JP2002506975A - １次測定値と取得パラメータの同時表示 - Google Patents

１次測定値と取得パラメータの同時表示

Info

Publication number
JP2002506975A
JP2002506975A JP2000535938A JP2000535938A JP2002506975A JP 2002506975 A JP2002506975 A JP 2002506975A JP 2000535938 A JP2000535938 A JP 2000535938A JP 2000535938 A JP2000535938 A JP 2000535938A JP 2002506975 A JP2002506975 A JP 2002506975A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
digital oscilloscope
parameters
cycle
obtaining
presenting information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000535938A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002506975A5 (ja
Inventor
ミラー・マーティン・ティー
Original Assignee
レクロイ・エス・アー
レクロイ コーポレイション
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=21892738&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JP2002506975(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by レクロイ・エス・アー, レクロイ コーポレイション filed Critical レクロイ・エス・アー
Publication of JP2002506975A publication Critical patent/JP2002506975A/ja
Publication of JP2002506975A5 publication Critical patent/JP2002506975A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22—Circuits therefor
    • G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2506—Arrangements for conditioning or analysing measured signals, e.g. for indicating peak values ; Details concerning sampling, digitizing or waveform capturing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Recording Measured Values (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Measuring Phase Differences (AREA)
  • Measuring Pulse, Heart Rate, Blood Pressure Or Blood Flow (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 情報を提示する方法、および信号の１次測定が実行されて表示されるデジタルオシロスコープが開示されている。パラメータは、また、１次測定データに基づく信号から取得される。これら取得パラメータは、次に、表示画面上に時間の関数として、好ましくは共通の時間軸を用いて表示される。これにより、オシロスコープオペレータは、取得パラメータを参照して見つけられる構成を、信号の１次測定値に直接関連付けることができる。さらに、１次測定からのデータはオシロスコープに記憶されるので、複数のパラメータの計算およびパラメータの再計算が、実行できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、その１次測定値に基づいてパラメータを取得して、表示画面上にこ
れらを表示するデジタルオシロスコープに関する。 〔関連の出願〕 本出願は、それらの教示するものをここに引用して取り入れている、１９９８
年３月９日に出願された米国特許出願第０９／０３７，１５５号の継続出願であ
る。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
オシロスコープは、電気的なテストおよび測定機器の中でも一般的なものの例
の一つである。この種の装置は、経時的に変化する信号の１次測定値を作り出す
。ほとんどの場合、検出された電圧は、サーミスタの場合には抵抗エレメントを
通る電流、または温度の様な２つの任意の例における他の必要な測定値を示すこ
とが可能であるが、これらの測定値は時間の関数としての電圧信号である。オシ
ロスコープは、信号の経時変化特性を可視化し、垂直軸が信号のレベルをあらわ
し、水平軸が時間をあらわすので、有用な装置である。
【０００３】 デジタルストレージオシロスコープ（ＤＳＯ）は、オシロスコープの一種であ
り、サンプリングされた信号の経時変化特性が、装置内でデジタル的に表される
。主たる利点は、非同期の信号イベントがその後の比較のために装置内に記憶さ
れることである。さらに、１次測定のデジタルデータから、信号の統計的特徴の
ようなパラメータが得られる。
【０００４】 代表的な例において、ＤＳＯは、トリガー条件の満たされることを待つことに
よって作動する。トリガーイベントが受信されると、電圧の１次測定値、例えば
信号の１次測定値が作り出され、生じた測定データは波形メモリに記憶される。
波形メモリの連続位置は、トリガーイベントからの増加する時間遅延で、デジタ
ル化された信号レベルを保持する。現在の技術水準ではＤＳＯは、最大８ギガサ
ンプル／秒（ＧＳ／Ｓ）の速度で信号を捕捉し、波形メモリの記憶箇所は最大１
６ミリオンである。
【０００５】 オシロスコープが時間領域計器であるのに対して、スペクトルアナライザは周
波数領域において１次測定値を作り出す。代表的な構成では、これらの装置は、
信号エネルギの大きさを周波数の関数としてプロットし、信号の大きさ、または
レベルは垂直軸上に、周波数は水平軸上にとる。これらの装置は、通常、対象と
する周波数スペクルを横切る極めて狭いノッチ帯域通過フィルタを走査し、周波
数ビンにおけるエネルギを測定する。このようにしてスペクトルアナライザは、
所定の信号のスペクトル分布を特定するのに有用である。
【０００６】 しかし、一定の信号分析の問題に対しては、オシロスコープおよびスペクトル
アナライザは、目的に十分適合しているとはいえない。例えば、デジタル／アナ
ログ回路分析／デバッグに要求されるような信号に稀に出現する異常を隔離しよ
うとする時、または変調信号を分析する場合のような信号における傾向を特定し
ようとする時には、オシロスコープもスペクトルアナライザも共に有効とはいえ
ない。スペクトルアナライザは、スペクトルを横切ってフィルタを走査すること
により作動するため、信号の短期間の変化は失われることになり、また、大抵の
オシロスコープではこのように稀に生じる異常は表示画面上でオペレータが分析
するには余りにも速い速度でスクロールされてしまう。ＤＳＯのみが適切な情報
を信号上に保持するが、これを分析するにはオペレータは、１次測定値のみから
では簡単には現れないイベントを見つけるために、長いデータアレーを走査しな
ければならない。
【０００７】 この技術上のギャップを埋めるために、変調領域アナライザのような電子カウ
ンタが開発されている。これらの装置は、信号の１次測定値、即ち信号の１セッ
トのしきい値を横切る時間を検出し、次に信号の周波数、位相、または時間間隔
のような１次測定値から取得されたパラメータを時間の関数としてプロットする
。例えば、時間に対する周波数／位相分析は、周波数シフトキーおよび位相シフ
トキーによりそれぞれ変調された伝送を分析するのに極めて有用であり、時間間
隔分析はパルス幅変調された信号を分析するのに有用である。
【０００８】 変調信号の伝送分野における、明白で、周期的な傾向を分析するには、幾らか
有用ではあるが、変調分析装置は、これらの信号の特別な異常を特定して追跡し
、望まれる広汎な信号分析に対応するには余り有用ではない。変調領域分析装置
を用いてもオペレータは、周波数／位相のような取得パラメータを、そのレベル
のような信号の実際の１次測定値、例えば電圧と比較することはできない。変調
分析装置は、１次測定値を記憶しておかず、この１次測定値から単にパラメータ
を計算するに過ぎない。したがって、オペレータにとって、極めて稀な異常イベ
ントを見つけるのは依然として困難である。さらに、たとえ異常イベントを見つ
けることができたとしても、異常イベントの位置を実際の信号に対して特定する
ことは不可能である。さらに、変調領域分析装置は、しきい値が予め設定される
ことを要求する。一旦測定が行われると、異なるしきい値を選ぶことはできない
。また、装置が提供する、取得パラメータの数は、時間に対する、位相、周波数
、または時間間隔に通常限定される。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、その１次測定値に基づいてパラメータを取得して表示する機能が増
大されたデジタルオシロスコープに関するものである。好ましい実施形態におい
ては、このオシロスコープは経時変化する電圧を測定するデジタルストレージタ
イプオシロスコープである。取得パラメータは、１次測定値から計算され、また
同時に共通の時間軸上にこれらの測定値が表示される。これにより、オシロスコ
ープオペレータは、取得パラメータを参照することにより見出される特徴を、信
号の１次測定値に関連付けることができる。さらに、取得パラメータは、好まし
くは、測定値から記憶されたデータに基づいて計算されるので、異なるパラメー
タの大きなスペクトルを計算でき、例えば異なるしきい値が同一のデータセット
に適用される。
【００１０】 一般に、本発明の一構成によれば、デジタルオシロスコープに情報を呈する方
法を特徴とする。この方法では、信号の１次測定値を作り出す。通常の場合、こ
れは、電圧信号を時間の関数として測定するが、電圧は、別の経時的に変化する
現象、例えば電流、加速信号、またはなんらかの変換された信号を示すことがで
きる。１次測定値からのデータは、次に時間の関数として表示される。一実施形
態では、水平軸表示は時間をあらわす。本発明によれば、信号のパラメータは、
また１次測定データに基づいて得られる。これらの取得パラメータは、次に表示
画面上に時間の関数として表示される。好ましい実施形態では、１次測定値およ
び取得パラメータは、共通の時間軸を用いて共通の表示画面上に表示される。
【００１１】 特定の実施形態においては、取得された経時変化パラメータは、多くの演算に
基づいて作成される。例えば、取得パラメータは、１次測定データをしきい値と
比較することにより作成される。このような演算は、１次測定値がしきい値未満
である、またはしきい値を越えている時間のようなパラメータを時間の関数とし
て作り出す。
【００１２】 別の実施形態における追加構成では、最初に信号サイクルを特定し、次にこれ
らの各サイクルに対するパラメータを計算することにより、パラメータを取得す
る。このような操作は、例えば最小／最大と先行もしくは後続サイクルの最小／
最大との間の時間、最小および／もしくは最大のローカル時間、周期、サイクル
毎の周波数、立ち上がり時間、サイクル立ち下がり時間、オーバーシュート／プ
レショート、周期の変化、またはサイクル毎のパルス幅の変化をプロットする時
に有用である。
【００１３】 追加または別の構成では、取得パラメータは、特定信号サイクルに基づき、次
に各サイクルの１次測定値をしきい値と比較することにより作り出すことができ
る。これらの操作は、例えば振幅におけるピークピーク変化、衝撃係数およびサ
イクルからサイクルへの衝撃係数の変化を求める時に有用である。
【００１４】 さらに別の実施形態では、取得パラメータは、最初に信号中のサイクルを特定
し、次に各サイクルを絶対時間基準に対して比較することにより作り出すことが
できる。これは、位相差およびタイミング誤差を判定する通信システムにおいて
有用である。同様に、取得パラメータは、１次測定データを基準クロックと比較
することにより作り出すことができる。これは、例えば測定信号／クロックとタ
イミング誤差との間の位相差を判定するのに有用である。
【００１５】 一般に別の構成によれば、本発明は、またデジタルオシロスコープの動作の方
法を特徴とする。この方法では、所定の時間間隔で繰り返し信号をサンプリング
してデジタル化し、デジタル化により生成されたデータを記憶する。パラメータ
は、これら１次測定値から算出される。取得パラメータは、次にオシロスコープ
に時間の関数として表示される。このようにして時間に基づくパラメータが、直
接デジタル１次測定データから計算される。
【００１６】 一般にさらに別の構成によれば、本発明は、デジタルオシロスコープを特徴と
している。オシロスコープは、少なくとも一つのデジタル化チャネルを備え、こ
のチャネルが信号の１次測定を実行し、これら測定値を示すデータを作り出す。
データ処理装置が次に使用されてデータからパラメータが得られる。１次測定デ
ータと取得パラメータは、次にデジタルオシロスコープの表示画面上に時間の関
数としてプロットされる。
【００１７】 特定の実施形態においては、各デジタル化チャネルは、信号をフリーズするサ
ンプル・ホールド回路を備える。アナログ・デジタルコンバータが、次に信号を
デジタル化する。このように生成されたデータは、波形メモリに記憶される。そ
の後、波形メモリからのデータは、ローカルメモリユニットに送られる。データ
処理装置は、このローカルメモリにアクセスすることにより、計算後にローカル
メモリに記憶させる取得パラメータを計算する。
【００１８】 特定の実施形態では、ローカルメモリは、記憶場所のアレーを備える。１次測
定データおよび取得パラメータは、別個のアレーに記憶されるが、その際にプロ
セッサは、これら類似する暫定的な構成を持つように、アレーを再度関連付ける
ことができる。すなわち、データ処理装置は、特定の場所の取得パラメータを、
その取得パラメータを出現させた１次測定データに関連付けることができる。好
ましくは、取得パラメータを保持するアレーは、信号表示のために行われるズー
ム操作のようなスケーリング操作を容易にするために、埋め込まれている。
【００１９】 部品の構造および組み合わせの各種の新規な詳細を含む本発明の上記および他
の特徴および長所は、添付の図面を参照して詳述され、請求の範囲において指摘
される。本発明の特定の実施形態は図により示されるが、発明をそれに限定する
ように示したのではないと理解される。本発明の原理と特徴は、本発明の範囲か
ら逸脱しない範囲で、種々の実施形態に用いることができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】
図面において異なる図を通じて同一部品には同一符号が用いられている。図面
の寸法は正確ではなく、本発明の原理を図示するころに、重点が置かれている。
【００２１】 図１は、本発明の原理が用いられているデジタルストレージオシロスコープ（
ＤＳＯ）を示す。一般にＤＳＯ１００は、時間依存データが表示される表示画面
１１０を備える。キーパッド１１２は、例えば表示画面１１０およびトリガー特
性の操作をコントロールする。光学焼付機１１４は、表示画面、粗データ、また
はオシロスコープの状態をプリントアウトする。４つのアナログ信号入力ポート
１１４Ａ〜１１４Ｄがプローブ（図示せず）に接続されている。プローブは、経
時変化電圧信号をＤＳＯ１００に伝達するために使用され、これら電圧信号は、
サンプリングされてデジタル化される。補助入力ポート１１５は、代替入力、ま
たはトリガー入力用である。
【００２２】 図２は、表示画面１１０の詳細図である。この表示画面は信号プロット領域１
１６を備え、この領域ではサンプリングされた信号の検出電圧が、水平時間軸に
対して垂直軸に従来通りプロットされる。表示画面１１０の状態部分１１８は、
表示特性、水平／垂直スケール、およびオシロスコープのその時点での設定を特
定する。説明領域１２０は、表示に用いられる色とプロットされる信号との間の
マッピングを特定する。
【００２３】 図３に、情報が本発明の原理に基づいて提示される表示画面を示す。表示画面
１１０の信号プロット領域１１６は、１次測定表示部分１２０を備え、この部分
には分析中の信号の１次測定値が図２のように表示される。最も一般的な例にお
いては、１次測定表示部分１２０は、水平軸上の時間の関数として信号の電圧レ
ベルを示す。本発明によれば、表示画面１１０の信号プロット領域１１６は、ま
た、取得パラメータ表示部分１２２を有し、この表示部分１２２で１次測定値か
ら取得したパラメータが同様に時間の関数としてプロットされる。好ましい実施
形態においては、プロットされた１次測定値および取得パラメータ用の水平軸は
共通である。この特性は、１次測定値の波形と取得パラメータプロットとの間に
延びる点線により示されている。このように、２つのプロットは共通の時間軸を
持つため、取得パラメータプロットを参照することにより異常に気がついたオペ
レータは、１次測定波形の該当のセグメントに対してイベント位置をトレースす
ることができる。
【００２４】 図示された例の中で、取得パラメータは、１次測定データがしきい値ＴＨを越
えている間の時間であり、幅ジッタを図示する。この結果、１次測定表示部分１
２２の垂直軸は電圧であるが、取得パラメータ表示部分１２２の垂直軸は時間、
または信号幅である。また、図示されているように接近している関連測定値は、
信号がしきい値ＴＨを下回る時間である。この別のパラメータプロットは、符号
１２２’により示されている。
【００２５】 図４は図３の表示画面を作り出すための方法を図示する処理図であり、取得パ
ラメータはあるしきい値に対する１次測定値のレベルに基づいている。第１工程
２１０においては、１次測定値は信号から作り出される。次に、工程２１２にお
いて、１次測定値からのデータは時間の関数として表示される。これにより１次
測定表示部分１２０が生じる。本発明によれば、工程２１４において、１次測定
値からのデータは、また、しきい値ＴＨと比較される。工程２１６において、取
得パラメータ、即ち信号がしきい値ＴＨを通過する度にしきい値を越える時間の
長さが、また、プロットされ、取得パラメータ表示部分１２２を作り出す。取得
パラメータ表示部分１２２は、好ましくは、１次測定値との間で時間軸を共有す
る。しかし、垂直軸は、１次測定表示部分１２０の場合における電圧よりもむし
ろしきい値を越える時間を提示する。
【００２６】 好ましい実施形態において、ｓｉｎ（ｘ）／ｘおよびキュービック補間のよう
な非線形補間技法が用いられ、これにより、しきい値交差の位置決め時間の精度
が高められる。さらに、しきい値交差およびデジタルローパスフィルタに対する
ヒステリシス値の使用もまた、パラメータ計算時のノイズに対する不感性を高め
るために重要である。
【００２７】 図５は、本発明により１次測定値と取得パラメータを表示する別の例を示して
いる。この場合には、図３のように、表示画面１１０の１次測定部分１２０は信
号の電圧を時間の関数として示す。しかしながら、この信号の周期は、１次測定
データから取得される。表示画面１１０の取得パラメータ部分１２２は、次に信
号の各サイクル毎の周期をプロットする。この表示は、周期の時間的経過を示す
のに役立つので、オペレータは、周期のプロットを１次測定の実際の波形に、時
間軸が共通であるため、関連付けることができる。代わりの、または補完的な実
施形態いおいて取得パラメータ表示１２２’で図示されるように、周期は部分１
２２に示すように信号の立ち上がり部分よりも立ち下がりを開始として取得でき
る。
【００２８】 図６は、図５に示された表示画面１１０を生成する方法を図示する処理図であ
る。図４で考察したように、信号の１次測定値は工程２１０，２１２において作
り出されて表示される。本処理によれば１次測定値の波形のサイクルは、次に工
程２１８において１次測定値からのデータを参照することにより特定される。サ
イクルの特定およびデータに基づいて取得パラメータ、即ち連続するサイクルの
周期が計算され、工程２２０において時間の関数として表示される。
【００２９】 図７に、同様に、１次測定値からのデータのサイクルに基づいた別の表示画面
１１０を示す。この場合、サイクル間のジッタが表示画面１１０の取得パラメー
タ部分１２２上にプロットされる。特に、表示画面１１０の取得パラメータ部分
１２２の垂直軸は、現サイクル周期と先行のサイクル周期との差（ＰN −ＰN-1 ）を示す。
【００３０】 別の実施形態では、取得パラメータは、以下のその他のサイクルパラメータに
基づいている。サイクルパラメータとしては、各サイクル毎の最大と最小との間
の時間、各サイクル毎のローカル最小の時間、各サイクル毎のローカル最大の時
間、各サイクル毎のローカル最大とローカル最小との間の時間、各サイクルの周
波数、各サイクル毎の立ち上がり時間、各サイクル毎の立ち下がり時間、各サイ
クル毎のオーバーシュート、各サイクル毎のプレシュート、および隣り合うサイ
クルに対する各サイクル毎のパルス幅における変化等がある。
【００３１】 特に、パラメータを作り出すために１次測定値における最大と最小を探す時に
、ヒステリシス値を用いるのが、対象とするイベントの位置決めには有用な方法
である。さらに、ピーク、または他のイベントが時間および振幅に関して位置決
めされる精度を高めるために、ｓｉｎ（ｘ）／ｘおよびキュービック補間のよう
な非線形補間技法もまた使用するのが好ましい。
【００３２】 図８は、１次測定プロットと共に取得パラメータプロットをさらに別の表示画
面で表示している。この例において、取得パラメータは、各サイクルＰN の周期
および衝撃係数幅ＷN 、すなわち信号電圧があるしきい値ＴＨを上回る時間に基
づいている。取得パラメータ１２２のプロットの垂直軸は、あるサイクルの衝撃
係数ＷN をそのサイクルＰN の周期により除した値を示す。
【００３３】 別の取得パラメータプロット１２２’は、各サイクルがしきい値ＴＨ以下にあ
る時間に、パラメータが基づくことができることを示している。
【００３４】 図９は、サイクル時間およびしきい値に基づいて取得パラメータ表示を作り出
す技法を示している。特に、図６で示したように、工程２１０，２１２，１８に
おいて、１次測定値が作り出され、１次測定値のプロットが表示され、１次測定
値のサイクルが特定される。工程２２２において、各サイクル毎に１次測定値か
らのデータはまた、しきい値ＴＨと比較される。次に、工程２２４において、信
号の特定されたサイクルおよび１次測定値のデータのしきい値に基づいて、パラ
メータは時間の関数として計算され表示される。
【００３５】 追加的な実施形態では、振幅および／または衝撃係数におけるピーク変化に基
づく取得パラメータ表示がまた、１次測定の電圧と共にプロットされる。
【００３６】 図１０に、本発明による表示画面１１０のプロット部分１１６のさらに別の実
施形態を示す。この場合に、１次測定表示部分１２０は、１次測定からのデータ
を前述のように時間の関数としてプロットする。信号サイクルが特定され、次に
内部または外部時間基準と比較される。この時間基準は、絶対時間基準、または
図示のような基準クロック１２４のいずれでもよい。図示された例における取得
パラメータ表示部分１２２は、間隔誤差ジッタの表示である。これは、測定信号
の周期と基準クロック端１２４の周期との間の差である。したがって、取得パラ
メータプロット１２２の垂直軸は、これら２つの信号、すなわち各種の実施形態
における絶対時間基準に対する１次測定値の信号の比較を示す。
【００３７】 図１１は、図１０に示した表示画面を作り出す方法を示す処理図である。図９
に示したように、工程２１０，２１２および２１８において、１次測定値が作り
出され、１次測定値からのデータがプロットされて表示され、信号の１次測定値
のサイクルが特定される。さらに、工程２２６において、１次測定値のサイクル
が外部時間ベースと比較される。これは、外部クロックソース、またはオシロス
コープの外部もしくは内部のいずれかで生成された絶対時間基準であることが可
能である。次に、取得パラメータが時間の関数としてプロットされる。これらの
取得パラメータは、工程２２８において、信号のサイクルと時間ベースとの比較
に基づく。
【００３８】 他の実施形態において、取得パラメータは、信号サイクルと絶対時間基準との
間の位相差、信号サイクルと絶対時間基準との間のタイミング誤差、測定信号サ
イクルと基準クロックとの間の位相差、および基準クロックと測定信号サイクル
の間のタイミング誤差に基づくことができる。
【００３９】 図１２は、本発明のオシロスコープ１００の内部構造を示す概略図である。特
に、４つのポート１１４Ａ〜１１４Ｄは、オシロスコープの４つの並列チャネル
１３０Ａ〜１３０Ｄに対する入力を与える。各チャネル１３０は、チャネルに高
インピーダンス入力を与える増幅器１３２を有する。増幅器からの出力は、アナ
ログ・デジタルコンバータＡＤＣ１〜４ １３６によるデジタル化のために、信
号を暫定的にフリーズするサンプル・ホールド回路１３４に送られる。一実施形
態において、アナログ・デジタルコンバータのデジタル出力は８ビット幅であり
、波形メモリ１〜４ １３８に記憶される。これらの波形メモリは、通常１から
１６ミリオンの８ビット深さの記憶場所を有する。トリガー１４２は、トリガー
条件を探すためにチャネル１３０Ａ〜１３０Ｄの増幅器１３２からの出力を追跡
する。トリガー条件が見つけられると、タイムベース１４０に機能が付与されて
サンプル・ホールド回路１３４、アナログデジタルコンバータ１３６、および波
形メモリ１３８の動作を同期化させる。
【００４０】 一実施形態において、サンプル・ホールド回路１３４、アナログデジタルコン
バータ１３６、および波形メモリ１３８は、トリガー１４２がアーミング（発火
準備）されるだけで、プローブによりポート１１４Ａ〜１１４Ｄに送られる信号
の電圧を示すデータを連続的にフリーズし、デジタル化し、記憶する。波形メモ
リ１３８は、円形バッファの形でアドレス指定される。トリガー条件が見つけら
れた後においてのみトリガー１４２およびタイムベース１４０は、波形メモリの
内容を保持し、これにより波形をトリガーイベントでサンプリングする。
【００４１】 中央処理装置（ＣＰＵ）１５０は、オシロスコープ１００の全動作をコントロ
ールする。特にチャネル１３０Ａ〜１３０Ｄの波形メモリ１３８において捕捉さ
れたデータは、ＣＰＵ１５０によりローカルメモリ１５２にバス１４８を介して
送られる。好ましい実施形態においては、ローカルメモリ１５２には８つのスロ
ット♯１〜♯８が存在する。これにより、オシロスコープは、波形メモリ１３８
により捕捉された最大８つの別々のイベントを保持することができる。例えば、
４つのチャネルを、４つの信号を同時にサンプリングするために動作させること
ができる。ＣＰＵ１５０は、その内容をローカルメモリ１５２のスロット♯１か
ら♯４に送る。その後チャネル１３０Ａ〜１３０Ｄは、最大４つの信号イベント
をさらに捕捉するために自由となり、上書きが必要となる前にそれら信号イベン
トをローカルメモリ１５２のスロット♯５から♯８の中に記憶することができる
。
【００４２】 オペレータのコントロールの下で、ＣＰＵ１５０は処理用にローカルメモリス
ロット♯１から♯８におけるデータを選択してビデオフレームバッファ１５４に
送る。特にオペレータのコントロールの下で、スロット♯１および♯５のデータ
は表示用に選ばれることができる。このデータは、次に例えば非線形補間技法、
ｓｉｎ（ｘ）／ｘ、またはキュービック補間を用いて処理され、生じた表示デー
タはビデオバッファ１５４に送られて、表示画面１１０に渡される。
【００４３】 図１３は、ローカルメモリ１５２のスロット中のデータの表示画面１１０への
マッピングを示す概略図である。ＣＰＵ１５０は、ローカルメモリ１５２中のス
ロット♯１から♯８のいずれかにおける１次測定データを操作するので、ＣＰＵ
は取得パラメータを空いているスロットに記憶する。このようにして、取得パラ
メータは、通常ならば別の信号捕捉を行うためにチャネルにより使用されるロー
カルメモリ１５２中のスロットを利用する。簡単に説明するならば、図４から１
１に示したように、ＣＰＵは１次測定データのサイクルを特定し、精度を高める
ために非線形補間技法を用い、ノイズ不感性のためにヒステリシス／ローパスフ
ィルタを用いて、できる限り１次測定値にしきい値を設けて、および／または取
得パラメータを作り出すための別の操作を行う。
【００４４】 ストレージオシロスコープアーキテクチャを使用することの一長所は、例えば
多数のパラメータが同一の１次測定データから計算でき、同時に表示するために
記憶できることである。さらに、例えばパラメータを作るのに用いられる、最初
のしきい値がパラメータ表示の観察後に修正される場合に、パラメータの再計算
が可能である。
【００４５】 図１３は、信号捕捉から作り出された三角波形がスロット♯１に記憶されてい
る状況の一例を図示している。スロット♯１のアレー中のデータは、符号１５７
により示されている。スロット♯７の第２アレーは、アレー１５７のデータから
得られるパラメータを保持し、符号１５５により示されている。図示の例では、
取得パラメータは、スロット♯１のアレー１５５に記憶された三角信号の周期に
関連している。２つのアレー間に延びる点線１５６は、１次測定データおよび取
得パラメータが、類似する暫定的な構成と共に記憶されることを示す。例えば、
アレー１５５のアレー場所ｎは、アレー１５７のアレー場所ｎのデータから取得
されたパラメータを保持する。
【００４６】 好ましい実施形態においては、取得パラメータを保持するアレー１５５は、周
期に基づくデータで満たされる。アレー１５５における１次測定値の同一サイク
ルに対応する各場所は、取得パラメータのアレーにおける周期の測定値を保持す
る。記憶空間が幾らか無駄になるが、これにより現在のオシロスコープズームお
よび走査機能を正規に働かせることができる。正規のオシロスコープ機能を用い
てスケールを拡大、または縮小させる時にも、１次測定データおよび取得パラメ
ータの水平軸は共通の時間軸に同期した状態を保つ。
【００４７】 本発明は、好ましい実施形態を参照して詳述したが、請求の範囲によって明ら
かにされる本発明の趣旨と範囲を逸脱することなく、形式または細部を種々変更
できることは、当業者に理解されるであろう。当業者は必要以上の実験を行わな
くとも、ここで説明した本発明の特定の実施形態の均等物を容易に想到するだろ
うし、そうすることもできる。そのような均等物は請求の範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 デジタルストレージオシロスコープの斜視図である。
【図２】 デジタルストレージオシロスコープの従来の表示画面を示す図である。
【図３】 パルス幅ジッタパラメータ表示が生成される、本発明によるデジタルオシロス
コープ表示画面の概略図である。
【図４】 しきい値に基づくパラメータの表示を生成するためにデジタルオシロスコープ
により実行される処理を示す処理図である。
【図５】 周期ジッタパラメータ表示が生成される、本発明によるデジタルオシロスコー
プ表示画面の概略図である。
【図６】 サイクルに基づくパラメータの表示を生成するためにデジタルオシロスコープ
により実行される処理を示す処理図である。
【図７】 サイクル毎のジッタパラメータ表示が生成される、本発明によるデジタルオシ
ロスコープ表示画面の概略図である。
【図８】 衝撃係数ジッタパラメータ表示が生成される、本発明によるデジタルオシロス
コープ表示画面の概略図である。
【図９】 しきい値およびサイクルに基づくパラメータの表示を生成するためにデジタル
オシロスコープにより実行される処理を示す処理図である。
【図１０】 誤差ジッタ間隔パラメータ表示が生成される、本発明によるデジタルオシロス
コープ表示画面の概略図である。
【図１１】 時間およびサイクルに基づくパラメータの表示を生成するためにデジタルオシ
ロスコープにより実行される処理を示す処理図である。
【図１２】 本発明によるオシロスコープの概略構成図である。
【図１３】 本発明による、ローカルメモリアレーの表示へのマッピング、および取得パラ
メータアレーにおいて実行される埋め込みを示す概略図である。
【符号の説明】
１００…デジタルオシロスコープ、１１０…表示画面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＯＡ(ＢＦ，ＢＪ ，ＣＦ，ＣＧ，ＣＩ，ＣＭ，ＧＡ，ＧＮ，ＧＷ，ＭＬ， ＭＲ，ＮＥ，ＳＮ，ＴＤ，ＴＧ)，ＡＰ(ＧＨ，ＧＭ，Ｋ Ｅ，ＬＳ，ＭＷ，ＳＤ，ＳＬ，ＳＺ，ＵＧ，ＺＷ)，Ｅ Ａ(ＡＭ，ＡＺ，ＢＹ，ＫＧ，ＫＺ，ＭＤ，ＲＵ，ＴＪ ，ＴＭ)，ＡＬ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ ，ＢＧ，ＢＲ，ＢＹ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＵ，ＣＺ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，ＧＤ，ＧＥ，Ｇ Ｈ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ，ＩＳ，ＪＰ ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，ＬＫ，ＬＲ， ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＤ，ＭＧ，ＭＫ，ＭＮ，Ｍ Ｗ，ＭＸ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ， ＴＴ，ＵＡ，ＵＧ，ＵＳ，ＵＺ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＷ Ｆターム(参考） 2G029 AA01 AA02 AB02 AD08 AF02 AG01 AG08 AH01 2G030 AA01 AE02 AF01 AG00

Claims (46)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法であって、 信号の１次測定値を作り出す工程と、 １次測定値からのデータを時間の関数として表示する工程と、 １次測定データからパラメータを取得する工程と、 取得パラメータを１次測定値からのデータと共に時間の関数として表示する工
    程とを備えた、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
  2. 【請求項２】請求項１において、前記信号の１次測定値を作り出す工程が、一
    定時間毎に電圧信号を検出する、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方
    法。
  3. 【請求項３】請求項２において、前記１次測定からのデータを表示する工程と
    前記取得パラメータを表示する工程とが、検出電圧および取得パラメータを水平
    時間軸に沿ってプロットする、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法
    。
  4. 【請求項４】請求項１において、さらに、共通の時間軸を有する共通の表示画
    面上に、前記取得パラメータおよび前記１次測定データを表示する工程を備えた
    、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
  5. 【請求項５】請求項１において、前記パラメータを取得する工程が、前記１次
    測定値からのデータをしきい値と比較する、デジタルオシロスコープ上に情報を
    提示する方法。
  6. 【請求項６】請求項５において、前記パラメータを取得する工程が、さらに、
    １次測定データがしきい値を越える時間を求める、デジタルオシロスコープ上に
    情報を提示する方法。
  7. 【請求項７】請求項５において、前記パラメータを取得する工程が、さらに、
    １次測定データがしきい値未満となる時間を求める、デジタルオシロスコープ上
    に情報を提示する方法。
  8. 【請求項８】請求項１において、前記パラメータを取得する工程が、 前記信号のサイクルを特定し、 このサイクルに対するパラメータを計算する、デジタルオシロスコープ上に情
    報を提示する方法。
  9. 【請求項９】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに、
    各サイクル毎の最大値と最小値との間の時間を求める、デジタルオシロスコープ
    上に情報を提示する方法。
  10. 【請求項１０】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎の最小値と先行する最小値との間の時間を求める、デジタルオシ
    ロスコープ上に情報を提示する方法。
  11. 【請求項１１】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎のローカル最小値の時間を求める、デジタルオシロスコープ上に
    情報を提示する方法。
  12. 【請求項１２】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎のローカル最大値の時間を求める、デジタルオシロスコープ上に
    情報を提示する方法。
  13. 【請求項１３】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎のローカル最大値とローカル最小値との間の時間を求める、デジ
    タルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
  14. 【請求項１４】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎の周期を求める、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方
    法。
  15. 【請求項１５】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎の周波数を求める、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する
    方法。
  16. 【請求項１６】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎の立ち上がり時間を求める、デジタルオシロスコープ上に情報を
    提示する方法。
  17. 【請求項１７】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎の立ち下がり時間を求める、デジタルオシロスコープ上に情報を
    提示する方法。
  18. 【請求項１８】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎のオーバーシュートを求める、デジタルオシロスコープ上に情報
    を提示する方法。
  19. 【請求項１９】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、各サイクル毎のプレシュートを求める、デジタルオシロスコープ上に情報を提
    示する方法。
  20. 【請求項２０】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、サイクル周期の隣り合うサイクルに対する相対的な変化を求める、デジタルオ
    シロスコープ上に情報を提示する方法。
  21. 【請求項２１】請求項８において、前記パラメータを取得する工程が、さらに
    、サイクルのパルス幅の隣り合うサイクルに対する相対的な変化を求める、デジ
    タルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
  22. 【請求項２２】請求項１において、前記パラメータを取得する工程が、 前記信号のサイクルを特定し、 各サイクルの前記１次測定値をしきい値と比較する、デジタルオシロスコープ
    上に情報を提示する方法。
  23. 【請求項２３】請求項２２において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、サイクルの振幅におけるピークピーク変化を求める、デジタルオシロスコー
    プ上に情報を提示する方法。
  24. 【請求項２４】請求項２２において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、各サイクル毎の衝撃係数を求める、デジタルオシロスコープ上に情報を提示
    する方法。
  25. 【請求項２５】請求項２２において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、衝撃係数の隣り合うサイクルに対する相対的な変化を求める、デジタルオシ
    ロスコープ上に情報を提示する方法。
  26. 【請求項２６】請求項１において、前記パラメータを取得する工程が、 前記信号のサイクルを特定し、 前記１次測定データを絶対時間基準と比較する、デジタルオシロスコープ上に
    情報を提示する方法。
  27. 【請求項２７】請求項２６において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、信号サイクルと絶対時間基準との位相差を求める、デジタルオシロスコープ
    上に情報を提示する方法。
  28. 【請求項２８】請求項２６において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、信号サイクルと絶対時間基準とのタイミング誤差を求める、デジタルオシロ
    スコープ上に情報を提示する方法。
  29. 【請求項２９】請求項１において、前記パラメータを取得する工程が、前記信
    号の１次測定値を基準クロックと比較する、デジタルオシロスコープ上に情報を
    提示する方法。
  30. 【請求項３０】請求項２９において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、基準クロックと信号サイクルとの位相差を求める、デジタルオシロスコープ
    上に情報を提示する方法。
  31. 【請求項３１】請求項２９において、前記パラメータを取得する工程が、さら
    に、基準クロックと測定信号サイクルとのタイミング誤差を求める、デジタルオ
    シロスコープ上に情報を提示する方法。
  32. 【請求項３２】デジタルオシロスコープを動作させる方法であって、 所定の時間間隔で繰り返し信号をサンプリングしてデジタル化する工程と、 デジタル化により生成されたデータを記憶する工程と、 １次測定データからパラメータを時間の関数として取得する工程と、 取得パラメータを時間の関数として表示する工程とを備えたデジタルオシロス
    コープの運転方法。
  33. 【請求項３３】請求項３２において、前記信号をサンプリングしてデジタル化
    する工程が、電圧信号を検出する、デジタルオシロスコープの運転方法。
  34. 【請求項３４】請求項３３において、前記取得パラメータを表示する工程が、
    表示画面上の水平時間軸に沿って前記取得パラメータをプロットする、デジタル
    オシロスコープの運転方法。
  35. 【請求項３５】請求項３４において、さらに、共通の時間軸を用いて共通の表
    示画面上に、前記取得パラメータをデジタル化データと共に表示する、デジタル
    オシロスコープの運転方法。
  36. 【請求項３６】信号の１次測定を実行し、測定値を示すデータを生成する、少
    なくとも一つのデジタル化チャネルと、 １次測定データから、パラメータを時間の関数として取得するデータ処理装置
    と、 １次測定値からのデータおよび取得パラメータが時間の関数としてプロットさ
    れる表示画面とを備えたデジタルオシロスコープ。
  37. 【請求項３７】請求項３６において、さらに、少なくとも４つのデジタル化チ
    ャネルを備えたデジタルオシロスコープ。
  38. 【請求項３８】請求項３６において、前記少なくとも一つのデジタル化チャネ
    ルが、 信号をフリーズするサンプル・ホールド回路と、 このサンプル・ホールド回路からの信号をデジタル化するアナログ・デジタル
    コンバータと、 アナログ・デジタルコンバータにより生成されたデジタルデータを記憶する波
    形メモリとを備えたデジタルオシロスコープ。
  39. 【請求項３９】請求項３８において、さらに、ローカルメモリを備え、前記プ
    処理装置が前記波形メモリからこのローカルメモリにデータを伝送するデジタル
    オシロスコープ。
  40. 【請求項４０】請求項３９において、前記データ処理装置が、計算後に前記ロ
    ーカルメモリに前記取得パラメータを記憶するデジタルオシロスコープ。
  41. 【請求項４１】請求項４０において、前記ローカルメモリが記憶場所のアレー
    を備え、この記憶場所のデータは暫定的に構成され、前記取得パラメータおよび
    前記１次測定値からのデータは類似する暫定的な構成を持つアレーに記憶される
    デジタルオシロスコープ。
  42. 【請求項４２】請求項４１において、前記取得パラメータを保持するアレーは
    、表示画面上でのスケーリング操作を容易にするように、埋め込まれているデジ
    タルオシロスコープ。
  43. 【請求項４３】請求項３６において、前記データ処理装置は、表示を制御する
    ことにより、１次測定値からのデータおよび取得パラメータを水平時間軸に沿っ
    てプロットするデジタルオシロスコープ。
  44. 【請求項４４】請求項３６において、前記データ処理装置は、表示を制御する
    ことにより、取得パラメータおよび１次測定値からのデータを共通の時間軸を用
    いてプロットするデジタルオシロスコープ。
  45. 【請求項４５】デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法であって、 信号の１次測定値を作り出す工程と、 １次測定値からのデータを時間の関数として表示する工程と、 １次測定データから各種パラメータの複数アレーを取得する工程と、 各種の取得パラメータを１次測定値からのデータと共に同時に時間の関数とし
    て表示する工程とを備えた、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
  46. 【請求項４６】デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法であって、 信号の１次測定値を作り出す工程と、 １次測定値からのデータを時間の関数として表示する工程と、 １次測定データからパラメータを取得する工程と、 取得パラメータを１次測定値からのデータと共に時間の関数として表示する工
    程と、 パラメータの表示を観察した後に、新しい判定基準に基づいてパラメータを再
    計算する工程とを備えた、デジタルオシロスコープ上に情報を提示する方法。
JP2000535938A 1998-03-09 1999-03-05 １次測定値と取得パラメータの同時表示 Pending JP2002506975A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/037,155 1998-03-09
US09/037,155 US6195617B1 (en) 1998-03-09 1998-03-09 Digital storage oscilloscope with simultaneous primary measurement and derived parameter display on common time axis and method therefor
PCT/US1999/004800 WO1999046608A1 (en) 1998-03-09 1999-03-05 Simultaneous display of primary measurement values and derived parameters

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002506975A true JP2002506975A (ja) 2002-03-05
JP2002506975A5 JP2002506975A5 (ja) 2006-04-20

Family

ID=21892738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000535938A Pending JP2002506975A (ja) 1998-03-09 1999-03-05 １次測定値と取得パラメータの同時表示

Country Status (10)

Country Link
US (2) US6195617B1 (ja)
EP (1) EP1062521B1 (ja)
JP (1) JP2002506975A (ja)
CN (1) CN1230683C (ja)
AT (1) ATE273519T1 (ja)
AU (1) AU758784B2 (ja)
CA (1) CA2323085A1 (ja)
DE (1) DE69919337T2 (ja)
NZ (1) NZ506934A (ja)
WO (1) WO1999046608A1 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009516176A (ja) * 2005-11-10 2009-04-16 テラダイン、 インコーポレイテッド ローカルに順序付けられたストロービング
KR100949939B1 (ko) 2008-03-28 2010-03-30 주식회사 한영넉스 페이퍼 기록계
JP2010127626A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2010266444A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Tektronix Inc 測定方法及び装置
JP2011106827A (ja) * 2009-11-12 2011-06-02 Yokogawa Electric Corp ディジタルオシロスコープ
JP2012042468A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Tektronix Inc 試験測定装置及びイベント検索方法

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000210800A (ja) * 1999-01-27 2000-08-02 Komatsu Ltd 産業機械のモニタ方法およびその装置
US6327544B1 (en) * 1999-03-01 2001-12-04 Agilent Technologies, Inc. Automatic storage of a trigger definition in a signal measurement system
US6463392B1 (en) * 1999-08-16 2002-10-08 Agilent Technologies, Inc. System and method for adjusting a sampling time in a logic analyzer
US6525525B1 (en) * 2000-05-02 2003-02-25 Tektronix, Inc. Oscilloscope with simplified setup procedure, and procedure for setting up oscilloscope
EP1337909A4 (en) * 2000-11-17 2008-10-01 Lecroy Corp PROCESSING WEB EDITOR FOR DATA PROCESSING IN A DIGITAL OSCILLOSCOPE OR SIMILAR INSTRUMENT
US20060256137A1 (en) * 2001-10-19 2006-11-16 Chenjing Fernando Scaling method and apparatus for displaying signals
US20030076337A1 (en) * 2001-10-19 2003-04-24 Chenjing Fernando Scaling method and apparatus for displaying signals
US6917889B2 (en) * 2002-02-26 2005-07-12 Tektronix, Inc. Method and apparatus for visually time-correlating waveform measurements to a source waveform
US6807496B2 (en) 2002-05-02 2004-10-19 Tektronix, Inc. Acquisition system for a long record length digital storage oscilloscope
US6748335B2 (en) 2002-05-06 2004-06-08 Tektronix, Inc. Acquisition system for a multi-channel relatively long record length digital storage oscilloscope
US6892150B2 (en) 2002-05-24 2005-05-10 Tektronix, Inc. Combined analog and DSP trigger system for a digital storage oscilloscope
US7437624B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for analyzing serial data streams
US7434113B2 (en) * 2002-09-30 2008-10-07 Lecroy Corporation Method of analyzing serial data streams
US7519874B2 (en) * 2002-09-30 2009-04-14 Lecroy Corporation Method and apparatus for bit error rate analysis
JP4490642B2 (ja) * 2003-04-01 2010-06-30 株式会社根本杏林堂 薬液注入装置
US7403560B2 (en) * 2004-02-09 2008-07-22 Lecroy Corporation Simultaneous physical and protocol layer analysis
US6972554B1 (en) * 2004-07-26 2005-12-06 Honeywell International, Inc. Universal aircraft generator electrical bench test apparatus
US7305312B2 (en) * 2005-01-10 2007-12-04 Wavecrest Corporation Method and apparatus for recording a real time signal
US7839792B2 (en) * 2005-08-30 2010-11-23 Tektronix, Inc. Time-correlated, simultaneous measurement and analysis of network signals from multiple communication networks
US7652465B2 (en) * 2006-03-24 2010-01-26 Tektronix, Inc. No dead time data acquisition
CN101424711B (zh) * 2007-10-31 2011-02-02 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 铃音自动检测系统及方法
US20090121762A1 (en) * 2007-11-09 2009-05-14 Tektronix, Inc. Timebase variation compensation in a measurement instrument
US8521457B2 (en) * 2008-10-20 2013-08-27 Olympus Ndt User designated measurement display system and method for NDT/NDI with high rate input data
CN102004177B (zh) * 2009-08-28 2014-12-10 苏文俊 示波器及利用该示波器识别串行总线信号时序的方法
CN102012444B (zh) * 2009-09-07 2014-04-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 示波器及利用该示波器测试串行总线信号的方法
US8754779B2 (en) 2010-08-18 2014-06-17 Snap-On Incorporated System and method for displaying input data on a remote display device
US9117321B2 (en) 2010-08-18 2015-08-25 Snap-On Incorporated Method and apparatus to use remote and local control modes to acquire and visually present data
US9633492B2 (en) 2010-08-18 2017-04-25 Snap-On Incorporated System and method for a vehicle scanner to automatically execute a test suite from a storage card
US8560168B2 (en) 2010-08-18 2013-10-15 Snap-On Incorporated System and method for extending communication range and reducing power consumption of vehicle diagnostic equipment
US9330507B2 (en) 2010-08-18 2016-05-03 Snap-On Incorporated System and method for selecting individual parameters to transition from text-to-graph or graph-to-text
US8463953B2 (en) 2010-08-18 2013-06-11 Snap-On Incorporated System and method for integrating devices for servicing a device-under-service
US8983785B2 (en) * 2010-08-18 2015-03-17 Snap-On Incorporated System and method for simultaneous display of waveforms generated from input signals received at a data acquisition device
CN102466745B (zh) * 2010-11-03 2015-08-19 北京普源精电科技有限公司 一种用波形显示测量结果的数字万用表
JP5477357B2 (ja) * 2010-11-09 2014-04-23 株式会社デンソー 音場可視化システム
CN102798765A (zh) * 2011-05-27 2012-11-28 特克特朗尼克公司 触发器品质因数指示器
CN102932287B (zh) * 2011-08-11 2017-04-19 特克特朗尼克公司 测试和测量仪器中的时域搜索
CN102539863B (zh) * 2012-01-12 2014-05-14 黑龙江大学 45度线观测系统状态的示波器显示电路
US9496993B1 (en) 2012-01-13 2016-11-15 Teledyne Lecroy, Inc. Noise analysis to reveal jitter and crosstalk's effect on signal integrity
US10095659B2 (en) 2012-08-03 2018-10-09 Fluke Corporation Handheld devices, systems, and methods for measuring parameters
CN102890258B (zh) * 2012-10-22 2014-06-25 电子科技大学 一种并行结构数字存储示波器捕获率的测试方法
US9329967B2 (en) * 2012-11-13 2016-05-03 Tektronix, Inc. Methods and systems for aiding the analysis of a signal
US9128721B2 (en) * 2012-12-11 2015-09-08 Apple Inc. Closed loop CPU performance control
WO2014145153A2 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Neeley John Automatic recording and graphing of measurement data
CN104730306A (zh) * 2013-12-24 2015-06-24 苏州普源精电科技有限公司 解码自动门限设定方法及具有解码自动门限设定功能的示波器
US9766270B2 (en) 2013-12-30 2017-09-19 Fluke Corporation Wireless test measurement
US10126162B2 (en) * 2014-03-20 2018-11-13 Ishida Co., Ltd. Weighing device using filtering to improve accuracy
CN105807114B (zh) * 2014-12-31 2018-06-26 深圳高宜电子科技有限公司 数字示波器采集数据的存取方法、装置及数字示波器
CN104977556B (zh) 2015-06-30 2017-09-12 电子科技大学 基于死区时间测量的平均波形捕获率测试方法
US10712367B2 (en) 2016-11-08 2020-07-14 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Method for analyzing a signal as well as measurement and analyzing device
CN111948433B (zh) * 2020-08-10 2022-08-12 优利德科技(中国)股份有限公司 一种基于数字示波器的波形展示方法及装置
USD987459S1 (en) * 2021-04-26 2023-05-30 Yokogawa Electric Corporation Spectrum analyzer

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4149044A (en) 1978-01-10 1979-04-10 Hekimian Norris C Method and apparatus for graphically displaying amplitude and phase jitter
US4719416A (en) * 1986-11-10 1988-01-12 Hewlett Packard Company Method for determining the minimum number of acquisition sweeps to meet the risetime specifications of a digital oscilloscope
US5111191A (en) * 1988-06-23 1992-05-05 Motorola, Inc. Method and apparatus for waveform digitization
JPH03291570A (ja) * 1990-04-10 1991-12-20 Yokogawa Electric Corp デジタルオシロスコープ
US5250935A (en) 1990-09-24 1993-10-05 Snap-On Tools Corporation Waveform peak capture circuit for digital engine analyzer
US5375067A (en) * 1992-12-11 1994-12-20 Nicolet Instrument Corporation Method and apparatus for adjustment of acquisition parameters in a data acquisition system such as a digital oscilloscope
US5446650A (en) 1993-10-12 1995-08-29 Tektronix, Inc. Logic signal extraction

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009516176A (ja) * 2005-11-10 2009-04-16 テラダイン、 インコーポレイテッド ローカルに順序付けられたストロービング
KR100949939B1 (ko) 2008-03-28 2010-03-30 주식회사 한영넉스 페이퍼 기록계
JP2010127626A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2010266444A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Tektronix Inc 測定方法及び装置
JP2011106827A (ja) * 2009-11-12 2011-06-02 Yokogawa Electric Corp ディジタルオシロスコープ
JP2012042468A (ja) * 2010-08-13 2012-03-01 Tektronix Inc 試験測定装置及びイベント検索方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE69919337T2 (de) 2005-09-01
US6195617B1 (en) 2001-02-27
WO1999046608A1 (en) 1999-09-16
US20010001850A1 (en) 2001-05-24
NZ506934A (en) 2002-12-20
ATE273519T1 (de) 2004-08-15
CA2323085A1 (en) 1999-09-16
US6311138B2 (en) 2001-10-30
AU3069099A (en) 1999-09-27
DE69919337D1 (de) 2004-09-16
EP1062521A1 (en) 2000-12-27
AU758784B2 (en) 2003-03-27
EP1062521B1 (en) 2004-08-11
CN1230683C (zh) 2005-12-07
CN1292876A (zh) 2001-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002506975A (ja) １次測定値と取得パラメータの同時表示
US5854996A (en) Logic signal extraction
US20070248122A1 (en) Methods and systems relating to distributed time markers
US4975636A (en) Method and apparatus for selecting and displaying a high resolution window from a main display
US4800571A (en) Timing jitter measurement display
US20070258378A1 (en) Methods and systems relating to distributed time markers
JPS5934164A (ja) 波形取込装置
JP2003535344A (ja) Ａｔｅタイミング測定装置および方法
US7434113B2 (en) Method of analyzing serial data streams
US20040123208A1 (en) Method and apparatus for analyzing serial data streams
JPH09101353A (ja) ベクトルに基づく波形採取及び表示
US11143679B2 (en) Method and apparatus for processing a measurement signal
US5485078A (en) Method for analyzing a circuit board waveform for faults
US5352976A (en) Multi-channel trigger dejitter
US6856924B2 (en) Mixer-based timebase for sampling multiple input signal references asynchronous to each other
US6700516B1 (en) Mixer-based timebase for signal sampling
JP4410919B2 (ja) 電力ラインの電圧測定器
Reddy et al. A simple and inexpensive circuit for emission and capture deep level transient spectroscopy
US8214163B2 (en) Envelope generation algorithm
JP3671413B2 (ja) 測定装置
JPH0618573A (ja) スペクトラムアナライザ
JPH10142295A (ja) 波形測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060301

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060301

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081211

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090106

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090602