JP2008506110A - コンドームテスト装置 - Google Patents

Abstract

コンドームテスト装置であって、コンドーム（５０）を装填した複数の電導性マンドレル（４０）と、第１組のコンドーム接触電極（１０）と、第２組のコンドーム接触電極（２０）と、テストの間各マンドレル（４０）と第１組のコンドーム接触電極（１０）間および各マンドレル（４０）と第２組のコンドーム接触電極（２０）間にあるギャップ電気回路とを有しており、テストされたコンドーム（５０）中の欠陥がマンドレル（４０）と第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）間を通る電流により検知され、第１組のコンドーム接触電極（１０）が各コンドーム（５０）の円周の１００％未満に接触し、第２組のコンドーム接触電極（２０）が各コンドーム（５０）の円周の１００％未満に接触し、２個のコンドーム（５０）がいっぺんにテストされる。

Description

この発明は孔その他の不完全について梱包出荷前に極端に薄い壁のコンドームをテストするのに使われる機械、器具、装置に関するものであり、特に電流を使ってそのような不完全の存在を決定するものである。

使用中に失敗に至る小さな孔、破れ、薄い壁領域は受容できないものでコンドームを欠陥にする。使用意図からしてコンドームは完全な透通性のバリアを提供することが絶対である。使用中に失敗し易いコンドームの視認できない小さな孔と薄いスポットは発見しなければならない。製造中には高速で多数のコンドームを製造し、かつ材料、特にラテックスやプラスチックは非常に薄くて弾性なので、製造時には常に比較的少数の欠陥品が出易い。故に包装・出荷前に各コンドームはテストして、非欠陥コンドームの消費者への提供を確実にしなければならない。

ひとつの欠陥検知方法としては空気または真空を利用して、コンドームの壁を通っての空気やガスを検知して欠陥を表示する。第２の方法は水で欠陥をテストするものである。一般にコンドームを電導性のマンドレル上に配置して、コンドームを電気リードを含んだ水に漬けて、水を通してマンドレルに電流を通す。コンドームは水とマンドレルとの間の絶縁バリアとして電気回路の形成を阻止する。しかしコンドームに孔があると、回路が形成されて、コンドームが欠陥であることを示す。この方法は低電圧が必要であり、電導性媒体としての水の使用はコンドームの全体への接触を与えるので有利である。

この方法の主たる欠点は、コンドームを包装前に乾燥しなければならないことである。他の欠点はコンドーム壁中の使用中に破れ易い極端に薄いスポットの表示を提供しないことである。なぜなら薄くても水からマンドレルへの電流を阻止するには充分だからである。

第３の方法では、この発明を利用するものであって、コンドームが電気的な絶縁体である利点を取り入れている。コンドームを電導性の金属マンドレルに取り付け、コンドームの外面を金属メッシュ、パッドまたは刷毛などの他の電導性体と接触させる。ある例ではコンドームをテスト前に湿らせてやることもあるが、上記の理由からして好ましくはない。

欠陥がなければコンドームはアースへの閉回路の形成を阻止する。この場合電流は孔、破れまたは薄壁領域を通ってアークして回路を形成する。この形成された回路は欠陥コンドームを示しており、コンドームは破棄される。電導性のメッシュ材料が使われた場合には、非常に非剛性であるようにメッシュが構成されて、電導性マンドレル上のコンドームに対して密に纏いつく。マンドレルとコンドームとは回転されて電流の流れているメッシュに接触する。欠陥は電流がコンドームを通ってマンドレルに流れるのを許容する。

この方法での問題は、所望の可撓性を達成するにはメッシュが大量の開口領域を持たなければならないので、コンドームの全ての部分との直接の接触が達成されないことである。したがって、電流がマンドレルから欠陥を通って最寄りのメッシュ片にアークするには、比較的高くしかも危険な量の電流（一般に５０ワットを越える）が使われなければならない。

またメッシュを過ぎてコンドームが動いたときのコンドームからメッシュの特定の点までの距離の変動により電流の適性な測定が困難である。

他の問題は、コンドームのニップルに起因する。コンドームの筒状の本体からのこの形態変化の故に、メッシュとニップルとの充分な接触を与えるのに問題があり、欠陥が看過される。この手法を利用した例としてはアメリカ特許第２，２２１，３２３、２，６０９，０９４、２，６４９，９６０号がある。
アメリカ特許第２，２２１，３２３号公報 アメリカ特許第２，６０９，０９４号公報 アメリカ特許第２，６４９，９６０号公報

電気回路の形成を利用してコンドームの欠陥を示し電極のひとつとしてメッシュを使わないものとしてはアメリカ特許第６，１６０，４０６号がある。
アメリカ特許第６，１６０，４０６号公報

外部コンドーム接触体が電導性繊維と電導性ブラシの組合せを有しており、またいずれかのみを有することもできる。繊維とブラシの組合せについては、繊維は、コンドームが繊維を横切るときにコンドームの筒状本体に接触するように、配置される。マンドレルの移動方向に繊維は充分に長く、コンドームは３６０度を越える全円周が装填される。好ましくは、コンドームの１回転より大なる長さがテスト中に達成される。

回転運動に起因する摩擦がコンドームを捩って損傷するので、繊維はニップルの遠い端部に接触するようには配置されない。ニップルの端部に接触するには、ブラシはニップルに沿って、好ましくは回転マンドレルの中心軸に対してある角度で、配置される。かくしてコンドームの各部が繊維またはブラシと直接接触する。これにより電流がコンドーム中の小さな孔を通って回路を形成して、欠陥コンドームを示す。

さらにコンドームと繊維・ブラシとの間の接触は広く、繊維とブラシはマンドレルに比較的近く比較的一定の距離にあるので、コンドームの過度に薄壁領域を通ってさえも回路が形成されるように電流強度を調節でき、孔が最初になかった場合でも欠陥コンドームを示すことができる。

これに代えて、繊維を省いて全体が１以上の電導性ブラシからなるコンドーム接触手段を、マンドレル上の露出コンドームの全体に接触するように適宜配置もできる。この構成ではギアや摩擦機構などの手段を使ってマンドレルをブラシを通過するときに回転させる必要がある。何故ならブラシとマンドレルとの間の摩擦係数はマンドレルを回転させるには不充分だからである。

種々のテスト装置で共通であるが、複数のマンドレルを回転テーブル、トラックまたはプラットフォームに環状に取り付ける。マンドレルの経路に沿って離間して装填ステーションとテストステーションと除去ステーションを提供して、テーブルが一方向に連続して回転する。コンドームは個々に空マンドレルに装填され、コンドームがテストゾーンを通って欠陥コンドームを識別する。コンドームはついでマンドレルから除去され、欠陥コンドームは分離・廃棄される。

マンドレルへのコンドームの装填は手動または自動いずれでもよい。同様にコンドームの除去も手動または自動いずれでもよい。一般には自動除去・分離装置をテスト装置と組み合わせる。装填・除去・分離には種々の装置が知られている。

このタイプのコンドーム欠陥テスト装置にあっては、プラットフォーム上の隣接マンドレルの最小距離はテストマンドレル自身の円周により定まる。テスト中コンドームに均一な伸張を与えるべく、一般のマンドレルはほぼ５．８１インチ円周である。既知のコンドームテスト装置では単一の電導性メッシュ、パッド、ブラシ使って各コンドームをテストしているので、マンドレルとコンドームとが電導性メッシュ、パッド、ブラシを横切る際に３６０度を越えて回転されるので、それらの長さは装填されたマンドレルの円周を越えなければならない。

実際には、この長さは安全要因としてマンドレル円周を越える追加の距離を含まねばならず、これにより各コンドームの全円周がテストされるようにする。これにより一般に少なくとも円周の１２５％がテストされる。１個を越えるコンドームはテストがなされている間にメッシュ、パッド、ブラシと接触できないので、マンドレルはテストメッシュ、パッド、ブラシの長さより大きな距離だけ離間する必要がある。

この離間の必要は回転テーブル上のマンドレルの数を制約する。これはさらにコンドームのテスト速度を制約する。一般の自動装填テスト装置では、マンドレルは一般にほぼ１０インチの距離離間され最大移動速度または回転速度はほぼ１２インチ／秒である。

特に手動装填に関して最大移動速度が制約されるので、マンドレルをより近く離間させる装置ならば与えられた時間あたりにテストされるコンドームの数を増加できる。自動コンドーム装填するコンドームテスト装置は一般に１分間当り１００個のコンドームをテストするが、手動装填テスト装置は一般に１分間当り５０〜６０個のコンドームをテストする。いずれのタイプもテスト速度の増加が望ましいが、手動装填装置はより安価であり占拠床面積も自動装填テスト装置より顕著に少ない。かくして手動装填装置でテスト速度を上げるのが特に望ましい。

この発明の目的はコンドームのテスト速度を増加して上記の問題を解決する改良コンドームテスト装置を提供することにある。特に手動装填コンドームテスト装置にあっては、コンドーム含有マンドレル間の距離を最小にする。

この発明の目的は、電導性マンドレルと多数の外部コンドーム接触電極との間での電流の通過によりコンドームのいかなる欠陥も検知されて閉回路が形成される装置を提供することにある。

コンドーム接触電極のマンドレルの移動方向への長さがマンドレルの円周より小さく、いずれの組のコンドーム接触電極も個々にはコンドームの全円周をテストすることができない少なくとも２組のコンドーム接触電極がコンドームの全円周をテストするのに必要な装置を提供することにある。

この発明の目的は、第２のコンドーム含有マンドレルが第１組のコンドーム接触電極上でテストされ、同時に第１のコンドーム含有マンドレルが第２組のコンドーム接触電極上でテストされ、第１のコンドーム含有マンドレルがすでに第１組のコンドーム接触電極上でテストされて第２組のコンドーム接触電極に進められるごとき、装置を提供することにある。

この発明のコンドーム欠陥テスト装置は電流を利用してコンドーム中の孔、破れまたは極端に薄い壁領域を検知するもので、非欠陥コンドームは絶縁体として機能してコンドーム接触電極と電導性マンドレル電極の間の電流の流れを阻止する。電気回路がコンドーム接触電極のいずれかひとつを含み、伝導性マンドレルが欠陥を通しての電流のアークにより閉じられると、この状態が検知されてコンドームが欠陥と見なされ、廃棄される。

マンドレルは回転プラットフォーム、トラックまたはテーブルに取り付けられ、移動経路が環状とされる。装填ステーションにおいてコンドームがマンドレルに装填され、装填されたマンドレルがテストゾーンを通過し、コンドームが欠陥または非欠陥と識別され、コンドームが除去ステーションにおいてマンドレルから除去される。欠陥コンドームは非欠陥コンドームから分離され、空マンドレルが装填ステーションに戻される。プラットフォーム、トラックまたはテーブルの回転は連続が望ましく、インデックス付きの回転でもよい。

テスト速度を増加する目的でテストマンドレルの隙間を最少にするべく、少なくとも２組のコンドーム接触電極が提供され、各組のコンドーム接触電極がマンドレル上に取り付けられたコンドームの円周の３６０度未満をテストする。各コンドームは少なくとも２組のコンドーム接触電極を含んだテストゾーンを通過して、マンドレルがテストゾーンを通過するときに回転される。

２組のコンドーム接触電極が、ある一実施例においては、各組がコンドーム円周の３６０度と１８０度の間をテストする。前記組はマンドレル移動方向に沿って離間されて、第１組から第２組への移動中に充分なマンドレルの回転が起きて、コンドーム円周のテスト部分が重複する。前記組のコンドーム接触電極が離間しているので、第２のコンドーム装填マンドレルが第１組のコンドーム接触電極上でテストされ、第１のコンドーム装填マンドレルが同時に第２組のコンドーム接触電極上でテストされる。これによりマンドレルは狭く離間される。

コンドーム接触電極の組はそれぞれ少なくとも１個のコンドーム本体接触体とコンドームニップル接触体とを有しており、好ましくはコンドーム本体接触体は電導性繊維またはパッドを有しており、コンドームニップル接触体は電導性ブラシを有している。

最も好ましくは、３個のコンドーム本体接触体が提供され、１対のコンドーム本体接触体、好ましくは電導性パッドまたは繊維がマンドレル回転軸に対して垂直に分離され、追加のコンドーム本体接触体、好ましくは電導性ブラシがコンドームニップル接触体とともにマンドレルの反対側に配置されて、２個のコンドーム対面コンドーム本体接触体間の隙間に対応するコンドームの領域がテストされる。

この構成により、異なる量の電流が独立のコンドーム本体接触体を通過して、コンドーム本体中の壁厚の変動を補償する。

以下の記載において、マンドレルの中心軸は頂点においてマンドレルおよびコンドームのニップル端に対して垂直であり、マンドレルは水平方向に回転または移動するプラットフォーム上に配置され、以下に記載する相対方向はこの構成に基づいている。個々のマンドレルは時計方向に回転し、プラットフォームも時計方向に回転するものとする。しかしこれに限定されるものではない。

一般にこの発明は個々のコンドーム５０を孔、破れ、薄壁領域などの欠陥についてテストするコンドーム欠陥テスト装置に関するものであり、欠陥コンドーム５０は包装・出荷前に識別・廃棄される。前記テスト装置はコンドーム装填手段およびコンドーム除去・選別手段と一緒に利用され、前記コンドーム装填手段は個々のコンドーム５０をマンドレル４０に装填し、また前記コンドーム除去・選別手段はコンドーム５０をマンドレル４０から除去して欠陥コンドームを非欠陥コンドームから分離する。

コンドーム装填手段は自動的にコンドーム５０をマンドレル４０に装填する機械装置であり、またはコンドーム５０が手動でマンドレル４０に装填される。コンドーム除去・選別手段は自動または手動であるが、自動システムの方が一般である。典型的な除去・選別システムでは、コンドーム５０を巻き上げるローラーが用いられ、１対のブラシがマンドレル４０からコンドーム５０を打つのに使用される。

あるブラシは欠陥コンドーム５０のために起動され、他のブラシは非欠陥コンドームのために起動される。欠陥コンドーム５０は分離コンベヤーまたは容器に排出される。コンドーム欠陥テスト装置は現存のシステムまたはコンドーム装填手段、テスト手段、除去・選別手段および除去・選別手段を有した全システムを有する装置に組み込まれる。

電導性マンドレル４０は既知であり、一般的なマンドレル４０は基体４１、筒状延在体４２、ニップル端部４３を有している。ニップル端部４３はマンドレル４０の直径を小さな先端につなげる肩部を有している。マンドレル４０の形状は、マンドレル５０に装填されたときに本体５１、ニップル端部５２を具えたコンドーム５０が均一に伸張されるように、選択される。マンドレル装填手段４２はマンドレル４０を移動プラットフォーム、トラック、テーブル４５に結合し、マンドレル装填手段４２により各マンドレル４０は中心軸について回転し、プラットフォーム４５はモーターにより回転されて、マンドレル４０の移動路９９が環状になるようにする。

マンドレル装填手段４２は基体４１下に設けられた円筒形のピンを有しており、これが回転プラットフォーム４５に配置された孔に収受される。マンドレル回転手段４６は個々のマンドレル４０を中心軸について回転し、湾曲体を有している。湾曲体は摩擦的または機械的に基体４１がテストゾーンに入ると相互作用して、マンドレルの移動路９９に沿って進む際に各マンドレル４０の制御回転が達成される。

マンドレル接触電極手段４７が設けられて、各マンドレル４０が電気的テスト回路の一部であるようにする。電導体とテスト回路は当業者適宜選択自在とする。適正なテスト回路にあっては、テストマンドレル４０をマンドレル接触電極手段４７を介してアースし、コンドーム５０中の欠陥を通る電流が回路を閉じ、この状態が既知の方法で検知される。図２、４に示すように、マンドレル接触電極手段４７はブラシ取付け手段３４または６４によりフレームワーク３２または６２に取付けられた電導性アースブラシ３３または６３を有している。

マンドレル４０がテストゾーンを通ると、電導性ブラシ３３または６３がマンドレルの基体４１との接触を保ち、ブラシ３３または６３はマンドレル移動方向にコンドーム本体接触手段１１または２１、コンドームニップル接触手段１２または２２とほぼ同じ長さ延在する。円形の移動路９９としてはブラシ３３または６３の接触面がマンドレルの移動路９９の円弧と同じに湾曲するのが望ましい。

コンドーム欠陥テスト装置は第１組のコンドーム接触電極１０と少なくとも第２組のコンドーム接触電極２０とを有している。第２組のコンドーム接触電極２０のコンドーム本体接触手段２１とコンドームニップル接触手段２２は第１組のコンドーム接触電極１０のコンドーム本体接触手段１１とコンドームニップル接触手段１２から離間している。これにより移動路９９に沿って隙間が画定され、マンドレル４０とコンドーム５０とは第１組のコンドーム接触電極１０または第２組のコンドーム接触電極２０とテストゾーンの中央で接触しない。これにより第１・２のテストステージが画定される。第１組のコンドーム接触電極１０はコンドーム本体接触手段１１とコンドームニップル接触手段１２を有しており、これらが電気テスト回路の一部をなす。電流はコンドーム本体接触手段１１またはコンドームニップル接触手段１２からコンドーム５０中の欠陥を通ってマンドレル４０へ通過しアースされる。これにより電気回路が閉じまたは完成し、この状態が電気回路状態検知手段により検知されて、テストされたコンドーム５０が欠陥であるとの表示がなされ、マンドレル４０からの除去の際にコンドーム５０の選別が行われる。以上の経路その他の設計は当業者者選択自在である。

コンドーム本体接触手段１１は好ましくは１または複数の電導性パッド１３を有しており、これは電導性繊維材料が圧縮内部体により裏付けされている。電導性パッド１３はフレームワーク３２に取り付けられて、マンドレル４０が第１のテストステージを通過する際にコンドーム本体接触手段１１が静止を保つ。パッド接触面１５は湾曲しており、移動路９９に対応するようにして、コンドーム５０に印加された圧力が透過する際に一定になるようにする。マンドレル４０の回転速度は移動路９９に沿ってのマンドレル４０の移動速度に合致するように設定される。パッド接触面１５とコンドーム本体５１との間の摩擦接触がマンドレル４０上のコンドーム５０を動かさず伸張もしないようにする。電導性パッド１３の高さはコンドーム本体５１の全んどに接触するのに充分にしなければならない。

図３の実施例においては、電導性パッド１３が水平方向に配置された隙間により物理的に分離された上パッド１７、下パッド１８を有している。これにより上パッド１７を通る電流は下パッド１８を通る電流とは異なるレベルに設定される。コンドーム本体５１の上部がその下部とは異なる形状または壁厚を有する場合には、これがコンドーム５０によい結果を齎す。

多数のパッド１７、１８がある場合には、コンドーム本体接触手段１１はパッド１７、１８の反対側に配置された電導性本体ブラシ１９を有しており、前記ブラシ１９は垂直に配置されてパッド１７、１８間の隙間をカバーする。かくしてコンドーム本体５１の全長がコンドーム本体接触パッド１７、１８とブラシ１９の組合せによりテストされる。

コンドーム４０のニップル端５２は肩部を有しており、コンドームニップル接触手段１２により検知テストされる。前記コンドームニップル接触手段１２はコンドーム本体接触手段１１とは反対側でフレームワーク３２上に取り付けられた電導性ブラシ１４を有している。ブラシ接触面１６はニップル端５２のトップから肩部を過ぎてコンドーム本体５１の上部に重複して、コンドーム本体５１の一部がコンドームニップル接触手段１２およびコンドーム本体接触手段１１の双方によりテストされる。前記ブラシ接触面１６は好ましくはマンドレルの移動路９９の円弧に対応し、湾曲される。

コンドーム本体接触手段１１（つまり、接触面１５、パッド１３または結合されたパッド１７、１８）とコンドームニップル接触手段１２（つまり、ブラシ１４の接触面１６）の移動路９９に沿っての長さはマンドレル４０の円周より小さい。かくしてマンドレル４０が第１のテストステージを通過するとき、コンドームニップル接触手段１２および第１組のコンドーム接触電極１０のコンドーム本体接触手段１１とはコンドーム５０の表面の１００％未満をテストする。例えば、ほぼ１．８５インチの直径のマンドレル、つまりほぼ５．８１インチの円周については、コンドームニップル接触手段１２の接触面１６とコンドーム本体接触手段１１の接触面１５の長さは５．８１インチを越えることができない。

コンドーム検知テスト装置はさらに第２組のコンドーム接触電極２０を有しており、これは第１組のコンドーム接触電極１０から離間しており、テストゾーンにおける第２のテストステージを画定する。第２組のコンドーム接触電極２０はコンドーム本体接触手段２１とコンドームニップル接触手段２２を有しており、第１組のコンドーム接触電極１０と同様に機能する。好ましくは第２組のコンドーム接触電極２０の要素は第１組のコンドーム接触電極１０のそれに相当する。これにより、第２組のコンドーム接触電極２０は電導性パッド２３、または上下の電導性パッド２７、２８、電導性ブラシ２４、パッド接触面２５、ブラシ接触面２６、フレーム６２、ブラシ取付け手段６４、パッド取付け手段６５を有しており、これらは第１組のコンドーム接触電極１０の対応する要素（電導性パッド１３、または上下の電導性パッド１７、１８、電導性ブラシ１４、パッド接触面１５、ブラシ接触面１６、フレーム３２、ブラシ取付け手段３４、パッド取付け手段６３）と構造的・機能的に同じである。

図３、４にそのような同様性を示す。コンドーム本体接触手段２１（つまり、接触面２５、パッド２３または結合されたパッド２７、２８）とコンドームニップル接触手段２２（つまり、ブラシ２４の接触面２６）との移動路９９に沿っての長さはマンドレル４０の円周より小さくなければならない。

第１のテストステージを画定する第１組のコンドーム接触電極１０は第２のテストステージを画定する第２組のコンドーム接触電極２０から離間しており、マンドレル回転手段４６によるマンドレル４０の中心軸についての回転はコンドーム５０の第１組のコンドーム接触電極１０によりテストされない領域を第２組のコンドーム接触電極２０がテストする。同時に図５に示すように重複領域は第１組のコンドーム接触電極１０および第２組のコンドーム接触電極２０によりテストされる。例えば、第１組のコンドーム接触電極１０上でコンドーム円周のほぼ２６０度をテストすると第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０との間でのほぼ２５３度のマンドレル回転を可能とするに充分な離間が提供され、第２組のコンドーム接触電極２０上でほぼ２６０度がテストされる。

２個のテストステージが重複するので、コンドーム円周の１００％を越えてテストが行われ、ほぼ２００度のコンドーム円周が１回テストされ、コンドーム円周のほぼ１６０度が２回重複領域でテストされる。第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０との重複がより小さいように構成することも可能であり、第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０の一方が水平テスト方向について他より長くてもよい。

図１に示す回転プラットフォーム４５はマンドレル５０に取り付けられたコンドーム５０ａ〜５０ｄを有しており、回転可能に取り付けられた延在アームを有している。コンドーム５０ａはテストゾ−ンをすでに通過し、除去・選別の用意ができている。コンドーム５０ｄはテストゾーンに入ろうとしている。コンドーム５０ｂは第２組のコンドーム接触電極２０を通過しており、第１組のコンドーム接触電極１０は既に透過している。この例ではコンドーム５０ｂの円周のほぼ２６０度が第１組のコンドーム接触電極１０においてテストされ、マンドレル４０は第２組に達する前にほぼ２５３度回転され、重複２６０度は第２組のコンドーム接触電極２０でテストされる。

コンドーム５０ｃは第１組のコンドーム接触電極１０を通過しており、ほぼ２６０度の円周がテストされている。第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０とは分離しているので、コンドーム５０ｃはコンドーム５０ｂと同時にテストされ、これによりマンドレル４０間の距離が低減される。より多くのコンドーム４０が与えられた時間内にプラットフォーム４５の同じ回転速度でテストされる。

例挙するとプラットフォーム４５は直径がほぼ３．７５フィートであり、マンドレルは円周がほぼ５．８１インチであり、これだと第１組のコンドーム接触電極１０は移動路９９に沿ってほぼ４．２インチの長さとなる。第２組のコンドーム接触電極１０は移動路９９に沿ってほぼ４．２インチ、第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０とは移動路９９に沿ってほぼ４．１インチ分離されている。この構成だと、マンドレル４０はほぼ７．８インチごと離間され、従来の装置より顕著に減少している。手動装填装置では、これはテスト速度をほぼ５０〜６０個／分から１分間当り１０５〜１１０個のコンドームに増加する。しかも手動装填については充分な分離が保たれ、プラットフォーム回転速度はほぼ１２インチ／秒である。

以上テストゾーン中の第１・２ステージを確定する第１組のコンドーム接触電極１０と第２組のコンドーム接触電極２０について記載したが、２組を越えて使うことも可能であり、組間の分離距離は低減される。

この発明はコンドーム製造産業分野で広く利用される。

コンドームテスト装置の実施例の縦面図である。 １組のコンドーム接触電極とマンドレル接触電極を示す側面図である。 図２と同じ側面図である。 図３と同じ側面図である。 コンドーム装填マンドレルのテストゾーンを通る模型図である。

符号の説明

１０ 第１組のコンドーム接触電極
１１ 本体接触手段
１２ ニップル接触手段
２０ 第２組のコンドーム接触電極
４０ マンドレル
５０ コンドーム
９９ 移動路

Claims (35)

1. 装填されたコンドーム（５０）を有した複数の電導性マンドレル（４０）と、
   第１組のコンドーム接触電極（１０）と、第２組のコンドーム接触電極（２０）と、テスト中前記各マンドレル（４０）と前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）との間と前記各マンドレル（４０）と前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）との間のギャップ電気回路と、前記各マンドレル（４０）と前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）間と前記各マンドレルと前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）間の前記電気回路の状態を検知する検知手段とを有しており、前記第１組のコンドーム接触電極（１０）が前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満と接触し、前記第２組のコンドーム接触電極（２０）が前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満と接触する、ことを特徴とするコンドームテスト装置。
2. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）がコンドーム本体接触手段（１１）とコンドームニップル接触手段（１２）とを有していることを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 前記第２組のコンドーム接触電極（２０）がコンドーム本体接触手段（２１）とコンドームニップル接触手段（２２）を有していることを特徴とする請求項２に記載の装置。
4. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）がそれぞれ電導性パッド（１３、１５）を有していることを特徴とする請求項３に記載の装置。
5. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドームニップル接触手段（１２）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドームニップル接触手段（２２）とがそれぞれ電導性ブラシ（１４、２４）を有していることを特徴とする請求項４に記載の装置。
6. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）とがそれぞれ上パッド（１７、２７）、下パッド（１８、２８）、本体ブラシ（１９、２９）を有していることを特徴とする請求項５に記載の装置。
7. さらに前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）および前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）との接触中、マンドレル回転手段（４６）が前記各マンドレル（４０）を回転することを特徴とする請求項６に記載の装置。
8. さらに回転プラットフォーム（４５）が設けられており、前記マンドレル（４０）が前記回転プラットフォーム（４５）に取り付けられていることを特徴とする請求項７に記載の装置。
9. さらにコンドーム装填手段が前記コンドームを前記マンドレルに装填し、コンドーム除去手段が前記コンドームを前記マンドレルから除去し、コンドーム選別手段は前記各コンドーム（５０）が欠陥であると検知されるか否かにより前記コンドーム（５０）を選別することを特徴とする請求項８に記載の装置。
10. 装填されたコンドーム（５０）を有する複数の電導性マンドレル（４０）と、
    少なくとも２組の前記各コンドーム接触電極（１０、２０）と、テスト中前記各マンドレル（４０）と少なくとも２組の前記各コンドーム接触電極（１０、２０）との間のギャップ電気回路と、前記電気回路の状態を検知する検知手段とを有しており、欠陥の前記コンドーム（５０）は前記マンドレル（４０）と少なくとも２組の前記コンドーム接触電極（１０、２０）のうちの少なくとも１個との間に電流を流し、非欠陥の前記コンドーム（５０）は前記マンドレル（４０）と少なくとも２組の前記各コンドーム接触電極（１０、２０）との間に電流を流さず、テスト中少なくとも２組の前記各コンドーム接触電極（１０、２０）が前記各コンドーム（５０）の円周に１００％未満接触し、これと相俟ってテスト中少なくとも２組のコンドーム接触電極（１０、２０）が前記各コンドーム（５０）の円周に１００％を越えて接触することを特徴とするコンドームテスト装置。
11. 少なくとも２組の前記各コンドーム接触電極（１０、２０）が前記コンドーム（５０）の異なる１個と同時に接触することを特徴とする請求項１０に記載の装置。
12. 少なくとも２組の前記コンドーム接触電極（１０、２０）が第１のテストステージを画定する第１組のコンドーム接触電極（１０）と、第２のテストステージを画定する第２組のコンドーム接触電極（２０）とを有しており、前記各マンドレル（４０）が前記第１組（１０）を通過すると前記第１組（１０）が前記各コンドーム（５０）に接触するように配置され、前記各マンドレル（４０）が前記第２組（２０）を通過する前記第２組（２０）が前記各コンドーム（５０）に接触するように配置されることを特徴とする請求項１１に記載の装置。
13. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）がコンドーム本体接触手段（１１）とコンドームニップル接触手段（１２）とを有していることを特徴とする請求項１２に記載の装置。
14. 前記第２組のコンドーム接触電極（２０）がコンドーム本体接触手段（２１）とコンドームニップル接触手段（２２）とを有していることを特徴とする請求項１３に記載の装置。
15. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）とがそれぞれ電導性パッド（１３、２３）を有していることを特徴とする請求項１４に記載の装置。
16. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドームニップル接触手段（１２）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドームニップル接触手段（２２）とがそれぞれ電導性ブラシ（１４、２４）を有していることを特徴とする請求項１５に記載の装置。
17. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）とがそれぞれ上パッド（１７、２７）、下パッド（１８、２８）、本体ブラシ（１９、２９）を有していることを特徴とする請求項１６に記載の装置。
18. さらに前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）と前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）との接触中マンドレル回転手段（４６）が前記各マンドレル（４０）を回転することを特徴とする請求項１７に記載の装置。
19. さらに回転プラットフォーム（４５）が設けられており、前記マンドレル（４０）が前記回転プラットフォーム（４５）に取り付けられていることを特徴とする請求項１８に記載の装置。
20. さらにコンドーム装填手段が前記コンドーム（５０）を前記マンドレル（４０）に装填し、コンドーム除去手段が前記マンドレル（４０）から前記コンドーム（５０）を除去し、コンドーム選別手段は前記各コンドーム（５０）が欠陥と検知されるか否かに応じて前記コンドーム（５０）を選別することを特徴とする請求項１９に記載の装置。
21. 第１組のコンドーム接触電極（１０）と、第２組のコンドーム接触電極（２０）と、回転プラットフォーム（４５）と、前記プラットフォーム（４５）に取り付けられた複数の電導性マンドレル（４０）とを有しており、各マンドレル（４０）がテストのためにコンドーム（５０）を収受し、前記各コンドーム（５０）が前記第１組のコンドーム接触電極（１０）とついで前記第２組のコンドーム接触電極（２０）と接触し、前記マンドレル（４０）が前記プラットフォーム（４５）上で離間しており、第２の前記コンドーム（５０）が前記第１組のコンドーム接触電極（１０）と接触すると同時に第１の前記コンドーム（５０）が前記第２組のコンドーム接触電極（２０）と接触し、２個の前記コンドーム（５０）が同時にテストされ、前記各マンドレル（４０）と前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）との間、および前記各マンドレル（４０）と前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）との間にテスト中ギャップ電気回路があり、前記各マンドレル（４０）と前記各第１組のコンドーム接触電極（１０）との間、および前記各マンドレル（４０）と前記各第２組のコンドーム接触電極（２０）との間の前記電気回路の状態を検知する手段を有しており、欠陥でない前記コンドーム（５０）は前記マンドレル（４０）と前記第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）との間の電流の流れを阻止し、前記第１組のコンドーム接触電極（１０）は前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満と接触し、前記第２組のコンドーム接触電極（２０）は前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満と接触し、前記第２組のコンドーム接触電極（２０）の前記各コンドーム（５０）上の接触領域が前記第１組のコンドーム接触電極（１０）の前記各コンドーム（５０）の２接触領域と重複し、前記各コンドーム（５０）の円周の各点が前記第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）の少なくとも１個とテスト中接触するコンドームテスト装置。
22. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）がコンドーム本体接触手段（１１）とコンドームニップル接触手段（１２）とを有していることを特徴とする請求項２１に記載の装置。
23. 前記第２組のコンドーム接触電極（２０）がコンドーム本体接触手段（２１）とコンドームニップル接触手段（２２）とを有していることを特徴とする請求項２２に記載の装置。
24. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）とがそれぞれ電導性パッド（１３、２３）を有していることを特徴とする請求項２３に記載の装置。
25. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドームニップル接触手段（１２）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドームニップル接触手段（２２）とがそれぞれ電導性ブラシ（１４、２４）を有していることを特徴とする請求項２４に記載の装置。
26. 前記第１組のコンドーム接触電極（１０）のコンドーム本体接触手段（１１）と前記第２組のコンドーム接触電極（２０）のコンドーム本体接触手段（２１）とがそれぞれ上パッド（１７、２７）と下パッド（１８、２８）と本体ブラシ（１９、２９）を有していることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
27. さらにマンドレル回転手段（４６）が前記各第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）との接触の間前記各マンドレル（４０）を回転することを特徴とする請求項２６に記載の装置。
28. さらにコンドーム装填手段が前記コンドーム（５０）を前記マンドレル（４０）に装填し、コンドーム除去手段が前記コンドーム（５０）を前記マンドレル（４０）から除去し、コンドーム選別手段は前記各コンドーム（５０）が欠陥と検知されたか否かに応じて前記コンドーム（５０）を選別することを特徴とする請求項２７に記載の装置。
29. 複数の電導性マンドレル（４０）と、少なくとも第１組のコンドーム接触電極（１０）と第２組のコンドーム接触電極（２０）と、前記各マンドレル（４０）と前記各第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）の間のギャップ電気回路と、前記電気回路の状態を検知する手段とを提供し、コンドーム（５０）を前記マンドレル（４０）に装填し、前記各コンドーム（５０）を前記第１組のコンドーム接触電極（１０）に通して前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満をテストし、前記各コンドーム（５０）が前記コンドーム（５０）を通っての電流の通過を阻止するか許容するかを検知し、前記各コンドーム（５０）を前記第２組のコンドーム接触電極（２０）に通して前記各コンドーム（５０）の円周の１００％未満をテストし、前記各コンドーム（５０）が前記コンドーム（５０）を通っての電流の通過を阻止するか許容するかを検知し、前記コンドーム（５０）を除去・選別することを特徴とする欠陥についてコンドーム（５０）をテストする方法。
30. さらに同時に前記第２組のコンドーム接触電極（２０）により第１の前記コンドーム（５０）をテストし、第２の前記コンドーム（５０）を前記第１組のコンドーム接触電極（１０）によりテストすることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
31. さらに前記マンドレル（４０）をプラットフォーム（４５）に取り付けて前記プラットフォーム（４５）を回転して前記コンドーム（５０）を前記第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）に通すことを特徴とする請求項２９に記載の方法。
32. さらに前記各マンドレル（４０）をその中心軸について個別に回転し、前記コンドーム（５０）を前記第１組および第２組のコンドーム接触電極（１０、２０）に通すことを特徴とする請求項３１に記載の方法。
33. 前記装填ステップが手動で行われることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
34. 前記第２組のコンドーム接触電極（２０）による前記テストステップに際して、前記第１組のコンドーム接触電極（１０）によりテストされなかったコンドーム（５０）の円周部分をテストすることを特徴とする請求項２９に記載の方法。
35. 前記第２組のコンドーム接触電極（２０）による前記テストステップに際して、前記第１組のコンドーム接触電極（１０）によりテストされたコンドーム（５０）の円周の少なくとも２個の部分をテストすることを特徴とする請求項３４に記載の方法。

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