JP2002535134A - ビーズ採取装置および方法 - Google Patents

ビーズ採取装置および方法

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JP2002535134A JP2000595780A JP2000595780A JP2002535134A JP 2002535134 A JP2002535134 A JP 2002535134A JP 2000595780 A JP2000595780 A JP 2000595780A JP 2000595780 A JP2000595780 A JP 2000595780A JP 2002535134 A JP2002535134 A JP 2002535134A
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ガイセン、エイチ・マリオ
ネルソン、ジェームス・シー
バックナー、チャールズ・エー
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Glaxo Group Ltd
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Abstract

(57)【要約】 本発明は、代表的なシステム(36)および固相支持体を処理するための方法(14、34)を提供する。1つのシステムによれば、遠位端(18、26)および遠位端(18、26)で終わる内腔を有するプローブ(16、24、66)が提供される。輸送機構は、プローブ(16、24、66)の遠位端(18、26)を流体の中に保持されている複数の固相支持体(14、34)を有するウエル(10、118)に配置するのに適している。検出機構(20、22、28、30)は、遠位端(18、26)が流体の中にある間に、遠位端(18、26)における1つの固相支持体(14、34)の存在または不存在を検出するために提供される。測定システム(28、30、100、102)は、付着した固相支持体(18、26)の一般的なサイズを測定するために提供される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 発明の背景 本発明は一般的にコンビナトリアルケミストリーの分野に関し、特に、ビーズ
のような固相支持体(solid support)に合成されるケミカルライ
ブラリーに関する。特に、本発明は、個体基準でのそのような固相支持体の処理
に関する。
【0002】 コンビナトリアルケミカルライブラリーの使用は、薬物の発見プロセスの重要
な部分となった。さまざまの技術がそのようなライブラリーを作り出すために提
案されてきた。本発明について特に関心のもたれることは、固相支持体上で合成
される化合物の大きなライブラリーを作るために用いられるスプリットとリコン
バインの技術である。この技術は、一般的に、1998年6月26日に出願され
たともに係属する米国特許出願シリアル番号第09/091,954号(内部記
録番号PU3077)において記載され、その完全な開示は、参照により本明細
書に組み込まれる。合成の間、一般的に、H.マリオ・ギーセン、「コンビナト
リアルライブラリーのアイソトープまたは質量暗号化」、ケミストリー&バイオ
ロジー、1996年8月、3:679〜688およびD.S.ワグナーら、「製
薬学的研究における安定なアイソトープによるコンビナトリアルライブラリーの
比暗号化およびその有用性」、コンビナトリアルケミストリー&ハイスループッ
トスクリーニング、1998年、1、143〜153において記載されているよ
うなさまざまな暗号化スキームが利用され得る。それらの参照文献の完全な開示
は、参照により本明細書に組み込まれる。
【0003】 固相支持体上に化学物質を合成することの1つの利点は、固相支持体が合成さ
れた化学物質の動きを容易にする輸送機構として機能することである。固相支持
体には、典型的には、約90μmから約250μm台のサイズを有する球状ビー
ズが含まれる。1つの代表的なタイプのビーズは、わずかに架橋したポリスチレ
ンまたはポリエチレンオキシドグラフト化樹脂を含む樹脂ビーズである。ビーズ
が互いに粘着することを防ぐために、ビーズは典型的には、流体を収容するウエ
ルの中に貯蔵される。下記のように、ビーズが互いに分離し、他の位置に移動す
る必要のある多くの状況が存在する。
【0004】 例えば、合成プロセスの間、作り出されるライブラリーの品質を評価すること
がしばしば望ましい。そうするために、ライブラリーからサンプリングされるビ
ーズが取り出され、分析される。好ましくは、個々のビーズは、開裂(clea
vage)が行われ、開裂した化合物がマススペクトロメトリーを用いて分析さ
れるようにビーズのプールから取り出される。
【0005】 合成後、ビーズ上の化合物もまた分析される。このことは、例えば、ビーズの
プールから化合物の混合物を開裂させることにより達成され得る。ついで、それ
ぞれの混合物はスクリーニングされる。もしヒット(hit)が混合物中に見出
されるならば、ビーズのプールは単独のビーズとして列挙(array)されね
ばならず、解読されねばならない。
【0006】 単独のビーズとしてプールを列挙するとき、それぞれのビーズは、ウエルから
個別に取り出され、目的のウエルに移される。結果を最適化するために、それぞ
れの目的のウエルは唯一のビーズを受け入れ、すべてのビーズはビーズのプール
から取り出されることを保証する必要が存在する。さもないと、より多くの供給
源が、解読プロセスの間に必要とされるかもしれない。また、ビーズが目的のウ
エルの中に配置されたかどうかについて不確定性が存在するならば、価値のある
情報が移動の間に失われたかどうかについて不確定性が存在し得る。
【0007】 ビーズがウエルの間を移動するとき、移動するビーズのサイズを知る必要もま
た存在し得る。例えば、ときどき、ビーズは、単に部分的なビーズであり得る。
他の場合において、1以上のビーズが移動するビーズに粘着し得る。そのような
ことが起こるのは、解読プロセスに不利に影響し得る。
【0008】 固相支持体を輸送するためのすでに提案された技術には、顕微鏡と1本のピン
セットまたは固相支持体を引き付けるために観察者により吸引されるガラスキャ
ピラリーの使用が含まれる。そのような、それらの先行技術の手動のプロセスは
、容易でなく、労働集約的であり、遅く、そして採取ミスをする傾向がある。実
際、そのような手動の方法は、あまりに非効率で採取ミスをしやすいので、それ
は、今日の巨大なコンビナトリアルライブラリーにとっては実際的には有用でな
い。
【0009】 したがって、固相支持体を処理するための従来技術に関連する問題を克服し、
または大きく減少させるであろうシステムと方法を提供することが望ましいであ
ろう。特に、個体基準で合成プロセスに続いて固相支持体を効率的に処理するた
めのシステムおよび方法を提供することが望ましいであろう。そのシステムと方
法は、一般的に、単独のビーズが実際にそれぞれの場合に移動し、単独のビーズ
のみを移動させることを意図することを保証するべきである。システムおよび方
法はまた、部分的なビーズか集合したビーズかについて確認もすべきである。最
後に、システムおよび方法は、多量のビーズを処理するのに必要な時間を最小化
するように効率的であるべきである。
【0010】 発明の概要 本発明は、固相支持体を処理するための代表的なシステムおよび方法を提供す
る。1つの代表的な態様において、システムは、遠位端および遠位端で終わる内
腔を有するプローブを含む。輸送機構は、流体の中に保持される複数の固相支持
体を有するウエルにプローブの遠位端を配置するように設けられる。検出機構も
また、遠位端が流体の中にある間に遠位端で固相支持体の1つの存在または不存
在を検出するように設けられる。さらに、システムは、付着した固相支持体の一
般的なサイズを測定するために用いられる測定システムを含む。
【0011】 そのようなシステムは、検出機構がウエルからすべての固相支持体を取り出す
、すなわち、本質的に100%の正確さで完全に空になるまで採取する有効な方
法を提供することにおいて特に有益である。重要なことに、検出機構は、遠位端
が流体の中にある間、固相支持体の存在または不存在を検出するように配置され
る。この方式においては、プローブは、固相支持体が移動しているかどうかを調
べるためにウエルから取り出される必要はない。このように、空になるまで採取
するのに必要とされる時間は、大きく減少し、それにより、処理量を有意に増加
させる。
【0012】 測定システムは、固相支持体がプローブの遠位端に付着しているままであるか
どうかを決定(determine)する上で2回目の確認を与えるという点で
有益である。さらに、測定システムは、固相支持体が単に部分的なビーズである
か、または、1以上のビーズが移動するビーズに付着しているかを決定するため
に固相支持体のサイズを測定することが可能である。この方式において、(部分
的なビーズまたは複数のビーズではなく)単に単独のビーズがウエルに移動する
ことを保証する方法が提供される。
【0013】 1つの特定の側面において、検出機構は、プローブの遠位端を通るように電流
を通過させるように配置される1対の電極を含む。検出機構はまた、電極の間を
通過する電流の変化を測定するための回路も含む。この方式において、検出機構
は、ビーズが遠位端に付着するとき、より低い電流レベルを検出することが可能
である。もう1つの側面において、測定システムは、好ましくは、1対の離間し
た光ファイバーを含む。光ファイバーの1本は、光線を作り出し、その光線は、
他の光ファイバーにより集められる。光線は、プローブの遠位端が輸送機構によ
りウエルから取り出されてのち固相支持体により少なくとも部分的に遮断される
。測定システムは、光の遮断を検出することが可能であり、固相支持体の一般的
なサイズを定量するためにこの値を定量することが可能である。
【0014】 さらにもう1つの特定の側面において、システムは、好ましくはまた、プロー
ブの遠位端にビーズを引き付けるためにウエルから内腔に、ある体積の流体を引
き出すために用いられるポンプも含む。好ましくは、ポンプには、プローブの末
端に固相支持体を保持する吸引力を維持するシリンジポンプが含まれる。ポンプ
は、好ましくはまた、付着した固相支持体を吐き出すために内腔から流体を排出
するようにも作られている。
【0015】 もう1つの特定の側面において、輸送機構は好ましくは、垂直z軸に沿ってプ
ローブを動かすように作られている。便利には、輸送機構はまた、水平x軸に沿
ってプローブを動かすようにも作られ得る。好ましくは、ステージが、水平y軸
に沿ってウエルを保持し、ウエルを動かすようにさらに設けられる。この方式に
おいて、輸送機構は、ステージ上に配置される複数のウエルの1つに挿入され得
るようにプローブをさまざまの位置に動かすことを可能とする3次元の動きを提
供する。便利には、1以上の保持機構がウエルを保持するために提供され得る。
保持機構は、プローブに対するウエルの配置を容易にするようにステージに取着
可能である。
【0016】 もう1つの側面において、システムは、好ましくはまた、輸送機構、検出機構
および測定システムの操作を制御するように処理する1以上のプロセッサーをも
含む。プロセッサーはまた、ポンプの操作を制御するようにも処理しうる。この
方式において、固相支持体の処理は、完全に自動化された方式で進行し得る。
【0017】 本発明はさらに、固相支持体を処理するための代表的な方法を提供する。その
方法によれば、複数の固相支持体が提供され、流体を収容するウエルの中に配置
される。プローブはウエルに挿入され、プローブは、遠位端および遠位端で終わ
る内腔を有する。プローブの遠位端が流体の中にある間、ある体積の流体がウエ
ルから内腔に吸引される。そのとき、遠位端における1つの固相支持体の存在ま
たは不存在は、遠位端が流体の中にある間に検出される。もし固相支持体の不存
在が検出されるならば、1つの固相支持体の存在が検出されるまでまたは検出さ
れない場合には所定回数吸引工程が反復されるまで吸引工程が反復される。一旦
遠位端で固相支持体の存在が検出されると、固相支持体が別の位置に移動するよ
うにプローブはウエルから取り出される。
【0018】 そのような方法は、プローブの遠位端における1つの固相支持体の存在または
不存在が、プローブが流体の中にある間に検出され得るときに有利である。もし
固相支持体が検出されないならば、吸引工程は、固相支持体が検出されるまで単
純に反復され得る。この方式において、空になるまで固相支持体を採取するため
に必要とされる時間は大きく減少する。さらに、プローブが取り出されるとき固
相支持体が実際にウエルから取り出されることを保証する方法が提供される。
【0019】 1つの特に好ましい側面において、固相支持体のサイズは、固相支持体がプロ
ーブの遠位端に付着している間に測定される。固相支持体の測定は、好ましくは
、光線の経路に固相支持体を配置し、固相支持体により引き起こされる光の通過
の変化を測定することにより達成される。この方式において、プローブがウエル
から取り出された後(または洗浄ステーションのような別のウエルから取り出さ
れた後)、固相支持体がプローブに付着したままであることを保証する2次確認
が提供される。さらに、光の通過の変化を検出することにより、ビーズの相対的
なサイズは、ビーズが単に部分的なビーズであるかまたは1以上のビーズが移動
するビーズに付着しているかどうかを評価するように定量されうる。
【0020】 好ましくは、検出過程は、流体として導電性媒体を利用することにより達成さ
れる。この構成で、電流は、好ましくは、プローブの遠位端を通過し、電流は、
電流の量の変化を検出するためにずっと測定される。もし電流の変化が検出され
るならば、そのような変化は、固相支持体がプローブの遠位端に引き付けられた
ことを示し、それにより、プローブを通過する電流の量が減少する。
【0021】 もう1つの特定の側面において、吸入ステップを反復する前に、好ましくは一
定量の流体が、内腔からウエルに排出される。好ましくは、排出される流体の体
積と吸入される流体の体積は、実質的に等しい。このようにして、プローブは、
電流が流体を通過し、すでに記載されたように遠位端における固相支持体の検出
を可能とするように遠位端を通り過ぎるように準備されたままである(rema
in primed)。
【0022】 もう1つの特定の側面において、固相支持体は、約1μmから約1000μm
、より好ましくは約90μmから約250μmの範囲のサイズを有する一般的に
球状のビーズを含む。もう1つの側面において、固相支持体を有するプローブの
遠位端は、洗浄溶液を有する別のウエルに配置される。ついで、遠位端は、洗浄
溶液から取り出され、プローブの遠位端は、固相支持体が遠位端についたままで
あるかどうかを調べるために検知される。このようにして、固相支持体が洗浄過
程の間に分離しないことを保証するように確認がなされる。別過程において、固
相支持体を有するプローブの遠位端は目的のウエルに配置され、流体は、目的の
ウエルに固相支持体を吐き出すように内腔から排出される。この過程に続いて、
遠位端は目的のウエルから取り出され、遠位端は、固相支持体が目的のウエルに
うまく吐き出されたかどうかを調べるために検知される。
【0023】 好ましい態様の記載 本発明は、固相支持体を処理するための代表的なシステムおよび方法を提供す
る。好ましくは、固相支持体は、背景の記載の部分ですでに記載されているよう
にそこで合成される化合物を有する。固相支持体には、好ましくは、当該技術に
おいて公知である化合物が合成されたビーズが含まれる。本発明のシステムおよ
び方法では、限定されないが、ノバ・バイオケムおよびラップ・ポリメーレGm
bHのような供給者から商業的に入手可能なわずかに架橋したポリスチレン(メ
リフィールド樹脂)またはポリエチレンオキサイドグラフト化メリフィールド樹
脂(テンタ・ゲル樹脂)を含む球状樹脂ビーズを含む本質的にいずれのタイプの
商業的に入手可能なビーズでも用いられ得る。典型的には、球状樹脂ビーズは、
約1μmから約1000μm、より好ましくは、約90μmから約250μmの
範囲の直径を有する。
【0024】 本発明は、スプリット・アンド・リコンバイン(split and rec
ombine)法を用いてコンビナトリアルケミカルライブラリーが合成された
固相支持体の処理において大きな有用性を見出す。しかしながら、そのシステム
と方法は、1つの位置からもう1つの位置へ動かされる必要のある本質的にいず
れのタイプの固相支持体でも利用され得ることが理解されるであろう。スプリッ
ト・アンド・リコンバイン技術を用いて構築されたケミカルライブラリーと関連
して利用されるとき、本発明のシステムおよび方法は、アッセイが固相支持体上
で実施される前および本明細書で以後より詳細に記載されるアッセイが実施され
た後の両方で固相支持体を処理するために用いられ得る。
【0025】 本発明のシステムおよび方法の1つの重要な特徴は、それが、プローブが固相
支持体のプールを保持するウエルの中にある間にプローブの遠位端における固相
支持体の存在または不存在を検出することが可能であることである。この方式に
おいて、プローブがウエルから取り出されるとき固相支持体が実際にウエルから
取り出されることを保証する方法が提供される。このように、本発明のシステム
および方法は、100%効率の採取、すなわち、空になるまでの採取を容易にす
る。重要なことに、ビーズの検出は、プローブが流体の中にある間に達成される
。この技術は、処理量が大きく高められるように極めて効率的である。そのよう
な処理量は、極端に大きくなり得る、すなわち、数万個台のビーズの今日の現代
的コンビナトリアルライブラリーにとって必要である。
【0026】 ビーズがプローブが取り出されるそれぞれのときにウエルから取り出されるこ
とを保証することにより、そして、ビーズが空になるまで採取されることを保証
することにより、一般的に、それぞれの目的のウエルが唯一のビーズを有するよ
うに保証され得る。この方法で、解読プロセスの正確さは大きく向上する。さら
に、化合物を解読するために必要とされる供給源がより少なくてすむ。
【0027】 本発明のシステムおよび方法はまた、プローブに付着する固相支持体の一般的
なサイズも測定する。この測定過程は、固相支持体が実際にウエルから取り出さ
れたことを確認する2次確認として役割を果たし得る。さらに、ビーズのサイズ
の測定は、単に部分的なビーズが取り出されたか、または1以上のビーズが移動
するビーズに粘着していたかの定量を可能とする。この方式で、それぞれの目的
のウエルが唯一で損なわれていないビーズを受け取ることを保証する方法が提供
される。
【0028】 ここで図1A〜Cを参照すると、ビーズがウエルの中にある間にビーズの存在
または不存在を検出するための1つの代表的な構成が模式的に記載されている。
図1A〜Cにおいて示されているのは、導電性媒体12で満たされているウエル
10である。媒体12の中に分布しているのは複数のビーズ14である。ウエル
10の中に位置しているのは、遠位端18を有するプローブ16である。示され
ていないけれども、内腔はプローブ16の長さに伸び、遠位端18で終わる。内
腔のサイズは、吸引力が遠位端18にビーズを引き付けるために用いられるとき
、ビーズが遠位端18に当接して保持されるようにビーズ14の外径より小さい
。さらに、プローブ16は1対の電極20および22を含み、それらは、プロー
ブ16の中の内腔が導電性媒体で満たされ、(およびプローブ16が図1Aにお
いて示されているように媒体12に挿入されているとき、)導電経路が電極20
と22との間に与えられるように取り付けられる。特に、電流は内腔と遠位端1
8を通過し、そこでは電流は媒体12を通って電極22に通過する。
【0029】 そのような構成で、遠位端18におけるビーズ14の1つの存在または不存在
が、電極20と22および媒体12により形成される電気回路における電流の変
化を測定することにより検出され得る。特に、もし電気回路の中の電流が減少す
るならば、これは、ビーズが遠位端18に付着し、そのことが電極20と22と
の間の電気の流れを遮断していることの指標である。
【0030】 図1A〜Cの検出スキームは、シークエンサー(sequencer)溶液と
非シークエンサー(non−sequencer)溶液の両方を含む本質的にい
ずれのタイプの導電性媒体でも用いられ得る。特に好ましいタイプの導電性媒体
には、NH4 OAc、NaClなどが含まれる。代表的な導電性媒体および導電
についての基準は、一般的に、フィリップ H.リーガー、「電気化学」、プレ
ンティス・ホール,Inc.、1987年において記載されており、その完全な
開示は、参照により本明細書に組み込まれている。導電媒体性12は、好ましく
は、ウエルの側面へのビーズの凝集および付着を最小にするように選択される。
【0031】 遠位端18にビーズ14を引き付けるために、プローブ20は、図1のBにお
いて示されるように、ビーズ14の周辺に動く。ついで、(図示されていない)
ポンプが、ウエル10からプローブ16の内腔に媒体14を吸引するように用い
られる。そのようにして、ビーズ14の1つが遠位端18に引かれる。吸引圧力
は、プローブ16が(図1のCにおいて示されるように)ウエル10から取り出
されるように維持され、ビーズ14は付着したままである。すでに記載されたよ
うに、電極20および22は、プローブ16が引き出される前にビーズが付着し
たかどうかを検出するために用いられる。
【0032】 ある体積の媒体が吸引され、電極20および22が遠位端18へのビーズの付
着を検出し得ない場合に、吸引された媒体の体積に本質的に等しい体積の媒体は
、ウエル10に吐き戻される。この方式において、プローブ16の中の内腔は、
導電性媒体について準備されたままであり得る。さらに、その体積の媒体が出さ
れるとき、ビーズ14を攪拌する乱流がウエル10の底部に作り出される。つい
で、別の体積の導電性媒体12が吸引され、電極20と22が、ビーズが遠位端
18にうまく引き付けられたかどうかを検出するために用いられる。このプロセ
スは、ビーズがうまくひきつけられるまで必要なだけの回数反復され得る。好ま
しくは、試行のしきい値は、プロセスがエンドレスに反復されないようにあらか
じめ決められている。しきい値は、好ましくは、しきい値に達したならばビーズ
がウエル10の中にとどまらないことの合理的な程度の確実性を与えるのに十分
に大きくなるように選択される。この方式において、ユーザーは、ビーズが空に
なるまで採取されることを確実にし得る。単に例として、50付近のしきい値が
設定され得る。もしこのしきい値に達するならば、ビーズはウエルの中にとどま
らないとみなされる。
【0033】 プローブ16が媒体12の中にある間の遠位端18におけるビーズの存在また
は不存在の検出は、そのことがビーズの存在または不存在を測定するのに必要と
される時間を減少させるという点において特に有益である。この方式において、
排出および吸入過程は、ビーズ14をひきつけることを試みるためにすばやく反
復され得る。理解されうるように、ウエル16の中のビーズの数が数としてより
小さくなると、ビーズの1つをうまくひきつける機会も減少する。したがって、
ウエルの中のビーズの数が減少すると、ビーズをうまくひきつけるために必要と
される回数はより多くなるであろう。ビーズの存在または不存在について検出す
る間にウエル10の中に遠位端18を維持することにより、処理量は大きく増加
する。
【0034】 ここで図2を参照すると、導電度測定を用いての遠位端18におけるビーズの
検出がより詳細に記載される。ビーズの存在または不存在を測定するために、導
電度測定が吸入の前後両方に遠位端18において内腔を通してなされ、差が計算
される。図2は、多数のビーズが単独のウエルの中に含まれていた場合の単独の
プロセスから得られた差分の値のグラフである。しきい値未満の値は、失敗であ
る、すなわち、ビーズはうまく引き付けられなかったとみなされる。しきい値を
超える値は成功である、すなわち、ビーズがうまく引き付けられたとみなされた
。すでに記載されたように、もしビーズが検出されなければ、そのときは、プロ
ーブ16は、その位置にとどまり、吸入された体積の媒体が排出される。好まし
くは、吸入される媒体の体積は、約2マイクロリットルから約5マイクロリット
ルの範囲にある。この吸入体積は好ましい。というのは、遠位端18とビーズ表
面との間の適切な吸引力を維持するのに十分であるからである。好ましくは、排
出と吸入のプロセスは、ビーズが検出されるか不検出の場合の最大回数(def
ault maximum)に達するまで分あたり約20から30サイクル反復
される。
【0035】 遠位端18におけるビーズの検出が導電度測定と関連して記載されてきたけれ
ども、導電性媒体の使用を必要としない他のタイプの検出スキームも用いられ得
ることが理解されるであろう。便利には、そのような別の検出スキームは、導電
度測定と同様な方式で遠位端18を通して測定を行うことによりビーズの存在ま
たは不存在を検出し得る。1例として、LEDを有するレーザーは、プローブ1
6の中に配置され、遠位端18を通してシグナルを送るようにパルス化されうる
。ついで、リターンシグナルが測定され、ビーズが遠位端18における開口をふ
さぐかどうかを調べるために評価される。もう1つの別態様として、光ファイバ
ーがプローブ16の中に配置され、遠位端18における開口を通過する光を捉え
るために用いられ得る。ついでウエル10の低部末端にレーザーが配置され、ウ
エルを通ってプローブ16の内腔に光線を送るために用いられる。もしビーズが
うまく遠位端18にひきつけられるならば、光の通路はさえぎられ、ビーズがう
まく引き付けられたことを示す。
【0036】 図3AおよびBにおいて示されるように、本発明はまた、好ましくは、ビーズ
がウエルから取り出された後、ビーズのサイズの測定値をも提供する。図3Aお
よびBにおいて模式的に示されているのは、遠位端26を有するプローブ24で
ある。図3AおよびBにおいて示されるように、プローブ24はあらかじめ決め
られた対照位置にある。プローブ24は、プローブ24が上下に動くとき2つの
光ファイバーセンサー28と30との間を通過するように取り付けられる。光線
32は、2つのセンサー28と30との間を通り、それらは通過した光の変化に
応答する。プローブ24が対照位置にあり、(図3のAにおいて示されているよ
うに)ビーズが遠位端26に付着していないとき、そのときは、通過した光の変
化は検出されない。このようにして、ビーズは遠位端26に付着していないとみ
なされ得る。しかしながら、もしビーズ34が遠位端26に付着し、プローブ2
4が図3のBにおいて示されるように対照位置に存在するならば、そのときは、
光の変化はセンサー28と30により検出されるであろう。
【0037】 図4において示されるように、センサー28と30から得られたシグナルは、
ビーズ34の直径に反比例する。したがって、空の遠位端26についてビーズ3
2を較正することにより、遠位端26におけるビーズの一般的なサイズが定量さ
れうる。さらに、センサー28と30もまたビーズの存在または不存在を確かめ
るために用いられ得る。
【0038】 図5において示されるように、センサー28と30もまた部分的なビーズが引
き付けられたかどうか、または1以上のビーズが遠位端26に引き付けられたか
どうかを調べるために用いられ得る。図5においては、そのときのビーズが単に
部分的なビーズかまたは複数のビーズであるかについての定量を可能とするため
に、プロセスの間のビーズ直径の操作中の平均および偏差をそのときのビーズ直
径と比較する。図5において、単独のプロセスから得られる光学値ならびに操作
平均および範囲が示される。低いしきい値未満の値が2つがついたビーズとみな
される。高いしきい値を超える値が部分的なビーズであるとみなされる。
【0039】 光学センサーを用いることの1つの特別の利点は、それがプローブ24につい
て水平に動くように取り付けられ得るということである。この方式において、プ
ローブ24の水平位置に関係なく、プローブ24が光線32を通って動くそれぞ
れのときに、ビーズが遠位端26に付着したままであるかどうかを評価するため
に確認がなされ得る。例えば、もしビーズが洗浄ステーションに動くならば、ビ
ーズが洗浄の間に除去されなかったことを保証するためにプローブが洗浄ステー
ションから取り出されてのちに評価がなされ得る。別の例として、別のウエルに
ビーズを分配することが所望されるとき、ビーズがうまく分配されたかどうかを
測定するために評価がなされ得る。
【0040】 ここで図6を参照すると、固相支持体を処理するためのシステム36の代表的
な態様が記載されている。システム36は、ステージ40とヘッド42を有する
プラットフォーム38を具備する。ステージ40はy軸に沿って動くように作ら
れており、一方、ヘッド42は、x軸(ページの内外方向)に沿って動くように
作られている。ヘッド42に接続しているのは、プローブ46が接続しているア
ーム44である。プローブ46はz軸に沿って動くように作られている。ステー
ジ40上に配置されているのは、それぞれが1以上のウエルを含むマルチプルプ
レートホルダー48である。この形態で、プローブ46がプレートホルダー48
の中のいずれのウエルの中にも正確に配置されるような3次元の動きが提供され
る。ステージ40がy軸で動くことが示され、ヘッド42がx軸で動くことが示
され、プローブ46がz軸で動くことが示されているけれども、3次元の動きを
可能とする異なる構成が提供され得ることが理解されるであろう。したがって、
本発明は、特定の形態のプラットフォーム38に限定されることは意図されてい
ない。上記の3次元の動きを有する代表的なプラットフォームは、カルテジアン
・テクノロジーズIncから商業的に入手可能なカルテジアンXYZ3200デ
ィスプレイ・プラットフォームである。
【0041】 プラットフォーム38は、そのさまざまの部品の動きを制御するためのマイク
ロプロセッサーを含む。便利には、プラットフォーム38の中のマイクロプロセ
ッサーはまた、プラットフォーム38に電気的に接続されたシリンジポンプ50
の操作を制御するようにも与えられ得る。
【0042】 シリンジポンプ50は、ある長さのチューブ52によりプローブ46に接続さ
れている。シリンジポンプ50はまた、チューブ56により容器54にも接続さ
れている。この方式において、ポンプ50は、容器54からプローブ46に流体
を移動させるために用いられ得る。シリンジポンプ50はまた、すでに記載され
たようにプローブ46の中の内腔を通って流体を吸入するためにも用いられ得る
。この方式において、ビーズは、すでに記載されたように、プローブがウエルに
配置された後プローブ46に引き付けられ得る。また、ポンプ50は、導電度検
出を容易にするように、導電性媒体で満たされるようにプローブ46を準備する
ためにも用いられ得る。本発明により用いられ得る代表的なシリンジポンプは、
カルテジアン・テクノロジーズ,Incから商業的に入手可能なカブロ・シリン
ジポンプである。シリンジポンプが示されているけれども、ウィスコンシン州ミ
ドルトンのジルソン,Inc.から入手可能なジルソン401Cダイリューター
を含むさまざまの他のポンプも本発明により用いられ得る。
【0043】 図10を参照して本明細書で以後きわめて詳細に記載されるように、プローブ
46は、すでに記載されたものと同様の方式で、ビーズがプローブ46に付着し
たかどうかを検出するための(図示されていない)1対の電極を含む。アーム4
4に組み合わせられているものは、プローブ46の反対側に配置された(図示さ
れていない)1対の光学センサーを含むトレー58である。この方式において、
プローブ46上のビーズのサイズがすでに記載されたのと同様の方式で定量され
うる。
【0044】 システム36はさらに、プローブ46の電極とトレー58上に配置されている
光学センサーとの間に設置されているインターフェース60およびコンピュータ
ー62を含む。コンピューター62には、当該技術において公知であるさまざま
のペンティアム(登録商標)タイプパーソナルコンピューターのいずれか1つが 含まれ得る。インターフェース60は、プローブ46上の電極の導電度を測定し 、コンピューター62にこの情報を伝達する。インターフェース60はまた、ト レー58上の光学検出装置とコンピューター62との間のインターフェースをも 提供する。用いられ得る代表的な光学センサーは、日本の大阪のキーエンス・コ ーポレーションから商業的に入手可能なキーエンス・オプティカル・システムで ある。コンピューター62は、プラットフォーム38にシグナルを送るように導 電度測定値および光学センサーにより提供されるデータを処理し得るマイクロプ ロセッサーを含み、そのさまざまの部品を動かすときおよびポンプ50を作動さ せるときをプラットフォーム38に指示する。
【0045】 例えば、コンピューター62は、プローブ46に流体を吸入させるためにポン
プ50に指示を送らせるようにプラットフォーム38にシグナルを送り得る。イ
ンターフェース60は、ビーズがうまくひきつけられたかどうかを調べるために
導電度を測定するために用いられる。この情報はコンピューター62に送られる
。もしビーズがうまくひきつけられなかったならば、コンピューター62は、プ
ローブ46を上昇させるようにプラットフォーム38にシグナルを送る。この時
点で、光学センサーが付着したビーズのサイズを定量するために用いられる。こ
の情報は、インターフェース60からコンピューター62に伝達される。ついで
、プローブ46を別のプレートホルダー48のウエルに動かし、付着したビーズ
を吐き出させるためにポンプに流体を排出させるように別のメッセージがコンピ
ューター62からプラットフォーム38に送られ得る。
【0046】 便利には、コンピューター12は、さまざまのタイプの情報がコンピューター
12に入ることを可能とするように便利なインターフェースを提供するようにア
プリケーションソフトウエアを備え得る。コンピューター62について利用され
得る代表的なソフトウエアは、テキサス州、オースチンのナショナル・インスト
ルメンツから商業的に入手可能なラブ・ビュー5.0ソフトウエアである。
【0047】 ここで図7〜9を参照すると、プローブ66が取り付けられるプラットフォー
ム64の代表的な態様が記載される。プラットフォーム64は、図6において模
式的に例示されているプラットフォーム38と同様の方式で作動する。プラット
フォーム64は、プラットフォーム64を起動させるために用いられる適切なモ
ーター、歯車、電気回路などのハウジングとなるベース68で構築されている。
ベース68上に配置されているのはステージ70である。ステージ70は、水平
y軸に沿って可動的である。また、ベース68に組み合わせられているのは、ア
ーム74が接続されているヘッド72である。ヘッド72は、水平x軸に沿って
アーム74を動かすように作られている。また、ヘッド72に接続されているの
はプローブ66である。ヘッド72は、垂直z軸に沿ってプローブを動かすよう
に作られている。プローブ66は、延長部76によりヘッド72に接続されてい
る。ヘッド72は、ステージ70に対して上下運動で延長部76を動かすように
作られている。延長部76が動いている間は、プローブ66がアーム74に対し
て動くように、アーム74は上下に動かない。便利には、延長部76を上下に垂
直に動かすためにステッパーモーターが用いられ得る。
【0048】 図8において最もよく示されているように、延長部76はプローブ66を受け
入れる開孔78を含む。本明細書で以後より詳細に記載されるように、プローブ
66はプローブ66の開孔78への挿入の深さを制限する金属カラー80を含む
【0049】 延長部76はさらに、金属ねじ84を備える回転式のジョー(jaw)82を
含む。ジョー82が延長部76上に載るように回転すると、ねじ84はプローブ
66の金属チューブ86と接触するようになる。このようにして、電気的接続が
、プローブ66の電極の1つについて提供される。
【0050】 ここで図10もまた参照すると、プローブ66の構造がより詳細に記載されて
いる。すでに記載されたように、プローブ66は、金属チューブ86を含む。示
されていないけれども、金属チューブ86を通って伸びるのは、流体が通過し得
る中央内腔である。金属チューブ86に接続されているのは、セラミック製のキ
ャピラリーチップ88である。キャピラリーチップ88は、流体がチューブ86
の内腔を通って、そしてキャピラリーチップ88の遠位端を通って完全に通過す
るように、チューブ86の内腔と整列する。用いられ得る代表的なキャピラリー
チップは、マイクロ・スイスから商業的に入手可能な56ミクロンオリフィスの
キャピラリーチップである。
【0051】 好ましくは、金属チューブ86には、1/16インチ長のステンレススチール
チューブが含まれる。チューブ86とキャピラリーチップ88についてのプレス
はめは、好ましくは、PEAKで作られているプラスチックスリーブ90である
。スリーブ90から離間しているのはもう1つのスリーブ92であり、絶縁スペ
ーサーとして機能する。チューブ86およびスリーブ90と92の周りに配置さ
れているのは、別の長さのステンレススチールチューブ94であり、それは、好
ましくは、1/4インチステンレススチールチューブでできている。スリーブ9
2の末端がチューブ94の末端と面一になるようにチューブ94は配列される。
また、金属カラー80もチューブ94と面一になっている。チップ88は、好ま
しくは、熱硬化性銀充填エポキシ96でコートされている。エポキシ96の使用
は、それがチューブ94に対する導電性延長部を提供し、ほとんどの溶媒と適合
するという点で有益である。したがって、エポキシ96は、いまだ導電経路を提
供しながら、比較的浅い溶媒にプローブ66を配置することを可能とする。絶縁
性を提供することに加えて、スリーブ90はまた、中央内腔の外側のプローブ6
6に液体が浸入することを防ぐための流体密封をも提供する。
【0052】 使用時に、流体は、キャピラリーチップ88にビーズをひきつけるかキャピラ
リーチップからビーズを吐き出すかするために中央内腔から排出されるかまたは
中央内腔に吸入されるかいずれかされうる。さらに、プローブ66の構成は、プ
ローブが2つの電極を含むようにする。一方の電極は金属チューブ86により形
成され、他方の電極はエポキシ96と組み合わせで金属チューブ66により形成
される。この方式において、中央内腔が導電性媒体で満たされるとき、電流がキ
ャピラリーチップ88のキャピラリーを通過し得る。例えば、電流は、チューブ
86を通過し、導電性媒体を通過し、キャピラリーチップ88に達し、チューブ
94を通って回帰し得る。もちろん、電流は、反対方向にも通りうる。この方式
において、もしビーズがキャピラリーチップ88に付着するならば、回路の中の
電流の変化がビーズが付着したことを示すように検出され得る。図8に戻って参
照すると、電流は、すでに記載されたように、ねじ84によりチューブ86に提
供され得る。回帰電流(return current)は、電気回路を提供す
るように、チューブ94を通過し、延長部76を通過し得る。
【0053】 図8において最もよく示されているように、アーム74は1対の光学センサー
100および102を含むトレー98を含む。光学センサー100および102
は、プローブ66がセンサーを通過して動くときキャピラリーチップがセンサー
の間を通過する光線を遮断するように配列される。この方式において、付着した
ビーズのサイズがすでに記載されたように検出され得る。開孔78は、好ましく
は、プローブ66がそれぞれの時間に同じ位置に挿入されるように合わせられる
。この方式においては、システムは、プローブが取り出され再挿入されるそれぞ
れの際に再較正される必要がない。
【0054】 図7および9において最もよく示されるように、トレー98は、調節ねじ10
4およびばねの取り付けられた区画106を含む。区画106は、ねじ104を
回転させることにより前方および後方に動く。この方式において、光学センサー
100および102の水平配向は、光の経路がキャピラリーチップ88と交差す
ることを保証するように調整されうる。
【0055】 ここで図7を参照すると、ステージ70はさまざまのタイプのプレートホルダ
ーを含む。示されるように、ステージ70は、供給源プレートホルダー108、
目的プレートホルダー110および洗浄プレートホルダー112を含む。しかし
ながら、広範なプレートのタイプおよび配列がステージ70上に与えられ得るし
、本発明は図7において示される具体的な配列により限定されることを意図しな
いことが理解されるであろう。便利には、ステージ70は、さまざまのプレート
ホルダーを配置し位置固定するために用いられる複数の留め金(peg)114
を含む。
【0056】 供給源プレートホルダー108は、好ましくは、目的プレートホルダー110
のウエル118に移されるべきである複数のビーズを有する液体を保持する複数
のエッペンドルフチューブ116を保持することが示される。便利には、チュー
ブ116は、プローブ66を利用してチューブ116からビーズを空になるまで
採取することを容易にするために先細の低部末端を有する。
【0057】 目的プレートホルダー110は、当該技術において公知である通常のウエル9
6フォーマットで配列されているウエル96を保持するように作られている。プ
レートホルダー110は、一般的に水平の配向でウエル118を維持するように
設計されている頂部部材120を含む。便利には、頂部部材120は、中央のウ
エルが上方に撓むことを防ぐ中央ストリップ122を有する。ウエル18を一般
的な水準に維持することにより、プローブ66がそれぞれのウエルについて適切
な深さに挿入されることを保証する方法が提供される。プレート110からウエ
ル18を取り出すために、頂部部材120は、ウエルが取り出されるようにピン
124の周りを回転する。
【0058】 洗浄プレートホルダー112は、洗浄溶液を保持するために用いられる3つの
ビーカー126を保持する。この方式において、チューブ116から取り出され
るビーズは、ビーズを洗浄するためにビーカー126に浸漬されうる。
【0059】 ここで図9を参照すると、チューブ116の1つへのプローブ66の配置が記
載されている。最初に、プラットフォーム64はホームポジションにある。最も
遠いチューブ116にプローブ66を動かす指示を受け取った後、ステージ70
は、チューブ116上にプローブ66を配置するようにヘッド72とともに動か
される。ついで、延長部76が、プローブ66がチューブ116の中に配置され
るまでヘッド72により垂直に下方に動かされる。ついで、吸入と排出のサイク
ルが、すでに記載されたものと同様の方式でプローブ66にビーズを引き付ける
ために用いられ得る。一旦ビーズが引き付けられたなら、延長部76は、チュー
ブ116からプローブ66を引き上げるために上昇する。プローブ66は、ビー
ズのサイズが測定されるように、ビーズが光学センサー100および102(図
8)の間にあるように上昇する。典型的には、プローブ66は、ついで、ビーカ
ー126の1つの上に動かされ、ついで、ビーカー126の中の洗浄溶液に挿入
される。ビーカー126から取り出された後、センサー100および102は再
びビーズがプローブ66に付着したままであることを確認するために用いられる
。ついで、プローブ66はウエル118の1つの上に動かされ、続いてウエルに
下げられる。ついで、ある量の流体がウエルにビーズを吐き出すためにプローブ
66から排出される。ついで、プローブ66は持ち上げられ、センサー100お
よび102がビーズが実際に分配されたことを確認するために用いられる。
【0060】 すでに言及されたように、プローブ66と関連してプラットフォーム64は、
さまざまの異なる状況の下でさまざまの固相支持体を処理するために用いられ得
る。単に例として、2つの有用な応用が図11および12において記載されてい
る。しかしながら、他のレイアウトおよびプロセスもプラットフォーム64を用
いて実施され得ることが理解されるであろう。
【0061】 図11において、ステージ70は、1つの供給源プレートホルダー108、1
つの洗浄プレートホルダー112および多数の目的プレートホルダー110を含
む。図11のレイアウトは、好ましくは、ビーズについてのアッセイを実施する
前にライブラリーの品質をスクリーニングするために利用される。この形態では
、それぞれのチューブ116は好ましくは約100から約1,000のビーズを
含む。プローブ66がチューブ116の1つに動かされ、ある体積がビーズを付
着させるために吸入される。プローブは、ビーズがうまく付着したかどうかを調
べるために検出し、もしうまくいかなければ、プロセスは反復される。一旦ビー
ズが付着すると、それはチューブ116から取り出され、光学的に測定され、次
いでそれが洗浄される洗浄ビーカー126に動かされる。一部の事例において、
洗浄126はまた、(光学的測定によりすでに検出されたかもしれない)関係の
ないビーズを取り除く役割も果たすであろう。ついで、ビーズは、目的プレート
ホルダー110の1つの中のウエル118の1つに分配される。
【0062】 図12におけるレイアウトは、洗浄プレートホルダー112が供給源108に
おけるすべてのチューブ116について1つのビーカー126を含むことを除い
て図11におけるレイアウトと本質的に同一である。図12のレイアウトは、プ
ール由来のヒットが解読されるアッセイ後の手順のために特に有用である。プロ
ーブがチューブ116の1つからビーズを取り出した後、ビーズは、目的ウエル
118の中に配置される前に洗浄プレートホルダー112の中の対応するビーカ
ー126の中で洗浄される。
【0063】 本発明は本明細書で理解の明確化を目的として詳細に記載されてきた。しかし
ながら、ある種の変更および修正が特許請求の範囲の中で実施され得ることが理
解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1A〜Cは、本発明によるウエルの中に保持された固相支持体を個別に取り
出すために典型的なプローブがウエルに挿入されている模式図である。
【図2】 図2は、本発明による導電度検出機構を有するプローブを利用して固相支持体
をウエルから取り出すことを試みるときに検出されるインピーダンスの変化を示
すグラフである。
【図3】 図3AおよびBは、本発明による固相支持体のサイズを測定するために利用さ
れる代表的な光学センサーを例示する。
【図4】 図4は、固相支持体のサイズの間の関係およびその関連する光学的値を示すグ
ラフである。
【図5】 図5は、本発明によるプローブの遠位端でなされた光学的測定についての光学
的値を示すグラフである。
【図6】 図6は、本発明による固相支持体を処理するための代表的なシステムの模式図
である。
【図7】 図7は、本発明による固相支持体を処理するための代表的なシステムの部分斜
視図である。
【図8】 図8は、図7のシステムのプローブの詳細図である。
【図9】 図9は、ウエルに挿入されている図7のシステムのプローブを例示する。
【図10】 図10は、本発明による代表的なプローブの断面図である。
【図11】 図11は、図7のシステムについてのプレート配列の1つのタイプの模式的例
示である。
【図12】 図12は、本発明による別のプレート配列の模式的例示である。
【符号の説明】
10…ウエル、14,34…ビーズ、16,24,46,66…プローブ、
20,22…電極、28,30…センサー、36…システム、38,64…プラ
ットフォーム、40…ステージ、42,72…ヘッド、44,74…アーム、4
8…プレートホルダー、50…ポンプ、52,56…チューブ、54…容器、5
8,98…トレー、60…インターフェース、62…コンピューター、68…ベ
ース、70…ステージ、100,102…光学センサー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ガイセン、エイチ・マリオ アメリカ合衆国、ノース・カロライナ州 27709 リサーチ・トライアングル・パー ク、ボックス 13398、ファイブ・ムー ア・ドライブ、グラクソスミスクライン内 (番地なし) (72)発明者 ネルソン、ジェームス・シー アメリカ合衆国、ノース・カロライナ州 27513 カリー、トラッパーズ・ヒル・ド ライブ 205 (72)発明者 バックナー、チャールズ・エー アメリカ合衆国、ノース・カロライナ州 27709 リサーチ・トライアングル・パー ク、ボックス 13398、ファイブ・ムー ア・ドライブ、グラクソスミスクライン内 (番地なし) Fターム(参考) 4G068 AA04 AA07 AB22 AC20 AD37 AD48 AD49 AE10 4G075 AA27 AA39 AA65 BA10 DA02 EC01 EC06 EC21 4H006 AA02 AA05 AC90

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固相支持体を処理するためのシステムであって、 遠位端と該遠位端で終わる内腔を有するプローブ、 流体の中に保持された複数の固相支持体を有するウエルに前記プローブの遠位
    端を配置させるのに適合する輸送機構、 前記遠位端が流体の中にある間に該遠位端における固相支持体の1つの存在ま
    たは不存在を検出するのに適合する検出機構、および 付着した固相支持体の一般的なサイズを測定するのに適合する測定システム を具備するシステム。
  2. 【請求項2】 検出機構が、プローブの遠位端を通る電流を通過させるため
    に配置された1対の電極および該電極間を通過する電流の変化を測定するための
    回路を具備する請求項1記載のシステム。
  3. 【請求項3】 測定システムが、遠位端が輸送機構によりウエルから取り出
    されて後、プローブの遠位端における固相支持体により少なくとも部分的に遮断
    される光線を作り出すように配置された1対の離間した光ファイバーを含む請求
    項1記載のシステム。
  4. 【請求項4】 プローブの遠位端に固相支持体をひきつけるためにウエルか
    ら内腔に、ある体積の流体を吸入するためのポンプをさらに具備する請求項1記
    載のシステム。
  5. 【請求項5】 ポンプがシリンジポンプを含む請求項4記載のシステム。
  6. 【請求項6】 ポンプが、付着した固相支持体を吐き出すように内腔から流
    体を排出するように配置されている請求項4記載のシステム。
  7. 【請求項7】 輸送機構が、垂直z軸に沿ってプローブを動かすように構成
    されている請求項1記載のシステム。
  8. 【請求項8】 輸送機構が、水平x軸に沿ってプローブを動かすように構成
    されているヘッド、およびウエルを保持し、水平y軸に沿って動くのに適合する
    ステージをさらに具備する請求項7記載のシステム。
  9. 【請求項9】 複数のウエルを保持するのに適合する保持機構をさらに具備
    し、該保持機構がステージに取着可能である請求項8記載のシステム。
  10. 【請求項10】 輸送機構、検出機構および測定システムの操作を制御する
    ように構成されている少なくとも1つのプロセッサーをさらに具備する請求項1
    記載のシステム。
  11. 【請求項11】 固相支持体を処理する方法であって、 流体を収容するウエルの中に配置されている複数の固相支持体を提供する工程
    、 遠位端と該遠位端で終わる内腔を有するプローブを該遠位端が流体の中にある
    ようにウエルに挿入する工程、 ある体積の流体をウエルから内腔に吸入する工程、 遠位端が流体の中にある間に遠位端における固相支持体の1つの存在または不
    存在を検出する工程であって、もし固相支持体の不存在が検出されるならば、固
    相支持体の1つの存在が検出されるまでかまたは吸入工程が所定の回数反復され
    るまで吸入工程を反復する工程、および ウエルからプローブを取り出す工程 を具備する方法。
  12. 【請求項12】 吸入工程を反復する前に内腔からウエルに流体を排出する
    工程をさらに具備する請求項11記載の方法。
  13. 【請求項13】 実質的に等しい体積で流体を排出し、吸入する工程をさら
    に具備する請求項12記載の方法。
  14. 【請求項14】 遠位端に付着している固相支持体のサイズを測定する工程
    をさらに具備する請求項11記載の方法。
  15. 【請求項15】 測定工程が、光線内に固相支持体を配置し、固相支持体に
    より引き起こされる光の通過の変化を測定することを含む請求項14記載の方法
  16. 【請求項16】 流体が導電性であり、検出工程が電流をプローブの遠位端
    を通って流し、吸入工程後に電流の量の変化を検出するために測定することを含
    む請求項11記載の方法。
  17. 【請求項17】 固相支持体が、約1μmから約1000μmの範囲のサイ
    ズを有する一般的に球状のビーズを含む請求項11記載の方法。
  18. 【請求項18】 洗浄溶液を有する別のウエルに、固相支持体を有するプロ
    ーブの遠位端を配置する工程、洗浄溶液から遠位端を取り出す工程および固相支
    持体が遠位端に付着しているままであるかどうかを検知する工程をさらに具備す
    る請求項11記載の方法。
  19. 【請求項19】 固相支持体を有するプローブの遠位端を目的のウエル内に
    配置する工程、目的のウエル中に固相支持体を吐き出すように内腔から流体を排
    出する工程、目的のウエルから遠位端を取り出す工程、および固相支持体が目的
    のウエルにうまく吐き出されたかどうかを検知する工程をさらに具備する請求項
    11記載の方法。
  20. 【請求項20】 固相支持体を処理するための方法であって、 流体を収容するウエルの中に配置される複数の固相支持体を提供する工程、 遠位端と該遠位端で終わる内腔を有するプローブを該遠位端が流体の中にある
    ようにウエル内に挿入する工程、 ある体積の流体をウエルから内腔に吸入する工程、 遠位端が流体の中にあるままである間に固相支持体の1つがプローブの遠位端
    に引き付けられたかどうかを検出する工程、 固相支持体の1つが検出されたときにウエルからプローブを取り出す工程、お
    よび 固相支持体がプローブの遠位端に付着している間に固相支持体のサイズを測定
    する工程 を具備する方法。
  21. 【請求項21】 流体が導電性であり、検出工程が電流をプローブの遠位端
    を通って流し、吸入工程後に電流の量の変化を検出するために測定することを含
    む請求項20記載の方法。
  22. 【請求項22】 測定工程が、光線内に固相支持体を配置し、固相支持体に
    より引き起こされる光の通過の変化を測定することを含む請求項20記載の方法
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