JP2002299980A - 共振器の製造方法 - Google Patents
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Abstract
てる。 【解決手段】基板(102)上に共振器(110)を製
造するため、底部負荷電極(113)を作り、前記底部
負荷電極(113)上に底部コア電極(112)を作
り、圧電(PZ)層(104)を作り、前記PZ層(1
04)上に表面電極(116)を作るようにした。
Description
し、さらに詳しくは、電子回路におけるフィルタとして
使うことができる共振器に関する。
求は、より小型な信号フィルタへの限りないニーズにつ
ながる。セルラー電話や小型ラジオのような民生電子製
品は、その製品に内蔵されている部品の大きさとコスト
にきびしい制限を与えられている。このような製品の多
くは、精密な周波数に同調されなければならないフィル
タを使っている。従って、安価で簡素なフィルタユニッ
トを提供するために絶え間のない努力が続けられてい
る。
たフィルタの一種類が、薄膜バルク音響共振器(FBA
R)から構成されている。これらの装置は、薄膜圧電
(PZ)材料中のバルク縦音波を用いている。その一つ
の簡単な構成において、PZ材料の層が、二つの金属電
極間に挟持されている。この挟持構造は、支持構造によ
って空気中に懸架されることが好ましい。電界が金属電
極間に加えられるとき、PZ材料が、電気エネルギのい
くらかをメカニカルウェーブの形に変換する。このメカ
ニカルウェーブは、電界と同じ方向に伝播し、電極/空
気インターフェースで反射する。
振器と考えられる。二つ以上の共振器(異なる共振周波
数を有する)が電気的に接続されると、この集合体は、
フィルタとして働く。共振周波数は、材料中におけるメ
カニカルウェーブの所定の位相速度に対して、装置内を
伝播するメカニカルウェーブの1/2波長が装置の全体
的な厚さに等しくなるような周波数である。メカニカル
ウェーブの速度は光速度よりも4桁小さいので、構成さ
れる共振器は、非常に簡素になる。GHz範囲の共振器
のアプリケーションは、横方向において100μm以下
のオーダーのおよび厚さ方向において数μmのオーダー
の物理的な寸法を備えた共振器の構成を可能にする。
して製造するとき、共振器(例えば、FBAR)間で、
通常数%だけのほんの少し異なる共振周波数を備えるよ
うにする必要をしばしば生じる。一般的に、二つ異なる
周波数で十分であるが、より一般的なフィルタ設計で
は、それぞれ異なる共振周波数を備えた三つ以上の共振
器を必要とすることがある。これらのフィルタにおいて
いつも存在する問題は、共振器の共振周波数を精密にず
らすことと、同時に、単一のウェーハー上あるいは基板
上にそれら共振器を作り上げることである。
器の厚さに反比例することは、周知である。単一の基板
上にずれた周波数を備えた多数の共振器を作るために、
表面の金属電極を質量負荷する技術が、1999年4月
20日にLakinなどに与えられた米国特許第5,8
94,647号に開示されている。しかしながら、それ
ぞれの共振器が同一の基板上で異なる共振周波数を有す
るようにするために、さらに別の技術が求められる。
によって満される。本発明の第1の特徴によれば、基板
上に共振器を作るための方法が、開示される。まず、底
部負荷電極が、作られる。次いで、第1の底部コア電極
と第2の底部コア電極が作られ、第1の底部コア電極
は、底部負荷電極の上に作られてこの底部負荷電極と共
に第1の底部電極を構成し、第2の底部コア電極は、第
2の底部電極を構成する。次ぎに、圧電(PZ)層が作
られる。次いで、第1の表面電極が作られ、PZ層の第
1の部分は、一方の側を第1の表面電極に、他方の側を
第1の底部電極にして挟持される。最終的に、第2の表
面電極が作られ、PZ層の第2の部分は、一方の側を第
2の表面電極に、他方の側を第2の底部電極に挟持され
る。
振器を製造する方法が、開示される。まず、底部負荷電
極が作られ、底部コア電極がこの底部負荷電極の上に作
られる。次いで、圧電(PZ)層が作られる。最終的
に、表面電極が、PZ層上に作られる。
Z)層を挟持している底部および表面電極を備えた共振
器が、開示される。底部電極は、底部負荷電極および底
部コア電極部分を含んでいる。
器と第2の共振器を備えた装置が、開示される。第1の
共振器は、第1の圧電(PZ)材料を挟持している第1
の底部電極と第1の表面電極を備えており、第1の底部
電極は、底部負荷電極と底部コア電極を備えている。
原理を実施例によって示すための添付の図面との組み合
わせにおいて行われる以下の詳細な説明から明らかにな
るであろう。
うに、本発明は、複数の共振器を単一の基板上に組立て
かつかつ異なる共振周波数を備える技術として実施され
る。
製造について 本発明の第1の実施例では、基板上に第1の共振器と第
2の共振器を備えた装置が、開示されている。第1の共
振器は、二つの電極と、これらの二つの電極に挟持され
た第1の圧電(PZ)層を備えている。第2の共振器
は、二つの電極と、これらの二つの電極に挟持された第
2のPZ層を備えている。この第1のPZ層は、コアP
Z層と追加のPZ層を備え、第2のPZ層は、コアPZ
層のみを備えている。従って、第1のPZ層は、第2の
PZ層よりも厚く、第1の共振器は、第2の共振器の共
振周波数よりも低い共振周波数を有している。
る装置10が示されている。装置10は、基板12上に
形成された第1の共振器20と第2の共振器30とを備
えている。一つの例として、基板12は、シリコン基板
である。共振器20と30は、メカニカルウェーブを用
いる音響共振器である。そのために、図示されている共
振器20と30のそれぞれは、それぞれ空洞21と31
の上に作られている。例えば、2002年5月9日にR
uby等に与えられた米国特許第6,060,818号
は、この方法を示しており、本発明にも適用できるその
他の詳細も開示されている。
おいて、用語「第1の」および「第2の」は、類似した
装置あるいは装置の部品における異なる存在を便宜的に
区別するために使われ、これらの用語が使われる特定の
文脈において適用されるものである。しかしながら、材
料、処理、および、いずれかの部分において述べられて
いる装置の様々な部品の一般的なおよび相対的な寸法お
よび位置は、一区分において述べられたものであっても
この明細書を通じて使えるものとする。
空洞」)上をまたぐように作られ、底部電極22(「第
1の底部電極」)、表面電極26(「第1の表面電
極」)、および、第1の底部電極22と第1の表面電極
26の間に挟持されたPZ材料を含んでいる。PZ材料
は、PZ層14(「コアPZ層」)の部分24(「第1
の部分」)および第1の部分24の上の追加のPZ層2
5を含んでいる。第1の部分24は、ほぼ第1の底部電
極22の上に位置するPZ層14の一部分である。参照
番号24は、PZ層14の第1の部分24の全般的な領
域を指示す。
の両方は、窒化アルミニウム(AlN)あるいは他の適
当な圧電材料を用いて構成できる。電極、例えば第1の
底部電極22は、モリブデンを使える。しかしながら、
電極には他の適当な導電体も使うことができる。
空洞」)上に作られ、底部電極32(「第2の底部電
極」)、表面電極36(「第2の表面電極」)、およ
び、第2の底部電極32と第2の表面電極36の間に挟
持されたPZ材料を含んでいる。PZ材料は、コアPZ
層14の部分34(「第2の部分」)を含んでいる。第
2の部分34は、ほぼ第2の底部電極32の上に位置す
るコアPZ層14の一部分である。参照番号34は、コ
アPZ層14の第2の部分34の全般的な領域を指示し
ている。
は、必要な共振周波数に対応している。例えば、190
0MHzの共振周波数を備える共振器に対しては、共振
器20と30のそれぞれの大きさは、約30,000平
方μmをカバーする約150×200μmとなる。このよ
うな周波数と大きさでは、電極22と26は、通常それ
ぞれ約150nmの厚さとなり、コアPZ層14は、約2
100nmの厚さとなる。1900MHzよりも3%程度
低い共振周波数を得るためには、PZ材料の厚さは、約
110nm増加する。すなわち、追加のPZ層の厚さは、
コアPZ層14の厚さの約1〜8%となる。これは、第
1の共振器20についての説明である。もちろん、これ
らの測定値は、材料や共振周波数に応じて異なるもので
ある。本発明の説明を明瞭なものとするために、図1の
装置10の種々の部材は、装置の10における他の部材
と完全に縮尺が合っているわけではない。追加のPZ層
25の厚さは、コアPZ層14の厚さに対して広い幅を
有し得る、例えば、これに限定されないが、コアPZ層
14の2〜6%の範囲にできる。実際には、追加のPZ
層25の厚さは、コアPZ層14の厚さの一桁以下とな
る傾向にある。
層25は、第1の共振器20に対してのみ追加されてい
る。
1は、エッチングされ、ガラスを充填されて後に溶解さ
れるか他のやり方で除去されることによって空洞を形成
する。次に、底部電極22と32が、写真製版技術のよ
うな従来周知の技術を用いて作られる。次いで、コアP
Z層14が、電極22と32の上に堆積される。PZ材
料の厚さの異なる共振器20と30を製造するために
は、PZ層の形成に多数の工程を必要とする。例えば、
コアPZ層14は、第1と第2の底部電極22と32の
両方の上に堆積される。次いで、二酸化ケイ素SiO2
のような犠牲材料の薄層(マスク)が、コアPZ層14
の上に堆積される。この犠牲層は、図1には示されてい
ないが、約20nmの厚さである。犠牲層は、コアPZ層
14の第1の部分24を露出するようなパターンを備え
ており、第1の部分24は、共振周波数が低くなるよう
な共振器のためのPZ材料である。これは、この実施例
においては第1の共振器20である。
が、この実施例において約110nmの追加のPZ層25
を形成する基板全体に堆積される。次に、装置10は、
追加のPZ層25が残されるべき領域を保護するように
フォトレジストを用いてパターン化されるために、装置
10は、犠牲層を除去するようにエッチング剤によって
処理される。エッチング剤は、希釈されたフッ化水素酸
(HF)であって、このHFの濃度に対応して約1分間
程度の処理を受ける。そのようにすることで、追加のP
Z材料が、共振周波数が変化されない第2の共振器30
上から除去される。しかしながら、第1の共振器20を
保護しているフォトレジストに対して、追加のPZ層2
5は残留する。実施例の構成において、約110nmの厚
さを備えた追加のPZ層25は、第2の共振器30の共
振周波数に比較して約3%共振周波数を低くする。一つ
の例としてこの技術を使うことにより、共振周波数は、
1〜8%低下させられる。
洞21と31が、溶解あるいは他のやり方で除去され、
共振器20と30がそれぞれ空洞21と31の上に懸架
されるようにする。
薄膜共振器の製造 図2において、本発明の第2の実施例による装置40が
示されている。装置40は、基板42上に製造された第
1の共振器50と第2の共振器60を有している。一つ
の例として、基板42は、シリコン基板でよい。
を用いる音響共振器である。そのため、示されている共
振器50と60は、それぞれ空洞51と61の上に作ら
れている。装置40における第1の共振器50は、第1
の空洞51の上に作られ、底部電極52(「第1の底部
電極」)、PZ層54(「第1のPZ層」)、および、
表面電極56(「第1の表面電極」)を含んでいる。第
1のPZ層54は、大きなコアPZ層44の一部分
(「第1の部分」)でよい。電極52と56は、モリブ
デンから作られ、PZ層54は、窒化アルミニウム
(「AlN」)から作られる。しかしながら、電極とP
Z層とは他の適当な材料で作ってもよい。
2の空洞61の上に作られ、底部電極62(「第2の底
部電極」)、PZ層64(「第2のPZ層」)、およ
び、表面電極66(「第2の表面電極」)を含んでい
る。第2のPZ層64は、コアPZ層44の一部分
(「第2の部分」)でよい。
二つの部分、導電体部分57と酸化された導電体部分5
8を備える。導電体部分57は、モリブデンを含み、酸
化された導電体部分58は、酸化モリブデンを含む。第
1の表面電極56は、空気と熱に曝されたとき徐々に酸
化される導電体を使って作ることができる。この第1の
表面電極56は、無制限に酸化される性質を備えている
ことが望ましい。すなわち、薄膜が受ける酸化の量を制
限するような対酸化被膜を形成しないのがよい。酸化特
性の検討のためには、例えば、C.A.Hampelに
よって編集されたEncyclopedia of t
he Chemical Elements、Reinh
old Book Corporation、New
York、 1968、p.419が参考になる。第
1の表面電極56に使える多数の導電体の酸化特性は、
G.V.Samsonov編集によるThe Oxid
eHandbook、IFI/Plenum Publ
ishers、NewYork、1973が参考にな
る。
における第2の表面電極66のような導電体層のみから
なる普通の表面電極から製造を始められる。そのような
第1の表面電極56が形成された後、装置40は、熱と
空気に曝されて第1の表面電極56の表面を酸化して導
電体酸化層58(酸化された導電体部分58)を形成す
る。第2の表面電極66と装置40の他の部分は、マス
クを用いて酸化処理中は保護されている。マスクは、二
酸化ケイ素他の硬質のマスキング材料である。第1の表
面層58が十分に酸化されると、マスクは除去される。
な寸法を備えているとき、第1の共振器50は、約30
0℃の空気中で約1時間加熱されて約5MHzあるいは
それ以上の共振周波数低下が得られる。熱を連続的に加
えることで、第1の共振器50の共振周波数を、第1の
表面電極56の酸化前の第1の共振器50の共振周波数
に比較してあるいは第2の共振器60の共振周波数に比
較して1〜3%低下させることができる。
の底部電極52、第1のPZ層54を含むコアPZ層4
4、および、第1の表面電極56が、従来周知の方法で
作られる。次いで、表面電極56が酸化される。酸化
は、空気中で第1の共振器50を加熱することによって
実行できる。熱を連続的に加えながら、共振器を常時監
視することによって、第1の共振器50における共振周
波数低下の程度が、制御可能となる。例えば、第1の共
振器50の共振周波数は、約1〜6%の範囲で低下でき
る。
器の製造 図3Aと図3Bに、本発明の第3の実施例による装置7
0と70aが示されている。図3Bの装置70aは、処
理後の図3Aの装置70に相当する。従って、図3Bの
装置70aにおける部材は、図3Aの装置70として示
されているものに類似している。便宜上、装置70にお
ける対応する部材に類似する装置70aにおける部材
は、同じ参照番号を付与され、類似しているが異なる部
材は、文字「a」を伴う同じ番号を付与され、および、
異なる部材は、異なる参照番号を付与される。
板上に共振器を製造するために、底部電極層72が、基
板71上に作り上げられる。図1における装置10ある
いは図2における装置40と同様に、装置70は、空洞
81(「第1の空洞」)を備え、この空洞の上に共振器
80(「第1の共振器」)が、製造される。もちろん、
第1の空洞81は、底部電極層72の製造前にエッチン
グされて充填されることができる。第1の空洞81上の
底部電極層72のセクション(「第1のセクション」、
通常、参照番号82によって示される)は、共振器
(「第1の共振器」)80のための底部電極82(「第
1の底部電極」)として機能できる。第2の空洞91上
の底部電極層72の他のセクション(「第2のセクショ
ン」、通常、参照番号92によって示される)は、他の
共振器(「第2の共振器」)90のための底部電極92
(「第2の底部電極」)として機能できる。ここで、第
1の底部電極82と第2の底部電極92は、図示のよう
に接続できる。あるいは、底部電極82と92は、図1
における底部電極22と32と同様に分離しても良い。
当該発明の技術を説明するためには、この設計的な選択
は、重要ではない。
れる。再び、一つの例として、PZ層74は、窒化アル
ミニウム(AlN)でよいが、他の適当な圧電材料であ
っても良い。次ぎに、表面電極層76が、PZ層74上
に形成され、この表面電極層76は、所定の厚さ(「第
1の厚さ」)を備える。例えば、上述された1900M
Hz共振器に対して、表面電極層76は、100nmの厚
さを持つことができる。次いで、表面電極層76の選択
された領域(一般的にカッコ79で示されている)が、
部分的にエッチングされる。すなわち、表面電極76の
材料(例えば、モリブデン)が、除去されて表面電極7
6の薄い層を備えた選択領域79を生じる。簡単のため
に、選択領域79の厚さは、ここでは「第2の厚さ」と
呼ぶことにする。図3Aは、本発明による部分的なエッ
チング処理後の装置70を示している。
76は、パターン化されて第1の表面電極79aと第2
の表面電極77aを形成する。第1の表面電極79aと
第1の底部電極82は、第1の共振器80を形成するP
Z層74の部分84(「第1の部分」)を挟持する。第
2の表面電極77aと第2の底部電極92は、第2の共
振器90を形成するPZ層74の他の部分94(「第2
の部分」)を挟持する。これらの処理は、第2の共振器
90の共振周波数よりも高い共振周波数の第1の共振器
80を備えた装置70aを生じる。
ために、表面電極層76の選択領域79外は、マスクさ
れる。次いで、選択領域79とマスクされた領域を含む
装置70は、エッチング剤で処理される。エッチング剤
は、希釈されたフッ化水素酸(HF)であることがで
き、HFの濃度に従って、処理は約1分間である。ある
いは、表面電極層76は、イオンミリング、フォトレジ
スト、スパッタエッチング他の技術を用いてエッチング
される。この発明の目的のために、表面電極層76をエ
ッチングするために使われる実際の技術は、ここで挙げ
た方法に限定されない。最終的に、マスクは除去され
る。マスクの典型的な材料は、二酸化ケイ素(Si
O2)である。マスキングおよびエッチング処理は、従
来周知である。
00μmの大きさと、約1,900MHzの共振周波数
を備えている第1の共振器80に関して、表面電極層7
6は、当初に約150nmの厚さを有することができる。
部分的なエッチング処理が、数十nm、例えば、約20nm
を削除して約3%だけ第1の共振器80の共振周波数を
増加させる。一つの例として、選択領域79における表
面電極層76の厚さの1〜30%が削除され、厚さの減
少の程度に対応して約1〜6%だけ第1の共振器80に
おける共振周波数が増加する。
の製造 図4は、本発明の第4の実施例による装置100を示す
ものである。装置100は、基板102の上に作られた
第1の共振器110と第2の共振器120を備えてい
る。一つの例として、基板102は、シリコン基板であ
る。
ーブを用いる音響共振器である。そのために、図示され
ている共振器110と120のそれぞれは、それぞれ空
洞111と121上に作り上げられる。装置100にお
ける第1の共振器110は、第1の空洞111の上に作
られ、底部負荷電極113と第1の底部コア電極112
の組み合わせである底部電極(「第1の底部電極」)、
PZ材料114(「第1のPZ材料」)、および、表面
電極116(「第1の表面電極」)を含んでいる。第1
のPZ材料114は、PZ層104の一部分(「第1の
部分」)である。図示の実施例において、電極112、
113および116は、モリブデンから作られており、
PZ層104は、窒化アルミニウム(「AlN」)を用
いて作られている。しかしながら、他の適当な導電体材
料が、電極のために使われても良い。同様に、他の適当
な圧電材料も、PZ層104に使える。一つの例とし
て、第1の底部コア電極112と底部負荷電極113
が、同一の材料から作られる。
が、第2の空洞121の上に作られ、底部電極122
(「第2の底部電極」あるいは「第2の底部コア電
極」)、PZ材料124(「第2のPZ材料」)および
表面電極126(「第2の表面電極」)を含んでいる。第
2のPZ材料124は、PZ層104の一部分(「第2
の部分」)でよい。
部コア電極112は、厚さと大きさが等しい。従って、
第1の底部電極(以後、第1の底部コア電極112と底
部負荷電極113の組み合わせを「112+113」と
呼ぶ)は、第2の底部電極122よりも厚い。例えば、
一つの例として、第1の底部コア電極112と第2の底
部電極122は、約150nmの厚さでよく、底部負荷電
極113は、第1の底部コア電極112に10〜100
nmの範囲でを任意の厚みを加えることができる。これに
より、第1の共振器110は、第2の共振器120より
も低い共振周波数を備えることになる。一つの例とし
て、第1の共振器110の共振周波数は、1〜6%の範
囲だけ第2の共振器120の共振周波数よりも低くな
る。
部負荷電極113が、まず作り上げられる。次いで、第
1の底部コア電極112が、底部負荷電極113の上に
作られる。次ぎに、PZ層104が、作られる。最終的
に、第1の表面電極116が、PZ層104の上に作ら
れる。図示のように、底部負荷電極113は、第1の空
洞111をまたいでいる。
極113が、まず作られる。次いで、第1の底部コア電
極112と第2の底部コア電極122が作られ、第1の
底部コア電極112は、底部負荷電極113の上に作ら
れる。次ぎに、PZ層104が作られ、PZ層104
は、第1の底部コア電極112の上に第1の部分114
と、第2の底部コア電極122の上に第2の部分124
を有する。最終的に、第1の表面電極116と第2の表
面電極126が、それぞれ第1の部分114と第2の部
分124の上に作られる。
チングを行なう薄膜共振器の製造 図5Aと図5Bにおいて、装置130と130aが、本
発明の第5の実施例を説明するために使われる。図5B
の装置130aは、処理後の図5Aの装置130を示し
ている。従って、図5Bにおける装置130aの部材
は、図5Aの装置130として示されているものと同じ
ものである。便宜上、装置130における対応する部材
に類似している装置130aの部材は、同じ参照番号が
付与され、類似しているが異なる部材は、文字「a」を
伴う同じ番号を付与され、および、異なる部材は、異な
る参照番号を付与される。
板132の上に共振器140と150を製造するため
に、第1の底部電極142と第2の底部電極152が、
作られ、これらの電極は、それぞれ第1の空洞141と
第2の空洞151にまたがっている。
第1と第2の底部電極142と152に作られ、PZ層
134は、第1の底部電極142の上に第1の部分14
4と第2の底部電極152の上に第2の部分154を有
している。次ぎに、表面電極層136が、作られ、表面
電極層136は、第1の部分144の上に第1のセクシ
ョン146と第2の部分154の上に第2のセクション
156を有している。次ぎに、表面負荷層138が、第
1のセクション146の上に作られ、好ましくは第1の
セクション146全体を覆うようにする。表面負荷層1
38は、導電性材料、絶縁材料、あるいは、その両方を
含み、材料の限定はされないが、モリブデン、窒化アル
ミニウムあるいは二酸化ケイ素を含んでいる。次いで、
表面負荷層138は、オーバーエッチングされて第1の
表面電極(エッチングされた表面負荷層148と第1の
セクションの組み合わせあるいは148+146)を形
成する。すなわち、表面負荷層138と表面電極層13
6は、同時にエッチングされて第1の表面電極148+
146を形成する。もちろん、SiO2層のようなマス
ク層が、エッチング剤から電極148+146および1
56をパターン化するために使われる。
148+146を作る工程と同じ工程で作ることができ
る。表面電極層136の第2の表面セクション156上
には負荷電極が存在しないので、第2のセクション15
6を残して第2の表面電極156とし、および、第1の
表面電極148+146を残しつつ、表面電極層136
は、表面電極層136の他のすべての部分を削除するよ
うにエッチングされる
0を作るために、底部電極142が、まず作られる。次
いで、PZ層134、表面電極層136、および、表面
負荷層138が、順次作られる。表面負荷層138は、
表面電極層136の第1のセクション146を覆うこと
が好ましく、第1のセクション146は、表面電極14
8+146の一部分となる。最終的に、表面負荷電極層
138と表面電極層136は、エッチングされ、第1の
共振器140の表面電極148+146を形成する。こ
れらの層138と136は、二つの工程でエッチングさ
れる。しかしながら、一つの例として、これらは、一つ
の工程でエッチングされ、あるいは、オーバーエッチン
グされる。オーバーエッチングのために、表面負荷層1
38が、まずマスクされる。次いで、表面負荷層138
と表面電極層136がエッチングされると同時にこれら
の層のマスクされていない部分が除去される。マスキン
グには、二酸化ケイ素(SiO2)が使える。
200μmの大きさを備えるとともに約1,900MH
zの共振周波数を備える第1の共振器140に対して、
底部電極142と表面電極層136は、それぞれ約15
0nmの厚さを有することができ、PZ層134は、約2
100nmの厚さを有することができ、および、表面負荷
層138は、10〜100nmの範囲の厚さ、あるいは、
表面電極層134の厚さの約1〜6%の厚さを有するこ
とができる。1つの実施例で、この技術を使って、第1
共振器の共振周波数を1〜6%低くなる。
製造 図6Aと図6Bにおいて、装置160と160aは、本
発明の第6の実施例を説明するために示されている。図
6Bの装置160aは、処理後の図6Aの装置160を
示している。従って、図6Bにおける装置160aの部
材は、図6Aにおける装置160の部材と同じである。
便宜上、装置160における対応する部材と同一の装置
160aの部材は、同じ参照番号が付与され、類似して
いるが異なる部材は、文字「a」を伴う同じ番号を付与
され、および、異なる部材は、異なる参照番号を付与さ
れる。
板上に共振器を作るために、底部電極層162が、基板
161の上に作られる。図1の装置10あるいは図2の
装置40と同様に、装置160が、空洞171(「第1の
空洞」)を備え、その上に共振器170(「第1の共振
器」)が作られる。もちろん、第1の空洞171は、底
部電極層162の形成前にエッチングされて充填されて
いる。
セクション(一般的に参照番号172で示されている
「第1のセクション」)は、共振器(「第1の共振
器」)170に対する底部電極172(「第1の底部電
極」)として機能することができる。第2の空洞181
上の底部電極層162の他のセクション(一般的に参照
番号181で示されている「第2のセクション」)は、
他の共振器 (「第2の共振器」)180に対する底部電
極182(「第2の底部電極」)として機能することがで
きる。ここで、第1の底部電極172と第2の底部電極
182は、図示のように接続されることができる。ある
いは、底部電極172と182は、図1の底部電極22
と32のように分離されることもできる。本発明のこの
技術を説明するためには、この設計事項は、重要ではな
い。
が、作られる。再び、PZ層164は、一つの例として
窒化アルミニウム(AlN)であるが、他の適当な圧電
材料から構成しても良い。次ぎに、コアPZ層164の
選択された部分(一般的にカッコ169で示されてい
る)が、部分的にエッチングされる。エッチング工程
は、PZ層の任意の場所を1〜30%削除することがで
きてPZ層の厚さの減少によって1〜6%だけ形成され
る共振器170の共振周波数を増加させる。図6Aは、
本発明による部分的なエッチング工程後の装置160を
示している。
器170が形成しているPZ層164の部分的にエッチ
ングされた部分174の上に作られる。
めに、PZ層164の選択された部分169が、マスク
される。次いで、選択された部分169とマスクされた
領域を備えた装置160は、エッチング剤で処理され
る。エッチング剤は、希釈されたフッ化水素酸(HF)
であることができ、HFの濃度に従って、処理は約1分
間である。あるいは、PZ層164は、イオンミリン
グ、フォトレジスト、スパッタエッチング他の技術を用
いてエッチングされる。この発明の目的のために、PZ
層164をエッチングするために使われる実際の技術
は、ここで挙げた方法に限定されない。最終的に、マス
クは除去される。マスクに使われる典型的な材料は、二
酸化ケイ素(SiO2)である。マスキングとエッチン
グ処理は、従来周知の技術である。
200μmの大きさを備えるとともに約1,900MH
zの共振周波数を備える第1の共振器170に対して、
PZ層164は、約2,100nmの厚さを備えることが
できる。選択された部分的にエッチングされる部分は、
1〜30%薄くすることができ、第1の共振器170の
共振周波数を1〜30%だけ増加することができる。
1上に作られた底部電極182、PZ層184(「第2の
部分」)、および、表面電極186を備えた第2の共振
器180を設けることも可能である。この場合、PZ層
164の第2の部分184は、部分的にエッチングされ
ていない。
り、従来周知の技術よりも優れていることが明らかにな
ったと思われる。本発明は、単一の基板の上に異なる共
振周波数を備えたFBARを形成する技術を開示するも
のである。本発明における特定の実施例が、図示されて
説明されたが、この発明は、図示され説明されたような
特定の形態あるいは配置に限定されるものではない。例
えば、異なる構造、大きさ、あるいは、材料が、本発明を
実施するために使える。本発明は、特許請求の範囲によ
って限定される。しかしながら、本発明の実施者への参
考のために、下記に本発明の実施態様の幾つかを例示す
る。
(110)を製造する方法において、底部負荷電極(1
13)を作り、前記底部負荷電極(113)上に底部コ
ア電極(112)を作り、圧電(PZ)層(104)を
作り、前記PZ層(104)上に表面電極(116)を
作るようにした共振器の製造方法。
3)が、約10〜100nmの厚さを備えているようにし
た実施態様1に記載の共振器の製造方法。
3)が、モリブデンを含むようにした実施態様1に記載
の方法。 (実施態様4)前記底部負荷電極(113)と前記底部
コア電極(112)が、同一の材料を備えるようにした
実施態様1に記載の共振器の製造方法。
窒化アルミニウム(AlN)を含むようにした実施態様
1に記載の共振器の製造方法。 (実施態様6)前記底部負荷電極(113)が、空洞
(111)にまたがるようにした実施態様1に記載の共
振器の製造方法。
の簡易化側断面図である。
の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
置の簡易化側断面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】基板上に共振器を製造する方法において、 底部負荷電極を作り、 前記底部負荷電極上に底部コア電極を作り、 圧電(PZ)層を作り、 前記PZ層上に表面電極を作るようにした共振器の製造
方法。 - 【請求項2】前記底部負荷電極が、約10〜100nmの
厚さを備えているようにした請求項1に記載の共振器の
製造方法。 - 【請求項3】前記底部負荷電極が、モリブデンを含むよ
うにした請求項1に記載の方法。 - 【請求項4】前記底部負荷電極と前記底部コア電極が、
同一の材料を備えるようにした請求項1に記載の共振器
の製造方法。 - 【請求項5】前記PZ層が、窒化アルミニウム(Al
N)を含むようにした請求項1に記載の共振器の製造方
法。 - 【請求項6】前記底部負荷電極が、空洞にまたがるよう
にした請求項1に記載の共振器の製造方法。
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