JP2001507079A - カソードスパッタリング装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.磁極片(14)、ターゲット(8)および少なくとも1つの磁石またはリン グ状磁石(9)を含み、真空チャンバーに配置し得るスパッタリングカソード(2) によって基板(27)にコーティングを形成するカソードスパッタリングの装置で あって、分割されたヨークまたは2つのパーツ(21、21’)で形成されるヨーク が設けられていることを特徴とする装置。 2.スパッタリングカソード(2)が円形であり、磁極片(14)および分割さ れたヨークがスパッタリングカソード(2)に関して同心状に配置されている請 求の範囲第1項に記載の装置。 3.可変磁場を形成する少なくとも1つの手段(コイル76、77)または少なく とも1つの回転可能な鉄芯(83、85、92、93)が設けられていることを特徴とす る請求の範囲第1項または第2項に記載の装置。 4.分割されたヨーク(21、21’)がリング状磁石(9)および可変磁場を形 成する少なくとも1つの手段(コイル76、77)または少なくとも1つの回転可能 な鉄芯(83、85、92、93)のエリアに設けられていることを特徴とする請求の範 囲第3項に記載の装置。 5.少なくとも1つの環状に配置される磁石(9)が第1または第2ヨークプ レート(21、21’)のエリア、または第1または第2ヨークプレート(21、21’ )の外周のエリアに設けられ、少なくとも1つの環状に配置される第1磁気コイ ル(76)がターゲット(8)またはターゲットの背面(40)とヨークプレート( 21、21’)との間に設けられていることを特徴とする請求の範囲第1、2、3ま たは4項に記載の装置。 6.第1磁気コイル(76)がターゲット(8)の外周(55)のエリアに設けら れ、第2磁気コイル(77)が冷却ヘッド(74)のエリアに設けられていることを 特徴とする請求の範囲第1〜5項に記載の装置。 7.2つの磁気コイル(76、77)がターゲット(8)の頂面(57)または背面 (40)の僅か上方に設けられていることを特徴とする請求の範囲第6項の装置。 8.2つの磁気コイル(76、77)が横方向の同じ平面に配置されていることを 特徴とする請求の範囲第6項または第7項に記載の装置。 9.2つの磁気コイル(76、77)が、第1または第2ヨークプレート(21、21 ’)および/またはターゲット(8)の背面(40)の間で横方向の同じ平面に配 置されていることを特徴とする請求の範囲第8項に記載の装置。 10.環状に配置される磁石(9)が、上側または第2ヨークプレート(21’ )の間もしくは1つの平面に配置されたヨークプレート(21、21’)の間で第1 および/または第2ヨーク(21、21’)の外周のエリアに設けられていることを 特徴とする請求の範囲第1〜9項のいずれかに記載の装置。 11.2つの磁気コイル(76、77)がスパッタリングカソード(2)の中心軸 (44)に関して同心状に配置されていることを特徴とする請求の範囲第6〜10 項のいずれかに記載の装置。 12.磁石(9)が、第1コイル(76)の外径とほぼ同じ、またはそれよりも 僅かに小さいもしくは僅かに大きい外径を有することを特徴とする請求の範囲第 5〜11項に記載の装置。 13.磁気コイル(76、77)を収容するリングチャンバー(86)が絶縁体(6 )に設けられ、当該絶縁体はターゲット(8)と少なくとも1つのヨークプレー ト(21、21’)との間、および/またはターゲット(8)に設けられていること を特徴とする請求の範囲第6〜12項のいずれかに記載の装置。 14.2つの磁気コイル(76、77)が異なる直径を有することを特徴とする請 求の範囲第6〜13項のいずれかに記載の装置。 15.第2磁気コイル(77)が第1リングコイル(76)よりも小さい外径を有 することを特徴とする請求の範囲第14項に記載の装置。 16.リング状磁石(9)が基板(27)に向けられたN/S極性を有すること を特徴とする請求の範囲第1〜15項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を 有する装置。 17.シールド手段(75)が2つのコイル(76、77)の間に設けられているこ とを特徴とする請求の範囲第6〜16項のいずれかに記載の装置。 18.シールド手段(75)がヨークプレート(21、21’)の1つとターゲット (8)との間、またはヨークプレート(21、21’)と基板(27)との間に設けら れていることを特徴とする請求の範囲第17項に記載の装置。 19.シールド手段(75)がヨークプレート(21、21’)の1つおよび/また は絶縁体(6)とターゲット(8)との間に設けられていることを特徴とする請 求の範囲第17項または第18項に記載の装置。 20.2つのヨークプレート(21、21’)が中心軸(44)に関して互いに間隔 を置いて配置され、ターゲット・スペース(84)内および/またはターゲット・ スペース(84)の外側の平面に配置されていることを特徴とする請求の範囲第1 〜19項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を有する装置。 21.2つのヨークプレート(21、21’)の間の距離が磁石(9)の高さおよ び/または幅にほぼ相当することを特徴とする請求の範囲第1〜20項のいずれ か1つまたは複数に記載の特徴を有する装置。 22.2つのヨークプレート(21、21’)が、異なる外径を有する、及び/ま たはステップ状に配置されている環状のプレートであることを特徴とする請求の 範囲第1〜21項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を有する装置。 23.より小さい外径を有するヨークプレート(21)が冷却フィンガー(74) および/または間接的もしくは直接的に中空ねじ(20)と連結しており、より大 きい外径を有するヨークプレート(21’)が間接的もしくは直接的に磁極片(14 )と連結していることを特徴とする請求の範囲第1〜22項のいずれか1つまた は複数に記載の特徴を有する装置。 24.可変磁場を形成する手段が磁極片(14)のエリアに設けられていること を特徴とする請求の範囲第1〜23項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を 有する装置。 25.コイル(76、77)への電流供給が時間に応じて変化させ得ることを特徴 とする請求の範囲第1〜24項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を有する 装置。 26.コイル(76、77)に供給される電流またはコイルへの電流供給が、コン トロール・カーブまたはプリセットされたプログラムによってコントロールする ことができ、このために導線(78、79)がカレント・ディバイダ(80)を介して コンピュータ(82)と連結していることを特徴とする請求の範囲第1〜25項の いずれか1つまたは複数に記載の特徴を有する装置。 27.第1コイル(76)がより小さい外径を有するヨークプレート(21)の外 周のエリアに設けられており、第2コイル(77)が第2ヨークプレート(21’) の内周のエリアに設けられていることを特徴とする請求の範囲第1〜26項のい ずれか1つまたは複数に記載の特徴を有する装置。 28.2つのリングコイル(76、77)がステップ状に配置されていることを特 徴とする請求の範囲第1〜27項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴を有す る装置。 29.基板(27)のエリアにおいて、ターゲット・スペース(84)内および/ またはターゲット・スペースの外側に配置されるシールド手段(75)が、2つの コイル(77、77’および76、76’)の間でコイルと同じ平面に配置されているこ とを特徴とする請求の範囲第1〜28項のいずれか1つまたは複数に記載の特徴 を有する装置。
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1996153999 DE19653999C1 (de) | 1996-12-21 | 1996-12-21 | Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung |
DE1996154007 DE19654007A1 (de) | 1996-12-21 | 1996-12-21 | Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung |
DE19654007.0 | 1996-12-21 | ||
DE19653999.4 | 1996-12-21 | ||
DE19654000.3 | 1996-12-21 | ||
DE1996154000 DE19654000C1 (de) | 1996-12-21 | 1996-12-21 | Vorrichtung zur Kathodenzerstäubung |
PCT/EP1997/007227 WO1998028779A1 (de) | 1996-12-21 | 1997-12-22 | Vorrichtung zur kathodenzerstäubung |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001507079A true JP2001507079A (ja) | 2001-05-29 |
JP2001507079A5 JP2001507079A5 (ja) | 2005-07-14 |
JP4422801B2 JP4422801B2 (ja) | 2010-02-24 |
Family
ID=27216979
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52839398A Expired - Fee Related JP4143131B2 (ja) | 1996-12-21 | 1997-12-22 | カソードスパッタリング装置および方法 |
JP52839598A Expired - Fee Related JP4422801B2 (ja) | 1996-12-21 | 1997-12-22 | カソードスパッタリング装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52839398A Expired - Fee Related JP4143131B2 (ja) | 1996-12-21 | 1997-12-22 | カソードスパッタリング装置および方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6338781B1 (ja) |
EP (2) | EP0946966B1 (ja) |
JP (2) | JP4143131B2 (ja) |
DE (2) | DE59712307D1 (ja) |
WO (3) | WO1998028779A1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100421087B1 (ko) * | 2001-12-31 | 2004-03-04 | 주식회사 엠피시스템 | 주차차량 자동 이송장치 및 방법 |
JP4470429B2 (ja) * | 2002-09-30 | 2010-06-02 | 日本ビクター株式会社 | マグネトロンスパッタリング装置 |
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US7910218B2 (en) | 2003-10-22 | 2011-03-22 | Applied Materials, Inc. | Cleaning and refurbishing chamber components having metal coatings |
US7670436B2 (en) | 2004-11-03 | 2010-03-02 | Applied Materials, Inc. | Support ring assembly |
US8617672B2 (en) | 2005-07-13 | 2013-12-31 | Applied Materials, Inc. | Localized surface annealing of components for substrate processing chambers |
US7762114B2 (en) * | 2005-09-09 | 2010-07-27 | Applied Materials, Inc. | Flow-formed chamber component having a textured surface |
US9127362B2 (en) * | 2005-10-31 | 2015-09-08 | Applied Materials, Inc. | Process kit and target for substrate processing chamber |
US8647484B2 (en) | 2005-11-25 | 2014-02-11 | Applied Materials, Inc. | Target for sputtering chamber |
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WO2009155394A2 (en) * | 2008-06-18 | 2009-12-23 | Angstrom Sciences, Inc. | Magnetron with electromagnets and permanent magnets |
CN101447274B (zh) * | 2008-09-26 | 2011-05-11 | 东莞宏威数码机械有限公司 | 磁路机构和具有该机构的磁控溅射阴极及制造方法 |
ES2374775B1 (es) * | 2009-04-03 | 2013-01-03 | Universidad De Castilla La Mancha | Unidad de pulverización catódica de blancos circulares. |
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US8294095B2 (en) * | 2010-12-14 | 2012-10-23 | Hermes Microvision, Inc. | Apparatus of plural charged particle beams with multi-axis magnetic lens |
US9051638B2 (en) * | 2013-03-01 | 2015-06-09 | Poole Ventura, Inc. | In-situ sputtering apparatus |
WO2014143078A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Poole Ventura, Inc. | In-situ sputtering apparatus |
TWI527924B (zh) * | 2014-02-12 | 2016-04-01 | 兆陽真空動力股份有限公司 | 電磁控濺鍍陰極 |
CN106702336B (zh) * | 2015-11-16 | 2019-02-19 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 磁控管的安装机构及磁控溅射设备 |
WO2018175689A1 (en) * | 2017-03-22 | 2018-09-27 | Applied Plasma Equipment | Magnetron sputtering source for insulating target materials |
DE112019000682B4 (de) | 2018-02-06 | 2023-06-29 | Canon Anelva Corporation | Substratbearbeitungsvorrichtung und Substratbearbeitungsverfahren |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3956093A (en) | 1974-12-16 | 1976-05-11 | Airco, Inc. | Planar magnetron sputtering method and apparatus |
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-
1997
- 1997-12-22 US US09/331,409 patent/US6338781B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 JP JP52839398A patent/JP4143131B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-12-22 EP EP97953901A patent/EP0946966B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 DE DE59712307T patent/DE59712307D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 DE DE59712656T patent/DE59712656D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 US US09/331,453 patent/US6344114B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 WO PCT/EP1997/007227 patent/WO1998028779A1/de active IP Right Grant
- 1997-12-22 EP EP97953900A patent/EP0946965B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-22 WO PCT/EP1997/007225 patent/WO1998028777A1/de active IP Right Grant
- 1997-12-22 JP JP52839598A patent/JP4422801B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-12-22 WO PCT/EP1997/007226 patent/WO1998028778A1/de active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6344114B1 (en) | 2002-02-05 |
WO1998028777A1 (de) | 1998-07-02 |
EP0946966A1 (de) | 1999-10-06 |
WO1998028779A1 (de) | 1998-07-02 |
JP2001507078A (ja) | 2001-05-29 |
JP4143131B2 (ja) | 2008-09-03 |
WO1998028778A1 (de) | 1998-07-02 |
US6338781B1 (en) | 2002-01-15 |
EP0946965A1 (de) | 1999-10-06 |
EP0946966B1 (de) | 2005-05-11 |
DE59712307D1 (de) | 2005-06-16 |
EP0946965B1 (de) | 2006-05-17 |
DE59712656D1 (de) | 2006-06-22 |
JP4422801B2 (ja) | 2010-02-24 |
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---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041102 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041102 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070828 |
|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080121 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080724 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090707 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091006 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091117 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091207 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131211 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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