JPH05122003A - 弾性表面波装置 - Google Patents

弾性表面波装置

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JPH05122003A
JPH05122003A JP9790692A JP9790692A JPH05122003A JP H05122003 A JPH05122003 A JP H05122003A JP 9790692 A JP9790692 A JP 9790692A JP 9790692 A JP9790692 A JP 9790692A JP H05122003 A JPH05122003 A JP H05122003A
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JP
Japan
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acoustic wave
surface acoustic
substrate
single crystal
wave device
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Pending
Application number
JP9790692A
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English (en)
Inventor
Sadao Matsumura
禎夫 松村
Yasuo Ehata
泰男 江畑
Hitoshi Suzuki
仁 鈴木
Jisaburo Ushizawa
次三郎 牛沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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  • Surface Acoustic Wave Elements And Circuit Networks Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、Li2 4 7 単結晶基板上にアル
ミニウム薄膜の電極やグレーティング反射器を形成した
後も優れた温度特性を示すようにするとともに、周波数
特性および温度特性の再現性が良好な弾性表面波装置を
提供することを目的とする。 【構成】本発明は、硼酸リチウム単結晶基板表面に、弾
性表面波を励振、受信、反射、伝搬するためのアルミニ
ウムを主成分とする薄膜を形成してなる弾性表面波装置
において、前記硼酸リチウム単結晶基板の結晶からの切
り出し角および弾性表面波伝搬方向をオイラ角表示で、
(90゜+λ,90゜+μ,90゜+θ)とした時、
λ=42゜±1゜,μ=0゜±1゜,かつ、θ=0゜±
1゜の範囲に設定したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は弾性表面波の変換効率が
大きく、かつ遅延時間温度係数が小さい硼酸リチウム単
結晶基板を用いた弾性表面波装置に関する。
【0002】
【従来の技術】弾性表面波装置に使われる圧電基板に重
要な性能として、弾性表面波の遅延時間温度係数(TC
D)と電気機械結合係数(k2 )が挙げられる。TCD
はその絶対値が小さい程、またk2 は大きい程弾性表面
波基板として望ましい。
【0003】従来より知られている代表的な弾性表面波
装置用基板の特性を図1に示す。図1は横軸にTCD、
縦軸にk2 をとって各基板特性をプロットしたものであ
る。この図からわかるように、例えばタンタル酸リチウ
ム(LiTaO3 )ではk2 は約0.8%であるがTC
Dは約20ppm/℃である。一方、STカット水晶で
は、TCD零を実現できるが、k2 はLiTaO3 に比
べて1/5程度である。従って従来より優れた性能の弾
性表面装置を実現するためには、k2 はLiTaO3
みであり、TCDはLiTaO3の約1/5以下である
ような圧電材料が望まれていた。
【0004】このような観点から、硼酸リチウム(Li
2 4 7 )が望ましい圧電材料として最近注目されて
いる。即ち、Li2 4 7 はk2 が1%近い値を有
し、LiTaO3 を超える値を示す。また、図1に示し
たように、20゜×−ZのLi2 4 7 、即ち、基板
の切出し角度を、Z軸を中心にX軸をY軸方向に20゜
回転した軸に垂直な面とし、弾性表面波の伝搬方向をZ
軸方向に選んだもの(オイラ角表示で(110゜,90
゜,90゜))はTCDが零になることが、本発明者ら
の実験により明らかになっている。
【0005】ところが、弾性表面波はエネルギが基板表
面に集中していることから、基板の表面状態によって弾
性表面波の伝搬特性は大きな影響を受ける。現実に、弾
性表面波装置を構成するには、基板表面にAl蒸着膜な
どで電極を形成することが不可欠である。例えば表面波
フィルタを構成する場合には、図2に示すように圧電基
板11にインタディジタル電極からなる入,出力電極1
2,13を形成する。また表面波共振子を構成する場合
には、図3に示すように圧電基板21にインタディジタ
ル電極からなる端子電極22とグレーティング反射器を
構成する反射電極23,24を形成する。このように圧
電基板に電極を形成することによって、電極を形成する
前には良好な温度特性を示したものであっても温度特性
に劣化を生じる。本発明者らの実験によると、特に、L
2 4 7 単結晶基板においてはこのような表面状態
の影響が大きいことが明らかになった。
【0006】一方、Li2 4 7 単結晶は他の単結晶
材料と同様に異方性を有する材料で、結晶から基板を切
り出す際の切り出し角によって温度特性,弾性表面波の
伝搬速度等が変化する。この為、切り出し角度が変化す
ると弾性表面波装置の温度特性や周波数特性が変化し、
同一特性の弾性表面波装置を再現性良く製造することが
困難となる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以上のことからアルミ
ニウム薄膜のインタディジタル電極及びグレーティング
反射器を基板上に構成しても温度特性が良好で、さらに
Li2 4 7 結晶から基板の切り出し角による温度特
性,伝搬速度の変化が小さい基板が望まれていた。
【0008】本発明はLi2 4 7 単結晶基板上にア
ルミニウム薄膜の電極やグレーティング反射器を形成し
た後も優れた温度特性を示すようにするとともに、周波
数特性および温度特性の再現性が良好な弾性表面波装置
を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、Li
2 4 7 単結晶から基板を切り出す際その切り出し角
を、オイラ角表示で(90゜+λ,90゜+μ,90゜
+θ)としたとき、λ=42゜±1゜,μ=0゜±1
゜,かつ、θ=0゜±1゜の範囲に設定することによ
り、アルミニウム薄膜によるインタディジタル電極やグ
レーティング反射器等が形成された状態で良好な温度特
性を有する弾性表面波装置を再現性良く構成できるよう
にしたものである。
【0010】
【実施例】本発明の実施例を説明する前に、図4を用い
てオイラ角表示により一般的基板表示法を説明する。
【0011】表面波伝播方向をX1 ,結晶基板面に垂直
な方向をX3 ,それらに垂直な方向をX2 とし、基準方
位(0,0,0)としてX1 =X,X2 =Y,X3 =Z
をとる。最初にX3 軸を中心にして表面波伝播方向X1
をXからY方向に向かってλだけ回転させ、次に回転し
たX1 軸を中心にして、基板面X3 をZ軸から反時計方
向にμだけ回転させた基板表面上を回転させたX3 軸を
中心として伝播方向X1 を再度反時計方向にθだけ回転
させて得られる基板面方位を含む弾性表面波伝播方向の
表示を(λ,μ,θ)で表わし、これをオイラ角表示と
言う。
【0012】この様なオイラ角表示を用いて以下本発明
の実施例を説明する。 Li2 47 単結晶は立方晶
系点群4mmに属し、その対称性から、実験する切断方
位は第1象限だけでよい。引上げ法で作成したLi2
4 7 単結晶をオイラ角表示で(90゜+λ,90゜+
μ,90゜)なる方位でλ,μをそれぞれ変えて切断
し、鏡面研磨を行なった。ここでオイラ角表示で(90
゜,90゜,90゜)とはXカットZ伝播のことであ
る。鏡面研磨した基板上にリフトオフ法により図3に示
すような弾性表面波(SAW)共振子を作成した。グレ
ーティング反射器本数200本,電極対数は11本,電
極周期は56μmである。ここで反射器および電極の材
料はアルミニウムであり、その膜厚は0.1〜1.5μ
mである。図5に作成した共振子の通過特性の一例を示
す。曲線30は振幅特性,○印31は共振周波数frを
示している。この時のアルミニウム膜厚は0.5μmで
ある。ところでこのアルミニウム膜厚によりグレーティ
ング反射器の反射特性は変化する。既に実用化されてい
るLiTaO3 や水晶基板上にアルミニウム薄膜からな
るグレーティング反射器を設けた場合に比べ、Li2
47 基板の場合にはアルミニウム膜厚が1/4以下の
値でLiTaO3 や水晶の場合と同程度の反射特性が得
られることがわかった。そのデータを図6に示す。この
結果から膜厚0.3〜0.8μmで極めて良好な反射特
性が得られることがわかるが、共振子の要求条件から必
ずしも上記範囲でのみ使用可能という訳ではなく、0.
1〜1.5μmの膜厚の範囲なら充分実用になる。なお
膜厚0.8μm以上では反射量は大きくなるが、グレー
ティング反射器内のモード変換が大きくなり共振子のQ
値が低下する。以上に述べた膜厚は共振周波数が60M
Hzの場合であって、周波数によって膜厚の最適値は異な
るため、一般には弾性表面波波長で膜厚を割った正規化
膜厚で表示する。上記0.3〜0.8μmは正規化膜厚
で0.005〜0.015に相当する。0.5μmのア
ルミニウム薄膜で実施したSAW共振子の等価回路定数
と性能指数の実測値は下記に示すとおりで、発振性能の
よい共振子が得られた。 共振抵抗R=124Ω 直列インダクタンスL=2.6mH 直列容量C=0.0026pF 並列容量C0 =1.6pF 無負荷Q=8000 容量比γ=C0 /C=600 性能指数=13 TCDの測定は共振周波数frを測定することにより次
式から求めた。 TCD=−△f/(fr・△T)…(1) ここでfr:25℃の時の共振周波数(Hz) △f:共振周波数の変化量(Hz) △T:SAW基板の温度変化(℃) 電気機械結合係数k2 の値は別に図2に示すフィルタを
作成しその入力インピーダンスを測定することにより次
式で与えられる。 k2 =πC0 /(4RaN)…(2) ここでC0 :インターディジタル電極の静電容量
Ra:中心周波数での放射インピーダンス N :
インターディジタル電極の対数 C0 及びRaはネットワークアナライザを用いて測定
し、(2)式よりk2 を求めた。伝搬速度v(m/s)
は下式により求めた。 v=fr・l………(3) ここでfr:共振周波数(MHz) l :電極周期(μm)
【0013】図7(a),(b),(c)はSAW基板
のオイラ角表示で(90゜+λ,90゜,90゜)とし
た状態とその時のTCD,k2 ,vの変化を示したもの
である。これはλ=0の場合はX−Z伝搬であり、λを
増すことはZ伝搬一定で、切断面がX軸からY軸の方へ
回転した軸に垂直な面を意味する。まず、(a)のTC
Dについて着目する。λを増すとTCDは正方向に変化
し、λ=30゜のときにはTCDは−10ppm/℃で
あるが、さらにλを増すとλ=42℃でTCD零とな
る。従って最も好ましいλとしてはλ=42゜±1゜と
なる。TCDが±5ppm/℃以内にするにはλの範囲
は38゜から45゜までである。λ方向については45
゜が結晶対称の中心となるから、結局λ=38゜〜52
゜が±5ppm/℃のTCDを与えることになる。な
お、結晶方位の測定容易さを考慮すると、λ=45゜±
1゜も好ましい値である。即ちλ=45゜は結晶面では
(110)面となり格子点から面方位を出すのが容易と
なる。(b)のk2 についてはλを変化させても、一定
である。(c)の伝搬速度vはλを増すと低下するが、
λの増すにつれてその低下の度合は小さくなっている。
すなわち、上記λ=38゜から52゜の範囲では、伝搬
速度の分散性が小さくなっており、5m/sの分散性し
か示していないことがわかる。
【0014】図8は方位角度を(90゜+42゜,90
゜,90゜)に設定した場合の共振周波数の温度依存性
を示す。共振周波数変化は温度に対して双曲線変化し、
この時の2次温度係数は 280 × 10- 9 /℃2
である。これから常温付近でTCD零となることがわか
る。
【0015】図9(a),(b),(c)はTCD零と
なる方位をオイラ角表示で(132゜,90゜+μ,9
0゜)とした状態とその時のTCD,k2 ,vの変化を
示したものである。これはμ=0゜では42゜X−Z伝
搬であり、μを増すことはカット面,伝搬方向をたおす
ことである。まず、(a)のTCDについて着目する。
μを増すにつれてTCD零から正の方向に変化し、μは
10゜ではTCDは20ppm/℃となり、5ppm/
℃以内の範囲に入るμの値は0゜〜5゜までである。
【0016】(b)のk2 はμを増すと若干大きくなる
がほとんど一定である。(c)の伝搬速度vはμを増す
と低下し、μを増すにつれて、その低下の度合は大きく
なり、特にμが5゜以上では、その低下量は急激とな
る。従ってμは小さい方が好ましいが最も好ましいμの
値は0゜±1゜である。
【0017】図10(a),(b),(c)はTCD零
となる方位をオイラ角表示で(132゜,90゜,90
゜+θ)とした状態とその時のTCD,k2 ,vの変化
を示したものである。これはθ=0では42゜X−Z伝
搬でありθを増すことはカット面は42゜X面でSAW
の伝搬方向を42゜X面内においてZ軸から回転するこ
とである。θを増すにつれてTCD零から正の方向に変
化し、θが15゜ではTCDは15ppm/℃となる。
5ppm/℃以内の範囲に入るθの値は0゜〜10゜ま
でである。(b)のk2 はθを増すと低下し、θ=10
゜では0.8%,θ=15゜では0.5%と半分に低下
してしまう。(c)の伝搬速度vはθを増すと増加し、
θを増すにつれて、その増加の度合は大きくなるが、θ
が10゜以内では、速度分散性は充分小さいことがわか
る。特に好ましくは、θ=0゜±1゜とするのがよい。
【0018】以上、具体的な実験データを用いて説明し
たように、SAWの伝搬方向をオイラ角表示で(90゜
+λ,90゜+μ,90゜+θ)としたとき、λ=38
゜〜52゜,μ=0゜〜5゜,θ=0゜〜10゜の範囲
では、TCDが±5ppm/℃の範囲であり、しかも伝
搬速度の分散性が充分小さいという優れた特性を有する
ことがわかった。また、角度を全て正方向にとって説明
したが、点群4mmのLi2 4 7 単結晶の対称性か
ら考えて負方向にとった場合も全く同様である。
【0019】
【発明の効果】本発明によればk2 がLiTaO3 を上
回わる値を有し、かつ、TCDがLiTaO3 の約1/
4以下の基板が実現でき、フィルタや共振子として従来
にない優れた特性を示す弾性表面波装置が得られる。
【0020】従来、弾性表面波装置としては基板表面に
インタディジタル電極やグレーティング反射器など何ら
かの機能を有する構成物を形成することは必要不可欠で
ある。これらの構成物は金属薄膜特にアルミニウムある
いはアルミニウムを主成分としCuやSiなどを微少量
添加した薄膜が主に使用されている。本発明によればこ
れら構成物が表面に形成された状態で温度特性が優れた
特性を示す。更に本発明によれば結晶から基板を切り出
す際の切り出し方位角度による温度係数、伝搬速度の変
化が小さいので、弾性表面波装置を量産した時良好な温
度特性および中心周波数,共振周波数の再現性が優れた
素子を提供できる。
【0021】特にオイラ角(135゜,90゜,90
゜)は結晶格子面で表示すると、(1,1,0)面に相
当し、方位測定基板切り出しも極めて容易である特徴を
有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】各種弾性表面波基板の特性を比較して示す図で
ある。
【図2】弾性表面波素子の具体例であるそれぞれ表面波
フィルタおよび表面波共振子の構成を示す図である。
【図3】弾性表面波素子の具体例であるそれぞれ表面波
フィルタおよび表面波共振子の構成を示す図である。
【図4】オイラ角表示法を説明するための図である。
【図5】作成した表面波共振子の通過特性図である。
【図6】同じくそのグレーティング反射器の反射特性を
従来基板と比較して示す図である。
【図7】(90゜+λ,90゜,90゜)カットのLi
2 4 7 単結晶基板の方位とTCD,k2 ,vの変化
を示す図である。
【図8】(90゜+42゜,90゜,90゜)カットの
Li2 4 7 単結晶基板でのTCDの温度依存性を示
す図である。
【図9】(132゜,90゜+μ,90゜)カットのL
2 47 単結晶基板の方位とTCD,k2 ,vの変
化を示す図である。
【図10】(132゜,90゜,90゜+θ)カットの
Li2 4 7 単結晶基板の方位とTCD,k2 ,vの
変化を示す図である。
【符号の説明】
11,21…圧電基板、12,13,22…インターデ
ィジタル電極、23,24…グレーティング反射器、3
0…振幅特性曲線、31…共振周波数点。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 牛沢 次三郎 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝総合研究所内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 硼酸リチウム単結晶基板表面に、弾性表
    面波を励振、受信、反射、伝搬するためのアルミニウム
    を主成分とする薄膜を形成してなる弾性表面波装置にお
    いて、前記硼酸リチウム単結晶基板の結晶からの切り出
    し角および弾性表面波伝搬方向をオイラ角表示で(90
    ゜+λ,90゜+μ,90゜+θ)とした時、λ=42
    ゜±1゜,μ=0゜±1゜,かつ、θ=0゜±1゜の範
    囲に設定したことを特徴とする弾性表面波装置。
  2. 【請求項2】 アルミニウムを主成分とする薄膜により
    電気−音響変換用インタディジタル電極を複数個形成し
    てなる弾性表面波フィルタである特許請求の範囲第1項
    記載の弾性表面波装置。
  3. 【請求項3】 アルミニウムを主成分とする薄膜により
    電気−音響変換用インタディジタル電極と弾性表面波を
    反射させるグレーティング反射器を形成してなる弾性表
    面波共振子である特許請求の範囲第1項記載の弾性表面
    波装置。
  4. 【請求項4】 グレーティング反射器を構成するアルミ
    ニウムを主成分とする薄膜の膜厚は弾性表面波波長の
    0.005ないし0.015の範囲に設定した特許請求
    の範囲第3項記載の弾性表面波装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS594310A (ja) * 1982-06-30 1984-01-11 Toshiba Corp 弾性表面波装置

Patent Citations (1)

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JPS594310A (ja) * 1982-06-30 1984-01-11 Toshiba Corp 弾性表面波装置

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