JP2002528367A - 四塩化炭素含有量の少ないホスゲン - Google Patents

四塩化炭素含有量の少ないホスゲン

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Abstract

(57)【要約】 本発明は、四塩化炭素の含有量が150ppm未満の、特にポリカーボネート及びポリエステル製造用のホスゲンを製造する方法に関する。本発明の方法によれば、一酸化炭素を塩素と、元素状炭素の存在下、30〜80℃の範囲の温度及び120〜400kPaの範囲の圧力下で反応させる。該温度及び圧力はホスゲン発生器の直後で測定するものとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、四塩化炭素含有量の低いホスゲン、その製造方法、及びポリカーボ
ネート及びポリエステルカーボネート製造のためのその用途に関する。
【0002】 ホスゲンは多くの化学分野において、中間物及び最終製品製造用の、特にイソ
シアネート、ポリカーボネート樹脂及びクロロギ酸エステル製造用の、重要な出
発物質である。純粋なホスゲンは無色の、有毒なガスであり、加水分解を受けや
すい。ホスゲンは常圧において−127.8℃で沸騰し、7.56℃で凝縮して
無色の液体を生成する。
【0003】 ホスゲンは一酸化炭素(CO)と元素状塩素(Cl2)との触媒的結合により
製造できることが知られている:
【0004】
【化1】
【0005】 活性炭が多くの場合触媒として用いられる。反応は発熱性であり転化率は完全
に近い。反応は通常、触媒を充填した標準鋼製またはステンレス鋼製の管形反応
器中で行われる。これらの管は、反応熱を放散させるために通常外部から冷却さ
れる。この方法によって製造されるホスゲンが不純物として含有する四塩化炭素
(CCl4)の量は、操作条件に応じて変動する。四塩化炭素は不均化反応、一
酸化炭素の過剰塩素化、炭素触媒の塩素化及びメタン(CH4)の塩素化のよう
な、望ましくない二次的反応によって生成する。一般的に用いられる方法によっ
て製造されるホスゲンの四塩化炭素による汚染の程度は、通常250〜2000
ppmの範囲である。
【0006】 ホスゲン製造時の副生品としての四塩化炭素の生成は、多くの面で問題である
。すなわち塩素化炭化水素類が環境的に有害であるため、反応時に生成する四塩
化炭素が環境中に放出されないことを確保するために、費用のかかる予防処置を
とらねばならない。更に、僅かな四塩化炭素の含有量でさえも、ホスゲンから製
造される製品の一部、特にプラスチックに対しては好ましくない影響がある。例
えば、ポリカーボネート樹脂の製造用には、通常無色透明である最終製品の変色
を防ぐためには、四塩化炭素含有量が最大でも250ppmである高純度ホスゲ
ンが必要とされる。
【0007】 JP第88−156040号には、一酸化炭素と塩素を350℃で活性炭上に
おいて反応させ、その場合遷移金属類、ホウ素、アルミニウム及びけい素のよう
な不純物を除去するために活性炭触媒を反応前に酸で処理して精製する、四塩化
炭素含有量が少ないホスゲンの製造法が述べられている。この方法により製造さ
れるホスゲンは四塩化炭素含有量が150ppmである。しかしながら、この方
法の欠点は費用のかかる活性炭触媒の前処理である。
【0008】 JP第80−014044号は、活性炭触媒を金属網の助けによって反応器壁
に配置する、塩素と一酸化炭素をホスゲンへ転化させるための反応器を提案して
いる。この構造によって触媒床の過熱が防止される。このような反応器中で20
0〜250℃の温度、600〜1200リットル/hの生成量で製造されるホス
ゲンは、四塩化炭素含有量が250〜400ppmである。しかしながら、この
方法の欠点は、活性炭の活性が低下した場合に、反応器に活性炭を再充填する費
用が、従来の管形反応器での作業の場合よりも高価なことである。
【0009】 本発明の基本的な目的は、四塩化炭素含有量が更に低いホスゲンを提供するこ
とである。
【0010】 この目的は150ppm未満の四塩化炭素を含む等級のホスゲンによって達成
される。本発明は更に、このような等級のホスゲンを、元素状炭素の存在下、ホ
スゲン発生器直後の下流で測定して30〜80℃の温度、120〜400kPa abs。 の圧力で、一酸化炭素と塩素を反応させて製造する方法に関する。
【0011】 本発明による方法の実施は、標準鋼製またはステンレス鋼製の、管中に炭素触
媒を充填する通例の管形反応器において好都合に行うことが可能である。管形反
応器は連続式でもバッチ式でも運転が可能である。
【0012】 四塩化炭素と塩素は、ほぼ等しい比率で、好ましくは室温で、反応器に導入さ
れる。すべての塩素を確実に反応させるためには、僅かに過剰の一酸化炭素を用
いることができる。二つの反応物が反応器に入る前に、それらは好ましくは適当
な混合装置中、例えばスタティックミキサー中で混合される。
【0013】 本発明による方法の他の利点は、触媒を特別に調製する必要がないことである
【0014】 反応器から出るガス流の温度は、ホスゲン発生器直後の下流で測定して70〜
80℃を越えるべきではない。本発明による方法において反応器から出るガス流
の温度は、好ましくは40〜70℃である。反応時に放出される反応熱を放散し
、触媒の過熱を防止する適当な冷却装置の助けによって、ガス流がこれらの温度
を越えることが防止される。
【0015】 炭素触媒としては、好ましくは活性炭が用いられる。粒径3〜4mmの粒状活
性炭が好ましくは触媒として用いられる。活性炭の細孔表面積は、好ましくは約
1000m2/gである。用いられる活性炭の見掛け密度は、好ましくは約45
0g/リットルである。
【0016】 ホスゲン発生器直後の下流で測定した圧力は、好ましくは最大で300kPa abs. である。これによってホスゲンが反応器中で凝縮し得ないことが保証される
【0017】 本発明による方法によって生成し、反応器の頂部より出るホスゲンは、好まし
くは−10〜−20℃の温度で凝縮させる。四塩化炭素が150ppm未満とい
う低含有量であるため、これは更に精製することなく直ちに、カーボネート結合
を含むポリマー、特にポリカーボネート又はポリエステルカーボネートの製造に
用いることができる。
【0018】 反応において用いられる塩素は、塩素アルカリ電解法又は塩化水素電解法のよ
うな通例の工業的製法によって製造することが可能であり、可能な限り高純度で
あるべきである。98%を越える純度の塩素が特に好適である。貯蔵容器からの
液体塩素が好適に用いられる。これは加熱した気化器中で蒸発させ、続いて再蒸
発器中で、同伴した液状塩素を消滅させる。
【0019】 反応において用いられる一酸化炭素は通例の方法、例えば合成ガス装置中で天
然ガス/ナフサから、あるいはコークスに酸素を吹き込むことにより製造するこ
とが可能である。もし一酸化炭素のメタン含有量が50ppm未満であれば特に
有利であることが判明している。
【0020】 本発明は以下実施例によって、より詳細に説明する。
【0021】
【実施例】
実施例1 オンライン赤外線分析(方法2301−0207901−91D)によって定
量した純度が97.5%、メタン含有量が50ppmの一酸化炭素500Nm3
/hと、純度99.9%の塩素480Nm3/hを室温で混合し、活性炭(粒径
約4mm、細孔表面積約1000m2/g、見掛け密度約450g/リットル)
を充填したホスゲン発生器へ供給した。発生器は、生成したホスゲンの温度が、
ホスゲンが発生器を出た直後に測定して、55℃になるように冷却した。ホスゲ
ンが発生器を出た直後に測定した圧力は80kPagauge(180kPaabs)で
あった。生成したホスゲンの四塩化炭素の含有量は100ppmであった。
【0022】 実施例2 オンライン赤外線分析(方法2301−0207901−91D)によって定
量した純度が98%、メタン含有量が50ppmの一酸化炭素500Nm3/h
と、塩素480Nm3/hを室温で混合し、活性炭(粒径約4mm、細孔表面積
約1000m2/g、見掛け密度約450g/リットル)を充填したホスゲン発
生器へ供給した。発生器は、生成したホスゲンの温度が、ホスゲンが発生器を出
た直後に測定して、40℃になるように冷却した。ホスゲンが発生器を出た直後
に測定した圧力は40kPagauge(140kPaabs)であった。生成したホス
ゲンの四塩化炭素の含有量は80ppmであった。
【0023】 比較例 純度が98%、メタン含有量が10ppmの一酸化炭素500Nm3/hを、
塩素485Nm3/hと室温で混合し、実施例1及び2と同様にホスゲン発生器
へ供給した。発生器は、生成したホスゲンの温度が、ホスゲンが発生器を出た直
後に測定して、85℃になるように冷却した。同様にホスゲンが発生器を出た直
後に測定した圧力は600kPagauge(700kPaabs)であった。生成した
ホスゲンの四塩化炭素の含有量は290ppmであった。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ, BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,C R,CU,CZ,DE,DK,DM,EE,ES,FI ,GB,GD,GE,GH,GM,HR,HU,ID, IL,IN,IS,JP,KE,KG,KP,KR,K Z,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV,MA ,MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ, PL,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,S K,SL,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG ,US,UZ,VN,YU,ZA,ZW (71)出願人 D−51368 Leverkusen,Ge rmany Fターム(参考) 4J029 AA08 AA09 AB07 HC01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 150ppm未満の四塩化炭素を含む、四塩化炭素含有量が
    低いホスゲン。
  2. 【請求項2】 一酸化炭素と塩素を元素状炭素の存在下反応器中で反応させ
    、その場合反応器から出るガス流が、ホスゲン発生器直後の下流で測定して、3
    0〜80℃の温度、120〜400kPaabs。の圧力であることを特徴とする、
    四塩化炭素含有量が低いホスゲンの製造方法
  3. 【請求項3】 反応器から出るガス流の温度が40〜70℃であることを特
    徴とする請求項2記載の方法。
  4. 【請求項4】 反応器から出るガス流の圧力が最大でも300kPaabs。で
    あることを特徴とする請求項2又は3記載の方法。
  5. 【請求項5】 一酸化炭素のメタン含有量が最大でも50ppmであること
    を特徴とする請求項2〜4のいずれか記載の方法。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれか記載の四塩化炭素含有量が低いホス
    ゲンの、ポリカーボネート及びポリエステルカーボネート製造のための使用。
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