JP2003303415A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＤＶＤ−Ｒなどの光ディスクにデータを記録
する光ディスク装置において記録パワーの最適化を図
る。 【解決手段】 光ディスク装置のコントローラ３０は、
ＤＶＤ−Ｒなどの光ディスク１０にデータを記録する
際、ＯＰＣにより記録パワーを最適化する。ＯＰＣにお
いてテストデータを記録し、テストデータを再生して得
られるＲＦ信号のジッタとアシンメトリが最適値となる
記録パワーを選択する。このため、２値化部２２におけ
る２値化しきい電圧を生成するゲインを変化させて２値
化し、２値化信号のジッタの変化をジッタ測定部２６で
測定する。アシンメトリが０％の時にゲインを変化させ
てもジッタ変化はなく、アシンメトリが０％以外の場合
にゲインを変化させるとジッタも変化する。コントロー
ラ３０は、ジッタの平均値が最小となる記録パワーを最
適記録パワーに選択する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置、特
に記録パワーの最適化に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等の記
録可能光ディスクにデータを記録する際には、光ディス
ク毎の記録感度のバラツキを考慮し、光ディスクの所定
領域に記録パワーを種々変化させてテストデータを記録
し、該テストデータを再生してその再生品質を測定する
ことで記録パワーを最適化している（ＯＰＣ）。再生信
号品質としては、ジッタやβ値、あるいはアシンメトリ
が用いられる。例えば、ＤＶＤ−Ｒにおいては、アシン
メトリは−５％〜１５％であることが規格で定められて
いる。なお、アシンメトリとは、再生ＲＦ信号の１４Ｔ
振幅中心に対して３Ｔ振幅中心がどの程度ずれているか
を示すものである。

【０００３】図９には、ＡＣ結合した再生ＲＦ信号波形
が示されており、ＤＶＤ−Ｒでは３Ｔ〜１１Ｔ及び１４
Ｔの信号が存在しているが１４Ｔと３Ｔの信号のみが示
されている。１４Ｔの最大値Ｉ_14Hと最小値Ｉ_14L、３Ｔ
の最大値Ｉ_3Hと最小値Ｉ_3Lとすると、アシンメトリは以
下の式で定義される。

【０００４】

【数１】アシンメトリ＝｛（Ｉ_14H＋Ｉ_14L）／２−（Ｉ
_3H＋Ｉ_3L）／２｝／Ｉ₁₄ なお、Ｉ₁₄は１４Ｔの振幅（Ｉ_14H−Ｉ_14L）である。３
Ｔの振幅中心と１４Ｔの振幅中心がずれていない場合に
はアシンメトリ＝０％となり、これは再生ＲＦ信号をＡ
Ｃ結合した中心レベルと基準電圧Ｒｅｆレベルとが一致
することを意味する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＯＰＣ
（Optimum Power Control）においてアシンメトリある
いはβを用いて記録パワーを最適化する方法では、その
記録パワーでジッタがどのようになっているか不明であ
る（ジッタが最小とは限らない）問題がある。逆に、ジ
ッタが最小となるように記録パワーを最適化する方法で
は、アシンメトリが目標値に達していない場合もあり得
る。

【０００６】したがって、ＯＰＣを行う際にはアシンメ
トリ測定回路及びジッタ測定回路を設けてアシンメトリ
とジッタを共に測定し、両者が最良値となる記録パワー
に設定することが好適であるが、両測定回路を設けると
装置構成が複雑化し、コストも増加してしまう。

【０００７】本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑
みなされたものであり、その目的は、簡易な構成でアシ
ンメトリとジッタを共に満足できる記録パワーに調整す
ることができる光ディスク装置を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、光ディスクにデータを記録する際の記録
パワーを調整する光ディスク装置であって、前記光ディ
スクの所定領域にテストデータを記録する記録手段と、
前記テストデータを再生する再生手段と、再生ＲＦ信号
を２値化する２値化手段と、２値化信号のジッタを検出
する検出手段と、前記ジッタ値に基づき前記記録パワー
を調整する制御手段とを有し、前記２値化手段は、前記
再生ＲＦ信号をしきい電圧で２値化する比較手段と、前
記比較手段からの正相出力と逆相出力から基準電圧を作
成する基準電圧作成手段と、前記基準電圧と前記逆相出
力を比較するとともにその出力の一部を負帰還させて前
記しきい電圧を生成するしきい電圧生成手段とを有し、
前記制御手段は、前記しきい電圧手段での前記負帰還の
ゲインを変化させたときの前記検出手段でのジッタ変化
に基づき前記記録パワーを調整することを特徴とする。

【０００９】前記しきい電圧生成手段は、差動増幅器
（コンパレータ）を含み、前記差動増幅器の非反転入力
端子に前記基準電圧が入力され、反転入力端子に前記逆
相出力が入力され、前記負帰還の回路は抵抗及びコンデ
ンサを並列接続してなる複数のゲイン調整回路が切替可
能に接続して構成されることが好適である。

【００１０】前記制御手段は、前記ジッタ変化が最小と
なるように前記記録パワーを調整することが好適であ
る。

【００１１】また、前記制御手段は、前記ゲインを変化
させたときのジッタの総和が最小となるように前記記録
パワーを調整することもできる。

【００１２】このように、本発明の光ディスク装置で
は、ジッタとアシンメトリを共に目標値に設定できる記
録パワーを設定する際に、ジッタ測定手段とアシンメト
リ測定手段を別個に設けるのではなく、ジッタ測定手段
のみでジッタとアシンメトリを同時に評価する。すなわ
ち、アシンメトリが０％の場合にはゲインを変化させて
も２値化のしきい電圧が変動せず２値化信号のデューテ
ィ比も変化しないためジッタも変化しないが、アシンメ
トリが０％以外の場合にはゲインを変化させると２値化
のしきい電圧がゲインに応じて増減して２値化信号のデ
ューティ比も変化する。したがって、アシンメトリが０
％以外の場合にはゲインを変化させるとそれに応じてジ
ッタも変化することとなるから、ジッタの絶対値のみな
らずジッタの変化を測定することで、ジッタとアシンメ
トリを共に評価することができる。

【００１３】本発明の光ディスク装置は、ＣＤ−Ｒドラ
イブやＤＶＤ−Ｒドライブ、あるいはこれらを含むコン
ボドライブに適用できる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
形態について説明する。

【００１５】＜第１実施形態＞ ＜全体構成＞図１には、本実施形態に係る光ディスク装
置の構成ブロック図が示されている。

【００１６】ＤＶＤ−Ｒ等の光ディスク１０は、図示し
ないスピンドルモータにより回転駆動される。

【００１７】ピックアップ（ＰＵ）１２は、光ディスク
１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光
を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダ
イオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２
により駆動され、データを記録する際には記録パワーの
レーザ光、再生時には再生パワーのレーザ光をそれぞれ
照射する。記録パワーは後述の如くデータ記録に先立つ
ＯＰＣにより最適化される。また、ピックアップ１２は
光ディスク１０から反射したレーザ光を電気信号に変換
するフォトディテクタを有し、再生信号をサーボ検出部
１４及びＲＦ検出部２０に出力する。

【００１８】サーボ検出部１４は、ピックアップ１２か
らの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１
６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング
制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピック
アップ１２を光ディスク１０のトラック方向に駆動して
オントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８
はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフ
ォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。４
分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割されたデ
ィテクタの差分からトラッキングエラー信号が生成さ
れ、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフォー
カスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式も可
能である。

【００１９】ＲＦ検出部２０は、ピックアップ１２から
の信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、フィルタリン
グ、イコライジング（３Ｔ信号のブースト）して２値化
部２２に出力する。２値化部２２では、入力信号をＡＣ
結合した後にしきい電圧を用いて２値化し、２値化信号
をデコーダ２４に出力する。また、ＯＰＣ実行時には２
値化部２２は２値化信号をジッタ測定部２６に出力す
る。２値化部２２での２値化処理についてはさらに後述
する。

【００２０】デコーダ２４は、入力した２値化信号を復
調してコントローラ３０に出力する。復調は、図示しな
いＰＬＬ回路で２値化信号から同期クロック信号を生成
することで実行される。コントローラ３０に出力された
復調データは図示しないコンピュータ等の上位装置に出
力される。

【００２１】ジッタ測定部２６は、ＯＰＣ実行時に入力
される２値化信号のジッタを測定してコントローラ３０
に出力する。ジッタは、２値化信号と同期クロック信号
との位相差で測定される。

【００２２】コントローラ３０は、サーボ検出部１４や
ＲＦ検出部２０、２値化部２２等の各部の動作を制御す
る。データ記録時には、上位装置から供給された記録デ
ータを符号化してＬＤＤ３２を駆動し、設定された記録
ストラテジでパワー変調しデータを記録する。また、コ
ントローラ３０は、データ記録に先立って光ディスク１
０の所定領域（ＰＣＡエリア）にテストデータを記録
し、該テストデータを再生してそのジッタをジッタ測定
部２６から入力する。従来装置においては、単に記録パ
ワーを種々変化させて得られた各記録パワー毎のジッタ
から最小ジッタが得られる記録パワーを最適記録パワー
に設定しているが、本実施形態ではジッタとアシンメト
リを両方満足すべく、コントローラ３０は２値化部２２
でのしきい電圧ゲインを変化させ、ゲインを変化させた
ときのジッタ変化に基づいて最適記録パワーを設定す
る。本実施形態では、単にジッタ測定部２６が存在する
のみであり、アシンメトリ測定部が別途設けられていな
い点に注意されたい。

【００２３】＜２値化部の構成＞図２には、図１におけ
る２値化部２２の構成ブロック図が示されている。２値
化部２２は、入力ＲＦ信号を２値化するオペアンプ２２
ａ、基準電圧Ｒｅｆを作成して出力する基準電圧作成部
２２ｂ、及びオペアンプ２２ａで入力ＲＦ信号を２値化
する際のしきい電圧を作成して出力するしきい電圧作成
部を含んで構成される。

【００２４】オペアンプ２２ａの非反転入力端子（＋）
にはＡＣ結合されたＲＦ信号が入力される。ＲＦ信号の
中心レベルは基準電圧Ｒｅｆである。一方、オペアンプ
２２ａの反転入力端子（−）にはしきい電圧生成部で生
成されたしきい電圧が入力される。オペアンプ２２ａ
は、しきい電圧を用いてＲＦ信号を２値化してその正相
出力をデコーダ２４に出力するとともに、ＯＰＣ実行時
にはジッタ測定部２６に出力する。また、オペアンプ２
２ａは正相出力及び逆相出力を基準電圧作成部２２ｂに
出力する。

【００２５】基準電圧作成部２２ｂは、オペアンプ２２
ａからの正相出力と逆相出力の中間レベルの信号を生成
して基準電圧Ｒｅｆとして出力する。すなわち、基準電
圧作成部２２ｂでは、正相出力と逆相出力を加算してそ
の半分を基準電圧Ｒｅｆとする。基準電圧Ｒｅｆはしき
い電圧作成部に供給される。

【００２６】しきい電圧作成部は、オペアンプ２２ｃ及
びオペアンプ２２ｃの負帰還回路を構成する３つのロー
パスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３から構成さ
れる。３つのローパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２
２ｄ３をそれぞれ構成するＲ及びＣの値は互いに異なっ
ており、３つのローパスフィルタは切替スイッチＳＷで
択一的に負帰還回路に接続される。切替スイッチＳＷは
コントローラ３０からの制御信号で切替制御される。

【００２７】オペアンプ２２ｃの非反転入力端子（＋）
には基準電圧作成部２２ｂで作成された基準電圧Ｒｅｆ
が供給される。また、オペアンプ２２ｃの反転入力端子
（−）にはオペアンプ２２ａからの逆相信号が入力され
る。さらに、オペアンプ２２ｃの出力の一部は３つのロ
ーパスフィルタ２２ｄ１、２２ｄ２、２２ｄ３のいずれ
かを介して反転入力端子（−）に帰還される。ローパス
フィルタで決定されるゲインによりしきい電圧が設定さ
れ、オペアンプ２２ａの反転入力端子（−）に供給され
る。

【００２８】従来の光ディスク装置においても、再生Ｒ
Ｆ信号を２値化してデコーダ２４あるいはジッタ測定部
２６に出力する２値化部は設けられており、例えば図３
に示されるような構成である。なお、従来の２値化部は
本実施形態の２値化部２２とその構成が相違するが、説
明の都合上同一の符号２２を付している。本実施形態の
２値化部２２との相違は、しきい電圧生成部を構成する
オペアンプ２２ｃの負帰還ループを構成するローパスフ
ィルタが１つだけ設けられており、所定の（単一の）ゲ
インで負帰還される点である。このゲインは、通常、入
力ＲＦ信号の振幅に対し２値化信号の振幅が等しくなる
ように設定される。本実施形態の２値化部２２は、図３
に示された従来の２値化部に対し、しきい電圧生成部の
負帰還ゲインを３段階に切り替え可能に構成されている
と云うことができる。具体的には、ローパスフィルタ２
２ｄ２で定まるゲインが通常のゲイン（０ｄＢ）であ
り、ローパスフィルタ２２ｄ１で定まるゲインは通常の
ゲインよりも大きなゲイン（４０ｄＢ）、ローパスフィ
ルタ２２ｄ３で定まるゲインは通常のゲインよりも小さ
いゲイン（−４０ｄＢ）に設定される。

【００２９】＜２値化動作＞以下、図４及び図５のタイ
ミングチャートを用いて本実施形態における２値化部２
２の動作を説明する。

【００３０】＜アシンメトリが０％の場合＞図４には、
アシンメトリ＝０％のＲＦ信号が入力された場合の２値
化部２２におけるタイミングチャートが示されている。

【００３１】図４（ａ）はオペアンプ２２ａの非反転入
力端子（＋）に入力されるＲＦ信号であり、アシンメト
リ＝０％であるから１４Ｔの振幅中心と３Ｔの振幅中心
は一致して基準電圧Ｒｅｆのレベルに等しい。このとき
のＲＦ信号の振幅をｐとする。

【００３２】図４（ｂ）はオペアンプ２２ａからの正相
信号である。ＲＦ信号の１４Ｔの振幅中心と３Ｔの振幅
中心は基準電圧Ｒｅｆに一致し、しきい電圧を基準電圧
Ｒｅｆとすると、デューティ比５０％の正相信号が出力
される。正相信号の振幅をｑとする。

【００３３】図４（ｃ）はオペアンプ２２ａの逆相信号
である。逆相信号も正相信号と同様にデューティ比５０
％の信号である。図４（ｄ）は基準電圧生成部２２ｂで
の処理を示したものであり、正相信号と逆相信号を加算
した信号の半分のレベルを基準電圧Ｒｅｆとする。すな
わち、基準電圧Ｒｅｆ＝ｑ／２である。通常のゲインで
は、既述したようにｐ＝ｑとなるように調整されるか
ら、基準電圧Ｒｅｆ＝ｑ／２＝ｐ／２である。この基準
電圧Ｒｅｆがオペアンプ２２ｃの非反転入力端子（＋）
に供給される。

【００３４】図４（ｅ）はしきい電圧生成部の信号あ
る。オペアンプ２２ｃの反転入力端子（−）にはオペア
ンプ２２ａからの逆相信号が入力される。オペアンプ２
２ｃの出力であるしきい電圧は、Ｒｅｆとローパスでフ
ィルタリングされ負帰還されるレベルｆとの差分をΔ
（Δ＝ｆ−Ｒｅｆ）とすると、Ｒｅｆ＋｛Δ×（−
ｋ）｝で与えられる。ｋはゲインである。この場合、逆
相信号をローパスでフィルタリングした結果のＤＣレベ
ルｆは逆相信号のデューティ比が５０％であることから
基準電圧Ｒｅｆに等しく、したがって差分Δは０であっ
てゲインｋがどのような値であってもオペアンプ２２ｃ
からは基準電圧Ｒｅｆがしきい電圧として出力される。

【００３５】このように、ＲＦ信号のアシンメトリが０
％である場合には、しきい電圧生成部で生成されてオペ
アンプ２２ａにフィードバックされるしきい電圧は基準
電圧Ｒｅｆに常に一致し、ローパスフィルタ２２ｄ１、
２２ｄ２、２２ｄ３のいずれを用いてもしきい電圧は変
化しない。したがって、しきい電圧生成部のゲインを大
ゲイン、通常ゲイン、小ゲインと３段階に変化させて
も、オペアンプ２２ａからは常にデューティ比５０％の
２値化信号がジッタ測定部２６に供給されることにな
り、ジッタ測定部２６で測定されるジッタには変化が生
じない（あるいは変化が生じたとしても僅かな量にすぎ
ない）。

【００３６】＜アシンメトリが０％以外の場合＞一方、
図５にはアシンメトリが０％でない場合、例えばアシン
メトリが０％より高い場合のタイミングチャートが示さ
れている。記録パワーが適正パワーよりも過剰である場
合、３Ｔデータは過剰記録となるため反射率が低下す
る。したがって、３Ｔの振幅中心のレベルは反射率の低
い方にシフトする。

【００３７】図５（ａ）はオペアンプ２２ａの非反転入
力端子（＋）に入力されるＲＦ信号である。アシンメト
リが０％より高い場合、上述したように１４Ｔの振幅中
心よりも３Ｔの振幅中心が反射率の低い方にシフトする
ため両信号の振幅中心は一致しない。

【００３８】図５（ｂ）はオペアンプ２２ａからの正相
信号である。１４Ｔ振幅中心と３Ｔ振幅中心とが異なる
ため、基準電圧Ｒｅｆを用いてオペアンプ２２ａで２値
化してもデューティ比は５０％とならず、具体的には３
Ｔ側において＋側のパルス幅が小さくなりデューティ比
が５０％より小さくなる。

【００３９】図５（ｃ）はオペアンプ２２ａからの逆相
信号である。逆相信号では、正相信号とは反転の関係に
あるから３Ｔ側において＋側のパルス幅が大きくなりデ
ューティ比は５０％より大きくなる。

【００４０】図５（ｄ）は基準電圧作成部２２ｂでの処
理であり、正相信号と逆相信号を加算してその半分のレ
ベルを基準電圧Ｒｅｆとして出力する。

【００４１】図５（ｅ）はしきい電圧生成部での処理で
ある。逆相信号は、図５（ｃ）に示されるように３Ｔの
デューティ比が５０％よりも大きくなっており、ローパ
スでフィルリングした後のＤＣレベルｆもＲｅｆよりΔ
だけ高くなる。オペアンプ２２ｃから出力されるしきい
電圧は、Ｒｅｆ＋（Δ×（−ｋ））となり、ゲインｋに
応じてしきい電圧が変動することとなる。すなわち、ゲ
インｋを十分低くするとしきい電圧はＲｅｆに等しくな
り、オペアンプ２２ａからの２値化信号のデューティ比
は５０％より小さいＤｓ％となる。ゲインｋを十分大き
くすると、しきい電圧は低下し、オペアンプ２２ａから
の２値化信号のデューティ比は５０％に近づいていく。
但し、デューティが５０％となると差分Δが０となって
フィードバックが働かずに安定しないので、結局、ゲイ
ンｋが十分大きい場合にはデューティ比が５０％より若
干小さいＤｂ％のところに落ち着くことになる。ゲイン
ｋを通常ゲインとすると、しきい電圧はゲインｋが十分
低い場合のＲｅｆレベルと、ゲインが十分大きい場合の
レベルの中間レベルとなり、２値化信号のデューティ比
Ｄｍも両ゲインのデューティ比の間、すなわちＤｓ＜Ｄ
ｍ＜Ｄｂ＜５０となる。

【００４２】このように、ＲＦ信号のアシンメトリが０
％でない場合には、ゲインｋを変化させるとしきい電圧
が変化し、オペアンプ２２ａからの２値化信号のデュー
ティ比が変化する。このことは、しきい電圧生成部のゲ
インを変化させた場合にジッタ測定部２６で測定される
ジッタに変化がある場合には、ＲＦ信号のアシンメトリ
が０％以外であると判定できることを意味する。コント
ローラ３０は、このような原理に基づいてジッタ変化か
ら間接的にＲＦ信号のアシンメトリを測定する。

【００４３】なお、記録パワーが適正パワーよりも過小
でアシンメトリが０％よりも小さい場合も同様であり、
ゲインを変化させると２値化信号のデューティ比が変化
することになる。この場合、オペアンプ２２ａからの逆
相信号のデューティ比は５０％より小さくなり、したが
って逆相信号をローパスで積分して得られるＤＣレベル
ｆはＲｅｆよりも小さくなって差分Δが生じる。ゲイン
ｋが十分小さいとしきい電圧はＲｅｆとなってオペアン
プ２２ａからの２値化信号（正相信号）のデューティ比
は５０％より大きいＤｓ’％となり、ゲインｋが十分大
きいとしきい電圧は上昇しデューティ比が５０％より若
干高いＤｂ’％となり、通常ゲインの場合には両者の中
間のゲインＤｍ’となる。したがって、ゲインを変化さ
せるとジッタが変化することになる。

【００４４】＜全体処理＞図６には、以上の動作原理に
基づく本実施形態の全体処理フローチャートが示されて
いる。まず、光ディスク１０をスピンドルモータに装着
した後、光ディスク１０の所定領域（コントロールデー
タゾーン）に記録されているディスク情報（ディスクの
種類やメーカ名）を取得する（Ｓ１０１）。次に、光デ
ィスク１０のランドプリピット情報より基本ストラテジ
を取得する（Ｓ１０２）。ストラテジは、記録パルスの
時間幅やパルス数を規定するものである。例えば、ＤＶ
Ｄ−Ｒの場合、３Ｔはモノパルスで記録し、４Ｔ以上は
マルチパルスで記録するが、モノパルスやマルチパルス
の時間幅を設定する。

【００４５】ディスク情報及び基本ストラテジを取得し
た後、光ディスク１０のＰＣＡエリアに記録パワーを
０．５ｍＷ毎に１６段階に変化させて１６フレームにテ
ストデータを記録する（Ｓ１０３）。光ディスク１０に
基準記録パワーが設定されている場合、この基準記録パ
ワーを中心に前後に１６段階振ることも好適である。

【００４６】１６フレームに渡ってテストデータを記録
した後、該テストデータを再生して２値化部２２で２値
化する。このとき、各フレーム毎（つまり記録パワー
毎）に再生されたＲＦ信号に対し、それぞれしきい電圧
生成部のゲインを４０ｄＢ、０ｄＢ、−４０ｄＢに順次
変化させて２値化する。２値化信号はジッタ測定部２６
に供給され、ジッタ測定部２６では、各ゲイン毎にジッ
タを測定してコントローラ３０に出力する（Ｓ１０
４）。各フレーム毎（記録パワー毎）に３段階のゲイン
でジッタが測定されるから、コントローラ３０には各記
録パワー毎に３つのジッタが入力されることになる。

【００４７】コントローラ３０では、各記録パワー毎の
３つのジッタをメモリに記憶し、各記録パワー毎に３つ
のジッタの平均値を算出する。そして、その平均値が最
小となる記録パワーを選択する（Ｓ１０５）。アシンメ
トリが０％の場合にはゲインを変化させてもジッタに変
化はなく、各ジッタが小さければその平均値も小さい。

【００４８】アシンメトリが０％からずれた場合にはゲ
インを変化させるとジッタが変化し、あるゲインでジッ
タが小さくても他のゲインではジッタが増大してしま
う。その変化はアシンメトリが０％からずれる程大き
い。したがって、３つのジッタの平均値の最小値が得ら
れる記録パワーを選択することで、ジッタも小さく、か
つアシンメトリも０％（あるいは０％に近い）である最
適記録パワーが得られる。このようにしてジッタ及びア
シンメトリを考慮した最適記録パワーを設定した後、当
該記録パワーでデータを記録する（Ｓ１０６）。

【００４９】表１には、記録パワーを９．０ｍＷ、１
０．０ｍＷ、１１．０ｍＷ及び１２．０ｍＷと変化させ
た場合の各ゲインにおけるジッタが示されている。

【００５０】

【表１】 記録パワー９．０ｍＷの時のジッタ平均値は１２．７
％、記録パワー１０．０ｍＷの時のジッタ平均値は１
１．３％、記録パワー１１．０ｍＷの時のジッタ平均値
は１１．８％、記録パワー１２．０ｍＷの時のジッタ平
均値は１６．３％である。記録パワー１０．０ｍＷの時
にジッタ平均値が最小となり、最適記録パワーは１０ｍ
Ｗであることがわかる。なお、表には各記録パワーにお
いて別途測定したアシンメトリの値も併せて示されてい
る。記録パワー９．０ｍＷの時は−２％、記録パワー１
０．０ｍＷの時は０％、記録パワー１１．０ｍＷの時は
４％、記録パワー１２．０ｍＷの時は１０％であり、確
かに記録パワー１０．０ｍＷの時にアシンメトリが０％
となっていることが確認できる。

【００５１】表において注目すべきは、ジッタの最小値
が得られる記録パワーが必ずしも最適記録パワーではな
いことである。すなわち、表においてジッタの最小値は
１０．５％であり、これは記録パワー１１．０ｍＷで得
られている。しかしながら、記録パワー１１．０ｍＷに
おけるアシンメトリは４％であり、アシンメトリの観点
からは最適記録パワーではない。このように、単にジッ
タが最小値となる記録パワーを最適記録パワーとするの
ではなく、ゲインを変化させた時のジッタの平均値が最
も小さい記録パワーを選択することで、ジッタのみなら
ずアシンメトリにも優れた記録パワーを選択できる。

【００５２】なお、ジッタの平均値が最小となる記録パ
ワーを選択することで、ジッタも小さく、かつ、アシン
メトリも０％に近い記録パワーを選択することが可能で
あるが、ジッタとアシンメトリのいずれを重視するかで
記録パワーを選択する際のアルゴリズムを適宜変えるこ
ともできる。

【００５３】例えば、ジッタとアシンメトリを共に改善
したいが特にジッタを改善したい場合には、３つのジッ
タの総和を算出し、総和が最小となる記録パワーを選択
すればよい。表２には、記録パワーを変化させたときの
他のジッタ変化が示されている。

【００５４】

【表２】 この表からわかるように、記録パワー１０．０ｍＷでは
ジッタは全て１３％で変化がなく、アシンメトリの観点
からは最適である。一方、記録パワー１１ｍＷではジッ
タに変化が生じているものの、それらの値は１０ｍＷの
場合よりも小さい。ジッタの総和で比較すると、１０ｍ
Ｗの場合の３９％に対し、１１ｍＷでは３５％と最小で
ある。したがって、ジッタを重視する観点からは、ジッ
タに変化がない１０ｍＷよりもジッタの絶対値が小さい
１１ｍＷが最適記録パワーとなる。一方、ジッタ及びア
シンメトリを共に改善したいが特にアシンメトリを重視
したい場合には、総和では２番目に小さいもののジッタ
変化がない１０ｍＷが最適記録パワーとなろう。

【００５５】ゲインを変化させたときのジッタの平均値
と変化量、あるいはジッタの総和と分散に基づき、記録
パワーを最適化することも好適である。総和（あるいは
平均値）と分散（あるいは変化量）に基づいて記録パワ
ーを最適化する場合、総和と分散を重み付けして得られ
る評価関数を定義し、ジッタとアシンメトリの優先度に
応じてそれぞれの重みを変化させて記録パワーを評価す
ることも好適である。

【００５６】ジッタの変化量あるいは分散は、アシンメ
トリが０％からずれる程大きくなるから、これを利用し
てアシンメトリを定量的に評価することも可能である。

【００５７】図７には、ゲインを変化させた時のジッタ
値の変化がアシンメトリをパラメータとして示されてい
る。図において、横軸はゲインであるり、縦軸はジッタ
である。アシンメトリ０％、５％、１０％の場合が示さ
れており、アシンメトリが０％から離れるほどゲイン変
化に対するジッタ変化が増大し、特にゲインが小さい場
合に顕著に増大する。これは、ゲインが小さいと２値化
信号のデューティが５０％から大きくずれるからであ
る。したがって、特にゲインが小さい場合のジッタの変
化量を測定し、あらかじめジッタ変化量とアシンメトリ
との関係を実験的に求めてメモリに記憶しておけば、ジ
ッタの変化量からアシンメトリを測定することができ
る。定量的に求めたアシンメトリの値は、例えばジッタ
を重視する場合でもどの程度までアシンメトリのずれを
許容するかの指標に利用できる。

【００５８】なお、本実施形態においては、小ゲインと
して−４０ｄＢ、通常ゲインとして０ｄＢ、大ゲインと
して４０ｄＢを用いているが、ゲインの設定はしきい電
圧が十分変化するレベルであれば任意の値に設定するこ
とが可能である。また、ゲイン小、通常ゲイン、ゲイン
大の３段階に変化させるのではなく、２段階（例えば通
常ゲインと小ゲイン）、あるいは４段階以上にゲインを
変化させてもよい。

【００５９】＜第２実施形態＞上述した第１実施形態に
おいてはジッタが小さく、かつアシンメトリも０％近傍
となる記録パワーを最適記録パワーに設定しているが、
ＤＶＤ−Ｒの規格においてはアシンメトリ値は−５％〜
１５％と規定されている。アシンメトリ値としては０％
が一般的には好ましいが、アシンメトリ値を規格の範囲
内であって０％以外の所望の値に設定する必要がある場
合もあり得る。このようにジッタを小さく抑えつつもア
シンメトリを所望の値に設定したい場合にも、本発明は
容易に対応できる。

【００６０】図８には、本実施形態に係る２値化部２２
の詳細構成ブロック図が示されている。図２と異なる点
は、しきい電圧生成部からのしきい電圧がオペアンプ２
２ａの反転入力端子（−）にフィードバックされると共
に、オフセット信号生成部２２ｅからオフセット信号が
供給される点である。すなわち、オフセット信号が加算
されたしきい電圧でＲＦ信号が２値化される構成であ
る。オフセット信号を加算することで２値化のしきい電
圧を調整し、所望のアシンメトリ値において２値化信号
のデューティ比が５０％となるようにする。この状態に
おいてゲインを変化させても、デューティ比は変化せず
ジッタも変化しない。一方、アシンメトリ値が当該所望
の値以外であると、２値化信号のデューティ比が５０％
からずれ、ゲインに応じてしきい電圧が変動してジッタ
も変化する。

【００６１】したがって、例えばアシンメトリ＝１０％
となるように記録パワーを調整したい場合、オフセット
信号生成部２２ｅからアシンメトリ値１０％に対応する
レベルのオフセット信号を出力し、ゲインを変化させた
ときにジッタの変化が最も小さい記録パワーを選択すれ
ばよい。もちろん、ジッタの平均値が最小となる記録パ
ワーを選択することで、ジッタが良く、かつアシンメト
リが所望の１０％近傍の記録パワーが得られる。具体的
には、入力ＲＦ信号の振幅をＡとすると、１４Ｔの振幅
も同様にＡであり、しきい電圧にオフセットレベルを加
えると、そのときフィードバックが安定している状態は
オペアンプ２２ａに入力されるしきい電圧（オフセット
レベルが印加された後のしきい電圧）がＲＦ信号の３Ｔ
振幅中心にあるとき（デューティ比５０％）である。Ａ
Ｃ結合後のＲＦ信号の中心レベルＲｅｆは、実際には３
Ｔ〜１４Ｔの信号の振幅中心レベルを加算し、その総和
で割ったものに等しいから、Ｒｅｆは１４Ｔの振幅中心
レベルと３Ｔ振幅中心レベルの中間にあるとして、オフ
セットレベル＝３Ｔの振幅中心レベル−Ｒｅｆとなる。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によればジ
ッタ測定手段とアシンメトリ測定手段を共に用いること
なく、ジッタ測定手段のみでＲＦ信号のアシンメトリ値
を評価することが可能となり、これにより簡易な構成で
ジッタ及びアシンメトリが共に良好な最適記録パワーに
設定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施形態の全体構成ブロック図である。

【図２】 ２値化部の構成ブロック図である。

【図３】 従来の２値化部の構成ブロック図である。

【図４】 アシンメトリ０％時のタイミングチャートで
ある。

【図５】 アシンメトリが０％より高い場合のタイミン
グチャートである。

【図６】 実施形態の処理フローチャートである。

【図７】 ゲインとジッタとの関係を示すグラフ図であ
る。

【図８】 他の実施形態の２値化部の構成ブロック図で
ある。

【図９】 アシンメトリ説明図である。

【符号の説明】

１０ 光ディスク、１２ ピックアップ（ＰＵ）、１４
サーボ検出部、１６トラッキング制御部、１８ フォ
ーカス制御部、２０ ＲＦ検出部、２２ ２値化部、２
４ デコーダ、２６ ジッタ測定部、３０ コントロー
ラ、３２ レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクにデータを記録する際の記録
   パワーを調整する光ディスク装置であって、 前記光ディスクの所定領域にテストデータを記録する記
   録手段と、 前記テストデータを再生する再生手段と、 再生ＲＦ信号を２値化する２値化手段と、 ２値化信号のジッタを検出する検出手段と、 前記ジッタ値に基づき前記記録パワーを調整する制御手
   段と、 を有し、前記２値化手段は、 前記再生ＲＦ信号をしきい電圧で２値化する比較手段
   と、 前記比較手段からの正相出力と逆相出力から基準電圧を
   作成する基準電圧作成手段と、 前記基準電圧と前記逆相出力を比較するとともにその出
   力の一部を負帰還させて前記しきい電圧を生成するしき
   い電圧生成手段と、 を有し、前記制御手段は、前記しきい電圧手段での前記
   負帰還のゲインを変化させたときの前記検出手段でのジ
   ッタ変化に基づき前記記録パワーを調整することを特徴
   とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記しきい電圧生成手段は、差動増幅器を含み、 前記差動増幅器の非反転入力端子に前記基準電圧が入力
   され、反転入力端子に前記逆相出力が入力され、前記負
   帰還の回路は抵抗及びコンデンサを並列接続してなる複
   数のゲイン調整回路が切替可能に接続して構成されるこ
   とを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項１、２のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記制御手段は、前記ジッタ変化が最小となるように前
   記記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク装
   置。
4. 【請求項４】 請求項１、２のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記制御手段は、前記ゲインを変化させたときのジッタ
   の総和が最小となるように前記記録パワーを調整するこ
   とを特徴とする光ディスク装置。