JP2002354262A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】副走査方向の画像の連続性を損なうことなく補
正することができ、コンタクトガラス面上の付着物によ
る欠陥画素になることを未然に防ぐことができる画像読
取装置を提供する。 【解決手段】一時的に１フレーム全てのデータを保持し
ておくフレームメモリ１０１と、フレームメモリに格納
されたデータの種類によって補正されるべきデータか、
欠陥データかを判断し、それぞれの処理工程に切り替え
るデータ切替手段１０２と、原稿面からの反射光の一部
が光電変換手段に到達する前に遮られることによって生
じた画像情報の欠落した画素を検出する欠陥画素検出手
段１０３と、補正されるべきデータであるかどうかを判
断するデータ検証手段１０５と、欠陥画素検出手段１０
３によって検出された位置における画素の画像情報を欠
陥画素位置の周辺画素を用いてマトリクスを構成し、欠
陥画素の画像情報を補正する補正手段１０６とを有す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は画像読取装置に関
し、詳細にはディジタル複写機、ファクシミリ、イメー
ジスキャナ等の原稿を搬送させながら画像読取を行う装
置であって、白スジや黒スジの発生原因となる基準白板
の汚れとコンタクトガラス面上の汚れによる出力異常を
補正する機能を備えた画像読取装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来例として、特開平１０−２９４８７
０号公報（以下従来例と称す）は、読取系の光路上のご
みによって生じた画素情報の欠陥を、隣接する画素デー
タの情報を使って、欠陥した画素の情報を補い、読取画
像に近い画像を出力するものである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例は、読み取られた画像と、欠陥画像を同じ画像とし
て取り込み、欠陥画像を検出し、その欠陥画像に対して
画像補正を行うものであるが、隣接したがその情報をも
とに画像補正を行うため、実際の画像とは異なってしま
う。また、様々な画像があるので、補正しきれない画像
や、誤認識してしまう画像があることは否定することは
できないという問題がある。

【０００４】本発明はこれらの問題点を解決するための
ものであり、副走査方向の画像の連続性を損なうことな
く補正することができ、コンタクトガラス面上の付着物
による欠陥画素になることを未然に防ぐことができる画
像読取装置を提供することを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】前記問題点を解決するた
めに、本発明の画像読取装置は、一時的に１フレーム全
てのデータを保持しておくフレームメモリと、フレーム
メモリに格納されたデータの種類によって補正されるべ
きデータか、欠陥データかを判断し、それぞれの処理工
程に切り替えるデータ切替手段と、原稿と光電変換手段
との間のコンタクトガラス面に付着したゴミ等の付着物
により原稿面からの反射光の一部が光電変換手段に到達
する前に遮られることによって生じた画像情報の欠落し
た画素を検出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手
段によって検出された画像欠陥データを保持する欠陥画
素保持手段と、データ切替手段によって判断された補正
されるべきデータと、欠陥画素保持手段に保持されてい
る画像欠陥データとを比較し、補正されるべきデータで
あるかどうかを判断するデータ検証手段と、欠陥画素検
出手段によって検出された位置における画素の画像情報
を欠陥画素位置の周辺画素を用いてマトリクスを構成
し、欠陥画素の画像情報を補正する補正手段とを有す
る。よって、複数ラインの画像データを一時的に格納
し、ノイズの影響を緩和した後ゴミ等による欠陥画素を
的確に検出し、検出結果に基づき欠陥画素による縦黒ス
ジを十分な範囲で補正することができると共に、ごみ等
により原稿面からの反射光が遮られることによって欠陥
した画素の位置を的確に検出し、検出結果に基づき欠陥
した画素を周辺の正常な画素を参照し、副走査方向の画
像連続性を損なわずに補正することができる。

【０００６】また、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
のアップダウンによって黒ゴミを検出してマトリクスを
形成して補正を行うことにより、黒ゴミがあることを的
確に検出し、１フレーム分を格納し欠陥画素として保持
し、欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走
査方向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置
を提供することができる。

【０００７】更に、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
のアップダウンによって白ゴミを検出してマトリクスを
形成して補正を行うことにより、白ゴミ、例えばガラス
くずなどの基準の白より反射率の高いものがあることを
検出し、１フレーム分を格納し欠陥画素として保持し、
欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走査方
向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置を提
供することができる。

【０００８】また、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対してエッジを検
出することによってゴミを検出してマトリクスを形成し
て補正を行うことにより、エッジのある部分を欠陥デー
タと認識し、欠陥画素保持部で保持し、欠陥画素データ
と画像データと比較、補正し、副走査方向の画像連続性
を損なわずに補正する画像読取装置を提供することがで
きる。

【０００９】更に、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して任意に閾値
を設定してゴミを検出してマトリクスを形成して補正を
行うことにより、一度白基準板を読取って１フレーム分
フレームメモリに格納した後にフレームメモリ内に格納
された画像データを任意に設定された閾値を用いること
により、欠陥データを検出し、欠陥画素保持部で保持
し、欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走
査方向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置
を提供することができる。

【００１０】また、別の発明としての画像読取装置は、
原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、予め読み取ら
れたデータを参照して、原稿と光電変換手段との間のコ
ンタクトガラス面に付着したゴミ等の付着物により原稿
面からの反射光の一部が光電変換手段に到達する前に遮
られることによって生じた画像情報の欠落した画素を検
出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手段によって
欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段との間のコンタ
クトガラス面に付着物があることを判断したときに、原
稿と光電変換手段との間の多面化されたコンタクトガラ
ス面を回転させて付着物のないコンタクトガラス面に切
り替えるコンタクトガラス面回転切替手段とを有するこ
とに特徴がある。また、別の発明として、欠陥画素検出
手段によって欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段と
の間のコンタクトガラス面に付着物があることを判断し
たときに、原稿と光電変換手段との間のコンタクトガラ
ス面をスライドさせて付着物のない別のコンタクトガラ
ス面に差し替えるコンタクトガラス面摺動切替手段を有
する。よって、チリなどの黒いごみや紙粉などの白いご
み等の付着物がないコンタクトガラスに切替えてまたは
差し替えて、根本的な問題を排除することができ、欠陥
した画像データをシステムに取り込むことが無くなる。
このことにより、ＳＤＦユニット使用した時に起こりえ
る黒スジまたは、白スジを発生させない画像読取装置を
提供することができる。

【００１１】更に、コンタクトガラス面回転切替手段に
よって回転した、又はコンタクトガラス摺動切替手段に
よってスライド移動された、付着物が付着したコンタク
トガラス面の面上をクリーニングするクリーニング手段
を設けたことにより、全てのコンタクトガラス面を切替
えた又は差し替えた場合次に欠陥画素を検出したときは
付着物が付着したコンタクトガラス面になることがな
く、新たなコンタクトガラス面は付着物が付着していな
いものであり、連続的使用が可能な画像読取装置を提供
することができる。

【００１２】また、別の発明としての画像読取装置は、
原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、予め読み取ら
れたデータを参照して、原稿と光電変換手段との間のコ
ンタクトガラス面に付着したゴミ等の付着物により原稿
面からの反射光の一部が光電変換手段に到達する前に遮
られることによって生じた画像情報の欠落した画素を検
出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手段によって
欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段との間のコンタ
クトガラス面に付着物があることを判断したときに、原
稿と光電変換手段との間のコンタクトガラス面をクリー
ニングするクリーニング手段とを有することに特徴があ
る。

【００１３】更に、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を布状の物で拭き取る拭き取り手段
であることにより、チリなどの黒いごみや紙粉などの白
いごみの無い状態にして画像読み取り装置から来る画像
データに欠陥がない環境を作り得る。

【００１４】また、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物をブラシ状の物で掃き取る掃き取り
手段であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを
はき取りゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へ
クリアな画像データを受け渡すことが可能な画像読取装
置を提供することができる。

【００１５】更に、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を風圧で吹き飛ばす吹き飛ばし手段
であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを吹き
飛ばしゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へク
リアな画像データを受け渡すことが可能な画像処理装置
を提供することができる。

【００１６】また、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を静電気で吸着する静電気吸着手段
であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを吹き
飛ばしゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へク
リアな画像データを受け渡すことが可能な画像処理装置
を提供することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】本発明の画像読取装置は、一時的
に１フレーム全てのデータを保持しておくフレームメモ
リと、フレームメモリに格納されたデータの種類によっ
て補正されるべきデータか、欠陥データかを判断し、そ
れぞれの処理工程に切り替えるデータ切替手段と、原稿
と光電変換手段との間のコンタクトガラス面に付着した
ゴミ等の付着物により原稿面からの反射光の一部が光電
変換手段に到達する前に遮られることによって生じた画
像情報の欠落した画素を検出する欠陥画素検出手段と、
欠陥画素検出手段によって検出された画像欠陥データを
保持する欠陥画素保持手段と、データ切替手段によって
判断された補正されるべきデータと、欠陥画素保持手段
に保持されている画像欠陥データとを比較し、補正され
るべきデータであるかどうかを判断するデータ検証手段
と、欠陥画素検出手段によって検出された位置における
画素の画像情報を欠陥画素位置の周辺画素を用いてマト
リクスを構成し、欠陥画素の画像情報を補正する補正手
段とを有する。

【００１８】

【実施例】図１は本発明を適用する画像読取装置の構成
を示す図である。同図において、本発明を適用する画像
読取装置は、主として、読取装置本体１と、原稿搬送装
置２と、原稿読取台３とを含んで構成された例えばイメ
ージスキャナを構成している。読取装置本体１の内部に
は、キセノンランプや蛍光灯で構成される光源４ａとミ
ラー４bとを備えた第１の走行体４と、ミラー５ａ，５b
を備えた第２の走行体５と、レンズ６と、ＣＣＤ等の一
次元の光電変換素子７と、第１、第２の走行体４，５を
駆動するステッピングモータ８とを有する露光走査光学
系９が設けられている。なお、この露光走査光学系９の
下段の現像系等の構成についてのここでの説明は省略す
る。また、原稿搬送装置２には、ＳＤＦユニット１０
と、原稿台１１とが設けられている。ＳＤＦユニット１
０内にはステッピングモータ１２が備えられている。更
に、原稿読取台３の上部には、原稿押さえ板１４が回動
自在に取り付けられており、原稿１３は原稿押さえ板１
４の下にセットされる。原稿読取台３の端部には、シェ
ーディング補正用の白基準板１５が配置されている。

【００１９】図２は図１の画像読取装置の全体制御系の
構成を示すブロック図である。また、図３はブックモー
ド時の原稿読取部の構成図、図４はＳＤＦモード時の原
稿読取部の構成図である。図２〜図４において、図１と
同じ参照符号は同じ構成要素を示す。図２に示す画像読
取装置は、光源４ａ、ＣＣＤ７、ステッピングモータ
８，１２、ＣＰＵ１６、光源ドライバ１７、ＣＣＤ駆動
部１８、画像処理部１９、モータドライバ２０，２６、
ＲＯＭ２１、ＲＡＭ２２、スキャンバッファ２３、Ｉ／
Ｆコントローラ２４及びバッファコントローラ２５を含
んで構成されている。そして、原稿読取モードとして
は、図３に示すような原稿読取台３を用いて画像データ
の読み取りを行うブックモードと、図４に示すような原
稿搬送装置２を用いて画像データの読み取りを行うＳＤ
Ｆモードとがある。

【００２０】そこで、先ず図３に示すようなブックモー
ドにおける画像データ読み取りの基本動作について説明
する。原稿１３を原稿押さえ板１４下の原稿読取台３上
にセットした後、ＣＰＵ１６は光源ドライバ１７を動作
させて光源４ａをオンにする。そして、ＣＣＤ駆動部１
８により駆動されるＣＣＤ７で白基準板１５を読み取
り、画像処理部１９内のＡ／Ｄコンバータ（図示せず）
でアナログデジタル変換を行い、画換データのシェーデ
ィング補正用の基準データとして画像処理部１９内のＲ
ＡＭ（図示せず）に記憶する。ＣＰＵ１６は、モータド
ライバ２０をドライブしてステッピングモータ８を動作
させ、これにより第１の走行体４は原稿１３のある方向
へ移動する。第１の走行体４が原稿面を一定速度で走査
することにより、その原稿１３の画像データがＣＣＤ７
により光電変換される。２値化あるいは多値の画像デー
タは、スキャンバッファ２３に記憶され、Ｉ／Ｆコント
ローラ２４を介してホストコンピュータ（図示せず）等
に送られる。

【００２１】次に、図４に示すようなＳＤＦモードにお
ける画像データ読み取りの基本動作について説明する。
この場合にも、先ず白基準板１５が読み込まれた後、ス
テッピングモータ１２をＣＰＵ１６がモータドライバ２
６でドライブすることにより、原稿台１１にセットされ
た原稿１３を、分離ローラ２７、搬送ローラ２８で搬送
していき、第１の走行体４の所定の読み取り位置まで搬
送する。このとき、原稿１３は一定速度で搬送されてい
き、第１の走行体４は停止したままで、原稿１３の画像
データはＣＣＤ７で読み取られて光電変換される。以
下、ブックモードと同様の処理を行い、２値化あるいは
多値の画像データは、スキャンバッファ２３に記憶さ
れ、Ｉ／Ｆコントローラ２４を介してホストコンピュー
タ（図示せず）等に送られる。

【００２２】図５は、図２の画像処理部の最も基本的な
構成を示すブロック図である。同図に示す画像処理部１
９は、アナログビデオ処理部２９、シェーディング補正
処理部３０、画像データ処理部３１、タイミング発生部
３２及び２値化処理部３３を含んで構成されている。こ
こで、光電変換されたアナログビデオ信号ａは、アナロ
グビデオ処理部２９でディジタル変換の処理まで行われ
た後、シェーディング補正処理部３０、画像データ処理
部３１により、それぞれシェーディング補正、各種の画
像データ処理を行った後、２値画像を所望とする場合
は、２値化処理部３３により２値化データｂを作成す
る。多値データを所望する場合は８ｂｉｔデータとして
後段に送る。その後、その２値化データあるいは多値デ
ータｂを図２のスキャンバッファ２３に順次記憶してい
く。図２のＩ／Ｆコントローラ２４は、スキャンバッフ
ァ２３内のデータを外部のホストコンピュータ（図示せ
ず）等の装置に出力する制御を行う。バッファコントロ
ーラ２５は、スキャンバッファ２３への画像データの入
出力管理を行う。

【００２３】図６は、図５に示す画像処理部の構成をさ
らに詳細に示すブロック図である。図５に示すアナログ
ビデオ処理部２９は、プリアンプ回路３４と、可変増幅
回路３５を含んで構成されている。また、図５のシェー
ディング補正処理部３０は、Ａ／Ｄコンバータ３６、黒
演算回路３７、シェーディング補正演算回路３８、ライ
ンバッファ３９を含んで構成されている。図６におい
て、光源４ａで原稿読取台３上にある原稿１３を照射し
て原稿１３から反射してくる反射光は、シェーディング
調整板４０を通して、レンズ６によって集光されてＣＣ
Ｄ７に結像する。なお、図６では、説明簡単化のため
に、反射光を折り返すためのミラーは省略している。シ
ェーディング調整板４０は、ＣＣＤ７の中央部と端部で
の反射光量の差を無くすための光量調整の役割を果た
す。これは、シェーディング演算処理において、あまり
にＣＣＤ７の中央部と端部で反射光量の差が有りすぎる
と、多分に歪を含んだ演算結果しか得られないために、
予め反射光量の差を無くした後にシェーディング演算処
理を行うためのものである。

【００２４】図７は本発明の第１の実施例に係る画像読
取装置の構成を示すブロック図である。同図において、
本実施例の画像読取装置は、原稿を一定の制御によって
搬送する原稿搬送手段と、光源によって照らされた原稿
面からの反射光を固定位置で受光し、ディジタルデータ
に変換する光電変換手段を有するスキャナ１００と、ス
キャナ１００から来る予め白基準板などをスキャンした
画像データ、欠陥画素データ及び、画像データを１フレ
ーム分バッファリングするフレームメモリ１０１と、フ
レームメモリ１０１に格納されたデータの種類によって
補正されるべきデータか、欠陥データかを判断して後段
の処理工程に切り替えるデータ切替部１０２と、送られ
てきたプレスキャンデータがフレーム単位で情報を保持
しているため副走査方向の情報を含めたプレスキャンデ
ータを用いて、マトリクスを形成し形成されたマトリク
スから欠陥画素を検出する欠陥画素検出部１０３と、マ
トリクスで副走査方向の情報も含まれた欠陥画素データ
を保持する欠陥画素保持部１０４と、データ切替部１０
２によって判断された補正されるべきデータと、欠陥画
素保持部１０４に保持されている画像欠陥データとを比
較し、詳細には転送されてくる画像データと欠陥画素デ
ータを用いて欠陥画素データの欠陥画素の位置を参照し
て画像データをマトリクスを用いて照合し、補正される
べきデータであるかどうかを判断するデータ検証部１０
５と、欠陥画素検出部１０３によって検出された位置に
おける画素の画像情報を欠陥画素位置の周辺画素を用い
てマトリクスを構成し、欠陥画素の画像情報を補正する
補正部１０６とを含んで構成されている。

【００２５】このような構成を有する本実施例の画像読
取装置によれば、スキャナ１００から来る予め白基準板
などをスキャンした画像データ、欠陥画素データ及び、
画像データを一度フレームメモリ１０１で１フレーム分
バッファリングし、欠陥画素データはデータ切替部１０
２でデータの流れを切り替えられ、欠陥画素検出部１０
３へプレスキャン画像データが送られる。同じように画
像データはデータ切替部１０２でデータの流れを切り替
えられ、データ検出部１０５へ画像データが送られる。
欠陥画素検出部１０３では送られてきたプレスキャンデ
ータがフレーム単位で情報を保持しているため副走査方
向の情報を含めたプレスキャンデータを用いて、マトリ
クスを形成し形成されたマトリクスから欠陥画素を検出
する。マトリクスで副走査方向の情報も含まれた欠陥画
素データを欠陥画素保持部１０４にて欠陥画素データを
保持する。保持された欠陥画素データは任意のタイミン
グでデータ検証部１０５に転送されてくる画像データと
同期し、欠陥画素データをデータ検証部１０５へ転送を
する。データ検証部１０５へ転送されてくる画像データ
と欠陥画素データを用いて欠陥画素データの欠陥画素の
位置を参照して、画像データをマトリクスを用いて照合
する。照合した結果、欠陥画素データと同じ位置にデー
タがあった場合、その情報を補正部１０６へ転送する。
例えば欠陥画素（欠陥画素が黒の場合）の位置が黒ベタ
の時は、マトリクスにより、周辺画素が同じ値というこ
とがわかるためその部分は補正してもしなくても画像の
結果としては同じなので補正部１０６へ情報を転送しな
い。補正部１０６へ転送されて来た画像データと欠陥画
素データを用いマトリクス処理をして欠陥画素を補正す
る。図８はレベルのアップダウンを用いた検出方法を説
明する図である。予め白版等の均一レベルのものを光源
によって照らされた原稿面からの反射光を固定位置で受
光したとき、ゴミがなければ反射光のレベルは均一であ
る。白版等の原稿面上、あるいはガラス面に付着したゴ
ミがあった場合、黒いゴミであれば反射光のレベルがゴ
ミの部分だけレベルダウンし、ガラスくずのような白よ
りも反射率の高いものが白版等の原稿面あるいはガラス
面に付着している場合は反射光のレベルがゴミの部分だ
けレベルアップしてしまう。このレベルのアップダウン
した情報をディジタル化する。これにより欠陥画素を検
出することができ、欠陥画素により原稿読み取り時に発
生する縦スジ状の画像を十分な範囲で補正することがで
きる画像読取装置を提供することができる。

【００２６】次に、図９は本発明の第２の実施例に係る
画像読取装置の構成を示す概略断面図である。同図にお
いて、図４と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。異な
る構成要素として、本実施例の画像読取装置は多面のコ
ンタクトガラス２００を有する多面コンタクトガラス駆
動部２０１を有している。先ず、実際に原稿を読み取る
前に予め読取部では、予めセットされたコンタクトガラ
ス上のゴミを検出するために検出用の画像を読み取る。
欠陥画素検出手段で予め読み取られた検出用の画像に欠
陥画素があるか判断をしてゴミを検出した場合、情報を
多面コンタクトガラス駆動部２０１に伝達し、コンタク
トガラス２００を回転させ、ゴミの付いていない新しい
コンタクトガラス面に切り替える。図１０が図９の多面
コンタクトガラスの拡大図である。図１０では４面であ
るが、４面に限定する必要はない。図１０のコンタクト
ガラス支え部材２０２は多面のコンタクトガラス２００
を支え、その中心に軸をもち、その軸を中心として回転
してコンタクトガラス２００の面を切り替え、コンタク
トガラス２００の面上の付着したゴミを除去する。

【００２７】図１１は本発明の第３の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図９と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。異なる
構成要素として、本実施例の画像読取装置はコンタクト
ガラス２００をスライドさせる機構（図示せず）を有し
ている。実際に原稿を読み取る前に予め読取部では、コ
ンタクトガラス面上のゴミを検出するために検出用の画
像を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み取られた検
出用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴミを検出し
た場合、コンタクトガラス２００を位置３００から位置
３０１へスライドさせ、更に別のコンタクトガラス２０
０を位置３０２から位置３００にスライドさせて、コン
タクトガラス２００を差し替える。これは必ずしも位置
３００から位置３０１に移動し、位置３０２のコンタク
トガラスを位置３００に戻す訳ではなく。位置３００か
ら位置３０２に移動させ、位置３０２のコンタクトガラ
ス２００を位置３００に移動させるなどのように、移動
場所を特定するものではない。

【００２８】図１２は本発明の第４の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図９と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。異なる
構成要素として、本実施例の画像読取装置は、コンタク
トガラス面に接触してスライドさせてコンタクトガラス
面上のゴミ等の付着物を拭き取る布状またはブラシ状の
拭き取り部材４００を有している。実際に原稿を読み取
る前に予め読取部では、コンタクトガラス面上のゴミを
検出するために検出用の画像を読み取る。欠陥画素検出
手段で予め読み取られた検出用の画像に欠陥画素がある
か判断をしてゴミを検出した場合、コンタクトガラス面
上に配置された布状、またはブラシ状の拭き取り部材４
００をコンタクトガラス面に接触させてスライドさせ、
コンタクトガラス面上に付着していたゴミをふき取って
除去する。

【００２９】図１３は本発明の第５の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図９と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。異なる
構成要素として、本実施例の画像読取装置は、コンタク
トガラス面上に付着していたゴミ等の付着物を吹き飛ば
す吹き飛ばし手段５００を有する。実際に原稿を読み取
る前に予め読取部では、コンタクトガラス上のゴミを検
出するために検出用の画像を読み取る。欠陥画素検出手
段で予め読み取られた検出用の画像に欠陥画素があるか
判断をしてゴミを検出した場合、コンタクトガラス面上
に配置され、風５０１を噴出す、吹き飛ばし手段５００
により、風５０１を噴出してコンタクトガラス面上に付
着していたゴミを吹き飛ばして除去する。

【００３０】図１４は本発明の第６の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図９と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。異なる
構成要素として、本実施例の画像読取装置は、コンタク
トガラス面上に付着したゴミ等の付着物を静電吸着して
除去する静電気発生手段６００を有している。実際に原
稿を読み取る前に予め読取部では、コンタクトガラス上
のゴミを検出するために検出用の画像を読み取る。欠陥
画素検出手段で予め読み取られた検出用の画像に欠陥画
素があるか判断をしてゴミを検出した場合、コンタクト
ガラス面上に配置された静電気発生手段６００により、
静電気６０１を発生させ、コンタクトガラス面上に付着
したゴミを静電吸着して、コンタクトガラス面上に付着
していたゴミを除去する。

【００３１】図１５は本発明の第７の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図１０及び図１２と同じ参照符号は同じ構成要素を
示す。異なる構成要素として、本実施例の画像読取装置
は、多面のコンタクトガラス２００の面上に接触してス
ライドさせてコンタクトガラス面上のゴミ等の付着物を
拭き取る布状またはブラシ状の拭き取り部材４００を有
している。実際に原稿を読み取る前に予め読取部では、
コンタクトガラス上のゴミを検出するために検出用の画
像を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み取られた検
出用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴミを検出し
た場合、情報を多面のコンタクトガラス駆動部２０１に
伝達し、多面のコンタクトガラス２００を回転し、ゴミ
の付いていない新しいコンタクトガラス面に切り替え
る。ゴミの付いたコンタクトガラスが所定の位置に来た
ときにコンタクトガラス面上に配置された布状、または
ブラシ状の拭き取り部材４００をゴミの付着したコンタ
クトガラス面上に接触させてスライドさせ、コンタクト
ガラス面上に付着していたゴミをふき取って除去する。

【００３２】図１６は本発明の第８の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図１３及び図１５と同じ参照符号は同じ構成要素を
示す。異なる構成要素として、本実施例の画像読取装置
は、多面のコンタクトガラス２００の面上に付着してい
たゴミ等の付着物を吹き飛ばす吹き飛ばし手段５００を
有する。実際に原稿を読み取る前に予め読取部では、コ
ンタクトガラス上のゴミを検出するために検出用の画像
を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み取られた検出
用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴミを検出した
場合、情報を多面のコンタクトガラス駆動部２０１に伝
達し、多面のコンタクトガラス２００を回転し、ゴミの
付いていない新しいコンタクトガラス面に切り替える。
ゴミの付いたコンタクトガラスが所定の位置に来たとき
にコンタクトガラス面上に配置された吹き飛ばし手段５
００により、風５０１を噴出してコンタクトガラス面上
に付着していたゴミをふき飛ばして除去する。

【００３３】図１７は本発明の第９の実施例に係る画像
読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、図１４及び図１５と同じ参照符号は同じ構成要素を
示す。異なる構成要素として、本実施例の画像読取装置
は、多面のコンタクトガラス２００の面上に付着したゴ
ミ等の付着物を静電吸着して除去する静電気発生手段６
００を有している。実際に原稿を読み取る前に予め読取
部では、コンタクトガラス上のゴミを検出するために検
出用の画像を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み取
られた検出用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴミ
を検出した場合、情報を多面のコンタクトガラス駆動部
２０１に伝達し、多面のコンタクトガラス２００を回転
し、ゴミの付いていない新しいコンタクトガラス面に切
り替える。ゴミの付いたコンタクトガラスが所定の位置
に来たときにコンタクトガラス面上に配置された静電気
発生手段６００により、静電気６０１を発生させ、コン
タクトガラス面上に付着したゴミを静電吸着して、コン
タクトガラス面上に付着していたゴミを除去する。

【００３４】図１８は本発明の第１０の実施例に係る画
像読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、本実施例の画像読取装置は、コンタクトガラス面に
接触してスライドさせてコンタクトガラス面上のゴミ等
の付着物を拭き取る布状またはブラシ状の拭き取り部材
４００を有している。実際に原稿を読み取る前に予め読
取部では、コンタクトガラス上のゴミを検出するために
検出用の画像を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み
取られた検出用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴ
ミを検出した場合、コンタクトガラス２００を位置ａへ
スライドさせ、位置ａにゴミの付着したコンタクトガラ
ス２００を配置する。コンタクトガラス面上に配置され
た布状、またはブラシ状の拭き取り部材４００を位置ａ
のゴミの付着したコンタクトガラス面上に接触させてス
ライドさせ、コンタクトガラス面上に付着していたゴミ
をふき取って除去する。

【００３５】図１９は本発明の第１１の実施例に係る画
像読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、本実施例の画像読取装置は、コンタクトガラス面上
に付着していたゴミ等の付着物を吹き飛ばす吹き飛ばし
手段５００を有する。実際に原稿を読み取る前に予め読
取部では、コンタクトガラス上のゴミを検出するために
検出用の画像を読み取る。欠陥画素検出手段で予め読み
取られた検出用の画像に欠陥画素があるか判断をしてゴ
ミを検出した場合、コンタクトガラス２００を位置ａへ
スライドさせ、位置ａにゴミの付着したコンタクトガラ
ス２００を配置する。コンタクトガラス面上に配置され
た吹き飛ばし手段５００により、風５０１を噴出し、コ
ンタクトガラス面上に付着していたゴミを吹き飛ばして
除去する。

【００３６】図２０は本発明の第１２の実施例に係る画
像読取装置の構成を示す概略断面図である。同図におい
て、本実施例の画像読取装置は、コンタクトガラス面上
に付着したゴミ等の付着物を静電吸着して除去する静電
気発生手段６００を有している。実際に原稿を読み取る
前に予め読取部では、コンタクトガラス上のゴミを検出
するために検出用の画像を読み取る。欠陥画素検出手段
で予め読み取られた検出用の画像に欠陥画素があるか判
断をしてゴミを検出した場合、コンタクトガラス２００
を位置ａにスライドさせ、位置ａにゴミの付着したコン
タクトガラス２００を配置する。コンタクトガラス面上
に配置された静電気発生手段６００により、静電気６０
１を発生させ、コンタクトガラス面上に付着したゴミを
静電吸着して、コンタクトガラス面上に付着していたゴ
ミを除去する。

【００３７】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、特許請求の範囲内の記載であれば多種の変
形や置換可能であることは言うまでもない。

【００３８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像読取
装置は、一時的に１フレーム全てのデータを保持してお
くフレームメモリと、フレームメモリに格納されたデー
タの種類によって補正されるべきデータか、欠陥データ
かを判断し、それぞれの処理工程に切り替えるデータ切
替手段と、原稿と光電変換手段との間のコンタクトガラ
ス面に付着したゴミ等の付着物により原稿面からの反射
光の一部が光電変換手段に到達する前に遮られることに
よって生じた画像情報の欠落した画素を検出する欠陥画
素検出手段と、欠陥画素検出手段によって検出された画
像欠陥データを保持する欠陥画素保持手段と、データ切
替手段によって判断された補正されるべきデータと、欠
陥画素保持手段に保持されている画像欠陥データとを比
較し、補正されるべきデータであるかどうかを判断する
データ検証手段と、欠陥画素検出手段によって検出され
た位置における画素の画像情報を欠陥画素位置の周辺画
素を用いてマトリクスを構成し、欠陥画素の画像情報を
補正する補正手段とを有する。よって、複数ラインの画
像データを一時的に格納し、ノイズの影響を緩和した後
ゴミ等による欠陥画素を的確に検出し、検出結果に基づ
き欠陥画素による縦黒スジを十分な範囲で補正すること
ができると共に、ごみ等により原稿面からの反射光が遮
られることによって欠陥した画素の位置を的確に検出
し、検出結果に基づき欠陥した画素を周辺の正常な画素
を参照し、副走査方向の画像連続性を損なわずに補正す
ることができる。

【００３９】また、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
のアップダウンによって黒ゴミを検出してマトリクスを
形成して補正を行うことにより、黒ゴミがあることを的
確に検出し、１フレーム分を格納し欠陥画素として保持
し、欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走
査方向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置
を提供することができる。

【００４０】更に、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
のアップダウンによって白ゴミを検出してマトリクスを
形成して補正を行うことにより、白ゴミ、例えばガラス
くずなどの基準の白より反射率の高いものがあることを
検出し、１フレーム分を格納し欠陥画素として保持し、
欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走査方
向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置を提
供することができる。

【００４１】また、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対してエッジを検
出することによってゴミを検出してマトリクスを形成し
て補正を行うことにより、エッジのある部分を欠陥デー
タと認識し、欠陥画素保持部で保持し、欠陥画素データ
と画像データと比較、補正し、副走査方向の画像連続性
を損なわずに補正する画像読取装置を提供することがで
きる。

【００４２】更に、補正手段は少なくともフレームメモ
リに格納されたフレーム単位の画像に対して任意に閾値
を設定してゴミを検出してマトリクスを形成して補正を
行うことにより、一度白基準板を読取って１フレーム分
フレームメモリに格納した後にフレームメモリ内に格納
された画像データを任意に設定された閾値を用いること
により、欠陥データを検出し、欠陥画素保持部で保持
し、欠陥画素データと画像データと比較、補正し、副走
査方向の画像連続性を損なわずに補正する画像読取装置
を提供することができる。

【００４３】また、別の発明としての画像読取装置は、
原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、予め読み取ら
れたデータを参照して、原稿と光電変換手段との間のコ
ンタクトガラス面に付着したゴミ等の付着物により原稿
面からの反射光の一部が光電変換手段に到達する前に遮
られることによって生じた画像情報の欠落した画素を検
出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手段によって
欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段との間のコンタ
クトガラス面に付着物があることを判断したときに、原
稿と光電変換手段との間の多面化されたコンタクトガラ
ス面を回転させて付着物のないコンタクトガラス面に切
り替えるコンタクトガラス面回転切替手段とを有するこ
とに特徴がある。また、別の発明として、欠陥画素検出
手段によって欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段と
の間のコンタクトガラス面に付着物があることを判断し
たときに、原稿と光電変換手段との間のコンタクトガラ
ス面をスライドさせて付着物のない別のコンタクトガラ
ス面に差し替えるコンタクトガラス面摺動切替手段を有
する。よって、チリなどの黒いごみや紙粉などの白いご
み等の付着物がないコンタクトガラスに切替えてまたは
差し替えて、根本的な問題を排除することができ、欠陥
した画像データをシステムに取り込むことが無くなる。
このことにより、ＳＤＦユニット使用した時に起こりえ
る黒スジまたは、白スジを発生させない画像読取装置を
提供することができる。

【００４４】更に、コンタクトガラス面回転切替手段に
よって回転した、又はコンタクトガラス摺動切替手段に
よってスライド移動された、付着物が付着したコンタク
トガラス面の面上をクリーニングするクリーニング手段
を設けたことにより、全てのコンタクトガラス面を切替
えた又は差し替えた場合次に欠陥画素を検出したときは
付着物が付着したコンタクトガラス面になることがな
く、新たなコンタクトガラス面は付着物が付着していな
いものであり、連続的使用が可能な画像読取装置を提供
することができる。

【００４５】また、別の発明としての画像読取装置は、
原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、予め読み取ら
れたデータを参照して、原稿と光電変換手段との間のコ
ンタクトガラス面に付着したゴミ等の付着物により原稿
面からの反射光の一部が光電変換手段に到達する前に遮
られることによって生じた画像情報の欠落した画素を検
出する欠陥画素検出手段と、欠陥画素検出手段によって
欠陥画素を検出して原稿と光電変換手段との間のコンタ
クトガラス面に付着物があることを判断したときに、原
稿と光電変換手段との間のコンタクトガラス面をクリー
ニングするクリーニング手段とを有することに特徴があ
る。

【００４６】更に、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を布状の物で拭き取る拭き取り手段
であることにより、チリなどの黒いごみや紙粉などの白
いごみの無い状態にして画像読み取り装置から来る画像
データに欠陥がない環境を作り得る。

【００４７】また、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物をブラシ状の物で掃き取る掃き取り
手段であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを
はき取りゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へ
クリアな画像データを受け渡すことが可能な画像読取装
置を提供することができる。

【００４８】更に、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を風圧で吹き飛ばす吹き飛ばし手段
であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを吹き
飛ばしゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へク
リアな画像データを受け渡すことが可能な画像処理装置
を提供することができる。

【００４９】また、クリーニング手段は、コンタクトガ
ラスの面上の付着物を静電気で吸着する静電気吸着手段
であることにより、コンタクトガラス面上のゴミを吹き
飛ばしゴミの付いていない状態にし、画像読取手段へク
リアな画像データを受け渡すことが可能な画像処理装置
を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用する画像読取装置の構成を示す図
である。

【図２】図１の画像読取装置の全体制御系の構成を示す
ブロック図である。

【図３】ブックモード時の原稿読取部の構成を示す図で
ある。

【図４】ＳＤＦモード時の原稿読取部の構成を示す図で
ある。

【図５】図２の画像処理部の最も基本的な構成を示すブ
ロック図である。

【図６】図５に示す画像処理部の構成をさらに詳細に示
すブロック図である。

【図７】本発明の第１の実施例に係る画像読取装置の構
成を示すブロック図である。

【図８】レベルのアップダウンを用いた検出方法を説明
する図である。

【図９】本発明の第２の実施例に係る画像読取装置の構
成を示す概略断面図である。

【図１０】図９の多面コンタクトガラスの拡大図であ
る。

【図１１】本発明の第３の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１２】本発明の第４の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１３】本発明の第５の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１４】本発明の第６の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１５】本発明の第７の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１６】本発明の第８の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１７】本発明の第９の実施例に係る画像読取装置の
構成を示す概略断面図である。

【図１８】本発明の第１０の実施例に係る画像読取装置
の構成を示す概略断面図である。

【図１９】本発明の第１１の実施例に係る画像読取装置
の構成を示す概略断面図である。

【図２０】本発明の第１２の実施例に係る画像読取装置
の構成を示す概略断面図である。

【符号の説明】

１００；スキャナ、１０１；フレームメモリ、１０２；
データ切替部、１０３；欠陥画素検出部、１０４；欠陥
画素保持部、１０５；データ検証部、１０６；補正部、
２００；コンタクトガラス、２０１；コンタクトガラス
駆動部、３００〜３０２；位置、４００；拭き取り部
材、５００；吹き飛ばし手段、５０１；風、６００；静
電気発生手段、６０１；静電気。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 福田 拓章 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 波塚 義幸 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 沖本 守彦 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 (72)発明者 若原 真一 東京都大田区中馬込１丁目３番６号 株式 会社リコー内 Ｆターム(参考） 5B047 AA01 AB02 BA01 BB02 BC05 BC09 BC11 BC14 CB22 DA06 DB01 DC06 5C072 AA01 BA15 DA12 EA05 FB11 NA01 RA16 UA03 UA11 WA04 XA01 5C077 LL04 MM27 PP06 PP10 PP51 PP68 PQ08 PQ25 SS01 TT06

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 原稿を所定の搬送制御によって搬送する
   原稿搬送手段と、光源によって照らされた原稿面からの
   反射光を受光してディジタルデータに変換する光電変換
   手段とを有する画像読取装置において、 一時的に１フレーム全てのデータを保持しておくフレー
   ムメモリと、 該フレームメモリに格納されたデータの種類によって補
   正されるべきデータか、欠陥データかを判断し、それぞ
   れの処理工程に切り替えるデータ切替手段と、 原稿と前記光電変換手段との間のコンタクトガラス面に
   付着したゴミ等の付着物により原稿面からの反射光の一
   部が前記光電変換手段に到達する前に遮られることによ
   って生じた画像情報の欠落した画素を検出する欠陥画素
   検出手段と、 該欠陥画素検出手段によって検出された画像欠陥データ
   を保持する欠陥画素保持手段と、 前記データ切替手段によって判断された補正されるべき
   データと、前記欠陥画素保持手段に保持されている画像
   欠陥データとを比較し、補正されるべきデータであるか
   どうかを判断するデータ検証手段と、 前記欠陥画素検出手段によって検出された位置における
   画素の画像情報を欠陥画素位置の周辺画素を用いてマト
   リクスを構成し、欠陥画素の画像情報を補正する補正手
   段とを有することを特徴とする画像読取装置。
2. 【請求項２】 前記補正手段は少なくともフレームメモ
   リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
   のアップダウンによって黒ゴミを検出してマトリクスを
   形成して補正を行う請求項１記載の画像読取装置。
3. 【請求項３】 前記補正手段は少なくともフレームメモ
   リに格納されたフレーム単位の画像に対して画像レベル
   のアップダウンによって白ゴミを検出してマトリクスを
   形成して補正を行う請求項１記載の画像読取装置。
4. 【請求項４】 前記補正手段は少なくともフレームメモ
   リに格納されたフレーム単位の画像に対してエッジを検
   出することによってゴミを検出してマトリクスを形成し
   て補正を行う請求項１記載の画像読取装置。
5. 【請求項５】 前記補正手段は少なくともフレームメモ
   リに格納されたフレーム単位の画像に対して任意に閾値
   を設定してゴミを検出してマトリクスを形成して補正を
   行う請求項１記載の画像読取装置。
6. 【請求項６】 原稿を所定の搬送制御によって搬送する
   原稿搬送手段と、光源によって照らされた原稿面からの
   反射光を受光してディジタルデータに変換する光電変換
   手段とを有する画像読取装置において、 原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、 予め読み取られたデータを参照して、原稿と前記光電変
   換手段との間のコンタクトガラス面に付着したゴミ等の
   付着物により原稿面からの反射光の一部が前記光電変換
   手段に到達する前に遮られることによって生じた画像情
   報の欠落した画素を検出する欠陥画素検出手段と、 該欠陥画素検出手段によって欠陥画素を検出して原稿と
   前記光電変換手段との間のコンタクトガラス面に付着物
   があることを判断したときに、原稿と光電変換手段との
   間の多面化されたコンタクトガラス面を回転させて付着
   物のないコンタクトガラス面に切り替えるコンタクトガ
   ラス面回転切替手段とを有することを特徴とする画像読
   取装置。
7. 【請求項７】 前記コンタクトガラス面回転切替手段に
   よって回転した前記付着物が付着したコンタクトガラス
   面の面上をクリーニングするクリーニング手段を設けた
   請求項６記載の画像読取装置。
8. 【請求項８】 原稿を所定の搬送制御によって搬送する
   原稿搬送手段と、光源によって照らされた原稿面からの
   反射光を受光してディジタルデータに変換する光電変換
   手段とを有する画像読取装置において、 原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、 予め読み取られたデータを参照して、原稿と前記光電変
   換手段との間のコンタクトガラス面に付着したゴミ等の
   付着物により原稿面からの反射光の一部が前記光電変換
   手段に到達する前に遮られることによって生じた画像情
   報の欠落した画素を検出する欠陥画素検出手段と、 該欠陥画素検出手段によって欠陥画素を検出して原稿と
   前記光電変換手段との間のコンタクトガラス面に付着物
   があることを判断したときに、原稿と光電変換手段との
   間のコンタクトガラス面をスライドさせて付着物のない
   別のコンタクトガラス面に差し替えるコンタクトガラス
   面摺動切替手段とを有することを特徴とする画像読取装
   置。
9. 【請求項９】 前記コンタクトガラス面摺動切替手段に
   よってスライド移動された前記付着物が付着したコンタ
   クトガラス面の面上をクリーニングするクリーニング手
   段を設けた請求項８記載の画像読取装置。
10. 【請求項１０】 原稿を所定の搬送制御によって搬送す
    る原稿搬送手段と、光源によって照らされた原稿面から
    の反射光を受光してディジタルデータに変換する光電変
    換手段とを有する画像読取装置において、 原稿を予め読み取るプレスキャン手段と、 予め読み取られたデータを参照して、原稿と前記光電変
    換手段との間のコンタクトガラス面に付着したゴミ等の
    付着物により原稿面からの反射光の一部が前記光電変換
    手段に到達する前に遮られることによって生じた画像情
    報の欠落した画素を検出する欠陥画素検出手段と、 該欠陥画素検出手段によって欠陥画素を検出して原稿と
    前記光電変換手段との間のコンタクトガラス面に付着物
    があることを判断したときに、原稿と光電変換手段との
    間のコンタクトガラス面をクリーニングするクリーニン
    グ手段とを有することを特徴とする画像読取装置。
11. 【請求項１１】 前記クリーニング手段は、前記コンタ
    クトガラスの面上の前記付着物を布状の物で拭き取る拭
    き取り手段である請求項７、９又は１０に記載の画像読
    取装置。
12. 【請求項１２】 前記クリーニング手段は、前記コンタ
    クトガラスの面上の前記付着物をブラシ状の物で掃き取
    る掃き取り手段である請求項７、９又は１０に記載の画
    像読取装置。
13. 【請求項１３】 前記クリーニング手段は、前記コンタ
    クトガラスの面上の前記付着物を風圧で吹き飛ばす吹き
    飛ばし手段である請求項７、９又は１０に記載の画像読
    取装置。
14. 【請求項１４】 前記クリーニング手段は、前記コンタ
    クトガラスの面上の前記付着物を静電気で吸着する静電
    気吸着手段である請求項７、９又は１０に記載の画像読
    取装置。