JP2003022686A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JP2003022686A
JP2003022686A JP2001207784A JP2001207784A JP2003022686A JP 2003022686 A JP2003022686 A JP 2003022686A JP 2001207784 A JP2001207784 A JP 2001207784A JP 2001207784 A JP2001207784 A JP 2001207784A JP 2003022686 A JP2003022686 A JP 2003022686A
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circuit
boosting
signal
transistor
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JP2001207784A
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Yoshitsugu Doi
由承 土肥
Akira Hosogane
明 細金
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 内部電位の昇圧速度が速く、かつ消費電力を
抑えることが可能な昇圧回路を含む半導体集積回路装置
を提供する。 【解決手段】 補助昇圧回路501に入力される昇圧段
増加指示信号VWWP1がLレベルのときは補助昇圧回
路501内のトランジスタQP55がオンされ、トラン
ジスタQP56およびQP57はオフされる。よって、
補助昇圧回路501内の3つの昇圧段B1〜B3が供給
電位VWDPを昇圧する。一方、昇圧段増加指示信号V
WWP1がHレベルのときは、補助昇圧回路501内の
4つの昇圧段B1〜B4が供給電位VWDPを昇圧す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体集積回路装
置に関し、さらに詳しくは、内部電位レベルを昇圧する
昇圧回路を含む半導体集積回路装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図18は従来の半導体集積回路装置内の
高電圧発生回路の構成を示す概略ブロック図である。
【0003】図18を参照して、高電圧発生回路10
は、主チャージポンプ回路11と、補助チャージポンプ
回路12と、主チャージポンプ用リミッタ回路13と、
補助チャージポンプ用リミッタ回路14とを含む。
【0004】補助チャージポンプ回路12は、外部電源
電位ext.Vccを昇圧し、昇圧した電位を供給電位
VWDPとして主チャージポンプへ出力する。
【0005】主チャージポンプ11は供給電位VWDP
を受け、供給電位VWDPをさらに昇圧して昇圧電位V
PPとして出力する。昇圧電位VPPは半導体集積回路
装置内の各内部回路へ供給される。
【0006】補助チャージポンプ用リミッタ回路14
は、差動増幅回路を含み、供給電位VWDPが所定の電
位レベルに達したか否かを判定し、その結果を判定信号
CPW0として出力する。同様に、主チャージポンプ用
リミッタ回路13は、昇圧電位VPPが所定の電位レベ
ルに達したか否かを判定し、その結果を判定信号CPW
Wとして出力する。なお、昇圧電位VPPが所定の電位
レベルに達していないときは、判定信号CPWWはHレ
ベルとして出力される。また、昇圧電位VPPgた所定
の電位レベルに達したときは、判定信号CPWWはLレ
ベルとして出力される。
【0007】主チャージポンプ回路11はクロック発生
回路15から出力された内部クロック信号int.CL
K2を受け、昇圧動作を実施する。また、補助チャージ
ポンプ回路12はクロック発生回路15から出力された
内部クロック信号int.CLK1を受け、昇圧動作を
実施する。
【0008】クロック発生回路15は、外部から入力さ
れる外部クロック信号ext.CLKを受け、内部クロ
ック信号int.CLK1およびint.CLK2を出
力する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】いま、図18に示した
高電圧発生回路10で書込電圧を発生させる場合、主チ
ャージポンプ回路11は補助チャージポンプ回路12か
ら出力された供給電位VWDPを電源として使用し、昇
圧電位VPPの電位レベルを昇圧する。
【0010】このとき、書込速度を速くするためには、
昇圧電位VPPの昇圧速度を速くする必要がある。
【0011】また、昇圧電位VPPの電位レベルは時間
の経過とともに上昇するが、昇圧電位VPPが書込動作
を行うのに十分な電位レベルとなった後も、補助チャー
ジポンプ回路12は動作し続ける。そのため、消費電力
が多いという問題点がある。
【0012】この発明は、内部電位の昇圧速度が速く、
かつ消費電力を抑えることが可能な昇圧回路を含む半導
体集積回路装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】この発明による半導体集
積回路装置は、内部電位レベルを昇圧する昇圧手段を有
する半導体集積回路装置であって、昇圧手段は、内部電
位レベルを昇圧する第1の昇圧回路と、第1の昇圧回路
へ供給する供給電位レベルを昇圧する第2の昇圧回路と
を含み、第2の昇圧回路は、供給電位レベルを昇圧する
ための複数の昇圧段と、動作させる昇圧段の数を変更す
る昇圧制御手段とを含む。
【0014】これにより、第2の昇圧回路内で動作させ
る昇圧段を増加させることで、第1の昇圧回路は内部電
位レベルの昇圧速度を速くすることができる。
【0015】また、第2の昇圧回路内で動作をさせる昇
圧段を減少することで、消費電力が低減する。
【0016】好ましくは、昇圧制御手段は、第1の昇圧
回路が活性化した後所定の時間経過後に、動作させる昇
圧段の数を変更する。
【0017】好ましくは、昇圧制御手段は、タイマー回
路を含み、タイマー回路は、昇圧手段の活性化信号を受
信後、時間の測定を行う。
【0018】これにより、内部電位レベルの昇圧時間に
より第2の昇圧回路内で動作をさせる昇圧段を減少する
ことで、消費電力が低減する。
【0019】好ましくはさらに、半導体集積回路装置
は、昇圧手段により昇圧された内部電位レベルが所定の
電位レベルとなっているか否かを判定する判定手段を含
み、昇圧制御手段は、判定手段の判定結果に応答して、
動作させる昇圧段の数を変更する。
【0020】これにより、内部電位レベルが所定の電位
レベルとなったとき、第2の昇圧回路内で動作をさせる
昇圧段を減少することで、消費電力が低減する。
【0021】この発明による半導体集積回路装置は、内
部電位レベルを昇圧させる昇圧手段と、昇圧手段により
昇圧された内部電位レベルが所定の電位レベルとなって
いるか否かを判定する判定手段と、外部信号を受け、内
部クロック信号を発生するクロック発生手段とを含み、
内部電位レベルが所定の電位レベルになっていると判定
手段が判定したときに、クロック発生手段は内部クロッ
ク信号の発生を停止する。
【0022】これにより、消費電力の低減が可能とな
る。好ましくは、半導体集積回路装置は、複数の昇圧手
段と、各昇圧手段ごとに設置された複数の判定手段とを
含み、各昇圧手段で昇圧された電位レベルが所定の電位
レベルになっていると各判定手段のすべてが判定したと
きに、クロック発生手段は内部クロック信号の発生を停
止する。
【0023】これにより、複数の昇圧手段により昇圧さ
れた電位レベルすべてが所定の電位レベルに達しないと
きは、クロック発生手段は動作を行う。
【0024】好ましくは、クロック発生手段は、外部信
号により生成される活性化信号を受けて動作を開始し、
各昇圧手段で昇圧された電位レベルが所定の電位レベル
になっていると各判定手段のすべてが判定したときに、
活性化信号を無効化する。
【0025】これにより、活性化信号自体を無効とする
ことで、クロック発生手段の動作を停止する。
【0026】好ましくは、クロック発生手段は、クロッ
ク信号の周波数を変更する複数のクロック分周手段を含
み、同じ周波数のクロック信号を受ける複数の昇圧手段
で昇圧された電位レベルがすべて所定の電位レベルにな
ったときに、クロック分周手段は活性化信号を無効化す
る。
【0027】これにより、同じ周波数のクロック信号を
受ける昇圧手段群ごとにクロック信号を停止することが
できる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一ま
たは相当部分には同一符号を付して同じ説明は繰り返さ
ない。
【0029】[実施の形態1]図1はこの発明の実施の
形態1における半導体集積回路装置の構成を示した概略
ブロック図である。
【0030】図1を参照して、半導体集積回路装置1
は、メモリセルアレイ20と、Xデコーダ21と、Yデ
コーダ22と、データレジスタ23と、Yゲート24
と、Xアドレスバッファ25と、書込データ入力ドライ
バ26と、読出データ出力アンプ27と、データ出力バ
ッファ29と、アドレス/データ入力バッファ30とを
含む。
【0031】メモリセルアレイ20は、それぞれが1ビ
ットのデータを記憶する複数のメモリセルを含む。各メ
モリセルは、行アドレスおよび列アドレスによって決定
される所定のアドレスに配置される。メモリセルアレイ
20はさらに、各行に対応して設けられたワード線WL
と、各列に対応して設けられたビット線対BLおよび/
BLとを含む。1個のメモリセルMCは、2本のビット
線BL,/BLと、これに直行する1本のワード線WL
との2交点のうちいずれか一方の交点に配置される。
【0032】アドレス/データ入力バッファ30は、書
込モード時にデータ入出力端子から入力されるデータを
書込データ入力ドライバ26、Yゲート24を介してデ
ータレジスタ23に伝達する。
【0033】書込データ入力ドライバ26は、データ書
込時、アドレス/データ入力バッファ30からの書込デ
ータをバッファ処理してYゲート24を介してデータレ
ジスタ23へ書込む。
【0034】Xアドレスバッファ25は、データ入出力
端子DQ0〜DQ7およびアドレス/データ入力バッフ
ァ30を介して供給されるアドレス信号を受け、内部ア
ドレス信号をXデコーダ21へ出力する。
【0035】Xデコーダ21は、Xアドレスバッファ2
5から出力される内部アドレス信号をデコードし、メモ
リセルアレイ内のワード線を選択する。
【0036】データレジスタ23は、各列に対応して設
けられるレジスタ回路を含み、Yゲート24を介して与
えられる書込データを格納する。
【0037】Yアドレスカウンタ28は、内部クロック
信号int.CLKにしたがって歩進動作を行う。これ
により、Yアドレスカウンタ28は内部Yアドレス信号
を順次形成して、Yデコーダ22に出力する。
【0038】Yデコーダ22は、Yアドレスカウンタ2
8から出力される内部Yアドレス信号をデコードし、ビ
ット線選択信号として出力する。
【0039】Yゲート24は、Yデコーダ22から出力
されたビット線選択信号を受け、対データレジスタと書
込データ入力ドライバ26または読出データ出力アンプ
27との間を選択的に接続する。
【0040】データ出力バッファ29は、データレジス
タ23内のデータをYゲート24、読出データ出力アン
プ27を介して外部に出力する。
【0041】読出データ出力アンプ27は読出動作によ
りメモリセルMCから読出たデータを増幅して、データ
出力バッファ29へ出力する。
【0042】半導体集積回路装置1はさらに、OEバッ
ファ31と、CEバッファ32と、WEバッファ33
と、RESバッファ34と、ctcバッファ35と、S
Cバッファ36とを含む。
【0043】OEバッファ31は制御信号入力端子から
入力されるアウトプットイネーブル信号/OEを受け、
内部信号として出力する。同様に、CEバッファ32は
制御信号入力端子から入力されるチップイネーブル信号
/CEを受け、内部信号として出力する。WEバッファ
33は制御信号入力端子から入力されるライトイネーブ
ル信号/WEを受け、内部信号として出力する。RES
バッファ34はリセット信号RESを受け、内部信号と
して出力する。SCバッファ36はシリアルクロック信
号SCを受け、内部信号として出力する。etcバッフ
ァ35は、他の制御信号を受け、内部信号として出力す
る。
【0044】半導体集積回路装置1はさらに、コマンド
デコーダ37と制御回路38と、基準電位発生回路39
と高電圧発生回路40,41とを含む。
【0045】コマンドデコーダ37は各制御信号バッフ
ァ31〜36から出力された内部制御信号を受け、その
内容を解析し、解析結果をコマンドとして制御回路38
へ出力する。
【0046】制御回路38はコマンドデコーダ37から
コマンドを受け、書込動作,読出動作,消去動作等を実
施する。このとき制御回路38は実施する動作に応じて
基準電位発生回路39および高電圧発生回路40,41
を制御する。
【0047】基準電位発生回路39は、複数の基準電位
Vrefを発生し、各内部回路へ伝達する。基準電位発
生回路は高電圧(正)発生回路40には基準電位Vre
f1を、高電圧(負)発生回路41には基準電位Vre
f2をそれぞれ出力する。
【0048】高電圧(正)発生回路40は、電位レベル
を正に昇圧した昇圧電位VPPをXデコーダ21へ出力
する。なお、昇圧電位VPPは半導体集積回路装置1の
動作種類により電位レベルの異なるVPP1,VPP2
を選択して出力する。
【0049】また、高電圧(負)発生回路41は電位レ
ベルを負に昇圧した昇圧電位VNN1,VNN2をXデ
コーダ21へ出力する。
【0050】次に、高電圧(正)発生回路40の回路構
成について説明する。なお、高電圧(負)発生回路41
の構成も高電圧発生回路40の回路構成と同様であるた
め、その説明は繰り返さない。以降、高電圧(正)発生
回路は高電圧発生回路と称する。
【0051】図2はこの発明の実施の形態1における高
電圧発生回路の構成を示す概略ブロック図である。
【0052】図2を参照して、高電圧発生回路40は、
図18に示した高電圧発生回路10と比較して、補助チ
ャージポンプ回路12の代わりに補助チャージポンプ回
路50を、補助チャージポンプ用リミッタ回路14の代
わりに補助チャージポンプ用リミッタ回路51をそれぞ
れ設置している。その他の構成は図18と同じであるた
め、その説明は繰り返さない。
【0053】図3は、図2に示した補助チャージポンプ
回路50と補助チャージポンプ用リミッタ回路51の回
路構成を示したブロック図である。
【0054】図3を参照して、補助チャージポンプ用リ
ミッタ回路51は被判定信号出力回路510と判定回路
511とを含む。
【0055】被判定信号出力回路510は、供給電位V
WDPが所定の電位レベルを満たしたか否かを判定する
ための被判定信号CSWを出力する。
【0056】判定回路511は被判定信号CSWと基準
電位Vrefとを比較することで、供給電位VWDPが
所定の電位レベルを満たしたか否かを判定し、その判定
結果を判定信号CPWとして出力する。
【0057】補助昇圧用クロック生成回路500は、ク
ロック発生回路15から出力される内部クロック信号i
nt.CLK1と判定信号CPWとを受け、補助チャー
ジポンプ回路50で昇圧するためのクロック信号CL
K,CLKH,CLKLを出力する。補助昇圧回路50
1はクロック信号CLK,CLKH,CLKLを受け、
供給電位VWDPを出力する。
【0058】図4は図3に示した被判定信号出力回路5
10の回路構成を示す回路図である。
【0059】図4を参照して、被判定信号出力回路51
0は、供給電位VWDPを受けるノードと接地ノードG
NDとの間に直列に接続されたPチャネルMOSトラン
ジスタQP1〜QP15と、NチャネルMOSトランジ
スタQN1,QN2とを含む。さらに被判定信号出力回
路510は、供給電位VWDPを受けるノードと接地ノ
ードGNDとの間に直列に接続されたPチャネルMOS
トランジスタQP16〜QP18と、NチャネルMOS
トランジスタQN4とを含む。
【0060】トランジスタQP1のソースは供給電位V
WDPを受けるノードに接続される。また、トランジス
タQP1〜QP15は直列に接続される。トランジスタ
QP1〜QP14はそれぞれダイオード接続される。
【0061】トランジスタQP15のゲートには、被判
定信号CSWの電位レベルを決定するための信号VOF
FSET1が入力される。
【0062】トランジスタQN1およびQN2は直列に
接続される。トランジスタQN1のドレインはトランジ
スタQP15のドレインと接続される。トランジスタQ
N2のソースは接地ノードGNDに接続される。
【0063】トランジスタQN1のゲートには、後述す
る昇圧段数増加指示信号VWWP1が入力される。
【0064】トランジスタQN2のゲートには、補助チ
ャージポンプ用リミッタ回路51を動作させるためのリ
ミッタ回路活性化信号PLWWTが入力される。
【0065】トランジスタQP16とQP17とは直列
に接続される。トランジスタQP16のソースは供給電
位VWDPを受けるノードに接続され、ゲートはトラン
ジスタQP1のドレインに接続される。トランジスタQ
P17のゲートはトランジスタQP2のドレインに接続
される。
【0066】トランジスタQP17とQP18とQN4
とは直列に接続される。トランジスタQN3のドレイン
はトランジスタQP17のドレインと接続される。
【0067】トランジスタQP18のソースはトランジ
スタQP17のドレインと接続される。また、そのドレ
インはトランジスタQN4のドレインと接続される。ト
ランジスタQP18のゲートは接地ノードGNDに接続
される。
【0068】トランジスタQN4のソースは接地ノード
GNDに接続され、そのゲートにはリミッタ回路活性化
信号PLWWTが入力される。
【0069】被判定信号出力回路510はトランジスタ
QP17とトランジスタQP18との接続点であるノー
ドN1から被判定信号CSWを出力する。
【0070】次に被判定信号出力回路510の動作につ
いて説明する。補助チャージポンプ回路50から出力さ
れる供給電位VWDPの電位レベルがトランジスタQP
1〜QP15およびQN1,QN2のしきい値の合計よ
りも高いときに、トランジスタQP16およびQP17
のゲートにはLレベルの信号が入力される。よって、ノ
ードN1から出力される被判定信号CSWはHレベルと
なる。
【0071】図5は図3に示した判定回路511の回路
構成を示す回路図である。図5を参照して、判定回路5
11は、インバータIV1〜IV3と、PチャネルMO
SトランジスタQP21〜QP28と、NチャネルMO
SトランジスタQN11〜QN19とを含む。
【0072】PチャネルMOSトランジスタQP21〜
QP24とNチャネルMOSトランジスタQN11〜Q
N14とは、外部電源電位ext.Vccを受けるノー
ドと接地ノードとの間に接続される。トランジスタQP
22,QP23およびQN11〜QN13はカレントミ
ラーアンプ550を構成する。トランジスタQN11の
ゲートには基準電位Vrefが入力され、トランジスタ
QN12のゲートには被判定信号CSWが入力される。
トランジスタQP22およびQP23のゲートはノード
N2に接続される。トランジスタQN14はトランジス
タQN13と接地ノードGNDとの間に接続され、その
ゲートには基準電位Vrefが入力される。また、トラ
ンジスタQN13のゲートには、インバータIV2の出
力信号が入力される。トランジスタQP21のソースは
外部電源電位ext.Vccを受けるノードに接続さ
れ、そのドレインはノードN2に接続される。またトラ
ンジスタQP21のゲートにはインバータIV2の出力
信号が入力される。
【0073】トランジスタQP23のソースは外部電源
電位ext.Vccを受けるノードに接続され、そのド
レインはノードN3に接続される。またトランジスタQ
P23のゲートはノードN2に接続される。
【0074】トランジスタQP24のソースは外部電源
電位ext.Vccを受けるノードに接続され、そのド
レインはノードN3に接続される。また、トランジスタ
QP24のゲートにはインバータIV2の出力信号が入
力される。
【0075】トランジスタQP25とQN15とは外部
電源電位ext.Vccを受けるノードと接地ノードG
NDとの間に直列に接続される。トランジスタQP25
のゲートはノードN2に接続され、トランジスタQN1
5のゲートはインバータIV1の出力信号を入力する。
トランジスタQN16のドレインおよびゲートはノード
N4に接続され、そのソースは接地ノードGNDに接続
される。
【0076】トランジスタQP26とQN17とは外部
電源電位ext.Vccを受けるノードと接地ノードG
NDとの間に直列に接続される。トランジスタQP26
のゲートはノードN3に接続され、トランジスタQN1
7のゲートはノードN4に接続される。
【0077】トランジスタQP27とQN18とQN1
9とは外部電源電位ext.Vccを受けるノードと接
地ノードGNDとの間に直列に接続される。トランジス
タQP27のゲートはノードN3に接続され、トランジ
スタQN18のゲートには外部電源電位ext.Vcc
を受けるノードが接続される。トランジスタQN19の
ゲートはノードN4と接続され、そのドレインはトラン
ジスタQN17のドレインと接続される。
【0078】トランジスタQP28は外部電源電位ex
t.Vccを受けるノードとノードN5との間に接続さ
れ、そのゲートにはインバータIV2の出力信号が入力
される。
【0079】インバータIV3はノードN5に接続さ
れ、入力した信号を反転し、判定信号CPWとして出力
する。インバータIV1はリミッタ回路活性化信号PL
WWTを受け、反転しインバータIV2に伝達する。イ
ンバータIV2はインバータIV1の出力信号を受け、
反転して出力する。
【0080】次に判定回路511の動作について説明す
る。判定回路511に基準電位Vrefが供給されてい
る間は、トランジスタQN14は常にオンとなる。この
ときリミッタ回路活性化信号PLWWTが活性状態(H
レベル)のとき、トランジスタQN13はオンされる。
その結果、カレントミラーアンプ550が動作を開始す
る。
【0081】カレントミラーアンプ550は基準電位V
refと被判定信号CSWとを比較する。被判定信号C
SWが基準電位Vrefよりも高いとき、すなわち供給
電位VWDPが所定の電位レベルよりも高いとき、ノー
ドN3の出力信号はLレベルとなる。その結果、インバ
ータIV3から出力される判定信号CPWはLレベルと
なる。一方、被判定信号CSWが基準電位Vrefより
も低いとき、すなわち供給電位VWDPが所定の電位レ
ベルよりも低いとき、インバータIV3から出力される
判定信号CPWはHレベルとなる。
【0082】図6は図3に示した補助昇圧用クロック生
成回路500の回路構成を示した回路図である。
【0083】図6を参照して、補助昇圧用クロック生成
回路500は、論理ゲートL1〜L3とインバータIV
12〜IV19とNチャネルMOSトランジスタN34
〜N41とキャパシタC1〜C3と遅延回路DL1とを
含む。
【0084】論理ゲートL1はクロック発生回路15か
ら出力された内部クロック信号int.CLK1と判定
回路511から出力された判定信号CPWとを受け、N
AND論理演算結果を信号φB1を出力する。遅延回路
DL1は信号φB1を受け、信号φB1を遅延した信号
φB2を出力する。論理ゲートL2は信号φB1とφB
2とを受け、そのNOR論理演算結果を出力する。論理
ゲートL3は信号φABとφB2とを受け、そのNAN
D論理演算結果を出力する。
【0085】インバータIV12は論理ゲートL2から
の出力信号を受け、反転した信号をい信号φB3として
出力する。インバータIV13は信号φB3を受け、反
転して出力する。インバータIV14はインバータIV
13の出力信号を受け、反転した信号をクロック信号C
LKとして出力する。
【0086】インバータIV15は論理ゲートL3から
出力された信号を反転して出力する。インバータIV1
6は、インバータIV15の出力信号を受け、反転して
信号φB4として出力する。
【0087】インバータIV17はトランジスタQP3
3とQN33とで構成される。インバータIV17は信
号φB4を受け、反転した信号をクロック信号CLKL
として出力する。
【0088】インバータIV18はトランジスタQP3
1とQN31とで構成される。トランジスタQP31と
QN31のゲートにはともに信号φB3が入力される。
トランジスタQP31とQN31との接続点であるノー
ドN11はキャパシタC1の一端と接続される。キャパ
シタC1の他端はトランジスタQN35のソースに接続
される。
【0089】インバータIV19はトランジスタQP3
2とQN32とで構成される。トランジスタQP32の
ゲートとトランジスタQN32のゲートとにはともに信
号φB4が入力される。トランジスタQP32とQN3
2の接続点であるノードN12はキャパシタC2および
C3の一端と接続される。キャパシタC2およびC3の
他端はノードN10に接続される。
【0090】トランジスタQN34とQN35とは直列
に接続され、そのバックゲートはともに接地ノードGN
Dに接続される。トランジスタQN34,QN35はと
もにダイオード接続される。
【0091】トランジスタQN36のドレインは外部電
源電位ext.Vccを受けるノードに接続され、その
ソースはトランジスタQN35のソースに接続される。
また、ゲートは外部電源電位ext.Vccを受けるノ
ードに接続される。トランジスタQN37のドレインは
外部電源電位ext.Vccを受けるノードに接続さ
れ、そのソースはトランジスタQN35のソースに接続
される。また、ゲートはトランジスタQN38のソース
に接続される。トランジスタQN38のドレインは外部
電源電位ext.Vccを受けるノードに接続され、そ
のソースはトランジスタQN41のソースに接続され
る。また、ゲートはトランジスタQN37のソースに接
続される。トランジスタQN39のドレインは外部電源
電位ext.Vccを受けるノードに接続され、そのソ
ースはトランジスタQN41のソースに接続される。ま
た、ゲートは外部電源電位ext.Vccを受けるノー
ドに接続される。トランジスタQN40とQN41とは
直列に接続され、トランジスタQN34,QN35はと
もにダイオード接続される。トランジスタQN40のド
レインは外部電源電位ext.Vccを受けるノードに
接続され、トランジスタQN41のソースはノードN1
0に接続される。
【0092】トランジスタQN34〜QN41のバック
ゲートはすべて接地ノードGNDに接続される。また、
トランジスタQN34〜QN41のバックゲートと外部
電源電位ext.Vccを受けるノードとの間にはそれ
ぞれダイオード素子D1〜D8が接続される。
【0093】次に補助昇圧用クロック生成回路500の
動作について説明する。補助昇圧用クロック生成回路5
00は判定信号CPWがHレベルのとき、すなわち供給
電位VWDPが所定の電位レベルに達していないときに
動作を行う。
【0094】内部クロック信号int.CLK1が入力
されると、補助昇圧用クロック生成回路500は遅延回
路DL1で設定されたパルス幅のクロック信号CLK,
CLKD,CLKH,CLKLとを出力する。このと
き、クロック信号CLK,CLKD,CLKH,CLK
Lは全て同相で変化する。また、クロック信号CLK,
CLKD,CLKLのHレベル時およびLレベル時の電
位レベルは同じである。クロック信号CLKHのHレベ
ル時の電位レベルは外部電源電位ext.Vccよりも
高く、Lレベル時の電位レベルはクロック信号CLK,
CLKD,CLKLのHレベル時の電位レベルと同じで
ある。
【0095】図7は図3に示した補助昇圧回路501の
回路構成を示した回路図である。図7を参照して、補助
昇圧回路501は、電位レベルの昇圧を行う昇圧段B1
〜B5と、動作させる昇圧段数を変更するための昇圧段
数調整回路502とを含む。
【0096】昇圧段B1はPチャネルMOSトランジス
タQP51,QP52と、NチャネルMOSトランジス
タQN51,QN52,QN58と、ポンピング用キャ
パシタC51とを含む。トランジスタQP51とQN5
1とは外部電源電位ext.Vccを受けるノードと接
地ノードGNDとの間に直列に接続される。トランジス
タQP51のソースは外部電源電位ext.Vccを受
けるノードに接続され、トランジスタQN51のソース
は接地ノードGNDに接続される。トランジスタQP5
1のゲートはクロック信号CLKを受け、トランジスタ
QN51のゲートはクロック信号CLKLを受ける。ま
た、トランジスタQP52とQN52とは直列に接続さ
れる。トランジスタQP52のソースは外部電源電位e
xt.Vccを受けるノードに接続され、トランジスタ
QN52のソースは接地ノードGNDに接続される。ト
ランジスタQP52のゲートはクロック信号CLKを受
け、トランジスタQN52のゲートはクロック信号CL
KLを受ける。
【0097】トランジスタQN58とキャパシタC51
とは直列に接続される。トランジスタQN58のドレイ
ンは外部電源電位ext.Vccを受けるノードに接続
され、キャパシタC51の一端はノードN52に接続さ
れる。なお、ノードN52はトランジスタQP52とQ
N52との接続点である。トランジスタQN58のゲー
トはクロック信号CLKHを受ける。
【0098】昇圧段B2はPチャネルMOSトランジス
タQP53とNチャネルMOSトランジスタQN53,
QN59と、ポンピング用キャパシタC52とを含む。
【0099】トランジスタQN59とキャパシタC52
とトランジスタQN53とは外部電源電位ext.Vc
cを受けるノードと接地ノードGNDとの間に直列に接
続される。トランジスタQN59のドレインは外部電源
電位ext.Vccを受けるノードに接続される。トラ
ンジスタQN53のソースは接地ノードGNDに接続さ
れる。トランジスタQN59のゲートはクロック信号C
LKHを受け、とトランジスタQN53のゲートはクロ
ック信号CLKLを受ける。
【0100】トランジスタQP53はノードN58とノ
ードN53との間に接続される。ここでノードN58は
トランジスタQN58とキャパシタC51との接続点で
ある。また、ノードN53はキャパシタC52とトラン
ジスタQN53との接続点である。トランジスタQP5
3のゲートはクロック信号CLKを受ける。
【0101】昇圧段B3はPチャネルMOSトランジス
タQP54と、NチャネルMOSトランジスタQN6
0,QN63,QN54と、ポンピング用キャパシタC
53とを含む。
【0102】トランジスタQN60とキャパシタC53
とトランジスタQN54とは外部電源電位ext.Vc
cを受けるノードと接地ノードとの間に直列に接続され
る。トランジスタQN60のドレインは外部電源電位e
xt.Vccを受けるノードに接続され、そのゲートは
クロック信号CLKHを受ける。トランジスタQN54
のソースは接地ノードGNDに接続され、そのゲートは
クロック信号CLKLを受ける。トランジスタQP54
はノードN59とN54との間に接続される。ここでノ
ードN59はトランジスタQN59とキャパシタC52
との接続点であり、ノードN54はキャパシタC53と
トランジスタQN54との接続点である。トランジスタ
QP54のゲートは外部電源電位ext.Vccを受け
る。トランジスタQN63のソースはノードN54と接
続され、そのゲートおよびドレインはともにノードN5
1に接続される。ここでノードN51はトランジスタQ
P51とトランジスタQN51との接続点である。
【0103】昇圧段B4はPチャネルMOSトランジス
タQP55〜QP57と、NチャネルMOSトランジス
タQN61,QN64,QN65とポンピング用キャパ
シタC54とを含む。
【0104】トランジスタQN61とキャパシタC54
とトランジスタQN55とは外部電源電位ext.Vc
cを受けるノードと接地ノードGNDとの間に直列に接
続される。トランジスタQN61のドレインは外部電源
電位ext.Vccを受けるノードに接続され、そのゲ
ートはクロック信号CLKHを受ける。また、トランジ
スタQN55のソースは接地ノードGNDに接続され、
そのゲートはクロック信号CLKLを受ける。トランジ
スタQN64のソースはノードN55に接続される。こ
こでノードN55はキャパシタC54とトランジスタQ
N55との接続点である。トランジスタQN64のソー
スおよびドレインはともにノードN51に接続される。
【0105】トランジスタQP56はノードN60とN
55との間に接続される。ここでノードN60はトラン
ジスタQN60とキャパシタC53との接続点である。
トランジスタQP56のゲートには昇圧段数調整回路5
02から出力されたスイッチ信号SW1が入力される。
トランジスタQP55のソースはノードN60に接続さ
れ、そのドレインは後述するトランジスタQP58のソ
ースに接続される。トランジスタQP55のゲートには
昇圧段数調整回路502から出力されたスイッチ信号S
W2が入力される。トランジスタQP57のソースはノ
ードN61に接続される。ここでノードN61はトラン
ジスタQN61とキャパシタC54との接続点である。
トランジスタQP57のドレインはトランジスタQP5
8のソースと接続され、そのゲートには昇圧段数調整回
路502から出力されたスイッチ信号SW1が入力され
る。
【0106】昇圧段B5はPチャネルMOSトランジス
タQP58,QP59と、NチャネルMOSトランジス
タQN56,QN57,QN62,QN65〜QN67
と、ポンピング用キャパシタC55とを含む。
【0107】トランジスタQN62とキャパシタC55
とトランジスタQN56とは外部電源電位ext.Vc
cを受けるノードと接地ノードとの間に直列に接続され
る。トランジスタQN62のドレインは外部電源電位e
xt.Vccを受けるノードに接続され、そのゲートは
クロック信号CLKHを受ける。トランジスタQN56
のソースは接地ノードGNDに接続され、そのゲートは
クロック信号CLKLを受ける。トランジスタQP58
のソースはトランジスタQP57のドレインと接続さ
れ、そのドレインはノードN56に接続される。ここで
ノードN56はトランジスタQN56とキャパシタC5
5との接続点である。トランジスタQP58のゲートは
外部電源電位ext.Vccを受ける。トランジスタQ
N65のソースはノードN56と接続され、そのゲート
およびドレインはともにノードN51に接続される。
【0108】トランジスタQP59とトランジスタQN
57とは直列に接続される。トランジスタQP59のソ
ースはノードN62に接続される。ここでノードN62
はトランジスタQN62とキャパシタC55との接続点
である。トランジスタQN57のソースは接地ノードG
NDに接続される。トランジスタQP59のゲートには
外部電源電位ext.Vccが入力され、トランジスタ
QN57のゲートにはクロック信号CLKLが入力され
る。トランジスタQN66のソースはトランジスタQN
57のドレインと接続され、そのゲートおよびドレイン
はともにノードN51に接続される。
【0109】トランジスタQN67のドレインはトラン
ジスタQP58のソースと接続され、そのゲートはトラ
ンジスタQP59のドレインと接続される。トランジス
タQN67のソースから供給電位VWDPが出力され
る。
【0110】昇圧段数調整回路502は、インバータI
V51〜IV55と、ポンピング用キャパシタC56
と、論理ゲートL10とを含む。
【0111】インバータIV53は直列に接続されたP
チャネルMOSトランジスタQP60とNチャネルMO
SトランジスタQN68とを含む。トランジスタQP6
0およびQN68のゲートはともにクロック信号CLK
を受ける。トランジスタQN68のソースは接地ノード
GNDに接続される。トランジスタQPのソースはキャ
パシタC56の一端と接続される。キャパシタC56の
他端はインバータIV51と接続される。インバータI
V51はクロック信号CLKを入力し、反転してキャパ
シタC56へ伝達する。インバータIV53はクロック
信号がLレベルのとき、キャパシタC56により昇圧さ
れた電位レベルの信号をノードN68から出力する。
【0112】インバータIV52は昇圧段数増加指示信
号VWWP1を受け、反転してインバータIV54に出
力する。なお、昇圧段数増加指示信号VWWP1は外部
信号によりコマンドデコーダ37で生成される信号であ
る。
【0113】インバータIV54はPチャネルMOSト
ランジスタQP61とNチャネルMOSトランジスタQ
N69とを含む。トランジスタQP61およびQN69
のゲートはともにインバータIV52の出力信号を受け
る。トランジスタQP61のソースはノードN68に接
続される。また、トランジスタQN69のドレインは接
地ノードGNDに接続される。
【0114】インバータIV54は、昇圧段数増加指示
信号VWWP1がHレベルに活性化されたとき、Hレベ
ルのスイッチ信号SW2を出力する。
【0115】論理ゲートL10はインバータIV52の
出力信号とクロック信号CLKとのNOR論理演算結果
を出力する。インバータIV55は、PチャネルMOS
トランジスタQP62とNチャネルMOSトランジスタ
QN70とを含む。トランジスタQP62のソースはノ
ードN68と接続され、トランジスタQN70のドレイ
ンは接地ノードGNDと接続される。トランジスタQP
62およびQN70のゲートはともに論理ゲートL10
の出力信号を受ける。
【0116】インバータIV55は、昇圧段数増加指示
信号VWWP1がHレベルに活性化され、かつクロック
信号CLKがLレベルのとき、Lレベルのスイッチ信号
SW1を出力する。
【0117】以上の回路構成を有する補助昇圧回路50
1の動作について説明する。いま、補助チャージポンプ
回路50から出力される供給電位VWDPの電位レベル
が所定の電位レベルに達していないと仮定する。このと
き補助チャージポンプ用リミッタ回路51はHレベルの
判定信号CPWを出力する。
【0118】このとき補助昇圧用クロック生成回路50
0からクロック信号CLK,CLKL,CLKHを同相
で出力する。よって、補助昇圧回路501は外部電源電
位ext.Vccを昇圧して供給電位VWDPの電位レ
ベルを上げる。
【0119】このとき、昇圧段数増加指示信号VWWP
1が活性化されていない場合、昇圧段数調整回路502
内のインバータIV54から出力されるスイッチ信号S
W2は常時Lレベルとなる。また、インバータIV55
から出力されるスイッチ信号SW1は常時Hレベルとな
る。
【0120】よって、昇圧段B4内のトランジスタQP
55はオンされ、トランジスタQP56およびQP57
はオフされる。よって、昇圧段B4は昇圧動作を行わな
い。
【0121】以上の結果、補助昇圧回路501は昇圧段
B1〜B3の3つの昇圧段で供給電位VWDPの昇圧を
行う。
【0122】ここで、補助昇圧回路501の昇圧動作に
ついて説明する。クロック信号CLK,CLKL,CL
KHがLレベルのとき、昇圧段B1内のトランジスタQ
P51,QP52がオンされ、トランジスタQN51,
QN52はオフされる。その結果、ノードN51,N5
2の電位レベルはほぼ外部電源電位ext.Vccとな
る。よって、キャパシタC51の一端は0Vから外部電
源電位ext.Vccに上昇するため、キャパシタC5
1の他端であるノードN58の電位レベルは上昇する。
ここで、ノードN58での上昇した電位レベルをP1と
する。なお、トランジスタQN58はオフされたままで
ある。
【0123】ここで、トランジスタQP53はオンされ
るため、ノードN58の電位レベルと昇圧段B2内のノ
ードN53の電位レベルとはほぼ等しくなる。よって、
ノードN53の電位レベルはP1となる。このときP1
>ext.Vccである。
【0124】昇圧段B2内のキャパシタC52の一端で
あるノードN53の電位レベルがP1となるため、キャ
パシタC52の他端であるノードN59の電位レベルは
昇圧され電位レベルP2となる。このときP2>P1で
ある。
【0125】昇圧段B3内において、トランジスタQP
54のゲートにかかる電位レベルは外部電源電位ex
t.Vccであり、そのソースにかかる電位レベルはP
2である。よってトランジスタQP54はオンされる。
その結果、昇圧段B3内のノードN60の電位レベルは
昇圧され、電位レベルP3となる。このときP3>P2
である。
【0126】昇圧段B4では、トランジスタQP55が
オンされ、トランジスタQP56およびQP57がとも
にオフされているため、昇圧動作は行われない。
【0127】昇圧段B5では、トランジスタQP58が
トランジスタQP54と同様の理由でオンされるため、
ノードN60とノードN56とがトランジスタQP55
およびQP58とを介して接続される。
【0128】よって、ノードN62の電位レベルは昇圧
される。このときのノードN62の電位レベルをP5と
する。このときP5>P3となる。
【0129】ノードN62の電位レベルがP5となる
と、トランジスタQP59およびトランジスタQN67
がともにオンされる。その結果、補助昇圧回路501か
ら出力される供給電位VWDPの電位レベルはP3とな
る。
【0130】次に、クロック信号CLK,CLKL,C
LKHがHレベルのとき、クロック信号CLKHを受け
るトランジスタQN58〜QN62,クロック信号CL
KLを受けるトランジスタQN51〜57はオンされ
る。一方、クロック信号CLKを受けるトランジスタQ
P51〜QP53はオフされる。
【0131】よって、昇圧段B1内のノードN52の電
位レベルは接地電位GNDレベルにさがる。一方、トラ
ンジスタQN58はオンされるため、ノードN58の電
位レベルは外部電源電位ext.Vccレベルとなる。
【0132】同様に、ノードN53,N54,N56の
電位レベルは接地電位GNDレベルとなり、ノードN5
9,N60,N62の電位レベルは外部電源電位ex
t.Vccレベルとなる。
【0133】以上に示したクロック信号CLK,CLK
L,CLKHの周期的な変化にともない、補助昇圧回路
501はノードN60の電位レベルP3を昇圧する。
【0134】以上の動作により、昇圧段数増加指示信号
VWWP1が活性化されていない場合は、補助昇圧回路
501内の昇圧段B1〜B3により昇圧動作を行う。
【0135】次に、昇圧段数増加指示信号VWWP1が
活性化された場合、昇圧段数調整回路502内のインバ
ータIV54から出力されるスイッチ信号SW2はHレ
ベルとなる。
【0136】このときインバータIV54から出力され
る信号の電位レベルは、インバータIV53によりノー
ドN60の電位レベルよりも高い電位レベルとなってい
る。
【0137】また、クロック信号CLKがLレベルのと
き、論理ゲートL10から出力されるスイッチ信号SW
1はLレベルとなる。
【0138】よって、クロック信号CLKがLレベルの
とき、昇圧段B4中のトランジスタQP55はオフさ
れ、トランジスタQP56およびQP57はともにオン
される。その結果、昇圧段B4は昇圧動作を行う。
【0139】続いて、補助昇圧回路501の昇圧動作に
ついて説明する。クロック信号CLK,CLKL,CL
KHがLレベルの場合、昇圧段B1〜B3までの動作は
昇圧段数増加指示信号VWWP1が非活性の場合の動作
と同じであるため、その説明は繰り返さない。
【0140】続いて、昇圧段B4において、トランジス
タQP56はオンされ、トランジスタQP55はオフさ
れるため、ノードN60とノードN55とは接続され
る。よって、ノードN55の電位レベルはP3となる。
【0141】その結果、キャパシタC54の一端は接地
電位レベルGNDからP3へ電位レベルが上昇する。よ
って容量結合により、ノードN61の電位レベルは昇圧
される。昇圧された電位レベルをP4とすると、P4>
P3となる。
【0142】また、トランジスタQP57およびQP5
8はともにオンされるため、ノードN61とノードN5
6とは接続される。よって、ノードN56の電位レベル
はP4となる。
【0143】よって、昇圧段B5内では、容量結合によ
りノードN62の電位レベルが昇圧される。このときの
電位レベルをP6とすると、P6>P4となる。
【0144】よって、トランジスタQP59とQN67
はともにオンされる。トランジスタQN67はトランジ
スタQP57を介してノードN61と接続されるため、
補助昇圧回路501から出力される供給電位VWDPの
電位レベルはP4となる。
【0145】クロック信号CLK,CLKL,CLKH
がHレベルのときは、昇圧段数増加指示信号VWWP1
が活性化されていない場合のときの動作と同じであるた
め、その説明は繰り返さない。
【0146】以上に示したクロック信号CLK,CLK
L,CLKHの周期的な変化にともない、補助昇圧回路
501はノードN61の電位レベルP4を昇圧する。
【0147】以上の動作により、昇圧段数増加指示信号
VWWP1が活性化された場合は、補助昇圧回路501
内の昇圧段B1〜B4の4つの昇圧段により昇圧動作を
行う。そのため、昇圧段数増加指示信号VWWP1が活
性化されていないときと比較して、供給電位VWDPの
電位レベルが上昇する。
【0148】その結果、主チャージポンプ回路11から
出力される昇圧電位VPPの電位レベルの昇圧速度を上
げることが可能となる。
【0149】[実施の形態2]主チャージポンプの昇圧
速度を上げるためには、補助チャージポンプから出力さ
れる供給電位VWDPを高くすることが有効であるが、
主チャージポンプから出力される昇圧電位VPPが所定
の電位レベルまで近づいた場合、供給電位VWDPを高
い電位レベルのまま保持する、消費電力が増加すること
となり、望ましくない。
【0150】そこで、昇圧電位VPPが所定の電位レベ
ルに近づいた時点で供給電位VWDPの電位レベルを下
げるほうが望ましい。
【0151】図8は実施の形態2における補助チャージ
ポンプ回路50と補助チャージポンプ用リミッタ回路5
1との概略構成を示すブロック図である。
【0152】図8を参照して、補助チャージポンプ回路
50内の構成は図3に示した構成と同じであり、補助チ
ャージポンプ回路50は補助昇圧用クロック生成回路5
00と補助昇圧回路501とを含む。ただし、補助昇圧
回路501には昇圧段数増加指示信号VWPP1の代わ
りに、後述する判定回路512から出力される昇圧段数
変更信号CPWT1が入力される。
【0153】補助チャージポンプ用リミッタ回路51は
図3における判定回路511の代わりに判定回路512
を設置し、さらにタイマ回路513を追加している。
【0154】図9は図8に示したタイマ回路513の回
路構成を示す回路図である。図9を参照して、タイマ回
路513は、インバータIV50と、PチャネルMOS
トランジスタQP80と、電流バイアス回路514と、
リングオシレータ515と、バッファ回路516とイン
バータIV51とを含む。
【0155】トランジスタQP80は外部電源電位ex
t.Vccを受けるノードと電流バイアス回路514と
の間に接続され、そのゲートにはインバータIV50が
接続される。インバータIV50はリミッタ回路活性化
信号PLWWTを入力し、反転してトランジスタQP8
0へ出力する。
【0156】よって、リミッタ回路活性化信号が活性化
(Hレベル)されたとき、すなわち補助チャージポンプ
回路50および補助チャージポンプ用リミッタ回路51
が動作を開始したときに、タイマ回路513は動作を開
始する。
【0157】電流バイアス回路514は直列に接続され
たPチャネルMOSトランジスタQP81と抵抗素子R
1とNチャネルMOSトランジスタQN80とを含む。
トランジスタQP81のソースはトランジスタQP80
のドレインと接続される。また、トランジスタQN80
のソースは接地ノードGNDに接続される。トランジス
タQP81およびトランジスタQN80はそれぞれダイ
オード接続される。
【0158】リングオシレータ515はPチャネルMO
SトランジスタQPR1〜QPRn(nは奇数)と、イ
ンバータIVR1〜IVRnと、キャパシタCR1〜C
Rnと、NチャネルMOSトランジスタQNR1〜QN
Rnとを含む。
【0159】トランジスタQPR1とインバータIVR
1とトランジスタQNR1とは直列に接続される。トラ
ンジスタQPR1のソースはトランジスタQP80のド
レインと接続され、そのゲートはトランジスタQP81
のゲートに接続される。トランジスタQNR1のソース
は接地ノードGNDに接続され、そのゲートはトランジ
スタQN80のゲートに接続される。インバータIVR
1はインバータIVRnから出力された信号を受け、反
転してインバータIVR2に出力する。キャパシタCR
1の一端はインバータIVR1とインバータIVR2と
の間に接続され、他端は接地ノードGNDに接続され
る。
【0160】同様に、トランジスタQPR2とインバー
タIVR2とトランジスタQNR2とは直列に接続され
る。インバータIVR2はインバータIVR1の出力信
号を反転してインバータIVR3に出力する。キャパシ
タCR2の一端はインバータIVR2とインバータIV
R3との間に接続され、他端は接地ノードGNDに接続
される。
【0161】他のトランジスタQPRnとインバータI
VRnとトランジスタQNRnとキャパシタCRnの接
続も同様であるため、その説明は繰り返さない。
【0162】バッファ回路516はPチャネルMOSト
ランジスタQP82〜QP84と、NチャネルMOSト
ランジスタQN81〜QN83と、論理ゲートL10,
L11とを含む。
【0163】トランジスタQP82と論理ゲートL10
とトランジスタQN81とは直列に接続される。トラン
ジスタQP82のソースはトランジスタQP80のドレ
インに接続され、そのゲートはトランジスタQP81の
ゲートに接続される。トランジスタQN81のソースは
接地ノードGNDに接続され、そのゲートはトランジス
タQN80のゲートに接続される。論理ゲートL10は
インバータIVR2からの出力信号と、インバータIV
Rnからの出力信号とを受け、NAND演算結果をトラ
ンジスタQP84のゲートに出力する。
【0164】トランジスタQP83と論理ゲートL11
とトランジスタQN82とは直列に接続される。トラン
ジスタQP83のソースはトランジスタQP80のドレ
インに接続され、そのゲートはトランジスタQP81の
ゲートに接続される。トランジスタQN82のソースは
接地ノードGNDに接続され、そのゲートはトランジス
タQN80のゲートに接続される。論理ゲートL11は
インバータIVR2からの出力信号と、インバータIV
Rnからの出力信号とを受け、NOR演算結果をトラン
ジスタQN83のゲートに出力する。
【0165】トランジスタQP84とトランジスタQN
83とは直列に接続される。トランジスタQP84のソ
ースはトランジスタQP80のドレインに接続される。
トランジスタQN83のソースは接地ノードGNDに接
続される。
【0166】インバータIV51はトランジスタQP8
4とトランジスタQN83との接続点に接続され、信号
φTを出力する。
【0167】補助チャージポンプ用リミッタ回路51が
動作を開始したときタイマ回路513から出力される信
号φTはHレベルである。補助チャージポンプ用リミッ
タ回路51が動作を開始したのち、電流バイアス回路5
14とリングオシレータ515によって決定される所定
の時間経過後、信号φTはLレベルとなる。
【0168】図10は図8に示した判定回路512の回
路構成を示す回路図である。図10を参照して、図5に
示した判定回路511と比較して、新たに論理ゲートL
20が設置される。論理ゲートL20は判定信号CPW
とタイマ回路513から出力される信号φTとを受け、
AND論理演算結果を昇圧段数変更信号CPWT1とし
て出力する。
【0169】その他の回路構成については図5と同じで
あるため、その説明は繰り返さない。
【0170】なお、補助昇圧回路501の回路構成は図
7に示したとおりであるため、その説明は繰り返さな
い。ただし、補助昇圧回路501には昇圧段数増加指示
信号VWPP1の代わりに、昇圧段数変更信号CPWT
1が入力される。
【0171】以上の回路構成を有する補助チャージポン
プ回路50および補助チャージポンプ用リミッタ回路5
1の動作について説明する。
【0172】いま、補助チャージポンプ回路50から出
力される供給電位VWDPの電位レベルが所定の電位レ
ベルに達していないと仮定する。このとき補助チャージ
ポンプ用リミッタ回路51はHレベルの判定信号CPW
を出力する。このときタイマ回路513から出力される
信号φTがHレベルのときは、判定回路512中の論理
ゲートL20から出力される昇圧段数変更信号CPWT
1はHレベルとなる。よって、補助昇圧回路501中の
トランジスタQP56およびQP57はオンされ、トラ
ンジスタQP56はオフされる。その結果、補助昇圧回
路501内では昇圧段B1〜B4の4段で昇圧動作を行
う。
【0173】次に、タイマ回路から出力される信号φT
がLレベルとなったときは、判定回路512中の論理ゲ
ートL20から出力される昇圧段数変更信号CPWT1
はLレベルとなる。よって、補助昇圧回路501中のト
ランジスタQP56およびQP57はオフされ、トラン
ジスタQP56はオンされる。その結果、補助昇圧回路
501内では昇圧段B1〜B3の3段で昇圧動作を行
う。
【0174】以上の結果、補助チャージポンプ回路50
および補助チャージポンプ用リミッタ回路51とが動作
を開始した後、所定時間経過後に補助昇圧回路501は
動作させる昇圧段数を4段から3段に減少させることが
できる。よって、消費電力の低減が可能となる。
【0175】[実施の形態3]実施の形態2では補助昇
圧回路内で動作させる昇圧段の数を時間によって変更し
たが、主チャージポンプから出力される昇圧電位の電位
レベルによって動作させる昇圧段の数を変更することも
できる。
【0176】図11は実施の形態3における補助チャー
ジポンプ回路と補助チャージポンプ用リミッタ回路との
概略構成を示すブロック図である。
【0177】補助チャージポンプ回路50内の構成は図
3に示した構成と同じであり、補助チャージポンプ回路
50は補助昇圧用クロック生成回路500と補助昇圧回
路501とを含む。ただし、補助昇圧回路501には昇
圧段数増加指示信号VWPP1の代わりに、後述する判
定回路520から出力される昇圧段数変更信号CPWT
2が入力される。
【0178】補助チャージポンプ用リミッタ回路51は
図3における判定回路511の代わりに判定回路520
が設置される。
【0179】図12は判定回路520の回路構成につい
て示した回路図である。図12を参照して、図5に示し
た判定回路511と比較して、新たに論理ゲートL21
が設置される。論理ゲートL21は判定信号CPWと図
18に示した主チャージポンプ用リミッタ回路13から
出力される判定信号CPWWとを受け、AND論理演算
結果を昇圧段数変更信号CPWT2として補助昇圧回路
501へ出力する。
【0180】その他の回路構成については図5と同じで
あるため、その説明は繰り返さない。
【0181】以上の回路構成を有する補助チャージポン
プ回路50および補助チャージポンプ用リミッタ回路5
1の動作について説明する。
【0182】いま、補助チャージポンプ回路50から出
力される供給電位VWDPの電位レベルが所定の電位レ
ベルに達していないと仮定する。このとき補助チャージ
ポンプ用リミッタ回路51はHレベルの判定信号CPW
を出力する。このとき、図18に示した主チャージポン
プ用リミッタ回路13から出力される判定信号CPWW
がHレベルのとき、すなわち、主チャージポンプ回路1
1から出力される昇圧電位VPPの電位レベルが所定の
電位レベルに達していないとき、判定回路520中の論
理ゲートL21から出力される昇圧段数変更信号CPW
T2はHレベルとなる。よって、補助昇圧回路501中
のトランジスタQP56およびQP57はオンされ、ト
ランジスタQP56はオフされる。その結果、補助昇圧
回路501内では昇圧段B1〜B4の4段で昇圧動作を
行う。
【0183】次に、判定信号CPWWがHレベルのと
き、すなわち、主チャージポンプ回路11から出力され
る昇圧電位VPPの電位レベルが所定の電位レベルに達
したとき、判定回路520中の論理ゲートL21から出
力される昇圧段数変更信号CPWT2はLレベルとな
る。よって、補助昇圧回路501中のトランジスタQP
56およびQP57はオフされ、トランジスタQP56
はオンされる。その結果、補助昇圧回路501内では昇
圧段B1〜B3の3段で昇圧動作を行う。
【0184】以上の結果、主チャージポンプ回路11か
ら出力される昇圧電位VPPが所定の電位レベルに達し
たとき、補助昇圧回路501は動作させる昇圧段数を4
段から3段に減少させることができる。よって、消費電
力の低減が可能となる。
【0185】[実施の形態4]図13は実施の形態4に
おける高電圧発生回路およびクロック発生回路の概略構
成を示すブロック図である。
【0186】図13を参照して、高電圧発生回路40は
チャージポンプ回路17とチャージポンプ用リミッタ回
路18とを含む。
【0187】チャージポンプ回路17の回路構成は図1
8に示した主チャージポンプ回路11と同じである。
【0188】また、チャージポンプ用リミッタ回路18
の回路構成は図18に示した主チャージポンプ用リミッ
タ回路13と同じであっても良いし、図2に示した補助
チャージポンプ用リミッタ回路51の回路構成と同じで
あっても良い。
【0189】チャージポンプ用リミッタ回路18は、チ
ャージポンプ回路17から出力される昇圧電位VPPを
受け、昇圧電位VPPが所定の電位レベルに達している
か否かを判定し、その結果を判定信号CPWDとして出
力する。チャージポンプ用リミッタ回路18は、昇圧電
位VPPが所定の電位レベルに達していないと判断した
ときは、判定信号CPWDをHレベルとする。また、昇
圧電位VPPが所定の電位レベルに達していると判定し
たときは、判定信号CPWDをLレベルとする。
【0190】高電圧発生回路40にはクロック発生回路
16から内部クロック信号int.CLKが入力され
る。
【0191】チャージポンプ回路17は判定信号CPW
DがHレベルのとき、内部クロック信号int.CLK
の周波数変化に従って電位レベルを昇圧し、昇圧電位V
PPを出力する。また、判定信号CPWDがLレベルの
とき、または、内部クロック信号int.CLKが常時
Lレベルのときはチャージポンプ回路17は昇圧動作を
行わない。
【0192】図14は図13に示したクロック発生回路
16の回路構成を示した回路図である。
【0193】図14を参照して、クロック発生回路16
はインバータIV161〜IV165と、論理ゲートL
161,L162とを含む。
【0194】論理ゲートL161とインバータIV16
1〜IV164とは直列に接続され、リングオシレータ
を構成する。論理ゲートL161は外部から入力される
シリアルクロック信号SCとインバータIV164の出
力信号とを受け、NAND論理演算結果を出力する。イ
ンバータIV161からIV164は、それぞれ受けた
信号を反転して出力する。
【0195】論理ゲートL162はインバータIV16
4の出力信号と、チャージポンプ用リミッタ回路18か
ら出力される判定信号CPWDとを受け、NAND論理
演算結果を出力する。インバータIV165は論理ゲー
トL162の出力信号を受け、反転して内部クロック信
号int.CLKとして出力する。
【0196】以上の回路構成を有する高電圧発生回路4
0の動作について説明する。チャージポンプ用リミッタ
回路18から出力される判定信号CPWDがHレベルで
ある場合、すなわち、昇圧電位VPPが所定の電位レベ
ルまで達していない場合は、クロック発生回路16内の
論理ゲートL162は、インバータIV164から出力
される信号にしたがってHレベル、Lレベルの信号を交
互に出力する。よって、インバータIV165から出力
される内部クロック信号int.CLKはHレベルとL
レベルを交互に繰り返す。
【0197】一方、チャージポンプ用リミッタ回路18
から出力される判定信号CPWDがLレベルとなったと
き、すなわち、昇圧電位VPPが所定の電位レベルに達
したときは、クロック発生信号内の論理ゲートL162
は常にHレベルの信号を出力する。よって、インバータ
IV165から出力される内部クロック信号int.C
LKは常にLレベルとなる。
【0198】よって、チャージポンプ回路17は動作を
停止する。その結果、昇圧電位VPPの電位レベルは昇
圧されない。
【0199】以上の動作により、昇圧電位VPPが所定
の電位レベルに達したとき、チャージポンプ回路の動作
を停止するだけでなく、クロック発生回路の動作も停止
することで消費電力の低減が可能となる。
【0200】[実施の形態5]実施の形態4では、一組
の高電圧発生回路とチャージポンプ用リミッタ回路とで
構成された場合の消費電力の低減について説明したが、
高電圧発生回路が複数存在する場合についても消費電力
の低減が可能である。
【0201】図15は実施の形態5における高電圧発生
回路とクロック発生回路との概略構成を示すブロック図
である。
【0202】図15を参照して、クロック発生回路16
5から出力された内部クロック信号int.CLKは複
数の高電圧発生回路401に入力される。
【0203】高電圧発生回路401はチャージポンプ回
路17とチャージポンプ用リミッタ回路18とを含む。
チャージポンプ用リミッタ回路18は判定信号CPWD
を出力する。
【0204】論理ゲートL167は、複数の高電圧発生
回路401から出力される判定信号CPWDの全てを受
け、NOR論理演算結果を信号CPWD3として出力す
る。
【0205】クロック発生回路165は、論理ゲートL
165,L166と、インバータIV165〜IV16
8とを含む。
【0206】論理ゲートL165は外部信号であるシリ
アルクロック信号SCと論理ゲートL166から出力さ
れる信号CPWD3とを受け、NAND論理演算結果を
出力する。
【0207】論理ゲートL166とインバータIV16
5〜IV168とは直列に接続され、リングオシレータ
を構成する。論理ゲートL166は論理ゲートL165
から出力される信号と、インバータIV168の出力信
号とを受け、そのNAND論理演算結果を出力する。イ
ンバータIV165〜IV168は受けた信号を反転し
て出力する。インバータIV168は反転した信号を内
部クロック信号int.CLKとして出力する。
【0208】以上の回路構成を有するクロック発生回路
165の動作について説明する。複数の高電圧発生回路
401から出力される判定信号CPWDのうちのいずれ
かがHレベルの場合、すなわち高電圧発生回路から出力
される昇圧電位VPPのうちのいずれかが所定の電位レ
ベルに達していない場合、論理ゲートL167から出力
される信号CPWD3はLレベルとなる。
【0209】よって、クロック発生回路165内の論理
ゲートL165はHレベルの信号を出力する。その結
果、クロック発生回路165から出力される内部クロッ
ク信号int.CLKはHレベルとLレベルを交互に繰
り返す。
【0210】次に、複数の高電圧発生回路401から出
力される判定信号CPWDの全てがLレベルの場合、す
なわち高電圧発生回路から出力される昇圧電位VPPの
全てが所定の電位レベルに達した場合、信号CPWD3
はHレベルとなる。
【0211】よって、クロック発生回路165内の論理
ゲートL165はLレベルの信号を出力する。その結
果、論理ゲートL166は常にHレベルの信号を出力
し、クロック発生回路165から出力される内部クロッ
ク信号int.CLKは常にLレベルとなる。
【0212】以上より、複数の高電圧発生回路401か
ら出力される昇圧電位が全て所定の電位レベルに達した
とき、クロック発生回路165の動作を停止する。よっ
て、消費電力の低減が可能となる。
【0213】[実施の形態6]図16は実施の形態6に
おける高電圧発生回路とクロック発生回路との概略構成
を示すブロック図である。
【0214】図16を参照して、クロック発生回路は内
部クロック信号int.CLKを発生させるためのベー
スとなる信号φA1〜φA4を出力するベースクロック
発生回路161と、信号φA1〜φA4に従って、周波
数の異なる複数の内部クロック信号int.CLK1〜
int.CLK4を発生するクロック分周回路162と
で構成される。
【0215】高電圧発生回路401はチャージポンプ回
路17およびチャージポンプ用リミッタ回路18とを含
む。また、クロック分周回路162から出力される内部
クロック信号int.CLK1を受ける高電圧発生回路
401は複数存在する。同様に、内部クロック信号in
t.CLK2,int.CLK3,int.CLK4を
受ける高電圧発生回路401は複数存在する。
【0216】複数の高電圧発生回路401内のチャージ
ポンプ用リミッタ回路18から出力された判定信号CP
WDは全て論理ゲートL163に入力される。
【0217】論理ゲートL163は複数の判定信号CP
WDを受け、OR論理演算結果を信号CPWD2として
クロック分周回路162に出力する。
【0218】クロック分周回路162はインバータIV
101〜IV109と、論理ゲートL101〜L108
とを含む。インバータIV101は信号φA1を受け反
転して伝達する。論理ゲートL101はインバータIV
101の出力信号と信号φA2とを受け、NAND論理
演算結果を出力する。インバータIV102は論理ゲー
トL101の出力信号を受け、反転して伝達する。論理
ゲートL102はインバータIV102の出力信号と論
理ゲートL163から出力された信号CPWD2とを受
け、NAND論理演算結果を出力する。インバータIV
103は論理ゲートL102の出力信号を受け、反転し
た信号を内部クロック信号int.CLK1として出力
する。
【0219】インバータIV106は信号φA3を受
け、反転して伝達する。論理ゲートL103は信号φA
2とインバータIV106とから出力される信号とを受
け、NAND論理演算結果を出力する。論理ゲートL1
04は論理ゲートL103の出力信号と論理ゲートL1
63の出力信号CPWD2とを受け、NAND論理演算
結果を出力する。インバータIV104は論理ゲートL
104の出力信号を受け、反転した信号を内部クロック
信号int.CLK2として出力する。
【0220】インバータIV107は信号φA4を受
け、反転して出力する。また、インバータIV108は
インバータIV107の出力信号を受け、反転して出力
する。論理ゲートL105は信号φA3とインバータI
V108の出力信号とを受け、NAND論理演算結果を
出力する。論理ゲートL106は論理ゲートL105の
出力信号と論理ゲートL163の出力信号CPWD2と
を受け、NAND論理演算結果を出力する。インバータ
IV105は論理ゲートL106の出力信号を受け、反
転した信号を内部クロック信号int.CLK3として
出力する。
【0221】論理ゲートL107は、インバータIV1
06の出力信号とインバータIV108の出力信号との
NAND論理演算結果を出力する。論理ゲートL108
は論理ゲートL107の出力信号と論理ゲートL163
の出力信号CPWD2とを受け、NAND論理演算結果
を出力する。インバータIV109は論理ゲートL10
8の出力信号を受け、反転した信号を内部クロック信号
int.CLK4として出力する。
【0222】以上の回路構成を有するクロック分周回路
の動作について説明する。高電圧発生回路401から出
力される複数の判定信号CPWDのいづれかがLレベル
のとき、論理ゲートL163から出力される信号はHレ
ベルとなる。よって、クロック分周回路162はベース
クロック発生回路101から出力される信号φA1〜φ
A4にしたがって、内部クロック信号int.CLK1
〜int.CLK4をそれぞれ出力する。
【0223】一方、高電圧発生回路401から出力され
る複数の判定信号CPWDの全てがLレベルのとき、す
なわち、全ての高電圧発生回路401から出力される昇
圧電位VPPの電位レベルを満たしたとき、論理ゲート
L163から出力される信号はLレベルとなる。よっ
て、クロック分周回路162内の論理ゲートL102,
L104,L106,L108から出力される信号は常
にHレベルとなる。その結果、クロック分周回路162
から出力される内部クロック信号int.CLK1〜i
nt.CLK4は全てLレベルとなる。
【0224】以上の結果、全ての高電圧発生回路401
から出力される昇圧電位VPPが所定の電位レベルを満
たしたとき、クロック分周回路162はその動作を停止
する。よって、消費電力の低減が可能となる。
【0225】[実施の形態7]図17は実施の形態7に
おける高電圧発生回路とクロック発生回路との概略構成
を示すブロック図である。
【0226】図17を参照して、クロック発生回路は内
部クロック信号int.CLKを発生させるためのベー
スとなる信号φA1〜φA4を出力するベースクロック
発生回路161と、信号φA1〜φA4に従って、周波
数の異なる複数の内部クロック信号int.CLK10
〜int.CLK13を発生するクロック分周回路17
0とで構成される。
【0227】高電圧発生回路401はチャージポンプ回
路17およびチャージポンプ用リミッタ回路18とを含
む。また、クロック分周回路170から出力される内部
クロック信号int.CLK10を受ける高電圧発生回
路401は複数存在する。同様に、内部クロック信号i
nt.CLK11,int.CLK12,int.CL
K13を受ける高電圧発生回路401は複数存在する。
【0228】内部クロック信号int.CLK10複数
の高電圧発生回路401から出力される判定信号CPW
Dは論理ゲートL171に入力される。論理ゲートL1
71は複数の判定信号CPWDを受け、OR論理演算結
果を信号CPWD10としてクロック分周回路170に
出力する。
【0229】クロック分周回路170はインバータIV
103〜IV105,IV109〜IV114と、論理
ゲートL101〜L108とを含む。インバータIV1
10は信号φA1を受け反転して伝達する。論理ゲート
L101はインバータIV110の出力信号と信号φA
2とを受け、NAND論理演算結果を出力する。インバ
ータIV111は論理ゲートL101の出力信号を受
け、反転して伝達する。論理ゲートL102はインバー
タIV111の出力信号と論理ゲートL171から出力
された信号CPWD10とを受け、NAND論理演算結
果を出力する。インバータIV103は論理ゲートL1
01の出力信号を受け、反転し、内部クロック信号in
t.CLK10として出力する。
【0230】インバータIV112は信号φA3を受
け、反転して伝達する。論理ゲートL103は信号φA
2とインバータIV112とから出力される信号とを受
け、NAND論理演算結果を出力する。論理ゲートL1
04は論理ゲートL103の出力信号と論理ゲートL1
72の出力信号CPWD11とを受け、NAND論理演
算結果を出力する。インバータIV104は論理ゲート
L104の出力信号を受け、反転し、内部クロック信号
int.CLK11として出力する。
【0231】インバータIV113は信号φA4を受
け、反転して出力する。また、インバータIV114は
インバータIV113の出力信号を受け、反転して出力
する。論理ゲートL105は信号φA3とインバータI
V114の出力信号とを受け、NAND論理演算結果を
出力する。論理ゲートL106は論理ゲートL105の
出力信号と論理ゲートL173の出力信号CPWD12
とを受け、NAND論理演算結果を出力する。インバー
タIV105は論理ゲートL106の出力信号を受け、
反転し、内部クロック信号int.CLK12として出
力する。
【0232】論理ゲートL107は、インバータIV1
12の出力信号とインバータIV114の出力信号との
NAND論理演算結果を出力する。論理ゲートL108
は論理ゲートL107の出力信号と論理ゲートL174
の出力信号CPWD13とを受け、NAND論理演算結
果を出力する。インバータIV109は論理ゲートL1
08の出力信号を受け、反転し、内部クロック信号in
t.CLK13として出力する。
【0233】以上の回路構成を有するクロック分周回路
の動作について説明する。初めに、クロック分周回路1
70から内部クロック信号int.CLK10を受ける
複数の高電圧発生回路401に注目する。
【0234】複数の判定信号CPWDのいづれかがHレ
ベルのとき、論理ゲートL170から出力される信号は
Hレベルとなる。よって、クロック分周回路170内の
論理ゲートL102から出力される内部クロック信号i
nt.CLK10はHレベルとLレベルを交互に繰り返
す。
【0235】複数の判定信号CPWDの全てがLレベル
のとき、すなわち、内部クロック信号int.CLK1
0を受ける高電圧発生回路401から出力される昇圧電
位VPPの電位レベルが全て所定の電位レベルを満たし
たとき、論理ゲートL171から出力される信号はLレ
ベルとなる。よって、クロック分周回路162内の論理
ゲートL102から出力される内部クロック信号in
t.CLK10は常にLレベルとなる。
【0236】以上の結果、内部クロック信号int.C
LK10を受ける複数の高電圧発生回路401におい
て、昇圧電位VPPの電位レベルが全て所定の電位レベ
ルに達したとき、クロック分周回路170は内部クロッ
ク信号int.CLK10の出力を停止する。
【0237】内部クロック信号int.CLK11を受
ける複数の高電圧発生回路401の場合についても同様
であり、内部クロック信号int.CLK12,in
t.CLK13を受ける複数の高電圧発生回路401に
ついても同様の動作となるため、その説明は繰り返さな
い。
【0238】以上の結果、異なる内部クロック信号を受
ける複数の高電圧回路において、同じ内部クロック信号
を受ける複数の高電圧発生回路群から出力される昇圧電
位が全て所定の電位レベルとなったときに、クロック分
周回路はその内部クロック信号の発生を停止する。よっ
て、消費電力の低減が可能となる。さらに、同一内部ク
ロック信号を受ける高電圧発生回路群ごとに内部クロッ
ク信号の発生を停止することができる。
【0239】今回開示された実施の形態はすべての点で
例示であって制限的なものではないと解釈されるべきで
ある。本発明の範囲は上述した実施の形態ではなく特許
請求の範囲によって定められ、特許請求の範囲と均等の
意味およびその範囲内でのすべての変更が含まれること
を意図するものである。
【0240】
【発明の効果】以上、高電圧発生回路において、補助チ
ャージポンプ内で動作させる昇圧段数を変更する。その
結果、主チャージポンプから出力される昇圧電位の昇圧
速度を増加させることが可能となる。
【0241】また、昇圧電位の電位レベルが所定の電位
レベルに近づいたとき、補助チャージポンプ内で動作さ
せる昇圧段数を減らす。その結果、消費電力の低減が可
能となる。
【0242】さらに、昇圧電位の電位レベルが所定の電
位レベルに達したとき、クロック発生回路の動作を停止
する。その結果、更なる消費電力の低減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の実施の形態1における半導体集積
回路装置の構成を示した概略ブロック図である。
【図2】 この発明の実施の形態1における高電圧発生
回路の構成を示す概略ブロック図である。
【図3】 図2に示した補助チャージポンプ回路50と
補助チャージポンプ用リミッタ回路51の回路構成を示
したブロック図である。
【図4】 図3に示した被判定信号出力回路510の回
路構成を示す回路図である。
【図5】 図3に示した判定回路511の回路構成を示
す回路図である。
【図6】 図3に示した補助昇圧用クロック生成回路5
00の回路構成を示した回路図である。
【図7】 図3に示した補助昇圧回路501の回路構成
を示した回路図である。
【図8】 実施の形態2における補助チャージポンプ回
路50と補助チャージポンプ用リミッタ回路51との概
略構成を示すブロック図である。
【図9】 図8に示したタイマ回路513の回路構成を
示す回路図である。
【図10】 図8に示した判定回路512の回路構成を
示す回路図である。
【図11】 実施の形態3における補助チャージポンプ
回路と補助チャージポンプ用リミッタ回路との概略構成
を示すブロック図である。
【図12】 判定回路520の回路構成について示した
回路図である。
【図13】 実施の形態4における高電圧発生回路およ
びクロック発生回路の概略構成を示すブロック図であ
る。
【図14】 図13に示したクロック発生回路16の回
路構成を示した回路図である。
【図15】 実施の形態5における高電圧発生回路とク
ロック発生回路との概略構成を示すブロック図である。
【図16】 実施の形態6における高電圧発生回路とク
ロック発生回路との概略構成を示すブロック図である。
【図17】 実施の形態7における高電圧発生回路とク
ロック発生回路との概略構成を示すブロック図である。
【図18】 従来の半導体集積回路装置内の高電圧発生
回路の構成を示す概略ブロック図である。
【符号の説明】
1 半導体集積回路装置、10 高電圧発生回路、11
主チャージポンプ回路、12,50 補助チャージポ
ンプ回路、13 主チャージポンプ用リミッタ回路、1
4,51 補助チャージポンプ用リミッタ回路、15
クロック発生回路、16 クロック発生回路、17 チ
ャージポンプ回路、18 チャージポンプ用リミッタ回
路、20 メモリセルアレイ、21 Xデコーダ、22
Yデコーダ、23 データレジスタ、24 Yゲー
ト、25 アドレスバッファ、26書込データ入力ドラ
イバ、27 読出データ出力アンプ、28 アドレスカ
ウンタ、29 データ出力バッファ、30 アドレス/
データ入力バッファ、31OEバッファ、32 CEバ
ッファ、33 WEバッファ、34 RESバッファ、
35 ctcバッファ、36 SCバッファ、37 コ
マンドデコーダ、38 制御回路、39 基準電位発生
回路、40,41,401高電圧発生回路、101,1
61 ベースクロック発生回路、162,170 クロ
ック分周回路、165 クロック発生回路、500 補
助昇圧用クロック生成回路、501補助昇圧回路、50
2 昇圧段数調整回路、510 被判定信号出力回路、
511,512,520 判定回路、513 タイマ回
路、514 電流バイアス回路、515 リングオシレ
ータ、516 バッファ回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B025 AD04 AD10 AE05 AE06 5F038 BG03 BG05 BG06 CD08 DF05 DF06 DF08 EZ20 5H730 BB02 DD04 DD12

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部電位レベルを昇圧する昇圧手段を有
    する半導体集積回路装置であって、 前記昇圧手段は、 内部電位レベルを昇圧する第1の昇圧回路と、 前記第1の昇圧回路へ供給する供給電位レベルを昇圧す
    る第2の昇圧回路とを含み、 前記第2の昇圧回路は、 前記供給電位レベルを昇圧するための複数の昇圧段と、 動作させる前記昇圧段の数を変更する昇圧制御手段とを
    含む、半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記昇圧制御手段は、前記第1の昇圧回
    路が活性化した後所定の時間経過後に、前記動作させる
    昇圧段の数を変更する、請求項1に記載の半導体集積回
    路装置。
  3. 【請求項3】 前記昇圧制御手段は、タイマー回路を含
    み、 前記タイマー回路は、前記昇圧手段の活性化信号を受信
    後、時間の測定を行う、請求項2に記載の半導体集積回
    路装置。
  4. 【請求項4】 前記半導体集積回路装置はさらに、前記
    昇圧手段により昇圧された内部電位レベルが所定の電位
    レベルとなっているか否かを判定する判定手段を含み、 前記昇圧制御手段は、前記判定手段の判定結果に応答し
    て、動作させる前記昇圧段の数を変更する、請求項1に
    記載の半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 内部電位レベルを昇圧させる昇圧手段
    と、 前記昇圧手段により昇圧された内部電位レベルが所定の
    電位レベルとなっているか否かを判定する判定手段と外
    部信号を受け、内部クロック信号を発生するクロック発
    生手段とを含み、 前記内部電位レベルが所定の電位レベルになっていると
    前記判定手段が判定したときに、前記クロック発生手段
    は前記内部クロック信号の発生を停止する、半導体集積
    回路装置。
  6. 【請求項6】 前記半導体集積回路装置は、複数の前記
    昇圧手段と、前記各昇圧手段ごとに設置された前記複数
    の判定手段とを含み、 前記各昇圧手段で昇圧された電位レベルが所定の電位レ
    ベルになっていると前記各判定手段のすべてが判定した
    ときに、前記クロック発生手段は前記内部クロック信号
    の発生を停止する、請求項5に記載の半導体集積回路装
    置。
  7. 【請求項7】 前記クロック発生手段は、外部信号によ
    り生成される活性化信号を受けて動作を開始し、 前記各昇圧手段で昇圧された電位レベルが所定の電位レ
    ベルになっていると前記各判定手段のすべてが判定した
    ときに、前記活性化信号を無効化する、請求項6に記載
    の半導体集積回路装置。
  8. 【請求項8】 前記クロック発生手段は、 前記クロック信号の周波数を変更する複数のクロック分
    周手段を含み、 同じ周波数の前記クロック信号を受ける前記複数の昇圧
    手段で昇圧された電位レベルがすべて所定の電位レベル
    になったときに、前記クロック分周手段は前記活性化信
    号を無効化する、請求項7に記載の半導体集積回路装
    置。
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