JP2002527846A5 - - Google Patents
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Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 一方のディスク表面からディスクの厚さの方向に向けて、少なくとも二つの境界表面が設けられ、前記境界表面はそれぞれ、記憶される情報に応じて溝を付けられ、かつ、所与の波長を有し、かつ<90°の同じ入射角の光に対して、最も内部にある、溝のある境界表面は反射層を、少なくとももう一つの、溝のある境界表面は部分反射/部分透過層を有し、さらに前記表面と反射層との間のその他のディスク材料は前記光を基本的に透過し、かつさらに前記反射層は第一の金属合金から、前記部分反射層は第二の金属合金からなる、光データ記憶ディスクであって、
・前記少なくとも二つの層の合金は、一つまたは複数の同一金属を含み、前記一つまたは複数の金属は共に、それぞれの合金の50at%より多くを占め、
・前記合金が金を含む場合は、その成分比はそれぞれの合金の最大50at%までにすぎない、
ことを特徴とする、ディスク。
【請求項2】 前記合金が、前記一つまたは複数の同一金属を同じ成分比で有することを特徴とする、請求項1に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項3】 前記合金が、好ましくは同じ成分比の、同一金属によって形成されることを特徴とする、請求項1または2に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項4】 前記同一金属、好ましくは合金が、
AgxMayMbzから、または
CuxMayMbzからなることを特徴とし、
x>50at%であり、かつ
Maは第二の材料、
Mbは第三の材料である、
請求項1から3のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項5】 好ましくは、前記同じ金属または合金が
AgxMayMbz
からなる請求項4に記載のデータ記憶ディスクであって、
第二の材料Maがパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、ディスク。
【請求項6】 請求項4または5に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10である、
ことを特徴とする、ディスク。
【請求項7】 請求項4または5に記載のデータ記憶ディスクであって、特に好ましくはAgxPdy合金について、
0<y≦15、好ましくは1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、好ましくは5<y<10、
z≒0、特に好ましくは、
y≒8、z≒0
であることを特徴とする、ディスク。
【請求項8】 請求項5から7のいずれかに記載のデータ記憶ディスクであって、
Ma=Auであり、y>z
であることを特徴とする、ディスク。
【請求項9】 前記双方の層の合金が同じであり、バルクとしての前記合金における、650nmの光の屈折率の吸収係数に対する比n/kが、
0<n/k≦0.28、好ましくは
0<n/k≦0.20
であることを特徴とする、請求項1から8のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項10】 空気に24時間晒された場合の測定値で、光学特性の安定性が±2%、好ましくは±1%より優れていることを特徴とし、その際、好ましくは合金に金が含まれていない、請求項1から9のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項11】 前記少なくとも二つの層が、同じ金属合金のDCスパッタリングによって布設されることを特徴とする、請求項1から10のいずれかに記載の光学記憶データの製造方法。
【請求項12】 前記層が同じターゲットのDCスパッタリングによって布設されることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
【請求項13】 部分反射層の金属合金が、
AgxMayMbzまたは、
CuxMayMbzからなることを特徴とし、
x>50%であり、
Maは、金以外の第二の金属であり、
Mbは、好ましくは金以外の、第三の金属である、
請求項1のプリアンブルによる光データ記憶ディスク。
【請求項14】 部分反射層が
AgxMayMbz
からなり、かつ第二の金属がパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、請求項13に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項15】 請求項13または14に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10であることを特徴とする、ディスク。
【請求項16】 請求項13または14に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦15、好ましくは1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、特に5<y<10、
z≒0特に好ましくは、
y≒8
z≒0
であり、特にAgPd合金層についてこれがあてはまることを特徴とする、ディスク。
【請求項17】 合金
AgxMayMbzまたは、
CuxMayMbzからなり、
x>50at%であり、
Maは第二の金属を、
Mbは第三の金属を表す、
ターゲット。
【請求項18】請求項17に記載のターゲットであって、ターゲットが
AgxMayMbzからなり、かつ
Maはパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、ターゲット。
【請求項19】 請求項17または18に記載のターゲットであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項20】 特に好ましくはAgxPdyからなる、請求項17から19のいずれかに記載のターゲットであって、
0<y≦15、好ましくは
1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、好ましくは5<y<10であり、かつ
z≒0特に好ましくは、
y≒8、z≒0
であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項21】 請求項17から20のいずれかに記載のターゲットであって、
Ma=Auであり、y>z
であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項22】 バルクとしての前記合金における、650nmの光の屈折率の吸収係数に対する比n/kが、
0<n/k≦0.28、好ましくは
0<n/k≦0.2
であることを特徴とする、請求項17から21のいずれかに記載のターゲット。
【請求項23】 x>50at%である合金CuxMayMbzからなるスパッタリングターゲットであって、
Maはパラジウムであり、
Mbは第3の金属を表わし、
条件v>zが有効である、スパッタリングターゲット。
【請求項24】 0<y<10と、
0<z<10とが有効である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項25】 0<y<15と、
z≒0とが有効である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項26】 5<y<10と、
z≒0とが有効である、請求項25に記載のターゲット。
【請求項27】 合金は、650nmの光についての反射係数と吸収係数との比n/kを示し、
0<n/k≦0.28である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項28】 0<n/k≒0.2が有効である、請求項27に記載のターゲット。
【請求項29】 データ記憶ディスクを製造するための方法であって、
基板を布設するステップと、
基板の上に第1の金属合金の第1の層を施すステップと、
選択された波長の光を伝送する材料のスペーサ層を前記第1の層の上に布設するステップと、
第2の金属合金の第2の層を前記スペーサ層の上に布設するステップと、
前記第1および第2の層の前記第1および第2の金属合金のうちの1つを、前記光に対して部分透過になるよう堆積させるステップと、
前記合金の各々において留分が50at%を上回っている少なくとも1つの同じ金属を前記第1および第2の金属合金において布設するステップとを含み、
前記合金のうちのいずれかが金を含む場合、前記金の量は0〜50at%である、方法。
【請求項30】 650nm未満となる前記選択された波長を選択するステップを含む、請求項29に記載の方法。
【請求項31】 500nm≦λ≦8580nmとなる前記波長をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項32】 本質的にAgxMayMbzまたはCuxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップをさらに含み、x>50at%であり、AgまたはCuが前記同じ金属であれば、Maは第2の金属であり、Mbは第3の金属である、請求項29に記載の方法。
【請求項33】 0y<10および0<z<10をさらに選択する、請求項32に記載の方法。
【請求項34】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つをさらに選択し、Maがパラジウムであり、y>zである、請求項29に記載の方法。
【請求項35】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つをさらに選択し、第2の金属Maがパラジウムであり、0<y<15と0にほぼ等しいzとをさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項36】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択し、Maとして金を選択するステップをさらに含み、y>zである、請求項29に記載の方法。
【請求項37】 同じ金属を有する前記第1および第2の金属合金を選択するステップを含む、請求項29に記載の方法。
【請求項38】 0<n/k≦0.28となるように、バルクでの金属合金および650nmの光についての反射係数nと吸収係数kとの比n/kを有する前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項39】 0<n/k≦0.2をさらに選択する、請求項38に記載の方法。
【請求項40】 前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つが、前記それぞれの層を少なくとも24時間空気に晒した後に測定された多くて±2%の光学特性の安定性をそれぞれ有するように、前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項41】 前記少なくとも1つの第1および第2の金属合金は金フリーである、請求項40に記載の方法。
【請求項42】 金フリーである前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップを含み、前記層のうちの前記少なくとも1つは、x>50at%であれば、本質的にAgxMayMbzまたはCuxMayMbzからなる、請求項29に記載の方法。
【請求項43】 0<y<10および0<z<10を選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項44】 0<y<15、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項45】 5<y<10、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項46】 y=8、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項47】 同じ留分量で前記第1および第2の金属合金の両方に存在する前記同じ金属の量をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項48】 同じ合金である前記第1および第2の金属合金をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項49】 スパッタリングにより、前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つを堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項50】 DCスパッタリングにより、前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つを堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項51】 同じ金属源から前記第1および第2の層の両方において前記同じ金属を堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項52】 スパッタリング源である前記金属源を選択するステップを含む、請求項51に記載の方法。
【請求項53】 DCスパッタリング源である前記スパッタリング源を選択するステップを含む、請求項52に記載の方法。
【請求項54】 前記光のための部分透過層として前記第2の層を堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項55】 前記光のための反射層として前記第1の層を堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項1】 一方のディスク表面からディスクの厚さの方向に向けて、少なくとも二つの境界表面が設けられ、前記境界表面はそれぞれ、記憶される情報に応じて溝を付けられ、かつ、所与の波長を有し、かつ<90°の同じ入射角の光に対して、最も内部にある、溝のある境界表面は反射層を、少なくとももう一つの、溝のある境界表面は部分反射/部分透過層を有し、さらに前記表面と反射層との間のその他のディスク材料は前記光を基本的に透過し、かつさらに前記反射層は第一の金属合金から、前記部分反射層は第二の金属合金からなる、光データ記憶ディスクであって、
・前記少なくとも二つの層の合金は、一つまたは複数の同一金属を含み、前記一つまたは複数の金属は共に、それぞれの合金の50at%より多くを占め、
・前記合金が金を含む場合は、その成分比はそれぞれの合金の最大50at%までにすぎない、
ことを特徴とする、ディスク。
【請求項2】 前記合金が、前記一つまたは複数の同一金属を同じ成分比で有することを特徴とする、請求項1に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項3】 前記合金が、好ましくは同じ成分比の、同一金属によって形成されることを特徴とする、請求項1または2に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項4】 前記同一金属、好ましくは合金が、
AgxMayMbzから、または
CuxMayMbzからなることを特徴とし、
x>50at%であり、かつ
Maは第二の材料、
Mbは第三の材料である、
請求項1から3のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項5】 好ましくは、前記同じ金属または合金が
AgxMayMbz
からなる請求項4に記載のデータ記憶ディスクであって、
第二の材料Maがパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、ディスク。
【請求項6】 請求項4または5に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10である、
ことを特徴とする、ディスク。
【請求項7】 請求項4または5に記載のデータ記憶ディスクであって、特に好ましくはAgxPdy合金について、
0<y≦15、好ましくは1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、好ましくは5<y<10、
z≒0、特に好ましくは、
y≒8、z≒0
であることを特徴とする、ディスク。
【請求項8】 請求項5から7のいずれかに記載のデータ記憶ディスクであって、
Ma=Auであり、y>z
であることを特徴とする、ディスク。
【請求項9】 前記双方の層の合金が同じであり、バルクとしての前記合金における、650nmの光の屈折率の吸収係数に対する比n/kが、
0<n/k≦0.28、好ましくは
0<n/k≦0.20
であることを特徴とする、請求項1から8のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項10】 空気に24時間晒された場合の測定値で、光学特性の安定性が±2%、好ましくは±1%より優れていることを特徴とし、その際、好ましくは合金に金が含まれていない、請求項1から9のいずれかに記載のデータ記憶ディスク。
【請求項11】 前記少なくとも二つの層が、同じ金属合金のDCスパッタリングによって布設されることを特徴とする、請求項1から10のいずれかに記載の光学記憶データの製造方法。
【請求項12】 前記層が同じターゲットのDCスパッタリングによって布設されることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
【請求項13】 部分反射層の金属合金が、
AgxMayMbzまたは、
CuxMayMbzからなることを特徴とし、
x>50%であり、
Maは、金以外の第二の金属であり、
Mbは、好ましくは金以外の、第三の金属である、
請求項1のプリアンブルによる光データ記憶ディスク。
【請求項14】 部分反射層が
AgxMayMbz
からなり、かつ第二の金属がパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、請求項13に記載のデータ記憶ディスク。
【請求項15】 請求項13または14に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10であることを特徴とする、ディスク。
【請求項16】 請求項13または14に記載のデータ記憶ディスクであって、
0<y≦15、好ましくは1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、特に5<y<10、
z≒0特に好ましくは、
y≒8
z≒0
であり、特にAgPd合金層についてこれがあてはまることを特徴とする、ディスク。
【請求項17】 合金
AgxMayMbzまたは、
CuxMayMbzからなり、
x>50at%であり、
Maは第二の金属を、
Mbは第三の金属を表す、
ターゲット。
【請求項18】請求項17に記載のターゲットであって、ターゲットが
AgxMayMbzからなり、かつ
Maはパラジウムであり、y>zであることを特徴とする、ターゲット。
【請求項19】 請求項17または18に記載のターゲットであって、
0<y≦10、好ましくは1≦y<10であり、かつ
0<z≦10、好ましくは1≦z<10であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項20】 特に好ましくはAgxPdyからなる、請求項17から19のいずれかに記載のターゲットであって、
0<y≦15、好ましくは
1≦y<15であり、かつ
z≒0、好ましくは
5≦y≦10、好ましくは5<y<10であり、かつ
z≒0特に好ましくは、
y≒8、z≒0
であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項21】 請求項17から20のいずれかに記載のターゲットであって、
Ma=Auであり、y>z
であることを特徴とする、ターゲット。
【請求項22】 バルクとしての前記合金における、650nmの光の屈折率の吸収係数に対する比n/kが、
0<n/k≦0.28、好ましくは
0<n/k≦0.2
であることを特徴とする、請求項17から21のいずれかに記載のターゲット。
【請求項23】 x>50at%である合金CuxMayMbzからなるスパッタリングターゲットであって、
Maはパラジウムであり、
Mbは第3の金属を表わし、
条件v>zが有効である、スパッタリングターゲット。
【請求項24】 0<y<10と、
0<z<10とが有効である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項25】 0<y<15と、
z≒0とが有効である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項26】 5<y<10と、
z≒0とが有効である、請求項25に記載のターゲット。
【請求項27】 合金は、650nmの光についての反射係数と吸収係数との比n/kを示し、
0<n/k≦0.28である、請求項23に記載のターゲット。
【請求項28】 0<n/k≒0.2が有効である、請求項27に記載のターゲット。
【請求項29】 データ記憶ディスクを製造するための方法であって、
基板を布設するステップと、
基板の上に第1の金属合金の第1の層を施すステップと、
選択された波長の光を伝送する材料のスペーサ層を前記第1の層の上に布設するステップと、
第2の金属合金の第2の層を前記スペーサ層の上に布設するステップと、
前記第1および第2の層の前記第1および第2の金属合金のうちの1つを、前記光に対して部分透過になるよう堆積させるステップと、
前記合金の各々において留分が50at%を上回っている少なくとも1つの同じ金属を前記第1および第2の金属合金において布設するステップとを含み、
前記合金のうちのいずれかが金を含む場合、前記金の量は0〜50at%である、方法。
【請求項30】 650nm未満となる前記選択された波長を選択するステップを含む、請求項29に記載の方法。
【請求項31】 500nm≦λ≦8580nmとなる前記波長をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項32】 本質的にAgxMayMbzまたはCuxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップをさらに含み、x>50at%であり、AgまたはCuが前記同じ金属であれば、Maは第2の金属であり、Mbは第3の金属である、請求項29に記載の方法。
【請求項33】 0y<10および0<z<10をさらに選択する、請求項32に記載の方法。
【請求項34】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つをさらに選択し、Maがパラジウムであり、y>zである、請求項29に記載の方法。
【請求項35】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つをさらに選択し、第2の金属Maがパラジウムであり、0<y<15と0にほぼ等しいzとをさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項36】 本質的にAgxMayMbzからなる前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択し、Maとして金を選択するステップをさらに含み、y>zである、請求項29に記載の方法。
【請求項37】 同じ金属を有する前記第1および第2の金属合金を選択するステップを含む、請求項29に記載の方法。
【請求項38】 0<n/k≦0.28となるように、バルクでの金属合金および650nmの光についての反射係数nと吸収係数kとの比n/kを有する前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項39】 0<n/k≦0.2をさらに選択する、請求項38に記載の方法。
【請求項40】 前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つが、前記それぞれの層を少なくとも24時間空気に晒した後に測定された多くて±2%の光学特性の安定性をそれぞれ有するように、前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項41】 前記少なくとも1つの第1および第2の金属合金は金フリーである、請求項40に記載の方法。
【請求項42】 金フリーである前記第1および第2の金属合金のうちの少なくとも1つを選択するステップを含み、前記層のうちの前記少なくとも1つは、x>50at%であれば、本質的にAgxMayMbzまたはCuxMayMbzからなる、請求項29に記載の方法。
【請求項43】 0<y<10および0<z<10を選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項44】 0<y<15、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項45】 5<y<10、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項46】 y=8、および、約0であるzを選択する、請求項42に記載の方法。
【請求項47】 同じ留分量で前記第1および第2の金属合金の両方に存在する前記同じ金属の量をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項48】 同じ合金である前記第1および第2の金属合金をさらに選択する、請求項29に記載の方法。
【請求項49】 スパッタリングにより、前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つを堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項50】 DCスパッタリングにより、前記第1および第2の層のうちの少なくとも1つを堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項51】 同じ金属源から前記第1および第2の層の両方において前記同じ金属を堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
【請求項52】 スパッタリング源である前記金属源を選択するステップを含む、請求項51に記載の方法。
【請求項53】 DCスパッタリング源である前記スパッタリング源を選択するステップを含む、請求項52に記載の方法。
【請求項54】 前記光のための部分透過層として前記第2の層を堆積させるステップをさらに含む、請求項29に記載の方法。
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