JP2002051265A - 撮像装置 - Google Patents
撮像装置Info
- Publication number
- JP2002051265A JP2002051265A JP2000233652A JP2000233652A JP2002051265A JP 2002051265 A JP2002051265 A JP 2002051265A JP 2000233652 A JP2000233652 A JP 2000233652A JP 2000233652 A JP2000233652 A JP 2000233652A JP 2002051265 A JP2002051265 A JP 2002051265A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- read
- image pickup
- output
- reading
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 54
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 31
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 101100116283 Arabidopsis thaliana DD11 gene Proteins 0.000 description 1
- 101500000960 Bacillus anthracis Protective antigen PA-63 Proteins 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
- H04N5/321—Transforming X-rays with video transmission of fluoroscopic images
- H04N5/325—Image enhancement, e.g. by subtraction techniques using polyenergetic X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電源変動や温度変動等により撮像パネルの出
力アンプのオフセットが変化すると、その変化分がその
まま出力に現われ、画質が劣化する。 【解決手段】 被写体像を撮像する、非破壊読み出し可
能なＸ線撮像パネル１１１と、動画像を得るための、Ｘ
線撮像パネル１１１から非破壊で連続的に読み出された
複数のフレームに対して、前記フレームよりも前に読み
出された前記フレームとの差分を行い、順次補正値とし
て出力する減算器１１７とを具備する。また、読み出さ
れた出力値が予め設定された基準値以上になった時は、
撮像パネル１１１からの読み出しを通常読み出しに切り
換える。
力アンプのオフセットが変化すると、その変化分がその
まま出力に現われ、画質が劣化する。 【解決手段】 被写体像を撮像する、非破壊読み出し可
能なＸ線撮像パネル１１１と、動画像を得るための、Ｘ
線撮像パネル１１１から非破壊で連続的に読み出された
複数のフレームに対して、前記フレームよりも前に読み
出された前記フレームとの差分を行い、順次補正値とし
て出力する減算器１１７とを具備する。また、読み出さ
れた出力値が予め設定された基準値以上になった時は、
撮像パネル１１１からの読み出しを通常読み出しに切り
換える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像装置に関し、
特に、動画を撮像する撮像装置に関するものである。
特に、動画を撮像する撮像装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来例のＸ線を用いて動画を撮像
するＸ線撮像装置の構成を示すブロック図である。図６
において、１０１はＸ線を放射するＸ線源、１０２はＸ
線撮像パネルである。Ｘ線撮像パネル１０２は２次元に
配列された複数の光電変換素子及びその駆動回路から成
っている。Ｘ線源１０１から放射されたＸ線は被写体１
０３を通ってＸ線撮像パネル１０２に入射し、Ｘ線撮像
パネル１０２で画像として検出される。なお、被写体１
０３を通ったＸ線は図示しない蛍光体で可視光に変換さ
れ、Ｘ線撮像パネル１０２に入射する。
するＸ線撮像装置の構成を示すブロック図である。図６
において、１０１はＸ線を放射するＸ線源、１０２はＸ
線撮像パネルである。Ｘ線撮像パネル１０２は２次元に
配列された複数の光電変換素子及びその駆動回路から成
っている。Ｘ線源１０１から放射されたＸ線は被写体１
０３を通ってＸ線撮像パネル１０２に入射し、Ｘ線撮像
パネル１０２で画像として検出される。なお、被写体１
０３を通ったＸ線は図示しない蛍光体で可視光に変換さ
れ、Ｘ線撮像パネル１０２に入射する。
【０００３】また、１０４はＸ線撮像パネル１０２から
の信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、１０５はＦＰＮ
（固定パターンノイズ）の補正値を記憶したＦＰＮメモ
リ、１０６はＦＰＮ補正値を取得するタイミングを発生
するＦＰＮ取得タイミング発生回路である。このＦＰＮ
取得タイミング発生回路１０６からタイミング信号を発
生すると、スイッチ１０７がオンし、Ａ／Ｄ変換器１０
４からＦＰＮがＦＰＮメモリ１０５に読み込まれる。１
０８はＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ１０
６の補正値を減算する減算器、１０９は撮影画像を表示
するモニター、１１０は画像データを記録する記録媒体
である。
の信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、１０５はＦＰＮ
（固定パターンノイズ）の補正値を記憶したＦＰＮメモ
リ、１０６はＦＰＮ補正値を取得するタイミングを発生
するＦＰＮ取得タイミング発生回路である。このＦＰＮ
取得タイミング発生回路１０６からタイミング信号を発
生すると、スイッチ１０７がオンし、Ａ／Ｄ変換器１０
４からＦＰＮがＦＰＮメモリ１０５に読み込まれる。１
０８はＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ１０
６の補正値を減算する減算器、１０９は撮影画像を表示
するモニター、１１０は画像データを記録する記録媒体
である。
【０００４】図７は図６のＸ線撮像装置の動作を示すタ
イミングチャートである。まず、図７（ａ）はＦＰＮ取
得タイミング発生回路１０６からのＦＰＮ取得タイミン
グ信号、図７（ｂ）はＡ／Ｄ変換器１０４の出力を示し
ている。撮影開始時には、図７（ａ）に示すようにＦＰ
Ｎ取得タイミング信号がスイッチ１０７に供給され、ス
イッチ１０７をオンさせることによってＡ／Ｄ変換器１
０４からＦＰＮメモリ１０５にＦＰＮ補正値が読み込ま
れる。以後、撮影時は図７（ｃ）に示すように減算器１
０８によりＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ
１０６の補正値が減算され、ＦＰＮを除去した補正画像
データがモニター１０９、記録媒体１１０に供給され
る。
イミングチャートである。まず、図７（ａ）はＦＰＮ取
得タイミング発生回路１０６からのＦＰＮ取得タイミン
グ信号、図７（ｂ）はＡ／Ｄ変換器１０４の出力を示し
ている。撮影開始時には、図７（ａ）に示すようにＦＰ
Ｎ取得タイミング信号がスイッチ１０７に供給され、ス
イッチ１０７をオンさせることによってＡ／Ｄ変換器１
０４からＦＰＮメモリ１０５にＦＰＮ補正値が読み込ま
れる。以後、撮影時は図７（ｃ）に示すように減算器１
０８によりＡ／Ｄ変換器１０４の出力からＦＰＮメモリ
１０６の補正値が減算され、ＦＰＮを除去した補正画像
データがモニター１０９、記録媒体１１０に供給され
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の動画撮像装
置では、撮影開始時にＦＰＮ補正値をＦＰＮメモリに記
憶させているのでＦＰＮ補正値は固定である。即ち、動
画を撮影する時は常時ＦＰＮ補正データを得ることがで
きない。そのため、例えば、出力アンプ（Ｘ線撮像パネ
ル内の出力段のアンプ）のオフセットが電源変動や温度
変動等により変化すると、図７（ｂ）に示すようにその
ままオフセットの変化が出力に現われる。従って、図７
（ｃ）に示すように補正出力にオフセットの変化が現わ
れ、画質が低下するという問題があった。
置では、撮影開始時にＦＰＮ補正値をＦＰＮメモリに記
憶させているのでＦＰＮ補正値は固定である。即ち、動
画を撮影する時は常時ＦＰＮ補正データを得ることがで
きない。そのため、例えば、出力アンプ（Ｘ線撮像パネ
ル内の出力段のアンプ）のオフセットが電源変動や温度
変動等により変化すると、図７（ｂ）に示すようにその
ままオフセットの変化が出力に現われる。従って、図７
（ｃ）に示すように補正出力にオフセットの変化が現わ
れ、画質が低下するという問題があった。
【０００６】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、その目的は、出力アンプのオフセットの変動
の影響を受けることなく、ＦＰＮ補正を正確に行うこと
が可能な撮像装置を提供することにある。
たもので、その目的は、出力アンプのオフセットの変動
の影響を受けることなく、ＦＰＮ補正を正確に行うこと
が可能な撮像装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、被写体
像を撮像する、非破壊読み出し可能な撮像手段と、動画
像を得るための、前記撮像手段から非破壊で連続的に読
み出された複数のフレームに対して、前記フレームより
も前に読み出された前記フレームとの差分を行い補正値
として順次出力する減算手段と、を有することを特徴と
する撮像装置によって達成される。
像を撮像する、非破壊読み出し可能な撮像手段と、動画
像を得るための、前記撮像手段から非破壊で連続的に読
み出された複数のフレームに対して、前記フレームより
も前に読み出された前記フレームとの差分を行い補正値
として順次出力する減算手段と、を有することを特徴と
する撮像装置によって達成される。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の撮像
装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。な
お、図１では図６の従来装置と同一部分は同一符号を付
して説明を省略する。図１において、Ｘ線撮像パネル１
１１は通常読み出しと非破壊読み出しが可能な撮像パネ
ルである。Ｘ線撮像パネル１１１は２次元に配列された
複数の光電変換素子とその駆動回路から構成されてい
る。Ｘ線撮像パネル１１１の回路構成と動作については
詳しく後述する。
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の撮像
装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。な
お、図１では図６の従来装置と同一部分は同一符号を付
して説明を省略する。図１において、Ｘ線撮像パネル１
１１は通常読み出しと非破壊読み出しが可能な撮像パネ
ルである。Ｘ線撮像パネル１１１は２次元に配列された
複数の光電変換素子とその駆動回路から構成されてい
る。Ｘ線撮像パネル１１１の回路構成と動作については
詳しく後述する。
【０００９】比較器１１２はＸ線撮像パネル１１１の読
み出し時に予め設定された基準値とＡ／Ｄ変換器１０４
の出力値を比較する回路である。比較器１１２はＡ／Ｄ
変換器１０４の出力値と基準値との比較結果に基づいて
Ｘ線撮像パネル１１１の読み出しモードを切り換えるモ
ード切換信号を出力する回路である。このモード切換信
号はディレイ１１３によって所定時間遅れる。
み出し時に予め設定された基準値とＡ／Ｄ変換器１０４
の出力値を比較する回路である。比較器１１２はＡ／Ｄ
変換器１０４の出力値と基準値との比較結果に基づいて
Ｘ線撮像パネル１１１の読み出しモードを切り換えるモ
ード切換信号を出力する回路である。このモード切換信
号はディレイ１１３によって所定時間遅れる。
【００１０】ここで、撮影時にＸ線撮像パネル１１１か
ら信号を読み出す時は非破壊読み出しで読み出される。
この非破壊読み出しの場合、後述するように画素がリセ
ットされずに信号電荷が蓄積されるため、Ａ／Ｄ変換器
１０４の出力は徐々に上昇していく。そのため、本実施
形態では、比較器１１２の基準値は画素が飽和した時の
Ａ／Ｄ変換器出力よりもやや低い値に設定され、Ａ／Ｄ
変換器１０４の出力が基準値以上になった時に読み出し
モードを通常読み出しに切り換え、Ｘ線撮像パネル１１
１の画素をリセットしている。
ら信号を読み出す時は非破壊読み出しで読み出される。
この非破壊読み出しの場合、後述するように画素がリセ
ットされずに信号電荷が蓄積されるため、Ａ／Ｄ変換器
１０４の出力は徐々に上昇していく。そのため、本実施
形態では、比較器１１２の基準値は画素が飽和した時の
Ａ／Ｄ変換器出力よりもやや低い値に設定され、Ａ／Ｄ
変換器１０４の出力が基準値以上になった時に読み出し
モードを通常読み出しに切り換え、Ｘ線撮像パネル１１
１の画素をリセットしている。
【００１１】また、Ａ／Ｄ変換器１０４の出力と比較器
１１２の＋端子の間にはスイッチ１１４が接続されてい
る。このスイッチ１１４はマスクテーブル１１５からの
信号によって駆動される。即ち、マスクテーブル１１５
には、予めＸ線撮像パネル１１１の欠陥画素の位置情報
が記憶されており、欠陥画素の出力の場合はスイッチ１
１４をオフし、欠陥画素で読み出しモードが切り換わる
ことを防いでいる。また、マスクテーブル１１５に撮影
対象外の無効エリアの位置情報を記憶させておき、撮影
対象外の無効エリアでスイッチ１１４をオフすることに
より、無効エリアで無駄に読み出しモードが切り換わる
ことを防いでいる。
１１２の＋端子の間にはスイッチ１１４が接続されてい
る。このスイッチ１１４はマスクテーブル１１５からの
信号によって駆動される。即ち、マスクテーブル１１５
には、予めＸ線撮像パネル１１１の欠陥画素の位置情報
が記憶されており、欠陥画素の出力の場合はスイッチ１
１４をオフし、欠陥画素で読み出しモードが切り換わる
ことを防いでいる。また、マスクテーブル１１５に撮影
対象外の無効エリアの位置情報を記憶させておき、撮影
対象外の無効エリアでスイッチ１１４をオフすることに
より、無効エリアで無駄に読み出しモードが切り換わる
ことを防いでいる。
【００１２】１フレームディレイメモリ１１６はＡ／Ｄ
変換器１０４の出力値をフレーム毎に記憶するメモリ、
減算器１１７はＡ／Ｄ変換器１０４の現在の画素毎の出
力値から１フレームディレイメモリ１１６に記憶してい
る前回のフレームの画素毎の出力値を減算する回路であ
る。このようにＸ線撮像パネル１１１から非破壊読み出
しで信号を読み出し、現在の出力値から１つ前のフレー
ムの出力値を減算することによってＦＰＮを補正してい
る。
変換器１０４の出力値をフレーム毎に記憶するメモリ、
減算器１１７はＡ／Ｄ変換器１０４の現在の画素毎の出
力値から１フレームディレイメモリ１１６に記憶してい
る前回のフレームの画素毎の出力値を減算する回路であ
る。このようにＸ線撮像パネル１１１から非破壊読み出
しで信号を読み出し、現在の出力値から１つ前のフレー
ムの出力値を減算することによってＦＰＮを補正してい
る。
【００１３】１フレームディレイメモリ１１８は減算器
１１７からの出力値を１フレーム毎に記憶するメモリ、
スイッチ１１９はタイミング変換回路１２０からの信号
に応じて減算器１１７の出力又は１フレームディレイメ
モリ１１８の出力を選択するスイッチである。ここで、
詳しくは後述するが、通常読み出しの次のフレームの補
正値は使用できない。本実施形態では、この時、スイッ
チ１１９を１フレームディレイメモリ１１８に切り換え
ることにより、１フレームディレイメモリ１１８に記憶
している前回のフレームの補正値を出力している。な
お、Ｘ線源１０１、被写体１０３、モニター１０９、記
録媒体１１０は図６のものと同じである。また、図１で
は図６と同様にＸ線を可視光に変換する蛍光体について
は省略している。
１１７からの出力値を１フレーム毎に記憶するメモリ、
スイッチ１１９はタイミング変換回路１２０からの信号
に応じて減算器１１７の出力又は１フレームディレイメ
モリ１１８の出力を選択するスイッチである。ここで、
詳しくは後述するが、通常読み出しの次のフレームの補
正値は使用できない。本実施形態では、この時、スイッ
チ１１９を１フレームディレイメモリ１１８に切り換え
ることにより、１フレームディレイメモリ１１８に記憶
している前回のフレームの補正値を出力している。な
お、Ｘ線源１０１、被写体１０３、モニター１０９、記
録媒体１１０は図６のものと同じである。また、図１で
は図６と同様にＸ線を可視光に変換する蛍光体について
は省略している。
【００１４】図２はＸ線撮像パネル１１１の回路を示す
回路図である。なお、図２ではＸ線撮像パネル１１１の
一部の回路を示している。図２において、１３０は垂直
シフトレジスタ、１３１は水平シフトレジスタ、１３２
はアンドゲート、１３３は画素部である。また、１３４
は定電流源、１３５は水平切り換え用ＭＯＳトランジス
タである。アンドゲート１３２には図１の比較器１１２
からディレイ１１３を介してモード切換信号が入力され
る。また、１４１は垂直読み出し線、１４２は水平読み
出し線である。
回路図である。なお、図２ではＸ線撮像パネル１１１の
一部の回路を示している。図２において、１３０は垂直
シフトレジスタ、１３１は水平シフトレジスタ、１３２
はアンドゲート、１３３は画素部である。また、１３４
は定電流源、１３５は水平切り換え用ＭＯＳトランジス
タである。アンドゲート１３２には図１の比較器１１２
からディレイ１１３を介してモード切換信号が入力され
る。また、１４１は垂直読み出し線、１４２は水平読み
出し線である。
【００１５】画素部１３３はリセット用ＭＯＳトランジ
スタ１３６、垂直出力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１
３７、読み出し用ＭＯＳトランジスタ１３８、光電変換
素子１３９、コンデンサ１４０から構成されている。画
素部１３３は定電流源１３４と合わせて電圧増幅率が１
倍のアンプを構成し、読み出し時において光電変換素子
１３９の電荷は移動せず、読み出し動作をリセットと独
立して行うことが可能である。
スタ１３６、垂直出力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１
３７、読み出し用ＭＯＳトランジスタ１３８、光電変換
素子１３９、コンデンサ１４０から構成されている。画
素部１３３は定電流源１３４と合わせて電圧増幅率が１
倍のアンプを構成し、読み出し時において光電変換素子
１３９の電荷は移動せず、読み出し動作をリセットと独
立して行うことが可能である。
【００１６】即ち、画素部１３３の読み出し用ＭＯＳト
ランジスタ１３８のゲート端子に光電変換素子１３９及
びコンデンサ１４０が接続され、定電流源１３４と合わ
せてソースフォロワ回路が構成されている。そのため、
読み出し用ＭＯＳトランジスタ１３８のゲート端子には
電流が流れることなく、光電変換素子１３９の信号電荷
の情報を垂直読み出し線１４１に読み出すことができ、
読み出し時に光電変換素子１３９の信号電荷が移動する
ことはない。従って、非破壊読み出しが可能である。な
お、定電流源１３４の代わりに抵抗を用いてもよいが、
精度を向上するためには定電流源１３４を用いることが
望ましい。本実施形態においては読み出し用ＭＯＳトラ
ンジスタのゲート端子に光電変換素子を接続したが、こ
れに限らず、アンプ動作を示す素子、もしくは回路の制
御端子につなげば非破壊読み出しが可能である。制御端
子には電流が流れず電荷が移動しないし、もし流れても
アンプの原理から出力に必要な電流や電荷より遥かに小
さい電荷のみが流れるだけであるからである。僅かに小
さい電流であれば無視することができる。例えば、読み
出し用バイポーラトランジスタのベース端子につないで
も非破壊読み出しは可能である。
ランジスタ１３８のゲート端子に光電変換素子１３９及
びコンデンサ１４０が接続され、定電流源１３４と合わ
せてソースフォロワ回路が構成されている。そのため、
読み出し用ＭＯＳトランジスタ１３８のゲート端子には
電流が流れることなく、光電変換素子１３９の信号電荷
の情報を垂直読み出し線１４１に読み出すことができ、
読み出し時に光電変換素子１３９の信号電荷が移動する
ことはない。従って、非破壊読み出しが可能である。な
お、定電流源１３４の代わりに抵抗を用いてもよいが、
精度を向上するためには定電流源１３４を用いることが
望ましい。本実施形態においては読み出し用ＭＯＳトラ
ンジスタのゲート端子に光電変換素子を接続したが、こ
れに限らず、アンプ動作を示す素子、もしくは回路の制
御端子につなげば非破壊読み出しが可能である。制御端
子には電流が流れず電荷が移動しないし、もし流れても
アンプの原理から出力に必要な電流や電荷より遥かに小
さい電荷のみが流れるだけであるからである。僅かに小
さい電流であれば無視することができる。例えば、読み
出し用バイポーラトランジスタのベース端子につないで
も非破壊読み出しは可能である。
【００１７】図３は通常読み出し動作を示すタイミング
チャート、図４は非破壊読み出し時し動作を示すタイミ
ングチャートである。まず、図３を参照しながら通常読
み出し時の動作について説明する。通常読み出し時には
図３（ａ）に示すように比較器１１２からアンドゲート
１３２にハイレベルのモード切換信号が供給される。こ
の状態で、図３（ｂ）に示すように垂直シフトレジスタ
１３０からφＯn （ハイレベル）が出力されると、垂直
出力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３７がオンする。
チャート、図４は非破壊読み出し時し動作を示すタイミ
ングチャートである。まず、図３を参照しながら通常読
み出し時の動作について説明する。通常読み出し時には
図３（ａ）に示すように比較器１１２からアンドゲート
１３２にハイレベルのモード切換信号が供給される。こ
の状態で、図３（ｂ）に示すように垂直シフトレジスタ
１３０からφＯn （ハイレベル）が出力されると、垂直
出力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３７がオンする。
【００１８】この時、読み出し用ＭＯＳトランジスタ１
３８を含む回路はソースフォロワを構成し、電圧増幅率
が約１倍の増幅回路であるので、光電変換素子１３９の
信号電荷がそのまま垂直読み出し線１４１に読み出され
る。また、図３では省略しているが、行方向に複数の画
素部が配列されており、これらの行方向１ライン分の各
画素部の信号電荷が垂直読み出し線１４１に読み出され
る。更に、図３では列方向に複数の画素部が配列され、
行方向及び列方向に複数の画素部１３３がマトリクス状
に配列されている。
３８を含む回路はソースフォロワを構成し、電圧増幅率
が約１倍の増幅回路であるので、光電変換素子１３９の
信号電荷がそのまま垂直読み出し線１４１に読み出され
る。また、図３では省略しているが、行方向に複数の画
素部が配列されており、これらの行方向１ライン分の各
画素部の信号電荷が垂直読み出し線１４１に読み出され
る。更に、図３では列方向に複数の画素部が配列され、
行方向及び列方向に複数の画素部１３３がマトリクス状
に配列されている。
【００１９】次いで、図３（ｆ）に示すように水平シフ
トレジスタ１３１からφＨ0 が出力され、水平出力切り
換え用ＭＯＳトランジスタ１３５がオンする。これによ
り、図３（ｊ）に示すように垂直読み出し線１４１の出
力が水平出力線１４２に読み出される。以下、図３
（ｇ）〜（ｉ）に示すように水平シフトレジスタ１３１
から順次φＨ1 、φＨ2 、…、φＨm が出力され、図３
（ｊ）に示すように行方向１ライン分の画素の信号電荷
が順次水平読み出し線１４２に読み出される。以上で行
方向１行目の読み出しを終了する。
トレジスタ１３１からφＨ0 が出力され、水平出力切り
換え用ＭＯＳトランジスタ１３５がオンする。これによ
り、図３（ｊ）に示すように垂直読み出し線１４１の出
力が水平出力線１４２に読み出される。以下、図３
（ｇ）〜（ｉ）に示すように水平シフトレジスタ１３１
から順次φＨ1 、φＨ2 、…、φＨm が出力され、図３
（ｊ）に示すように行方向１ライン分の画素の信号電荷
が順次水平読み出し線１４２に読み出される。以上で行
方向１行目の読み出しを終了する。
【００２０】次に、図３（ｃ）に示すように垂直シフト
レジスタ１３０からφＣn がアンドゲート１３２に出力
され、リセット用ＭＯＳトランジスタ１３６がオンす
る。これによって、光電変換素子１３９の信号電荷が初
期化（リセット）される。また他の行方向１ライン分の
画素部の信号電荷が同様にリセットされ、次の蓄積期間
中には新たに光電変換素子に電荷が蓄積される。
レジスタ１３０からφＣn がアンドゲート１３２に出力
され、リセット用ＭＯＳトランジスタ１３６がオンす
る。これによって、光電変換素子１３９の信号電荷が初
期化（リセット）される。また他の行方向１ライン分の
画素部の信号電荷が同様にリセットされ、次の蓄積期間
中には新たに光電変換素子に電荷が蓄積される。
【００２１】次に、２行目の画素（図示せず）に対して
図３（ｄ）に示すように垂直シフトレジスタ１３０から
φＯn+1 が出力され、垂直出力切り換え用ＭＯＳトラン
ジスタ１３７がオンする。これによって、２行目の画素
部の光電変換素子１３９の信号電荷が垂直読み出し線１
４１に読み出される。また、図３（ｆ）〜（ｉ）に示す
ように水平シフトレジスタ１３１からφＨ0 〜φＨm が
順次出力され、図３（ｊ）に示すように垂直読み出し線
１４１の信号電荷が順次水平出力線１４２に読み出され
る。
図３（ｄ）に示すように垂直シフトレジスタ１３０から
φＯn+1 が出力され、垂直出力切り換え用ＭＯＳトラン
ジスタ１３７がオンする。これによって、２行目の画素
部の光電変換素子１３９の信号電荷が垂直読み出し線１
４１に読み出される。また、図３（ｆ）〜（ｉ）に示す
ように水平シフトレジスタ１３１からφＨ0 〜φＨm が
順次出力され、図３（ｊ）に示すように垂直読み出し線
１４１の信号電荷が順次水平出力線１４２に読み出され
る。
【００２２】この後、図３（ｅ）に示すように垂直シフ
トレジスタ１３０からφＣn+1 がアンドゲート１３２に
出力され、２行目の画素部の光電変換素子１３９がリセ
ットされる。以下、同様に３行目、４行目、…の画素部
の信号電荷を読み出し、最終ラインのｎ行目の信号電荷
を読み出したところでＸ線撮像パネル１１１のすべての
画素部の読み出しを完了する。
トレジスタ１３０からφＣn+1 がアンドゲート１３２に
出力され、２行目の画素部の光電変換素子１３９がリセ
ットされる。以下、同様に３行目、４行目、…の画素部
の信号電荷を読み出し、最終ラインのｎ行目の信号電荷
を読み出したところでＸ線撮像パネル１１１のすべての
画素部の読み出しを完了する。
【００２３】次に、非破壊読み出し時の動作について図
４を参照しながら説明する。通常読み出し時は前述のよ
うに光電変換素子の信号電荷を読み出した後、信号電荷
をリセットしているが、非破壊読み出し時は光電変換素
子の信号電荷を読み出した後信号電荷をリセットしない
点が通常読み出し時と異なっている。従って、この場合
は、図４（ａ）に示すように比較器１１２からローレベ
ルのモード切換信号が供給され、アンドゲート１３２は
閉じた状態に維持される。
４を参照しながら説明する。通常読み出し時は前述のよ
うに光電変換素子の信号電荷を読み出した後、信号電荷
をリセットしているが、非破壊読み出し時は光電変換素
子の信号電荷を読み出した後信号電荷をリセットしない
点が通常読み出し時と異なっている。従って、この場合
は、図４（ａ）に示すように比較器１１２からローレベ
ルのモード切換信号が供給され、アンドゲート１３２は
閉じた状態に維持される。
【００２４】この状態で、図４（ｂ）に示すように垂直
シフトレジスタ１３０からφＯn が出力され、垂直出力
切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３７がオンする。これ
によって、光電変換素子１３９の信号電荷が読み出し用
ＭＯＳトランジスタ１３８を介して垂直読み出し線１４
１に読み出される。次いで、図４（ｆ）に示すように水
平シフトレジスタ１３１からφＨ0 が出力され、水平出
力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３５がオンする。こ
れによって、図４（ｊ）に示すように垂直読み出し線１
４１の出力が水平出力線１４２に読み出される。以下、
図４（ｇ）〜（ｉ）に示すように、水平シフトレジスタ
１３１から順次φＨ1 、φＨ2 、…、φＨm が出力さ
れ、これに伴い図４（ｊ）に示すように行方向１ライン
分の画素部の信号電荷が水平読み出し線１４２に読み出
される。以上で行方向１ライン分の読み出しを終了す
る。
シフトレジスタ１３０からφＯn が出力され、垂直出力
切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３７がオンする。これ
によって、光電変換素子１３９の信号電荷が読み出し用
ＭＯＳトランジスタ１３８を介して垂直読み出し線１４
１に読み出される。次いで、図４（ｆ）に示すように水
平シフトレジスタ１３１からφＨ0 が出力され、水平出
力切り換え用ＭＯＳトランジスタ１３５がオンする。こ
れによって、図４（ｊ）に示すように垂直読み出し線１
４１の出力が水平出力線１４２に読み出される。以下、
図４（ｇ）〜（ｉ）に示すように、水平シフトレジスタ
１３１から順次φＨ1 、φＨ2 、…、φＨm が出力さ
れ、これに伴い図４（ｊ）に示すように行方向１ライン
分の画素部の信号電荷が水平読み出し線１４２に読み出
される。以上で行方向１ライン分の読み出しを終了す
る。
【００２５】次に、２行目の画素部（図示せず）に対し
て図４（ｄ）に示すように垂直シフトレジスタ１３０か
らφＯn+1 が出力され、垂直出力切り換え用ＭＯＳトラ
ンジスタ１３７がオンする。これによって、２行目の画
素部の光電変換素子１３９の信号電荷が垂直読み出し線
１４１に読み出される。また、図４（ｆ）〜（ｉ）に示
すように水平シフトレジスタ１３１からφＨ0 〜φＨm
が順次出力され、図４（ｊ）に示すように垂直読み出し
線１４１の信号電荷が順次水平出力線１４２に読み出さ
れる。
て図４（ｄ）に示すように垂直シフトレジスタ１３０か
らφＯn+1 が出力され、垂直出力切り換え用ＭＯＳトラ
ンジスタ１３７がオンする。これによって、２行目の画
素部の光電変換素子１３９の信号電荷が垂直読み出し線
１４１に読み出される。また、図４（ｆ）〜（ｉ）に示
すように水平シフトレジスタ１３１からφＨ0 〜φＨm
が順次出力され、図４（ｊ）に示すように垂直読み出し
線１４１の信号電荷が順次水平出力線１４２に読み出さ
れる。
【００２６】以下、同様に３行目、４行目、…の画素の
信号電荷を読み出し、最終ラインのｎ行目の信号電荷を
読み出したところでＸ線撮像パネル１１１のすべての画
素部の読み出しを完了する。このように非破壊読み出し
モードの場合は、画素部の信号電荷の読み出し後に光電
変換素子の信号電荷をリセットせず、次の蓄積が開始さ
れる。即ち、画素部の読み出し前後で電荷量は変化せ
ず、読み出すという動作で光電変換素子は影響を受けな
い。本実施形態では、この非破壊読み出しを用いてＸ線
撮像パネル１１１の読み出しを行い、ＦＰＮの補正を行
う。
信号電荷を読み出し、最終ラインのｎ行目の信号電荷を
読み出したところでＸ線撮像パネル１１１のすべての画
素部の読み出しを完了する。このように非破壊読み出し
モードの場合は、画素部の信号電荷の読み出し後に光電
変換素子の信号電荷をリセットせず、次の蓄積が開始さ
れる。即ち、画素部の読み出し前後で電荷量は変化せ
ず、読み出すという動作で光電変換素子は影響を受けな
い。本実施形態では、この非破壊読み出しを用いてＸ線
撮像パネル１１１の読み出しを行い、ＦＰＮの補正を行
う。
【００２７】図５は本実施形態の動作を示すタイミング
チャートである。以下、図１及び図５を参照しながら本
実施形態の具体的な動作について説明する。まず、動画
を撮影する場合、Ｘ線源１０１から被写体１０３にＸ線
が放射され、被写体１０３を通ったＸ線がＸ線撮像パネ
ル１１１に入射し、画像として検出される。図５（ａ）
はこの動画撮影時の読み出しモードを示している。Ａは
通常読み出し、Ｂは非破壊読み出しである。
チャートである。以下、図１及び図５を参照しながら本
実施形態の具体的な動作について説明する。まず、動画
を撮影する場合、Ｘ線源１０１から被写体１０３にＸ線
が放射され、被写体１０３を通ったＸ線がＸ線撮像パネ
ル１１１に入射し、画像として検出される。図５（ａ）
はこの動画撮影時の読み出しモードを示している。Ａは
通常読み出し、Ｂは非破壊読み出しである。
【００２８】動画撮影時は、図５（ａ）に示すように主
に非破壊読み出しＢが用いられ、通常読み出しＡでＸ線
撮像パネル１１１の各画素をリセットした後、非破壊読
み出しＢに切り換えられる。図５（ｂ）はＡ／Ｄ変換器
１０４の出力を示している。非破壊読み出しＢに切り換
えると、図４で説明したような動作でＸ線撮像パネル１
１１から信号が読み出され、図５（ｂ）に示すようにＡ
／Ｄ変換器１０４からフレーム毎に非破壊読み出しＢ
0 、Ｂ1 、Ｂ2 、Ｂ3 、…というように読み出される。
この非破壊読み出しの画素毎の出力値はフレーム毎に１
フレームディレイメモリ１１６に格納される。
に非破壊読み出しＢが用いられ、通常読み出しＡでＸ線
撮像パネル１１１の各画素をリセットした後、非破壊読
み出しＢに切り換えられる。図５（ｂ）はＡ／Ｄ変換器
１０４の出力を示している。非破壊読み出しＢに切り換
えると、図４で説明したような動作でＸ線撮像パネル１
１１から信号が読み出され、図５（ｂ）に示すようにＡ
／Ｄ変換器１０４からフレーム毎に非破壊読み出しＢ
0 、Ｂ1 、Ｂ2 、Ｂ3 、…というように読み出される。
この非破壊読み出しの画素毎の出力値はフレーム毎に１
フレームディレイメモリ１１６に格納される。
【００２９】減算器１１７は、Ａ／Ｄ変換器１０４の現
在の画素の出力値から１フレームディレイメモリ１１６
に記憶している１フレーム前の画素の出力値を減算し、
図５（ｅ）に示すように補正値を出力する。即ち、減算
器１１７では画素毎に現在の画素の出力値から前回のフ
レームの画素の出力値を減算する処理を行い、各フレー
ムにおいて（Ｂ1 −Ｂ0 ）、（Ｂ2 −Ｂ1 ）、（Ｂ3 −
Ｂ2 ）、…というように画素毎に１フレームディレイメ
モリ１１６に記憶している前回のフレームの出力値との
差分を補正値として出力する。
在の画素の出力値から１フレームディレイメモリ１１６
に記憶している１フレーム前の画素の出力値を減算し、
図５（ｅ）に示すように補正値を出力する。即ち、減算
器１１７では画素毎に現在の画素の出力値から前回のフ
レームの画素の出力値を減算する処理を行い、各フレー
ムにおいて（Ｂ1 −Ｂ0 ）、（Ｂ2 −Ｂ1 ）、（Ｂ3 −
Ｂ2 ）、…というように画素毎に１フレームディレイメ
モリ１１６に記憶している前回のフレームの出力値との
差分を補正値として出力する。
【００３０】減算器１１７からの補正値はスイッチ１１
９を介してモニター１０９及び記録媒体１１０に供給さ
れ、撮影画像がモニター１０９に表示される。また、記
録媒体１１０に画像データとして記録される。なお、ス
イッチ１１９は非破壊読み出し時はａ側に接続され、減
算器１１７からの補正値はスイッチ１１９を通ってモニ
ター１０９及び記録媒体１１０に供給される。また、ス
イッチ１１９は後述するように通常読み出しの後、タイ
ミング変換回路１２０からの信号によりｂ側に切り換え
られる。
９を介してモニター１０９及び記録媒体１１０に供給さ
れ、撮影画像がモニター１０９に表示される。また、記
録媒体１１０に画像データとして記録される。なお、ス
イッチ１１９は非破壊読み出し時はａ側に接続され、減
算器１１７からの補正値はスイッチ１１９を通ってモニ
ター１０９及び記録媒体１１０に供給される。また、ス
イッチ１１９は後述するように通常読み出しの後、タイ
ミング変換回路１２０からの信号によりｂ側に切り換え
られる。
【００３１】一方、Ａ／Ｄ変換器１０４の出力値は、非
破壊読み出しであるため、Ｘ線撮像パネル１１１の各画
素はリセットされずに次々に電荷が蓄積されるので、図
５（ｂ）に示すように徐々に上昇していく。比較器１１
２はＡ／Ｄ変換器１０４の出力値を監視していて、図５
（ｂ）に示すようにＡ／Ｄ変換器１０４の出力値が非破
壊読み出しＢ7 で基準値を越えると、図５（ｃ）に示す
ようにディレイ１１３を介してＸ線撮像パネル１１１に
ハイレベルのモード切換信号を出力する。このモード切
換信号はディレイ１１３で所定時間遅延され、図２で説
明したようにＸ線撮像パネル１１１のアンドゲート１３
２に供給される。
破壊読み出しであるため、Ｘ線撮像パネル１１１の各画
素はリセットされずに次々に電荷が蓄積されるので、図
５（ｂ）に示すように徐々に上昇していく。比較器１１
２はＡ／Ｄ変換器１０４の出力値を監視していて、図５
（ｂ）に示すようにＡ／Ｄ変換器１０４の出力値が非破
壊読み出しＢ7 で基準値を越えると、図５（ｃ）に示す
ようにディレイ１１３を介してＸ線撮像パネル１１１に
ハイレベルのモード切換信号を出力する。このモード切
換信号はディレイ１１３で所定時間遅延され、図２で説
明したようにＸ線撮像パネル１１１のアンドゲート１３
２に供給される。
【００３２】ディレイ１１３の遅延時間は図５（ｃ）に
示すようにＡ／Ｄ変換器１０４の出力値が基準値を越え
たフレームから次のフレームの開始までの時間であり、
フレームの途中で読み出しモードが切り換わることを防
いでいる。また、通常時はスイッチ１１４はオンしてい
て、前述のように画素欠陥や無効エリアの場合はオフす
るように構成されている。比較器１１２の基準値は撮像
パネル１１の画素が飽和した時のＡ／Ｄ変換器１０４の
出力値よりもやや低い値に設定されている。
示すようにＡ／Ｄ変換器１０４の出力値が基準値を越え
たフレームから次のフレームの開始までの時間であり、
フレームの途中で読み出しモードが切り換わることを防
いでいる。また、通常時はスイッチ１１４はオンしてい
て、前述のように画素欠陥や無効エリアの場合はオフす
るように構成されている。比較器１１２の基準値は撮像
パネル１１の画素が飽和した時のＡ／Ｄ変換器１０４の
出力値よりもやや低い値に設定されている。
【００３３】通常読み出しモードに切り換えると、図３
で説明したような動作でＸ線撮像パネル１１１から信号
が読み出され、図５（ｂ）に示すように通常読み出しＡ
1 で１フレーム分読み出される。この時、図３説明した
ように各画素から信号を読み出した後、各光電変換素子
がリセットされる。次いで、通常読み出しＡ1 の後はＡ
／Ｄ変換器１０４の出力値が低下するため、図５（ｃ）
に示すように比較器１０４からのモード切換信号がロー
レベルに反転し、図５（ｂ）に示すように非破壊読み出
しに切り換えられる。これによって、非破壊読み出しＢ
8 、Ｂ9 、Ｂ10、…というように順次非破壊読み出しで
読み出される。
で説明したような動作でＸ線撮像パネル１１１から信号
が読み出され、図５（ｂ）に示すように通常読み出しＡ
1 で１フレーム分読み出される。この時、図３説明した
ように各画素から信号を読み出した後、各光電変換素子
がリセットされる。次いで、通常読み出しＡ1 の後はＡ
／Ｄ変換器１０４の出力値が低下するため、図５（ｃ）
に示すように比較器１０４からのモード切換信号がロー
レベルに反転し、図５（ｂ）に示すように非破壊読み出
しに切り換えられる。これによって、非破壊読み出しＢ
8 、Ｂ9 、Ｂ10、…というように順次非破壊読み出しで
読み出される。
【００３４】一方、比較器１１２の出力信号はディレイ
１１３を介してタイミング変換回路１２０に供給され
る。タイミング変換回路１２０は１フレーム分の時間を
遅延させるディレイ回路から成っていて、図５（ｄ）に
示すようにモード切換信号（図５（ｃ））に対し１フレ
ーム分遅延している。タイミング変換回路１２０からの
信号はスイッチ１１９に供給され、スイッチ１１９はｂ
側に切り換えられる。即ち、図５（ｅ）に示すように現
在の出力値から前回のフレームの出力値を減算し、補正
値を出力する場合、通常読み出しの次のフレームでは正
常な値が得られない。つまり、通常読み出しの次のフレ
ームの補正値は（Ｂ8 −Ａ1 ）であるが、これは正常な
値にならない。
１１３を介してタイミング変換回路１２０に供給され
る。タイミング変換回路１２０は１フレーム分の時間を
遅延させるディレイ回路から成っていて、図５（ｄ）に
示すようにモード切換信号（図５（ｃ））に対し１フレ
ーム分遅延している。タイミング変換回路１２０からの
信号はスイッチ１１９に供給され、スイッチ１１９はｂ
側に切り換えられる。即ち、図５（ｅ）に示すように現
在の出力値から前回のフレームの出力値を減算し、補正
値を出力する場合、通常読み出しの次のフレームでは正
常な値が得られない。つまり、通常読み出しの次のフレ
ームの補正値は（Ｂ8 −Ａ1 ）であるが、これは正常な
値にならない。
【００３５】この時、本実施形態では、図５（ｄ）に示
すようにスイッチ１１９をｂ側に切り換え、１フレーム
ディレイメモリ１１８に記憶している前回のフレームの
補正値を代わりに出力している。即ち、この場合は、１
フレームディレイメモリ１１８には前回の補正値（Ａ1
−Ｂ7 ）が格納されているので、図５（ｅ）に示すよう
に通常読み出しの次のフレームの時だけ前回の補正値の
（Ａ1 −Ｂ7 ）を出力する。従って、この時は前回に続
いて（Ａ1 −Ｂ7 ）が２回出力されるが、全体の画像に
は影響はない。
すようにスイッチ１１９をｂ側に切り換え、１フレーム
ディレイメモリ１１８に記憶している前回のフレームの
補正値を代わりに出力している。即ち、この場合は、１
フレームディレイメモリ１１８には前回の補正値（Ａ1
−Ｂ7 ）が格納されているので、図５（ｅ）に示すよう
に通常読み出しの次のフレームの時だけ前回の補正値の
（Ａ1 −Ｂ7 ）を出力する。従って、この時は前回に続
いて（Ａ1 −Ｂ7 ）が２回出力されるが、全体の画像に
は影響はない。
【００３６】以下、同様の動作でＸ線撮像パネル１１１
から非破壊読み出しで信号を読み出し、現在の出力値か
ら前回のフレームの出力値を減算して補正値を出力する
という動作を繰り返し行う。また、Ａ／Ｄ変換器１０４
の出力値が基準値を越えた時には通常読み出しに切り換
え、通常読み出しの次のフレームは前回のフレームの補
正値を出力するという動作を繰り返し行うことにより、
動画の撮影を連続して行う。
から非破壊読み出しで信号を読み出し、現在の出力値か
ら前回のフレームの出力値を減算して補正値を出力する
という動作を繰り返し行う。また、Ａ／Ｄ変換器１０４
の出力値が基準値を越えた時には通常読み出しに切り換
え、通常読み出しの次のフレームは前回のフレームの補
正値を出力するという動作を繰り返し行うことにより、
動画の撮影を連続して行う。
【００３７】このように本実施形態では、非破壊読み出
しで信号を連続的に読み出し、現在の出力値から前回の
フレームの出力値を減算することにより画像信号を補正
しているので、ＦＰＮを補正できると同時に電源変動や
温度変動等によりＸ線撮像パネルの出力アンプのオフセ
ットが変化しても、補正出力にはその変化分がほとんど
現われない。即ち、オフセットの変動はフレームレート
よりも遅く、無視できるレベルであるため、図５（ｂ）
に示すように非破壊読み出しＢ8 、Ｂ9 、Ｂ10、…とい
うように、オフセットの影響で出力値が変動したとして
も、図５（ｅ）に示すように補正出力にはほとんどオフ
セットの変動の影響が現われず、変動に強い撮像装置を
実現できる。
しで信号を連続的に読み出し、現在の出力値から前回の
フレームの出力値を減算することにより画像信号を補正
しているので、ＦＰＮを補正できると同時に電源変動や
温度変動等によりＸ線撮像パネルの出力アンプのオフセ
ットが変化しても、補正出力にはその変化分がほとんど
現われない。即ち、オフセットの変動はフレームレート
よりも遅く、無視できるレベルであるため、図５（ｂ）
に示すように非破壊読み出しＢ8 、Ｂ9 、Ｂ10、…とい
うように、オフセットの影響で出力値が変動したとして
も、図５（ｅ）に示すように補正出力にはほとんどオフ
セットの変動の影響が現われず、変動に強い撮像装置を
実現できる。
【００３８】また、リセットのない非破壊読み出しの信
号を用いているので、ＫＴＣノイズの影響がなく、高い
Ｓ／Ｎを実現することが可能である。更に、通常読み出
しの次のフレームは正常な補正値を得られないが、この
時は前回のフレームの補正値を使用しているので、連続
して補正値が得られ、動画の撮影を連続して行うことが
できる。
号を用いているので、ＫＴＣノイズの影響がなく、高い
Ｓ／Ｎを実現することが可能である。更に、通常読み出
しの次のフレームは正常な補正値を得られないが、この
時は前回のフレームの補正値を使用しているので、連続
して補正値が得られ、動画の撮影を連続して行うことが
できる。
【００３９】なお、図１では図示していないが、比較器
１１２の出力にＡ／Ｄ変換器出力が基準値を越えた回数
をカウントするカウンタを接続し、このカウンタのカウ
ント値が規定値に達した時に読み出しモードを非破壊読
み出しから通常読み出しに切り換えてもよい。こうする
ことによって、読み出しモードが頻繁に切り換わること
を防ぐことができる。即ち、前述のように通常読み出し
の次のフレームでは正常な補正値が得られず、前回の補
正値を続けて出力しているが、このような場合は、読み
出しモードが頻繁に切り換わることがないため、画質を
向上することが可能である。
１１２の出力にＡ／Ｄ変換器出力が基準値を越えた回数
をカウントするカウンタを接続し、このカウンタのカウ
ント値が規定値に達した時に読み出しモードを非破壊読
み出しから通常読み出しに切り換えてもよい。こうする
ことによって、読み出しモードが頻繁に切り換わること
を防ぐことができる。即ち、前述のように通常読み出し
の次のフレームでは正常な補正値が得られず、前回の補
正値を続けて出力しているが、このような場合は、読み
出しモードが頻繁に切り換わることがないため、画質を
向上することが可能である。
【００４０】なお、以上説明した各実施形態では、Ｘ線
を可視光に変換するのに蛍光体を用いたが、一般的なシ
ンチレータ、つまり波長変換体であればよい。また、蛍
光体がなくとも光電変換素子自身が直接放射線を検知
し、電荷を発生するものでもよい。
を可視光に変換するのに蛍光体を用いたが、一般的なシ
ンチレータ、つまり波長変換体であればよい。また、蛍
光体がなくとも光電変換素子自身が直接放射線を検知
し、電荷を発生するものでもよい。
【００４１】また、各実施形態では、Ｘ線を用いた場合
を例に説明したが、α、β、γ線等の放射線を用いるこ
とができる。
を例に説明したが、α、β、γ線等の放射線を用いるこ
とができる。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、非
破壊読み出しを連続的に行い、現在のフレームの出力値
と前回のフレームの出力値との差分を補正値として出力
することにより、ＦＰＮを補正できると同時に電源変動
や温度変動等による出力アンプのオフセットの影響を受
けることがないため、良質の画像を得ることができる。
また、リセットのない非破壊読み出しを用いているの
で、ＫＴＣノイズの影響がなく、高いＳ／Ｎを実現する
ことができる。
破壊読み出しを連続的に行い、現在のフレームの出力値
と前回のフレームの出力値との差分を補正値として出力
することにより、ＦＰＮを補正できると同時に電源変動
や温度変動等による出力アンプのオフセットの影響を受
けることがないため、良質の画像を得ることができる。
また、リセットのない非破壊読み出しを用いているの
で、ＫＴＣノイズの影響がなく、高いＳ／Ｎを実現する
ことができる。
【図１】本発明の撮像装置の一実施形態の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】図１の実施形態のＸ線撮像パネルの一部の回路
を示す回路図である。
を示す回路図である。
【図３】通常読み出し時の動作を示すタイミングチャー
トである。
トである。
【図４】非破壊読み出し時の動作を示すタイミングチャ
ートである。
ートである。
【図５】図１の実施形態の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
【図６】従来例のＸ線撮像装置を示すブロック図であ
る。
る。
【図７】図６の従来装置の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
１０１ Ｘ線源 １０３ 被写体 １０４ Ａ／Ｄ変換器 １０９ モニター １１０ 記録媒体 １１１ Ｘ線撮像パネル １１２ 比較器 １１３ ディレイ １１４ スイッチ １１５ マスクテーブル １１６ １フレームディレイメモリ １１７ 減算器 １１８ １フレームディレイメモリ １１９ スイッチ １２０ タイミング変換回路 １３０ 垂直シフトレジスタ １３１ 水平シフトレジスタ １３２ アンドゲート １３３ 画素 １３４ 定電流源 １３５ 水平出力切換用ＭＯＳトランジスタ １３６ リセット用ＭＯＳトランジスタ １３７ 垂直出力切換用ＭＯＳトランジスタ １３８ 読み出し用ＭＯＳトランジスタ １３９ 光電変換素子 １４０ コンデンサ １４１ 垂直読み出し線 １４２ 水平読み出し線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０１Ｌ 31/09 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ｓ ５Ｆ０８８ Ｈ０４Ｎ 5/21 Ｈ０１Ｌ 27/14 Ａ 5/32 Ｋ 7/18 31/00 Ａ (72)発明者 結城 修 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内 Ｆターム(参考） 4C093 AA01 CA01 EB13 FF01 FF34 4M118 AA05 AB01 BA14 CA02 CB11 DD09 DD10 DD11 DD12 FA06 FA33 GA10 5C021 PA03 PA53 PA62 PA63 PA66 PA79 PA80 PA85 PA87 SA24 YA06 5C024 AX11 CX21 CY02 GX03 GX09 GY36 GY37 GY39 GZ22 HX23 HX29 HX50 HX58 HX59 JX41 5C054 AA01 AA06 CA02 EA01 EJ00 EJ05 HA12 5F088 BB03 EA08 JA13 JA17 KA01 KA08 LA08
Claims (11)
- 【請求項１】 被写体像を撮像する、非破壊読み出し可
能な撮像手段と、 動画像を得るための、前記撮像手段から非破壊で連続的
に読み出された複数のフレームに対して、前記フレーム
よりも前に読み出された前記フレームとの差分を行い補
正値として順次出力する減算手段と、 を有することを特徴する撮像装置。 - 【請求項２】 更に、前記撮像手段から読み出された出
力値と予め設定された基準値とを比較する比較器を含
み、前記出力値が基準値以上になった時に前記撮像手段
からの読み出しを通常読み出しに切り換えることを特徴
とする請求項１に記載の撮像装置。 - 【請求項３】 前記撮像手段は、光電変換素子及び読み
出し用トランジスタを含む画素部を有し、前記画素部
は、光電変換素子が読み出し用トランジスタの制御端子
に接続されていることを特徴とする請求項１又は請求項
２に記載の撮像装置。 - 【請求項４】 前記読み出し用トランジスタの一方の非
制御端子に負荷が接続されており、電圧増幅率が約１倍
の増幅器から構成されていることを特徴とする請求項３
に記載の撮像装置。 - 【請求項５】 前記負荷は、定電流源又は抵抗であるこ
とを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。 - 【請求項６】 前記読み出し用トランジスタに直列に行
方向の画素部を選択するための切り換え用トランジスタ
が接続されていることを特徴とする請求項３〜５のいず
れかに記載の撮像装置。 - 【請求項７】 前記光電変換素子に直列にリセット用ト
ランジスタが接続され、前記リセット用トランジスタを
モード切換信号に応じて制御することにより読み出しモ
ードを通常読み出し又は非破壊読み出しに切り換えるこ
とを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の撮像装
置。 - 【請求項８】 前記撮像手段の欠陥画素の位置情報を記
憶したテーブルを含み、前記比較器は前記テーブルから
の位置情報に基づいて欠陥画素の出力の場合は読み出し
モードを切り換えないことを特徴とする請求項２に記載
の撮像装置。 - 【請求項９】 前記撮像手段の撮影対象外の無効エリア
の位置情報を記憶したテーブルを含み、前記比較器は前
記テーブルからの位置情報に基づいて無効エリアの出力
の場合は読み出しモードを切り換えないことを特徴とす
る請求項２に記載の撮像装置。 - 【請求項１０】 更に、前記比較器の出力にカウンタを
接続して前記撮像手段から読み出された出力値が基準値
以上になった回数をカウントし、前記カウンタのカウン
ト値が規定値に達した時に非破壊読み出しから通常読み
出しに切り換えることを特徴とする請求項２に記載の撮
像装置。 - 【請求項１１】 更に、フレーム毎に前記補正値を記憶
する記憶手段を含み、通常読み出しの次のフレームは前
記記憶手段に記憶している前回のフレームの補正値を出
力することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000233652A JP3631114B2 (ja) | 2000-08-01 | 2000-08-01 | 撮像装置 |
| US09/916,264 US6947084B2 (en) | 2000-08-01 | 2001-07-30 | Image sensing apparatus including an image sensing unit having a non-destructive read function |
| US11/143,726 US7589774B2 (en) | 2000-08-01 | 2005-06-03 | Image pickup apparatus having non-destructively readable image pickup means for picking up an object image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000233652A JP3631114B2 (ja) | 2000-08-01 | 2000-08-01 | 撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002051265A true JP2002051265A (ja) | 2002-02-15 |
| JP3631114B2 JP3631114B2 (ja) | 2005-03-23 |
Family
ID=18726146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000233652A Expired - Fee Related JP3631114B2 (ja) | 2000-08-01 | 2000-08-01 | 撮像装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6947084B2 (ja) |
| JP (1) | JP3631114B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007082907A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影方法 |
| JP2011229012A (ja) * | 2010-04-21 | 2011-11-10 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
| JP2013085241A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Fei Co | イメージセンサによるデータ取得方法 |
| JP2014090960A (ja) * | 2012-11-06 | 2014-05-19 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置及び制御プログラム |
| WO2017002403A1 (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | シャープ株式会社 | 放射線画像撮像装置 |
| JP2018129766A (ja) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IL144158A (en) * | 2001-07-05 | 2011-06-30 | Mosaid Technologies Inc | Socket for connecting an analog telephone to a digital communications network that carries digital voice signals |
| JP3950665B2 (ja) * | 2001-10-23 | 2007-08-01 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置及び放射線撮像装置の撮像方法 |
| JP3884966B2 (ja) * | 2002-02-01 | 2007-02-21 | キヤノン株式会社 | 画像読取装置および画像読取装置の駆動方法 |
| US7068313B2 (en) * | 2002-02-08 | 2006-06-27 | Wallac Oy | Method and arrangement for processing measurement data |
| JP3667317B2 (ja) * | 2002-11-26 | 2005-07-06 | キヤノン株式会社 | 放射線断層撮影装置 |
| JP2004242103A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Canon Inc | 撮像装置 |
| JP2005341438A (ja) * | 2004-05-28 | 2005-12-08 | Fujitsu Ltd | 固体撮像装置、および画素データ読出し電圧印加方法 |
| US7978245B2 (en) * | 2004-06-24 | 2011-07-12 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for controlling color balance in a digital imaging device |
| US7847847B2 (en) * | 2005-01-27 | 2010-12-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Structure for CMOS image sensor with a plurality of capacitors |
| US7696545B2 (en) * | 2006-08-29 | 2010-04-13 | Micron Technology, Inc. | Skimmed charge capture and charge packet removal for increased effective pixel photosensor full well capacity |
| JP5167677B2 (ja) * | 2007-04-12 | 2013-03-21 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置 |
| JP5066996B2 (ja) * | 2007-04-23 | 2012-11-07 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置 |
| JP6418775B2 (ja) | 2014-04-18 | 2018-11-07 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、撮像システム、および光電変換装置の駆動方法 |
| JP6708474B2 (ja) | 2016-04-28 | 2020-06-10 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び放射線撮像システム |
| JP6871717B2 (ja) | 2016-11-10 | 2021-05-12 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置、放射線撮像システムおよび放射線撮像方法 |
| JP6934769B2 (ja) | 2017-07-28 | 2021-09-15 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
| JP2020136910A (ja) | 2019-02-20 | 2020-08-31 | キヤノン株式会社 | 発振器、撮像装置 |
| JP7213737B2 (ja) | 2019-04-08 | 2023-01-27 | キヤノン株式会社 | 撮像モジュール及び撮像装置 |
| JP7232117B2 (ja) * | 2019-04-25 | 2023-03-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影システムおよび制御装置 |
Family Cites Families (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4426721A (en) * | 1980-10-07 | 1984-01-17 | Diagnostic Information, Inc. | X-ray intensifier detector system for x-ray electronic radiography |
| JPS58216039A (ja) * | 1982-06-11 | 1983-12-15 | 株式会社東芝 | 放射線画像処理装置 |
| JP2829056B2 (ja) * | 1989-10-26 | 1998-11-25 | 株式会社東芝 | 画像表示装置 |
| US5471515A (en) * | 1994-01-28 | 1995-11-28 | California Institute Of Technology | Active pixel sensor with intra-pixel charge transfer |
| US6570617B2 (en) * | 1994-01-28 | 2003-05-27 | California Institute Of Technology | CMOS active pixel sensor type imaging system on a chip |
| US5528043A (en) * | 1995-04-21 | 1996-06-18 | Thermotrex Corporation | X-ray image sensor |
| JP4030605B2 (ja) * | 1995-11-10 | 2008-01-09 | オリンパス株式会社 | 電子的撮像装置 |
| WO1997024868A1 (en) * | 1995-12-27 | 1997-07-10 | Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus including an image pick-up apparatus with a correction unit |
| US5909026A (en) * | 1996-11-12 | 1999-06-01 | California Institute Of Technology | Integrated sensor with frame memory and programmable resolution for light adaptive imaging |
| JPH10164437A (ja) * | 1996-11-26 | 1998-06-19 | Canon Inc | 放射線撮像装置及び放射線撮像素子の駆動方法 |
| JP4164134B2 (ja) | 1997-05-26 | 2008-10-08 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及び撮像方法 |
| US5962844A (en) * | 1997-09-03 | 1999-10-05 | Foveon, Inc. | Active pixel image cell with embedded memory and pixel level signal processing capability |
| US6906751B1 (en) * | 1998-07-22 | 2005-06-14 | Minolta Co., Ltd. | Digital camera and control method thereof |
| US6677995B1 (en) * | 1999-02-04 | 2004-01-13 | Agere Systems Inc. | Array readout system |
| US6975355B1 (en) * | 2000-02-22 | 2005-12-13 | Pixim, Inc. | Multiple sampling via a time-indexed method to achieve wide dynamic ranges |
| EP1073267B1 (en) * | 1999-07-30 | 2010-12-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation image pickup device |
| US6404854B1 (en) * | 2000-06-26 | 2002-06-11 | Afp Imaging Corporation | Dental x-ray imaging system |
| US6307915B1 (en) * | 2000-06-26 | 2001-10-23 | Afp Imaging Corporation | Triggering of solid state X-ray imagers with non-destructive readout capability |
| JP3548507B2 (ja) * | 2000-08-01 | 2004-07-28 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置 |
-
2000
- 2000-08-01 JP JP2000233652A patent/JP3631114B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-07-30 US US09/916,264 patent/US6947084B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-06-03 US US11/143,726 patent/US7589774B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007082907A (ja) * | 2005-09-26 | 2007-04-05 | Canon Inc | 画像撮影装置及び画像撮影方法 |
| JP4708944B2 (ja) * | 2005-09-26 | 2011-06-22 | キヤノン株式会社 | 画像撮影装置及び画像撮影方法 |
| JP2011229012A (ja) * | 2010-04-21 | 2011-11-10 | Canon Inc | 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム |
| JP2013085241A (ja) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Fei Co | イメージセンサによるデータ取得方法 |
| JP2014090960A (ja) * | 2012-11-06 | 2014-05-19 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置及び制御プログラム |
| JPWO2017002403A1 (ja) * | 2015-06-30 | 2018-03-29 | シャープ株式会社 | 放射線画像撮像装置 |
| WO2017002403A1 (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | シャープ株式会社 | 放射線画像撮像装置 |
| US10165999B2 (en) | 2015-06-30 | 2019-01-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Radiological-image acquisition device |
| JP2018129766A (ja) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
| WO2018147217A1 (ja) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
| KR20190111101A (ko) * | 2017-02-10 | 2019-10-01 | 캐논 가부시끼가이샤 | 방사선 촬상 장치 및 방사선 촬상 방법 |
| KR102314357B1 (ko) | 2017-02-10 | 2021-10-19 | 캐논 가부시끼가이샤 | 방사선 촬상 장치 및 방사선 촬상 방법 |
| US11303831B2 (en) | 2017-02-10 | 2022-04-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging apparatus and radiation imaging method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20020024601A1 (en) | 2002-02-28 |
| US20050259170A1 (en) | 2005-11-24 |
| US6947084B2 (en) | 2005-09-20 |
| US7589774B2 (en) | 2009-09-15 |
| JP3631114B2 (ja) | 2005-03-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3631114B2 (ja) | 撮像装置 | |
| US10205894B2 (en) | Imaging device and imaging system | |
| US8026961B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus having effective and non-effective pixel portions, and driving method therefor | |
| US8189086B2 (en) | Image sensing apparatus and image capturing system that performs a thinning-out readout | |
| US7952621B2 (en) | Imaging apparatus having temperature sensor within image sensor wherin apparatus outputs an image whose quality does not degrade if temperature increases within image sensor | |
| JP3548507B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
| US9544518B2 (en) | Image pickup apparatus and image pickup system with ad converter outputting image data at first resolution in a case where pixel signals are not higher than threshold level and at second resolution in a case where pixel signals are higher than threshold level | |
| JP2008167004A (ja) | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置 | |
| JP2010206769A (ja) | 撮像装置 | |
| US10313588B2 (en) | Image capturing system and control method of image capturing system | |
| KR101939402B1 (ko) | 고체 촬상 소자 및 구동 방법, 및 전자 기기 | |
| JP2007194687A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2004297546A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2010068049A (ja) | 撮像装置 | |
| JP2004364266A (ja) | 画像欠陥補正装置、及び、画像欠陥補正方法 | |
| JP2008300898A (ja) | 固体撮像装置とそれを用いた撮像システム | |
| JP5106055B2 (ja) | 撮像装置及びそのフリッカ検出方法 | |
| JP2020057883A (ja) | 撮像装置 | |
| JP5147652B2 (ja) | 撮像装置及びその制御方法及びプログラム | |
| JP2016029759A (ja) | 撮像装置の欠陥画素検出方法 | |
| JP2007215062A (ja) | フリッカ抑圧撮像装置 | |
| JP2007081453A (ja) | 撮像装置及び信号処理方法並びにプログラム | |
| JP2020170985A (ja) | 撮像装置およびその制御方法 | |
| JP2009302850A (ja) | 固体撮像素子のノイズ除去装置、撮像装置、固体撮像素子のノイズ除去方法 | |
| JPH08242408A (ja) | 撮像装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040906 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040908 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041108 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20041202 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20041215 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3631114 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081224 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081224 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091224 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101224 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111224 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121224 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |