JP2004239746A - 軸受転動体の公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】より高精度に転動体の公転速度を測定できる軸受転動体の公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置を提供する。
【解決手段】レーザ光Lが転動体Rの中心を通過する方向に照射された場合、その方向は転動体Rの法線と一致することとなるので、レーザ光Lは垂直に反射し、その反射光束はビームスプリッタBSで反射されて、光検出器PDにより受光されることとなる。ところが、レーザ光Lが転動体Rの中心からずれた方向に照射された場合、照射点は傾いているので、その傾きに応じた角度でレーザ光Lが反射するが、その反射光束は光検出器PDにより受光されない位置に向かう。これを言い換えると、転動体Rが移動する場合、所定位置(レーザ光Lが転動体Rの中心を通過する位置)のときのみ、光検出器PDで反射光束を測定できることとなる。
【選択図】 図1
【解決手段】レーザ光Lが転動体Rの中心を通過する方向に照射された場合、その方向は転動体Rの法線と一致することとなるので、レーザ光Lは垂直に反射し、その反射光束はビームスプリッタBSで反射されて、光検出器PDにより受光されることとなる。ところが、レーザ光Lが転動体Rの中心からずれた方向に照射された場合、照射点は傾いているので、その傾きに応じた角度でレーザ光Lが反射するが、その反射光束は光検出器PDにより受光されない位置に向かう。これを言い換えると、転動体Rが移動する場合、所定位置(レーザ光Lが転動体Rの中心を通過する位置)のときのみ、光検出器PDで反射光束を測定できることとなる。
【選択図】 図1
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、転がり軸受の転動体の公転速度を検出する公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
転がり軸受が正常に作動しているかどうかの一つの目安として、公転すべり率による評価がある。公転すべり率「S」は、次式で定義される。
S=(1−Nex/Nth)*100 (%)
但し、Nth:理論公転速度
Nex:測定公転速度
【0003】
公転すべり率Sが大きくなると、転がり軸受の転動体が転がらずにすべりが大きくなることを意味するが、すべりが大きくなれば、摩耗や、場合によっては焼きつきに至る恐れもある。すなわち、転がり軸受の公転速度は、転がり軸受が正常に作動しているかどうかを判定する1つの重要な判定基準となり得るので、これを正確にまた迅速に測定することが望まれている。
【0004】
従来の公転速度の測定方法としては、特許文献1に示す技術がある。かかる特許文献1の技術は、ホール素子と磁石を用いたものであり、転がり軸受の鋼球がホール素子の近傍を通過する時の磁束変化を検出するものである。この他にも、渦電流式や静電容量式の非接触変位計で、転動体の通過を測定する方法も考えられる。いずれの方法においても、得られた信号をカウンタに取り込んで公転速度を算出することが行われるのが一般的である。例えば一秒間に100回の転動体の通過が検出され、転動体数が10であったとすれば、転動体の公転速度は、10rpsすなわち、600rpmとなる。
【特許文献1】
特開2001−33469号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、いずれの方法も、下記の理由から高精度の測定が期待できないという問題がある。得られた信号をカウンタに取り込んで回転速度を算出する方法では、一秒間に通過した転動体の数は必ずしも整数となるとは限らない。上述した例でも、カウント値が100だとしても、実際はプラス1回に満たない量だけ転動体は公転しており、その分だけ誤差が生じることになる。
【0006】
軸受転動体の公転速度を算出するのに、更に別な方法がある。転動体の通過ごとの時間を計測し、それにより公転速度を得る方法である、例えば、転動体数が10個の軸受において、10個の転動体が通過するまでの時間を測定し、それが0.1secであれば転動体の公転速度は、10rpsすなわち、600rpmとなる。時間の測定は、普通のオシロスコープやレコーダでも非常に精度が高い測定が可能である。しかし、この方法を用いても、高精度に公転速度を求めることはできない。
【0007】
例えばレーザドップラ方式や渦電流方式などの方法により、通常の変位計または振動計の出力を利用して転動体の通通する時間を検出するとしても、いずれも転動体が通過するときの信号の変化が緩やかであるから、転動体の通過タイミングを精度良く求めることは困難である。なぜなら、前記いずれの方法でも、得られる信号は正弦波に近くなり、そのピークの位置を厳密に求めることができないからである。
【0008】
本発明は、かかる従来技術の問題に鑑みてなされたものであり、より高精度に転動体の公転速度を測定できる軸受転動体の公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
【0010】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、
公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めることを特徴とする。
【0011】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、
公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有することを特徴とする。
【0012】
【作用】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、前記光検出器が前記反射光束を所定回数(例えば軸受の有する転動体数に等しい回数)だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるので、高精度な測定が可能となる。
【0013】
本発明の原理について、図1を参照して説明する。軸受の転動体の表面は、一般的に極めて粗さが小さくなるように研磨された光沢面となっている。又、転動体の表面は球面もしくは曲面となっている。本発明は、これを前提としている。図1(a)において、レーザ光源LDから照射されたレーザ光Lは、ビームスプリッタBSを通過し、通過する転動体Rに照射されるようになっている。ここで、レーザ光Lがちょうど転動体Rの中心を通過する方向に照射された場合、その方向は転動体Rの法線と一致するので、レーザ光Lは垂直に反射し、その反射光束はビームスプリッタBSで反射されて、所定位置にある光検出器PDにより受光されることとなる。ところが、レーザ光Lが転動体Rの中心からずれた方向に照射された場合、照射点は傾いているので、その傾きに応じた角度でレーザ光Lが反射するが、その反射光束は光検出器PDにより受光されない位置に向かう(図1(a)に点線で示す)。これを言い換えると、転動体Rが移動する場合、所定位置にある光検出器PDでのみ反射光束を受光測定できることとなる。
【0014】
ここで、光検出器PDの検出した光量を横軸にとり、転動体Rの位置を縦軸にとって示すと、図1(b)に示すグラフが得られ、かかるグラフによれば、所定位置で明らかなピークが生じている。すなわち、光検出器PDの出力信号を解析することで、転動体Rの通過を高精度に検出できることとなるのである。
【0015】
従って、前記光源は、強度の高い平行光束を形成しやすいレーザ光源であると好ましい。
【0016】
又、前記光検出器は、受光した光束の強度を求めると好ましい。
【0017】
更に、前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されると、前記光束が遮られることがなく好ましい。
【0018】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有するので、高精度な測定が可能となる。
【0019】
更に、前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されると好ましい。
【0020】
本発明の軸受診断装置は、上述の軸受転動体の公転速度測定装置又は上述の軸受転動体の公転速度測定方法を用いることで、軸受の適切な診断を行うことができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図2は、本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置の一例の断面図であり、図3は、本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置を用いて、軸受転動体の公転速度を測定する状態を示す図である。
【0022】
図2において、軸受転動体の公転速度測定装置(以下測定装置という)10は、図で右端面に開口1aを有する円筒状のハウジング1と、ハウジング1内の左端部奥に配置された光源である半導体レーザ2と、光検出器3とを有している。半導体レーザ2は、配線4により外部の電源(不図示)に接続され、光検出器3は、配線5により外部の公転速度算出装置42(図7)に接続されている。図2に示す測定装置10は、図1に示すタイプと異なり、ビームスプリッタを設けておらず、反射光束を直接受光する。
【0023】
図3において、軸30に嵌合された内輪21と、外輪22と、それらの間を転動自在な複数の転動体23(玉)と、転動体を保持する冠型保持器24とをそれぞれ有する2つの軸受20、20は、筐体31内に収容されている。測定装置10は、筐体31に取り付けられ、開口1aが形成された先端を、通過する転動体23に対向させるようにして配置されている。尚、軸受20が内部隙間を有すると、転動体23の滑りを管理できなくなるので、転動体23には、所定の態様で予圧が付加されているものとする(以下同じ)。
【0024】
図4は、冠型保持器24の斜視図である。図4に示すように、環状の冠型保持器24は、転動体23を保持するポケット部24aを、周方向に等間隔に形成してなる。従って、ポケット部24aに保持された転動体23は、一方の側(図4で上方)が露出しており、従って測定装置10をポケット部24a側に配置すれば、そこから照射されるレーザ光が、冠型保持器24に遮られることがない。
【0025】
本実施の形態の動作について説明する。軸30が回転すると、外輪22に対して内輪21が回転するので、それにつれて転動体23が公転する。測定装置10の半導体レーザ2には配線4を介して外部から電力が供給され、レーザ光が開口1aを介して外部に向かって照射されているものとする。ここで、図2に示すように、転動体23が図1(a)に示す位置に来ると、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が、転動体23の表面から反射して、開口1aから入射し、光検出器3の受光面で受光される。その受光量に応じたハイレベルの信号は、配線5を介して外部のパソコン等に出力される。
【0026】
一方、転動体23が図1(a)に示す位置にない状態では、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が、転動体23の表面から反射しないので、従って光検出器3は受光しない。かかる場合、光検出器3は、ローレベルの信号を配線5を介して外部のパソコン等に出力する。
【0027】
図5は、本発明者らの行った試験において、測定装置10から実際に得られた結果を示すグラフである。図5のグラフにおいて、周期的に急峻なピークが生じているが、これが、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が光検出器3に適切に受光されたときであり、すなわち転動体23が所定位置にきたことを精度良く測定できることを示している。このようにして、転動体23が通過するタイミングを急峻なピークで精度良く求めることができれば、ピーク間時間を精度良く求めることができ、もって転動体23の公転速度を正確に求めることができる。
【0028】
測定装置10は、試験装置ばかりでなく、実際の製品に搭載することもできる。図6は、車両に取り付けられる車輪支持ユニット40を、測定装置10を組み込んだ状態で示す図である。図6において、外輪41は、その外周面に設けられた取付フランジ41aによって、不図示の懸架装置に支持される。この外輪41の内周面には、複列の外輪軌道41b、41bを設けている。外輪41の内方に一部を延在させるようにして、図で左端面に車輪(不図示)が取り付けられるハブ42が配置されている。
【0029】
ハブ42の中間部外周面には内輪軌道42aが形成されている。更に、ハブ42の外周面で、内輪軌道42aよりも内側寄り(図で右側)部分には、段差で隔てられた小径部42bを形成している。そして、この小径部42bに、内輪43を外嵌している。この内輪43の外周面には内輪軌道43aを形成している。
【0030】
各外輪軌道41b、41bと各内輪軌道42a、43bとの間には、転動体である玉44、44が、それぞれ複数個ずつ設けられている。玉44、44は予圧を付与され、1対のアンギュラ型玉軸受を所謂背面組み合わせした、複列玉軸受を構成する。尚、各玉44、44は、合成樹脂製の冠型保持器45、45により、互いに接触しない様に転動自在に保持されている。尚、外輪41と、ハブ42及び内輪43との間には、シール46,46が配置されている。
【0031】
本実施の形態においては、外輪41に測定装置10が取り付けられている。従って、図6に示す車輪支持ユニット40を実際の車両に取り付ければ、玉44が許容範囲内で公転しているか否かを、走行中に判断することができ、それにより経時劣化を求めてメンテナンス時期を知らせることなど可能となる。また、車両走行中の急加減速に伴う速度変動や荷重変動、温度変化に伴う軸受すき間の変化、走行中の路面等の変動による衝撃の影響を玉の公転速度を測定することにより判断し、車両の制御回路にフィードバックすることにより、車両の走行性能及び安全性・信頼性を向上させることができる。また、転がり軸受内に水が侵入したり、潤滑剤が劣化した場合等も、潤滑条件の変化により玉の公転速度が変化するので、その劣化状態を検知することができる。尚、測定装置10は車輪支持ユニットに限らず、工作機械用スピンドルや各種モータ等、軸受を備えた様々な回転機械に組み込むことができる。この場合も車両用軸受と同様に、速度変動、荷重変動や衝撃荷重の負荷、温度変化に伴う軸受すき間の変化、潤滑条件の変化等を玉やころ等の転動体の公転速度を測定することにより検知でき、その検知データに基づいて転がり軸受の異常の有無を判断し、それらの回転機械の性能・信頼性を向上させることができる。圧延機用転がり軸受等のようにスラスト荷重とラジアル荷重の両方の荷重が作用する転がり軸受においては、スラスト荷重とラジアル荷重の負荷率の変化が転動体の公転速度の変化となって現れるので、公転速度の変化からその荷重比が適正範囲であるかの判断をすることもできる。工作機械やハードディスクスピンドル等を備えた情報記録装置のように高度な回転精度が要求される機械に用いられる転がり軸受は、軌道面や転動面の粗さの変化に伴う玉の公転速度の変化を捕らえて、軸受の軌道面や転動画の粗さの劣化を判断することができる。このことにより、これらの回転機械のメンテナンスをより適切に判断できる。
【0032】
図7は、本実施の形態にかかる測定装置10を用いた軸受の診断装置の概略構成図である。尚、軸受20及び測定装置10は、図3に示す構成と同一であるので、説明を省略する。測定装置10から出力された信号は、アンプ51で増幅され、公転速度算出装置52に入力され、ここで転動体の公転速度が算出される。転動体の公転速度は、例えば図4に示すグラフが得られた場合、1つの転動体が通過する毎に1つのピークが得られるとして、全転動体数に対応するピーク間の時間を求めることで、1公転あたりの時間がわかるから、それに基づき求めることができる。
【0033】
一方、軸30を周方向に磁化し、それに磁気センサ53を近接させれば、軸30の回転に応じて変化する磁界を検出できる。従って、磁気センサ53から出力された信号を、アンプ51で増幅し、公転速度算出装置52に入力すれば、軸受の回転速度が算出できる。尚、回転速度は、軸30を駆動するモータ等のインバータ周波数から求めることもできるが、図7に示すように軸30の回転速度を直接検出した方が、より高精度な値を得られるので好ましい。
【0034】
更に、公転速度算出装置52で算出された公転速度と、回転速度算出装置55で算出された回転速度とを、判定装置56に入力すれば、予め記憶されている条件(条件式でも良いし試験で求めた結果でも良い)に基づいて、軸受の回転速度に対し、転動体の公転速度が許容範囲内にあるかどうかを判定できることとなる。尚、公転速度算出装置52と、回転速度算出装置55と、判定装置56の処理は、単一のパソコン内で行うこともできる。
【0035】
以上、本発明を実施の形態を参照して説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定して解釈されるべきではなく、適宜変更・改良が可能であることはもちろんである。例えば、軸受の保持器は冠型保持器に限られない。例えば、冠型保持器以外の保持器の場合には、その一部に孔をあけ、かかる孔を介してレーザ光を照射すればよい。レーザ光は光束を絞ることができるので、孔は小さくて良い。又、レーザ光を照射するポイントは、単一に限らず複数でも良い。この場合、少なくとも光源は2つ必要になる。
【0036】
更に、軸受は玉軸受に限らず、ころ軸受、或いはボールねじやリニアガイド等でも良い。円筒ころ軸受の場合は、円筒ころの円筒面を反射面として利用すると、反射光束の方向が定まりやすく、光検出器の位置設定が容易である。又、ころの端面が曲面となっている場合、ここにレーザ光を照射しても良い。ころの端面が平面となっている場合、角の面取り部を反射面として利用しても良い、また、軸受の使用条件によっては、外輪の外周面に小孔を貫通させ、かかる小孔を介してレーザ光を転動体に向かって照射しても良い。
【0037】
【発明の効果】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるので、高精度な測定が可能となる。
【0038】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有するので、高精度な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明するための図である。
【図2】本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置の断面図である。
【図3】本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置を用いて、軸受転動体の公転速度を測定する状態を示す図である。
【図4】冠型保持器24の斜視図である。
【図5】本発明者らの行った試験において、測定装置10から実際に得られた結果を示すグラフである。
【図6】車両に取り付けられる車輪支持ユニットを、測定装置10を組み込んだ状態で示す図である。
【図7】本実施の形態にかかる測定装置10を用いた軸受の診断装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1 ハウジング
2 レーザ光源
3 光検出器
10 測定装置
20 軸受
23 転動体
24 冠型軸受
40 車輪支持ユニット
51,54 アンプ
52 公転速度算出装置い
55 回転速度算出装置
56 判定装置
【発明の属する技術分野】
本発明は、転がり軸受の転動体の公転速度を検出する公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
転がり軸受が正常に作動しているかどうかの一つの目安として、公転すべり率による評価がある。公転すべり率「S」は、次式で定義される。
S=(1−Nex/Nth)*100 (%)
但し、Nth:理論公転速度
Nex:測定公転速度
【0003】
公転すべり率Sが大きくなると、転がり軸受の転動体が転がらずにすべりが大きくなることを意味するが、すべりが大きくなれば、摩耗や、場合によっては焼きつきに至る恐れもある。すなわち、転がり軸受の公転速度は、転がり軸受が正常に作動しているかどうかを判定する1つの重要な判定基準となり得るので、これを正確にまた迅速に測定することが望まれている。
【0004】
従来の公転速度の測定方法としては、特許文献1に示す技術がある。かかる特許文献1の技術は、ホール素子と磁石を用いたものであり、転がり軸受の鋼球がホール素子の近傍を通過する時の磁束変化を検出するものである。この他にも、渦電流式や静電容量式の非接触変位計で、転動体の通過を測定する方法も考えられる。いずれの方法においても、得られた信号をカウンタに取り込んで公転速度を算出することが行われるのが一般的である。例えば一秒間に100回の転動体の通過が検出され、転動体数が10であったとすれば、転動体の公転速度は、10rpsすなわち、600rpmとなる。
【特許文献1】
特開2001−33469号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、いずれの方法も、下記の理由から高精度の測定が期待できないという問題がある。得られた信号をカウンタに取り込んで回転速度を算出する方法では、一秒間に通過した転動体の数は必ずしも整数となるとは限らない。上述した例でも、カウント値が100だとしても、実際はプラス1回に満たない量だけ転動体は公転しており、その分だけ誤差が生じることになる。
【0006】
軸受転動体の公転速度を算出するのに、更に別な方法がある。転動体の通過ごとの時間を計測し、それにより公転速度を得る方法である、例えば、転動体数が10個の軸受において、10個の転動体が通過するまでの時間を測定し、それが0.1secであれば転動体の公転速度は、10rpsすなわち、600rpmとなる。時間の測定は、普通のオシロスコープやレコーダでも非常に精度が高い測定が可能である。しかし、この方法を用いても、高精度に公転速度を求めることはできない。
【0007】
例えばレーザドップラ方式や渦電流方式などの方法により、通常の変位計または振動計の出力を利用して転動体の通通する時間を検出するとしても、いずれも転動体が通過するときの信号の変化が緩やかであるから、転動体の通過タイミングを精度良く求めることは困難である。なぜなら、前記いずれの方法でも、得られる信号は正弦波に近くなり、そのピークの位置を厳密に求めることができないからである。
【0008】
本発明は、かかる従来技術の問題に鑑みてなされたものであり、より高精度に転動体の公転速度を測定できる軸受転動体の公転速度測定装置及び方法並びに軸受診断装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
【0010】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、
公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めることを特徴とする。
【0011】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、
公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有することを特徴とする。
【0012】
【作用】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、前記光検出器が前記反射光束を所定回数(例えば軸受の有する転動体数に等しい回数)だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるので、高精度な測定が可能となる。
【0013】
本発明の原理について、図1を参照して説明する。軸受の転動体の表面は、一般的に極めて粗さが小さくなるように研磨された光沢面となっている。又、転動体の表面は球面もしくは曲面となっている。本発明は、これを前提としている。図1(a)において、レーザ光源LDから照射されたレーザ光Lは、ビームスプリッタBSを通過し、通過する転動体Rに照射されるようになっている。ここで、レーザ光Lがちょうど転動体Rの中心を通過する方向に照射された場合、その方向は転動体Rの法線と一致するので、レーザ光Lは垂直に反射し、その反射光束はビームスプリッタBSで反射されて、所定位置にある光検出器PDにより受光されることとなる。ところが、レーザ光Lが転動体Rの中心からずれた方向に照射された場合、照射点は傾いているので、その傾きに応じた角度でレーザ光Lが反射するが、その反射光束は光検出器PDにより受光されない位置に向かう(図1(a)に点線で示す)。これを言い換えると、転動体Rが移動する場合、所定位置にある光検出器PDでのみ反射光束を受光測定できることとなる。
【0014】
ここで、光検出器PDの検出した光量を横軸にとり、転動体Rの位置を縦軸にとって示すと、図1(b)に示すグラフが得られ、かかるグラフによれば、所定位置で明らかなピークが生じている。すなわち、光検出器PDの出力信号を解析することで、転動体Rの通過を高精度に検出できることとなるのである。
【0015】
従って、前記光源は、強度の高い平行光束を形成しやすいレーザ光源であると好ましい。
【0016】
又、前記光検出器は、受光した光束の強度を求めると好ましい。
【0017】
更に、前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されると、前記光束が遮られることがなく好ましい。
【0018】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有するので、高精度な測定が可能となる。
【0019】
更に、前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されると好ましい。
【0020】
本発明の軸受診断装置は、上述の軸受転動体の公転速度測定装置又は上述の軸受転動体の公転速度測定方法を用いることで、軸受の適切な診断を行うことができる。
【0021】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図2は、本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置の一例の断面図であり、図3は、本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置を用いて、軸受転動体の公転速度を測定する状態を示す図である。
【0022】
図2において、軸受転動体の公転速度測定装置(以下測定装置という)10は、図で右端面に開口1aを有する円筒状のハウジング1と、ハウジング1内の左端部奥に配置された光源である半導体レーザ2と、光検出器3とを有している。半導体レーザ2は、配線4により外部の電源(不図示)に接続され、光検出器3は、配線5により外部の公転速度算出装置42(図7)に接続されている。図2に示す測定装置10は、図1に示すタイプと異なり、ビームスプリッタを設けておらず、反射光束を直接受光する。
【0023】
図3において、軸30に嵌合された内輪21と、外輪22と、それらの間を転動自在な複数の転動体23(玉)と、転動体を保持する冠型保持器24とをそれぞれ有する2つの軸受20、20は、筐体31内に収容されている。測定装置10は、筐体31に取り付けられ、開口1aが形成された先端を、通過する転動体23に対向させるようにして配置されている。尚、軸受20が内部隙間を有すると、転動体23の滑りを管理できなくなるので、転動体23には、所定の態様で予圧が付加されているものとする(以下同じ)。
【0024】
図4は、冠型保持器24の斜視図である。図4に示すように、環状の冠型保持器24は、転動体23を保持するポケット部24aを、周方向に等間隔に形成してなる。従って、ポケット部24aに保持された転動体23は、一方の側(図4で上方)が露出しており、従って測定装置10をポケット部24a側に配置すれば、そこから照射されるレーザ光が、冠型保持器24に遮られることがない。
【0025】
本実施の形態の動作について説明する。軸30が回転すると、外輪22に対して内輪21が回転するので、それにつれて転動体23が公転する。測定装置10の半導体レーザ2には配線4を介して外部から電力が供給され、レーザ光が開口1aを介して外部に向かって照射されているものとする。ここで、図2に示すように、転動体23が図1(a)に示す位置に来ると、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が、転動体23の表面から反射して、開口1aから入射し、光検出器3の受光面で受光される。その受光量に応じたハイレベルの信号は、配線5を介して外部のパソコン等に出力される。
【0026】
一方、転動体23が図1(a)に示す位置にない状態では、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が、転動体23の表面から反射しないので、従って光検出器3は受光しない。かかる場合、光検出器3は、ローレベルの信号を配線5を介して外部のパソコン等に出力する。
【0027】
図5は、本発明者らの行った試験において、測定装置10から実際に得られた結果を示すグラフである。図5のグラフにおいて、周期的に急峻なピークが生じているが、これが、半導体レーザ2から照射されたレーザ光が光検出器3に適切に受光されたときであり、すなわち転動体23が所定位置にきたことを精度良く測定できることを示している。このようにして、転動体23が通過するタイミングを急峻なピークで精度良く求めることができれば、ピーク間時間を精度良く求めることができ、もって転動体23の公転速度を正確に求めることができる。
【0028】
測定装置10は、試験装置ばかりでなく、実際の製品に搭載することもできる。図6は、車両に取り付けられる車輪支持ユニット40を、測定装置10を組み込んだ状態で示す図である。図6において、外輪41は、その外周面に設けられた取付フランジ41aによって、不図示の懸架装置に支持される。この外輪41の内周面には、複列の外輪軌道41b、41bを設けている。外輪41の内方に一部を延在させるようにして、図で左端面に車輪(不図示)が取り付けられるハブ42が配置されている。
【0029】
ハブ42の中間部外周面には内輪軌道42aが形成されている。更に、ハブ42の外周面で、内輪軌道42aよりも内側寄り(図で右側)部分には、段差で隔てられた小径部42bを形成している。そして、この小径部42bに、内輪43を外嵌している。この内輪43の外周面には内輪軌道43aを形成している。
【0030】
各外輪軌道41b、41bと各内輪軌道42a、43bとの間には、転動体である玉44、44が、それぞれ複数個ずつ設けられている。玉44、44は予圧を付与され、1対のアンギュラ型玉軸受を所謂背面組み合わせした、複列玉軸受を構成する。尚、各玉44、44は、合成樹脂製の冠型保持器45、45により、互いに接触しない様に転動自在に保持されている。尚、外輪41と、ハブ42及び内輪43との間には、シール46,46が配置されている。
【0031】
本実施の形態においては、外輪41に測定装置10が取り付けられている。従って、図6に示す車輪支持ユニット40を実際の車両に取り付ければ、玉44が許容範囲内で公転しているか否かを、走行中に判断することができ、それにより経時劣化を求めてメンテナンス時期を知らせることなど可能となる。また、車両走行中の急加減速に伴う速度変動や荷重変動、温度変化に伴う軸受すき間の変化、走行中の路面等の変動による衝撃の影響を玉の公転速度を測定することにより判断し、車両の制御回路にフィードバックすることにより、車両の走行性能及び安全性・信頼性を向上させることができる。また、転がり軸受内に水が侵入したり、潤滑剤が劣化した場合等も、潤滑条件の変化により玉の公転速度が変化するので、その劣化状態を検知することができる。尚、測定装置10は車輪支持ユニットに限らず、工作機械用スピンドルや各種モータ等、軸受を備えた様々な回転機械に組み込むことができる。この場合も車両用軸受と同様に、速度変動、荷重変動や衝撃荷重の負荷、温度変化に伴う軸受すき間の変化、潤滑条件の変化等を玉やころ等の転動体の公転速度を測定することにより検知でき、その検知データに基づいて転がり軸受の異常の有無を判断し、それらの回転機械の性能・信頼性を向上させることができる。圧延機用転がり軸受等のようにスラスト荷重とラジアル荷重の両方の荷重が作用する転がり軸受においては、スラスト荷重とラジアル荷重の負荷率の変化が転動体の公転速度の変化となって現れるので、公転速度の変化からその荷重比が適正範囲であるかの判断をすることもできる。工作機械やハードディスクスピンドル等を備えた情報記録装置のように高度な回転精度が要求される機械に用いられる転がり軸受は、軌道面や転動面の粗さの変化に伴う玉の公転速度の変化を捕らえて、軸受の軌道面や転動画の粗さの劣化を判断することができる。このことにより、これらの回転機械のメンテナンスをより適切に判断できる。
【0032】
図7は、本実施の形態にかかる測定装置10を用いた軸受の診断装置の概略構成図である。尚、軸受20及び測定装置10は、図3に示す構成と同一であるので、説明を省略する。測定装置10から出力された信号は、アンプ51で増幅され、公転速度算出装置52に入力され、ここで転動体の公転速度が算出される。転動体の公転速度は、例えば図4に示すグラフが得られた場合、1つの転動体が通過する毎に1つのピークが得られるとして、全転動体数に対応するピーク間の時間を求めることで、1公転あたりの時間がわかるから、それに基づき求めることができる。
【0033】
一方、軸30を周方向に磁化し、それに磁気センサ53を近接させれば、軸30の回転に応じて変化する磁界を検出できる。従って、磁気センサ53から出力された信号を、アンプ51で増幅し、公転速度算出装置52に入力すれば、軸受の回転速度が算出できる。尚、回転速度は、軸30を駆動するモータ等のインバータ周波数から求めることもできるが、図7に示すように軸30の回転速度を直接検出した方が、より高精度な値を得られるので好ましい。
【0034】
更に、公転速度算出装置52で算出された公転速度と、回転速度算出装置55で算出された回転速度とを、判定装置56に入力すれば、予め記憶されている条件(条件式でも良いし試験で求めた結果でも良い)に基づいて、軸受の回転速度に対し、転動体の公転速度が許容範囲内にあるかどうかを判定できることとなる。尚、公転速度算出装置52と、回転速度算出装置55と、判定装置56の処理は、単一のパソコン内で行うこともできる。
【0035】
以上、本発明を実施の形態を参照して説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定して解釈されるべきではなく、適宜変更・改良が可能であることはもちろんである。例えば、軸受の保持器は冠型保持器に限られない。例えば、冠型保持器以外の保持器の場合には、その一部に孔をあけ、かかる孔を介してレーザ光を照射すればよい。レーザ光は光束を絞ることができるので、孔は小さくて良い。又、レーザ光を照射するポイントは、単一に限らず複数でも良い。この場合、少なくとも光源は2つ必要になる。
【0036】
更に、軸受は玉軸受に限らず、ころ軸受、或いはボールねじやリニアガイド等でも良い。円筒ころ軸受の場合は、円筒ころの円筒面を反射面として利用すると、反射光束の方向が定まりやすく、光検出器の位置設定が容易である。又、ころの端面が曲面となっている場合、ここにレーザ光を照射しても良い。ころの端面が平面となっている場合、角の面取り部を反射面として利用しても良い、また、軸受の使用条件によっては、外輪の外周面に小孔を貫通させ、かかる小孔を介してレーザ光を転動体に向かって照射しても良い。
【0037】
【発明の効果】
第1の本発明の軸受転動体の公転速度測定装置は、公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるので、高精度な測定が可能となる。
【0038】
第2の本発明の軸受転動体の公転速度測定方法は、公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有するので、高精度な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理を説明するための図である。
【図2】本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置の断面図である。
【図3】本実施の形態の軸受転動体の公転速度測定装置を用いて、軸受転動体の公転速度を測定する状態を示す図である。
【図4】冠型保持器24の斜視図である。
【図5】本発明者らの行った試験において、測定装置10から実際に得られた結果を示すグラフである。
【図6】車両に取り付けられる車輪支持ユニットを、測定装置10を組み込んだ状態で示す図である。
【図7】本実施の形態にかかる測定装置10を用いた軸受の診断装置の概略構成図である。
【符号の説明】
1 ハウジング
2 レーザ光源
3 光検出器
10 測定装置
20 軸受
23 転動体
24 冠型軸受
40 車輪支持ユニット
51,54 アンプ
52 公転速度算出装置い
55 回転速度算出装置
56 判定装置
Claims (7)
- 公転する軸受の転動体に、光束を照射する光源と、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光する光検出器と、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めることを特徴とする軸受転動体の公転速度測定装置。 - 前記光源は、レーザ光源であることを特徴とする請求項1に記載の軸受転動体の公転速度測定装置。
- 前記光検出器は、受光した光束の強度を求めることを特徴とする請求項1又は2に記載の軸受転動体の公転速度測定装置。
- 前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の軸受転動体の公転速度測定装置。
- 公転する軸受の転動体に、光束を照射するステップと、
前記転動体の表面からの前記光束の反射光束を、所定位置で受光するステップと、
前記光検出器が前記反射光束を所定回数だけ受光した時間を求め、該時間に基づいて前記転動体の公転速度を求めるステップとを有することを特徴とする軸受転動体の公転速度測定方法。 - 前記転動体は冠型保持器に保持されており、前記光束は、前記冠型保持器のポケット部側から前記転動体に照射されることを特徴とする請求項5に記載の軸受転動体の公転速度測定方法。
- 請求項1乃至4のいずれかに記載の軸受転動体の公転速度測定装置又は請求項5もしくは6に記載の軸受転動体の公転速度測定方法を用いたことを特徴とする軸受診断装置。
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- 2003-02-06 JP JP2003029022A patent/JP2004239746A/ja not_active Withdrawn
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