JP4023406B2

JP4023406B2 - 再生信号処理回路及びこれを備えた光ディスク装置

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Publication number: JP4023406B2
Application number: JP2003199525A
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Inventors: 著明真下
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Publication date: 2007-12-19
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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は再生信号処理回路及び光ディスク装置に関し、特に再生ＲＦ信号の２値化（デジタル信号化）に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクを駆動してデータを再生する光ディスク装置において、光ピックアップで再生されたデータのＲＦ信号を２値化して復調し、コンピュータなどの上位装置に出力している。
【０００３】
再生ＲＦ信号の２値化は、所定周波数成分をブーストするイコライザやゲインを調整するオートゲインコントローラ（ＡＧＣ）で波形及びレベルを調整した後、ＲＦ信号と所定のスライスレベルとを大小比較する比較器で行われる。スライスレベルは、２値化信号のＨｉ（１）区間とＬｏｗ（０）区間との出現比を１：１に設定すべく、２値化信号をローパスフィルタを介してフィードバックさせて生成する。
【０００４】
図６には、従来の再生信号処理回路の構成が示されている。再生ＲＦ信号は比較器１０１の非反転入力端子＋に供給される。一方、出力の２値化信号はローパスフィルタ（ＬＰＦ）１０２で低域成分が抽出され、スライスレベルとして比較器１０１の反転入力端子に戻される。比較器１０１は、再生ＲＦ信号とスライスレベルを大小比較し、２値化信号として出力する。なお、データ記録時において、記録すべきデータを８−１４変換（ＥＦＭ）する場合、２値化信号もＥＦＭ信号として復調器に供給される。
【０００５】
一方、ＣＤにおいては３Ｔ〜１１Ｔ（Ｔは基本周期長）の長さのデータが記録され、ＤＶＤにおいては３Ｔ〜１４Ｔの長さのデータが記録される。３Ｔ〜１１Ｔ、あるいは３Ｔ〜１４Ｔの再生ＲＦ信号の非対称性あるいはアシンメトリ（以下、単にアシンメトリと称する）は、所定の範囲内に収まるように予め記録パワー等が調整されてデータが記録されるが、アシンメトリが特に劣化している場合もある。このような場合にはローパスフィルタでフィードバックさせたスライスレベルではアシンメトリの劣化に対応できず、結果として再生ＲＦ信号が正しく２値化されず、データエラーが生じる。
【０００６】
そこで、下記に示す従来技術では、再生ＲＦ信号のアシンメトリをβ値で算出し、β値を用いてスライスレベルを補償することが記載されている。
【０００７】
図７には、従来技術におけるスライスレベル補償の回路構成が示されている。再生ＲＦ信号は、ピークホルダ部２１３，ボトムホルダ部２１２及び第２低域通過フィルタ２１１に供給される。ピークホルダ部２１３は再生ＲＦ信号のピークレベルを検出し、ボトムホルダ部２１２は再生ＲＦ信号のボトムレベルを検出してそれぞれ制御部２１４に供給する。第２低域通過フィルタ２１１は再生ＲＦ信号の低域成分、すなわち再生ＲＦ信号の平均レベルを制御部２１４に供給する。制御部２１４は、これらのレベルからβ値を算出し、算出されたβ値によりスライスレベルの補償量を決定する。スライスレベル調整部２１５は、制御部２１４で決定されたスライスレベル補償量により第１低域通過フィルタ２０２から出力されるスライスレベルを調整して比較器２０１に供給する。
【０００８】
【特許文献１】
特開２００２−３５８７２５号公報
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
このように、アシンメトリの程度を示すβ値を算出し、β値を用いてスライスレベルの補償量を決定することでアシンメトリの劣化にも対応することができる。しかしながら、β値を算出するのは煩雑であり、また、β値に顕著に表れる程度のアシンメトリではないものの、よりデータ再生時のエラーを低減するために、より細かくスライスレベルを最適値に調整できることが望ましい。
【００１０】
本発明の目的は、再生ＲＦ信号の２値化に用いるスライスレベルを適応的に調整して最適化できる再生信号処理回路及びこれを備えた光ディスク装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、記録媒体から再生された再生ＲＦ信号を２値化する再生信号処理回路であって、前記再生ＲＦ信号をスライスレベルと比較して２値化信号を出力する比較手段と、前記スライスレベルを生成して前記比較手段に供給するスライスレベル生成手段と、前記再生ＲＦ信号のデータ長を検出する検出手段と、前記データ長に応じて前記スライスレベルを調整する調整手段とを有することを特徴とする。本発明では、再生ＲＦ信号のデータ長（３Ｔ〜１１Ｔあるいは１４Ｔ）が検出され、検出されたデータ長に応じて適応的にスライスレベルが調整され、再生ＲＦ信号が２値化される。再生ＲＦ信号の非対称性あるいはアシンメトリが大きい場合でも、データ長に応じたスライスレベルで２値化されるため、アシンメトリの影響が抑制される。データ長に応じたスライスレベルの調整は、データ長を複数のグループに分けてもよく、あるいはデータ長に対して１：１対応で調整してもよい。
【００１２】
本発明において、前記スライスレベル生成手段は、前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、前記ローパスフィルタの出力にオフセット値を印加する印加手段とを有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記オフセット値を変化させることで前記スライスレベルを調整してもよい。データ長に応じたオフセット値変化は、データ長を複数のグループに分けて行ってもよく、あるいはデータ長に対して１：１対応で調整してもよい。
【００１３】
本発明において、前記スライスレベル生成手段は、前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、複数のデータ長毎に設定されたオフセット値を発生するオフセット生成手段と、複数の前記オフセット値のいずれかを前記ローパスフィルタの出力に選択的に印加するスイッチ手段とを有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記スイッチ手段を切替制御することで前記スライスレベルを調整することができる。
【００１４】
また、本発明において、前記スライスレベル生成手段は、前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、複数のデータ長毎に設定されたオフセット値を発生するオフセット生成手段と、複数の前記オフセット値をそれぞれ前記ローパスフィルタの出力に印加することで複数の前記スライスレベルを複数出力する印加手段とを有し、前記比較手段は、前記再生ＲＦ信号と前記印加手段から出力された複数の前記スライスレベルをそれぞれ比較する複数の比較器を有し、さらに、前記複数の比較器からの複数の２値化信号を選択的に切替えるスイッチ手段とを有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記スイッチ手段を切替制御することもできる。
【００１５】
本発明の再生信号処理回路は、光ディスクを駆動する光ディスク装置に適用することができる。このような光ディスク装置では、前記再生信号処理回路からの前記２値化信号を復調する復調回路を有し、復調して得られた再生データを例えばコンピュータ等の上位装置に出力する。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１７】
図１には、本実施形態における再生信号処理回路としての２値化部を備える光ディスク装置の全体構成図が示されている。
【００１８】
図１には、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図が示されている。ＣＤやＤＶＤ等の光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１９】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２はオートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４は、光ディスク１０のテストエリア（ＰＣＡ）において実行されたＯＰＣ（Optimum Power Control）により選択された最適記録パワーとなるようにドライバ２２の駆動電流を制御する。ＯＰＣは、光ディスク１０のＰＣＡに記録パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、該テストデータを再生してその信号品質を評価し、所望の信号品質が得られる記録パワーを選択する処理である。信号品質には、β値やγ値、変調度、ジッタ等が用いられる。なお、光ディスク装置が再生専用機である場合にはこのような記録パワー最適化処理は不要である。
【００２０】
光ディスク１０からデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化部３４に供給する。２値化部３４は、再生信号を２値化し、得られたＥＦＭ信号（ＣＤディスク）あるいは８−１６変調信号（ＤＶＤディスク）をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号をＥＦＭ復調あるいは８−１６復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００２１】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードしてＥＦＭデータあるいは８−１６変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、ＥＦＭデータあるいは８−１６変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは、例えばマルチパルスにおける先頭パルスのパルス幅や後続パルスのパルス幅、パルスデューティから構成される。記録ストラテジは記録品質に影響することから、通常はある最適ストラテジに固定される。ＯＰＣ時に記録ストラテジを併せて設定してもよい。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化部３４に供給し、２値化されたＥＦＭデータあるいは８−１６変調データはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、ＥＦＭデータあるいは８−１６変調データをデコードし、バッファメモリ３８に記憶されている記録データと照合する。ベリファイの結果はシステムコントローラ３２に供給される。
【００２２】
図２には、図１における２値化部３４の回路構成が示されている。２値化部３４は、基本構成として、再生ＲＦ信号の所定周波数成分（３Ｔ）をブーストするイコライザ（ＥＱ）３４ａ、オートゲインコントローラ（ＡＧＣ）３４ｂ、ＲＦ信号とスライスレベルを大小比較する比較器３４ｃ、２値化信号を入力し、その低域成分、すなわち平均レベルをスライスレベルとして比較器３４ｃにフィードバックするローパスフィルタ（ＬＰＦ）３４ｄを備える。
【００２３】
一方、本実施形態の２値化部３４は、さらに、オフセット１を記憶し出力するオフセット回路３４ｅ、オフセット２を記憶し出力するオフセット回路３４ｆ、オフセット回路３４ｅからのオフセット１とＬＰＦ３４ｄからのスライスレベルを加算してスライスレベルを調整する加算器３４ｇ、オフセット回路３４ｆからのオフセット２とＬＰＦ３４ｄからのスライスレベルを加算してスライスレベルを調整する加算器３４ｈ、再生ＲＦ信号と加算器３４ｇからの調整されたスライスレベルとを比較する比較器３４ｉ、再生ＲＦ信号と加算器３４ｊからの調整されたスライスレベルとを比較する比較器３４ｊ、及び比較器３４ｃ，３４ｉ，３４ｊからの２値化信号を入力し、いずれかを選択的に出力するスイッチ３４ｋ、及びスイッチ３４ｋに切替信号を出力するデータ長検出部３４ｍを備える。
【００２４】
オフセット１及びオフセット２の値は予め設定され、例えばオフセット１は短データ長（３Ｔ、４Ｔ）用として所定の正数がセットされ、オフセット２は長データ長（例えば１０Ｔ、１１Ｔ）用として所定の負数がセットされる。したがって、比較器３４ｉにおけるスライスレベルは比較器３４ｃのスライスレベルよりも増大し、比較器３４ｊにおけるスライスレベルは比較器３４ｃのスライスレベルより下降する。比較器３４ｃのスライスレベルをスライスレベルＡ、比較器３４ｉのスライスレベルをスライスレベルＢ、比較器３４ｊのスライスレベルをスライスレベルＣとすると、スライスレベルＢ＞スライスレベルＡ＞スライスレベルＣである。比較器３４ｃからは再生ＲＦ信号をスライスレベルＡで２値化した信号が出力され、比較器３４ｉからは再生ＲＦ信号をスライスレベルＢで２値化した信号が出力され、比較器３４ｊからは再生ＲＦ信号をスライスレベルＣで２値化した信号が出力される。
【００２５】
スイッチ３４ｋは、検出部３４ｍからの切替信号に応じて３つの２値化信号のいずれかを選択的に出力する。切替信号は、再生ＲＦ信号のデータ長に応じて出力される信号であり、スイッチ３４ｋは、データ長が中データ長である場合には比較器３４ｃからの２値化信号を選択出力し、データ長が短データ長である場合には比較器３４ｉからの２値化信号を選択出力し、データ長が長データ長である場合には比較器３４ｊからの２値化信号を選択出力する。
【００２６】
検出部３４ｍは、再生ＲＦ信号のデータ長を検出するが、具体的には再生ＲＦ信号をあるスライスレベルで２値化した２値化信号の極性反転とタイマカウントに基づき再生ＲＦ信号に含まれるデータ長を検出する。このため、比較器３４ｃ、３４ｉ、３４ｊからの２値化出力が検出部３４ｍに供給される。検出部３４ｍは、これら３つの信号のデータ長を選択的に検出する。もちろん、検出部３４ｍは、再生ＲＦ信号のデータ長を直接検出してもよい。切替信号の生成についてはさらに後述する。
【００２７】
図３（Ａ）、（Ｂ）には、再生ＲＦ信号とスライスレベルＡ、Ｂ、Ｃとの関係が示されている。図３（Ａ）は再生ＲＦ信号、図３（Ｂ）は設定されるスライスレベルである。光ディスク１０がＣＤの場合、再生ＲＦ信号には３Ｔ〜１１Ｔの信号が含まれる。光ディスク１０がＤＶＤの場合、再生ＲＦ信号には３Ｔ〜１４Ｔの信号が含まれる。図においては、再生ＲＦ信号のうち、１１Ｔ、３Ｔ、６Ｔの場合が例示されている。一般に、高周波信号は低周波信号よりも反射レベルが増大するためベースレベルがアップする。具体的には、１１Ｔの信号振幅は大きくベースレベルは小さく、３Ｔの信号振幅は小さくベースレベルは大きい。そこで、図３に示すように、再生ＲＦ信号が１１Ｔの場合にはスライスレベルをＣに設定し、３Ｔの場合にはスライスレベルをＢに設定し、６Ｔの場合にはスライスレベルをＡに設定する。このようにスライスレベルを再生ＲＦ信号のデータ長に応じて切り替えることにより、たとえ再生ＲＦ信号のアシンメトリがあっても適応的にスライスレベルを設定し、正確に２値化することができる。
【００２８】
スライスレベルの切替は、再生ＲＦ信号のデータ長を検出し、検出データ長に応じてスイッチ３４ｋを切り替えることで達成されるが、当初は高周波（短周期）のデータ長に合わせたスライスレベルの設定とし、検出されたデータ長が所定のデータ長以上の長さを有する場合に順次中周期、長周期のスライスレベルに切り替えることによっても達成される。以下では、この場合の処理について説明する。
【００２９】
図４には、本実施形態の処理フローチャートが示されている。まず、短周期のスライスレベルを設定して再生ＲＦ信号とスライスレベルＢとを比較する比較器３４ｉからの出力を検出部３４ｍでの検出対象とし、同時にスイッチ３４ｋの切替接点を比較器３４ｉの出力に切り替える（Ｓ１０１）。検出部３４ｍは、比較器３４ｉからの２値化信号の極性が反転したか否かを判定し（Ｓ１０２）、極性が反転した場合に内蔵タイマをスタートさせる（Ｓ１０３）。このタイマのカウントアップは、短周期（例えば３Ｔ〜５Ｔの周期）に合わせて設定される。この時間をＴ１とする。そして、所定のカウントアップＴ１に達するまでに再び極性が反転した場合には（Ｓ１０４、Ｓ１０５）、再生ＲＦ信号、より特定的には比較器３４ｉからの２値化信号は短周期のデータ長が含まれることとなり、スイッチ３４ｋの切替接点は比較器３４ｉ側に切り替わっているため比較器３４ｉから２値化信号が出力される。その後、Ｓ１０３の処理に戻り、再びタイマをスタートさせて極性反転が生じるか否かを検出する。
【００３０】
Ｓ１０４にて極性反転が検出されずにタイマがカウントアップした場合、再生ＲＦ信号は短周期より長い中周期あるいは長周期であることを意味するから、次に中周期のスライスレベルを設定して再生ＲＦ信号とスライスレベルＡとを比較する比較器３４ｃからの出力を検出部３４ｍでの検出対象とし、同時にスイッチ３４ｋの切替接点を比較器３４ｃの出力に切り替える（Ｓ１０６）。そして、検出部３４ｍは、比較器３４ｃからの２値化信号の極性が反転したか否かを判定し（Ｓ１０７）、カウントアップ時間内に極性が反転したか否かを判定する（Ｓ１０７、Ｓ１０９）。このタイマのカウントアップは、中周期（例えば６Ｔ〜８Ｔ）に合わせて設定され、Ｓ１０５のカウントアップ時間よりも長いＴ１＋Ｔ２とすることができる。所定のカウントアップＴ１＋Ｔ２に達するまでに極性が反転した場合、すなわち、Ｔ１以上（Ｔ１＋Ｔ２）以内に極性反転が生じた場合には、中周期のデータ長であるからスイッチ３４ｋの切替接点は比較器３４ｃ側に切り替わっているため、比較器３４ｃから２値化信号が出力される。そして、短周期スライスレベルに再び設定し、同時にスイッチ３４ｋの切替接点を比較器３４ｉの出力に切替え（Ｓ１０８）、Ｓ１０３の処理を繰り返す。すなわち、タイマを再びスタートさせ、極性反転が生じるか否かを判定する。中周期のデータ長が継続して存在する場合、Ｓ１０４にてＮＯ、Ｓ１０５にてＹＥＳと判定され、Ｓ１０７にて再びＹＥＳと判定されて比較器３４ｃからの２値化信号が継続して出力される。
【００３１】
一方、極性反転が検出されずに中周期用タイマがカウントアップした場合、再生ＲＦ信号のデータ長は長周期であることを意味するから、長周期（９Ｔ〜１４Ｔ）のスライスレベルを設定して再生ＲＦ信号とスライスレベルＣとを比較する比較器３４ｊからの出力を検出部３４ｍでの検出対象とし、同時にスイッチ３４ｋの切替接点を比較器３４ｊの出力に切り替える（Ｓ１１０）。そして、検出部３４ｍは、比較器３４ｊからの２値化信号の極性が所定のカウントアップ、例えばＴ１＋Ｔ２＋Ｔ３以内に反転したか否かを判定し（Ｓ１１１、Ｓ１１２）、（Ｔ１＋Ｔ２）以上であって（Ｔ１＋Ｔ２＋Ｔ３）以内に極性が反転した場合には、スイッチ３４ｋの切替接点は比較器３４ｊ側に切り替わっているため、比較器３４ｊから２値化信号が出力される。そして、短周期スライスレベルに再び設定し、同時にスイッチ３４ｋの切替接点を比較器３４ｉの出力に切替え（Ｓ１０８）、Ｓ１０３以降の処理を繰り返す。長周期のデータ長が継続して存在する場合、Ｓ１０４にてＮＯ、Ｓ１０５にてＹＥＳ、Ｓ１０７にてＮＯ、Ｓ１０９にてＹＥＳ、Ｓ１１１にてＹＥＳと順次判定されるため、比較器３４ｊからの２値化信号が継続して出力される。一方、長周期のデータ長から短周期のデータ長に変化した場合、Ｓ１０８にて短周期のスライスレベルが設定され、Ｓ１０４にて極性反転が検出されるから、スイッチ３４ｋの切替接点は比較器３４ｉ側のため、比較器３４ｉからの２値化信号が出力される。長周期のデータ長から中周期のデータ長に変化した場合、Ｓ１０８にて短周期のスライスレベルが設定され、Ｓ１０５にてカウントアップが検出されてＳ１０６にて中周期用のスライスレベルが設定され、Ｓ１０７で極性反転が検出されるから、スイッチ３４ｋの切替接点は比較器３４ｃ側のため、比較器３４ｃからの２値化信号が出力される。長周期のカウントアップ内に極性反転しなかった場合には（Ｓ１１２でＹＥＳ）、再生ＲＦ信号に何らかの異常が生じたと判定して、例えばＮＧ信号を出力する。
【００３２】
図３（Ａ）に示されるように、１１Ｔ→３Ｔ→６Ｔの順でデータ長が変化する場合、Ｓ１１０の処理で長周期スライスレベルが設定されＳ１１１で極性反転が検出されて１１ＴデータをスライスレベルＣで２値化した２値化信号が出力される。次に、１１Ｔから３Ｔに切り替わると、Ｓ１０８にて短周期用のスライスレベルが設定され、Ｓ１０４で極性反転が検出されて３ＴデータをスライスレベルＢで２値化した２値化信号が出力される。３Ｔから６Ｔに切り替わると、Ｓ１０６にて中周期用のスライスレベルが設定されＳ１０７で極性反転が検出されて６ＴデータをスライスレベルＡで２値化した２値化信号が出力される。
【００３３】
以上のように、まず短周期（３Ｔ〜５Ｔ）のデータ長に合わせてスライスレベルを切替え、実際のデータ長が短周期以上であった場合に順次中周期（６Ｔ〜８Ｔ）、長周期（９Ｔ〜１４Ｔ）にスライスレベルを切り替えることで、結果としてデータ長に応じたスライスレベルが設定され２値化される。
【００３４】
なお、本実施形態では、検出部３４ｍでデータの極性反転を検出してタイマのオン及びタイマ時間をカウントしているが、これらをＲＦ回路２６あるいはシステムコントローラ３２で実行してもよい。また、検出部３４ｍは、図２の破線で示されるようにスイッチ３４ｋの後段からの２値化信号を入力し、その２値化信号に基づいてデータ長を検出して切替信号を生成するようにしてもよい。
【００３５】
また、本実施形態では、スイッチ３４ｋを切り替えて複数の比較器３４ｃ、３４ｉ、３４ｊの出力を切り替えることでスライスレベルを適応的に調整しているが、ＬＰＦ３４ｄの出力に印加するオフセット値をデータ長に応じて切り替えることでスライスレベルを調整してもよい。
【００３６】
図５には、この場合の２値化部３４の構成が示されている。イコライザ（ＥＱ）３４ａ、オートゲインコントロール３４ｂ、比較器３４ｃ、ＬＰＦ３４ｄの他に、データ長毎に予め設定されたオフセット回路３４ｐ、３４ｑ、３４ｒ・・・及びスイッチ３４ｓが設けられる。オフセット回路３４ｐ、３４ｑ、３４ｒは、短周期用と長周期用の少なくとも２個設けられ、好適にはデータ長３Ｔ〜１１Ｔ（あるいは１４Ｔ）のそれぞれに対応して設けられる。オフセット回路３４ｐは３Ｔ用のオフセット１を出力し、オフセット回路３４ｑは４Ｔ用のオフセット２を出力し、オフセット回路３４ｒはｎＴ用のオフセットｋを出力する如くである。複数のオフセット回路からのオフセットは、スイッチ３４ｓに供給される。スイッチ３４ｓは、再生ＲＦ信号のデータ長を検出する検出部３４ｍからの切替信号により切替制御される。検出部３４ｍで３Ｔを検出した場合、スイッチ３４ｓはオフセット回路３４ｐ側に切り替わり、オフセット回路３４ｐからのオフセット１が加算器３４ｇによりＬＰＦ３４ｄの出力に印加されてスライスレベルが調整される。検出部３４ｍで４Ｔを検出した場合、スイッチ３４ｓはオフセット回路３４ｑ側に切り替わり、オフセット回路３４ｑからのオフセット２が加算器３４ｇによりＬＰＦ３４ｄの出力に印加されてスライスレベルが調整される。３Ｔ〜６Ｔ用のスライスレベルは正値に設定され、８Ｔ〜１４Ｔ用のスライスレベルは負値に設定される。
【００３７】
本実施形態では、短周期（３Ｔ〜５Ｔ）、中周期（６Ｔ〜８Ｔ）、長周期（９Ｔ〜１４Ｔ）と分けているが、これらは例示にすぎず、データ長に応じて適宜複数のグループに分けることができる。３Ｔ用のオフセットと１１Ｔあるいは１４Ｔ用のオフセットのみを用意し、３Ｔあるいは１１Ｔ（１４Ｔ）のデータ長が検出された場合にスライスレベルを調整してもよい。また、３Ｔのオフセットのみを用意し、３Ｔが検出された場合にのみスライスレベルを調整してもよい。１１Ｔ（あるは１４Ｔ）のオフセットのみを用意し、１１Ｔ（あるいは１４Ｔ）が検出された場合のみスライスレベルを調整してもよい。
【００３８】
また、本実施形態では、データ長に応じたオフセットは予めオフセット回路に記憶しているが、再生ＲＦ信号のアシンメトリをβ値で算出し、β値に基づいてオフセットの値を設定してもよい。β値は、｛（Ｂ−ｍ）＋（Ａ−ｍ）｝／｛（Ａ−ｍ）−（Ｂ−ｍ）｝で算出される。但し、Ａは１１Ｔのピーク値、Ｂは１１Ｔのボトム値、ｍは１１Ｔ信号の平均レベルである。β値ではなく、その他のアシンメトリの程度を表す物理量、例えば（Ａ−ｍ）／（ｍ−Ｂ）を算出し、これに応じてオフセット値を設定してもよい。アシンメトリが顕著なほど、短周期あるいは長周期に印加するオフセットの絶対値を増大させる。
【００３９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、２値化のスライスレベルを適応的に調整して再生ＲＦ信号を２値化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施形態の全体構成図である。
【図２】図１における２値化部の構成図である。
【図３】再生ＲＦ信号とスライスレベルの説明図である。
【図４】実施形態の全体処理フローチャートである。
【図５】図１における２値化部の他の構成図である。
【図６】従来の２値化部の基本構成図である。
【図７】従来の２値化部の構成図である。
【符号の説明】
１０光ディスク、２６ＲＦ回路、３４２値化部、３２システムコントローラ。

Claims

記録媒体から再生された再生ＲＦ信号を２値化する再生信号処理回路であって、
前記再生ＲＦ信号をスライスレベルと比較して２値化信号を出力する比較手段と、
前記スライスレベルを生成して前記比較手段に供給するスライスレベル生成手段と、
前記再生ＲＦ信号のデータ長を検出する検出手段と、
前記データ長に応じて前記スライスレベルを調整する調整手段と、
を有することを特徴とする再生信号処理回路。
記録媒体から再生された再生ＲＦ信号を２値化する再生信号処理回路であって、
前記再生ＲＦ信号をスライスレベルと比較して２値化信号を出力する比較手段と、
前記スライスレベルを生成して前記比較手段に供給するスライスレベル生成手段と、
前記再生ＲＦ信号のデータ長を検出するデータ長検出手段と、
前記再生ＲＦ信号のアシンメトリの程度を検出するアシンメトリ検出手段と、
前記アシンメトリの程度及びデータ長に応じて前記スライスレベルを調整する調整手段と、
を有することを特徴とする再生信号処理回路。
請求項１、２のいずれかに記載の回路において、
前記スライスレベル生成手段は、
前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、
前記ローパスフィルタの出力にオフセット値を印加する印加手段と、
を有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記オフセット値を変化させることで前記スライスレベルを調整することを特徴とする再生信号処理回路。
請求項１、２のいずれかに記載の回路において、
前記スライスレベル生成手段は、
前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、
複数のデータ長毎に設定されたオフセット値を発生するオフセット生成手段と、
複数の前記オフセット値のいずれかを前記ローパスフィルタの出力に選択的に印加するスイッチ手段と、
を有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記スイッチ手段を切替制御することで前記スライスレベルを調整することを特徴とする再生信号処理回路。
請求項１、２のいずれかに記載の回路において、
前記スライスレベル生成手段は、
前記２値化信号の低域成分を通過させるローパスフィルタと、
複数のデータ長毎に設定されたオフセット値を発生するオフセット生成手段と、
複数の前記オフセット値をそれぞれ前記ローパスフィルタの出力に印加することで複数の前記スライスレベルを複数出力する印加手段と、
を有し、
前記比較手段は、前記再生ＲＦ信号と前記印加手段から出力された複数の前記スライスレベルをそれぞれ比較する複数の比較器を有し、さらに、
前記複数の比較器からの複数の２値化信号を選択的に切替えるスイッチ手段と、
を有し、前記調整手段は、前記データ長に応じて前記スイッチ手段を切替制御することを特徴とする再生信号処理回路。
請求項４、５のいずれかに記載の回路において、
複数の前記オフセット値は、少なくとも短データ長用と長データ長用の２種類が設定されることを特徴とする再生信号処理回路。
請求項１〜６のいずれかに記載の再生信号処理回路と、
前記再生信号処理回路からの前記２値化信号を復調する復調回路と、
を有する光ディスク装置。