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Oszilloskope
sind eines von den mehreren üblichen
Beispielen elektrischer Test- und Messgeräte. Diese Klasse von Geräten führt primäre Messungen
an zeitlich variierenden Signalen durch. In den meisten Fällen sind
diese Messungen die einer Signalspannung als eine Funktion der Zeit,
obwohl die detektierte Spannung irgendeinen anderen interessierenden
Meßwert,
wie z.B. einen elektrischen Strom durch ein Widerstandselement oder
eine Temperatur im Falle eines Thermistors in zwei beliebigen Beispielen
darstellen kann. Das Oszilloskop ist nützlich, da es die Visualisierung
des zeitveränderlichen Charakters
von Signalen ermöglicht,
indem eine Pegel darstellende vertikale Achse und ein Zeit darstellende
horizontale Achse verwendet wird.
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Das
digitale Speicheroszilloskop (DSO) ist eine Unterklasse von Oszilloskopen,
in welcher die zeitvariable Natur abgetasteter Signale digital innerhalb
des Gerätes
dargestellt wird. Der Hauptvorteil besteht darin, dass nicht-simultane
Signalereignisse in dem Gerät
für einen
anschließenden
Vergleich gespeichert werden können.
Zusätzlich
können
Parameter aus den digitalen Daten der primären Messungen abgeleitet werden,
wie z.B. statistische Merkmale der Signale.
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In
der typischen Implementation arbeitet das DSO, indem es auf die
Erfüllung
einer bestimmten Auslösebedingung
wartet. Wenn das Auslöseereignis
empfangen wird, werden die primären
Messungen wie beispielsweise der Spannung des Signals durchgeführt und
die sich ergebenden Messdaten in einem Wellenformspeicher gespeichert.
Aufeinanderfolgende Positionen in dem Wellenformspeicher halten
den digitalisierten Pegel des Signals bei zunehmenden Zeitverzögerungen
ab dem Auslösezeitpunkt
fest. Bei der derzeitigen Technologie können DSOs Signale mit einer
Rate bis zu 8 Giga-Abtastungen/s
(GS/s) mit Wellenformspeichern mit bis zu 16 Millionen Speicherplätzen erfassen.
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Während Oszilloskope
Zeitbereichsinstrumente sind, führen
Spektrumanalysatoren primäre Messungen
in dem Frequenzbereich aus. In der typischen Konfiguration tragen
bzw. plotten diese Geräte die
Größe der Signalenergie
als eine Funktion der Frequenz/Signal-Größe oder des Pegels auf der
vertikalen Achse mit der Frequenz über der horizontalen Achse
auf. Diese Geräte
arbeiten typischerweise, indem sie mit einem sehr schmalbandigen
Kerb-Bandpassfilter das interessierende Frequenzspektrum abscannen
und die Energie in den Frequenzteilbereichen messen. Auf diese Weise
sind Spektrumanalystoren nützlich
bei der Identifikation der Spektralverteilung eines gegebenen Signals.
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Für bestimmte
Signalanalyseprobleme sind jedoch Oszilloskope und Spektrumanalysatoren
nicht gut für
die Aufgabe geeignet. Beispielsweise sind, wenn versucht wird, seltene
Anomalien in einem Signal zu isolieren, wie z.B. dem, das für eine Analyse/Fehlersuche
einer Digital/Analog-Schaltung benötigt wird, oder wenn versucht
wird, Trends in Signalen zu identifizieren, wie z.B., wenn modulierte
Signale analysiert werden, sind sowohl Oszilloskope als auch Spektrumanalysatoren
weniger nützlich.
Da Spektrumanalysatoren arbeiten, indem Filtern über das Spektrum gescannt werden,
gehen alle kurzzeitigen Veränderungen
in den Signalen verloren; und in den meisten Oszilloskopen durchlaufen
derartige seltenen Anomalien die Anzeige mit einer Geschwindigkeit,
die für
eine Analyse durch den Bediener zu schnell ist. Nur DSOs enthalten
die relevante Signalinformation, jedoch muss der Bediener für deren Analyse
lange Datenfelder durchscannen, um Ereignisse zu finden, welche
nicht ohne weiteres aus der primären
Messung alleine ersichtlich sind.
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Zur
Füllung
dieser Lücke
wurden elektronische Zähler,
wie z.B. Modulationsbereichsanalysatoren, entwickelt. Diese Geräte arbeiten,
indem sie primäre
Messungen des Signals durchführen,
d.h., den Durchtrittszeitpunkt des Signals durch einen eingestellten
Schwellenwert detektieren, und dann Plots von Parametern erzeugen,
welche aus der primären Messung
abgeleitet werden, wie z.B. eine Frequenz, Phase oder ein Zeitintervall
des Signals als eine Funktion der Zeit. Beispielsweise ist die Analyse
von Frequenz/Phase über
der Zeit sehr nützlich
bei der Analyse von Frequenz-umgetasteten bzw. Phase-umgetasteten,
modulierten Übertragungen;
die Zeitintervallanalyse ist nützlich
für die
Analyse Pulsbreiten-modulierter Signale.
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EP-A-0
477 507, US-A-5,446,650, eine Liste von Contest 96-7 des Katalogs
von Co. Sound Technology, Seiten a, b und c und der National Instruments
1997 Instrumentation Katalog, Seiten 2 bis 9, sind Veröffentlichungen
des Stands der Technik für die
vorliegende Anmeldung.
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Die
vorliegende Erfindung ist ein Verfahren zur Darstellung von Information
auf einem digitalen Oszilloskop gemäß Beanspruchung in Anspruch
1. Optionale Aspekte des Verfahrens der vorliegenden Erfindung werden
in den abhängigen
Ansprüchen beansprucht.
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ZUSAMMENFASSUNG
DER ERFINDUNG
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Obwohl
sie etwas nützlich
bei der Analyse offensichtlicher wiederkehrender Trends in Modulationssignalübertragungsanwendungen
sind, sind Modulationsanalysatoren bei der Identifizierung und Verfolgung
spezifischer Anomalien in diesen Signalen und der Behandlung des
breiten Bereichs der Signalanalyse, der erwünscht wäre, weniger nützlich. Modulationsbereich-Analysatoren
ermöglichen
dem Bediener nicht, die abgeleiteten Parameter, wie z.B. Frequenz/Phase,
mit der tatsächlichen
primären Messung
der Signale, wie z.B. deren Pegel, wie z.B. der Spannung, zu vergleichen.
Modulationsanalysatoren speichern nicht die primären Messungen, sondern berechnen
lediglich die Parameter im Messverlauf. Demzufolge ist es für den Bediener
immer noch schwierig, das sehr selten auftretende anormale Ereignis
zu finden. Ferner gibt es keine Möglichkeit, den Ort des anormalen
Ereignisses in Hinblick auf das tatsächliche Signal zu identifizieren,
selbst wenn es gefunden werden kann. Außerdem erfordern Modulationsbereich-Analysatoren
eine Voreinstellung des Schwellenwertes. Sobald eine Messung durchgeführt ist,
gibt es keine Möglichkeit,
einen anderen Schwellenwert zu wählen.
Und die Anzahl der von den Geräten
angebotenen abgeleiteten Parameter ist typischerweise auf die Phase,
Frequenz oder das Zeitintervall über
der Zeit beschränkt.
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Die
vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren für die Darstellung von Information
auf einem digitalen Oszilloskop, das mit Fähigkeiten zur Ableitung und
Darstellung von Parametern auf der Basis von dessen primären Messungen
erweitert wurde. Das Oszilloskop kann ein digitales Speicheroszilloskop
sein, das eine zeitvariable Spannung misst. Die abgeleiteten Parameter
werden aus den primären Messungen
berechnet und gleichzeitig mit diesen Messungen auf derselben Achse
dargestellt. Dieses ermöglicht
es dem Bediener des Oszilloskops, gefundene Merkmale durch Bezugnahme
auf die abgeleiteten Parameter direkt mit den primären Messungen des
Signals zu korrelieren. Ferner können,
da die abgeleiteten Parameter bevorzugt auf der Basis gespeicherter
Daten aus den Messungen berechnet werden, ein großes Spektrum
unterschiedlicher Parameter berechnet und beispielsweise unterschiedliche Schwellenwerte
an denselben Datensatz angelegt werden.
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Das
Verfahren der vorliegenden Erfindung umfasst das Durchführen primärer Messungen
eines Signals. In dem typischen Fall umfasst dieses das Messen der
Signalspannung als eine Funktion der Zeit, obwohl die Spannung irgendein
anderes zeitlich variie rendes Phänomen
anzeigen kann, wie z.B. Strom, Beschleunigung oder irgendein übertragenes Signal.
Die Daten aus der primären
Messung werden dann als eine Funktion der Zeit dargestellt. In einer typischen
Implementation stellt die horizontale Achse der Anzeige die Zeit
dar. Gemäß der Erfindung
werden abgeleitete Parameter des Signals auch auf der Basis der
primären
Messdaten berechnet. Diese abgeleiteten Parameter werden dann ebenfalls
als eine Funktion der Zeit auf der Anzeige dargestellt. In der bevorzugten
Implementation werden die primären Messungen
und die abgeleiteten Parameter auf einer gemeinsamen Anzeige mit
einer gemeinsamen Zeitachse dargestellt.
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In
spezifischen Ausführungsformen
werden die abgeleiteten zeitvariablen Parameter auf der Basis einer
Anzahl von Operationen erzeugt. Beispielsweise können die abgeleiteten Parameter
durch Vergleichen der primären
Messdaten mit einem Schwellenwert erzeugt werden. Eine derartige
Operation ergibt Parameter, wie z.B. die Zeit, über welche die primäre Messung über einen
Schwellenwert als eine Funktion der Zeit fällt oder ansteigt.
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Zusätzliche
Merkmale in weiteren Implementationen leiten Parameter ab, indem
zuerst Zyklen in dem Signal identifiziert und dann die Parameter
für jeden
dieser Zyklen berechnet werden. Derartige Operationen sind nützlich,
wenn beispielsweise die Zeit zwischen Minima/Maxima und Minima/Maxima in
vorausgehenden und nachfolgenden Zyklen, die Zeit lokaler Minima
und/oder Maxima, die Periode, die Zyklushäufigkeit, Anstiegszeit, Zyklusabfallzeit, Überschwingen/Unterschwingen,
Periodenveränderung
oder Änderung
der Impulsbreite von Zyklus zu Zyklus geplottet wird.
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In
zusätzlichen
oder alternativen Merkmalen können
die abgeleiteten Parameter auf der Basis erster identifizierender
Zyklen in dem Signal und dann durch Vergleichen der primären Messungen
in jedem Zyklus mit einem Schwellenwert erzeugt werden. Diese Operationen
sind nützlich,
wenn beispielsweise eine Peak zu Peak- Variation in der Amplitude,
ein Tastverhältnisfaktor
und eine Veränderung
im Tastverhältnisfaktor
von Zyklus zu Zyklus ermittelt werden.
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In
noch weiteren Implementationen können die
abgeleiteten Parameter erzeugt werden, indem zuerst Zyklen in dem
Signal identifiziert und dann jeder Zyklus mit einem absoluten Zeitbezugswert
verglichen wird. Dieses ist in Kommunikationssystemen nützlich,
um Phasendifferenzen und Zeittaktfehler zu ermitteln. In ähnlicher
Weise können
die abgeleiteten Parameter durch Vergleichen der primären Messdaten
mit einem Bezugs zeittakt erzeugt werden. Dieses ist beispielsweise
nützlich
bei der Bestimmung von Phasendifferenzen zwischen dem gemessenen
Signal/Takt und Zeittaktfehlern.
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Das
Verfahren der vorliegenden Erfindung kann auch das wiederholte Abtasten
und Digitalisieren eines Signals zu bestimmten Zeitintervallen und das
Speichern der durch die Digitalisierung erzeugten Signale umfassen.
Parameter werden aus diesen primären
Messungen berechnet. Die berechneten Parameter werden dann als eine
Funktion der Zeit auf dem Oszilloskop angezeigt. Auf diese Weise
werden Zeit-basierende Parameter direkt aus den digitalen primären Messdaten
berechnet.
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Ein
für die
Praxisumsetzung des Verfahrens der vorliegenden Erfindung nützliches
Oszilloskop weist wenigstens einen Digitalisierungskanal auf, der die
primären
Messungen eines Signals ausführt
und der diese Messungen darstellende Daten erzeugt. Eine Datenverarbeitungseinheit
wird dann zum Ableiten von Parametern aus den Daten verwendet. Die primären Messdaten
und die abgeleiteten Parameter werden dann als eine Funktion der
Zeit auf der Anzeige des digitalen Oszilloskops geplottet.
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Jeder
Digitalisierungskanal kann einen Abtast- und Haltekreis umfassen,
der das Signal einfriert. Ein Analog-Digital-Wandler digitalisiert
dann das Signal. Die sich ergebenden Daten werden in einem Wellenformspeicher
gespeichert. Danach werden die Daten aus dem Wellenformspeicher
in eine lokale Speichereinheit übertragen.
Die Datenverarbeitungseinheit greift auf diesen lokalen Speicher
zu, um die abgeleiteten Parameter zu berechnen, die nach der Berechnung
in den lokalen Speicher zurückgespeichert
werden.
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Der
lokale Speicher kann Felder von Speicherplätzen umfassen. Die Daten aus
den primären Messungen
und die abgeleiteten Parameter werden in getrennten Feldern gespeichert,
jedoch so, dass der Prozessor die Felder wieder korrelieren kann,
um eine analoge zeitliche Organisation zu haben. Mit anderen Worten,
die Datenverarbeitungseinheit kann abgeleitete Parameter an spezifischen
Stellen mit den Daten aus den primären Messungen korrelieren, welche
der Anlass für
die abgeleiteten Parameter waren. Bevorzugt wird das die abgeleiteten
Parameter enthaltende Feld aufgefüllt, um Skalierungsoperationen,
wie z.B. Zoomoperationen zu ermöglichen,
welche für
die Signalanzeige durchgeführt
werden.
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Die
vorstehenden und weiteren Merkmale der Erfindung und weitere Vorteile
werden nun insbesondere unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen
beschrieben, und in den Ansprüchen besonders
dargestellt. Es dürfte
sich verstehen, dass die die Erfindung verkörpernden speziellen Verfahren nur
als Beispiel und nicht als Einschränkung der Erfindung dargestellt
sind. Die Prinzipien und Merkmale dieser Erfindung können in
verschiedenen und zahlreichen Ausführungsformen ohne Abweichung
von dem Schutzumfang der Erfindung verwendet werden.
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KURZBESCHREIBUNG
DER ZEICHNUNGEN
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In
den Zeichnungen beziehen sich gleiche Bezugszeichen durchgängig durch
die unterschiedlichen Ansichten auf dieselben Teile. Die Zeichnungen sind
nicht notwendigerweise maßstabsgerecht,
sondern es wird statt dessen die Betonung auf die Darstellung der
Prinzipien der Erfindung gelegt. Von den Zeichnungen ist:
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1 eine
perspektivische Ansicht eines digitalen Speicheroszilloskops;
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2 eine
Darstellung einer herkömmlichen Anzeige
eines digitalen Speicheroszilloskops;
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3 eine
schematische Ansicht einer Anzeige eines digitalen Oszilloskops
gemäß der vorliegenden
Erfindung, in welcher eine Impulsbreiten-Jitterparameter-Anzeige
erzeugt wird;
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4 ein
Ablaufdiagramm, das die von dem digitalen Oszilloskop durchgeführten Schritte
zum Erzeugen von Schwellenwert-basierenden Parameteranzeigen veranschaulicht;
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5 eine
schematische Ansicht einer Anzeige eines digitalen Oszilloskops
gemäß der vorliegenden
Erfindung, in welcher eine Perioden-Jitterparameter-Anzeige erzeugt
wird;
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6 ein
Ablaufdiagramm, das die von dem digitalen Oszilloskop durchgeführten Schritte
zum Erzeugen von Zyklus-basierenden Parameteranzeigen veranschaulicht;
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7 eine
schematische Ansicht einer Anzeige eines digitalen Oszilloskops
gemäß der vorliegenden
Erfindung, in welcher eine Zyklus zu Zyklus- Jitterparameter-Anzeige
erzeugt wird;
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9 ein
Ablaufdiagramm, das die von dem digitalen Oszilloskop durchgeführten Schritte
zum Erzeugen von Schwellenwert- und Zyklus-basierenden Parameteranzeigen
veranschaulicht;
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10 eine
schematische Ansicht einer Anzeige eines digitalen Oszilloskops
gemäß der vorliegenden
Erfindung, in welcher ein Intervallfehler-Jitterparameter-Anzeige
erzeugt wird;
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11 ein
Ablaufdiagramm, das die von dem digitalen Oszilloskop durchgeführten Schritte zum
Erzeugen von Zeit- und Zyklus-basierenden Parameteranzeigen veranschaulicht;
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12 eine
Blockdarstellung, welche den Aufbau eines Oszilloskops gemäß der vorliegenden Erfindung
darstellt; und
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13 eine
Blockdarstellung, welche die Zuordnung der Felder des lokalen Speichers
zu der Anzeige und die in dem Feld des abgeleiteten Parameters durchgeführte Auffüllung gemäß der vorliegenden
Erfindung darstellt.
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DETAILLIERTE
BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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1 stellt
ein digitales Speicheroszilloskop (DSO) dar, auf welches die Prinzipien
der vorliegenden Erfindung angewendet werden. Im Allgemeinen weist
das DSO 100 eine Anzeige 110 auf, auf welcher die
zeitabhängigen
Daten angezeigt werden. Ein Tastenfeld 112 steuert beispielsweise
den Betrieb der Anzeige 110 und der Auslöseeigenschaften.
Ein optionaler Drucker 114 liefert einen Ausdruck der Anzeige,
Rohdaten oder den Zustand des Oszilloskops. Vier analoge Signaleingangsanschlüsse 114A bis 114D stellen
eine Verbindung zu (nicht dargestellten) Messköpfen dar. Die Messköpfe werden
zum Übertragen
von zeitlich variierenden Spannungssignalen an den DSO 100 verwendet,
wo diese abgetastet und digitalisiert werden. Hilfseingangsanschlüsse 115 stellen
alternative Eingänge
oder Auslöseeingänge zur
Verfügung.
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2 ist
eine detailliertere Ansicht der Anzeige 110. Sie umfasst
einen Signal-Plotbereich 116, in
welchem die detektierte Spannung eines abgetasteten Signals herkömmlicherweise
auf einer vertikalen Achse über
einer horizontalen Zeitachse geplottet wird. Statusabschnitte 118 der
Anzeige 110 geben die Anzeigeeigenschaften, den horizontalen
vertikalen Maßstab
und die aktuellen Einstellungen des Oszilloskops an. Ein Legendenbereich 120 gibt
die Zuordnung zwischen den in der Anzeige verwendeten Farben und
den geplotteten Signalen an.
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3 stellt
eine Anzeige dar, in welcher Information gemäß den Prinzipien der vorliegenden
Erfindung dargestellt wird. Der Signal-Plotbereich 116 der
Anzeige 110 besitzt einen Primärmessungs-Anzeigeabschnitt 120,
in welchem eine primäre
Messung des analysierten Signals wie in 2 angezeigt wird.
In dem üblichsten
Beispiel zeigt der Primärmessungs-Anzeigeabschnitt 120 den
Spannungspegel des Signals als eine Funktion der Zeit auf der horizontalen
Achse an. Gemäß der Erfindung
weist der Signal-Plotbereich 116 der
Anzeige 110 auch einen Ableitungsparameter-Anzeigebereich 122,
in welchem aus den primären
Messungen abgeleitete Parameter ebenfalls als eine Funktion der
Zeit geplottet werden. In der bevorzugten Ausführungsform ist die horizontale
Achse für
die geplottete primäre
Messung und den abgeleiteten Parameter dieselbe. Diese Eigenschaft
wird durch die gestrichelten Linien dargestellt, welche sich zwischen
der Wellenform der primären
Messung und dem Plot der abgeleiteten Parameter erstrecken. Auf
diese Weise besitzen die Plots eine gemeinsame Zeitachse, so dass
ein Bediener, der eine Anomalie durch Bezugnahme auf den abgeleiteten
Parameter erkennt, die Lage des Ereignisses zu dem relevanten Segment
der Wellenform der primären
Messung hin verfolgen kann.
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In
dem dargestellten Beispiel ist der abgeleitete Parameter die Zeit,
für welche
die Daten der primären
Messung jeweils einen Schwellenwert TH überschreiten, was einen Breitenjitter
darstellt. Demzufolge ist, während
die vertikale Zeitachse in den Primärmessungs-Anzeigeabschnitt 120 eine
Spannung ist, die vertikale Achse des Ableitungsparameter-Anzeigeabschnittes 122 die
Zeit oder Signalbreite. Wie ebenfalls dargestellt, ist eine eng
verwandte Messung die Zeit, in der das Signal unter den Schwellenwert
TH fällt.
Dieser alternative Parameterplot ist durch das Bezugszeichen 122' gekennzeichnet.
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4 ist
ein Ablaufdiagramm, welche das Verfahren zum Erzeugen der Anzeige
von 3 darstellt, in welcher die abgeleiteten Parameter
auf der Basis des Pegels der pri mären Messungen in Bezug auf
einen bestimmten Schwellenwert basieren. In dem ersten Schritt 210 werden
die primären
Messungen an dem Signal ausgeführt.
Dann werden die Daten aus der primären Messung als eine Funktion
der Zeit im Schritt 212 dargestellt. Dieses ergibt den
Primärmessungs-Anzeigeabschnitt 120.
Gemäß der Erfindung
werden die Daten aus den primären
Messungen auch mit dem Schwellenwert TH im Schritt 214 verglichen.
Der abgeleitete Parameter, d.h., die Länge der Zeit, in der das Signal
einen Schwellenwert für jeden
Durchgang durch den Schwellenwert TH überschreitet, wird ebenfalls
in dem Schritt 216 geplottet, was den Ableitungsparameter-Anzeigeabschnitt 122 ergibt.
Der Ableitungsparameter-Anzeigeabschnitt 122 nutzt bevorzugt
eine Zeitachse mit den primären Messungen.
Die vertikale Achse stellt jedoch die Zeit dar, in der das Signal
den Schwellenwert überschreitet
statt einer Spannung wie in dem Primärmessungs-Anzeigeabschnitt 120.
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In
bevorzugten Ausführungsformen
werden nicht-lineare Interpolationstechniken wie z.B. (sin x)/x und
kubische Interpolation verwendet, um die Genauigkeit zu verbessern,
mit welcher Schwellenwertdurchgänge
zeitlich lokalisiert werden. Zusätzlich
ist die Verwendung von Hysteresewerten für Schwellenwertdurchgänge und
eine digitale Tiefpassfilterung ebenfalls wichtig, um eine bessere
Rauschimmunität in
den Parameterberechnungen bereitzustellen.
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5 stellt
eine weitere exemplarische Anzeige von abgeleiteten Parametern mit
primären Messungen
gemäß der vorliegenden
Erfindung dar. In diesem Falle zeigt wie in 3 der Primärmessungs-Abschnitt 120 der
Anzeige 110 die Spannung des Signals als eine Funktion
der Zeit an. Die Periode dieses Signals wird jedoch aus den Daten
der primären
Messung abgeleitet. Der Ableitungsparameter-Abschnitt 122 der
Anzeige 122 plottet dann die Periode für jeden Zyklus des Signals.
Diese Anzeige ist hilfreich, um den Verlauf der Periode über der
Zeit darzustellen, was es dem Bediener ermöglicht, den Plot der Periode
auf die tatsächliche
Wellenform der primären
Messungen aufgrund der gemeinsamen Zeitachse zu beziehen. Wie es
durch die Ableitungsparameter-Anzeige 122' dargestellt
ist, kann in alternativen oder komplementären Ausführungsformen die bei dem abfallenden
Abschnitt des Signals statt dem ansteigenden Abschnitt beginnende
Periode abgeleitet werden.
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6 ist
ein Ablaufdiagramm, welches das Verfahren zum Erzeugen der in 5 dargestellten Anzeige 110 veranschaulicht.
Wie es unter Bezugnahme auf 4 diskutiert
wurde, werden die primären
Messungen des Signals durchgeführt
und in den Schritten 210 und 212 angezeigt. Gemäß dem vorliegenden
Prozess werden dann 210 und 212 angezeigt. Gemäß dem vorliegenden
Prozess werden dann Zyklen der Wellenform der primären Messungen
im Schritt 218 durch Bezugnahme auf Daten aus den primären Messungen
identifiziert. Auf der Basis der Identifikation der Zyklen und der
Daten werden abgeleitete Parameter berechnet, d.h., die Perioden aufeinanderfolgender
Zyklen und als eine Funktion der Zeit im Schritt 220 angezeigt.
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7 stellt
eine weitere Anzeige 110 dar, die ebenfalls auf den Zyklen
der Daten aus den primären Messungen
basiert. In diesem Falle wird der Zyklus zu Zyklus- Jitter auf dem
Ableitungsparameter-Abschnitt 122 der Anzeige 110 angezeigt.
Insbesondere stellt die vertikale Achse des Ableitungsparameter-Abschnittes
der Anzeige 122 die Differenz zwischen der aktuellen Zyklusdauer
und der vorherigen Zyklusdauer (Pn – Pn-1) dar.
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In
alternativen Ausführungsformen
basieren die abgeleiteten Parameter auf anderen Zyklusparametern,
wie z.B. der Zeit zwischen den Maximas und Minimas für jeden
Zyklus, der Zeit zwischen Minimas und einem vorherigen Minimum für jeden
Zyklus, der Zeit eines lokalen Minimums für jeden Zyklus, der Zeit eines
lokalen Maximums für
jeden Zyklus, der Zeit zwischen dem lokalen Maximum und dem lokalen
Minimum für
jeden Zyklus, der Häufigkeit
für jeden
Zyklus, der Anstiegszeit für
jeden Zyklus, der Abfallzeit für
jeden Zyklus, dem Überschwingen
für jeden
Zyklus, dem Unterschwingen für
jeden Zyklus, und der Veränderung
der Impulsbreite für
jeden Zyklus in Bezug auf benachbarte Zyklen.
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Insbesondere,
wenn nach Minima und Maximain den primären Messungen zum Erzeugen
der Parameter gesucht wird, ist die Verwendung von Hysteresewerten
eine nützliche
Technik, um die interessierenden Ereignisse zu lokalisieren. Ferner
werden auch nicht-lineare Interpolationstechniken bevorzugt, wie
z.B. (sin x/x und kubische Interpolation, um die Genauigkeit zu
verbessern, mit welcher Spitzen oder andere Ereignisse in Zeit und
Amplitude lokalisiert werden.
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8 stellt
noch eine weitere Anzeige eines Ableitungsparameter-Plots mit dem
Primärmessungs-Plot
dar. In diesem Beispiel basiert der abgeleitete Parameter auf der
Dauer jedes Zyklus PN und der Tastverhältnisbreite
WN oder der Zeit, für welche die Spannung des Signals
einen gewissen Schwellenwert TH überschreitet.
Der Ableitungsparameter-Plot 122 besitzt eine vertikale
Achse, die das Tastverhältnis
WN für
einen Zyklus dividiert durch die Periode für diesen Zyklus PN ist.
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Der
alternative Ableitungsparameter-Plot 122' stellt dar, dass die Parameter
auch auf der Zeit basieren können,
in welcher sich jeder Zyklus unterhalb des Schwellenwertes TH befindet.
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9 ist
ein Ablaufdiagramm, das die Technik zum Erzeugen einer Zykluszeit
und einer Schwellenwert-basierenden Ableitungsparameter-Anzeige veranschaulicht.
Insbesondere werden wie in 6 die primären Messungen
durchgeführt,
der Plot der primären
Messungen angezeigt, und die Zyklen der primären Messungen werden in den
Schritten 210, 212 und 218 identifiziert.
In jedem Zyklus werden die Daten aus den primären Messungen auch mit einem Schwellenwert
TH im Schritt 222 verglichen. Die Parameter werden dann
berechnet und als eine Funktion der Zeit im Schritt 224 auf
der Basis der identifizierten Zyklen in dem Signal und des Schwellenwertvergleichs
der Daten aus den primären
Messungen angezeigt.
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In
zusätzlichen
Implementationen werden Ableitungsparameter-Anzeigen basierend auf
der Spitzenvariation in der Amplitude und/oder des Tastverhältnisfaktors
ebenfalls mit der Spannung der primären Messungen angezeigt.
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10 stellt
noch eine weitere Ausführungsform
des Plotabschnittes 116 der Anzeige 110 gemäß der vorliegenden
Erfindung dar. In diesem Falle plottet der Primärmessungs-Abschnitt der Anzeige 120 die
Daten aus den primären
Messungen als eine Funktion der Zeit, wie es vorstehend beschrieben wurde.
Zyklen in dem Signal werden identifiziert und dann gegenüber einem
internen oder externen Zeitbezug verglichen. Dieses kann entweder
ein absoluter Zeitbezug oder ein Bezugstakt 124 gemäß Darstellung
sein. Der Ableitungsparameter-Abschnitt der Anzeige 122 in
dem dargestellten Beispiel ist eine Anzeige des Intervallfehler-Jitters.
Dieser ist die Differenz zwischen der Periode des gemessenen Signals
und der Periode der Bezugstaktflanken 124. Somit stellt
die vertikale Achse des Ableitungsparameter-Plots 122 den
Vergleich dieser zwei Signale oder das Signal der primären Messung
gegenüber
einem Absolutzeitbezug in unterschiedlichen Implementationen dar.
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11 ist
ein Ablaufdiagramm, das das Verfahren zum Erzeugen der Anzeige gemäß Darstellung
in 10 zeigt. Wie in dem Ablaufdiagramm von 9 werden
die primären
Messungen durchgeführt,
die Daten aus den primären
Messungen geplottet und angezeigt, und Zyklen der primären Messungen
des Signals werden in den Schritten 210, 212 und 218 identifiziert.
Ferner werden die Zyklen der primären Messung gegen eine externe
Zeitbasis im Schritt 226 verglichen. Diese kann eine externe
Taktquelle, oder ein Absolutzeitbezug sein, welcher entweder extern
oder innerhalb des Oszilloskops erzeugt wird. Dann werden die abgeleiteten
Parameter als eine Funktion der Zeit aufgetragen. Diese abgeleiteten
Parameter basieren auf dem Vergleich der Zyklen des Signals und
der Zeitbasis im Schritt 228.
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In
weiteren Implementationen können
die abgeleiteten Parameter aus Phasendifferenzen zwischen den Zyklen
des Signals und dem Absolutzeitbezug, den Zeitfehlern zwischen den
Zyklen des Signals und dem Absolutzeitbezug, Phasendifferenzen zwischen
den Zyklen des gemessenen Signals und dem Bezugstakt und Zeitfehlern
zwischen dem Bezugstakt und den Zyklen des gemessenen Signals basieren.
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12 ist
eine Blockdarstellung, welche den internen Aufbau des Oszilloskops 100 der
vorliegenden Erfindung zeigt. Insbesondere liefern die vier Anschlüsse 114A-114B Eingangssignale
an vier parallele Kanäle 130A-130D des
Oszilloskops. Jeder Kanal 130 besitzt einen Verstärker 132 zum
Bereitstellen eines Eingangs mit hoher Impedanz für den Kanal.
Das Ausgangssignal des Verstärkers
geht zu einer Abtast- und Haltekreis 134, welche kurzzeitig
das Signal zum Digitalisieren durch einen Analog-Digital-Wandler ADC1-4 136 einfriert.
Das digitale Ausgangssignal der Analog-Digital-Wandler, 8 Bit breit, in einer Ausführungsform,
wird in Wellenformspeichern 1-4 138 gespeichert.
Diese Wellenformspeicher besitzen typischerweise 1 bis 16 Millionen
8 Bit tiefe Speicherstellen. Ein Auslöser 142 überwacht
das Ausgangssignal der Verstärker 132 der
Kanäle 130A-130D,
um nach einer Auslösebedingung
zu suchen. Wenn eine Auslösebedingung
gefunden ist, wird die Zeitbasis 140 aktiviert, welche
den Betrieb des Abtast- und Halte-Kreise 134, der Analog-Digital-Wandler 136 und
der Wellenform-Speicher 138 synchronisiert.
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In
einer Implementation führen
die Abtast- und Halte-Kreise 138, Analog-Digital-Wandler 138 und
Wellenform-Speicher 138 ein kontinuierliches Einfrieren,
Digitalisieren und Speichern der Daten durch, die die Spannung der
an die Anschlüsse 114A-114B durch
Tastköpfe übertragenen
Signale beschreiben, wenn der Auslöser 142 lediglich
gespannt ist. Die Wellenform-Speicher 138 werden in der
Form eines Ringpuffers adressiert. Nur nachdem die Auslösebedingung
gefunden ist, halten der Auslöser 142 und
die Zeitbasis 140 die Inhalte des Wellenform-Speichers
fest und tasten dadurch die Wellenform bei dem Auslöseereignis
ab.
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Eine
zentrale Verarbeitungseinheit (CPU) 150 steuert den Gesamtbetrieb
des Oszilloskops 100. Insbesondere werden die in den Wellenform-Speichern 138 der
Kanäle 130A-130B erfassten
Daten von der CPU 150 in Schlitze in einem lokalen Speicher 152 über einen
Bus 148 übertragen.
In der bevorzugten Ausführungsform
gibt es acht Schlitze #1-#8 in dem lokalen Speicher 152.
Dieses ermöglicht
es dem Oszilloskop bis zu acht getrennte Ereignisse zu speichern,
die von den Wellenform-Speicher 138 erfasst wurden. Beispielsweise könnten die
vier Kanäle
gleichzeitig betrieben werden, um gleichzeitig vier Signale abzutasten.
Die CPU 150 überträgt ihre
Inhalte an die Schlitze 1 bis 4 des lokalen Speichers 152.
Danach werden die Kanäle 130A-130B frei
um vier weitere zusätzliche
Signalereignisse zu erfassen, und diese in den Schlitzen 5 bis 9 des
lokalen Speichers 152 zu speichern, bevor irgendeine Überschreibung
erforderlich ist.
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Unter
Bedienersteuerung wählt
die CPU 140 die Daten in den lokalen Speicherschlitzen 1 bis 8 zur Verarbeitung
und Übertragung
an einen Videorahmenpuffer 154 aus. Insbesondere könnten unter
Bedienersteuerung die Datenschlitze 1 und 5 zur
Anzeige ausgewählt
werden. Diese Daten werden dann unter Verwendung von nicht-linearen
Interpolationstechniken, (sin x)/x oder beispielsweise kubischen
verarbeitet, und die sich ergebenden Anzeigedaten werden an den
Videopuffer 154 übertragen, welcher
die Daten an die Anzeige 110 liefert.
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13 ist
eine schematische Darstellung, welche die Zuordnung der Daten in
den Schlitzen des lokalen Speichers 152 zu der Anzeige 110 darstellt. Sobald
die CPU 150 an den primären
Messdaten in irgendeinem der Schlitze 1 bis 8 in
dem lokalen Speicher 152 arbeitet, speichert die CPU die
abgeleiteten Parameter in einen freien Schlitz zurück. Auf
diese Weise nutzen die abgeleiteten Parameter ebenfalls einen Schlitz
in dem lokalen Speicher 152, welcher anderenfalls von den
Kanälen
genutzt werden könnte,
um eine weitere Signalerfassung durchzuführen. Kurz gesagt identifiziert,
wie es unter Bezugnahme auf die 4 bis 11 beschrieben
wurde, die CPU Zyklen in den Daten der primären Messungen, führt einen
Schwellenwertvergleich der primären Messungen
möglicherweise
unter Verwendung nicht-linearer Interpolation zum Verbessern der
Genauigkeit und von Hysterese/Tiefpassfilterung zur Rauschimmunität und/oder
anderen Operationen zum Erzeugen der abgeleiteten Parameter durch.
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Ein
Vorteil der Verwendung der Speicheroszilloskoparchitektur ist die
Tatsache, dass beispielsweise mehrere Parameter aus denselben primären Messdaten
berechnet und für
eine gleichzeitige Anzeige gespeichert werden können. Ferner ist eine Parameter-Neuberechnung möglich, wenn
der beispielsweise zum Erzeugen der Parameter verwendete ursprünglich angewendete
Schwellenwert nach der Beobachtung der Parameteranzeige verändert wird.
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13 veranschaulicht
eine Beispielsituation, in welcher eine Dreieckwellenform im Schlitz 1 gespeichert
ist, welche aus einer Signalerfassung erzeugt wurde. Die Daten in
dem Feld des Schlitzes 1 sind mit dem Bezugszeichen 157 bezeichnet.
Das zweite Feld von Schlitz 7 ist mit dem Bezugszeichen 155 bezeichnet
und enthält
Parameter, die aus den Daten in dem Feld 157 abgeleitet
sind. In dem dargestellten Beispiel beziehen sich die abgeleiteten
Parameter auf die Periode des in dem Feld 155 vom Schlitz 1 gespeicherten
Dreiecksignals. Die sich zwischen den zwei Feldern erstreckenden
Punktlinien 156 veranschaulichen, dass die Daten für die primären Messungen
und die abgeleiteten Parameter mit analogen temporären Organisationen
gespeichert werden. Beispielsweise enthält die Feldstelle n in dem
Feld 155 Parameter, die aus Daten in der Feldstelle n im
Feld 155 abgeleitet sind.
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In
der bevorzugten Ausführungsform
ist das Feld 155, das die abgeleiteten Parameter speichert, mit
den Perioden-basierenden Daten zusammengefasst. Jede Stelle, die
demselben Zyklus der primären
Messungen in dem Feld 154 entspricht, speichert die Messung
der Periode in dem Ableitungsparameter-Feld. Obwohl es etwas verschwenderisch
im Speicherplatz ist, ermöglicht
dieses dem vorliegenden Oszilloskop Zoom- und Abtastmerkmale normal zu
verarbeiten. Selbst wenn der Maßstab
unter Verwendung normaler Oszilloskop-Funktionen vergrößert oder
verkleinert wird, bleiben die horizontale Achse der primären Messdaten
und die abgeleiteten Parameter zu einer gemeinsamen Zeitachse synchronisiert.
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Obwohl
diese Erfindung insbesondere unter Bezugnahme auf ihre bevorzugten
Ausführungsformen
dargestellt und beschrieben wurde, dürfte es sich für den Fachmann
auf diesem Gebiet verstehen, dass verschiedene Änderungen in Form und Details darin
ohne Abweichung von dem Erfindungsgedanken und dem Schutzumfang
der Erfindung gemäß Definition
durch die beigefügten
Ansprüche
durchgeführt
werden können.
Der Fachmann auf diesem Gebiet wird erkennen oder in der Lage sein,
unter Anwendung von nicht mehr als Routineexperimenten viele Äquivalente
zu den spezifischen Ausfüh rungsformen
der hierin spezifisch beschriebenen Erfindung zu erkennen. Derartige Äquivalente
sollen in dem Schutzumfang der Ansprüche mit eingeschlossen sein.