JP2003050254A - 電流検出器 - Google Patents

電流検出器

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JP2003050254A
JP2003050254A JP2001240403A JP2001240403A JP2003050254A JP 2003050254 A JP2003050254 A JP 2003050254A JP 2001240403 A JP2001240403 A JP 2001240403A JP 2001240403 A JP2001240403 A JP 2001240403A JP 2003050254 A JP2003050254 A JP 2003050254A
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current
conductor
strip
coil
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Takeo Koyama
建夫 小山
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電力素子や電力変換器の過電流保護に使用す
る電流検出器として、回路電流に正確に比例した信号と
リニアリティを確保し、かつ、被測定回路に影響を与え
ることのない電流検出器を提供する。 【解決手段】 3層構造のプリント基板3の第1導電層
と第3導電層に、等間隔で離間した複数の短冊状導体7
が設け、各短冊状導体をスルホール9により連続的に、
かつスパイラスに接続することでトロイダル状コイル5
を形成し、中間の第2導電層にリターン導体11を形成
して、コイル5の一つの最終端部がA出力端子として引
き出され、他の最終端部がリターン導体11の一端に接
続されて、リターン導体11の他端からB出力端子を取
り出した電流検出器1。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体素子の電流
を検出する電流検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】電力用半導体素子の保護機能の一つに、
過電流保護機能がある。この機能は、短絡などの不測の
事態で発生した過大電流を検出して、素子の短絡耐量以
内の数μs〜数十μsで半導体素子を保護するために必
要な一連の動作を行うものである。特に、半導体素子を
保護するために、素子の短絡耐量以内時間で保護動作を
行うことは、半導体素子や、それを用いている電力変換
器の信頼性向上につながる重要な事柄である。
【0003】このため、このような保護機能の前提とし
て、過電流をいち早く、かつ、正確に検出する必要があ
る。
【0004】従来の過電流検出方法は、概略以下のよう
な方法がある。
【0005】第1に、半導体素子からセンス端子を引き
出し直接半導体素子に流れる電流を検出する方法。
【0006】第2に、電力変換器の各アームに取り付け
た変成器による方法。
【0007】第3に、過電流時の半導体素子のVceの
変化を検出する方法。
【0008】以下にこれら従来の過電流検出方法につい
て図面を参照して説明する。
【0009】図18および図19は、電圧駆動素子にお
いて、ボンディング形式で電流検出用センス端子を取り
出した方法の一例を示す図面である。
【0010】図18に示すように、この電圧駆動素子に
用いられている電圧駆動チップ101は、セル103の
集合体である。センス端子は、このセル103の一つか
らセンス端子SNを外部に引き出し電流検出用にしたも
のである。
【0011】なお、図18において、この電圧駆動素子
は、電圧駆動型チップ101、セル103、セラミック
ス回路基板105、ボンディング導体107、エミッタ
(またはカソード)用ボンディングパッド109、ゲー
ト用ボンディングパッド111、センス端子用ボンディ
ングパッド113よりなる。
【0012】このような素子において、電力容量を増加
させる際は、図示したチップ素子を並列接続して行われ
(マルチチップ方式)、センス端子は集合化したチップ
のいずれか一枚から引き出される。
【0013】なお、図19は、図18の素子を電気記号
として示したものである。図においてCはコレクタ端子
(またはアノード端子)、Eはエミッタ端子(またはカ
ソード端子)、Gはゲート端子、SNは電流検出用端子
である。
【0014】図20は、電力変換器の上・下アームに過
電流検出のための変成器を設置した一例を示す電気回路
図である。
【0015】通常この方法ではブリッジ主回路変換器の
各相に変成器を設ける。電力変換器は、電力用半導体素
子121、123、変成器(CT)125、127、相
間接続導体129によりなる。
【0016】そして、各アーム間を接続する導体に設置
した変成器125、127では、過電流検出する際に、
たとえば三相の変換器では各相に変成器を設置し、各相
の電流状態やアーム短絡などを監視して保護する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の素子
を保護するための電流検出法では、以下のような問題点
がある。
【0018】第1の方法では、上記の通り、素子を構成
するセルの一つを電流検出用にしたもので、主に、小容
量の電力素子に電流検出器を内蔵する形態で用いられて
いることが多く、これを用いて電力素子を突発的な事象
から保護できるので、素子の信頼性を大きく向上させて
いる。
【0019】しかし、センス端子付方式による電流検出
方法は、比較的小容量の素子(並列チップ数が少ない)
では、それなりの特性が得られ保護動作に持ち込むこと
は可能であるが、チップ素子が多数並列して大電力化し
た素子では、チップ素子の特性が異なる場合が多いこと
から、実電流に対してセンス端子から得られる信号値
が、比例関係になりづらい(センス比が悪い)といった
問題がある。このため、容量が大きくなると得られた信
号で正確に素子を保護することが難しいといった問題が
ある。
【0020】第2の方法では、電力変換器の各相アーム
間接続導体に、変成器(CT)を挿入して電流の異常を
検出する方法であり、変成器を取り付けることにより、
主回路のインダクタンスが増大し、それにともなう影響
でサージ電流が発生して検出信号に振動が現れ過電圧抑
制制御に支障を来たすことがある。また、主回路インダ
クタンスの増大は素子のスイッチングに悪影響を与える
こともある。さらに、変成器を取り付けることにより、
電力変換器自体が大型化してしまうといった問題もあ
る。
【0021】さらに、変成器による電流検出は、応答が
遅く、高速な電流検出が難しくて、信頼性の高い装置の
実現が難しいといった問題もある。
【0022】なお、第3の方法は、過電流で素子のVc
eが変化することを積極的に利用しようとする手法であ
るが、高電圧、大電流素子での成功例は少なく、実用化
には至っていないのが現状である。
【0023】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、電力素子や電力変換器の過電流保護
に使用する電流検出器として、回路電流に正確に比例し
た信号とリニアリティを確保し、かつ、被測定回路に影
響を与えることのない電流検出器を提供することであ
る。
【0024】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
上記課題を解決するため、互いに離間して設けられた複
数の第1の短冊状導電体と、前記第1の短冊状導電体に
対して誘電体を介し、互いに離間して設けられた複数の
第2の短冊状導電体と、前記第1の短冊状導体および前
記第2の短冊状導体を前記誘電体に設けられたスルホー
ルにより連続的に接続して形成したコイルと、前記コイ
ル内を通り、その一端部が前記コイルを形成する短冊状
導体のうち、いずれか一つの短冊状導体の一端部に接続
されたリターン導体と、前記リターン導体の他端部に接
続された第1の出力端子と、前記コイルを形成する短冊
状導体のうち、いずれか一つの短冊状導体の一端部に接
続された第2の出力端子と、を有することを要旨とする
電流検出器である。
【0025】この発明は、誘電体を介して形成した第1
および第2の短冊状導体を、スルホールを介して連続的
に接続することで誘電体上に形成した短冊状導体による
きわめて薄い構造のコイルができる。そして、このコイ
ルを被検出電流が流れる導体近傍に載置することで、こ
のコイルに被検出電流に比例する電流が誘起するので、
コイルの一端と他端に接続されたリターン導体から出力
を取り出して、被検出電流を検出しようとするものであ
る。
【0026】請求項2記載の発明は、請求項1記載の電
流検出器において、前記コイルは、シールド導体により
覆われていることを要旨とする。
【0027】この発明は、コイルをシールド導体により
覆うことで、電流検出器が受ける磁気的な外乱を防止し
ようとするものである。
【0028】請求項3記載の発明は、請求項1記載の電
流検出器を、平型圧接構造の電力用半導体素子のエミッ
タまたはカソードの圧接面に設けたことを要旨とする。
【0029】この発明は、本発明による電流検出器を平
型圧接構造の電力用半導体素子のエミッタまたはカソー
ドの圧接面に設けることで、電力用半導体素子の過電流
保護のための電流検出器として利用しようとするもので
ある。
【0030】請求項4記載の発明は、請求項1記載の電
流検出器を、平型圧接構造の電力用半導体素子の外囲器
内部のエミッタまたはカソード側に設けられることを要
旨とする。
【0031】この発明は、本発明による電流検出器を平
型圧接構造の電力用半導体素子の外囲器内部のエミッタ
またはカソード側に設けることで、電力用半導体素子の
過電流保護のための電流検出器として利用しようとする
ものである。
【0032】請求項5記載の発明は、請求項2記載の電
流検出器を、複数の半導体チップを集積したマルチチッ
プ圧接型半導体素子の各半導体チップのエミッタまたは
カソード側に設けることを要旨とする。
【0033】この発明は、本発明による電流検出器を複
数の半導体チップを集積したマルチチップ圧接型半導体
素子の各半導体チップのエミッタまたはカソード側に設
けることで、マルチチップ圧接型半導体素子の過電流保
護のための電流検出器として利用しようとするものであ
る。
【0034】請求項6記載の発明は、請求項1記載の電
流検出器を、モジュール型電力用半導体素子のエミッタ
またはカソード側導体の外部引き出し端子面とモジュー
ルの境界面付近に設けることを要旨とする。
【0035】この発明は、本発明による電流検出器をモ
ジュール型電力用半導体素子のエミッタまたはカソード
側導体の外部引き出し端子面とモジュールの境界面付近
に設けることで、モジュール型電力用半導体素子の過電
流保護のための電流検出器として利用しようとするもの
である。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。
【0037】(第1の実施の形態)図1は、本発明を適
用した電流検出器の一例を示す図面であり、図2は、図
1における矢線X−Xに沿う断面図である。
【0038】この電流検出器1は、円形中空に整形した
多層プリント基板3を用いてトロイダル状コイル5を形
成したものである。
【0039】多層プリント基板3は、3層構造であり、
トロイダル状コイル5はこの3層の導電層によるプリン
ト配線によって形成されている。具体的には、誘電体1
5を挟んで形成されている第1導電層21と第3導電層
25に、互いに等間隔で離間した複数の短冊状導体7が
設けられていて、各短冊状導体7の両端部をスルホール
9により連続的に、かつ、スパイラスに接続することで
トロイダル状コイル5が形成されている。
【0040】また、多層プリント基板3の中間の第2導
電層23には、スルホール9に接触しない位置にリター
ン導体11が形成されており、連続的に接続された短冊
状導体7の一つの最終端部がA出力端子として引き出さ
れており、他の短冊状導体7の最終端部がリターン導体
11の一端部に接続され、このリターン導体11の他端
部からB出力端子を取り出している。
【0041】このようなトロイダル状コイル5を形成し
た多層プリント基板3は、たとえば、誘電体15の両面
に第1導電層21および第2導電層23となる銅箔が形
成されたフレキシブル基板やハードボード基板の第1導
電層21となる側に短冊状導体7を、第2導電層23と
なる側にリターン配線11を、それぞれエッチングなど
により成形し、さらに誘電体15の片面に第3導電層2
5となる銅箔が形成されたフレキシブル基板やセラミッ
クス基板の銅箔をエッチングして短冊状導体7を形成し
て、これらを張り合わせた後、第1導電層21から第3
導電層25に至るスルホール9を形成して、各短冊状導
体7を接続することによって得られる。
【0042】以下、この電流検出器の作用を説明する。
【0043】図3は、この電流検出器の電気的な動作原
理を説明するための電気回路図であり、図4は、被測定
回路電流Ip(パルス電流)の変化率と図3中の出力抵
抗Ro端信号電圧との関係を示した図面である。
【0044】多層プリント基板3にトロイダル状コイル
5を形成した電流検出器1では、図3で表されるよう
に、中空部13に被検出電流が流れる導体を載置し、こ
の導体を流れる被検出電流を一次電流Ipとすると、ト
ロイダル状コイル5のA出力端子とB出力端子からこの
一次電流Ipに応じた二次電流isが取り出される。そ
して、A、B出力端子間に出力抵抗Roを取り付けるこ
とで、この二次電流isの変化を電圧変化として取り出
すことができる。
【0045】たとえば電力変換器では、パルス電流を扱
うことから、トロイダル状コイルの内側に流れる電流
(被検出電流)をパルス電流Ip(一次電流)として、
コイルに流れる二次電流isは、一次と二次の間の相互
インダクタンスをMとしたとき下記(1)式の関係があ
る。
【0046】 N(dΦ/dt)=M(dIp/dt)=L(dis/dt)+Ris …(1) ただし、Nはスリット導体枚数、Φは磁束、Rはコイ
ルの内部抵抗Rs+出力抵抗Roの値である。
【0047】ここで、パルス電流Ipのコイルのインダ
クタンスLの影響が無視できるほど小さい周波数領域ω
hL≪Rならば、下記(2)式が成立する。
【0048】 is=(M/R)・(dIp/dt) …(2) このとき出力電圧Vは、下記(3)式の通りとなる。
【0049】 V(t)=(M・Ro/R)・(dIp/dt) …(3) この結果から、出力電圧V(t)は一次電流Ipの微
分に比例することがわかる。したがって、この電流検出
器1では、被検出電流を一次電流とした場合に、この電
流値に応じた出力電圧V(t)が得られることにな
る。図4は、この関係を示したものである。
【0050】また、一次電流に比例した出力電圧V
算出するには、図3に示したように積分回路17を出力
抵抗Roの後段に配置する。
【0051】積分回路17を介した出力信号は、下記
(4)式に示す通りとなる。
【0052】
【数1】 ただし、Ro≫Rsとする。
【0053】実際の過電流保護では、このように積分回
路17を用い、微分信号を処理して使用する。
【0054】以上のように本第1の実施の形態による電
流検出器1は、多層プリント基3板を用いてトロイダル
状コイル5を形成しているため、非常に薄く、かつ小型
軽量にすることができる。しかもコアレスであり、磁気
飽和の心配がない。そして、このトロイダル状コイルか
らの出力信号により、回路に流れる電流の微分に応じた
信号が得られる。
【0055】このため、電力変換器の過電流検出や電流
検出に適している。
【0056】さらに、多層プリント基板3としてフレキ
シブルな基板を使用すれば、設置場所を選ばず、装置設
計の自由度が向上する。また、多層プリント基板である
ため、簡単にシールドすることができ、電流検出器1と
して外乱の影響を受けにくい構造とすることが容易であ
る。
【0057】(電流検出器の変形例)本第1の実施の形
態では、図1に示したように、円形中空に整形した多層
プリント基板3にトロイダル状コイル5を形成した例を
示したが、この他にたとえば、図5に示すように、中空
な多角形状に整形した多層プリント基板3にトロイダル
状コイル5を形成した電流検出器1、図6および図7に
示すように、中空な多角形状に整形した2つの多層プリ
ント基板3にトロイダル状コイル5を形成し、かつ、互
いの磁束の影響が小さくなるようにシールド導体19に
よりシールドを施した電流検出器1などの構造を好適に
用いることができる。
【0058】なお、図7は、図6における矢線X−Xに
沿う断面図であり、図からわかるように、短冊状導体
7、スルホール9、およびリターン導体11によって形
成されるトロイダル状コイル5を覆うようにシールド導
体19を設けている。このシールド導体19によってこ
の電流検出器1を半導体チップに取り付けるような場合
でも磁気的な影響による外乱を防止することができる。
【0059】これらの構造においても、基板形状が異な
るのみで、上記した円形中空構造のものと全く同様に電
流検出動作を行うことができる。
【0060】なお、上述した第1の実施の形態において
は、中空部内に被検出電流が流れる導体を置くこととし
て説明したが、被検出電流が流れる導体は、電流検出器
1に近接して載置されていればよく、必ずしも中空部内
に載置される必要はない。
【0061】(第2の実施の形態)図8は、この電流検
出器1を用いた電流検出信号による過電流保護回路例を
示した電気回路図である。
【0062】図8に示した過電流保護回路は、電流検出
器1、電力用半導体素子31、ゲート駆動回路33、ゲ
ート抵抗35、コンパレータ37、ツェナダイオード3
9、スイッチ素子41、43、駆動および異常信号出力
回路45よりなる。
【0063】この過電流保護回路においては、電流検出
器1によって検出された電流の信号(電圧値である)
は、コンパレータ37によってしきい値VREFと比較
され、しきい値VREF以上であればツェナダイオード
39が接続されている方のスイッチ素子41を動作させ
てゲート信号電圧を絞り込み、その後さらにこのしきい
値VREF以上の電流検出信号が継続すると、駆動およ
び異常信号出力回路45によりスイッチ素子43を動作
させて、完全にゲート駆動回路33から電力用半導体素
子31のゲートへ供給される信号を遮断する。
【0064】これにより、電流検出器1からの電流検出
信号(電圧値)に応じて過電流が検出された場合には、
電力用半導体素子31の動作が停止され、回路が保護さ
れることになる。
【0065】(第3の実施の形態)図9は、電流検出器
1を用いてアクティブ電流バランス回路を構成した例を
示した電気回路図である。
【0066】図9に示したアクティブ電流バランス回路
は、半導体素子を並列接続したものであり、電流検出器
1、電力用半導体素子31、判断回路47、およびゲー
ト駆動回路49よりなる。
【0067】このアクティブ電流バランス回路では、ス
イッチングのずれを補正して各素子に流れる電流のアン
バランスを小さくする。各電力用半導体素子31に設置
した電流検出器1の電流検出信号は、判断回路47に入
力されて、その判断結果、すなわち、2つの電流検出器
1からの信号差から、各電力用半導体素子31のゲート
駆動回路49によりゲート信号を調節してスイッチング
差が無くなるようにしている。
【0068】(第4の実施の形態)図10は、電流検出
器1を用いた電流保護回路を設けた電力変換器の例を示
す図面であり、図11は、図10における矢線X−Xに
沿う断面図である。
【0069】この電力変換器51は、電力用半導体素子
53、55、圧接クランプ57、電力出力端子P、L、
Nを兼ねた水冷フィン59、および電流検出器1よりな
る。
【0070】ここで電流検出器1は、前述した第1の実
施の形態における電流検出器であり、薄い構造であるた
め平型圧接構造の電力用半導体素子53、55のエミッ
タ(カソード側)圧接面のフランジなどに挟み込んで容
易に設置することができる。
【0071】また、電流検出器1は、主回路とは電気的
に絶縁されているため、主回路自体のインダクタンスが
増えることはない。
【0072】電流検出器1は、素子に密着することがで
きるため、保護回路も電流検出器と最短位置に設置でき
ノイズの影響が小さく制御の信頼性が高くなる。
【0073】さらに、電流検出器1とゲート駆動回路を
一体化した構造にすることで、保護動作の信頼性をさら
に向上することができる。
【0074】(第5の実施の形態)図12は、マルチチ
ップ方式の外囲器内に電流検出器1を設置した例を示す
図面であり、図13は、図12における矢線X−Xに沿
う断面図である。
【0075】この外囲器61は、外囲器61内のエミッ
タ(カソード側)圧接面a側(図13参照)に電流検出
器1を装着したものである。
【0076】なお、外囲器61内には、エミッタ圧接面
a側に、電流検出器1の他に、複数の平型圧接構造の電
力用半導体素子を装着するためのチップ素子装着ボス6
3、ダイオードを装着するためのダイオード素子装着ボ
ス65、およびゲート信号供給導体取り付け位置67な
どが設けられている。また、外囲器61の他面はコレク
タ圧接面bとなる。
【0077】このように、外囲器61のエミッタ圧接面
a、すなわち、チップを装着する側に電流検出器1を設
けることで、素子と一体化した構造とすることができ、
従来のセンス付き素子と同様に扱うことが可能となる。
【0078】(第6の実施の形態)図14は、マルチチ
ップ方式のスイッチ素子に直接電流検出器1を設置した
例を示す図面であり、図15は、図14における矢線X
−Xに沿う断面図である。
【0079】本第6の実施の形態において、電流検出器
1は、外囲器61内のエミッタ(カソード側)圧接面a
の内側をチップ装着面に合わせて切削したプリント基板
にトロイダル状コイルを形成したものである。これによ
り、スイッチ素子のみの位置に電流検出器1を直接設け
ることができる。なお、本第6の実施の形態において
は、スイッチング素子に直接電流検出器1を装着するこ
とになるため、磁束の干渉を小さくするために、図6お
よび図7に示したシールドを施した電流検出器を用いる
ことが好ましい。
【0080】なお、外囲器61内には、チップ素子装着
ボス63、ダイオード素子装着ボス65、ゲート信号供
給導体取り付け位置67、および過電流センサー形成位
置69などが設けられている。
【0081】このように圧接型電力素子の外囲器内のチ
ップ取付け面位置に電流検出器1を設けたことで、チッ
プ電流の検出から素子の異常を検出する感度を非常に高
くすることが可能となる。
【0082】また、電流検出器をシールド構造とするこ
とで、センス比を正確にすることができる。
【0083】(第7の実施の形態)図16は、電圧駆動
素子において、エミッタ(カソード)を引き出すための
エミッタ導体と複数のチップ素子を搭載したモジュール
の境界面の位置にボンディング方式で電流検出器1を設
置した例を示す図面であり、図17は、図16における
矢線X−Xに沿う断面図である。なお、図17には外囲
器91(点線表示)を付加して示している。
【0084】この電圧駆動素子71は、固定板73、セ
ラミックス回路基板75、チップ素子77、ダイオード
79、ボンディングパッド81、83、ボンディング導
体85、コレクタ導体87、エミッ夕導体89、外囲器
91、および電流検出器1を有する。
【0085】本発明による電流検出器1は、小型で薄く
製作することができるため、エミッ夕導体89と複数の
チップ素子77を搭載したモジュールとが接する境界部
分に容易に設けることが可能である。このとき、電流検
出器1は、その中空部13(図1参照)内にエミッタ導
体89を通し、外囲器91内の空間に設置するとよい。
【0086】また、このように、外囲器内部の空間に電
流検出器1を設置することができるので、ゲート回路と
一体化することも可能となり、高速な保護動作ができ、
素子の信頼性が向上する。
【0087】以上、本発明を適用した実施の形態を説明
したが、本発明はこのような実施の形態に限定されるも
のではなく、さまざまな電力用半導体素子、たとえば平
型の電力用半導体素子やモジュール型の電力用半導体素
子、あるいはマルチチップ構成の電力用半導体素子など
の過電流保護に用いられる電流検出器として使用するこ
とができる。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように本発明によると、誘
電体を介して形成した複数の短冊状導体を、スルホール
を介して連続的に接続してコイルを形成して、このコイ
ルの一端と、他端に接続されたリターン導体から出力を
取り出すこととしたので、きわめて薄く、軽量な電流検
出器として提供することができる。このため、電力素子
の極近傍に設置することが可能となり、回路電流に正確
に比例した信号とリニアリティを確保することができ
る。しかも半導体素子や電力変換回路自体とは電気的に
接続されていないため被検出回路に影響を与えることが
ない。
【0089】また、本発明の電流検出器はきわめて薄
く、軽量であるため、平型の電力用半導体素子やモジュ
ール型の電力用半導体素子、あるいはマルチチップ構成
の電力用半導体素子のチップに、容易に取り付けること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した電流検出器の一例を示す図面
である。
【図2】図1における矢線X−Xに沿う断面図である。
【図3】上記電流検出器の電気的な動作原理を説明する
ための電気回路図である。
【図4】被測定回路電流Ip(パルス電流)の変化率と
出力抵抗Ro端の信号電圧の関係を示した図面である。
【図5】本発明を適用した他の形状の電流検出器を示す
図面である。
【図6】本発明を適用したさらに他の形状の電流検出器
を示す図面である。
【図7】図6における矢線X−Xに沿う断面図である。
【図8】上記電流検出器を用いた電流検出信号による過
電流保護回路例を示した電気回路図である。
【図9】素子を並列接続した場合に、上記電流検出器を
用いてアクティブ電流バランス回路を構成した例を示し
た電気回路図である。
【図10】上記電流検出器を用いた電流保護回路を設け
た電力変換器の例を示す図面である。
【図11】図10における矢線X−Xに沿う断面図であ
る。
【図12】マルチチップ方式の外囲器内に電流検出器を
設置した例を示す図面である。
【図13】図12における矢線X−Xに沿う断面図であ
る。
【図14】マルチチップ方式のスイッチ素子のみに電流
検出器を設置した例を示す図面である。
【図15】図14における矢線X−Xに沿う断面図であ
る。
【図16】電圧駆動素子において、エミッタを引き出す
ためのエミッタ導体と複数のチップ素子を搭載したモジ
ュールの境界面の位置にボンディング方式で電流検出器
を設置した例を示す図面である。
【図17】図16における矢線X−Xに沿う断面図であ
る。
【図18】電流検出用センス端子の取り出し例を示す図
面である。
【図19】電流検出用センス端子の取り出し例を示す電
気回路図である。
【図20】電力変換器の上・下アームに過電流検出のた
めの変成器を設置した一例を示す電気回路図である。
【符号の説明】
1 電流検出器 3 多層プリント基板 5 トロイダル状コイル 7 短冊状導体 9 スルホール 11 リターン導体 13 中空部 15 誘電体 17 積分回路 19 シールド導体 21 第1導電層 23 第2導電層 25 第3導電層 31 電力用半導体素子 33 ゲート駆動回路 35 ゲート抵抗 37 コンパレータ 39 ツェナダイオード 41、43 スイッチ素子 45 駆動および異常信号出力回路 47 判断回路 49 ゲート駆動回路 51 電力変換器 53、55 電力用半導体素子 57 圧接クランプ 59 水冷フィン 61 外囲器 63 チップ素子装着ボス 65 ダイオード素子装着ボス 67 ゲート信号供給導体取り付け位置 69 過電流センサー形成位置 71 電圧駆動素子 73 固定板 75 セラミックス回路基板 77 チップ素子 79 ダイオード 81、83 ボンディングパッド 85 ボンディング導体 87 コレクタ導体 89 エミッ夕導体 91 外囲器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // G05F 1/10 301 G01R 15/02 G Fターム(参考) 2G025 AA01 AA05 AA17 AB14 AC01 2G035 AA12 AB02 AB06 AB11 AC15 AD19 AD23 AD47 5E070 AA01 CA06 CA16 CC00 5H410 CC02 DD02 DD03 EA10 EA32 EA33 EB37 EB39 FF05 FF23 LL05 LL19 5H740 AA08 BA11 BB01 BB02 BB07 BB08 PP01 PP02 PP03 PP04 PP10

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに離間して設けられた複数の第1の
    短冊状導電体と、 前記第1の短冊状導電体に対して誘電体を介し、互いに
    離間して設けられた複数の第2の短冊状導電体と、 前記第1の短冊状導体および前記第2の短冊状導体を前
    記誘電体に設けられたスルホールにより連続的に接続し
    て形成したコイルと、 前記コイル内を通り、その一端部が前記コイルを形成す
    る短冊状導体のうち、いずれか一つの短冊状導体の一端
    部に接続されたリターン導体と、 前記リターン導体の他端部に接続された第1の出力端子
    と、 前記コイルを形成する短冊状導体のうち、いずれか一つ
    の短冊状導体の一端部に接続された第2の出力端子と、 を有することを特徴とする電流検出器。
  2. 【請求項2】 前記コイルは、シールド導体により覆わ
    れていることを特徴とする請求項1記載の電流検出器。
  3. 【請求項3】 前記電流検出器は、平型圧接構造の電力
    用半導体素子のエミッタまたはカソードの圧接面に設け
    られることを特徴とする請求項1記載の電流検出器。
  4. 【請求項4】 前記電流検出器は、平型圧接構造の電力
    用半導体素子の外囲器内部のエミッタまたはカソード側
    に設けられることを特徴とする請求項1記載の電流検出
    器。
  5. 【請求項5】 前記電流検出器は、複数の半導体チップ
    を集積したマルチチップ圧接型半導体素子の各半導体チ
    ップのエミッタまたはカソード側に設けることを特徴と
    する請求項2記載の電流検出器。
  6. 【請求項6】 前記電流検出器は、モジュール型電力用
    半導体素子のエミッタまたはカソード側導体の外部引き
    出し端子面とモジュールの境界面付近に設けることを特
    徴とする請求項1記載の電流検出器。
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