JP2003083839A - ピンホール検査機 - Google Patents

ピンホール検査機

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JP2003083839A
JP2003083839A JP2001316061A JP2001316061A JP2003083839A JP 2003083839 A JP2003083839 A JP 2003083839A JP 2001316061 A JP2001316061 A JP 2001316061A JP 2001316061 A JP2001316061 A JP 2001316061A JP 2003083839 A JP2003083839 A JP 2003083839A
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electrode
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belt conveyor
top seal
flat belt
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JP2001316061A
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Minoru Horikoshi
稔 堀越
Tomoji Chiyo
友次 頂
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Nissin Electronics Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electronics Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】簡単な構造であり、カップ包装品のトップシー
ルに確実、直接、一挙に電圧を印加し、ピンホール又は
シール不良の検査を可能とした低電圧印加方式の安全な
ピンホール検査機を提供する。 【解決手段】被検体10を搬送する間、平ベルトコンベ
ヤ20上で搬送中心線に対し内側に一定角度傾斜し、被
検体の最低円筒部Dと同一高さに配設した案内斜板3
に、被検体を接触させながら被検体一回転分の長さを回
動前進させる構成とする。被検体は平底のため、平ベル
トコンベヤ上を上下の振れなく回動通過するため、直線
構成で微小径の金属繊維を束状に上向き固着した第1電
極1が被検体の環状鍔トツプシール下面と、また、第1
電極と平行でトツプシール部上面に下向きの上記と同一
寸法、同材質の金属繊維を束ねて平板状の長方形直線構
成である第2電極2との一対の電極により、環状鍔トッ
プシールそのものを、回動を利用し連続的に上下一挙に
電圧を印加、検査する。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、樹脂などの絶縁材料で
形成され内部に薬品、食品ならびに、化粧品などを充填
された各種形態の密封包装容器のピンホールなどシール
不良を検査するピンホール検査装置に関する。 【0002】 【従来の技術】トップシールのカップ状の包装容器また
は、角豆腐を密封した容器のような、角断面平底で最上
面を縁取りした鍔と平板状上蓋でシールした密封包装品
のピンホール検査装置の代表例としては、特許(登録、
昭63−101728)がある。この例は、被検体搬送
機のベルトコンベヤのベルト下面に接触するように配設
した導電性材板の第2電極と、被検体の上面全体に接触
して高電圧で印加するための搬送方向と直交するように
配設したブラシ状第1電極とがあり、この両電極間に高
圧の電流を印加する原理のピンホール検査機である。 【0003】一般的に、フラット上蓋でトツプシールさ
れた包装容器のシール部は、上蓋寸法が容器の鍔寸法よ
り大きいのが通例である。従って被検体の上蓋表面に対
する電圧印加では、シール部の密封密着部に対する電圧
の印加は間接的な印加をまぬがれず、密封密着部に対す
る直接印加と比較すると印加電圧レベルを高くする必要
があり、低電圧の印加レベルは適用できない。 【0004】また、この例の第2電極は、搬送コンベヤ
の下面に接触するよう配設しており、被検体と直接の接
触印加でなく、間接印加方式で、かつ、包装容器の底面
に印加しており、豆腐容器のような薄手フイルムでは問
題少ないが、厚肉樹脂カツプのトツプシール部のシール
検査の場合、底肉厚くここでも低電圧検査を阻害する要
因となるので比較的高電圧印加の必要がある。 【0005】ピンホール検査機の具備の必須条件は、擬
似ピンホールなどを印加電圧で穴開けする弊害と危険の
ない低電圧印加の安全で、適確な検査が可能であること
が必須要件である。厚手フイルム製または、厚肉造型容
器まで包含した幅広い種類の包装容器に適応するピンホ
ール検査機を、業界では強く求められていた。 【0006】 【問題を解決するための手段】本発明は、主として平底
円形断面のカップ状包装容器のトツプシール部のピンホ
ールまたは、シール不良を検査するピンホール検査機
で、包装樹脂の絶縁破壊電圧より十分低い、穴開け加工
するような致命的な悪戯のない危険性少ない低電圧印加
を可能にし、かつ、適確な検査をするため次のような構
成とした。 (1) 本発明の検査機の総括的な構成概要としては、
平底カップ包装品を下記のような回動搬送手段で平ベル
トコンベヤ上を回動しながら搬送し、この間、環状鍔ト
ップシール部の密封密着部を含めた要検査部そのもの
に、直接上下から直線状のブラシ電極で電圧を印加し、
検査をするもので、アモルファスなどの金属繊維の微小
径のブラシ電極の接触追従性能をふくめ、低電圧検査が
約束される。 (2) 具体的には、被検体の最下部円筒部を、平ヘル
トコンベヤ上部に搬送中心線に対し内側に一定角度傾斜
配設の案内斜板と、直進する被検体最低円筒部が自動的
に接触するため摩擦回動させながら、被検体を回動搬送
させる。 (3) このような搬送手段による回動搬送状態で、被
検体の包装容器の最上部の環状鍔と上蓋とのシール密着
部の要検査部の下面を上向きの直線ブラシ状の第1電極
で電圧印加を加え検査する。ここで、平ベルトコンベヤ
および、斜板端縁部の長さは、前記円筒部外径から算出
の被検体が余裕もって1回転し、検査を完結するに十分
の長さで構成される。 (4) 第1電極の電圧印加と呼応し、同時に被検体上
蓋上表面を、第1電極と平行で対極側に配設の前記鍔の
幅より十分大きな幅をもった前記材質、形状と同一のブ
ラシ状の第2電極で下向きに電圧印加を加え検査する。 (5) そこで、もし、要検査部にピンホールまたは、
シール不良があれば、両電極いずれかが不良部と接触す
るため、ここに閃絡電流が発生するので、これを他方の
電極を介して受け、構成回路に配設の検出制御回路で発
生電流の多寡をもってピンホールまたは、シール不良を
判別し、必要警報または、不良品の排除信号などを指示
発信する。 以上のように構成したピンホール検査機を提供するもの
である。 【0007】 【発明の実施の形態】以下、本発明の第一実施例を図1
から図3までを参照して説明する。図1は、本発明の正
面の断面組立図で、平ベルトコンベヤ20上の被検体1
0の最低円筒部Dと案内斜板3が接触している状態が分
かる。また環状鍔トップシール部の上部から第2電極2
が、また、下面を第1電極1が同時に電圧を印加してい
る状態を示している。また、被検体10と両電極1およ
び2、電源41および検出制御回路42などの電気的系
統図も併記されている。 【0008】図2は、本発明の平面図で平ベルトコンベ
ヤ20と案内斜板3および天盤押え板13の関係配置
と、被検体10の要検査部δと第1、第2の両電極の関
係配置を明示している。13は、案内板と接触する際の
被検体10の無制限の浮き上がりを制限する天盤押え板
である。 【0009】図3は、本発明の側面図で、検査機に被検
体10を供給する前工程コンベヤ30と検査完了後機外
に排出する後続コンベヤ40との関係も示した。 【0010】次いで、本発明の実施例の動作および効用
を説明する。前工程コンベヤ30から進入の被検体10
が、平ベルトコンベヤ20に移載され直進するが、案内
斜板3に接触すると両者間の摩擦により被検体10は図
示矢印方向に回動しながら案内斜板の設定角度αだけ斜
め方向に進行する。進行中被検体10は案内斜板3と反
対側の天盤押え板13によって浮き上がることを防止さ
れながら、丸々一回転して後続コンベヤに排出される。 【0011】ここで、案内斜板3と接触状態の被検体1
0は、案内斜板3と同長で天盤の懸架台12に下向きに
固着された直線状の第2電極2と、平ベルトコンベヤ2
0の上面に配設の電極架台11上に上向きに固着された
直線状の第1電極1により被検体10の環状鍔トツプシ
ール部の要検査部δに対し対極の上下から挟み込むよう
に同時に高電圧を印加し、全周にわたり検査する。 【0012】この両電極1又は2のいずれかが検査中、
被検体10の要検査部δのいずこかでピンホールかシー
ル不良部に遭遇すると、その電極から該部に閃絡電流を
発生し、他の電極を介して電流が検出回路42を通るた
め、ここで一定値以上で検出を判定することとなり、こ
こで警報ほかの信号を発信し一連の検査サイクルか゛完
了する。以上が本発明の基本的な動作および効用であ
る。 【0013】 【発明の効果】上記のように、本発明の機構、構成は、
特に複雑で手の込んだものでなく、ごく一般的な機械要
素の組み合せて゛まとめることが可能であるため、低コ
ストで的確な性能を発揮する機械を提供できることとな
る。 【0014】本発明の場合、被検体10の要検査部δそ
のものずばりを直接に、またこの箇所の特性としての薄
手の包皮材箇所に対する接触印加となり、また、これに
加え柔軟な割に腰が強く、復元性高い掃拭接触機能をも
つアモルファス金属繊維製の電極素子での、要検査部δ
に対する取りこぼしのない直接接触の電圧印加は、抜群
の低電圧かつ、高効率での電圧印加を可能にするため極
めて安全性高い機械を提供できる。 【0015】また、本発明では、被検体10の背丈の変
化に対する両電極のセット高さ位置の調節対応および案
内斜板の取付け角度の変更調節機能など明示していない
が、いずれも構造、機構共一般常識レベルの技術程度で
対応できるので省略した。 【0016】さらに、本発明の機械で検査しピンホール
または、シール不良と判定した不合格のワークについて
は、その排除についても触れていないが、上記中の後続
コンベヤ40上または、その接続下流のコンベヤ上で、
本発明の検出制御回路42の指令にもとずき、一般的に
常識化されている空圧式または、メカ式の自動排除機構
で系外に排除できるので、排除機構を含めた完全装備の
装置も提供可能なことを付記したい。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の正面断面説明図で、被検体10と各電
極1および2による電圧印加の関係位置を明示してい
る。加えて電気系統図を併記している。 【図2】本発明の平面図で、被検体10の搬送機である
平ベルトコンベヤ20と回動用の案内斜板3、第2電極
および第1電極ならびに、被検体10の相対関係の説明
図である。 【図3】本発明の側面図で、前工程コンベヤ30および
後続コンベヤ40との関係位置を図示している。 【符号の説明】 1 第1電極 2 第2電極 3 案内斜板 10 被検体 11 電極架台 12 懸架台 13 天盤押え板 20 平ベルトコンベヤ 30 前工程コンベヤ 40 後続コンベヤ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 導電性状の内容物を封入した樹脂などの
    絶縁材製の平底円形断面のトップシールカップ状包装容
    器(以下、被検体10と言う)のピンホールまたは、シ
    ール不良を、前記被検体(10)を陰陽二電極による高
    電圧印加方式で検査するピンホール検査機において、 前記被検体(10)を検査が完了する工程の間、搬送す
    る十分の長さをもつ前記被検体(10)の検査、搬送の
    ための平ベルトコンベヤ(20)と、 前記平ベルトコンベヤ(20)の長手全長に延在し、該
    コンベヤの搬送方向中心線と一定角度(α)内側に傾斜
    した、前記被検体(10)の最低円筒部(D)と同一高
    さの水平の平面で配設された端縁直線部(E)をもつ案
    内斜板(3)と、 以上により構成した、前記平ベルトコンベヤ(20)上
    を被検体(10)が進行する際、前記被検体(10)の
    最低円筒部(D)が前記案内斜板(3)の端縁部(E)
    に接触するための摩擦により回動しながら搬送進行する
    よう配設した前記被検体(10)の回動搬送手段と、 前記被検体(10)の検査工程の間、回動状態の要検査
    部(δ)である、容器上蓋と包装容器の最上部鍔とによ
    り構成される環状鍔トップシール部、の下面に対し上向
    きに接触し、連続して高電圧を印加するよう構成した、
    平ベルトコンベヤ(20)上に懸架配設の電極架台(1
    1)に、前記案内斜板(3)と平行に、環状鍔トップシ
    ール部の幅に近似の幅で、前記被検体(10)が平ベル
    トコンベヤを完全に1回転分回動通過するに十分の長さ
    のアモルファスなどの微小径の無数の金属繊維素子を束
    状に固着した第1電極(1)と、 前記案内斜板(3)の天上に沿った高架部の複数の懸架
    台(12)に吊るされ、前記被検体(10)の上蓋上表
    面の前記環状鍔トップシール部に電圧を印加するよう構
    成の前記環状鍔トップシール部の幅で、前記被検体(1
    0)が平ベルトコンベヤを完全に1回転分回動通過する
    に十分の長さのアモルファスなどの微小径の無数の金属
    繊維素子を直線状、束状に固着した第2電極(2)と、 前記両電極に対する給電のための交流または、直流の電
    源(41)と、 これらの接続回路中に配設したピンホールまたは、シー
    ル不良を検出の際、当該個所に発生する閃絡電流の多寡
    により検出を判定し、これにもとずく警報などの各種信
    号を発信するための検出制御回路(42)と、 を備えたことを特徴としたピンホール検査機。
JP2001316061A 2001-09-07 2001-09-07 ピンホール検査機 Withdrawn JP2003083839A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103759896A (zh) * 2014-01-14 2014-04-30 江苏真美包装科技有限公司 一种药品包装材料测试系统

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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