JP2002305229A - 表示用基板の受け渡し装置 - Google Patents
表示用基板の受け渡し装置Info
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Abstract
置に適用することができることができるにもかかわら
ず、装置が簡略化することにある。 【解決手段】 表示用基板12の受け渡し装置72は、
複数の基板12をその厚さ方向に間隔をおいて収容可能
のカセット14を支持するカセット支持機構70であっ
て、カセット14に収容される基板12が斜めとなる状
態にカセット14を斜めに支持可能のカセット支持機構
70と、カセット支持機構70に斜めに支持されたカセ
ット14に対し基板12を斜めの状態で受け渡する基板
受け渡し機構72とを含む。
Description
うな表示用基板の検査装置に用いられる表示用基板の受
け渡し装置に関する。
造、検査等の過程において、保管、搬送、加工処理等の
取り扱いを容易にする目的でカセットに収納されてい
る。カセットは、複数の基板をそれらの厚さ方向に間隔
をおいて収容すると共に、各基板の少なくとも長手方向
又は幅方向の端部を支持する。
板をカセットから1枚ずつ取り出して検査し、検査済み
の基板を元のカセット又は他のカセットに収納する受け
渡しが受け渡しロボットのような受け渡し装置により行
われている。カセットに対する基板の受け渡しは、受け
渡し装置の受け渡しアームを、カセットにその開口を介
して出し入れすることにより行われる。
装置において、カセットから引き出された基板は、検査
ステージに搬送されてその検査ステージで良否を検査さ
れる。基板の受け渡しは、未検査の基板をカセットから
取り出すときと、検査済みの基板を元のカセット又は他
のカセットに収納するときとに行われる。
として、基板が水平又は垂直となる状態にカセットを維
持し、その状態で受け渡しアームにより基板を受け渡す
ものがある。しかし、そのような受け渡し装置では、基
板を検査ステージに斜めに維持させた状態で検査する装
置に適用することができないし、受け渡し装置が複雑か
つ大型化して高価になる。
態で検査する装置に適用することができるにもかかわら
ず、装置が簡略化することにある。
受け渡し装置は、複数の基板をその厚さ方向に間隔をお
いて収容可能のカセットを支持するカセット支持機構で
あって前記カセットに収容される基板が斜めとなる状態
に前記カセットを斜めに支持可能のカセット支持機構
と、前記カセット支持機構に斜めに支持された前記カセ
ットに対し基板を斜めの状態で受け渡する基板受け渡し
機構とを含む。
でカセットに対し受け渡す装置は、基板を水平又は垂直
の状態で受け渡し、その後基板を斜めに変更する装置に
比べ、装置の構造が簡略化し、廉価になる。それゆえ
に、本発明によれば、基板を斜めの状態で検査する装置
に適用することができることができるにもかかわらず、
装置が簡略化する。
支持するカセット設置台と、前記カセット内の基板が斜
めとなる姿勢と垂直となる姿勢とに前記カセット設置台
を選択的に変位させる姿勢変更機構とを備えることがで
きる。そのようにすれば、カセット内の基板が垂直とな
る状態でカセットをカセット設置台に対し着脱すること
ができるから、基板を斜めの状態で受け渡すにもかかわ
らず、カセット設置台に対するカセットの着脱作業が容
易になる。
セットを前記カセット設置台に対し着脱するカセット着
脱位置と前記基板受け渡し機構が前記カセットに対し基
板の受け渡しをする基板受け渡し位置とに前記カセット
設置台を選択的に移動させるステージ移動機構を備える
ことができる。そのようにすれば、基板の受け渡し位置
と異なる箇所でカセットをカセット設置台に着脱するこ
とができるから、カセット設置台に対するカセットの着
脱作業がより容易になる。また、カセットをそのなかの
基板が垂直となる状態にカセット設置台に設置した状態
で、カセット設置台を移動させることができるから、基
板を斜めの状態で受け渡すにもかかわらず、カセット設
置台の移動時にカセット内の基板を損傷するおそれがな
い。
ットに対し受け渡す受け渡しアームと、該受け渡しアー
ムを前記カセット内の基板が傾斜する方向へ移動させる
第1の駆動機構と、前記受け渡しアームを前記カセット
に対し進退させる第2の駆動機構とを備えることができ
る。そのようにすれば、受け渡しアームに複雑な動きを
させることなく、基板の受け渡しが行われる。
け渡しアームに受けられている基板を前記受け渡しアー
ムに対して位置決める位置決め機構を備えることができ
る。そのようにすれば、基板が受け渡しアームに安全に
維持される。
駆動機構による前記受け渡しアームの移動方向と直交す
る第3の方向に間隔をおいた一対の基板ガイドであって
前記第3の方向において相寄り相離れる方向へ移動可能
の基板ガイドを備えることができる。そのようにすれ
ば、受け渡しアームに受けられた基板を基板ガイド間に
位置させた状態で、基板ガイドを相寄る方向へ移動させ
ることにより、基板が受け渡しアームに対して位置決め
られ、受け渡しアームに対する基板の位置決めが容易に
かつ確実に行われる。
イドを支持すると共に前記第3の方向へ同期して逆に移
動させるガイド移動機構を備えることができる。そのよ
うにすれば、受け渡しアームに対する基板の位置決めが
自動的に行われる。
介して前記ステージ移動機構に支持されており、前記ス
テージ移動機構は前記姿勢変更機構を前記カセット設置
台と共に前記カセット着脱位置と前記基板受け渡し位置
とに移動させてもよい。また、前記受け渡しアームは前
記第2の駆動機構を介して前記第1の駆動機構に支持さ
れており、前記第1の駆動機構は前記第2の駆動機構を
前記受け渡しアームと共に前記カセットに対して進退さ
せてもよい。
装置10は、複数の基板12をそれらの厚さ方向に間隔
をおいて収容可能のカセット14を用いて、基板12を
斜め前方及び上方に傾斜させた状態でその基板12の点
灯検査をする装置として用いられる。
lectroluminescense)のような表示用パネルや、表示用
パネルの製造に用いるガラス基板等、短冊状の平板状被
検査体である。そのような基板12として、携帯電話用
の表示パネルのような小型のセルを複数個一体的に備え
るいわゆる複数個取りの基板をあげることができる。し
かし、本発明は、基板が単一のセルやパネルからなる場
合にも適用することができる。
に開放した矩形のフレーム20内に基板12の配列方向
に伸びる一対の基板受け22を平行に配置している。各
基板受け22は、基板12の長手方向の端部を受け入れ
る複数のスロット24を基板受け22の長手方向に所定
の配置ピッチで間隔をおいて形成し、スロット24の下
端を長い板状の底部26により塞いでいる。
に開放していると共に、上方に開放されている。両基板
受け22は、スロット24が対向する状態に、フレーム
20に組み付けられている。各基板受け22は、各スロ
ット24に連通する穴28(図4参照)を底26に有し
ている。各穴28は、これがスロット24に連通するか
ら、カセット14への基板12の配置箇所に対応されて
いる。
側の上部を斜め上向きの複数の傾斜面32とし、そのう
ち左右方向における中央に位置する傾斜面32に位置合
わせや検査すべき基板12の観察等に用いられる光学顕
微鏡34と、プローブユニット36と、操作パネル38
とを配置している。各傾斜面32は、水平面に対し45
度の角度を有している。
ける中央に位置する測定領域44と、未検査の基板12
を収納したカセット14を検査装置に配置するローダ領
域46と、検査済みの基板12を収納したカセット14
を検査装置10から取り出すアンローダ領域48とに分
けられている。ローダ領域46とアンローダ領域48と
は、測定領域44に対し互いに左右方向の反対側に位置
されている。
は、操作パネル38の分だけローダ領域46及びアンロ
ーダ領域48に対応する傾斜面32及び32より凹まさ
れている。同様に、本体フレーム30の前面のうち、測
定領域44に対応する箇所は、操作パネル38の分だけ
ローダ領域46及びアンローダ領域48に対応する箇所
より凹まされている。
装置に10に対して着脱するための開口50及び52を
それぞれローダ領域46及びアンローダ領域48の前側
の部分に有していると共に、検査済みの基板を収納する
カセットを目視する確認窓54をアンローダ領域48の
傾斜面32に有している。確認窓54と同様の確認窓を
ローダ領域46に形成してもよい。
の接触子を備えた複数のプローブブロック40を矩形の
板の形をした基板42に接触子が一列となる状態に装着
している。接触子は、検査時に、基板12の幅方向にお
ける一方の縁部に形成された帯状の電極に押圧されて電
気的に接続される。プローブユニット36は、本体フレ
ーム30の開口を介して本体フレーム30内を目視する
開口56を測定領域44に有している。
基板12の点灯検査のための測定ステージ58が基板1
2を本体フレーム30の傾斜面32と平行の前及び上向
きに水平面に対し45度傾斜した斜めの状態に受けてそ
の状態に支持するように、配置されている。測定ステー
ジ58は、受けた基板12をこれと平行な互いに直交す
る2方向及び基板12に垂直の方向の三次元的に移動さ
せると共に、基板12と垂直な方向へ移動させる。
を斜め前方及び上方に傾斜させた状態でカセット14に
対して受け渡す受け渡し装置60がローダ領域46及び
アンローダ領域48の各々に配置されていると共に、未
検査の基板12をローダ領域46側の受け渡し装置60
から測定ステージ58に搬送すると共に、検査済みの基
板12を測定ステージ58からアンローダ領域48側の
受け渡し装置60に搬送する搬送装置62とが配置され
ている。
ーダ領域48側の受け渡し装置とは、互いに逆の動作を
行うのみで、同じ構造を有する。それゆえに、図におい
ては、ローダ領域46側の受け渡し装置60を示すのみ
で、アンローダ領域48側の受け渡し装置を示していな
い。
して搬送する一対の搬送アーム64と、両搬送アーム6
4を移動させる搬送アーム駆動機構66とを備えてい
る。両搬送アーム64は、基板12を真空的に吸着する
吸着パッド68を備えている。
をローダ領域46側の受け渡し装置60から測定ステー
ジ58に搬送するアームであり、他方の搬送アームは検
査済みの基板12を測定ステージ58からアンローダ領
域48側の受け渡し装置に搬送するアームである。他方
の搬送アーム64は、一方の搬送アーム64と同じ構造
を有するが、図示されていない。
脱可能に支持するカセット支持機構70と、基板12を
カセット支持機構70に支持されたカセット14に対し
出し入れする基板受け渡し機構72とを含む。
機構70は、本体フレーム30に組み付けられた板状の
固定ベース130と、固定ベース130に第1及び第2
の位置に移動可能に受けられた可動ベース132と、カ
セット14を受けるように可動ベース132に支持され
たカセット設置台(カセットステージ)134と、カセ
ット設置台134を可動ベース132に対し水平方向へ
伸びる軸線の周りに角度的に回転させるエアーシリンダ
136と、第1の可動ベース位置におけるカセット14
の下方に配置された一対のセンサ138と、両センサ1
38を第1の位置におけるカセット14に対して同期し
て移動させるセンサ移動機構140と、基板12の撓み
を防止する撓み防止機構142とを含む。
置から第2の可動ベース位置まで伸びている。第1の可
動ベース位置は、カセット14に対する基板12の受け
渡しを行ういわゆる基板受け渡し位置であり、図2及び
図5に示す位置である。これに対し、第2の可動ベース
位置は、カセット設置台134に対するカセット14の
受け渡しを行ういわゆるカセット受け渡し位置であり、
図2において第1の位置に対し右方の位置である。カセ
ット設置台134がカセット受け渡し位置にある状態を
図1,図9及び図10に示す。
らカセット受け渡し位置まで平行に伸びる状態に固定ベ
ース130に組み付けられた一対のガイドレール144
と、各ガイドレール144に滑動可能に組み付けられた
複数のリニアガイド146とを介して、固定ベース13
0に支持されており、また下面においてリニアガイド1
46に組み付けられている。
48を後に説明するように可動ベース132に支持さ
せ、カセット14を載せる板状のフリーステージ150
を支持台148にこれと平行の面内で二次元的に移動可
能に載せている。
2の移動方向に長い長方形の形状と、基板12の長さ寸
法より小さい幅寸法とを有しており、また支持台148
の上に間隔をおいて取り付けられた複数のボール152
を介して支持台148の中央に配置されている。
配列方向が可動ベース132の移動方向(X方向)とな
るように、カセット受け渡し位置においてフリーステー
ジ150に載置される。この際、カセット14は、矩形
の支持台148の各辺に対応する箇所に組み付けられた
1以上のガイド154により、カセット設置台134上
の所定の位置に案内される。
ト14は、矩形の支持台148の隣り合う2つの辺に対
応する箇所に組み付けられた1以上のプッシャ156に
より、対向する辺に配置されたガイド154に向けて押
される。これにより、カセット14は、フリーステージ
150と共に支持台148に対し支持台148と平行な
面内で二次元的に移動されて、所定のガイド154に接
触し、カセット設置台134に対して位置決められる。
プッシャ156は、エアーシリンダのような駆動源15
8により移動される。
4の移動は、フリーステージ150が支持台148に対
しボール152を介して移動することにより達成され
る。このため、カセット設置台134に対するカセット
14の移動が円滑になる。
部)は可動ベース132から上方へ伸びる複数の支柱1
60の上部に枢軸ピン162により組み付けられ、支持
体148の中央部がエアーシリンダ136のピストンロ
ッドに枢軸ピン164により結合されている。これによ
り、カセット設置台134は可動ベース132に支持さ
れている。枢軸ピン162,164は、可動ベース13
2の移動方向(X方向)と直交するY方向へ平行に伸び
ている。
2から上方へ伸びるように、シリンダにおいて可動ベー
ス132に枢軸ピン166により連結されている。枢軸
ピン166は、枢軸ピン162,164と平行にY方向
へ伸びている。このため、カセット設置台134は、エ
アーシリンダ136の伸縮により、支持台148が水平
となる水平状態と、支持台148が水平線に対し45度
傾斜する傾斜状態とに選択的に変位される。エアーシリ
ンダ136は、カセット14内の基板12が斜めとなる
姿勢と垂直となる姿勢とにカセット設置台134を選択
的に変位させる姿勢変更機構として作用する。
を用いる光学的センサであり、光線をカセット設置台1
34上のカセット14の底にほぼ垂直に照射してカセッ
ト14からの反射光を受光するように、基板受け渡し位
置におけるカセット14内の基板12の長手方向の端部
下方に配置されている。
変化を検出することにより、カセット14の穴28を感
知する。支持台148は、センサ138からの光線及び
センサ138に向かう反射光の通過を許す一対の長穴1
68を有する。各長穴168は、可動ベース132の移
動方向に長い。
置におけるカセット14内の基板12の長手方向におけ
る中央に位置するように可動ベース132に設置された
逆転可能のモータ170と、このモータ170の回転軸
に結合されたリードスクリュー172と、リードスクリ
ュー172に螺合されたリードナット174(図5参
照)と、リードナット174から基板12の長手方向に
及び互いに逆方向へ伸びる一対の取り付けバー176
と、可動ベース132の移動方向への各取り付けバー1
76の移動を案内するガイド機構178とを備える。
2の移動方向に伸びており、各センサ138は取り付け
バー176の先端部に取り付けられている。このため、
モータ170が回転されると、センサ138は支持台1
48の下側を可動ベース132の移動方向へ移動され
る。ガイド機構178は、可動ベース132に取り付け
られたガイドレールと、該レールに滑動可能に結合され
たリニアガイドとを用いることができる。
ト180が片持ち梁状に取り付けられている。ターゲッ
ト180は、先端を基板受け渡し機構72に感知される
ように、可動ベース132及びカセット設置台134か
ら前方(図5において左方)へ突出している。
リーステージ150との間を可動ベース132の移動方
向(X方向)へ伸びる棒状又は板状の長尺部材182
と、長尺部材182にこれの長手方向(X方向)に間隔
をおいて一列に組み付けられた棒状又は板状の複数の受
け部材184と、受け部材184を第1及び第2の受け
部材位置に選択的に回転移動させるように長尺部材18
2を角度的回転可能に支持する一対のブラケット186
と、長尺部材182の後端部(図5において右端部)に
組み付けられたハンドル188とを含む。
12の収容ピッチと同じピッチで、及び、長尺部材18
2から半径方向へ平行に伸びる状態に、長尺部材182
の外周に装着されている。ブラケット186は、長尺部
材182が基板受け22の間の中央に対応する箇所をX
方向へ伸び、かつ受け部材184が隣り合う基板12間
を上下方向(Z方向)へ伸びるように、支持台148に
装着されている。
セット14内を伸びる位置であり、第2の受け部材位置
は受け部材184がカセット14の外に位置する位置で
ある。このため、フリーステージ150は、受け部材1
84がカセット14内に出入りする開口190を有して
いる。
2によりカセット受け渡し位置に移動される。ベース駆
動機構192は、エアーシリンダのような直線運動アク
チュエータを用いる機構であってもよいし、電動機のよ
うな回転運動アクチュエータを用いる機構であってもよ
い。しかし、可動ベース132を手動で基板受け渡し位
置とカセット受け渡し位置とに選択的に移動させてもよ
い。
は、図2においてカセット支持機構70の左方(後側)
に配置されており、カセット14が傾斜された状態にお
いて基板12をカセット14に対して受け渡す。
機構72は、基板12をカセット14に対して受け渡す
コ字状の受け渡しアーム202と、受け渡しアーム20
2をこれに受けている基板12に垂直の第1の方向へ移
動させる第1の駆動機構204と、受け渡しアーム20
2をこれに受けている基板12と平行な面内で第1の方
向に垂直の第2の方向へ移動させてカセット設置台10
0上のカセット14に対し進退させる第2の移動機構2
06と、受け渡しアーム202に受けている基板12を
受け渡しアーム202に対して位置決める位置決め機構
208とを含む。
置台134側の端部)は斜め上方に曲げられており、こ
れにより基板12を斜め上向きの先端部に受ける。受け
渡しアーム202は、後に説明するように水平線に対し
45度に傾斜されたカセット設置台134に支持された
カセット14内の基板12をその基板12と平行に受け
渡すように、第2の駆動機構206に支持されている。
5度傾斜した状態に本体フレーム装着された板状のベー
ス210に組み付けられている。第2の駆動機構206
は、第1の駆動機構204に支持されていると共に、第
1の駆動機構204により第1の方向へ移動される。
04による受け渡しアーム202の移動方向(第1の方
向)に間隔をおいて第1及び第2の駆動機構204及び
206による受け渡しアーム202の移動方向(第1及
び第2の方向)と直交する第3の方向に伸びる一対のガ
イドレール212と、各ガイドに滑動可能に組み付けら
れたリニアガイド214と、各リニアガイド214から
斜め上方に伸びる支柱216と、各支柱216の上面に
装着された基板ガイド218と、第2の方向に間隔をお
いて第3の方向へ伸びる状態にリニアガイド214に組
み付けられた一対のラック220と、両ラック220と
噛合するピニオン222と、一方のリニアガイド214
を第3の方向に移動させるエアーシリンダ224とを含
む。
置されており、ピニオン222は第1の方向へ伸びる軸
線の周りに回転可能にベース210に支持されている。
両ラック220は、その歯を対向させており、またピニ
オン222の反対側に噛合されている。
22及びエアーシリンダは、リニアガイド214を第3
の方向へ同期して逆に移動させるガイド駆動機構として
作用する、しかし、ガイド駆動機構はピニオン222を
回転させる電動機を用いた機構のように、他の機構であ
ってもよい。
ド214がエアーシリンダ224により第3の方向にお
ける一方に移動されると、両リニアガイド214が相離
れる方向へ移動され、他方に移動されると、両リニアガ
イド214が相寄る方向へ移動される。これにより、両
支柱216及び両基板ガイド218が相寄り相離れる方
向へ移動される。
設置台100が基板受け渡し位置に位置するとき、カセ
ット支持機構70のターゲット180の先端を感知する
センサ226を備えている。センサ226は、光線をタ
ーゲット180に指向させ、ターゲット180の先端か
らの反射光を受光する光学的センサであり、第2の駆動
機構206に組み付けられている。
側専用の装置として検査装置10に用いられる場合の動
作について説明する。
された状態で、可動ベース132がベース駆動機構19
2によりカセット受け渡し位置に移動され、カセット設
置台134に対するカセット14の交換が行われる(図
9及び図10参照)。このカセット交換の間、長尺部材
182は、図4及び図6に実線で示すように、受け部材
184がカセット14の外をY方向へ伸びる第2の受け
部材位置に維持されている。
134上の空のカセット14をカセット設置台134か
ら除去し、未検査の基板を収容しているカセット14を
カセット設置台134に設置することにより、行われ
る。新たなカセット14は、内部の基板12がX方向に
間隔をおいてY方向へ伸び、さらに垂直となるように、
カセット設置台134に載せられる。
基板12が垂直となる状態でカセット14をカセット設
置台134に対し着脱することができるから、基板12
を斜めの状態で受け渡すにもかかわらず、カセット設置
台134に対するカセット14の着脱作業が容易にな
る。また、基板12の受け渡し位置と異なる箇所でカセ
ット14をカセット設置台134に着脱することができ
るから、カセット設置台134に対するカセット14の
着脱作業がより容易になる。
受け渡しアーム202は、第1及び第2の方向における
待機位置に維持されている。受け渡しアーム202の待
機位置は、第1の方向における適宜な位置とすることが
できる。
ス132が基板受け渡し位置に向けて移動される(図1
0参照)。カセット設置台134をカセット受け渡し位
置から基板受け渡し位置に移動させる際、カセット14
をそのなかの基板12が垂直となる状態にカセット設置
台134に設置した状態で、カセット設置台134を移
動させることができるから、基板12を斜めの状態で受
け渡すにもかかわらず、カセット設置台134の移動時
にカセット内の基板を損傷するおそれがない。
位置に移動された状態において両センサ138が、セン
サ移動機構140により可動ベース132の移動方向へ
移動されて図4に示すように所定の穴28、例えば最先
端(図4における左方端)に位置する穴28を感知する
位置に停止される(図11参照)。これにより、カセッ
ト支持機構70におけるカセットの位置決めが行われ
る。
42のハンドル188を操作することにより長尺部材1
82がほぼ90度回転移動されて、図4に2点鎖線で示
しかつ図5に実線で示すように、受け部材184がカセ
ット14内に移動されて隣り合う基板12の間をZ方向
へ伸びる第1の受け部材位置に移動される。
26がターゲット180の先端を感知するまで、基板受
け渡し機構72の受け渡しアーム202が第1の駆動機
構204により第1の方向における所定の高さレベルま
で下げられて、基板受け渡し機構72に対するカセット
14の位置が認識される(図11参照)。これにより、
受け渡しアーム202とカセット14との位置決めが行
われ、受け渡しアーム202は、カセット14内の基板
12、例えば最先端に位置する基板12を引き出すこと
ができる位置に下げられる。
に実線で示すように、エアーシリンダ136が伸張され
て、カセット設置台134が水平線に対し45度の状態
に傾斜される。カセット設置台134が傾斜されると、
カセット14内の基板12は、カセット14による支持
位置間おいて自重により下方に撓む。
ると、基板12がカセット14による被支持部間の中央
部において受け部材184に接触して受け部材184に
支持されるから、基板12は大きく撓むことを防止され
る。特に、カセット支持機構70においては、基板12
の長手方向中央部が受け部材184に接触するから、基
板12の撓みは小さい。
し機構72の受け渡しアーム202が斜めのカセット1
4内に一回出し入れされて、カセット14内の基板12
が受け渡しアーム202によりカセット14から引き出
される。
02は、その先端部を引き出すべき基板12の下側に挿
入され、次いで第1の駆動機構204によりわずかに第
1の方向に上昇される。これにより、引き出すべき基板
12が受け渡しアーム202に受けられる。その後、受
け渡しアーム202は、第2の駆動機構206によりカ
セット14から後退される。このため、受け渡しアーム
202に複雑な動きをさせることなく、基板12の受け
渡しが行われる。
02を撓み防止機構142と反対側からカセット14に
出し入れすることにより、行われる。この受け渡しの
際、基板12の撓みが上記のように小さいから、基板1
2がカセット14に対する受け渡しアーム202の出し
入れの妨げにならない。
ける基板12の下端縁を先端に係止させた状態に、基板
12を先端部上側に斜めに受ける。これにより、受け渡
しアーム202からの基板12の脱落が防止される。
ド218が第3の方向に大きく離された状態で、受けて
いる基板12が第1の方向における基板ガイド218の
高さ位置となるように、受け渡しアーム202が第1の
駆動機構204により第1の方向に下げられる(図13
参照)。
渡しアーム202に受けられている基板12をわずかに
押す位置まで、基板ガイド218がエアーシリンダ22
4により相寄る方向へ移動される(図13参照)。これ
により、基板12が受け渡しアーム202に対しずれて
いても、その基板12は、受け渡しアーム202に対し
て第3の方向へ移動されて位置決められて、受け渡しア
ーム202に安全に受けられる。
ム64が受け渡しアーム202から基板12を受け取る
待機位置に移動され、その位置に維持されている。
ーム202が第1の駆動機構204により第2の駆動機
構206と共に第1の方向に上昇されて、受けている基
板12を搬送装置62の搬送アーム64に引き渡す。基
板12の引き渡しは、受け渡しアーム202を第1の方
向に上昇させて、基板12を吸着パッド68に真空的に
吸着させ、その後次の基板12を引き出す待機位置に受
け渡しアーム202を第1の方向に下降させることによ
り行われる。
64が測定領域44に移動されて、基板12を測定ステ
ージ58の上方に移動させ、測定ステージ58が第1の
方向に上昇されて、基板12が搬送アーム64から測定
ステージ58に渡される。
基板12の受け渡しは、搬送アームによる基板12の吸
着を中止して基板12を搬送アーム64から解放し、そ
れの代わりに基板12を測定ステージ58に真空的に吸
着することにより、行われる。
れ、測定ステージ58に対する基板12の位置決めが行
われる。この位置決めは、基板12に形成されているア
ライメントマークが光学顕微鏡34又は図示されていな
いCCDビデオカメラの視野内の所定の位置となるよう
に、アライメントマークを光学顕微鏡34により確認し
つつ、測定ステージ58によりこれに受けている基板1
2をこれと平行な面内で二次元的に移動させることによ
り、行われる。
測定ステージ58により第1の方向に上昇されて、基板
12の電極がプローブユニット36の接触子に押圧され
る。この状態で、基板12に通電されて、その基板12
の目視点灯検査が行われる。
されると、エアーシリンダ136が収縮されて、カセッ
ト設置台134が水平の状態に戻され、次いで可動ステ
ージ32がカセット受け渡し位置に移動されて、カセッ
トの交換が行われる。
査済みの基板を測定ステージから受け取ってアンローダ
領域48に搬送し、その基板をアンローダ領域48側の
受け渡しアームに渡す。アンローダ領域48側の受け渡
しアームは、搬送アームから受け取った基板をカセット
設置台により斜めに維持されたカセットに渡す。アンロ
ーダ領域48側における搬送カセットの交換は、カセッ
ト設置台を基板受け渡し位置からカセット受け渡し位置
に移動させ、その位置で未検査の基板を収容したカセッ
トをカセット設置台から取り外し、その代わりに空のカ
セットをカセット設置台に設置することにより行われ
る。
に対し傾斜させた斜めの状態でカセットに対し受け渡す
から、基板を水平又は垂直の状態で受け渡し、その後基
板を斜めに変更する装置に比べ、装置の構造が簡略化
し、廉価になる。
ば、本発明は、ローダ領域側専用の装置やアンローダ領
域側専用の装置のみならず、ローダ側兼アンローダ側兼
用の装置としても用いることができる。この場合、カセ
ット設置台134から除去されるカセット14は検査済
みの基板を収容したカセットであり、カセット設置台1
34に新たに設置されるカセット14は未検査の基板を
収容しているカセットである。
々変更することができる。
一実施例を示す斜視図である。
送装置及び測定ステージの一実施例を示す図である。
持機構の一実施例を示す図である。
る。
し機構の一実施例を示す図である。
作を説明するための図である。
る。
置決め動作を説明するための図である。
明するための図である。
明するための図である。
明するための図である。
動作を説明するための図である。
ある。
Claims (7)
- 【請求項1】 複数の基板をその厚さ方向に間隔をおい
て収容可能のカセットを支持するカセット支持機構であ
って前記カセットに収容される基板が斜めとなる状態に
前記カセットを斜めに支持可能のカセット支持機構と、 前記カセット支持機構に斜めに支持された前記カセット
に対し基板を斜めの状態で受け渡する基板受け渡し機構
とを含む、表示用基板の受け渡し装置。 - 【請求項2】 前記カセット支持機構は、前記カセット
を支持するカセット設置台と、前記カセット内の基板が
斜めとなる姿勢と垂直となる姿勢とに前記カセット設置
台を選択的に変位させる姿勢変更機構とを備える、請求
項1に記載の受け渡し装置。 - 【請求項3】 前記カセット支持機構は、さらに、前記
カセットを前記カセット設置台に対し着脱するカセット
着脱位置と前記基板受け渡し機構が前記カセットに対し
基板の受け渡しをする基板受け渡し位置とに前記カセッ
ト設置台を選択的に移動させるステージ移動機構を備え
る、請求項2に記載の受け渡し装置。 - 【請求項4】 前記基板受け渡し機構は、基板を前記カ
セットに対し受け渡す受け渡しアームと、該受け渡しア
ームを前記カセット内の基板が傾斜している方向へ移動
させる第1の駆動機構と、前記受け渡しアームを前記カ
セットに対し進退させる第2の駆動機構とを備える、請
求項1から3のいずれか1項に記載の受け渡し装置。 - 【請求項5】 前記基板受け渡し機構は、さらに、前記
受け渡しアームに受けられている基板を前記受け渡しア
ームに対して位置決める位置決め機構を備える、請求項
4に記載の受け渡し装置。 - 【請求項6】 前記位置決め機構は、前記第1及び第2
の駆動機構による前記受け渡しアームの移動方向と直交
する第3の方向に間隔をおいた一対の基板ガイドであっ
て前記第3の方向において相寄り相離れる方向へ移動可
能の基板ガイドを備える、請求項7に記載の受け渡し装
置。 - 【請求項7】 前記位置決め機構は、さらに、前記基板
ガイドを支持すると共に前記第3の方向へ同期して逆に
移動させるガイド移動機構を備える、請求項6に記載の
受け渡し装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001108928A JP2002305229A (ja) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 表示用基板の受け渡し装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001108928A JP2002305229A (ja) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 表示用基板の受け渡し装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002305229A true JP2002305229A (ja) | 2002-10-18 |
Family
ID=18960978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001108928A Pending JP2002305229A (ja) | 2001-04-06 | 2001-04-06 | 表示用基板の受け渡し装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002305229A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006064387A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-09 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルの外観検査装置 |
JP2008085025A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 基板の取り扱い装置及び基板の取り扱い方法 |
WO2019065203A1 (ja) * | 2017-09-29 | 2019-04-04 | 日本電産サンキョー株式会社 | カセット配置部および搬送システム |
-
2001
- 2001-04-06 JP JP2001108928A patent/JP2002305229A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006064387A (ja) * | 2004-08-24 | 2006-03-09 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルの外観検査装置 |
JP2008085025A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 基板の取り扱い装置及び基板の取り扱い方法 |
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Effective date: 20050701 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080306 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20080318 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
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A521 | Written amendment |
Effective date: 20080502 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081118 |