JP2002083795A - 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 - Google Patents

半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置

Info

Publication number
JP2002083795A
JP2002083795A JP2000271000A JP2000271000A JP2002083795A JP 2002083795 A JP2002083795 A JP 2002083795A JP 2000271000 A JP2000271000 A JP 2000271000A JP 2000271000 A JP2000271000 A JP 2000271000A JP 2002083795 A JP2002083795 A JP 2002083795A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
adhesive sheet
semiconductor substrate
pressure
sensitive adhesive
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000271000A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Kadota
健一 門多
Yoshiyuki Shioyama
善之 塩山
Kenji Kawabata
研二 川端
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2000271000A priority Critical patent/JP2002083795A/ja
Publication of JP2002083795A publication Critical patent/JP2002083795A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【課題】 微細化が進んだ場合に問題となる微粒子の洗
浄を確実に、且つ効率よく除去することができる半導体
基板の洗浄方法及びその洗浄装置を提供する。 【解決手段】 洗浄装置は、粘着シート1を送り出す送
出し機構2と、この送出し機構2から送り出された粘着
シート1を巻き取る巻取り機構3と、前記送出し機構2
と前記巻取り機構3との間で、前記粘着シート1の下方
に配置され、且つ前記粘着シート1を保持する支持機構
4と、前記送出し機構2側に配置され、前記粘着シート
1に半導体基板Wを搬入する搬入機構5と、前記粘着シ
ート1から半導体基板Wを搬出する搬出機構6とから構
成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板の洗浄
方法及びその洗浄装置に関し、特に半導体ウェハ裏面及
びベベル面に付着したダスト(以下、微粒子と称する)
を除去する洗浄方法及びその洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】最近、半導体装置の製造において、微細
化が進につれ、これまで問題にされなかった1μm以下
の微粒子が多々の工程不良を引起している。
【0003】例えば、露光工程において、半導体ウエハ
裏面に微粒子が付着していると、露光ステージに搬送さ
れてきた時に、半導体ウエハの部分的な変形により露光
不良となってしまう。また、この微粒子がステージ上に
残ってしまった場合には、半導体ウエハ裏面に微粒子が
付着していない半導体ウエハの場合にも不良が発生して
しまう。
【0004】一般に、この種の微粒子を洗浄除去するた
めに、バッチ式ウエット洗浄が用いられているが、この
方法では、ウエハ裏面から除去した微粒子が主面側に廻
り込んで主面に付着し、半導体製品の歩留低下を招く恐
れがあるという問題があった。
【0005】このため、最近では、特開平5−2664
32号公報に開示されるようなローラ式洗浄方法及び洗
浄装置が用いられるようになってきた。
【0006】即ち、図13及び図14に示すように、こ
の洗浄装置では、半導体ウエハWに2つ以上接触するよ
うな間隔で回転ローラ112を複数配置し、この回転ロ
ーラ112の表面には、前記半導体ウエハW裏面の微粒
子を除去するために低不純物アクリル系粘着剤114を
塗付してあり、且つ半導体ウエハ吸引用の細孔113が
形成されている。
【0007】そして、前記回転ローラ112はベルト1
15により駆動され、前記半導体ウエハWが前記回転ロ
ーラ112上を移動するようになっている。
【0008】この洗浄装置による半導体ウエハ裏面の洗
浄は次のように行われる。即ち、図示しない半導体ウエ
ハ搬送手段により、前記回転ローラ112上に前記半導
体ウエハWを載置する。載置された前記半導体ウエハW
は、前記細孔113により吸引され、各々の前記回転ロ
ーラ112を等速で回転させることより、前記回転ロー
ラ112上を移動する。この時、前記半導体ウエハW裏
面の微粒子が前記回転ローラ112表面に塗付した前記
粘着剤114により吸着除去される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の洗浄装置及び洗浄方法では、複数枚の半導体ウエハ
を洗浄する場合、先の半導体ウエハ裏面から除去し、回
転ローラに付着した微粒子が後の被洗浄半導体ウエハに
再付着する恐れがある。
【0010】また、この回転ローラに付着した微粒子の
被洗浄半導体ウエハへの再付着を防止するためには、1
枚の半導体ウエハ裏面を洗浄する度に、回転ローラ上の
粘着剤に付着した微粒子を除去して回転ローラ上の粘着
剤表面を清浄化した後、新たなウエハの清浄化を行う必
要がある。そのため、各回転ローラに対してそれぞれ、
回転ローラを清浄化する格別な機構が必要となり、洗浄
装置が大型化する。また、洗浄に時間が掛かり洗浄能力
が低い問題がある。
【0011】本発明は、上記課題に鑑みなされたもの
で、微細化が進んだ場合に問題となる微粒子の洗浄を確
実に、且つ効率よく除去することができる半導体基板の
洗浄方法及びその洗浄装置を提供することを目的とす
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1の発明(請求項1)に係わる半導体基板の洗浄
方法では、上面が粘着性を有する粘着シートを、順次、
送出し、且つ巻取る工程と、前記粘着シートに半導体基
板の一端縁部を接着させる工程と、前記粘着シートを移
動させ、前記半導体基板をその一端縁部から他端縁部に
かけて、順次、粘着シートに接着させる工程と、前記粘
着シートに一端縁部から他端縁部にかけて接着された、
前記半導体基板を前記粘着シートから剥離する工程とを
具備してなることを特徴としている。
【0013】また、上記目的を達成するために、第2の
本発明(請求項2)に係わる半導体基板の洗浄方法で
は、中央部から両端部に向かって径大に形成された棒状
ローラに、上面が粘着性を有する粘着シートを巻回し、
当該粘着シートを、順次、送出し、且つ巻取る工程と、
前記粘着シートに半導体基板の一端縁部を接着させる工
程と、前記粘着シートを移動させ、前記半導体基板をそ
の一端縁部から他端縁部にかけて、順次、前記粘着シー
トに接着させる工程と、前記粘着シートに一端縁部から
他端縁部にかけて接着された、前記半導体基板を前記粘
着シートから剥離する工程とを具備してなることを特徴
としている。
【0014】更に、上記目的を達成するために、第3の
本発明(請求項5)に係わる半導体基板の洗浄方法で
は、上面が粘着性を有し、順次、送出し、且つ巻取られ
る複数の粘着シートが並置されてなり、複数の前記粘着
シートに半導体基板を接着させる工程と、複数の前記粘
着シートを垂直方向に相対的に移動させ、一方の前記粘
着シート上面に前記半導体基板の外周縁部の一部を接触
させ、且つ他方の前記粘着シートに前記外周縁部の一部
と反対側面部を接触させて前記半導体基板を傾斜状態で
支持する工程と、 前記第1と第2の粘着シートとを相
対的に異なる移動速度でもって移動させ、前記半導体基
板を回転させる工程と、前記半導体基板を、少なくとも
1回転させた後、前記半導体基板を前記粘着シートから
剥離する工程とを具備してなることを特徴としている。
【0015】更にまた、上記目的を達成するために、第
4の発明(請求項7)に係わる半導体基板の洗浄装置で
は、上面が粘着性を有する粘着シートを送り出す送出し
機構と、前記送出し機構から送り出された前記粘着シー
トを巻き取る巻取り機構と、前記送出し機構と前記巻取
り機構との間で、前記粘着シートの下方に配置され、且
つ前記粘着シートを移動可能に支持する支持機構と、前
記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、前記
粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを具備
し、前記搬入機構により半導体基板の一端縁部を前記粘
着シートに接着させ、前記粘着シートを移動させると共
に、前記半導体基板を前記一端縁部から他端縁部に向か
って順次、前記粘着シートに接着させた後、前記粘着シ
ートから剥離される前記半導体基板を前記搬出機構によ
り搬出してなることを特徴としている。
【0016】更にまた、上記目的を達成するために、第
5の発明(請求項10)に係わる上面が粘着性を有する
粘着シートを送り出す送出し機構と、前記送出し機構か
ら送り出された前記粘着シートを巻き取る巻取り機構
と、前記送出し機構と前記巻取り機構との間で、前記粘
着シートの下方に並置され、且つ前記粘着シートを水平
に移動可能に支持する複数個の支持体を備えた支持機構
と、前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構
と、前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構
とを具備し、前記搬入機構により半導体基板の一端縁部
を前記粘着シートに接着させ、前記粘着シートを移動さ
せると共に、前記支持機構上において前記半導体基板を
前記一端縁部から他端縁部に向かって順次、前記粘着シ
ートに接着させた後、前記粘着シートから剥離される前
記半導体基板を前記搬出機構により搬出してなることを
特徴としている。
【0017】更にまた、上記目的を達成するために、第
6の発明(請求項13)に係わる半導体基板の洗浄装置
では、上面が粘着性を有する粘着シートを送り出す送出
し機構と、前記送出し機構から送り出された前記粘着シ
ートを巻き取る巻取り機構と、前記送出し機構と前記巻
取り機構との間の前記粘着シート下方に配置されて前記
粘着シートを移動可能に支持し、且つ中央部から両端部
に向かって径大に形成された棒状ローラと、前記粘着シ
ートに半導体基板を搬入する搬入機構と、前記粘着シー
トから半導体基板を搬出する搬出機構とを具備し、前記
搬入機構により半導体基板の一端縁部を前記粘着シート
に接着させ、前記粘着シートを移動させると共に、前記
半導体基板を前記一端縁部から他端縁部に向かって順
次、前記粘着シートに接着させた後、前記粘着シートか
ら剥離される前記半導体基板を前記搬出機構により搬出
してなることを特徴としている。
【0018】更にまた、上記目的を達成するために、第
7の発明(請求項16)に係わる半導体基板の洗浄装置
では、上面が粘着性を有し、且つ垂直方向に並置された
複数の粘着シートと、複数の前記粘着シートを、各々、
順次、送り出す複数の送出し機構と、複数の前記粘着シ
ートを、各々、順次、巻き取る複数の巻取り機構と、前
記送出し機構と前記巻取り機構の各々の間の前記粘着シ
ートの下方に、各々、並置され、前記粘着シートを、各
々、水平方向に移動可能に支持すると共に垂直方向に相
対的に移動可能に支持する複数個の支持体を備えた複数
の支持機構と、前記粘着シートに半導体基板を搬入する
搬入機構と、前記粘着シートから前記半導体基板を搬出
する搬出機構とを具備し、前記搬送機構により複数の前
記粘着シートに前記半導体基板を接着させ、複数の前記
粘着シートを垂直方向に相対的に移動させ、一方の前記
粘着シート上面に前記半導体基板の外周縁部の一部を接
触させ、且つ他方の前記粘着シートに前記外周縁部の一
部と反対側面部を接触させて前記半導体基板を傾斜状態
で支持し、複数の前記粘着シートを相対的に異なる移動
速度でもって移動させ、前記半導体基板を回転させ、前
記半導体基板を、少なくとも1回転させた後、前記搬出
機構により前記半導体基板を前記粘着シートから搬出す
ることを特徴としている。
【0019】更にまた、上記目的を達成するために、第
8の発明(請求項18)に係わる半導体基板の洗浄装置
では、上面が粘着性を有する粘着シートを送り出す送出
し機構と、前記送出し機構から送り出された前記粘着シ
ートを巻き取る巻取り機構と、前記送出し機構と前記巻
取り機構との間で、前記粘着シートの下方に並置され、
且つ前記粘着シートを水平に移動可能に支持する複数個
の支持体を備えた支持機構と、前記粘着シートに半導体
基板を搬入する搬入機構と、前記粘着シートから半導体
基板を搬出する搬出機構とを具備し、前記複数個の支持
体は、各々、支持体の一部に径大部を持ち、前記径大部
が搬入側から搬出側に向かうに従って、徐々に、外側又
は内側の位置に設けられていることを特徴としている。
【0020】上記第1、4、5及び8の発明によれば、
粘着シートに半導体基板の一端縁部を接着させ、粘着シ
ートの送出及び巻取りにより前記粘着シートの移動をさ
せて前記半導体基板をその一端縁部から他端縁部にかけ
て、順次、前記粘着シートに接着させ、前記半導体基板
裏面の微粒子を前記粘着シートに付着させた後、前記半
導体基板を前記粘着シートから剥離している。次の半導
体基板は、送出された前記粘着シートの新たな個所に接
着させることにより、同様に半導体基板裏面の微粒子を
前記粘着シートに付着させる。従って、半導体基板の洗
浄は、常に新たな粘着シート部分で行われるため、先の
半導体基板裏面から除去した微粒子が後の被洗浄半導体
基板に再付着することがない。
【0021】また、洗浄装置によれば、常に新たな粘着
シート部分で行われるため、先の半導体基板裏面から除
去した微粒子が後の被洗浄半導体基板に再付着すること
がない。従って、粘着シートを清浄化する格別な機構も
必要がなく、洗浄装置が小型化となり、また、洗浄時間
も短く、洗浄能力も極めて高い。
【0022】上記第2及び6の発明によれば、粘着シー
トが巻回された棒状ローラを中央部から両端部に向かっ
て径大に形成しているため、半導体基板が反っていない
平坦な場合には、最初に半導体基板の一端部の外周縁部
が、前記ローラ中央部の前記粘着シートに接着し、その
粘着シートの移動に伴って、その接着シートと外周縁部
との接着個所が、前記半導体基板の最大径までは、他端
部の外周縁部に向かうに従い、順次、前記ローラの中央
部から両端部に移動し、且つ最大径を過ぎると、逆に両
端部から中央部に徐々に移動する。従って、前記半導体
基板の外周縁部の微粒子を洗浄することができる、特
に、外周縁部にベベル面を有する半導体基板におけるベ
ベル面の微粒子の洗浄には最適である。また、例えば、
上方に反った半導体基板の場合には、最初、半導体基板
裏面の中央部がローラの中央部に接着され、粘着シート
の移動に伴って、徐々に、その接着シートと前記半導体
基板裏面との接着個所が、前記半導体基板の最大径まで
は、前記ローラの中央部から周縁部に移動し、且つ最大
径を過ぎると、逆に周縁部から中央部に徐々に移動し、
前記半導体基板裏面全体の洗浄が行われる。しかも、こ
の構成においても、上記第1の発明と同様に、半導体基
板の洗浄は、常に新たな粘着シート部分で行われるた
め、先の半導体基板裏面から除去した微粒子が後の被洗
浄半導体基板に再付着することがない。
【0023】また、洗浄装置によれば、半導体基板の洗
浄は、常に新たな粘着シート部分で行われるため、先の
半導体基板裏面から除去した微粒子が後の被洗浄半導体
基板に再付着することがない。従って、粘着シートを清
浄化する格別な機構も必要がなく、洗浄装置が小型化と
なり、また、洗浄時間も短く、洗浄能力も極めて高い。
【0024】上記第3及び7の発明によれば、複数の粘
着シートを同一高さにし、且つこの複数の粘着シートを
等速移動させることにより、上記第1及び第5の発明と
同様の作用効果を得ることができ、また、複数の粘着シ
ートの高さを相対的に変化させて、半導体基板を傾斜さ
せた状態に支持しでおき、複数の粘着シートを相対的に
異なる速度で移動させることにより、半導体基板を少な
くとも1回転させて半導体基板の外周縁部の微粒子を粘
着シートに付着させることにより、半導体基板の外周縁
部の微粒子を洗浄することができ、特に、外周縁部にベ
ベル面を有する半導体基板のベベル面における微粒子の
洗浄が簡単に行なえる。
【0025】また、この洗浄装置によれば、半導体基板
の洗浄は、常に新たな粘着シート部分で行われるため、
先の半導体基板裏面あるいはべべル面から除去した微粒
子が後の被洗浄半導体基板に再付着することがない。従
って、粘着シートを清浄化する格別な機構も必要がな
く、洗浄装置が小型化となり、また、洗浄時間も短く、
洗浄能力も極めて高い。
【0026】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態(以
下、実施形態と称する)を図面を参照して説明する。 (第1の実施形態)まず、本発明の第1の実施形態に係
わる半導体基板の洗浄方法及びその洗浄装置について図
1乃至図3を参照して説明する。図1は、本発明の第1
の実施形態に係わる半導体基板の洗浄装置の構成を模式
的に示す斜視図、図2は、図1の洗浄装置をA−A’線
に沿って切断し、矢印方向から眺めた縦断面図、図3
は、図1の洗浄装置をB−B’線に沿って切断し、矢印
方法から眺め縦断面図である。
【0027】図に示すように、この実施形態の洗浄装置
は、粘着シート1を送り出す送出し機構2と、この送出
し機構2から送り出された前記粘着シート1を巻き取る
巻取り機構3と、前記送出し機構2と前記巻取り機構3
との間で、前記粘着シート1の下方に配置され、且つ前
記粘着シート1を保持する支持機構4と、前記送出し機
構2側に配置され、前記粘着シート1に半導体ウエハ
(半導体基板)Wを搬入する搬入機構5と、前記粘着シ
ート1から前記半導体ウエハWを搬出する搬出機構6と
から構成されている。
【0028】前記送出し機構2は、回転可能な棒状の支
持軸2aからなり、前記支持機構4の下方に配置されて
いる。この支持軸2aには、前記粘着シート1が巻回さ
れている。この粘着シート1は、上面に、例えば低不純
物アクリル系の粘着層を設けたポリエチレンテレフタテ
ート(一般に、PETと称される)からなり、ここで
は、約直径20cmの前記半導体ウエハWを洗浄できる
ように、例えば、約22cmの幅を有している。
【0029】前記巻取り機構3は、回転可能な棒状の支
持軸3aからなり、前記支持機構4の下方に配置されて
おり、前記送出し機構2から送り出された前記粘着シー
ト1を巻き取るようになっている。
【0030】前記支持機構4は、支持体としての複数個
のローラ7から構成され、各ローラ7は、前記粘着シー
ト1の下方に配置され、前記粘着シート1を水平に保持
し、且つ前記粘着シート1が前記巻取り機構3により引
張られた際、前記粘着シート1の移動に伴い回転可能に
設けられている。また、各ローラ7は、前記半導体ウエ
ハWを洗浄処理する所定面積の平坦領域8を形成するた
めに、同一平面をなすように並置され、しかも隣接する
2個で前記半導体ウエハWを支持すると共に所定面積を
構成すように所定間隔で所定個数配置している。ここで
は、一例として、例えば約20cmの前記半導体ウエハ
Wを洗浄処理できるように、6個のローラ7を、約5c
m間隔で並置して、幅約22cm×長さ約25cmの前
記平坦領域8を形成している。
【0031】前記搬入機構5は、前記半導体ウエハWを
搬送するためのベルト10、このベルト10が巻回され
たローラ11、及び図示しない駆動機構から構成され、
前記駆動機構により前記ベルト10を矢印方向に移動さ
せることにより、前記半導体ウエハWを前記支持機構4
における前記粘着シート1上に供給するようになってい
る。
【0032】また、前記搬出機構6は、前記搬入機構5
と同様に、ベルト10、ローラ11及び図示しない駆動
機構で構成され、前記駆動機構により前記ベルト10を
矢印方法に移動させることにより、前記支持機構4で洗
浄処理された前記半導体ウエハWを受け取り、次工程あ
るいはウエハキャリアへ移送される。
【0033】次に、本発明に係わる半導体ウエハの洗浄
方法を図1及び図2を参照して説明する。
【0034】前記搬入機構5により半導体ウエハWを前
記支持機構4の手前まで搬送し、前記半導体ウエハWの
一端部裏面を前記支持機構4上に載置し、前記粘着シー
ト1に接着させる。
【0035】次に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3を駆動して、図中の矢印で示すように、前記粘着シ
ート1を送出すと共に巻取りを行ない、前記平坦領域8
上の前記粘着シート1を移動させると、前記粘着シート
1の移動に伴って前記半導体ウエハWの裏面が一端部か
ら他端部へと向かって、順次、前記粘着シート1に接着
されて行く。最後には、前記支持機構4の前記平坦領域
8上において、前記半導体ウエハWの裏面全体が前記粘
着シート1に接着される。
【0036】更に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3により前記粘着シート1を送出すと共に巻き取りを
行うことにより、前記粘着シート1が最終の前記ローラ
7を通過する際、前記半導体ウエハWは、一端から他端
に向かって、徐々に前記粘着シート1と分離され、前記
粘着シート1は、前記巻取り機構3の支持軸3aに巻取
られ、前記半導体ウエハWは、一端から他端に向かっ
て、徐々に前記搬出機構6上に移動され、最後には、前
記搬出機構6によって受取られ、且つ保持され、次工程
あるいはウエハキャリアへ移送される。
【0037】この際、前記半導体ウエハWの裏面に付着
していた微粒子は、前記粘着シート1によって捕獲さ
れ、前記半導体ウエハ1の裏面が清浄化されて、前記搬
出機構6に移送されることになる。
【0038】上記実施形態の半導体ウエハの洗浄方法及
び洗浄装置によれば、前記粘着シート1に前記半導体ウ
エハWの一端部を接着させ、前記粘着シート1の送出及
び巻取りにより前記粘着シート1を移動させて、前記半
導体ウエハWをその一端部から他端部にかけて、順次、
前記粘着シート1に接着させ、前記半導体ウエハWの裏
面の微粒子を前記粘着シート1に付着させた後、前記半
導体ウエハWを前記粘着シート1から剥離している。次
の前記半導体ウエハは、送出された前記粘着シートの新
たな個所に接着させることにより、同様に半導体ウエハ
裏面の微粒子を前記粘着シートに付着させる。従って、
半導体ウエハの洗浄は、常に新たな粘着シート部分で行
われるため、先の半導体ウエハ裏面から除去した微粒子
が後の被洗浄半導体ウエハに再付着することがない。
【0039】また、この実施形態の洗浄装置によれば、
半導体ウエハの清浄化が、常に新たな粘着シート部分で
行われるため、先の半導体ウエハ裏面から除去した微粒
子が後の被洗浄半導体ウエハに再付着することがない。
従って、粘着シートを清浄化する格別な機構も必要がな
く、洗浄装置が小型化となり、また、洗浄時間も短く、
洗浄能力も極めて高い。
【0040】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態に係わる半導体基板の洗浄方法及びその洗浄装
置について図4乃至図6を参照して説明する。図4は、
本発明の第1の実施形態に係わる半導体基板の洗浄装置
における支持機構を示す平面図、図5は、その支持機構
におけるローラの配置状態を示す平面図、図6はローラ
の斜視図である。
【0041】この実施形態の洗浄装置と上記第1の実施
形態の洗浄装置とは、支持機構におけるローラの形状が
異なるが、それ以外は同じ構成になっており、同一構成
部分の詳しい説明は省略し、相違する構成部分について
詳細に説明する。
【0042】即ち、この実施形態の洗浄装置は、図1に
示すように、粘着シート1を送り出す送出し機構2と、
この送出し機構2から送り出された粘着シート1を巻き
取る巻取り機構3と、前記送出し機構2と前記巻取り機
構3との間で、前記粘着シート1の下方に配置され、且
つ前記粘着シート1を保持する支持機構4と、前記送出
し機構2側に配置され、前記粘着シート1に半導体ウエ
ハWを搬入する搬入機構5と、前記粘着シート1から前
記半導体ウエハWを搬出する搬出機構6とから構成され
ている。
【0043】そして、前記送出し機構2及び前記巻取り
機構3は、各々、回転可能な棒状の支持軸2a及び3a
からなり、それぞれ前記粘着シート1を送出し及び巻取
りするようになっている。
【0044】また、前記搬入機構5及び前記搬出機構6
は、いずれも、前記半導体ウエハWを搬送するためのベ
ルト10、このベルト10が巻回されたローラ11、及
び前記ベルト10を駆動するための図示しない駆動機構
から構成され、前記半導体ウエハWを前記支持機構4に
おける前記粘着シート1上に供給及び前記支持機構4で
洗浄処理された前記半導体ウエハWを搬出するようにな
っている。
【0045】ところで、前記支持機構4は、支持体とし
ての複数のローラから構成されており、上記第1の実施
形態では、各ローラ7は、一様な径を有する棒状に形成
されているが、この実施形態では、図4乃至図6に示す
ように、各ローラ20は、一部に径大部20aが形成さ
れている。この径大部20aは、前記半導体ウエハWの
搬入側の1番目のローラ201には、1個形成し、2番
目から最後の6番目の各ローラ22、23、…26には、
各々、2個形成している。そして、最初の前記ローラ2
1の径大部20aは、そのローラの中央部に形成さ
れ、2番目の前記ローラ22の径大部20aは、最初の
前記ローラ201の径大部20aと一部重ねてその両側
に配置し、次の3番目の前記ローラ23の径大部20a
は、すぐ前の前記ローラ22の径大部20aと一部重ね
てその両側に配置し、この3番目以降の各ローラの径大
部も同様に配置している。即ち、各ローラ20の径大部
20aが、前記半導体ウエハWの搬入側から搬出側に向
かうに従って、徐々に、ローラの中央部から外側の位置
に設けられている。
【0046】次に、上記構成の洗浄装置を用いて、半導
体ウエハを洗浄する方法について図1乃至図5を参照し
て説明する。
【0047】まず、前記搬入機構5により半導体ウエハ
Wを前記支持機構4の手前まで搬送し、前記半導体ウエ
ハWの一端部裏面を前記支持機構4上に載置し、前記粘
着シート1に接着させと、前記半導体ウエハWの一端部
の裏面中央部が、前記1番目のローラ201中央部の径
大部20aに接着される。
【0048】次に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3を駆動して、図中の矢印で示すように、前記粘着シ
ート1を送出すと共に巻取りを行ない、前記平坦領域8
上の前記粘着シート1を移動させると、図4中のハッチ
ングで示すように、前記粘着シート1の移動に伴って前
記半導体ウエハWの裏面と前記ローラ20の径大部20
aとの接着が、前記半導体ウエハWの一端部から他端部
への移動に従って、中央部から横方向に拡大し、最後に
両側端部が最後の前記ローラ20の径大部20aに接着
される。
【0049】更に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3により前記粘着シート1を送出すと共に巻き取りを
行うことにより、前記粘着シート1が最終の前記ローラ
20を通過する際、前記半導体ウエハWは、一端から他
端に向かって、徐々に前記粘着シート1と分離され、前
記粘着シート1は、前記巻取り機構3の支持軸3aに巻
取られ、前記半導体ウエハWは、一端から他端に向かっ
て、徐々に前記搬出機構6上に移動され、最後には、前
記搬出機構6によって受取られ、且つ保持され、次工程
あるいはウエハキャリアへ移送される。
【0050】この際、前記半導体ウエハW裏面に付着し
ていた微粒子は、前記粘着シート1によって捕獲され、
前記半導体ウエハ1裏面が清浄化されるが、各ローラ2
0の径大部20a上に前記半導体ウエハWがもたらされ
た時、この径大部20aとの接着部分は、他の部分に比
べて大きい圧力が加わることになるため、前記半導体ウ
エハ裏面の微粒子の清浄化がより向上する。
【0051】上記実施形態の半導体ウエハの洗浄及び洗
浄装置によれば、上記第1の実施形態と同様の作用効果
が得られるが、各ローラ20に径大部20aを形成して
いるため、この径大部20上に半導体ウエハWがもたら
させた時、この径大部20aとの接着部分は、他の部分
に比べて大きい圧力が加わることになるため、上記第1
の実施形態に比べて、半導体ウエハ裏面の微粒子の清浄
化がより向上する。
【0052】(第3の実施形態)本発明の第3の実施形
態に係わる半導体基板の洗浄方法及びその洗浄装置につ
いて図7及び図8を参照して説明する。図7は、本発明
の第3の実施形態に係わる半導体基板の洗浄装置の構成
を模式的に示す斜視図、図8は、その洗浄装置のローラ
と半導体ウエハとの接着状態を示す状態図である。な
お、図において、上記第1の実施形態と同一構成部分に
は同一符号を付して詳しい説明は省略する。
【0053】図7及び図8に示すように、この実施形態
の洗浄装置は、粘着シート1を送り出す送出し機構2
と、この送出し機構2から送り出された前記粘着シート
1を巻き取る巻取り機構3と、前記送出し機構2と前記
巻取り機構3との間で、前記粘着シート1の下方に配置
され、且つ前記粘着シート1を保持する支持機構4と、
前記送出し機構2側に配置され、前記粘着シート1に半
導体ウエハWを搬入する搬入機構5と、前記粘着シート
1から半導体ウエハWを搬出する搬出機構6とから構成
されている。
【0054】前記送出し機構2は、回転可能な棒状の支
持軸2aからなり、前記支持機構4の下方に配置されて
いる。この支持軸2aには、前記粘着シート1が巻回さ
れている。この粘着シート1は、上面に、例えば低不純
物アクリル系の粘着層を設けたポリエチレンテレフタテ
ート(一般に、PETと称される)からなり、ここで
は、約直径20cmの半導体ウエハWを洗浄できるよう
に、例えば、約22cmの幅を有している。
【0055】前記巻取り機構3は、回転可能な棒状の支
持軸3aからなり、前記支持機構4の下方に配置されて
おり、前記送出し機構2から送り出された前記粘着シー
ト1を巻き取るようになっている。
【0056】前記支持機構4は、棒状のローラ30から
構成され、このローラ30は、前記粘着シート1の幅と
略同じ長さの約22cmに形成され、且つ中央部から両
端部に向かって径大に形成されている。また、このロー
ラ30は、前記粘着シート1の下方に配置されて前記粘
着シート1が巻回され、且つ前記粘着シート1が前記巻
取り機構3により引張られた際、前記粘着シート1の移
動に伴い回転可能に設けられている。
【0057】前記搬入機構5は、前記半導体ウエハWを
搬送するためのベルト10、このベルト10が巻回され
たローラ11、及び前記ベルト10を駆動するための図
示しない駆動機構から構成され、前記半導体ウエハWを
前記支持機構4における前記粘着シート1上に供給する
ようになっている。また、前記送出し機構2側に前記支
持機構4と近接して配置され、前記半導体ウエハWの半
分が前記支持機構4を通過するまで、前記支持機構4と
共同して前記半導体ウエハWを支持するように設けられ
ている。
【0058】また、前記搬出機構6は、前記搬入機構5
と同様に、ベルト10、ローラ11及び図示しない駆動
機構で構成され、前記支持機構4で洗浄処理された前記
半導体ウエハWを受け取り、次工程あるいはウエハキャ
リアへ移送するようになっている。また、前記巻取り機
構3側に前記支持機構4と近接して配置され、前記半導
体ウエハWの半分が前記支持機構4を通過してから離れ
るまでの間、前記支持機構4と共同して前記半導体ウエ
ハWを支持するように設けられている。
【0059】次に、上記洗浄装置を用いて外周端縁部に
ベベル面を有する半導体ウエハの洗浄方法を図7及び図
8を参照して説明する。
【0060】まず、前記搬入機構5により、外周端縁部
にベベル面を有する半導体ウエハWを前記支持機構4の
手前まで搬送し、前記半導体ウエハWの一端縁部を前記
支持機構4のローラ30上に乗上げさせると、最初、そ
の一端部のベベル面が前記ローラ30中央部の粘着シー
ト1に接着され、この部分のべべル面の微粒子は前記粘
着シート1に付着される。この時、前記半導体ウエハW
は、前記搬入装置5によって他端部が支持されている。
【0061】次に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3を駆動して、図中の矢印で示すように、前記粘着シ
ート1を送出すと共に巻取りを行ない、前記ローラ30
上の前記粘着シート1を移動させると、前記粘着シート
1の移動に伴って、前記半導体ウエハWの外周縁部が一
端部から他端部へと向かうに従って、前記半導体ウエハ
Wは、図8に示すように、前記ローラ30上をせり上が
っていき、ベベル面が前記粘着シート1に、順次、接着
し、ベベル面の微粒子は、順次、接着部分の前記粘着シ
ート1に付着する。そして前記半導体ウエハWの最大径
部を過ぎると、前記半導体ウェハWは、徐々に下がって
いき、最後に他端部のベベル面が前記ローラ30中央部
の前記粘着シート1に接着し、前記半導体ウエハWのベ
ベル面全体の微粒子が前記粘着シート1に付着し清浄化
が行われる。
【0062】前記半導体ウエハWは、前記ローラ30を
通過する際、一端部から他端部に向かって、徐々に前記
粘着シート1と分離され、前記粘着シート1は、前記巻
取り機構3の支持軸3aに巻取られ、前記半導体ウエハ
Wは、一端から他端に向かって、徐々に前記搬出機構6
上に移動されて前記ローラ30と前記搬出機構6とで支
持され、最後には、前記搬出機構6によって受取られ、
且つ保持され、次工程あるいはウエハキャリアへ移送さ
れる。
【0063】この際、前記半導体ウエハWのベベル面に
付着していた微粒子は、前記粘着シート1によって捕獲
され、前記半導体ウエハ1のベベル面が清浄化されて、
前記搬出機構6に移送されることになる。
【0064】次いで、上記洗浄装置を用いて両端縁部が
上方に反った半導体ウエハの洗浄方法を図7及び図8を
参照して説明する。
【0065】まず、前記搬入機構5により半導体ウエハ
Wを前記支持機構4の手前まで搬送し、前記半導体ウエ
ハWの他端部を前記搬入機構5により支持し、一端部裏
面を前記ローラ30中央部に載置し、前記粘着シート1
中央部に接着させる。
【0066】次に、前記送出し機構2及び前記巻取り機
構3を駆動して、図中の矢印で示すように、前記粘着シ
ート1を送出すと共に巻取りを行ない、前記ローラ30
上の前記粘着シート1を移動させると、前記粘着シート
1の移動に伴って、徐々に、前記接着シート1と前記半
導体基板W裏面との接着個所が、前記半導体基板Wの最
大径までは、前記ローラ30の中央部から周縁部に移動
し、且つ最大径を過ぎると、逆に周縁部から中央部に徐
々に移動し、前記半導体基板Wの裏面全体が、順次、前
記粘着シート1と接着し、裏面の微粒子がその粘着シー
ト1に付着されて洗浄が行われる。
【0067】そして、前記半導体ウエハWは、前記ロー
ラ30を通過する際、一端部から他端部に向かって、徐
々に前記粘着シート1と分離され、前記粘着シート1
は、前記巻取り機構3の支持軸3aに巻取られ、前記半
導体ウエハWは、一端から他端に向かって、徐々に前記
搬出機構6上に移動されて前記ローラ30と前記搬出機
構6とで支持され、最後には、前記搬出機構6によって
受取られ、且つ保持され、次工程あるいはウエハキャリ
アへ移送される。
【0068】上記実施形態の半導体ウエハの洗浄方法及
び洗浄装置によれば、前記粘着シート1が巻回された前
記棒状ローラ30を、中央部から両端部に向かって径大
に形成しているため、外周縁部にベベル面を有する半導
体ウエハWの場合には、最初に前記半導体ウエハWの一
端部のベベル面が、前記ローラ30中央部の前記粘着シ
ート1に接着し、前記粘着シート1の移動に伴って、前
記粘着シート1と前記外周縁部のべべル面との接着個所
が、前記半導体ウエハWの最大径までは、他端部の外周
縁部に向かうに従い、順次、前記ローラ30の中央部か
ら両端部に移動し、且つ最大径を過ぎると、逆に両端部
から中央部に徐々に移動する。従って、半導体基板のベ
ベル面の微粒子を簡単に洗浄することができる。
【0069】また、例えば、上方に反った半導ウエハの
場合には、最初、前記半導体ウエハW裏面の中央部が前
記ローラ30の中央部に接着され、前記粘着シート1の
移動に伴って、徐々に、前記接着シート1と前記半導体
ウエハW裏面との接着個所が、前記半導体ウエハWの最
大径までは、前記ローラ30の中央部から周縁部に移動
し、且つ最大径を過ぎると、逆に周縁部から中央部に徐
々に移動し、前記半導体ウエハ裏面全体の洗浄が行われ
る。
【0070】しかも、この実施形態においても、上記第
1の実施形態と同様に、半導体ウエハの洗浄は、常に新
たな粘着シート部分で行われるため、先の半導体ウエハ
裏面から除去した微粒子が後の被洗浄半導体ウエハに再
付着することがない。
【0071】また、洗浄装置によれば、半導体ウエハの
洗浄は、常に新たな粘着シート部分で行われるため、先
の半導体ウエハ裏面から除去した微粒子が後の被洗浄半
導体ウエハに再付着することがない。従って、粘着シー
トを清浄化する格別な機構も必要がなく、洗浄装置が小
型化となり、また、洗浄時間も短く、洗浄能力も極めて
高い。
【0072】(第4の実施形態)以下、本発明の第4の
実施形態に係わる半導体基板の洗浄方法及びその洗浄装
置について図9乃至図12を参照して説明する。図9
は、本発明の第4の実施形態に係わる半導体基板の洗浄
装置の構成を模式的に示す斜視図、図10は、図9の洗
浄装置のB−B’線に沿って切断し、矢印方向より眺め
た縦断面図、図11及び図12は、いずれもその洗浄装
置を用いた半導体ウエハの洗浄方法を説明するための模
式図である。
【0073】図9及び図10に示すように、この実施形
態の洗浄装置は、上面が粘着性を有し、且つ列方向に並
置された、例えば3枚の第1、第2及び第3の粘着シー
ト40、41、42と、各第1、第2及び第3の粘着シ
ート40、41、42を、独立して、順次、送り出すた
めの第1、第2及び第3の送出し機構50、51、52
と、前記第1、第2及び第3の粘着シート40、41、
42を、独立して、順次、巻き取るための第1、第2及
び第3の巻取り機構60、61、62と、各送出し機構
50、51、52と各巻取り機構60、61、62との
間の前記第1、第2及び第3の粘着シート40、41、
42の下方に、各々、並置され、各粘着シート40、4
1、42を水平方向に移動可能に支持すると共に垂直方
向に相対的に移動可能に支持する第1、第2及び第3の
支持機構70、71,72と、前記粘着シート40,4
1,42に半導体ウエハWを搬入する搬入機構80と、
前記粘着シート40、41、42から前記半導体ウエハ
Wを搬出する搬出機構90とから構成されている。
【0074】各送出し機構50、51,52は、回転可
能な棒状の支持軸55aからなり、各支持機構70、7
1、72の下方に配置されている。各支持軸55aに
は、各粘着シート40、41、42が巻回されている。
各粘着シート40、41、42は、上面に、例えば低不
純物アクリル系の粘着層を設けたポリエチレンテレフタ
テート(一般に、PETと称される)からなり、ここで
は、約直径20cmの前記半導体ウエハWを洗浄できる
ように、例えば、約10cmの幅を、各々、有してい
る。
【0075】各巻取り機構60、61,62は、回転可
能な棒状の支持軸65aからなり、各支持機構70、7
1、72の下方に配置されており、各送出し機構50、
51、5から送り出された各粘着シート40、41、4
2を巻き取るようになっている。
【0076】各支持機構70、71、72は、支持体と
しての複数個のローラ75から構成され、各ローラ75
は、各粘着シート40、41、42の下方に配置され、
各粘着シート40、41、42を水平に保持し、且つ各
粘着シート40、41、42が各巻取り機構60、6
1、62により引張られた際、各粘着シート40、4
1、42の移動に伴い回転可能に設けられている。ま
た、各ローラ75は、前記第1、第2及び第3の粘着シ
ート40、41、42により、前記半導体ウエハWを洗
浄処理する所定面積の平坦領域76を形成するために、
同一平面をなすように並置され、しかも隣接する2個で
前記半導体ウエハWを支持すると共に所定面積を構成す
ように所定間隔で所定個数配置している。ここでは、一
例として、例えば約20cmの前記半導体ウエハWを洗
浄処理できるように、6個の前記ローラ75を、約5c
m間隔で並置して、幅約30cm×長さ約25cmの前
記平坦領域76を形成している。
【0077】前記搬入機構80は、前記半導体ウエハW
を搬送するためのベルト81、このベルト81が巻回さ
れたローラ82、及び図示しない駆動機構から構成さ
れ、前記駆動機構により前記ベルト81を矢印方向に移
動させることにより、前記半導体ウエハWを前記支持機
構70、71,72における前記粘着シート40、4
1,42上に供給するようになっている。
【0078】また、前記搬出機構90は、前記搬入機構
80と同様に、ベルト81、ローラ82及び図示しない
駆動機構で構成され、前記駆動機構により前記ベルト8
1を矢印方向に移動させることにより、前記支持機構7
0、71、72洗浄処理された前記半導体ウエハWを受
け取り、次工程あるいはウエハキャリアへ移送される。
【0079】次に、上記洗浄装置を用いて外周端縁部に
ベベル面を有する半導体ウエハの裏面及びベベル面の洗
浄方法について、図9、図11及び図12を参照して説
明する。
【0080】まず、各支持機構70、71、72の各粘
着シート40、41、42を同一平面をなすように同じ
高さにし、半導体ウエハWを洗浄処理するための平坦領
域76を形成する。また、各送出し機構50,51,5
2及び各巻取り機構60、61、62を等速回転させ、
各粘着シート40,41,42の送出し及び巻取りを等
速で行ない、各粘着シート40,41,42をあたかも
1枚の粘着シートの如く移動させるように設定する。
【0081】次いで、前記搬入機構80により前記半導
体ウエハWを前記粘着シート40、41,42の手前ま
で搬送し、前記半導体ウエハWの一端部裏面を前記粘着
シート40、41、42で形成する前記平坦領域76上
に載置し、前記粘着シート40、41、42に接着さ
せ、各送出し機構50、51、52及び各巻取り機構6
0、61、62を等速駆動して、図中の矢印で示すよう
に、前記平坦領域76の前記粘着シート40、41、4
2を等速移動させる。
【0082】前記粘着シート40、41、42の移動に
伴って前記半導体ウエハWの裏面が一端部から他端部へ
と向かって、順次、前記粘着シート40、41、42に
接着されて、前記平坦領域76上において、前記半導体
ウエハWの裏面全体が前記粘着シート40、41、42
に接着され、その裏面全体の微粒子が前記粘着シート4
0、41、42に付着されることにより、前記半導体ウ
エハWの裏面の清浄化が行なわれる。
【0083】次いで、図12に示すように、前記第3の
支持機構72を垂直方向に上昇移動させ、前記第1の粘
着シート40上面に前記半導体ウエハWの外周縁部の一
部のベベル面を接触させ、且つ前記第3の粘着シート7
2に前記外周縁部の一部と反対側面部を接触させて前記
半導体ウエハWを傾斜状態に支持する。
【0084】そして、前記第1の粘着シート40と前記
第3の粘着シート42とを相対的に異なる移動速度でも
って移動させ、前記半導体ウエハWを回転させる。ここ
では、前記第1の粘着シート40のみ、前記送出し機構
50及び巻取り機構60を駆動させて、図12中の矢印
で示すように、移動させることにより、前記半導体ウエ
ハWを矢印方向に少なくと1回転させる。これにより、
前記半導体ウエハWの外周縁全てのベベル面が前記第1
の粘着シート40に接着され、ベベル面の微粒子が前記
粘着シート40に付着され、ベベル面の清浄化が行われ
る。
【0085】次いで、図11に示すように、前記第3の
支持機構72を下降させて元の状態に戻し、前記粘着シ
ート40、41、42を平坦にし、前記半導体ウエハW
を前記平坦領域76に接着させた後、各送出し機構5
0、51、52及び各巻取り機構60、61、62を等
速駆動して、前記平坦領域76の前記粘着シート40、
41、42を等速移動させ、前記半導体ウエハWを移動
させる。
【0086】前記粘着シート40、41、42が最終の
前記ローラ75を通過する際、前記半導体ウエハWは、
徐々に前記粘着シート40、41、42と分離され、前
記粘着シート40、41、42は、各巻取り機構60,
61,62の支持軸65aに巻取られ、前記半導体ウエ
ハWは、徐々に前記搬出機構90上に移動され、最後に
は、裏面及びベベル面が清浄化された前記半導体ウエハ
が前記搬出機構90によって受取られて保持され、次工
程あるいはウエハキャリアへ移送されることになる。
【0087】上記実施形態の半導体ウエハの洗浄方法及
び洗浄装置によれば、まず、各粘着シート40、41、
42を同一平面をなすように同じ高さにし、半導体ウエ
ハWを洗浄処理するための平坦領域76を形成すると共
に、各粘着シート40,41,42を等速移動させて、
1枚の粘着シートの如く機能させるように設定した状態
で、半導体ウエハWの一端部裏面を前記平坦領域76上
に載置し、前記粘着シート40、41、42に接着さ
せ、前記平坦領域76上における前記粘着シート40、
41、42を等速移動させて、前記半導体ウエハWを、
その一端部から他端部にかけて、順次、前記粘着シート
40、41、42に接着させ、前記平坦部76上におい
て、裏面全体を接着させて、前記半導体ウエハ裏面全体
の微粒子を前記粘着シート40、41、42に付着させ
ることにより、前記半導体ウエハWの裏面の清浄化を行
なう。
【0088】次いで、前記第3の支持機構72を垂直方
向に上昇移動させ、前記第1の粘着シート40上面に前
記半導体ウエハWの外周縁部の一部のベベル面を接触さ
せ、且つ前記第3の粘着シート72に前記外周縁部の一
部と反対側面部を接触させて前記半導体ウエハWを傾斜
状態に支持した後、前記第1の粘着シート40のみ、前
記送出し機構50及び巻取り機構60を駆動させて、移
動させることにより、前記半導体ウエハWを少なくと1
回転させて、前記半導体ウエハWの外周縁全てのベベル
面を前記第1の粘着シート40に接着させて、ベベル面
の微粒子を前記粘着シート40に付着させ、ベベル面の
清浄化を行う。
【0089】従って、外周縁部にべベル面を有する半導
体ウエハの裏面及びべベル面の洗浄を、同時に、且つ簡
単に行える。
【0090】また、この実施形態の洗浄装置によれば、
半導体ウエハの裏面及びべべル面の洗浄が、常に新たな
粘着シート部分で行われるため、先の半導体ウエハ裏面
及びべべル面から除去した微粒子が後の被洗浄半導体ウ
エハに再付着することがない。従って、粘着シートを清
浄化する格別な機構も必要がなく、洗浄装置が小型化と
なり、また、洗浄時間も短く、洗浄能力も極めて高い。
【0091】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく、特許請求の範囲を逸脱しない範囲で、種々、
変形できることは勿論である。
【0092】例えば、上記第2の実施形態では、支持機
構のローラの径大部は、半導体ウエハの搬入側から搬出
側に向かうに従って、徐々に、ローラの中央部から外側
の位置に設けているが、逆に、徐々に、ローラの外側か
ら中央部の位置に設けても良い。
【0093】また、上記第4の実施形態では、ベベル面
の清浄化する際、傾斜状態の半導体ウエハを、第1の粘
着シートのみを移動させることにより回転させたが、第
1と第3の粘着シートとを相対的に異なる移動速度でも
って移動させることにより回転させても良い。
【0094】
【発明の効果】上記したように、本発明によれば、半導
体基板の洗浄は、常に新たな粘着シート部分で行われる
ため、先の半導体基板裏面又はベベル面から除去した微
粒子が後の被洗浄半導体基板に再付着することがない。
【0095】また、洗浄装置によれば、常に新たな粘着
シート部分で行われるため、先の半導体基板裏面から除
去した微粒子が後の被洗浄半導体基板に再付着すること
がない。従って、粘着シートを清浄化する格別な機構も
必要がなく、洗浄装置が小型化となり、また、洗浄時間
も短く、洗浄能力も極めて高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置の構成を模式的に示す斜視図である。
【図2】図1の洗浄装置のA−A’線に沿って切断し、
矢印方向より眺めた縦断面図である。
【図3】図1の洗浄装置のB−B’線に沿って切断し、
矢印方向より眺めた縦断面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置における支持機構を示す平面図である。
【図5】本発明の第2の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置におけるローラ部分を示す平面図である。
【図6】本発明の第2の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置におけるローラを示す斜視図である。
【図7】本発明の第3の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置の構成を模式的に示す斜視図である。
【図8】本発明の第3の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置におけるローラと半導体基板との接着状態を示
す模式図である。
【図9】本発明の第4の実施形態に係わる半導体基板の
洗浄装置の構成を模式的に示す斜視図である。
【図10】図9の洗浄装置のB−B’線に沿って切断
し、矢印方向より眺めた縦断面図である。
【図11】図9の洗浄装置における半導体基板の洗浄方
法を説明するための模式図である。
【図12】図9の洗浄装置における半導体基板の洗浄方
法を説明するための模式図である。
【図13】従来の半導体基板の洗浄装置の断面図であ
る。
【図14】従来の半導体基板の洗浄装置の上面図であ
る。
【符号の説明】
1…粘着シート、 2…送出し機構、 2a、3a…支持軸 3…巻取り機構、 4…支持機構、 5…搬入機構、 6…搬出機構、 7、11、20、30、75、82…ローラ、 8、76…平坦領域、 10、81、115…ベルト、 20a…径大部、 40…第1の粘着シート、 41…第2の粘着シート、 42…第3の粘着シート、 50…第1の送出し機構、 51…第2の送出し機構、 52…第3の送出し機構、 55a、65a…支持軸、 60…第1の巻取り機構、 61…第2の巻取り機構、 62…第3の巻取り機構、 70…第1の支持機構、 71…第2の支持機構、 72…第3の支持機構、 80…搬入機構、 90…搬出機構、 112…回転ローラ、 113…細孔、 114…粘着剤、 W…半導体ウエハ(半導体基板)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川端 研二 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 株 式会社東芝横浜事業所内 Fターム(参考) 3B116 AA03 AB01 AB14 BA01 BA22

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上面が粘着性を有する粘着シートを、順
    次、送出し、且つ巻取る工程と、 前記粘着シートに半導体基板の一端縁部を接着させる工
    程と、前記粘着シートを移動させ、前記半導体基板をそ
    の一端縁部から他端縁部にかけて、順次、前記粘着シー
    トに接着させる工程と、 前記粘着シートに一端縁部から他端縁部にかけて接着さ
    れた、前記半導体基板を前記粘着シートから剥離する工
    程とを具備してなることを特徴とする半導体基板の洗浄
    方法。
  2. 【請求項2】中央部から両端部に向かって径大に形成さ
    れた棒状ローラに、上面が粘着性を有する粘着シートを
    巻回し、当該粘着シートを、順次、送出し、且つ巻取る
    工程と、 前記粘着シートに半導体基板の一端縁部を接着させる工
    程と、 前記粘着シートを移動させ、前記半導体基板をその一端
    縁部から他端縁部にかけて、順次、前記粘着シートに接
    着させる工程と、 前記粘着シートに一端縁部から他端縁部にかけて接着さ
    れた、前記半導体基板を前記粘着シートから剥離する工
    程とを具備してなることを特徴とする半導体基板の洗浄
    方法。
  3. 【請求項3】前記半導体基板が、外周端縁部にベベル面
    を有することを特徴とする請求項2記載の半導体基板の
    洗浄方法。
  4. 【請求項4】前記半導体基板が、湾曲していることを特
    徴とする請求項2記載の半導体板の洗浄方法。
  5. 【請求項5】上面が粘着性を有し、順次、送出し、且つ
    巻取られる複数の粘着シートが並置されてなり、前記複
    数の粘着シートに半導体基板を接着させる工程と、 前記複数の粘着シートを垂直方向に相対的に移動させ、
    一方の前記粘着シート上面に前記半導体基板の外周縁部
    の一部を接触させ、且つ他方の前記粘着シートに前記外
    周縁部の一部と反対側面部を接触させて前記半導体基板
    を傾斜状態で支持する工程と、 前記複数の粘着シートを相対的に異なる移動速度でもっ
    て移動させ、前記半導体基板を回転させる工程と、 前記半導体基板を、少なくとも1回転させた後、前記半
    導体基板を前記粘着シートから剥離する工程とを具備し
    てなることを特徴とする半導体基板の洗浄方法。
  6. 【請求項6】前記半導体基板が、外周端縁部にベベル面
    を有することを特徴とする請求項5記載の半導体基板の
    洗浄方法。
  7. 【請求項7】上面が粘着性を有する粘着シートを送り出
    す送出し機構と、 前記送出し機構から送り出された前記粘着シートを巻き
    取る巻取り機構と、 前記送出し機構と前記巻取り機構との間で、前記粘着シ
    ートの下方に配置され、且つ前記粘着シートを移動可能
    に支持する支持機構と、 前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、 前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを
    具備し、前記搬入機構により半導体基板の一端縁部を前
    記粘着シートに接着させ、前記粘着シートを移動させる
    と共に、前記半導体基板を前記一端縁部から他端縁部に
    向かって順次、前記粘着シートに接着させた後、前記粘
    着シートから剥離される前記半導体基板を前記搬出機構
    により搬出してなることを特徴とする洗浄装置。
  8. 【請求項8】前記支持機構は、ローラからなることを特
    徴とする請求項7に記載の洗浄装置。
  9. 【請求項9】前記支持機構は、複数個のローラから構成
    してなり、前記ローラは、同一平面をなすように並置し
    てなることを特徴とする請求項7に記載の洗浄装置。
  10. 【請求項10】上面が粘着性を有する粘着シートを送り
    出す送出し機構と、 前記送出し機構から送り出された前記粘着シートを巻き
    取る巻取り機構と、 前記送出し機構と前記巻取り機構との間で、前記粘着シ
    ートの下方に並置され、且つ前記粘着シートを水平に移
    動可能に支持する複数個の支持体を備えた支持機構と、 前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、 前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを
    具備し、前記搬入機構により半導体基板の一端縁部を前
    記粘着シートに接着させ、前記粘着シートを移動させる
    と共に、前記支持機構上において前記半導体基板を前記
    一端縁部から他端縁部に向かって順次、前記粘着シート
    に接着させた後、前記粘着シートから剥離される前記半
    導体基板を前記搬出機構により搬出してなることを特徴
    とする洗浄装置。
  11. 【請求項11】前記支持体は、ローラであることを特徴
    とする請求項10に記載の洗浄装置。
  12. 【請求項12】前記支持体は、ローラからなり、前記複
    数個のローラは、同一平面をなすように並置してなるこ
    とを特徴とする請求項10に記載の洗浄装置。
  13. 【請求項13】上面が粘着性を有する粘着シートを送り
    出す送出し機構と、 前記送出し機構から送り出された前記粘着シートを巻き
    取る巻取り機構と、 前記送出し機構と前記巻取り機構との間の前記粘着シー
    ト下方に配置されて前記粘着シートを移動可能に支持
    し、且つ中央部から両端部に向かって径大に形成された
    棒状ローラと、 前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、 前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを
    具備し、前記搬入機構により半導体基板の一端縁部を前
    記粘着シートに接着させ、前記粘着シートを移動させる
    と共に、前記半導体基板を前記一端縁部から他端縁部に
    向かって順次、前記粘着シートに接着させた後、前記粘
    着シートから剥離される前記半導体基板を前記搬出機構
    により搬出してなることを特徴とする洗浄装置。
  14. 【請求項14】前記半導体基板が、外周端縁部にベベル
    面を有することを特徴とする請求項13記載の半導体基
    板の洗浄装置。
  15. 【請求項15】前記半導体基板が、湾曲していることを
    特徴とする請求項13記載の半導体基板の洗浄装置。
  16. 【請求項16】上面が粘着性を有し、且つ垂直方向に並
    置された複数の粘着シートと、 前記複数の粘着シートを、各々、順次、送り出す複数の
    送出し機構と、 前記複数の粘着シートを、各々、順次、巻き取る複数の
    巻取り機構と、 前記送出し機構と前記巻取り機構の各々の間の前記粘着
    シートの下方に、各々、並置され、前記粘着シートを、
    各々、水平方向に移動可能に支持すると共に垂直方向に
    相対的に移動可能に支持する複数個の支持体を備えた複
    数の支持機構と、 前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、 前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを
    具備し、前記搬送機構により複数の前記粘着シートに半
    導体基板を接着させ、複数の前記粘着シートを垂直方向
    に相対的に移動させ、一方の前記粘着シート上面に半導
    体基板の外周縁部の一部を接触させ、且つ他方の前記粘
    着シートに前記外周縁部の一部と反対側面部を接触させ
    て前記半導体基板を傾斜状態で支持し、複数の前記粘着
    シートを相対的に異なる移動速度でもって移動させ、前
    記半導体基板を回転させ、前記半導体基板を、少なくと
    も1回転させた後、前記搬出機構により前記半導体基板
    を前記粘着シートから搬出することを特徴とする洗浄装
    置。
  17. 【請求項17】前記半導体基板が、外周端縁部にベベル
    面を有することを特徴とする請求項16記載の半導体基
    板の洗浄装置。
  18. 【請求項18】上面が粘着性を有する粘着シートを送り
    出す送出し機構と、 前記送出し機構から送り出された前記粘着シートを巻き
    取る巻取り機構と、 前記送出し機構と前記巻取り機構との間で、前記粘着シ
    ートの下方に並置され、且つ前記粘着シートを水平に移
    動可能に支持する複数個の支持体を備えた支持機構と、 前記粘着シートに半導体基板を搬入する搬入機構と、 前記粘着シートから半導体基板を搬出する搬出機構とを
    具備し、前記複数個の支持体は、各々、支持体の一部に
    径大部を持ち、前記径大部が搬入側から搬出側に向かう
    にしたがって、徐々に、外側又は内側の位置に設けられ
    ていることを特徴とする洗浄装置。
  19. 【請求項19】前記支持体は、ローラであることを特徴
    とする請求項18に記載の洗浄装置。
  20. 【請求項20】前記支持体は、ローラからなり、複数個
    の前記ローラは、同一平面をなすように並置してなるこ
    とを特徴とする請求項18に記載の洗浄装置。
JP2000271000A 2000-09-07 2000-09-07 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置 Pending JP2002083795A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000271000A JP2002083795A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000271000A JP2002083795A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002083795A true JP2002083795A (ja) 2002-03-22

Family

ID=18757347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000271000A Pending JP2002083795A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002083795A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2007-01-18 Creative Technology Corporation 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
JP2007157902A (ja) * 2005-12-02 2007-06-21 Tokyo Electron Ltd 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置
JP2010166043A (ja) * 2008-12-17 2010-07-29 Toho Kasei Kk ウェハ端部処理装置
JP2015031407A (ja) * 2013-07-31 2015-02-16 株式会社安川電機 作業用キャビネット及びシート材
US20150371879A1 (en) * 2014-06-19 2015-12-24 Applied Materials, Inc. Roll to roll wafer backside particle and contamination removal
CN116169046A (zh) * 2022-12-30 2023-05-26 华海清科股份有限公司 一种晶圆清洗方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101223637B (zh) * 2005-07-12 2012-01-18 创意科技股份有限公司 基板的异物去除装置以及基板的异物去除方法
TWI420579B (zh) * 2005-07-12 2013-12-21 Creative Tech Corp And a foreign matter removing method for a substrate
JPWO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2009-01-29 株式会社クリエイティブ テクノロジー 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
KR101202559B1 (ko) * 2005-07-12 2012-11-19 가부시키가이샤 크리에이티브 테크놀러지 기판의 이물 제거장치 및 기판의 이물 제거방법
WO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2007-01-18 Creative Technology Corporation 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
JP4616346B2 (ja) * 2005-07-12 2011-01-19 株式会社クリエイティブ テクノロジー 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
US8196594B2 (en) 2005-07-12 2012-06-12 Creative Technology Corporation Apparatus for removing foreign material from substrate and method for removing foreign material from substrate
JP4607748B2 (ja) * 2005-12-02 2011-01-05 東京エレクトロン株式会社 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置
KR101061637B1 (ko) * 2005-12-02 2011-09-01 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판의 파티클 제거 방법, 그 장치 및 도포, 현상 장치
JP2007157902A (ja) * 2005-12-02 2007-06-21 Tokyo Electron Ltd 基板のパーティクル除去方法、その装置及び塗布、現像装置
JP2010166043A (ja) * 2008-12-17 2010-07-29 Toho Kasei Kk ウェハ端部処理装置
JP2015031407A (ja) * 2013-07-31 2015-02-16 株式会社安川電機 作業用キャビネット及びシート材
US20150371879A1 (en) * 2014-06-19 2015-12-24 Applied Materials, Inc. Roll to roll wafer backside particle and contamination removal
US9815091B2 (en) * 2014-06-19 2017-11-14 Applied Materials, Inc. Roll to roll wafer backside particle and contamination removal
CN116169046A (zh) * 2022-12-30 2023-05-26 华海清科股份有限公司 一种晶圆清洗方法
CN116169046B (zh) * 2022-12-30 2024-03-29 华海清科股份有限公司 一种晶圆清洗方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4964107B2 (ja) 剥離装置
JPH0887007A (ja) 偏光板の貼り付け装置
JPH09285958A (ja) ウェーハの研磨装置システム
JP2000232080A (ja) 被加工物の分割システム及びペレットの移し替え装置
JP2002023151A (ja) 偏光板を備える液晶表示装置の製造方法及び製造装置
JP3960087B2 (ja) 搬送装置
JP2002050655A (ja) チップ実装方法及びこれに用いられる基板洗浄装置
JP3478075B2 (ja) レーザ加工用クリーナ
JP2003170124A (ja) 板状チップの表面洗浄方法及び装置
JP2002083795A (ja) 半導体基板の洗浄方法およびその洗浄装置
JP2007184495A (ja) ウエーハリングの再生処理装置
JP6848636B2 (ja) 基板周縁部のクリーニング装置、基板周縁部のクリーニング方法及び記憶媒体
CN112251754B (zh) 印刷电路板的处理方法
JP2002126659A (ja) 薄膜パターン形成方法とその装置
JP3335154B2 (ja) 半導体ウエーハを洗浄するする装置及び方法
JP2002096038A (ja) 基板の処理装置
JP3834469B2 (ja) 基板搬送システム及びそれを用いた基板搬送方法
JPH09162159A (ja) 回転式基板乾燥装置
JP2008066522A (ja) 基板貼合せ方法およびこれを用いた装置
JP2010064893A (ja) 基板搬送装置、基板搬送方法、及び、クリーニング方法
JPH07240453A (ja) 半導体ウエハ加工装置
JP2004079614A (ja) ワークの処理方法及びその処理装置
JPH09326377A (ja) 基板処理装置
JP4632632B2 (ja) 粘着テープ貼付け方法およびその装置
JPH10275787A (ja) ウェーハの研磨装置システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040123

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050414

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050606

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060516

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061020

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070302