JP3746143B2 - 自動分析装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、血清などの試料の成分分析を自動で行う自動分析装置に関し、特に同装置における精度管理処理に関する。
【0002】
【従来の技術】
血清などの試料の成分分析を自動で行う自動分析装置においては、装置の安全性などを検証するために、測定したい試料(以下、「一般試料」という)の測定の前後又は合間に、予め濃度の分かっている1種類以上の標準的な試料(以下、「標準試料」という)を測定し、標準試料の測定結果に基づく精度管理を行っている。精度管理には種々の手法が知られているが、この精度管理が適切に行われれば、測定上のトラブルを回避し又は最小限に食止めることができ、オペレータの負担を軽減できる。
【0003】
以下、一般試料又は標準試料から測定する成分を「測定項目」といい、標準試料およびその測定項目の定め方について説明する。
まず標準試料は次のように決定する。すなわち、標準試料中に含まれる濃度既知の成分は、その種類が有限である。このため一般試料の測定項目ごとに、精度管理のための測定に用いられる標準試料を決める。標準試料は、自動分析装置内に、少なくとも測定中は常時設置されており、上記測定が可能となっている場合が多い。
【0004】
次に標準試料の測定項目は、標準試料の測定を一般試料の測定の前後に行う場合と、一般試料の測定の合間に行う場合とで異なる。一般試料の測定の前後において標準試料の測定を行う場合、標準試料の測定項目は一般試料に対して依頼されている測定項目の和(or)とするのが一般的である。一方、一般試料の測定の合間において標準試料の測定(以下、「インターバル測定」という)を行う場合、標準試料の測定項目は例えば次のように定める。
【0005】
すなわち、一般試料で実際に測定された個々の測定項目について、測定回数が所定の回数に達した測定項目の和とする場合と、一般試料の測定本数が所定数に達したとき、その間に測定された測定項目の和とする場合とがある。
【0006】
これらの場合において、後者は、すべての測定項目について1つの間隔が適用されることになるため、無駄な測定が行われたり、逆に不十分な数の精度管理データしか得られないことが起こり得る。このため前者を採用することが望ましい。
【0007】
ところで、実際に測定した測定項目の値を演算処理し、新たに別の項目(「計算項目」という)を得ることが行われている。計算項目は、測定項目の結果相互の影響が反映されるので、これを精度管理のために利用すれば、自動分析装置の状態をモニタ(監視)する上で有効であると考えられる。
【0008】
しかしながら、従来の自動分析装置は、計算項目に関する精度管理を行う手段を備えていない。また、同一の標準試料について、試料計算項目を構成する測定項目を同時に測定する手段を備えていないため、計算項目に基づく精度管理は行われていなかった。
【0009】
図6は従来の自動分析装置における精度管理の流れを説明するための図である。例えば、2つの測定項目をAおよびBとするとき、必ずA>BであってAとBとが同期して変動することが予想される場合、計算項目C=A−Bを定義し、この計算項目Cに基づく精度管理を行えば非常に有効である。
【0010】
しかしながら、測定項目A,Bについて測定回数3ごとに標準試料S1を測定する設定で、一般試料に図6に示すような依頼があった場合、標準試料でA,B項目を同時に測定するタイミングが合わず、計算項目Cを算出できる場合が少ないことがわかる。このように、計算項目に精度管理手段を適用できたとしても、これを有効に利用できないという問題点があった。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
したがって本発明は、計算項目に基づく精度管理を適切に行うことによりオペレータの負担を軽減し、信頼性を向上させることのできる自動分析装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決し目的を達成するために、本発明の自動分析装置は次のように構成されている。すなわち、測定項目に対する所定の演算を定義する計算式、インターバル測定の間隔、及び測定する標準試料に関する情報が設定された計算項目を登録する計算項目登録手段と、前記計算項目の依頼を登録する依頼登録手段と、一般試料の測定時において、前記依頼された計算項目の測定回数をカウントし、そのカウント値を記憶する回数記憶手段と、前記回数記憶手段のカウント値が前記インターバル測定の間隔に一致した場合、前記標準試料について、計算項目を構成する測定項目の測定を行い、その測定結果に基づく精度管理を行う精度管理手段とを具備する。
【0013】
このように構成されていることにより、計算項目の結果を自動且つ的確に得ることができ、測定項目ごとの変動管理に加え、測定項目の相互変動管理を自動的に行える。したがって、オペレータの負担を軽減できる。
【0014】
また、精度管理に基づく信頼性を向上させることができる。このように精度管理性能が向上することにより、測定上のトラブルを回避し又は最小限に食い止めることができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の自動分析装置の実施形態を説明する。
図1は本実施形態に係る自動分析装置の外観を示す図である。同図に示すように、標準試料を45種類同時に常時架設できる円形サンプラ1と、5個の一般試料を架設できるラックを40ラック同時に架設できるラックサンプラ2とを備えている。サンプリングアーム3によりラックサンプラ2の一般試料は試薬庫4の反応管に分注される。また、図示しない他のサンプリングアームにより円形サンプラ1の標準試料も試薬庫4の反応管に分注される。これらにより試薬庫4の反応管において、一般試料および標準試料の成分の測定が行われるものとなっている。
【0016】
図2は本実施形態の自動分析装置の概略構成を示すブロック図である。同図に示すように、本実施形態の自動分析装置は、ラックサンプラ2に架設される個々のラックのラック番号(バーコード)を読取る手段11、ラックサンプラ2の可機構制御を行うラックサンプラ機構制御手段12、円形サンプラ1の機構制御を行う円形サンプラ機構制御手段13、そして、例えば比色測定等を行うための攪拌、測光等の各種手段14を備えている。
【0017】
また、一般試料の依頼を登録する依頼登録手段16と、この手段16により登録された依頼情報を記憶する依頼情報記憶手段17とを備えている。かかる依頼登録は、ユーザが表示装置28で確認を行いながら入力装置27を操作することにより行われる。依頼情報記憶手段17において記憶された一般試料の全依頼情報の中から所要の依頼情報が、制御部15からの制御に基づいて依頼検索手段18によって検索される。
【0018】
また、測定項目や計算項目に関する種々の条件を設定する測定項目/計算項目条件設定手段19と、この手段19により設定された条件を記憶する測定項目/計算項目条件記憶手段20とを備える。かかる条件設定は、ユーザが表示装置28で確認を行いながら入力装置27を操作することにより行われる。
【0019】
また、標準試料に関する情報を登録する標準試料情報登録手段21と、この手段21により登録された標準試料情報を記憶する標準試料情報記憶手段22とを備える。かかる情報登録は、ユーザが表示装置28で確認を行いながら入力装置27を操作することにより行われる。
【0020】
測定回数記憶手段23は、測定時において、依頼された計算項目のうち実際に測定された測定回数を記憶するものである。
さらに本装置は、測定結果および計算項目による演算結果に対する精度管理を所定の精度管理手法により行うとともに精度管理の判定結果を表示する精度管理手段及び判定結果表示手段24を備える。また、測定結果を保存する測定結果保存手段25、測定結果記憶手段26を備える。
【0021】
以上のように構成された本実施形態の自動分析装置による精度管理について説明する。
ここでは、測定項目A,B、計算項目C、標準試料S1を使用するものとする。
【0022】
本実施形態においては、まず標準試料に関する情報を登録する。
図3は標準試料情報登録画面の一例を示す図である。
標準試料情報登録においては、各架設位置に対応する例えば45種類の標準試料について、各々の標準試料ごとに、分かっている濃度などの情報を設定する。図3は、試料名S1について項目A〜Dの濃度を登録する様子を示している。
【0023】
次に、測定項目について必要な条件を設定する。精度管理については以下(1)〜(4)に示す設定を行う。
(1)一般試料の前又は後のどちらに標準試料の測定を行うかの指定
(2)一般試料の測定回数によるインターバル測定の間隔の指定
例えば1〜999回、0を指定した場合はインターバル測定を行わないものとする。
(3)測定する標準試料の選択(ここでは最大3種類)
(4)各標準試料に関する上下限管理範囲値の設定
次に、計算項目について、以下(1)〜(5)に示すように、必要な条件を設定する。(2)〜(5)は計算項目以外の測定項目と共通である。
(1)計算式の設定(他の項目の結果を演算に使用可能)
(2)一般試料の前又は後のどちらに標準試料の測定を行うかの指定
(3)一般試料の測定回数によるインターバル測定の間隔の指定
例えば1〜999回、0を指定した場合はインターバル測定を行わないものとする。
(4)測定する標準試料の選択(ここでは最大3種類)
(5)各標準試料に関する上下限管理範囲値の設定
図4は計算項目の条件設定画面の一例を示す図である。
【0024】
同図に示すように、計算項目の条件設定においては、計算項目名Cについて、計算式(=A−B)、精度管理(インターバル測定の間隔「3」)、標準試料ごとの上下限管理(標準試料S1については、「2.8」〜「3.1」)を設定する様子を示している。
【0025】
次に一般試料の依頼登録を行う。
操作者が任意の測定項目を指定すると、依頼登録手段16は算出可能な計算項目を自動的に選択する。例えば、図4に示したように計算項目Cを登録しておけば、測定項目A,Bが選択された場合は、自動的にCも選択される。計算項目は、一般試料の測定項目と同等に扱われる。
【0026】
そして、一般試料の測定が開始される。
測定時において、制御部15は、依頼検索手段18により一般試料の依頼項目を得る。制御部15は測定項目の依頼と同様に計算項目の依頼を認識し、その測定回数をカウント(計数)する。
【0027】
カウントされた測定回数が、図4で登録した精度管理の間隔(すなわち3回)に達すると、その一般試料を測定した後、選択された標準試料について、計算項目を構成する測定項目を自動的に測定する。また、記憶している測定回数を0に戻す。
【0028】
精度管理手段24は、標準試料について、測定した結果と計算項目の結果を算出し、判定結果表示手段24は、連続した2個のデータが管理範囲を超えている場合、項目名とともにエラーを画面に表示する。
【0029】
図5は、計算項目Cのみにインターバル測定を指定した場合の例を示す図である。
まず、依頼項目A,Bの測定が行われ、計算項目Cが算出される。
【0030】
次に、ラック番号1のラック内位置が1である一般試料1について、依頼項目A,Bの測定が行われ、計算項目Cが算出される。
次に、ラック内位置が2である試料3について、依頼項目Aのみの測定が行われる。
【0031】
次に、ラック内位置が3である試料4について、依頼項目A,Bの測定が行われ、計算項目Cが算出される。
ここで、計算項目Cの回数が3に達するので標準試料の測定が行われる。すなわち、依頼項目A,Bの測定が行われ、計算項目Cが算出される。
【0032】
この例では、一般試料の後にもS1が指定されているため、本来ならばインターバル測定と合わせて最後に2回測定を行うことになるが、その測定結果は精度管理としては無駄であるので、インターバル測定と一般試料の後の測定が重複した場合は、一般試料の後の測定を優先するように構成するとよい。
【0033】
測定項目A,Bでそれぞれ精度管理を行うよりも、以上説明した本実施形態のように計算項目Cに基づく精度管理を行い、標準試料の測定を行ったほうが、効率よくまた的確に精度管理用結果を得ることができる。
【0034】
ここで、本実施形態の変形例を説明する。
上述した実施形態においては、計算項目Cの測定回数を精度管理の間隔としたが、これを時間としてもよい。この場合、一般試料の依頼が登録した時間間隔を超えて発生した場合は、その一般試料を測定した後、選択された標準試料について、計算項目を構成する測定項目を自動的に測定し、時間を0に戻すようにする。あるいは、測定回数と時間間隔の併用としてもよい。この場合、測定回数と時間間隔のいずれか一方の条件が満たされた場合、選択された標準試料について、計算項目を構成する測定項目を自動的に測定し、時間と測定回数をもとに0に戻す。
【0035】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、計算項目の結果を自動かつ的確に得ることができ、測定項目ごとの変動管理に加え、測定項目の相互変動管理を自動的に行える。したがって、オペレータの負担を軽減できる。
【0036】
また、精度管理に基づく信頼性を向上させることができる。このように精度管理性能が向上することにより、測定上のトラブルを回避し又は最小限に食い止めることができる。
したがって、計算項目に基づく精度管理を適切に行うことによりオペレータの負担を軽減し、信頼性を向上させることのできる自動分析装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る自動分析装置の外観を示す図。
【図2】上記自動分析装置の概略構成を示すブロック図。
【図3】標準試料情報登録画面の一例を示す図。
【図4】計算項目の条件設定画面の一例を示す図。
【図5】計算項目Cのみにインターバル測定を指定した場合の例を示す図。
【図6】従来の自動分析装置における精度管理の流れを説明するための図。
【符号の説明】
11…ラック番号(バーコード)読取り手段
12…ラックサンプラ機構制御手段
13…円形サンプラ機構制御手段
14…試料測定各種手段
15…制御部
16…依頼登録手段
17…依頼情報記憶手段
18…依頼検索手段
19…測定項目/計算項目条件設定手段
20…測定項目/計算項目条件記憶手段
21…標準試料情報登録手段
22…標準試料情報記憶手段
23…測定回数記憶手段
24…精度管理手段及び判定結果表示手段
25…測定結果保存手段
26…測定結果記憶手段
27…入力手段
28…表示手段
Claims (4)
- 測定項目に対する所定の演算を定義する計算式、インターバル測定の間隔、及び測定する標準試料に関する情報が設定された計算項目を登録する計算項目登録手段と、
前記計算項目の依頼を登録する依頼登録手段と、
一般試料の測定時において、前記依頼された計算項目の測定回数をカウントし、そのカウント値を記憶する回数記憶手段と、
前記回数記憶手段のカウント値が前記インターバル測定の間隔に一致した場合、前記標準試料について、計算項目を構成する測定項目の測定を行い、その測定結果に基づく精度管理を行う精度管理手段と、を具備することを特徴とする自動分析装置。 - 前記依頼登録手段は、操作者により前記測定項目が指定されると、予めなされた計算項目の条件設定に基づいて、算出可能な計算項目を選択することを特徴とする請求項1記載の自動分析装置。
- 前記計算項目の依頼が発生した時間間隔を計測する手段を具備し、
前記精度管理手段は、前記計算項目の依頼が発生した時間間隔が所定の時間間隔を超えたら、前記計算項目を構成する測定項目の測定を行い、その測定結果に基づく精度管理を行うことを特徴とする請求項1記載の自動分析装置。 - 前記計算項目の測定回数が前記インターバル測定の間隔に一致したとき、又は、前記計算項目の依頼が発生した時間間隔が所定の時間間隔を超えたときに、前記計算項目を構成する測定項目の測定を行い、その測定結果に基づく精度管理を行うことを特徴とする請求項3記載の自動分析装置。
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