JP2002303908A - 光学装置、レンズ鏡筒及びカメラ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レイアウトの自由度を損なわず、かつ、大型
化することなく、簡単な構成で精度の良い像振れ補正を
行えるようにする。 【解決手段】 補正手段に設けられた可動磁石５６、該
可動磁石に対し光軸方向に乖離して設けられた固定コイ
ル５１０、前記可動磁石に対し光軸方向に乖離して設け
られた第１の磁性体６７、前記可動磁石に対し光軸方向
に乖離し、前記第１の磁性体と反対面に設けられた第２
の磁性体６３とを有し、前記第１の磁性体と前記可動磁
石間の吸着力Ｆ’と、前記第２の磁性体と前記可動磁石
の吸着力Ｆが略等しくなるように、前記第１の磁性体、
前記第２の磁性体および前記可動磁石を配置している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、像振れを補正する
為の補正手段を有する光学装置、レンズ鏡筒及びカメラ
の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在のカメラは露出決定やピント合わせ
等の撮影にとって重要な作業は全て自動化され、カメラ
操作に未熟な人でも撮影失敗を起こす可能性は非常に少
なくなっている。

【０００３】また、最近では、カメラに加わる手振れを
防ぐシステムも研究されており、撮影者の撮影ミスを誘
発する要因は殆ど無くなってきている。

【０００４】ここで、防振システムについて説明する。

【０００５】撮影時のカメラの手振れは、周波数として
通常１Ｈｚないし１０Ｈｚの振動であるが、シャッタの
レリーズ時点においてこのような手振れを起こしても像
振れの無い写真を撮影可能とするための基本的な考えと
して、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その検
出値に応じて補正レンズを変位させなければならない。
従って、カメラ振れが生じても像振れが生じない写真を
撮影するためには、第１に、カメラの振動を正確に検出
し、第２に、手振れによる光軸変化を補正することが必
要となる。

【０００６】この振動（カメラ振れ）の検出は、原理的
にいえば、加速度，角加速度，角速度，角変位等を検出
する振れ検出センサと、カメラ振れ補正の為にその出力
を適宜演算処理する演算部を具備した振動検出装置をカ
メラに搭載することによって行うことができる。そし
て、この検出情報に基づき、撮影光軸を偏心させる補正
手段を駆動させて像振れ抑制が行われる。

【０００７】図５は防振システムを有するコンパクトカ
メラの外観斜視図であり、光軸４１に対して矢印４２
ｐ，４２ｙで示すカメラ縦振れ及び横振れに対し振れ補
正を行う機能を有している。

【０００８】尚、カメラ本体４３の中で、４３ａはレリ
ーズボタン、４３ｂはモードダイヤル（メインスイッチ
を含む）、４３ｃはリトラクタブルストロボ、４３ｄは
ファインダ窓である。

【０００９】図６は、図５に示したカメラの内部構成を
示す斜視図であり、４４はカメラ本体、５１は補正手
段、５２は補正レンズ、５３は補正レンズ５２を図中５
８ｐ，５８ｙ方向に自在に駆動して図５の矢印４２ｐ，
４２ｙ方向の振れ補正を行う支持枠であり、詳細につい
ては後述する。４５ｐ，４５ｙは各々矢印４６ｐ，４６
ｙ回りの振れを検出する角速度計や角加速度計等の振動
検出装置である。

【００１０】振動検出装置４５ｐ，４５ｙの出力は後述
する演算装置４７ｐ，４７ｙを介して補正手段５１の駆
動目標値に変換され、該補正手段５１に具備されるコイ
ルに入力して振れ補正を行う。尚、５４は地板、５６
ｐ，５６ｙは永久磁石、５１０ｐ，５１０ｙはコイルで
ある。

【００１１】図７は前記演算装置４７ｐ，４７ｙの詳細
を示すブロック図であり、これらは同様な構成である為
に同図では演算装置４７ｐのみを用いて説明する。

【００１２】演算装置４７ｐは、一点鎖線にて囲まれ
る、ＤＣカットフィルタ４８ｐ，ローパスフィルタ４９
ｐ，アナログ・ディジタル変換回路（以下、Ａ／Ｄ変換
回路と記す）４１０ｐ，駆動装置４１９ｐ及び破線で示
すカメラマイコン４１１より構成される。また、前記カ
メラマイコン４１１は、記憶回路４１２ｐ，差動回路４
１３ｐ，ＤＣカットフィルタ４１４ｐ，積分回路４１５
ｐ，記憶回路４１６ｐ，差動回路４１７ｐ，ＰＷＭ（パ
ルス幅変調）デューティ変更回路４１８ｐで構成され
る。

【００１３】ここでは、振動検出装置４５ｐとして、カ
メラの振れ角速度を検出するレーザージャイロを用いて
おり、該レーザージャイロはカメラのメインスイッチの
オンと同期して駆動され、カメラに加わる振れ角速度の
検出を開始する。

【００１４】振動検出装置４５ｐの出力信号は、アナロ
グ回路で構成されるＤＣカットフィルタ４８ｐにより該
出力信号に重畳しているＤＣバイアス成分がカットされ
る。このＤＣカットフィルタ４８ｐは 0.1Ｈｚ以下の周
波数の信号をカットする周波数特性を有しており、カメ
ラに加わる１〜１０Ｈｚの手振れ周波数帯域には影響が
及ばないようになっている。しかしながら、この様に
0.1Ｈｚ以下をカットする特性にすると、振動検出装置
４５ｐから振れ信号が入力されてから完全にＤＣがカッ
トされるまでには１０秒近くかかってしまうという問題
がある。そこで、カメラのメインスイッチがオンされて
から例えば 0.1秒まではＤＣカットフィルタ４８ｐの時
定数を小さく（例えば１０Ｈｚ以下の周波数の信号をカ
ットする特性にする）しておく事で、 0.1秒位の短い時
間でＤＣをカットし、その後に時定数を大きくして（
0.1Ｈｚ以下の周波数のみカットする特性にして）ＤＣ
カットフィルタ４８ｐにより振れ角速度信号が劣化しな
い様にしている。

【００１５】ＤＣカットフィルタ４８ｐの出力信号は、
アナログ回路で構成されるローパスフィルタ４９ｐによ
りＡ／Ｄ変換回路４１０ｐの分解能にあわせて適宜増幅
されると共に、振れ角速度信号に重畳する高周波のノイ
ズをカットされる。これは、振れ角速度信号をカメラマ
イコン４１１に入力する時のＡ／Ｄ変換回路４１０ｐの
サンプリングが振れ角速度信号のノイズにより読み誤り
が起きるのを避ける為である。また、ローパスフィルタ
４９ｐの出力信号は、Ａ／Ｄ変換回路４１０ｐによりサ
ンプリングされてカメラマイコン４１１に取り込まれ
る。

【００１６】ＤＣカットフィルタ４８ｐによりＤＣバイ
アス成分はカットされている訳であるが、その後のロー
パスフィルタ４９ｐの増幅により再びＤＣバイアス成分
が振れ角速度信号に重畳している為に、カメラマイコン
４１１内において再度ＤＣカットを行う必要がある。

【００１７】そこで、例えばカメラのメインスイッチの
オンから 0.2秒後にサンプリングされた振れ角速度信号
を記憶回路４１２ｐで記憶し、差動回路４１３ｐにより
記憶値と振れ角速度信号の差を求めることでＤＣカット
を行う。尚、この動作では大雑把なＤＣカットしか出来
ない為に（カメラのメインスイッチのオンから 0.2秒後
に記憶された振れ角速度信号の中にはＤＣ成分ばかりで
なく、実際の手振れも含まれている為）、後段でデジタ
ルフィルタにより構成されたＤＣカットフィルタ４１４
ｐにて十分なＤＣカットを行っている。このＤＣカット
フィルタ４１４ｐの時定数もアナログのＤＣカットフィ
ルタ４８ｐと同様に変更可能になっており、カメラのメ
インスイッチのオンから 0.2秒後から更に 0.2秒費やし
てその時定数を徐々に大きくしている。具体的には、こ
のＤＣカットフィルタ４１４ｐはメインスイッチのオン
から 0.2秒経過した時には１０Ｈｚ以下の周波数をカッ
トするフィルタ特性を有しており、その後５０msec毎に
フィルタでカットする周波数を５Ｈｚ，１Ｈｚ， 0.5Ｈ
ｚ， 0.2Ｈｚと下げていく。

【００１８】但し、上記動作の間に撮影者がレリーズボ
タン４３ａを半押し（Ｓ１をオン）して測光，測距を行
った時は直ちに撮影を行う可能性があり、時間を費やし
て時定数変更を行う事が好ましくない場合もある。そこ
で、その様な時は撮影条件に応じて時定数変更を途中で
中止する。例えば、測光結果により撮影シャッタスピー
ドが１／６０となる事が判明し、撮影焦点距離が１５０
mmの時には防振の精度はさほど要求されない為に、ＤＣ
カットフィルタ４１４ｐは 0.5Ｈｚ以下の周波数をカッ
トする特性まで時定数変更した時点で完了とする（シャ
ッタスピードと撮影焦点距離の積により時定数変更量を
制御する）。これにより、時定数変更の時間を短縮で
き、シャッタチャンスを優先する事が出来る。勿論、よ
り速いシャッタスピード、或いはより短い焦点距離の時
は、ＤＣカットフィルタ４１４ｐの特性は１Ｈｚ以下の
周波数をカットする特性まで時定数変更した時点で完了
とし、より遅いシャッタスピード，長い焦点距離の時
は、時定数が最後まで変更完了するまで撮影を禁止す
る。

【００１９】積分回路４１５ｐは、カメラのレリーズボ
タン４３ａの半押し（Ｓ１のオン）に応じてＤＣカット
フィルタ４１４ｐの出力信号の積分を始め、角速度信号
を角度信号に変換する。但し、前述した様にＤＣカット
フィルタ４１４ｐの時定数変更が完了していない時には
時定数変更が完了するまで積分動作を行わない。尚、図
７では省略しているが、積分された角度信号はその時の
焦点距離，被写体距離情報により適宜増幅され、振れ角
度に応じて適切な量だけ補正手段５１を駆動するように
変換される（ズームフォーカスにより撮影光学系が変化
し、補正手段５１の駆動量に対し光軸偏心量が変わる
為、この補正を行う必要がある）。

【００２０】レリーズボタン４３ａの押し切り（Ｓ２の
オン）で補正手段５１を振れ角度信号に応じて駆動し始
める訳であるが、この時、補正手段５１の振れ補正動作
が急激に始まらない様に注意する必要がある。記憶回路
４１６ｐ及び差動回路４１７ｐは、この対策の為に設け
られている。記憶回路４１６ｐは、レリーズボタン４３
ａの押し切り（Ｓ２のオン）に同期して積分回路４１５
ｐの振れ角度信号を記憶する。差動回路４１７ｐは、積
分回路４１５ｐの信号と記憶回路４１６ｐの信号の差を
求める。その為、スイッチＳ２のオン時の差動回路４１
７ｐの二つの信号入力は等しく、該差動回路４１７ｐの
補正手段５１に対する駆動目標値信号はゼロであるが、
その後ゼロより連続的に出力が行われる（記憶回路４１
６ｐはスイッチＳ２のオン時点の積分信号を原点にする
役割となる）。これにより、補正手段５１は急激に駆動
される事が無くなる。

【００２１】差動回路４１７ｐからの目標値信号は、Ｐ
ＷＭデューティ変更回路４１８ｐに入力される。補正手
段５１に具備されるコイル５１０ｐ（図６参照）には振
れ角度に対応した電圧或いは電流を印加すれば、補正レ
ンズ５２はその振れ角度に対応して駆動される訳である
が、補正手段５１の駆動消費電力及びコイルの駆動トラ
ンジスタの省電力化の為にはＰＷＭ駆動が望ましい。

【００２２】そこで、ＰＷＭデューティ変更回路４１８
ｐは、目標値に応じてコイル駆動デューティを変更して
いる。例えば、周波数が２０ＫＨｚのＰＷＭにおいて、
差動回路４１７ｐの目標値が「２０４８」の時にはデュ
ーティ「０」とし、「４０９６」の時にはデューティ
「１００」とし、その間を等分にしてデューティを目標
値に応じて決定していく。尚、デューティの決定は目標
値ばかりではなく、その時のカメラの撮影条件（温度や
カメラの姿勢，電源の状態）によって細かく制御して精
度良い振れ補正が行われるようにする。

【００２３】ＰＷＭデューティ変更回路４１８ｐの出力
は、ＰＷＭドライバ等の公知の駆動装置４１９ｐに入力
され、該駆動装置４１９ｐの出力を補正手段５１に具備
されるコイル５１０ｐ（図６参照）に印加して振れ補正
を行う。駆動装置４１９ｐはスイッチＳ２のオンに同期
してオンされ、フィルムへの露光が終了するとオフされ
る。又、露光が終了してもレリーズボタン４３ａが半押
し（Ｓ１のオン）されている限り積分回路４１５ｐは積
分を継続しており、次のスイッチＳ２のオンで再び記憶
回路４１６ｐが新たな積分出力を記憶する。

【００２４】レリーズボタン４３ａの半押しを止める
と、積分回路４１５ｐはＤＣカットフィルタ４１４ｐの
出力の積分を止め、該積分回路４１５ｐのリセットを行
う。リセットとは、今まで積分してきた情報をすべて空
にする事である。

【００２５】メインスイッチのオフで振動検出装置４５
ｐがオフされ、防振シーケンスは終了する。

【００２６】尚、積分回路４１５ｐの出力信号が所定値
より大きくなった時にはカメラのパンニングが行われた
と判定して、ＤＣカットフィルタ４１４ｐの時定数を変
更する。例えば 0.2Ｈｚ以下の周波数をカットする特性
であったものを１Ｈｚ以下をカットする特性に変更し、
再び所定時間で時定数をもとに戻していく。この時定数
変更量も積分回路４１５ｐの出力の大きさにより制御さ
れる。即ち、出力信号が第１の閾値を超えた時には、Ｄ
Ｃカットフィルタ４１４ｐの特性を 0.5Ｈｚ以下をカッ
トする特性にし、第２の閾値を超えた時は、１Ｈｚ以下
をカットする特性とし、第３の閾値を超えた時は、５Ｈ
ｚ以下をカットする特性にする。

【００２７】又、積分回路４１５ｐの出力が非常に大き
くなった時には、該積分回路４１５ｐを一旦リセットし
て演算上の飽和（オーバーフロー）を防止している。

【００２８】図７において、ＤＣカットフィルタ４１４
ｐはメインスイッチのオンから 0.2秒後に作動を開始す
る構成になっているが、これに限るものではなく、レリ
ーズボタン４３ａの半押しより作動を開始しても良い。
この場合はＤＣカットフィルタの時定数変更が完了した
時点より積分回路４１５ｐを作動させる。

【００２９】又、積分回路４１５ｐもレリーズボタン４
３ａの半押し（Ｓ１のオン）で作動を開始させていた
が、レリーズボタン４３ａの押し切り（Ｓ２のオン）よ
り作動を開始する構成にしても良い。この場合には、記
憶回路４１６ｐ及び差動回路４１７ｐは必要無くなる。

【００３０】図７では、演算装置４７ｐ内に、ＤＣカッ
トフィルタ４８ｐ及びローパスフィルタ４９ｐを設けて
いるが、これらは振動検出装置４５ｐ内に設けられても
良いのは言うまでもない。

【００３１】図８〜図１０は、補正手段５１の詳細を示
す図であり、詳しくは、図８は補正手段５１の正面図、
図９（ａ）は図８の矢印Ｂ方向より見た側面図、図９
（ｂ）は図８のＡ−Ａ断面図、図１０は補正手段５１の
斜視図である。

【００３２】図８において、補正レンズ５２（図９
（ｂ）に示す様に、この補正レンズ５２は、支持枠５３
に固定される二枚のレンズ５２ａ，５２ｂと、地板５４
に固定されるレンズ５２ｃにより成り、撮影光学系の群
を構成している）は、支持枠５３に固定される。

【００３３】支持枠５３には強磁性材料のヨーク５５が
取付けられ、該ヨーク５５の同図の裏面にはネオジウム
等の永久磁石５６ｐ，５６ｙが吸着固定（かくれ線で示
す）されている。又、支持枠５３から放射状に延出する
３本のピン５３ａは地板５４の側壁５４ｂに設けられた
長孔５４ａに嵌合している。

【００３４】図９（ａ），図１０に示す様に、ピン５３
ａと長孔５４ａは、補正レンズ５２の光軸５７方向には
嵌合してガタは生じないが、光軸５７と直交する方向に
は長孔５４ａが延びているため、支持枠５３は地板５４
に対し光軸５７方向には移動規制されるが、光軸と直交
する平面内には自由に移動できる（矢印５８ｐ，５８
ｙ，５８ｒ）。但し、図８に示す様に支持枠５３上のフ
ック５３ｂと地板上のフック５４ｃ間に引っ張りバネ５
９が掛けられている為に各々の方向（５８ｐ，５８ｙ、
５８ｒ）に弾性的に規制されている。

【００３５】地板５４には永久磁石５６ｐ，５６ｙに対
向してコイル５１０ｐ，５１０ｙが取付けられている
（一部かくれ線）。ヨーク５５，永久磁石５６ｐ，コイ
ル５１０ｐの配置は図９（ｂ）の様になっており（永久
磁石５６ｙ，コイル５１０ｙも同じ配置）、コイル５１
０ｐに電流を流すと支持枠５３は矢印５８ｐ方向に駆動
され、コイル５１０ｙに電流を流すと、前記支持枠５３
は矢印５８ｙ方向に駆動される。

【００３６】そして、その駆動量は各々の方向における
引っ張りバネ５９のバネ定数とコイル５１０ｐ，５１０
ｙと永久磁石５６ｐ，５６ｙの関連で生じる推力との釣
り合いで求まる。即ち、コイル５１０ｐ，５１０ｙに流
す電流量に基づいて補正レンズ５２の偏心量を制御でき
る。

【００３７】

【発明が解決しようとする課題】最近のコンパクトカメ
ラは小型化が顕著に進んできており、それに伴い撮影レ
ンズを有する撮影鏡筒はその全長、直径ともかなり小さ
くなってきている。

【００３８】その様な中で上述した防振システムを搭載
していこうとすると、図８〜図１０で説明した補正手段
５１をよりいっそう小型化していく事が望まれている。

【００３９】しかし小型化していくと、補正手段５１の
近傍に磁性体であるシャッタやレンズ駆動装置、バリア
などの機構が近づいてくることが予想され、特に補正手
段５１に用いられている永久磁石に磁性体が近づくと前
記永久磁石と一体で動く補正レンズの動きが悪くなり、
防振性能が劣化する懸念がある。これはレイアウトによ
る工夫で予防するのが一番であるが、小型化を追求して
いくとレイアウトの工夫では逃げられない場合も発生し
てくる。

【００４０】（発明の目的）本発明の目的は、補正手段
に具備される永久磁石の近傍の第１の磁性体による磁力
の影響を打ち消すために第２の磁性体を配置すること
で、レイアウトの自由度を損なわず、かつ、大型化する
ことなく、簡単な構成で精度の良い像振れ補正を行うこ
とのできる光学装置、レンズ鏡筒及びカメラを提供しよ
うとするものである。

【００４１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、光軸と直交する平面内で駆動されて像振
れを補正する為の補正手段を有する光学装置において、
前記補正手段に設けられた可動磁石、該可動磁石に対し
光軸方向に乖離して設けられた固定コイル、前記可動磁
石に対し光軸方向に乖離して設けられた第１の磁性体、
前記可動磁石に対し撮影光軸方向に乖離し、前記第１の
磁性体と反対面に設けられた第２の磁性体とを有し、前
記第１の磁性体と前記可動磁石間の吸着力と、前記第２
の磁性体と前記可動磁石の吸着力が略等しくなるよう
に、前記第１の磁性体、前記第２の磁性体および前記可
動磁石を配置した光学装置とするものである。

【００４２】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【００４３】図１は本発明の実施の一形態に係る像振れ
補正を行う補正手段及びシャッタを具備したカメラのレ
ンズ鏡筒の主要部分の分解斜視図、図２は図１のレンズ
鏡筒の斜視図、図３は第２の磁性体の働きを説明するた
めのレンズ鏡筒の簡易断面図、図４（ａ）は補正レンズ
の支持枠の支持方法を説明するための断面図、図４
（ｂ）は支持枠の部分拡大図である。なお、図２では説
明の都合上、図１に示す地板５４は省略して描いてい
る。

【００４４】これらの図において、図１０で説明した従
来例と異なるのは、圧縮コイルバネ５９（図４（ａ）参
照）が支持軸６０と同軸に放射状に３カ所設けられ、支
持枠５３と支持軸６０が撮影光軸と略直交する平面上で
相対的に摺動運動すること、及び、第２の磁性体である
カウンタ板（後述する）が配置されていることである。

【００４５】圧縮コイルバネ５９の両端部は、図４
（ａ）に示すように、一方が支持枠５３のバネ受け部５
３ｂに、もう一方が支持軸６０のバネ受け部６０ａにそ
のバネの内径が嵌合している。ここで、圧縮コイルバネ
５９は圧縮されることでその内径は大きくなっていく
が、支持枠５３が支持軸６０上を摺動し、圧縮コイルバ
ネ５９を最大圧縮した状態においてもそれぞれのバネ受
け部５３ｂ，６０ａに対しての該圧縮コイルバネ５９の
内径が広がり、嵌合が崩れて支持枠５３のバネ受け部５
３ｂと圧縮コイルバネ５９、及び、支持軸６０のバネ受
け部６０ａと圧縮コイルバネ５９の間にガタが生ずるこ
とが無いように、圧縮コイルバネ５９の内径と前記受け
部５３ｂ，６０ａの外径の寸法は設定されている。

【００４６】支持軸６０は地板５４の側壁部５４ｂに設
けられたネジ部５４ｃから回転させながらコイルバネ５
９に挿入されるとともに、支持軸６０の摺動部６０ｄは
支持枠５３の長孔部５３ａ（図４（ａ）参照）に挿入さ
れる。支持軸６０の摺動部６０ｄと支持枠５３の長孔部
５３ａは嵌合寸法に設定されており、支持軸６０と支持
枠５３は相対運動可能になっている。

【００４７】前記支持枠５３は地板５４に対して３本の
圧縮コイルバネ５９により弾性的に支持されている。従
って、支持枠５３は支持軸６０の摺動部６０ｄと支持枠
５３の長孔部５３ａによって地板５４に対し、撮影光軸
方向（図９（ａ）の５７で示す方向）に位置規制され、
又圧縮コイルバネ５９により支持枠５３は地板５４に対
して矢印５８ｐ，５８ｙ，５８ｒ方向（図８参照）に弾
性支持されている。これにより、支持枠５３は地板５４
に対し撮影光軸方向にガタつくことなく、撮影光軸に直
交する平面上を自由に動くことが可能となっている。

【００４８】前記支持枠５３には永久磁石５６ｙ，５６
ｐ及び補正レンズ５２が取り付けられており（図２参
照）、これらはコイル５１０ｐ，５１０ｙへの通電によ
り支持枠５３と一体で撮影光軸に垂直な平面で自由に移
動して像振れ補正を行う。

【００４９】６２はシャッタ地板であり、地板５４にビ
ス止めされ、支持枠５３の撮影光軸方向のガタを抑える
とともに、シャッタ羽根６５及びシャッタ羽根６６が該
シャッタ地板６２上を摺動可能となっている。６７は第
１の磁性体である、シャッタ羽根の位置を検出する手段
であり、この実施の形態では磁性体の金属端子が樹脂部
材にインサート成型された位置検出素子であるフォトイ
ンタラプタである。現在市中に出回っているフォトイン
タラプタは生産工程の合理化の目的で、磁性体の金属端
子を用いているものが主流となっている。該フォトイン
タラプタ６７はシャッタ羽根６５に複数設けてある矩形
形状のスリット６５ａのエッジを検出してシャッタの駆
動制御を行う信号を出力するものである。６４は２枚の
シャッタ羽根６５，６６を駆動する駆動ピンであり、該
駆動ピン６４は磁石でできており、不図示のシャッタコ
イルの通電により駆動され、回転運動を行う。

【００５０】６１はダンパ板であり、非磁性の金属板よ
り成り、前記永久磁石５６ｐ，５６ｙ，支持枠５３、補
正レンズ５２等から成る補正手段の例えば、自動車によ
る移動時の振動などの外乱による高周波側の動きを前記
永久磁石５６ｐ，５６ｙとの相対運動によって該ダンパ
板６１内に発生する渦電流の働きにより抑制して、装置
の破損を防止する働きをするとともに、前記コイル５１
０ｐ，５１０ｙの撮影光軸方向の位置決めの役割をして
おり、永久磁石とコイルのギャップの安定化を図って精
度の良い補正手段としている。

【００５１】シャッタ（シャッタ地板、シャッタ羽根６
５，６６，フォトインタラプタ６７より成る）と補正手
段とは撮影光軸方向に並んで配置されており、第１の磁
性体であるフォトインタラプタ６７と補正手段に具備さ
れた永久磁石５６（５６ｐ，５６ｙ）も撮影光軸方向で
近接している。このために永久磁石５６とフォトインタ
ラプタ６７間で吸着力Ｆ’が発生して補正手段の動きを
阻害して防振性能の劣化を招くことになる。

【００５２】そこで、第１の磁性体であるフォトインタ
ラプタ６７と永久磁石５６の間に働く吸着力Ｆ’とほぼ
同じ吸着力Ｆとなるように（図３参照）、永久磁石５６
を挟んでフォトインタラプタ６７に対向する位置、即ち
コイル５１０（５１０ｐ，５１０ｙ）の地板５４側に鉄
系の金属板より成る第２の磁性体であるカウンタ板６３
を配置している。

【００５３】このカウンタ板６３を設けることにより、
可動部である永久磁石５６の磁力が及ぶエリア内にある
第１の磁性体（フォトインタラプタ６７）と永久磁石５
６との間の吸着力Ｆ’をカウンタ板６３と永久磁石５６
間の吸着力Ｆで相殺することが可能であり、あたかも第
１の磁性体が無いかの如く補正手段を配置することが可
能となる。

【００５４】前記カウンタ板６３と永久磁石５６との吸
着力Ｆの調整は、本実施の形態では、前記カウンタ板６
３の板厚を変更して調整する事を想定しているが、その
他の方法として、 １）カウンタ板６３と永久磁石５６の距離を変更する。

【００５５】２）カウンタ板６３の永久磁石５６に対向
する面積を変更する。

【００５６】３）カウンタ板６３の材質を変更する。 等で吸着力を調整することも可能である。

【００５７】上記の実施の形態によれば、補正手段に具
備された可動な永久磁石５６、該永久磁石５６に対し撮
影光軸方向に乖離して設けられた固定のコイル５１０、
前記永久磁石５６に対し撮影光軸方向に乖離して設けら
れた第１の磁性体であるフォトインタラプタ６７、前記
永久磁石５６に対し撮影光軸方向に乖離し、前記フォト
インタラプタ６７と反対面に設けられた第２の磁性体で
あるカウンタ板６３とを有し、前記フォトインタラプタ
６７と永久磁石５６間の吸着力Ｆ’と前記カウンタ板６
３と永久磁石５６の吸着力Ｆが略等しくなる様に、撮影
光軸方向に沿って、前記フォトインタラプタ６７、永久
磁石５６、コイル５１０、カウンタ板６３の順に配置
（図３参照）する構成としている。

【００５８】よって、第１の磁性体の像振れ補正を行う
補正手段への影響を相殺することができ、レイアウトの
自由度を増すとともに、簡単な構成で小型で精度の良い
像振れ補正機能を有するレンズ鏡筒とすることができ
る。

【００５９】なお、上記実施の形態では、シャッタと補
正手段を内蔵したレンズ鏡筒に適用しているが、これに
限定されるものではなく、その他の磁性体と補正手段を
有する光学装置や、小型カメラへの適用も可能である。

【００６０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
補正手段に具備される永久磁石の近傍の第１の磁性体に
よる磁力の影響を打ち消すために第２の磁性体を配置す
ることで、レイアウトの自由度を損なわず、かつ、大型
化することなく、簡単な構成で精度の良い像振れ補正を
行うことができる光学装置、レンズ鏡筒又はカメラを提
供できるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の一形態に係る像振れ補正用の補
正手段及びシャッタを具備したレンズ鏡筒の主要部分の
分解斜視図である。

【図２】本発明の実施の一形態に係るレンズ鏡筒の斜視
図である。

【図３】本発明の実施の一形態に係る要部構成を示す断
面図である。

【図４】本発明の実施の一形態に係る支持枠の部分拡大
図である。

【図５】従来の防振システム搭載のカメラ全体を示す斜
視図である。

【図６】従来の防振システム搭載カメラの詳細を示す構
成図である。

【図７】従来の防振システムの電気的構成を示すブロッ
ク図である。

【図８】従来の補正手段の正面図である。

【図９】従来の補正手段の側面及び側面を示す図であ
る。

【図１０】従来の補正手段の斜視図である。

【符号の説明】

５２ 補正レンズ ５３ レンズホルダ ５４ 地板 ５６ｐ，５６ｙ 永久磁石（可動磁石） ４１，５７ 撮影光軸（光軸） ６１ ダンパ板 ６２ シャッタ地板 ６３ カウンタ板（第２の磁性体） ６７ フォトインタラプタ（第１の磁
性体） ５１０，５１０ｐ，５１０ｙ コイル（固定コイル）

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光軸と直交する平面内で駆動されて像振
   れを補正する為の補正手段を有する光学装置において、 前記補正手段に設けられた可動磁石、該可動磁石に対し
   光軸方向に乖離して設けられた固定コイル、前記可動磁
   石に対し光軸方向に乖離して設けられた第１の磁性体、
   前記可動磁石に対し光軸方向に乖離し、前記第１の磁性
   体と反対面に設けられた第２の磁性体とを有し、 前記第１の磁性体と前記可動磁石間の吸着力と、前記第
   ２の磁性体と前記可動磁石の吸着力が略等しくなるよう
   に、前記第１の磁性体、前記第２の磁性体および前記可
   動磁石を配置したことを特徴とする光学装置。
2. 【請求項２】 前記光軸方向に沿って、前記第１の磁性
   体、前記可動磁石、前記固定コイル、前記第２の磁性体
   の順に配置することを特徴とする請求項１に記載の光学
   装置。
3. 【請求項３】 前記第１の磁性体は、金属端子が樹脂部
   材にインサート成型された位置検出素子であることを特
   徴とする請求項１に記載の光学装置。
4. 【請求項４】 前記位置検出素子は、フォトインタラプ
   タであることを特徴とする請求項３に記載の光学装置。
5. 【請求項５】 前記第２の磁性体は、鉄系の金属板であ
   ることを特徴とする請求項１に記載の光学装置。
6. 【請求項６】 前記吸着力のバランスを、前記第２の磁
   性体の大きさで調整することを特徴とする請求項１に記
   載の光学装置。
7. 【請求項７】 前記第２の磁性体の可動磁石に向かう方
   向の厚みを変更することで、前記吸着力を調整すること
   を特徴とする請求項６に記載の光学装置。
8. 【請求項８】 前記第２の磁性体の可動磁石に対向する
   面積を変更することで、前記吸着力を調整することを特
   徴とする請求項６に記載の光学装置。
9. 【請求項９】 前記第２の磁性体と前記可動磁石の吸着
   力のバランスを、前記第２の磁性体の前記可動磁石に向
   かう方向の距離を変更することで調整することを特徴と
   する請求項１に記載の光学装置。
10. 【請求項１０】 請求項１〜９の何れかに記載の光学装
    置を有することを特徴とするレンズ鏡筒。
11. 【請求項１１】 請求項１〜９の何れかに記載の光学装
    置を有することを特徴とするカメラ。