JP2002178254A - 研磨装置 - Google Patents
研磨装置Info
- Publication number
- JP2002178254A JP2002178254A JP2000377193A JP2000377193A JP2002178254A JP 2002178254 A JP2002178254 A JP 2002178254A JP 2000377193 A JP2000377193 A JP 2000377193A JP 2000377193 A JP2000377193 A JP 2000377193A JP 2002178254 A JP2002178254 A JP 2002178254A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- axis
- polishing
- work
- polisher
- axis mechanism
- Prior art date
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- Pending
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- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ワークへの研磨荷重を一定に保って高精度の
研磨を行う。 【解決手段】 研磨装置はワーク52の加工面をポリシ
ャ58aによって研磨加工する。ワーク52をX軸方向
に移動させるX軸機構部54と、ワーク52をZ軸方向
に移動させるZ軸機構部55と、ワーク52をY軸を中
心として旋回させるB軸機構部56と、ポリシャ58を
Y軸方向に移動させるY軸機構部62と、ポリシャ58
をX軸を中心として旋回させるA軸機構部61と、研磨
加工時におけるポリシャ58とワーク52との接触点が
X軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸近傍
に位置するようにX軸機構部54、Y軸機構部62、Z
軸機構部55、A軸機構部61及びB軸機構部56を制
御する制御手段とを備える。
研磨を行う。 【解決手段】 研磨装置はワーク52の加工面をポリシ
ャ58aによって研磨加工する。ワーク52をX軸方向
に移動させるX軸機構部54と、ワーク52をZ軸方向
に移動させるZ軸機構部55と、ワーク52をY軸を中
心として旋回させるB軸機構部56と、ポリシャ58を
Y軸方向に移動させるY軸機構部62と、ポリシャ58
をX軸を中心として旋回させるA軸機構部61と、研磨
加工時におけるポリシャ58とワーク52との接触点が
X軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸近傍
に位置するようにX軸機構部54、Y軸機構部62、Z
軸機構部55、A軸機構部61及びB軸機構部56を制
御する制御手段とを備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レンズやプリズム
などの光学素子の光学曲面或いは光学素子を成形する金
型などの加工曲面を高精度に研磨加工する研磨装置に関
する。
などの光学素子の光学曲面或いは光学素子を成形する金
型などの加工曲面を高精度に研磨加工する研磨装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】図8及び図9は、上述したようなワーク
の加工面を研磨加工するため、特開平10−23044
8号公報に記載されている従来の研磨装置を示す。
の加工面を研磨加工するため、特開平10−23044
8号公報に記載されている従来の研磨装置を示す。
【0003】この研磨装置は、ベース10上にY軸方向
に移動するY軸テーブル11、X軸テーブル12が順に
載置され、X軸テーブル12上にY軸を中心として回転
するB軸位置決め機構部13が設けられ、B軸位置決め
機構部13上にX軸を中心として回転するA軸位置決め
機構部14が設けられている。ワーク15はA軸位置決
め機構部14上に取り付けられたワークテーブル16に
取り付けられて加工される。
に移動するY軸テーブル11、X軸テーブル12が順に
載置され、X軸テーブル12上にY軸を中心として回転
するB軸位置決め機構部13が設けられ、B軸位置決め
機構部13上にX軸を中心として回転するA軸位置決め
機構部14が設けられている。ワーク15はA軸位置決
め機構部14上に取り付けられたワークテーブル16に
取り付けられて加工される。
【0004】一方、研磨加工を行う工具17は、Z軸位
置決め機構18に取り付けられる。Z軸位置決め機構部
18は、図9に示すようにベース10に立設したコラム
19に取り付けられており、コラム19に取り付けられ
たモータ20の駆動によって上下動可能となっている。
このZ軸位置決め機構部18はモータ21の駆動によっ
て工具17を回転させるスピンドル22を備えている。
また、スピンドル22はシリンダ23のピストンロッド
24に連結されている。シリンダ23は一定の空気圧力
が供給されるように制御されており、これにより工具1
7は一定の圧力でワーク15の曲面に沿って上下動する
要になっている。
置決め機構18に取り付けられる。Z軸位置決め機構部
18は、図9に示すようにベース10に立設したコラム
19に取り付けられており、コラム19に取り付けられ
たモータ20の駆動によって上下動可能となっている。
このZ軸位置決め機構部18はモータ21の駆動によっ
て工具17を回転させるスピンドル22を備えている。
また、スピンドル22はシリンダ23のピストンロッド
24に連結されている。シリンダ23は一定の空気圧力
が供給されるように制御されており、これにより工具1
7は一定の圧力でワーク15の曲面に沿って上下動する
要になっている。
【0005】この装置では、工具17の先端を所定圧力
でワーク15の表面に当接した状態で、ワーク17の形
状から計算した加工データに基づき、X,Y,A,B方
向の4方向を制御して、工具17とワーク15とを相対
的に位置決めし、ワークの加工点における法線方向に工
具17の回転軸芯を一致させて研磨加工するものであ
る。この場合、Z方向については、シリンダ23からな
る押圧機構によってワーク15の曲面に沿って倣わせて
いる。
でワーク15の表面に当接した状態で、ワーク17の形
状から計算した加工データに基づき、X,Y,A,B方
向の4方向を制御して、工具17とワーク15とを相対
的に位置決めし、ワークの加工点における法線方向に工
具17の回転軸芯を一致させて研磨加工するものであ
る。この場合、Z方向については、シリンダ23からな
る押圧機構によってワーク15の曲面に沿って倣わせて
いる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の研磨装置では、研磨加工中に制御する方向がX、
Y、A、Bの4軸であり、Z方向については、押圧機構
で倣わせている。そのため、研磨を行っている際に、工
具17とワーク15との接触点がZ方向に移動し、この
移動によって、工具17がワーク15に与える研磨荷重
を一定に保つことが難しく、高精度に研磨することが難
しい問題を有している。
来の研磨装置では、研磨加工中に制御する方向がX、
Y、A、Bの4軸であり、Z方向については、押圧機構
で倣わせている。そのため、研磨を行っている際に、工
具17とワーク15との接触点がZ方向に移動し、この
移動によって、工具17がワーク15に与える研磨荷重
を一定に保つことが難しく、高精度に研磨することが難
しい問題を有している。
【0007】また、A軸位置決め機構部14またはB軸
位置決め機構部13の回転中心と、工具17がワーク1
5と接触する研磨ポイントが一致していないため、ワー
クの研磨を行っている際に、A軸位置決め機構部14ま
たはB軸位置決め機構部13を回転させると、次の瞬間
に目標とする研磨ポイントがX軸、Y軸またはZ軸の方
向にずれる。このため、目標とする研磨ポイントで工具
17による研磨荷重を法線方向に当てるには、目標位置
にA軸位置決め機構部14またはB軸位置決め機構部1
3の回転で発生したX方向またはY方向の移動量を補正
する必要があり、しかもA軸位置決め機構部14または
B軸位置決め機構部13を回転させることによってX方
向またはY方向への移動速度が発生するため、工具17
とワーク15の加工面との相対速度、いわゆる送り速度
を一定に保つことが難しくなり、情報量が増えるため、
加工時の計算も複雑となる問題も有している。
位置決め機構部13の回転中心と、工具17がワーク1
5と接触する研磨ポイントが一致していないため、ワー
クの研磨を行っている際に、A軸位置決め機構部14ま
たはB軸位置決め機構部13を回転させると、次の瞬間
に目標とする研磨ポイントがX軸、Y軸またはZ軸の方
向にずれる。このため、目標とする研磨ポイントで工具
17による研磨荷重を法線方向に当てるには、目標位置
にA軸位置決め機構部14またはB軸位置決め機構部1
3の回転で発生したX方向またはY方向の移動量を補正
する必要があり、しかもA軸位置決め機構部14または
B軸位置決め機構部13を回転させることによってX方
向またはY方向への移動速度が発生するため、工具17
とワーク15の加工面との相対速度、いわゆる送り速度
を一定に保つことが難しくなり、情報量が増えるため、
加工時の計算も複雑となる問題も有している。
【0008】本発明は、このような従来の問題点を考慮
してなされたものであり、ワークへの研磨荷重を一定に
保つことができ、これによりワークを高精度に研磨加工
することができる研磨装置を提供することを目的とす
る。
してなされたものであり、ワークへの研磨荷重を一定に
保つことができ、これによりワークを高精度に研磨加工
することができる研磨装置を提供することを目的とす
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、ワー
クの加工面をポリシャによって研磨加工する研磨装置に
おいて、上記ワークをX軸方向に移動させるX軸機構部
と、上記ワークをZ軸方向に移動させるZ軸機構部と、
上記ワークをY軸を中心として旋回させるB軸機構部
と、上記ポリシャをY軸方向に移動させるY軸機構部
と、上記ポリシャをX軸を中心として旋回させるA軸機
構部と、研磨加工時におけるポリシャとワークとの接触
点がX軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸
近傍に位置するようにX軸機構部、Y軸機構部、Z軸機
構部、A軸機構部及びB軸機構部を制御する制御手段と
を備えていることを特徴とする。
クの加工面をポリシャによって研磨加工する研磨装置に
おいて、上記ワークをX軸方向に移動させるX軸機構部
と、上記ワークをZ軸方向に移動させるZ軸機構部と、
上記ワークをY軸を中心として旋回させるB軸機構部
と、上記ポリシャをY軸方向に移動させるY軸機構部
と、上記ポリシャをX軸を中心として旋回させるA軸機
構部と、研磨加工時におけるポリシャとワークとの接触
点がX軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸
近傍に位置するようにX軸機構部、Y軸機構部、Z軸機
構部、A軸機構部及びB軸機構部を制御する制御手段と
を備えていることを特徴とする。
【0010】この発明では、X軸機構部、Y軸機構部、
Z軸機構部、A軸機構部及びB軸機構部を制御すること
によって、ワークへの研磨加工の際に、ポリシャとワー
クとの接触点を常にX軸上またはX軸近傍に位置させ、
且つY軸上またはY軸近傍に位置させるため、接触点で
は、ポリシャの加圧方向がワークの加工面の法線方向を
向いた状態となり、ワークへの研磨荷重を一定に保つこ
とができる。このため、ワークの加工面を高精度に研磨
することができる。
Z軸機構部、A軸機構部及びB軸機構部を制御すること
によって、ワークへの研磨加工の際に、ポリシャとワー
クとの接触点を常にX軸上またはX軸近傍に位置させ、
且つY軸上またはY軸近傍に位置させるため、接触点で
は、ポリシャの加圧方向がワークの加工面の法線方向を
向いた状態となり、ワークへの研磨荷重を一定に保つこ
とができる。このため、ワークの加工面を高精度に研磨
することができる。
【0011】請求項2の発明は、請求項1記載の発明で
あって、上記制御手段は、ポリシャからのワークへの研
磨荷重をワークの加工面の法線方向に一致または略一致
するようにA軸機構部及びB軸機構部を制御することを
特徴とする。
あって、上記制御手段は、ポリシャからのワークへの研
磨荷重をワークの加工面の法線方向に一致または略一致
するようにA軸機構部及びB軸機構部を制御することを
特徴とする。
【0012】この発明では、ポリシャの加圧方向がワー
クの加工面の法線方向に向くようになる。このため、接
触点におけるポリシャの研磨荷重の分散がなくなり、ワ
ークの加工面を一定の圧力で研磨でき、高精度な研磨加
工を行うことができる。
クの加工面の法線方向に向くようになる。このため、接
触点におけるポリシャの研磨荷重の分散がなくなり、ワ
ークの加工面を一定の圧力で研磨でき、高精度な研磨加
工を行うことができる。
【0013】請求項3の発明は、請求項1または2記載
の発明であって、上記ポリシャをワークとの接触点で揺
動させる振動手段をさらに有していることを特徴とす
る。
の発明であって、上記ポリシャをワークとの接触点で揺
動させる振動手段をさらに有していることを特徴とす
る。
【0014】この発明では、ワークの研磨加工中にポリ
シャが揺動するため、ワークの加工面を広い範囲で研磨
加工することができる。
シャが揺動するため、ワークの加工面を広い範囲で研磨
加工することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示する実施の形
態により具体的に説明する。なお、各実施の形態におい
て、同一の部材は同一の符号を付して対応させてある。
態により具体的に説明する。なお、各実施の形態におい
て、同一の部材は同一の符号を付して対応させてある。
【0016】(実施の形態1)図1は本発明の実施の形
態1の全体斜視図を示し、架台等(図示省略)に支持さ
れたベース51上に、L字形の支持ブラケット57,6
3が直交するように起立状に固定されている。そして、
支持ブラケット57側にワーク52が取り付けられ、支
持ブラケット63側にポリシャユニット58が取り付け
られる。
態1の全体斜視図を示し、架台等(図示省略)に支持さ
れたベース51上に、L字形の支持ブラケット57,6
3が直交するように起立状に固定されている。そして、
支持ブラケット57側にワーク52が取り付けられ、支
持ブラケット63側にポリシャユニット58が取り付け
られる。
【0017】ワーク52はL字形のワークテーブル53
に固定状態で支持されている。ワークテーブル53はX
軸機構部54に取り付けられている。すなわち、ワーク
テーブル53はX方向に往復移動するX軸機構部54の
テーブル部54aに固定されており、X軸機構部54の
本体部54bはZ軸機構部55に取り付けられている。
Z軸機構部55はZ方向に往復移動するテーブル部55
aによってX軸機構部54を保持しており、Z軸機構部
55の本体部55bはB軸機構部56に取り付けられて
いる。
に固定状態で支持されている。ワークテーブル53はX
軸機構部54に取り付けられている。すなわち、ワーク
テーブル53はX方向に往復移動するX軸機構部54の
テーブル部54aに固定されており、X軸機構部54の
本体部54bはZ軸機構部55に取り付けられている。
Z軸機構部55はZ方向に往復移動するテーブル部55
aによってX軸機構部54を保持しており、Z軸機構部
55の本体部55bはB軸機構部56に取り付けられて
いる。
【0018】B軸機構部56は上記支持ブラケット57
に取り付けられている。このB軸機構部56はY軸を中
心に旋回可能となっており、B軸機構部56にZ軸機構
部55が取り付けられ、Z軸機構部55にX軸機構部5
4が取り付けられ、X軸機構部54にワークテーブル5
3が取り付けられることにより、ワーク52X軸方向及
びZ軸方向に移動可能となっていると共に、Y軸を中心
に旋回可能となっている。
に取り付けられている。このB軸機構部56はY軸を中
心に旋回可能となっており、B軸機構部56にZ軸機構
部55が取り付けられ、Z軸機構部55にX軸機構部5
4が取り付けられ、X軸機構部54にワークテーブル5
3が取り付けられることにより、ワーク52X軸方向及
びZ軸方向に移動可能となっていると共に、Y軸を中心
に旋回可能となっている。
【0019】ポリシャユニット58はポリシャ用モータ
(図示省略)を内蔵したポリシャユニット本体58c
と、ポリシャ用モータに連結されたポリシャ軸58b
と、ポリシャ軸58bの先端に取り付けられたポリシャ
58aとを備えており、ポリシャ58aはポリシャ用モ
ータの駆動によって回転する。ポリシャ用モータは制御
コントローラ(図示省略)に接続されており、予め用意
されているプログラムによりポリシャ58aの回転数が
制御されるようになっている。
(図示省略)を内蔵したポリシャユニット本体58c
と、ポリシャ用モータに連結されたポリシャ軸58b
と、ポリシャ軸58bの先端に取り付けられたポリシャ
58aとを備えており、ポリシャ58aはポリシャ用モ
ータの駆動によって回転する。ポリシャ用モータは制御
コントローラ(図示省略)に接続されており、予め用意
されているプログラムによりポリシャ58aの回転数が
制御されるようになっている。
【0020】ポリシャユニット58は連結アーム59に
固定される。この実施の形態では、ポリシャユニット5
8と連結アーム59との間には、Z方向に微小な距離を
移動可能なエアスライダ80が設けられている。エアス
ライダ60は図示しないエア発生源と接続されており、
エア圧力の制御によってポリシャ58aをワーク52ヘ
押し付ける力、すなわち研磨荷重、を任意に設定できる
ようになっている。
固定される。この実施の形態では、ポリシャユニット5
8と連結アーム59との間には、Z方向に微小な距離を
移動可能なエアスライダ80が設けられている。エアス
ライダ60は図示しないエア発生源と接続されており、
エア圧力の制御によってポリシャ58aをワーク52ヘ
押し付ける力、すなわち研磨荷重、を任意に設定できる
ようになっている。
【0021】連結アーム59はX軸を中心として旋回可
能なA軸機構部61に取り付けられている。そして、A
軸機構部61はY軸機構部62に取り付けられている。
Y軸機構部62はA軸機構部61を支持するテーブル部
62aと、ベース51上の支持ブラケット63に固定さ
れた本体部62bとを有している。従って、ポリシャ5
8aはY軸方向に往復移動可能となっていると共に、X
軸を中心に旋回可能となっている。
能なA軸機構部61に取り付けられている。そして、A
軸機構部61はY軸機構部62に取り付けられている。
Y軸機構部62はA軸機構部61を支持するテーブル部
62aと、ベース51上の支持ブラケット63に固定さ
れた本体部62bとを有している。従って、ポリシャ5
8aはY軸方向に往復移動可能となっていると共に、X
軸を中心に旋回可能となっている。
【0022】以上のX軸機構部54、Z軸機構部55、
B軸機構部56、A軸機構部61及びY軸機構部62
は、図示を省略した制御コントローラに予め用意されて
いるプログラムによって制御されている。この制御は、
研磨加工時におけるポリシャ58aとワーク52との接
触点がX軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY
軸近傍に位置するように行われる。このような制御で
は、A軸機構部61及びB軸機構部56の回転中心であ
るX軸及びY軸は、ポリシャ58aとワーク52との接
触点において直交することができる。なお、以上の各機
構部に対しては、同時制御を行うことも可能となってい
る。
B軸機構部56、A軸機構部61及びY軸機構部62
は、図示を省略した制御コントローラに予め用意されて
いるプログラムによって制御されている。この制御は、
研磨加工時におけるポリシャ58aとワーク52との接
触点がX軸またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY
軸近傍に位置するように行われる。このような制御で
は、A軸機構部61及びB軸機構部56の回転中心であ
るX軸及びY軸は、ポリシャ58aとワーク52との接
触点において直交することができる。なお、以上の各機
構部に対しては、同時制御を行うことも可能となってい
る。
【0023】次に、この実施の形態の作動を図2〜図5
を参照して説明する。ワーク52の研磨工程以前では、
Z軸機構部55が下方に移動しており、ワークテーブル
53に固定されたワーク52は、ポリシャ58aとワー
ク52との接触点(以下、研磨ポイント)から離れた位
置にある。また、ワーク52の表面にはダイヤモンドス
ラリーなどの研磨剤が塗布されている。
を参照して説明する。ワーク52の研磨工程以前では、
Z軸機構部55が下方に移動しており、ワークテーブル
53に固定されたワーク52は、ポリシャ58aとワー
ク52との接触点(以下、研磨ポイント)から離れた位
置にある。また、ワーク52の表面にはダイヤモンドス
ラリーなどの研磨剤が塗布されている。
【0024】研磨開始の信号が制御コントローラに入力
されると、まずポリシャユニット本体58c内のポリシ
ャ用モータが回転を始める。ポリシャ用モータの回転に
ついては等速回転に設定しておいても良く、加工面にお
ける特定箇所を他の箇所よりも粗さを向上させるため研
磨量を増大させる必要がある場合等においては、この箇
所での回転数を増やすなどの制御を行うことも可能であ
る。
されると、まずポリシャユニット本体58c内のポリシ
ャ用モータが回転を始める。ポリシャ用モータの回転に
ついては等速回転に設定しておいても良く、加工面にお
ける特定箇所を他の箇所よりも粗さを向上させるため研
磨量を増大させる必要がある場合等においては、この箇
所での回転数を増やすなどの制御を行うことも可能であ
る。
【0025】ポリシャ用モータが回転すると、研磨ポイ
ントが図2に示す研磨開始点31に移動するように、
X、Y、Z、A及びBの各軸機構部が制御される。ポリ
シャ58aが研磨開始点31まで移動した時点で、エア
スライダ60が作動し、ポリシャ58aとワーク52と
が完全に接触し、これにより研磨が開始される。なお、
エアスライダ60は研磨荷重を発生するが、その設定は
ワーク52の材質、ポリシャ58aの大きさや材質、回
転数などの諸条件を考慮して、予め決定されるものであ
る。また、ポリシャ用モータの回転と同様に、ワーク5
2の特定箇所を他の箇所よりも粗さを向上させたい時な
ど研磨量を増やしたい場合には、研磨荷重を増大させる
などの制御を行うことも可能である。
ントが図2に示す研磨開始点31に移動するように、
X、Y、Z、A及びBの各軸機構部が制御される。ポリ
シャ58aが研磨開始点31まで移動した時点で、エア
スライダ60が作動し、ポリシャ58aとワーク52と
が完全に接触し、これにより研磨が開始される。なお、
エアスライダ60は研磨荷重を発生するが、その設定は
ワーク52の材質、ポリシャ58aの大きさや材質、回
転数などの諸条件を考慮して、予め決定されるものであ
る。また、ポリシャ用モータの回転と同様に、ワーク5
2の特定箇所を他の箇所よりも粗さを向上させたい時な
ど研磨量を増やしたい場合には、研磨荷重を増大させる
などの制御を行うことも可能である。
【0026】研磨開始後、研磨ポイントはX、Y、Z、
A及びB軸の各軸機構部への制御により、図2の矢印で
示すようにワーク52の加工面52a上を移動する。す
なわち、研磨ポイントは、研磨開始点31からX方向に
沿って加工面52a上を研磨開始点31から離れる方向
に移動する。
A及びB軸の各軸機構部への制御により、図2の矢印で
示すようにワーク52の加工面52a上を移動する。す
なわち、研磨ポイントは、研磨開始点31からX方向に
沿って加工面52a上を研磨開始点31から離れる方向
に移動する。
【0027】図3(a)〜(c)は、研磨ポイント32
の移動順序を示す。この移動では、研磨加工時における
研磨ポイント32がX軸またはX軸近傍に位置し、且つ
Y軸またはY軸近傍に位置するように制御コントローラ
が制御するため、A軸機構部61及びB軸機構部56の
回転中心であるX軸及びY軸が、常に研磨ポイント32
で直交している。これにより、研磨ポイント32では、
ポリシャ58aの加圧方向がワーク52の加工面52a
の法線33の方向を向いた状態で研磨が行われる。かか
る制御は、X軸機構部54、Z軸機構部55、B軸機構
部56及びA軸機構部61の同時4軸制御を行うことに
よりなされるものである。
の移動順序を示す。この移動では、研磨加工時における
研磨ポイント32がX軸またはX軸近傍に位置し、且つ
Y軸またはY軸近傍に位置するように制御コントローラ
が制御するため、A軸機構部61及びB軸機構部56の
回転中心であるX軸及びY軸が、常に研磨ポイント32
で直交している。これにより、研磨ポイント32では、
ポリシャ58aの加圧方向がワーク52の加工面52a
の法線33の方向を向いた状態で研磨が行われる。かか
る制御は、X軸機構部54、Z軸機構部55、B軸機構
部56及びA軸機構部61の同時4軸制御を行うことに
よりなされるものである。
【0028】研磨ポイント32が図3(c)の位置に達
した時点で、研磨ポイント32はY方向に予め設定され
た距離を移動する。この移動の後、研磨ポイント32は
加工面52aに沿って研磨開始点31方向に移動する。
その後、同様の工程を繰り返すことにより、図2に示す
研磨終了点34に到達する。そして、研磨終了点34に
達した後、エアスライダ60による研磨荷重を絶つこと
により、X方向送りの研磨を終了する。
した時点で、研磨ポイント32はY方向に予め設定され
た距離を移動する。この移動の後、研磨ポイント32は
加工面52aに沿って研磨開始点31方向に移動する。
その後、同様の工程を繰り返すことにより、図2に示す
研磨終了点34に到達する。そして、研磨終了点34に
達した後、エアスライダ60による研磨荷重を絶つこと
により、X方向送りの研磨を終了する。
【0029】次に、X方向送りの研磨とは研磨方向を変
えたY方向送りの研磨を行う。図6はY方向送りの研磨
を示し、研磨開始点35から研磨終了点36に達するま
で、研磨ポイント32が加工面52a上を移動する。
えたY方向送りの研磨を行う。図6はY方向送りの研磨
を示し、研磨開始点35から研磨終了点36に達するま
で、研磨ポイント32が加工面52a上を移動する。
【0030】図5(a)〜(c)は、Y方向送りの研磨
における研磨ポイント32の移動を示す。この移動にお
いても、研磨加工時における研磨ポイント32がX軸ま
たはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸近傍に位置
するように制御コントローラが制御する。このため、A
軸機構部61及びB軸機構部56の回転中心であるX軸
及びY軸が、常に研磨ポイント32で直交している。こ
れにより、研磨ポイント32では、ポリシャ58aの加
圧方向がワーク52の加工面52aの法線33の方向を
向いた状態で研磨が行われる。以上の制御は、Y軸機構
部62、Z軸機構部55、B軸機構部56及びA軸機構
部61の同時4軸制御を行うことによりなされる。
における研磨ポイント32の移動を示す。この移動にお
いても、研磨加工時における研磨ポイント32がX軸ま
たはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸近傍に位置
するように制御コントローラが制御する。このため、A
軸機構部61及びB軸機構部56の回転中心であるX軸
及びY軸が、常に研磨ポイント32で直交している。こ
れにより、研磨ポイント32では、ポリシャ58aの加
圧方向がワーク52の加工面52aの法線33の方向を
向いた状態で研磨が行われる。以上の制御は、Y軸機構
部62、Z軸機構部55、B軸機構部56及びA軸機構
部61の同時4軸制御を行うことによりなされる。
【0031】なお、図2及び図4では、あたかもワーク
52の動きが無く、静止しているかのように見えるが、
これは、ポリシャ58aとワーク52との相対的な動き
を示しており、X、Y、Z、A及びBの各軸機構部への
制御によって、ポリシャ58a及びワーク52はそれぞ
れ予め設定されたプログラムにより作動しているもので
ある。
52の動きが無く、静止しているかのように見えるが、
これは、ポリシャ58aとワーク52との相対的な動き
を示しており、X、Y、Z、A及びBの各軸機構部への
制御によって、ポリシャ58a及びワーク52はそれぞ
れ予め設定されたプログラムにより作動しているもので
ある。
【0032】以上のX方向送りの研磨とY方向送りの研
磨とを設定した回数だけ繰り返すことにより、所望の表
面粗度に仕上げられた光学曲面を得ることができる。
磨とを設定した回数だけ繰り返すことにより、所望の表
面粗度に仕上げられた光学曲面を得ることができる。
【0033】なお、研磨の途中においては、ワーク52
の状況から判断して、ポリシャ58aを新しいものに交
換したり、ダイヤモンドスラリーをさらに塗布したり、
研磨工程で使用されたダイヤモンドスラリーを拭き取っ
た後、新しいダイヤモンドスラリーを塗布し直すなどの
作業を行っても良い。
の状況から判断して、ポリシャ58aを新しいものに交
換したり、ダイヤモンドスラリーをさらに塗布したり、
研磨工程で使用されたダイヤモンドスラリーを拭き取っ
た後、新しいダイヤモンドスラリーを塗布し直すなどの
作業を行っても良い。
【0034】このような実施の形態では、X方向送りの
研磨での研磨ポイント32のX方向への移動時は、X、
Z、A及びBの同時4軸制御を行い、、Y方向送りの研
磨でのY方向への移動時は、Y、Z、A及びBの同時4
軸制御を行うため、同時5軸制御とする必要がない。こ
のため、情報量が少なく、制御のための計算も簡単に行
うことができる。
研磨での研磨ポイント32のX方向への移動時は、X、
Z、A及びBの同時4軸制御を行い、、Y方向送りの研
磨でのY方向への移動時は、Y、Z、A及びBの同時4
軸制御を行うため、同時5軸制御とする必要がない。こ
のため、情報量が少なく、制御のための計算も簡単に行
うことができる。
【0035】また、4軸制御であっても、研磨ポイント
32では、ポリシャ58aの加圧方向がワーク52の加
工面52aの法線33の方向を向くため、ポリシャ58
aの回転ならびにポリシャ58aの加圧により、ワーク
52を高精度に研磨加工することができる。
32では、ポリシャ58aの加圧方向がワーク52の加
工面52aの法線33の方向を向くため、ポリシャ58
aの回転ならびにポリシャ58aの加圧により、ワーク
52を高精度に研磨加工することができる。
【0036】(実施の形態2)図6は本発明の実施の形
態2を示す。この実施の形態では、X軸機構部54、Y
軸機構部62、Z軸機構部55、A軸機構部61及びB
軸機構部56が実施の形態1と同様に配置されており、
これらの機構部の制御も実施の形態1と同様に行われ
る。
態2を示す。この実施の形態では、X軸機構部54、Y
軸機構部62、Z軸機構部55、A軸機構部61及びB
軸機構部56が実施の形態1と同様に配置されており、
これらの機構部の制御も実施の形態1と同様に行われ
る。
【0037】この実施の形態において、ポリシャユニッ
ト58のポリシャ58dが円盤形状となっている。円盤
形状のポリシャ58dは、その円盤の外周部58eでワ
ーク52の加工面を研磨加工する。この円盤形状のポリ
シャ58では、ポリシャユニット58内部のポリシャ用
モータ(図示省略)の駆動により回転する。また、この
実施の形態では、エアスライダ60に代えてポリシャユ
ニット58内部にエアスライダ58fが内蔵されてい
る。
ト58のポリシャ58dが円盤形状となっている。円盤
形状のポリシャ58dは、その円盤の外周部58eでワ
ーク52の加工面を研磨加工する。この円盤形状のポリ
シャ58では、ポリシャユニット58内部のポリシャ用
モータ(図示省略)の駆動により回転する。また、この
実施の形態では、エアスライダ60に代えてポリシャユ
ニット58内部にエアスライダ58fが内蔵されてい
る。
【0038】この実施の形態の研磨装置による研磨で
は、円盤形状のポリシャ58dの外周部58eでワーク
52の加工面を加工する以外は、実施の形態1の研磨装
置と同様である。
は、円盤形状のポリシャ58dの外周部58eでワーク
52の加工面を加工する以外は、実施の形態1の研磨装
置と同様である。
【0039】この実施の形態では、実施の形態1と同様
に、ワーク52の加工面に接触するポリシャ58dの加
圧方向を常に加工面の法線方向に向くように制御するこ
とにより、研磨ポイントにおけるポリシャ58dの研磨
荷重の分散がなくなるため、ワーク52の加工面を一定
の圧力で研磨できる。これにより、高精度な研磨加工が
行うことができる。また、ポリシャ58dを円盤形状と
し、さらにその外周部58eを研磨作用面としているた
め、ポリシャ58dの周速度を大きくすることができ
る。これにより、効率的な研磨を行うことができる。
に、ワーク52の加工面に接触するポリシャ58dの加
圧方向を常に加工面の法線方向に向くように制御するこ
とにより、研磨ポイントにおけるポリシャ58dの研磨
荷重の分散がなくなるため、ワーク52の加工面を一定
の圧力で研磨できる。これにより、高精度な研磨加工が
行うことができる。また、ポリシャ58dを円盤形状と
し、さらにその外周部58eを研磨作用面としているた
め、ポリシャ58dの周速度を大きくすることができ
る。これにより、効率的な研磨を行うことができる。
【0040】(実施の形態3)図7は本発明の実施の形
態3を示す。この実施の形態においても、X軸機構部5
4、Y軸機構部62、Z軸機構部55、A軸機構部61
及びB軸機構部56が実施の形態1と同様に配置されて
おり、これらの機構部の制御も実施の形態1と同様に行
われる。
態3を示す。この実施の形態においても、X軸機構部5
4、Y軸機構部62、Z軸機構部55、A軸機構部61
及びB軸機構部56が実施の形態1と同様に配置されて
おり、これらの機構部の制御も実施の形態1と同様に行
われる。
【0041】この実施の形態では、ポリシャユニット5
8のポリシャ58gが円柱形状となっている。また、円
柱形状のポリシャ58gのワーク52と接触する側に
は、弾性体58hが貼り付けられている。弾性体58h
としては、ポリウレタン等の樹脂が使用されている。
8のポリシャ58gが円柱形状となっている。また、円
柱形状のポリシャ58gのワーク52と接触する側に
は、弾性体58hが貼り付けられている。弾性体58h
としては、ポリウレタン等の樹脂が使用されている。
【0042】さらに、ポリシャユニット58とエアスラ
イダ60の間に振動装置64が配置されている。振動装
置64はエアスライダ60を介して連結アーム59に連
結されており、その振動によって研磨ポイントにおける
接平面上をポリシャ58gが揺動するように作用する。
イダ60の間に振動装置64が配置されている。振動装
置64はエアスライダ60を介して連結アーム59に連
結されており、その振動によって研磨ポイントにおける
接平面上をポリシャ58gが揺動するように作用する。
【0043】この実施の形態の研磨装置による研磨で
は、研磨時に振動装置64による研磨面への揺動作用が
付加され、また、弾性体58hがワーク52に接触して
研磨を行う以外は、実施の形態1の研磨装置と同様であ
る。この実施の形態では、ポリシャ58gが円柱形状と
なっており、このポリシャ58gに取り付けられた弾性
体58hが研磨作用面となっているため、ワーク52と
接触するポリシャの面積が大きくなり、効率的な研磨を
行うことができる。
は、研磨時に振動装置64による研磨面への揺動作用が
付加され、また、弾性体58hがワーク52に接触して
研磨を行う以外は、実施の形態1の研磨装置と同様であ
る。この実施の形態では、ポリシャ58gが円柱形状と
なっており、このポリシャ58gに取り付けられた弾性
体58hが研磨作用面となっているため、ワーク52と
接触するポリシャの面積が大きくなり、効率的な研磨を
行うことができる。
【0044】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、ポリシャとワ
ークとの接触点を常にX軸上またはX軸近傍に位置さ
せ、且つY軸上またはY軸近傍に位置させるため、ポリ
シャの加圧方向がワークの加工面の法線方向を向いた状
態となり、ワークへの研磨荷重を一定に保つことがで
き、ワークの加工面を高精度に研磨することができる。
ークとの接触点を常にX軸上またはX軸近傍に位置さ
せ、且つY軸上またはY軸近傍に位置させるため、ポリ
シャの加圧方向がワークの加工面の法線方向を向いた状
態となり、ワークへの研磨荷重を一定に保つことがで
き、ワークの加工面を高精度に研磨することができる。
【0045】請求項2の発明によれば、請求項1の発明
の効果を有するのに加えて、接触点におけるポリシャの
研磨荷重の分散がなくなり、ワークの加工面を一定の圧
力で研磨できるため、高精度な研磨加工を行うことがで
きる。
の効果を有するのに加えて、接触点におけるポリシャの
研磨荷重の分散がなくなり、ワークの加工面を一定の圧
力で研磨できるため、高精度な研磨加工を行うことがで
きる。
【0046】請求項3の発明によれば、請求項1及び2
の発明の効果を有するのに加えて、ワークの加工面を広
い範囲で研磨加工することができる。
の発明の効果を有するのに加えて、ワークの加工面を広
い範囲で研磨加工することができる。
【図1】本発明の実施の形態1の斜視図である。
【図2】X方向送りの研磨を示す斜視図である。
【図3】(a)〜(c)は、X方向送りの研磨における
作用を説明する図2の矢印D方向からの側面図である。
作用を説明する図2の矢印D方向からの側面図である。
【図4】Y方向送りの研磨を示す斜視図である。
【図5】(a)〜(c)は、Y方向送りの研磨における
作用を説明する図4の矢印Eの側面図である。
作用を説明する図4の矢印Eの側面図である。
【図6】本発明の実施の形態2の斜視図である。
【図7】本発明の実施の形態3の斜視図である。
【図8】従来の研磨装置を示す正面図である。
【図9】図8の側面図である。
52 ワーク 54 X軸機構部 55 Z軸機構部 56 B軸機構部 58 ポリシャユニット 61 A軸機構部 62 Y軸機構部
Claims (3)
- 【請求項1】 ワークの加工面をポリシャによって研磨
加工する研磨装置において、 上記ワークをX軸方向に移動させるX軸機構部と、 上記ワークをZ軸方向に移動させるZ軸機構部と、 上記ワークをY軸を中心として旋回させるB軸機構部
と、 上記ポリシャをY軸方向に移動させるY軸機構部と、 上記ポリシャをX軸を中心として旋回させるA軸機構部
と、 研磨加工時におけるポリシャとワークとの接触点がX軸
またはX軸近傍に位置し、且つY軸またはY軸近傍に位
置するようにX軸機構部、Y軸機構部、Z軸機構部、A
軸機構部及びB軸機構部を制御する制御手段とを備えて
いることを特徴とする研磨装置。 - 【請求項2】 上記制御手段は、ポリシャからのワーク
への研磨荷重をワークの加工面の法線方向に一致または
略一致するようにA軸機構部及びB軸機構部を制御する
ことを特徴とする請求項1記載の研磨装置。 - 【請求項3】 上記ポリシャをワークとの接触点で揺動
させる振動手段をさらに有していることを特徴とする請
求項1または2記載の研磨装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000377193A JP2002178254A (ja) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | 研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000377193A JP2002178254A (ja) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | 研磨装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002178254A true JP2002178254A (ja) | 2002-06-25 |
Family
ID=18845955
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000377193A Pending JP2002178254A (ja) | 2000-12-12 | 2000-12-12 | 研磨装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002178254A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012120566A1 (ja) * | 2011-03-09 | 2012-09-13 | ナルックス株式会社 | レンズ、レンズ用金型及び金型加工方法 |
CN114227502A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-25 | 深圳市裕展精密科技有限公司 | 抛光固定装置、抛光设备及方法 |
-
2000
- 2000-12-12 JP JP2000377193A patent/JP2002178254A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012120566A1 (ja) * | 2011-03-09 | 2012-09-13 | ナルックス株式会社 | レンズ、レンズ用金型及び金型加工方法 |
US8974086B2 (en) | 2011-03-09 | 2015-03-10 | Nalux Co., Ltd. | Lens, mold for lens and method for machining mold |
CN114227502A (zh) * | 2021-11-15 | 2022-03-25 | 深圳市裕展精密科技有限公司 | 抛光固定装置、抛光设备及方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071225 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071225 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080422 |