JP2002163845A - マスタリング装置及び記憶媒体基板の製造方法 - Google Patents

マスタリング装置及び記憶媒体基板の製造方法

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JP2002163845A
JP2002163845A JP2000359907A JP2000359907A JP2002163845A JP 2002163845 A JP2002163845 A JP 2002163845A JP 2000359907 A JP2000359907 A JP 2000359907A JP 2000359907 A JP2000359907 A JP 2000359907A JP 2002163845 A JP2002163845 A JP 2002163845A
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disk
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Masafumi Asai
雅文 浅井
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 位置決め精度がそれほど高くない直動ステー
ジを使用しつつ、原盤上にナノメータオーダのピット列
を形成する。 【解決手段】 位置決め精度がミクロンオーダの直動ス
テージ12を使用しつつ、これにディスク原盤12の半
径方向の電子銃の偏向機能を併用して、直動ステージ1
2を断続的に移動させて停止させ、回転ステージを軸ぶ
れが一定の値以下の回転速度で回転させた状態で、電子
ビームカラム3から照射する電子ビーム4の描画位置調
整をこの直動ステージ12の移動距離の範囲内で行うよ
うにし、ディスク原盤14上に超高密度でピットを露光
するマスタリング装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子ビームによっ
て情報記録用のディスク原盤を描画するマスタリング装
置及び記憶媒体基板の製造方法に関し、特に、直動ステ
ージの位置決め精度を高品位にすることなく、高い記録
密度でディスク原盤に描画を行うことができるマスタリ
ング装置、及びこのマスタリング装置を使用した記憶媒
体基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子ビームやレーザによって情報
記録用のディスク原盤を描画するマスタリング装置が知
られている。このマスタリング装置は、レジストが塗布
されて回転している原盤に、直接レーザ光や電子ビーム
を照射し、原盤を半径方向に移動させることで、原盤上
に螺旋状にグルーブやピットの列を形成し、その後、現
像、メッキ、射出整形等の工程を経てディスク原盤を完
成させるものである。
【0003】光磁気や相変化等を利用した書き込み可
能、書換え可能な光ディスクでは、ランドまたはグルー
ブが形成されると共に、アドレス情報やセクタマーク、
コントロール情報はピットで形成される。CD−ROM
やDVD−ROMのような光ディスクでは、アドレス情
報だけでなく、データもピットで形成される。ランド/
グルーブ記録の場合、トラック溝を形成して凹凸を作る
ことにより、ランド/グルーブのトラックを形成するこ
とができる。
【0004】ディスク原盤上に同心円状ではなく、螺旋
状に配列させてトラック溝、ピット列を描画するために
は、高速でディスク原盤を回転させる回転ステージと、
超低速で滑らかにディスク原盤を半径方向に連続移動さ
せる直動ステージとを備えたステージ機構が必要であ
る。これまで、光ディスク等の原盤製作はレーザ光を用
いたマスタリング装置によって行われてきた。ところ
が、近年、ディスクの記録密度は急激に向上しており、
レーザ光を使用したマスタリング装置による原盤製作で
は、ディスクの記録密度に限界が出てきた。
【0005】現在、DVDの記録密度は1平方インチあ
たり3.3Gbit程度であり、トラックピッチは74
0nmである。これを例えば、DVDの30倍の記録密
度である1平方インチあたり100Gbitにするに
は、ディスクのトラックピッチを140nmにしなけれ
ばならない。一方、レーザ光によるビームスポット径の
限界は250nm(半値幅)程度であるので、1平方イ
ンチあたり100Gbitの密度のパターンを描画する
のに必要な70nm(トラックピッチの半分)を得るこ
とは不可能である。これが、レーザ光を利用したマスタ
リング装置によるディスクの記録密度に限界がある理由
である。
【0006】そこで、近年、記録密度を大幅に向上させ
るために、レーザ光に代わって電子ビームを用いたマス
タリング装置が試作されるようになってきている。そし
て、この電子ビームを用いたマスタリング装置により、
例えば、1平方インチあたり100Gbitの記録密度
にするために、ディスクのトラックピッチを140nm
にするという条件の下で、ディスク原盤の半径58mm
の地点での描画線速度を8m/秒とすると、直動ステー
ジの送り速度は3μm/sとなる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、直動ステー
ジの位置決め精度はnmオーダのものも存在するが、送
り速度を一定にして、毎秒ミクロンオーダ、またはサブ
ミクロンオーダで正確に制御することは現状では困難で
ある。そして、直動ステージの送りが正確に行われない
と、描画されたパターンにもこの影響が現れ、高密度か
つ高品位の原盤が製作できないという問題点があった。
【0008】すなわち、トラックピッチを高密度にする
と、超低速で直動ステージを等速移動させる必要がある
が、駆動系の摩擦領域の問題があり、現状では更なるト
ラックピッチの高密度化は不可能である。一方、マスタ
リング装置における回転ステージについては、軸ぶれが
大きくなりやすい回転速度や、軸ぶれが生じにくい回転
速度が存在する。一般に、回転ステージの軸ぶれは計測
され、電子ビームの偏向により補正が行われるが、ディ
スクの記録密度が向上するにつれ、電子ビームの偏向量
の高分解能化を図らなければならない。これは電子ビー
ムの偏向補正量を狭める方向であり、直動ステージの送
りの誤差を補正しにくくなる方向である。
【0009】この問題点について更に詳しく説明する。
直動ステージの超低速等速運動は、慣性力による安定性
が期待できず、かつ、駆動機構の非線形摩擦力の影響が
大きく、「微視的にスムーズな移動」が難しくなる。描
画時には直動ステージ位置を検出して電子ビームの偏向
作用によりビーム照射位置を補正するが、その補正が1
0nmオーダ、若しくはそれ以下、かつ、高速となる
と、その補正量にも限界が生じてくる。また、回転ステ
ージについては、その回転に同期したぶれと、非同期の
ランダムなぶれが生じる。これらは回転ステージの回転
速度に依存してそれぞれが大きくなったり、小さくなっ
たりすることが観察できる。
【0010】更に、高密度光ディスクの原盤への描画は
電子ビームによって行われるが、このようにして大量に
製作されたデータディスクは、レーザビームにより再生
される。この際の読み出し方法として2つの隣接するト
ラック上のデータを同時に読むという方法が取られる。
このため、トラックピッチは正確に保持されなければな
らず、更なるトラックピッチの高密度化が望まれてい
る。
【0011】そこで、本発明の目的は前記従来の電子ビ
ームを使用したマスタリング装置の問題点を解消し、位
置決め精度がミクロンオーダの直動ステージを使用しつ
つ、これにディスクの半径方向の電子銃の偏向機能を併
用して描画位置調整をこの直動ステージの移動範囲内で
行うようにし、回転ステージについては軸ぶれが一定の
値以下の回転速度を選択することにより、原盤上に超高
密度でピットを露光することができるマスタリング装置
及び記憶媒体基板の製造方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明のマスタリング装置は、直動ステージとこの直動ステ
ージ上に設けられた回転ステージとからなるステージ機
構、及び、回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子
ビームを照射する電子ビーム照射装置とを備え、回転ス
テージ上にレジスト塗布された基盤を載置して回転させ
た状態で、電子ビーム照射装置から電子ビームをこの基
盤上に照射して露光することにより、ディスク原盤の製
作を行うマスタリング装置において、ディスク原盤の製
作時に、直動ステージを駆動する駆動装置により、直動
ステージが予め定められた所定距離ずつ断続的に移動さ
せるように構成したことを特徴としている。
【0013】この電子ビーム照射装置では、直動ステー
ジが停止状態、かつ回転ステージが動作状態の時に、基
盤上に電子ビームの照射を行わせ、直動ステージの移動
方向の電子ビームの照射位置の調整を、電子ビーム照射
装置に設けられた偏光器により行わせ ことができる。
また、電子ビーム照射装置が基盤上に電子ビームの照射
を行う時、回転ステージを駆動する駆動装置により、回
転ステージの回転速度を軸ぶれが生じにくい一定速度に
保持させることができる。回転ステージの回転速度に軸
ぶれが生じにくい速度はシステムによって異なる。
【0014】更に、電子ビーム照射装置による基盤上へ
の一度の電子ビームの照射では露光が不足することが予
め分かっている場合には、電子ビーム照射装置により基
盤上の同一箇所に、所定回数の同一の電子ビーム照射を
繰り返し行わせ、その間、直動ステージの動作を保留さ
せることができる。一方、前記目的を達成する本発明の
記憶媒体基板の製造方法は、直動ステージとこの直動ス
テージ上に設けられた回転ステージとからなるステージ
機構、及び、回転ステージ上に描画用ビーム源からの電
子ビームを照射する電子ビーム照射装置とを備えたマス
タリング装置を使用する記憶媒体基板の製造方法であっ
て、回転ステージの上にレジスト塗布されたディスク原
盤を載置し、直動ステージの動作が停止している状態
で、回転ステージによってディスク原盤を一定の回転速
度で回転させ、電子ビーム照射装置から電子ビームを、
電子ビームの偏向範囲内でこのディスク原盤上に照射し
て露光することによりディスク原盤上に凹凸を形成し、
電子ビーム照射装置による電子ビームの偏向範囲内での
露光が終了した時点で、直動ステージを予め定められた
所定距離移動させて停止させ、以後、電子ビーム照射装
置から電子ビームの偏向範囲内での照射と、直動ステー
ジの断続的な所定距離の移動とを繰り返してディスク原
盤からスタンパを作成し、このスタンパを用いて透明材
料の射出成形を行って記憶媒体基板を得ることを特徴と
している。
【0015】本発明のマスタリング装置及び記憶媒体基
板の製造方法によれば、ディスク原盤に螺旋状に露光を
行う場合に、ディスク原盤上のピット列、グルーブ、又
はランドのトラックピッチよりも大きな距離を、直動ス
テージにより断続的に移動させ、ディスク原盤が一定速
度で回転している状態で、電子ビーム照射装置の電子銃
から出射される電子ビームの方向を、この直動ステージ
の1回の移動範囲内において偏向器により偏向すること
により、直動ステージと回転ステージの制御限界を補っ
てディスク原盤上に露光が行われるので、トラックピッ
チが170nm以下の高密度でかつ高品位のディスク原
盤、及び記憶媒体基板を製作することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に示される具体的な実施例に基づいて詳細に説明す
る。図1(a) は本発明を適用する電子ビームを使用した
マスタリング装置9の構成を示すものである。マスタリ
ング装置9には、ディスク原盤14を収納する試料室1
と、ディスク原盤14に照射する電子ビームを発生、制
御する電子ビームカラム3、及び、試料室1内のステー
ジ機構の制御とデンシビームカラム3の制御を行う制御
回路2が設けられている。
【0017】試料室1には、そのベース11上に、ディ
スク原盤14をその半径方向に移動させる直動ステージ
12と、ディスク原盤14を回転させる回転ステージ1
3とがあり、ディスク原盤14はこの回転ステージ13
の上に載置される。直動ステージ12にはベース11の
上に固定される固定台12Bと、この固定台12Bの上
を移動する移動台12Aとがある。試料室1の内部は図
示しない真空ポンプによって高真空に保持されている。
【0018】図1(b) に示すように、移動台12Aの底
面にはナット12Cが突設されており、このナット12
Cは固定台12Bの中央部に長手方向に形成された溝1
2D内に収納されている。ナット12Cにはボールねじ
18が螺着されており、このボールねじ18は試料室1
の真空チャンバ10に取り付けられたモータ19の回転
軸に接続されている。また、移動台12Aと固定台12
Bとの間にはローラ12Eが設けられており、移動台1
2Aが固定台12Bの上を滑らかに移動できるようにな
っている。
【0019】一方、移動台12Aの上面には反射ミラー
16が設けられている。この反射ミラー16は、外部の
レーザ光源21から出射され、干渉計22と真空チャン
バ10の距離測定窓17を通じて入射されたレーザビー
ムを反射する。反射されたレーザビームは再び距離測定
窓17を通じて干渉計22に入り、ここで反射されてレ
シーバ23に入射される。レシーバ23は受光したレー
ザビームから移動台12Aの位置を示す干渉光を検出
し、レーザ干渉計制御ボード24に出力する。レーザ干
渉計制御ボード24は入力された移動台12Aからの干
渉光を処理して移動台12Aの移動距離を検出し、移動
台12Aの現在位置を示す位置信号を作る。この位置信
号は比較器25の反転入力に送出される。
【0020】また、回転ステージ13の上に載置される
ディスク原盤14を回転させた時の上下方向のうねりに
対応して、電子ビームの焦点を変化させる必要があるた
め、試料室1の真空チャンバ10の上面にはディスク原
盤14の高さを常時測定する原盤高さ検出器15が設け
られている。電子ビームカラム3は、その鏡筒30内
に、電子ビームを発生させる電子銃31、ビームを拡大
集束するレンズ32,36,37、電子ビームのオン/
オフを行うブランカ33、電子ビーム径を絞って通過さ
せるアパーチャ(開口絞り)34、ディスク原盤14の
主面に照射されるビーム位置を補正する偏向器35から
構成される。最終的にレンズ37によって絞られた電子
ビームは、鏡筒30の先端部に設けられた出射窓38か
ら出射され、ディスク原盤14の主面に照射される。
【0021】ブランカ33のオン/オフはコントローラ
20の出力によって制御される。コントローラ20では
移動台12Aの目標位置が演算され、この目標位置の信
号は比較器25の非反転端子に出力される。比較器25
には前述のように移動台12Aの現在の位置が入力され
ているので、この比較器25では移動台12Aの目標位
置と現在位置の差が位置決め誤差として求められ、この
位置決め誤差が制御回路26に出力される。制御回路2
6ではこの位置決め誤差信号に基づいて電子ビームの照
射位置を補正する信号が生成され、これが偏向アンプ2
7に入力される。偏向アンプ27からは偏向器35に補
正信号が出力され、偏向器35の磁界が補正されること
によって電子ピームのビームスポット位置が目標位置に
制御される。
【0022】また、コントローラ20はモータ19に回
転駆動信号を出力し、モータ19の回転を制御する。こ
の制御により、移動台12Aの移動距離が制御される。
モータ19には電磁モータ、パルスモータ、超音波モー
タの何れを使用しても良く、これらどのモータを用いて
もμmオーダの位置決めが可能である。ディスク原盤1
4に描画するパターン密度がそれほど高くない場合に
は、直動ステージ12をモータ19で連続移動させ、回
転ステージ13も一定速度で連続回転させれば良い。と
ころが、ディスク原盤14に描画するパターン密度が高
くなってくると、直動ステージ12の制御性能が不足し
てくる。すなわち、機械的な直動ステージ12は、ディ
スク原盤14をナノメータのオーダで位置決めするこ
と、及び、ミクロンのオーダで一定速度で移動すること
は難しい。
【0023】そこで、本発明では、機械的な直動ステー
ジ12は、ミクロンオーダで一定速度で移動することは
難しいが、ミクロンオーダで位置決めを行うことは可能
であることに着目してなされたものである。即ち、本発
明では、直動ステージ12によってディスク原盤14を
ミクロンのオーダで位置決めし、直動ステージ12を固
定した状態で、電子ビームカラム3からの電子ビームに
偏向器35から磁界を印加することによって電子ビーム
の位置をナノメータのオーダで位置決めすることによ
り、ディスク原盤14にナノメータのオーダで描画を行
うようにしている。
【0024】図2は本発明のマスタリング装置における
1回の直動ステージ12の移動で描画が可能な範囲と、
次回の直動ステージ12の移動で描画が可能な範囲を比
較して示すものである。ディスク原盤14の描画面は、
図12に示すように、最初の描画領域S1,次回の描画
領域S2,その次の描画領域S3,……のように略同心
円状の描画領域に予め区切っておく。各描画領域のディ
スク原盤14の半径方向の幅は、電子ビームカラム3か
らの電子ビーム4が偏向器35(図1参照)により振れ
ることができる幅の範囲内の値に定める。
【0025】直動ステージ12にディスク原盤14を載
置した後に、直動ステージ12を最初の描画領域S1に
移動させた状態では、電子ピームカラム3から出射され
る電子ビーム4の中心位置(偏向されていない位置)
は、図3に示すように、描画領域S1の中央になるよう
に設定しておく。そして、ディスク原盤14は一定の回
転速度ω1で回転させておき、描画領域S1に描画を行
う時は、直動ステージ12は停止させておく。
【0026】この状態で、描画データに従ってブランカ
をオンオフしながら、かつ、偏向器により電子ビームを
偏向させながら、電子ビームカラム3から電子ビーム4
を断続的に描画領域S1に照射し、図2の拡大図に示す
ようにディスク原盤14の上を露光してピット列5を形
成する。このとき、偏向器により電子ビーム4は、図3
に示すように、ディスク原盤14の外周側から内周側に
移動するように偏向され、ピット列5はディスク原盤1
4の外周側から螺旋状に形成される。
【0027】最初の描画領域S1への描画が終了する
と、図2に示すように直動ステージ12をX方向に距離
dXだけ移動させ、電子ビームカラム3の直下に次の描
画領域S2を位置させる。この直動ステージ12の移動
距離dXは、例えば、図3に示すようにトラックピッチ
Pを140nm、電子ビーム4の偏向範囲を1μmと決
めたとすると、7周分を1ステップとして、980nm
(=140nm×7)と定めることができる。すなわ
ち、電子ビーム4によって7周ずつ描画を行い、描画が
終了した後に980nmずつ直動ステージ12を移動さ
せれば良い。
【0028】また、各描画領域における回転ステージ1
3の回転速度は一定にしておく。但し、描画領域が異な
る場合には、それぞれの回転ステージ13の回転速度は
異ならせても良い。図2の実施例では、描画領域S1の
回転ステージ13の回転速度はω1、描画領域S2の回
転ステージ13の回転速度はω2のように設定してあ
る。これは、回転ステージ13の回転速度の変化による
複雑な回転むらの影響によるジッタの増大を抑えるとい
う働きがある。更に、回転ステージ13の回転速度とし
て、回転非同期軸ぶれの振幅が小さな回転速度を選択す
ることにより、電子ビームの偏向量を小さくして、偏向
量の高分解能化を図ることができ、より高品位なディス
ク原盤14の描画ができる。
【0029】なお、直動ステージ12の1ステップにお
ける移動距離dXを、1μmのような基準距離に設定す
ることもできる。この場合は、図4に示すように、ディ
スク原盤14のある描画領域における電子ビームの描画
開始点Aから、描画終了点Bまで、ディスク原盤14は
7周(ビームの移動距離980μm)と1/7周(ビー
ムの移動距離20μm)することになる。即ち、ディス
ク原盤14が7周+1/7周して、ディスク原盤14の
上の描画終了点Bが点Cまで来た時の電子ビームの移動
距離が1μmとなる。
【0030】なお、ここでは電子ビームの偏向量とディ
スク原盤14の上のトラックピッチとの関係で、1ステ
ップあたりの直動ステージ12の移動量を決め、一定量
ずつ移動させているが、直動ステージ12の移動量を一
定量とせず、変動制御しても良い。この直動ステージ1
2の移動量を変動制御する技術は、例えば、トラックピ
ッチをディスク原盤14の内周部と外周部で変更する場
合に応用できる。
【0031】図5は以上説明したように直動ステージ1
2が断続的に移動移動した時の、直動ステージ12の位
置を時間と共に示す線図である。この図から分かるよう
に、直動ステージ12は、描画領域S1、S2,S3…
…に描画が行われている時は位置が変わらない、即ち移
動していないことが分かる。ところで、前述のように各
領域で一定に定めた回転速度で移動ステージ13を回転
させた状態で、電子ビームカラム3から電子ビーム4を
ディスク原盤14の上に照射して露光を行った場合、電
子ビームの電荷量の不足によって所望のピットパターン
が得られない場合がある。これは、予めテスト原盤に電
子ビームを照射した時に分かるものである。このような
場合は、同じ描画領域内において、ディスク原盤14の
同一箇所に複数回、同一パターンを電子ビームによって
描画することにより、電子ビームの電荷量の不足を補う
ことができる。
【0032】図6(a) ,(b) は電子ビームによるディス
ク原盤14上への複数の描画手順を示している。図6
(a) は第1回目のピットの描画状態を説明する部分拡大
図であり、図6(b) は一度描画を行ったディスク原盤上
の部位に2回目の描画を行う状態を説明している。同一
描画領域において、ディスク原盤14の同一箇所に複数
回、同一パターンを電子ビームによって描画する方法に
は次の3種類の方法がある。(1) 描画領域の全トラック
に対して電子ビームの照射を行った後に、再度、描画領
域の全トラックに対して電子ビームの照射を行う動作を
必要回数だけ繰り返す方法。(2) ディスク原盤の描画領
域に、1周分だけ電子ビームによって描画を行い、描画
の終わった1周分のトラックに対して再度、必要回数だ
け繰り返して描画を行う方法。(3) ディスク原盤の描画
領域に、所定の複数周分だけ電子ビームによって描画を
行い、描画の終わった複数周分のトラックに対して再
度、必要回数だけ繰り返して描画を行う方法。
【0033】この何れかの方法によれば、電子ビーカラ
ム3によるディスク基板14上への一度の電子ビームの
照射では露光が不足することが予め分かっている場合で
も、同一の電子ビームをディスク基盤14上の一周分の
同一箇所に順次、所定回数のだけ照射を繰り返すことに
より、ピットを形成することができる。図7は本発明の
別の実施例のマスタリング装置9Aの構成を示すもので
あり、図1で説明したマスタリング装置9とは、主に試
料室1の構成が異なるものである。よって、図1で説明
したマスタリング装置9と同じ構成部材については同じ
符号を付し、電子ビームカラム3と制御回路2の構成に
ついてはその説明を省略する。
【0034】マスタリング装置9Aの試料室1は、図示
しない真空ポンプによって高真空に保持された真空チャ
ンパ10を備えている。真空チャンパ10の内部には、
そのベース11上に、ディスク原盤14をその半径方向
に移動させる直動ステージ42と、ディスク原盤14を
回転させる回転ステージとしてのエアスピンドルモータ
40があり、ディスク原盤14はエアスピンドルモータ
40の回転台43の上に載置される。
【0035】直動ステージ42は、エアスピンドルモー
タ40が取り付けられる移動台42A、移動台42Aを
移動させる車輪42B、ナット42Cが固着されたロッ
ド42Dを備えて構成される。ナット42Cにはボール
ねじ48が螺着されており、このボールねじ18は真空
チャンバ10内のベース11の上に固定されたモータ1
9の回転軸に接続されている。移動台42Aは車輪42
Bにより、ベース11の上を滑らかに移動できるように
なっている。
【0036】エアスピンドルモータ40にはパイプ41
が貫通して取り付けられており、このパイプ41の両端
は真空チャンバ10の外側まで延長されて支柱46に支
持されている。そして、真空チャンバ10内のパイプ4
1の外側はベローズ44で気密に覆われており、真空チ
ャンバ10内の負圧が外気で上昇しないようになってい
る。パイプ41内にはチューブ47が通っており、この
チューブ47を用いてコンプレッサ(図示せず)により
圧縮空気が送り込まれる。この圧縮空気はエアスピンド
ルモータ40を回転させた後にチューブ47の他方側か
ら外部に排出される。更に、差動排気を用いて、エアス
ピンドルモータ40の真空シールを積極的に行うため、
図示されていない真空ポンプにつながれたチューブによ
りシール部の排気動作が行われる。また、パイプ41内
には信号ケーブル45が配線されている。
【0037】そして、ディスク原盤14の上方のエアチ
ャンバ10には、ディスク原盤14に電子ビーム4を照
射する電子ビームカラム3が取り付けられている。この
電子ビームカラム3の内部構成は図1において既に説明
したものと同じであるので、この実施例ではその外形を
示すのみに留めてある。なお、この実施例でも、移動台
42Aの位置はレーザを使用して検出されるが、この検
出装置については図1において既に説明されているの
で、この実施例における図示、及び説明を省略する。回
転ステージ43の上に載置されるディスク原盤14を回
転させた時の上下方向のうねりに対応して、電子ビーム
の焦点を変化させるためにディスク原盤14の高さを測
定する検出器についても、その図示及び説明を省略す
る。
【0038】真空チャンバ10内で直動ステージ42を
移動させ、圧縮空気によって駆動されるエアスピンドル
モータ40を使用することにより、真空チャンバ10内
におけるディスク原盤14の上下方向のうねりを低減す
ることができる。なお、以上説明した実施例では、ディ
スク原盤14への描画をディスク原盤14の外周側から
行う例を説明したが、描画を行う方向はディスク原盤1
4の内周側からでも良い。また、ディスク原盤14に形
成する螺旋の旋回方向についても特に限定されるもので
はない。
【0039】このようにして製作されたディスク原盤
は、記憶媒体を作成するスタンパとして使用され、射出
成形により記憶媒体基板が作成される。この後、記録膜
や保護膜等をピットやトラック溝が形成された表面にス
パッタリングにより形成されることで、記憶媒体が完成
する。記憶媒体がCDの場合はAl等の反射膜の上に保
護膜が形成される。また、記憶媒体がMOの場合は記録
膜としてTbFeCo、GdFeCo等の磁性膜、DV
D−RAM等の相変化媒体の場合は記録膜としてGeS
bTb等の相変化膜、が形成された上に保護膜としてS
iN等の透明材料が積層される。なお、基板はポリカー
ボネート等の透明材料である。
【0040】前述の実施例では、ピットパターンのみを
形成する場合を説明したが、トラック溝のみやトラック
溝とピットパターンの組み合わせで描画することも可能
である。また、荷電ビームとして電子ビームを例にとっ
て実施例を説明したが、電子ビームの他に、フォーカス
ドイオンビームのようなビームを使用することもでき
る。
【0041】なお、本実施例は記憶媒体を光ディスクに
より説明したが、記憶媒体は磁気ディスクであっても良
く、また、ディスク状のトラックを有する媒体であれ
ば、カード状、テープ状の媒体もディスクに含むもので
あると定義する。 (付記1) 直動ステージとこの直動ステージ上に設け
られた回転ステージとからなるステージ機構、及び、前
記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビームを
照射する電子ビーム照射装置とを備え、前記回転ステー
ジ上にレジスト塗布された基盤を載置して回転させた状
態で、前記電子ビーム照射装置から電子ビームをこの基
盤上に照射して露光することにより、ディスク原盤の製
作を行うマスタリング装置であって、前記直動ステージ
が予め定められた所定距離ずつ断続的に移動するよう
に、前記直動ステージを駆動する駆動装置を有すること
を特徴とするマスタリング装置。 (付記2) 前記電子ビーム照射装置は、前記直動ステ
ージが停止状態、かつ前記回転ステージが動作状態の時
に、前記基盤上に電子ビームの照射を行い、前記直動ス
テージの移動方向の前記電子ビームの照射位置の調整
は、前記電子ビーム照射装置に設けられた偏光器により
行うことを特徴とする付記1に記載のマスタリング装
置。 (付記3) 前記電子ビーム照射装置が前記基盤上に電
子ビームの照射を行う時、前記回転ステージを駆動する
駆動装置は、前記回転ステージの回転速度を、軸ぶれが
生じにくい一定速度に保持するように動作することを特
徴とする付記1又は2に記載のマスタリング装置。 (付記4) 前記電子ビーム照射装置による前記基盤上
への一度の電子ビームの照射では露光が不足することが
予め分かっている場合には、前記電子ビーム照射装置は
前記基盤上の同一箇所に、所定回数の同一の電子ビーム
照射を繰り返し、その間、前記直動ステージの動作を保
留することを特徴とする付記1から3の何れか1つに記
載のマスタリング装置。 (付記5) 直動ステージとこの直動ステージ上に設け
られた回転ステージとからなるステージ機構、及び、前
記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビームを
照射する電子ビーム照射装置とを備えたマスタリング装
置を使用する記憶媒体基板の製造方法であって、前記回
転ステージの上にレジスト塗布されたディスク原盤を載
置し、前記直動ステージの動作が停止している状態で、
前記回転ステージによって前記ディスク原盤を一定の回
転速度で回転させ、前記電子ビーム照射装置から電子ビ
ームを、電子ビームの偏向範囲内でこのディスク原盤上
に照射して露光することによりディスク原盤上に凹凸を
形成し、前記電子ビーム照射装置による電子ビームの偏
向範囲内での露光が終了した時点で、前記直動ステージ
を予め定められた所定距離移動させて停止させ、以後、
前記電子ビーム照射装置から電子ビームの偏向範囲内で
の照射と、前記直動ステージの断続的な所定距離の移動
とを繰り返して前記ディスク原盤からスタンパを作成
し、このスタンパを用いて透明材料の射出成形を行って
記憶媒体基板を得ることを特徴とする記憶媒体基板の製
造方法。 (付記6) 前記電子ビーム照射装置による前記基盤上
への電子ビームの照射が基盤に対して螺旋状であり、前
記直動ステージが一回の動作で移動する予め定められた
所定距離を基準距離とするために、前記電子ビームの前
記基盤に対する照射開始位置と照射終了位置を異なる半
径線上に位置させたことを特徴とする付記1から4の何
れか1つに記載のマスタリング装置。 (付記7) 前記電子ビーム照射装置による前記基盤上
への一度の電子ビームの照射では露光が不足することが
予め分かっている場合には、前記電子ビーム照射装置は
前記基盤上の一周分の同一箇所に順次、所定回数の同一
の電子ビーム照射を繰り返し、その間、前記直動ステー
ジの動作を保留することを特徴とする付記1から3の何
れか1つに記載のマスタリング装置。 (付記8) 前記電子ビーム照射装置による前記基盤上
への一度の電子ビームの照射では露光が不足することが
予め分かっている場合には、前記電子ビーム照射装置は
前記基盤上の複数周分の同一箇所に順次、所定回数の同
一の電子ビーム照射を繰り返し、その間、前記直動ステ
ージの動作を保留することを特徴とする付記1から3の
何れか1つに記載のマスタリング装置。 (付記9) 直動ステージとこの直動ステージ上に設け
られた回転ステージとからなるステージ機構、及び、前
記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビームを
照射する電子ビーム照射装置とを備えたマスタリング装
置を使用する記憶媒体基板の製造方法であって、前記回
転ステージの上にレジスト塗布されたディスク原盤を載
置し、前記直動ステージの動作が停止している状態で、
前記回転ステージによって前記ディスク原盤を一定の回
転速度で回転させ、前記電子ビーム照射装置から電子ビ
ームを、電子ビームの偏向範囲内でこのディスク原盤上
に照射して露光することによりディスク原盤上に凹凸を
形成し、前記電子ビーム照射装置による電子ビームの偏
向範囲内での露光が終了した時点で、前記直動ステージ
を予め定められた所定距離移動させて停止させ、以後、
前記電子ビーム照射装置から電子ビームの偏向範囲内で
の照射と、前記直動ステージの断続的な所定距離の移動
とを繰り返して前記ディスク原盤から記憶媒体基板を作
るためのスタンパを作成することを特徴とする記憶媒体
基板の製造方法。 (付記10) 直動ステージとこの直動ステージ上に設
けられた回転ステージとからなるステージ機構、及び、
前記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビーム
を照射する電子ビーム照射装置とを備えたマスタリング
装置を使用する記憶媒体基板の製造方法であって、前記
回転ステージの上にレジスト塗布されたディスク原盤を
載置し、前記直動ステージの動作が停止している状態
で、前記回転ステージによって前記ディスク原盤を一定
の回転速度で回転させ、前記電子ビーム照射装置から電
子ビームを、電子ビームの偏向範囲内でこのディスク原
盤上に照射して露光することによりディスク原盤上に凹
凸を形成し、前記電子ビーム照射装置による電子ビーム
の偏向範囲内での露光が終了した時点で、前記直動ステ
ージを予め定められた所定距離移動させて停止させ、以
後、前記電子ビーム照射装置から電子ビームの偏向範囲
内での照射と、前記直動ステージの断続的な所定距離の
移動とを繰り返して前記ディスク原盤からスタンパを作
成し、このスタンパを用いて透明材料の射出成形を行
い、作成されたディスク基板の上に記録膜と保護膜を積
層して記憶媒体基板を製作することを特徴とする記憶媒
体基板の製造方法。
【0042】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、マスタリング装置を用いてディスク原盤に螺旋状
に露光を行う場合に、ディスク原盤上のピット列のトラ
ックピッチよりも大きな距離を、直動ステージにより断
続的に移動させ、ディスク原盤が一定速度で回転してい
る状態で、電子ビーム照射装置の電子銃から出射される
電子ビームの方向を、この直動ステージの1回の移動範
囲内において偏向器により偏向することにより、直動ス
テージと回転ステージの制御限界を補ってディスク原盤
上に露光が行われるので、高密度でかつ高品位のディス
ク原盤が製作でき、高密度でかつ高品位の記憶媒体基板
を製造することができるという効果がある。従って、ト
ラックピッチが170nm以下の高密度記録媒体を製造
することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用するマスタリング装置の構成と制
御系のブロック構成を全体構成図である。
【図2】本発明のマスタリング装置における1回の直動
ステージの移動で描画が可能な範囲と次回の直動ステー
ジの移動で描画が可能な範囲を比較して示す説明図であ
る。
【図3】直動ステージが断続的に移動した時のディスク
媒体と電子ビームカラムとの位置関係、及び、電子ビー
ムカラムからの電子ビームにより描画が行われるディス
ク媒体上の範囲を示す説明図である。
【図4】直動ステージが基準距離移動した時の電子ビー
ムカラムからの電子ビームによる描画範囲を説明する、
ディスク原盤の平面図である。
【図5】本発明の直動ステージの断続的な移動による直
動ステージの位置を時間と共に示す線図である。
【図6】(a) は電子ビームによるディスク原盤上へのピ
ットの描画状態を説明する部分拡大図、(b) は一度描画
を行ったディスク原盤上の部位に複数回描画を行う状態
を説明する部分拡大図である。
【図7】本発明に使用するマスタリング装置の試料室の
構成の別の実施例を示す断面図である。
【符号の説明】
1…試料室 2…制御回路 3…電子ビームカラム 5…ピット列 9,9A…本発明のマスタリング装置 10…真空チャンバ 12,42…直動ステージ 12A,42A…移動台 12B…固定台 13…回転ステージ 14…ディスク原盤 16…反射ミラー 19…モータ 20…コントローラ 22…干渉計 27…偏向アンプ 31…電子銃 33…ブランカ 35…偏向器 40…エアスピンドルモータ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 直動ステージとこの直動ステージ上に設
    けられた回転ステージとからなるステージ機構、及び、
    前記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビーム
    を照射する電子ビーム照射装置とを備え、前記回転ステ
    ージ上にレジスト塗布された基盤を載置して回転させた
    状態で、前記電子ビーム照射装置から電子ビームをこの
    基盤上に照射して露光することにより、ディスク原盤の
    製作を行うマスタリング装置であって、 前記直動ステージが予め定められた所定距離ずつ断続的
    に移動するように、前記直動ステージを駆動する駆動装
    置を有することを特徴とするマスタリング装置。
  2. 【請求項2】 前記電子ビーム照射装置は、前記直動ス
    テージが停止状態、かつ前記回転ステージが動作状態の
    時に、前記基盤上に電子ビームの照射を行い、前記直動
    ステージの移動方向の前記電子ビームの照射位置の調整
    は、前記電子ビーム照射装置に設けられた偏光器により
    行うことを特徴とする請求項1に記載のマスタリング装
    置。
  3. 【請求項3】 前記電子ビーム照射装置が前記基盤上に
    電子ビームの照射を行う時、前記回転ステージを駆動す
    る駆動装置は、前記回転ステージの回転速度を、軸ぶれ
    が生じにくい一定速度に保持するように動作することを
    特徴とする請求項1又は2に記載のマスタリング装置。
  4. 【請求項4】 前記電子ビーム照射装置による前記基盤
    上への一度の電子ビームの照射では露光が不足すること
    が予め分かっている場合には、前記電子ビーム照射装置
    は前記基盤上の同一箇所に、所定回数の同一の電子ビー
    ム照射を繰り返し、その間、前記直動ステージの動作を
    保留することを特徴とする請求項1から3の何れか1項
    に記載のマスタリング装置。
  5. 【請求項5】 直動ステージとこの直動ステージ上に設
    けられた回転ステージとからなるステージ機構、及び、
    前記回転ステージ上に描画用ビーム源からの電子ビーム
    を照射する電子ビーム照射装置とを備えたマスタリング
    装置を使用する記憶媒体基板の製造方法であって、 前記回転ステージの上にレジスト塗布されたディスク原
    盤を載置し、 前記直動ステージの動作が停止している状態で、前記回
    転ステージによって前記ディスク原盤を一定の回転速度
    で回転させ、 前記電子ビーム照射装置から電子ビームを、電子ビーム
    の偏向範囲内でこのディスク原盤上に照射して露光する
    ことによりディスク原盤上に凹凸を形成し、 前記電子ビーム照射装置による電子ビームの偏向範囲内
    での露光が終了した時点で、前記直動ステージを予め定
    められた所定距離移動させて停止させ、 以後、前記電子ビーム照射装置から電子ビームの偏向範
    囲内での照射と、前記直動ステージの断続的な所定距離
    の移動とを繰り返して前記ディスク原盤からスタンパを
    作成し、 このスタンパを用いて透明材料の射出成形を行って記憶
    媒体基板を得ることを特徴とする記憶媒体基板の製造方
    法。
JP2000359907A 2000-11-27 2000-11-27 マスタリング装置及び記憶媒体基板の製造方法 Withdrawn JP2002163845A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2004027520A1 (ja) * 2002-09-19 2004-04-01 Tdk Corporation 電子線照射装置、電子線照射方法、ディスク状体の製造装置及びディスク状体の製造方法

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