JP2002269520A - 半導体装置及びその製造方法 - Google Patents

半導体装置及びその製造方法

Info

Publication number
JP2002269520A
JP2002269520A JP2001069615A JP2001069615A JP2002269520A JP 2002269520 A JP2002269520 A JP 2002269520A JP 2001069615 A JP2001069615 A JP 2001069615A JP 2001069615 A JP2001069615 A JP 2001069615A JP 2002269520 A JP2002269520 A JP 2002269520A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic device
chip
antenna
glass
dumet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001069615A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4433629B2 (ja
JP2002269520A5 (ja
Inventor
Mitsuo Usami
光雄 宇佐美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2001069615A priority Critical patent/JP4433629B2/ja
Priority to KR1020010049735A priority patent/KR100835429B1/ko
Priority to TW090121058A priority patent/TW577026B/zh
Priority to US09/940,537 priority patent/US6657542B2/en
Publication of JP2002269520A publication Critical patent/JP2002269520A/ja
Priority to US10/674,337 priority patent/US6930401B2/en
Priority to US11/128,374 priority patent/US7208351B2/en
Publication of JP2002269520A5 publication Critical patent/JP2002269520A5/ja
Priority to US11/696,028 priority patent/US7652360B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4433629B2 publication Critical patent/JP4433629B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/02Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the selection of materials, e.g. to avoid wear during transport through the machine
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/04Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the shape
    • G06K19/041Constructional details
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/0775Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card arrangements for connecting the integrated circuit to the antenna
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/07758Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card arrangements for adhering the record carrier to further objects or living beings, functioning as an identification tag
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/07773Antenna details
    • G06K19/07786Antenna details the antenna being of the HF type, such as a dipole
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/0008General problems related to the reading of electronic memory record carriers, independent of its reading method, e.g. power transfer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/043Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
    • H01L23/051Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body another lead being formed by a cover plate parallel to the base plate, e.g. sandwich type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/06Containers; Seals characterised by the material of the container or its electrical properties
    • H01L23/08Containers; Seals characterised by the material of the container or its electrical properties the material being an electrical insulator, e.g. glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/29Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the material, e.g. carbon
    • H01L23/291Oxides or nitrides or carbides, e.g. ceramics, glass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/482Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
    • H01L23/4827Materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/552Protection against radiation, e.g. light or electromagnetic waves
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/645Inductive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/12Supports; Mounting means
    • H01Q1/22Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles
    • H01Q1/2283Supports; Mounting means by structural association with other equipment or articles mounted in or on the surface of a semiconductor substrate as a chip-type antenna or integrated with other components into an IC package
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6661High-frequency adaptations for passive devices
    • H01L2223/6677High-frequency adaptations for passive devices for antenna, e.g. antenna included within housing of semiconductor device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/27Manufacturing methods
    • H01L2224/274Manufacturing methods by blanket deposition of the material of the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/838Bonding techniques
    • H01L2224/83801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00011Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01051Antimony [Sb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01056Barium [Ba]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • H01L2924/12036PN diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/161Cap
    • H01L2924/163Connection portion, e.g. seal
    • H01L2924/164Material
    • H01L2924/16586Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/16588Glasses, e.g. amorphous oxides, nitrides or fluorides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Credit Cards Or The Like (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本願発明の目的は、信頼性の高い電子装置を提
供することにある。又、製造が容易な電子装置の製造方
法を提供することにある。 【解決手段】平板状半導体31とその表および裏面の接
続端子とリード線11に接続されたジュメット12とを
ガラス管13で封止した電子装置とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、非接触で対象物を
認識するICタグ等の電子装置、特に無線によって認識
番号を送る無体応答体(トランスポンダ)を搭載した電
子装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の高周波を用いて半導体チップ内部
のメモリ部に記憶された情報を外部のリーダライタと非
接触で交信する半導体タグ(ICタグ)の一例として、
半導体チップが球形であり、当該半導体チップにダイポ
ール型の高周波アンテナが接続された非接触型半導体タ
グが特開2000−222540に開示されている。本
ICタグでは、球形の半導体チップにアンテナが半田に
より機械的に取り付けられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前項で述べたようなダ
イポール型アンテナが球形の半導体に半田付けされたI
Cタグでは、次に述べるような課題のあることを見いだ
した。即ち、ダイポール型アンテナと球状の半導体の接
続を行うとき、ダイポールアンテナの先端部分と球状の
半導体の接続部との位置決めが必要であるが、球状の半
導体であると、接続位置を決めるために複雑な手法が要
求され、簡便にかつ経済的に位置決めを行うことが困難
である。
【0004】又、集積回路が球形半導体の表面に形成さ
れており、外部光の影響を受けやすい。
【0005】本願発明の目的は、信頼性の高い電子装置
を提供することにある。
【0006】本願発明の他の目的は、製造が容易な電子
装置の製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要は次の通りである。
【0008】アンテナを介して半導体チップに設けられ
たメモリ内に記憶された情報が読み取られる電子装置に
おいて、前記メモリ含む集積回路は前記半導体チップ
(ICチップ)の主面に設けられ、前記アンテナは前記
ICチップの主面および裏面にそれぞれ設けられた電極
に接続され、当該半導体チップ及びそれとリード線との
接続部とはガラスによって封止された電子装置とする。
【0009】又、所定の情報を記憶するメモリ部と、表
面側及び裏面側にそれぞれ設けられた第1及び第2の外
部電極とを有する平板状ICチップと、前記第1及び第
2の外部電極にそれぞれ接続され、前記ICチップへ電
力を供給する第1及び第2のアンテナと、前記第1及び
第2の外部端子側の前記第1及び第2のアンテナのそれ
ぞれの一部と前記ICチップとを被うように設けられた
ガラス封止体とを有する電子装置とする。
【0010】又、所定の情報を記憶するメモリ部と表面
側及び裏面側にそれぞれ設けられた第1及び第2の外部
電極とを有するICチップを、ガラス管内において第1
及び第2のアンテナで挟み込み、その後ガラス管を溶融
してICチップ及びそれらと第1及び第2のアンテナと
の接続部を封止する電子装置の製造方法とする。
【0011】なお、ここで言うガラスとは、ICチップ
を封止するために用いられる材料であり、石英ガラス、
硼珪酸ガラス、鉛ガラス等を用いることができる。特
に、鉛ガラス等の低融点ガラスが望ましい。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明に係る電子装置の概略構成
を、図1(a)、図1(b)を用いて説明する。図1
(a)、図1(b)は、共に本発明に係る電子装置の断
面を示す図である。各図においてリード線11は台座
(ジュメット)12に接続されて一体ものとして形成さ
れており、アンテナをとなる。アンテナから電力を得て
動作するICチップ(無線チップ)14はジュメットに
より挟まれた構造を有する。ガラス13は管状であり、
無線チップおよび、ジュメットの一部がガラス13で封
止されている。図1(a)では、無線チップ14の対角
線の長さがジュメット12の直径よりも大きく、図1
(b)では小サイズ無線チップ14aの対角線の長さは
ジュメットの直径よりも小さい。ここでジュメットは無
線チップ14や小サイズ無線チップ14aを挟みやすく
するために、リード線11よりも大きな直径を有する先
端金属部である。無線チップを板状とし、表面および裏
面に電極を設けることにより、ジュメットとの接続のた
めの位置合わせを容易に行うことができる。無線チップ
14、小サイズ無線チップ14aをジュメット12で挟
むことにより、ICチップへの外部光の入射を低減でき
る。特に、小サイズ無線チップ14aの場合には、外部
光に対する遮蔽効果が大きい。ガラスの形状は筒型や直
方体等の自由形状で良いが、ICチップおよびジュメッ
トが封入できる寸法の空洞を持つ必要がある。特に、ガ
ラス管の開放端にICチップの表面及び裏面電極が面す
る向きでガラス管内にICチップが封入できる大きさの
空洞を有することが好ましい。これにより、ジュメット
でICチップを容易に挟み込むことができる。ガラスの
外径寸法は0.1mmから5mmの範囲とすることによ
り、外部応力を受け難くく、取り扱い易い。特にタグと
して使用する場合、小寸法のため荷物を取り扱うときの
邪魔にならず、タグが紛失しにくい。又ガラス管の内径
寸法を0.09mmから4.9mmの範囲内とすること
により、機械的な強度を確保することができる。
【0013】次に本発明に係る無線チップの概略構成
を、図2(a)、図2(b)を用いて説明する。なお、
ここでは無線チップについて説明するが、小サイズ無線
チップにおいても同様の構成とすることができる。図2
(a)は、無線チップの回路構成の概略を示す図であ
る。本図に示すように、無線チップ表面端子21は無線
チップ内の回路に設けられた結合コンデンサ22に接続
されており、結合コンデンサ22は整流ダイオード23
とクランプダイオード25に接続されている。整流ダイ
オード23は更に論理回路24に接続されている。論理
回路24には、整流ダイオード23を介して電流が供給
される。クランプダイオード25および論理回路24は
共通端子(本願明細書では共通端子のことを以下、グラ
ンドと呼ぶ。)26に接続されている。
【0014】図2(b)は図2(a)の回路を形成した
無線チップの概略断面図を示している。無線チップ表面
端子21は表面デバイス層27の上にあり、またグラン
ド26は無線チップ14の裏面に存在する。グランド2
6はジュメットを介して外部のリード線と接続され、同
様に無線チップ表面端子21はジュメットを介して外部
のリード線と接続される。図2(a)の無線チップ表面
端子21とグランド26の二つの端子は外部のアンテナ
と接続することにより、通信距離を確保することができ
る。高周波電磁波エネルギをアンテナによって得て、無
線チップ内の整流回路によって直流電流を得ることがで
きる。これにより、無線チップは電池なしで動作が可能
となる。この回路のグランド端子は半導体チップの基板
に接続される。無線チップの電極端子は半導体チップの
表面および裏面に形成されており、電極端子の物理的面
積は最大無線チップの平面サイズ(チップ全面)まで拡
大される。電極端子面積が大きい程電極材料により遮蔽
される領域が大きくなり、外部からの光の影響を小さく
することができる。
【0015】本発明に係る他の電子装置の概略構成を、
図3(a)、図3(b)を用いて説明する。図3
(a)、図3(b)は、共に本発明に係る電子装置の断
面を示す図である。ここに示す符号で、図1と同じもの
は同じ構成を示す。なお、符号31は、薄膜化された薄
型無線チップを、又、符号31aは薄膜化された薄型小
サイズ無線チップを表す。薄膜化することにより、無線
チップの側面からの外部光の影響を低減することができ
る。
【0016】図1(a)、図1(b)や図3(a)、図
3(b)に示した電子装置にICチップが封止されてい
ることを示す識別子を設けることにより、ガラス管内に
封止されているチップがICチップであることを明確化
することができる。識別子として、マークをガラス表面
に施すことができる。色により区別してもよい。図1
(a)、図1(b)および図3(a)、図3(b)では
無線チップのすべてまたは中心部が金属製のジュメット
で表面および裏面が覆われ、金属は光を透過することが
無いために、無線チップが光によって誤動作などの障害
を起こすことを防ぐことができる。ジュメットに比較し
て無線チップがジュメットより小さい図1(b)や図3
(b)に示した構造とすることにより光に対して十分に
強い構造とすることができる。図1(a)、図1(b)
や図3(a)、図3(b)の構造では無線チップがガラ
スによって機密封止され、かつ無線チップの両端が固い
ジュメットによって挟まれるため、耐腐食性や機械的強
度に対して十分良好な信頼性を確保することができる。
【0017】次に、図2(a)で示された論理回路24
の構成例を図4を用いて説明する。メモリ回路42はク
ロック抽出回路43からのクロック信号によって動作し
て、出力信号はロードスイッチ44に入力されて、負荷
変動動作を行う。
【0018】また、平滑コンデンサ45は整流ダイオー
ド23のカソードとグランド26の間に挿入されてい
て、整流回路(ここでは、整流ダイオード)からの直流
電流を蓄積して直流電圧を発生させている。直流電圧は
0.3V程度から30V以上まで、無線チップが得るエ
ネルギによって上昇するが、過度な電圧であると、論理
回路24のMOSデバイスのゲート破壊を引き起こすた
めに、電圧を抑制する回路も必要に応じて付加される。
【0019】平滑コンデンサ45は電源電圧の安定化の
ためにも必要であって、論理回路24の動作で発生する
CMOS論理のゲート回路に流れる貫通電流を吸収する
ことも行なわれる。メモリ回路42はメモリ容量や読み
出し専用か、書きこみ可能かなどの仕様によってさまざ
まな構成を得ることが出来る。クロック抽出回路43は
読み取り機からトランスポンダ(アンテナを備えた無線
チップ)に送られてくる高周波の搬送波にクロック信号
を変調しておき、受信したトランスポンダのクロック抽
出回路が復調してもとの低周波のクロック信号を得るも
のである。
【0020】次に、無線チップについて、図5(a)、
図5(b)を用いて更に説明する。図5(a)は無線チ
ップ14の概略を示す平面図である。表面デバイス層2
7に無線チップの主面側電極端子21、それに接続され
た結合コンデンサ22、それに接続されたクランプダイ
オード25と整流ダイオード23、整流ダイオード23
に接続された論理回路が設けられている。図5(b)は
無線チップ14の要部断面図を示している。絶縁膜(こ
こではシリコン酸化膜)51はチップ表面にあって、無
線チップ表面側電極端子21と無線チップの基板との短
絡を防止する。
【0021】図5(b)は図5(a)のAとA‘の断面
を示している。無線チップ14のチップサイズは長辺が
0.01mmから0.5mmであって、小さなガラス管
に入るような大きさであり、信頼性および経済性に優れ
る。無線チップのサイズを、シリコンダイオードと同様
に0.3mm近辺とすることにより生産設備の共用化が
可能となり、低コストでトランスポンダを製造すること
ができる。図5(b)で、無線チップの表面側電極端子
はメッキで形成された10μm程度の厚さの金属からな
る。この厚さの範囲は0.1〜50μmが好ましい。
【0022】表面側電極端子21に接続された下部電極
と、クランプダイオード25に接続された上部電極と、
これらにより挟まれた絶縁膜(ここでは、シリコンの酸
化膜)とにより結合コンデンサ22が形成されている。
無線チップの基板をP型とすることにより、P型の基板
とN型を有する表面拡散層とでPN接合ダイオードを形
成することができる。このとき、基板をグランドとする
ことができる。またN型MOSによっても基板をグラン
ドとするデバイス設計を行ったダイオードを形成するこ
とができる。基板の裏面にはグランド26の電極を形成
して、回路の端子として使用する。このように無線チッ
プの表面および裏面を電極とする設計をすることにより
ガラス封止のトランスポンダを形成することが可能とな
る。
【0023】次に、図3(a)、図3(b)で示した薄
型無線チップに関連して、図6を用いて無線チップの厚
さと電子装置の性能との関係について説明する。
【0024】図6は、無線チップの厚さを横軸にとり、
縦軸にトランスポンダと読み取り機の通信距離をとった
ものである。ここで用いた周波数は、2.45GHzで
ある。無線チップの厚さとトランスポンダ回路のグラン
ド直列抵抗は比例関係にあって、このグランド直列抵抗
が小さければ通信距離は長くなり、グランド直列抵抗が
大きければ回路の損失抵抗が大きくなるため、通信距離
は小さくなる。チップ厚さが100μm以下であれば1
200mm、チップ厚さが200μmのときは150m
mとなる。
【0025】この通信距離は回路の構成、デバイスの性
能たとえばスレッショルド電圧や電流増幅率などにより
異なり、また無線チップの基板濃度によっても異なる。
【0026】また、リード線の材料によってもことな
り、材料の主体が鉄の時は通信距離は無線チップの厚さ
が200μmのとき、150mmであるのに対して、銅
にすると通信距離250mmに伸ばすことができる。こ
れはリード線の損失はリード線の抵抗値に依存すること
と、表面のメッキ状態に依存する。高周波の搬送波を利
用しているトランスポンダでは、スキン効果が発生して
電流が表面層に集中してリード線の表面の抵抗値に依存
するものであり、鉄を中心に使用して、銅メッキを施す
と、無線チップの厚さが200μmのとき、通信距離は
200mmとなる。
【0027】なお、周波数が2.45GHzの場合、銅
メッキの厚さを2〜3μmとすれば、銅そのものと同程
度の通信距離が得られる。
【0028】次に、無線チップの電極製造工程を図7
(a)〜図7(d)を用いて説明する。図7(a)は、
複数の無線チップのデバイスが形成された半導体ウエハ
の断面図を示している。図7(a)において、上側の面
が半導体ウエハ裏面71を示し、下側の面が半導体ウエ
ハ主面72を示している。ここでは半導体ウエハの厚さ
を150μmとしたが、0.1〜300μmの範囲で用
いることができる。主面側に複数の無線チップのデバイ
スが形成されている。
【0029】図7(b)はウエハ裏面71の上に金蒸着
層73を形成した直後の断面図を示している。先ず、オ
ーミックコンタクトを取るために金蒸着層73を形成し
た。金蒸着層73の厚さは10μmとしたが、0.1μ
mから80μmの範囲で用いることができる。0.1μ
mより薄いと、接合強度が問題である。又、80μmよ
り厚いと、ガラスとの熱膨張差が問題となる。引き続
き、金と銀との接着性を高めるためにアンチモン蒸着層
74を形成した。
【0030】図7(c)は金蒸着層73の上にアンチモ
ン蒸着層74を形成した直後の断面図を示している。ア
ンチモン蒸着層74の厚さは10μmとしたが、0.1
μmから80μmの範囲で用いることができる。0.1
μmより薄いと接合強度が問題である。又、80μmよ
り厚いとガラスとの熱膨張差が問題となる。次に、ジュ
メットとの接合性を高めるために銀蒸着層75を形成し
た。
【0031】図7(d)はアンチモン蒸着層74の上に
銀蒸着層75を形成した直後の断面図を示している。銀
蒸着層75の厚さは10μmとしたが、0.1μmから
80μmの範囲で用いることができる。0.1μmより
薄いと接合強度が問題である。又、80μmより厚いと
ガラスとの熱膨張差が問題となる。この工程は無線チッ
プ14の裏面の電極を形成するために、ウエハ裏面全面
にメタル層を蒸着する工程を示している。このウエハは
ダイシングテープに貼りつけられてチップサイズが0.
3mm角程度の無線チップにダイシングしたが、0.0
1mmから0.5mm角の大きさの範囲でダイシングす
ることが可能である。0.01mmより薄いとハンドリ
ングし難い。又、0.6mmより厚いと寄生抵抗が問題
となる。ダイシングテープはPETや塩化ビニールが使
用されるが廃棄や焼却によて環境破壊を起こさないPE
Tが使用することが望ましい。
【0032】図8(a)〜図8(d)を用いて、電子装
置の製造方法を説明する。先ず、リード線11に接続さ
れ、垂直に立てられたジュメット12の上端をガラス管
13の下部から挿入する(図8(a))。ついで、ガラ
ス管13に挿入されたジュメット12の上部に無線チッ
プ14を載せる(図8(b))。次に、ガラス管13の
上部からもう一つのジュメット12を挿入し、無線チッ
プ14を挟み込む(図8(c))。このときジュメット
12に印加される圧力は5〜10MPaである。これに
より、無線チップの主面および裏面に設けられたそれぞ
れの電極とジュメットとは電気的に接続される。その
後、ガラス管13を高温で加熱し、ガラスを溶かしてジ
ュメット12に付着させる(図8(d))。
【0033】上記の工程を経て、無線チップ14はガラ
ス管13内に封止される。ここで、ジュメット12はニ
ッケル、鉄の合金に銅メッキを行ったものを用いた。ニ
ッケルと鉄の合金を用いることにより、ジュメットやそ
れを組み込んだ電子装置を磁石を用いて搬送することが
できる。ガラスの融点はガラスの構成材料によって制御
できる。ここでは、鉛ガラスを用いたので融点は約45
0℃である。
【0034】無線チップの配線材料として融点の低いア
ルミまたはアルミとの合金を用いる場合には、450℃
程度以下の温度で溶けるガラスや、サーマルシュリンク
する材料(例えば、プラスチック)を用いることが好ま
しい。
【0035】無線チップは比較的高温に耐えるように、
水素アニールの水素が抜けないようにナイトライド膜を
無線チップの上に蒸着したり、アルミの配線の代わり高
温に耐える配線材料、たとえば銅とかタングステンとか
チタンを使用することが有効である。
【0036】低融点のガラスを使用することにより、封
止温度を低下させることができ、無線チップへの熱的影
響を低減できるためトランスポンダの製造歩留まりを向
上させることが可能となる。図8(a)〜図8(d)に
示した組み立て方法では、治具を超音波で揺することに
より無線チップはガラス管の中に自重落下し、ジュメッ
トとガラス管との間の位置合わせが可能であり、また複
数個すなわち数千から数万個を同時組み立てることが可
能であって、圧倒的な経済性のある組み立てが可能とな
る。なお、治具131の一例を図13に示す。この治具
にはガラス管が挿入される開口部132が多数設けられ
ている。
【0037】次に、リード長さ(アンテナの長さ)の通
信距離に及ぼす影響について図9を用いて説明する。こ
の図の横軸はトランスポンダのリードの長さを示してお
り、縦軸はトランスポンダと読み取り機の間の通信距離
を示している。リードの長さは使用する搬送波の半分の
時が共振する条件として最もふさわしく(2.45GH
zでは約6cm)、通信距離が大きい。それよりリード
長が小さくなるに従って通信距離は短くなるが、長くな
る分には極端な通信距離の低下はみられない。リード長
としては、搬送波の1/2波長から1波長程度までを用
いることができる。
【0038】リード線の長さは全長で規定しているた
め、図9で示すトランスポンダのリード線の左右の長さ
は必ずしも等長である必要はない。また、図14に示す
ようにリードを巻きたときには、リード線の最大直線距
離が搬送波の1/2波長から1波長となるように設定す
ればよい。また、リード線の材質として磁化されやすい
ニッケル、鉄などを用い、磁場の在る環境において動作
させたが、磁化されない材料を用いたときと比べトラン
スポンダの性能に影響はなかった。これは、電界エネル
ギによる電圧、電流がリード線で共振発生してガラス部
に封止された無線チップに集中し、エネルギーが高周波
で流れるためである。
【0039】次に、本発明に係る電子装置から記憶情報
を取り出すための読み取りシステムの一例を図10を用
いて説明する。図10において、符号101は電子装置
(ガラス封止トランスポンダ)、符号104はアンテ
ナ、符号106は読み取り機、符号105は読み取り機
106とアンテナ104とを接続する同軸線、符号10
8はパーソナルコンピュータ、符号107はシリアルイ
ンターフェースである。ガラス封止トランスポンダ10
1は読み取り機からの電波102によって電磁波のエネ
ルギを得ると、トランスポンダの無線チップが動作して
応答データ103がアンテナ104へ伝えられ、アンテ
ナは同軸線105を介して読み取り機106へ接続され
ている。ここで、使用周波数は2.45GHz、アンテ
ナを含めた電子装置の長さは55mm、リード線の直径
は1mm、ガラス管の直径は3mmである。読み取り機
はシリアルインタフェース107を介してパソコン10
8へつなげられている。パソコンからは読み出し命令を
入力する。これにより、128ビットデータ(ROM)
情報が読み出される。このような構成により、トランス
ポンダはあらゆる対象物へ付着されて、宅配便や書留便
などに使用される。
【0040】図11はこのトランスポンダのエアフォマ
ット(電波の強弱の手順)を示しており、図11のAは
アンテナ104からの読み取り機からの電波102のエ
アフォマットを示し、図11のBはトランスポンダ10
1からの応答データを示している。このデータは“0”
や“1”の数字からなる。
【0041】図12は本発明の無線チップの断面構造を
示していて、無線チップの表面および裏面には金属製の
電極をもつことを特徴とする。なお、電極21はダイシ
ング前に形成される。
【0042】
【発明の効果】平板状半導体を用いることにより、簡便
に位置決めを行うことができる。また、ガラス管で封止
することにより信頼性を向上できる。又、一括生産方式
により行うことによって、低コストでトランスポンダを
製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電子装置の断面図である。
【図2】本発明に係るICチップの(a)回路、(b)
断面の概略を示す図である。
【図3】本発明に係る他の電子装置の断面図である。
【図4】本発明に係るICチップに搭載の論理回路の概
念図である。
【図5】ICチップの(a)回路の概念図、(b)断面
図である。
【図6】本発明に係るICチップの厚さと通信距離との
関連を示す特性図である。
【図7】本発明に係るICチップの電極形成工程を示す
断面図である。
【図8】本発明に係る電子装置の組立工程を示す断面図
である。
【図9】本発明に係る電子装置のリード総長と通信距離
との関係を示す特性図である。
【図10】本発明に係る電子装置から記憶情報を取り出
すための読み取りシステムの示す図である。
【図11】本発明に係る(a)読み取り機から電子装置
への送信データ、(b)電子装置からの応答データのエ
アフォーマットを示す図である。
【図12】本発明に係るICチップの概略断面図であ
る。
【図13】本発明に係る電子装置を組み立てるための治
具の平面図である。
【図14】本発明に係る電子装置のリード線が曲線形状
を有するときのアンテナ長を示すための説明図である。
【符号の説明】
11…リード線、12…ジュメット、13…ガラス管、
14…無線チップ、14a…小サイズ無線チップ、21
…無線チップ表面電極端子、22…結合コンデンサ、2
3…整流ダイオード、24…論理回路、25…クランプ
ダイオード、26…グランド、27…表面デバイス層、
31…薄型無線チップ、31a…小サイズ薄型無線チッ
プ、42…メモリ回路、43…クロック抽出回路、44
…ロードスイッチ、45…平滑コンデンサ、51…酸化
膜、71…ウエハ裏面、72…ウエハ主面、73…金蒸
着層、74…アンチモン蒸着層、75…銀蒸着層、10
1…ガラス封止トランスポンダ、102…読み取り機か
らの電波、103…応答データ、104…アンテナ、1
05…同軸線、106…読み取り機、107…シリアル
インタフェース、108…パソコン。

Claims (45)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定の情報を記憶するメモリ部と、表面側
    及び裏面側にそれぞれ設けられた第1及び第2の外部電
    極とを有する平板状ICチップと、 前記第1及び第2の外部電極にそれぞれ接続され、前記
    ICチップへ電力を供給する第1及び第2のアンテナ
    と、 前記第1及び第2の外部端子側の前記第1及び第2のア
    ンテナのそれぞれの一部と前記ICチップとを被うよう
    に設けられたガラス封止体とを有することを特徴とする
    電子装置。
  2. 【請求項2】前記ICチップの厚さは、0.1μm〜2
    00μmの範囲であることを特徴とする請求項1記載の
    電子装置。
  3. 【請求項3】前記ICチップの長辺の長さは、0.01
    mm〜0.5mmの範囲であることを特徴とする請求項
    1又は2に記載の電子装置。
  4. 【請求項4】前記第1及び第2のアンテナの長さは互い
    に異なることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記
    載の電子装置。
  5. 【請求項5】前記第1及び第2の外部電極は、前記IC
    チップの表面側及び裏面側の全面にそれぞれ設けられて
    いることを特徴とする請求項1乃至4の何れかに記載の
    電子装置。
  6. 【請求項6】前記第1及び第2のアンテナは、前記第1
    及び第2の外部電極に接続されるジュメットと、前記ジ
    ュメットに接続されるリード線とをそれぞれ有すること
    を特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の電子装
    置。
  7. 【請求項7】前記ジュメットの直径は、前記ICチップ
    の対角線の長さよりも大きいことを特徴とする請求項6
    記載の電子装置。
  8. 【請求項8】前記ジュメットの直径は、前記リード線の
    直径よりも大きいことを特徴とする請求項6又は7に記
    載の電子装置。
  9. 【請求項9】前記第1及び第2のアンテナを含む前記電
    子装置の長さは、使用する搬送波の波長の半分となるよ
    うに設定されることを特徴とする請求項1乃至8の何れ
    かに記載の電子装置。
  10. 【請求項10】前記第1及び第2のアンテナは、前記I
    Cチップの表面及び裏面に垂直となるように配置されて
    いることを特徴とする請求項1乃至9の何れかに記載の
    電子装置。
  11. 【請求項11】前記第1及び第2のアンテナは、前記メ
    モリ部に記憶された所定の情報を送信するために用いら
    れることを特徴とする請求項1乃至10の何れかに記載
    の電子装置。
  12. 【請求項12】前記第1及び第2のアンテナは、前記所
    定の情報を送信する前に、ダミー信号を送信することを
    特徴とする請求項1乃至11の何れかに記載の電子装
    置。
  13. 【請求項13】前記ガラス封止体は、管状であることを
    特徴とする請求項1乃至12の何れかに記載の電子装
    置。
  14. 【請求項14】前記ガラス封止体の外形寸法は、0.1
    mm〜5mmであることを特徴とする請求項13に記載
    の電子装置。
  15. 【請求項15】前記ガラス管の内径寸法は、0.09m
    m〜4.9mmであることを特徴とする請求項13又は
    14に記載の電子装置。
  16. 【請求項16】メモリ部と、前記メモリ部に電気的に接
    続された外部電極とを有するICチップと、 前記外部電極に接続され、電波を送受信する導電線と、 前記ICチップを被うように設けられたガラス封止体
    と、 封止されているものがICチップであることが判別でき
    る識別子とを備えたことを特徴とする電子装置。
  17. 【請求項17】前記導電線と前記外部電極との接続部は
    前記ガラス封止体で封止されていることを特徴とする請
    求項16記載の電子装置。
  18. 【請求項18】前記導電線は、前記ガラス封止体から突
    出して設けられていることを特徴とする請求項16又は
    17に記載の電子装置。
  19. 【請求項19】前記ガラス封止体は管状であり、前記導
    電線は、前記ガラス封止体の管の中心軸に沿って延在し
    ていることを特徴とする請求項18に記載の電子装置。
  20. 【請求項20】メモリ部と、第1の面及び前記第1の面
    の反対側の第2の面にそれぞれ設けられた第1及び第2
    の外部電極とを有するICチップと、 前記第1及び第2の外部電極にそれぞれ接続され、電波
    を送受信する第1及び第2の導電線と、 前記ICチップを被うように設けられた管状のプラスチ
    ック封止体とを有することを特徴とする電子装置。
  21. 【請求項21】前記ICチップは、無線で動作する電子
    回路を有することを特徴とする請求項20に記載の電子
    装置。
  22. 【請求項22】前記電子回路への電力は、無線で供給さ
    れることを特徴とする請求項21に記載の電子装置。
  23. 【請求項23】前記電子回路は、前記外部電極及び論理
    回路にそれぞれ接続される結合コンデンサを有すること
    を特徴とする請求項21又は22に記載の電子装置。
  24. 【請求項24】前記結合コンデンサは、整流ダイオート
    とクランプダイオードとを有することを特徴とする請求
    項23に記載の電子装置。
  25. 【請求項25】前記クランプダイオードと前記論理回路
    とは、それぞれ共通ラインに接続されていることを特徴
    とする請求項24に記載の電子装置。
  26. 【請求項26】所定の情報を記憶するメモリ部と、表面
    側及び裏面側にそれぞれ設けられた第1及び第2の外部
    電極とを有するICチップを準備する工程と、 一端にジュメットを有する第1及び第2のアンテナを準
    備する工程と、 ガラス管を準備する工程と、 前記第1のアンテナのジュメットの一部を前記ガラス管
    内に挿入する工程と、 前記ガラス管内に配置された前記第1のアンテナのジュ
    メット上に、前記第1の外部電極が前記第1のアンテナ
    のジュメット側となるように前記ICチップを配置する
    する工程と、 前記ガラス管内に配置された前記ICチップ上に、前記
    第2のアンテナのジュメットが前記第2外部電極側とな
    るように前記第2のアンテナのジュメットの一部を挿入
    する工程と、 前記ガラス管を溶融して前記ICチップと前記第1及び
    第2のアンテナのジュメットを固定する工程とを有する
    ことを特徴とする電子装置の製造方法。
  27. 【請求項27】前記ICチップの厚さは、0.1μm〜
    200μmの範囲であることを特徴とする請求項26に
    記載の電子装置の製造方法。
  28. 【請求項28】前記ICチップの長辺の長さは、0.0
    1mm〜0.5mmの範囲であることを特徴とする請求
    項26又は27に記載の電子装置の製造方法。
  29. 【請求項29】前記第1及び第2のアンテナの長さはそ
    れぞれ異なることを特徴とする請求項26乃至28の何
    れかに記載の電子装置の製造方法。
  30. 【請求項30】前記第1及び第2の外部電極は、前記I
    Cチップの表面側及び裏面側の全面にそれぞれ設けられ
    ていることを特徴とする請求項26乃至29の何れかに
    記載の電子装置の製造方法。
  31. 【請求項31】前記ジュメットの直径は、前記ICチッ
    プの対角線の長さよりも大きいことを特徴とする請求項
    26乃至30の何れかに記載の電子装置の製造方法。
  32. 【請求項32】前記ジュメットの直径は、前記リード線
    の直径よりも小さいことを特徴とする請求項31に記載
    の電子装置の製造方法。
  33. 【請求項33】前記第1及び第2のアンテナは、前記I
    Cチップの表面及び裏面に垂直となるように配置されて
    いることを特徴とする請求項26乃至32の何れかに記
    載の電子装置の製造方法。
  34. 【請求項34】所定の情報を記憶するメモリ部と表面側
    及び裏面側にそれぞれ設けられた第1及び第2の外部電
    極とを有するICチップを、ガラス管内において第1及
    び第2のアンテナで挟み込み、その後ガラス管を溶融し
    てICチップ及びそれらと第1及び第2のアンテナとの
    接続部を封止することを特徴とする電子装置の製造方
    法。
  35. 【請求項35】アンテナを介してICチップに設けられ
    たメモリ内に記憶された情報が読み取られる電子装置に
    おいて、前記メモリ含む集積回路は前記ICチップの主
    面に設けられ、前記アンテナは前記ICチップの主面お
    よび裏面にそれぞれ設けられた電極に接続され、当該I
    Cチップ及びそれぞれの前記電極と前記アンテナとの接
    続部はガラスによって封止されていることを特徴とする
    電子装置。
  36. 【請求項36】ICチップの中のメモリ部に記憶された
    自己認識情報が読み取られる電子装置において、前記メ
    モリ部を含む集積回路は前記ICチップの主面に設けら
    れ、前記主面および前記ICチップの裏面にそれぞれ設
    けられた電極にリード線がそれぞれ接続され、前記IC
    チップ及びそれぞれの前記電極とリード線との接続部が
    ガラスによって封止されていることを特徴とする電子装
    置。
  37. 【請求項37】平板状半導体チップ内のメモリ部に記憶
    された情報を、無線を利用して読み出す電子装置におい
    て、 前記平板状半導体チップは、その主面およびその裏面に
    それぞれ設けられた電極と、主面に対して垂直となるよ
    うに当該電極にそれぞれ接続されたリード線とを有し、
    当該平板状半導体チップおよびリード線との接続部はガ
    ラスにより封止されていることを特徴とする半導体装
    置。
  38. 【請求項38】前記平板状半導体チップは、その主面に
    無線により動作し、前記電極に接続される2つの端子を
    備えた回路素子を有することを特徴とする請求項37に
    記載の電子装置。
  39. 【請求項39】前記平板状半導体チップの厚さは、0.1
    μmから200μmであることを特徴とする請求項37又
    は38に記載の電子装置。
  40. 【請求項40】前記リード線の総長は当該の無線の搬送
    波の波長の半分であることを特徴とする請求項37乃至
    39の何れかに記載の電子装置。
  41. 【請求項41】前記ガラスの径は0.1mmから5mm
    であることを特徴とする請求項37乃至40の何れかに
    記載の電子装置。
  42. 【請求項42】前記平板状半導体チップの長辺は0.0
    1mmから0.5mmであることを特徴とする請求項3
    7乃至41の何れかに記載の電子装置。
  43. 【請求項43】読み出し機からトランスポンダに対して
    電波を発するとき、全く電波を出さないときから開始し
    て電波を発するようにして、次に一旦電波を停止して、
    その時の状態から当該のトランスポンダから当該の読み
    出し機に当該のトランスポンダ内のデータを送付するこ
    とを特徴とする電子装置の動作方法。
  44. 【請求項44】前記ガラス管を溶融する温度は、450
    ℃以下であることを特徴とする請求項34に記載の電子
    装置の製造方法。
  45. 【請求項45】前記リード線の少なくとも表面は、銅で
    あることを特徴とする請求項36に記載の電子装置の製
    造方法。
JP2001069615A 2001-03-13 2001-03-13 半導体装置及びその製造方法 Expired - Fee Related JP4433629B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001069615A JP4433629B2 (ja) 2001-03-13 2001-03-13 半導体装置及びその製造方法
KR1020010049735A KR100835429B1 (ko) 2001-03-13 2001-08-18 전자장치 및 그 제조방법
TW090121058A TW577026B (en) 2001-03-13 2001-08-27 Electronic device and method of manufacture the same
US09/940,537 US6657542B2 (en) 2001-03-13 2001-08-29 Electronic device and method of manufacture the same
US10/674,337 US6930401B2 (en) 2001-03-13 2003-10-01 Electronic device and method of manufacture the same
US11/128,374 US7208351B2 (en) 2001-03-13 2005-05-13 Electronic device and method of manufacture the same
US11/696,028 US7652360B2 (en) 2001-03-13 2007-04-03 Electronic device and method of manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001069615A JP4433629B2 (ja) 2001-03-13 2001-03-13 半導体装置及びその製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2002269520A true JP2002269520A (ja) 2002-09-20
JP2002269520A5 JP2002269520A5 (ja) 2006-07-13
JP4433629B2 JP4433629B2 (ja) 2010-03-17

Family

ID=18927633

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001069615A Expired - Fee Related JP4433629B2 (ja) 2001-03-13 2001-03-13 半導体装置及びその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (4) US6657542B2 (ja)
JP (1) JP4433629B2 (ja)
KR (1) KR100835429B1 (ja)
TW (1) TW577026B (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005069205A1 (ja) 2004-01-15 2005-07-28 Hitachi Chemical Co., Ltd. 電子装置の製造方法
JP2006072866A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Hitachi Ltd 電子タグ
WO2007141836A1 (ja) * 2006-06-02 2007-12-13 Hitachi, Ltd. Icタグ用インレットの製造方法
JP2008090420A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Oji Paper Co Ltd 無線タグ
JP2009093353A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Hitachi Ltd Rfidタグ
US7776654B2 (en) 2005-04-18 2010-08-17 Hitachi Chemical Co., Ltd. Method of producing electronic apparatus
US8273605B2 (en) 2003-12-05 2012-09-25 Hitachi Chemical Co., Ltd. Manufacturing method for electronic device having IC chip and antenna electrically connected by bridging plate
JP2012525619A (ja) * 2009-04-30 2012-10-22 コミサリア ア エナジー アトミック エ オックス エナジーズ オルタネティヴ 電子部品を製品に取り付ける方法
JP7470853B1 (ja) 2023-09-05 2024-04-18 日鉄テックスエンジ株式会社 無線通信機器
JP7470854B1 (ja) 2023-09-05 2024-04-18 日鉄テックスエンジ株式会社 無線通信機器

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7009506B2 (en) * 1998-02-10 2006-03-07 Bridgestone Firestone North American Tire, Llc Electronic monitoring device and patch assembly
JP4433629B2 (ja) * 2001-03-13 2010-03-17 株式会社日立製作所 半導体装置及びその製造方法
JP2003146437A (ja) * 2001-11-07 2003-05-21 Hitachi Ltd 流通管理方法及びシステム
JP3803085B2 (ja) * 2002-08-08 2006-08-02 株式会社日立製作所 無線icタグ
CN100461410C (zh) * 2003-08-28 2009-02-11 株式会社日立制作所 半导体器件以及其制造方法
EP1855315A4 (en) * 2005-02-16 2009-05-27 Hitachi Ltd ELECTRONIC BRAND CHIP
DE102005016758A1 (de) * 2005-04-11 2006-10-12 Funktel Gmbh Leiterplatte mit einer Identifikationsmöglichkeit
WO2007077996A1 (ja) 2006-01-05 2007-07-12 Hitachi Chemical Co., Ltd. 個体識別が可能な管状容器
US8248232B2 (en) * 2006-01-25 2012-08-21 Greatbatch Ltd. Hermetically sealed RFID microelectronic chip connected to a biocompatible RFID antenna
FR2917895B1 (fr) * 2007-06-21 2010-04-09 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'un assemblage de puces reliees mecaniquement au moyen d'une connexion souple
CN102915462B (zh) * 2007-07-18 2017-03-01 株式会社村田制作所 无线ic器件
US8659015B2 (en) * 2011-03-04 2014-02-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
WO2013154603A1 (en) * 2012-04-11 2013-10-17 Impinj, Inc. Rfid integrated circuits and tags with antenna contacts on multiple surfaces
US8573495B1 (en) * 2012-07-30 2013-11-05 Tai-Hwa Liu Radio frequency identification electronic device with enhancing surface wave-guide effect
WO2015008333A1 (ja) * 2013-07-16 2015-01-22 三菱電機株式会社 半導体装置
FR3039299B1 (fr) * 2015-07-21 2017-08-11 Systemes Et Tech Identification (Stid) Dispositif de radio-identification pour un element a identifier de forme tubulaire en environnement contraignant
CN105336768B (zh) * 2015-10-13 2018-10-26 济南市半导体元件实验所 高可靠表面贴装玻封二极管的封装工艺
CN105845740B (zh) * 2016-06-14 2019-04-09 张路非 一种冶金键合玻封二极管结构及生产方法

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3518753A (en) * 1967-08-22 1970-07-07 Motorola Inc Glass encapsulated semiconductor devices
US3944749A (en) * 1972-05-10 1976-03-16 Kahn Leonard R Compatible AM stereophonic receivers involving sideband separation at IF frequency
JPS58154080A (ja) 1982-03-05 1983-09-13 Arimura Giken Kk 識別信号発生装置
JPH0627959Y2 (ja) * 1988-10-20 1994-07-27 ローム株式会社 ダイオード
US4746830A (en) * 1986-03-14 1988-05-24 Holland William R Electronic surveillance and identification
JP2579970Y2 (ja) * 1992-06-24 1998-09-03 株式会社小松製作所 半導体装置
US5942987A (en) * 1994-09-09 1999-08-24 Intermec Ip Corp. Radio frequency identification system with write broadcast capability
US5786626A (en) * 1996-03-25 1998-07-28 Ibm Corporation Thin radio frequency transponder with leadframe antenna structure
JPH09274814A (ja) 1996-04-02 1997-10-21 Toshiba Corp ガラス封着部材およびガラス封着電子部品
US6229445B1 (en) * 1997-01-13 2001-05-08 Tecsec, Incorporated RF identification process and apparatus
US6329917B1 (en) * 1997-01-25 2001-12-11 Philip Noel Leonard Identification or control arrangements
JP3646472B2 (ja) * 1997-05-19 2005-05-11 株式会社日立製作所 非接触型icカードおよび送受信回路
US6107920A (en) * 1998-06-09 2000-08-22 Motorola, Inc. Radio frequency identification tag having an article integrated antenna
US6246327B1 (en) * 1998-06-09 2001-06-12 Motorola, Inc. Radio frequency identification tag circuit chip having printed interconnection pads
ATE244427T1 (de) 1998-08-14 2003-07-15 3M Innovative Properties Co Verwendung für ein hochfrequenz- identifikationssystem
EP1105855B1 (en) * 1998-08-14 2008-07-09 3M Innovative Properties Company Applications for radio frequency identification systems
US6100804A (en) * 1998-10-29 2000-08-08 Intecmec Ip Corp. Radio frequency identification system
TW484101B (en) 1998-12-17 2002-04-21 Hitachi Ltd Semiconductor device and its manufacturing method
JP2000222540A (ja) * 1999-02-03 2000-08-11 Hitachi Maxell Ltd 非接触型半導体タグ
JP3676610B2 (ja) 1999-03-16 2005-07-27 炳霖 ▲楊▼ 空気室の絶縁破壊によりサージエネルギを転換吸収するチップなしサージアブソーバ及びその製造方法
US6441741B1 (en) * 1999-05-17 2002-08-27 Avid Identification Systems, Inc. Overmolded transponder
US6420757B1 (en) * 1999-09-14 2002-07-16 Vram Technologies, Llc Semiconductor diodes having low forward conduction voltage drop, low reverse current leakage, and high avalanche energy capability
US6534346B2 (en) * 2000-05-16 2003-03-18 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Glass and glass tube for encapsulating semiconductors
JP2002251140A (ja) * 2001-02-23 2002-09-06 Lintec Corp 非接触データキャリアラベル
JP4433629B2 (ja) * 2001-03-13 2010-03-17 株式会社日立製作所 半導体装置及びその製造方法
US20050062135A1 (en) * 2001-12-25 2005-03-24 Takashi Tase Semiconductor device and method for fabricating the same

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8273605B2 (en) 2003-12-05 2012-09-25 Hitachi Chemical Co., Ltd. Manufacturing method for electronic device having IC chip and antenna electrically connected by bridging plate
WO2005069205A1 (ja) 2004-01-15 2005-07-28 Hitachi Chemical Co., Ltd. 電子装置の製造方法
JP2006072866A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Hitachi Ltd 電子タグ
US7776654B2 (en) 2005-04-18 2010-08-17 Hitachi Chemical Co., Ltd. Method of producing electronic apparatus
WO2007141836A1 (ja) * 2006-06-02 2007-12-13 Hitachi, Ltd. Icタグ用インレットの製造方法
KR101004901B1 (ko) 2006-06-02 2010-12-28 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 Ic 태그용 인렛의 제조 방법
JP4796628B2 (ja) * 2006-06-02 2011-10-19 株式会社日立製作所 Icタグ用インレットの製造方法
JP2008090420A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Oji Paper Co Ltd 無線タグ
JP2009093353A (ja) * 2007-10-05 2009-04-30 Hitachi Ltd Rfidタグ
JP2012525619A (ja) * 2009-04-30 2012-10-22 コミサリア ア エナジー アトミック エ オックス エナジーズ オルタネティヴ 電子部品を製品に取り付ける方法
JP7470853B1 (ja) 2023-09-05 2024-04-18 日鉄テックスエンジ株式会社 無線通信機器
JP7470854B1 (ja) 2023-09-05 2024-04-18 日鉄テックスエンジ株式会社 無線通信機器

Also Published As

Publication number Publication date
US20020130402A1 (en) 2002-09-19
TW577026B (en) 2004-02-21
JP4433629B2 (ja) 2010-03-17
US7652360B2 (en) 2010-01-26
US20040061613A1 (en) 2004-04-01
KR20020073235A (ko) 2002-09-23
US20070190699A1 (en) 2007-08-16
US6930401B2 (en) 2005-08-16
US6657542B2 (en) 2003-12-02
KR100835429B1 (ko) 2008-06-04
US7208351B2 (en) 2007-04-24
US20050227416A1 (en) 2005-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7208351B2 (en) Electronic device and method of manufacture the same
CN100458838C (zh) 无线ic标签和无线ic标签的制造方法
JP2782558B2 (ja) 改良形小形トランスポンダ
US10157297B2 (en) RFID tag board, RFID tag, and RFID system
KR100206534B1 (ko) 제로 전력 아이씨 모듈
EP3370303B1 (en) Substrate for tags, rfid tag and rfid system
CN101322243A (zh) 用于集成电路封装的磁性自组装
US3577633A (en) Method of making a semiconductor device
JP2002269520A5 (ja)
CN101276959B (zh) 带有改进范围的rfid芯片及天线
TW201732688A (zh) 用於製造晶片卡模組之方法及晶片卡
KR102014621B1 (ko) 상호접속 구역들을 포함하는 단일 측면형 전자 모듈을 제조하기 위한 방법
JP2000163543A (ja) 無線icカードおよびその製造方法
JP2000293651A (ja) 半導体装置
JP2000242753A (ja) 非接触データキャリア
JP4626192B2 (ja) 半導体装置
JP2002207982A (ja) 接触非接触両用icモジュール及びicカード
JP2007180762A (ja) 半導体装置
JP2002358493A (ja) 非接触型icカード及びその製造方法
TW201011657A (en) FRID tag
JPH09240176A (ja) Icカード及びその製造方法
JP2002288614A (ja) Icモジュールとその製造方法
JP2003198027A (ja) 光半導体素子収納用パッケージ
JP2003068909A (ja) 半導体素子収納用パッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20060418

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060525

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060525

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090409

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090623

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091208

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091221

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140108

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees