JP2002267692A - 電流センサ - Google Patents

電流センサ

Info

Publication number
JP2002267692A
JP2002267692A JP2001064857A JP2001064857A JP2002267692A JP 2002267692 A JP2002267692 A JP 2002267692A JP 2001064857 A JP2001064857 A JP 2001064857A JP 2001064857 A JP2001064857 A JP 2001064857A JP 2002267692 A JP2002267692 A JP 2002267692A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
film
magnetic field
substrate
current sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001064857A
Other languages
English (en)
Inventor
Hajime Takada
肇 高田
Isamu Tei
偉 鄭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2001064857A priority Critical patent/JP2002267692A/ja
Publication of JP2002267692A publication Critical patent/JP2002267692A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Transformers For Measuring Instruments (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 広範囲の電流に対しても検出感度を低下せず
に電流を検出する簡易な構造で且つ小型な構成の電流セ
ンサを提供する。 【解決手段】 プリント基板1上に形成され、被測定電
流を分流するように電流分流路32,33が形成された
バスバ3と、プリント基板1と略平行に配置されたセラ
ミクス基板7の一方の面に形成され、電流分流路32に
接触又は接合された導電膜16と、セラミクス基板7の
他方の面に形成され、磁性層と非磁性層とが交互に複数
回積層された多層膜を有し、該多層膜に印加される磁界
の変化に応じて抵抗値が変化するGMR膜9と、このG
MR膜9に一定のバイアス磁界を印加するバイアス磁石
13とを備え、1つの電流分流路32に流れる電流の検
出結果に基づいてバスバ3に流れる電流を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、巨大磁気抵抗(G
MR)素子と分流したバスバ形状との組み合わせで、広
範囲の電流に対しても検出感度を低下せずに電流を検出
する簡易な構造で且つ小型な構成の電流センサに関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般的に磁性体コアとホール素子とを用
いた電流センサの検出特性は、図15に示すような特性
となっている。従って、通常では検知電流に対して出力
電圧が直線的に変化する線形領域が使用される。しか
し、大きな電流に対しては、線形領域を超えるため、検
出精度の悪化を招くことになる。
【0003】この問題を解決するために、例えば車両の
電源線(バスバ)に流れる負荷電流を検出する場合に
は、図16に示すようなバスバ210(金属板)を用い
る。このバスバ210には矩形状の切欠部211が形成
され、この切欠部211によりバスバ210には2つの
電流分流路212,213が形成されている。電流分流
路212は幅がL1で電流I1が流れ、電流分流路21
3は幅がL2で電流I2が流れている。そして、図17
に示すように、バスバ210に磁性体コア214とホー
ル素子215とを組み付けて電流センサを構成する。
【0004】この電流センサは、バスバ210に流れる
電流を2つの電流分流路212,213により分流し、
分流した一部の電流、すなわち電流分流路212に流れ
る電流をホール素子215からの出力により検出し、検
出出力とバスバ210の幅L1,L2とに基づいてバス
バ210に流れる総電流値を算出している。この電流セ
ンサによれば、バスバ210を流れる電流が大きくて
も、ホール素子の線形領域を利用でき、ホール素子の検
出精度を改善でき、また、組み立てやレイアウトの自由
度についても改善することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検出素
子としてホール素子を用いているため、低電流(低磁
界)での感度及び出力が小さい。また、ホール素子の感
度及び出力特性を向上させるために、ホール素子方式で
は、磁性体コアが必要である。すなわち、この磁性体コ
アにより電流センサが大型化するという問題もある。
【0006】本発明は、広範囲の電流に対しても検出感
度を低下せずに電流を検出する簡易な構造で且つ小型な
構成の電流センサを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の電流センサは、
前記課題を解決するために以下の構成とした。請求項1
の発明の電流センサは、第1の基板上に形成され、被測
定電流を分流するように複数の電流分流路が形成された
金属板と、前記第1の基板と略平行に配置された第2の
基板の一方の面に形成され、前記複数の電流分流路の内
の1つの電流分流路に接触又は接合された導電膜と、前
記第2の基板の他方の面に形成され、磁性層と非磁性層
とが交互に複数回積層された多層膜を有し、該多層膜に
印加される磁界の変化に応じて抵抗値が変化する磁気抵
抗手段と、この磁気抵抗手段に一定のバイアス磁界を印
加するバイアス磁界印加手段とを備え、前記1つの電流
分流路に流れる電流の検出結果に基づいて前記金属板に
流れる電流を検出することを特徴とする。
【0008】請求項1の発明によれば、複数の電流分流
路の内の1つの電流分流路に接触又は接合された導電膜
に流れる被測定電流により生ずる被測定磁界とバイアス
磁界印加手段による一定のバイアス磁界とが磁気抵抗手
段に印加され、バイアス磁界と被測定磁界との合成磁界
の変化に応じて抵抗値が大きく変化するため、1つの電
流分流路に流れる電流を検出でき、該電流の検出結果に
基づいて金属板に流れる電流を検出できる。従って、広
範囲の電流に対しても検出感度が低下せず、簡易な構造
で且つ小型な電流センサを提供することができる。ま
た、第2の基板の一方の面に導電膜が形成され、他方の
面に磁気抵抗手段が形成され、被測定磁界の発生箇所が
導電膜で、磁界検知箇所が磁気抵抗手段であるので、磁
界発生箇所と磁界検知箇所とのギャップが一定となる。
従って、精密実装も不要となり、基板の歪み等でギャッ
プが変化することがなくなり、検知精度が向上する。
【0009】請求項2の発明は、請求項1記載の電流セ
ンサにおいて、前記金属板の、電流が流れる方向に対し
て平行な両側辺からそれぞれ所定の距離だけ離れた位置
に切欠部を形成することにより、前記金属板上に2つの
前記電流分流路を形成したことを特徴とする。
【0010】請求項2の発明によれば、切欠部により金
属板上に2つの前記電流分流路が形成され、一方の電流
電流路に流れる電流の検出結果に基づいて金属板に流れ
る電流を検出することができる。
【0011】請求項3の発明は、請求項1又は請求項2
記載の電流センサにおいて、前記磁気抵抗手段は、前記
多層膜表面が前記金属板に流れる被測定電流によって発
生される磁界と略平行となるように配置されていること
を特徴とする。請求項3の発明によれば、磁界が多層膜
に多く入るから、より大きなセンサ出力を得ることがで
きる。
【0012】請求項4の発明の電流センサは、請求項1
乃至請求項3のいずれか1項記載の電流センサにおい
て、前記非磁性層の膜厚の変化に対して磁気抵抗変化率
が複数のピークを持つ場合に、複数のピークの中から前
記膜厚が2番目に小さいときの第2ピークを選択し、前
記非磁性層の膜厚を、選択された第2ピークにおける膜
厚に決定することを特徴とする。
【0013】請求項4の発明によれば、非磁性層の膜厚
を、選択された第2ピークにおける膜厚としたので、金
属板に流れる広範囲の電流を高感度に検出できる。
【0014】請求項5の発明は、請求項1乃至請求項4
のいずれか1項記載の電流センサにおいて、前記第2の
基板の一方の面と前記導電膜との間、及び前記第2の基
板の他方の面と前記磁気抵抗手段との間のそれぞれに
は、絶縁膜が形成されていることを特徴とする。請求項
5の発明によれば、絶縁膜により導電膜と磁気抵抗手段
との間の電気的絶縁性が向上し、検知精度がさらに向上
する。
【0015】請求項6の発明は、請求項1乃至請求項5
のいずれか1項記載の電流センサにおいて、前記磁性層
は、CoFe薄膜であり、前記非磁性層は、Cu薄膜で
あることを特徴とする。請求項6の発明によれば、金属
板に流れる電流の検出範囲を広げることができる。
【0016】請求項7の発明は、請求項1乃至請求項5
のいずれか1項記載の電流センサにおいて、前記磁性層
は、NiFeCo薄膜であり、前記非磁性層は、Cu薄
膜であることを特徴とする。請求項7の発明によれば、
電流における電流変化に対する検出感度を向上させるこ
とができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の電流センサの実施
の形態を図面を参照して詳細に説明する。
【0018】まず、実施の形態の電流センサの説明に先
立って、図7及び図8を用いて、第1の実施の形態の電
流センサを採用した理由について説明する。
【0019】まず、図7に示すように、ホール素子50
だけを用いて電流センサを構成した場合、ホール素子5
0は、センサ出力を大きくするために、バスバ3(本発
明の金属板に対応)を流れる電流により生ずる磁界が素
子面(感磁面)に対して略垂直方向から入るように配置
する必要がある。
【0020】すなわち、バスバ3の表面に対して素子面
が略垂直となるように配置する。このため、ホール素子
50を用いた場合には、バスバ3からホール素子50の
素子面が遠くなるため、素子面に入る磁界の強さが小さ
くなる。従って、小さな電流により生ずる小さい磁界に
対しては出力がとれない。また、磁性体コアで磁界を高
める場合は、センサの大型化につながる。
【0021】一方、図8に示すように、GMR素子5を
用いて電流センサを構成した場合、GMR素子5は、セ
ンサ出力を大きくするために、バスバ3を流れる電流に
より生ずる磁界が素子面と略平行となるように配置する
必要がある。このため、図8に示すGMR素子5の方
が、バスバ3の近傍の強い(電流値による変化割合の大
きい)磁界を検出できるとともに、センサを小型化でき
る。そこで、実施の形態の電流センサは、図8に示すよ
うな基本的な構成を採用している。
【0022】次に、実施の形態の電流センサの具体的な
構成を説明する。図1に実施の形態の電流センサの構成
図を示す。図2に実施の形態の電流センサの断面図を示
す。
【0023】図1に示す電流センサは、バスバ3に流れ
る電流により生ずる磁界を測定することにより該磁界に
基づいて前記電流を検出するもので、プリント基板1
と、このプリント基板1の表面側上に形成され、被測定
電流を分流するように2つの電流分流路32,33が形
成されたバスバ3と、プリント基板1と略平行に配置さ
れたガラス、アルミナ等の絶縁性基板からなるセラミク
ス基板7と、このセラミクス基板7の一方の面(バスバ
3と向き合う面)に形成され、2つの電流分流路32,
33の内の1つの電流分流路32に接合面6を介して接
触又は接合された導電膜16と、セラミクス基板7の他
方の面に形成され、磁性層と非磁性層とが交互に複数回
積層された多層膜を有し、該多層膜に印加される磁界の
変化に応じて抵抗値が変化するGMR膜(本発明の磁気
抵抗手段に対応)9と、このGMR膜9に一定のバイア
ス磁界を印加するバイアス磁石13とを備えている。導
電膜16、GMR膜9及びバイアス磁石13がセラミク
ス基板7に実装され、これらの素子でGMR素子5を構
成する。
【0024】また、バスバ3は、図3に示すように構成
されている。すなわち、バスバ3には矩形状の切欠部3
1が形成され、この切欠部31によりバスバ3には2つ
の電流分流路32,33が形成されている。電流分流路
32は幅がL1で電流I1が流れ、電流分流路33は幅
がL2で電流I2が流れている。
【0025】この電流センサは、バスバ3に流れる電流
を2つの電流分流路32,33により分流し、分流した
一部の電流、すなわち電流分流路32に流れる電流をG
MR膜9からの出力により検出し、検出出力とバスバ3
の幅L1,L2とに基づいてバスバ3に流れる総電流値
を算出するようになっている。
【0026】導電膜16は、銅、黄銅、アルミニウム、
金、白金、銀、鉄、ニッケル、タンタル、チタン又はそ
れらの合金からなる。セラミクス基板7は、0.2mm
〜0.3mm程度であり、導電膜16は、数十μm程度
(具体的には30μm〜40μm程度)である。GMR
膜9は、通常では100nm程度であり、最大でも数百
nmである。
【0027】GMR膜9と導電膜16とは、セラミクス
基板7を挟んで略対向する位置に配置されており、該G
MR膜9は、多層膜表面がバスバ3に流れる被測定電流
によって発生される磁界と略平行となるように配置され
ている。また、バイアス磁石13は、セラミクス基板7
の他方の面上で且つGMR膜9の近傍に配置されてい
る。なお、接合面6の接合方法は超音波接合又は半田接
合を用いても良く、あるいはその他の方法を用いても良
い。超音波接合方法については、後で図を用いて詳細に
説明する。
【0028】図4に実施の形態のGMR素子のパターン
形状図を示す。GMR素子5は、両側に設けられたGM
R電極11a,11bと、櫛状の電極パターンからなり
且つ多層膜からなるGMR膜9とを有している。
【0029】GMR膜9は、印加された磁界の変化によ
り抵抗変化を生ずるもので、図5に示すように、Siか
らなる基板7の表面上に形成されたSiO薄膜21、
このSiO薄膜21上に積層されたCoFe薄膜23
(本発明の磁性層に対応)、このCoFe薄膜23上に
積層されたCu薄膜25(本発明の非磁性層に対応)を
有するとともに、CoFe薄膜23及びCu薄膜25を
交互に各々30層分積層(これをSi/SiO/[C
oFe/Cu]30と表す。)して構成されている。C
oFe薄膜23の膜厚は、10〜30Åであり、Cu薄
膜25の膜厚は21ű1Åである。
【0030】GMR素子5のMR比(本発明の磁気抵抗
変化率(%)に対応)の特性は、非磁性層の膜厚に敏感
で、図6に示すように、GMR素子のCu層の厚さによ
りMR比にピークが発生する。Cu層の厚さが約9Åの
ときにMR比の第1ピークが発生し、Cu層の厚さが約
21ÅのときにMR比の第2ピークが発生する。通常、
GMR膜を回転センサなどのセンサ素子として使用する
場合は、100Oe前後の磁界変化で、10〜20%程
度のMR比を示す特性を利用する。このため、第1の実
施の形態では、MR比の第2ピークを用い、Cu層の厚
さを約21Åに設定する。
【0031】また、MR比の大きさは積層周期数に依存
し、積層周期数の増大とともにMR比は増加傾向を示
す。しかし、積層周波数が50周期(100層)程度と
なると、周期構造が乱れてくるため、MR比は低下傾向
に転じる。この現象は作製上の問題であり、一般的な作
製法(スパッタなど)では、GMR効果に寄与する界面
の生成に限界がある。スパッタ法では、10〜45周期
(20〜90層)程度の積層周期が適当である。今回は
積層周期を30周期(60層)とした。
【0032】また、基板7の表面左側で且つGMR膜9
の近傍には左右方向の両端部が両磁極となるように着磁
された平板状のバイアス磁石13が固着されており、こ
のバイアス磁石13は、本発明のバイアス磁界印加手段
に相当し、磁化方向が電流方向に対して直角方向(図2
の水平方向)であり、GMR膜9に向けてバイアス磁界
を発生する。電流方向は、図2の紙面に対して垂直方向
である。
【0033】また、GMR電極11bは、接地され、G
MR電極11aにはGMR素子5に定電流を供給するた
めの定電流源15が接続されている。このため、GMR
電極11a,11bの両端電圧がセンサ出力として取り
出されて、図示しないセンサ信号処理部に出力され、こ
のセンサ信号処理部が、電流分流路32に流れる電流を
検出し、この検出出力とバスバ3の幅L1,L2とに基
づいてバスバ3に流れる総電流値を算出するようになっ
ている。
【0034】次に、このように構成された実施の形態の
電流センサの動作を図面を参照しながら説明する。
【0035】まず、プリント基板1に形成されたバスバ
3に被測定電流が流れると、被測定電流は、切欠部31
により、電流電流路32と電流分流路33とに分流され
る。このとき、電流分流路32に接触又は接合された導
電膜16にも電流が流れる。なお、導電膜16と電流電
流路32とは接合または充分な接着により両者の電流値
の差はない。
【0036】すると、導電膜16に流れる被測定電流に
より生ずる被測定磁界とバイアス磁石13による一定の
バイアス磁界とがGMR膜9に印加される。このため、
バイアス磁界と被測定磁界との合成磁界の変化に応じて
GMR膜9の抵抗値が大きく変化するため、1つの電流
分流路32に流れる電流I1を検出できる。
【0037】また、センサ信号処理部(図示せず)は、
1つの電流分流路32に流れる電流I1とバスバ3の幅
L1,L2の比(L2/L1)とに基づいて電流分流路
33に流れる電流I2を算出する。ここで、I1とI2
とは分割したバスバ3の幅に依存した値となり、I1:
I2=L1:L2の関係があるからである。そして、得
られた電流I1と電流I2とを合計することにより、バ
スバ3に流れる総電流値を算出する。
【0038】すなわち、分流した一部の電流を検出する
ことで、バスバ3に流れる大電流を検出することができ
る。また、検出素子としてGMR素子5を用いているの
で、低電流(低磁界)でも高感度で電流を検出すること
ができる。また、ホール素子を用いていないので、磁性
体コアが不要となった。従って、広範囲の電流に対して
も検出感度が低下せず、簡易な構造で且つ小型な電流セ
ンサを提供することができる。
【0039】ここで、バスバ3及びGMR膜9間の距離
(間隔)は、GMR膜9に印加される磁界強度と密接な
関係がある。図9にバスバ3及びGMR膜9間の距離と
バスバ3に流れる電流により生ずる磁界Hの強さとの関
係を示す。図9において、磁界H(磁束密度X方向成
分、すなわち、GMR膜9の面方向成分)は、バスバ3
及びGMR膜9間の距離に反比例して減少しており、ま
た、磁界Hは、バスバ3に流れる電流Iの大きさに比例
して増加している。これは、アンペアの周回定理から、
磁界Hが、(1)式で表されるからである。
【0040】 H=I/2πr ・・・・(1) ここで、rは前記距離である。
【0041】以上のことから、実施の形態の電流センサ
では、GMR膜9をバスバ3の近傍に配置し、より強い
磁界HをGMR膜9に印加している。これによって、よ
り大きなセンサ出力が得られるから、バスバ3上の電流
を精度良く検出することができる。
【0042】また、GMR素子5の磁気抵抗曲線等の特
性は、GMR膜9の材料やその構造等に大きく依存して
いる。図10にGMR膜9の構造をSi/SiO
[CoFe/Cu]30(周期が30で60層)とした
場合の磁気抵抗曲線を示す。図10において、横軸は印
加磁界であり、縦軸はGMR素子の抵抗値である。MR
比は24%である。
【0043】図10に示す例では、バイアス磁石13に
よりGMR膜9に約80エルステッド(0e)のバイア
ス磁界を印加するとともに、バスバ3及びGMR膜9間
のギャップ(距離)を約200μm程度に保持した。
【0044】また、このときの電流値と抵抗値との関係
を図11に示す。図11に示すように、電流値を0→5
Aに変化した場合と、電流値を5→0Aに変化した場合
とのそれぞれについて、電流の変化に対して抵抗値が直
線的に変化しており、1A当たりの抵抗変化は5Ω以上
である。このGMR素子5に定電流源15から1mAの
電流を流した場合、5mV以上の電圧変化が出力として
得られる。この出力変化は、直線的である。この出力を
図示しないセンサ信号処理部で処理して、1Aの差異を
判断する。これにより、0〜5Aの範囲で1Aの差異を
確実に判断できる出力を得た。
【0045】さらに、バスバ3に10Aの電流を流した
とき、GMR膜9に印加される磁界(被測定磁界)は、
図9からもわかるように、50エルステッド(Oe)弱
である。バイアス磁界が約80エルステッド(Oe)だ
け印加されており、図10において、バイアス磁界に対
応する抵抗値をQとする。
【0046】また、バイアス磁界80(Oe)+被測定
磁界50(Oe)に対応する抵抗値Sと、バイアス磁界
80(Oe)−被測定磁界50(Oe)に対応する抵抗
値Rとの間は、磁界変化に対して抵抗が直線的に変化し
ており、感度の良い領域である。
【0047】すなわち、このような構成のGMR膜9を
用い且つ一定のバイアス磁界を印加することで、バスバ
3に流れる0〜10A程度の範囲(バイアス磁界内にお
いて磁界が発生する電流範囲)の電流値を、確実に検出
することができる。また、抵抗値がQを中心としてR−
S間で変化するので、抵抗値により電流方向も検出する
ことができる。
【0048】また、前述した図10の例では、GMR膜
9として、Si/SiO/[CoFe/Cu]30を
用いたが、GMR膜9として、例えば、Si/SiO
/NiFeCo[NiFeCo/Cu]20を用いても
良い。図12にGMR膜の構造をSi/SiO/Ni
FeCo[NiFeCo/Cu]20とした場合の磁気
抵抗曲線を示す。図12において、横軸は印加磁界であ
り、縦軸はGMR素子の抵抗値である。MR比は7.6
%である。
【0049】このGMR膜9は、基板上にSiO
膜、このSiO薄膜上に積層されるNiFeCo薄
膜、このNiFeCo薄膜上に、さらにNiFeCo薄
膜(本発明の磁性層に対応)とCu薄膜(本発明の非磁
性層に対応)とが交互に20層分積層されて構成されて
いる。
【0050】図10に示す磁気抵抗曲線と図12に示す
磁気抵抗曲線とを比較すると、図12に示す磁気抵抗曲
線の方が、低磁界領域での感度(磁界の変化に対する抵
抗値の変化割合)に優れている。すなわち、GMR膜9
の構造をSi/SiO/NiFeCo[NiFeCo
/Cu]20とした場合には、低磁界領域において、電
流変化に対する検出感度を向上させることができる。
【0051】但し、GMR膜9の構造をSi/SiO
/NiFeCo[NiFeCo/Cu]20とした場合
には、高感度を有する範囲は、GMR膜9の構造をSi
/SiO/[CoFe/Cu]30とした場合よりも
狭いため、これに伴って、検出電流範囲も小さくなる。
【0052】また、MR比の第2ピークを用い、Cu層
の厚さを約21Åに設定したので、分流後の電流分流路
32に流れるバスバ電流、すなわち、0〜10A程度の
範囲の電流値を高感度に検出することができる。
【0053】また、図4に示すように、GMR膜9の長
手方向の電極パターンが、バスバ3に流れる電流により
生ずる磁界Hに対して、略垂直となるように配置されて
いる。このように電極パターンを配置することで、より
大きなセンサ出力を取り出すことができる。
【0054】また、GMR膜9は、GMR膜表面がバス
バ3に流れる被測定電流によって発生される磁界と略平
行となるように配置されているので、磁界がGMR膜9
に多く入るから、より大きなセンサ出力を得ることがで
きる。また、セラミクス基板7の他方の面には、GMR
膜9の近傍にバイアス磁石13が配置されているので、
バイアス磁界がGMR膜9に多く入るから、より大きな
センサ出力を得ることができる。
【0055】また、セラミクス基板7の一方の面に導電
膜16が形成され、他方の面にGMR膜9が形成され、
被測定磁界の発生箇所が導電膜16で、磁界検知箇所が
GMR膜9であるので、磁界発生箇所と磁界検知箇所と
のギャップが一定となる。従って、精密実装も不要とな
り、基板の歪み等でギャップが変化することがなくな
り、検知精度が向上する。また、コストを大幅に低減す
ることができる。
【0056】次に、図13を参照しながら、超音波接合
方法を説明する。まず、図13(a)に示すように、金
属部材61a(導電膜16に対応)と金属部材61b
(バスバ3に対応)とのそれぞれの表面63a,63b
には、微細な凹凸が形成され、且つ酸化膜62a,62
bが形成されている。これらの金属部材61a,61b
に、図示しない超音波振動子により、振幅が数十μmで
約0.1MPa前後の圧力を印加させて数十kHzの超
音波振動を加える。
【0057】すると、超音波振動により、図13(b)
に示すように、酸化膜62a,62bが破壊され、さら
に、超音波振動を加えると、図13(c)に示すよう
に、表面の凹凸がなくなる。さらに、図13(d)に示
すように、原子間力が働くほどの距離に近づくと、金属
部材61aと金属部材61bとが接合面65を介して接
合される。
【0058】また、実施の形態の電流センサは、図14
に示すような変形例としてもよい。この変形例では、セ
ラミクス基板7に代えて、導電性基板又は半導体基板7
aを用い、該基板7aの両面に絶縁膜17を形成したも
ので、その他の構成は図2に示す構成と同一である。
【0059】このような変形例によれば、基板7aの一
方の面と導電膜16との間、及び基板7aの他方の面と
GMR膜9との間のそれぞれには、絶縁膜17が形成さ
れているので、絶縁膜17により導電膜16とGMR膜
9との間の電気的絶縁性が向上し、検知精度がさらに向
上する。
【0060】なお、本発明は前述した実施の形態の電流
センサに限定されるものではない。上述した実施の形態
では、被測定電流を1つの切欠部31により2方向に分
流したが、例えば、被測定電流を3方向以上に分流して
も良く、3以上の電流分流路のいずれか1つの電流分流
路にGMR素子9を配置し、この電流分流路に流れる電
流を検出し、該検出結果と各電流分流路の幅とに基づい
てバスバ3に流れる総電流値を算出しても良い。
【0061】また、上述した実施の形態では、GMR膜
9として、Si/SiO/NiFeCo[NiFeC
o/Cu]20、Si/SiO/[CoFe/Cu]
30を例示したが、これらのGMR膜9に限定されるこ
となく、その他のGMR膜9を用いても良い。
【0062】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、複数の電流分
流路の内の1つの電流分流路に接触又は接合された導電
膜に流れる被測定電流により生ずる被測定磁界とバイア
ス磁界印加手段による一定のバイアス磁界とが磁気抵抗
手段に印加され、バイアス磁界と被測定磁界との合成磁
界の変化に応じて抵抗値が大きく変化するため、1つの
電流分流路に流れる電流を検出でき、該電流の検出結果
に基づいて金属板に流れる電流を検出できる。従って、
広範囲の電流に対しても検出感度が低下せず、簡易な構
造で且つ小型な電流センサを提供することができる。ま
た、第2の基板の一方の面に導電膜が形成され、他方の
面に磁気抵抗手段が形成され、被測定磁界の発生箇所が
導電膜で、磁界検知箇所が磁気抵抗手段であるので、磁
界発生箇所と磁界検知箇所とのギャップが一定となる。
従って、精密実装も不要となり、基板の歪み等でギャッ
プが変化することがなくなり、検知精度が向上する。
【0063】請求項2の発明によれば、切欠部により金
属板上に2つの前記電流分流路が形成され、一方の電流
電流路に流れる電流の検出結果に基づいて金属板に流れ
る電流を検出することができる。
【0064】請求項3の発明によれば、磁気抵抗手段
は、多層膜表面が金属板に流れる被測定電流によって発
生される磁界と略平行となるように配置されているの
で、磁界が多層膜に多く入るから、より大きなセンサ出
力を得ることができる。
【0065】請求項4の発明によれば、非磁性層の膜厚
を、選択された第2ピークにおける膜厚としたので、金
属板に流れる広範囲の電流を高感度に検出できる。
【0066】請求項5の発明によれば、第2の基板の一
方の面と導電膜との間、及び第2の基板の他方の面と磁
気抵抗手段との間のそれぞれに絶縁膜が形成されている
ので、絶縁膜により導電膜と磁気抵抗手段との間の電気
的絶縁性が向上し、検知精度がさらに向上する。
【0067】請求項6の発明によれば、磁性層がCoF
e薄膜であり、非磁性層がCu薄膜であるので、金属板
に流れる電流の検出範囲を広げることができる。
【0068】請求項7の発明によれば、磁性層がNiF
eCo薄膜であり、非磁性層がCu薄膜であるので、電
流における電流変化に対する検出感度を向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の電流センサの構成図である。
【図2】実施の形態の電流センサの断面図である。
【図3】実施の形態のバスバーの平面図である。
【図4】実施の形態のGMR素子のパターン形状図であ
る。
【図5】GMR膜の詳細な構造図である。
【図6】GMR素子のCu層の厚さとMR比との関係を
示す図である。
【図7】ホール素子を用いて構成した電流センサを示す
図である。
【図8】GMR素子を用いて構成した電流センサを示す
図である。
【図9】バスバ及びGMR膜間の距離とバスバに流れる
電流により生ずる磁界の強さとの関係を示す図である。
【図10】GMR膜の構造をSi/SiO/[CoF
e/Cu]30とした場合の磁気抵抗曲線を示す図であ
る。
【図11】電流値と抵抗値との関係を示す図である。
【図12】GMR膜の構造をSi/SiO/NiFe
Co[NiFeCo/Cu]20とした場合の磁気抵抗
曲線を示す図である。
【図13】超音波接合を説明する図である。
【図14】実施の形態の電流センサの変形例の構成図で
ある。
【図15】ホール素子を用いた従来の電流センサの電流
検出特性を示す図である。
【図16】従来のバスバーの平面図である。
【図17】従来のバスバーを有する電流検出装置の一例
の構成図である。
【符号の説明】
1 プリント基板 3 バスバー 5,5a GMR素子 6 接合面 7 セラミクス基板 7a 導電性基板又は半導体基板 9 GMR膜 11a,11b GMR電極 13 バイアス磁石 15 定電流源 16 導電膜 17 絶縁膜 21 SiO薄膜 23 COFe薄膜 25 Cu薄膜 31 切欠部 32,33 電流分流路 50 ホール素子

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の基板上に形成され、被測定電流を
    分流するように複数の電流分流路が形成された金属板
    と、 前記第1の基板と略平行に配置された第2の基板の一方
    の面に形成され、前記複数の電流分流路の内の1つの電
    流分流路に接触又は接合された導電膜と、 前記第2の基板の他方の面に形成され、磁性層と非磁性
    層とが交互に複数回積層された多層膜を有し、該多層膜
    に印加される磁界の変化に応じて抵抗値が変化する磁気
    抵抗手段と、 この磁気抵抗手段に一定のバイアス磁界を印加するバイ
    アス磁界印加手段とを備え、 前記1つの電流分流路に流れる電流の検出結果に基づい
    て前記金属板に流れる電流を検出することを特徴とする
    電流センサ。
  2. 【請求項2】 前記金属板の、電流が流れる方向に対し
    て平行な両側辺からそれぞれ所定の距離だけ離れた位置
    に切欠部を形成することにより、前記金属板上に2つの
    前記電流分流路を形成したことを特徴とする請求項1記
    載の電流センサ。
  3. 【請求項3】 前記磁気抵抗手段は、前記多層膜表面が
    前記金属板に流れる被測定電流によって発生される磁界
    と略平行となるように配置されていることを特徴とする
    請求項1又は請求項2記載の電流センサ。
  4. 【請求項4】 前記非磁性層の膜厚の変化に対して磁気
    抵抗変化率が複数のピークを持つ場合に、複数のピーク
    の中から前記膜厚が2番目に小さいときの第2ピークを
    選択し、前記非磁性層の膜厚を、選択された第2ピーク
    における膜厚に決定することを特徴とする請求項1乃至
    請求項3のいずれか1項記載の電流センサ。
  5. 【請求項5】 前記第2の基板の一方の面と前記導電膜
    との間、及び前記第2の基板の他方の面と前記磁気抵抗
    手段との間のそれぞれには、絶縁膜が形成されているこ
    とを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか1項記
    載の電流センサ。
  6. 【請求項6】 前記磁性層は、CoFe薄膜であり、前
    記非磁性層は、Cu薄膜であることを特徴とする請求項
    1乃至請求項5のいずれか1項記載の電流センサ。
  7. 【請求項7】 前記磁性層は、NiFeCo薄膜であ
    り、前記非磁性層は、Cu薄膜であることを特徴とする
    請求項1乃至請求項5のいずれか1項記載の電流セン
    サ。
JP2001064857A 2001-03-08 2001-03-08 電流センサ Pending JP2002267692A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001064857A JP2002267692A (ja) 2001-03-08 2001-03-08 電流センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001064857A JP2002267692A (ja) 2001-03-08 2001-03-08 電流センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002267692A true JP2002267692A (ja) 2002-09-18

Family

ID=18923624

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001064857A Pending JP2002267692A (ja) 2001-03-08 2001-03-08 電流センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002267692A (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001028485A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Ricoh Co Ltd 機器の転倒防止装置
US7491097B2 (en) 2005-03-02 2009-02-17 Denso Corporation Mounting structure of current sensor
US7538540B2 (en) * 2004-10-15 2009-05-26 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Bus bar current detecting apparatus
JP2011069838A (ja) * 2005-05-27 2011-04-07 Allegro Microsyst Inc 電流センサ
JP2014055790A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
JP2014197588A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 Tdk株式会社 平面コイル、磁気検出装置および電子部品
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
WO2015182643A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
WO2015182644A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
WO2015182645A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
US9529060B2 (en) 2014-01-09 2016-12-27 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US9608659B2 (en) 2014-05-19 2017-03-28 Denso Corporation Analog/digital conversion circuit
US9812637B2 (en) 2015-06-05 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Spin valve magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10620279B2 (en) 2017-05-19 2020-04-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with increased operational range
WO2020213082A1 (ja) * 2019-04-17 2020-10-22 三菱電機株式会社 電力変換装置
US11022661B2 (en) 2017-05-19 2021-06-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with increased operational range
US11719771B1 (en) 2022-06-02 2023-08-08 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistive sensor having seed layer hysteresis suppression
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame

Cited By (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001028485A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Ricoh Co Ltd 機器の転倒防止装置
US7538540B2 (en) * 2004-10-15 2009-05-26 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Bus bar current detecting apparatus
US7491097B2 (en) 2005-03-02 2009-02-17 Denso Corporation Mounting structure of current sensor
JP2011069838A (ja) * 2005-05-27 2011-04-07 Allegro Microsyst Inc 電流センサ
JP2014055790A (ja) * 2012-09-11 2014-03-27 Alps Green Devices Co Ltd 電流センサ
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US10753963B2 (en) 2013-03-15 2020-08-25 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US9865807B2 (en) 2013-03-15 2018-01-09 Allegro Microsystems, Llc Packaging for an electronic device
JP2014197588A (ja) * 2013-03-29 2014-10-16 Tdk株式会社 平面コイル、磁気検出装置および電子部品
US9804234B2 (en) 2014-01-09 2017-10-31 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with an improved seed layer to promote an improved response to magnetic fields
US10347277B2 (en) 2014-01-09 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US9529060B2 (en) 2014-01-09 2016-12-27 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US9922673B2 (en) 2014-01-09 2018-03-20 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US9608659B2 (en) 2014-05-19 2017-03-28 Denso Corporation Analog/digital conversion circuit
JPWO2015182644A1 (ja) * 2014-05-30 2017-04-20 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
WO2015182643A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
JPWO2015182645A1 (ja) * 2014-05-30 2017-04-20 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
CN106463612A (zh) * 2014-05-30 2017-02-22 株式会社村田制作所 磁阻元件、磁传感器以及电流传感器
WO2015182645A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
WO2015182644A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社村田製作所 磁気抵抗素子、磁気センサおよび電流センサ
US9812637B2 (en) 2015-06-05 2017-11-07 Allegro Microsystems, Llc Spin valve magnetoresistance element with improved response to magnetic fields
US10620279B2 (en) 2017-05-19 2020-04-14 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with increased operational range
US11002807B2 (en) 2017-05-19 2021-05-11 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with increased operational range
US11022661B2 (en) 2017-05-19 2021-06-01 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistance element with increased operational range
WO2020213082A1 (ja) * 2019-04-17 2020-10-22 三菱電機株式会社 電力変換装置
JPWO2020213082A1 (ja) * 2019-04-17 2021-10-21 三菱電機株式会社 電力変換装置
JP7052919B2 (ja) 2019-04-17 2022-04-12 三菱電機株式会社 電力変換装置
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame
US11719771B1 (en) 2022-06-02 2023-08-08 Allegro Microsystems, Llc Magnetoresistive sensor having seed layer hysteresis suppression

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002267692A (ja) 電流センサ
JP5012939B2 (ja) 電流センサ
JP3210192B2 (ja) 磁気検出素子
JP2008134181A (ja) 磁気検出装置及びその製造方法
JP2002522792A (ja) 巨大磁気抵抗材料又はスピントンネル接合を具え、層に対し垂直な感度を有する磁界センサ
JP2011047928A (ja) 磁気センサ
JP2009204435A (ja) 薄膜磁気センサ
JP2000035471A (ja) 巨大磁気抵抗効果素子を備えたポテンショメータ
JPH11513128A (ja) 磁気抵抗ブリッジを有する磁場センサ
JP2011064653A (ja) 磁気センサおよびその製造方法
JPH0856025A (ja) 自己バイアス多層磁気抵抗センサ
US6621666B2 (en) Magnetoresistive-effect element having electrode layers oppositely disposed on main surfaces of a magnetoresistive-effect thin film having hard magnetic bias layers with a particular resistivity
JP6409970B2 (ja) 電流センサ
JP2002082136A (ja) 電流センサ
JPS61214205A (ja) ヨ−ク型磁気抵抗効果型磁気ヘツド
JP2002328140A (ja) 電流センサ
JP5447616B2 (ja) 磁気センサの製造方法
US11002806B2 (en) Magnetic field detection device
JP2000193407A (ja) 磁気式位置検出装置
JP2015197388A (ja) フラックスゲート型磁気センサ
JP2000180524A (ja) 磁界センサ
JPH11101861A (ja) 磁気抵抗効果型センサ
JP4953569B2 (ja) 薄膜磁気抵抗素子並びに薄膜磁気抵抗素子を用いた磁気センサ
JP2011017713A (ja) 磁気センサ及び磁場強度測定方法
EP0991913B1 (en) Element comprising a layer structure and a current-directing means