JP2002118442A - 弾性表面波装置及びこれに用いる圧電基板 - Google Patents

弾性表面波装置及びこれに用いる圧電基板

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JP2002118442A JP2000305106A JP2000305106A JP2002118442A JP 2002118442 A JP2002118442 A JP 2002118442A JP 2000305106 A JP2000305106 A JP 2000305106A JP 2000305106 A JP2000305106 A JP 2000305106A JP 2002118442 A JP2002118442 A JP 2002118442A
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Kenji Inoue
憲司 井上
Katsuo Sato
勝男 佐藤
Hiroki Morikoshi
広樹 守越
Katsumi Kawasaki
克己 川嵜
Jun Sato
佐藤  淳
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    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/02535Details of surface acoustic wave devices
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型で且つ通過帯域が広い中間周波用の弾性
表面波装置を提供する。 【解決手段】 圧電基板と、前記圧電基板上に形成され
た交差指状電極とを備える弾性表面波装置であって、前
記圧電基板が、CaGaGe14型結晶構造を
有し、化学式CaTaGaSi14で表され、
単結晶からの切り出し角および弾性表面波伝搬方向をオ
イラー角表示で(φ,θ,ψ)と表したとき、φ、θお
よびψが、φが−2.5°〜2.5°であり、θが30
°〜90°であり、かつ、ψが−65°〜65°である
第1の領域内に存在する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性表面波装置及
びこれに用いる圧電基板に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、携帯電話機を始めとした移動体通
信端末機が急速に普及してきている。この種の端末機
は、持ち運びの利便さから、特に小型で且つ軽量である
ことが望まれている。端末機の小型化及び軽量化を達成
するには、そこに使われる電子部品も小型且つ軽量であ
ることが求められ、このため、端末機の高周波回路部や
中間周波回路部には、小型化及び軽量化に有利な弾性表
面波装置、すなわち圧電基板上に、弾性表面波を励振、
受信、反射、伝搬するための交差指状電極を形成して成
る弾性表面波フィルタが多用されている。
【0003】弾性表面波装置に使われる圧電基板に重要
な特性として、弾性表面波の表面波速度(SAW速
度)、フィルタを構成した場合の中心周波数または共振
子を構成した場合の共振周波数の温度係数(周波数温度
係数:TCF)、電気機械結合係数(k)が挙げられ
る。従来から知られている代表的な弾性表面波装置用圧
電基板の特性を表1に示す。これらの特性は、清水康敬
著「弾性表面波材料の伝搬特性と利用の現状」電子情報
通信学会論文誌A,Vol.J76-A,No.2,pp.129-137(1993)に
詳しく示されている。以後、各種弾性表面波装置用圧電
基板を、表1中の記号で区別することとする。
【0004】
【表1】 表1からわかるように、これまで多用されてきている圧
電基板は、速いSAW速度と大きな電気機械結合係数を
もつ128LN、64LN、36LTと、比較的遅いS
AW速度と小さな電気機械結合係数をもつLT112、
ST水晶からなる2つの組に大別できることがわかる。
以下に述べるとおり、速いSAW速度と大きな電気機械
結合係数をもつ組に含まれる圧電基板(128LN、6
4LN、36LT)は、端末機の高周波回路部の弾性表
面波フィルタに使用され、遅いSAW速度と小さな電気
機械結合係数をもつ組に含まれる圧電基板(LT11
2、ST水晶)は、端末機の中間周波回路部の弾性表面
波フィルタに使用される。
【0005】携帯電話に代表される移動体通信は、世界
各国で各種のシステムが実用化されているが、いずれの
システムでも1GHz前後の周波数が使用されている。
したがって、端末機の高周波回路部で使用されるフィル
タは、中心周波数が1GHz前後となる。弾性表面波フ
ィルタの場合、その中心周波数は、使用する圧電基板の
SAW速度にほぼ比例し、基板上に形成する電極指の幅
にほぼ反比例する。そこで、高周波化のためには、SA
W速度の大きな基板、例えば、128LN、64LN、
36LTが好ましい。また、この高周波回路部のフィル
タには、通過帯域幅が20MHz以上である広帯域のも
のが要求されるが、広帯域化を実現するためには、圧電
基板の電気機械結合係数kが大きいことが必須であ
り、かかる理由からも、128LN、64LN、36L
Tが多用されている。
【0006】一方、移動体通信用端末機の中間周波数と
しては、70〜300MHzの周波数帯が使用されてい
る。この周波数帯を中心周波数とするフィルタを弾性表
面波フィルタによって構成する場合、圧電基板として、
128LN、64LN、36LTを使用するときは、基
板上に形成する電極指の幅を、高周波回路部に使用され
るフィルタに比べて非常に大きくする必要がある。
【0007】すなわち、弾性表面波フィルタを構成する
弾性表面波変換器の電極指幅dと、弾性表面波フィルタ
の中心周波数f0と、使用する圧電基板のSAW速度V
との間には、おおむね、次式(1)が成立する。
【0008】f0=V/(4d)・・・(1) ここに、SAW速度を4000m/sとして、中心周波
数1GHzの高周波回路部のフィルタを構成する場合に
は、その電極指幅は式(1)より、 d=4000(m/s)/(4×1000(MHz))
=1μm となる。
【0009】一方、このSAW速度4000m/sの圧
電基板を用いて、中心周波数100MHzの中間周波フ
ィルタを構成する場合、これに必要な電極指幅は、 d=4000(m/s)/(4×100(MHz))=
10μm となり、高周波部のフィルタに比べて、必要な電極指幅
が10倍も大きくなってしまう。電極指幅が大きくなる
ということは、弾性表面波装置そのものも大きくなって
しまうことを意味するので、弾性表面波中間周波フィル
タを小型化するためには、式(1)から明らかなよう
に、SAW速度Vの小さな圧電基板を使用することが必
要である。
【0010】そこで、中間周波用弾性表面波フィルタの
圧電基板としては、SAW速度の遅いLT112、ST
水晶が使われる。特に、ST水晶は一次の周波数温度係
数が零であり好ましい。ST水晶の電気機械結合係数は
小さいため、通過帯域の狭いフィルタしか構成できない
が、中間周波フィルタの役割は、狭い一つのチャンネル
の信号のみを通過させることなので、この電気機械結合
係数が小さいということは、従来あまり問題とはならな
かった。
【0011】しかしながら、近年、周波数資源の有効利
用、デジタルデータ通信との適合性等の観点から、デジ
タル移動体通信システムが開発、実用化され急速に普及
してきている。このデジタルシステムの通過帯域幅は、
数100KHzから数MHzと非常に広帯域となってい
る。このような広帯域の中間周波フィルタを弾性表面波
フィルタで構成する場合、ST水晶基板では実現が困難
となっている。また、移動体端末機をより一層小型なも
のとし、携帯の利便性を高める場合、中間周波用弾性表
面波フィルタの実装面積を小さくする必要があるが、従
来、中間周波用弾性表面波フィルタに適しているとされ
ているST水晶、LT112は、いずれもSAW速度が
3100m/secを越えており、小型化には限界があ
る。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来、
中間周波用の弾性表面波装置において、電気機械結合係
数が大きい128LN、64LN、36LT等の圧電基
板を用いた場合、通過帯域を広くできるが、基板のSA
W速度が大きいために素子寸法が大きくなるという問題
があり、一方、素子の小型化をはかるために、SAW速
度の小さいST水晶、LT112基板を用いた場合は、
電気機械結合係数が小さいため通過帯域を広くできない
という問題があり、いずれにしても、中間周波用の弾性
表面波フィルタとして十分な特性が得られなかった。
【0013】したがって、本発明の目的は、小型で且つ
通過帯域が広い中間周波用の弾性表面波装置を提供する
ことである。
【0014】また、本発明の他の目的は、高い結合係数
を有し、且つ、低いSAW速度を有する弾性表面波装置
用の圧電基板を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明のかかる目的は、
圧電基板と、前記圧電基板上に形成された交差指状電極
とを備える弾性表面波装置であって、前記圧電基板が、
CaGaGe 14型結晶構造を有し、化学式C
TaGaSi14で表され、単結晶からの切
り出し角および弾性表面波伝搬方向をオイラー角表示で
(φ,θ,ψ)と表したとき、φ、θおよびψが、φが
−2.5°〜2.5°であり、θが30°〜90°であ
り、かつ、ψが−65°〜65°である第1の領域、φ
が−2.5°〜2.5°であり、θが120°〜155
°であり、かつ、ψが65°〜85°である第2の領
域、φが−2.5°〜2.5°であり、θが120°〜
155°であり、かつ、ψが−85°〜−65°である
第3の領域、φが2.5°〜7.5°であり、θが30
°〜90°であり、かつ、ψが−75°〜60°である
第4の領域、φが2.5°〜7.5°であり、θが12
0°〜150°であり、かつ、ψが75°〜85°であ
る第5の領域、φが2.5°〜7.5°であり、θが1
20°〜155°であり、かつ、ψが−85°〜−60
°である第6の領域、φが7.5°〜12.5°であ
り、θが30°〜100°であり、かつ、ψが−80°
〜55°である第7の領域、φが7.5°〜12.5°
であり、θが120°〜150°であり、かつ、ψが7
5°〜85°である第8の領域、φが7.5°〜12.
5°であり、θが110°〜155°であり、かつ、ψ
が−85°〜−55°である第9の領域、φが12.5
°〜17.5°であり、θが20°〜105°であり、
かつ、ψが−85°〜50°である第10の領域、φが
12.5°〜17.5°であり、θが125°〜140
°であり、かつ、ψが80°〜85°である第11の領
域、φが12.5°〜17.5°であり、θが115°
〜155°であり、かつ、ψが−85°〜−50°であ
る第12の領域、φが17.5°〜22.5°であり、
θが25°〜70°であり、かつ、ψが−80°〜−2
0°である第13の領域、φが17.5°〜22.5°
であり、θが25°〜110°であり、かつ、ψが−2
0°〜40°である第14の領域、φが17.5°〜2
2.5°であり、θが115°〜155°であり、か
つ、ψが−80°〜−45°である第15の領域、φが
22.5°〜27.5°であり、θが25°〜70°で
あり、かつ、ψが−85°〜−20°である第16の領
域、φが22.5°〜27.5°であり、θが25°〜
145°であり、かつ、ψが−20°〜40°である第
17の領域、φが22.5°〜27.5°であり、θが
110°〜155°であり、かつ、ψが−80°〜−4
0°である第18の領域、φが27.5°〜32.5°
であり、θが25°〜70°であり、かつ、ψが−85
°〜−30°である第19の領域、φが27.5°〜3
2.5°であり、θが30°〜150°であり、かつ、
ψが−30°〜40°である第20の領域及びφが2
7.5°〜32.5°であり、θが110°〜155°
であり、かつ、ψが−85°〜−30°である第21の
領域のいずれか一の領域内に存在することを特徴とする
弾性表面波装置によって達成される。
【0016】本発明の前記目的はまた、CaGa
14型結晶構造を有し、化学式CaTaGa
Si14で表され、単結晶からの切り出し角および
弾性表面波伝搬方向をオイラー角表示で(φ,θ,ψ)
と表したとき、φ、θおよびψが、φが−2.5°〜
2.5°であり、θが30°〜90°であり、かつ、ψ
が−65°〜65°である第1の領域、φが−2.5°
〜2.5°であり、θが120°〜155°であり、か
つ、ψが65°〜85°である第2の領域、φが−2.
5°〜2.5°であり、θが120°〜155°であ
り、かつ、ψが−85°〜−65°である第3の領域、
φが2.5°〜7.5°であり、θが30°〜90°で
あり、かつ、ψが−75°〜60°である第4の領域、
φが2.5°〜7.5°であり、θが120°〜150
°であり、かつ、ψが75°〜85°である第5の領
域、φが2.5°〜7.5°であり、θが120°〜1
55°であり、かつ、ψが−85°〜−60°である第
6の領域、φが7.5°〜12.5°であり、θが30
°〜100°であり、かつ、ψが−80°〜55°であ
る第7の領域、φが7.5°〜12.5°であり、θが
120°〜150°であり、かつ、ψが75°〜85°
である第8の領域、φが7.5°〜12.5°であり、
θが110°〜155°であり、かつ、ψが−85°〜
−55°である第9の領域、φが12.5°〜17.5
°であり、θが20°〜105°であり、かつ、ψが−
85°〜50°である第10の領域、φが12.5°〜
17.5°であり、θが125°〜140°であり、か
つ、ψが80°〜85°である第11の領域、φが1
2.5°〜17.5°であり、θが115°〜155°
であり、かつ、ψが−85°〜−50°である第12の
領域、φが17.5°〜22.5°であり、θが25°
〜70°であり、かつ、ψが−80°〜−20°である
第13の領域、φが17.5°〜22.5°であり、θ
が25°〜110°であり、かつ、ψが−20°〜40
°である第14の領域、φが17.5°〜22.5°で
あり、θが115°〜155°であり、かつ、ψが−8
0°〜−45°である第15の領域、φが22.5°〜
27.5°であり、θが25°〜70°であり、かつ、
ψが−85°〜−20°である第16の領域、φが2
2.5°〜27.5°であり、θが25°〜145°で
あり、かつ、ψが−20°〜40°である第17の領
域、φが22.5°〜27.5°であり、θが110°
〜155°であり、かつ、ψが−80°〜−40°であ
る第18の領域、φが27.5°〜32.5°であり、
θが25°〜70°であり、かつ、ψが−85°〜−3
0°である第19の領域、φが27.5°〜32.5°
であり、θが30°〜150°であり、かつ、ψが−3
0°〜40°である第20の領域及びφが27.5°〜
32.5°であり、θが110°〜155°であり、か
つ、ψが−85°〜−30°である第21の領域のいず
れか一の領域内に存在する弾性表面波装置用圧電基板に
よって達成される。
【0017】本発明は、オイラー角表示(φ,θ,ψ)
において、第1乃至第21の領域内のφ、θおよびψで
表されるカット角および弾性表面波伝搬方向の特定の組
み合わせによれば、化学式CaTaGaSi
14で表わされる単結晶(以下、Ca、Ta、Ga及び
Siを含む単結晶を「CTGS単結晶」という。)にお
いては、SAW速度が3100m/sを下回り、かつ、
電気機械結合係数が0.2%を超える特性が得られると
いう技術的知見に基づくものである。
【0018】本発明は、CTGS単結晶を弾性表面波装
置の基板に適用するに際し、結晶のカット方向と弾性表
面波の伝搬方向とを特定の範囲から選択することによっ
て、高特性の弾性表面波装置を実現するものである。
【0019】本発明において、CTGS単結晶の組成
は、CaTaGaSi14であることが最も好
ましいが、本発明における作用効果を損なわない範囲
で、各元素の組成比が多少異なっていてもよい。また、
CTGS単結晶には、不可避的不純物、例えば、Al、
Zr、Fe、Ce、Nd、Pt、Ca等が含まれていて
もよい。さらに、CTGS単結晶には、酸素欠陥が含ま
れていてもよい。また、CTGS単結晶の製造方法は特
に限定されず、通常の単結晶育成法、例えば、CZ法な
どにより製造すればよい。
【0020】ここに、CTGS単結晶は三方晶であるた
め、結晶の対称性から、互いに等価なオイラー角の組み
合わせが存在する。三方晶基板では、φ=120〜24
0°およびφ=240〜360°(−120°〜0°)
はφ=0〜120°と等価であり、また、θ=360〜
180°(0〜−180°)はθ=0〜180°と等価
であり、また、ψ=270〜90°はψ=−90〜90
°と等価である。例えば、φ=130°およびφ=25
0°はφ=10°と等価であり、θ=330°はθ=3
0°と等価であり、ψ=240°はψ=60°と等価で
ある。
【0021】また、三方晶基板では、φ=0〜30°の
範囲を調べることにより、すべてのカット角および伝搬
方向についての特性を知ることができる。
【0022】したがって、CTGS単結晶基板における
すべてのカット角および伝搬方向についての特性を知る
ためには、φ=0〜30°、θ=0〜180°、ψ
=−90〜90°の範囲についてだけ調べればよい。
この(φ)の組み合わせから、φ=30〜
120°において同じ特性を示す等価な(φ,θ,ψ)の
組み合わせが分かる。具体的には、30°≦φ≦60°
の範囲では、φ=60°−φ、θ=180°−θ
ψ=ψ によって、また、60°≦φ≦90°の範囲で
は、φ=60°+φ、θ=180°−θ、ψ=−ψ
によって、90°≦φ≦120°の範囲ではφ=12
0°−φ、θ=θ、ψ=−ψ によって、(φ,
θ)と等価な(φ,θ,ψ)を求めることができ
る。そして、上述した対称性に基づいて、すべての
(φ,θ,ψ)における特性を知ることができる。
【0023】等価な組み合わせの具体例としては、たと
えば、以下のものが挙げられる。
【0024】(0°,140°,25°)と等価なもの
は、(60°,40°,25°)、(60°,40°,−
25°)、(120°,140°,−25°)であり、
φ=120°とφ=0°とは等価であるから、(0°,
140°,−25°)も等価である。
【0025】本発明において、第1乃至第21の領域
は、このようにして求められる等価な(φ,θ,ψ)の
組み合わせを包含するものとする。
【0026】本発明にかかる弾性表面波装置は、一般
に、周波数10〜500MHz、特に、周波数10〜3
00MHzの帯域におけるフィルタとして好適である。
【0027】また、本発明にかかる弾性表面波装置は、
SAW速度が遅いことから、弾性表面波遅延素子の小型
化にも有用である。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の好ましい実施態様につき詳細に説明する。
【0029】図1は、本発明の好ましい実施態様にかか
る弾性表面波装置を示す略斜視図である。
【0030】図1に示されるように、本発明の好ましい
実施態様にかかる弾性表面波装置は、圧電基板1の表面
に一組の交差指状電極2、2を有している。圧電基板1
としては、CTGS単結晶が用いられ、CTGS単結晶
は点群32に属する結晶型を有している。図1に示され
るように、x軸、y軸およびz軸は互いに直交し、x軸
およびy軸は基板1の面を含む平面内にあり、x軸は弾
性表面波の伝搬方向を規定している。
【0031】圧電基板1の寸法は特に限定されるもので
はないが、一般に、表面波伝搬方向は4〜10mm程
度、これと直交する方向は2〜4mm程度、厚さは0.
2〜0.4mm程度である。
【0032】圧電基板1上に形成される交差指状電極
2、2は、弾性表面波を励振、受信、反射、伝搬するた
めの薄膜電極であり、周期的なストライプ状に形成され
ている。交差指状電極2、2は、弾性表面波伝搬方向が
上記した所定の方向となるようにパターニングがなされ
る。交差指状電極2、2は、たとえば、Alや、Al−
Cu等のAl合金などを用いて、蒸着やスパッタリング
などにより形成される。交差指状電極2、2の電極指幅
は、弾性表面波装置が適用される周波数に応じて、適宜
決定すればよく、本発明が適用される好ましい周波数帯
域では、一般に2〜10μm程度である。
【0033】また、圧電基板1の面に垂直なz軸は、単
結晶基板の切り出し角(カット面)を規定している。こ
れらx軸、y軸およびz軸と、CTGS単結晶のX軸、
Y軸およびZ軸との関係は、オイラー角表示(φ,θ,
ψ)で表わすことができる。
【0034】図2乃至図4は、圧電基板1のφが0°で
ある場合に、θを0°〜180°まで変化させるととも
にψを−90°〜90°まで変化させた場合におけるS
AW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(TCF)
をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0035】ここで、φが0±2.5°の場合にも図2
乃至図4に示される各特性とほぼ同様の特性を得ること
ができる。したがって、図2乃至図4を参照すれば、圧
電基板1のSAW速度が3000m/s以下とST水晶
に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と
十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)
を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域1−1
内に存在することが分かる。
【0036】領域1−1は、φ=−2.5〜2.5°、
θ=30〜90°、ψ=−65〜65°で表され、領域
1−1内における好ましい範囲(領域1−1−1)は、
φ=−2.5〜2.5°、θ=35〜80°、ψ=−5
5〜55°で表される。また、領域1−1−1内におけ
るさらに好ましい範囲(領域1−1−1−1)は、φ=
−2.5〜2.5°、θ=45〜70°、ψ=−15〜
15°で表される。また、領域1−1−1内における別
のさらに好ましい範囲(領域1−1−1−2)は、φ=
−2.5〜2.5°、θ=40〜60°、ψ=15〜5
0°で表される。また、領域1−1−1内における別の
さらに好ましい範囲(領域1−1−1−3)は、φ=−
2.5〜2.5°、θ=40〜60°、ψ=−50〜−
15°で表される。
【0037】上述の通り、領域1−1には、圧電基板1
のSAW速度が3000m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域1−1
における好ましい範囲である領域1−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域1−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域1−1−1−1、
1−1−1−2及び1−1−1−3には、電気機械結合
係数が0.4%以上と十分大きくなるφ、θ、ψの組み
合わせが存在する。特に、領域1−1−1−1には、圧
電基板1のSAW速度が2900m/s以下と非常に小
さくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0038】さらに、図2乃至図4を参照すれば、圧電
基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に
比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を
有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域1−2内
に存在することが分かる。
【0039】領域1−2は、φ=−2.5〜2.5°、
θ=120〜155°、ψ=65〜85°で表され、領
域1−2内における好ましい範囲(領域1−2−1)
は、φ=−2.5〜2.5°、θ=125〜145°、
ψ=75〜85°で表される。
【0040】上述の通り、領域1−2には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域1−2
における好ましい範囲である領域1−2−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。
【0041】さらに、図2乃至図4を参照すれば、圧電
基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に
比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を
有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域1−3内
にも存在することが分かる。
【0042】領域1−3は、φ=−2.5〜2.5°、
θ=120〜155°、ψ=−85〜−65°で表さ
れ、領域1−3内における好ましい範囲(領域1−3−
1)は、φ=−2.5〜2.5°、θ=125〜145
°、ψ=−85〜−75°で表される。
【0043】上述の通り、領域1−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域1−3
における好ましい範囲である領域1−3−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。
【0044】図5乃至図7は、圧電基板1のφが5°で
ある場合に、θを0°〜180°まで変化させるととも
にψを−90°〜90°まで変化させた場合におけるS
AW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(TCF)
をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0045】ここで、φが5±2.5°の場合にも図5
乃至図7に示される各特性とほぼ同様の特性を得ること
ができる。したがって、図5乃至図7を参照すれば、圧
電基板1のSAW速度が3000m/s以下とST水晶
に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と
十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)
を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域2−1
内に存在することが分かる。
【0046】領域2−1は、φ=2.5〜7.5°、θ
=30〜90°、ψ=−75〜60°で表され、領域2
−1内における好ましい範囲(領域2−1−1)は、φ
=2.5〜7.5°、θ=35〜80°、ψ=−65〜
50°で表される。また、領域2−1−1内におけるさ
らに好ましい範囲(領域2−1−1−1)は、φ=2.
5〜7.5°、θ=45〜70°、ψ=−10〜20°
で表される。また、領域2−1−1内における別のさら
に好ましい範囲(領域2−1−1−2)は、φ=2.5
〜7.5°、θ=35〜60°、ψ=−60〜−25°
で表される。
【0047】上述の通り、領域2−1には、圧電基板1
のSAW速度が3000m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域2−1
における好ましい範囲である領域2−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域2−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域2−1−1−1及
び2−1−1−2には、電気機械結合係数が0.4%以
上と十分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在す
る。特に、領域2−1−1−1には、圧電基板1のSA
W速度が2900m/s以下と非常に小さくなるφ、
θ、ψの組み合わせが存在する。
【0048】さらに、図5乃至図7を参照すれば、圧電
基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に
比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を
有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域2−2内
に存在することが分かる。
【0049】領域2−2は、φ=2.5〜7.5°、θ
=120〜150°、ψ=75〜85°で表され、領域
2−2内における好ましい範囲(領域2−2−1)は、
φ=2.5〜7.5°、θ=125〜145°、ψ=8
0〜85°で表される。
【0050】上述の通り、領域2−2には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域2−2
における好ましい範囲である領域2−2−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。
【0051】さらに、図5乃至図7を参照すれば、圧電
基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に
比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を
有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域2−3内
に存在することが分かる。
【0052】領域2−3は、φ=2.5〜7.5°、θ
=120〜155°、ψ=−85〜−60°で表され、
領域2−3内における好ましい範囲(領域2−3−1)
は、φ=2.5〜7.5°、θ=120〜145°、ψ
=−85〜−70°で表される。また、領域2−3−1
内におけるさらに好ましい範囲(領域2−3−1−1)
は、φ=2.5〜7.5°、θ=130〜140°、ψ
=−80〜−75°で表される。
【0053】上述の通り、領域2−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域2−3
における好ましい範囲である領域2−3−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域2−3−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域2−3−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0054】図8乃至図10は、圧電基板1のφが10
°である場合に、θを0°〜180°まで変化させると
ともにψを−90°〜90°まで変化させた場合におけ
るSAW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(TC
F)をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0055】ここで、φが10±2.5°の場合にも図
8乃至図10に示される各特性とほぼ同様の特性を得る
ことができる。したがって、図8乃至図10を参照すれ
ば、圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とS
T水晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%
以上と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(T
CF)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域
3−1内に存在することが分かる。領域3−1は、φ=
7.5〜12.5°、θ=30〜100°、ψ=−80
〜55°で表され、領域3−1内における好ましい範囲
(領域3−1−1)は、φ=7.5〜12.5°、θ=
30〜85°、ψ=−75〜40°で表される。また、
領域3−1−1内におけるさらに好ましい範囲(領域3
−1−1−1)は、φ=7.5〜12.5°、θ=45
〜70°、ψ=−10〜20°で表される。また、領域
3−1−1内における別のさらに好ましい範囲(領域3
−1−1−2)は、φ=7.5〜12.5°、θ=35
〜60°、ψ=−60〜−30°で表される。
【0056】上述の通り、領域3−1には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域3−1
における好ましい範囲である領域3−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域3−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域3−1−1−1及
び3−1−1−2には、電気機械結合係数が0.4%以
上と十分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在す
る。特に、領域3−1−1−1には、圧電基板1のSA
W速度が2900m/s以下と非常に小さくなるφ、
θ、ψの組み合わせが存在する。また、領域3−1−1
−2には、圧電基板1のSAW速度が3000m/s以
下と非常に小さくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在す
る。
【0057】さらに、図8乃至図10を参照すれば、圧
電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶
に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と
十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)
を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域3−2
内に存在することが分かる。
【0058】領域3−2は、φ=7.5〜12.5°、
θ=120〜145°、ψ=75〜85°で表される。
【0059】さらに、図8乃至図10を参照すれば、圧
電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水晶
に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と
十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)
を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域3−3
内に存在することが分かる。
【0060】領域3−3は、φ=7.5〜12.5°、
θ=110〜155°、ψ=−85〜−55°で表さ
れ、領域3−3内における好ましい範囲(領域3−3−
1)は、φ=7.5〜12.5°、θ=125〜145
°、ψ=−85〜−65°で表される。また、領域3−
3−1内におけるさらに好ましい範囲(領域3−3−1
−1)は、φ=7.5〜12.5°、θ=125〜14
5°、ψ=−80〜−70°で表される。
【0061】上述の通り、領域3−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、且つ、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。特
に、領域3−3における好ましい範囲である領域3−3
−1には、電気機械結合係数が0.3%以上と十分大き
くなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。さらに、領
域3−3−1におけるさらに好ましい範囲である領域3
−3−1−1には、電気機械結合係数が0.4%以上と
十分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0062】図11乃至図13は、圧電基板1のφが1
5°である場合に、θを0°〜180°まで変化させる
とともにψを−90°〜90°まで変化させた場合にお
けるSAW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(T
CF)をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0063】ここで、φが15±2.5°の場合にも図
11乃至図13に示される各特性とほぼ同様の特性を得
ることができる。したがって、図11乃至図13を参照
すれば、圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下
とST水晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.
2%以上と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性
(TCF)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の
領域4−1内に存在することが分かる。
【0064】領域4−1は、φ=12.5〜17.5
°、θ=20〜105°、ψ=−85〜50°で表さ
れ、領域4−1内における好ましい範囲(領域4−1−
1)は、φ=12.5〜17.5°、θ=35〜90
°、ψ=−10〜30°で表される。また、領域4−1
内における別の好ましい範囲(領域4−1−2)は、φ
=12.5〜17.5°、θ=35〜60°、ψ=−7
0〜−15°で表される。領域4−1−2内におけるさ
らに好ましい範囲(領域4−1−2−1)は、φ=1
2.5〜17.5°、θ=40〜55°、ψ=−70〜
−40°で表される。
【0065】上述の通り、領域4−1には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域4−1
における好ましい範囲である領域4−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなり、SAW
速度が2900m/s以下と非常に小さくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。また、領域4−1における
別の好ましい範囲である領域4−1−2には、電気機械
結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、ψの
組み合わせが存在する。さらに、領域4−1−2におけ
るさらに好ましい範囲である領域4−1−2−1には、
電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなるφ、
θ、ψの組み合わせが存在する。
【0066】さらに、図11乃至図13を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域4
−2内に存在することが分かる。
【0067】領域4−2は、φ=12.5〜17.5
°、θ=125〜140°、ψ=80〜85°で表され
る。
【0068】さらに、図11乃至図13を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域4
−3内に存在することが分かる。
【0069】領域4−3は、φ=12.5〜17.5
°、θ=115〜155°、ψ=−85〜−50°で表
され、領域4−3内における好ましい範囲(領域4−3
−1)は、φ=12.5〜17.5°、θ=120〜1
45°、ψ=−80〜−60°で表される。また、領域
4−3−1内におけるさらに好ましい範囲(領域4−3
−1−1)は、φ=12.5〜17.5°、θ=125
〜145°、ψ=−80〜−65°で表される。
【0070】上述の通り、領域4−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、且つ、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。特
に、領域4−3における好ましい範囲である領域4−3
−1には、電気機械結合係数が0.3%以上と十分大き
くなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。さらに、領
域4−3−1におけるさらに好ましい範囲である領域4
−3−1−1には、電気機械結合係数が0.4%以上と
十分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0071】図14乃至図16は、圧電基板1のφが2
0°である場合に、θを0°〜180°まで変化させる
とともにψを−90°〜90°まで変化させた場合にお
けるSAW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(T
CF)をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0072】ここで、φが20±2.5°の場合にも図
14乃至図16に示される各特性とほぼ同様の特性を得
ることができる。したがって、図14乃至図16を参照
すれば、圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下
とST水晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.
2%以上と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性
(TCF)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の
領域5−1内に存在することが分かる。
【0073】領域5−1は、φ=17.5〜22.5
°、θ=25〜70°、ψ=−80〜−20°で表さ
れ、領域5−1内における好ましい範囲(領域5−1−
1)は、φ=17.5〜22.5°、θ=35〜60
°、ψ=−75〜−35°で表される。また、領域5−
1−1内におけるさらに好ましい範囲(領域5−1−1
−1)は、φ=17.5〜22.5°、θ=35〜55
°、ψ=−70〜−45°で表される。
【0074】上述の通り、領域5−1には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域5−1
における好ましい範囲である領域5−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域5−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域5−1−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0075】さらに、図14乃至図16を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が2900m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域5
−2内に存在することが分かる。
【0076】領域5−2は、φ=17.5〜22.5
°、θ=25〜110°、ψ=−20〜40°で表さ
れ、領域5−2内における好ましい範囲(領域5−2−
1)は、φ=17.5〜22.5°、θ=45〜90
°、ψ=−15〜25°で表される。
【0077】上述の通り、領域5−2には、圧電基板1
のSAW速度が2900m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、且つ、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。特
に、領域5−2における好ましい範囲である領域5−2
−1には、電気機械結合係数が0.3%以上と十分大き
くなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0078】さらに、図14乃至図16を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域5
−3内に存在することが分かる。
【0079】領域5−3は、φ=17.5〜22.5
°、θ=115〜155°、ψ=−80〜−45°で表
され、領域5−3内における好ましい範囲(領域5−3
−1)は、φ=17.5〜22.5°、θ=120〜1
45°、ψ=−80〜−55°で表される。また、領域
5−3−1内におけるさらに好ましい範囲(領域5−3
−1−1)は、φ=17.5〜22.5°、θ=125
〜145°、ψ=−80〜−65°で表される。
【0080】上述の通り、領域5−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域5−3
における好ましい範囲である領域5−3−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域5−3−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域5−3−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0081】図17乃至図19は、圧電基板1のφが2
5°である場合に、θを0°〜180°まで変化させる
とともにψを−90°〜90°まで変化させた場合にお
けるSAW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(T
CF)をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0082】ここで、φが25±2.5°の場合にも図
17乃至図19に示される各特性とほぼ同様の特性を得
ることができる。したがって、図17乃至図19を参照
すれば、圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下
とST水晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.
2%以上と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性
(TCF)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の
領域6−1内に存在することが分かる。
【0083】領域6−1は、φ=22.5〜27.5
°、θ=25〜70°、ψ=−85〜−20°で表さ
れ、領域6−1内における好ましい範囲(領域6−1−
1)は、φ=22.5〜27.5°、θ=30〜60
°、ψ=−80〜−40°で表される。また、領域6−
1−1内におけるさらに好ましい範囲(領域6−1−1
−1)は、φ=22.5〜27.5°、θ=35〜55
°、ψ=−75〜−50°で表される。
【0084】上述の通り、領域6−1には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域6−1
における好ましい範囲である領域6−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域6−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域6−1−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0085】さらに、図17乃至図19を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が2900m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域6
−2内に存在することが分かる。
【0086】領域6−2は、φ=22.5〜27.5
°、θ=25〜145°、ψ=−20〜40°で表さ
れ、領域6−2内における好ましい範囲(領域6−2−
1)は、φ=22.5〜27.5°、θ=50〜95
°、ψ=−10〜20°で表される。
【0087】上述の通り、領域6−2には、圧電基板1
のSAW速度が2900m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、且つ、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。特
に、領域6−2における好ましい範囲である領域6−2
−1には、電気機械結合係数が0.3%以上と十分大き
くなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0088】さらに、図17乃至図19を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域6
−3内に存在することが分かる。
【0089】領域6−3は、φ=22.5〜27.5
°、θ=110〜155°、ψ=−80〜−40°で表
され、領域6−3内における好ましい範囲(領域6−3
−1)は、φ=22.5〜27.5°、θ=120〜1
45°、ψ=−80〜−50°で表される。また、領域
6−3−1内におけるさらに好ましい範囲(領域6−3
−1−1)は、φ=22.5〜27.5°、θ=125
〜145°、ψ=−80〜−60°で表される。
【0090】上述の通り、領域6−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域6−3
における好ましい範囲である領域6−3−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域6−3−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域6−3−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0091】図20乃至図22は、圧電基板1のφが3
0°である場合に、θを0°〜180°まで変化させる
とともにψを−90°〜90°まで変化させた場合にお
けるSAW速度、電気機械結合係数及び温度依存性(T
CF)をそれぞれ2次元的に示す等高線図である。
【0092】ここで、φが30±2.5°の場合にも図
20乃至図22に示される各特性とほぼ同様の特性を得
ることができる。したがって、図20乃至図22を参照
すれば、圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下
とST水晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.
2%以上と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性
(TCF)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の
領域7−1内に存在することが分かる。
【0093】領域7−1は、φ=27.5〜32.5
°、θ=25〜70°、ψ=−85〜−30°で表さ
れ、領域7−1内における好ましい範囲(領域7−1−
1)は、φ=27.5〜32.5°、θ=35〜60
°、ψ=−80〜−45°で表される。また、領域7−
1−1内におけるさらに好ましい範囲(領域7−1−1
−1)は、φ=27.5〜32.5°、θ=35〜55
°、ψ=−80〜−55°で表される。
【0094】上述の通り、領域7−1には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域7−1
における好ましい範囲である領域7−1−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域7−1−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域7−1−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0095】さらに、図20乃至図22を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が2900m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域7
−2内に存在することが分かる。
【0096】領域7−2は、φ=27.5〜32.5
°、θ=30〜150°、ψ=−30〜40°で表さ
れ、領域7−2内における好ましい範囲(領域7−2−
1)は、φ=27.5〜32.5°、θ=80〜100
°、ψ=10〜20°で表される。
【0097】上述の通り、領域7−2には、圧電基板1
のSAW速度が2900m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、且つ、電気機械結合係数が0.2%以上と十
分大きくなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。特
に、領域7−2における好ましい範囲である領域7−2
−1には、電気機械結合係数が0.3%以上と十分大き
くなるφ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0098】さらに、図20乃至図22を参照すれば、
圧電基板1のSAW速度が3100m/s以下とST水
晶に比べて低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上
と十分大きくなり、しかも、良好な温度依存性(TC
F)を有するφ、θ、ψの組み合わせが、下記の領域7
−3内に存在することが分かる。
【0099】領域7−3は、φ=27.5〜32.5
°、θ=110〜155°、ψ=−85〜−30°で表
され、領域7−3内における好ましい範囲(領域7−3
−1)は、φ=27.5〜32.5°、θ=120〜1
45°、ψ=−80〜−45°で表される。また、領域
7−3−1内におけるさらに好ましい範囲(領域7−3
−1−1)は、φ=27.5〜32.5°、θ=125
〜145°、ψ=−80〜−55°で表される。
【0100】上述の通り、領域7−3には、圧電基板1
のSAW速度が3100m/s以下とST水晶に比べて
低くなり、電気機械結合係数が0.2%以上と十分大き
くなり、しかも、良好な温度依存性(TCF)を有する
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。特に、領域7−3
における好ましい範囲である領域7−3−1には、電気
機械結合係数が0.3%以上と十分大きくなるφ、θ、
ψの組み合わせが存在する。さらに、領域7−3−1に
おけるさらに好ましい範囲である領域7−3−1−1に
は、電気機械結合係数が0.4%以上と十分大きくなる
φ、θ、ψの組み合わせが存在する。
【0101】したがって、φ、θ、ψの組み合わせが各
領域のいずれかに含まれる圧電基板1を用いて弾性表面
波装置を作製すれば、圧電基板1の電気機械結合係数が
大きいことから、通過帯域が広い弾性表面波装置の実現
が可能となり、且つ、圧電基板1のSAW速度が遅いこ
とから、小型化された弾性表面波装置の実現が可能とな
る。
【0102】
【実施例】まず、点群32に属し、化学式CaTaG
Si14で表わされる単結晶(CTGS単結
晶)を作製した。CTGS単結晶の作製は、高周波加熱
によるCZ法、すなわち回転引き上げ法により行った。
得られたCTGS単結晶から、基板を切り出し、弾性表
面波装置用圧電基板とした。
【0103】次に、CTGS単結晶から切り出した圧電
基板の表面に、入出力用交差指状電極2を形成し、弾性
表面波装置を完成させた。交差指状電極は、蒸着Al膜
をフォトエッチング法で形状加工することにより形成
し、弾性表面波波長λに相当する電極指の周期は60μ
m、対数は20対、交差幅は60λ(3600μm)、
膜厚は0.3μmとした。
【0104】このような弾性表面波装置を、圧電基板の
切り出し角および弾性表面波の伝搬方向を変えて複数作
製し、おのおのについてSAW速度、電気機械結合係数
及び周波数の温度依存性(TCF)を測定した。SAW
速度は、前述した交差指状電極構成においてフィルタ特
性の中心周波数の測定値に、弾性表面波波長を掛けるこ
とにより求めた。電気機械結合係数は、前述した入出力
用交差指状電極のうちの一方、例えば入力用の、二端子
アドミッタンスを測定し、このアドミッタンスの実部
(コンダクタンス)と虚部(サセプタンス)とから、ス
ミスの等価回路による方法により求めた。この方法につ
いては、例えば、刊行物「表面波デバイスとその応用」
(電子材料工業会編、日刊工業新聞社刊、昭和53年)
の、I.基礎編、4.1.2表面波の実効的電気機械結
合係数、の章に詳述されている。SAW速度及び電気機
械結合係数については、装置の周囲温度を25℃に保っ
て測定した。また、フィルタの周波数の温度依存性(T
CF)については、恒温槽を用いて−20℃〜80℃ま
で温度を変化させて測定を行った。
【0105】実施例1 表2は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−1(領
域1−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるいくつ
かについての圧電基板サンプルのSAW速度、電気機械
結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定結果
である。
【0106】
【表2】 表2に示すとおり、領域1−1(領域1−1−1に含ま
れる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもSA
W速度が3000m/s以下であり、電気機械結合係数
(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0107】実施例2 表3は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−1−1
(領域1−1−1−1、領域1−1−1−2及び領域1
−1−1−3に含まれる範囲を除く)に含まれるいくつ
かの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気機械
結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定結果
である。
【0108】
【表3】 表3に示すとおり、領域1−1−1(領域1−1−1−
1、領域1−1−1−2及び領域1−1−1−3に含ま
れる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもSA
W速度が3000m/s以下であり、電気機械結合係数
(K)が0.3%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0109】実施例3 表4は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−1−1
−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについての
SAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0110】
【表4】 表4に示すとおり、領域1−1−1−1に含まれる圧電
基板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0111】実施例4 表5は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−1−1
−2に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについての
SAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0112】
【表5】 表5に示すとおり、領域1−1−1−2に含まれる圧電
基板は、いずれもSAW速度が3000m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0113】実施例5 表6は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−1−1
−3に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについての
SAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0114】
【表6】 表6に示すとおり、領域1−1−1−3に含まれる圧電
基板は、いずれもSAW速度が3000m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0115】実施例6 表7は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−2(領
域1−2−1に含まれる範囲を除く)に含まれるいくつ
かの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気機械
結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定結果
である。
【0116】
【表7】 表7に示すとおり、領域1−2(領域1−2−1に含ま
れる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもSA
W速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係数
(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0117】実施例7 表8は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−2−1
に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのSA
W速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(T
CF)の測定結果である。
【0118】
【表8】 表8に示すとおり、領域1−2−1に含まれる圧電基板
は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であり、
電気機械結合係数(K)が0.3%以上であった。ま
た、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0119】実施例8 表9は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−3(領
域1−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるいくつ
かの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気機械
結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定結果
である。
【0120】
【表9】 表9に示すとおり、領域1−3(領域1−3−1に含ま
れる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもSA
W速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係数
(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0121】実施例9 表10は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域1−3−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0122】
【表10】 表10に示すとおり、領域1−3−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0123】実施例10 表11は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−1
(領域2−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかについての圧電基板サンプルのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0124】
【表11】 表11に示すとおり、領域2−1(領域2−1−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3000m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0125】実施例11 表12は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−1−
1(領域2−1−1−1及び領域2−1−1−2に含ま
れる範囲を除く)に含まれるいくつかの圧電基板サンプ
ルについてのSAW速度、電気機械結合係数及び周波数
の温度依存性(TCF)の測定結果である。
【0126】
【表12】 表12に示すとおり、領域2−1−1(領域2−1−1
−1及び領域2−1−1−2に含まれる範囲を除く)に
含まれる圧電基板は、いずれもSAW速度が3000m
/s以下であり、電気機械結合係数(K)が0.3%
以上であった。また、温度依存性(TCF)も良好であ
った。
【0127】実施例12 表13は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−1−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0128】
【表13】 表13に示すとおり、領域2−1−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0129】実施例13 表14は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−1−
1−2に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0130】
【表14】 表14に示すとおり、領域2−1−1−2に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3000m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0131】実施例14 表15は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−2
(領域2−2−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0132】
【表15】 表15に示すとおり、領域2−2(領域2−2−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0133】実施例15 表16は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−2−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0134】
【表16】 表16に示すとおり、領域2−2−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0135】実施例16 表17は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−3
(領域2−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0136】
【表17】 表17に示すとおり、領域2−3(領域2−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0137】実施例17 表18は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−3−
1(領域2−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0138】
【表18】 表18に示すとおり、領域2−3−1(領域2−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0139】実施例18 表19は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域2−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0140】
【表19】 表19に示すとおり、領域2−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0141】実施例19 表20は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−1
(領域3−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかについての圧電基板サンプルのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0142】
【表20】 表20に示すとおり、領域3−1(領域3−1−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0143】実施例20 表21は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−1−
1(領域3−1−1−1及び領域3−1−1−2に含ま
れる範囲を除く)に含まれるいくつかの圧電基板サンプ
ルについてのSAW速度、電気機械結合係数及び周波数
の温度依存性(TCF)の測定結果である。
【0144】
【表21】 表21に示すとおり、領域3−1−1(領域3−1−1
−1及び領域3−1−1−2に含まれる範囲を除く)に
含まれる圧電基板は、いずれもSAW速度が3100m
/s以下であり、電気機械結合係数(K)が0.3%
以上であった。また、温度依存性(TCF)も良好であ
った。
【0145】実施例21 表22は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−1−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0146】
【表22】 表22に示すとおり、領域3−1−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0147】実施例22 表23は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−1−
1−2に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0148】
【表23】 表23に示すとおり、領域3−1−1−2に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3000m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0149】実施例23 表24は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−2に
含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW
速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0150】
【表24】 表24に示すとおり、領域3−2に含まれる圧電基板
は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であり、
電気機械結合係数(K)が0.2%以上であった。ま
た、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0151】実施例24 表25は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−3
(領域3−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0152】
【表25】 表25に示すとおり、領域3−3(領域3−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0153】実施例25 表26は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−3−
1(領域3−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0154】
【表26】 表26に示すとおり、領域3−3−1(領域3−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0155】実施例26 表27は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域3−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0156】
【表27】 表27に示すとおり、領域3−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0157】実施例27 表28は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−1
(領域4−1−1及び領域4−1−2に含まれる範囲を
除く)に含まれるいくつかについての圧電基板サンプル
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0158】
【表28】 表28に示すとおり、領域4−1(領域4−1−1及び
領域4−1−2に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電
基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.2%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0159】実施例28 表29は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−1−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0160】
【表29】 表29に示すとおり、領域4−1−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0161】実施例29 表30は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−1−
2(領域4−1−2−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0162】
【表30】 表30に示すとおり、領域4−1−2(領域4−1−2
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0163】実施例30 表31は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−1−
2−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0164】
【表31】 表31に示すとおり、領域4−1−2−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0165】実施例31 表32は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−2に
含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW
速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0166】
【表32】 表32に示すとおり、領域4−2に含まれる圧電基板
は、いずれもSAW速度が3100m/s以下であり、
電気機械結合係数(K)が0.2%以上であった。ま
た、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0167】実施例32 表33は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−3
(領域4−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0168】
【表33】 表33に示すとおり、領域4−3(領域4−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0169】実施例33 表34は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−3−
1(領域4−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0170】
【表34】 表34に示すとおり、領域4−3−1(領域4−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0171】実施例34 表35は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域4−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0172】
【表35】 表35に示すとおり、領域4−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0173】実施例35 表36は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−1
(領域5−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0174】
【表36】 表36に示すとおり、領域5−1(領域5−1−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0175】実施例36 表37は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−1−
1(領域5−1−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0176】
【表37】 表37に示すとおり、領域5−1−1(領域5−1−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0177】実施例37 表38は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−1−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0178】
【表38】 表38に示すとおり、領域5−1−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0179】実施例38 表39は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−2
(領域5−2−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0180】
【表39】 表39に示すとおり、領域5−2(領域5−2−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が2900m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0181】実施例39 表40は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−2−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0182】
【表40】 表40に示すとおり、領域5−1−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0183】実施例40 表41は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−3
(領域5−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0184】
【表41】 表41に示すとおり、領域5−3(領域5−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0185】実施例41 表42は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−3−
1(領域5−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0186】
【表42】 表42に示すとおり、領域5−3−1(領域5−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0187】実施例42 表43は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域5−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0188】
【表43】 表43に示すとおり、領域5−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0189】実施例43 表44は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−1
(領域6−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0190】
【表44】 表44に示すとおり、領域6−1(領域6−1−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0191】実施例44 表45は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−1−
1(領域6−1−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0192】
【表45】 表45に示すとおり、領域6−1−1(領域6−1−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0193】実施例45 表46は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−1−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0194】
【表46】 表46に示すとおり、領域6−1−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0195】実施例46 表47は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−2
(領域6−2−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0196】
【表47】 表47に示すとおり、領域6−2(領域6−2−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が2900m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0197】実施例47 表48は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−2−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0198】
【表48】 表48に示すとおり、領域6−2−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0199】実施例48 表49は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−3
(領域6−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0200】
【表49】 表49に示すとおり、領域6−3(領域6−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0201】実施例49 表50は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−3−
1(領域6−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0202】
【表50】 表50に示すとおり、領域6−3−1(領域6−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0203】実施例50 表51は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域6−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0204】
【表51】 表51に示すとおり、領域6−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0205】実施例51 表52は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−1
(領域7−1−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0206】
【表52】 表52に示すとおり、領域7−1(領域7−1−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0207】実施例52 表53は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−1−
1(領域7−1−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0208】
【表53】 表53に示すとおり、領域7−1−1(領域7−1−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0209】実施例53 表54は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−1−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0210】
【表54】 表54に示すとおり、領域7−1−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0211】実施例54 表55は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−2
(領域7−2−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0212】
【表55】 表55に示すとおり、領域7−2(領域7−2−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が2900m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0213】実施例55 表56は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−2−
1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについてのS
AW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性
(TCF)の測定結果である。
【0214】
【表56】 表56に示すとおり、領域7−2−1に含まれる圧電基
板は、いずれもSAW速度が2900m/s以下であ
り、電気機械結合係数(K)が0.3%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0215】実施例56 表57は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−3
(領域7−3−1に含まれる範囲を除く)に含まれるい
くつかの圧電基板サンプルについてのSAW速度、電気
機械結合係数及び周波数の温度依存性(TCF)の測定
結果である。
【0216】
【表57】 表57に示すとおり、領域7−3(領域7−3−1に含
まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、いずれもS
AW速度が3100m/s以下であり、電気機械結合係
数(K)が0.2%以上であった。また、温度依存性
(TCF)も良好であった。
【0217】実施例57 表58は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−3−
1(領域7−3−1−1に含まれる範囲を除く)に含ま
れるいくつかの圧電基板サンプルについてのSAW速
度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存性(TC
F)の測定結果である。
【0218】
【表58】 表58に示すとおり、領域7−3−1(領域7−3−1
−1に含まれる範囲を除く)に含まれる圧電基板は、い
ずれもSAW速度が3100m/s以下であり、電気機
械結合係数(K)が0.3%以上であった。また、温
度依存性(TCF)も良好であった。
【0219】実施例58 表59は、オイラー角(φ,θ,ψ)が、領域7−3−
1−1に含まれるいくつかの圧電基板サンプルについて
のSAW速度、電気機械結合係数及び周波数の温度依存
性(TCF)の測定結果である。
【0220】
【表59】 表59に示すとおり、領域7−3−1−1に含まれる圧
電基板は、いずれもSAW速度が3100m/s以下で
あり、電気機械結合係数(K)が0.4%以上であっ
た。また、温度依存性(TCF)も良好であった。
【0221】本発明は、以上の実施態様及び実施例に限
定されることなく、特許請求の範囲に記載された発明の
範囲内で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範
囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
【0222】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
小型で且つ通過帯域が広い中間周波用の弾性表面波装置
を提供することができるとともに、高い結合係数を有
し、且つ、低いSAW速度を有する弾性表面波装置用の
圧電基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の好ましい実施態様にかかる弾
性表面波装置を示す略斜視図である。
【図2】図2は、圧電基板1のφが0°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速度を示
す等高線図である。
【図3】図3は、圧電基板1のφが0°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合における電気機械結合係
数を示す等高線図である。
【図4】図4は、圧電基板1のφが0°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合における温度依存性(T
CF)を示す等高線図である。
【図5】図5は、圧電基板1のφが5°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速度を示
す等高線図である。
【図6】図6は、圧電基板1のφが5°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合における電気機械結合係
数を示す等高線図である。
【図7】図7は、圧電基板1のφが5°である場合に、
θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−90
°〜90°まで変化させた場合における温度依存性(T
CF)を示す等高線図である。
【図8】図8は、圧電基板1のφが10°である場合
に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−
90°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速度
を示す等高線図である。
【図9】図9は、圧電基板1のφが10°である場合
に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを−
90°〜90°まで変化させた場合における電気機械結
合係数を示す等高線図である。
【図10】図10は、圧電基板1のφが10°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における温度依存
性(TCF)を示す等高線図である。
【図11】図11は、圧電基板1のφが15°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速
度を示す等高線図である。
【図12】図12は、圧電基板1のφが15°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における電気機械
結合係数を示す等高線図である。
【図13】図13は、圧電基板1のφが15°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における温度依存
性(TCF)を示す等高線図である。
【図14】図14は、圧電基板1のφが20°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速
度を示す等高線図である。
【図15】図15は、圧電基板1のφが20°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における電気機械
結合係数を示す等高線図である。
【図16】図16は、圧電基板1のφが20°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における温度依存
性(TCF)を示す等高線図である。
【図17】図17は、圧電基板1のφが25°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速
度を示す等高線図である。
【図18】図18は、圧電基板1のφが25°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における電気機械
結合係数を示す等高線図である。
【図19】図19は、圧電基板1のφが25°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における温度依存
性(TCF)を示す等高線図である。
【図20】図20は、圧電基板1のφが30°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合におけるSAW速
度を示す等高線図である。
【図21】図21は、圧電基板1のφが30°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における電気機械
結合係数を示す等高線図である。
【図22】図22は、圧電基板1のφが30°である場
合に、θを0°〜180°まで変化させるとともにψを
−90°〜90°まで変化させた場合における温度依存
性(TCF)を示す等高線図である。
【符号の説明】
1 圧電基板 2 交差指状電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 守越 広樹 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 川嵜 克己 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 (72)発明者 佐藤 淳 東京都中央区日本橋一丁目13番1号 ティ ーディーケイ株式会社内 Fターム(参考) 4G072 AA35 BB03 BB11 NN03 RR23 TT30 UU01 4G077 AA02 BD14 CF10 GA03 GA10 HA11 5J097 AA06 AA19 AA22 AA29 BB11 FF01 GG01 GG05 KK06

Claims (37)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 圧電基板と、前記圧電基板上に形成され
    た交差指状電極とを備える弾性表面波装置であって、前
    記圧電基板が、CaGaGe14型結晶構造を
    有し、化学式CaTaGaSi14で表され、
    単結晶からの切り出し角および弾性表面波伝搬方向をオ
    イラー角表示で(φ,θ,ψ)と表したとき、φ、θお
    よびψが、φが−2.5°〜2.5°であり、θが30
    °〜90°であり、かつ、ψが−65°〜65°である
    第1の領域、φが−2.5°〜2.5°であり、θが1
    20°〜155°であり、かつ、ψが65°〜85°で
    ある第2の領域、φが−2.5°〜2.5°であり、θ
    が120°〜155°であり、かつ、ψが−85°〜−
    65°である第3の領域、φが2.5°〜7.5°であ
    り、θが30°〜90°であり、かつ、ψが−75°〜
    60°である第4の領域、φが2.5°〜7.5°であ
    り、θが120°〜150°であり、かつ、ψが75°
    〜85°である第5の領域、φが2.5°〜7.5°で
    あり、θが120°〜155°であり、かつ、ψが−8
    5°〜−60°である第6の領域、φが7.5°〜1
    2.5°であり、θが30°〜100°であり、かつ、
    ψが−80°〜55°である第7の領域、φが7.5°
    〜12.5°であり、θが120°〜150°であり、
    かつ、ψが75°〜85°である第8の領域、φが7.
    5°〜12.5°であり、θが110°〜155°であ
    り、かつ、ψが−85°〜−55°である第9の領域、
    φが12.5°〜17.5°であり、θが20°〜10
    5°であり、かつ、ψが−85°〜50°である第10
    の領域、φが12.5°〜17.5°であり、θが12
    5°〜140°であり、かつ、ψが80°〜85°であ
    る第11の領域、φが12.5°〜17.5°であり、
    θが115°〜155°であり、かつ、ψが−85°〜
    −50°である第12の領域、φが17.5°〜22.
    5°であり、θが25°〜70°であり、かつ、ψが−
    80°〜−20°である第13の領域、φが17.5°
    〜22.5°であり、θが25°〜110°であり、か
    つ、ψが−20°〜40°である第14の領域、φが1
    7.5°〜22.5°であり、θが115°〜155°
    であり、かつ、ψが−80°〜−45°である第15の
    領域、φが22.5°〜27.5°であり、θが25°
    〜70°であり、かつ、ψが−85°〜−20°である
    第16の領域、φが22.5°〜27.5°であり、θ
    が25°〜145°であり、かつ、ψが−20°〜40
    °である第17の領域、φが22.5°〜27.5°で
    あり、θが110°〜155°であり、かつ、ψが−8
    0°〜−40°である第18の領域、φが27.5°〜
    32.5°であり、θが25°〜70°であり、かつ、
    ψが−85°〜−30°である第19の領域、φが2
    7.5°〜32.5°であり、θが30°〜150°で
    あり、かつ、ψが−30°〜40°である第20の領域
    及びφが27.5°〜32.5°であり、θが110°
    〜155°であり、かつ、ψが−85°〜−30°であ
    る第21の領域のいずれか一の領域内に存在することを
    特徴とする弾性表面波装置。
  2. 【請求項2】 前記φが−2.5°〜2.5°であり、
    前記θが35°〜80°であり、かつ、前記ψが−55
    °〜55°であることを特徴とする請求項1に記載の弾
    性表面波装置。
  3. 【請求項3】 前記φが−2.5°〜2.5°であり、
    前記θが45°〜70°であり、かつ、前記ψが−15
    °〜15°であることを特徴とする請求項2に記載の弾
    性表面波装置。
  4. 【請求項4】 前記φが−2.5°〜2.5°であり、
    前記θが40°〜60°であり、かつ、前記ψが15°
    〜50°及び−50°〜−15°のいずれか一方である
    ことを特徴とする請求項2に記載の弾性表面波装置。
  5. 【請求項5】 前記φが−2.5°〜2.5°であり、
    前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψが7
    5°〜85°及び−85°〜−75°のいずれか一方で
    あることを特徴とする請求項1に記載の弾性表面波装
    置。
  6. 【請求項6】 前記φが2.5°〜7.5°であり、前
    記θが35°〜80°であり、かつ、前記ψが−65°
    〜50°であることを特徴とする請求項1に記載の弾性
    表面波装置。
  7. 【請求項7】 前記φが2.5°〜7.5°であり、前
    記θが45°〜70°であり、かつ、前記ψが−10°
    〜20°であることを特徴とする請求項6に記載の弾性
    表面波装置。
  8. 【請求項8】 前記φが2.5°〜7.5°であり、前
    記θが35°〜60°であり、かつ、前記ψが−60°
    〜−25°であることを特徴とする請求項6に記載の弾
    性表面波装置。
  9. 【請求項9】 前記φが2.5°〜7.5°であり、前
    記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψが80
    °〜85°であることを特徴とする請求項1に記載の弾
    性表面波装置。
  10. 【請求項10】 前記φが2.5°〜7.5°であり、
    前記θが120°〜145°であり、かつ、前記ψが−
    85°〜−70°であることを特徴とする請求項1に記
    載の弾性表面波装置。
  11. 【請求項11】 前記φが2.5°〜7.5°であり、
    前記θが130°〜140°であり、かつ、前記ψが−
    80°〜−75°であることを特徴とする請求項10に
    記載の弾性表面波装置。
  12. 【請求項12】 前記φが7.5°〜12.5°であ
    り、前記θが30°〜85°であり、かつ、前記ψが−
    75°〜50°であることを特徴とする請求項1に記載
    の弾性表面波装置。
  13. 【請求項13】 前記φが7.5°〜12.5°であ
    り、前記θが45°〜70°であり、かつ、前記ψが−
    10°〜20°であることを特徴とする請求項12に記
    載の弾性表面波装置。
  14. 【請求項14】 前記φが7.5°〜12.5°であ
    り、前記θが35°〜60°であり、かつ、前記ψが−
    60°〜−30°であることを特徴とする請求項12に
    記載の弾性表面波装置。
  15. 【請求項15】 前記φが7.5°〜12.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−85°〜−65°であることを特徴とする請求項1
    に記載の弾性表面波装置。
  16. 【請求項16】 前記φが7.5°〜12.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−70°であることを特徴とする請求項1
    5に記載の弾性表面波装置。
  17. 【請求項17】 前記φが12.5°〜17.5°であ
    り、前記θが35°〜90°であり、かつ、前記ψが−
    10°〜30°であることを特徴とする請求項1に記載
    の弾性表面波装置。
  18. 【請求項18】 前記φが12.5°〜17.5°であ
    り、前記θが35°〜60°であり、かつ、前記ψが−
    70°〜−15°であることを特徴とする請求項1に記
    載の弾性表面波装置。
  19. 【請求項19】 前記φが12.5°〜17.5°であ
    り、前記θが40°〜55°であり、かつ、前記ψが−
    70°〜−40°であることを特徴とする請求項18に
    記載の弾性表面波装置。
  20. 【請求項20】 前記φが12.5°〜17.5°であ
    り、前記θが120°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−60°であることを特徴とする請求項1
    に記載の弾性表面波装置。
  21. 【請求項21】 前記φが12.5°〜17.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−65°であることを特徴とする請求項2
    0に記載の弾性表面波装置。
  22. 【請求項22】 前記φが17.5°〜22.5°であ
    り、前記θが35°〜60°であり、かつ、前記ψが−
    75°〜−35°であることを特徴とする請求項1に記
    載の弾性表面波装置。
  23. 【請求項23】 前記φが17.5°〜22.5°であ
    り、前記θが35°〜55°であり、かつ、前記ψが−
    70°〜−45°であることを特徴とする請求項22に
    記載の弾性表面波装置。
  24. 【請求項24】 前記φが17.5°〜22.5°であ
    り、前記θが45°〜90°であり、かつ、前記ψが−
    15°〜25°であることを特徴とする請求項1に記載
    の弾性表面波装置。
  25. 【請求項25】 前記φが17.5°〜22.5°であ
    り、前記θが120°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−55°であることを特徴とする請求項1
    に記載の弾性表面波装置。
  26. 【請求項26】 前記φが17.5°〜22.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−65°であることを特徴とする請求項2
    5に記載の弾性表面波装置。
  27. 【請求項27】 前記φが22.5°〜27.5°であ
    り、前記θが30°〜60°であり、かつ、前記ψが−
    80°〜−40°であることを特徴とする請求項1に記
    載の弾性表面波装置。
  28. 【請求項28】 前記φが22.5°〜27.5°であ
    り、前記θが35°〜55°であり、かつ、前記ψが−
    75°〜−50°であることを特徴とする請求項27に
    記載の弾性表面波装置。
  29. 【請求項29】 前記φが22.5°〜27.5°であ
    り、前記θが50°〜95°であり、かつ、前記ψが−
    10°〜20°であることを特徴とする請求項1に記載
    の弾性表面波装置。
  30. 【請求項30】 前記φが22.5°〜27.5°であ
    り、前記θが120°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−50°であることを特徴とする請求項1
    に記載の弾性表面波装置。
  31. 【請求項31】 前記φが22.5°〜27.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−60°であることを特徴とする請求項3
    0に記載の弾性表面波装置。
  32. 【請求項32】 前記φが27.5°〜32.5°であ
    り、前記θが35°〜60°であり、かつ、前記ψが−
    80°〜−45°であることを特徴とする請求項1に記
    載の弾性表面波装置。
  33. 【請求項33】 前記φが27.5°〜32.5°であ
    り、前記θが35°〜55°であり、かつ、前記ψが−
    80°〜−55°であることを特徴とする請求項32に
    記載の弾性表面波装置。
  34. 【請求項34】 前記φが27.5°〜32.5°であ
    り、前記θが80°〜100°であり、かつ、前記ψが
    10°〜20°であることを特徴とする請求項1に記載
    の弾性表面波装置。
  35. 【請求項35】 前記φが27.5°〜32.5°であ
    り、前記θが120°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−45°であることを特徴とする請求項1
    に記載の弾性表面波装置。
  36. 【請求項36】 前記φが27.5°〜32.5°であ
    り、前記θが125°〜145°であり、かつ、前記ψ
    が−80°〜−55°であることを特徴とする請求項3
    5に記載の弾性表面波装置。
  37. 【請求項37】 CaGaGe14型結晶構造
    を有し、化学式Ca TaGaSi14で表さ
    れ、単結晶からの切り出し角および弾性表面波伝搬方向
    をオイラー角表示で(φ,θ,ψ)と表したとき、φ、
    θおよびψが、φが−2.5°〜2.5°であり、θが
    30°〜90°であり、かつ、ψが−65°〜65°で
    ある第1の領域、φが−2.5°〜2.5°であり、θ
    が120°〜155°であり、かつ、ψが65°〜85
    °である第2の領域、φが−2.5°〜2.5°であ
    り、θが120°〜155°であり、かつ、ψが−85
    °〜−65°である第3の領域、φが2.5°〜7.5
    °であり、θが30°〜90°であり、かつ、ψが−7
    5°〜60°である第4の領域、φが2.5°〜7.5
    °であり、θが120°〜150°であり、かつ、ψが
    75°〜85°である第5の領域、φが2.5°〜7.
    5°であり、θが120°〜155°であり、かつ、ψ
    が−85°〜−60°である第6の領域、φが7.5°
    〜12.5°であり、θが30°〜100°であり、か
    つ、ψが−80°〜55°である第7の領域、φが7.
    5°〜12.5°であり、θが120°〜150°であ
    り、かつ、ψが75°〜85°である第8の領域、φが
    7.5°〜12.5°であり、θが110°〜155°
    であり、かつ、ψが−85°〜−55°である第9の領
    域、φが12.5°〜17.5°であり、θが20°〜
    105°であり、かつ、ψが−85°〜50°である第
    10の領域、φが12.5°〜17.5°であり、θが
    125°〜140°であり、かつ、ψが80°〜85°
    である第11の領域、φが12.5°〜17.5°であ
    り、θが115°〜155°であり、かつ、ψが−85
    °〜−50°である第12の領域、φが17.5°〜2
    2.5°であり、θが25°〜70°であり、かつ、ψ
    が−80°〜−20°である第13の領域、φが17.
    5°〜22.5°であり、θが25°〜110°であ
    り、かつ、ψが−20°〜40°である第14の領域、
    φが17.5°〜22.5°であり、θが115°〜1
    55°であり、かつ、ψが−80°〜−45°である第
    15の領域、φが22.5°〜27.5°であり、θが
    25°〜70°であり、かつ、ψが−85°〜−20°
    である第16の領域、φが22.5°〜27.5°であ
    り、θが25°〜145°であり、かつ、ψが−20°
    〜40°である第17の領域、φが22.5°〜27.
    5°であり、θが110°〜155°であり、かつ、ψ
    が−80°〜−40°である第18の領域、φが27.
    5°〜32.5°であり、θが25°〜70°であり、
    かつ、ψが−85°〜−30°である第19の領域、φ
    が27.5°〜32.5°であり、θが30°〜150
    °であり、かつ、ψが−30°〜40°である第20の
    領域及びφが27.5°〜32.5°であり、θが11
    0°〜155°であり、かつ、ψが−85°〜−30°
    である第21の領域のいずれか一の領域内に存在する弾
    性表面波装置用圧電基板。
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