JP2002054914A - ころ軸受のスキュー測定装置 - Google Patents
ころ軸受のスキュー測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 実際の使用状態と同様に公転しているころの
スキューを経時的に測定することのできるころ軸受のス
キュー測定装置を提供する。 【解決手段】 ころ軸受Ｂの一端面側から、ころ３の一
端面の公転軌跡に沿った円環状の断面のレーザ光Ｌｃを
照射するとともに、各ころ３のうち少なくとも一つのこ
ろ３による反射光を、受光位置情報を出力可能な受光手
段６ｂによって受光し、その刻々の位置情報から演算手
段７によって特定のころ３のスキュー情報を得る。
スキューを経時的に測定することのできるころ軸受のス
キュー測定装置を提供する。 【解決手段】 ころ軸受Ｂの一端面側から、ころ３の一
端面の公転軌跡に沿った円環状の断面のレーザ光Ｌｃを
照射するとともに、各ころ３のうち少なくとも一つのこ
ろ３による反射光を、受光位置情報を出力可能な受光手
段６ｂによって受光し、その刻々の位置情報から演算手
段７によって特定のころ３のスキュー情報を得る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はころ軸受のころのス
キュー（ころ倒れ）を測定する装置に関する。
キュー（ころ倒れ）を測定する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】円錐ころ軸受や円筒ころ軸受、あるいは
針状ころ軸受においては、ころの軸が進行方向に対して
正しく直交せずに、周方向に倒れる、いわゆるスキュー
を生じることがある。このようなスキューが発生する
と、振動・騒音の発生と入った軸受の回転性能が劣化す
るばかりでなく、滑りの発生による偏磨耗や焼付き等が
発生して軸受が損傷してしまうこともある。
針状ころ軸受においては、ころの軸が進行方向に対して
正しく直交せずに、周方向に倒れる、いわゆるスキュー
を生じることがある。このようなスキューが発生する
と、振動・騒音の発生と入った軸受の回転性能が劣化す
るばかりでなく、滑りの発生による偏磨耗や焼付き等が
発生して軸受が損傷してしまうこともある。
【０００３】このようなスキューの発生を実験的に調査
し、あるいは、実機においてスキューの発生を未然に防
止すべくスキューを刻々と測定する装置が種々研究され
ている。
し、あるいは、実機においてスキューの発生を未然に防
止すべくスキューを刻々と測定する装置が種々研究され
ている。
【０００４】従来のころ軸受のスキュー測定装置として
は、起電力あるいは渦電流を利用したセンサＳを用いた
図４および図５にそれぞれ要部断面図を示すものが知ら
れている。
は、起電力あるいは渦電流を利用したセンサＳを用いた
図４および図５にそれぞれ要部断面図を示すものが知ら
れている。
【０００５】図４に示すものは、内輪４１と外輪４２お
よびこれらの間に転動自在に設けられた複数の円すいこ
ろ４３を備えた円すいころ軸受において、外輪４２の軌
道面４２ａに軸方向に所定の間隔を開けて２つのセンサ
Ｓ１，Ｓ２を埋め込み、円すいころ４３が２つのセンサ
Ｓ１，Ｓ２の配設位置を通過したときの各センサＳ１お
よびＳ２の出力差から、円すいころ４３のスキューを測
定するように構成されている。
よびこれらの間に転動自在に設けられた複数の円すいこ
ろ４３を備えた円すいころ軸受において、外輪４２の軌
道面４２ａに軸方向に所定の間隔を開けて２つのセンサ
Ｓ１，Ｓ２を埋め込み、円すいころ４３が２つのセンサ
Ｓ１，Ｓ２の配設位置を通過したときの各センサＳ１お
よびＳ２の出力差から、円すいころ４３のスキューを測
定するように構成されている。
【０００６】一方、図５に示すものは、同じく内輪５１
と外輪５２および円すいころ５３からなる円すいころ軸
受において、円すいころ５３の大端面に近接して２つの
センサＳを固定配置し、その大端面の傾きの変化を捉え
ることによって円すいころ５３のスキューを測定するよ
うに構成されている。この図５の測定装置においては、
固定されたセンサＳを用いて経時的にスキューを測定す
るために、内輪５１と外輪５２を逆向きに回転させるこ
とにより、円すいころ５３が公転しないようにし、１つ
の円すいころ５３の大端面を常時センサＳに対向させて
測定するように構成されている。
と外輪５２および円すいころ５３からなる円すいころ軸
受において、円すいころ５３の大端面に近接して２つの
センサＳを固定配置し、その大端面の傾きの変化を捉え
ることによって円すいころ５３のスキューを測定するよ
うに構成されている。この図５の測定装置においては、
固定されたセンサＳを用いて経時的にスキューを測定す
るために、内輪５１と外輪５２を逆向きに回転させるこ
とにより、円すいころ５３が公転しないようにし、１つ
の円すいころ５３の大端面を常時センサＳに対向させて
測定するように構成されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、以上の従来
のころ軸受のスキュー測定装置のうち、図４に示したも
のでは、円すいころ４３がセンサＳ１，Ｓ２の配設位置
を通過した瞬間におけるスキューしか測定できず、スキ
ューの経時的な変化を測定できないという欠点がある。
のころ軸受のスキュー測定装置のうち、図４に示したも
のでは、円すいころ４３がセンサＳ１，Ｓ２の配設位置
を通過した瞬間におけるスキューしか測定できず、スキ
ューの経時的な変化を測定できないという欠点がある。
【０００８】一方、図５に示したものは、スキューの経
時的な変化の測定は一応可能であるが、円すいころ５３
が公転しない状態でのスキューの測定であるため、円す
いころ５３が公転する実際の使用状態におけるスキュー
の測定ができないという欠点がある。また、センサＳと
円すいころ５３の大端面とのギャップ調整等に手間がか
かるという問題もある。
時的な変化の測定は一応可能であるが、円すいころ５３
が公転しない状態でのスキューの測定であるため、円す
いころ５３が公転する実際の使用状態におけるスキュー
の測定ができないという欠点がある。また、センサＳと
円すいころ５３の大端面とのギャップ調整等に手間がか
かるという問題もある。
【０００９】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、実際の使用状態と同様に公転しているころのス
キューを、経時的に測定することのできるころ軸受のス
キュー測定装置の提供を目的としている。
もので、実際の使用状態と同様に公転しているころのス
キューを、経時的に測定することのできるころ軸受のス
キュー測定装置の提供を目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のころ軸受のスキュー測定装置は、ころ軸受
の回転中におけるころのスキューを測定する装置であっ
て、ころ軸受の一端面側から、当該ころ軸受の回転時に
おけるころの一端面の公転軌跡に沿った円環状の断面の
レーザ光を照射する照射光学系と、当該ころ軸受に組み
込まれている複数のころのうち、少なくとも一つの特定
のころにより反射されるレーザ光を受光してその受光位
置情報を出力し得る受光手段と、その受光手段の出力に
含まれる刻々の受光位置情報から上記特定のころのスキ
ュー情報を得る演算手段を備えていることによって特徴
づけられる。
め、本発明のころ軸受のスキュー測定装置は、ころ軸受
の回転中におけるころのスキューを測定する装置であっ
て、ころ軸受の一端面側から、当該ころ軸受の回転時に
おけるころの一端面の公転軌跡に沿った円環状の断面の
レーザ光を照射する照射光学系と、当該ころ軸受に組み
込まれている複数のころのうち、少なくとも一つの特定
のころにより反射されるレーザ光を受光してその受光位
置情報を出力し得る受光手段と、その受光手段の出力に
含まれる刻々の受光位置情報から上記特定のころのスキ
ュー情報を得る演算手段を備えていることによって特徴
づけられる。
【００１１】ここで、本発明において、受光手段に対し
て特定のころにより反射されるレーザ光のみを導く手法
として、例えば、断面円環状のレーザ光をころの端面中
央部のぬすみ部に照射するように設定するとともに、ス
キューを測定すべき特定のころのぬすみ部のみを鏡面に
研磨する方法等を採用することができる。
て特定のころにより反射されるレーザ光のみを導く手法
として、例えば、断面円環状のレーザ光をころの端面中
央部のぬすみ部に照射するように設定するとともに、ス
キューを測定すべき特定のころのぬすみ部のみを鏡面に
研磨する方法等を採用することができる。
【００１２】また、本発明において、受光位置情報を出
力し得る受光手段としては、例えばＣＣＤ等を用いるこ
とができる。
力し得る受光手段としては、例えばＣＣＤ等を用いるこ
とができる。
【００１３】本発明は、公転中のころの端面に常時レー
ザ光を照射して得られる刻々の反射光の位置情報から、
ころのスキューを経時的に測定することによって所期の
目的を達成するものである。
ザ光を照射して得られる刻々の反射光の位置情報から、
ころのスキューを経時的に測定することによって所期の
目的を達成するものである。
【００１４】すなわち、ころ軸受の一端側からころの端
面に対して、軸受回転時におけるころの端面の軌跡に沿
った断面円環状のレーザ光を照射すると、各ころの端面
には、軸受回転による公転中において常時レーザ光が照
射された状態となる。軸受に組み込まれている複数のこ
ろのうちの特定の１個ないしは複数個のころの端面のみ
を、例えば上記したように研磨する等によってレーザ光
を反射するようにしておくと、その特定のころは公転中
の姿勢に応じた角度でレーザ光を反射する。その反射光
を、ＣＣＤ等の受光手段により受光することにより、特
定のころの公転中における刻々の姿勢に係る情報が得ら
れ、その受光手段の出力からその特定のころの刻々のス
キューを求めることができる。
面に対して、軸受回転時におけるころの端面の軌跡に沿
った断面円環状のレーザ光を照射すると、各ころの端面
には、軸受回転による公転中において常時レーザ光が照
射された状態となる。軸受に組み込まれている複数のこ
ろのうちの特定の１個ないしは複数個のころの端面のみ
を、例えば上記したように研磨する等によってレーザ光
を反射するようにしておくと、その特定のころは公転中
の姿勢に応じた角度でレーザ光を反射する。その反射光
を、ＣＣＤ等の受光手段により受光することにより、特
定のころの公転中における刻々の姿勢に係る情報が得ら
れ、その受光手段の出力からその特定のころの刻々のス
キューを求めることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明を円すいこ
ろ軸受のスキュー測定に適用した実施の形態の全体構成
図で、機械的・光学的構成を表す模式図と、電気的構成
を表すブロック図とを併記して示す図である。また、図
２はそのＡ矢視図である。
実施の形態について説明する。図１は本発明を円すいこ
ろ軸受のスキュー測定に適用した実施の形態の全体構成
図で、機械的・光学的構成を表す模式図と、電気的構成
を表すブロック図とを併記して示す図である。また、図
２はそのＡ矢視図である。
【００１６】測定対象である円すいころ軸受Ｂは、内輪
１、外輪２およびこれらの間に転動自在に配置された複
数の円すいころ３、およびその各円すいころ３を周方向
一定のピッチで保持する保持器４によって構成されお
り、軸受Ｂの回転時において各円すいころ３は、その転
動面３ａが内輪１の軌道面１ａ並びに外輪２の軌道面２
ａを転動しながら、大端面３ｂが内輪１の鍔面１ｂに当
接しながら公転する。
１、外輪２およびこれらの間に転動自在に配置された複
数の円すいころ３、およびその各円すいころ３を周方向
一定のピッチで保持する保持器４によって構成されお
り、軸受Ｂの回転時において各円すいころ３は、その転
動面３ａが内輪１の軌道面１ａ並びに外輪２の軌道面２
ａを転動しながら、大端面３ｂが内輪１の鍔面１ｂに当
接しながら公転する。
【００１７】各円すいころ３の大端面３ｂには、その中
央部分にぬすみ部３ｃが形成されている。そして、各円
すいころ３のうち、図２においてＭで示される特定の１
個の円すいころ３についてのみ、そのぬすみ部３ｂが研
磨加工によって鏡面に仕上げられており、他の円すいこ
ろ３のぬすみ部３ｂは熱処理のままとなっている。
央部分にぬすみ部３ｃが形成されている。そして、各円
すいころ３のうち、図２においてＭで示される特定の１
個の円すいころ３についてのみ、そのぬすみ部３ｂが研
磨加工によって鏡面に仕上げられており、他の円すいこ
ろ３のぬすみ部３ｂは熱処理のままとなっている。
【００１８】さて、この円すいころ軸受Ｂの大端面側
に、レーザ光の照射光学系５と反射光の検出光学系６が
配置されている。照射光学系５は、図３にその構成例を
模式的に示すように、レーザ光源５ａと、そのレーザ光
源５ａの出力光を平行光束とするコリメートレンズ５ｂ
と、そのコリメートレンズ５ｂを経た平行レーザ光を軸
線に沿って入射するとともに、その入射面が軸線に対し
て所定の斜めの角度にカットされた光ファイバ５ｃと、
その光ファイバ５ｃを通過することによって断面が環状
で、かつ、円錐状に広がりを持つレーザ光を、断面が環
状の平行なレーザ光、つまり円筒状のレーザ光Ｌｃに変
換する円錐プリズム５ｄを主体として構成されている。
光ファイバ５ｃのレーザ光入射面を所定の斜めの角度に
カットすることにより断面が円環状で円錐状に広がるレ
ーザ光が得られることは公知である（K.Iga et.al.,"Fa
ndamentals of Microoptics", Academic Press/Ohm-sh
a.NewYork,1984 およびJ.E.Batubara et.al.,"Image tr
ansmission by a step-indexmultimode fiber", Ipn.J.
Appl.Phys.,Vol.21,No.12.pp.L749-751 Dec.1984) 。
に、レーザ光の照射光学系５と反射光の検出光学系６が
配置されている。照射光学系５は、図３にその構成例を
模式的に示すように、レーザ光源５ａと、そのレーザ光
源５ａの出力光を平行光束とするコリメートレンズ５ｂ
と、そのコリメートレンズ５ｂを経た平行レーザ光を軸
線に沿って入射するとともに、その入射面が軸線に対し
て所定の斜めの角度にカットされた光ファイバ５ｃと、
その光ファイバ５ｃを通過することによって断面が環状
で、かつ、円錐状に広がりを持つレーザ光を、断面が環
状の平行なレーザ光、つまり円筒状のレーザ光Ｌｃに変
換する円錐プリズム５ｄを主体として構成されている。
光ファイバ５ｃのレーザ光入射面を所定の斜めの角度に
カットすることにより断面が円環状で円錐状に広がるレ
ーザ光が得られることは公知である（K.Iga et.al.,"Fa
ndamentals of Microoptics", Academic Press/Ohm-sh
a.NewYork,1984 およびJ.E.Batubara et.al.,"Image tr
ansmission by a step-indexmultimode fiber", Ipn.J.
Appl.Phys.,Vol.21,No.12.pp.L749-751 Dec.1984) 。
【００１９】この光ファイバ５ｃを経たレーザ光を円錐
プリズム５ｄを通過させることにより断面円環状の平行
光束とされたレーザ光Ｌｃの断面の円環の直径は、図２
に示すように、軸受Ｂの保持器４の大端面側の直径より
も僅かに小さく、また、そのレーザ光の光軸は軸受Ｂの
中心と一致しており、この断面円環状のレーザ光Ｌｃ
は、円すいころ軸受Ｂの回転時における円すいころ３の
大端面３ｂのぬすみ部３ｃの公転軌跡に沿った状態とな
り、各円すいころ３は、その大端面３ｂが軸受Ｂの回転
時において常時レーザ光Ｌｃに照射された状態となる。
プリズム５ｄを通過させることにより断面円環状の平行
光束とされたレーザ光Ｌｃの断面の円環の直径は、図２
に示すように、軸受Ｂの保持器４の大端面側の直径より
も僅かに小さく、また、そのレーザ光の光軸は軸受Ｂの
中心と一致しており、この断面円環状のレーザ光Ｌｃ
は、円すいころ軸受Ｂの回転時における円すいころ３の
大端面３ｂのぬすみ部３ｃの公転軌跡に沿った状態とな
り、各円すいころ３は、その大端面３ｂが軸受Ｂの回転
時において常時レーザ光Ｌｃに照射された状態となる。
【００２０】円すいころ軸受Ｂの各円すいころ３のう
ち、図２においてＭで示される特定の１つの円すいころ
３の大端面３ｂのぬすみ部３ｃが鏡面ｍに仕上げられて
いるため、レーザ光Ｌｃはこの特定の円すいころ３のぬ
すみ部３ｃによる反射光の強度が他の部位における反射
光強度よりも大きくなる。そして、この特定の円すいこ
ろ３のぬすみ部３ｃの鏡面ｍからの反射光は、以下に示
す検出光学系６によって検出される。
ち、図２においてＭで示される特定の１つの円すいころ
３の大端面３ｂのぬすみ部３ｃが鏡面ｍに仕上げられて
いるため、レーザ光Ｌｃはこの特定の円すいころ３のぬ
すみ部３ｃによる反射光の強度が他の部位における反射
光強度よりも大きくなる。そして、この特定の円すいこ
ろ３のぬすみ部３ｃの鏡面ｍからの反射光は、以下に示
す検出光学系６によって検出される。
【００２１】検出光学系６は、円筒形の内面に反射面が
形成された円筒ミラー６ａとＣＣＤセル６ｂによって構
成されている。照射光学系５からの断面円環状の平行レ
ーザ光Ｌｃを、円すいころ３のぬすみ部３ｃに照射する
ことによって生じる反射光は、ぬすみ部３ｃの軸受Ｂの
軸心に対する角度に起因して軸心から遠ざかる方向に向
かい、円筒ミラー６ａによって反射された後、ＣＣＤセ
ル６ｂに入射する。
形成された円筒ミラー６ａとＣＣＤセル６ｂによって構
成されている。照射光学系５からの断面円環状の平行レ
ーザ光Ｌｃを、円すいころ３のぬすみ部３ｃに照射する
ことによって生じる反射光は、ぬすみ部３ｃの軸受Ｂの
軸心に対する角度に起因して軸心から遠ざかる方向に向
かい、円筒ミラー６ａによって反射された後、ＣＣＤセ
ル６ｂに入射する。
【００２２】このＣＣＤセル６ｂの出力は、画像処理部
７ａおよびスキュー演算部７ｂを備えた演算装置７に刻
々と取り込まれる。ここで、演算装置７は、実際にはコ
ンピュータとそこにインストールされたプログラムによ
っな構成されているが、図１１においては、そのプログ
ラムに書き込まれた機能を達成するブロック図の形で示
している。
７ａおよびスキュー演算部７ｂを備えた演算装置７に刻
々と取り込まれる。ここで、演算装置７は、実際にはコ
ンピュータとそこにインストールされたプログラムによ
っな構成されているが、図１１においては、そのプログ
ラムに書き込まれた機能を達成するブロック図の形で示
している。
【００２３】さて、演算装置７の画像処理部７ａにおい
ては、ＣＣＤセル６ｂからの各画素ごとの出力のうち、
特定の円すいころ３のぬすみ部３ｃからの反射光に係る
情報のみを抽出する。すなわち、前記したように、この
特定の円すいころ３のぬすみ部３ｃは鏡面ｍに仕上げら
れて、そこからの反射光強度は他の部位からの反射光強
度よりも強いため、適当なスレッシュホールド値を設定
して２値化することによって、特定の円すいころ３のぬ
すみ部３ｃからの反射光のみを抽出することができる。
ては、ＣＣＤセル６ｂからの各画素ごとの出力のうち、
特定の円すいころ３のぬすみ部３ｃからの反射光に係る
情報のみを抽出する。すなわち、前記したように、この
特定の円すいころ３のぬすみ部３ｃは鏡面ｍに仕上げら
れて、そこからの反射光強度は他の部位からの反射光強
度よりも強いため、適当なスレッシュホールド値を設定
して２値化することによって、特定の円すいころ３のぬ
すみ部３ｃからの反射光のみを抽出することができる。
【００２４】スキュー演算部７ｂでは、画像処理部７ａ
における処理によって特定の円すいころ３のぬすみ部３
ｃの鏡面ｍからの反射光の受光情報のみが得られるよう
に２値化されたＣＣＤセル６ｂの画素情報から、その刻
々の反射光の受光軌跡と、あらかじめ記憶しているスキ
ューの発生していない状態での理想的な受光軌跡である
基準軌跡とを比較し、受光軌跡が基準軌跡から逸脱して
いる場合にはスキューが発生していると判断し、基準軌
跡からの逸脱量に基づいて刻々のスキューの量（角度）
を求め、表示器８に表示し、あるいはレコーダ９にプロ
ットする。
における処理によって特定の円すいころ３のぬすみ部３
ｃの鏡面ｍからの反射光の受光情報のみが得られるよう
に２値化されたＣＣＤセル６ｂの画素情報から、その刻
々の反射光の受光軌跡と、あらかじめ記憶しているスキ
ューの発生していない状態での理想的な受光軌跡である
基準軌跡とを比較し、受光軌跡が基準軌跡から逸脱して
いる場合にはスキューが発生していると判断し、基準軌
跡からの逸脱量に基づいて刻々のスキューの量（角度）
を求め、表示器８に表示し、あるいはレコーダ９にプロ
ットする。
【００２５】ここで、基準軌跡は、例えば照射光学系５
および検出光学系６、および円すいころ軸受Ｂを含む検
出系の構造に基づいて幾何学的に算出するか、あるい
は、スキューが生じないように配慮して計測した受光軌
跡を数値化することによって得ることができる。また、
円すいころ軸受Ｂの特定の円すいころ３の受光軌跡の基
準軌跡からの逸脱量とスキュー量（角度）との関係につ
いても、検出系の構造に基づいて幾何学的に演算するこ
とができる。
および検出光学系６、および円すいころ軸受Ｂを含む検
出系の構造に基づいて幾何学的に算出するか、あるい
は、スキューが生じないように配慮して計測した受光軌
跡を数値化することによって得ることができる。また、
円すいころ軸受Ｂの特定の円すいころ３の受光軌跡の基
準軌跡からの逸脱量とスキュー量（角度）との関係につ
いても、検出系の構造に基づいて幾何学的に演算するこ
とができる。
【００２６】以上の本発明の実施の形態によると、円す
いころ軸受Ｂを通常の使用状態と同様に各円すいころ３
が公転している状態において、そのスキューの発生を経
時的に連続して測定することができる。
いころ軸受Ｂを通常の使用状態と同様に各円すいころ３
が公転している状態において、そのスキューの発生を経
時的に連続して測定することができる。
【００２７】なお、以上の実施の形態においては、円す
いころ軸受Ｂに組み込まれている複数の円すいころ３の
うちの特定の１個の円すいころ３についてのスキューを
測定した例を示したが、２個以上の円すいころ３のぬす
み部３ｃを鏡面ｍに仕上げてその各反射光をＣＣＤセル
６ｂに入射させると、ＣＣＤセル６ｂには、周方向に互
いに所定の距離だけ離れた２つ以上の反射光の軌跡が描
かれ、これを相互に分離することによって、その各円す
いころ３のスキューを同時に測定することも可能とな
る。
いころ軸受Ｂに組み込まれている複数の円すいころ３の
うちの特定の１個の円すいころ３についてのスキューを
測定した例を示したが、２個以上の円すいころ３のぬす
み部３ｃを鏡面ｍに仕上げてその各反射光をＣＣＤセル
６ｂに入射させると、ＣＣＤセル６ｂには、周方向に互
いに所定の距離だけ離れた２つ以上の反射光の軌跡が描
かれ、これを相互に分離することによって、その各円す
いころ３のスキューを同時に測定することも可能とな
る。
【００２８】また、本発明で用いる照射光学系５は、以
上の実施の形態のように光ファイバ５ｃを利用したもの
に限られることなく、断面が円環状の平行な光束に成形
できるものであれば、任意の公知の光学系を用いること
ができる。
上の実施の形態のように光ファイバ５ｃを利用したもの
に限られることなく、断面が円環状の平行な光束に成形
できるものであれば、任意の公知の光学系を用いること
ができる。
【００２９】更に、以上の実施の形態においては、円す
いころ軸受のころのスキューについて計測した例を示し
たが、円筒ころ軸受についても本発明を適用することが
できる。この場合、ころの端面は軸受の軸心に対して直
交しているため、断面が円環状の平行光束を照射すると
その反射光は照射光学系側に向かい、検出光学系の配設
が困難となる。この場合、断面が円環状で、かつ、円錐
状に広がりを持つレーザ光を照射することにより、ころ
の端面からの反射光を照射光学系の配設位置とは異なる
方向に向かわせる等によって対処することができる。
いころ軸受のころのスキューについて計測した例を示し
たが、円筒ころ軸受についても本発明を適用することが
できる。この場合、ころの端面は軸受の軸心に対して直
交しているため、断面が円環状の平行光束を照射すると
その反射光は照射光学系側に向かい、検出光学系の配設
が困難となる。この場合、断面が円環状で、かつ、円錐
状に広がりを持つレーザ光を照射することにより、ころ
の端面からの反射光を照射光学系の配設位置とは異なる
方向に向かわせる等によって対処することができる。
【００３０】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、ころ軸
受の一端面側から、ころの一端面の公転公転軌跡に沿っ
た円環状の断面形状を有するレーザ光を照射し、端面を
反射しやすい状態とした特定のころによる反射光を、Ｃ
ＣＤ等の受光位置に係る情報を出力し得る受光手段によ
って受光し、その刻々の位置情報からころのスキューを
求めるので、ころが公転する転がり軸受の通常の使用状
態において、１個もしくは複数個のころのスキューを経
時的に測定することができるようになった。
受の一端面側から、ころの一端面の公転公転軌跡に沿っ
た円環状の断面形状を有するレーザ光を照射し、端面を
反射しやすい状態とした特定のころによる反射光を、Ｃ
ＣＤ等の受光位置に係る情報を出力し得る受光手段によ
って受光し、その刻々の位置情報からころのスキューを
求めるので、ころが公転する転がり軸受の通常の使用状
態において、１個もしくは複数個のころのスキューを経
時的に測定することができるようになった。
【図１】本発明の実施の形態の全体構成図で、機械的・
光学的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図
とを併記して示す図である。
光学的構成を表す模式図と電気的構成を表すブロック図
とを併記して示す図である。
【図２】図１のＡ矢視図である。
【図３】図１の実施の形態において用いる照射光学系５
の構成例を示す模式図である。
の構成例を示す模式図である。
【図４】従来のころ軸受のスキュー測定装置の構成例を
示す要部断面図である。
示す要部断面図である。
【図５】従来のころ軸受のスキュー測定装置の他の構成
例を示す要部断面図である。
例を示す要部断面図である。
１ 内輪 １ａ 軌道面 １ｂ 鍔面 ２ 外輪 ２ａ 軌道面 ３ 円すいころ ３ａ 転動面 ３ｂ 大端面 ３ｃ ぬすみ部 ４ 保持器 ５ 照射光学系 ５ａ レーザ光源 ５ｂ コリメートレンズ ５ｃ 光ファイバ ５ｄ 円錐プリズム ６ 検出光学系 ６ａ 円筒ミラー ６ｂ ＣＣＤセル ７ 演算装置 ７ａ 画像処理部 ７ｂ スキュー演算部 ８ 表示器 ９ レコーダ Ｂ 円すいころ軸受 Ｍ 特定の円すいころ３ ｍ 鏡面
Claims (1)
- 【請求項１】 ころ軸受の回転中におけるころのスキュ
ーを測定する装置であって、 ころ軸受の一端面側から、当該ころ軸受の回転時におけ
るころの一端面の公転軌跡に沿った円環状の断面形状を
有するレーザ光を照射する照射光学系と、当該ころ軸受
に組み込まれている複数のころのうち、少なくとも一つ
の特定のころにより反射されるレーザ光を受光してその
受光位置情報を検出可能な受光手段と、その受光手段の
出力に含まれる刻々の受光位置情報から上記特定のころ
のスキュー情報を求める演算手段を備えていることを特
徴とするころ軸受のスキュー測定装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2000243665A JP3871244B2 (ja) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | ころ軸受のスキュー測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002054914A true JP2002054914A (ja) | 2002-02-20 |
| JP3871244B2 JP3871244B2 (ja) | 2007-01-24 |
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ID=18734476
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000243665A Expired - Fee Related JP3871244B2 (ja) | 2000-08-11 | 2000-08-11 | ころ軸受のスキュー測定装置 |
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| JP (1) | JP3871244B2 (ja) |
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- 2000-08-11 JP JP2000243665A patent/JP3871244B2/ja not_active Expired - Fee Related
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