JP2002033964A - デジタル画像の欠陥画素補正方法 - Google Patents

デジタル画像の欠陥画素補正方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 デジタル画像は、光検出器の二次元アレイを
備えた電荷結合素子等によって捕捉される。欠陥のある
光検出器は結果としてデジタル画像において対応する画
素位置に不完全性をもたらす。ＣＣＤ等の欠陥率は大幅
に低減したが、一般に、すべての欠陥を除去することは
実際的ではない。従って、デジタル画像形成装置には種
々の補正システムが提案されてきた。従来の非方向性平
均化システムのでは非エッジ画像領域を過度に平滑化
し、補正画像のエッジを大幅に歪める場合がある。 【解決手段】本発明は、欠陥画素に近接して位置する画
素値から計算された曲率情報に基づいて、欠陥画素を補
正することによって上記課題を解決する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル画像（例
えば、デジタル静止画像、デジタルビデオ画像または両
方）の欠陥画素を補正するシステムおよび方法に関す
る。
【０００２】
【発明が解決しようとする課題】デジタル画像は、画素
のアレイから形成されており、各画素は割当てられた色
および強度を有している。デジタル画像は、光検出器の
二次元アレイを備えた電荷結合素子（ＣＣＤ）によって
捕捉される場合がある。各光検出器は、それぞれの画素
位置に配置されている。欠陥のある光検出器は、結果と
してデジタル画像において対応する画素位置に不完全性
をもたらす。ＣＣＤ製造業者は光検出器の欠陥率を大幅
に低減したが、一般に、すべての欠陥の除去は実際的で
はない。従って、デジタル画像形成装置の製造業者は、
概して、光検出器の欠陥によってもたらされる不完全性
を補正するよう設計されたシステムを含める。種々の補
正システムが提案されてきた。補正システムによって
は、欠陥の無い隣接する画素の値に基づいて欠陥画素の
正確な値を補間するよう設計された画像プロセッサを含
むものがある。かかる補正システムは、方向性補間シス
テムかまたは非方向性平均化（すなわち侵食（erosio
n））システムとして分類されてよい。例えば、ある提
案されている方向性補間システムでは、欠陥画素値が、
欠陥画素に亙る画素のラインの線形補間によって得ら
れ、欠陥画素に隣接する画素から導出される傾斜によっ
て決定される方向に向けられる。一般的な非方向性平均
化システムの方が容易に実現される傾向にあるが、それ
らはまた非エッジ画像領域を過度に平滑化し、補正画像
のエッジを大幅に歪める傾向もある。
【０００３】
【課題を解決するための手段】本発明は、各々がそれぞ
れの値を有している複数の画素から形成されたソース画
像の１つまたは複数の欠陥画素を補正する改良されたシ
ステムおよび方法を特徴とする。
【０００４】１つの態様では、本発明は、欠陥画素に近
接して位置する画素値から計算された曲率情報に基づい
て、欠陥画素が補正される方式を特徴としている。
【０００５】実施の形態は、以下の特徴のうちの１つま
たは複数を含んでよい。
【０００６】欠陥画素は、好ましくは、曲率情報から決
定される補間方向において欠陥画素と位置合せされた画
素の値を補間することにより補正される。補間方向は、
２つの直交方向に対して計算された曲率値を比較するこ
とによって決定されてよい。補間方向は、好ましくは、
曲率値が低い方の方向に対応する。欠陥画素には、好ま
しくは、補間方向に沿って欠陥画素に位置合せされた画
素の値の線形補間から計算された値が割当てられる。欠
陥画素には、欠陥画素の両側に位置する２つの非欠陥画
素の値の線形補間から計算された値が割当てられてよ
い。割当てられた欠陥画素値は、加算および桁送りの演
算から計算されてよい。
【０００７】欠陥画素は、２つの異なる画像方向に対し
て計算された曲率情報に基づいて補正されてよい。例え
ば、欠陥画素の両側に位置する水平に位置合せされた画
素の２つのグループからの画素値に基づいて、水平曲率
値が計算されてよい。欠陥画素の両側に位置する垂直に
位置合せされた画素の２つのグループからの画素値に基
づいて、垂直曲率値が計算されてもよい。代替的に、欠
陥画素を包囲する画素の値に基づいて曲率値が計算され
てもよい。欠陥画素は、計算された曲率値の比較に基づ
いて補正されてよい。例えば、欠陥画素は、水平曲率が
垂直曲率を超えたという判断に応じて欠陥画素と垂直に
位置合せされた画素の値を補間することにより、補正さ
れてよい。代替的に、欠陥画素は、垂直曲率が水平曲率
を超えたという判断に応じて欠陥画素と水平に位置合せ
された画素の値を補間することにより、補正されてよ
い。
【０００８】ソース画像は、各々がそれぞれの色の画素
値を生成する複数の光検出器を有する画像センサから取
得されてよく、その場合色は、画素位置がオーバラップ
しない複数のカラープレーンに配列されている。欠陥画
素は、同じカラープレーンの画素の値から計算された曲
率情報に基づいて補正されてよい。
【０００９】他の態様では、本発明は、中間画素値が、
欠陥画素に近接して位置する同じカラープレーン上の画
素の値から決定され、欠陥画素が、その中間画素値に基
づいて補正される方式を特徴とする。
【００１０】実施の形態は、以下の特徴の１つまたは複
数を含んでよい。
【００１１】中間画素値は、好ましくは、欠陥画素に隣
接する同じカラープレーン上の画素の値から決定され
る。欠陥画素値と計算された中間画素値との差を表す差
分値が計算されてよく、欠陥画素は、差分値が閾値を超
えたという判断に応じて欠陥画素値を中間値に置換する
ことによって補正されてよい。
【００１２】本発明の利点には、以下のものがある。
【００１３】曲率ベースの方向性補間を用いる発明は、
ソース画像の低周波数（平滑）領域と高周波数（エッジ
及びコーナ）領域との両方において破損した画素データ
を回復する頑強かつ有効な方式を提供する。一方で、メ
ディアンフィルタを用いる発明は、特に欠陥の位置が予
め知られていない場合に、実行中に破損された画素デー
タを回復する有効な方式を提供する。メディアンフィル
タによる発明は、ソース画像のエッジおよびコーナを実
質的に保存する一方で、アウトライヤ（すなわち、隣接
する欠陥画素）を有効に除去する。
【００１４】本発明の他の特徴および利点は、図面およ
び特許請求の範囲を含む以下の説明から明らかとなろ
う。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１を参照すると、デジタル画像
形成装置１０は、画像形成部１２と補正フィルタ部１４
とを有している。画像形成部１２は、レンズ１６、カラ
ーフィルタアレイ１８（例えば、ベイヤ（Bayer）アレ
イ）、ＣＣＤ２０、アナログデジタル（Ａ／Ｄ）変換器
２２および画像バッファ２４（例えば、ランダムアクセ
スメモリ）を含む。補正フィルタ部１４は、デジタル信
号プロセッサ（ＤＳＰ）２６およびランダムアクセスメ
モリ（ＲＡＭ）２８を含む。コントローラ３０は、画像
形成部１２および補正フィルタ部１４のコンポーネント
の動作を調整する。デジタル画像形成装置１０は、デジ
タル静止画像を記録するよう構成されたデジタルカメラ
であっても、デジタルビデオ画像を記録するよう構成さ
れたデジタルビデオレコーダであってもよい。デジタル
画像形成装置１０によって捕捉された画像は、記憶メモ
リ３２（例えば、リムーバブルメモリカードまたはデジ
タルビデオカセット）に記録されてよい。動作時、画像
光がレンズ１６によって捕捉され、カラーフィルタアレ
イ１８を通してＣＣＤ２０に向けられる。ＣＣＤ２０
は、突き当たっているフィルタリングされた光を複数の
アナログ画像信号に変換し、Ａ／Ｄ変換器２２は、アナ
ログ画像信号をデジタル画像信号に変換する。デジタル
画像信号は、処理するためにソース画像データとして画
像バッファ２４に格納される。十分な量のソース画像デ
ータが格納された後、ソース画像データはＤＳＰ２６に
よって処理される。ＤＳＰ２６は、ソース画像の１つま
たは複数の欠陥画素を補正することによって、補正画像
データを生成する。補正画像データは更に処理されてよ
く（例えば、ソース画像はデモザイク処理されてもよ
い）、最終画像データは記憶メモリ３２に格納されても
よい。
【００１６】図２を参照すると、カラーフィルタアレイ
１８は、１つの色の光をＣＣＤ２０の各画素位置に伝達
するよう構成されている。例えば、ベイヤカラーフィル
タアレイジオメトリでは、画素色は画素位置がオーバラ
ップしない複数のカラープレーンに配列される。カラー
プレーンは、重ねられると、図２に示すように輝度色
（緑）のチェッカボードパターン間に散在する色差色
（赤および青）のパターンを形成する。
【００１７】本実施の形態では、ＤＳＰ２６は、最近傍
画素の値から計算された情報に基づいて欠陥画素を補正
するが、他の実施の形態では、補正プロセスに欠陥画素
からより離れて位置する画素の値を組込んでよい。欠陥
画素は、周知の技術（例えば、ＣＣＤ２０によって生成
される画像をフィルタリングしテストする）を使用し
て、デジタル画像形成装置１０の較正中に識別されてよ
い。欠陥画素の位置は、ＲＡＭ２８において欠陥マップ
として格納されてよい。本実施の形態では、特定の欠陥
画素の最近傍画素は、欠陥画素と同じカラープレーンに
位置する８つの画素である。例えば、図３Ａおよび図３
Ｂに示すように、赤カラープレーン４０と青カラープレ
ーン４２において、欠陥画素（Ｘ、Ｙ）の８つの最近傍
画素は、１画素位置分欠陥画素から間隔が空けられてい
る。図３Ｃおよび図３Ｄを参照すると、２つの異なるカ
ラープレーン４４、４６がベイヤジオメトリから抽出さ
れることにより欠陥画素（Ｚ）の最近傍画素が識別され
てよい。カラープレーン４４では、８つの最近傍画素が
欠陥画素からすべての方向に１画素位置分間隔が空けら
れており、カラープレーン４６では、８つの最近傍画素
のうちの４つが欠陥画素に隣接して配置され残りの近傍
は欠陥画素から１画素位置分間隔が空けられている。
【００１８】上述したように、１つの実施の形態では、
ＤＳＰ２６は、欠陥画素の各々に近接して位置する画素
値から計算された曲率情報に基づいて欠陥画素値を補正
する。この手法は、低周波数（平滑）領域と高周波数
（エッジおよびコーナ）領域との両方において破損され
た画素データを回復する頑強かつ有効な方式を提供す
る。
【００１９】図４を参照すると、１つの実施の形態にお
いて、ＤＳＰ２６は、以下のようにソース画像の欠陥画
素を補正してよい。曲率情報が完全である（すなわち、
最近傍画素のいずれも欠陥を有していない）場合（ステ
ップ５０）、水平曲率値（ステップ５２）および垂直曲
率値（ステップ５４）が計算される。水平曲率（ＨＣ）
値および垂直曲率値（ＶＣ）値は、以下のように、欠陥
画素の両側に位置する水平に位置合せされた画素と垂直
に位置合せされた画素との２つのグループから、それぞ
れ推定されてよい。 水平曲率＝｜Ａ−２×Ｂ＋Ｃ｜＋｜Ｆ−２×Ｇ＋Ｈ｜ （１） 垂直曲率＝｜Ａ−２×Ｄ＋Ｆ｜＋｜Ｃ−２×Ｅ＋Ｈ｜ （２） ここで、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈは、以下の画
素アレイに従って配列された、欠陥画素Ｘの８つの最近
傍画素の値に対応する（すなわち、Ａ、Ｂ、Ｃは上部近
傍であり、Ｄは左近傍であり、Ｅは右近傍であり、Ｆ、
Ｇ、Ｈは底部近傍である）。
【００２０】
【表１】
【００２１】水平曲率が垂直曲率を超えた場合（ステッ
プ５６）、欠陥画素は、欠陥画素と垂直に位置合せされ
た画素の値を補間することによって補正される（すなわ
ち、Ｘの値は（１／２）×（Ｂ＋Ｇ）の値に置換され
る）（ステップ５８）。そうでない場合、欠陥画素は、
欠陥画素と水平に位置合せされた画素の値を補間するこ
とによって補正される（すなわち、Ｘの値は（１／２）
×（Ｄ＋Ｅ）の値に置換される）（ステップ６０）。
【００２２】曲率情報が不完全である（ステップ５０）
が傾斜情報が完全である（ステップ６２）場合、水平傾
斜値（ステップ６４）および垂直傾斜値（ステップ６
６）が計算される。水平傾斜（ＨＧ）値および垂直傾斜
（ＶＧ）値は、以下のように計算されてよい。 水平傾斜＝｜Ｉ−Ｊ｜ （３） 垂直傾斜＝｜Ｉ−Ｋ｜ （４） ここで、Ｉ、Ｊ、Ｋは、以下の画素アレイに従って異な
るカラープレーンで配列される。
【００２３】
【表２】
【００２４】欠陥画素に近接するコーナ位置に位置す
る、画素の他のグループ（例えば、Ａ、Ｂ、Ｄまたは
Ｅ、Ｇ、Ｈ）の値もまた、水平および垂直傾斜情報を計
算するために使用されてよい。水平傾斜が垂直傾斜を超
え（ステップ６８）かつ垂直補間情報が完全である（ス
テップ７０）である場合、欠陥画素は、欠陥画素と垂直
に位置合せされた画素の値を補間することによって補正
される（すなわち、Ｘの値が（１／２）×（Ｂ＋Ｇ）の
値に置換される）（ステップ５８）。一方、垂直傾斜が
水平傾斜を超え（ステップ６８）かつ水平補間情報が完
全である（ステップ７２）場合、欠陥画素は、欠陥画素
と水平に位置合せされた画素の値を補間することによっ
て補正される（すなわち、Ｘの値が（１／２）×（Ｄ＋
Ｅ）の値に置換される）（ステップ６０）。水平または
垂直補間に必要な情報が不完全である（ステップ７０、
７２）場合、欠陥画素値は、補間方向において線形補間
近似値に置換される（ステップ７４）。例えば、水平補
間が要求されるが画素Ｘおよび画素Ｙが共に欠陥を有す
る場合、画素Ｘおよび隣接する画素Ｙの値は、以下のよ
うに画素Ｄおよび画素Ｌ間で線形に補間することによっ
て回復されてよい。 Ｘ＝（２／３）×Ｄ＋（１／３）×Ｌ （５） Ｙ＝（１／３）×Ｄ＋（２／３）×Ｌ （６） ここで、ＤおよびＬは、以下の画素アレイに従って同じ
カラープレーンに配列されている。
【００２５】
【表３】
【００２６】この線形補間近似値を計算するために使用
されるシステムは、近似値を一続きの加算および桁送り
演算によって計算され得る形にすることにより、簡略化
されてよい。例えば、上記式（５）および（６）は、以
下の式によって近似化されてよい。 Ｘ≒（３／４）×Ｄ＋（１／４）×Ｌ ＝（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋Ｄ）） （７） Ｙ≒（３／４）×Ｌ＋（１／４）×Ｄ ＝（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋Ｌ）） （８） 式（５）および（６）は、以下の式によってより正確に
近似化されてよい。 Ｘ≒（５／８）×Ｄ＋（３／８）×Ｌ ＝（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋Ｌ））） （９） Ｙ≒（５／８）×Ｌ＋（３／８）×Ｄ ＝（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋Ｄ）））（１０） 好ましい実施の形態では、欠陥画素Ｘ、Ｙの値は、それ
ぞれ式（９）および（１０）によって近似化される。し
かしながら、式（５）および（６）は、以下の式によっ
て更に正確に近似化されてよい。 Ｘ≒（１１／１６）×Ｄ＋（５／１６）×Ｌ ＝（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋（１／２）× （Ｌ＋Ｄ）））） （１１） Ｙ≒（１１／１６）×Ｌ＋（５／１６）×Ｄ ＝（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋（１／２）× （Ｄ＋Ｌ）））） （１２） 式（５）および（６）が近似化される精度は、加算およ
び桁送り演算の数を反復的に増大させることにより更に
向上されてよい。
【００２７】図５を参照すると、近似式（７）〜（１
２）の各々は、近似回路８０によって計算されてよい。
近似回路８０は、４×２マルチプレクサ（ＭＵＸ）８
２、加算器８４、１×２マルチプレクサ８６および２つ
のレジスタ８８、９０を含む。マルチプレクサ８２は、
４つの入力を有している。すなわち、２つの入力は、欠
陥画素値（ＸおよびＹ）が補間されるために使用される
２つの画素値（ＤおよびＬ）を受取るよう連結されてお
り、残りの２つの入力は、それぞれレジスタ８８、９０
からの出力値を受取るよう連結されている。選択信号９
２は、４つのマルチプレクサ入力のうちのいずれの２つ
が加算器８４の入力に与えられるかを制御する。加算器
８４の出力は、加算器入力値の合計を表し、マルチプレ
クサ８６の入力に与えられる。選択信号９４は、レジス
タ８８、９０のいずれがマルチプレクサ８６の入力に与
えられる合計を受取るかを制御する。
【００２８】動作時、コントローラ３０は、以下のよう
に近似回路８０の動作を制御してよい。まず、選択信号
９２により、コントローラ３０はマルチプレクサ８２に
対し、入力Ｄ、Ｌを加算器８４の入力に与えるよう指示
する。結果としての合計（Ｌ＋Ｄ）は、レジスタ９０に
与えられる。シフト信号９８により、コントローラ３０
はレジスタ９０の内容を１小数位シフトさせることによ
り、量（１／２）×（Ｌ＋Ｄ）を生成する。レジスタ９
０内の量は、マルチプレクサ８２の入力に与えられる。
次のサイクルで、コントローラ３０は、マルチプレクサ
８２に対し、入力Ｄとレジスタ９０の量とを加算器８４
の入力に与えるよう指示する。結果としての合計（Ｄ＋
（１／２）×（Ｌ＋Ｄ））は、レジスタ８８に与えら
れ、シフト信号９６により、コントローラ３０は、レジ
スタ８８の内容を１小数位シフトさせることにより、合
計（（１／２）×（Ｄ＋（１／２）×（Ｌ＋Ｄ）））を
生成する。これは、欠陥画素Ｘの補間の第１の近似値
（すなわち、式（７））に対応する。続くサイクルで
は、レジスタ９０の量と入力Ｌとが、加算器８４の入力
に与えられる。結果としての合計（Ｌ＋（１／２）×
（Ｄ＋Ｌ））は、レジスタ９０に与えられる。コントロ
ーラ３０は、レジスタ９０の内容を１小数位シフトさせ
ることにより、量（（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×
（Ｄ＋Ｌ）））を生成する。これは、欠陥画素Ｙの補間
の第１の近似値（すなわち、式（８））に対応する。式
（９）および（１０）の補間近似値は、近似回路８０の
更なるサイクリングによって計算されてよい。例えば、
入力Ｄとレジスタ９０の内容との合計は、レジスタ８８
に与えられてよく、レジスタ８８の内容が１小数位シフ
トされることにより量（（１／２）×（Ｄ＋（１／２）
×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋Ｌ））））（すなわち、式
（９））が生成されてよい。更に、入力Ｌとレジスタ８
８の内容との合計は、レジスタ９０に与えられてよく、
レジスタ９０の内容が１小数位シフトされることにより
量（（１／２）×（Ｌ＋（１／２）×（Ｄ＋（１／２）
×（Ｌ＋Ｄ））））（すなわち、式（１０））が生成さ
れてよい。回路８０の同様な方法での更なるサイクリン
グによって、ＸおよびＹに対する線形補間が近似化され
得る精度が増大する。
【００２９】再び図４を参照すると、曲率情報（ステッ
プ５０）と傾斜情報（ステップ６２）とが共に不完全で
ある場合、欠陥画素値（Ｘ）が、非欠陥最近傍画素の値
から計算された平均値に置換される（ステップ７６）。 Ｘ＝（Ｐ1＋Ｐ2＋…＋ＰN）／Ｎ （１３） ここで、Ｎは非欠陥最近傍画素の数であり、Ｐiは非欠
陥最近傍画素の値である。１つの実施の形態では、画素
はラスタスキャン順に処理される。従って、この実施の
形態では、現欠陥画素（Ｘ）の上および左の画素は、有
効値を有することが保証され、式（１３）は欠陥画素値
の有効な推定値を生成する。
【００３０】他の実施の形態では、ＤＳＰ２６は、欠陥
画素の各々に近接して位置する画素値から計算される中
間画素値に基づいて欠陥画素値を補正する。このメディ
アンフィルタ手法は、特に欠陥の位置が前もって知られ
ていない（すなわち、欠陥マップがメモリ２８に格納さ
れていない）場合に、実行中に破損画素データを回復す
る有効な方式を提供する。この手法は、アウトライヤ
（すなわち、隣接する欠陥画素）を有効に除去する一方
で、実質的にソース画像のエッジおよびコーナを保持す
る。
【００３１】図６および図７を参照すると、ＤＳＰ２６
は、以下のようにメディアンフィルタを実現するよう構
成されてよい。各画素値（Ｘ）に対し（ステップ１０
０）、メディアンフィルタ窓１０２が定義される（ステ
ップ１０４）。この実施の形態では、欠陥画素は、最近
傍画素の値から計算される情報に基づいて補正される
が、他の実施の形態では、補正プロセスに欠陥画素から
より離れて位置する画素の値を組込んでもよい。この実
施の形態では、特定の画素の最近傍画素は、この画素と
同じカラープレーンに位置する８つの画素（Ａ、Ｂ、
Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）である。最近傍画素の値の中
間値（Ｍ）が決定される（ステップ１０６）。８入力ソ
ート（または順序付け）回路を使用してメディアンフィ
ルタ窓１０２を有する最近傍画素の中間値が決定されて
よい。画素値（Ｘ）と中間値（Ｍ）との間の差が閾値
（Ｔ）より大きい場合（ステップ１０８）、画素Ｘの値
は中間値に置換される（ステップ１１０）。そうでない
場合、画素Ｘの値は変更されず、次の画素が処理される
（ステップ１００）。
【００３２】上述したシステムおよび方法は、特定のハ
ードウェアまたはソフトウェア構成に限定されず、むし
ろいかなる計算または処理環境で実現されてもよい。コ
ントローラ３０は、好ましくはファームウェアで実現さ
れる。しかしながら、代替的に、コントローラ３０は高
レベル手続き型またはオブジェクト指向プログラミング
言語で、あるいはアセンブリまたは機械言語で実現され
てよく、いずれの場合も、プログラミング言語はコンパ
イル型またはインタプリタ型言語であってよい。
【００３３】他の実施の形態は特許請求の範囲内にあ
る。
【００３４】例えば、一次処理方向（すなわち、支配的
画像構造の方向付けを決定し欠陥画素の値を補間するた
めに使用される方向）として水平および垂直方向が選択
されたが、複数の方向を含む他の処理方向（例えば、対
角または放射画像方向）が選択されてもよい。
【００３５】他の実施の形態では、水平および垂直曲率
が、以下の係数値を有する３×３、水平曲率および垂直
曲率フィルタアレイを含むフィルタアレイを組込むこと
によって、推定されてもよい。
【００３６】
【表４】
【００３７】
【表５】
【００３８】画素アレイＩ（上記）にフィルタアレイＩ
およびフィルタアレイＩＩを適用することにより、以下
の水平および垂直曲率推定値が得られる。 水平曲率＝（１／４）×（Ａ−４×Ｂ＋Ｃ＋２×Ｄ＋２×Ｅ＋Ｆ−４×Ｇ＋Ｈ） （１４） 垂直曲率＝（１／４）×（Ａ＋２×Ｂ＋Ｃ−４×Ｄ−４×Ｅ＋Ｆ＋２×Ｇ＋Ｈ） （１５） このように、本実施の形態では、欠陥画素を包囲する画
素の値に基づいて曲率値が推定される。
【００３９】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。
【００４０】（実施態様１） 各々がそれぞれの値を有
する複数の画素から形成されたソース画像における１つ
または複数の欠陥画素（Ｘ）を補正する方法であって、
該欠陥画素（Ｘ）に近接して位置する画素値から計算さ
れる曲率情報に基づいて欠陥画素（Ｘ）を補正するステ
ップを含むことを特徴とする方法。
【００４１】（実施態様２） 前記欠陥画素（Ｘ）を、
２つの異なる画像方向に対して計算された曲率情報に基
づいて補正する実施態様１記載の方法。
【００４２】（実施態様３） 前記欠陥画素（Ｘ）を包
囲する画素の値に基づいて曲率値を計算するステップを
更に含むことを特徴とする実施態様１記載の方法。
【００４３】（実施態様４） 前記欠陥画素（Ｘ）を、
前記曲率情報から決定される補間方向に該欠陥画素
（Ｘ）と位置合せされた画素の値を補間することによっ
て補正すする実施態様１記載の方法。
【００４４】（実施態様５） 前記欠陥画素（Ｘ）に、
前記補間方向に沿って該欠陥画素（Ｘ）と位置合せされ
た画素の値の線形補間から計算された値を割当てる実施
態様４記載の方法。
【００４５】（実施態様６） 前記欠陥画素（Ｘ）に、
該欠陥画素（Ｘ）の両側に位置する２つの非欠陥画素の
値の線形補間から計算された値を割当てる実施態様５記
載の方法。
【００４６】（実施態様７） 前記割当てられた欠陥画
素値を、加算（８６）および桁送り（８８、９０）の演
算から計算する実施態様６記載の方法。
【００４７】（実施態様８） 各々がそれぞれの色の画
素値を生成する複数の光検出器を有する画像センサ（２
０）からソース画像を取得するステップを更に含み、該
色を、画素位置がオーバラップしない複数のカラープレ
ーン（４０、４２、４４、４６）に配列し、前記欠陥画
素（Ｘ）を、該同じカラープレーン（４０、４２、４
４、４６）の画素の値から計算される曲率情報に基づい
て補正する実施態様１記載の方法。
【００４８】（実施態様９） 各々がそれぞれの値を有
しそれぞれのカラープレーン（４０、４２、４４、４
６）に対応する複数の画素から形成されたソース画像に
おいて１つまたは複数の欠陥画素（Ｘ）を補正する方法
であって、（ａ）欠陥画素（Ｘ）に近接して位置する該
同じカラープレーン（４０、４２、４４、４６）の画素
の値から中間画素値（Ｍ）を決定するステップと、
（ｂ）該中間画素値（Ｍ）に基づいて該欠陥画素（Ｘ）
を補正するステップと、を含むことを特徴とする方法。
【００４９】（実施態様１０） 前記欠陥画素値と前記
計算された中間画素値（Ｍ）との差を表す差分値を計算
するステップを更に含み、該欠陥画素（Ｘ）を、該差分
値が閾値（Ｔ）を超えたという判断に応じて該欠陥値を
該中間値（Ｍ）に置換するステップにより補正する実施
態様９記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【図１】 デジタル画像形成装置のブロック図である。
【図２】 非オーバラップカラープレーンから形成され
たベイヤジオメトリカラーパターンを備えた画素アレイ
の図である。
【図３Ａ】 図２のベイヤジオメトリカラーパターンか
ら抽出される画素アレイカラープレーンの図である。
【図３Ｂ】 図２のベイヤジオメトリカラーパターンか
ら抽出される画素アレイカラープレーンの図である。
【図３Ｃ】 図２のベイヤジオメトリカラーパターンか
ら抽出される画素アレイカラープレーンの図である。
【図３Ｄ】 図２のベイヤジオメトリカラーパターンか
ら抽出される画素アレイカラープレーンの図である。
【図４】 デジタルソース画像の欠陥画素を補正する方
法のフローチャートである。
【図５】 線形補間近似値を計算する回路のブロック図
である。
【図６】 画素アレイ上に重ねられたメディアンフィル
タ窓の図である。
【図７】 デジタルソース画像の欠陥画素を補正する方
法のフローチャートである。
【符号の説明】
１０：デジタル画像形成装置 １２：画像形成部 １４：補正フィルタ部 １６：レンズ １８：カラーフィルタアレイ ２０：ＣＣＤ ２２：アナログデジタル変換器 ２４：画像バッファ ２６：デジタル信号プロセッサ ２８：ランダムアクセスメモリ ３０：コントローラ ３２：記憶メモリ ４０、４２、４４、４６：カラープレーン ８２：４×２マルチプレクサ ８４：加算器 ８６：１×２マルチプレクサ ８８、９０：レジスタ
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 9/07 Ｈ０４Ｎ 1/40 Ｄ (72)発明者 ダニエル・アール・トレター アメリカ合衆国カリフォルニア州パロアル ト ナンバー18 ミドルフィールド・ロー ド 3085 (72)発明者 トゥロング−タオ・ニグエン アメリカ合衆国ニュージャージー州フォー トリー ヒルトップ・コート 5204 Ｆターム(参考） 5B047 AA11 AB04 BB04 CB11 CB23 DA06 5C021 PA32 PA62 PA66 PA71 RB08 YA06 5C024 BX01 CX21 EX52 GY01 HX04 HX14 HX30 HX50 5C065 AA03 BB23 CC01 EE03 GG02 GG13 GG17 5C077 LL01 MM03 MP08 PP32 PP46 PP68 PQ08 PQ12 RR19 TT09

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 各々がそれぞれの値を有する複数の画素
    から形成されたソース画像における１つまたは複数の欠
    陥画素を補正する方法であって、 該欠陥画素に近接して位置する画素値から計算される曲
    率情報に基づいて欠陥画素を補正するステップを含むこ
    とを特徴とする方法。
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