JP2002230766A

JP2002230766A - 光ディスク記録装置及びその記録方法

Info

Publication number: JP2002230766A
Application number: JP2001020097A
Authority: JP
Inventors: Hiromasa Ishiwatari; 宏昌石渡; Seiichiro Miyaki; 誠一郎宮木
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 2001-01-29
Filing date: 2001-01-29
Publication date: 2002-08-16
Also published as: US20020101805A1

Abstract

(57)【要約】【課題】データの記録時にレーザ光の強度を高い精度
で調整することができる光ディスク記録装置及びその記
録方法を提供する。【解決手段】前方サイドビームは記録中のトラック及
びその外側のトラックの未記録部分に照射されるため、
その戻り光（反射光）は記録ピットによる回折の影響を
受けていない。一方、後方サイドビームは記録中のトラ
ック及びその内側のトラックの既記録部分に照射される
ため、その戻り光は記録ピットによる回折の影響を受け
ている。この後方サイドビームの戻り光への記録ピット
による回折の影響の大きさは、記録ピットの出来具合、
即ち記録状態に強く関係している。従って、光ディスク
におけるβ値と強度比Ｆ１／Ｂ１との相関関係がデータ
の記録以前に得られていれば、β値が所定の範囲内にな
る強度比Ｆ１／Ｂ１が得られるようにレーザ光の出力を
制御すれば、最適な条件の下でデータの記録を行うこと
ができることになる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は追記型コンパクトデ
ィスク（ＣＤ−Ｒ）等へのデータの記録に使用される光
ディスク記録装置及びその記録方法に関し、特に、レー
ザ光の強度調整の高精度化を図った光ディスク記録装置
及びその記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク記録装置において、記録レー
ザ光の出力を一定としてデータの記録を行った場合、温
度の変動及び光ディスクの記録感度の変動等によって所
定の形状の記録ピットが形成されないことがある。この
ようにして記録されたデータを再生すると、波形対称性
が変動したり、振幅が変動したりするため、エラーの発
生確率が高くなってしまう。しかし、記録状態は、デー
タの記録後に再生してみなければ分からない。そこで、
例えば特開平７−２３５０５５号公報には、トラックの
所定の領域にデータを書き込む毎にそのデータを再生し
てβ値を求め、このβ値が適正な値、例えば０になるよ
うにＣＰＵ１１０がレーザパワー設定データを補正する
方法が記載されている。なお、β値は次のように定義さ
れている。

【０００３】図６（ａ）乃至（ｃ）はβ値と再生ＲＦ信
号の交流（ＡＣ）成分との関係を示す図であって、
（ａ）は記録パワーＰが最適記録パワーＰ_ｗｏより小さ
い場合のＡＣ成分を示すグラフ図、（ｂ）は記録パワー
Ｐが最適記録パワーＰ_ｗｏとほぼ一致している場合のＡ
Ｃ成分を示すグラフ図、（ｃ）は記録パワーＰが最適記
録パワーＰ_ｗｏより大きい場合のＡＣ成分を示すグラフ
図である。なお、これらのグラフ図において、極大の部
分は、記録ピットが形成されておらずスペースとなって
いる領域からの信号を読み出していることを示し、極小
の部分は、記録ピットが形成されている領域からの信号
を読み出していることを示している。そして、最も大き
い極大値をＡ１、最も小さい極小値をＡ２とすると、β
値（％）は下記数式１で表される。

【０００４】

【数１】

【０００５】図６（ｂ）に示すように、記録パワーＰが
最適記録パワーＰ_ｗｏとほぼ一致している場合には、適
正な深さの記録ピットが形成され、極大値Ａ１及び極小
値Ａ２の各絶対値が互いに一致する。このため、β値は
ほぼ０になる。一方、図６（ａ）に示すように、記録パ
ワーＰが最適記録パワーＰ_ｗｏよりも小さい場合には、
所定のものよりも浅い記録ピットが形成され、小さい記
録ピットからの反射強度が高くなるため、β値は負にな
る。また、図６（ｃ）に示すように、記録パワーＰが最
適記録パワーＰ_ｗｏよりも大きい場合には、所定のもの
よりも深い記録ピットが形成され、小さい記録ピットか
らの反射強度も低くなるため、β値は正になる。

【０００６】しかし、このような方法でレーザ光出力の
補正を行う場合には、記録及び再生を繰り返す必要があ
る。従って、データの記録のみを行う場合と比較する
と、書き込みに長い時間が必要になってしまう。

【０００７】そこで、再生を行わなくとも良好な記録状
態を確保することを目的として、記録中にレーザ光の出
力を制御する方法が採用されている。この方法は、ラン
ニング記録レーザ光強度最適化（ＲＯＰＣ：Running Op
timum Power Control）とよばれている。

【０００８】また、光ディスク記録装置では、トラッキ
ングエラーの補正のために差動プッシュプル（ＤＰＰ：
Differential Push Pull）方式が採用されている。図７
は従来の光ディスク記録装置におけるフォトディテクタ
及びＲＦアンプの一部を示す回路図である。

【０００９】ＤＰＰ方式を採用した光ディスク記録装置
では、レーザダイオードから照射されたレーザ光が、ト
ラックに記録ピットを形成するメインビーム、メインビ
ームよりも光ディスクに対する相対的な進行方向におけ
る前方に照射される前方サイドビーム及びメインビーム
よりも光ディスクに対する相対的な進行方向における後
方に照射される後方サイドビームに分割されて光ディス
クに照射される。そして、各ビームの戻り光（反射光）
がハーフミラーを介してフォトディテクタ１０６に検出
される。フォトディテクタ１０６には、メインビームの
戻り光を検出する主検出部１０６ａ、前方サイドビーム
の戻り光を検出する前方副検出部１０６ｂ及び後方サイ
ドビームの戻り光を検出する後方副検出部１０６ｃが設
けられている。主検出部１０６ａはトラックと平行に２
つの領域に分割され、これらの領域が更にトラックと垂
直に２つの領域に分割されて、全体として４つの領域ａ
乃至ｄに分割されている。また、前方副検出部１０６ｂ
はトラックと平行に２つの領域ｅ及びｆに分割され、後
方副検出部１０６ｃはトラックと平行に２つの領域ｇ及
びｈに分割されている。

【００１０】図８はメインビーム及び両サイドビームと
光ディスクのトラックとの位置関係を示す模式図であ
る。図８では、データの記録が行われた既記録部分にハ
ッチングを入れてある。光ディスク１２０へのデータの
記録は、その内側のトラックから外側のトラックに向か
って行われる。メインビームはデータの書き込みが行わ
れるトラック１６１の幅方向の中心に向けて照射され
る。そして、トラック１６１では、メインビームの光デ
ィスク１２０の回転方向後方、即ちメインビームの相対
的な進行方向前方に未記録部分１６４が存在し、メイン
ビームの光ディスク１２０の回転方向前方、即ちメイン
ビームの相対的な進行方向後方に既記録部分１６５が存
在する。また、トラック１６１の内側のトラック１６２
には既記録部分１６５のみが存在し、トラック１６１の
外側のトラック１６３には未記録部分１６４のみが存在
する。前方サイドビームは、トラック１６１とトラック
１６３との間の帯状領域の幅方向の中心に向けて照射さ
れ、トラック１６１とトラック１６２との間の帯状領域
の幅方向の中心に向けて照射される。トラックピッチは
１．６μｍ程度、トラックの幅は０．７μｍ程度、各ビ
ームの径は１μｍ強である。

【００１１】また、ＲＦアンプ１０９においては、夫々
領域ａ乃至ｈに接続されたサンプルホールド回路（Ｓ／
Ｈ）１２１乃至１２８が接続されている。Ｓ／Ｈ１２１
乃至１２８には、サンプルパルス発生回路１０８からの
サンプルパルスＳＰが入力される。また、Ｓ／Ｈ１２１
及び１２４の各出力信号の和をとる演算増幅器１３１、
Ｓ／Ｈ１２２及び１２３の各出力信号の和をとる演算増
幅器１３２、Ｓ／Ｈ１２５及び１２７の各出力信号の和
をとる演算増幅器１３３、並びにＳ／Ｈ１２６及び１２
８の各出力信号の和をとる演算増幅器１３４が設けられ
ている。更に、演算増幅器１３１及び１３２の各出力信
号の差をとる演算増幅器１４１、並びに演算増幅器１３
３及び１３４の各出力信号の差をとる演算増幅器１４２
が設けられている。演算増幅器１４２の出力端子には、
演算増幅器１４２の出力信号をＫ倍する乗算器１５１が
接続されている。また、演算増幅器１４１及び乗算器１
５１の各出力信号の差をとる演算増幅器１５２が設けら
れている。演算増幅器１５２の出力信号がトラッキング
エラー信号ＤＰＰとなる。なお、乗算器１５１は、演算
増幅器１３１、１３２及び１４１における利得と演算増
幅器１３３、１３４及び１４２における利得とが相違し
ている場合にその相違を補償するために設けられてお
り、「Ｋ」の値は利得の差に応じて設定される。

【００１２】このように構成された従来の光ディスク記
録装置においては、メインビームの照射位置がトラック
１６１の幅方向の中心からずれた場合には、トラッキン
グエラー信号ＤＰＰが０からずれ、中央演算処理装置
（図示せず）からの位置補正信号に基づいて光ピックア
ップの位置が調整される。

【００１３】そして、前述のＲＯＰＣを採用した光ディ
スク記録装置では、データの記録の際にメインビームの
戻り光の強度を検出し、この検出結果に基づいて記録レ
ーザ光の出力制御が行われる。図９はメインビームの戻
り光のレベル変動を示すタイミングチャートである。メ
インビームの戻り光の強度の検出は、トラックに記録ピ
ットを形成するための印加電圧（記録パワー）でレーザ
が光ディスクに照射されている間に主検出部１０６ａか
らの信号をサンプルホールドすることによって行われ
る。図９の戻り光のレベルの波形において、実線は最適
な記録パワーでレーザが照射されている場合を示し、破
線は最適値より大きい記録パワーでレーザが照射されて
いる場合を示し、一点鎖線は最適値より小さい記録パワ
ーでレーザが照射されている場合を示す。なお、データ
の記録時に記録ピットを形成しない領域、即ちスペース
を設ける領域には、再生のための印加電圧（再生パワ
ー）でレーザが照射される。なお、記録パワーは再生パ
ワーの１０乃至２０倍程度であり、再生パワーは一定で
ある。

【００１４】また、再生パワーでレーザダイオードから
レーザ光が出力されている期間の所定のタイミングにお
いて、サンプルパルスがＳ／Ｈ１２１乃至１２８に入力
され、フォトディテクタ１０６からの出力信号がサンプ
ルホールドされる。そして、Ｓ／Ｈ１２１乃至１２８に
保持された信号から演算増幅器１３１乃至１３４、１４
１、１４２及び１５２並びに乗算器１５１によってトラ
ッキングエラー信号ＤＰＰが生成され、このトラッキン
グエラー信号ＤＰＰに基づいて光ピックアップの位置の
補正が行われる。

【００１５】このようなＲＯＰＣは、例えば特開平１０
−４０５４８号公報及び特許第３０９６２３９号公報に
記載されている。

【００１６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ＲＯＰＣを採用した光ディスク記録装置においては、記
録パワーでのレーザ光照射によるメインビームの戻り光
のノイズ及びレベル変動等が大きく、記録レーザ光の出
力制御は十分なものとはいえないという問題点がある。

【００１７】また、フォトディテクタにはダイナミック
レンジの上限があるため、その上限を超える戻り光がフ
ォトディテクタに入力された場合には、適切に戻り光の
強度を検出することができない。

【００１８】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、データの記録時にレーザ光の強度を高い精
度で調整することができる光ディスク記録装置及びその
記録方法を提供することを目的とする。

【００１９】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
記録装置は、光ディスクにデータを記録する際にピット
を形成する部分に第１の出力でレーザ光を照射しピット
を形成しない部分に前記第１の出力よりも低い第２の出
力でレーザ光を照射する光ピックアップを有する光ディ
スク記録装置において、前記第２の出力で照射されたレ
ーザ光の前記光ディスクの記録が行われていない未記録
部分からの反射光の強度を検出する第１の検出手段と、
前記第２の出力で照射されたレーザ光の前記光ディスク
の記録が行われた既記録部分からの反射光の強度を検出
する第２の検出手段と、前記未記録部分及び既記録部分
からの両反射光の強度の比を算出する演算手段と、前記
強度の比が所定の範囲内に収まるように前記第１の出力
を調整する電圧調整手段と、を有することを特徴とす
る。

【００２０】本発明においては、第２の出力で照射され
たレーザ光の未記録部分からの反射光の強度に対する第
２の出力で照射されたレーザ光の既記録部分からの反射
光の強度の比に基づいて第１の出力が調整される。既記
録部分からの反射光の強度は、そこに形成された記録ピ
ットの深さに大きく依存するため、その強度によりその
部分に照射されたレーザ光の第１の出力が適当なもので
あったか否かが判明する。更に、通常ピットが形成され
ない部分に照射されるレーザ光の第２の出力は一定であ
り、また第２の出力で照射されたレーザ光の反射光の強
度は第１の出力によるものと比較すると低いため、ノイ
ズ等の外的要因を受けにくい。従って、両反射光の強度
の比に基づいて第１の出力を調整することにより、常に
最適な深さの記録ピットが光ディスクに形成されるよう
になり、再生時のエラーの発生確率が著しく低減され
る。

【００２１】なお、前記光ピックアップは、レーザダイ
オードと、このレーザダイオードから出力されたレーザ
光を分割してデータが記録されるトラック並びにこのト
ラックよりも外側及び内側のトラックに出力するビーム
スプリッタと、を有してもよく、前記第１及び第２の検
出手段は、夫々前記外側及び内側のトラックからの反射
光を検出することができる。

【００２２】また、前記第１及び第２の検出手段により
検出された反射光の強度に基づいて前記光ピックアップ
の位置を調整する位置調整手段を設けることにより、デ
ータが記録されるトラックに照射されるレーザ光（メイ
ンビーム）のトラッキングエラーの補正と第１の出力の
補正とを、従来使用されている回路に若干の修正を加え
るのみで実現することが可能になる。

【００２３】本発明に係る光ディスク記録装置の記録方
法は、光ディスクにデータを記録する際に光ピックアッ
プからピットを形成する部分に第１の出力でレーザ光を
照射しピットを形成しない部分に前記第１の出力よりも
低い第２の出力でレーザ光を照射する工程を有する光デ
ィスク記録装置の記録方法において、前記第２の出力で
照射されたレーザ光の前記光ディスクの記録が行われて
いない未記録部分及び記録が行われた既記録部分からの
各反射光の強度を検出する工程と、前記未記録部分及び
既記録部分からの両反射光の強度の比を算出する工程
と、前記強度の比が所定の範囲内に収まるように前記第
１の出力を調整する工程と、を有することを特徴とす
る。

【００２４】なお、前記光ディスクにレーザ光を照射す
る工程は、前記光ピックアップに設けられたレーザダイ
オードから出力されたレーザ光を分割してデータが記録
されるトラック並びにこのトラックよりも外側及び内側
のトラックに出力する工程を有することができ、前記未
記録部分及び既記録部分からの各反射光の強度を検出す
る工程は、前記外側及び内側のトラックからの反射光を
検出する工程を有することができる。

【００２５】また、前記未記録部分及び既記録部分から
の各反射光の強度に基づいて前記光ピックアップの位置
を調整する工程を有することが好ましい。

【００２６】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例に係る光デ
ィスク記録装置について、添付の図面を参照して具体的
に説明する。図１は本発明の実施例に係る光ディスク記
録装置の構造を示すブロック図、図２は図１に示す実施
例における光ピックアップ及びＲＦアンプの一部を示す
回路図である。

【００２７】本発明の実施例には、光ディスク２０に対
してレーザ光３を発光するレーザダイオード２、レーザ
光３を光ディスク２０の表面に集束させる対物レンズ
４、レーザダイオード２と対物レンズ４との間に配置さ
れたハーフミラー５、及びハーフミラー５により反射さ
れた光を電流及び電圧に順次変換するフォトディテクタ
６から構成される光ピックアップ１が設けられている。
また、光ディスク２０に記録するデータからＥＦＭ（Ei
ght to Fourteen Modulation）データを作成し、このＥ
ＦＭデータからライトストラテジー（Write Strategy）
に基づいて記録データを作成するエンコーダ７が設けら
れている。更に、記録データに基づいて再生パワー（第
２の出力）でレーザ光が発光されている期間の所定のタ
イミングでサンプルパルスＳＰを出力するサンプルパル
ス発生回路８、及びフォトディテクタ６の出力信号から
トラッキングエラー信号ＤＰＰ及びβ値を生成するＲＦ
アンプ９が設けられている。

【００２８】本実施例では、図２に示すように、ＲＦア
ンプ９に、夫々前方及び後方サイドビームの戻り光の強
度を示す強度信号Ｆ及びＢをも生成することができるよ
うに構成されている。即ち、フォトディテクタ６には、
メインビームの戻り光を検出する主検出部６ａ、前方サ
イドビームの戻り光を検出する前方副検出部（第１の検
出手段）６ｂ及び後方サイドビームの戻り光を検出する
後方副検出部（第２の検出手段）６ｃが設けられてい
る。主検出部６ａはトラックと平行に２つの領域に分割
され、これらの領域が更にトラックと垂直に２つの領域
に分割されて、全体として４つの領域ａ乃至ｄに分割さ
れている。領域ａは光ピックアップ１の光ディスク２０
に対する相対的な進行方向における前側かつ光ディスク
２０を基準としたときの外側に位置し、領域ｂは進行方
向前側かつ内側に位置し、領域ｃは進行方向後側かつ内
側に位置し、領域ｄは進行方向後側かつ外側に位置して
いる。また、前方副検出部６ｂはトラックと平行に２つ
の領域ｅ及びｆに分割され、後方副検出部６ｃはトラッ
クと平行に２つの領域ｇ及びｈに分割されている。領域
ｅ及びｇは光ディスク２０を基準としたときの内側に位
置し、領域ｆ及びｈは外側に位置している。

【００２９】また、ＲＦアンプ９においては、夫々領域
ａ乃至ｈにサンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）２１乃至２
８が接続されている。Ｓ／Ｈ２１乃至２８には、サンプ
ルパルス発生回路８からのサンプルパルスＳＰが入力さ
れる。また、Ｓ／Ｈ２１及び２４の各出力信号の和をと
る演算増幅器３１、Ｓ／Ｈ２２及び２３の各出力信号の
和をとる演算増幅器３２、Ｓ／Ｈ２５及び２７の各出力
信号の和をとる演算増幅器３３、Ｓ／Ｈ２６及び２８の
各出力信号の和をとる演算増幅器３４、Ｓ／Ｈ２５及び
２６の各出力信号の和をとる演算増幅器３５、並びにＳ
／Ｈ２７及び２８の各出力信号の和をとる演算増幅器３
６が設けられている。更に、演算増幅器３１及び３２の
各出力信号の差をとる演算増幅器４１、並びに演算増幅
器３３及び３４の各出力信号の差をとる演算増幅器４２
が設けられている。演算増幅器４２の出力端子には、演
算増幅器４２の出力信号をＫ倍する乗算器５１が接続さ
れている。また、演算増幅器４１及び乗算器５１の各出
力信号の差をとる演算増幅器５２が設けられている。演
算増幅器５２の出力信号がトラッキングエラー信号ＤＰ
Ｐとなる。なお、乗算器５１は、演算増幅器３１、３２
及び４１における利得と演算増幅器３３、３４及び４２
における利得とが相違している場合にその相違を補償す
るために設けられており、「Ｋ」の値は利得の差に応じ
て設定される。

【００３０】また、ＲＦアンプ９には、夫々演算増幅器
３５及び３６の出力信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器
５３及び５４が設けられている。Ａ／Ｄ変換器５３及び
５４の出力信号が、夫々強度信号Ｆ及びＢとなる。な
お、ＲＦアンプ９には、β値を求める回路（図示せず）
も設けられている。

【００３１】また、本実施例に係る光ディスク記録装置
には、ＲＦアンプ９から出力された強度信号Ｆ及びＢ、
トラッキングエラー信号ＤＰＰ、及びβ値が入力される
中央処理装置（ＣＰＵ）（演算手段及び電圧調整手段）
１０、このＣＰＵ１０との間で信号の授受を行うランダ
ムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１１並びにＣＰＵ１０が実
行するプログラム等が格納されたリードオンリーメモリ
（ＲＯＭ）１２を備えたシステムコントロール部１３が
設けられている。ＣＰＵ１０には、ＣＰＵ１０により強
度信号Ｆ及びＢ又はβ値に基づいて設定されたレーザパ
ワー設定データが入力されるＤ／Ａ変換器１４、並びに
ＣＰＵ１０によりトラッキングエラー信号ＤＰＰに基づ
いて設定された位置補正信号が入力されるサーボ回路
（位置調整手段）１５が接続されている。サーボ回路１
５により位置補正信号に基づいてメインビームが所定の
トラックに照射されるように光ピックアップ１の位置が
機械的に調整される。また、Ｄ／Ａ変換器１４から出力
されるアナログ信号がレーザパワー設定電圧として入力
されるレーザ駆動回路１６が設けられている。レーザ駆
動回路１６には、エンコーダ７からの記録データも入力
され、レーザ駆動回路１６から、記録データに基づいて
レーザパワー設定電圧がレーザダイオード２に供給され
る。

【００３２】次に、上述のように構成された本実施例に
係る光ディスク記録装置の動作について説明する。以
下、強度信号Ｆにより表される前方サイドビームの反射
光の強度をＦ１とし、強度信号Ｂにより表される後方サ
イドビームの反射光の強度をＢ１とする。

【００３３】図３はβ値とＦ１／Ｂ１との関係を示すグ
ラフ図である。本願発明者は、トラッキングエラーの補
正に使用されている両サイドビームのうち、前方サイド
ビームが「未記録部分」のみに照射される一方で、後方
サイドビームが「既記録部分」のみに照射されることに
着目して、β値とサイドビームの強度比Ｆ１／Ｂ１との
間に関係があることを見出した。即ち、前方サイドビー
ムは記録中のトラック及びその外側のトラックの「未記
録部分」に照射されるため、その戻り光（反射光）は記
録ピットによる回折の影響を受けていない。一方、後方
サイドビームは記録中のトラック及びその内側のトラッ
クの「既記録部分」に照射されるため、その戻り光は記
録ピットによる回折の影響を受けている。この後方サイ
ドビームの戻り光への記録ピットによる回折の影響の大
きさは、記録ピットの出来具合、即ち記録状態に強く関
係している。例えば、記録パワー（第１の出力）が不足
して浅い記録ピットが形成されている場合には、回折の
影響が小さくなり、記録パワーが過大で深い記録ピット
が形成されている場合には、回折の影響が大きくなる。
従って、光ディスクにおけるβ値と強度比Ｆ１／Ｂ１と
の相関関係がデータの記録以前に得られていれば、β値
が所定の範囲内、例えば±５％以内、好ましくは０％に
なる強度比Ｆ１／Ｂ１が得られるようにレーザ光の出力
を制御すれば、最適な条件の下でデータの記録を行うこ
とができることになる。例えば、図８に示すような相関
関係が予め得られている場合には、常に強度比Ｆ１／Ｂ
１が約１．０６になるようにレーザ光の出力を制御すれ
ばよい。

【００３４】図４は本発明の実施例に係る光ディスク記
録装置の動作を示すフローチャートである。先ず、デー
タが記録される光ディスク２０におけるβ値と強度比Ｆ
１／Ｂ１との相関関係を求め（ステップＳ１）、例えば
ＲＡＭ１１に格納しておく。この工程では、例えば記録
レーザ光強度最適化（ＯＰＣ）により、その光ディスク
のパワー較正領域（ＰＣＡ：Power Calibration Area）
に、前方及び後方サイドビームの戻り光の強度を検出し
ながら、所定のデータを記録し、そのデータを再生して
β値を求めることによって行うことができる。また、光
ディスクのβ値と強度比Ｆ１／Ｂ１との相関関係は、製
造メーカ又はメディア種別内でほぼ一定となっているの
で、それを予め求めておいてメモリ等に格納しておいて
もよい。

【００３５】次いで、光ディスク２０へのデータの記録
を開始する（ステップＳ２）。図５は本発明の実施例に
係る光ディスク記録装置におけるＥＦＭデータ、記録デ
ータ及びサンプルパルス間の関係を示すタイミングチャ
ートである。本実施例においては、入力されたデータが
エンコーダ７によって、図５に示すようなＥＦＭデータ
にコード化され、更にライトストラテジーに基づいて記
録データが作成される。レーザ駆動回路１６は、レーザ
パワー設定電圧に基づき、記録データが「ハイ」のとき
には記録パワーをレーザダイオード２に供給し、記録デ
ータが「ロウ」のときには再生パワーを供給する。

【００３６】レーザダイオード２は、レーザ駆動回路１
６から供給された電圧によってレーザ光３を発光する。
レーザ光３はハーフミラー５を透過し対物レンズ４によ
り光ディスク２０の表面に収束する。これにより、記録
データが「ハイ」のときにトラックに記録ピットが形成
される。なお、レーザ光３は、ビームスプリッタ（図示
せず）により、メインビーム、前方サイドビーム及び後
方サイドビームに分割されて収束する。光ディスク２０
からの各反射光（戻り光）は、ハーフミラー５によって
反射されフォトディテクタ６に入力される。そして、メ
インビームの戻り光の強度が主検出部６ａにより検出さ
れ、前方サイドビームの戻り光の強度が前方副検出部６
ｂにより検出され、後方サイドビームの戻り光の強度が
後方副検出部６ｃにより検出される。

【００３７】その後、サンプルパルス発生回路８は、エ
ンコーダ７からの記録データが「ロウ」になっている期
間、即ち再生パワーでレーザダイオード２からレーザ光
が出力されている期間の所定のタイミングにおいて、図
５に示すように、サンプルパルスＳＰをＲＦアンプ９に
出力する。これにより、ＲＦアンプ９では、Ｓ／Ｈ２１
乃至２８がフォトディテクタ６からの出力信号をサンプ
ルホールドする（ステップＳ３）。

【００３８】そして、Ｓ／Ｈ２５乃至２８に保持された
信号から演算増幅器３５及び３６並びにＡ／Ｄ変換器５
３及び５４によって強度信号Ｆ及びＢが生成される（ス
テップＳ４）。

【００３９】その後、強度信号Ｆ及びＢはＣＰＵ１０に
入力され、ＣＰＵ１０はＲＡＭ１１及びＲＯＭ１２等を
使用して強度信号Ｆ及びＢから強度比Ｆ１／Ｂ１を算出
する（ステップＳ５）。

【００４０】ＣＰＵ１０は、更に得られた強度比Ｆ１／
Ｂ１を予め求められているβ値と強度比Ｆ１／Ｂ１との
相関関係と照合し、好ましいβ値、例えば−５乃至５
（％）、より好ましくは０％、が得られるようにレーザ
パワー設定データを変更する（ステップＳ６）。

【００４１】レーザパワー設定データが変更されると、
Ｄ／Ａ変換器１４は変換後のデータをアナログ信号に変
換しレーザパワー設定電圧としてレーザ駆動回路１６に
出力する（ステップＳ７）。

【００４２】この結果、レーザ駆動回路１６からレーザ
ダイオード２に供給される記録パワーが変更される（ス
テップＳ８）。その後、全てのデータが記録されるま
で、検出信号のサンプルホールド（ステップＳ３）から
記録パワーの変更（ステップＳ８）までの工程が繰り返
される。

【００４３】また、記録レーザ光の調整が行われる一方
で、再生パワーによる照射が行われている期間でＳ／Ｈ
２１乃至２８に保持された信号から演算増幅器３１乃至
３４、４１、４２及び５２並びに乗算器５１によってト
ラッキングエラー信号ＤＰＰが生成される。そして、Ｃ
ＰＵ１０がこのトラッキングエラー信号ＤＰＰに基づい
て位置補正信号をサーボ回路１５に出力し、サーボ回路
１５が光ピックアップ１の位置を補正する。

【００４４】このような本実施例によれば、常に「未記
録部分」及び「既記録部分」からの戻り光を検出しなが
ら、記録パワーを調整すること（ＲＯＰＣ）が可能であ
る。この際、戻り光の検出は再生パワーでの前方及び後
方サイドビームに対して行われるので、記録パワーでの
照射によるメインビームの戻り光のようなノイズ等の記
録状態以外の要因の影響を受けにくい。従って、極めて
精度が高い記録状態の検出が可能であるため、温度変動
等が生じた場合であっても、常に最適な状態で光ディス
ク２０にデータを記録することができる。

【００４５】また、図２に示すように、トラッキングエ
ラーの補正のために設けられているＳ／Ｈ２１乃至２８
を使用し若干の回路を追加するだけでよいので、コスト
の上昇を極めて小さなものにすることができる。

【００４６】更に、フォトディテクタ６に検出される光
は、記録パワーと比較すると強度が低い再生パワーでの
照射時の戻り光なので、そのダイナミックレンジを超え
るようなことはほとんど起こり得ない。

【００４７】なお、上述の実施例は光ディスク記録装置
であるが、再生機能を備えた光ディスク記録再生装置に
本発明を適用することも勿論可能である。

【００４８】また、上述の実施例では、Ｓ／Ｈ２１乃至
２８によって再生パワーでの照射時の戻り光の強度を示
す信号が保持されているが、特開平１０−４０５４８号
公報及び特許第３０９６２３９号公報に記載されている
ようなローパスフィルタをＳ／Ｈ２１乃至２８の替わり
に設けてもよい。

【００４９】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
既記録部分からの反射光の強度は、そこに形成されてい
る記録ピットの深さに大きく依存するため、その強度に
よりその部分に照射されたレーザ光の第１の出力が適当
なものであったか否か、即ち第１の出力を上げるか又は
下げる必要があるか否かを判明することができる。更
に、第２の出力で照射されたレーザ光の反射光の強度は
ノイズ等の外的要因を受けにくい。従って、両反射光の
強度の比に基づいて第１の出力を調整することにより、
常に最適な深さの記録ピットを光ディスクに形成するこ
とができる。

【００５０】また、第１及び第２の検出手段により検出
された反射光の強度に基づいて光ピックアップの位置を
調整する場合には、データが記録されるトラックに照射
されるレーザ光（メインビーム）のトラッキングエラー
の補正と第１の出力の補正とを、従来使用されているＤ
ＰＰ用の回路に若干の修正を加えるのみで実現すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例に係る光ディスク記録装置の構
造を示すブロック図である。

【図２】図１に示す実施例における光ピックアップ及び
ＲＦアンプの一部を示す回路図である。

【図３】β値とＦ１／Ｂ１との関係を示すグラフ図であ
る。

【図４】本発明の実施例に係る光ディスク記録装置の動
作を示すフローチャートである。

【図５】本発明の実施例に係る光ディスク記録装置にお
けるＥＦＭデータ、記録データ及びサンプルパルス間の
関係を示すタイミングチャートである。

【図６】（ａ）乃至（ｃ）はβ値と再生ＲＦ信号のＡＣ
成分との関係を示す図であって、（ａ）は記録パワーＰ
が最適記録パワーＰ_ｗｏより小さい場合のＡＣ成分を示
すグラフ図、（ｂ）は記録パワーＰが最適記録パワーＰ
_ｗｏとほぼ一致している場合のＡＣ成分を示すグラフ
図、（ｃ）は記録パワーＰが最適記録パワーＰ_ｗｏより
大きい場合のＡＣ成分を示すグラフ図である。

【図７】従来の光ディスク記録装置におけるフォトディ
テクタ及びＲＦアンプの一部を示す回路図である。

【図８】メインビーム及び両サイドビームと光ディスク
のトラックとの位置関係を示す模式図である。

【図９】メインビームの戻り光のレベル変動を示すタイ
ミングチャートである。

【符号の説明】

１；光ピックアップ２；レーザダイオード３；レーザ光４；対物レンズ５；ハーフミラー６；フォトディテクタ６ａ；主検出部６ｂ；前方副検出部６ｃ；後方副検出部７；エンコーダ８；サンプルパルス発生回路９；ＲＦアンプ１０；ＣＰＵ１１；ＲＡＭ１２；ＲＯＭ１３；システムコントロール部１４；Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）変換器１５；サーボ回路１６；レーザ駆動回路２１〜２８；サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）３１〜３６、４１、４２、５２；演算増幅器５１；乗算器５３、５４；Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続きＦターム(参考） 5D090 AA01 BB03 BB04 CC01 CC05 DD03 DD05 EE02 FF02 KK03 LL04 5D118 AA03 BA01 BB02 BB03 CA13 CA23 CA26 CC12 CD03 CF03 CF05 CF16 CG04 CG14 CG33 CG44 5D119 AA23 BA01 BB02 BB03 DA01 EA02 EB14 EC41 FA02 FA05 HA05 HA17 HA31 HA45

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクにデータを記録する際にピッ
トを形成する部分に第１の出力でレーザ光を照射しピッ
トを形成しない部分に前記第１の出力よりも低い第２の
出力でレーザ光を照射する光ピックアップを有する光デ
ィスク記録装置において、前記第２の出力で照射された
レーザ光の前記光ディスクの記録が行われていない未記
録部分からの反射光の強度を検出する第１の検出手段
と、前記第２の出力で照射されたレーザ光の前記光ディ
スクの記録が行われた既記録部分からの反射光の強度を
検出する第２の検出手段と、前記未記録部分及び既記録
部分からの両反射光の強度の比を算出する演算手段と、
前記強度の比が所定の範囲内に収まるように前記第１の
出力を調整する電圧調整手段と、を有することを特徴と
する光ディスク記録装置。
【請求項２】前記光ピックアップは、レーザダイオー
ドと、このレーザダイオードから出力されたレーザ光を
分割してデータが記録されるトラック並びにこのトラッ
クよりも外側及び内側のトラックに出力するビームスプ
リッタと、を有し、前記第１及び第２の検出手段は、夫
々前記外側及び内側のトラックからの反射光を検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装
置。
【請求項３】前記第１及び第２の検出手段により検出
された反射光の強度に基づいて前記光ピックアップの位
置を調整する位置調整手段を有することを特徴とする請
求項１又は２に記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】光ディスクにデータを記録する際に光ピ
ックアップからピットを形成する部分に第１の出力でレ
ーザ光を照射しピットを形成しない部分に前記第１の出
力よりも低い第２の出力でレーザ光を照射する工程を有
する光ディスク記録装置の記録方法において、前記第２
の出力で照射されたレーザ光の前記光ディスクの記録が
行われていない未記録部分及び記録が行われた既記録部
分からの各反射光の強度を検出する工程と、前記未記録
部分及び既記録部分からの両反射光の強度の比を算出す
る工程と、前記強度の比が所定の範囲内に収まるように
前記第１の出力を調整する工程と、を有することを特徴
とする光ディスク記録装置の記録方法。
【請求項５】前記光ディスクにレーザ光を照射する工
程は、前記光ピックアップに設けられたレーザダイオー
ドから出力されたレーザ光を分割してデータが記録され
るトラック並びにこのトラックよりも外側及び内側のト
ラックに出力する工程を有し、前記未記録部分及び既記
録部分からの各反射光の強度を検出する工程は、前記外
側及び内側のトラックからの反射光を検出する工程を有
することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録
装置の記録方法。
【請求項６】前記未記録部分及び既記録部分からの各
反射光の強度に基づいて前記光ピックアップの位置を調
整する工程を有することを特徴とする請求項４又は５に
記載の光ディスク記録装置の記録方法。