JP2002232150A - 多層プリント配線板用レーザ孔あけ加工機 - Google Patents
多層プリント配線板用レーザ孔あけ加工機Info
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Abstract
て、内層銅箔のランド部の表面の樹脂残渣を完全に除去
し、バイアの層間接続の信頼性を高める多層プリント配
線板用レーザ孔あけ加工機を提供すること。 【解決手段】レーザ光学系として、上層の銅箔に孔を形
成する第一短波長レーザ光学系、第一短波長レーザ光学
系によって形成された銅箔の孔の下の樹脂層に孔を形成
するCO2 レーザ光学系、CO2 レーザ光学系によ
って形成された樹脂層の孔の下の内層銅箔上に残る樹脂
残渣を除去する第二短波長レーザ光学系を具備するこ
と。
Description
板用レーザ孔あけ加工機に関するものであり、特に、下
層の内層銅箔のランド上に残る樹脂残渣を完全に除去
し、バイアの層間接続の信頼性を高める多層プリント配
線板用レーザ孔あけ加工機に関する。
上下の配線層間の導通をとるための非貫通で垂直方向に
設けられるバイアを形成する際に、その製造工程で形成
されるバイア用の孔はレーザ光を用いて孔あけ加工され
ることが多い。図2は、バイア用の孔あけ加工をするレ
ーザ孔あけ加工機の一例の概念を断面で示す説明図であ
る。
機は、X−Yステージ(60)、X−Yステージ上方の
短波長レーザ光学系(20)、CO2 レーザ光学系
(40)を具備するものである。X−Yステージ(6
0)上には孔あけ加工中の多層プリント配線板(80)
が載置されている。短波長レーザ光学系(20)は短波
長レーザ発振器(21)、ビームスプリッター部(2
3)、ガルバノミラー部(24)で構成され、また、ビ
ームスプリッター部(23)はビームスプリッター(2
3A)、ミラー(23B)からなり、ガルバノミラー部
(24)は2対のガルバノミラー(24A)、(24
B)からなる。
レーザ光(25)は、ビームスプリッター部(23)の
ビームスプリッター(23A)にて2分割され、一方の
短波長レーザ光(25A)は下方のガルバノミラー部
(24)の1対のガルバノミラー(24A)に到る。1
対のガルバノミラー(24A)は多層プリント配線板
(80)のX方向及びY方向に短波長レーザ光(25
A)を偏向、走査し、偏向、走査された短波長レーザ光
(25A)は孔あけ加工を行う。
2分割された、他方の短波長レーザ光(25B)はビー
ムスプリッター部(23)のミラー(23B)を経て下
方のガルバノミラー部(24)の他の1対のガルバノミ
ラー(24B)に到る。他の1対のガルバノミラー(2
4B)は、同様に多層プリント配線板(80)のX方向
及びY方向に短波長レーザ光(25B)を偏向、走査
し、偏向、走査された短波長レーザ光(25B)は孔あ
け加工を行うが、2対のガルバノミラー(24A)、
(24B)によって、約50mm×50mmの範囲を偏
向、走査し孔あけ加工を行うようになっている。
レーザ発振器(41)、ビームスプリッター部(4
3)、ガルバノミラー部(44)で構成され、また、ビ
ームスプリッター部(43)はビームスプリッター(4
3A)、ミラー(43B)からなり、ガルバノミラー部
(44)は2対のガルバノミラー(44A)、(44
B)からなる。
2 レーザ光(45)は、短波長レーザ光学系(20)
におけると同様に、ビームスプリッター部(43)のビ
ームスプリッター(43A)にて2分割され、一方のC
O2 レーザ光(45A)は下方のガルバノミラー部
(44)の1対のガルバノミラー(44A)に到る。1
対のガルバノミラー(44A)は多層プリント配線板
(80)のX方向及びY方向にCO2 レーザ光(45
A)を偏向、走査し、偏向、走査されたCO2 レーザ
光(45A)は孔あけ加工を行う。
2分割された、他方のCO2 レーザ光(45B)はビ
ームスプリッター部(43)のミラー(43B)を経て
下方のガルバノミラー部(44)の他の1対のガルバノ
ミラー(44B)に到る。他の1対のガルバノミラー
(44B)は、同様に多層プリント配線板(80)のX
方向及びY方向にCO2 レーザ光(45B)を偏向、
走査し、偏向、走査されたCO2 レーザ光(45B)
は孔あけ加工を行うが、2対のガルバノミラー(44
A)、(44B)によって、約50mm×50mmの範
囲を偏向、走査し孔あけ加工を行うようになっている。
尚、短波長レーザ光学系(20)とCO2 レーザ光学
系(40)の両光学系間の距離(L3)は約150mm
程度のものである。
断面においては、ガラスエポキシ(81)、その表裏面
の内層銅箔のランド部(82A)、(82B)、樹脂層
(83A)、(83B)、及び銅箔(84A)、(84
B)が示されている。X−Yステージ(60)上に載置
された多層プリント配線板(80)は、先ず、短波長レ
ーザ発振器(21)からの短波長レーザ光(25)が2
分割された短波長レーザ光(25A)、(25B)によ
って、その樹脂層(83A)上の銅箔(84A)に孔あ
けがされる。すなわち、銅箔(84A)には銅箔の孔
(85A)、(85B)が形成され、下方の樹脂層(8
3A)が露出する。銅箔の孔(85A)、(85B)
は、X−Yステージ(60)の矢印方向への移動に従い
多層プリント配線板(80)の左方部分から右方部分へ
と順次に形成される。
形成された左方部分が、X−Yステージ(60)の矢印
方向への移動によりCO2 レーザ光学系(40)の下
方に到ると、CO2 レーザ発振器(41)からのCO
2 レーザ光(45)が2分割されたCO2 レーザ光
(45A)、(45B)によって、銅箔の孔(85
A)、(85B)が形成された銅箔(84A)をマスク
として、露出した樹脂層(83A)に孔あけがされる。
すなわち、樹脂層の孔(86A)、(86B)が形成さ
れ、下方の内層銅箔のランド部(82A)が露出する。
短波長レーザ光(25A)、(25B)による銅箔の孔
(85A)、(85B)の形成に続く、CO2 レーザ
光(45A)、(45B)による樹脂層の孔(86
A)、(86B)の形成は、X−Yステージ(60)の
矢印方向への移動に従い順次に多層プリント配線板(8
0)の全面にわたり並列して行われる。
いたバイア用の孔あけ加工においては、樹脂層の孔(8
6A)、(86B)は上層の銅箔と内層銅箔の上下の配
線層間の導通をとるバイア用の孔であり、多層プリント
配線板(80)を貫通する孔ではないので、熱加工のよ
うな様相を呈し内層銅箔のランド部(82A)の表面に
2μm程度の樹脂膜が残渣として残ってしまう。そこ
で、この2μm程度の樹脂膜(樹脂残渣)を取り除く処
理を後工程にて行うが、薬液による処理であるために樹
脂層の孔(86A)、(86B)の中の薬液の置換が十
分に行われず、非貫通の樹脂層の孔(86A)、(86
B)の底に露出しているランド部(82A)の表面の樹
脂膜(樹脂残渣)を完全に取りきることは困難なことで
ある。完全に取りきれずに残った樹脂残渣は層間接続の
信頼性を損ねるものとなる。
として、例えば、このレーザ孔あけ加工機の短波長レー
ザ光学系(20)を再び用い、短波長レーザ光(25)
によってランド部(82A)表面に残った樹脂残渣を除
去する方法があるが、このように短波長レーザ光学系を
再び用いる方法は、孔あけ加工の生産性を著しく阻害し
好ましいものではない。
決するためになされたものであり、多層プリント配線板
の積層する上下の配線層間の導通をとるバイア用の孔あ
け加工をレーザ孔あけ加工機によって行う際に、内層銅
箔のランド部の表面に樹脂残渣を残すことなく完全に除
去し、バイアの層間接続の信頼性を高める多層プリント
配線板用レーザ孔あけ加工機を提供することを課題とす
る。
配線板を製造する際に用いるレーザ孔あけ加工機におい
て、積層する上下の配線層間の導通をとるバイア用の孔
を形成するレーザ光学系として、 1)上層の銅箔に孔を形成する第一短波長レーザ光学
系、 2)該第一短波長レーザ光学系によって形成された銅箔
の孔の下の樹脂層に孔を形成するCO2 レーザ光学
系、 3)該CO2 レーザ光学系によって形成された樹脂層
の孔の下の内層銅箔上に残る樹脂残渣を除去する第二短
波長レーザ光学系、 を少なくとも具備することを特徴とする多層プリント配
線板用レーザ孔あけ加工機である。
ント配線板用レーザ孔あけ加工機において、前記第一短
波長レーザ光学系の第一短波長レーザ光と前記第二短波
長レーザ光学系の第二短波長レーザ光が、一基の短波長
レーザ発振器から発振し分岐された短波長レーザ光であ
り、分岐比が第一短波長レーザ光のエネルギーと第二短
波長レーザ光のエネルギーとの比で[70:30]〜
[95:5]であることを特徴とする請求項1記載の多
層プリント配線板用レーザ孔あけ加工機である。
ント配線板用レーザ孔あけ加工機において、前記第二短
波長レーザ光学系の第二短波長レーザ光の焦点を内層銅
箔上に残る樹脂残渣から−1.0mm〜+1.0mmず
らすことを特徴とする多層プリント配線板用レーザ孔あ
け加工機である。
ント配線板用レーザ孔あけ加工機において、前記レーザ
光学系のレーザ光の波長が193nm〜10600nm
の範囲にあることを特徴とする多層プリント配線板用レ
ーザ孔あけ加工機である。
下に詳細に説明する。図1は、本発明による多層プリン
ト配線板用レーザ孔あけ加工機の一実施例の概念を断面
で示す説明図である。
ント配線板用レーザ孔あけ加工機は、X−Yステージ
(70)、X−Yステージ上方の短波長レーザ発振器
(1)、第一短波長レーザ光学系(10)、CO2 レ
ーザ光学系(30)、第二短波長レーザ光学系(50)
を具備するものである。X−Yステージ(70)上には
孔あけ加工中の多層プリント配線板(90)が載置され
ている。第一短波長レーザ光学系(10)は第一ビーム
スプリッター部(12)、第二ビームスプリッター部
(13)、ガルバノミラー部(14)で構成され、ま
た、第二ビームスプリッター部(13)はビームスプリ
ッター(13a)、ミラー(13b)からなり、ガルバ
ノミラー部(14)は2対のガルバノミラー(14
a)、(14b)からなる。
ーザ光(15)は、第一ビームスプリッター部(12)
のビームスプリッター(12A)にて第一短波長レーザ
光(15A)と第二短波長レーザ光(15B)に2分割
される。第一短波長レーザ光(15A)は、第二ビーム
スプリッター部(13)のビームスプリッター(13
a)にて更に2分割され、一方の短波長レーザ光(15
a)は下方のガルバノミラー部(14)の1対のガルバ
ノミラー(14a)に到る。1対のガルバノミラー(1
4a)は多層プリント配線板(90)のX方向及びY方
向に短波長レーザ光(15a)を偏向、走査し、偏向、
走査された短波長レーザ光(15a)は孔あけ加工を行
う。
にて2分割された、他方の短波長レーザ光(15b)は
第二ビームスプリッター部(13)のミラー(13b)
を経て下方のガルバノミラー部(14)の他の1対のガ
ルバノミラー(14b)に到る。他の1対のガルバノミ
ラー(14b)は、同様に多層プリント配線板(90)
のX方向及びY方向に短波長レーザ光(15b)を偏
向、走査し、偏向、走査された短波長レーザ光(15
b)は孔あけ加工を行うが、2対のガルバノミラー(1
4a)、(14b)によって、約50mm×50mmの
範囲を偏向、走査し孔あけ加工を行うようになってい
る。
レーザ発振器(31)、ビームスプリッター部(3
3)、ガルバノミラー部(34)で構成され、また、ビ
ームスプリッター部(33)はビームスプリッター(3
3a)、ミラー(33b)からなり、ガルバノミラー部
(34)は2対のガルバノミラー(34a)、(34
b)からなる。
2 レーザ光(35)は、第一短波長レーザ光学系(1
0)におけると同様に、ビームスプリッター部(33)
のビームスプリッター(33a)にて2分割され、一方
のCO2 レーザ光(35a)は下方のガルバノミラー
部(34)の1対のガルバノミラー(34a)に到る。
1対のガルバノミラー(34a)は多層プリント配線板
(90)のX方向及びY方向にCO2 レーザ光(35
a)を偏向、走査し、偏向、走査されたCO2レーザ光
(35a)は孔あけ加工を行う。
2分割された、他方のCO2 レーザ光(35b)はビ
ームスプリッター部(33)のミラー(33b)を経て
下方のガルバノミラー部(34)の他の1対のガルバノ
ミラー(34b)に到る。他の1対のガルバノミラー
(34b)は、同様に多層プリント配線板(90)のX
方向及びY方向にCO2 レーザ光(35b)を偏向、
走査し、偏向、走査されたCO2 レーザ光(35b)
は孔あけ加工を行うが、2対のガルバノミラー(34
a)、(34b)によって、約50mm×50mmの範
囲を偏向、走査し孔あけ加工を行うようになっている。
尚、第一短波長レーザ光学系(10)とCO2 レーザ
光学系(30)の両光学系間の距離(L1)は約150
mm程度のものである。
ミラー部(52)、ビームスプリッター部(53)、ガ
ルバノミラー部(54)で構成され、また、ビームスプ
リッター部(53)はビームスプリッター(53a)、
ミラー(53b)からなり、ガルバノミラー部(54)
は2対のガルバノミラー(54a)、(54b)からな
る。
て短波長レーザ光(15)から2分割された他方の第二
短波長レーザ光(15B)は、第二短波長レーザ光学系
(50)のミラー部(52)のミラー(52A)を経て
下方のビームスプリッター部(53)のビームスプリッ
ター(53a)にて更に2分割され、一方の短波長レー
ザ光(55a)は下方のガルバノミラー部(54)の1
対のガルバノミラー(54a)に到る。1対のガルバノ
ミラー(54a)は多層プリント配線板(90)のX方
向及びY方向に短波長レーザ光(55a)を偏向、走査
し、偏向、走査された短波長レーザ光(55a)は孔あ
け加工を行う。
2分割された、他方の短波長レーザ光(55b)はビー
ムスプリッター部(53)のミラー(53b)を経て下
方のガルバノミラー部(54)の他の1対のガルバノミ
ラー(54b)に到る。他の1対のガルバノミラー(5
4b)は、同様に多層プリント配線板(90)のX方向
及びY方向に短波長レーザ光(55b)を偏向、走査
し、偏向、走査された短波長レーザ光(55b)は孔あ
け加工を行うが、2対のガルバノミラー(54a)、
(54b)によって、約50mm×50mmの範囲を偏
向、走査し孔あけ加工を行うようになっている。尚、C
O2 レーザ光学系(30)と第二短波長レーザ光学系
(50)の両光学系間の距離(L2)は約150mm程
度のものである。
断面においては、ガラスエポキシ(91)、その表裏面
の内層銅箔のランド部(92A)、(92B)、樹脂層
(93A)、(93B)、及び銅箔(94A)、(94
B)が示されている。X−Yステージ(70)上に載置
された多層プリント配線板(90)は、先ず、短波長レ
ーザ発振器(1)からの短波長レーザ光(15)が2分
割された第一短波長レーザ光(15A)が更に2分割さ
れた短波長レーザ光(15a)、(15b)によって、
その樹脂層(93A)上の銅箔(94A)に孔あけがさ
れる。すなわち、銅箔(94A)には銅箔の孔(95
a)、(95b)が形成され、下方の樹脂層(93A)
が露出する。銅箔の孔(95a)、(95b)は、X−
Yステージ(70)の矢印方向への移動に従い多層プリ
ント配線板(90)の左方部分から右方部分へと順次に
形成される。
形成された左方部分が、X−Yステージ(70)の矢印
方向への移動によりCO2 レーザ光学系(30)の下
方に到ると、CO2 レーザ発振器(31)からのCO
2 レーザ光(35)が2分割されたCO2 レーザ光
(35a)、(35b)によって、銅箔の孔(95
a)、(95b)が形成された銅箔(94A)をマスク
として、露出した樹脂層(93A)に孔あけがされる。
すなわち、樹脂層の孔(96a)、(96b)が形成さ
れ、下方の内層銅箔のランド部(92A)が露出する。
が形成され、下方の内層銅箔のランド部(92A)の露
出した部分が、X−Yステージ(70)の矢印方向への
移動により第二短波長レーザ光学系(50)の下方に到
ると、短波長レーザ発振器(1)からの短波長レーザ光
(15)が2分割された第二短波長レーザ光(15B)
が更に2分割された短波長レーザ光(55a)、(55
b)によって、樹脂層の孔(96a)、(96b)の底
に相当するランド部(92A)表面に残っている樹脂残
渣が完全に除去される。尚、第一短波長レーザ光(15
A)による銅箔の孔(95a)、(95b)の形成に続
く、CO2 レーザ光(35)による樹脂層の孔(96
a)、(96b)の形成、及び第二短波長レーザ光(1
5B)によるランド部(92A)表面の樹脂残渣の除去
は、X−Yステージ(70)の矢印方向への移動に従い
順次に多層プリント配線板(90)の全面にわたり並列
して行われる。
そのレーザ光の波長が9.3μm〜10.6μmのもの
が好ましい。また、短波長レーザとしては、YLF、Y
AG、エキシマなどのレーザも用いることができる。こ
れらのレーザは、波長が1321nm以下であるので、
CO2 レーザを用いての樹脂層の孔あけの際にみられ
る熱加工のような様相を避けることができる。
長レーザ光(15A)と第二短波長レーザ光(15B)
は、一基の短波長レーザ発振器(1)からの短波長レー
ザ光(15)が第一ビームスプリッター部(12)にて
分岐されたものであり、この分岐比は第一短波長レーザ
光(15A)のエネルギーと第二短波長レーザ光(15
B)のエネルギーとの比で[70:30]〜[95:
5]であることを特徴とするものである。また、本発明
においては、第二短波長レーザ光学系の第二短波長レー
ザ光の焦点を内層銅箔上に残る樹脂残渣から−1.0m
m〜+1.0mmずらすことにより、第二短波長レーザ
光のエネルギーを微調整することができるものとなる。
レーザ孔あけ加工機の生産性については、前記のよう
に、第一短波長レーザ光(15A)による銅箔の孔(9
5a)、(95b)の形成に続く、CO2 レーザ光
(35)による樹脂層の孔(96a)、(96b)の形
成、及び第二短波長レーザ光(15B)によるランド部
(92A)表面の樹脂残渣の除去は、X−Yステージ
(70)の矢印方向への移動に従い順次に多層プリント
配線板(90)の全面にわたり並列して行われるので、
レーザ孔あけ加工の生産性を阻害するものではない。
600mm×600mmとすると、各光学系間の距離
(L1、L2)は約150mmであるので、第二短波長
レーザ光(15B)による加工が付加されることによる
レーザ孔あけ加工時間の延びは約25%であり、従来法
に対比するとレーザ孔あけ加工機の生産性は大幅に改善
されたものとなる。
ザ光学系(10)、第二短波長レーザ光学系(50)の
各々に独立した短波長レーザ発振器を設けることもでき
る。各々の短波長レーザ光学系に各々の短波長レーザ発
振器を設けることにより、例えば、銅箔への孔あけに
は、銅箔加工に適した周波数領域、エネルギー密度で、
また樹脂残渣の除去には、樹脂残渣の除去に適した周波
数領域、エネルギー密度で各々の加工を効率よく行うこ
とができるものとなる。
一短波長レーザ光学系、第一短波長レーザ光学系によっ
て形成された銅箔の孔の下の樹脂層に孔を形成するCO
2 レーザ光学系、CO2 レーザ光学系によって形成
された樹脂層の孔の下の内層銅箔上に残る樹脂残渣を除
去する第二短波長レーザ光学系を具備する多層プリント
配線板用レーザ孔あけ加工機であるので、積層する上下
の配線層間の導通をとるバイア用の孔あけ加工にて、内
層銅箔のランド部の表面に樹脂残渣を残すことなく完全
に除去し、バイアの層間接続の信頼性を高めることので
きる多層プリント配線板用レーザ孔あけ加工機となる。
の第一短波長レーザ光と第二短波長レーザ光学系の第二
短波長レーザ光が、一基の短波長レーザ発振器から発振
し分岐された短波長レーザ光であるので、設備費用、設
置スペースが低減できるものとなる。
け加工機の一実施例の概念を断面で示す説明図である。
機の一例の概念を断面で示す説明図である。
プリッター 13b、23B、33b、43B、53b……ミラー 14、24、34、44、54……ガルバノミラー部 14a、14b、34a、34b、54a、54b……
1対のガルバノミラー 15A……第一短波長レーザ光 15B……第二短波長レーザ光 15、25……短波長レーザ光 20……短波長レーザ光学系 23、33、43……ビームスプリッター部 24A、24B、44A、44B……1対のガルバノミ
ラー 30、40……CO2 レーザ光学系 31、41……CO2 レーザ発振器 35、45……CO2 レーザ光 50……第二短波長レーザ光学系 52……ミラー部 53……ビームスプリッター部 60、70……X−Yステージ 80、90……多層プリント配線板 81、91……ガラスエポキシ 82A、82B、92A、92B……ランド部 83A、83B、93A、93B……樹脂層 84A、84B、94A、94B……銅箔 85A、85B、95a、95b……銅箔の孔 86A、86B、96a、96b……樹脂層の孔
Claims (4)
- 【請求項1】多層プリント配線板を製造する際に用いる
レーザ孔あけ加工機において、積層する上下の配線層間
の導通をとるバイア用の孔を形成するレーザ光学系とし
て、 1)上層の銅箔に孔を形成する第一短波長レーザ光学
系、 2)該第一短波長レーザ光学系によって形成された銅箔
の孔の下の樹脂層に孔を形成するCO2 レーザ光学
系、 3)該CO2 レーザ光学系によって形成された樹脂層
の孔の下の内層銅箔上に残る樹脂残渣を除去する第二短
波長レーザ光学系、 を少なくとも具備することを特徴とする多層プリント配
線板用レーザ孔あけ加工機。 - 【請求項2】前記第一短波長レーザ光学系の第一短波長
レーザ光と前記第二短波長レーザ光学系の第二短波長レ
ーザ光が、一基の短波長レーザ発振器から発振し分岐さ
れた短波長レーザ光であり、分岐比が第一短波長レーザ
光のエネルギーと第二短波長レーザ光のエネルギーとの
比で[70:30]〜[95:5]であることを特徴と
する請求項1記載の多層プリント配線板用レーザ孔あけ
加工機。 - 【請求項3】前記第二短波長レーザ光学系の第二短波長
レーザ光の焦点を内層銅箔上に残る樹脂残渣から−1.
0mm〜+1.0mmずらすことを特徴とする請求項
1、又は請求項2記載の多層プリント配線板用レーザ孔
あけ加工機。 - 【請求項4】前記レーザ光学系のレーザ光の波長が19
3nm〜10600nmの範囲にあることを特徴とする
請求項1、請求項2、又は請求項3記載の多層プリント
配線板用レーザ孔あけ加工機。
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