JP2002096030A - ノズルを用いた処理装置 - Google Patents

ノズルを用いた処理装置

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JP2002096030A
JP2002096030A JP2000292220A JP2000292220A JP2002096030A JP 2002096030 A JP2002096030 A JP 2002096030A JP 2000292220 A JP2000292220 A JP 2000292220A JP 2000292220 A JP2000292220 A JP 2000292220A JP 2002096030 A JP2002096030 A JP 2002096030A
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processing liquid
nozzle
flow rate
processing
control valve
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Sadaaki Kurokawa
禎明 黒川
Daisuke Matsushima
大輔 松嶋
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Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 この発明は、ノズルから噴射される処理液の
圧力変動を防止できるようにしたノズルを用いた処理装
置を提供することにある。 【解決手段】 基板5を処理するための処理液を噴射す
る複数のノズル6,7を有する処理装置において、処理
液が貯えられたタンク14と、このタンク内の処理液を
上記ノズルに供給する供給ポンプ15と、各ノズルに設
けられ上記供給ポンプから供給された処理液が上記ノズ
ルに流れるのを制御する開閉制御弁12と、この開閉制
御弁を通過して上記ノズルから噴射される処理液の流量
を検出する検出手段と、上記供給ポンプと上記ノズルと
の間に設けられ上記ノズルに供給される処理液の流量を
調整する第1の流量調整弁17と、上記検出手段が検出
する上記ノズルから噴射される処理液の流量に基づいて
上記流量調整手段を流れる処理液の流量を制御する制御
装置13とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はノズルから噴射さ
れる処理液によって半導体ウエハやガラス基板などの基
板を処理するノズルを用いた処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置や液晶表示装置などの製造工
程においては、基板としての半導体ウエハやガラス基板
に回路パタ−ンを形成するリソグラフィプロセスがあ
る。リソグラフィプロセスは、周知のように上記基板に
レジストを塗布し、このレジストに回路パタ−ンが形成
されたマスクを介して光を照射し、ついでレジストの光
が照射されない部分(あるいは光が照射された部分)を
除去し、除去された部分を処理するという一連の工程を
数十回繰り返すことで回路パタ−ンが形成される。
【0003】各工程において、上記基板が汚染されてい
ると回路パタ−ンを精密に形成することができなくな
り、不良品の発生原因となる。したがって、それぞれの
工程で回路パタ−ンを形成する際には、レジストや塵埃
が残留しない清浄な状態に上記基板を洗浄するというこ
とが行われている。
【0004】上記基板を洗浄する装置としては、複数枚
の半導体ウエハを洗浄液が収容された洗浄タンク内に漬
けて洗浄するバッチ方式と、1枚の基板を回転させ、そ
の基板に対して処理液を噴射させて洗浄する枚葉方式と
があり、基板の大型化にともない洗浄効果の高い枚葉方
式が用いられる傾向にある。
【0005】枚葉方式の洗浄処理装置にはスピン洗浄処
理装置があり、このスピン洗浄処理装置において洗浄効
果をより一層高めるために、基板の上面だけでなく下面
からも洗浄ノズルによって処理液を噴射したり、それと
同時に上面側には通常の洗浄ノズルの他に超音波洗浄ノ
ズルを配置し、超音波振動が付与された処理液を噴射す
ることで洗浄効果を高めるなどのことが行われている。
【0006】処理液としては純水が用いられることが多
いが、基板に付着した有機物を効率よく洗浄除去する場
合には純水にオゾンガスを溶解させたオゾン水が用いら
れることもある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】半導体装置や液晶表示
装置の製造工場においては、複数のスピン処理装置が並
設使用される。そして、各スピン処理装置への処理液の
供給は1つの供給部によって行なわれる。処理液を1つ
の供給部から複数のスピン処理装置に供給する場合、た
とえば複数のスピン処理装置を同時に使用している状態
から1つだけのスピン処理装置を使用する状態に切り替
えると、稼動数の減少にも係わらず、供給される処理液
の量が変わらないため、使用されるスピン処理装置のノ
ズルから噴出される処理液の圧力が上昇することにな
る。
【0008】それによって、そのノズルから基板に噴射
される処理液の位置がずれ、基板を均一に洗浄できなく
なったり、圧力の急激な上昇によって処理液が飛散し、
ミストの発生を招くなどのことがある。
【0009】また、処理液がオゾン水の場合、その供給
源では所定量の純水に所定量のオゾンガスを溶解させる
ことで一定濃度のオゾン水を生成するようにしている。
処理液にオゾンガスを溶解させる場合、たとえばタンク
に処理液を流し、そのタンクにオゾンガスを供給して処
理液に溶解させるようにしている。
【0010】しかしながら、タンクを流れる処理液に単
にオゾンガスを接触させるだけでは、オゾンガスを処理
液に十分に溶解させることができないため、オゾンガス
濃度の高い処理液を得ることができなかったり、オゾン
ガス濃度が不安定になるなどのことがあった。
【0011】この発明は、処理液の使用量が変化して
も、ノズルから噴射される処理液の圧力を一定に維持で
きるようにしたノズルを用いた処理装置を提供すること
にある。
【0012】この発明は、オゾンガス濃度の高い処理液
を得ることができるようにしたノズルを用いた処理装置
を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を処理するための処理液を噴射する複数のノズルを有す
る処理装置において、各ノズルに設けられこれらノズル
への処理液の供給を制御する開閉制御弁と、この開閉制
御弁を通過して上記ノズルから噴射される処理液の流量
を検出する検出手段と、上記ノズルへの処理液の供給量
を制御する流量調整手段と、上記検出手段が検出する上
記ノズルから噴射される処理液の流量に基づいて上記流
量調整手段から上記ノズルへ流れる処理液の流量を制御
する制御手段とを具備したことを特徴とするノズルを用
いた処理装置にある。
【0014】請求項2の発明は、基板を処理するための
処理液を噴射する複数のノズルを有する処理装置におい
て、処理液が貯えられたタンクと、このタンク内の処理
液を上記ノズルに供給する供給ポンプと、各ノズルに設
けられ上記供給ポンプから供給された処理液が上記ノズ
ルに流れるのを制御する開閉制御弁と、この開閉制御弁
を通過して上記ノズルから噴射される処理液の流量を検
出する検出手段と、上記供給ポンプと上記ノズルとの間
に設けられた流量調整手段と、上記検出手段が検出する
上記ノズルから噴射される処理液の流量に基づいて上記
流量調整手段から上記ノズルへ流れる処理液の流量を制
御する制御手段とを具備したことを特徴とするノズルを
用いた処理装置にある。
【0015】請求項3の発明は、上記検出手段は、開あ
るいは閉の状態にある上記開閉制御弁の数を検出するこ
とを特徴とする請求項2記載のノズルを用いた処理装置
にある。
【0016】請求項4の発明は、上記検出手段は、上記
流量調整手段と上記開閉制御弁との間の処理液の圧力を
検出することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の
ノズルを用いた処理装置にある。
【0017】請求項5の発明は、上記流量調整手段は、
上記供給ポンプと上記開閉制御弁との間に設けられた第
1の流量調整弁と、この第1の流量調整弁と上記供給ポ
ンプとの間に設けられ上記供給ポンプから吐出される処
理液の一部を上記タンクに戻す第2の流量調整弁とを備
えていることを特徴とする請求項2記載のノズルを用い
た処理装置にある。
【0018】請求項6の発明は、上記供給ポンプと上記
第1の流量調整弁との間には、この供給ポンプから吐出
される処理液に所定のガスを溶解させるガス溶解部が設
けられていることを特徴とする請求項5記載のノズルを
用いた処理装置にある。
【0019】請求項7の発明は、処理液に所定のガスを
溶解し、この処理液をノズルから噴射させて基板を処理
する処理装置において、処理液が貯えられたタンクと、
このタンク内の処理液を上記ノズルに供給する供給ポン
プと、この供給ポンプとノズルとの間に設けられタンク
から吐出された処理液に所定のガスを溶解させるガス溶
解部と、このガス溶解部で所定のガスが溶解された処理
液の一部を上記タンクへ戻す循環手段とを具備したこと
を特徴とするノズルを用いた処理装置にある。
【0020】請求項1と請求項2の発明によれば、複数
のノズルから噴射される処理液の流量に基づいて流量調
整手段を流れる処理液の流量を制御するため、ノズルか
ら噴射される処理液の流量の変動に応じて流量調整手段
を流れる処理液の量が制御されるから、処理液を圧力の
変動を招くことなくノズルから噴射させることができ
る。
【0021】請求項3の発明によれば、複数の開閉制御
弁の開閉状態によってノズルから噴射される処理液の流
量を検出することができる。
【0022】請求項4の発明によれば、ノズルに供給さ
れる処理液の圧力変動によってノズルから噴射される処
理液の流量を検出することができる。
【0023】請求項5の発明によれば、供給ポンプから
吐出される処理液の一部をタンクに戻すようにしたか
ら、ノズルから噴射される処理液の流量が減少した場合
などに、その減少分をタンクに戻すことができる。
【0024】請求項6と請求項7の発明によれば、供給
ポンプの吐出側にガス溶解部を設け、所定のガスを溶解
した処理液をタンクに戻して循環させるため、ガス溶解
部で処理液に所定のガスを高濃度に溶解させることが可
能となる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照して説明する。
【0026】図1はこの発明の一実施の形態を示す処理
装置であって、この処理装置は第1乃至第3のスピン処
理装置1A〜1Cが並設されている。各スピン処理装置
1A〜1Cはカップ2を有し、このカップ2内には駆動
源3によって回転駆動される回転テーブル4が設けられ
ている。この回転テーブル4には、たとえば液晶表示装
置に用いられる矩形状のガラス製の基板5が保持され
る。
【0027】回転テーブル4に保持された基板5の上面
と下面とには、それぞれ上部ノズル6と下部ノズル7と
が対向して配置されている。これらノズル6,7からは
基板5の上面と下面に向けて処理液が噴射される。それ
によって、基板5の上面と下面とは処理液によってたと
えば洗浄処理などが行なわれる。
【0028】上記上部ノズル6と下部ノズル7とは処理
液の供給管11に接続されている。この供給管11はヘ
ッダ管11aを有し、このヘッダ管11aから複数、こ
の実施の形態では6本の分岐管11bが分岐されてい
る。各分岐管11bには上記上部ノズル6と下部ノズル
7とが接続されている。
【0029】各分岐管11bにはぞれぞれ開閉制御弁1
2が設けられている。これらの開閉制御弁12は制御装
置13によって開閉が制御されるようになっている。上
記ヘッダ管11aには処理液Lが貯えられるタンク14
が接続されている。このタンク14と上記ヘッダ管11
aとの間には、ポンプ15、ガス溶解部16及び第1の
流量制御弁17が順次接続されている。
【0030】第1の流量制御弁17は、上記制御装置1
3からの駆動信号によって上記ポンプ15から上記ヘッ
ダ管11aに供給されるタンク14内の処理液の流量を
比例制御する。第1の流量調整弁17の開度は、制御装
置13が開閉制御する開閉制御弁12の数に基づいて設
定される。
【0031】たとえば、制御装置13によって3台のス
ピン処理装置1A〜1Cの6つの開閉制御弁12のう
ち、2台のスピン処理装置1A、1Bの4つの開閉制御
弁12を開くよう設定すると、その設定に基づく駆動信
号が第1の流量調整弁17に出力される。
【0032】つまり、制御装置13によって開放される
開閉制御弁12の数に基づいて4つのノズル6,7から
噴射される処理液の流量が定まるから、その流量に応じ
て上記第1の流量調整弁17の開度が設定される。
【0033】具体的には、6つのノズル6、7から処理
液が噴射されるときの流量を100とすると、4つのノ
ズル6,7から噴射される処理液の流量は100×2/
3となるから、第1の流量調整弁17の開度は、全開時
に対して流量が3分の2になるよう設定される。
【0034】第1の流量調整弁17の開度と流量とが比
例関係にあれば、第1の流量調整弁17の開度を全開時
の3分の2にすればよいが、開度と流量とが比例しない
場合には、予め求めた流量と開度との関係に基づいて所
定の流量が得られる開度に設定すればよい。
【0035】すなわち、この実施の形態では、制御装置
13が開閉制御弁12を開閉制御する制御信号によって
ノズル6,7から噴射される処理液の流量を検出するた
めの検出手段を兼ねている。
【0036】なお、ノズル6,7から噴射される処理液
の流量の検出は、検出手段を兼ねる制御装置13によっ
て開放される開閉制御弁12の数を検出して行なうよう
にしたが、それに代わり、閉じた状態の開閉制御弁12
の数を検出して行なうようにしてもよい。
【0037】上記ガス溶解部16は処理液にオゾンガス
を溶解することで、処理液としての純水をオゾン水とし
て各ノズル6,7へ供給する。オゾン水を供給する場
合、一定量の処理液に所定量のオゾンガスを溶解させる
ことで、オゾン水のオゾン濃度を一定に維持するように
している。
【0038】そのため、ガス溶解部16へは一定量の処
理液が供給されるようになっている。つまり、使用する
ノズル6、7の数に係わらず、上記ポンプ15は一定量
の処理液をガス溶解部16へ吐出する。
【0039】使用するノズル6,7の数が減少して上記
第1の流量調整弁17の開度が絞られた場合、余剰とな
った処理液(オゾン水)は、上記ガス溶解部16と第1
の流量調整弁17との間に設けられた第2の流量調整弁
18へ逃される。この第2の流量調整弁18に流れた処
理液は戻し管19を通じて上記タンク14へ戻される。
つまり、第1の流量調整弁17の開度に応じて余剰とな
った処理液は、第2の流量調整弁18から戻し管19を
通ってタンク14に戻るという循環経路を経ることにな
る。
【0040】第1の流量調整弁17を流れる処理液の量
と、第2の流量調整弁18を流れる処理液の量との和
は、ポンプ15から吐出される処理液の量に等しくな
る。
【0041】上記タンク14には液面レベルを検出する
センサ21が設けられている。このセンサ21が検出す
る液面信号は上記制御装置13に入力される。さらにタ
ンク14には処理液(純水)の供給管22が接続されて
いる。この供給管22には開閉制御弁23が設けられて
いる。上記センサ21が検出するタンク14内の液面が
所定の高さになると、その検出信号に基づいて制御装置
13は上記開閉制御弁23を閉じる。つまり、タンク1
4内の処理液の液面は上記センサ21によって所定以上
にならないように制御されている。
【0042】ガス溶解部16で生成されたオゾン水の、
第1乃至第3のスピン処理装置1A〜1Cでの使用量が
減少すると、その減少分が第2の流量調整弁18及び戻
り管19を通じてタンク14へ戻るという経路で循環す
る。つまり、オゾンガスを溶解した処理液が循環を繰り
返してタンク14に貯えられる。
【0043】そのため、所定の濃度でオゾンガスを溶解
した処理液にさらにオゾンガスが溶解されるということ
が繰り返されるから、結果的にオゾンガスの濃度の高い
処理液をノズル6,7へ供給することが可能となる。
【0044】処理液に溶解されるオゾンガスの濃度は、
圧力や温度によって飽和濃度が決まっているから、処理
液が循環を繰り返しても、処理液のオゾン濃度は所定以
上にはならない。つまり、処理液の一部をガス溶解部1
6に繰り返して循環させるようにしたことで、高濃度
(飽和濃度)の処理液を供給することが可能となる。
【0045】つぎに、上記構成の処理装置によって基板
5を洗浄処理する場合について説明する。
【0046】第1乃至第3のスピン処理装置1A〜1C
のうち、たとえば第1のスピン処理装置1Aと第2のス
ピン処理装置1Bとを運転して基板5を処理し、第3の
スピン処理装置1Cを休止する場合、制御装置13を操
作して第1、第2のスピン処理装置1A,1Bの運転を
開始する。
【0047】第1、第2のスピン処理装置1A,1Bの
運転を開始すると、制御装置13によってこれらスピン
処理装置1A,1Bの上部ノズル6と下部ノズル7とに
処理液を供給する4つの開閉弁12が開放される。
【0048】処理液のオゾン濃度を一定に維持するた
め、ポンプ15からは一定量の処理液が吐出される。そ
のため、制御装置13は、第1の流量調整弁17の開度
を、開放される開閉弁12の数に応じて設定する。この
実施の形態では、第1の流量調整弁17の開度は、全開
時の流量に対して3分の2の流量となるよう制御され
る。また、第2の流量調整弁18の開度は全開時の流量
に比べて3分の1の流量となるよう制御される。
【0049】それによって、第1の流量調整弁17と第
2の流量調整弁18を流れる処理液の総流量がポンプ1
5からの吐出量と一致することになる。
【0050】このように、第1、第2の流量調整弁1
7,18の開度が調整されることで、ポンプ15から吐
出される処理液は、全流量の3分の2が第1の流量調整
弁17を通過して4つのノズル6、7に供給され、3分
の1が第2の流量調整弁18を通じてタンク14へ戻
る。
【0051】それによって、1つ当たりのノズルに供給
される処理液の流量は、ノズルの使用個数に係わりなく
一定に維持されるから、4つのノズル6、7からは一定
量の処理液が噴射されることになる。
【0052】つまり、スピン処理装置1A〜1Cの稼働
台数が変動しても、稼動されているスピン処理装置1
A,1Bの上部ノズル6と下部ノズル7とから噴射され
る処理液の圧力は変動しないから、処理液による基板5
の処理を一定の状態で均一に行なうことができる。
【0053】しかも、スピン処理装置の稼働台数が減少
しても、各ノズル6,7から噴射される処理液の圧力が
上昇することがないから、処理液が周囲に飛散してミス
トの発生を招くということも防止できる。
【0054】スピン処理装置の可動台数が減少した場合
には、第1の流量調整弁17の開度調整によってヘッダ
管11aへ流れなかった処理液の一部が第2の流量調整
弁18を通じてタンク14へ戻り、循環する。
【0055】つまり、ポンプ15から吐出される処理液
の流量を一定に維持することができるから、処理液の使
用量の変動に応じてポンプ15から吐出される処理液の
供給量を変えずにすむ。
【0056】また、処理液の一部が循環することで、タ
ンク14の液面が徐々に上昇してくる。そして、液面が
所定のレベルに達すると、そのことがセンサ21によっ
て検出され、その検出信号で処理液(純水)をタンク1
4に供給する供給管22に設けられた開閉制御弁23が
閉じられる。したがって、タンク14内の液面が所定以
上に上昇するのが防止される。
【0057】ガス溶解部16で生成されたオゾン水の一
部が第2の流量調整弁18を通って循環することで、オ
ゾンガスを溶解した処理液がタンク14に貯えられる。
そのため、ガス溶解部16では予め所定量のオゾンガス
を溶解した処理液にさらにオゾンガスが溶解されること
になるから、処理液にオゾンガスを十分に溶解させるこ
とができる。その結果、処理液は、オゾンガスを飽和濃
度まで溶解して第1の流量調整弁17を通じてノズル
6,7に供給することができる。
【0058】つまり、スピン処理装置1A〜1Cの稼動
状況に応じて余剰となった処理液を循環させるようにし
たことで、タンク14にオゾンガスを溶解した処理液を
貯え、その処理液にオゾンガスを繰り返し溶解吸収させ
ることができるから、オゾンガス濃度の高い処理液を供
給することが可能となる。
【0059】通常、オゾンガス濃度の高い処理液を得る
ためには、ガス溶解部16を大型化しなければならない
が、この発明のように、ガス溶解部16から流出する処
理液の一部を循環させるようにしたことで、ガス溶解部
16を大型化することなく、処理液のオゾンガス濃度を
高めることが可能となる。
【0060】図2はこの発明の他の実施の形態を示す。
この実施の形態はノズル6,7から噴出される処理液の
流量を検出する検出手段の変形例である。つまり、この
実施の形態では、検出手段として第1の流量調整弁17
とヘッダ管11aとの間に、このヘッダ管11aを流れ
る処理液の圧力を検出する圧力センサ31を設けた。
【0061】ヘッダ管11aを流れる処理液の圧力は、
各スピン処理装置1A〜1Cの稼働状態によって変化す
る。つまり、処理液が噴射されるノズル6,7の数によ
って変化する。
【0062】したがって、圧力センサ31により、ヘッ
ダ管11aの処理液の圧力を検出すれば、その圧力によ
ってノズルから噴射されている処理液の流量を求めるこ
とができるから、それに応じて第1の流量調整弁17の
開度を設定し、各ノズル6,7から噴射される処理液の
圧力を一定に維持することが可能となる。
【0063】なお、上記一実施の形態では、供給ポンプ
からの処理液の吐出量を、複数のスピン処理装置による
処理液の全使用量とほぼ同じに設定したが、供給ポンプ
の吐出量を全使用量よりも大きくし、ガス溶解部から流
出した処理液の一部を常時タンクへ戻すようにしてもよ
い。
【0064】そのようにすれば、処理液の使用量が最大
であっても、ガス溶解部でガスを溶解した処理液の一部
が確実にタンクへ戻されることになるから、ノズルに供
給される処理液が溶解するガス濃度を確実に高めること
ができる。
【0065】
【発明の効果】この発明によれば、複数のノズルから噴
射される処理液の流量に基づいて流量調整手段を流れる
処理液の流量を制御するようにした。
【0066】そのため、ノズルから噴射される処理液の
流量の変動に応じて流量調整手段を流れる処理液の量が
制御されるから、処理液を圧力の変動を招くことなくノ
ズルから噴射させることができる。
【0067】また、この発明によれば、ガス溶解部を通
過した処理液の一部をタンクに戻すようにした。
【0068】そのため、処理液の一部はガス溶解部で繰
り返してガスが溶解されることになるから、ガス溶解部
を大型化させることなく、処理液に所定のガスを十分な
濃度で溶解させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態を示す処理装置の概略
的構成図。
【図2】この発明の他の実施の形態を示す処理装置の一
部分を示す図。
【符号の説明】
5…基板 6…上部ノズル 7…下部ノズル 12…開閉制御弁 13…制御装置 14…タンク 15…供給ポンプ 16…ガス溶解部 17…第1の流量制御弁 18…第2の流量制御弁 31…圧力センサ
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/304 648 H01L 21/304 648G 648K Fターム(参考) 2H088 EA02 FA21 FA30 HA01 MA20 2H090 HC18 JC19 3B201 AA02 AA03 AB33 BB03 BB05 BB24 BB62 CB12 CC13 CD22 CD42 CD43

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を処理するための処理液を噴射する
    複数のノズルを有する処理装置において、 各ノズルに設けられこれらノズルへの処理液の供給を制
    御する開閉制御弁と、 この開閉制御弁を通過して上記ノズルから噴射される処
    理液の流量を検出する検出手段と、 上記ノズルへの処理液の供給量を制御する流量調整手段
    と、 上記検出手段が検出する上記ノズルから噴射される処理
    液の流量に基づいて上記流量調整手段から上記ノズルへ
    流れる処理液の流量を制御する制御手段とを具備したこ
    とを特徴とするノズルを用いた処理装置。
  2. 【請求項2】 基板を処理するための処理液を噴射する
    複数のノズルを有する処理装置において、 処理液が貯えられたタンクと、 このタンク内の処理液を上記ノズルに供給する供給ポン
    プと、 各ノズルに設けられ上記供給ポンプから供給された処理
    液が上記ノズルに流れるのを制御する開閉制御弁と、 この開閉制御弁を通過して上記ノズルから噴射される処
    理液の流量を検出する検出手段と、 上記供給ポンプと上記ノズルとの間に設けられた流量調
    整手段と、 上記検出手段が検出する上記ノズルから噴射される処理
    液の流量に基づいて上記流量調整手段から上記ノズルへ
    流れる処理液の流量を制御する制御手段とを具備したこ
    とを特徴とするノズルを用いた処理装置。
  3. 【請求項3】 上記検出手段は、開あるいは閉の状態に
    ある上記開閉制御弁の数を検出することを特徴とする請
    求項1又は請求項2記載のノズルを用いた処理装置。
  4. 【請求項4】 上記検出手段は、上記流量調整手段と上
    記開閉制御弁との間の処理液の圧力を検出することを特
    徴とする請求項1又は請求項2記載のノズルを用いた処
    理装置。
  5. 【請求項5】 上記流量調整手段は、上記供給ポンプと
    上記開閉制御弁との間に設けられた第1の流量調整弁
    と、この第1の流量調整弁と上記供給ポンプとの間に設
    けられ上記供給ポンプから吐出される処理液の一部を上
    記タンクに戻す第2の流量調整弁とを備えていることを
    特徴とする請求項2記載のノズルを用いた処理装置。
  6. 【請求項6】 上記供給ポンプと上記第1の流量調整弁
    との間には、この供給ポンプから吐出される処理液に所
    定のガスを溶解させるガス溶解部が設けられていること
    を特徴とする請求項5記載のノズルを用いた処理装置。
  7. 【請求項7】 処理液に所定のガスを溶解し、この処理
    液をノズルから噴射させて基板を処理する処理装置にお
    いて、 処理液が貯えられたタンクと、 このタンク内の処理液を上記ノズルに供給する供給ポン
    プと、 この供給ポンプとノズルとの間に設けられタンクから吐
    出された処理液に所定のガスを溶解させるガス溶解部
    と、 このガス溶解部で所定のガスが溶解された処理液の一部
    を上記タンクへ戻す循環手段とを具備したことを特徴と
    するノズルを用いた処理装置。
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