JP2002184470A - 充放電電流測定装置 - Google Patents
充放電電流測定装置Info
- Publication number
- JP2002184470A JP2002184470A JP2000375372A JP2000375372A JP2002184470A JP 2002184470 A JP2002184470 A JP 2002184470A JP 2000375372 A JP2000375372 A JP 2000375372A JP 2000375372 A JP2000375372 A JP 2000375372A JP 2002184470 A JP2002184470 A JP 2002184470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charge
- current
- circuit
- level shift
- operational amplifier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/10—Energy storage using batteries
Landscapes
- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
測定装置を提供する。 【解決手段】 二次電池2の充放電電流を微少電圧信号
に変換する電流検出抵抗1と、微少電圧信号の極性を一
定極性方向に切り換える入力極性反転回路3と、微少電
圧信号を増幅する演算増幅回路5と、オフセット調整回
路9と、演算増幅回路5の出力電圧レベルをシフトして
調整するレベルシフト量調整回路10と、アナログディ
ジタル変換回路11と、CPU12と、演算増幅回路5
に設定されたゲインに対して、レベルシフト量調整回路
10でのレベルシフト量の調整値を記憶する不揮発性メ
モリ13とを備え、携帯用電子機器の電源として使用さ
れる二次電池の充電電流及び放電電流を測定する。
Description
の電源として使用される二次電池の充電電流及び放電電
流を測定する充放電電流測定装置に関し、特に携帯用電
子機器の二次電池の残存容量を算出する際に使用される
充放電電流測定装置に関する。
二次電池の残存容量を算出する電池残量表示装置には、
従来から例えば特開平6−176798号公報(特許番
号第2932872号)により開示されたものがある。
図3は、この電池残量表示装置を示すブロック構成図で
ある。
出抵抗102には、二次電池101の充放電電流が流れ
る。充放電電流検出手段103は、電流検出抵抗102
の両端に発生する微少電圧を入力とする充電電流検出用
の演算増幅器131と、放電電流検出用の演算増幅器1
32とから構成されている。電圧低下検出手段104
は、放電の進行に伴う二次電池101の電圧低下を監視
するものである。
ると、電気量算出手段106では演算増幅器131より
出力された充電電流値に所定時間を乗じて電気量を算出
し、さらにこの電気量に充電電流の大きさと温度検出手
段105より出力される温度情報とで決まる充電効率を
乗じて最終的な充電電気量とし、これを電気量積算手段
110へ信号出力する。充電完了検出手段107は、演
算増幅器131より充電電流信号が入力されることで信
号出力をリセットする。112はマイコンであり、電気
量算出手段106、充電完了検出手段107、放電電気
量積算手段108、容量記憶手段109および電気量積
算手段110に相当する回路を構成している。
れると、放電電気量積算手段108は所定時間毎に放電
電気量の積算を行う。電気量積算手段110では、電気
量算出手段106より信号出力される充電電気量を所定
時間毎に加算するとともに、放電電気量を減算すること
で、容量記憶手段109の記憶値に対する割合に応じた
容量残量値を決定する。表示手段111は、電気量積算
手段110で決定された残量情報に基づいて容量残量を
段階的に表示する。
を記憶することで、残量表示精度の高い電池残量表示装
置を構成できる反面、充放電電流検出手段103におい
て充電用と放電用の2つの演算増幅器131,132を
用いているため、コスト面で問題があった。
池の残存容量を知るために、通常、数mA程度から数A
程度までの電流の測定が必要とされ、そのための電流検
出抵抗102は、二次電池の効率を考慮して小さな抵抗
値のもの、例えば数10[mΩ]程度の抵抗が使用され
る。したがって、検出抵抗の両端電圧は、100[μV]
乃至100[mV](1:1000)となる。検出される
電流の最小値が数ミリアンペア[mA]程度の場合には、
検出アンプのゲインが仮に200倍であっても、その出
力値は20[mV]程度の小さな値となる。すなわち、演
算増幅器131,132に通常の汎用オペアンプを使用
して、その電源を0[V]−Vdd[V]とした場合、出力
電圧の範囲が電源電圧の範囲より狭くなるため、0[V]
付近の測定値を正確に出力できない。そこで、二次電池
の効率を考慮して、電源電圧範囲での出力を可能とする
ために、レールtoレールという特別なオペアンプを用
いた場合には、コスト面での問題が生じる。
法では、電流検出手段のオフセット電圧が測定電流値の
誤差要因となる。そこで、オフセット電圧の小さい、高
精度のオペアンプを用いる方法、電池パックの製造時
に、オペアンプのオフセット電圧をゼロに調整しておく
方法、或いはあらかじめオペアンプのオフセット電圧を
測定して、マイコンにより測定電流値からオフセット電
圧分を差し引く方法が考えられる。しかし、いずれの方
法を採用した場合でも従来装置のコスト増を招くという
問題があった。
二次電池の残存容量を精度よく測定評価する電力貯蔵用
二次電池の充放電電流測定方法が知られている(特開平
8−17478号公報)。図4は、この電池残量の測定
回路を示すブロック構成図である。
池201に流れる充放電電流をシャント抵抗204で電
圧値に変換している点では、前者のものと同様である
が、充放電切換装置203からの情報に基づいて極性反
転回路206を動作させて、絶縁アンプ208に対して
常に同極性の信号を入力するように構成されている点で
異なる。電圧測定器209は絶縁アンプ208の出力値
を増幅し、演算装置210は電圧測定器209の電圧測
定値を電流絶対値に変換演算する。このとき、制御装置
207の制御により、充電と放電との条件に応じて、電
流絶対値が積算の正方向と負方向とに切り換えられる。
に接続され、この積分装置211により電流値が積算さ
れる。そして、あらかじめ満充電完了時点で二次電池2
01の定格容量値を設定しておけば、この積算により二
次電池201の残存容量が求められる。
池の充放電電流測定方法を携帯用電子機器の電源に応用
すれば、二次電池の残存容量を測定する場合も検出アン
プが一つで済むから、コストを低減できる利点がある。
しかし、前者の従来技術と同様に、電流検出手段のオフ
セット電圧が測定電流値の誤差要因となるだけでなく、
携帯用電子機器の電源効率を考慮した場合には、コスト
増を回避することが容易ではないという問題があった。
定が可能な充放電電流測定装置を提供することにある。
に、携帯用電子機器の電源として使用される二次電池の
充電電流及び放電電流を測定する充放電電流測定装置が
提供される。この充放電電流測定装置は、前記二次電池
の充放電電流を微少電圧信号に変換する電流検出抵抗
と、前記電流検出抵抗の微少電圧信号の極性を一定極性
方向に切り換え、或いは前記電流検出抵抗を後段回路か
ら切り離す切換手段と、前記切換手段によって一定極性
とされた微少電圧信号を増幅する演算増幅手段と、オフ
セット調整の際に前記演算増幅手段への入力を短絡する
とともにグランドに落とすオフセット調整手段と、前記
演算増幅手段の出力電圧レベルをシフトして調整するレ
ベルシフト量調整手段と、前記演算増幅手段の出力電圧
をディジタル信号に変換するアナログディジタル変換手
段と、前記演算増幅手段に設定されたゲインに対して、
前記レベルシフト量調整手段でのレベルシフト量の調整
値を記憶する記憶手段と、前記切換手段の極性反転、オ
フセット調整、及び前記レベルシフト量調整手段での調
整を指示する演算手段とから構成される。この充放電電
流測定装置では、レベルシフト量の調整設定処理、オフ
セット量の計測処理の後に、電流検出処理、或いは残存
容量演算処理が実行され、携帯用電子機器の二次電池の
充電電流及び放電電流が測定され、或いは二次電池の残
存容量が算出できる。
いて、図面を参照して説明する。図1は、この発明の充
放電電流測定装置の構成を示すブロック図である。
され、その充放電電流を微少電圧に変換する電流検出抵
抗である。この電流検出抵抗1には、二次電池2が図示
しない充電器或いは携帯用電子機器等の負荷と接続され
たとき、充電電流或いは放電電流が図示の方向に流れ
る。
抵抗1の両端に発生する微少電圧信号を、充電状態か放
電状態かによって、常に一定極性方向に切り換え、或い
は電流検出抵抗1の両端に発生する微少電圧信号を後に
続く演算増幅回路から切り離す切換手段を構成してい
る。図の入力極性反転回路は充電状態を示している。
と、ゲイン切換回路7と、複数の抵抗器R1,R2から
構成されている。ここで、R1で示す抵抗器の抵抗値を
R1、R2で示す抵抗器の抵抗値をR2とする。この演
算増幅回路5は入力極性反転回路3の第1出力端31、
第2出力端32と接続され、いずれも抵抗器R1を介し
てそれぞれオペアンプ6の正負の入力端子に一定の極性
方向とされた微少電圧信号が供給されている。また、オ
ペアンプ6のゲインを切り換えるために、ゲイン切換回
路7は抵抗器R1とスイッチ8の直列回路で構成されて
いる。
ように、20倍と220倍の二段階の切り換えである
が、三段階或いはそれ以上でもよい。入力極性反転回路
3は、具体的にはアナログスイッチで構成されるので、
オン抵抗が存在し、演算増幅回路5のゲイン誤差の原因
になる。このオン抵抗の影響を小さくするためには、演
算増幅回路5のゲイン設定抵抗の抵抗値R1を大きくす
ればよい。しかし、集積回路化したときにはチップ面積
やコストの面で制約を受けるので、例えば抵抗値R1は
100[kΩ]に、抵抗値R2は1[MΩ]に設定される。
場合には、スイッチ8を開放状態に切り換えることで、
次式(1)から、 (2・R2)/R1=20 …(1) 演算増幅回路5のゲインを20倍とすることができる。
合には、スイッチ8を短絡状態に切り換える。すると次
式(2)から、 2・{1+1/(1/10)}・(R2/R1)=220 …(2) 演算増幅回路5のゲインは220倍となる。
であり、オフセット調整状態のときにそれぞれオペアン
プ6の正負の入力端子をそれぞれ短絡し、かつグランド
に落とす一対のスイッチから構成されている。
ルシフト量を調整できるレベルシフト量調整回路であ
る。このレベルシフト量調整回路10には、第1の基準
電位V1と後述するCPUからのレベル調整信号が供給
されている。
tをディジタル量に変換するアナログディジタル変換回
路(以下、AD変換回路という。)である。このAD変
換回路11には、第2の基準電位V2が供給されてい
る。
こむCPUである。ここには、演算増幅回路5の所望の
ゲインに対するレベルシフト量調整回路10のレベルシ
フト量を記録しておく不揮発性メモリ13と、その他の
必要なデータを一時保存するメモリ14とが接続されて
いる。
置の動作について説明する。まず、電流検出処理、或い
は残存容量演算処理を実行する前に、最初の一回だけ以
下のようにレベルシフト量の調整設定処理がなされる。
極性反転回路3により、電流検出抵抗1の両端と演算増
幅回路5の入力とを切り離して、オフセット調整回路9
により演算増幅回路5の入力を短絡し、かつグランドに
落とす。ゲイン切換回路7により演算増幅回路5を所望
のゲインに設定し、そのときの演算増幅回路5の出力値
が読み取り可能な電圧値になるように、レベルシフト量
調整回路10により調整を行う。調整が完了した後、設
定された演算増幅回路5のゲイン値に対する調整設定さ
れたレベルシフト量の調整値を不揮発性メモリ13に記
憶しておく。
は、入力極性反転回路3を切り換えて電流検出抵抗1の
両端と演算増幅回路5の入力との接続を切り離すととも
に、オフセット調整回路9を用いて演算増幅回路5の入
力を短絡して、オペアンプ6の正負の入力端子をグラン
ドに落とす。CPU12は、ゲイン切換回路7のスイッ
チ8により演算増幅回路5のゲインを所望の値に設定す
る。
応じたレベルシフト量を不揮発性メモリ13から読み出
し、レベルシフト量調整回路10を用いて読み出された
レベルシフト量を設定する。この状態で、AD変換回路
11の出力をCPU12に読み込んで、その値をオフセ
ット量としてメモリ14に記憶しておく。
レベルシフト量調整回路10で設定したレベルシフト量
と、演算増幅回路5で演算され、AD変換回路11で変
換されたオフセット量とが加算された値となっている。
したがって、次に述べる電流計測処理では、測定値から
メモリ14に記憶されたオフセット量を減算すること
で、演算増幅回路5及びAD変換回路11での温度ドリ
フト成分を含んだオフセット量がキャンセルされる。こ
のオフセット量計測処理は、次に述べる電流計測処理の
間の適当なタイミングで実施される。
態か放電状態かに応じて入力極性反転回路3に極性反転
信号を出力して切り換え、電流検出抵抗1の両端に発生
する微少電圧信号を常に一定極性方向にする。また、C
PU12は電流値の大きさに応じたゲイン切換信号によ
ってゲイン切換回路7を制御して、演算増幅回路5のゲ
インの大きさを設定する。さらに、CPU12は、設定
したゲイン値に応じたレベルシフト量を不揮発性メモリ
13から読み出してレベル調整信号をレベルシフト量調
整回路10に出力し、読み出されるレベルシフト量Vs
iftを設定する。
らの出力信号を読み取り、その読み取り値からメモリ1
4に記憶されたオフセット量を減算し、減算結果を電流
測定値とする。この電流計測処理は一定時間間隔で実施
される。
おいて、電流検出抵抗1は二次電池2の充放電経路に直
列に配置され、充放電電流を微少電圧に変換するもので
ある。携帯用電子機器では、このような電流検出抵抗1
での発生電力はロスとなるため、その抵抗値Rcsは通
常、数10[mΩ]程度の小さな値に設定される。また、
演算増幅回路5のオペアンプ6は、汎用のオペアンプを
用いて差動増幅回路が構成されており、その入力オフセ
ット電圧は最大で±5[mV]程度である。二次電池2の
残量を計測するための測定電流は数[mA]〜5,6[A]
程度におよぶので、演算増幅回路5を構成するオペアン
プ6には1:1000という広いダイナミックレンジが
必要とされる。
倍に設定したときに、入力オフセット電圧は最大で±
0.1[V]発生し、ゲインが220倍であれば、最大で
±1.1[V]発生する。一方でオペアンプ6を駆動する
電源は、IC化されることを想定した場合には単電源で
あって、その電圧値は3[V]を想定している。汎用のオ
ペアンプを使用した場合に、その出力範囲は電源電圧よ
り少し狭くなり、実際の出力オフセット電圧としては、
ゲインが20倍のときに0.05[V]〜0.1[V]、ゲ
インが200倍のときに0.05[V]〜1.1[V]とな
る。すなわち、出力オフセット電圧が負の値をとろうと
する場合は、測定そのものが不可能となる領域が生じ
る。
は、レベル調整信号に応じて出力電圧Vsiftでレベ
ルシフト量を決定している。すなわち、ゲインが20倍
において、オペアンプ8のオフセット電圧の大きさにか
かわらず、入力電圧がゼロのとき、演算増幅回路5の出
力が約0.1[V]になるように、レベルシフト量を調整
している。その場合に、出力オフセット電圧が−0.1
[V]のとき、出力電圧Vsiftを0.2[V]とし、出
力オフセット電圧が+0.1[V]のとき、出力電圧Vs
iftを0[V]とする必要がある。したがって、レベル
シフト量の出力電圧Vsift範囲は0[V]〜0.2
[V]となる。
ンプ6のオフセット電圧の大きさにかかわらず、入力電
圧がゼロのとき、演算増幅回路5の出力が約1.1[V]
になるように、レベルシフト量を調整している。その場
合に、出力オフセット電圧が−1.1[V]のとき、出力
電圧Vsiftを2.2[V]とし、出力オフセット電圧
が+1.1[V]のとき、出力電圧Vsiftを0[V]と
する必要がある。したがって、レベルシフト量の出力電
圧Vsift範囲は0[V]〜2.2[V]となる。
かわらずレベルシフト量調整回路10を共通して使用し
ているので、その出力電圧Vsift範囲は0[V]〜
2.2[V]であればよい。
体的な構成について説明する。図2は、レベルシフト量
調整回路の構成を示すブロック図である。レベルシフト
量調整回路は、3ビットの信号入力端子を備えたデコー
ダ16、基準電位(2.2[V])を8分割するための抵
抗器R1〜R7、デコーダ16の8本の出力によりオン
オフされるスイッチSW1〜SW8、及び出力アンプ1
7から構成されている。抵抗器R1〜R7は、CPU1
2からデコーダ16への3ビットの信号入力によって選
択され、基準電位を8分割した電圧値として出力でき
る。
不可能な領域をなくすことであるため、設定分解能をそ
れほど高くする必要はない。なぜならば、測定系のオフ
セットのキャンセルは、オフセット量計測処理で測定さ
れたオフセット量をプログラム上で減算すれば実現でき
るからである。
〜2.2[V]の範囲を0.314[V]のきざみ幅で分圧
して出力するものであり、ゲインを20倍とした場合に
入力オフセット電圧がゼロであっても、レベルシフト量
としては0.314[V]に設定するしかないが、後述す
るように、その場合でもダイナミックレンジは確保でき
る。
測定する場合に、ゲインを切り換える具体的な電流値の
大きさについて考察する。例えば電流検出抵抗1の抵抗
値Rcsを20[mΩ]とし、検出電流値の幅を5[mA]
〜5[A]とする。すると、検出すべき電流検出抵抗1の
両端電圧は、100[μV]〜0.1[V]の変動幅を有す
ることになる。そこで、検出電流値が小さいとき、すな
わち検出電圧値が小さければ、演算増幅回路5のゲイン
を220倍とするが、反対に検出電流値が大きくなり、
検出電圧値が大きいときは演算増幅回路5のゲインを2
0倍とする。
オペアンプ6の入力オフセット電圧をVoffsetとすれ
ば、演算増幅回路5の出力電圧Voutは、次の式
(3)で表される。
ベルシフト量調整回路10の出力電圧である。
量Vsiftの値は、入力オフセット電圧Voffsetの大
きさによって変り、(Vsift−220・Voffset)
の値が凡そ1.1[V]になるように設定される。したが
って、上の(3)式は以下の式(4)に書き換えられ
る。
はゼロであるから、Voutは約1.1[V]となる。そ
こで、AD変換回路11を介してこの値がCPU12か
らメモリ14に保存しておく。
に応じた電圧値VoutがCPU12に入力される。そ
こで、オフセット量計測処理で保存した約1.1[V]を
メモリ14から取り出して減算処理することにより、電
流測定値に相当する(4)式の第1項を求めることがで
きる。
A])のとき、演算増幅回路5の出力電圧Voutは2
2[mV]+約1.1[V]となる。この出力電圧値Vou
tがAD変換回路11を介してCPU12に入力され
る。したがって、出力電圧Voutからメモリ14に保
存されたオフセット電圧値(約1.1[V])を減算する
ことで、実際の電流測定値に相当する22[mV]を求め
ることができる。
トの逐次比較型の回路を想定し、基準電圧を3[V]とし
ている。したがって、1ビット当りの分解能は2.93
3[mV]であり、最小検出電流値に対してディジタル値
としては7〜8ビットとなり、計測可能といえる。
最大電流値は次の不等式(5)から算出できる。 Vout=I・Rcs・220+約1.1<約2.8 …(5) ここで、不等式(5)の右辺の値は、電源電圧が3[V]
のときの、オペアンプ6の最大出力電圧値を表す。ここ
から、最大測定電流値は約380[mA]となる。このこ
とは、充放電電流が5[mA]から380[mA]まではゲ
イン220倍で測定し、充放電電流が380[mA]以上
になったときにゲインを20倍に切り換えて測定すれば
よいことがわかる。
演算増幅回路5の出力電圧値Voutは、次の式(6)
で表される。 Vout=I・Rcs・20+Vsift−21・Voffset …(6) 演算増幅回路5に設定すべきレベルシフト量Vsift
の値は、入力オフセット電圧Voffsetの大きさによって
変り、(Vsift−21・Voffset)の値が凡そ0.
1[V]になるように設定される。このようにレベルシフ
ト量Vsiftの値を設定するのがダイナミックレンジ
を最良にするうえで好ましい。しかし、レベルシフト量
調整回路10は、2つのゲインの間で共通に利用してお
り、しかもその出力のきざみ幅は0.314[V]であ
る。そのため、(Vsift−21・Voffset)の値
は、最大で0.364[V](=0.314+0.05)
程度となる。このとき、式(6)は次の式(7)に書き
換えられ、ダイナミックレンジは最悪になる。
れる。 Vout=I・Rcs・20+約0.364<約2.8 …(8) この式(8)から最大測定電流値は6.09[A]とな
り、仕様の5[A]以上である。最小測定電流値は、式
(8)の第1項の値が誤差1%以内に収まるとした場合
には、AD変換回路11の分解能(=2.993[mA]
/bit)から計算できる。すなわち、 (2.933/2)/(I・Rcs・20)<1% …(9) となるので、Rcsを20[mΩ]で計算すれば、I>3
70[mA]となる。したがって、電流値が370[mA]
以下に減少した場合に、ゲインを20倍から220倍に
切り換えればよい。なお、ここではゲイン切換時のヒス
テリシス幅は、(380−370)=10[mA]程度で
ある。
に測定された充放電電流値に電流計測処理の起動時間間
隔を乗算することで、電流計測処理毎に充放電電気量を
求め、それらの差によって二次電池の残存容量を測定す
ることも可能である。
電電流測定装置は入力極性反転手段を用いて、充電状態
と放電状態のいずれであっても常に入力電圧信号を一定
極性方向に切り換えて演算増幅手段に入力するようにし
たため、電流検出用のオペアンプを一つだけにすること
ができ、コストを低減できる。
算増幅手段の動作点をバイアスすることにより、汎用オ
ペアンプのオフセット電圧が存在していても正確な充放
電電流の測定が可能になる。また、電源電圧範囲での出
力を可能とするレールtoレール出力のオペアンプを用
いなくても正確な電流測定ができるので、装置のコスト
をさらに低減できる。
は、適宜にオペアンプのオフセット電圧やレベルシフト
量を検出し、電流測定値から減算する構成であるため、
汎用のオペアンプを用いて低コストで検出回路オフセッ
トの温度ドリフトの影響を受けない高精度の測定が可能
である。
テリシス特性を持たせたことにより、切り換えポイント
近辺で電流を測定する場合でも、頻繁に切り替えが発生
することを防止でき、プログラム処理時間を短縮でき
る。
る。
図である。
図である。
である。
Claims (5)
- 【請求項1】 携帯用電子機器の電源として使用される
二次電池の充電電流及び放電電流を測定する充放電電流
測定装置において、 前記二次電池の充放電電流を微少電圧信号に変換する電
流検出抵抗と、 前記電流検出抵抗の微少電圧信号の極性を一定極性方向
に切り換え、或いは前記電流検出抵抗を後段回路から切
り離す切換手段と、 前記切換手段によって一定極性とされた微少電圧信号を
増幅する演算増幅手段と、 オフセット調整の際に前記演算増幅手段への入力を短絡
するとともにグランドに落とすオフセット調整手段と、 前記演算増幅手段の出力電圧レベルをシフトして調整す
るレベルシフト量調整手段と、 前記演算増幅手段の出力電圧をディジタル信号に変換す
るアナログディジタル変換手段と、 前記演算増幅手段に設定されたゲインに対して、前記レ
ベルシフト量調整手段でのレベルシフト量の調整値を記
憶する記憶手段と、 前記切換手段の極性反転、オフセット調整、及び前記レ
ベルシフト量調整手段での調整を指示する演算手段とを
備えたことを特徴とする充放電電流測定装置。 - 【請求項2】 前記記憶手段が不揮発性メモリであるこ
とを特徴とする請求項1記載の充放電電流測定装置。 - 【請求項3】 前記電流検出抵抗と前記演算増幅手段と
を切り離した状態で、前記演算増幅手段の入力を短絡す
るとともにグランドに接続して、前記演算増幅手段の出
力電圧レベルをシフトして調整し、レベルシフト量の調
整値を前記不揮発性メモリに保存することを特徴とする
請求項2記載の充放電電流測定装置。 - 【請求項4】 前記演算増幅手段は、ゲイン切換手段を
備えていることを特徴とする請求項1記載の充放電電流
測定装置。 - 【請求項5】 前記ゲイン切換手段は、ゲインを切り換
える電流値の大きさにヒステリシスを持たせたことを特
徴とする請求項4記載の充放電電流測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000375372A JP4719972B2 (ja) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | 充放電電流測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000375372A JP4719972B2 (ja) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | 充放電電流測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002184470A true JP2002184470A (ja) | 2002-06-28 |
JP4719972B2 JP4719972B2 (ja) | 2011-07-06 |
Family
ID=18844389
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000375372A Expired - Fee Related JP4719972B2 (ja) | 2000-12-11 | 2000-12-11 | 充放電電流測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4719972B2 (ja) |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004138482A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Seiko Epson Corp | 電流検出回路 |
JP2006121324A (ja) * | 2004-10-20 | 2006-05-11 | Fujitsu Ltd | A/d変換器、電池パック、電子機器および電圧測定方法 |
JP2007225625A (ja) * | 2005-01-31 | 2007-09-06 | Toyoji Ahei | 漏洩電流遮断装置及び方法 |
WO2008010434A1 (fr) * | 2006-07-18 | 2008-01-24 | Panasonic Corporation | Dispositif d'identification de pièces de monnaie |
JP2008072875A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Sanyo Electric Co Ltd | 電気自動車の電流検出方法 |
JP2008146618A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 硬貨識別装置 |
EP1737117A3 (en) * | 2005-06-22 | 2009-06-03 | Hitachi, Ltd. | Motor control system |
JP2010178528A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Panasonic Corp | 蓄電装置 |
KR101065974B1 (ko) * | 2009-10-30 | 2011-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이차 전지의 제어 회로 |
WO2013086735A1 (en) * | 2011-12-16 | 2013-06-20 | Nokia Corporation | Voltage measurement |
JP2013141095A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Sharp Corp | A/d変換回路、a/d変換器の誤差補正装置および電池残量検出装置 |
CN103647259A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-19 | 无锡中星微电子有限公司 | 一种电池保护电路及其内的电压保护电路 |
WO2015107795A1 (ja) * | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置および計測装置 |
JP2018205223A (ja) * | 2017-06-08 | 2018-12-27 | 三菱電機株式会社 | ゲイン制御増幅装置 |
CN112505536A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-03-16 | 上海金智晟东电力科技有限公司 | 一种微弱信号抗干扰测量方法 |
CN113169385A (zh) * | 2019-08-16 | 2021-07-23 | 华为技术有限公司 | 电池包、测量电池电流的电路系统及测量电池电流的设备 |
WO2023209987A1 (ja) * | 2022-04-28 | 2023-11-02 | 日立Astemo株式会社 | 半導体装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0817478A (ja) * | 1994-04-27 | 1996-01-19 | Ngk Insulators Ltd | 電力貯蔵用二次電池の充放電電流測定方法及び残存電力量測定方法並びに測定装置 |
JPH11344545A (ja) * | 1998-06-03 | 1999-12-14 | Fuji Film Celltec Kk | バッテリーパックの電流測定方法及び装置 |
-
2000
- 2000-12-11 JP JP2000375372A patent/JP4719972B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0817478A (ja) * | 1994-04-27 | 1996-01-19 | Ngk Insulators Ltd | 電力貯蔵用二次電池の充放電電流測定方法及び残存電力量測定方法並びに測定装置 |
JPH11344545A (ja) * | 1998-06-03 | 1999-12-14 | Fuji Film Celltec Kk | バッテリーパックの電流測定方法及び装置 |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004138482A (ja) * | 2002-10-17 | 2004-05-13 | Seiko Epson Corp | 電流検出回路 |
JP2008216270A (ja) * | 2002-10-17 | 2008-09-18 | Seiko Epson Corp | 電流検出回路 |
JP2006121324A (ja) * | 2004-10-20 | 2006-05-11 | Fujitsu Ltd | A/d変換器、電池パック、電子機器および電圧測定方法 |
JP4641173B2 (ja) * | 2004-10-20 | 2011-03-02 | 富士通セミコンダクター株式会社 | A/d変換器、電池パック、電子機器および電圧測定方法 |
JP2007225625A (ja) * | 2005-01-31 | 2007-09-06 | Toyoji Ahei | 漏洩電流遮断装置及び方法 |
EP1737117A3 (en) * | 2005-06-22 | 2009-06-03 | Hitachi, Ltd. | Motor control system |
WO2008010434A1 (fr) * | 2006-07-18 | 2008-01-24 | Panasonic Corporation | Dispositif d'identification de pièces de monnaie |
JP2008146618A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-06-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 硬貨識別装置 |
JP2008072875A (ja) * | 2006-09-15 | 2008-03-27 | Sanyo Electric Co Ltd | 電気自動車の電流検出方法 |
JP2010178528A (ja) * | 2009-01-30 | 2010-08-12 | Panasonic Corp | 蓄電装置 |
KR101065974B1 (ko) * | 2009-10-30 | 2011-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 이차 전지의 제어 회로 |
US8860374B2 (en) | 2009-10-30 | 2014-10-14 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Control circuit of secondary battery |
WO2013086735A1 (en) * | 2011-12-16 | 2013-06-20 | Nokia Corporation | Voltage measurement |
JP2013141095A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Sharp Corp | A/d変換回路、a/d変換器の誤差補正装置および電池残量検出装置 |
CN103647259A (zh) * | 2013-11-29 | 2014-03-19 | 无锡中星微电子有限公司 | 一种电池保护电路及其内的电压保护电路 |
WO2015107795A1 (ja) * | 2014-01-20 | 2015-07-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置および計測装置 |
JP2015135300A (ja) * | 2014-01-20 | 2015-07-27 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 検査装置および計測装置 |
US9779912B2 (en) | 2014-01-20 | 2017-10-03 | Hitachi High-Technologies Corporation | Inspection device and measurement device |
JP2018205223A (ja) * | 2017-06-08 | 2018-12-27 | 三菱電機株式会社 | ゲイン制御増幅装置 |
CN113169385A (zh) * | 2019-08-16 | 2021-07-23 | 华为技术有限公司 | 电池包、测量电池电流的电路系统及测量电池电流的设备 |
CN112505536A (zh) * | 2020-11-13 | 2021-03-16 | 上海金智晟东电力科技有限公司 | 一种微弱信号抗干扰测量方法 |
WO2023209987A1 (ja) * | 2022-04-28 | 2023-11-02 | 日立Astemo株式会社 | 半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4719972B2 (ja) | 2011-07-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2069858C (en) | Circuit for measuring battery current | |
JP4719972B2 (ja) | 充放電電流測定装置 | |
US5124627A (en) | Battery capacity computing apparatus | |
US8305035B2 (en) | Energy storage device | |
US7084700B2 (en) | Differential voltage amplifier circuit | |
JP2001186684A (ja) | リチウムイオン電池充電装置 | |
KR20080022486A (ko) | 조전지 총전압 검출 및 리크 검출장치 | |
JPH1169635A (ja) | 充放電電流検出機能付き充放電制御回路及び充電式電源装置 | |
JP2002156392A (ja) | 組電池の電圧検出装置 | |
CN108663622B (zh) | 电池组电压测量电路及电压测量系统 | |
JP2010122162A (ja) | 電源装置 | |
JP2002286766A (ja) | 電圧検出方法及び電圧検出装置 | |
JP2002243771A (ja) | 電池電圧検出回路 | |
JP4642413B2 (ja) | 電流検出装置 | |
JP2001305166A (ja) | 電流検出回路 | |
JP3204091B2 (ja) | 充放電電流測定装置 | |
JP3691364B2 (ja) | 電流検出装置と電流検出装置を備えるバッテリー装置 | |
JP2003282158A (ja) | 電池電圧測定回路 | |
WO2012039209A1 (ja) | 充電式電気機器 | |
JP2005328603A (ja) | 電池制御システム | |
US11275120B2 (en) | Battery monitoring device | |
JP4920306B2 (ja) | 蓄電池状態監視装置、蓄電池状態監視方法、蓄電池状態監視プログラム | |
JPH0833213A (ja) | 二次電池の容量表示装置 | |
JP2002122643A (ja) | 組電池の電圧検出装置 | |
JP2003282157A (ja) | リチウム二次電池用制御回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070515 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20091112 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20091112 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20091112 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091215 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091222 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100219 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110308 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110321 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20110422 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415 Year of fee payment: 3 |
|
A072 | Dismissal of procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A072 Effective date: 20110906 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |