JP2001511536A - 改良された反射防止複合材料 - Google Patents
改良された反射防止複合材料Info
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Abstract
Description
的にはディスプレー用途で利用される反射防止特性を示す前記構造物に関する。
で使用されてきた。反射防止複合材料は、最も一般的には反射“グレア”を最小
限に抑えるために窓、鏡、及びテレビスクリーンやコンピューターモニタースク
リーンを含めた各種ディスプレー用途に使用されている。
ものである。この構造は可視範囲において表面の反射率を1%未満に低下させる
ことができる。
の透明な反射防止層から構成される。複合材料に機械的耐久性及び物理的強度を
与えるために、しばしば透明なハードコート層が基板と反射防止層との間に堆積
されている。各層に使用される材料及び各層の厚さは、複合材料を透過する光の
量は最大であり、複合材料により反射する光の量は最小となるように選択される
。
び低屈折率材料の対からなる。この分野で最も初期の特許の1つである米国特許
第2,478,385号明細書には、ガラス基板上の中間/高/低屈折率材料の
3層構造が記載されている。
号明細書であり、ここには2つの異なる材料、すなわちZrO2及びMgF2を
用いて4層反射防止コーティング系を組合せる方法が開示されている。この方法
の基本的問題はMgF2が本質的に軟らかいことであり、そのためにこの方法は
あまり多くの分野で使用されていない。
示されており、ここには製造を簡潔にするために2つの材料を用いて3層系を2
層に減らしている。
かの先行特許に記載されているような3種もしくは4種の異なる材料を用いるの
ではなく2種の反射防止コーティング材料から製造され得る。各層の厚さは、広
範囲のスペクトルにおいて最良の特性が得られるように最適化される。
防止層を使用している。電磁遮蔽及び静電放電制御が主眼である分野では、導電
性高屈折率酸化物、例えば酸化インジウムまたは酸化スズが前記構造物中に配合
されている。米国特許第4,422,721号明細書では、反射防止構造物の一
部としての導電性コーティングの使用を含んでいる。
れており、ここではDC反応性スパッタリングが好ましい堆積方法として示唆さ
れている。米国特許第5,579,162号明細書には、感温性基板に対する好
ましい堆積方法としてDC反応性スパッタリングを使用する多層反射防止複合材
料が記載されている。
ー基板上に反射防止コーティングを堆積させるために特殊な方法が必要なことで
ある。
法が提案されているが、実用的な方法かせ非常に少ないことである。このことは
、反射防止コーティングを連続ロールコーティング(ウェブ)システムで堆積さ
せる方法が公開されていないので特に重要である。
においては必ず一般的に製造効率が乏しく、堆積速度が遅いことである。
ドコートを被覆したポリマー基板上に反射防止コーティングを付着させることが
非常に困難なことである。
要とされている。
400〜800nmの範囲において非常に低い可視光線反射率を有する反射防止
複合材料である。前記コーテイングは、低い光反射率が要求され且つ電気及び磁
気遮蔽が要求される表面に対して好適であり得る。本発明の反射防止複合材料は
各種のディスプレー用途に利用される。
積されたハードコート、(c)前記ハードコート上に堆積された第1透明酸化物
層、及び(d)前記の第1透明酸化物層上に堆積された第2透明酸化物層を含む
反射防止複合材料である。透明酸化物層が中間周波数ACスパッタリングまたは
対称/非対称二極式DCスパッタリングからなるパルスマグネトロンスパッタリ
ングにより堆積されていることが好ましくい。
厚さを有する薄い炭素層がハードコートと基板との間に堆積されている。本発明
の別の好ましい実施態様では、約2〜約100オングストロームの平均厚さを有
する薄い炭素層が最外透明酸化物層と低表面エネルギー層との間に堆積されてい
る。
1対の酸化物層を堆積して含む。酸化物層の各対は、(i)ハードコート上に堆
積された、約1.65〜約2.65の屈折率及び約100〜約3200オングス
トロームの平均厚さを有する第1透明酸化物層及び(ii)前記した第1透明酸
化物層上に堆積された、約1.2〜約1.85の屈折率及び約100〜約320
0オングストロームの平均厚さを有する第2透明酸化物層を含む。
態様では、透明酸化物層の1つは三元酸化物層である。
400〜約1000オングストロームの厚さを有する酸化アルミニウムまたは酸
化ジルコニウムの層がハードコートと前記した対の酸化物層との間に堆積されて
いる。上記した層の代わりに、約1.50〜約2.20の屈折率を有する他の酸
化物を使用してもよい。
、最外対中の第2透明酸化物層は約1.2〜約1.85の屈折率及び40ダイン
/cm2以下の低表面エネルギーを有する。
混合物である。
得る。
平均厚さを有する一般的な有機ハードコート層であり、好ましくは湿式化学方法
(wet chemistry process)により堆積される。ハードコート層は、約1.5〜約 2の屈折率及び約0.5〜約10ミクロンの平均厚さを有する無機材料または有
機/無機材料であってもよく、好ましくは真空方法により堆積される。
図面からより理解されるであろう。
載する。しかしながら、本発明がこれらの特定具体例に限定されるものとして本
明細書の記載を解釈すべきではない。当業者には多数の他の実施態様が分かるで
あろう。
いて、複合材料は基板及び前記基板上に堆積された1つ以上の反射防止層を含む
。
ネートであってもよい。基板がロール形態で提供され得る可撓性材料、例えば可
撓性ポリマー材料であることが好ましい。通常、前記材料は可撓性ポリカーボネ
ート、ポリエチレンテレフタレート(PET)、及び優れた光学的及びロール構
造特性を有する他の可撓性ポリマー材料である。
ために通常透明なハードコートが設けられている。ハードコートは、反射防止複
合材料全体を構造化するために使用され得る幾つかの光学的特性をも有し得る。
及び約1.2〜約1の屈折率を有する“重厚な(massive)ハードコート”である 。通常、前記の重厚なハードコート層は、真空蒸着されたときに少ない脱ガス性
に対して相容性の真空であるように選択される。前記の重厚なハードコート層を
製造するために使用される適当な材料は、(i)ポリウレタン、(ii)重合性
長鎖アクリル樹脂及びメトキシシロキサン、及び(iii)シリケート、密に架
橋したアクリルポリマー、溶液流延エポキシ及びそれらの組合せである。
る無機ハードコートである。前記ハードコートはAl2O3及び/またはSiO 2 から構成され得る。或いは、重厚なハードコートは約1.5〜約2の屈折率を
有する有機/無機材料から構成され、好ましくは真空蒸着法により堆積される。
、該反射防止層が基板及びハードコートと共に反射防止特性を示す複合材料が形
成されるような厚さ及び屈折率を有するように選択される。
炭素層は約2〜約100オングストロームの厚さを有する。炭素層は、特に反射
防止層をスパッタリングにより堆積させる場合にはハードコートと反射防止層と
の間の付着促進層として作用する。炭素層はハードコートを有する基板からの表
面ガス放出を最小限に抑えることも判明している。炭素層の種類及びその堆積方
法は、援用により本明細書に含まれるとする米国特許第4,802,967号明
細書、同第4,865,711号明細書、同第4,913,762号明細書(す
べてWilfred Kittlerに付与)に詳しく記載されている。
を十分に付着させるための試みにおいては化学処理、コロナ放電、グロー放電ま
たはサブ酸化物(プライマー)層の堆積のような他の方法が使用される。しかし
ながら、従来技術の試みはすべて不十分な付着しか与えないか、不当に高価であ
るか、または他の製造問題を伴う。
により堆積されている。
材料への付着を促進させるのに特に有用である。
ードコートのガス放出を最小限に抑えることが判明した。ガス放出を最小限とす
ることにより、薄い炭素層を用いる本発明の複合材料は反射防止コーティングの
堆積の間かなり安定であり、均質である。
化物層との間に介在させる付着促進層としても使用することができる。例えば、
可撓性基板(通常、PET)、前記可撓性基板上に堆積される重厚なハードコー
ト層、及びハードコート層上に堆積される酸化物層を含み、前記基板とハードコ
ートとの間、ハードコートと酸化物層との間、及び/または酸化物層と40ダイ
ン/cm2未満の低表面エネルギー層との間に薄い炭素層を介在させた反射防止
複合材料が提供され得る。
、、スパッタリング、PECVD等である。典型的な実施態様では、反射防止層
は単一または複数陰極スパッタリング方法により堆積される。
される。二陰極スパッタリング方法は中間周波数AC正弦波パルス電源を用いる
。二陰極システムは、並列に配置した2つのマグネトロン陰極を用いる。二陰極
システムにより、アーク制御及び固有の陽極問題を含めた従来のDCマグネトロ
ンスパッタリングの問題が最小限に抑えられる。
り被覆されるようになるので反応性DCスパッタリングでは固有の陽極問題が生
ずる。絶縁層により陽極及びシールドが被覆されると、方法の条件が変わり、困
難になる。多くの“ミクロアーク”が酸化物のスパッタリング中に生じ、そのた
めに堆積層に欠陥が生ずる。このアーキングを避けるために、RFスパッタリン
グ法を使用している人もいるが、堆積速度が遅く、またネットワーク要求に合わ
せることが困難なためにRFスパッタリングの産業上の利用可能性は非常に限ら
れている。
生器に接続して、各陰極をマグネトロン放電の陰極及び陽極として交互に作用さ
せる。DCスパッタリングとは対照的に、電力を20〜100kHzの範囲の周
波数を有するパルスモードで反応放電に供給し、絶縁領域の放電を妨げ、ターゲ
ットのアーキングを防止する。二陰極スパッタリングによりコーティング材料が
独創的にスパッター堆積され、さもなければDCスパッタリング方法を用いて大
規模に製造することができない。
び他の従来コーティング方法、例えばDC方法及びRF方法に比べて以下の利点
を与える: (1)堆積速度が同等のDC及びRF−タイプのスパッタリング方法よりも速い
、 (2)方法安定性が長期の作業期間にわたり高い、 (3)アーキングによる層欠陥が最小である、 (4)2%未満のクロスウェブ均一性が容易に達成され得る。
性及び非導電性反射防止複合材料を製造するために好ましい。
グが特に好ましい。高絶縁性材料を反応性DCスパッタリング堆積させる際、マ
グネトロン陰極上の絶縁層が絶縁破壊されるとアーキングが始まる。これは、堆
積装置がターゲットのスパッター浸食を“レーストラック”領域に限定するルー
ピング磁場を含んでいるからである。この領域では、スパッター速度がバックス
パッタリングにより生ずる成長よりも速い。しかしながら、レーストラックから
更に離れた場所では、成長速度がターゲット浸食を超え、その結果これらのター
ゲット部分は絶縁層で被覆されるであろう。この被覆により、各種タイプのアー
キングが生ずる。これらのアークのために、コーティング層に欠陥が生じ、方法
を制御することが非常に困難にもなる。
解決され得る。しかしながら、RFスパッタリングの堆積速度は速くない。RF
スパッタリングは通常、高い熱基板負荷及び高い粒子エネルギーをも伴う。よっ
て、RFスパッタリングは大面積基板コーティング及び感熱性可撓性フィルム基
板に対しては不向きである。
ルスDCスパッタリングである。非対称二極式パルスDCスパッタリングは、反
応性DCスパッタリングに関連するターゲット中毒の問題を最小限に抑えるので
単陰極スパッタリングのために好ましい。反応性DCスパッタリング方法では、
ターゲット表面に絶縁層が蓄積される傾向にある(“ターゲット中毒”)。絶縁
体がターゲットの表面上に堆積されるとコンデンサーが形成される。ターゲット
は1つのコンデンサーとして作用し、プラズマは他のコンデンサーとして作用し
、絶縁フィルムがコンデンサーの誘電体を形成する。DC流がコンデンサー中を
流れ得ないので、その後いろいろな問題が生ずる。第1の問題は、電流なしでは
ターゲットのこの領域からスパッタされ得ない。電流はイオン流であり、従って
アルゴンイオンがその領域に衝突しないとターゲット原子は放出され得ず、よっ
てスパッタリングは起こり得ない。第2の問題は、形成されたコンデンサーが印
加電圧まで完全に帯電する能力に耐えるに十分な誘電性を持たないことであり得
る。さもなければ、絶縁破壊により帯電粒子が突然放出され、局部電流密度が放
電領域に高まり、その結果アーキングが生ずる。このアーキングにより絶縁フィ
ルムに欠陥が生ずる。
体をまず基板材料よりも高いスパッター収率でスパッタし得る条件を設定するこ
とができる。この好ましいスパッタリングにより、ターゲット中毒が効率的に解
消される。好ましいスパッタリングは、通常のDC波形に逆電圧バイアスパルス
を付加することにより行うことができる。典型的なスパッタリングを−400ボ
ルトで行う場合、極性は迅速に約+100ボルトに転換し、こうしてコンデンサ
ーはプラズマに露出される表面上で反対に(−100ボルト)に帯電される。逆
パルスが終わり、電圧がスパッターモード(−400ボルト)に戻るとすぐに、
コンデンサのプラズマ側は−100ボルトに帯電される。ターゲットが−100
ボルトに達する場合、プラズマ上の有効電圧は−500ボルトである。よって、
アルゴンイオンは静電引力により絶縁体に引き寄せられ、超エネルギー(−50
0ボルト)と衝突して、絶縁体をまずターゲットから飛ばし、ターゲット中毒及
びアーキングが解消される。
るのを避けるのに十分な頻度でパルスが生じなければならないのでパルス周波数
に依存する。典型的な方法周波数は約80〜約150kHzである。逆バイアス
によりコンデンサの帯電からシールド及びチャンバ壁のスパッタリングへの変化
が生ずるので、逆バイアスはあまり高くてはならない。典型的な使用電圧は約+
75〜約+150ボルトである。
二極式パルス電源を使用する。これにより、ポジティブ及びネガティブパルス時
間が出力電圧に対して独立して制御され、最大の性能が発揮される。二極式パル
スDCの自由調節性及び選択性により、dc+、dc−、単極+及び単極+コン
トロール機能が可能である。これにより、導体、半導体及び不導体のような材料
をプラズマ処理できる。
ムを低温で得るためにパルスDCスパッタリングを使用することができる。正弦
(AC)スパッタリングとは異なり、二極式パルスDC(方形波形)ではプラズ
マ密度とアーキングの回避の間のバランスを調整するために“オン/オフ”時間
を独立して制御できる。ポジティブ及びネガティブなパルス幅は数マイクロ秒〜
約1.5秒のかなりの範囲に亘り調節可能であり、可変オフ時間をパルス間で利
用できる。周波数は変更可能である。
用いる二陰極スパッタリング方法は、長尺の基板材料上に反射防止層を堆積し得
る広域ロール塗布機に容易に適合され得る。
層がハードコート層の上に堆積されている。酸化物層の各対は、(i)ハードコ
ート上に堆積された、約1.65〜約2.65の屈折率及び約100〜約320
0オングストロームの平均厚さを有する第1透明酸化物層及び(ii)前記の第
1透明酸化物層上に堆積された、約1.2〜約1.85の屈折率及び約100〜
約3200オングストロームの平均厚さを有する第2透明酸化物層を含む。好ま
しくは、第1透明酸化物層は電気伝導性コーティングである。
InZnGaOxやInZnMgOxのような三元合金である。
厚さを有する酸化アルミニウムまたは酸化ジルコニウムの層がハードコートと1
対の酸化物層との間に介在している。この介在層は、約1.50〜2.20の屈
折率を有するように選択される。
低表面エネルギー層を反射防止層の上に設けることができる。通常、前記汚れ防
止層は約40ダイン/cm2以下の低表面エネルギーを有する。本発明の独自の
実施態様では、少なくとも1対の酸化物層で最外対の第2透明酸化物層は約1.
2〜1.85の屈折率及び40ダイン/cm2以下の低表面エネルギーを有する
。
酸化物層との間に酸化アルミニウムまたは酸化ジルコニウムの層を介在させるこ
とにより、4層以上の反射防止層を有する従来の複合材料と同様に機能する2つ
の反射防止層を有する複合材料を製造することができる。
の反射防止複合材料を図示する。図2Aに2つの反射防止層を有する反射防止複
合材料、図3Aに3つの反射防止層を有する反射防止複合材料を図示する。
基板はPETであり、1.65の屈折率を有する。ハードコートは無機Al2O 3 材料であり、基板上に蒸着されている。ハードコートは1.70の屈折率を有
し、4ミクロンの平均厚さを有する。炭素層は5オングストロームの平均厚さを
有する。炭素層は真空蒸着法により堆積されている。第1透明酸化物層は1.4
6の屈折率を有するSiO2である。第2透明酸化物層は1.70の屈折率を有
するAl2O3である。第3透明酸化物層は2.0の屈折率を有するITOであ
り、第4透明酸化物層は1.46の屈折率を有するSiO2である。透明酸化物
層の各々は、中間周波数AC正弦波スパッタリング及び対称/非対称二極式パル
スDCスパッタリングからなるパルスマグネトロンスパッタリングにより堆積さ
れている。低表面エネルギー層は第4透明酸化物層の上に堆積されている。低表
面エネルギー層は1.38の屈折率及び20オングストロームの平均厚さを有す
るフルオロポリマー材料である。低表面エネルギー層は約40ダイン/cm2未
満の表面エネルギーを有する。
の反射防止特性を示す。いずれの構造においても、基板材料はPETであり、1
.65の屈折率を有する。ハードコートは基板上に設けられたUV硬化アクリル
系ハードコートである。ハードコートは1.63の屈折率及び6ミクロンの平均
厚さを有する。炭素層は5オングストロームの平均厚さを有する。炭素層は真空
蒸着により堆積されている。第1透明酸化物層は2.0の屈折率を有するITO
である。第2透明酸化物層は1.46の屈折率を有するSiO2である。透明酸
化物層の各々は、中間周波数AC正弦波スパッタリング及び対称/非対称二極式
パルスDCスパッタリングからなるパルスマグネトロンスパッタリングにより堆
積されている。低表面エネルギー層は第2透明酸化物層の上に堆積されている。
低表面エネルギー層は1.38の屈折率及び20オングストロームの平均厚さを
有するフルオロポリマー材料である。低表面エネルギー層は約40ダイン/cm 2 未満の表面エネルギーを有する。
は、ハードコートの屈折率及びコーティングの厚さである。
料の一方は図3Aに図示したような3層構造を有し、他方は図1Aに図示したよ
うな4層構造を有する。3層構造の場合、基板材料はPETであり、1.65の
屈折率を有する。ハードコートは基板上に設けられたUV硬化アクリル系ハード
コートである。ハードコートは1.50の屈折率及び6ミクロンの平均厚さを有
する。炭素層は5オングストロームの平均厚さを有し、真空蒸着により堆積され
ている。第1透明酸化物層は1.70の屈折率を有するAl2O3である。第2
透明酸化物層は2.0の屈折率を有するITOである。第3透明酸化物層は1.
46の屈折率を有するSiO2である。低表面エネルギー層は第3透明酸化物層
の上に堆積されている。低表面エネルギー層は1.38の屈折率及び20オング
ストロームの平均厚さを有するフルオロポリマー材料である。低表面エネルギー
層は約40ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有する。
T基板を有する。ハードコートは基板上に設けられたUV硬化アクリル系ハード
コート材料である。ハードコートは1.50の屈折率及び6ミクロンの平均厚さ
を有する。炭素層は5オングストロームの平均厚さを有する。炭素層は真空蒸着
により堆積されている。第1透明酸化物層は2.0の屈折率を有するITOであ
る。第2透明酸化物層は1.46の屈折率を有するSiO2である。第3透明酸
化物層は2.0の屈折率を有するITOであり、第4透明酸化物層は1.46の
屈折率を有するSiO2である。透明酸化物層の各々は、中間周波数AC正弦波
スパッタリング及び対称/非対称二極式パルスDCスパッタリングからなるパル
スマグネトロンスパッタリングにより堆積されている。低表面エネルギー層は1
.38の屈折率及び20オングストロームの平均厚さを有するフルオロポリマー
材料である。低表面エネルギー層は約40ダイン/cm2未満の表面エネルギー
を有する。
この実施態様では、基板はPETであり、1.65の屈折率を有する。ハードコ
ートは基板上に設けられたUV硬化アクリル系ハードコート材料である。ハード
コートは1.50の屈折率及び6ミクロンの平均厚さを有する。炭素層は5オン
グストロームの平均厚さを有し、真空蒸着により堆積されている。第1透明酸化
物層は2.0の屈折率を有するITOである。第2透明酸化物層は1.46の屈
折率を有するSiO2である。第3透明酸化物層は2.0の屈折率を有するIT
Oであり、第4透明酸化物層は1.46の屈折率を有するSiO2である。透明
酸化物層の各々は、中間周波数AC正弦波スパッタリング及び対称/非対称二極
式パルスDCスパッタリングからなるパルスマグネトロンスパッタリングにより
堆積されている。低表面エネルギー層は1.38の屈折率及び20オングストロ
ームの平均厚さを有するフルオロポリマー材料である。低表面エネルギー層は湿
式化学及びスパッタリングにより堆積されている。低表面エネルギー層は約40
ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有する。
例示の目的のみで提示したにすぎず、発明の範囲を限定するつもりはない。
ール−ロールスパッタリングコーターを用いて製造する。陰極の大きさは15”
×4.5”、ドラムの大きさは16”である。図5に、実験室規模のR&Dスパ
ッタリングコーターの概略図を示す。
折率は1.65であり、ハードコートは厚さ6ミクロン、屈折率1.50を有す
る。
ギー層(フルオロポリマー)を湿式化学により堆積させた。
量):合格(目に見える損傷なし)、 湿潤試験(50℃、95%RHで48時間):反射率、付着及びエタノール研磨
合格、 電気伝導率:250オーム/平方未満、 低表面エネルギー層(汚れ防止):40ダイン/cm2未満。
射率及び良好な透過率を有していた。これらのサンプルをディスプレースクリー
ン(テレビまたはコンピューターモニター)に適用すると、スクリーン上の光グ
レアを低減させることにより明るさが劇的に増加した。
なく多数の変更及び改変をなし得ることは明白である。
。
。
。
ある。
Claims (29)
- 【請求項1】 (a)光透過性基板、(b)前記基板上に堆積されたハード
コート、(c)約2〜約100オングストロームの平均厚さを有する薄い炭素層
、(d)前記の薄い炭素層上に堆積された第1透明酸化物層、及び(e)前記の
第1透明酸化物層上に堆積された第2透明酸化物層を含むことを特徴とする反射
防止複合材料。 - 【請求項2】 透明酸化物層が中間周波数A/Cスパッタリングにより堆積
されていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項3】 透明酸化物層が対称/非対称二極式D/Cスパッタリングに
より堆積されていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材
料。 - 【請求項4】 更に、約40ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有する
低表面エネルギーの最外透明層を含むことを特徴とする請求の範囲第1項に記載
の反射防止複合材料。 - 【請求項5】 低表面エネルギー層が真空蒸着された有機/無機混合物であ
ることを特徴とする請求の範囲第4項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項6】 低表面エネルギー層が最外透明酸化物層に隣接して配置され
ており、約2〜約100オングストロームの平均厚さを有する薄い炭素層が低表
面エネルギー層と最外透明酸化物層との間に堆積されていることを特徴とする請
求の範囲第4項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項7】 第1透明酸化物層が約1.65〜約2.65の屈折率及び約
100〜約3200オングストロームの平均厚さを有し、第2透明酸化物層が約
1.2〜約1.85の屈折率及び約100〜約3200オングストロームの平均
厚さを有することを特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項8】 透明酸化物層の1つが三元酸化物層であることを特徴とする
請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項9】 薄い炭素層と第1透明酸化物層との間に、約400〜約10
00オングストロームの厚さ及び約1.5〜約2.2の屈折率を有する中間酸化
物層が配置されていることを特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合
材料。 - 【請求項10】 薄い炭素層と第1透明酸化物層との間に、酸化アルミニウ
ム及び酸化ジルコニウムからなる金属酸化物の群から選択され、約400〜約1
000オングストロームの厚さを有する中間酸化物層が配置されていることを特
徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項11】 更に、基板から最も遠くに配置された、約1.2〜約1.
85の屈折率及び約40ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有する最外透明
酸化物層を含むことを特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項12】 ハードコートが、約1.5〜約2の屈折率及び約0.5〜
約10ミクロンの平均厚さを有する無機材料または有機/無機材料であることを
特徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項13】 (a)光透過性基板、(b)前記基板上に堆積されたハー
ドコート、(c)薄い炭素層上に堆積された第1透明酸化物層、及び(d)前記
の第1透明酸化物層上に堆積された第2透明酸化物層を含み、前記の透明酸化物
層が中間周波数A/Cスパッタリングにより堆積されていることを特徴とする反
射防止複合材料。 - 【請求項14】 (a)光透過性基板、(b)前記基板上に堆積されたハー
ドコート、(c)薄い炭素層上に堆積された第1透明酸化物層、及び(d)前記
の第1透明酸化物層上に堆積された第2透明酸化物層を含み、前記の透明酸化物
層が対称/非対称二極式D/Cスパッタリングにより堆積されていることを特徴
とする反射防止複合材料。 - 【請求項15】 (a)光透過性基板、(b)前記基板上に堆積されたハー
ドコート、(c)前記のハードコート上に堆積された、約1.5〜約2.2の屈
折率を有する中間酸化物層、(d)前記の中間酸化物層上に堆積された第1透明
酸化物層、及び(e)前記の第1透明酸化物層上に堆積された第2透明酸化物層
を含むことを特徴とする反射防止複合材料。 - 【請求項16】 中間酸化物層が酸化アルミニウム及び酸化ジルコニウムか
らなる中間酸化物の群から選択されることを特徴とする請求の範囲第15項に記
載の反射防止複合材料。 - 【請求項17】 (a)光透過性基板、(b)前記基板上に堆積されたハー
ドコート、(c)約2〜約100オングストロームの平均厚さを有する薄い炭素
層、及び(d)前記の薄い炭素層上に堆積された複数の透明酸化物層対を含み、
前記の透明酸化物層対の各々は(i)約1.65〜約2.65の屈折率及び約1
00〜約3200オングストロームの平均厚さを有する第1透明酸化物及び(i
i)約1.2〜約1.85の屈折率及び約100〜約3200オングストローム
の平均厚さを有する第2透明酸化物を含むことを特徴とする反射防止複合材料。 - 【請求項18】 透明酸化物層は中間周波数A/Cスパッタリングにより堆
積されていることを特徴とする請求の範囲第17項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項19】 透明酸化物層は対称/非対称二極式D/Cスパッタリング
により堆積されていることを特徴とする請求の範囲第17項に記載の反射防止複
合材料。 - 【請求項20】 更に、約40ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有す
る低表面エネルギーの最外透明層を含むことを特徴とする請求の範囲第17項に
記載の反射防止複合材料。 - 【請求項21】 低表面エネルギー層は真空蒸着された有機/無機混合物で
あることを特徴とする請求の範囲第20項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項22】 低表面エネルギー層は最外透明酸化物層に隣接して配置さ
れており、約2〜約100オングストロームの平均厚さを有する薄い炭素層が低
表面エネルギー層と最外透明酸化物層との間に堆積されていることを特徴とする
請求の範囲第21項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項23】 透明酸化物層の1つが三元酸化物層であることを特徴とす
る請求の範囲第17項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項24】 薄い炭素層と第1透明酸化物層との間に中間酸化物層が配
置されており、この中間酸化物層は約400〜約1000オングストロームの厚
さ及び約1.5〜約2.2の屈折率を有することを特徴とする請求の範囲第17
項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項25】 薄い炭素層と第1透明酸化物層との間に、酸化アルミニウ
ム及び酸化ジルコニウムからなる金属酸化物の群から選択され、約400〜約1
000オングストロームの厚さを有する中間酸化物層が配置されていることを特
徴とする請求の範囲第17項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項26】 更に、基板から最も遠くに配置した、約1.2〜約1.8
5の屈折率及び約40ダイン/cm2未満の表面エネルギーを有する最外透明酸
化物層を含むことを特徴とする請求の範囲第17項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項27】 ハードコートが、約1.5〜約2の屈折率及び約0.5〜
約10ミクロンの平均厚さを有する無機材料または有機/無機材料であることを
特徴とする請求の範囲第17項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項28】 追加の透明層が非真空方法により堆積されていることを特
徴とする請求の範囲第1項に記載の反射防止複合材料。 - 【請求項29】 追加の透明層が真空または非真空方法、或いはその両方法
の組合せにより堆積されていることを特徴とする請求の範囲第17項に記載の反
射防止複合材料。
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