JP2003043068A - 重複使用可能なテストジグ - Google Patents

重複使用可能なテストジグ

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JP2003043068A
JP2003043068A JP2002151094A JP2002151094A JP2003043068A JP 2003043068 A JP2003043068 A JP 2003043068A JP 2002151094 A JP2002151094 A JP 2002151094A JP 2002151094 A JP2002151094 A JP 2002151094A JP 2003043068 A JP2003043068 A JP 2003043068A
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Shisei Go
志成 呉
Shokoku Yo
昌國 楊
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

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  • Computer Hardware Design (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 重複使用可能なテストジグの提供。 【解決手段】 ピン板ユニットに被テスト対象の複数の
被テストデバイス位置に対応するピン孔が設けられ、複
数の導電の弾性手段は第１ターミナルと第２ターミナル
を具え該ピン孔内に収容されてピン孔内で弾性伸縮動作
を行い、複数の導線の上ターミナルが電気的に対応する
弾性手段の第１ターミナルに連接され、下ターミナルが
信号をテストマシンに伝送するのに用いられ、保持板ユ
ニットに該ピン位置に対応し貫通する保持孔が設けら
れ、少なくとも一つの保持孔が傾斜し、複数のプローブ
は上記保持孔に挿入され、フローブの第１ターミナルと
該弾性手段の第２ターミナルが電気的に接触し、プロー
ブの第２ターミナルが保持板ユニットより突出して被テ
ストデバイスとの接触に用いられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は一種の重複使用可能
なテストジグに係り、さらに詳しくは、テスト費用を大
幅に減らすと共にテスト密度を増加できるテストジグに
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、プリント基板をトレースした
後、基板に対して各トレースが正常に導電するかの確認
テストを行う必要がある。テストの後、完全な電気的ト
レースを有するプリント基板を取り出して電気素子をそ
れに取り付ける。
【０００３】図１は従来のプリント基板用テストジグで
あり、ピン板１０、複数のプローブ１２及び中間板１４
を具えている。該ピン板１０はピン孔１６を具え、該ピ
ン孔１６は被テスト対象１１（本実施例ではプリント基
板とされる）の被テストデバイス１３の位置に対応す
る。各プローブ１２はプローブスリーブ１８、シリンダ
２０、弾性手段２２及びプローブボデー２４を具えてい
る。該プローブスリーブ１８はピン板１０の所定のピン
孔１６に挿入され一端が導線１９に連結されて信号をテ
ストマシン（図示せず）に伝送する。該弾性手段２２は
シリンダ２０に収容され、該シリンダ２２中にプローブ
ボデー２４が挿入されている。弾性手段２２の弾性回復
力により、プローブボデー２４はシリンダ２０内で弾性
回復力を有し、該シリンダ２０はプローブスリーブ１８
内に固定され、こうして全体のプローブ１２がピン板１
０に固定される。中間板１４にはピン板１０のピン孔１
６に対応する中間孔２６が形成されている。プローブボ
デー２４は中間板１４の所定の中間孔２６を通過し、中
間板１４より突出し、さらに中間板１４の上方に配置さ
れた上板１５に形成された所定の貫通孔１７を通過す
る。
【０００４】その後、プリント基板１１が上板１５の上
に配置され、テストマシンが使用されてプローブ１２の
プローブボデー２４がプリント基板１１の被テストデバ
イス１３に接触させられ、電気信号が弾性手段２２、プ
ローブスリーブ１８を順に伝播され、プローブスリーブ
１８の底部に連接された導線１９によりテストマシンに
伝送され、テストマシンにより被テストデバイスが導通
するか否かが判定され、こうしてプリント基板１１のテ
スト作業を完成する。
【０００５】以上の周知のテストジグは以下のような欠
点を有していた。 １．プローブ１２と被テスト対象１１の被テストデバイ
ス１３が接触する時、弾性回復の伸縮力を具備する必要
があり、これにより被テストデバイス１３の電性の損壊
を防止する。このため、プローブボデー２４は必ず弾性
手段２２を具えたシリンダ２０内に設置されねばなら
ず、これによりプローブボデー２４が圧縮された後に自
動弾性回復可能となる。このような構造組成は、全体の
プローブ１２の体積を細小に形成することができず、或
いはそれを相当細小に形成する時、それに対応するコス
トは非常に高く、テストコストの増加をもたらし、テス
ト密度を高めることができない。 ２．プローブスリーブ１８はプローブ１２の寸法に合わ
せて設計する必要があり、このためその寸法は制限を受
け、ピン板１０のピン孔１６の全体密度を高めることが
できず、高密度の被テストデバイス１３を具えたプリン
ト基板１１をテストすることができなかった。 ３．プリント基板１１の被テストデバイス１３の電気信
号はプローブボデー２４と弾性手段２２、弾性手段２２
とシリンダ２０、シリンダ２０とプローブスリーブ１８
の組み合わせの電気的接触を透過して伝送され、これら
の構成要件間の多数の接触の後で、信号伝送効果が不良
となる現象が発生し、プリント基板のテスト品質に影響
が生じ、特に高密度の被テストデバイスをテストする
時、その効果はさらに不良となった。 ４．プローブ１２は取り外し不能にピン板１０に固定さ
れ、プローブ１２は１バッチのプリント基板がテストさ
れた後には使用されないため、テストコストが高くな
り、資源の浪費を形成した。 ５．プローブ１２は垂直にプリント基板１１に接触し、
このため、プリント基板１１の複数の被テストデバイス
１３が高密度である時、プローブ１２を相当に細小に形
成しなければならず、このためプローブ１２の製造コス
トが相当高くなった。
【０００６】以上を鑑み、本発明者は上述の欠点を改良
し、本発明の重複使用可能なテストジグを発明した。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の主要な目的
は、一種の重複使用可能なテストジグを提供することに
あり、それは簡単に製造でき、有効に生産コストを下げ
ることができるものとする。
【０００８】本発明のもう一つの目的は、一種の重複使
用可能なテストジグを提供することにあり、それは高密
度の被テストデバイスをテストできる機能を有し、且つ
そのテストコストが相当に低廉であるものとする。
【０００９】本発明のまた一つの目的は、一種の重複使
用可能なテストジグを提供することにあり、それはテス
トの伝導性を高める機能を有して、良好なテスト効果を
達成するものとする。
【００１０】本発明の別の目的は、一種の重複使用可能
なテストジグを提供することにあり、それはテストジグ
を回収できる機能を有し、生産コストを下げることがで
きるものとする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、複数
の被テストデバイスを具えた被テスト対象をテストする
のに用いられ、信号をテストマシンに伝送する重複使用
可能なテストジグにおいて、該テストジグが、ピン板ユ
ニットとされ、該被テスト対象の複数の被テストデバイ
スに対応する位置にピン孔が設けられた、上記ピン板ユ
ニットと、複数の導電の弾性手段とされ、それぞれ該ピ
ン板ユニットのピン孔内に挿入されて該ピン孔内で弾性
伸縮動作可能とされ、各一つの該弾性手段に第１ターミ
ナルと第２ターミナルが設けられた、上記複数の導電の
弾性手段と、複数の導線とされ、上ターミナルと下ター
ミナルが設けられ、各一つの導線の上ターミナルは対応
する弾性手段の第１ターミナルに電気的に連接され、該
下ターミナルは信号をテストマシンに伝送するのに用い
られる、上記複数の導線と、保持板ユニットとされ、被
テストデバイスの複数のピン位置に対応する保持孔が設
けられ、この保持孔が該保持板ユニットを貫通する、上
記保持板ユニットと、複数のプローブとされ、それぞれ
保持板ユニットの保持孔に挿入され、第１ターミナルと
第２ターミナルを具え、この第１ターミナルと該弾性手
段の第２ターミナルが電気的に接触し、第２ターミナル
が保持板ユニットより突出して被テスト対象の被テスト
デバイスとの接触に用いられる、上記複数のプローブ
と、を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテスト
ジグとしている。請求項２の発明は、請求項１に記載の
重複使用可能なテストジグにおいて、被テスト対象が、
プリント基板、半導体パッケージ素子、及びウエハから
なる群より選択されることを特徴とする、重複使用可能
なテストジグとしている。請求項３の発明は、請求項１
に記載の重複使用可能なテストジグにおいて、ピン板ユ
ニットが上ピン板と中ピン板及び下ピン板で組成され、
ピン孔が中ピン板の中ピン孔、上ピン板の上ピン孔、下
ピン板の下ピン孔に画定され、中ピン板の中ピン孔が上
ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔より大きく、こ
れにより弾性手段が中ピン板の中ピン孔内に位置して上
ピン板と下ピン板により制限されたことを特徴とする、
重複使用可能なテストジグとしている。請求項４の発明
は、請求項１に記載の重複使用可能なテストジグにおい
て、保持板ユニットが軟性板を具え、プローブが保持板
ユニットの保持孔に挿入されて軟性板に突き刺さって貫
通し、軟性板により固定されたことを特徴とする、重複
使用可能なテストジグとしている。請求項５の発明は、
請求項１に記載の重複使用可能なテストジグにおいて、
弾性手段の第２ターミナルが内径が縮小されてプローブ
との接触に供される支持部を具えたことを特徴とする、
重複使用可能なテストジグとしている。請求項６の発明
は、複数の被テストデバイスを具えた被テスト対象をテ
ストするのに用いられ、信号をテストマシンに伝送する
重複使用可能なテストジグにおいて、該テストジグが、
ピン板ユニットとされ、格子状に縦横に交錯配列するピ
ン孔が密に設けられた、上記ピン板ユニットと、複数の
弾性手段とされ、被テスト対象の被テストデバイスに対
応するピン孔に挿入され、該ピン孔内で弾性伸縮動作可
能とされ、各一つの該弾性手段に第１ターミナルと第２
ターミナルが設けられた、上記複数の弾性手段と、複数
の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設けら
れ、上ターミナルは対応する弾性手段の第１ターミナル
に電気的に連接され、該下ターミナルは信号をテストマ
シンに伝送するのに用いられる、上記複数の導線と、保
持板ユニットとされ、被テストデバイスの複数のピン位
置に対応する保持孔が設けられ、この保持孔が該保持板
ユニットを貫通する、上記保持板ユニットと、複数のプ
ローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持孔に挿入
され、第１ターミナルと第２ターミナルを具え、この第
１ターミナルがピン板ユニットの弾性手段が挿入された
ピン孔に挿入されて弾性手段の第２ターミナルと電気的
に接触し、プローブの第２ターミナルは該保持板ユニッ
トより突出して被テスト対象のピンと接触する、上記複
数のプローブと、を具えたことを特徴とする、重複使用
可能なテストジグとしている。請求項７の発明は、請求
項６に記載の重複使用可能なテストジグにおいて、ピン
板ユニットの底部の弾性手段を設けていない位置に支持
柱が設けられてピン板ユニットを強化していることを特
徴とする、重複使用可能なテストジグとしている。請求
項８の発明は、請求項６に記載の重複使用可能なテスト
ジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン板及
び下ピン板で組成され、中ピン板の中ピン孔が上ピン板
の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔より大きく、これによ
り弾性手段が中ピン板の中ピン孔内に位置して上ピン板
と下ピン板により制限されたことを特徴とする、重複使
用可能なテストジグとしている。請求項９の発明は、請
求項６に記載の重複使用可能なテストジグにおいて、保
持板ユニットが軟性板を具え、プローブが保持板ユニッ
トの保持孔に挿入されて軟性板に突き刺さって貫通し、
これによりプローブが有効に固定されたことを特徴とす
る、重複使用可能なテストジグとしている。請求項１０
の発明は、請求項１に記載の重複使用可能なテストジグ
において、弾性手段の第２ターミナルが内径が縮小され
て支持部が設けられ、該支持部がプローブとの接触に供
され、自動的にゆがんだプローブを案内することを特徴
とする、重複使用可能なテストジグとしている。請求項
１１の発明は、複数の被テストデバイスを具えた被テス
ト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシン
に伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テス
トジグが、ピン板ユニットとされ、被テスト対象の複数
の被テストデバイス位置に対応してピン孔が設けられ
た、上記ピン板ユニットと、複数の弾性手段とされ、被
テスト対象の被テストデバイスに対応するピン孔に挿入
され、該ピン孔内で弾性伸縮動作可能とされ、各一つの
該弾性手段に第１ターミナルと第２ターミナルが設けら
れた、上記複数の弾性手段と、複数の導線とされ、上タ
ーミナルと下ターミナルが設けられ、上ターミナルは対
応する弾性手段の第１ターミナルに電気的に連接され、
該下ターミナルは信号をテストマシンに伝送するのに用
いられる、上記複数の導線と、保持板ユニットとされ、
ピン板ユニットの上方に設置され、被テストデバイスの
複数のピン位置に対応して貫通する保持孔が設けられ、
少なくとも一つの該保持孔が傾斜する、上記保持板ユニ
ットと、複数のプローブとされ、それぞれピン板ユニッ
トのピン孔に挿入されて弾性手段と接触し、且つ保持板
ユニットの保持孔内に保持され、少なくとも一つのプロ
ーブが適当な傾斜を形成し、並びに保持板ユニットより
突出して被テスト対象の被テストデバイスと接触するの
に用いられる、上記複数のプローブと、を具えたことを
特徴とする、重複使用可能なテストジグとしている。請
求項１２の発明は、請求項１１に記載の重複使用可能な
テストジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピ
ン板及び下ピン板で組成され、ピン孔が中ピン板の中ピ
ン孔、上ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔に確定
され、中ピン板の中ピン孔が上ピン板の上ピン孔、下ピ
ン板の下ピン孔より大きく、これにより弾性手段が中ピ
ン板の中ピン孔内に位置して上ピン板と下ピン板により
制限されたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
グとしている。請求項１３の発明は、請求項１１に記載
の重複使用可能なテストジグにおいて、保持板ユニット
が軟性板を具え、プローブが保持板ユニットの保持孔に
挿入されて軟性板に突き刺さって貫通し、軟性板により
固定されたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
グとしている。請求項１４の発明は、請求項１１に記載
の重複使用可能なテストジグにおいて、弾性手段の第２
ターミナルが内径が縮小されてプローブとの接触と自動
的にプローブを案内するのに供される支持部を具えたこ
とを特徴とする、重複使用可能なテストジグとしてい
る。請求項１５の発明は、複数の被テストデバイスを具
えた被テスト対象をテストするのに用いられ、信号をテ
ストマシンに伝送する重複使用可能なテストジグにおい
て、該テストジグが、ピン板ユニットとされ、格子状に
縦横に交錯配列するピン孔が密に設けられた、上記ピン
板ユニットと、複数の弾性手段とされ、被テスト対象の
被テストデバイスに対応するピン板ユニットのピン孔に
挿入され、該ピン孔内で弾性伸縮動作可能とされ、各一
つの該弾性手段に第１ターミナルと第２ターミナルが設
けられた、上記複数の弾性手段と、複数の導線とされ、
上ターミナルと下ターミナルが設けられ、上ターミナル
は対応する弾性手段の第１ターミナルに電気的に連接さ
れ、該下ターミナルは信号をテストマシンに伝送するの
に用いられる、上記複数の導線と、保持板ユニットとさ
れ、被テストデバイスの複数のピン位置に対応する保持
孔が設けられ、少なくとも一つの保持孔が傾斜する、上
記保持板ユニットと、複数のプローブとされ、それぞれ
保持板ユニットの保持孔に挿入されて弾性手段にそれぞ
れ連接し、保持板ユニットの保持孔に保持されることに
より、少なくとも一つのプローブが傾斜し保持板ユニッ
トより突出して被テスト対象の少なくとも一つの被テス
トデバイスに接触する、上記複数のプローブと、を具え
たことを特徴とする、重複使用可能なテストジグとして
いる。請求項１６の発明は、請求項１５に記載の重複使
用可能なテストジグにおいて、弾性手段の第２ターミナ
ルにプローブと接触する支持部が設けられたことを特徴
とする、重複使用可能なテストジグとしている。請求項
１７の発明は、複数の被テストデバイスを具えた被テス
ト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシン
に伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テス
トジグが、ピン板ユニットとされ、被テスト対象の被テ
ストデバイスに対応するピン孔を具えた、上記ピン板ユ
ニットと、複数の導電の弾性手段とされ、被テスト対象
の被テストデバイスに対応するピン板ユニットのピン孔
に挿入され、該ピン孔内で弾性伸縮動作可能とされ、各
一つの該弾性手段に第１ターミナルと、直径の縮小され
た第２ターミナルとが設けられた、上記複数の導電の弾
性手段と、複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミ
ナルが設けられ、上ターミナルは対応する弾性手段の第
１ターミナルに電気的に連接され、該下ターミナルは信
号をテストマシンに伝送するのに用いられる、上記複数
の導線と、保持板ユニットとされ、被テストデバイスの
複数のピン位置に対応する保持孔が設けられ、少なくと
も一つの保持孔が傾斜する、上記保持板ユニットと、複
数のプローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持孔
に挿入されて弾性手段の支持部にそれぞれ接触し、保持
板ユニットの保持孔に保持されることにより、少なくと
も一つのプローブが傾斜し保持板ユニットより突出して
被テスト対象の少なくとも一つの被テストデバイスに接
触する、上記複数のプローブと、を具えたことを特徴と
する、重複使用可能なテストジグとしている。請求項１
８の発明は、請求項１７に記載の重複使用可能なテスト
ジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン板及
び下ピン板で組成され、ピン孔が中ピン板の中ピン孔、
上ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔に画定され、
中ピン板の中ピン孔が上ピン板の上ピン孔、下ピン板の
下ピン孔より大きく、これにより弾性手段が中ピン板の
中ピン孔内に位置して上ピン板と下ピン板により制限さ
れたことを特徴とする、重複使用可能なテストジグとし
ている。請求項１９の発明は、請求項１７に記載の重複
使用可能なテストジグにおいて、保持板ユニットが軟性
板を具え、プローブが保持板ユニットの保持孔に挿入さ
れて軟性板に突き刺さって貫通し、軟性板により固定さ
れたことを特徴とする、重複使用可能なテストジグとし
ている。
【００１２】
【発明の実施の形態】上述の目的を達成するため、本発
明の特徴は以下のとおりであり、即ち、ピン板ユニッ
ト、複数の導電弾性手段、複数の導線、保持板ユニット
及び複数のプローブを具え、該ピン板ユニットには被テ
スト対象の複数の被テストデバイス位置に対応するピン
孔が設けられ、複数の導電の弾性手段は、それぞれ該ピ
ン板ユニットのピン孔内に収容され、該ピン孔内で弾性
回復動作を行うことができ、各一つの弾性手段に第１タ
ーミナルと第２ターミナルが設けられ、複数の導線には
上ターミナルと下ターミナルが設けられ、各一つの導線
の上ターミナルは電気的に対応する弾性手段の第１ター
ミナルに連接され、該下ターミナルは信号をテストマシ
ンに伝送するのに用いられ、保持板ユニットには、被テ
ストデバイスの複数のピン位置に対応し貫通する保持孔
が設けられ、この少なくとも一つの保持孔が適当な傾斜
を形成し、複数のプローブは、それぞれ保持板ユニット
の保持孔に挿入され、それに第１ターミナルと第２ター
ミナルが設けられ、この第１ターミナルと該弾性手段の
第２ターミナルが電気的に接触し、第２ターミナルが保
持板ユニットより突出して被テスト対象の被テストデバ
イスとの接触に用いられる。
【００１３】
【実施例】図２は本発明の重複使用可能なテストジグの
分解図であり、それは複数の被テストデバイス２９を具
えた被テスト対象２８をテストするのに用いられ、被テ
スト対象２８はプリント基板、半導体パッケージ素子、
或いはウエハとされ、このテストジグはピン板ユニット
３０、複数のプローブ３２、複数の弾性手段３４、保持
板ユニット３６及び複数の支持柱３９を具えている。
【００１４】ピン板ユニット３０は下ピン板３８、中ピ
ン板４０及び上ピン板４２で組成されている。下ピン板
３８には格子状に縦横に密に交錯配列された下ピン孔４
４が設けられ、二つの隣り合う下ピン孔４４間の距離は
１．２７ｍｍ或いは１．２７ｍｍ以下とされ、さらに高
密度の被テストデバイス２９のテストに適用される。中
ピン板４０は下ピン板３８の上方に重ね置かれ、それに
も縦横に密に交錯配列された中ピン孔４６が設けられ、
中ピン孔４６の直径は下ピン孔４４より大きく、二つの
隣り合う中ピン孔４６間の距離は１．２７ｍｍ或いは
１．２７ｍｍ以下とされ、さらに高密度の被テストデバ
イス２９のテストに適用される。上ピン板４２は中ピン
板４０の上方に重ね置かれ、それにも縦横に密に交錯配
列された上ピン孔４８が設けられ、上ピン孔４８の直径
は中ピン孔４６より小さく、且つ二つの隣り合う上ピン
孔４８間の距離は１．２７ｍｍ或いは１．２７ｍｍ以下
とされ、さらに高密度の被テストデバイス２９のテスト
に適用される。
【００１５】図３を参照されたい。ピン板ユニット３０
は下ピン板３８、中ピン板４０及び上ピン板４２で組成
され、下ピン板３８に被テスト対象２８の複数の被テス
トデバイス２９の位置に対応する下ピン孔４４が設けら
れ、中ピン板４０に被テスト対象２８の複数の被テスト
デバイス２９の位置に対応する中ピン孔４６が設けら
れ、上ピン板４２に被テスト対象２８の複数の被テスト
デバイス２９の位置に対応する上ピン孔４８が設けら
れ、中ピン孔４６の直径は上ピン孔４８及び下ピン孔４
４より大きい。
【００１６】複数の弾性手段３４は、第１ターミナル５
０と第２ターミナル５２を具え、該第１ターミナル５０
は直径が縮小された支持部５４を具え、第２ターミナル
５２は電気的に導電手段５６（本実施例では導線とされ
る）の上ターミナル５８に連接され、弾性手段３４が連
接された導電手段５６が被テストデバイス２９に対応す
る中ピン板４０の中ピン孔４６と下ピン板３８の下ピン
孔４４位置を貫通し、弾性手段３４の第２ターミナル５
２が下ピン孔４４に当接してそれが中ピン孔４６内に位
置させられ、中ピン孔４６内で弾性回復移動できるもの
とされる。上ピン板４２は中ピン板４０の上方を被覆
し、弾性手段３４を制限し、その中ピン孔４６からの脱
落を防止する。導電手段５６の下ターミナル６０は被テ
スト対象２８の被テストデバイス２９の電気信号をテス
トマシン（図示せず）に伝送するのに用いられる。別
に、導電手段５６はまた導電柱（図示せず）とされ得
て、プリント基板に設けられた穿孔内に挿入するのに供
され、さらにプリント基板によりテスト信号がテストマ
シンに伝送される。
【００１７】保持板ユニット３６は上保持板６２、下保
持板６６、及び両者の間に介装された軟性板６４を具
え、上保持板６２と下保持板６６に被テスト対象２８の
複数の被テストデバイス２９に対応する上保持孔７０と
下保持孔７２が設けられている。少なくとも一組の上保
持孔７０及びその対応する下保持孔７２が傾斜している
（図６参照）。
【００１８】複数のプローブ３２は銅製とされ、その表
面にニッケルがメッキされ、その伝導性が更に良好とさ
れている。複数のプローブ３２は被テスト対象２８の被
テストデバイス２９の位置に依りそれぞれ保持板ユニッ
ト３６の上保持板６２及び下保持板６６の上保持孔７０
及び下保持孔７２内に挿入固定され、並びに軟性板６４
を貫通してそれにより保持或いは固定されている。プロ
ーブ３２に第１ターミナル７４と第２ターミナル７６が
設けられ、第１ターミナル７４は弾性手段３４の第１タ
ーミナル５０の支持部５４と電気的に接触し、第２ター
ミナル７６は保持板ユニット３６の上保持板６２より突
出して被テスト対象２８の被テストデバイス２９との接
触導通に供される。
【００１９】保持板ユニット３６の上方の適当な距離部
分に上板３７が設けられ、上板３７の、被テスト対象２
８の複数の被テストデバイス２９に対応する位置に穿孔
４１が設けられ、プローブ３２が穿孔４１を貫通し、並
びにプローブ３２の第２ターミナル７６が上板３７より
突出して被テストデバイス２９との接触に用いられ、上
板３７の少なくとも一つの穿孔４１に上保持孔７０及び
下保持孔７２に対応して傾斜が形成されて、これにより
少なくとも一つのプローブ３２が傾斜を形成し、被テス
ト対象２８の被テストデバイス２９と接触し、テスト密
度を高める。
【００２０】支持柱３９は下ピン板３８の弾性手段３４
を設けていない底部に設置され、ピン板ユニット３０を
支持及び強化するのに用いられ、ピン板ユニット３０が
被テスト対象２８の圧力を受けても破損しないようにす
る。
【００２１】図４は図２の組み合わせ断面図である。導
電手段５６に連接された弾性手段３４は中ピン板４０の
中ピン孔４６内に設置され、並びに上ピン板４２と下ピ
ン板３８により制限され、中ピン孔４６内にあって弾性
伸縮し、保持板ユニット３６はピン板ユニット３０の上
方に設置され、複数のプローブ３２は上保持孔７０と下
保持孔７２よりピン板ユニット３０の上ピン孔４８と中
ピン孔４６内に挿入されて、プローブ３２の第１ターミ
ナル７４を弾性手段３４の支持部５４に接触させ、プロ
ーブ３２が弾性伸縮でき及び自動的且つ適当に案内され
る。
【００２２】図５を参照されたい。被テスト対象２８が
プローブ３２を設けた保持板ユニット３６の対応位置に
置かれ、その上の被テストデバイス２９が対応するプロ
ーブ３２に整合され、プローブ３２と被テスト対象２８
の被テストデバイス２９が接触させられ、信号が弾性手
段３４に伝送され、弾性手段３４の下ターミナル６０の
導電手段５６（本実施例では導線）により信号がテスト
マシンに送られて判読され、こうして被テストデバイス
が導通しているか否かが判定される。別に導電手段５６
は導電柱（図示せず）とされ得て、プリント基板に挿入
され、プリント基板によりテスト信号がテストマシンに
送られる。
【００２３】プローブ３２は弾性手段３４の支持部５４
に接触並びに圧接し、プローブ３２が自動的に適当に案
内される。
【００２４】図６及び図７を参照されたい。被テスト対
象２８の複数の被テストデバイス２９の密度が非常に高
い時、保持板ユニット３６の上保持孔７０及び対応する
下保持孔７２は傾斜状に形成され、プローブ３２が傾斜
方式で上保持孔７０及び下保持孔７２に挿入され、並び
にピン板ユニット３０内の弾性手段３４と接触し、こう
して同一寸法面積のピン板ユニット３０がプローブ３２
を傾斜方式で設置し、更に高密度の被テスト対象２８の
複数の被テストデバイス２９をテストできる。
【００２５】
【発明の効果】以上の構造組み合わせにより、本発明
は、以下の優れた点を有する。 １．弾性手段３４をピン板ユニット３０の中ピン孔４６
内に挿入し、さらにプローブ３２を直接弾性手段３４と
接触導通させることにより、プローブ３２構造が簡易化
され、相当細小に製造でき、且つその製造コストが相当
に低廉で、有効にテストコストを下げることができる。 ２．弾性手段３４が直接導線５６と連接され、これによ
り、被テストデバイス２９の信号伝送が僅かにプローブ
３２と弾性手段３４の伝導により、このため比較的良好
な信号伝送効果を得られ、テスト効果を向上できる。 ３．ピン板ユニット３０に設けられた縦横交錯配列のピ
ン孔により、被テストデバイス２９の位置に依り弾性手
段３４を対応するピン孔に置くことができ、さらにプロ
ーブ３２を弾性手段３４を設けた位置に置き、テストジ
グを組成し、これによりピン板ユニット３０を異なる被
テストデバイス２９に合わせて重複使用でき、よってテ
ストコストを下げることができる。 ４．プローブ３２が技術上、相当細小に製造でき及び製
造コストが相当に低廉であり、このため被テストデバイ
ス２９のテスト密度を高めることができる。 ５．ピン板ユニット３０の縦横交錯配列するピン孔に、
選択的に弾性手段３４及びプローブ３２を挿入し、これ
により、弾性手段３４を設けていない穿孔底部に支持柱
３９を設置でき、これによりピン孔の密度を高め、密度
の比較的高い被テストデバイス２９をテストすることが
できる。 ６．プローブ３２を傾斜の方式で被テスト対象２８の被
テストデバイス２９に接触させるため、テスト密度を高
めることができる。 ７．プローブ３２と弾性手段３４が分けて設置され、プ
ローブ３２を弾性手段３４の弾性疲労による損壊時に廃
棄しなくともよく、回収重複使用できる。
【００２６】総合すると、本発明の重複使用可能なテス
トジグは確実にその発明の目的と機能を達成し、新規性
と進歩性の特許の要件を具備している。
【図面の簡単な説明】
【図１】周知のテストジグの分解図である。
【図２】本発明の重複使用可能なテストジグの分解図で
ある。
【図３】本発明のピン板ユニットの別の実施例図であ
る。
【図４】図２の組み合わせ断面図である。
【図５】図４の実施図である。
【図６】本発明のもう一つの実施例図である。
【図７】図６の実施図である。
【符号の説明】
１０ ピン板 １２ プローブ １４ 中間板 １１ プリント基板 １３ 被テストデバイス １６ ピン孔 １８ プローブスリーブ ２０ シリンダ ２２ 弾性手段 ２４ プローブボデー ２６ 中間孔 ２８ 被テスト対象 ２９ 被テストデバイス ３０ ピン板ユニット ３２ プローブ ３４ 弾性手段 ３６ 保持板ユニット ３７ 上板 ３９ 支持柱 ３８ 下ピン板 ４０ 中ピン板 ４１ 穿孔 ４２ 上ピン板 ４４ 下ピン孔 ４６ 中ピン孔 ４８ 上ピン孔 ５０ 第１ターミナル ５２ 第２ターミナル ５４ 支持部 ５６ 導線または導電手段 ５８ 上ターミナル ６０ 下ターミナル ６２ 上保持板 ６４ 軟性板 ６６ 下保持板 ７０ 上保持孔 ７２ 下保持孔 ７４ 第１ターミナル ７６ 第２ターミナル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G011 AA02 AA16 AB01 AB07 AB08 AC05 AC12 AC14 AE01 AE03 AF04 AF07 2G132 AA00 AA20 AD15 AE29 AF01 AF10 AG01 AL03 AL25

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数の被テストデバイスを具えた被テス
    ト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシン
    に伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テス
    トジグが、 ピン板ユニットとされ、該被テスト対象の複数の被テス
    トデバイスに対応する位置にピン孔が設けられた、上記
    ピン板ユニットと、 複数の導電の弾性手段とされ、それぞれ該ピン板ユニッ
    トのピン孔内に挿入されて該ピン孔内で弾性伸縮動作可
    能とされ、各一つの該弾性手段に第１ターミナルと第２
    ターミナルが設けられた、上記複数の導電の弾性手段
    と、 複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設け
    られ、各一つの導線の上ターミナルは対応する弾性手段
    の第１ターミナルに電気的に連接され、該下ターミナル
    は信号をテストマシンに伝送するのに用いられる、上記
    複数の導線と、 保持板ユニットとされ、被テストデバイスの複数のピン
    位置に対応する保持孔が設けられ、この保持孔が該保持
    板ユニットを貫通する、上記保持板ユニットと、 複数のプローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持
    孔に挿入され、第１ターミナルと第２ターミナルを具
    え、この第１ターミナルと該弾性手段の第２ターミナル
    が電気的に接触し、第２ターミナルが保持板ユニットよ
    り突出して被テスト対象の被テストデバイスとの接触に
    用いられる、上記複数のプローブと、 を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  2. 【請求項２】 請求項１に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、被テスト対象が、プリント基板、半導体
    パッケージ素子、及びウエハからなる群より選択される
    ことを特徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  3. 【請求項３】 請求項１に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン板及
    び下ピン板で組成され、ピン孔が中ピン板の中ピン孔、
    上ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔に画定され、
    中ピン板の中ピン孔が上ピン板の上ピン孔、下ピン板の
    下ピン孔より大きく、これにより弾性手段が中ピン板の
    中ピン孔内に位置して上ピン板と下ピン板により制限さ
    れたことを特徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  4. 【請求項４】 請求項１に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、保持板ユニットが軟性板を具え、プロー
    ブが保持板ユニットの保持孔に挿入されて軟性板に突き
    刺さって貫通し、軟性板により固定されたことを特徴と
    する、重複使用可能なテストジグ。
  5. 【請求項５】 請求項１に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、弾性手段の第２ターミナルが内径が縮小
    されてプローブとの接触に供される支持部を具えたこと
    を特徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  6. 【請求項６】 複数の被テストデバイスを具えた被テス
    ト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシン
    に伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テス
    トジグが、 ピン板ユニットとされ、格子状に縦横に交錯配列するピ
    ン孔が密に設けられた、上記ピン板ユニットと、 複数の弾性手段とされ、被テスト対象の被テストデバイ
    スに対応するピン孔に挿入され、該ピン孔内で弾性伸縮
    動作可能とされ、各一つの該弾性手段に第１ターミナル
    と第２ターミナルが設けられた、上記複数の弾性手段
    と、 複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設け
    られ、上ターミナルは対応する弾性手段の第１ターミナ
    ルに電気的に連接され、該下ターミナルは信号をテスト
    マシンに伝送するのに用いられる、上記複数の導線と、 保持板ユニットとされ、被テストデバイスの複数のピン
    位置に対応する保持孔が設けられ、この保持孔が該保持
    板ユニットを貫通する、上記保持板ユニットと、 複数のプローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持
    孔に挿入され、第１ターミナルと第２ターミナルを具
    え、この第１ターミナルがピン板ユニットの弾性手段が
    挿入されたピン孔に挿入されて弾性手段の第２ターミナ
    ルと電気的に接触し、プローブの第２ターミナルは該保
    持板ユニットより突出して被テスト対象のピンと接触す
    る、上記複数のプローブと、 を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  7. 【請求項７】 請求項６に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、ピン板ユニットの底部の弾性手段を設け
    ていない位置に支持柱が設けられてピン板ユニットを強
    化していることを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  8. 【請求項８】 請求項６に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン板及
    び下ピン板で組成され、中ピン板の中ピン孔が上ピン板
    の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔より大きく、これによ
    り弾性手段が中ピン板の中ピン孔内に位置して上ピン板
    と下ピン板により制限されたことを特徴とする、重複使
    用可能なテストジグ。
  9. 【請求項９】 請求項６に記載の重複使用可能なテスト
    ジグにおいて、保持板ユニットが軟性板を具え、プロー
    ブが保持板ユニットの保持孔に挿入されて軟性板に突き
    刺さって貫通し、これによりプローブが有効に固定され
    たことを特徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  10. 【請求項１０】 請求項１に記載の重複使用可能なテス
    トジグにおいて、弾性手段の第２ターミナルが内径が縮
    小されて支持部が設けられ、該支持部がプローブとの接
    触に供され、自動的にゆがんだプローブを案内すること
    を特徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  11. 【請求項１１】 複数の被テストデバイスを具えた被テ
    スト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシ
    ンに伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テ
    ストジグが、 ピン板ユニットとされ、被テスト対象の複数の被テスト
    デバイス位置に対応してピン孔が設けられた、上記ピン
    板ユニットと、 複数の弾性手段とされ、被テスト対象の被テストデバイ
    スに対応するピン孔に挿入され、該ピン孔内で弾性伸縮
    動作可能とされ、各一つの該弾性手段に第１ターミナル
    と第２ターミナルが設けられた、上記複数の弾性手段
    と、 複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設け
    られ、上ターミナルは対応する弾性手段の第１ターミナ
    ルに電気的に連接され、該下ターミナルは信号をテスト
    マシンに伝送するのに用いられる、上記複数の導線と、 保持板ユニットとされ、ピン板ユニットの上方に設置さ
    れ、被テストデバイスの複数のピン位置に対応して貫通
    する保持孔が設けられ、少なくとも一つの該保持孔が傾
    斜する、上記保持板ユニットと、 複数のプローブとされ、それぞれピン板ユニットのピン
    孔に挿入されて弾性手段と接触し、且つ保持板ユニット
    の保持孔内に保持され、少なくとも一つのプローブが適
    当な傾斜を形成し、並びに保持板ユニットより突出して
    被テスト対象の被テストデバイスと接触するのに用いら
    れる、上記複数のプローブと、 を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  12. 【請求項１２】 請求項１１に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン
    板及び下ピン板で組成され、ピン孔が中ピン板の中ピン
    孔、上ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔に確定さ
    れ、中ピン板の中ピン孔が上ピン板の上ピン孔、下ピン
    板の下ピン孔より大きく、これにより弾性手段が中ピン
    板の中ピン孔内に位置して上ピン板と下ピン板により制
    限されたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  13. 【請求項１３】 請求項１１に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、保持板ユニットが軟性板を具え、プ
    ローブが保持板ユニットの保持孔に挿入されて軟性板に
    突き刺さって貫通し、軟性板により固定されたことを特
    徴とする、重複使用可能なテストジグ。
  14. 【請求項１４】 請求項１１に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、弾性手段の第２ターミナルが内径が
    縮小されてプローブとの接触と自動的にプローブを案内
    するのに供される支持部を具えたことを特徴とする、重
    複使用可能なテストジグ。
  15. 【請求項１５】 複数の被テストデバイスを具えた被テ
    スト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシ
    ンに伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テ
    ストジグが、 ピン板ユニットとされ、格子状に縦横に交錯配列するピ
    ン孔が密に設けられた、上記ピン板ユニットと、 複数の弾性手段とされ、被テスト対象の被テストデバイ
    スに対応するピン板ユニットのピン孔に挿入され、該ピ
    ン孔内で弾性伸縮動作可能とされ、各一つの該弾性手段
    に第１ターミナルと第２ターミナルが設けられた、上記
    複数の弾性手段と、 複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設け
    られ、上ターミナルは対応する弾性手段の第１ターミナ
    ルに電気的に連接され、該下ターミナルは信号をテスト
    マシンに伝送するのに用いられる、上記複数の導線と、 保持板ユニットとされ、被テストデバイスの複数のピン
    位置に対応する保持孔が設けられ、少なくとも一つの保
    持孔が傾斜する、上記保持板ユニットと、 複数のプローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持
    孔に挿入されて弾性手段にそれぞれ連接し、保持板ユニ
    ットの保持孔に保持されることにより、少なくとも一つ
    のプローブが傾斜し保持板ユニットより突出して被テス
    ト対象の少なくとも一つの被テストデバイスに接触す
    る、上記複数のプローブと、 を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  16. 【請求項１６】 請求項１５に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、弾性手段の第２ターミナルにプロー
    ブと接触する支持部が設けられたことを特徴とする、重
    複使用可能なテストジグ。
  17. 【請求項１７】 複数の被テストデバイスを具えた被テ
    スト対象をテストするのに用いられ、信号をテストマシ
    ンに伝送する重複使用可能なテストジグにおいて、該テ
    ストジグが、 ピン板ユニットとされ、被テスト対象の被テストデバイ
    スに対応するピン孔を具えた、上記ピン板ユニットと、 複数の導電の弾性手段とされ、被テスト対象の被テスト
    デバイスに対応するピン板ユニットのピン孔に挿入さ
    れ、該ピン孔内で弾性伸縮動作可能とされ、各一つの該
    弾性手段に第１ターミナルと、直径の縮小された第２タ
    ーミナルとが設けられた、上記複数の導電の弾性手段
    と、 複数の導線とされ、上ターミナルと下ターミナルが設け
    られ、上ターミナルは対応する弾性手段の第１ターミナ
    ルに電気的に連接され、該下ターミナルは信号をテスト
    マシンに伝送するのに用いられる、上記複数の導線と、 保持板ユニットとされ、被テストデバイスの複数のピン
    位置に対応する保持孔が設けられ、少なくとも一つの保
    持孔が傾斜する、上記保持板ユニットと、 複数のプローブとされ、それぞれ保持板ユニットの保持
    孔に挿入されて弾性手段の支持部にそれぞれ接触し、保
    持板ユニットの保持孔に保持されることにより、少なく
    とも一つのプローブが傾斜し保持板ユニットより突出し
    て被テスト対象の少なくとも一つの被テストデバイスに
    接触する、上記複数のプローブと、 を具えたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  18. 【請求項１８】 請求項１７に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、ピン板ユニットが上ピン板と中ピン
    板及び下ピン板で組成され、ピン孔が中ピン板の中ピン
    孔、上ピン板の上ピン孔、下ピン板の下ピン孔に画定さ
    れ、中ピン板の中ピン孔が上ピン板の上ピン孔、下ピン
    板の下ピン孔より大きく、これにより弾性手段が中ピン
    板の中ピン孔内に位置して上ピン板と下ピン板により制
    限されたことを特徴とする、重複使用可能なテストジ
    グ。
  19. 【請求項１９】 請求項１７に記載の重複使用可能なテ
    ストジグにおいて、保持板ユニットが軟性板を具え、プ
    ローブが保持板ユニットの保持孔に挿入されて軟性板に
    突き刺さって貫通し、軟性板により固定されたことを特
    徴とする、重複使用可能なテストジグ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005006003A1 (ja) * 2003-07-10 2005-01-20 Nec Corporation Ｂｇａ用ｌｓｉテストソケット
JP2013148464A (ja) * 2012-01-19 2013-08-01 Rato High Tech Corp 回路基板の試験治具構造
KR101311342B1 (ko) * 2012-04-06 2013-09-25 두성산업 주식회사 인쇄회로기판의 커넥터 검수용 지그세트

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011075313A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Three M Innovative Properties Co Ｉｃデバイス検査用ソケット
JP5960383B2 (ja) 2010-06-01 2016-08-02 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 接触子ホルダ
CN112540281B (zh) * 2019-09-20 2024-07-19 台湾中华精测科技股份有限公司 测试装置
KR102649845B1 (ko) * 2023-11-29 2024-03-21 주식회사 나노시스 반도체 소자 테스터 지그

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5945836A (en) * 1996-10-29 1999-08-31 Hewlett-Packard Company Loaded-board, guided-probe test fixture
US5945838A (en) * 1997-06-26 1999-08-31 Star Technology Group, Inc. Apparatus for testing circuit boards
US6005405A (en) * 1997-06-30 1999-12-21 Hewlett Packard Company Probe plate assembly for high-node-count circuit board test fixtures
US6292003B1 (en) * 1998-07-01 2001-09-18 Xilinx, Inc. Apparatus and method for testing chip scale package integrated circuits

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005006003A1 (ja) * 2003-07-10 2005-01-20 Nec Corporation Ｂｇａ用ｌｓｉテストソケット
US7129728B2 (en) 2003-07-10 2006-10-31 Nec Corporation LSI test socket for BGA
JPWO2005006003A1 (ja) * 2003-07-10 2007-09-20 日本電気株式会社 Ｂｇａ用ｌｓｉテストソケット
US7477062B2 (en) 2003-07-10 2009-01-13 Nec Corporation LSI test socket for BGA
JP4775554B2 (ja) * 2003-07-10 2011-09-21 日本電気株式会社 Ｂｇａ用ｌｓｉテストソケット
JP2013148464A (ja) * 2012-01-19 2013-08-01 Rato High Tech Corp 回路基板の試験治具構造
KR101311342B1 (ko) * 2012-04-06 2013-09-25 두성산업 주식회사 인쇄회로기판의 커넥터 검수용 지그세트

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