JP2002083846A - 実装用ピン及び実装装置 - Google Patents

実装用ピン及び実装装置

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JP2002083846A
JP2002083846A JP2000271142A JP2000271142A JP2002083846A JP 2002083846 A JP2002083846 A JP 2002083846A JP 2000271142 A JP2000271142 A JP 2000271142A JP 2000271142 A JP2000271142 A JP 2000271142A JP 2002083846 A JP2002083846 A JP 2002083846A
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pin
pins
circuit board
locking projections
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JP2000271142A
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Koji Soejima
康志 副島
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 接続面積をより少なくして狭ピッチに適した
構造を有し、実装密度の更なる高度化に対応することが
できると共に、製造工程が複雑にならない実装用ピン及
び実装装置を提供する。 【解決手段】 回路基板13及びLSI14の電極パッ
ド12上に突設され、ピン接続により回路基板13及び
LSI14を実装状態とする実装用ピンにおいて、ピン
接続により互いに係止し合う係止突起部11を有し、実
装時、対応する1本ずつがピン接続状態になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、実装用ピン及び
実装装置に関し、特に、高密度実装構造において、回路
基板に対し回路素子を着脱自在に実装することができる
実装用ピン及び実装装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば、半導体チップとパッケー
ジ基板或いは半導体チップ同士等の間を、ピンの嵌合に
より電気的に接続した実装装置が知られている(特開平
7−297197号公報参照)。
【0003】図12は、従来の実装装置のピン構造を示
す断面図である。図12に示すように、従来の実装装置
は、コンタクトパッド1に設けられた雄ピン2と、雄ピ
ン2に対向してコンタクトパッド3に設けられた一対の
雌ピン4a,4bとを有している。
【0004】雄ピン2には、中間部両側に括れ5が形成
され、一対の雌ピン4a,4bには、それぞれの中間部
に突起6が対向して形成されている。これら雄ピン2と
一対の雌ピン4a,4bを互いに押し付け、各括れ5に
それぞれ突起6を噛み合わせることにより、雄ピン2を
両雌ピン4a,4b間に嵌合させた状態にすることがで
きる。
【0005】これら雄ピン2及び雌ピン4a,4bは、
以下の方法により、雄ピン2或いは雌ピン4a,4bに
対応するレジストパターンを形成して、個別に作成され
る。先ず、X線に感光する二層のレジストと、その間に
挟み込んだ紫外線に感光するレジストの、三層のレジス
トを積層し、次に、X線と紫外線を順次選択的に照射
し、感光する。感光後、現像してパターンを形成した
後、電気メッキを行って金属材料を埋め込み、レジスト
を剥離する。これにより、中間部に括れ5を有する雄ピ
ン2若しくは中間部に突起6を有する雌ピン4a,4b
を、それぞれ作成することができる。
【0006】このように、中間部両側に括れ5が形成さ
れた雄ピン2と、それぞれの中間部に突起6が対向して
形成された一対の雌ピン4a,4bにより、高密度実装
を実現させると共に、少ない接触面積で強固な接続を可
能とするピン構造を得ている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、現在
は、更なる高密度実装が求められており、微細な接続に
適するように、接続に必要な電極面積を一層少なくする
ことが望まれている。
【0008】つまり、実装密度の高度化に伴う多ピン狭
ピッチ構造に対応するためには、接続面積をより少なく
して狭ピッチに適した構造にしなければならないが、従
来の実装装置のピン構造においては、雄ピン3を挟み込
むために1つの電極上に2本の雌ピン5a,5bを形成
する必要があり、その分広い面積を要するので狭ピッチ
に適した構造ではなかった。
【0009】また、雄ピン2には、中間部両側に括れ5
を形成し、一対の雌ピン4a,4bには、それぞれの中
間部に突起6を対向して形成しなければならないので、
製造工程が複雑になるのが避けられなかった。
【0010】この発明の目的は、接続面積をより少なく
して狭ピッチに適した構造を有し、実装密度の更なる高
度化に対応することができると共に、製造工程が複雑に
ならない実装用ピン及び実装装置を提供することであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る実装用ピンは、各実装対象のピン突
設位置に突設され、ピン接続により前記各実装対象を実
装状態とする実装用ピンにおいて、ピン接続により互い
に係止し合う係止突起部を有し、実装時、対応する1本
ずつがピン接続状態になることを特徴としている。
【0012】上記構成を有することにより、各実装対象
のピン突設位置に突設され、ピン接続により各実装対象
を実装状態とする実装用ピンは、ピン接続により互いに
係止し合う係止突起部を有し、実装時、対応する1本ず
つがピン接続状態になる。これにより、接続面積をより
少なくして狭ピッチに適した構造を有し、実装密度の更
なる高度化に対応することができると共に、製造工程が
複雑にならない。
【0013】また、この発明に係る実装装置は、上記実
装用ピンを用いて実現することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。
【0015】図1は、この発明の一実施の形態に係る実
装用ピンを示し、(a)は斜視説明図、(b)は側面説
明図である。図1に示すように、実装用ピン10は、先
端に張り出し部である係止突起部11を有し、この係止
突起部11を突出端として、電極パッド12上に突設さ
れている((a)参照)。
【0016】電極パッド12は、回路基板13と、実装
対象となる、例えば、LSI(large scale
integrated circuit)14等それ
ぞれに、複数個設けられている((b)参照)。
【0017】この実装用ピン10は、多ピン狭ピッチの
高密度実装構造において、回路基板13へのLSI14
実装時、各電極パッド12に設けられた1本ずつが互い
に係止し接続されるように、接続対象同士が対向して係
止突起部11同士が向き合った状態に配置される
((a),(b)参照)。
【0018】図2は、図1の実装用ピンを用いた実装例
の説明図である。図中、上方に側面図、下方に平面図を
示し、実装用ピンは詳細な図示を省略し設置位置を概略
的に示す。図2に示すように、実装用ピン10を用い
て、回路基板13に、LSI14やパッケージ15等の
インタポーザが実装・接続される。
【0019】実装例として、回路基板13の上に実装用
ピン10を用いてLSI14が接続されるチップオンボ
ード(chip on board)実装((a)参
照)、回路基板13にBGA(ball grid a
rray)或いはPGA(pin grid arra
y)により接続されたパッケージ15の上に、実装用ピ
ン10を用いてLSI14が接続されるパッケージ実装
((b)参照)がある。
【0020】また、回路基板13にBGA或いはPGA
により接続されたLSI14の上に、実装用ピン10を
用いて更にLSI14が接続されるLSIスタック接続
((c)参照)、回路基板13に実装用ピン10を用い
て接続されたLSI14の上に、実装用ピン10を用い
て更にLSI14が接続されるLSIスタック接続
((d)参照)、がある。
【0021】図3は、図1の実装用ピンの接続状態を示
す説明図である。図3に示すように、各電極パッド12
上には、接続用端子である実装用ピン10(10a〜1
0h)が、1本のみ、対向する接続対象同士が接続した
とき互いを押し付け合う配置状態となるように、形成さ
れている。
【0022】このような条件の下、隣接する実装用ピン
10は、係止突起部11同士が向き合った状態(例え
ば、10aと10c、10dと10f)と、係止突起部
11同士が背中合わせになった状態(例えば、10cと
10e、10fと10h)とが、交互に繰り返されて配
置される。
【0023】そして、実装時、対向する実装用ピン10
同士を位置合わせし互いに近づけると、実装用ピン10
の先端側が当接した後、それぞれ係止突起部11を乗り
越えて、係止突起部11同士が互いに係止した状態にな
り、対向する実装用ピン10同士が係止接続した状態に
なる。
【0024】つまり、接続対象の実装用ピン同士である
実装用ピン10aと実装用ピン10bを押し付け合う
と、各実装用ピン10a,10bが、共にそれぞれの係
止突起部11の突出方向とは反対方向に押し出された状
態となって、各実装用ピン10a,10bには、電極パ
ッド12上面に対しほぼ垂直方向に沿う未接触状態の突
設位置に戻ろうとする力が作用する。
【0025】この結果、実装時、両実装用ピン10a,
10bの係止状態が維持され、電極パッド12を介し
て、例えば回路基板13とLSI14(図2参照)が接
続状態となり、その接続状態が維持される。
【0026】なお、互いに係止状態となる係止突起部1
1同士は、なだらかな滑り易い角度で引っかかっている
だけなので、互いに係止突起部11を離反させるように
すれば、容易に係止状態を解除することができる。即
ち、押し込み方向と逆方向に引っ張り合えば、容易に引
き抜くことができる。
【0027】このように、実装用ピン10は、実装時、
互いに接続される接続対象同士が、機械的な接触に伴う
反発力(未接触状態の突設位置に戻ろうとする力)によ
り、それぞれの係止突起部11を互いに向かい合わせて
係止接続した状態となる。
【0028】実装に際しては、両実装用ピン10a,1
0bに隣接する実装用ピン10c,10dにおいても、
実装用ピン10aと実装用ピン10c、実装用ピン10
bと実装用ピン10dで、係止突起部11の突出方向に
合わせて押し出される方向が逆になるが、両実装用ピン
10a,10bと同様の係止状態が維持される。
【0029】更に、実装用ピン10c,10dに隣接す
る実装用ピン10e,10fにおいても同様であり、例
えば並設された複数の電極パッド12に設けられた実装
用ピン10の全てにおいて、同様の係止状態が維持され
る。
【0030】図4は、図1の実装用ピンの内部構造を説
明する断面図である。図4に示すように、実装用ピン1
0は、中心部から外表面にかけて順番に、例えばCu−
Ni−Auの3つの成分から構成されている。なお、3
つの成分から構成せずに、Cu−Au,Ni−Au等の
2つの成分により構成しても良く、また、外表面のAu
の代わりに、Pt,Ag,Pd,Rh,Ru等を用いて
も良い。
【0031】この実装用ピン10の外観形状は、角柱か
らなる脚部の先端に、脚部から突出する係止突起部11
を有する逆L字状を呈しており、係止突起部11は、上
下両面の先端側を絞り込んで形成されている(図1参
照)。
【0032】図5は、実装用ピンの他の例を示す斜視図
である。図5に示すように、実装用ピン10は、係止突
起部11を、脚部先端を側方に拡大した立方体状に形成
しても良い。この他、脚部を円柱により形成しても良い
し、係止突起部11を、全体に丸みを帯びた卵形、或い
は角柱や円柱からなる脚部をそのまま屈曲させて形成し
ても良い。
【0033】即ち、実装時にはピン接続により、対向す
る実装用ピン10同士の係止突起部11が互いに係止し
合う装着状態になり、取り外す際は、離脱可能な係止解
除状態となる形状を、実装対象となる実装用ピン10同
士が互いに有していればよく、同一形状であっても或い
は異なった形状であっても何れでもよい。
【0034】この実装用ピン10の脚部は、多ピン狭ピ
ッチの高密度実装構造において、例えば、厚みが約10
μm、奥行きが約30〜40μmに形成されている。つ
まり、パッドピッチが約40μmから約20μm程の電
極パッド12に突設された実装用ピン10が、互いに先
端を係止し合う接続時に位置ずれが発生しても確実に噛
み合うようにするため、十分な奥行きを確保している。
なお、係止突起部11の突出長さは、約10μmであ
る。
【0035】図6は、図1の実装用ピンの製造工程を示
すフローチャートである。図6に示すように、実装用ピ
ン10を製造する場合、先ず、回路基板13に電極パッ
ド12を形成し((a)参照)、その後、フォトリソグ
ラフィにより、電極パッド12を覆って感光性レジスト
16を塗布する((b)参照)。
【0036】次に、第1のマスク(図示しない)を用い
て、感光性レジスト16を電極パッド12まで貫通する
ように露光した後、現像する((c)参照)。現像後、
更に、第1のマスクよりも大きい開口径の第2のマスク
(図示しない)を用いて、感光性レジスト16の表面だ
けを露光した後、現像する。これにより、感光性レジス
ト16には、その表面側が拡径した2段の開口径を有す
る柱状の孔17が形成される((d)参照)。
【0037】次に、この途中に段差のある柱状の孔17
に、電解メッキを行って金属成分18を析出させる
((e)参照)。その後、感光性レジスト16を洗浄
し、表面メッキすることにより、電極パッド12上に金
属成分18からなる実装用ピン10を形成する。この結
果、実装用ピン10は、孔17に沿って、先端に張り出
し部である係止突起部11を有し、この係止突起部11
を突出端として電極パッド12上に突設される((f)
参照)。
【0038】このように、メッキにより析出される金属
が自然に盛り上がって角張らず曲面となるのを利用し
て、電解メッキを2度行い、先端部に係止突起部11と
なる突出部を形成している。
【0039】図7は、図1の実装用ピンの配置状態を示
す説明図である。図7に示すように、各実装用ピン10
は、一定の間隔を有して配置された電極パッド12の上
に、係止突起部11間或いは係止突起部11背面間の何
れの隣接間隔aも同一、且つ、最小となるように、電極
パッド12の中央に位置するのではなく中央から左或い
は右にずれて、突設されている((a)参照)。
【0040】これにより、隣接間隔aが同一になるの
で、実装用ピン10の製造に際し、感光性レジスト16
を形成するフォトリソグラフィ(図6(b)参照)が容
易となる。
【0041】なお、実装用ピン10を電極パッド12の
中央部に配置した場合、係止突起部11間の隣接間隔b
は、係止突起部11の突出分だけ、係止突起部11背面
間の隣接間隔cより狭くなるので、感光性レジスト16
を形成するフォトリソグラフィが困難となる((b)参
照)。
【0042】また、実装用ピン10の位置は、実装され
る半導体チップ等のインタポーザを基準に決定するた
め、実装用ピン10の位置を電極パッド12の中央部に
した場合、隣接間隔bが狭い部分に対応する回路基板1
3の隣接間隔は更に狭くなり、実装用ピン10の形成が
困難になってしまう。
【0043】更に、実装用ピン10を電極パッド12上
に片寄せ配置したことにより、電極パッド12が回路基
板13からの引き離しに耐える力は、実装用ピン10が
電極パッド12の中央部に位置している場合に比べより
大きくなる。
【0044】即ち、実装に際し、実装用ピン10は外側
に押し出された状態になり、実装用ピン10が突設され
た電極パッド12は回転モーメントを受ける。このと
き、電極パッド12は、回路基板13と接続状態にある
ことで、回転モーメントが発生させる引き離そうとする
力に耐えているが、実装用ピン10を電極パッド12上
に片寄せ配置したため、引き離しに耐える力を発生させ
る電極パッド12上の空白部分を大きくすることができ
る。
【0045】この実装用ピン10を備えることにより、
回路基板13と、この回路基板13に実装されるチップ
等のインタポーザは、自在に着脱することができる。従
って、実装後のモジュールの完成品出荷工程において、
モジュールの機能検査による不良品のチェック及びリペ
アが容易に可能となる。
【0046】図8は、図1の実装用ピンを用いて実装さ
れたモジュールの完成品出荷工程を示すフローチャート
である。図8に示すように、モジュールの完成品を出荷
する際は、先ず、回路基板13作成−回路基板13への
実装用ピン10作成と、LSI14作成−LSI14へ
の実装用ピン10作成をそれぞれ行った(ステップS1
01)後、回路基板13の実装用ピン10に、対応する
LSI14の実装用ピン10を係止接続させて、基板に
チップを実装した基板実装状態にする(ステップS10
2)。
【0047】次に、基板実装状態における機能検査を行
い(ステップS103)、検査結果が合格か否かを判断
する(ステップS104)。判断結果が合格、即ち、チ
ップ実装状態の動作が正常で目的とする機能が得られた
(Yes)場合、アンダーフィルを行い(ステップS1
05)、その後出荷する(ステップS106)。
【0048】一方、判断結果が不合格、即ち、チップ実
装状態の動作が正常でなく目的とする機能が得られない
(No)場合、回路基板13からチップを取り外し(ス
テップS107)、チップを廃棄するか否かを判断する
(ステップS108)。
【0049】判断結果がチップ廃棄(Yes)の場合、
取り外したチップを廃棄すると共に残った回路基板13
を再利用して(ステップS109)、基板実装を行う
(ステップS102)。一方、判断結果がチップ廃棄で
ない(No)場合、チップを取り外した回路基板13を
廃棄すると共に残ったチップを再利用して(ステップS
110)、基板実装を行う(ステップS102)。
【0050】このように、実装用ピン10を介して、回
路基板13とチップ或いはインタポーザを自在に着脱す
ることができる。このため、例えば、出荷前の仮組立状
態での検査で不良を見つけた場合に外して取り替えるこ
とが可能となり、実装後のモジュールの機能検査に伴
う、インタポーザ或いは回路基板13について不良品の
廃棄及び良品の再利用が容易に可能となる。この結果、
歩留まり向上に大きく寄与することができる。
【0051】図9は、図1の実装用ピンの配置例を示す
平面図(その1)、図10は、図1の実装用ピンの配置
例を示す平面図(その2)、図11は、図1の実装用ピ
ンの配置例を示す平面図(その3)である。
【0052】図中、黒塗り潰し部は、回路基板13に設
置された実装用ピン10を示し、白抜き部は、チップ或
いはインタポーザ(図示しない)に設置された実装用ピ
ン10を示す。また、黒塗り潰し部と白抜き部の境界線
が、係止突起部11同士の噛み合わせ線となる。
【0053】図9(a),(b)に示す実装用ピン10
は、回路基板13及びインタポーザの周辺に沿って1列
にほぼピン幅分離間して配置されており、対向する両辺
の各実装用ピン10の係止突起部11が同一方向を向き
((a)参照)、或いは隣接する各実装用ピン10の係
止突起部11が交互に向きを変えて((b)参照)いる
が、噛み合わせ線が何れも同じ方向を向いている。
【0054】従って、回路基板13の表面に沿い、且
つ、噛み合わせ線に沿う方向にインタポーザをずらすこ
とにより、係止突起部11同士の係止及び係止解除を行
うことができ、回路基板13に対しインタポーザを係止
状態に装着し或いは離脱させることが可能である。この
とき、実装用ピン10は、着脱に伴う曲げ等を殆ど生じ
させないため、実装用ピン10が痛み難く、着脱回数を
増やすことができる。
【0055】なお、インタポーザを回路基板13の表面
に対し接近・離反させる方向、即ち、回路基板13の表
裏面を貫通する方向への移動によっても、回路基板13
に対するインタポーザの装着或いは離脱が可能である。
また、実装用ピン10の配置を回路基板13とインタポ
ーザで逆にしても同様である。
【0056】図9(c),(d)に示す実装用ピン10
は、回路基板13及びインタポーザの周辺に沿って1列
にほぼピン幅分離間して、且つ、隣接辺に位置する実装
用ピン10の噛み合わせ線がほぼ直交して配置されてい
る。このため、回路基板13の表面に沿う方向にインタ
ポーザをずらしても、係止突起部11同士の係止及び係
止解除を行うことができず、回路基板13に対するイン
タポーザの装着或いは離脱が不可能である。着脱は、イ
ンタポーザを回路基板13の表面に対し接近・離反させ
る方向への移動によって行う。
【0057】図9(e),(f)に示す実装用ピン10
は、回路基板13及びインタポーザの周辺に沿って1列
にほぼピン幅分離間して、且つ、各係止突起部11の噛
み合わせ線が放射状となるように配置されており、隣接
する各実装用ピン10の係止突起部11が各辺毎にほぼ
同一方向を向き((e)参照)、或いは各辺毎に交互に
向きを変えて((f)参照)いる。
【0058】このため、回路基板13の表面に沿う方向
にインタポーザをずらしても、係止突起部11同士の係
止及び係止解除を行うことができない。着脱は、インタ
ポーザを回路基板13の表面に対し接近・離反させる方
向への移動によって行う。即ち、実装用ピン10が放射
状配置の場合は、上から引き抜くことにより、回路基板
13からインタポーザを離脱させる。
【0059】このような配置は、インタポーザを、例え
ばガラスエポキシやセラミック等、シリコンとは熱膨張
の異なる材質からなる回路基板13と接続する場合に用
いることができる。この場合、温度変化によって起こる
位置ずれが、接点である係止部分のずれにより吸収され
るため、係止部分に応力が加わらず信頼性が高い。
【0060】特に、各辺毎にほぼ同一方向を向き方向が
統一されている場合((e)参照)は、回路基板13全
体として応力を相殺することができるため、狭ピッチ部
分を生じさせない。各辺毎に交互に向きを変えて方向が
不統一の場合((f)参照)は、各実装用ピン10一個
毎に応力を相殺することができる。
【0061】図10(a),(b)に示す実装用ピン1
0は、回路基板13及びインタポーザの周辺に沿って1
列にほぼピン幅分離間して、且つ、回路基板13の各係
止突起部11がインタポーザの各係止突起部11の外側
((a)参照)、或いは隣接同士が内外交互((b)参
照)に位置し、各係止突起部11同士の噛み合わせ線が
円を描くように配置されている。
【0062】(a)に示した配置は、インタポーザを、
例えばガラスエポキシ等、熱膨張率が10ppmより大
きい材質からなる回路基板13と接続する場合に用いる
ことができる。この場合、約200℃に加熱することで
回路基板13が膨張するため、回路基板13の表面に沿
う方向にインタポーザを回転させれば((c)参照)、
実装用ピン10に着脱に伴う曲げ等を生じさせずにイン
タポーザの着脱ができる。(b)に示した配置において
も、同様に回転させることで、インタポーザの着脱がで
きる。
【0063】図10(d),(e)に示す実装用ピン1
0は、回路基板13及びインタポーザの周辺に沿って1
列にほぼピン幅分離間し、且つ、各噛み合わせ線がそれ
ぞれ傾斜しつつ同一方向を向き、噛み合わせ線に沿う方
向に隣接する同士が同じ側に((d)参照)或いは一部
向きを変えて((e)参照)配置されている。
【0064】このように配置することにより、回路基板
13の表面に沿う方向にインタポーザを滑らせずらして
着脱させることができ、傾斜(テーパ)を加えること
で、挿入及び抜き取りがし易くなると共に挿入時に行き
過ぎて外れることがない。
【0065】図11(a),(b)に示す実装用ピン1
0は、回路基板13及びインタポーザの全面にほぼピン
幅分離間し、各係止突起部11が、一列毎に逆向きにし
て同一方向を向き((a)参照)或いは一行毎に逆向き
にして同一方向を向き((b)参照)、縦横に配置され
ている。
【0066】従って、回路基板13の表面で噛み合わせ
線に沿う方向に、インタポーザを滑らせずらすことによ
り、係止突起部11同士の係止及び係止解除を行うこと
ができ、回路基板13に対するインタポーザの装着或い
は離脱が可能である。なお、インタポーザを回路基板1
3の表面に対する接近・離反方向への移動によっても、
回路基板13に対するインタポーザの装着或いは離脱が
可能である。
【0067】図11(c)に示す実装用ピン10は、回
路基板13及びインタポーザの全面にほぼピン幅分離間
し、且つ、噛み合わせ線の向きが放射状となるように、
係止突起部11の向きを任意に異ならせて複数個配置さ
れている。これにより、回路基板13とインタポーザが
熱膨張の異なる材質からなる場合に、温度変化によって
係止部分がずれることになり、応力が発生しない。
【0068】図11(d),(e)に示す実装用ピン1
0は、回路基板13及びインタポーザの全面にほぼピン
幅分離間し、且つ、噛み合わせ線の向きが縦横に交差す
るように((d)参照)或いは同心円状の複数の円環を
描くように((e)参照)、複数個配置されている。こ
のように配置することにより、回路基板13の表面に対
する接近・離反方向への移動によってのみ、回路基板1
3に対するインタポーザの着脱が可能となる。
【0069】図11(f)に示す実装用ピン10は、回
路基板13及びインタポーザの全面にほぼピン幅分離間
し、且つ、各噛み合わせ線がそれぞれ傾斜しつつ同一方
向を向いて配置されている。即ち、図11(a)のパタ
ーンにおいて、噛み合わせ線を一列毎逆向きに傾斜させ
ている。
【0070】このように配置することにより、回路基板
13の表面に沿う方向にインタポーザを滑らせずらして
着脱することができ、傾斜(テーパ)を加えることで、
挿入及び抜き取りがし易くなると共に挿入時に行き過ぎ
て外れることがない。また、挿入時、押し込むに連れて
段々ピッチが厳しくなるため、モニターしながら押し込
むことで、挿入量を調整することができる。
【0071】このように、この発明によれば、狭ピッチ
多ピン構造の半導体チップの電極に、メッキ法により係
止構造を有する微細な実装用ピン10を形成し、機械的
な接触に伴う反発力により、インタポーザ等と回路基板
等を接続する。
【0072】即ち、接続は、接続対象同士の電極パッド
12のそれぞれに1本ずつ設けられた実装用ピン10を
係止させて行われるため、その接続に必要なピンの数を
3本から2本にし、それに伴って電極面積を従来の約2
/3に狭くすることができ、微細な接続に適した構造を
得ることができる。また、1本ずつの実装用ピン10を
互いに一方の側から係止させるため、係止時に変形し易
くストレスに強い構造とすることができる。
【0073】この実装用ピン10の着脱は、機械的な変
形の他、温度変化による変形等によっても可能であり、
実装用ピン10を、条件に合う種々の材料を用いて、様
々な形状に形成することができる。つまり、形状及び材
質的に、反発力を確保することができれば良く、実装対
象の回路基板13とインタポーザ(取付チップ部)の材
質を変えて、例えば、回路基板13は変形し難いように
硬い材質で形成し、取付チップ部は変形し易いように柔
らかい材質で形成する。
【0074】なお、上記実施の形態において、実装用ピ
ン10は、電気的な接続機能を有していたが、これに限
るものではなく、電気的な接続機能の有無を問わない補
強を目的とするものでも良い。電気的な接続機能を有せ
ず補強を目的とするものの場合、電極パッド12上に設
ける必要はなく、また、実装用ピン10を導電性材料に
より形成する必要もない。
【0075】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、各実装対象のピン突設位置に突設され、ピン接続に
より各実装対象を実装状態とする実装用ピンは、ピン接
続により互いに係止し合う係止突起部を有し、実装時、
対応する1本ずつがピン接続状態になるので、接続面積
をより少なくして狭ピッチに適した構造を有し、実装密
度の更なる高度化に対応することができると共に、製造
工程が複雑にならない。
【0076】また、この発明に係る実装装置は、上記実
装用ピンを用いて実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施の形態に係る実装用ピンを示
し、(a)は斜視説明図、(b)は側面説明図である。
【図2】図1の実装用ピンを用いた実装例の説明図であ
る。
【図3】図1の実装用ピンの接続状態を示す説明図であ
る。
【図4】図1の実装用ピンの内部構造を説明する断面図
である。
【図5】実装用ピンの他の例を示す斜視図である。
【図6】図1の実装用ピンの製造工程を示すフローチャ
ートである。
【図7】図1の実装用ピンの配置状態を示す説明図であ
る。
【図8】図1の実装用ピンを用いて実装されたモジュー
ルの完成品出荷工程を示すフローチャートである。
【図9】図1の実装用ピンの配置例を示す平面図(その
1)である。
【図10】図1の実装用ピンの配置例を示す平面図(そ
の2)である。
【図11】図1の実装用ピンの配置例を示す平面図(そ
の3)である。
【図12】従来の実装装置のピン構造を示す断面図であ
る。
【符号の説明】
10(10a〜10h) 実装用ピン 11 係止突起部 12 電極パッド 13 回路基板 14 LSI 15 パッケージ 16 感光性レジスト 17 孔 18 金属成分 a,b,c 隣接間隔

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】各実装対象のピン突設位置に突設され、ピ
    ン接続により前記各実装対象を実装状態とする実装用ピ
    ンにおいて、 ピン接続により互いに係止し合う係止突起部を有し、実
    装時、対応する1本ずつがピン接続状態になることを特
    徴とする実装用ピン。
  2. 【請求項2】実装時、対向面同士を押し付け合って前記
    係止突起部を係止状態にすることを特徴とする請求項1
    に記載の実装用ピン。
  3. 【請求項3】前記ピン接続状態により、前記係止突起部
    の突出方向とは反対方向に押し出され、未接触状態に戻
    ろうとする力が作用することを特徴とする請求項1また
    は2に記載の実装用ピン。
  4. 【請求項4】隣り合う前記係止突起部を互いに向き合わ
    せ或いは背中合わせに配置したことを特徴とする請求項
    1から3のいずれかに記載の実装用ピン。
  5. 【請求項5】隣接間隔が同一、且つ、最小となるよう
    に、前記ピン突設位置の中央からずらして突設したこと
    を特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の実装用
    ピン。
  6. 【請求項6】前記ピン突設位置は、前記各実装対象の電
    極上であることを特徴とする請求項1から5のいずれか
    に記載の実装用ピン。
  7. 【請求項7】回路基板或いは前記回路基板に実装される
    インタポーザの少なくとも一方が、請求項1から6のい
    ずれかに記載の実装用ピンを有することを特徴とする実
    装装置。
  8. 【請求項8】前記係止突起部による互いの係止を解除す
    る係止解除操作によりピン接続状態を解消して、実装状
    態にある前記回路基板からの前記インタポーザの離脱を
    可能にすることを特徴とする請求項7に記載の実装装
    置。
  9. 【請求項9】前記実装用ピンは、矩形状に形成された突
    設対象の周辺に沿って1列にほぼピン幅分離間し、且
    つ、係止状態の前記係止突起部同士の噛み合わせ線が同
    じ方向を向き、或いは隣接辺に位置する前記実装用ピン
    の前記噛み合わせ線がほぼ直交して、複数個配置されて
    いることを特徴とする請求項7または8に記載の実装装
    置。
  10. 【請求項10】前記実装用ピンは、矩形状に形成された
    突設対象の周辺に沿って1列にほぼピン幅分離間し、且
    つ、係止状態の前記係止突起部同士の噛み合わせ線が放
    射状となるように、複数個配置されていることを特徴と
    する請求項7または8に記載の実装装置。
  11. 【請求項11】前記実装用ピンは、矩形状に形成された
    突設対象の周辺に沿って1列にほぼピン幅分離間し、且
    つ、係止状態の前記係止突起部同士の噛み合わせ線が円
    を描くように、複数個配置されていることを特徴とする
    請求項7または8に記載の実装装置。
  12. 【請求項12】前記実装用ピンは、矩形状に形成された
    突設対象の全面にほぼピン幅分離間し、前記係止突起部
    が、一列毎に逆向きにして同一方向を向き或いは一行毎
    に逆向きにして同一方向を向き、縦横に複数個配置され
    ていることを特徴とする請求項7または8に記載の実装
    装置。
  13. 【請求項13】前記実装用ピンは、矩形状に形成された
    突設対象の全面にほぼピン幅分離間し、且つ、係止状態
    の前記係止突起部同士の噛み合わせ線が放射状となるよ
    うに、複数個配置されていることを特徴とする請求項7
    または8に記載の実装装置。
  14. 【請求項14】前記実装用ピンは、矩形状に形成された
    突設対象の全面にほぼピン幅分離間し、且つ、係止状態
    の前記係止突起部同士の噛み合わせ線が縦横に交差する
    ように或いは同心円状の複数の円環を描くように、複数
    個配置されていることを特徴とする請求項7または8に
    記載の実装装置。
  15. 【請求項15】回路基板に電極パッドを形成した後、フ
    ォトリソグラフィにより、前記電極パッドを覆って感光
    性レジストを塗布する工程と、 第1のマスクを用いて、前記感光性レジストを前記電極
    パッドまで貫通するように露光した後、現像する工程
    と、 現像後、更に、前記第1のマスクよりも大きい開口径の
    第2のマスクを用いて、前記感光性レジストの表面だけ
    を露光した後、現像して、表面側が拡径した2段の開口
    径を有する柱状の孔を形成する工程と、 前記柱状の孔に、電解メッキを行って金属成分を析出さ
    せ、その後、前記感光性レジストを洗浄し、表面メッキ
    することにより、前記電極パッド上に前記金属成分から
    なる実装用ピンを形成する工程とを有することを特徴と
    する請求項7から14のいずれかに記載の実装装置の製
    造方法。
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