JP2003317274A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクからの反射光が変化した時に、適
切なサブサーボエラーゲイン値ｋを設定して、メインサ
ーボエラー信号及びサブサーボエラー信号の振幅差を無
くすことにより、サーボエラー信号にオフセットが生じ
ず、サーボの追従性向上を実現できる光ディスク装置を
提供することを目的とする。 【解決手段】 光ディスクからの反射光量の変化によっ
て生じるＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号のレベル差を予め反
射光測定手段６を用いて測定し、そのレベル差を用いて
ＳＰＰゲイン値演算手段７で求めた適切なＳＰＰゲイン
値を記憶手段８に記憶する。そして、その後の動作中に
生じる反射光量の変化に応じて、ＳＰＰゲイン可変手段
５に適切なＳＰＰゲイン値を設定するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤ−Ｒ／ＲＷド
ライブに代表される記録型光ディスク装置に関するもの
であり、特にサブビームを用いてトラッキングサーボ制
御やフォーカスサーボ制御等のサーボ制御を行う光ディ
スク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＣＤ等の光ディスクの記録再生装
置は、光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光を用
いてサーボエラー信号を生成する。そして、そのサーボ
エラー信号を用いて、スポットを光ディスクのトラック
に追従させるトラッキングサーボ制御や、レンズを合焦
点位置に保つためのフォーカスサーボ制御などのサーボ
制御を行いながら、記録再生を行っていた。

【０００３】トラッキングサーボ制御のためのサーボエ
ラー信号生成方式としては、差動プッシュプル方式（特
開平７−９３７６４）が知られている。この方式を用い
る場合、光ディスク装置は、複数のビーム（メインビー
ムとサブビーム）を光ディスクに照射し、メインビー
ム、サブビームの各々の反射光からプッシュプル信号を
検出して、それらの差動をとることによりトラッキング
エラー信号（ＴＥ信号）を生成していた。

【０００４】また、フォーカスサーボ制御のためのサー
ボエラー信号生成方式としては、差動非点収差方式（特
開平４−１６８６３１）が知られている。この方式に用
いる場合、光ディスク装置は、複数のビーム（メインビ
ームとサブビーム）を光ディスクに照射し、メインビー
ム、サブビームの各々の反射光からフォーカスエラー信
号を検出して、それらの差動をとり最終的なフォーカス
エラー信号（ＦＥ信号）を生成していた。

【０００５】以下、図３０を用いて、差動プッシュプル
方式によるＴＥ信号の生成方法及び差動非点収差方式に
よるＦＥ信号の生成方法を説明する。図３０は、差動プ
ッシュプル方式および差動非点収差方式を実現する光デ
ィスク装置の受光部の一例を示す図である。図３０にお
いて、４分割ディテクタ３１はメインビームの反射光を
受光する受光部、２分割ディテクタ３２ａ，３２ｂはサ
ブビームの反射光を受光する受光部であり、入力した反
射光を電気信号に変換して出力する。なお、ここでは、
光ディスクに照射する光ビームを３ビーム（メインビー
ムを１つと、サブビームを２つ）とし、光ディスク上で
一対のサブビームをメインスポットに対して互いに光デ
ィスクの半径方向にずらして配置して、ＴＥ信号、およ
びＦＥ信号を生成する従来例について説明する。

【０００６】差動プッシュプル方式を用いる場合、光デ
ィスク装置は、４分割フォトディテクタ３１の受光素子
Ａ〜Ｄから得られる検出信号Ａ〜Ｄを用いて、式（１）
により、 ＭＰＰ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）・・・・・（１） メインサーボエラー信号であるメインプッシュプル信号
（ＭＰＰ信号）を生成し、２分割フォトディテクタ３２
ａ，３２ｂの受光素子Ｅ〜Ｈから得られる検出信号Ｅ〜
Ｈを用いて、式（２）により、 ＳＰＰ＝（Ｅ＋Ｈ）−（Ｆ＋Ｇ）・・・・・（２） サブサーボエラー信号であるサブプッシュプル信号（Ｓ
ＰＰ信号）を生成する。そして、可変ゲインアンプ（図
示せず）でＳＰＰ信号を所定（ｋ）倍に増幅し、ＭＰＰ
信号からｋ倍したＳＰＰ信号を減算することにより、Ｔ
Ｅ信号を生成する。すなわち、ＴＥ信号は、式（３）に
より求める。 ＴＥ＝ＭＰＰ−ｋ×ＳＰＰ・・・・・（３） 以上のように、サブビームの反射光からＳＰＰ信号を求
め、ＭＰＰ信号及びＳＰＰ信号を用いて、所定の演算を
行い、ＴＥ信号を検出することで、ＴＥ信号に生じるオ
フセットを低減できる。

【０００７】また、差動非点収差方式を用いる場合、光
ディスク装置は、４分割フォトディテクタ３１の受光素
子Ａ〜Ｄから得られる検出信号Ａ〜Ｄを用いて、式
（４）により、 ＭＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）・・・・・（４） メインサーボエラー信号であるメインフォーカスエラー
信号（ＭＦＥ信号）を生成し、２分割フォトディテクタ
３２ａ，３２ｂの受光素子Ｅ〜Ｈから得られる検出信号
Ｅ〜Ｈを用いて、式（５）により、 ＳＦＥ＝（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）・・・・・（５） サブサーボエラー信号であるサブフォーカスエラー信号
（ＳＦＥ信号）を生成する。そして、ＳＦＥ信号を適当
なゲインをもつ増幅器（図示せず）で所定（ｋ）倍し、
ＭＦＥ信号からｋ倍したＳＦＥ信号を減算することによ
りＦＥ信号を得る。すなわち、ＦＥ信号は、式（６）に
より求める。 ＦＥ＝ＭＦＥ−ｋ×ＳＦＥ・・・・・（６） この方式によれば、サブビームの反射光から得られるＳ
ＦＥ信号によりＭＦＥ信号のクロスノイズ成分を補正す
ることができ、レンズがトラックを横切る時に発生する
ＦＥ信号の外乱を低減できる。なお、式（５），（６）
において、サブサーボエラー信号のゲイン値（サブサー
ボエラーゲイン値）ｋは、反射光量が異なるメインビー
ムの反射光とサブビームの反射光の光量差を補正する倍
率を示し、ｋの値はレンズシフトに対してＴＥ信号また
はＦＥ信号のオフセットが最小となる値が選択される。
なお、レンズシフトとは対物レンズがピックアップ内で
中心からずれ、対物レンズと受光素子の位置関係がずれ
る状態のことを指す。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】以下、差動プッシュプ
ル方式や差動非点収差方式を用いる従来の光ディスク装
置の問題点について述べる。従来の光ディスク装置で
は、記録動作時には、再生レベルのレーザ光を出射した
時に得られる光ディスクからの反射光をサンプルホール
ドして、トラッキングサーボ制御及びフォーカスサーボ
制御を行っていた。以下、その記録動作時のサンプルホ
ールドについて、図３１を用いて説明する。図３１にお
いて、（ａ）はレーザ光の出射パルスを示し、（ｂ）は
光ディスクからの反射光レベルを示し、（ｃ）はサンプ
ルホールドのタイミングを示し、（ｄ）はサンプルホー
ルド後の反射光レベルを示している。図３１に示すよう
に、再生動作時では、レーザ光のパワーは一定であり、
光ディスクからの反射光レベルも変化しない。よって、
再生動作時には、反射光を常に取り込んで、ＦＥ信号、
ＴＥ信号等のサーボエラー信号を生成する。しかし、記
録動作時において、レーザ光が記録パワーになった直後
では、そのままレーザ光が反射するため反射光レベルは
高くなるが、時間の経過とともに、光ディスク上に、ピ
ット、すなわち記録マークが形成されると、反射光レベ
ルは低下する。このことから、記録動作時に、再生動作
時のように、反射光を常に取り込むと反射光の変化に応
じてサーボゲインが変化する。よって、従来の光ディス
ク装置では、記録動作中には再生レベルのレーザ光を出
射中にのみ、その反射光を取り込み（サンプリング）、
記録レベルのレーザ光を出射中には再生レベルを保持
（ホールド）して、サーボ動作を行っていた。

【０００９】しかしながら、メインビームについては上
述のように記録動作時においてその反射光量は下がる
が、サブビームはピットを形成しないため、出射光量に
応じた反射光量を得る。そのため、再生動作時と記録動
作時でメインビームの反射光とサブビームの反射光との
光量比が変化し、再生動作時に最適であったｋの値が、
記録動作時には最適な値ではなくなる。よって、差動プ
ッシュプル方式のように、サブビームを用いてＴＥ信号
を生成してトラッキングサーボ制御を行う方式では、レ
ンズシフトが発生すると、ＴＥ信号にオフセットが発生
し、トラッキングサーボの追従性が低下するという問題
が生じる。

【００１０】また、ＣＤ−Ｒ等の記録型の光ディスクを
再生する光ディスク装置においては、再生する光ディス
クに記録済み領域と未記録領域とが存在することがあ
る。この光ディスクに対して記録再生処理を行う場合、
記録済み領域ではピットの影響でメインビームの反射光
量が下がるため、上記記録動作時で発生する問題と同様
に、未記録領域で最適であったｋの値が記録済み領域で
は最適で無くなる。よって、レンズシフトが発生したと
きにＴＥ信号にオフセットが発生し、トラッキングサー
ボの追従性が低下するという問題が生じる。

【００１１】また、従来の光ディスク装置においては、
差動非点収差方式のようにサブビームを用いてＦＥ信号
を生成し、フォーカスサーボ制御を行う場合も、上述の
トラッキングサーボ制御と同様にＦＥ信号にオフセット
が発生し、フォーカスサーボの追従性が低下するという
問題が発生する。

【００１２】よって本発明では、光ディスクからの反射
光が変化したときに、適切なサブサーボエラーゲイン値
ｋを設定して、メインサーボエラー信号、及びサブサー
ボエラー信号の振幅差を無くすことにより、サーボエラ
ー信号にオフセットが生じないようにし、サーボ制御の
追従性の向上を実現できる光ディスク装置を提供するこ
とを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項１にかかる光ディスク装置は、光デ
ィスクに対してメインビームとサブビームからなるレー
ザ光を出射し、前記光ディスクからの反射光として、目
的トラックからの反射光であるメインビームの反射光
と、前記目的トラックからトラック方向にずれた位置か
らの反射光であるサブビームの反射光を受光するピック
アップ部と、前記メインビームからメインサーボエラー
信号を生成するメインサーボエラー信号生成手段と、前
記サブビームからサブサーボエラー信号を生成するサブ
サーボエラー信号生成手段と、前記サブサーボエラー信
号のゲインを、サブサーボエラーゲイン値を用いて可変
するサブサーボエラーゲイン可変手段と、前記サブサー
ボエラーゲイン値を演算するゲイン値演算手段と、前記
光ディスクからの反射光を測定する反射光測定手段と、
前記サブサーボエラーゲイン値を記憶する記憶手段と、
前記メインサーボエラー信号と前記サブサーボエラーゲ
イン可変手段でゲインを可変したサブサーボエラー信号
とからサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生
成手段と、前記各構成要素を制御する制御手段と、を備
える光ディスク装置において、前記記憶手段は、前記第
１のサブサーボエラーゲイン値と前記第２のサブサーボ
エラーゲイン値とを保持し、前記制御手段は、前記光デ
ィスクからの反射光が変化する、第１の動作から第２の
動作への移行時、または第２の動作から第１の動作への
移行時に前記第１のサブサーボエラーゲイン値と、前記
第２のサブサーボエラーゲイン値とを切り換えて前記サ
ブサーボエラーゲイン可変手段に設定することを特徴と
する。

【００１４】また、本発明の請求項２にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記サーボエラー信号はフォーカスエラー信号であるこ
とを特徴とする。

【００１５】また、本発明の請求項３にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記サーボエラー信号はトラッキングエラー信号である
ことを特徴とする。

【００１６】また、本発明の請求項４にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記サーボエラー信号はレンズポジションエラー信号で
あることを特徴とする。

【００１７】また、本発明の請求項５にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記第１の動作は再生動作であり、前記第２の動作は記
録動作であることを特徴とする。

【００１８】また、本発明の請求項６にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記第１の動作は、前記光ディスク上の記録済み領域に
対する再生動作であり、前記第２の動作は前記光ディス
ク上の未記録領域に対する再生動作であることを特徴と
する。

【００１９】また、本発明の請求項７にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記サブサーボエラーゲイン可変手段に設定されるサブ
サーボエラーゲイン値の初期値は、前記メインサーボエ
ラー信号の振幅と、前記サブサーボエラー信号の振幅と
が等しくなる値であることを特徴とする。

【００２０】また、本発明の請求項８にかかる光ディス
ク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
メインビームの総和信号レベルを測定することを特徴と
する。

【００２１】また、本発明の請求項９にかかる光ディス
ク装置は、請求項５に記載の光ディスク装置において、
前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
メインビームの総和信号レベルを測定し、前記ゲイン値
演算手段は、前記第２の動作時に設定されるサブサーボ
エラーゲイン値を、前記第１の動作時の出射パワーに対
する前記第２の動作時の出射パワーの変化率と、前記第
１の動作時のメインビームの総和信号レベルに対する前
記第２の動作時のメインビームの総和信号レベルの変化
率との比に、前記第１の動作時に設定されていたサブサ
ーボエラーゲイン値を積算して求めることを特徴とす
る。

【００２２】また、本発明の請求項１０にかかる光ディ
スク装置は、請求項６に記載の光ディスク装置におい
て、前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光
からメインビームの総和信号レベルを測定し、前記ゲイ
ン値演算手段は、前記第２の動作時に設定されるサブサ
ーボエラーゲイン値を、前記第１の動作時のメインビー
ムの総和信号レベルに対する前記第２の動作時のメイン
ビーム総和信号レベルの変化率に、前記第１の動作時に
設定されていたサブサーボエラーゲイン値を積算して求
めることを特徴とする。

【００２３】また、本発明の請求項１１にかかる光ディ
スク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光
からメインビームの総和信号レベルを、前記サブビーム
の反射光からサブビームの総和信号レベルを求めること
を特徴とする。

【００２４】また、本発明の請求項１２にかかる光ディ
スク装置は、請求項１１に記載の光ディスク装置におい
て、前記ゲイン値演算手段は、反射光変化時に設定され
るサブサーボエラーゲイン値を、反射光変化前のメイン
ビームの総和信号レベルに対する反射光変化後のメイン
ビームの総和信号レベルの変化率と、反射光変化前のサ
ブビームの総和信号レベルに対する反射光変化後のサブ
ビームの総和信号レベルの変化率との比に、反射光変化
前に設定されていたサブサーボエラーゲイン値を積算し
て求めることを特徴とする。

【００２５】また、本発明の請求項１３にかかる光ディ
スク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、前記記憶手段は、前記サブサーボエラーゲイン値と
前記制御手段が前記光ディスクから読み出す光ディスク
の種類に関する光ディスク種類情報とを記憶し、前記制
御手段は、前記光ディスクの種類に応じたサブサーボゲ
イン値が前記記憶手段に記憶されている場合、その光デ
ィスクの種類に応じたサブサーボエラーゲイン値を前記
サブサーボゲイン可変手段に設定することを特徴とす
る。

【００２６】また、本発明の請求項１４にかかる光ディ
スク装置は、請求項１３に記載の光ディスク装置におい
て、前記光ディスク種類情報には光ディスクメーカの種
類に関する情報も含まれることを特徴とする。

【００２７】また、本発明の請求項１５にかかる光ディ
スク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、前記記憶手段は、前記サブサーボエラーゲイン値と
前記制御手段が測定した光ディスクの回転速度に関する
情報とを記憶し、前記制御手段は、前記光ディスクの回
転速度に対応するサブサーボエラーゲイン値が前記記憶
手段に記憶されている場合、回転速度に対応するサブサ
ーボエラーゲイン値を前記サブサーボゲイン可変手段に
設定することを特徴とする。

【００２８】また、本発明の請求項１６にかかる光ディ
スク装置は、請求項５に記載の光ディスク装置におい
て、前記記憶手段は、前記サブサーボゲイン値と記録動
作時のレーザ光の出射パワー値とを記憶し、前記制御手
段は、記録動作時に、レーザ光の出射パワーに対応した
サブサーボエラーゲイン値が前記記憶手段に記憶されて
いる場合、その出射パワーに対応するサブサーボエラー
ゲイン値を前記サブサーボゲイン可変手段に設定するこ
とを特徴とする。

【００２９】また、本発明の請求項１７にかかる光ディ
スク装置は、請求項５に記載の光ディスク装置におい
て、最適記録パワー取得動作時に、レーザ光の出射パワ
ー毎のサブサーボゲイン値を演算して、前記記憶手段に
記憶することを特徴とする。

【００３０】また、本発明の請求項１８にかかる光ディ
スク装置は、請求項１７に記載の光ディスク装置におい
て、前記最適記録パワー取得動作は、レンズオフセット
量が所定値以下になった場合に開始することを特徴とす
る。

【００３１】また、本発明の請求項１９にかかる光ディ
スク装置は、請求項１８に記載の光ディスク装置におい
て、前記メインサーボエラー信号と前記サブサーボエラ
ー信号とからレンズポジションエラー信号を生成するレ
ンズポジションエラー信号生成手段を備え、前記制御手
段は、前記レンズポジションエラー信号からレンズオフ
セット量を求めることを特徴とする。

【００３２】また、本発明の請求項２０にかかる光ディ
スク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、前記制御手段は、前記光ディスクからの反射光が所
定値以上変化した場合に、前記第１の動作と前記第２の
動作との状態遷移が発生したと判定することを特徴とす
る。

【００３３】また、本発明の請求項２１にかかる光ディ
スク装置は、請求項２０に記載の光ディスク装置におい
て、前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光
からメインビームの総和信号レベルを求め、前記制御手
段は、前記メインビームの総和信号レベルから前記反射
光が所定値以上変化したかどうかを判断することを特徴
とする。

【００３４】また、本発明の請求項２２にかかる光ディ
スク装置は、請求項２０に記載の光ディスク装置におい
て、前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光
からＲＦ信号を求め、前記制御手段は、前記ＲＦ信号か
ら前記反射光が所定値以上変化したかどうかを判断する
ことを特徴とする。

【００３５】また、本発明の請求項２３にかかる光ディ
スク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、前記サーボエラー信号のゲインを、サーボエラーゲ
イン値を用いて可変するサーボエラーゲイン可変手段を
備えることを特徴とする。

【００３６】また、本発明の請求項２４にかかる光ディ
スク装置は、請求項２３に記載の光ディスク装置におい
て、前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光
からメインビームの総和信号を求め、前記記憶手段は、
第１のサーボエラーゲイン値と第２のサーボエラーゲイ
ン値とを保持し、前記制御手段は、前記反射光が変化す
る際に、前記第１のサーボエラーゲイン値と前記第２の
サーボエラーゲイン値とを切り換えて前記サーボエラー
ゲイン可変手段に設定し、前記ゲイン値演算手段は、反
射光変化時に設定されるサーボエラーゲイン値を、反射
光変化前のメインビームの総和信号レベルに対する反射
光変化後のメインビームの総和信号レベルの比に、反射
光変化前に設定されていたサーボエラーゲイン値を積算
して求めることを特徴とする。

【００３７】また、本発明の請求項２５にかかる光ディ
スク装置は、請求項２３または請求項２４に記載の光デ
ィスク装置において、前記サーボエラー信号のオフセッ
ト値を測定するサーボエラーオフセット測定手段と、前
記オフセット値に基づいてオフセット補正値を生成し、
前記サーボエラー信号のオフセットを補正するサーボエ
ラーオフセット補正手段と、を備え、前記制御手段は、
前記サーボエラーゲイン可変手段に前記サーボエラーゲ
イン値を設定する際に、前記サーボエラーゲイン値によ
って決定されるサーボエラー信号のオフセット値を前記
サーボエラーオフセット補正手段に設定することを特徴
とする。

【００３８】また、本発明の請求項２６にかかる光ディ
スク装置は、請求項２５に記載の光ディスク装置におい
て、前記サーボエラーオフセット測定手段は所定のサー
ボエラーゲイン値に対応したサーボエラーオフセット値
を測定し、前記記憶手段は、前記サーボエラーゲイン値
とそれに対応するオフセット値を記憶することを特徴と
する。

【００３９】また、本発明の請求項２７にかかる光ディ
スク装置は、光ディスクに対してメインビームとサブビ
ームからなるレーザ光を出射し、前記光ディスクからの
反射光として、目的トラックからの反射光であるメイン
ビームの反射光と、前記目的トラックからトラック方向
にずれた位置からの反射光であるサブビームの反射光を
受光するピックアップ部と、前記メインビームの反射光
からメインビームの総和信号を生成するメインビーム総
和信号生成手段と、前記サブビームの反射光からサブビ
ームの総和信号を生成するサブビーム総和信号生成手段
と、前記サブビーム総和信号のゲインを、サブビーム総
和信号ゲイン値を用いて可変するサブビーム総和信号ゲ
イン可変手段と、前記メインビーム総和信号と前記サブ
ビーム総和信号ゲイン可変手段でゲインを可変したサブ
ビーム総和信号とからトラッククロス信号を生成するト
ラッククロス生成手段と、前記トラッククロス信号のゲ
インを、トラッククロスゲイン値を用いて可変するトラ
ッククロスゲイン可変手段と、前記サブビーム総和信号
ゲイン値と前記トラッククロスゲイン値とを演算するゲ
イン値演算手段と、前記サブビーム総和信号ゲイン値と
前記トラッククロスゲイン値とを記憶する記憶手段と、
を備えた光ディスク装置において、前記記憶手段は、第
１のサブビーム総和信号ゲイン値と第２のサブビーム総
和信号ゲイン値を保持し、前記制御手段は、前記反射光
が変化する、前記光ディスク上の未記録領域のシーク動
作から前記光ディスク上の記録済み領域のシーク動作へ
の移行時または前記光ディスク上の記録済み領域のシー
ク動作から前記光ディスク上の未記録領域のシーク動作
への移行時に、前記第１のサブビーム総和信号ゲイン値
と前記第２のサブビーム総和信号ゲイン値とを切り換え
て前記サブビーム総和信号ゲイン可変手段に設定するこ
とを特徴とする。

【００４０】また、本発明の請求項２８にかかる光ディ
スク装置は、請求項２７に記載の光ディスク装置におい
て、前記光ディスク上の所定のアドレスを読み取って、
前記光ディスク上の記録済み領域と未記録領域とを判別
する判別手段を備えることを特徴とする。

【００４１】また、本発明の請求項２９にかかる光ディ
スク装置は、請求項２７または２８に記載の光ディスク
装置において、前記反射光測定手段は、前記メインビー
ムの反射光からメインビームの総和信号を求め、前記ゲ
イン値演算手段は、反射光変化時に設定されるサブビー
ム総和信号ゲイン値を、反射光変化前のメインビームの
総和信号レベルに対する反射光変化後のメインビームの
総和信号レベルの比に、反射光変化前に設定されていた
サブビーム総和信号ゲイン値を積算して求めることを特
徴とする。

【００４２】また、本発明の請求項３０にかかる光ディ
スク装置は、請求項２７または２８に記載の光ディスク
装置において、前記反射光測定手段は、前記メインビー
ムの反射光からメインビームの総和信号を求め、前記記
憶手段は、第１のトラッククロスゲイン値と第２のトラ
ッククロスゲイン値とを保持し、前記制御手段は、前記
反射光が変化する際に、前記第１のトラッククロスゲイ
ン値と前記第２のトラッククロスゲイン値とを切り換え
て前記トラッククロスゲイン可変手段に設定し、前記ゲ
イン値演算手段は、反射光変化時に設定されるトラック
クロスゲイン値を、反射光変化前のメインビームの総和
信号レベルに対する反射光変化後のメインビームの総和
信号レベルの比に、反射光変化前に設定されていたトラ
ッククロスゲイン値を積算して求めることを特徴とす
る。

【００４３】また、本発明の請求項３１にかかる光ディ
スク装置は、請求項２７または２８に記載の光ディスク
装置において、前記トラッククロス信号に生じるオフセ
ット値を測定するトラッククロスオフセット測定手段
と、前記オフセット値に基づいてオフセット補正値を生
成し、前記トラッククロス信号のオフセットを補正する
トラッククロスオフセット補正手段とを備え、前記トラ
ッククロスオフセット測定手段は、前記トラッククロス
ゲイン値に対応したトラッククロスオフセット値を測定
し、前記制御手段は、前記トラッククロスゲイン可変手
段に前記トラッククロスゲイン値を設定する際に、前記
トラッククロスゲイン値に対応したトラッククロス信号
のオフセット補正値を前記トラッククロスオフセット補
正手段に設定することを特徴とする。

【００４４】また、本発明の請求項３２にかかる光ディ
スク装置は、請求項３１に記載の光ディスク装置におい
て、前記記憶手段は、前記トラッククロスゲイン値とそ
れに対応するオフセット値を前記記憶手段に記憶するこ
とを特徴とする。

【００４５】

【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下に、本発明
の実施の形態１にかかる光ディスク装置について説明す
る。実施の形態１では、サーボエラー信号としてトラッ
キングエラー信号を生成する場合の実施例について説明
する。図１は、本実施の形態１にかかる光ディスク装置
のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。図１
において、メインビーム受光部１は光ディスクの目的ト
ラックからの反射光であるメインビームの反射光を受光
する。サブビーム受光部２は前記目的トラックからトラ
ック方向にずれた位置からの反射光であるサブビームの
反射光を受光する。メインビーム受光部１とサブビーム
受光部２とは、それぞれ所定パターンのフォトディテク
タで構成されており、入力した反射光を電気信号に変換
して出力する。ＭＰＰ信号生成手段３はメインビーム受
光部１から出力されたメインビーム信号（ＭＢ信号）を
入力し、所定の演算を行い、メインサーボエラー信号で
あるＭＰＰ信号を生成する。ＳＰＰ信号生成手段４は、
サブビーム受光部２から出力されたサブビーム信号（Ｓ
Ｂ信号）を入力し、所定の演算を行い、サブサーボエラ
ー信号であるＳＰＰ信号を生成する。

【００４６】図２は、ＭＰＰ信号生成手段３及びＳＰＰ
信号生成手段４の構成を詳細に示す図であり、図１に示
すＴＥ信号生成部と同一構成要素には同じ符号を付して
いる。ＭＰＰ信号生成手段３は、メインビーム受光部１
である４分割ディテクタが出力する４つのＭＢ信号
（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）を用いて、上記式（１）により、Ｍ
ＰＰ信号を求める。また、ＳＰＰ信号生成手段４は先行
ディテクタ２ａ及び後方ディテクタ２ｂから構成される
サブビーム受光部２が出力するＳＢ信号（Ｅ，Ｆ，Ｈ，
Ｇ）を用いて、上記式（２）により、ＳＰＰ信号を求め
る。

【００４７】反射光測定手段６は、ＭＢ信号を入力と
し、４つのＭＢ信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の総和を求め、
メインビームの総和信号レベル（ＭＳＵＭ信号レベル）
を測定する。第１のゲイン値演算手段７は、ＭＳＵＭ信
号レベルの変化に応じて所定の演算を行い、サブサーボ
エラーゲイン値であるＳＰＰゲイン値を求める。第１の
ゲイン値演算手段７が求めたＳＰＰゲイン値はＳＰＰゲ
イン可変手段５に設定されるとともに記憶手段８に記憶
される。ＳＰＰゲイン可変手段５は、ＳＰＰ信号をＳＰ
Ｐゲイン値倍に増幅して、増幅後のＳＰＰ信号（ＳＰＰ
１信号）を出力する。ＴＥ信号生成手段９は、ＭＰＰ及
びＳＰＰ１信号を用いて所定の演算を行い、ＴＥ信号を
生成する。なお、ＴＥ信号は、式（７）により求める。 ＴＥ＝ＭＰＰ−ＳＰＰ１・・・・・（７） また、光ディスク装置は、メインビーム受光部１とサブ
ビーム受光部２を含むピックアップ部（図示せず）と、
光ディスク装置の各構成要素を制御する制御手段（図示
せず）とを備える。なお、制御手段の具体例としてはＣ
ＰＵが挙げられる。

【００４８】以上のように構成された光ディスク装置の
動作について説明する。光ディスク装置は、起動時に、
スピンドルモータとレーザとを起動し、スピンアップ動
作を開始する。スピンアップ動作中に、ピックアップ部
の対物レンズと光ディスクとの焦点を合わせて、フォー
カス方向の追従を行うフォーカスサーボ動作を開始す
る。続いて、トラッキングサーボ動作を開始する。

【００４９】図３に、フォーカスサーボ動作開始時のＭ
ＰＰ信号（ａ）、ＳＰＰ１信号（ｂ）及びＴＥ信号
（ｃ）の波形を示す。フォーカスサーボ動作開始時はピ
ックアップ部から出射されるレーザ光がトラックを横切
るため、図３に示すような波形のＭＰＰ信号及びＳＰＰ
１信号が得られる。なお、本実施の形態１にかかる光デ
ィスク装置では、ＳＰＰゲイン可変手段５でＳＰＰ信号
をｋ倍して（ｋ値の決定方法については後述する）ＳＰ
Ｐ１信号を生成する。また、サブビームはメインビーム
と比べて、光ディスクからの反射光量が少ないため、Ｓ
ＰＰ信号はＭＰＰ信号よりも振幅が小さくなる。

【００５０】図４に、レンズシフトが発生した状態でト
ラッキングサーボ動作を開始した際の、スポットと受光
素子の位置関係を示す。この状態では、ＭＰＰ信号とＳ
ＰＰ１信号の振幅が異なり、図３に示すようにＴＥ信号
にレンズシフトによるオフセットが残ってしまう。しか
し、ＳＰＰ１信号をＭＰＰ信号と同じ振幅にすると、レ
ンズシフトによるオフセットはキャンセルされる。よっ
て、スピンアップ動作時に、図３に示すように、ＭＰＰ
信号とＳＰＰ１信号の振幅が等しくなるようにｋの値を
決定して、ＳＰＰゲイン調整を行う。ＳＰＰゲイン調整
で求められたｋ値は、ＳＰＰゲイン初期値としてＳＰＰ
ゲイン可変手段５に設定されるとともに記憶手段８に設
けられた第１の記憶領域に、再生動作時のＳＰＰゲイン
値として記憶される。なお、ＳＰＰゲイン値ｋは、第１
のゲイン値演算手段７からＳＰＰゲイン可変手段５に直
接設定される場合と、制御手段による制御に基づいて、
記憶手段８から読み出されてＳＰＰゲイン可変手段５に
設定される場合とがある。また、スピンアップ動作時に
はオフセット調整等の処理も行われる。なお、以下の説
明において、オフセットとは、特に説明のない限りレン
ズシフトによって発生するオフセットのことを指す。記
録型の光ディスクに対して記録再生処理を行う光ディス
ク装置では、スピンアップ動作後、光ディスクの種類を
判別する動作や、光ディスクの回転する倍速を設定する
動作等を行う必要があるため、スピンアップ動作後に、
再生動作を行い、続いて、記録動作を行う。

【００５１】以下に、光ディスクとしてＣＤ−Ｒを例に
挙げ、光ディスク装置による再生動作から記録動作への
移行時のＳＰＰゲイン値の制御方法について説明する。
従来の光ディスク装置では、上述のように記録動作時に
は、再生レベルのレーザ光を出射した時に得られる光デ
ィスクからの反射光をサンプルホールドして、トラッキ
ングサーボ動作を行っていた。これに対し、本発明の光
ディスク装置は、記録動作時にサンプルホールドを行わ
ず、光ディスクからの反射光を常に検出して、ＳＰＰゲ
イン値を求め、トラッキングサーボ動作を行うことを特
徴とする。

【００５２】以下、記録動作時のＳＰＰゲイン値の制御
方法について、図５〜図７を用いて説明する。図５は、
記録動作時のレーザ光の出射パワー（ａ）、ＭＳＵＭ信
号（ｂ）及び、ＳＳＵＭ信号（ｃ）の波形図である。な
お、ＳＳＵＭ信号はサブビームの総和信号を示し、ま
た、図に示す点線はそれぞれの信号の平均レベルを示
す。ＭＳＵＭ信号は、記録パワーでのレーザ光の出射直
後は、そのままレーザ光が反射されるため反射光レベル
は高いが、次第に光ディスク上に記録マークが形成され
るため、反射光レベルは低くなる。これに対して、ＳＳ
ＵＭ信号はサブビームが記録マークを形成することはな
いので、ＳＳＵＭ信号レベルはレーザ光の記録パワーレ
ベルに対応することとなる。よって、再生動作時のＳＳ
ＵＭ信号レベルに対する記録動作時の平均ＳＳＵＭ信号
レベルの比は、再生動作時の出射パワーレベルに対する
記録動作時の出射パワー平均レベルの比に比例する。な
お、記録動作時の出射パワー平均レベルは第１のゲイン
値演算手段７で求められる。

【００５３】図６は、対物レンズのレンズシフトが発生
している状態で、再生動作から記録動作へ移行したとき
のＭＳＵＭ信号（ａ）、出射パワー（ｂ）、ＭＰＰ信号
（ｃ）、ＳＰＰ信号（ｄ）、ＳＰＰ１信号（ｅ）、及び
ＴＥ信号（ｆ）の波形図である。再生動作時の、メイン
ビーム総和信号レベルはＭＳＵＭ１であり、ＭＰＰ信
号、ＳＰＰ信号及びＳＰＰ１信号に生じるオフセットは
それぞれ、ＭＰＰｏｆｓ１、ＳＰＰｏｆｓ１及びＳＰＰ
１ｏｆｓ１である。まず、再生動作時には、スピンアッ
プ動作時にＳＰＰゲイン調整を行っていることから、Ｔ
Ｅ信号にオフセットは生じない。その後、再生動作から
記録動作に移行すると、メインビームに対する光ディス
クからの反射光量が増加することから、反射光測定手段
６で記録動作時のメインビーム総和信号レベル（ＭＳＵ
Ｍ２）を測定し、第１のゲイン値演算手段７でＭＳＵＭ
信号レベルの変化率を求める。このときのＭＳＵＭ信号
レベルの変化率αをα＝ＭＳＵＭ２／ＭＳＵＭ１とする
と、ＭＰＰ信号に生じるオフセットもα倍になり、ＭＰ
Ｐ信号のオフセットはＭＰＰｏｆｓ１からＭＰＰｏｆｓ
２に変化する。記録動作時にはサブビームに対する光デ
ィスクからの反射光量も増加するため、ＳＰＰ信号のオ
フセットも増加する。ＳＰＰ信号のオフセットの変化率
は再生動作時の出射パワーレベル（Ｐｒ）に対する記録
動作時の出射パワー平均レベル（Ｐｗ）の比と等しいの
で、β＝Ｐｗ／Ｐｒとなる。よって、ＭＰＰｏｆｓ２と
ＳＰＰ１ｏｆｓ２を等しくするために、第１のゲイン値
演算手段７でＳＳＵＭ信号レベルの変化率に対するＭＳ
ＵＭ信号レベルの変化率の比であるα／βを求め、再生
動作時のＳＰＰゲイン値ｋ１にα／βを積算して、記録
動作時のＳＰＰゲイン値ｋ２を求める。ＳＰＰゲイン値
ｋ２は記憶手段８に設けられた第２の記憶領域に記憶さ
れるとともに、ＳＰＰゲイン可変手段５に設定される。
そして、以降の動作において、再生動作から記録動作の
移行時に、記録動作開始と同時にＳＰＰゲイン可変手段
５に設定するＳＰＰゲイン値をＳＰＰゲイン値ｋ１から
ＳＰＰゲイン値ｋ２に切り換える。また、記録動作から
再生動作に移行する際には、ＳＰＰゲイン可変手段５に
設定するＳＰＰゲイン値をＳＰＰゲイン値ｋ２からＳＰ
Ｐゲイン値ｋ１に切り換える。なお、記憶手段８に記憶
されたＳＰＰゲイン値を再生動作、記録動作に応じてＳ
ＰＰゲイン可変手段５に設定する動作は制御手段が行
う。また、ＳＰＰゲイン値ｋ２は、実際に任意のデータ
を記録する前に、予め記録動作を行って求める。例え
ば、最適パワーを求めるためのＯＰＣ（Optimum Power
Control）と呼ばれる試し書き動作時に求める。また、
ＳＰＰゲイン値だけでなく、ＭＳＵＭ信号レベルの変化
率α、ＳＳＵＭ信号レベルの変化率β、及びＳＳＵＭ信
号レベルの変化率βに対するＭＳＵＭ信号レベルの変化
率の比であるα／βも記憶手段８に記憶するにようにし
ても良い。

【００５４】次に、記録済み領域再生動作から未記録領
域再生動作への移行時のＳＰＰゲイン値の制御方法につ
いて図７を用いて説明する。図７は対物レンズのレンズ
シフトが発生している状態で、記録済み領域再生動作か
ら未記録領域再生動作に移行したときのＭＳＵＭ信号
（ａ）、ＭＰＰ信号（ｂ）、ＳＰＰ信号（ｃ）、ＳＰＰ
１信号（ｄ）、及びＴＥ信号（ｅ）の波形図である。記
録済み領域再生動作時のメインビーム総和信号レベルは
ＭＳＵＭ１であり、ＭＰＰ信号、ＳＰＰ信号及びＳＰＰ
１信号に生じるオフセットは、それぞれ、ＭＰＰｏｆｓ
１、ＳＰＰｏｆｓ１及びＳＰＰ１ｏｆｓ１である。ま
ず、記録済み領域再生動作時には、スピンアップ動作時
にＳＰＰゲイン調整を行っていることから、ＴＥ信号に
オフセットは生じない。次に、再生中の領域が記録済み
領域から未記録領域に移行すると、メインビームに対す
る光ディスクからの反射光量が増加することから、反射
光測定手段６で未記録領域再生動作時に得られるメイン
ビーム総合信号レベル（ＭＳＵＭ３）を測定し、第１の
ゲイン値演算手段７でＭＳＵＭ信号レベルの変化率を求
める。このときのＭＳＵＭ信号レベルの変化率αをα＝
ＭＳＵＭ３／ＭＳＵＭ１とすると、ＭＰＰ信号に生じる
オフセットもα倍になり、ＭＰＰ信号のオフセットはＭ
ＰＰｏｆｓ１からＭＰＰｏｆｓ３に変化する。これに対
し、サブビームに対する光ディスクからの反射光量は変
化しないので、ＳＰＰ１信号のオフセットも変化せず、
ＭＰＰｏｆｓ３とＳＰＰ１ｏｆｓ３に差が生じてしま
う。よって、ＭＰＰｏｆｓ３とＳＰＰ１ｏｆｓ３を等し
くするために、第１のゲイン値演算手段７でＳＰＰゲイ
ン値ｋ１をα倍して、未記録領域再生動作時における反
射光変化時のＳＰＰゲイン値ｋ３を求める。ＳＰＰゲイ
ン値ｋ３は記憶手段８に設けられた第３の記憶領域に記
憶されるとともに、ＳＰＰゲイン可変手段５に設定され
る。なお、記録済み領域及び未記録領域でのＳＰＰゲイ
ン値は、予めスピンアップ動作時に求め、第１の記憶領
域と第３の記憶領域に記憶しておく。そして、以降の再
生動作時に、一方の領域から他方の領域に移行すると同
時に制御手段がＳＰＰゲイン可変手段５のゲイン値の設
定を切り換える。

【００５５】以上のように本実施の形態１にかかる光デ
ィスク装置では、光ディスクからの反射光が変化する際
に、その反射光量の変化率を求め、その変化率に基づい
て、サブサーボエラーゲイン値（ＳＰＰゲイン値）を算
出した。そして、反射光の変化前と変化後のＳＰＰゲイ
ン値を記憶し、それぞれの反射光に応じたＳＰＰゲイン
値を用いて、ＴＥ信号を求めるようにした。これによ
り、反射光が変化する再生動作から記録動作への移行
時、または記録済み領域再生動作から未記録領域再生動
作への移行時に、それぞれの反射光に応じた適切なＳＰ
Ｐゲイン値を設定して、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の振幅
差を無くし、レンズシフト時に発生するＴＥ信号のオフ
セットをキャンセルすることができる。

【００５６】（実施の形態２）以下に、本発明の実施の
形態２にかかる光ディスク装置について説明する。実施
の形態２では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を生成
する場合の実施例について説明する。図８は、本実施の
形態２にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成
を示すブロック図であり、図１に示すＴＥ信号生成部と
同一の構成要素には同一符号を付し、その説明は省略す
る。本実施の形態２にかかるＴＥ信号生成部は、反射光
測定手段６がＭＢ信号及びＳＢ信号を入力して、ＭＳＵ
Ｍ信号レベル及びＳＳＵＭ信号レベルを測定することを
特徴とする。反射光測定手段６は、４つのＳＢ信号
（Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ）の総和を求めて、ＳＳＵＭ信号レベ
ルを測定する。

【００５７】以上のように構成される光ディスク装置の
動作について図９を用いて説明する。図９は、レンズシ
フトが発生している状態で、再生動作から記録動作へ移
行した時の、ＭＳＵＭ信号（ａ）、ＳＳＵＭ信号
（ｂ）、ＭＰＰ信号（ｃ）、ＳＰＰ信号（ｄ）、ＳＰＰ
１信号（ｅ）、及びＴＥ信号（ｆ）の波形図である。Ｍ
ＳＵＭ１は、再生動作時のメインビーム総和信号レベル
であり、ＭＰＰ信号、ＳＰＰ信号及びＳＰＰ１信号に生
じるオフセットはそれぞれ、ＭＰＰｏｆｓ１、ＳＰＰｏ
ｆｓ１及びＳＰＰ１ｏｆｓ１である。まず、予めスピン
アップ動作時にＳＰＰゲイン調整を行い、ＭＰＰ信号と
ＳＰＰ１信号の振幅を等しくし、再生動作時にＴＥ信号
にオフセットが発生しないようにしておく。次に、再生
動作から記録動作に移行すると、メインビームに対する
光ディスクからの反射光量が増加することから、反射光
測定手段６で記録動作時のメインビーム総和信号レベル
（ＭＳＵＭ２）を測定し、第１のゲイン値演算手段７で
ＭＳＵＭ信号レベルの変化率を求める。ＭＳＵＭ信号レ
ベルの変化率をα＝ＭＳＵＭ２／ＭＳＵＭ１とすると、
ＭＰＰ信号に生じるオフセットもα倍になり、ＭＰＰオ
フセットはＭＰＰｏｆｓ１からＭＰＰｏｆｓ２に変化す
る。また、記録動作時はサブビームに対する光ディスク
からの反射光量も増加するため、反射光測定手段６でサ
ブビーム総和信号レベル（ＳＳＵＭ２）を測定し、第１
のゲイン値演算手段７でＳＳＵＭ信号レベルの変化率を
求める。このときのＳＳＵＭ信号レベルの変化率βをβ
＝ＳＳＵＭ２／ＳＳＵＭ１とすると、ＳＰＰ信号に生じ
るオフセットもβ倍になり、ＳＰＰオフセットはＳＰＰ
ｏｆｓ１からＳＰＰｏｆｓ２に変化する。ＳＰＰ信号の
変化によってＳＰＰ１信号のオフセットも変化するが、
ＭＳＵＭ信号レベルの変化率とＳＳＵＭ信号レベルの変
化率とが異なるため、ＭＰＰ信号に発生するオフセット
とＳＰＰ１信号に発生するオフセットに差が生じる。よ
って、ＭＰＰ信号とＳＰＰ１信号のオフセットを等しく
するために、第１のゲイン値演算手段７はＳＳＵＭ信号
レベルの変化率に対するＭＳＵＭ信号レベルの変化率の
比であるα／βを求め、再生動作時のＳＰＰゲイン値ｋ
１にα／βを積算して、記録動作時のＳＰＰゲイン値ｋ
２を求める。以上のようにして求められた記録動作時の
ＳＰＰゲイン値ｋ２は、記憶手段８に設けられた第２の
記憶領域に記憶されるとともに、記録動作時にＳＰＰゲ
イン可変手段５に設定される。以降の動作については実
施の形態１と同様であるため説明は省略する。

【００５８】なお、本実施の形態２では、反射光変化時
にメインビームとサブビームの両方の変化率を求めてい
ることから、記録済み領域再生動作から記録済み領域再
生動作への移行時におけるＳＰＰゲイン値は、上述の再
生動作から記録動作への切り換え時のＳＰＰゲイン値の
制御方法と同様の方法で制御でき、よってその説明は省
略する。以上のように本実施の形態２にかかる光ディス
ク装置では、上記実施の形態１にかかる光ディスク装置
と、光ディスクからの反射光が変化する際の、サブサー
ボエラー信号の変化率の求め方が異なるだけであり、実
施の形態１と同様の効果が得られる。

【００５９】（実施の形態３）以下に、本発明の実施の
形態３にかかる光ディスク装置について説明する。本実
施の形態３では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を生
成する場合の実施例について説明する。本実施の形態３
にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成は図１
に示すＴＥ信号生成部と同様であるため、その説明は省
略する。本実施の形態３にかかるＴＥ信号生成部は、記
憶手段８でＳＰＰゲイン値とともに、光ディスク特性、
光ディスクの種類、及びメーカの種類に関する情報を記
憶することを特徴とする。

【００６０】以上のように構成される光ディスク装置の
動作について、図１０〜図１２を用いて説明する。図１
０は、光ディスクの種類毎のレーザ光の出射パワーに対
するＭＳＵＭ信号／ＳＳＵＭ信号のレベルの特性を示す
図である。Ａ及びＢは有機色素の構成が異なるＣＤ−Ｒ
ディスクの特性であり、ＣはＣＤ−ＲＷディスクの特性
である。また、図１１は、ＣＤ−Ｒディスクへの出射パ
ワーに対するＭＳＵＭ信号レベル、及びＳＳＵＭ信号レ
ベルの変化の特性を示す図である。図１１に示すよう
に、ＣＤ−Ｒでは出射パワーが低いところでは出射パワ
ーの増加に比例してＭＳＵＭ信号レベルもＳＳＵＭ信号
レベルも増加していく。しかし、出射パワーの増加に伴
い、光ディスク上にはメインビームにより記録マークが
形成され始めるため、出射パワーが増加しても光ディス
クからの反射光量が減少し、そのためＭＳＵＭ信号は一
定のレベルとなる。それに対してＳＳＵＭ信号レベル
は、サブビームにより光ディスク上に記録マークが形成
されることがないため、出射パワーの増加に比例して増
加していく。なお、サブビームの反射光はメインビーム
によって形成される記録マークからのクロストーク等の
影響を受けるため、ＳＳＵＭ信号レベルの増加率は減少
する。よって、ＣＤ−Ｒディスクの特性は図１１に示す
Ａ，Ｂのような特性となるが、光ディスクの有機色素に
よりその特性は異なる。図１２に、ＣＤ−ＲＷディスク
への出射パワーに対するＭＳＵＭ信号レベル及びＳＳＵ
Ｍ信号レベルの変化の特性を示す。ＣＤ−ＲＷディスク
では、メインビームにより光ディスク上に記録マークが
形成されても、ＣＤ−Ｒディスクのような急激なＭＳＵ
Ｍ信号レベルの低下は発生しないため、図１２に示すよ
うに、ＭＳＵＭ信号レベルはＳＳＵＭ信号レベルとほぼ
同様な特性となる。

【００６１】以上のように、光ディスクの種類または有
機色素の種類によって、記録動作時のＭＵＳＭ信号レべ
ル、ＳＳＵＭ信号レベルの特性が変化することから、本
実施の形態３にかかる光ディスク装置では、記録動作時
に、制御手段により光ディスクからディスク情報を読み
出し、ＳＰＰゲイン値ｋ２とディスク情報に含まれる光
ディスク特性、光ディスクの種類、及びメーカの種類に
関する情報とを対応付けて記憶手段８に記憶するように
する。そして、以降の記録動作において、制御手段が、
光ディスクからディスク情報を読み出し、その光ディス
クが既に記憶手段８にＳＰＰゲイン値が記憶されている
種類の光ディスクであれば、記憶手段８よりそのＳＰＰ
ゲイン値を読み出し、記録動作開始と同時にＳＰＰゲイ
ン可変手段５に設定する。なお、本実施の形態３にかか
る光ディスク装置では、実際に任意のデータを記録する
前に予め記録動作を行い、その時にＳＰＰゲイン値ｋ２
を求めるとともに、光ディスク特性、光ディスクの種類
及びメーカの種類に関する情報を読み出し、それらを記
憶手段８に記憶する。例えば、最適パワーを求めるため
のＯＰＣと呼ばれる試し書き動作時に求める。

【００６２】以上のように本実施の形態３にかかる光デ
ィスク装置では、記録動作時に、ＳＰＰゲイン値ととも
に、光ディスク特性、光ディスクの種類及びメーカの種
類を記憶するようにした。これにより、記録動作時に
は、光ディスクの特性及び種類に応じて適切なＳＰＰゲ
イン値を設定してＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の振幅差を無
くし、ＴＥ信号のオフセットをキャンセルすることがで
きる。

【００６３】（実施の形態４）以下に、本発明の実施の
形態４にかかる光ディスク装置について説明する。本実
施の形態４では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を生
成する場合の実施例について説明する。本実施の形態４
にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成要素は
図１に示すＴＥ信号生成部と同様であるためその説明は
省略する。本実施の形態４にかかる光ディスク装置で
は、記録動作時に、記憶手段８で光ディスク回転速度別
にＳＰＰゲイン値を記憶することを特徴とする。

【００６４】以上のように構成される光ディスク装置の
動作について図１３を用いて説明する。図１３は、記録
動作時における光ディスクの回転速度毎の出射パワーに
対するＭＳＵＭ信号レベル／ＳＳＵＭ信号レベル値の特
性を示す図である。Ａ，Ｂ，Ｃはそれぞれ光ディスク回
転速度が異なり、Ａ＞Ｂ＞Ｃである。図１３に示すよう
に、記録動作時には、同じ出射パワーでも光ディスクの
回転速度により、ＭＳＵＭ信号レベルとＳＳＵＭ信号レ
ベルの比が異なる。よって本実施の形態４にかかる光デ
ィスク装置では、記録動作時に、所定の光ディスク回転
速度でのＳＰＰゲイン値ｋ２を取得し、取得したＳＰＰ
ゲイン値ｋ２と光ディスクの回転速度とを対応付けて記
憶手段８に記憶する。そして、以降の記録動作時には、
制御手段が、光ディスク回転速度に応じたＳＰＰゲイン
値ｋ２を記憶手段８より読み出し、記録動作開始と同時
にＳＰＰゲイン可変手段５に設定する。なお、光ディス
クの回転速度は制御手段が制御する。また、本実施の形
態４にかかる光ディスク装置では、実際に任意のデータ
を記録する前に予め記録動作を行い、その時に所定の光
ディスクの回転速度に対応するＳＰＰゲイン値ｋ２を求
め、記憶手段８に記憶する。例えば、最適パワーを求め
るためのＯＰＣと呼ばれる試し書き動作時に求める。

【００６５】以上のように本実施の形態４にかかる光デ
ィスク装置は、記録動作時には、光ディスクの回転速度
に応じて適切なＳＰＰゲイン値を求めて記憶するように
した。これにより、記録動作時には、光ディスクの回転
速度に応じてＳＰＰゲイン値を設定してＭＰＰ信号とＳ
ＰＰ信号の振幅差を無くし、ＴＥ信号のオフセットをキ
ャンセルすることができる。

【００６６】（実施の形態５）以下に、本発明の実施の
形態５にかかる光ディスク装置について説明する。本実
施の形態５では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を生
成する場合の実施例について説明する。本実施の形態５
にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成は図１
に示すＴＥ信号生成部と同様であるため、その説明は省
略する。本実施の形態５にかかる光ディスク装置では、
記録動作時に、レーザ光の出射パワー毎にＳＰＰゲイン
値を求めて記憶手段８に記憶することを特徴とする。

【００６７】以上のように構成される光ディスク装置の
動作について図１４を用いて説明する。図１４に、ＣＤ
−Ｒディスクにおける、レーザ光の出射パワーに対する
ＭＳＵＭ信号レベル／ＳＳＵＭ信号レベルの特性を示
す。上記実施の形態３で説明したように、出射パワーが
低いところでは、出射パワーの増加に応じて光ディスク
からの反射光量も増加するので、ＭＳＵＭ信号レベル／
ＳＳＵＭ信号レベルの比は大きくなっていく。しかし、
図のＡ点の出射パワーで光ディスク上に記録マークの形
成が始まり、メインビームに対する光ディスクからの反
射光量の増加率が低下する。さらに出射パワーが増加す
ると、ＭＳＵＭ信号は出射パワーに関係なく一定のレベ
ルとなる。一方、ＳＳＵＭ信号は、メインビームによる
記録マークの形成が始まると、記録マークからのクロス
トークによって増加率は減少するが、出射パワーの増加
に伴い、ＳＳＵＭ信号も増加していく。以上のようなこ
とから、記録動作時に、レーザ光の出射パワー毎にＭＳ
ＵＭ信号レベル及びＳＳＵＭ信号レベルの変化率を求
め、各変化率にＳＰＰゲイン値ｋ１を積算して、ＳＰＰ
ゲイン値ｋ２を求める。求めたＳＰＰゲイン値ｋ２は出
射パワーと対応付けて記憶手段８に記憶する。そして、
以降の記録動作時には、制御手段が、出射パワーに対応
したＳＰＰゲイン値ｋ２を記憶手段８より読み出し、記
録動作開始と同時にＳＰＰゲイン可変手段５に設定す
る。なお、ＳＰＰゲイン値ｋ２は、実際に任意のデータ
を記録する前に、予め記録動作を行って求める。

【００６８】以上のように本実施の形態５にかかる光デ
ィスク装置では、記録動作時に、レーザ光の出射パワー
毎にＳＰＰゲイン値を求めて記憶するようにした。これ
により記録動作時には、出射パワーに応じて適切なＳＰ
Ｐゲイン値を設定して、ＭＰＰとＳＰＰの振幅差を無く
し、ＴＥ信号のオフセットをキャンセルすることができ
る。

【００６９】（実施の形態６）以下に、本発明の実施の
形態６にかかる光ディスク装置について説明する。本実
施の形態６では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を生
成する場合の実施例について説明する。本実施の形態６
にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成は図８
に示すＴＥ信号生成部と同様であるためその説明は省略
する。本実施の形態６にかかる光ディスク装置では、Ｏ
ＰＣ動作時に、レーザ光の出射パワー毎にＳＰＰゲイン
値を求めて記憶手段８に記憶することを特徴とする。

【００７０】以上のように構成される光ディスク装置の
動作について図１５を用いて説明する。まず、光ディス
ク装置は記録動作開始前に最適記録パワーを求めるＯＰ
Ｃを行う。最適記録パワーは、光ディスク上の予め決め
られた領域に、第１の出射パワーから第ｎの出射パワー
までのレーザ光を所定間隔で出射して、最適な記録パワ
ーを求める。本実施の形態６では、図１５に示すように
出射パワーＰ１〜Ｐ６までのレーザ光を一定間隔で出射
してＯＰＣを行い、ＳＰＰゲイン値を設定する場合の動
作について説明する。この場合、反射光測定手段６では
Ｐ１〜Ｐ６の出射パワー時のＭＳＵＭ信号レベル（ＭＳ
ＵＭ１〜ＭＳＵＭ６）、及びＳＳＵＭ信号レベル（ＳＳ
ＵＭ１〜ＳＳＵＭ６）を測定して、測定結果を第１のゲ
イン値演算手段７に出力する。第１のゲイン値演算手段
７では、変化率α１＝ＭＳＵＭ１／ＳＳＵＭ１を求め、
同様にしてα２〜α６も求める。そして、ＳＰＰゲイン
値ｋ１にα１を積算してＳＰＰゲイン値（Ｋ１）を求
め、同様にして、Ｋ２〜Ｋ６を求める。そして、記憶手
段８には出射パワーＰ１〜Ｐ６の値と、それらの値に対
応するＳＰＰゲイン値Ｋ１〜Ｋ６の値を記憶する。そし
て、ＯＰＣ動作以降の記録動作時には、制御手段が出射
パワーに応じたＳＰＰゲイン値を記憶手段８から読み出
し、ＳＰＰゲイン可変手段５に設定する。

【００７１】以上のように本実施の形態６にかかる光デ
ィスク装置は、ＯＰＣ動作時に、レーザ光の出射パワー
に応じてＳＰＰゲイン値を求めて記憶するようにした。
これにより、記録動作時に、出射パワーに応じて適切な
ＳＰＰゲイン値を設定し、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の振
幅差を無くし、ＴＥ信号のオフセットをキャンセルする
ことができる。

【００７２】（実施の形態７）以下に、本発明の実施の
形態７にかかる光ディスク装置ついて説明する。本実施
の形態７では、サーボエラー信号としてＴＥ信号とレン
ズポジションエラー信号（ＬＥ信号）とを求める実施例
について説明する。図１６は本実施の形態７にかかる光
ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図
であり、図１に示すＴＥ信号生成部と同一の構成要素に
ついては同一符号を付し、その説明は省略する。本実施
の形態７にかかる光ディスク装置では、図１６に示すよ
うにＬＥ信号生成手段１０を備えることを特徴とする。
ＬＥ信号は、ピックアップ部の対物レンズが中心からど
の程度ずれているかを示す信号である。ＬＥ信号生成手
段１０は、図１７に示すように、ＭＢ信号とＳＢ信号と
を入力し、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号を求め、ＭＰＰ信号
とＳＰＰ信号の和をとることで、ＬＥ信号を生成する。

【００７３】以上のように構成された光ディスク装置の
動作について図１８を用いて説明する。まず、光ディス
ク装置は、ＯＰＣ動作前にＭＰＰ信号及びＳＰＰ１信号
の振幅が等しくなるようにＳＰＰゲイン調整を行い、Ｓ
ＰＰゲイン値を設定する。図１８に、ＳＰＰゲイン調整
時の、ＭＰＰ信号（ａ）、ＳＰＰ信号（ｂ）、ＴＥ信号
（ｃ）、及びＬＥ信号（ｄ）の波形図を示す。まず、ト
ラッキングサーボをＯＦＦにして、図１８に示す各波形
を発生させる。このときにＭＰＰ信号とＳＰＰ１信号の
信号振幅が異なる場合はＳＰＰゲイン調整を行う。この
ＳＰＰゲイン調整によりＴＥ信号のオフセットはキャン
セルできるが、実際にはレンズシフトは生じている。こ
のレンズシフトによるオフセットが生じている状態で記
録動作を行うと、記録品質が悪化するため、ＯＰＣの結
果も信頼性のない結果となってしまう。よって、ＳＰＰ
ゲイン調整とともに、ＬＥ信号を検出し、制御手段がＬ
Ｅ信号に生じているオフセットＬＥＯｆｓの値を測定す
る。そして、そのＬＥＯｆｓ値が予め設定した所定値以
下となったときにＯＰＣ動作を開始する。なお、レンズ
シフトは対物レンズのトラッキング方向の移動であるた
め、ＬＥ信号に生じているオフセットはＬＥ信号生成手
段１０でＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の和をとり、交流成分
を打ち消すことで求めることでＤＣ的に求めることでき
る。また、ＬＥＯｆｓの値が所定値以下かどうかは制御
手段が判断する。

【００７４】以上のように、本実施の形態７にかかる光
ディスク装置では、ＯＰＣ動作前にＬＥ信号に生じてい
るオフセットＬＥＯｆｓの値を測定し、ＬＥ信号に生じ
ているオフセットが所定値以下の時にＯＰＣ動作を開始
するようにした。これにより、レンズシフトによるオフ
セットが生じている状態で記録動作を行うことなく、Ｏ
ＰＣ動作の信頼性を高めることができる。

【００７５】（実施の形態８）以下に、本発明の実施の
形態８にかかる光ディスク装置ついて説明する。本実施
の形態８では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を求め
る実施例について説明する。本実施の形態８にかかる光
ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成は、図１に示すＴ
Ｅ信号生成部と同様であるため、その説明を省略する。

【００７６】以下、本実施の形態８にかかる光ディスク
装置の動作について、図１９を用いて説明する。図１９
は、再生状態から記録状態に移行するときの、ＷＧＡＴ
Ｅ信号（ａ）、出射パワー（ｂ）、ＭＳＵＭ信号
（ｃ）、及びＲＦ信号（ｄ）の波形図である。ＷＧＡＴ
Ｅ信号とは再生状態と記録状態の切り換えタイミングを
示す信号であり、ＷＧＡＴＥ信号がＬｏｗの時には再生
状態を示し、Ｈｉｇｈの時には記録状態を示している。
従来の光ディスク装置ではＷＧＡＴＥ信号を用いて、光
ディスク装置のサーボ系のゲイン及びオフセットの切換
を行っていた。しかし、図１９に示すように、実際はＷ
ＧＡＴＥ信号がＨｉｇｈになってから、記録パワーが出
射される間には時間Ｔの差があるため、時間Ｔの間はサ
ーボ系のゲイン及びオフセットが適切な状態でなくな
り、サーボ動作が不安定となる。

【００７７】以上のことから、本実施の形態８にかかる
ＴＥ信号生成部では、まず、反射光測定手段６でＭＳＵ
Ｍ信号レベルを測定する。次に、制御手段がＭＳＵＭ信
号レベルの値（ＭＳＵＭ値）を認識して、その値が予め
設定した所定値以上変化した場合、動作が再生動作から
記録動作へまたは再生動作から記録動作へ移行したと判
断する。そして、設定を各動作に応じて再生設定から記
録設定または記録設定から再生設定に切り換える。

【００７８】なお、反射光測定手段６は、光ディスクか
らの反射光からＭＳＵＭ信号と同様にＲＦ信号も検出で
きるので、制御手段がＲＦ値を認識しその値が所定値以
上変化した場合、動作が移行したと判断するようにして
も良い。この場合、反射光測定手段６はメインビーム信
号から高周波のＲＦ成分を抽出してＲＦ信号を求める。

【００７９】以上のように、本実施の形態８にかかる光
ディスク装置は、ＭＳＵＭ値またはＲＦ値に基づいて、
再生動作と記録動作との切り換えを判断して、再生設定
と記録設定との設定切り換えを行うようにした。これに
より、光ディスクからの反射光が変化した時に適切なＳ
ＰＰゲイン値を設定して、ＭＰＰ信号とＳＰＰ信号の振
幅差を無くし、ＴＥ信号のオフセットをキャンセルする
ことができる。

【００８０】（実施の形態９）以下に、本発明の実施の
形態９について説明する。本実施の形態９では、サーボ
エラー信号としてＴＥ信号を求める実施例について説明
する。図２０は本実施の形態９にかかる光ディスク装置
のＴＥ信号生成部のブロック図を示すものであり、図１
に示すＴＥ信号生成部と同一の構成要素には同一符号を
付し、その説明は省略する。本実施の形態９にかかる光
ディスク装置では、スピンアップ動作中のゲイン調整動
作時に、ＴＥゲイン可変手段１１にＴＥ信号が所定の振
幅となるようにＴＥゲイン値を設定する。具体的には、
制御手段が、スピンアップ動作中のフォーカスサーボ動
作開始時に、ＴＥゲイン可変手段１１が出力するＳ字信
号（ＴＥ信号）をモニタし、そのＳ字信号が一定幅にな
るようにＴＥゲイン値を設定する。また、第１のゲイン
値演算手段７はＭＳＵＭ信号レベルの変化に応じて最適
なＴＥゲイン値を算出する。

【００８１】以上のように構成される光ディスク装置に
おける、再生動作から記録動作への移行時のＴＥゲイン
値の制御方法を図２１、図２２を用いて説明する。図２
１は再生状態のＴＥ信号生成部のゲイン配分を示すブロ
ック図であり、図２２は記録状態のＴＥ信号生成部のゲ
イン分布を示すブロック図である。まず、光ディスク装
置は、スピンアップ動作時にＳＰＰゲイン調整を行い、
図２１に示すように、ＳＰＰゲイン値ｋ１をＳＰＰゲイ
ン可変手段５に設定するとともに記憶手段８に記憶す
る。同様にＴＥゲイン調整を行い、ＴＥゲイン値ｋ４を
ＴＥゲイン可変手段１１に設定するとともに記憶手段８
に記憶する。

【００８２】続いて、再生動作から記録動作へ移行して
光ディスクからの反射光量が増加すると、ＭＳＵＭ信号
レベル及びＳＳＵＭ信号レベルも増加する。再生動作時
のＭＳＵＭ信号レベルをＭＳＵＭ１とし、記録動作時の
ＭＳＵＭ信号レベルをＭＳＵＭ２とすると、ＭＳＵＭ信
号レベルの変化率αはα＝ＭＳＵＭ２／ＭＳＵＭ１にな
る。また、再生動作時のＳＳＵＭ信号レベルをＳＳＵＭ
１とし、記録動作時のＳＳＵＭ信号レベルをＳＳＵＭ２
とすると、ＳＳＵＭ信号レベルの変化率βはβ＝ＳＳＵ
Ｍ２／ＳＳＵＭ１となる。第１のゲイン値演算手段７
は、例えば、実施の形態１で説明した方法でＳＰＰゲイ
ン値の倍率α／βを算出し、ｋ１とα／βの積算してＳ
ＰＰゲイン値ｋ２を求める。ＳＰＰゲイン値ｋ２は、図
２２に示すように記憶手段８に記憶されるとともに、Ｓ
ＰＰゲイン可変手段５に設定される。ＳＰＰゲイン可変
手段５はＳＰＰ信号にｋ２を積算してＳＰＰ１’信号を
生成する。ＳＰＰ１’信号は再生動作時のＳＰＰ１信号
のα倍となりＭＰＰ信号とゲインが等しくなる。また同
様にして、記録動作時に、ＴＥ信号生成手段９で生成さ
れるＴＥ１’信号もＴＥ１信号と比べてα倍となる。よ
って、第１のゲイン値演算手段７ではＭＳＵＭ信号レベ
ルの変化率αの逆数である（１／α）を求め、再生動作
時のＴＥゲイン値ｋ４に１／αを積算して、ＴＥゲイン
値ｋ４’を求める。ＴＥゲイン値ｋ４’は記憶手段８に
記憶されるとともに、ＴＥゲイン可変手段１１に設定さ
れる。そして、以降の記録動作時には、記録動作開始と
同時にＳＰＰゲイン可変手段５のＳＰＰゲイン値をｋ１
からｋ２に切り換え、かつ、ＴＥゲイン値をｋ４からｋ
４’に切り換える。ＴＥゲイン可変手段１１は、再生動
作時にはＴＥ２信号を、記録動作時にはＴＥ１’にｋ
４’を積算してＴＥ２’信号を出力する。なお、ＳＰＰ
ゲイン値ｋ２、ＴＥゲイン値ｋ４’は、任意のデータを
記録する前に、予め記録動作を行って求め、記憶手段８
に記憶する。例えば、最適パワーを求めるためのＯＰＣ
と呼ばれる試し書き動作時に求める。

【００８３】以上のように本実施の形態９にかかる光デ
ィスク装置では、光ディスクからの反射光が変化する際
に、その反射光量の変化率を求め、その変化率に基づい
て、サブサーボエラーゲイン値（ＳＰＰゲイン値）とサ
ーボエラーゲイン値（ＴＥゲイン値）とを算出した。そ
して、反射光の変化前と変化後のＳＰＰゲイン値とＴＥ
ゲイン値とを記憶し、それぞれの反射光に応じて適切な
ＳＰＰゲイン値とＴＥゲイン値とを用いて、サーボエラ
ー信号（ＴＥ信号）を求めるようにした。これにより、
反射光が変化した際に、ＴＥゲイン値を切り換えて設定
して、ＴＥ信号の振幅を一定に保つことができる。

【００８４】（実施の形態１０）以下に、本実施の形態
１０にかかる光ディスク装置について説明する。本実施
の形態１０では、サーボエラー信号としてＴＥ信号を求
める実施例について説明する。図２３は、本実施の形態
１０にかかる光ディスク装置のＴＥ信号生成部の構成を
示すブロック図であり、図２０に示すＴＥ信号生成部と
同一の構成要素には同一符号を付し説明を省略する。Ｔ
Ｅオフセット測定手段１２はＴＥゲイン可変手段１１の
通過後のＴＥ信号に生じるオフセットを測定する。具体
的には、Ｓ字信号であるＴＥ信号のピークレベルとボト
ムレベルとを検出して、（ピークレベル＋ボトムレベ
ル）／２の演算により、ＴＥ信号の中心を求めて、基準
電圧Ｖrefからのオフセットを求める。ＴＥオフセット
補正手段１３はＴＥオフセット測定手段１２が測定した
オフセット値からオフセット補正値を生成する。これに
より、加算器２３でＴＣ信号のオフセットをキャンセル
できる。

【００８５】以上のように構成された光ディスク装置の
動作について説明する。まず、この光ディスク装置で
は、スピンアップ動作時に、例えば、実施の形態１に説
明した方法でＳＰＰゲイン調整を行い、ＳＰＰゲイン値
をＳＰＰゲイン可変手段５に設定するとともに記憶手段
８に記憶する。また、例えば、実施の形態９で説明した
方法によりＴＥゲイン調整を行い、ＴＥゲイン値をＴＥ
ゲイン可変手段１１に設定するとともに記憶手段８に記
憶する。このときのＴＥゲイン値を第１のゲインＧ１と
して、以下、説明を行う。差動プッシュプル法によるト
ラッキングサーボ制御では上記実施の形態で説明したよ
うに、ＭＰＰ信号とＳＰＰ１信号の振幅が等しくなるよ
うにＳＰＰゲイン値を適切な値に設定すれば、対物レン
ズのレンズシフトが生じてもＴＥ信号にはオフセットが
発生しない。しかし、実際には、オフセット調整の調整
誤差等で残るオフセットが存在する。図２４にＴＥゲイ
ンの変化に対するオフセットの変化を図示する。ＴＥオ
フセット測定手段１２では、ＴＥゲイン可変手段１１に
第１のゲインＧ１を設定したときに発生する第１のＴＥ
オフセットＯｆｓ１を測定する。ＴＥオフセットＯｆｓ
１はＴＥオフセット補正手段１３に設定されとともに記
憶手段８に記憶される。

【００８６】続いて、再生動作から記録動作への移行時
には、第１のゲイン値演算手段７が出射パワーＰ２〜Ｐ
ｎに対応するＳＰＰゲイン値（Ｋ２〜Ｋｎ）とＴＥゲイ
ン値（Ｇ２〜Ｇｎ）を求め、ＴＥゲイン可変手段１１に
対して、ＴＥゲイン値Ｇ２〜Ｇｎを設定する。その際、
ＴＥオフセット測定手段１２は、ＴＥ信号に発生するＴ
ＥオフセットＯｆｓ２からＯｆｓｎを測定する。求めた
オフセット値は図２５に示すように、一次関数を示すた
め、この関数を用いてＧ２〜Ｇｎ間のＴＥゲイン値に対
応するＯｆｓｎも求めることができる。以上のようにし
て求められる、ＴＥオフセット値は、ＴＥオフセット補
正手段１３に設定されるとともに記憶手段８に記憶され
る。そして以降の記録動作時には、制御手段が、出射パ
ワーに応じたＳＰＰゲイン値、ＴＥゲイン値、及びＴＥ
オフセット値を記憶手段８から読み出して同時に切り換
える。

【００８７】なお、記録動作時のＳＰＰゲイン値、ＴＥ
ゲイン値、及びＴＥオフセット値は、実際に任意のデー
タを記録する前に予め記録動作を行い、その時に求める
ようにする。例えば、最適パワーを求めるためのＯＰＣ
と呼ばれる試し書き動作時に求める。

【００８８】以上のように本実施の形態１０にかかる光
ディスク装置では、光ディスクからの反射光が変化する
際に、その反射光量の変化率を求め、その変化率に基づ
いて、サブサーボエラーゲイン値（ＳＰＰゲイン値）、
サーボエラーゲイン値（ＴＥゲイン値）及びサーボエラ
ー信号（ＴＥ信号）のＴＥオフセット値を算出する。そ
して、反射光の変化前と変化後のＳＰＰゲイン値、ＴＥ
ゲイン値及びＴＥオフセット値とを記憶し、それぞれの
反射光に応じて適切なＳＰＰゲイン値、ＴＥゲイン値、
ＴＥオフセット値とを用いて、サーボエラー信号（ＴＥ
信号）を求めるようにする。これにより、ＴＥゲイン値
を反射光に応じて切り換える際に、ＴＥ信号のオフセッ
トを補正して、ＴＥ信号にオフセットを生じないように
することができる。

【００８９】（実施の形態１１）以下に、本発明の実施
の形態１１にかかる光ディスク装置について説明する。
本実施の形態１１では、サーボエラー信号としてトラッ
キングクロス信号（ＴＣ信号）を生成する実施例につい
て説明する。ＴＣ信号とは、シーク動作時にトラックの
本数を計測するために用いる信号である。光ディスク装
置では、予めしきい値を設定しＴＣ信号がしきい値を越
える数を計測するが、このＴＣ信号のレベルが小さくな
り、しきい値を越えないとトラックの数を誤判別する可
能性がある。

【００９０】図２６は、本実施の形態１１にかかる光デ
ィスク装置のＴＣ信号生成部の構成を示すブロック図で
ある。図１に示すＴＥ信号生成部と同一の構成要素には
同一符号を付し、その説明は省略する。メインビーム総
和信号生成手段（ＭＳＵＭ信号生成手段）１４は、メイ
ンビーム受光部１からのＭＢ信号を入力し、ＭＳＵＭ信
号を生成して、ＴＣ信号生成手段１６と第２のゲイン値
演算手段２０とに出力する。ＭＳＵＭ信号は、４つのＭ
Ｂ信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の総和信号をＬＰＦ（Low Pa
ss Filter）に通し、ＲＦ成分を除去することで求め
る。また、サブビーム総和信号生成手段（ＳＳＵＭ信号
生成手段）１５は、サブビーム受光部２からのＳＢ信号
を入力し、ＳＳＵＭ信号を生成して、サブビーム総和信
号ゲイン可変手段（ＳＳＵＭ信号ゲイン可変手段）１７
と第２のゲイン値演算手段２０とに出力する。ＳＳＵＭ
信号は、４つのＳＢ信号（Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ）の総和信号
をＬＰＦ（Low Pass Filter）に通し、ＲＦ成分を除去
することで求める。ＳＳＵＭ信号ゲイン可変手段１７は
ＳＳＵＭ信号をＳＳＵＭ信号ゲイン値倍に増幅したＳＳ
ＵＭ１信号をＴＣ信号生成手段１６に出力する。ＴＣゲ
イン可変手段１８は、ＴＣ信号をＴＣゲイン値倍に増幅
したＴＣ１信号を出力する。第２のゲイン値演算手段２
０ではＭＳＵＭ信号レベル及びＳＳＵＭ信号レベルの変
化に応じて所定の演算を行い、最適なＳＳＵＭゲイン値
と最適なＴＣゲイン値とを求める。ＴＣ信号生成手段１
６は、ＭＳＵＭ信号及びＳＳＵＭ１信号から式（８）に
より、 ＴＣ＝ＭＳＵＭ−ＳＳＵＭ１・・・・・（８） ＴＣ信号を生成する。判別手段１９は、光ディスク上の
所定のアドレスを読み出し光ディスク上の未記録領域と
記録済み領域をを判別する。

【００９１】以上のように構成された光ディスク装置の
動作について説明する。未記録領域のシーク動作時と記
録済み領域のシーク動作時とでは、光ディスクからの反
射光が変化する。従って、本実施の形態１１にかかる光
ディスク装置では、予め判別手段１９によって、光ディ
スク上の未記録領域と記録済み領域を判別して、それぞ
れの領域でシーク動作を行い、ＭＳＵＭ信号の変化率α
を算出して、ＳＳＵＭゲイン値およびＴＣゲイン値を求
め、それらのゲイン値を記憶手段８に記憶する。以下、
未記録領域シーク動作から記録済み領域のシーク動作へ
の移行する場合のＳＳＵＭゲイン値とＴＣゲイン値の制
御方法について図２７を用いて説明する。図２７は光デ
ィスク上の未記録領域及び記録済み領域に対してシーク
動作を行った時の、ＴＥ信号（ａ）、ＭＳＵＭ信号
（ｂ）、ＳＳＵＭ信号（ｃ）、ＴＣ信号（ｄ）、及びＴ
Ｃ１信号（ｅ）の波形図である。まず、未記録領域シー
ク動作時に、ＴＣ１信号の振幅が一定になるように、Ｓ
ＳＵＭ信号ゲイン可変手段１７にＳＳＵＭゲイン値ｋ５
を、ＴＣゲイン可変手段１８にＴＣゲイン値ｋ６を設定
する。

【００９２】続いて、図２７に示すように未記録領域シ
ーク動作から記録済み領域シーク動作に移行にすると、
光ディスクからの反射光量が減少するのでＭＳＵＭ信号
及びＳＳＵＭ信号の振幅は変化する。第２のゲイン値演
算手段２０は、ＭＳＵＭ信号の振幅が変化すると、ＭＳ
ＵＭ信号の振幅の変化率αを算出する。未記録領域シー
ク動作時のＭＳＵＭ信号レべルをＭＳＵＭ１、記録済み
領域シーク動作時のＭＳＵＭ信号レベルをＭＳＵＭ２と
すると、変化率αはα＝ＭＳＵＭ２／ＭＳＵＭ１とな
る。なお、シーク動作中において反射光の変化率はメイ
ンビームとサブビームとで等しいので、ＭＳＵＭ信号レ
ベルの変化率は、ＳＳＵＭ信号レベルの変化率と同じに
なる。第２のゲイン値演算手段２０は、ＳＳＵＭゲイン
値ｋ５にαを積算したＳＳＵＭゲイン値ｋ５’を求め
る。ＳＳＵＭゲイン値ｋ５’はＳＳＵＭ信号ゲイン可変
手段１７に設定されるとともに記憶手段８に記憶され
る。また、ＴＣ信号はＭＳＵＭ信号レベルの変化に伴い
α倍に変化することから、第２のゲイン値演算手段２０
はＴＣゲイン値ｋ６にαの逆数１／αを積算して、ＴＣ
ゲイン値ｋ６’を求める。ＴＣゲイン値ｋ６’は記憶手
段８に記憶されるとともにＴＣゲイン可変手段１８に設
定される。以上のような動作はスピンアップ動作時に行
うようにする。そして、以降の動作において、記録済み
領域シーク動作から未記録領域シーク動作移行時に、記
憶手段８に記憶しているＳＳＵＭゲイン値及びＴＣゲイ
ン値を切り換えてＳＳＵＭ信号ゲイン可変手段１７、Ｔ
Ｃゲイン可変手段１８に設定する。

【００９３】なお、再生動作中にシーク動作を行うとき
に、判別手段１９によって、予めシーク開始アドレス
と、シーク終了アドレスで光ディスク状態が異なること
がわかっている場合は、シーク動作時にＳＳＵＭ信号ゲ
イン値とＴＣゲイン値とを切り換える。

【００９４】以上のように本実施の形態１１にかかる光
ディスク装置では、記録済み領域シーク動作時と未記録
領域シーク動作時に、光ディスクからの反射光量の変化
率を求め、その変化率に基づいて、サーボエラーゲイン
値（ＴＣゲイン値）、サブビームの総和信号のゲイン値
を算出して各値を記憶した。そして、それぞれの反射光
に応じて適切なＳＳＵＭゲイン値とＴＣゲイン値とを設
定して、サーボエラー信号（ＴＣ信号）を求めるように
した。これにより、シーク動作時において、反射光の変
化に応じて、ゲイン値を切り換えて設定する時に、ＴＣ
信号にゲイン差が生じず、シーク動作の安定化を図るこ
とができる。

【００９５】なお、実施の形態１１では、未記録領域シ
ーク動作から記録済み領域のシーク動作へ移行する場合
を例に挙げ説明を行ったが、記録済み領域シーク動作か
ら未記録領域シーク動作へ移行する場合も、同様にして
反射光に応じたＳＳＵＭゲイン値及びＴＣゲイン値を求
め、ＳＳＵＭゲイン値及びＴＣゲイン値を制御するよう
にしても良い。

【００９６】また、実施の形態１１では、ＭＳＵＭ信号
レベルの変化率に応じて、ＳＳＵＭゲイン値とＴＥゲイ
ン値を求める方法について説明したが、シーク動作中に
おいて反射光の変化率はメインビームとサブビームとで
等しいことから、ＳＳＵＭ信号レベルの変化率に応じ
て、ＳＳＵＭゲイン値とＴＥゲイン値を求めるようにし
ても良い。

【００９７】（実施の形態１２）以下に、本発明の実施
の形態１２にかかる光ディスク装置について説明する。
本実施の形態１２では、サーボエラー信号としてＴＣ信
号を生成する実施例について説明する。図２８は、本実
施の形態１２にかかる光ディスク装置のＴＣ信号生成部
の構成を示すブロック図であり、図２６に示すＴＣ信号
生成部装置と同一の構成要素には同じ符号を付しその説
明を省略する。ＴＣオフセット測定手段２１はＴＣゲイ
ン可変手段１８通過後のＴＣ信号に生じるオフセットを
測定する。具体的には、Ｓ字信号であるＴＣ信号のピー
クレベルとボトムレベルとを検出して、（ピークレベル
＋ボトムレベル）／２の演算により、ＴＣ信号の中心を
求めて、基準電圧Ｖrefからのオフセットを求める。Ｔ
Ｃオフセット補正手段２２はＴＣオフセット測定手段２
１で測定したオフセット値を用いてオフセットを打ち消
すオフセット補正値を生成する。これにより、加算器２
３でＴＣ信号のオフセットをキャンセルできる。

【００９８】以上のように構成された光ディスク装置
の、記録済み領域シーク動作から未記録領域シーク動作
への移行する場合のＳＳＵＭゲイン値とＴＣゲイン値の
制御方法について図２９を用いて説明する。図２９は記
録済み領域から未記録領域にシーク動作が移行した時
の、ＭＳＵＭ信号（ａ）、ＴＣ信号（ｂ）、ＴＣ１信号
（ｃ）、及びＴＣ２信号（ｄ）の波形図である。本実施
の形態１２にかかる光ディスク装置では、まず、記録済
み領域のシーク動作時に、制御手段が、ＴＣ２信号の出
力が所定の振幅となるようなＳＳＵＭゲイン値ｋ５、Ｔ
Ｃゲイン値ｋ６を、ＳＳＵＭ信号ゲイン可変手段１７と
ＴＣゲイン可変手段１８に設定する。この時、ＴＣオフ
セット測定手段２１は、ＴＣ１信号に生じるオフセット
Ｏｆｓ１を測定する。

【００９９】続いて、未記録領域にシーク動作が移行す
ると、ＭＳＵＭ信号の振幅が増加するため、第２のゲイ
ン値演算手段２０ではＭＵＳＭ信号の振幅とＳＳＵＭ信
号の振幅とが等しくなるようにＭＳＵＭ信号の変化率α
を求め、ＳＳＵＭゲイン値ｋ５をα倍して、ｋ５’を求
める。なお、記録済み領域シーク動作時のＭＳＵＭ信号
レベルをＭＳＵＭ１、未記録領域シーク時のＭＳＵＭ信
号レベルをＭＳＵＭ２とすると、変化率αはα＝ＭＳＵ
Ｍ２／ＭＳＵＭ１となる。また、ＴＣ信号の振幅もα倍
になるため、第２のゲイン値演算手段２０は、ＴＣ１信
号の出力が変化しないようにＴＣゲイン値ｋ６を１／α
倍したＴＣゲイン値ｋ６’を求め、ＴＣゲイン可変手段
１８に設定する。この時、ＴＣオフセット測定手段２１
は、ＴＣ１信号に生じるオフセットＯｆｓ２を測定す
る。以上のようにして求めた、ＳＳＵＭゲイン値ｋ５，
ｋ５’、ＴＣゲイン値ｋ６，ｋ６’、及びオフセットＯ
ｆｓ１，オフセットＯｆｓ２は記憶手段８に記憶する。
そして、以降の動作において、記録済み領域シーク動作
から未記録領域シーク動作移行時に、制御手段が記憶手
段８に記憶しているそれぞれの設定値を切り換えてＳＳ
ＵＭ信号ゲイン可変手段１７、ＴＣゲイン可変手段１８
及びＴＣオフセット補正手段２２に設定する。

【０１００】以上のように本実施の形態１２にかかる光
ディスク装置では、記録済み領域シーク動作時と未記録
領域シーク動作時に、光ディスクからの反射光量の変化
率を求め、その変化率に基づいて、サブビームの総和信
号のゲイン値（ＳＳＵＭゲイン値）、サーボエラーゲイ
ン値（ＴＣゲイン値）及びサーボエラー信号（ＴＣ信
号）のオフセット値を算出して各値を記憶した。そし
て、それぞれの反射光に応じて適切なＳＳＵＭゲイン
値、ＴＣゲイン値及びＴＣオフセット値を設定して、Ｔ
Ｃ信号を求めるようにした。これにより、ＴＣゲイン値
を切り換えて設定する時に、ＴＣ信号のオフセット値を
補正して、ＴＣ信号にオフセットが生じないようにする
ことができる。

【０１０１】なお、上記実施の形態１〜実施の形態１２
では、サーボエラー信号としてＴＥ信号、ＬＥ信号また
はＴＣ信号を求める動作について説明したが、本発明の
光ディスク装置はこの動作に限るものではなく、サーボ
エラー信号としてＦＥ信号を求める場合も同様にしてサ
ブサーボエラーゲイン値を制御できる。ＦＥ信号を求め
る場合は、ＭＢ信号から式（４）を用いてＭＦＥ信号を
求める手段と、ＳＢ信号から式（５）を用いてＳＦＥ信
号を求める手段と、ＭＦＥ信号とＳＦＥ信号とからＦＥ
信号を求める手段を備え、上記実施の形態に示した方法
で、ＭＦＥ信号とＳＦＥ信号との振幅差を無くすように
サーボエラー信号のゲイン値ｋを制御すればよい。

【０１０２】また、上記実施の形態では、ＣＤ−Ｒを例
に挙げ説明を行ったが、本発明はこれに限るものではな
く、他の記録型の光ディスクにも適応できる。他の記録
型の光ディスクとしては例えばＣＤ−ＲＷが挙げられ
る。

【０１０３】

【発明の効果】以上のように本発明の光ディスク装置
は、メインビームとサブビームを光ディスクに出射し、
メインビームの反射光から得られるメインサーボエラー
信号とサブビームの反射光から得られるサブサーボエラ
ー信号とからサーボエラー信号を生成し、サーボ制御を
行う光ディスク装置であり、反射光が変化する動作の切
り換え時に、適切なサブサーボエラー信号のゲイン値を
設定して、メインサーボエラー信号とサブサーボエラー
信号の振幅差を無くすようにした。これにより、光ディ
スクからの反射光が変化してもサーボエラー信号にオフ
セットが生じることなく、サーボ動作の追従性を向上さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のＭＰＰ信号生成手段及びＳＰＰ信号生成手段の構成を
示すブロック図である。

【図３】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のサーボ動作を説明するための図で、フォーカスサーボ
動作開始時の、ＭＰＰ信号（ａ）、ＳＰＰ１信号（ｂ）
及びＴＥ信号（ｃ）の波形を示す図である。

【図４】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
において、レンズシフト状態でトラッキングサーボ動作
を開始した際の、スポットと受光素子の位置関係を説明
するための図である。

【図５】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のサーボ動作を説明するための図で、記録動作時の、出
射パワー（ａ）、ＭＳＵＭ信号（ｂ）及びＳＳＵＭ信号
（ｃ）の波形を示す図である。

【図６】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のサーボ動作を説明するための図で、レンズシフトが発
生した状態で再生動作から記録動作に移行した時の、Ｍ
ＳＵＭ信号（ａ）、出射パワー（ｂ）、ＭＰＰ信号
（ｃ）、ＳＰＰ１信号（ｄ）及びＴＥ信号（ｅ）の波形
を示す図である。

【図７】本発明の実施の形態１にかかる光ディスク装置
のサーボ動作を説明するための図で、レンズシフトが発
生した状態で記録済み領域から未記録領域に移動した時
の、ＭＳＵＭ信号（ａ）、ＭＰＰ信号（ｂ）、ＳＰＰ１
信号（ｃ）及びＴＥ信号（ｄ）の波形を示す図である。

【図８】本発明の実施の形態２にかかる光ディスク装置
のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図９】本発明の実施の形態２にかかる光ディスク装置
のサーボ動作を説明するための図で、レンズシフトが発
生した状態で再生動作から記録動作に移行した時の、Ｍ
ＳＵＭ信号（ａ）、ＳＳＵＭ信号（ｂ）、ＭＰＰ信号
（ｃ）、ＳＰＰ１信号（ｄ）及びＴＥ信号（ｅ）の波形
を示す図である。

【図１０】光ディスクの種類毎の、レーザ光の出射パワ
ーに対するＭＳＵＭ信号／ＳＳＵＭ信号の特性を示す図
である

【図１１】ＣＤ−Ｒディスクにレーザ光を出射した際
の、出射パワーに対するＭＳＵＭ信号及びＳＳＵＭ信号
の特性を示す図である。

【図１２】ＣＤ−ＲＷディスクにレーザ光を出射した際
の、出射パワーに対するＭＳＵＭ信号及びＳＳＵＭ信号
の特性を示す図である。

【図１３】記録動作時における光ディスク回転速度毎
の、レーザ出射パワーに対するＭＳＵＭ信号／ＳＳＵＭ
信号の特性を示す図である。

【図１４】レーザ光の出射パワーに対するＭＳＵＭ信号
／ＳＳＵＭ信号の特性を示す図である。

【図１５】本発明の実施の形態６にかかる光ディスク装
置の、ＯＰＣ動作時のＳＰＰゲイン設定動作を示す図で
ある。

【図１６】本発明の実施の形態７にかかる光ディスク装
置のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図１７】本発明の実施の形態７にかかる光ディスク装
置のＬＥ信号生成手段の構成を示すブロック図である。

【図１８】本発明の実施の形態７にかかる光ディスク装
置のサーボ動作を説明するための図で、ＳＰＰゲイン調
整時の、ＭＰＰ信号（ａ）、ＳＰＰ信号（ｂ）、ＴＥ信
号（ｃ）及びＬＥ信号（ｄ）の波形を示す図である。

【図１９】本発明の実施の形態８にかかる光ディスク装
置のサーボ動作を説明するための図で、再生動作から記
録動作への移行時の、ＷＧＡＴＥ信号（ａ）、出射パワ
ー（ｂ）、ＭＳＵＭ信号（ｃ）及びＲＦ信号（ｄ）の波
形を示す図である。

【図２０】本発明の実施の形態９にかかる光ディスク装
置のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図２１】本発明の実施の形態９にかかる光ディスク装
置の再生状態でのＴＥ信号生成部のゲイン配分を示すブ
ロック図である。

【図２２】本発明の実施の形態９にかかる光ディスク装
置の記録状態でのＴＥ信号生成部のゲイン配分を示すブ
ロック図である。

【図２３】本発明の実施の形態１０にかかる光ディスク
装置のＴＥ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図２４】本発明の実施の形態１０にかかる光ディスク
装置のサーボ動作を説明するための図で、ゲインの変化
に対するオフセットの変化を示す図である。

【図２５】本発明の実施の形態１０にかかる光ディスク
装置のサーボ動作を説明するための図で、ゲインとオフ
セットの比例関係を示す図である。

【図２６】本発明の実施の形態１１にかかる光ディスク
装置のＴＣ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図２７】本発明の実施の形態１１にかかる光ディスク
装置のサーボ動作を説明するための図で、未記録領及び
記録済み領域のシーク動作時に得られる、ＴＥ信号
（ａ），ＭＳＵＭ信号（ｂ）、ＳＳＵＭ信号（ｃ）、Ｔ
Ｃ信号（ｄ）及びＴＣ１信号（ｅ）の波形を示す図であ
る。

【図２８】本発明の実施の形態１２にかかる光ディスク
装置のＴＣ信号生成部の構成を示すブロック図である。

【図２９】本発明の実施の形態１２にかかる光ディスク
装置のサーボ動作を説明するための図で、未記録領域及
び記録済み領域のシーク動作時に得られる、ＭＳＵＭ信
号（ａ）、ＴＣ信号（ｂ）、ＴＣ１信号（ｃ）及びＴＣ
２信号（ｄ）の波形を示す図である。

【図３０】従来の光ディスク装置の受光部の構成を示す
図である。

【図３１】従来の光ディスク装置のサーボ動作を説明す
るための図で、（ａ）レーザの出射パルス、（ｂ）光デ
ィスクからの反射光レベル、（ｃ）サンプルホールドの
タイミング、（ｄ）サンプルホールド後の反射光レベル
を示している。

【符号の説明】

１、３１ メインビーム受光部 ２ａ，ｂ、３２ａ，ｂサブビーム受光部 ３ ＭＰＰ信号生成手段 ４ ＳＰＰ信号生成手段 ５ ＳＰＰゲイン可変手段 ６ 反射光測定手段 ７ 第１のゲイン値演算手段 ８ 記憶手段 ９ ＴＥ信号生成手段 １０ ＬＥ信号生成手段 １１ ＴＥゲイン可変手段 １２ ＴＥオフセット測定手段 １３ ＴＥオフセット補正手段 １４ ＭＳＵＭ信号生成手段 １５ ＳＳＵＭ信号生成手段 １６ ＴＣ信号生成手段 １７ ＳＳＵＭ信号ゲイン可変手段 １８ ＴＣゲイン可変手段 １９ 判別手段 ２０ 第２のゲイン値演算手段 ２１ ＴＣオフセット測定手段 ２２ ＴＣオフセット補正手段 ２３ 加算器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 加地 俊彦 香川県高松市古新町８番地の１ 松下寿電 子工業株式会社内 (72)発明者 藤本 光輝 香川県高松市古新町８番地の１ 松下寿電 子工業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D117 AA02 AA10 CC06 FF09 FF14 FF15 FF19 FF21 FX06 5D118 AA18 BA01 BF02 BF03 BF07 BF12 CA02 CA08 CB03 CD01 CD02 CD03 CD06 CD08 CD11 CD18 CF17 CG04 CG14 CG33 CG44 DA33 DA35

Claims (32)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに対してメインビームとサブ
   ビームからなるレーザ光を出射し、前記光ディスクから
   の反射光として、目的トラックからの反射光であるメイ
   ンビームの反射光と、前記目的トラックからトラック方
   向にずれた位置からの反射光であるサブビームの反射光
   を受光するピックアップ部と、 前記メインビームからメインサーボエラー信号を生成す
   るメインサーボエラー信号生成手段と、 前記サブビームからサブサーボエラー信号を生成するサ
   ブサーボエラー信号生成手段と、 前記サブサーボエラー信号のゲインを、サブサーボエラ
   ーゲイン値を用いて可変するサブサーボエラーゲイン可
   変手段と、 前記サブサーボエラーゲイン値を演算するゲイン値演算
   手段と、 前記光ディスクからの反射光を測定する反射光測定手段
   と、 前記サブサーボエラーゲイン値を記憶する記憶手段と、 前記メインサーボエラー信号と前記サブサーボエラーゲ
   イン可変手段でゲインを可変したサブサーボエラー信号
   とからサーボエラー信号を生成するサーボエラー信号生
   成手段と、 前記各構成要素を制御する制御手段と、を備える光ディ
   スク装置において、 前記記憶手段は、前記第１のサブサーボエラーゲイン値
   と前記第２のサブサーボエラーゲイン値とを保持し、 前記制御手段は、前記光ディスクからの反射光が変化す
   る、第１の動作から第２の動作への移行時または第２の
   動作から第１の動作への移行時に、前記第１のサブサー
   ボエラーゲイン値と前記第２のサブサーボエラーゲイン
   値とを切り換えて前記サブサーボエラーゲイン可変手段
   に設定することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記サーボエラー信号はフォーカスエラー信号であるこ
   とを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記サーボエラー信号はトラッキングエラー信号であ
   る、ことを特徴とする光ディスク装置。
4. 【請求項４】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記サーボエラー信号はレンズポジションエラー信号で
   ある、ことを特徴とする光ディスク装置。
5. 【請求項５】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記第１の動作は再生動作であり、前記第２の動作は記
   録動作である、ことを特徴とする光ディスク装置。
6. 【請求項６】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記第１の動作は、前記光ディスク上の記録済み領域に
   対する再生動作であり、前記第２の動作は前記光ディス
   ク上の未記録領域に対する再生動作である、ことを特徴
   とする光ディスク装置。
7. 【請求項７】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記サブサーボエラーゲイン可変手段に設定されるサブ
   サーボエラーゲイン値の初期値は、前記メインサーボエ
   ラー信号の振幅と、前記サブサーボエラー信号の振幅と
   が等しくなる値である、ことを特徴とする光ディスク装
   置。
8. 【請求項８】 請求項１に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
   メインビームの総和信号レベルを測定する、ことを特徴
   とする光ディスク装置。
9. 【請求項９】 請求項５に記載の光ディスク装置におい
   て、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
   メインビームの総和信号レベルを測定し、 前記ゲイン値演算手段は、前記第２の動作時に設定され
   るサブサーボエラーゲイン値を、前記第１の動作時の出
   射パワーに対する前記第２の動作時の出射パワーの変化
   率と、前記第１の動作時のメインビームの総和信号レベ
   ルに対する前記第２の動作時のメインビームの総和信号
   レベルの変化率との比に、前記第１の動作時に設定され
   ていたサブサーボエラーゲイン値を積算して求める、こ
   とを特徴とする光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 請求項６に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号レベルを測定し、 前記ゲイン値演算手段は、前記第２の動作時に設定され
    るサブサーボエラーゲイン値を、前記第１の動作時のメ
    インビームの総和信号レベルに対する前記第２の動作時
    のメインビーム総和信号レベルの変化率に、前記第１の
    動作時に設定されていたサブサーボエラーゲイン値を積
    算して求める、ことを特徴とする光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 請求項１に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号レベルを、前記サブビームの反
    射光からサブビームの総和信号レベルを求める、ことを
    特徴とする光ディスク装置。
12. 【請求項１２】 請求項１１に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記ゲイン値演算手段は、反射光変化時に設定されるサ
    ブサーボエラーゲイン値を、反射光変化前のメインビー
    ムの総和信号レベルに対する反射光変化後のメインビー
    ムの総和信号レベルの変化率と、反射光変化前のサブビ
    ームの総和信号レベルに対する反射光変化後のサブビー
    ムの総和信号レベルの変化率との比に、反射光変化前に
    設定されていたサブサーボエラーゲイン値を積算して求
    める、ことを特徴とする光ディスク装置。
13. 【請求項１３】 請求項１に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記記憶手段は、前記サブサーボエラーゲイン値と前記
    制御手段が前記光ディスクから読み出す光ディスクの種
    類に関する光ディスク種類情報とを記憶し、 前記制御手段は、前記光ディスクの種類に応じたサブサ
    ーボゲイン値が前記記憶手段に記憶されている場合、そ
    の光ディスクの種類に応じたサブサーボエラーゲイン値
    を前記サブサーボゲイン可変手段に設定する、ことを特
    徴とする光ディスク装置。
14. 【請求項１４】 請求項１３に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記光ディスク種類情報には光ディスクメーカの種類に
    関する情報も含まれる、ことを特徴とする光ディスク装
    置。
15. 【請求項１５】 請求項１に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記記憶手段は、前記サブサーボエラーゲイン値と前記
    制御手段が測定した光ディスクの回転速度に関する情報
    とを記憶し、 前記制御手段は、前記光ディスクの回転速度に対応する
    サブサーボエラーゲイン値が前記記憶手段に記憶されて
    いる場合、その回転速度に対応するサブサーボエラーゲ
    イン値を前記サブサーボゲイン可変手段に設定する、こ
    とを特徴とする光ディスク装置。
16. 【請求項１６】 請求項５に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記記憶手段は、前記サブサーボゲイン値と、記録動作
    時のレーザ光の出射パワー値とを記憶し、 前記制御手段は、記録動作時に、レーザ光の出射パワー
    に対応したサブサーボエラーゲイン値が前記記憶手段に
    記憶されている場合、その出射パワーに対応するサブサ
    ーボエラーゲイン値を前記サブサーボゲイン可変手段に
    設定する、ことを特徴とする光ディスク装置。
17. 【請求項１７】 請求項５に記載の光ディスク装置にお
    いて、 最適記録パワー取得動作時に、レーザ光の出射パワー毎
    のサブサーボゲイン値を演算して、前記記憶手段に記憶
    する、ことを特徴とする光ディスク装置。
18. 【請求項１８】 請求項１７に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記最適記録パワー取得動作は、レンズオフセット量が
    所定値以下になった場合に開始する、ことを特徴とする
    光ディスク装置。
19. 【請求項１９】 請求項１８に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記メインサーボエラー信号と前記サブサーボエラー信
    号とからレンズポジションエラー信号を生成するレンズ
    ポジションエラー信号生成手段を備え、 前記制御手段は、前記レンズポジションエラー信号から
    レンズオフセット量を求める、ことを特徴とする光ディ
    スク装置。
20. 【請求項２０】 請求項１に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記制御手段は、前記光ディスクからの反射光が所定値
    以上変化した場合に、前記第１の動作と前記第２の動作
    との状態遷移が発生したと判定する、ことを特徴とする
    光ディスク装置。
21. 【請求項２１】 請求項２０に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号レベルを求め、 前記制御手段は、前記メインビームの総和信号レベルか
    ら前記反射光が所定値以上変化したかどうかを判断す
    る、ことを特徴とする光ディスク装置。
22. 【請求項２２】 請求項２０に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    ＲＦ信号を求め、 前記制御手段は、前記ＲＦ信号から前記反射光が所定値
    以上変化したかどうかを判断する、ことを特徴とする光
    ディスク装置。
23. 【請求項２３】 請求項１に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記サーボエラー信号のゲインを、サーボエラーゲイン
    値を用いて可変するサーボエラーゲイン可変手段を備え
    る、ことを特徴とする光ディスク装置。
24. 【請求項２４】 請求項２３に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号を求め、 前記記憶手段は、第１のサーボエラーゲイン値と第２の
    サーボエラーゲイン値とを保持し、 前記制御手段は、前記反射光が変化する際に、前記第１
    のサーボエラーゲイン値と前記第２のサーボエラーゲイ
    ン値とを切り換えて前記サーボエラーゲイン可変手段に
    設定し、 前記ゲイン値演算手段は、反射光変化時に設定されるサ
    ーボエラーゲイン値を、反射光変化前のメインビームの
    総和信号レベルに対する反射光変化後のメインビームの
    総和信号レベルの比に、反射光変化前に設定されていた
    サーボエラーゲイン値を積算して求める、ことを特徴と
    する光ディスク装置。
25. 【請求項２５】 請求項２３または請求項２４に記載の
    光ディスク装置において、 前記サーボエラー信号のオフセット値を測定するサーボ
    エラーオフセット測定手段と、 前記オフセット値に基づいてオフセット補正値を生成
    し、前記サーボエラー信号のオフセットを補正するサー
    ボエラーオフセット補正手段と、を備え、 前記制御手段は、前記サーボエラーゲイン可変手段に前
    記サーボエラーゲイン値を設定する際に、前記サーボエ
    ラーゲイン値によって決定されるサーボエラー信号のオ
    フセット値を前記サーボエラーオフセット補正手段に設
    定する、ことを特徴とする光ディスク装置。
26. 【請求項２６】 請求項２５に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記サーボエラーオフセット測定手段は、所定のサーボ
    エラーゲイン値に対応したサーボエラーオフセット値を
    測定し、 前記記憶手段は、前記サーボエラーゲイン値とそれに対
    応するオフセット値を記憶する、ことを特徴とする光デ
    ィスク装置。
27. 【請求項２７】 光ディスクに対してメインビームとサ
    ブビームからなるレーザ光を出射し、前記光ディスクか
    らの反射光として、目的トラックからの反射光であるメ
    インビームの反射光と、前記目的トラックからトラック
    方向にずれた位置からの反射光であるサブビームの反射
    光を受光するピックアップ部と、 前記メインビームの反射光からメインビームの総和信号
    を生成するメインビーム総和信号生成手段と、 前記サブビームの反射光からサブビームの総和信号を生
    成するサブビーム総和信号生成手段と、 前記サブビーム総和信号のゲインを、サブビーム総和信
    号ゲイン値を用いて可変するサブビーム総和信号ゲイン
    可変手段と、 前記メインビーム総和信号と前記サブビーム総和信号ゲ
    イン可変手段でゲインを可変したサブビーム総和信号と
    からトラッククロス信号を生成するトラッククロス生成
    手段と、 前記トラッククロス信号のゲインを、トラッククロスゲ
    イン値を用いて可変するトラッククロスゲイン可変手段
    と、 前記サブビーム総和信号ゲイン値と前記トラッククロス
    ゲイン値とを演算するゲイン値演算手段と、 前記サブビーム総和信号ゲイン値と前記トラッククロス
    ゲイン値とを記憶する記憶手段と、 前記各構成要素を制御する制御手段と、を備える光ディ
    スク装置において、 前記記憶手段は、第１のサブビーム総和信号ゲイン値と
    第２のサブビーム総和信号ゲイン値を保持し、 前記制御手段は、前記反射光が変化する、前記光ディス
    ク上の未記録領域のシーク動作から前記光ディスク上の
    記録済み領域のシーク動作への移行時または前記光ディ
    スク上の記録済み領域のシーク動作から前記光ディスク
    上の未記録領域のシーク動作への移行時に、前記第１の
    サブビーム総和信号ゲイン値と前記第２のサブビーム総
    和信号ゲイン値とを切り換えて前記サブビーム総和信号
    ゲイン可変手段に設定する、ことを特徴とする光ディス
    ク装置。
28. 【請求項２８】 請求項２７に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記光ディスク上の所定のアドレスを読み取って、前記
    光ディスク上の記録済み領域と未記録領域とを判別する
    判別手段を備える、ことを特徴とする光ディスク装置。
29. 【請求項２９】 請求項２７または２８に記載の光ディ
    スク装置において、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号を求め、 前記ゲイン値演算手段は、反射光変化時に設定されるサ
    ブビーム総和信号ゲイン値を、反射光変化前のメインビ
    ームの総和信号レベルに対する反射光変化後のメインビ
    ームの総和信号レベルの比に、反射光変化前に設定され
    ていたサブビーム総和信号ゲイン値を積算して求める、
    ことを特徴とする光ディスク装置。
30. 【請求項３０】 請求項２７または２８に記載の光ディ
    スク装置において、 前記反射光測定手段は、前記メインビームの反射光から
    メインビームの総和信号を求め、 前記記憶手段は、第１のトラッククロスゲイン値と第２
    のトラッククロスゲイン値とを保持し、 前記制御手段は、前記反射光が変化する際に、前記第１
    のトラッククロスゲイン値と前記第２のトラッククロス
    ゲイン値とを切り換えて前記トラッククロスゲイン可変
    手段に設定し、 前記ゲイン値演算手段は、反射光変化時に設定されるト
    ラッククロスゲイン値を、反射光変化前のメインビーム
    の総和信号レベルに対する反射光変化後のメインビーム
    の総和信号レベルの比に、反射光変化前に設定されてい
    たトラッククロスゲイン値を積算して求める、ことを特
    徴とする光ディスク装置。
31. 【請求項３１】 請求項２７または２８に記載の光ディ
    スク装置において、 前記トラッククロス信号に生じるオフセット値を測定す
    るトラッククロスオフセット測定手段と、 前記オフセット値に基づいてオフセット補正値を生成
    し、前記トラッククロス信号のオフセットを補正するト
    ラッククロスオフセット補正手段とを備え、 前記トラッククロスオフセット測定手段は、前記トラッ
    ククロスゲイン値に対応したトラッククロスオフセット
    値を測定し、 前記制御手段は、前記トラッククロスゲイン可変手段に
    前記トラッククロスゲイン値を設定する際に、前記トラ
    ッククロスゲイン値に対応したトラッククロス信号のオ
    フセット補正値を前記トラッククロスオフセット補正手
    段に設定する、ことを特徴とする光ディスク装置。
32. 【請求項３２】 請求項３１に記載の光ディスク装置に
    おいて、 前記記憶手段は、前記トラッククロスゲイン値とそれに
    対応するオフセット値を前記記憶手段に記憶する、こと
    を特徴とする光ディスク装置。