にて、上記ステップＳ１１にて検量
線作成に使用されなかった既知濃度値と測定値の組合わ
せたものが使用されて、上記複数の仮想検量線につい
て、検証される。

【００８９】そして、ステップＳ１３にて、上記ステッ
プＳ１２での各検証結果に基いて、使用される検量線が
決定される。

【００９０】上述した仮想検量線の検証は、例えば、既
知濃度からの乖離、前回測定値からの乖離、既知濃度か
らの乖離、前回測定値からの乖離、前回測定値、等が考
えられる。

【００９１】上述した実施の形態では、検量線の作成に
ついて示したが、これに限られるものではない。例え
ば、予め登録されている検量線について検量線用試料の
測定結果に基きこれを補正するという装置に於いても、
上記と全く同様な手段を当てはめることができる。例え
ば、全８点の検量線ポイントにより検量線を作成させる
手段を有し、検量線用試料でそのうちの４点を測定し、
残りの４点は、予め登録されている検量線に基いて算出
し、計８点で検量線を作成すると、これは結果として、
予め登録されている検量線を測定した４点の値で補正し
たものとすることができる。

【００９２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、検量線作
成直後にその検証を行うことが可能となり、得られた一
般検体の測定値に対して検量線が正常であるか否かを明
確にし、検量線が不良であったときの一般検体測定値が
そのままの報告されてしまうことを確実に防ぐことが可
能となった。また、その検量線が正しく作成されていな
いと判定された場合は、直ちに、更には自動的に再測定
を行わせることが可能となった。

【００９３】これにより、正確な分析データを供給する
ことが可能となり、且つ、それに伴う検査室の時間的労
力的ロスを最低限とすることに貢献することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態の構成を示すもの
で、（ａ）はアナライザ部内の概略を示す分析装置の構
成図、（ｂ）は同分析装置の構成を示すブロック図であ
る。

【図２】測定結果が吸光度で示される場合のチェック項
目の基本的な例を示した図である。

【図３】本発明の第１の実施の形態に於ける表示部２０
の表示画面の例を示した図である。

【図４】検量線測定プロトコルについて説明するフロー
チャートである。

【図５】図４のフローチャートに於けるステップＳ３及
びＳ４にて不良であった試料の得点に応じて検量線を棄
却する場合の例を示した図である。

【図６】本発明の第２の実施の形態に於ける表示部２０
の表示画面の例を示した図である。

【図７】本発明の第３の実施の形態に於ける表示部２０
の表示画面の例を示した図である。

【図８】本発明の第４の実施の形態に於ける既知濃度検
体の測定動作について説明するフローチャートである。

【符号の説明】

１サンプラ部、２ラック、５アナライザ部、６光源ランプ、７レンズ、８干渉フィルタ、９光電変換素子、１０プリアンプ、１１ログアンプ、１２Ａ／Ｄコンバータ、１３デコーダラッチ回路、１６データプロセッサ部、１７演算処理回路、１８比較判定部、１９記憶部、２０表示部、２１操作部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】検量線の作成若しくは補正のために多点
の既知濃度試料を分析する分析装置に於いて、検量線使用に先立って、複数の連続して分析される既知
濃度試料の既知濃度値と測定値の組合わせの一部を検量
線作成に用い、検量線作成に使用しなかった既知濃度値
と測定値の組合わせを上記作成若しくは補正した検量線
の検証に用いることを特徴とする分析装置。
【請求項２】上記既知濃度値と測定値の組合わせを使
用して複数の仮想検量線を作成し、各仮想検量線を検量
線作成に使用しなかった既知濃度値と測定値の組合わせ
を使用して検証し、各検証結果に基いて使用する検量線
を決定することを特徴とする請求項１に記載の分析装
置。
【請求項３】上記検量線の検証結果を予め設定してお
いた判定基準により判定し、検量線作成若しくは補正を
自動的に再測定する手段を更に有することを特徴とする
請求項１及び２に記載の分析装置。
【請求項４】上記検量線作成若しくは補正のための再
測定が必要な場合に、前回測定した既知濃度試料の種類
及び試料数ｍ個の少なくとも一方を変更して再測定する
手段を更に有することを特徴とする請求項３に記載の分
析装置。