JP2001304756A - オゾン生成装置 - Google Patents

オゾン生成装置

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JP2001304756A
JP2001304756A JP2000118889A JP2000118889A JP2001304756A JP 2001304756 A JP2001304756 A JP 2001304756A JP 2000118889 A JP2000118889 A JP 2000118889A JP 2000118889 A JP2000118889 A JP 2000118889A JP 2001304756 A JP2001304756 A JP 2001304756A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高濃度の液体オゾンを蓄積することができる
ようにした。 【解決手段】 微粒子除去フィルタ7と流量調節バルブ
8との流路間に、液体オゾン生成装置2と同様の構成か
らなるコールドトラップ2aを設け、このコールドトラ
ップ2aは、トラップ用チャンバー29、冷凍機33、
コールドヘッド32および冷却用金属ブロック31を介
して冷却される。冷却用金属ブロック31は温度センサ
やヒーターからなる温度制御装置34により制御され、
冷凍機33はコンプレッサにより制御される。トラップ
用チャンバー29には、微粒子除去フィルタ7からオゾ
ン含有酸素ガスが導入される。トラップ用チャンバー2
9は、オゾンチャンバー9の温度より高い温度に冷凍機
33や温度制御装置34により設定される。このため、
トラップ用チャンバー29は、液化されるオゾンよりも
比較的液化温度が高い不純物ガスを液化または固体化す
るようになる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、オゾンガスを液化
することにより、濃縮した高濃度オゾンガスを供給する
ことのできるオゾン生成装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年オゾン(元素記号:O3)の利用
が、その強い酸化力を利用した上下水処理を始めとする
種々の分野で進展しており、中でも半導体素子の製造分
野では、Siウエーハ洗浄やTEOS−CVD(Tetra Ethyl Ort
ho Silicate-Chemical Vapor Deposition)への適用が
検討されつつある。
【0003】Siウエーハ洗浄は、オゾンガスを純水に溶
かしたオゾン水を洗浄液として用いるもので、希ふっ酸
水溶液等と併用することでSiウエーハ上の重金属や有機
物を除去できることが発表されている。
【0004】また、TEOS−CVDは、半導体素子を多層配
線化する際の層間絶縁膜の形成に用いられ、電極による
ウエーハ表面の凹凸を絶縁膜で平坦化できることが特長
であり、このTEOS−CVDにオゾンを添加することによっ
て平坦化の性能が向上することが報告されている。
【0005】これらの発表や報告は、10%程度の比較的
低濃度のオゾンガスを利用した例であるが、80%以上の
比較的高濃度のオゾンガスを利用することで、従来のオ
ゾンガスの利用では考えられなかった新たな応用の可能
性が指摘され始めており、その一例として特開平8−3
35576号公報に開示されているSi半導体の酸化膜形
成がある。この公報によれば、比較的高濃度のオゾンガ
スを利用することで、従来の熱酸化法では為し得ない比
較的低温での酸化膜形成が可能で、亜酸化層や欠陥構造
の少ない良質な酸化膜の形成が可能となることが紹介さ
れている。
【0006】オゾンガスの生成には、一般に放電により
酸素ガスからオゾンと酸素の混合ガスを発生させる無声
放電方式が用いられるが、これまでは発生効率の限度と
爆発の危険性等から、常温常圧下で約10体積%以上のオ
ゾンガスを生成することは困難であった。
【0007】しかし、その後、発生したオゾンガスを一
旦液化貯蔵した後に気化させることにより、80%以上の
高濃度オゾンガスを生成する液体オゾン生成装置が研究
されており、特公平5−17164号公報にオゾンビー
ム発生装置として開示されている。
【0008】この液体オゾン生成装置に関して、図4,
図5に基づいて説明する。液体オゾン生成装置は、オゾ
ンガス発生装置及び排気装置等から成る部分1と、オゾ
ンを液化する液体オゾン生成装置2とから構成されてお
り、オゾンの液化は以下のようにして行われる。
【0009】先ず、酸素ボンベ3から圧力調整バルブ4
を介してオゾナイザー5に送られた酸素ガスは、オゾナ
イザー5で無声放電により酸素にオゾンガスが混合され
たオゾン含有酸素ガスとなる。このオゾン含有酸素ガス
は、流量を制御するためのマスフローコントローラー6
及びオゾン含有酸素ガス中の微粒子を除去するための微
粒子除去フィルター7を通って、オゾンガスを液化する
液体オゾン生成装置2に導入される。そして、オゾン含
有酸素ガスは、流量調整バルブ8とオゾン含有酸素ガス
導入管25を介してオゾンチャンバー9内に導入され
る。
【0010】ここで、オゾンガスの液化の原理について
説明する。オゾンガス液化の原理は、オゾンと酸素の蒸
気圧の差によってオゾンガスだけを液化するものであ
る。例えば、1気圧のもとではオゾンは161Kの沸点であ
るが、酸素は90Kの沸点を有する。したがって、90K以上
161K未満の温度に冷却すれば、オゾンは大部分が液体、
酸素は大部分が気体状態となるので、オゾンだけを液体
として分離できる。
【0011】実際には、高濃度オゾンの爆発性に対する
安全上から減圧条件で取り扱うので、その際の温度と圧
力条件下でのオゾンと酸素の蒸気圧の差で分離条件が決
まる。例えば、温度90Kで圧力10mmHg(=13.3hPa)の場合
を考えると、90Kではオゾンの蒸気圧は、ほぼ0mmHg(=0P
a)だが、酸素は約690mmHg(=918hPa)となり、オゾンだけ
がこの条件下で液化される。
【0012】オゾンチャンバー9は、コンプレッサー2
1で駆動される冷凍機20で冷却されたコールドヘッド
19と熱的に結合されており、温度センサー24,ヒー
ター23及び温度制御装置22によって0.1K以内の温度
精度で精密に制御され、予め80K〜100Kの低温度に保た
れている。
【0013】そして、オゾンチャンバー9では前述の原
理により、冷却された温度でのオゾンと酸素の蒸気圧の
差によってオゾンガスだけが液化される。この時、酸化
処理容器16との間のバルブ15を閉じ、バルブ10を
開いた状態としておくことで、オゾン排出管26を介し
てバルブ10を通った液化されない酸素ガスはオゾンキ
ラー11に導入され、オゾンキラー11で若干残留する
オゾンガスが外部へ排出しないよう加熱して酸素に変え
た後、加熱された酸素ガスを冷却するためのガス冷却器
12、液体窒素トラップ13を経て真空ポンプ14によ
り外部へ排出される。なお、液体窒素トラップ13は、
真空ポンプ14からの炭化物等によるオゾンチャンバー
9への汚染や混入を防ぐためのものである。
【0014】以上のようにして液化された液体オゾン2
7を、酸化処理容器16内で酸化等の使用目的に利用す
る時は、流量バルブ8およびバルブ10を閉じ、バルブ
15を開く。そして温度センサー24,ヒーター23及
び温度制御装置22等により、コールドヘッド19に熱
的に結合されたオゾンチャンバー9の温度上昇させるこ
とで液体オゾン27を気化させ、オゾンガスとしてオゾ
ン排出管26,バルブ15を介して酸化処理容器16内
に導入する。
【0015】なお、液体オゾンもしくは高濃度のオゾン
ガスは爆発性を有するため、万一の場合を考慮して、爆
発の際に破壊することでガスを排出する安全弁18が設
けられている。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】上述した液体オゾン生
成装置では、オゾン含有酸素ガス中に含まれる固形の不
純物は、微粒子除去フィルタ7で除去され、酸素ガスは
オゾンチャンバー9でオゾンと酸素の蒸気圧の差によっ
て除去される。しかしながら、オゾン含有酸素ガス中に
含まれる微量の不純物ガス(炭酸ガスや水蒸気など)は
除去されることなく、オゾンチャンバー9に蓄積されて
液体オゾンの純度を低下させる原因となっている。上記
不純物ガスは、原料の酸素ガスに含まれていたり、オゾ
ナイザー5の放電による電極部の分解などにより発生す
ることが知られている。
【0017】上記不純物ガスは、融点が、液体オゾンの
液化時および貯蔵された液体オゾンを気化したオゾンガ
スとして利用する時(液化時より数10℃高い程度)の
オゾンチャンバー9の制御温度よりも高いので、固体と
してオゾンチャンバー9の下部に蓄積され続ける。通常
不純物ガスは含有量としては無視できる程度なので、液
体オゾンの液化による蓄積および気化によるガス化のサ
イクルを2〜3回繰り返しても支障は生じない。
【0018】しかし、さらに繰り返し使用し続けると、
不純物ガスの凝固物は無視できない量まで蓄積され、蓄
積される液体オゾンの純度を低下させるだけでなく、時
として液体オゾンの爆発を引き起こす恐れもある。この
ため、従来は、数サイクル使用するごとに、一旦オゾン
チャンバー9の温度を室温付近まで上昇させて、凝固し
た不純物ガスを気化させて排出する必要があった。この
定期的に必要な不純物ガス排出作業(オゾンチャンバー
再生作業)には、次のような問題点がある。
【0019】オゾンチャンバーの制御温度と室温との
温度差約200℃のヒートサイクルをオゾンチャンバー
および冷凍機に課すことになるので、金属疲労などによ
る故障が多くなる。
【0020】オゾンチャンバーを一旦室温付近まで約
200℃も上昇させて不純物ガス排出を行い、その後、
再び約200℃を冷却して制御温度にして、温度が安定
した後、液体オゾンの生成貯蔵を始められるようになる
まで、半日以上もかかる。これにより、装置の稼働率が
著しく損なわれる。
【0021】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、オゾン含有酸素ガス中に含まれる微量の不純物ガス
をオゾンチャンバーに供給する前に除去することによ
り、高濃度の液体オゾンを蓄積することができるように
したオゾン生成装置を提供することを課題とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
達成するために、第1発明は、酸素を含有するガスをオ
ゾン化してオゾン含有ガスを生成し、導入配管により前
記オゾン含有ガスをオゾンチャンバーに導入し、冷凍機
及びコールドヘッドからなる温度制御手段により前記オ
ゾンチャンバーの下部を80〜100Kの温度になるように冷
却制御することで前記オゾンチャンバー下部にオゾンの
み液化すると共に、液化されなかったオゾンガス及び酸
素ガスを排気配管により前記オゾンチャンバーより排気
することで、前記オゾンチャンバー下部に液体オゾンを
生成する装置において、前記オゾン含有ガスを前記オゾ
ンチャンバーに導入する前に、そのオゾン含有ガスから
不純物ガスを不純物ガス除去装置で除去してから前記オ
ゾンチャンバーに導入することを特徴とするオゾン生成
装置である。
【0023】第2発明は、前記不純物ガス除去装置が、
オゾン含有ガスが導入されるチャンバーを有し、このチ
ャンバーを氷点273K以下でかつオゾンが液化しない温度
で冷凍機及びコールドヘッドからなる温度制御手段によ
り冷却制御することを特徴とするオゾン生成装置であ
る。
【0024】第3発明は、前記不純物ガス除去装置に
は、バルブで開閉できる排気管が設けられていて、不純
物ガス除去装置と前記オゾンチャンバーとのガス経路を
遮断し、前記排気管に設けられたバルブを開放し、かつ
前記不純物ガス除去装置を加熱してその装置に蓄積され
たガスを脱着するようにしたことを特徴とするオゾン生
成装置である。
【0025】第4発明は、前記不純物ガス除去装置が複
数設けられていて、一つの不純物ガス除去装置を加熱し
て蓄積されたガスを脱着しているとき、他の不純物ガス
除去装置を用いて前記オゾンチャンバーでのオゾンの液
化を行うようにしたことを特徴とするオゾン生成装置で
ある。
【0026】第5発明は、酸素を含有するガスをオゾン
化してオゾン含有ガスを生成し、導入配管により前記オ
ゾン含有ガスをオゾンチャンバーに導入し、冷凍機及び
コールドヘッドからなる温度制御手段により前記オゾン
チャンバーの下部を80〜100Kの温度になるように冷却制
御することで前記オゾンチャンバー下部にオゾンのみ液
化すると共に、液化されなかったオゾンガス及び酸素ガ
スを排気配管により前記オゾンチャンバーより排気する
ことで、前記オゾンチャンバー下部に液体オゾンを生成
する装置において、前記オゾンチャンバー及び温度制御
手段をn個設け、n番目のオゾンチャンバーに接続され
ている導入配管に第1、第2バルブを介挿し、第1バル
ブの上流側をオゾン含有ガス供給部に接続するととも
に、第2バルブの上流側を(n−1)番目のオゾンチャ
ンバーの排気管に接続し、n番目のオゾンチャンバーに
接続されている排気管に第3、第4、第5バルブを介挿
し、第3バルブの下流側を(n+1)番目のオゾンチャ
ンバーの導入配管に接続するとともに、第4バルブの下
流側を酸化処理容器に接続し、第5バルブの下流側を排
気系に接続するように構成し、上記各バルブを開閉制御
して、各オゾンチャンバーで、オゾン液化・蓄積、オゾ
ンガス発生、不純物トラップ、空焼きのサイクルを予め
設定されたタイミングで行うことを特徴とするものであ
る。
【0027】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づいて説明するに、図4、図5と同一部分には同一符
号を付してその説明を省略する。図1は本発明の実施の
第1形態を示す概略構成説明図で、この実施の第1形態
は、微粒子除去フィルタ7と流量調節バルブ8との流路
間に、液体オゾン生成装置2と同様の構成からなるコー
ルドトラップ(不純物ガス除去装置)2aを設けたもの
である。このコールドトラップ2aは、液体オゾン生成
装置2と同様な構成である。図1において、29はトラ
ップ用チャンバーで、このトラップ用チャンバー29
は、冷凍機33、コールドヘッド32および冷却用金属
ブロックを介して冷却される。34は温度センサやヒー
ターからなる温度制御装置、35はコンプレッサ、36
はトラップの再生時の排気用のバルブである。
【0028】トラップ用チャンバー29には、微粒子除
去フィルタ7からオゾン含有酸素ガスが導入される。ト
ラップ用チャンバー29は、オゾンチャンバー9の温度
より高い温度に冷凍機33や温度制御装置34により設
定される。このため、トラップ用チャンバー29は、液
化されるオゾンよりも比較的液化温度が高い不純物ガス
を液化または固体化するようになる。なお、トラップさ
れる不純物ガスは微量であるので、チャンバー29の容
量および冷凍機33の能力は、液体オゾン生成装置2に
比較して小さいものでよい。
【0029】チャンバー29の温度は、最も可能性の高
い不純物ガスである水蒸気が固体化する氷点273K以下
で、かつオゾンが液化しないように液体オゾン生成装置
2のオゾンチャンバー9よりも高い温度に設定されてい
る。これにより、上述したように、オゾンより液化温度
が高いガスは液化または固体化してトラップ用チャンバ
ー29にトラップされる。トラップの再生時は、流量調
節バルブ8を閉じて、チャンバー29の温度を昇温させ
てトラップされた液化不純物ガス30を気化させてバル
ブ36を開けて排気する。この再生による昇温と再生後
の冷却にも、従来のオゾンチャンバー9の再生と同様の
手間がかかる。しかし、トラップ用チャンバー29に蓄
積される不純物ガス30の量は、微量であるので、必要
な頻度ははるかに少ない。不純物ガス30を排気した後
には、バルブ36を閉じ、バルブ8を開放してオゾンガ
スをオゾンチャンバー9に導入し、オゾンを液化するの
で、オゾンチャンバー9には、高濃度のオゾンが生成さ
れるようになる。
【0030】なお、コールドトラップ2aを並列に複数
個設けておけば、トラップ再生時でも、他のコールドト
ラップ2aを用いればオゾンチャンバー9でのオゾン液
化・蓄積が可能である。この場合も、オゾンチャンバー
9には高濃度のオゾンを蓄積することができる。
【0031】図2は本発明の実施の第2形態を示す概略
構成説明図で、この実施の第2形態は、実施の第1形態
で示した不純物ガス除去装置2aのトラップ用チャンバ
ー29とオゾンチャンバー9の構成がほぼ等しいことか
ら、両チャンバーを兼用にした兼用チャンバー39に構
成したものである。この兼用チャンバー39は複数設け
て各兼用チャンバー39a,39b…を、例えば、「オ
ゾン液化→オゾン発生→不純物トラップ→空焼き(排
出)」のサイクルとなるように繰り返し動作させるよう
にする。
【0032】図2はnmax本の兼用チャンバー39で第
2形態を構成した場合のn番目のチャンバー部39nの
構成を示すものである。n番目のチャンバー部39nに
は、酸素ガス導入管25とオゾン排出管26が設けら
れ、酸素ガス導入管25には、複数のガス導入管25
a、25bが接続され、オゾン排出管26には、複数の
オゾン排出管26a、26b、26cが接続されてい
る。
【0033】ガス導入管25a、25bには、流量調整
バルブ41n、42nが介挿され、オゾン排出管26a
〜26cには、流量調整バルブ43n、44n、45n
がそれぞれ介挿される。流量調整バルブ41nの上流側
は図示しないオゾナイザーの導出配管に接続され、流量
調整バルブ42nの上流側は(n−1)番目のチャンバ
ー部39n-1のオゾン排出管に接続される。但し、n=
1のときは、nmax番目に接続する。
【0034】また、流量調整バルブ43nの下流側は
(n+1)番目のガス導入管に接続され、流量調整バル
ブ44nの下流側は図示しない酸化処理容器の導入配管
に接続され、流量調整バルブ45nの下流側は排気系に
接続される。但し、n=nmaxのときは、1番目に接続
される。
【0035】なお、図2において、46nはn番目の冷
却用金属ブロック、47nはn番目のコールドヘッド、
48nはn番目の冷凍機である。
【0036】図3は上記実施の第2形態におけるnmax=
3の場合の概略的な構成説明図で、図3において、流量
調整バルブ43nの下流側が流量調整バルブ42n+1を
介してガス導入管に接続されるように構成されている
が、このような構成の場合には、どちらかのバルブの一
方を省略しても良い。
【0037】次に、図2に示す実施の第2形態の動作に
ついて述べる。下記表1に示すバルブ1は流量調整バル
ブ41nに、バルブ2は流量調整バルブ42に、バルブ
3は流量調整バルブ43に、流量調整バルブ44はバル
ブ4に、流量調整バルブ45はバルブ5に相当するもの
として説明する。表1はn番目のチャンバー部の状態を
示す一覧で、バルブの開閉およびチャンバー部の下部の
制御温度により、各チャンバー部で、オゾン液化・蓄
積、オゾンガス発生、不純物トラップ、空焼きの
4種類の動作状態とそれぞれの動作状態が終了した時点
での保持状態に制御して使い回しすることができる。基
本的にこれらの状態は、オゾン液化・蓄積→オゾン
ガス発生→不純物トラップ→空焼きのサイクルで変
化するようにし、必要に応じて保持状態を挿入する。
【0038】
【表1】
【0039】次に、チャンバー部を2〜5本で構成する
場合の各チャンバー部の動作状態のタイミングTを表2
〜7にまとめたもので、表2はnmax=2のときの場合
である。表2に示すようなタイミングT1〜T4のサイ
クルで各チャンバー部を使用すれば、組み合わせにより
有効にチャンバー部を運用できるようになる。
【0040】
【表2】
【0041】表3は表2の動作をより実用的にしたとき
の動作タイミングを示すもので、不純物トラップを設け
ることにより、空焼きの頻度を減少させることができる
ことから、表3に示すように不純物トラップとして数回
使用してから空焼きを行うようにした。なお、表中「T
2(→T1)」の意味は、タイミングT1の後、本来で
あればT2→T3→T4…と工程が進むところを、T2
→T1→T2→T1→T2→T3→T4…となるように
「T1→T2」の工程が繰り返される状況を示したもの
である。また、表3において、「T6(→T5)」のタ
イミングの場合にも上記と同様な工程の繰り返しが行わ
れる。
【0042】なお、繰り返し回数は、不純物トラップ、
オゾン液化・蓄積、オゾンガス発生、空焼き等の各工程
に要する時間や、蓄積量、オゾンガス発生量、トラップ
可能な不純物量等、種々の要因を考慮して、最も効率の
良い回数を任意に設定する。
【0043】
【表3】
【0044】表4は、nmax=3のときの動作タイミン
グを示したものである。
【0045】
【表4】
【0046】表5は、サイクルの中で空焼きが最も長い
時間の工程となるため、チャンバー部を3本以上で使用
する場合は、チャンバー部を1本空焼きしている間に他
のチャンバー部でオゾン液化・蓄積とオゾンガス発生の
サイクルを繰り返して、装置の稼働率を向上させた場合
の動作タイミングである。
【0047】
【表5】
【0048】表6はnmax=4、表7はnmax=5のとき
の動作タイミングである。
【0049】
【表6】
【0050】
【表7】
【0051】上記実施の第2形態においては、1例とし
て、「オゾン液化・蓄積」が約1時間、「オゾンガス発
生」が約2時間、「空焼き」が6時間以上かかるので、
タイミングを合わせるために、動作が停止している時間
が生じる。装置全体として考えた場合、「動作停止して
いる時間」=「オゾンガスを発生できない時間」をでき
るだけ短縮するために、上記表3と表5に示すような工
夫や、チャンバー部数を増やすことが有効である。ちな
みに、空焼きに要する時間が長時間となるのは、チャン
バー部がマイナス150℃以下に保持されているため、
温度の上げ下げに時間がかかるためである。
【0052】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、オ
ゾンチャンバーには不純物ガスが液化または固体化して
蓄積されることがなくなるので、定期的にオゾンチャン
バーを加熱して再生する作業が不要になり、以下のよう
な効果が得られる。
【0053】オゾンチャンバーの信頼性が向上する。
【0054】装置のスループットが向上する。
【0055】高価なオゾンチャンバーを有効利用する
ため、必要チャンバー数を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の第1形態を示す概略構成説明
図。
【図2】本発明の実施の第2形態を示す概略構成説明
図。
【図3】第2形態におけるnmax=3の場合の概略的な構
成説明図。
【図4】従来の液体オゾン生成装置の概略構成説明図。
【図5】従来の液体オゾン生成装置の要部の詳細な説明
図。
【符号の説明】
1…オゾンガス発生装置および排気装置 2…液体オゾン生成装置 2a…コールドトラップ(不純物ガス除去装置) 3…酸素ボンベ 5…オゾナイザー 7…微粒子フィルタ 8…流量調整バルブ 9…オゾンチャンバー 19、32…コールドヘッド 20、33…冷凍機 21、35…コンプレッサー 22、34…温度制御装置 25…酸素ガス導入管 26…オゾン排出管 27…液体オゾン 28、31…冷却用金属ブロック 29…トラップ用チャンバー 30…液化または固体化された不純物ガス 36…排気用バルブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野中 秀彦 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 (72)発明者 黒河 明 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 (72)発明者 村上 寛 茨城県つくば市梅園1丁目1番4 工業技 術院電子技術総合研究所内 (72)発明者 西口 哲也 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 宮本 正春 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 森川 良樹 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 大石 和城 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 (72)発明者 花倉 満 東京都品川区大崎2丁目1番17号 株式会 社明電舎内 Fターム(参考) 4D047 AA07 AB01 BB00 BB10 CA11 DA01 DA10 DB01 4D076 AA05 AA14 AA16 BE04 EA10Z EA12Z FA02 FA03 FA11 HA06 HA12 HA20 JA03 4G042 CA01 CB08 CB19 CB29

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 酸素を含有するガスをオゾン化してオゾ
    ン含有ガスを生成し、導入配管により前記オゾン含有ガ
    スをオゾンチャンバーに導入し、冷凍機及びコールドヘ
    ッドからなる温度制御手段により前記オゾンチャンバー
    の下部を80〜100Kの温度になるように冷却制御すること
    で前記オゾンチャンバー下部にオゾンのみ液化すると共
    に、液化されなかったオゾンガス及び酸素ガスを排気配
    管により前記オゾンチャンバーより排気することで、前
    記オゾンチャンバー下部に液体オゾンを生成する装置に
    おいて、 前記オゾン含有ガスを前記オゾンチャンバーに導入する
    前に、そのオゾン含有ガスから不純物ガスを不純物ガス
    除去装置で除去してから前記オゾンチャンバーに導入す
    ることを特徴とするオゾン生成装置。
  2. 【請求項2】 前記不純物ガス除去装置は、オゾン含有
    ガスが導入されるチャンバーを有し、このチャンバーを
    氷点273K以下でかつオゾンが液化しない温度で冷凍機及
    びコールドヘッドからなる温度制御手段により冷却制御
    することを特徴とする請求項1に記載のオゾン生成装
    置。
  3. 【請求項3】 前記不純物ガス除去装置には、バルブで
    開閉できる排気管が設けられていて、不純物ガス除去装
    置と前記オゾンチャンバーとのガス経路を遮断し、前記
    排気管に設けられたバルブを開放し、かつ前記不純物ガ
    ス除去装置を加熱してその装置に蓄積されたガスを脱着
    するようにしたことを特徴とする請求項1または2に記
    載のオゾン生成装置。
  4. 【請求項4】 前記不純物ガス除去装置が複数設けられ
    ていて、一つの不純物ガス除去装置を加熱して蓄積され
    たガスを脱着しているとき、他の不純物ガス除去装置を
    用いて前記オゾンチャンバーでのオゾンの液化を行うよ
    うにしたことを特徴とする請求項1、2または3に記載
    のオゾン生成装置。
  5. 【請求項5】 酸素を含有するガスをオゾン化してオゾ
    ン含有ガスを生成し、導入配管により前記オゾン含有ガ
    スをオゾンチャンバーに導入し、冷凍機及びコールドヘ
    ッドからなる温度制御手段により前記オゾンチャンバー
    の下部を80〜100Kの温度になるように冷却制御すること
    で前記オゾンチャンバー下部にオゾンのみ液化すると共
    に、液化されなかったオゾンガス及び酸素ガスを排気配
    管により前記オゾンチャンバーより排気することで、前
    記オゾンチャンバー下部に液体オゾンを生成する装置に
    おいて、 前記オゾンチャンバー及び温度制御手段をn個設け、n
    番目のオゾンチャンバーに接続されている導入配管に第
    1、第2バルブを介挿し、第1バルブの上流側をオゾン
    含有ガス供給部に接続するとともに、第2バルブの上流
    側を(n−1)番目のオゾンチャンバーの排気管に接続
    し、 n番目のオゾンチャンバーに接続されている排気管に第
    3、第4、第5バルブを介挿し、第3バルブの下流側を
    (n+1)番目のオゾンチャンバーの導入配管に接続す
    るとともに、第4バルブの下流側を酸化処理容器に接続
    し、第5バルブの下流側を排気系に接続するように構成
    し、 上記各バルブを開閉制御して、各オゾンチャンバーで、
    オゾン液化・蓄積、オゾンガス発生、不純物トラップ、
    空焼きのサイクルを予め設定されたタイミングで行うこ
    とを特徴とするオゾン生成装置。
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009137812A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Meidensha Corp オゾン供給方法及びその装置
JP2010222168A (ja) * 2009-03-23 2010-10-07 Meidensha Corp オゾン供給装置
JP2011132064A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd オゾン濃縮装置
US8187389B2 (en) 2007-05-23 2012-05-29 Meidensha Corporation Method of removing resist and apparatus therefor
US8574369B2 (en) 2007-12-04 2013-11-05 Meidensha Corporation Method of removing resist and apparatus therefor
CN111333034A (zh) * 2020-03-06 2020-06-26 费勉仪器科技(上海)有限公司 一种液化型超高纯臭氧制备装置
US10978293B2 (en) 2018-03-28 2021-04-13 Meidensha Corporation Oxide film formation method
US11220750B2 (en) 2018-06-28 2022-01-11 Meidensha Corporation Shower head and processing device
CN114082731A (zh) * 2021-11-17 2022-02-25 苏州金宏气体股份有限公司 一种电子级正硅酸乙酯返回钢瓶的处理方法及装置
US11306396B2 (en) 2018-11-30 2022-04-19 Meidensha Corporation Oxide film forming device
US11560622B2 (en) 2018-11-30 2023-01-24 Meidensha Corporation Degradable resin molding and production method for degradable resin molding
US11680319B2 (en) 2019-08-30 2023-06-20 Meidensha Corporation Atomic layer deposition device and atomic layer deposition method
DE112021006287T5 (de) 2020-12-01 2023-11-02 Meiden Nanoprocess Innovations, Inc. Atomschicht-abscheidungsvorrichtung und atomschicht-abscheidungsverfahren

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8187389B2 (en) 2007-05-23 2012-05-29 Meidensha Corporation Method of removing resist and apparatus therefor
KR101160258B1 (ko) * 2007-05-23 2012-06-26 메이덴샤 코포레이션 레지스트 제거방법과 그를 위한 장치
US8574369B2 (en) 2007-12-04 2013-11-05 Meidensha Corporation Method of removing resist and apparatus therefor
JP2009137812A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Meidensha Corp オゾン供給方法及びその装置
JP2010222168A (ja) * 2009-03-23 2010-10-07 Meidensha Corp オゾン供給装置
JP2011132064A (ja) * 2009-12-24 2011-07-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd オゾン濃縮装置
DE112018007372B4 (de) 2018-03-28 2022-07-14 Meidensha Corporation Oxidfilmbildungsverfahren
US10978293B2 (en) 2018-03-28 2021-04-13 Meidensha Corporation Oxide film formation method
US11220750B2 (en) 2018-06-28 2022-01-11 Meidensha Corporation Shower head and processing device
US11306396B2 (en) 2018-11-30 2022-04-19 Meidensha Corporation Oxide film forming device
US11560622B2 (en) 2018-11-30 2023-01-24 Meidensha Corporation Degradable resin molding and production method for degradable resin molding
US11680319B2 (en) 2019-08-30 2023-06-20 Meidensha Corporation Atomic layer deposition device and atomic layer deposition method
CN111333034A (zh) * 2020-03-06 2020-06-26 费勉仪器科技(上海)有限公司 一种液化型超高纯臭氧制备装置
DE112021006287T5 (de) 2020-12-01 2023-11-02 Meiden Nanoprocess Innovations, Inc. Atomschicht-abscheidungsvorrichtung und atomschicht-abscheidungsverfahren
CN114082731A (zh) * 2021-11-17 2022-02-25 苏州金宏气体股份有限公司 一种电子级正硅酸乙酯返回钢瓶的处理方法及装置
CN114082731B (zh) * 2021-11-17 2022-08-23 苏州金宏气体股份有限公司 一种电子级正硅酸乙酯返回钢瓶的处理方法及装置

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